JP2020153747A - テストピース排出装置及び組合せ計量装置 - Google Patents

Abstract

【課題】金属検出装置で金属を検出するか否かのテストを精度よく行うことができるテストピース排出装置及び組合せ計量装置を提供する。【解決手段】テストピース排出装置３０は、複数の計量ホッパ６と、複数の計量ホッパ６から排出された物品Ａを集合させる集合シュート８と、集合シュート８近傍に配置され物品Ａに混在する金属部材を検出する金属検出装置１０と、を備えた組合せ計量装置１において、金属検出装置１０とともに利用される。テストピース排出装置３０は、導出部３１及び制御部２０を備える。導出部３１は、金属検出装置１０による金属検出の対象となるテストピースＴＰが配置され、テストピースＴＰを集合シュート８に導出可能である。制御部２０は、導出部３１を制御し、組合せ計量装置１の稼働中にテストピースＴＰを集合シュート８に導出させる。【選択図】図２

Description

本発明は、テストピース排出装置及び組合せ計量装置に関する。

複数のホッパと、複数のホッパから排出された物品を集合させるシュート部と、シュート部近傍に配置され、物品に混在する金属部材を検出する金属検出装置と、を備えた組合せ計量装置において、金属検出装置とともに利用されるテストピース排出装置が知られている。テストピース排出装置は、例えば金属検出装置の校正時に用いるテストピースを排出する。

この種の技術として、例えば特許文献１には、シュート部（排出シュート）の外部であって金属検出装置の間に筒状体を配置し、その筒状体内にテストピース（金属テストピース）を収容し、収容したテストピースを筒状体の下部の打ち上げ機によって打ち上げることで、金属検出装置を校正する技術が開示されている。

特開２００５−４９３００号公報

上述したような技術では、組合せ計量装置の駆動を開始する前に又は一時的に停止してテストピースを排出し、金属検出装置で金属を検出するか否かのテスト（以下、単に「金属検出テスト」ともいう）を行っている。そのため、物品に混入した金属を実際に検出する際の検出状況（例えば、実際に物品と金属とが混ざっている状況等）を考慮し難く、精度よい金属検出テストを行うことが困難な可能性がある。

本発明は、金属検出装置で金属を検出するか否かのテストを精度よく行うことができるテストピース排出装置及び組合せ計量装置を提供することを目的とする。

本発明に係るテストピース排出装置は、複数のホッパと、複数のホッパから排出された物品を集合させるシュート部と、シュート部近傍に配置され、物品に混在する金属部材を検出する金属検出装置と、を備えた組合せ計量装置において、金属検出装置とともに利用されるテストピース排出装置であって、金属検出装置による金属検出の対象となるテストピースが配置され、テストピースをシュート部に導出可能な導出部と、導出部を制御し、組合せ計量装置の稼働中にテストピースをシュート部に導出させる制御部と、を備える。

このテストピース排出装置では、組合せ計量装置の稼働中にテストピースが導出され、且つ、当該テストピースは、シュート部の外部ではなく内部に導出されて物品に混入される。したがって、このテストピース排出装置を用いた金属検出テストでは、物品に混入した金属を実際に検出する際の検出状況（以下、単に「実際の検出状況」ともいう）を考慮し、金属検出テストを精度よく行うことが可能となる。

本発明に係るテストピース排出装置では、導出部は、複数のテストピースが個別に配置され、複数のテストピースを個別にシュート部に導出可能であり、制御部は、複数のテストピースを個別にシュート部に導出させてもよい。これにより、複数のテストピースを事前に導出部に配置しておくことで、組合せ計量装置の稼働中であっても、複数のテストピースを用いた金属検出テストを一人の作業者の操作で容易に行うことができる。

本発明に係るテストピース排出装置では、複数のテストピースは、第１テストピース及び第２テストピースを含み、制御部は、導出部により第１テストピースをシュート部に導出させた際に金属検出装置で金属検出された場合、導出部により第２テストピースをシュート部に導出させ、導出部により第１テストピースをシュート部に導出させた際に金属検出装置で金属検出されない場合、導出部の動作を終了してもよい。この場合、複数のテストピースを互いに重複することなく導出させて、金属検出テストを効率よく行うことが可能となる。

本発明に係るテストピース排出装置では、制御部は、複数のホッパから物品がシュート部に排出されるタイミングに対する、導出部によりテストピースをシュート部に導出させる相対的なタイミングを、入力操作に応じて調整してもよい。このような調整により、金属検出テストにおける物品とテストピースとの混入状況を、実際の検出状況に近づくように適宜調整することが可能となる。

本発明に係るテストピース排出装置では、導出部は、テストピースを導出する導出方向を第１方向と第２方向との間で切り替え可能に構成され、第１方向は、テストピースがシュート部に導出される方向であり、第２方向は、テストピースがシュート部に導出されない方向であってもよい。これにより、例えば清掃時においてシュート部を取り外す際に邪魔にならないように、導出部の導出方向を第１方向から第２方向へ切り替えることができる。

本発明に係るテストピース排出装置では、制御部は、シュート部へ正量の物品が排出される場合に、導出部によりテストピースをシュート部に導出させてもよい。これにより、実際の検出状況に一層近づけた金属検出テストを行うことができる。

本発明に係るテストピース排出装置では、導出部は、配置されたテストピースの有無を検出するセンサを有し、制御部は、センサでテストピースが検出された場合に、導出部によりテストピースをシュート部に導出させてもよい。これにより、金属検出テストの準備できているかどうかを判断し、準備ができている場合に金属検出テストを行うことができる。

本発明に係るこの組合せ計量装置は、上記テストピース排出装置を備えた組合せ計量装置であって、組合せ計量装置の稼働を制御する計量装置制御部を備え、計量装置制御部は、導出部によりテストピースをシュート部に導出させた際に金属検出装置で金属検出されない場合、組合せ計量装置の稼働を停止させる。

この組合せ計量装置においても、上記テストピース排出装置を備えることから、金属検出テストを精度よく行うことができるという上記作用効果が奏される。

一実施形態に係る組合せ計量装置の構成図である。 金属検出テスト時における図１のテストピース排出装置を示す斜視図である。 清掃時における図１のテストピース排出装置を示す斜視図である。 図１のテストピース排出装置における導出部を示す斜視図である。 図４のＶ−Ｖ線に沿う断面図である。 （ａ）は、図１のテストピース排出装置を用いた金属検出テストの一例を説明するフローチャートである。（ｂ）は、図６（ａ）の続きを示すフローチャートである。 （ａ）は、図６（ｂ）の続きを示すフローチャートである。（ｂ）は、図７（ａ）の続きを示すフローチャートである。

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。

図１に示されるように、組合せ計量装置１は、投入シュート２、分散フィーダ３、複数の放射フィーダ４、複数のプールホッパ５、複数の計量ホッパ（ホッパ）６、集合シュート（シュート部）８、タイミングホッパ９、金属検出装置１０、中間シュート２１、セパレートタイミングホッパ２２、排出シュート２３、回収シュート２４、回収ボックス２５、計量部１１及び制御部２０を備える。

組合せ計量装置１は、搬送コンベア５０によって供給される物品Ａ（農産物、水産物、加工食品等のように、単体質量にばらつきのある物品）を目標計量値となるように計量して製袋包装機６０に供給する。なお、製袋包装機６０は、フィルムを所定容量の袋に成形しつつ、組合せ計量装置１によって計量されて供給された物品Ａを袋詰めする。

投入シュート２は、搬送コンベア５０の搬送端５０ａの下方に配置される。投入シュート２は、外部から搬送コンベア５０によって搬送されて搬送コンベア５０の搬送端５０ａから落下した物品Ａを受けて下方に排出する。

分散フィーダ３は、投入シュート２の下方に配置される。分散フィーダ３は、下方に向かって末広がりの円錐状の搬送面３ａを有する。分散フィーダ３は、搬送面３ａを振動させることで、投入シュート２から搬送面３ａの頂部に排出された物品Ａを搬送面３ａの外縁に向かって均一に搬送する。

複数の放射フィーダ４は、分散フィーダ３の搬送面３ａの外縁に沿って放射状に配置される。各放射フィーダ４は、搬送面３ａの外縁の下方から外側に延在するトラフ４ａを有する。各放射フィーダ４は、トラフ４ａを振動させることで、搬送面３ａの外縁から排出された物品Ａをトラフ４ａの先端部に向かって搬送する。

複数のプールホッパ５は、鉛直方向に平行な中心線ＣＬを囲むように配置される。各プールホッパ５は、各放射フィーダ４のトラフ４ａの先端部の下方に配置される。各プールホッパ５は、その底部に対して開閉可能なゲート５ａを有する。各プールホッパ５は、ゲート５ａを閉じることで、対応するトラフ４ａの先端部から排出された物品Ａを一時的に貯留する。更に、各プールホッパ５は、ゲート５ａを開くことで、一時的に貯留した物品Ａを下方に排出する。

複数の計量ホッパ６は、中心線ＣＬを囲むように配置される。各計量ホッパ６は、各プールホッパ５のゲート５ａの下方に配置される。各計量ホッパ６は、本体部６１と、本体部６１の底部に対して開閉可能なゲート６２と、を有する。各計量ホッパ６は、ゲート６２を閉じることで、対応するプールホッパ５から排出された物品Ａを本体部６１内に一時的に貯留する。更に、各計量ホッパ６は、ゲート６２を開くことで、本体部６１内に一時的に貯留した物品Ａを下方に排出する。

集合シュート８は、各計量ホッパ６から排出された物品Ａを排出口８ａに集合させる。排出口８ａは、複数の計量ホッパ６に対して下側且つ中心線ＣＬ上に位置する。集合シュート８は、上段シュート部８１と、下段シュート部８２と、を有する。上段シュート部８１は、各計量ホッパ６から排出された物品Ａを受けて当該物品Ａを排出口８ａ側（すなわち、中心線ＣＬ側且つ下側）に滑走させる。下段シュート部８２は、下方に向かって先細りの円錐台状の筒体であり、上側の開口８２ａ及び下側の開口８２ｂを有する。下段シュート部８２は、下側の開口８２ｂを排出口８ａとして、当該排出口８ａから物品Ａを下方に排出する。

タイミングホッパ９は、排出口８ａの下方に配置される。タイミングホッパ９は、その底部に対して開閉可能なゲート９ａ，９ｂを有する。タイミングホッパ９は、ゲート９ａ，９ｂを閉じることで、集合シュート８から排出された物品Ａを一時的に貯留する。タイミングホッパ９は、一時的に貯留した物品Ａを、ゲート９ａを開くことで中間シュート２１に排出する。タイミングホッパ９は、一時的に貯留した物品Ａを、ゲート９ｂを開くことで回収シュート２４に排出する。

金属検出装置１０は、集合シュート８の下段シュート部８２近傍に配置されている。金属検出装置１０は、サーキュラー型の金属検出機である。金属検出装置１０は、物品Ａに混在する金属部材（金属）を検出する装置である。金属検出装置１０は、集合シュート８を通過する金属部材を検出する。金属検出装置１０は、下段シュート部８２を挟むように配置されている。この金属検出装置１０は、コイルを励起して下段シュート部８２内に磁界を発生させる磁界発生部と、下段シュート部８２内に発生させた磁界の変化を検出する検出コイルと、検出コイルに誘起された信号を処理する信号処理部と、を含む。金属検出装置１０は、検出した検出結果を制御部２０へ送信する。金属検出装置１０としては、特に限定されず、種々の装置を用いることができる。

中間シュート２１は、タイミングホッパ９の下側に配置される。中間シュート２１は、タイミングホッパ９から排出される物品Ａを更に下側に排出する。具体的には、中間シュート２１は、タイミングホッパ９のゲート９ａが開くことで、当該タイミングホッパ９から排出される物品Ａを更に下側に排出する。中間シュート２１には、正量（Proper Weight）で且つ金属等の異物が混入されていない物品Ａが排出される。なお、正量とは、例えば、組合せ計量の結果に係る合計計量値が、目標計量値を下限値とする所定範囲内に収まっている場合をいう。

セパレートタイミングホッパ２２は、中間シュート２１の下側に配置される。セパレートタイミングホッパ２２は、中間シュート２１から排出される物品Ａを一時的に蓄積する。具体的には、セパレートタイミングホッパ２２は、そのゲート（図示省略）を閉じている状態で、中間シュート２１から排出される物品Ａを蓄積し、その状態からゲートを開くことで、物品Ａを下側に排出する。

排出シュート２３は、タイミングホッパ９の下側に配置される。排出シュート２３は、セパレートタイミングホッパ２２のゲートが開くことで当該セパレートタイミングホッパ２２から排出される物品Ａを更に下側に排出する。排出シュート２３から排出される物品Ａは、製袋包装機６０に供給される。

回収シュート２４は、タイミングホッパ９の下側に配置される。回収シュート２４は、タイミングホッパ９から排出される物品Ａを回収ボックス２５に排出する。具体的には、回収シュート２４は、タイミングホッパ９のゲート９ｂが開くことで、当該タイミングホッパ９から排出される物品Ａを回収ボックス２５に排出する。回収シュート２４及び回収ボックス２５には、正量ではない（計量値の組合せに不具合のある）物品Ａ、及び／又は、金属等の異物が混入された物品Ａが排出される。

計量部１１は、基台１２に支持されたケース１３内に配置される。計量部１１は、複数のロードセル１１ａを有する。各ロードセル１１ａは、対応する計量ホッパ６を支持する。計量部１１は、各計量ホッパ６に物品Ａが一時的に貯留される際に、当該物品Ａの質量に応じた計量値を計量する。

制御部２０は、ケース１３内に配置される。制御部２０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）等を有する。制御部２０は、分散フィーダ３及び放射フィーダ４の搬送動作、各プールホッパ５のゲート５ａの開閉動作、各計量ホッパ６のゲート６２の開閉動作、並びにタイミングホッパ９のゲート９ａ，９ｂの開閉動作等、組合せ計量装置１の各部の動作を制御する。制御部２０は、組合せ計量装置１の稼働を制御する。制御部２０は、計量装置制御部を構成する。なお、制御部２０は、製袋包装機６０と通信可能に接続される。

制御部２０は、計量部１１によって計量された計量値と、当該計量値に対応する物品Ａを貯留する計量ホッパ６とを対応付けて記憶する。制御部２０は、計量部１１によって計量され且つ各計量ホッパ６に対応付けられた複数の計量値から、合計値が目標計量値となるように計量値の組合せを選択する。より具体的には、制御部２０は、計量部１１によって出力された複数の計量値から、目標計量値を下限値とする所定範囲内に合計値が収まるように計量値の組合せを選択する。そして、制御部２０は、当該組合せに対応する複数の計量ホッパ６に物品Ａを排出させる。

なお、投入シュート２、分散フィーダ３、複数の放射フィーダ４、複数のプールホッパ５及び複数の計量ホッパ６は、ケース１３に直接的に又は間接的に支持される。集合シュート８及びタイミングホッパ９は、基台１２に直接的に又は間接的に支持される。

本実施形態の組合せ計量装置１は、金属検出装置１０とともに利用されるテストピース排出装置３０を備える。以下、テストピース排出装置３０を説明する。

図２、図４及び図５に示されるように、テストピース排出装置３０は、導出部３１及び支持ロッド３２を備える。テストピース排出装置３０は、例えば金属検出装置１０の金属検出テストに用いるテストピースＴＰを排出する。

テストピースＴＰは、金属検出装置１０による金属検出の対象となる金属片である。テストピースＴＰは、例えばステンレス鋼、鉄及びアルミニウム等で形成されている。複数のテストピースＴＰは、第１テストピースＴＰ１、第２テストピースＴＰ２及び第３テストピースＴＰ３を含む。第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３は、互いに異なる種類の金属片である。例えば第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３は、形状、大きさ及び材料の少なくとも何れかが互いに異なる。

導出部３１は、複数のテストピースＴＰが配置され、複数のテストピースＴＰのそれぞれを集合シュート８に導出する機構である。導出部３１は、第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３が個別に配置され、第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３を個別に集合シュート８に導出可能である。導出部３１は、所定のタイミング時に順番にテストピースＴＰ１〜ＴＰ３を排出する。導出部３１は、ケース３３、ガイド板３４、収容筒３５、及び、揺動アーム３６を有する。導出部３１は、制御部２０（外部）からの制御信号に基づき動作する。

ケース３３は、矩形箱状を呈する。ケース３３は、支持ロッド３２により基台１２に支持されている。ガイド板３４は、ケース３３にブラケットＢＲ１を介して固定されている。ガイド板３４は、テストピースＴＰの集合シュート８への落下をガイドする。ガイド板３４は、鉛直面に対して傾斜する傾斜面としてのガイド面３４ａを有する。

収容筒３５は、第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃを含む。第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃは、矩形筒状を呈する部材である。第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃは、第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３を収容する。第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃは、ケース３３にブラケットＢＲ２を介して固定されている。第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃは、水平方向に沿って並設されている。第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃは、ガイド面３４ａに沿うように傾斜して延在する。第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃは、ガイド面３４ａに沿う方向におけるガイド板３４の上方に、当該ガイド板３４に対して隙間Ｓをあけて配置されている。第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃの上側は、その内部が露出するように切り欠かれている。

揺動アーム３６は、第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃのそれぞれに対応して複数設けられている。揺動アーム３６は、第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃが並ぶ水平方向に沿って延びる揺動軸３７を基軸に、揺動可能に構成されている。揺動軸３７は、ケース３３に固定されている。揺動アーム３６は、収容筒３５側に設けられた第１アーム部３８と、第１アーム部３８に対して揺動軸３７を介して反対側に設けられた第２アーム部３９と、を有する。

第１アーム部３８は、収容筒３５の下方に位置する。第１アーム部３８は、先端側が上方へ折り曲げられた板部材を含む。第１アーム部３８の当該先端側は、収容筒３５の下方側の筒孔を塞ぐように隙間Ｓに進入可能な板状のゲート４０を構成する。第２アーム部３９は、その一部がケース３３内に位置する。第２アーム部３９の先端側は、エアシリンダ４１に連結され、エアシリンダにより上下方向の力が付与される。エアシリンダ４１は、ケース３３に収容されている。

このような導出部３１では、図５に示されるように、ゲート４０が閉の状態（隙間Ｓに進入する状態）において、収容筒３５及びゲート４０で仕切られた空間にテストピースＴＰが配置される。そして、制御部２０からの制御信号に基づきエアシリンダ４１が駆動し、当該駆動により第２アーム部３９が上方に可動すると、これに伴って第１アーム部３８が第１〜第３収容筒３５ａ，３５ｂ，３５ｃから離れるように揺動する（図中の破線参照）。その結果、ゲート４０が開の状態（隙間Ｓから退出した状態）となり、テストピースＴＰがガイド板３４のガイド面３４ａに沿って落下する。

導出部３１は、第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃを有する。第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃは、導出部３１に配置された第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３の有無を検出するレーザセンサである。第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃとしては特に限定されず、種々のセンサを用いることができる。

支持ロッド３２は、導出部３１を支持する。支持ロッド３２は、鉛直方向に沿って延びる。支持ロッド３２の下端は、基台１２の吊りボルト用の孔に挿入されて着脱自在に固定されている。つまり、支持ロッド３２は、基台１２の吊りボルト用の孔を利用（兼用）して基台１２に設けられている。

テストピース排出装置３０では、導出部３１は、テストピースＴＰを導出する導出方向を第１方向Ｄ１（図２参照）と第２方向Ｄ２（図３参照）との間で切り替え可能に構成されている。導出方向は、ガイド板３４のガイド面３４ａに沿う方向に対応する。第１方向Ｄ１は、テストピースＴＰが集合シュート８に導出される方向である。第２方向Ｄ２は、テストピースＴＰが集合シュート８に導出されない方向である。一例として、支持ロッド３２と基台１２との固定を一旦解除し、当該支持ロッド３２をその軸回りに回転させた後、支持ロッド３２と基台１２とを再び固定することで、導出部３１は第１方向Ｄ１と第２方向Ｄ２との間で導出方法を切り替える。

テストピース排出装置３０は、導出部３１を制御し、組合せ計量装置１の稼働中にテストピースＴＰを集合シュート８に導出させる制御部として、上記制御部２０を備える。制御部２０は、金属検出装置１０に接続されており、金属検出装置１０の検出結果が入力される。制御部２０は、エアシリンダ４１に接続されており、エアシリンダ４１の駆動を制御する。制御部２０は、第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃに接続されており、第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃの検出結果が入力される。制御部２０は、以下の制御を実行する。なお、具体的な説明は、図６及び図７のフローチャートを用いて後述する。

制御部２０は、導出部３１を制御し、第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３を個別に集合シュート８に導出させる。具体的には、制御部２０は、エアシリンダ４１の駆動を制御して複数の揺動アーム３６を個別に揺動させ、第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３を個別に落下させる。

制御部２０は、第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３をこの順で集合シュート８に導出させる。具体的には、制御部２０は、導出部３１により第１テストピースＴＰ１を上段シュート部８１に導出させた際に金属検出装置１０で金属検出された場合、導出部３１により第２テストピースＴＰ２を上段シュート部８１に導出させる。制御部２０は、導出部３１により第２テストピースＴＰ２を上段シュート部８１に導出させた際に金属検出装置１０で金属検出された場合、導出部３１により第３テストピースＴＰ３を上段シュート部８１に導出させる。一方、制御部２０は、導出部３１により第１〜第３テストピースＴＰ１を上段シュート部８１に導出させた際に金属検出装置１０で金属検出されない場合、導出部３１の動作を終了する。

制御部２０は、複数の計量ホッパ６から物品Ａが集合シュート８に排出されるタイミングに対する、導出部３１によりテストピースＴＰを集合シュート８に導出させる相対的なタイミングを、入力操作に応じて調整する。入力操作は、例えば、組合せ計量装置１のＧＵＩ（Graphical User Interface）等を介して行うことができる。例えば組合せ計量装置１のＧＵＩ上のプラスボタン及びマイナスボタンを適宜にタップすることで、導出部３１によるテストピースＴＰの導出タイミングを早める及び遅らせることができる。

制御部２０は、計量部１１の計量結果に基づいて、計量ホッパ６から集合シュート８へ排出される物品Ａが正量であるか否かを判定し、計量ホッパ６から集合シュート８へ正量の物品Ａが排出される場合に、導出部３１によりテストピースＴＰを集合シュート８に導出させる。制御部２０は、導出部３１によりテストピースＴＰを集合シュート８に導出させた際に金属検出装置１０で金属検出されない場合、組合せ計量装置１の稼働を停止させる。

制御部２０は、第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃで第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３がそれぞれ検出された場合に、第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３のそれぞれを導出部３１により集合シュート８に導出させる（導出許可する）。一方、制御部２０は、第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃで第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３の少なくとも何れかが検出されない場合に、検出されない当該少なくとも何れかについて導出部３１により集合シュート８に導出させない（導出禁止する）。

次に、図６及び図７のフローチャートを用いて、テストピース排出装置３０を用いた金属検出テストの一例を説明する。

例えば組合せ計量装置１のＧＵＩにおいて、作業者により金属検出テスト開始の入力操作がなされると、組合せ計量装置１の稼働中において以下の金属検出テスト（制御部２０による処理）が開始される。

すなわち、金属検出テストでは、まず、第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃの検出結果に基づいて、第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３のそれぞれが導出部３１に配置されているか否かを判定する（ステップＳ１）。

上記ステップＳ１でＹｅｓの場合、タイミングホッパ９から物品Ａを排出させる（ステップＳ２）。タイミングホッパ９からの物品Ａの排出では、例えば、計量部１１の計量結果が正量で且つ金属検出装置１０で金属検出されていない当該物品Ａは、中間シュート２１、セパレートタイミングホッパ２２及び排出シュート２３を介して製袋包装機６０へ排出される一方、計量結果が正量ではなく及び／又は金属検出された当該物品Ａは、回収シュート２４を介して回収ボックス２５へ排出される。（以下のタイミングホッパ９からの物品Ａの排出において同様）。

上記ステップＳ２の後、計量部１１の計量結果に基づいて、計量ホッパ６から集合シュート８へ排出させる物品Ａが正量であるか否かを判定する（ステップＳ３）。上記ステップＳ３でＮｏの場合、計量ホッパ６から物品Ａを排出させる（ステップＳ４）。上記ステップＳ４の後、上記ステップＳ２の処理に戻る。上記ステップＳ４では、計量ホッパ６からの物品Ａの排出に応じて、計量ホッパ６よりも上流側の各部を適宜に制御（物品Ａの計量及び排出等）する。

上記ステップＳ３でＹｅｓの場合、計量ホッパ６から物品Ａを排出させるとともに、導出部３１を制御して第１テストピースＴＰ１を集合シュート８に導出させる（ステップＳ５）。上記ステップＳ５において、第１テストピースＴＰ１を導出するタイミングは、計量ホッパ６から物品Ａを排出するタイミングと同時でもよいし、計量ホッパ６から物品Ａを排出するタイミングの前又は後にずれていてもよい。上記ステップＳ５では、計量ホッパ６からの物品Ａの排出に応じて、計量ホッパ６よりも上流側の各部を適宜に制御（物品Ａの計量及び排出等）する。

上記ステップＳ５の後、金属検出装置１０で金属検出されたか否かを判定する（ステップＳ６）。上記ステップＳ６でＹｅｓの場合、第１テストピースＴＰ１を金属検出装置１０で検出したと判断する（ステップＳ７）。タイミングホッパ９から物品Ａを排出させる（ステップＳ８）。

上記ステップＳ８の後、計量部１１の計量結果に基づいて、計量ホッパ６から集合シュート８へ排出させる物品Ａが正量であるか否かを判定する（ステップＳ９）。上記ステップＳ９でＮｏの場合、計量ホッパ６から物品Ａを排出させる（ステップＳ１０）。上記ステップＳ１０の後、上記ステップＳ８の処理に戻る。上記ステップＳ１０では、計量ホッパ６からの物品Ａの排出に応じて、計量ホッパ６よりも上流側の各部を適宜に制御（物品Ａの計量及び排出等）する。

上記ステップＳ９でＹｅｓの場合、計量ホッパ６から物品Ａを排出させるとともに、導出部３１を制御して第２テストピースＴＰ２を集合シュート８に導出させる（ステップＳ１１）。上記ステップＳ１１において、第２テストピースＴＰ２を導出するタイミングは、計量ホッパ６から物品Ａを排出するタイミングと同時でもよいし、計量ホッパ６から物品Ａを排出するタイミングの前又は後にずれていてもよい。上記ステップＳ１１では、計量ホッパ６からの物品Ａの排出に応じて、計量ホッパ６よりも上流側の各部を適宜に制御（物品Ａの計量及び排出等）する。

上記ステップＳ１１の後、金属検出装置１０で金属検出されたか否かを判定する（ステップＳ１２）。上記ステップＳ１２でＹｅｓの場合、第２テストピースＴＰ２を金属検出装置１０で検出したと判断する（ステップＳ１３）。タイミングホッパ９から物品Ａを排出させる（ステップＳ１４）。

上記ステップＳ１４の後、計量部１１の計量結果に基づいて、計量ホッパ６から集合シュート８へ排出させる物品Ａが正量であるか否かを判定する（ステップＳ１５）。上記ステップＳ１５でＮｏの場合、計量ホッパ６から物品Ａを排出させる（ステップＳ１６）。上記ステップＳ１６の後、上記ステップＳ１４の処理に戻る。上記ステップＳ１６では、計量ホッパ６からの物品Ａの排出に応じて、計量ホッパ６よりも上流側の各部を適宜に制御（物品Ａの計量及び排出等）する。

上記ステップＳ１５でＹｅｓの場合、計量ホッパ６から物品Ａを排出させるとともに、導出部３１を制御して第３テストピースＴＰ３を集合シュート８に導出させる（ステップＳ１７）。上記ステップＳ１７において、第３テストピースＴＰ３を導出するタイミングは、計量ホッパ６から物品Ａを排出するタイミングと同時でもよいし、計量ホッパ６から物品Ａを排出するタイミングの前又は後にずれていてもよい。上記ステップＳ１７では、計量ホッパ６からの物品Ａの排出に応じて、計量ホッパ６よりも上流側の各部を適宜に制御（物品Ａの計量及び排出等）する。

上記ステップＳ１７の後、金属検出装置１０で金属検出されたか否かを判定する（ステップＳ１８）。上記ステップＳ１８でＹｅｓの場合、第３テストピースＴＰ３を金属検出装置１０で検出したと判断する（ステップＳ１９）。タイミングホッパ９から物品Ａを排出させる（ステップＳ２０）。

一方。上記ステップＳ１，Ｓ６，Ｓ１２，Ｓ１８でＮｏの場合、金属検出装置１０の金属検出のエラーを検知する（ステップＳ２１）。組合せ計量装置１の稼働を停止させる（ステップＳ２２）。上記ステップＳ２１では、当該エラー及びその内容を、組合せ計量装置１のＧＵＩに表示ないし音声出力させてもよい。上記ステップＳ２０，Ｓ２２の後、金属検出テストを終了する。

以上、テストピース排出装置３０では、組合せ計量装置１の稼働中にテストピースＴＰが導出され、且つ、当該テストピースＴＰは、集合シュート８の外部ではなく内部に導出されて物品Ａに混入される。したがって、テストピース排出装置３０を用いた金属検出テストでは、物品Ａに混入した金属を金属検出装置１０で実際に検出する際の検出状況である実際の検出状況（例えば、実際に物品Ａと金属とが混ざっている状況、実際に物品Ａと金属とが集合シュート８を通る経路の状況、及び、ノイズによる誤検知の状況等）を考慮することができる。また、最も厳しい状況下で金属検出テストを行うことができる。したがって、金属検出テストを精度よく行うことが可能となる。金属検出装置１０を精度よく校正することが可能となる。

なお、テストピース排出装置３０では、組合せ計量装置１の稼働中に金属検出テストを実施できるため、組合せ計量装置１の前段の他の装置を停止することもなく、組合せ計量装置１の前段の他の装置は停止困難であるという実情に応じることも可能となる。

テストピース排出装置３０では、導出部３１において、複数のテストピースＴＰが個別に配置されており、複数のテストピースＴＰが個別に集合シュート８に導出される。これにより、複数のテストピースＴＰを事前に導出部３１に配置しておくことで、組合せ計量装置１の稼働中であっても、複数のテストピースＴＰを用いた金属検出テストを一人の作業者の操作で容易に行うことができる。

テストピース排出装置３０では、導出部３１により第１テストピースＴＰ１を集合シュート８に導出させた際に金属検出装置１０で金属検出された場合、導出部３１により第２テストピースＴＰ２を集合シュート８に導出させる。導出部３１により第１テストピースＴＰ１を集合シュート８に導出させた際に金属検出装置１０で金属検出されない場合、導出部３１の動作を終了する。この場合、複数のテストピースＴＰを互いに重複することなく導出させて、金属検出テストを効率よく行うことが可能となる。

テストピース排出装置３０では、複数の計量ホッパ６から物品Ａが集合シュート８に排出されるタイミングに対する、導出部３１によりテストピースＴＰを集合シュート８に導出させる相対的なタイミングを、入力操作に応じて調整可能である。このような調整により、金属検出テストにおける物品ＡとテストピースＴＰとの混入状況を、実際の検出状況に近づくように適宜調整することが可能となる。

テストピース排出装置３０では、導出部３１は、テストピースＴＰを導出する導出方向を、テストピースＴＰが集合シュート８に導出される第１方向Ｄ１（図２参照）と、テストピースＴＰが集合シュート８に導出されない第２方向Ｄ２（図３参照）との間で切り替え可能に構成されている。これにより、例えば清掃時において集合シュート８を取り外す際に邪魔にならないように、導出部３１の導出方向を第１方向Ｄ１から第２方向Ｄ２へ切り替えることができる。

テストピース排出装置３０では、集合シュート８へ正量の物品Ａが排出される場合に、導出部３１によりテストピースＴＰを集合シュート８に導出させる。これにより、実際の検出状況に一層近づけた金属検出テストを行うことができる。

テストピース排出装置３０では、導出部３１は第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃを有する。第１〜第３レーザセンサ４２ａ，４２ｂ，４２ｃで第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３が検出された場合において、導出部３１による第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３の導出を行う（導出を許可する）。これにより、金属検出テストの準備できているかどうかを判断し、準備ができている場合に金属検出テストを行うことができる。

組合せ計量装置１においても、テストピース排出装置３０を備えることから、テストピース排出装置３０による上記作用効果、すなわち、金属検出テストを精度よく行うことができる等の作用効果が奏される。

なお、テストピース排出装置３０では、例えば組合せ計量装置１のＧＵＩ等を介した入力操作により導出部３１を制御することで、テストピースＴＰを集合シュート８に導出させることができる。よって、１又は複数のテストピースを事前に導出部３１に設置しておくことで、作業者が一人でＧＵＩ等を操作し、組合せ計量装置１の稼働中に金属検出装置１０の校正を行うことができる。作業者はＧＵＩ等の周辺にいるため、排出されたテストピースＴＰを作業者が容易に確認及び排除することが可能となる。

テストピース排出装置３０は、集合シュート８の外側に設けられるため、組合せ計量装置１の設置後に容易に増設することができる。テストピース排出装置３０を用いた金属検出テストでは、金属検出装置１０で金属検出されない場合に異常（エラー）を検知する。通常は金属検出装置１０で金属検出された場合に異常を検知することからして、テストピース排出装置３０を用いた金属検出テストでは、通常と逆の判断アルゴリズムで実施される。

以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。

上記実施形態では、第１〜第３テストピースＴＰ１〜ＴＰ３を配置及び導出可能に導出部３１を構成したが、これに限定されない。例えば導出部３１は、１つのテストピースＴＰのみを配置及び導出可能に構成されていてもよい。例えば導出部３１は、２つ又は４つ以上のテストピースＴＰを配置及び導出可能に構成されていてもよい。

上記実施形態では、回収シュート２４と回収ボックス２５との間にセンサを設け、回収シュート２４から回収ボックス２５に排出される物品Ａを検知してもよい。回収シュート２４から回収ボックス２５に排出される物品Ａを検知することで、正量ではない及び／又は金属等の異物が混入された物品Ａが系外に確実に排出されたことを確認できる。

上記実施形態では、分散フィーダ３及び複数の放射フィーダ４に代えて、物品Ａを搬送できる構成を有する他の構成を備えていてもよい。本発明の複数のホッパは、上述した複数の計量ホッパ６のように環状に配置されたものに限定されず、マトリックス状に配置されたものであってもよい。組合せ計量装置１は、複数のブースタホッパ７を備えていてもよい。

１…組合せ計量装置、６…計量ホッパ（ホッパ）、８…集合シュート（シュート部）、１０…金属検出装置、２０…制御部（計量装置制御部）、３０…テストピース排出装置、３１…導出部、４２ａ…第１レーザセンサ（センサ）、４２ｂ…第２レーザセンサ（センサ）、４２ｃ…第３レーザセンサ（センサ）、Ｄ１…第１方向、Ｄ２…第２方向、ＴＰ…テストピース、ＴＰ１…第１テストピース、ＴＰ２…第２テストピース、ＴＰ３…第３テストピース。

Claims (8)

1. 複数のホッパと、複数の前記ホッパから排出された物品を集合させるシュート部と、前記シュート部近傍に配置され、前記物品に混在する金属部材を検出する金属検出装置と、を備えた組合せ計量装置において、前記金属検出装置とともに利用されるテストピース排出装置であって、
   前記金属検出装置による金属検出の対象となるテストピースが配置され、前記テストピースを前記シュート部に導出可能な導出部と、
   前記導出部を制御し、前記組合せ計量装置の稼働中に前記テストピースを前記シュート部に導出させる制御部と、を備える、テストピース排出装置。
2. 前記導出部は、複数の前記テストピースが個別に配置され、複数の前記テストピースを個別に前記シュート部に導出可能であり、
   前記制御部は、複数の前記テストピースを個別に前記シュート部に導出させる、請求項１に記載のテストピース排出装置。
3. 複数の前記テストピースは、第１テストピース及び第２テストピースを含み、
   前記制御部は、
   前記導出部により前記第１テストピースを前記シュート部に導出させた際に前記金属検出装置で金属検出された場合、前記導出部により前記第２テストピースを前記シュート部に導出させ、
   前記導出部により前記第１テストピースを前記シュート部に導出させた際に前記金属検出装置で金属検出されない場合、前記導出部の動作を終了する、請求項２に記載のテストピース排出装置。
4. 前記制御部は、複数の前記ホッパから前記物品が前記シュート部に排出されるタイミングに対する、前記導出部により前記テストピースを前記シュート部に導出させる相対的なタイミングを、入力操作に応じて調整する、請求項１〜３の何れか一項に記載のテストピース排出装置。
5. 前記導出部は、前記テストピースを導出する導出方向を第１方向と第２方向との間で切り替え可能に構成され、
   前記第１方向は、前記テストピースが前記シュート部に導出される方向であり、
   前記第２方向は、前記テストピースが前記シュート部に導出されない方向である、請求項１〜４の何れか一項に記載のテストピース排出装置。
6. 前記制御部は、前記シュート部へ正量の前記物品が排出される場合に、前記導出部により前記テストピースを前記シュート部に導出させる、請求項１〜５の何れか一項に記載のテストピース排出装置。
7. 前記導出部は、配置された前記テストピースの有無を検出するセンサを有し、
   前記制御部は、前記センサで前記テストピースが検出された場合に、前記導出部により前記テストピースを前記シュート部に導出させる、請求項１〜６の何れか一項に記載のテストピース排出装置。
8. 請求項１〜７の何れか一項に記載のテストピース排出装置を備えた組合せ計量装置であって、
   前記組合せ計量装置の稼働を制御する計量装置制御部を備え、
   前記計量装置制御部は、前記導出部により前記テストピースを前記シュート部に導出させた際に前記金属検出装置で金属検出されない場合、前記組合せ計量装置の稼働を停止させる、組合せ計量装置。

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