JP2021018975A - ヒューズ抵抗組立体及びヒューズ抵抗組立体の製造方法 - Google Patents

Abstract

【課題】ヒューズ抵抗組立体及びヒューズ抵抗組立体の製造方法を提供する。【解決手段】本発明によるヒューズ抵抗組立体は、印加される電流または電圧を分配する第１抵抗体と第２抵抗体；第１抵抗体と第２抵抗体との間に位置し、一側が第１抵抗体と結合され、他側が第２抵抗体と結合されて、第１抵抗体及び第２抵抗体と直列連結されているヒューズ；及び第１抵抗体、第２抵抗体及びヒューズが挿入される収容空間を有するセラミックチューブ；を含み、セラミックチューブは、一側が第１抵抗体、第２抵抗体及びヒューズが挿入されるように開口部が形成されており、他側が全体として閉鎖されているが、第１抵抗体と連結される第１リード線が貫通できるように中央に中空部が形成されていることを特徴とする。【選択図】図９

Description

本発明は、ヒューズ抵抗組立体に係り、より詳細には、抵抗体の間に存在するヒューズを含むヒューズ抵抗組立体及びその製造方法に関する。

一般的に、テレビ、ビデオのような電子製品の電源入力端には、過電流の流入時に、回路を断線させて、回路の焼損及び基板の火災発生を予防するように、マイクロヒューズが設けられており、このマイクロヒューズは、過負荷などの異常時に、溶断特性によって回路遮断器として作用する。

このようなヒューズは、フュージブルエレメント層を成す材料であって、他の金属に比べて、固有比抵抗値は非常に低いながらも、温度係数と溶融点とが非常に高い銅を使用することにより、定格電流が１０Ａ以上に高電流化されても、安定して流すことができると共に、高電流以上の過電流によって、所定時間内に安定して溶断されるため、高電流を使用する大型ＴＶ、モニタなどの家電製品などに既存のヒューズの代わりに使われている。

ところが、従来のヒューズ抵抗組立体は、抵抗体の発熱によるヒューズの溶断特性が一定でなく、ヒューズの溶断特性が過電流に敏感に反応しないという問題点がある。

本発明が解決しようとする課題は、抵抗体の間にヒューズを直列に接合させて、ヒューズの溶断特性を改善させるヒューズ抵抗組立体及びその製造方法を提供することである。

前記課題を解決するための本発明によるヒューズ抵抗組立体は、印加される電流または電圧を分配する第１抵抗体と第２抵抗体；及び前記第１抵抗体と前記第２抵抗体との間に位置し、一側が前記第１抵抗体と結合され、他側が前記第２抵抗体と結合されて、前記第１抵抗体及び前記第２抵抗体と直列連結されているヒューズ；を含み、前記ヒューズは、スティック状のヒューズロッド；及び前記ヒューズロッドの表面に塗布されて、前記第１抵抗体及び／又は前記第２抵抗体から発生する過電流によって溶断される可溶体コーティング層；を含むことを特徴とする。

前記第１抵抗体は、第１抵抗ロッド；前記第１抵抗ロッドの一側に結合された第１外側抵抗キャップ；前記第１抵抗ロッドの他側に結合された第１内側抵抗キャップ；及び前記第１抵抗ロッドを取り囲みながら、前記第１外側抵抗キャップと前記第１内側抵抗キャップとを連結する第１抵抗線；を含み、前記第２抵抗体は、第２抵抗ロッド；前記第２抵抗ロッドの一側に結合された第２外側抵抗キャップ；前記第２抵抗ロッドの他側に結合された第２内側抵抗キャップ；及び前記第２抵抗ロッドを取り囲みながら、前記第２外側抵抗キャップと前記第２内側抵抗キャップとを連結する第２抵抗線；を含むことを特徴とする。

前記第１内側抵抗キャップは、一側に前記第１抵抗ロッドの他側との挿設のための溝が形成された第１抵抗挿入溝；及び他側に前記ヒューズの一側との挿設のための溝が形成された第１ヒューズ挿入溝；を含むことを特徴とする。

前記第２内側抵抗キャップは、一側に前記第２抵抗ロッドの他側との挿設のための溝が形成された第２抵抗挿入溝；及び他側に前記ヒューズの他側との挿設のための溝が形成された第２ヒューズ挿入溝；を含むことを特徴とする。

前記可溶体コーティング層は、前記ヒューズロッドの表面に錫成分でコーティングされていることを特徴とする。

前記可溶体コーティング層は、前記過電流による溶断時間の調整のためにトリミングパターンが形成されていることを特徴とする。

前記トリミングパターンは、カッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせてカッティングされていることを特徴とする。

前記ヒューズ抵抗組立体は、前記第１抵抗体、前記第２抵抗体及び前記ヒューズを取り囲む組立体保護カバーをさらに含むことを特徴とする。

前記他の課題を解決するための本発明によるヒューズ抵抗組立体の製造方法は、印加される電流または電圧を分配する第１抵抗体と第２抵抗体とを形成する段階；前記第１抵抗体及び／又は前記第２抵抗体から発生する過電流によって溶断されるヒューズを前記第１抵抗体と前記第２抵抗体との間に直列結合させる段階；及び前記第１抵抗体、前記第２抵抗体及び前記ヒューズを組立体保護カバーで取り囲む段階；を含み、前記ヒューズの一側は、前記第１抵抗体を構成する第１内側抵抗キャップに挿設され、前記ヒューズの他側は、前記第２抵抗体を構成する第２内側抵抗キャップに挿設されることを特徴とする。

前記ヒューズを前記第１抵抗体と前記第２抵抗体との間に直列連結させる段階は、一側に第１抵抗ロッドの他側との挿設のための溝が形成された第１抵抗挿入溝と、他側に前記ヒューズの一側との挿設のための溝が形成された第１ヒューズ挿入溝と、を含む前記第１抵抗体を前記ヒューズと直列連結させることを特徴とする。

前記ヒューズを前記第１抵抗体と前記第２抵抗体との間に直列連結させる段階は、一側に第２抵抗ロッドの他側との挿設のための溝が形成された第２抵抗挿入溝と、他側に前記ヒューズの他側との挿設のための溝が形成された第２ヒューズ挿入溝と、を含む前記第２抵抗体を前記ヒューズと直列連結させることを特徴とする。

前記ヒューズは、スティック状のヒューズロッド上に過電流によって溶断される可溶体コーティング層が形成されていることを特徴とする。

前記可溶体コーティング層は、前記過電流による溶断時間の調整のためにトリミングパターンが形成されていることを特徴とする。

前記トリミングパターンは、カッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせてカッティングされたことを特徴とする。

本発明によれば、抵抗体とヒューズとを接合するが、２個の抵抗体の間にヒューズを連結することにより、抵抗体から発生する輻射熱をヒューズに効果的に伝達させて、抵抗体に流れる過電流によってヒューズの溶断特性が敏感に反応可能になる。これにより、過電流による負荷の回路素子を適切に保護することができる。

特に、本発明によれば、抵抗体の間に可溶体でコーティングされたヒューズロッドを含むヒューズを直列連結することにより、ヒューズ抵抗組立体の耐久性が増大し、これにより、外部衝撃にも拘らず、ヒューズ抵抗組立体の破損を最小化し、かつトリミングパターンによって過電流によるヒューズの溶断特性を精密に具現することができる。

本発明による一実施形態のヒューズ抵抗組立体の斜視図である。 図１Ａに示されたヒューズ抵抗組立体の長手方向の切断面（Ａ−Ａ´切断面）における断面図である。 第１抵抗体または第２抵抗体の細部的な構成要素を示す参照図である。 第１抵抗体と第２抵抗体との間に結合されるヒューズを例示する参照図である。 本発明によるヒューズ３００の可溶体コーティング層３０４に形成されたトリミングパターンを例示する参照図である。 カッティングポイント数による溶断時間を比較する一実施形態の参照図である。 カッティング形状のうち、ポイント状による溶断時間を比較する一実施形態の参照図である。 カッティング形状のうち、ライン状による溶断時間を比較するさらに他の実施形態の参照図である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の製造方法の一実施形態を説明するフローチャートである。 本発明による他の実施形態のヒューズ抵抗組立体の斜視図である。 図９に示されたセラミックチューブを例示する断面図である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の特性テストを例示する参照表である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の特性テストを例示する参照表である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の特性テストを例示する参照表である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の特性テストを例示する参照表である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の特性テストを例示する参照表である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の特性テストを例示する参照表である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の特性テストを例示する参照表である。 本発明によるヒューズ抵抗組立体の特性テストを例示する参照表である。 図１１Ａないし図１１Ｈに示された特性テストに係わる総合結果を比較した表である。

本発明に関する説明は、構造的ないし機能的説明のための実施形態に過ぎないので、本発明の権利範囲は、本文に説明された実施形態によって制限されるものと解釈されてはならない。すなわち、実施形態は、多様な変更が可能であり、さまざまな形態を有するので、本発明の権利範囲は、技術的思想を実現することができる均等物を含むものと理解しなければならない。

ある構成要素が、他の構成要素に「連結されて」いるという記載は、その他の構成要素に直接連結されることの他、中間に他の構成要素が存在していることも可能であるということを理解しなければならない。一方、ある構成要素が、他の構成要素に「直接連結されて」いるという記載は、中間に他の構成要素が存在しないものと理解しなければならない。

ここで使われるあらゆる用語は、特に定義しない限り、当業者によって、一般的に理解されるものと同じ意味を有する。一般的に使われる辞書に定義されている用語は、関連技術の文脈上有する意味と一致するものと解釈されなければならず、本発明で明白に定義しない限り、理想的や過度に形式的な意味を有するものとは解釈されない。

図１Ａは、本発明による一実施形態のヒューズ抵抗組立体１０の斜視図であり、図１Ｂは、図１Ａに示されたヒューズ抵抗組立体の長手方向の切断面（Ａ−Ａ´切断面）における断面図である。

図１Ａないし図１Ｂを参照すれば、ヒューズ抵抗組立体１０は、第１抵抗体１００、第２抵抗体２００、ヒューズ３００及び組立体保護カバー４００を含む。

第１抵抗体１００は、導電性の抵抗成分を含み、突入電流を制限する機能を担う。また、第２抵抗体２００の場合にも、導電性の抵抗成分を含み、突入電流を制限する機能を担う。

図２は、第１抵抗体１００または第２抵抗体２００の細部的な構成要素を示す参照図である。

図２を参照すれば、第１抵抗体１００は、第１抵抗ロッド１０２、第１外側抵抗キャップ１０４、第１内側抵抗キャップ１０６、第１抵抗線１０８を含む。

第１抵抗ロッド１０２は、セラミック材質で構成されたものであり、円柱または角柱などを有する形状を含みうる。

第１外側抵抗キャップ１０４は、第１抵抗ロッド１０２の一側に結合されている。第１外側抵抗キャップ１０４は、第１抵抗ロッド１０２の一先端に挿設されうる。第１外側抵抗キャップ１０４は、第１抵抗ロッド１０２の一先端が挿入されるように一側のみに形成された単方向挿入溝（Ｇ０）（例えば、円形溝または角形溝）を含むキャップであり得る。第１外側抵抗キャップ１０４は、導電性を有する材質で構成することができる。

一方、第１外側抵抗キャップ１０４の他側（すなわち、キャップの外側）には、第１抵抗リード線１０４−２が結合されうる。第１抵抗リード線１０４−２は、電気伝導性を有する線である。第１抵抗リード線１０４−２は、第１外側抵抗キャップ１０４とスポット溶接、レーザ溶接、ソルダリングなどの方式で接合される。

第１内側抵抗キャップ１０６は、第１抵抗ロッド１０２の他先端に挿設されうる。このために、第１内側抵抗キャップ１０６は、双方向溝（例えば、円形溝または角形溝）構造であって、第１抵抗挿入溝（Ｇ１）と第１ヒューズ挿入溝（Ｇ２）とを含みうる。第１抵抗挿入溝（Ｇ１）は、第１抵抗ロッド１０２の他側との挿設のために形成された溝構造であり、第１ヒューズ挿入溝（Ｇ２）は、ヒューズ３００の一側との挿設のために形成された溝構造である。このような、第１内側抵抗キャップ１０６は、導電性を有する材質で構成することができる。

第１抵抗線１０８は、第１抵抗ロッド１０２を取り囲みながら、第１外側抵抗キャップ１０４と第１内側抵抗キャップ１０６とを連結する導電性の線である。第１抵抗線１０８は、第１抵抗ロッド１０２の表面を螺旋状に取り囲みながら、第１外側抵抗キャップ１０４と第１内側抵抗キャップ１０６とを連結する。このような、第１抵抗線１０８は、過電流によって発熱される抵抗成分を含む。第１抵抗線１０８の一端１０８−１は、第１外側抵抗キャップ１０４の一側に接合されており、第１抵抗線１０８の他端１０８−２は、第１内側抵抗キャップ１０６の一側に接合されている。

また、図２を参照すれば、第２抵抗体２００は、第２抵抗ロッド２０２、第２外側抵抗キャップ２０４、第２内側抵抗キャップ２０６、第２抵抗線２０８を含む。

第２抵抗ロッド２０２は、円柱または角柱などの形状を含むセラミック材質で構成することができる。

第２外側抵抗キャップ２０４は、第２抵抗ロッドの一側に結合されるキャップ構造を含む。

第２内側抵抗キャップ２０６は、第２抵抗ロッドの他側に結合されるキャップ構造を含む。このために、第２内側抵抗キャップ２０６は、一側に前記第２抵抗ロッド２０２の他側との挿設のための溝が形成された第２抵抗挿入溝（Ｇ１´）及び他側にヒューズ３００の他側との挿設のための溝が形成された第２ヒューズ挿入溝（Ｇ２´）を含みうる。

第２抵抗線２０８は、第２抵抗ロッド２０２を取り囲みながら、第２外側抵抗キャップ２０４と第２内側抵抗キャップ２０６とを連結する。第２抵抗線２０８は、前述した第１抵抗線１０８の抵抗と同じ抵抗値を有しても良く、また第１抵抗線１０８と異なる抵抗値を有しても良い。

前述した、第２抵抗ロッド２０２は、第１抵抗体１００の第１抵抗ロッド１０２と同一または類似した構造であり、第２外側抵抗キャップ２０４は、第１抵抗体１００の第１外側抵抗キャップ１０４と同一または類似した構造であり、第２内側抵抗キャップ２０６は、第１抵抗体１００の第１内側抵抗キャップ１０６と同一または類似した構造であり、第２抵抗線２０８は、第１抵抗体１００の第１抵抗体１０８と同一または類似した構造であって、第２抵抗体２００の各構成要素についての詳細な説明は省略する。

ヒューズ３００は、第１抵抗体１００と第２抵抗体２００との間に位置し、第１抵抗体１００と第２抵抗体２００とを電気的に連結し、過電流によって切られる可溶体の機能を担う。すなわち、ヒューズ３００は、一側が第１抵抗体１００と結合され、他側が第２抵抗体２００と結合されて、第１抵抗体１００及び第２抵抗体２００と直列連結されており、熱や過電流による回路連結を遮断する機能を担う。

図３は、第１抵抗体１００の第１内側抵抗キャップ１０６と第２抵抗体２００の第２内側抵抗キャップ２０６との間に結合されるヒューズ３００を例示する参照図である。図３を参照すれば、ヒューズ３００の一側は、第１抵抗体１００の第１内側抵抗キャップ１０６に挿設され、ヒューズ３００の他側は、第２抵抗体２００の第２内側抵抗キャップ２０６に挿設される。

ヒューズ３００は、スティック状のヒューズロッド３０２とヒューズロッド３０２の表面に塗布されて第１抵抗体１００及び／又は前記第２抵抗体２００から発生する過電流によって溶断される可溶体コーティング層３０４を含みうる。

ヒューズロッド３０２は、円柱または角柱などを有する形状を含み、セラミック材質で構成することができる。

可溶体コーティング層３０４は、過電圧または過電流が印加されて、第１抵抗体１００または第２抵抗体２００が発熱すれば、その熱によって溶断されて電気接続を遮断する役割を果たす。可溶体コーティング層３０４は、ヒューズロッド３０２の表面に錫成分でコーティングされたものである。また、可溶体コーティング層３０４は、４５０℃以下の融点を有する低融点金属または合金、例えば、Ｓｎ、Ａｇ、Ｓｂ、Ｉｎ、Ｂｉ、Ａｌ、Ｚｎ、Ｃｕ及びＮｉのうちの少なくとも何れか１つの元素を含む可溶体であることを例示することができるが、必ずしもこれに限定されるものではない。

可溶体コーティング層３０４は、過電流による溶断時間の調整のためにトリミングパターンが形成されたものである。トリミングパターンは、レーザーカッティングまたはダイヤモンドカッティングにより形成されうる。ここで、トリミングパターンは、カッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせてカッティングされたものである。この際、カッティング形状は、ポイント状、直線状または螺旋状であり、これらが組み合わせられた形態でもあり得る。

図４は、本発明によるヒューズ３００の可溶体コーティング層３０４に形成されたトリミングパターンを例示する参照図である。図４の（ａ）は、ポイント状のトリミングパターンを例示し、図４の（ｂ）は、ライン状のトリミングパターンを例示する。

トリミングパターンは、カッティングポイント数またはカッティング形状の差によって、過電流による可溶体コーティング層３０４の溶断時間差をもたらしうる。トリミングパターンによる可溶体コーティング層３０４の溶断時間の差は、次の図５ないし図７を参照して説明する。

図５は、カッティングポイント数による溶断時間を比較する一実施形態の参照図であり、図６は、カッティング形状のうち、ポイント状による溶断時間を比較する一実施形態の参照図であり、図７は、カッティング形状のうち、ライン状による溶断時間を比較するさらに他の実施形態の参照図である。

図５を参照すれば、トリミングパターンのカッティングポイント数が増加するにつれて、溶断時間が徐々に減少することを確認することができる。また、図６を参照すれば、トリミングパターンのカッティング形状のうち、カッティングポイントが長手方向に増加するにつれて、溶断時間が減少することを確認することができる。また、図７を参照すれば、トリミングパターンのカッティング形状のうち、直線状または螺旋状のライン長が増加するにつれて、溶断時間が減少することを確認することができる。したがって、設計目的によって可溶体コーティング層３０４のトリミングパターンを選択することにより、ヒューズ抵抗組立体１０の過電流に対する溶断時間を調整することができる。

組立体保護カバー４００は、第１抵抗体１００、第２抵抗体２００及びヒューズ３００を取り囲む。組立体保護カバー４００は、第１抵抗体１００、第２抵抗体２００及びヒューズ３００の表面を保護する。また、組立体保護カバー４００は、第１抵抗体１００、第２抵抗体２００及びヒューズ３００を通じて流れる電流に対して外部との絶縁のためのカバーとして機能する。

図８は、本発明によるヒューズ抵抗組立体の製造方法の一実施形態を説明するフローチャートである。

まず、印加される電流または電圧を分配する第１抵抗体と第２抵抗体とを形成する（ステップＳ５００）。ここで、第１抵抗体は、第１抵抗ロッド、前記第１抵抗ロッドの一側に結合された第１外側抵抗キャップ、前記第１抵抗ロッドの他側に結合された第１内側抵抗キャップ及び前記第１抵抗ロッドを取り囲みながら、前記第１外側抵抗キャップと前記第１内側抵抗キャップとを連結する第１抵抗線を含みうる。この際、前記第１内側抵抗キャップは、一側に前記第１抵抗ロッドの他側との挿設のための溝が形成された第１抵抗挿入溝；及び他側に前記ヒューズの一側との挿設のための溝が形成された第１ヒューズ挿入溝；を含みうる。また、第２抵抗体は、第２抵抗ロッド、前記第２抵抗ロッドの一側に結合された第２外側抵抗キャップ、前記第２抵抗ロッドの他側に結合された第２内側抵抗キャップ及び前記第２抵抗ロッドを取り囲みながら、前記第２外側抵抗キャップと前記第２内側抵抗キャップとを連結する第２抵抗線を含みうる。この際、前記第２内側抵抗キャップは、一側に前記第２抵抗ロッドの他側との挿設のための溝が形成された第２抵抗挿入溝；及び他側に前記ヒューズの他側との挿設のための溝が形成された第２ヒューズ挿入溝；を含みうる。

第１抵抗体を形成する過程を説明すれば、次の通りである。第１抵抗ロッドの両端に第１外側抵抗キャップ及び第１内側抵抗キャップを結合させた後に、前記第１外側抵抗キャップの一側に第１抵抗リード線を結合させる。次いで、第１抵抗線で前記第１抵抗ロッドを取り囲みながら、前記第１外側抵抗キャップと前記第１内側抵抗キャップとを連結する。第２抵抗体を形成する過程も、前記の第１抵抗体を形成する過程と同一である。

Ｓ５００段階後に、前記第１抵抗体及び前記第２抵抗体のうちから発生する過電流によって溶断されるヒューズを前記第１抵抗体と前記第２抵抗体との間に直列結合させる（ステップＳ５０２）。ヒューズは、低融点金属または合金、例えば、Ｓｎ、Ａｇ、Ｓｂ、Ｉｎ、Ｂｉ、Ａｌ、Ｚｎ、Ｃｕ及びＮｉのうちの少なくとも何れか１つの元素を含むバー（ｂａｒ）状の可溶体であることを例示することができる。ヒューズは、セラミックチューブ管と、前記セラミックチューブ管の両端に形成された端子と、前記セラミックチューブ管内に挿入された可溶体線と、からなりうる。前記ヒューズの一側は、第１抵抗体の第１ヒューズ挿入溝と直列連結されるために、第１ヒューズ挿入溝に挿設され、ヒューズの他側は、第２抵抗体の第２ヒューズ挿入溝と直列連結されるために、第２ヒューズ挿入溝に挿設されうる。

このような、ヒューズは、スティック状のヒューズロッド上に過電流によって溶断される可溶体コーティング層が形成されたものである。前記可溶体コーティング層は、前記過電流による溶断時間の調整のためにトリミングパターンが形成されたものであって、カッティングポイント数及びカッティング形状のうち少なくとも何れか１つを異ならせてカッティングされたものである。

Ｓ５０２段階後に、前記第１抵抗体、前記第２抵抗体及び前記ヒューズを組立体保護カバーで取り囲む（ステップＳ５０４）。組立体保護カバーは、第１抵抗体、第２抵抗体及びヒューズを通じて流れる電流に対する絶縁機能を担う。

図９は、本発明による他の実施形態のヒューズ抵抗組立体の斜視図である。図１０は、図９に示されたセラミックチューブを例示する断面図である。

ヒューズ抵抗組立体は、印加される電流または電圧を分配する第１抵抗体と第２抵抗体；前記第１抵抗体と前記第２抵抗体との間に位置し、一側が前記第１抵抗体と結合され、他側が前記第２抵抗体と結合されて、前記第１抵抗体及び前記第２抵抗体と直列連結されているヒューズ；及び前記第１抵抗体、前記第２抵抗体及び前記ヒューズが挿入される収容空間を有するセラミックチューブ；を含む。

ここで、前記セラミックチューブは、一側が前記第１抵抗体、前記第２抵抗体及び前記ヒューズが挿入されるように開口部が形成されており、他側が全体として閉鎖されているが、前記第１抵抗体と連結される第１リード線が貫通できるように中央に中空部が形成されていることを特徴とする。

前記セラミックチューブは、空気緩衝領域を確保するために、前記第１抵抗体、前記第２抵抗体及び前記ヒューズが、前記収容空間を形成する内周面と一定距離以上離隔しており、前記収容空間が外部から密閉されるように、前記開口部と前記中空部とがモールディング処理されたことを特徴とする。

前記セラミックチューブは、エポキシ樹脂物質を用いて前記開口部と前記中空部とがモールディング処理されたことを特徴とする。

本発明によるヒューズ抵抗組立体１０は、ワインディング抵抗体２個を直列連結するために、抵抗体の間に可溶体に該当するヒューズが位置する構造を有する。このような、本発明のヒューズ抵抗組立体１０の特性を説明すれば、リフロー（ｒｅｆｌｏｗ）、サージ（ｓｕｒｇｅ）、半短絡などの熱的／電気的特性によるテストを通じて確認することができる。

図１１Ａないし図１１Ｈは、本発明によるヒューズ抵抗組立体の特性テストを例示する参照図であり、図１２は、図１１Ａないし図１１Ｈに示された特性テストに係わる総合結果を比較した表である。

図１１Ａないし図１１Ｈと図１２とを参照すれば、本発明のヒューズ抵抗組立体１０は、射出において、熱可塑性樹脂や熱硬化性樹脂の材料を使用して射出するが、リフロー（ｒｅｆｌｏｗ）工程の進行時に、外部の熱に対する可溶体の耐久性を確保することができる。

また、本発明によれば、外部から流入される熱（ｒｅｆｌｏｗ−ｗｉｒｅに乗って入る熱）に対して、既存の射出製品よりも可溶体が内部に位置することによって、外部からの熱に対する影響力を最小化することができる。また、ヒューズの両側に配される第１及び第２抵抗体のセラミックロッドによるヒートシンク（ｈｅａｔ ｓｉｎｋ）効果によって、ヒューズに接近する熱は、第１及び第２抵抗体で一次的に遮断されるので、外部熱の影響を最小化することができる。

また、ヒューズの位置が第１抵抗体と第２抵抗体との間に位置することにより、動作時にヒューズの両側の第１抵抗体及び第２抵抗体が発熱することにより、抵抗体が１個のみ備えられていた従来に比べて、溶断時間を短縮することができる。

また、抵抗体のサイズを最小化することができるので、第１抵抗体１００と第２抵抗体２００とのワインディング時に、サージ特性を強化させることができる。

以上、本発明の望ましい実施形態について図示し、説明したが、本発明は、前述した特定の実施形態に限定されず、特許請求の範囲で請求する本発明の要旨を外れずに、当業者によって多様な変形実施が可能であるということはいうまでもなく、このような変形実施は、本発明の技術的思想や展望から個別的に理解されてはならない。

Claims (9)

1. 印加される電流または電圧を分配する第１抵抗体及び第２抵抗体と、
   前記第１抵抗体と前記第２抵抗体との間に位置し、一側が前記第１抵抗体と結合され、他側が前記第２抵抗体と結合されて、前記第１抵抗体及び前記第２抵抗体と直列連結されているヒューズと、
   前記第１抵抗体、前記第２抵抗体及び前記ヒューズが挿入される収容空間を有するセラミックチューブと、を含み、
   前記セラミックチューブは、
   一側が前記第１抵抗体、前記第２抵抗体及び前記ヒューズが挿入されるように開口部が形成されており、他側が全体として閉鎖されているが、前記第１抵抗体と連結される第１リード線が貫通できるように中央に中空部が形成されていることを特徴とするヒューズ抵抗組立体。
2. 前記セラミックチューブは、
   空気緩衝領域を確保するために、前記第１抵抗体、前記第２抵抗体及び前記ヒューズが、前記収容空間を形成する内周面と一定距離以上離隔しており、前記収容空間が外部から密閉されるように、前記開口部と前記中空部とがモールディング処理されていることを特徴とする請求項１に記載のヒューズ抵抗組立体。
3. 前記セラミックチューブは、
   エポキシ樹脂物質を用いて前記開口部と前記中空部とがモールディング処理されていることを特徴とする請求項２に記載のヒューズ抵抗組立体。
4. 前記ヒューズは、
   スティック状のヒューズロッドと、
   前記ヒューズロッドの表面に塗布されて、前記第１抵抗体及び／又は前記第２抵抗体から発生する過電流によって溶断される可溶体コーティング層と、を含むことを特徴とする請求項１に記載のヒューズ抵抗組立体。
5. 前記第１抵抗体は、
   第１抵抗ロッドと、
   前記第１抵抗ロッドの一側に結合された第１外側抵抗キャップと、
   前記第１抵抗ロッドの他側に結合された第１内側抵抗キャップと、
   前記第１抵抗ロッドを取り囲みながら、前記第１外側抵抗キャップと前記第１内側抵抗キャップとを連結する第１抵抗線と、を含み、
   前記第２抵抗体は、
   第２抵抗ロッドと、
   前記第２抵抗ロッドの一側に結合された第２外側抵抗キャップと、
   前記第２抵抗ロッドの他側に結合された第２内側抵抗キャップと、
   前記第２抵抗ロッドを取り囲みながら、前記第２外側抵抗キャップと前記第２内側抵抗キャップとを連結する第２抵抗線と、を含むことを特徴とする請求項１に記載のヒューズ抵抗組立体。
6. 前記第１内側抵抗キャップは、
   一側に前記第１抵抗ロッドの他側との挿設のための溝が形成された第１抵抗挿入溝と、
   他側に前記ヒューズの一側との挿設のための溝が形成された第１ヒューズ挿入溝と、を含むことを特徴とする請求項５に記載のヒューズ抵抗組立体。
7. 前記第２内側抵抗キャップは、
   一側に前記第２抵抗ロッドの他側との挿設のための溝が形成された第２抵抗挿入溝と、
   他側に前記ヒューズの他側との挿設のための溝が形成された第２ヒューズ挿入溝と、を含むことを特徴とする請求項５に記載のヒューズ抵抗組立体。
8. 前記可溶体コーティング層は、
   前記ヒューズロッドの表面に錫成分でコーティングされていることを特徴とする請求項４に記載のヒューズ抵抗組立体。
9. 前記可溶体コーティング層は、
   前記過電流による溶断時間の調整のためにトリミングパターンが形成されていることを特徴とする請求項４に記載のヒューズ抵抗組立体。