JP2020073894A - 電磁波検出装置および情報取得システム - Google Patents
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Abstract
Description
入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、
前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、
前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える。
入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を有する電磁波検出装置と、
前記第2の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える。
11 情報取得システム
12 照射部
13 反射部
14 制御部
15 前段光学系
16 分離部
17 第1の検出部
18、180、181 切替部
19 第1の後段光学系
20 第2の検出部
210 第2の後段光学系
220 第3の検出部
as 作用面
d1、d2、d3、d4 第1の方向、第2の方向、第3の方向、第4の方向
ob 対象
Claims (25)
- 入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、
前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、
前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項1に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記複数の切替素子のうち前記照射領域に対応する切替素子を前記第1の状態に切替え、他の切替素子を前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項1または2に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記照射領域のうち検出対象位置に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項1から3のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記照射領域を変更する変更部を、さらに備え、
前記切替部は、前記変更部による前記照射領域の変更に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項1から4のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の方向に進行した電磁波を結像する結像部を、さらに備え、
前記切替部は、前記結像部による結像位置または結像位置近傍に配置される
電磁波検出装置。 - 請求項1から4のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の方向に進行した電磁波を結像する結像部を、さらに備え、
前記切替部は、前記複数の切替素子のうち、前記照射領域から入射する電磁波の前記結像部による結像領域のなかの少なくとも一部の切替素子を前記第1の状態に切替え、他の切替素子を前記第2の状態に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項1から6のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記照射部は、ビーム状の電磁波を放射する
電磁波検出装置。 - 請求項1から7のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第4の方向に進行した前記電磁波を検出する第3の検出部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項1から8のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を第1の方向に反射し、該電磁波の別の一部を前記第2の方向に透過する
電磁波検出装置。 - 請求項1から8のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を第1の方向に透過し、該電磁波の別の一部を前記第2の方向に透過する
電磁波検出装置。 - 請求項1から8のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、入射する電磁波の一部を第1の方向に屈折させ、該電磁波の別の一部を前記第2の方向に屈折させる
電磁波検出装置。 - 請求項1から11のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記分離部は、ハーフミラー、ビームスプリッタ、ダイクロイックミラー、コールドミラー、ホットミラー、およびメタサーフェスの少なくともいずれかを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から12のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記第2の方向に進行した電磁波を、前記第3の方向に反射する第1の反射状態と、前記第4の方向に反射する第2の反射状態とに、前記切替素子毎に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項13に記載の電磁波検出装置において、
前記切替素子は電磁波を反射する反射面を有し、
前記切替部は、前記切替素子毎に、前記反射面の向きを変更することにより前記第1の反射状態と前記第2の反射状態とを、切替える
電磁波検出装置。 - 請求項13または14に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、デジタルマイクロミラーデバイスを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から12のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、前記第2の方向に進行した電磁波を、前記第3の方向に透過する透過状態と、前記第4の方向に反射させる反射状態とに、前記切替素子毎に切替える
電磁波検出装置。 - 請求項16に記載の電磁波検出装置において、
前記切替素子は電磁波を反射する反射面を含むシャッタを有し、
前記切替素子毎に、前記シャッタを開閉することにより前記反射状態と前記透過状態とを、切替る
電磁波検出装置。 - 請求項17に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、開閉可能な複数の前記シャッタがアレイ状に配列されたMEMSシャッタを含む
電磁波検出装置。 - 請求項16に記載の電磁波検出装置において、
前記切替部は、電磁波を反射する反射状態および透過する透過状態を液晶配光に応じて前記切替素子毎に切替可能な液晶シャッタを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から19のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部は、測距センサ、イメージセンサ、およびサーモセンサの少なくともいずれかを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1から20のいずれか1項に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、周囲に関する情報を取得する制御部を、さらに備える
電磁波検出装置。 - 請求項21に記載の電磁波検出装置において、
前記制御部は、前記周囲に関する情報として、画像情報、距離情報、および温度情報の少なくともいずれかを取得する
電磁波検出装置。 - 請求項8に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部および前記第3の検出部は、異種または同種の電磁波を検出する
電磁波検出装置。 - 請求項23に記載の電磁波検出装置において、
前記第2の検出部および前記第3の検出部はそれぞれ、赤外線、可視光線、紫外線、および電波の少なくともいずれかを検出する
電磁波検出装置。 - 入射する電磁波の一部を第2の方向に進行させる分離部と、前記第2の方向に進行した電磁波を第3の方向に進行させる第1の状態および第4の方向に進行させる第2の状態に切替え可能な複数の切替素子を有する切替部と、前記第3の方向に進行した前記電磁波を検出する第2の検出部と、を有する電磁波検出装置と、
前記第2の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、前記電磁波検出装置の周囲に関する情報を取得する制御部と、を備え、
前記切替部は、照射部により放射された電磁波の照射領域に応じて、前記複数の切替素子をそれぞれ前記第1の状態および前記第2の状態に切替える
情報取得システム。
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Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0743115A (ja) * | 1993-07-26 | 1995-02-10 | Sony Corp | 距離測定方法および距離測定装置 |
JP2004014802A (ja) * | 2002-06-06 | 2004-01-15 | Sony Corp | 撮像装置 |
JP2004163271A (ja) * | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Tokyo Denki Univ | 非接触画像計測装置 |
JP2005521276A (ja) * | 2001-11-27 | 2005-07-14 | トムソン ライセンシング ソシエテ アノニム | 特別効果ビデオカメラ |
JP2005535869A (ja) * | 2002-01-15 | 2005-11-24 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 空間フィルタリングを使用したパターン化されたウェハの検査 |
CN1702452A (zh) * | 2004-05-24 | 2005-11-30 | 中国科学院光电技术研究所 | 数字微镜多目标成像光谱仪装置 |
DE102005049471A1 (de) * | 2005-10-13 | 2007-05-31 | Ingenieurbüro Spies GbR (vertretungsberechtigte Gesellschafter: Hans Spies, Martin Spies, 86558 Hohenwart) | Entfernungssensor mit Einzelflächenabtastung |
JP2008216131A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Mitsubishi Electric Corp | 赤外線撮像・レーザ測距装置 |
JP2010096574A (ja) * | 2008-10-15 | 2010-04-30 | Ihi Corp | レーザレーダ及びレーザレーダによる計測方法 |
JP2014512525A (ja) * | 2011-03-17 | 2014-05-22 | ウニベルジテート ポリテクニカ デ カタル−ニア | 光ビームを受光するシステムと方法とコンピュータ・プログラム |
US20150378023A1 (en) * | 2013-02-13 | 2015-12-31 | Universitat Politecnica De Catalunya | System and method for scanning a surface and computer program implementing the method |
WO2016157593A1 (ja) * | 2015-03-27 | 2016-10-06 | 富士フイルム株式会社 | 距離画像取得装置及び距離画像取得方法 |
US20170026633A1 (en) * | 2015-05-28 | 2017-01-26 | University College Cork - National University Of Ireland, Cork | Coded access optical sensor |
-
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Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0743115A (ja) * | 1993-07-26 | 1995-02-10 | Sony Corp | 距離測定方法および距離測定装置 |
JP2005521276A (ja) * | 2001-11-27 | 2005-07-14 | トムソン ライセンシング ソシエテ アノニム | 特別効果ビデオカメラ |
JP2005535869A (ja) * | 2002-01-15 | 2005-11-24 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 空間フィルタリングを使用したパターン化されたウェハの検査 |
JP2004014802A (ja) * | 2002-06-06 | 2004-01-15 | Sony Corp | 撮像装置 |
JP2004163271A (ja) * | 2002-11-13 | 2004-06-10 | Tokyo Denki Univ | 非接触画像計測装置 |
CN1702452A (zh) * | 2004-05-24 | 2005-11-30 | 中国科学院光电技术研究所 | 数字微镜多目标成像光谱仪装置 |
DE102005049471A1 (de) * | 2005-10-13 | 2007-05-31 | Ingenieurbüro Spies GbR (vertretungsberechtigte Gesellschafter: Hans Spies, Martin Spies, 86558 Hohenwart) | Entfernungssensor mit Einzelflächenabtastung |
JP2008216131A (ja) * | 2007-03-06 | 2008-09-18 | Mitsubishi Electric Corp | 赤外線撮像・レーザ測距装置 |
JP2010096574A (ja) * | 2008-10-15 | 2010-04-30 | Ihi Corp | レーザレーダ及びレーザレーダによる計測方法 |
JP2014512525A (ja) * | 2011-03-17 | 2014-05-22 | ウニベルジテート ポリテクニカ デ カタル−ニア | 光ビームを受光するシステムと方法とコンピュータ・プログラム |
US20150378023A1 (en) * | 2013-02-13 | 2015-12-31 | Universitat Politecnica De Catalunya | System and method for scanning a surface and computer program implementing the method |
WO2016157593A1 (ja) * | 2015-03-27 | 2016-10-06 | 富士フイルム株式会社 | 距離画像取得装置及び距離画像取得方法 |
US20170026633A1 (en) * | 2015-05-28 | 2017-01-26 | University College Cork - National University Of Ireland, Cork | Coded access optical sensor |
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