JP2019140413A - 接続体、接続体の製造方法、接続方法 - Google Patents

接続体、接続体の製造方法、接続方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2019140413A
JP2019140413A JP2019094740A JP2019094740A JP2019140413A JP 2019140413 A JP2019140413 A JP 2019140413A JP 2019094740 A JP2019094740 A JP 2019094740A JP 2019094740 A JP2019094740 A JP 2019094740A JP 2019140413 A JP2019140413 A JP 2019140413A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive particles
electronic component
connection
anisotropic conductive
liquid crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2019094740A
Other languages
English (en)
Inventor
誠一郎 篠原
Seiichiro Shinohara
誠一郎 篠原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dexerials Corp
Original Assignee
Dexerials Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dexerials Corp filed Critical Dexerials Corp
Priority to JP2019094740A priority Critical patent/JP2019140413A/ja
Publication of JP2019140413A publication Critical patent/JP2019140413A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73201Location after the connecting process on the same surface
    • H01L2224/73203Bump and layer connectors
    • H01L2224/73204Bump and layer connectors the bump connector being embedded into the layer connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/831Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus
    • H01L2224/83101Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector the layer connector being supplied to the parts to be connected in the bonding apparatus as prepeg comprising a layer connector, e.g. provided in an insulating plate member

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

【課題】回路基板の配線ピッチや電子部品の電極端子がファインピッチ化されても、電子部品と回路基板との導通性を確保するとともに、電子部品の電極端子間におけるショートを防止する。【解決手段】回路基板12上に異方性導電接着剤1を介して電子部品18が接続された接続体10において、異方性導電接着剤1は、導電性粒子4が規則的に配置され、導電性粒子4の粒子径が、電子部品18の接続電極19の高さの1/2以下であり、電子部品18の接続電極19の配列方向に亘る断面視において、電子部品18の接続電極19間における導電性粒子数は、最大で1〜4である。【選択図】図1

Description

本発明は、電子部品と回路基板との接続方法に関し、特に導電性粒子を含有する接着剤を介して電子部品が回路基板に接続された接続体、接続体の製造方法、接続方法に関する。
従来から、テレビやPCモニタ、携帯電話やスマートホン、携帯型ゲーム機、タブレット端末やウェアラブル端末、あるいは車載用モニタ等の各種表示手段として、液晶表示装置や有機ELパネルが用いられている。近年、このような表示装置においては、ファインピッチ化、軽量薄型化等の観点から、駆動用ICを直接表示パネルのガラス基板上に実装するいわゆるCOG(chip on glass)が採用されている。
例えばCOG実装方式が採用された液晶表示パネルにおいては、図6(A)(B)に示すように、ガラス基板等からなる透明基板101に、ITO(酸化インジウムスズ)等からなる透明電極102が複数形成され、これら透明電極102上に液晶駆動用IC103等の電子部品が接続される。液晶駆動用IC103は、実装面に、透明電極102に対応して複数の電極端子104が形成され、異方性導電フィルム105を介して透明基板101上に熱圧着されることにより、電極端子104と透明電極102とが接続される。
異方性導電フィルム105は、バインダー樹脂に導電性粒子を混ぜ込んでフィルム状としたもので、2つの導体間で加熱圧着されることにより導電性粒子で導体間の電気的導通がとられ、バインダー樹脂にて導体間の機械的接続が保持される。異方性導電フィルム105を構成する接着剤としては、通常、信頼性の高い熱硬化性のバインダー樹脂が用いられるが、光硬化性のバインダー樹脂又は光熱併用型のバインダー樹脂であってもよい。
このような異方性導電フィルム105を介して液晶駆動用IC103を透明電極102へ接続する場合は、先ず、透明基板101の透明電極102上に異方性導電フィルム105を図示しない仮圧着手段によって仮貼りする。続いて、異方性導電フィルム105を介して透明基板101上に液晶駆動用IC103を搭載し仮接続体を形成した後、熱圧着ヘッド106等の熱圧着手段によって液晶駆動用IC103を異方性導電フィルム105とともに透明電極102側へ加熱押圧する。この熱圧着ヘッド106による加熱によって、異方性導電フィルム105は熱硬化反応を起こし、これにより液晶駆動用IC103が透明電極102上に接着される。
特許第4789738号公報 特表2009−535843号公報
近年の液晶表示装置その他の電子機器の小型化、高機能化に伴い、電子部品も小型化、低背化が求められ、バンプと呼ばれる電極端子104の高さも低くなっている。また、回路基板の配線ピッチや電子部品の電極端子のファインピッチ化も進み、異方性導電フィルムを用いて、電極端子がファインピッチ化された回路基板上にICチップ等の電子部品をCOG接続する場合、狭小化された電極端子間においても確実に導電性粒子が挟持され導通を確保するために、導電性粒子を高密度に充填する必要がある。
しかし、図7に示すように、電極端子104の低背化が進むなかで導電性粒子107を高密度に充填すると、電極端子104間における端子間ショートの発生率が高まる。すなわち、図7(A)に示すように、電極端子104の高さが従来通りの場合においては端子間面積が広く確保されているため、導電性粒子107を高密度に充填しても、端子間に分散された導電性粒子107が連続することによる端子間ショートの問題は起きなかった。したがって、導電性粒子107の高密度充填による導通性の向上及び端子間ショートの防止を図ることができた。
しかし、図7(B)に示すように、電極端子104が低背化された電子部品においては端子間面積が狭小化されているため、導電性粒子107を高密度に充填させた異方性導電フィルムを用いると、電極端子104の端子間において導電性粒子107が連なり、端子間ショートが起きてしまう。なお、一般に回路基板に形成される電極は印刷等により数十nm〜数μmオーダーの薄さで形成されるため、回路基板側の電極間におけるショートは問題にならない。
そこで、本発明は、回路基板の配線ピッチや電子部品の電極端子がファインピッチ化されても、電子部品と回路基板との導通性を確保するとともに、電子部品の電極端子間におけるショートを防止することができる接続体、接続体の製造方法、及び接続方法を提供することを目的とする。
上述した課題を解決するために、本発明に係る接続体は、回路基板上に異方性導電接着剤を介して電子部品が接続された接続体において、上記異方性導電接着剤は、導電性粒子が規則的に配置され、上記導電性粒子の粒子径が、上記電子部品の接続電極の高さの1/2以下であり、上記電子部品の接続電極の配列方向に亘る断面視において、上記電子部品の接続電極間における導電性粒子数は、最大で1〜4である。
また、本発明に係る接続体の製造方法は、回路基板上に、導電性粒子を含有した接着剤を介して電子部品を搭載し、上記電子部品を上記回路基板に対して押圧するとともに、上記接着剤を硬化させることにより、上記電子部品を上記回路基板上に接続する接続体の製造方法において、上記異方性導電接着剤は、導電性粒子が規則的に配置され、上記導電性粒子の粒子径が、上記電子部品の接続電極の高さの1/2以下であり、上記電子部品の接続電極の配列方向に亘る断面視において、上記電子部品の接続電極間における導電性粒子数は、最大で1〜4である。
また、本発明に係る接続方法は、回路基板上に、導電性粒子を含有した接着剤を介して電子部品を搭載し、上記電子部品を上記回路基板に対して押圧するとともに、上記接着剤を硬化させることにより、上記電子部品を上記回路基板上に接続する接続方法において、上記異方性導電接着剤は、導電性粒子が規則的に配置され、上記導電性粒子の粒子径が、上記電子部品の接続電極の高さの1/2以下であり、上記電子部品の接続電極の配列方向に亘る断面視において、上記電子部品の接続電極間における導電性粒子数は、最大で1〜4である。
本発明によれば、異方性導電接着剤の導電性粒子が規則的に配置されるとともに、導電性粒子径が電子部品の接続電極高さの1/2以下とされているため、接続電極間において導電性粒子が凝集することがなく、粒子間の距離を保つ。したがって、接続電極間の断面積の狭小化によっても端子間ショートを防止することができる。
図1は、接続体の一例として示す液晶表示パネルの断面図である。 図2は、液晶駆動用ICと透明基板との接続工程を示す断面図である。 図3は、異方性導電フィルムを示す断面図である。 図4は、導電性粒子が格子状に規則配列された異方性導電フィルムを示す平面図である。 図5(A)は従来の電極端子の高さを有するICチップの接続状態を示す断面図であり、図5(B)は本発明において電極端子の低背化が図られたICチップの接続状態を示す断面図である。 図6は、液晶表示パネルの透明基板にICチップを接続する工程を示す断面図である。 図7(A)は、従来の電極端子の高さを有するICチップの接続状態を示す断面図であり、図7(B)は従来の構成において電極端子の低背化が図られたICチップの接続状態を示す断面図である。
以下、本発明が適用された接続体、接続体の製造方法、接続方法について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本発明は、以下の実施形態のみに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変更が可能であることは勿論である。また、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは異なることがある。具体的な寸法等は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。
[液晶表示パネル]
以下では、本発明が適用された接続体として、液晶表示パネルのガラス基板に、電子部品として液晶駆動用のICチップを実装する場合を例に説明する。この液晶表示パネル10は、図1に示すように、ガラス基板等からなる二枚の透明基板11,12が対向配置され、これら透明基板11,12が枠状のシール13によって互いに貼り合わされている。そして、液晶表示パネル10は、透明基板11,12によって囲繞された空間内に液晶14が封入されることによりパネル表示部15が形成されている。
透明基板11,12は、互いに対向する両内側表面に、ITO(酸化インジウムスズ)等からなる縞状の一対の透明電極16,17が、互いに交差するように形成されている。そして、両透明電極16,17は、これら両透明電極16,17の当該交差部位によって液晶表示の最小単位としての画素が構成されるようになっている。
両透明基板11,12のうち、一方の透明基板12は、他方の透明基板11よりも平面寸法が大きく形成されており、この大きく形成された透明基板12の縁部12aには、電子部品として液晶駆動用IC18が実装されるCOG実装部20が設けられている。なお、COG実装部20には、透明電極17の端子部17a、及び液晶駆動用IC18に設けられたIC側アライメントマーク22と重畳させる基板側アライメントマーク21が形成されている。
液晶駆動用IC18は、画素に対して液晶駆動電圧を選択的に印加することにより、液晶の配向を部分的に変化させて所定の液晶表示を行うことができるようになっている。また、図2に示すように、液晶駆動用IC18は、透明基板12への実装面18aに、透明電極17の端子部17aと導通接続される複数の電極端子19(バンプ)が形成されている。電極端子19は、例えば銅バンプや金バンプ、あるいは銅バンプに金メッキを施したもの等が好適に用いられる。
[電極端子]
電極端子19は、例えば、実装面18aの一方の側縁に沿って入力バンプが一列で配列され、一方の側縁と対向する他方の側縁に沿って出力バンプが複数列で千鳥状に配列されている。電極端子19と、透明基板12のCOG実装部20に設けられている端子部17aとは、それぞれ同数かつ同ピッチで形成され、透明基板12と液晶駆動用IC18とが位置合わせされて接続されることにより、接続される。
なお、近年の液晶表示装置その他の電子機器の小型化、高機能化に伴い、液晶駆動用IC18等の電子部品も小型化、低背化が求められ、電極端子19もその高さが低くなっている(例えば6〜15μm)。
また、液晶駆動用IC18は、実装面18aに、基板側アライメントマーク21と重畳させることにより、透明基板12に対するアライメントを行うIC側アライメントマーク22が形成されている。なお、透明基板12の透明電極17の配線ピッチや液晶駆動用IC18の電極端子19のファインピッチ化が進んでいることから、液晶駆動用IC18と透明基板12とは、高精度のアライメント調整が求められている。
基板側アライメントマーク21及びIC側アライメントマーク22は、組み合わされることにより透明基板12と液晶駆動用IC18とのアライメントが取れる種々のマークを用いることができる。
COG実装部20に形成されている透明電極17の端子部17a上には、回路接続用接着剤として異方性導電フィルム1を用いて液晶駆動用IC18が接続される。異方性導電フィルム1は、導電性粒子4を含有しており、液晶駆動用IC18の電極端子19と透明基板12の縁部12aに形成された透明電極17の端子部17aとを、導電性粒子4を介して電気的に接続させるものである。この異方性導電フィルム1は、熱圧着ヘッド33により熱圧着されることによりバインダー樹脂が流動化して導電性粒子4が端子部17aと液晶駆動用IC18の電極端子19との間で押し潰され、この状態でバインダー樹脂が硬化する。これにより、異方性導電フィルム1は、透明基板12と液晶駆動用IC18とを電気的、機械的に接続する。
また、両透明電極16,17上には、所定のラビング処理が施された配向膜24が形成されており、この配向膜24によって液晶分子の初期配向が規制されるようになっている。さらに、両透明基板11,12の外側には、一対の偏光板25,26が配設されており、これら両偏光板25,26によってバックライト等の光源(図示せず)からの透過光の振動方向が規制されるようになっている。
[異方性導電フィルム]
次いで、異方性導電フィルム1について説明する。異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)1は、図3に示すように、通常、基材となる剥離フィルム2上に導電性粒子4を含有するバインダー樹脂層(接着剤層)3が形成されたものである。異方性導電フィルム1は、熱硬化型あるいは紫外線等の光硬化型の接着剤であり、液晶表示パネル10の透明基板12に形成された透明電極17上に貼着されるとともに液晶駆動用IC18が搭載され、熱圧着ヘッド33により熱加圧されることにより流動化して導電性粒子4が相対向する透明電極17の端子部17aと液晶駆動用IC18の電極端子19との間で押し潰され、加熱あるいは紫外線照射により、導電性粒子が押し潰された状態で硬化する。これにより、異方性導電フィルム1は、透明基板12と液晶駆動用IC18とを接続し、導通させることができる。
また、異方性導電フィルム1は、膜形成樹脂、熱硬化性樹脂、潜在性硬化剤、シランカップリング剤等を含有する通常のバインダー樹脂層3に導電性粒子4が所定のパターンで規則的に配列されている。
バインダー樹脂層3を支持する剥離フィルム2は、例えば、PET(Poly Ethylene Terephthalate)、OPP(Oriented Polypropylene)、PMP(Poly-4-methylpentene-1)、PTFE(Polytetrafluoroethylene)等にシリコーン等の剥離剤を塗布してなり、異方性導電フィルム1の乾燥を防ぐとともに、異方性導電フィルム1の形状を維持する。
バインダー樹脂層3に含有される膜形成樹脂としては、平均分子量が10000〜80000程度の樹脂が好ましい。膜形成樹脂としては、エポキシ樹脂、変形エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、フェノキシ樹脂等の各種の樹脂が挙げられる。中でも、膜形成状態、接続信頼性等の観点からフェノキシ樹脂が特に好ましい。
熱硬化性樹脂としては、特に限定されず、例えば、市販のエポキシ樹脂、アクリル樹脂等が挙げられる。
エポキシ樹脂としては、特に限定されないが、例えば、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノール型エポキシ樹脂、スチルベン型エポキシ樹脂、トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリフェニルメタン型エポキシ樹脂等が挙げられる。これらは単独でも、2種以上の組み合わせであってもよい。
アクリル樹脂としては、特に制限はなく、目的に応じてアクリル化合物、液状アクリレート等を適宜選択することができる。例えば、メチルアクリレート、エチルアクリレート、イソプロピルアクリレート、イソブチルアクリレート、エポキシアクリレート、エチレングリコールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、ジメチロールトリシクロデカンジアクリレート、テトラメチレングリコールテトラアクリレート、2−ヒドロキシ−1,3−ジアクリロキシプロパン、2,2−ビス[4−(アクリロキシメトキシ)フェニル]プロパン、2,2−ビス[4−(アクリロキシエトキシ)フェニル]プロパン、ジシクロペンテニルアクリレート、トリシクロデカニルアクリレート、トリス(アクリロキシエチル)イソシアヌレート、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート等を挙げることができる。なお、アクリレートをメタクリレートにしたものを用いることもできる。これらは、1種単独で使用してもよいし、2種以上を併用してもよい。
潜在性硬化剤としては、特に限定されないが、例えば、加熱硬化型、UV硬化型等の各種硬化剤が挙げられる。潜在性硬化剤は、通常では反応せず、熱、光、加圧等の用途に応じて選択される各種のトリガにより活性化し、反応を開始する。熱活性型潜在性硬化剤の活性化方法には、加熱による解離反応などで活性種(カチオンやアニオン、ラジカル)を生成する方法、室温付近ではエポキシ樹脂中に安定に分散しており高温でエポキシ樹脂と相溶・溶解し、硬化反応を開始する方法、モレキュラーシーブ封入タイプの硬化剤を高温で溶出して硬化反応を開始する方法、マイクロカプセルによる溶出・硬化方法等が存在する。熱活性型潜在性硬化剤としては、イミダゾール系、ヒドラジド系、三フッ化ホウ素−アミン錯体、スルホニウム塩、アミンイミド、ポリアミン塩、ジシアンジアミド等や、これらの変性物があり、これらは単独でも、2種以上の混合体であってもよい。中でも、マイクロカプセル型イミダゾール系潜在性硬化剤が好適である。
シランカップリング剤としては、特に限定されないが、例えば、エポキシ系、アミノ系、メルカプト・スルフィド系、ウレイド系等を挙げることができる。シランカップリング剤を添加することにより、有機材料と無機材料との界面における接着性が向上される。
[導電性粒子]
導電性粒子4としては、異方性導電フィルム1において使用されている公知の何れの導電性粒子を挙げることができる。導電性粒子4としては、例えば、ニッケル、鉄、銅、アルミニウム、錫、鉛、クロム、コバルト、銀、金等の各種金属や金属合金の粒子、金属酸化物、カーボン、グラファイト、ガラス、セラミック、プラスチック等の粒子の表面に金属をコートしたもの、或いは、これらの粒子の表面に更に絶縁薄膜をコートしたもの等が挙げられる。樹脂粒子の表面に金属をコートしたものである場合、樹脂粒子としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、アクリロニトリル・スチレン(AS)樹脂、ベンゾグアナミン樹脂、ジビニルベンゼン系樹脂、スチレン系樹脂等の粒子を挙げることができる。
なお、透明基板12の透明電極17の配線ピッチや液晶駆動用IC18の電極端子19のファインピッチ化が進んでいることから、透明基板12上に液晶駆動用IC18をCOG接続する場合、狭小化された電極端子間においても確実に導電性粒子が挟持され導通を確保するために、異方性導電フィルム1は、導電性粒子4を高密度(例えば、16000個/mm)に充填されている。
[導電性粒子の規則配列]
異方性導電フィルム1は、導電性粒子4が平面視において所定の配列パターンで規則的に配列され、例えば図4に示すように、格子状かつ均等に配列される。平面視において規則的に配列されることにより、異方性導電フィルム1は、導電性粒子4がランダムに分散されている場合に比して、液晶駆動用IC18の隣接する電極端子19間がファインピッチ化し端子間面積が狭小化するとともに、導電性粒子4が高密度に充填されていても、液晶駆動用IC18の接続工程において、導電性粒子4の凝集体による電極端子19間のショートを防止することができる。
また、異方性導電フィルム1は、導電性粒子4が規則的に配列されることにより、バインダー樹脂層3に高密度に充填した場合にも、導電性粒子4の凝集による粗密の発生が防止されている。したがって、異方性導電フィルム1によれば、ファインピッチ化された端子部17aや電極端子19においても導電性粒子4を捕捉することができる。導電性粒子4の均等配列パターンは、平面視で四方格子や六方格子等、任意に設定することができる。液晶駆動用IC18の接続工程については後に詳述する。
このような異方性導電フィルム1は、例えば、延伸可能なシート上に粘着剤を塗布し、その上に導電性粒子4を単層配列した後、当該シートを、所望の延伸倍率で延伸させる方法、導電性粒子4を基板上に所定の配列パターンに整列させた後、剥離フィルム2に支持されたバインダー樹脂層3に導電性粒子4を転写する方法、あるいは剥離フィルム2に支持されたバインダー樹脂層3上に、配列パターンに応じた開口部が設けられた配列板を介して導電性粒子4を供給する方法等により製造することができる。
[粒子個数密度]
また、異方性導電フィルム1は、ファインピッチ化された電極端子19及び端子部17aとの間に確実に挟持されるため、バインダー樹脂層に高密度に充填され、好ましくは個数密度が10000〜60000個/mmとされている。粒子個数密度が10000個/mmよりも少ないとファインピッチ化された電極端子19及び端子部17aとの間における粒子捕捉数が減少し、導通抵抗が上がってしまう。また、粒子個数密度が60000個/mmよりも多いと狭小化された電極端子19間のスペースにある導電性粒子が連なってしまい、隣接する電極端子19間をショートさせるおそれがある。
なお、異方性導電フィルム1の形状は、特に限定されないが、例えば、図3に示すように、巻取リール6に巻回可能な長尺テープ形状とし、所定の長さだけカットして使用することができる。
また、上述の実施の形態では、異方性導電フィルム1として、バインダー樹脂層3に導電性粒子4を規則配列した熱硬化性樹脂組成物をフィルム状に成形した接着フィルムを例に説明したが、本発明に係る接着剤は、これに限定されず、例えばバインダー樹脂3のみからなる絶縁性接着剤層と導電性粒子4を規則配列したバインダー樹脂3からなる導電性粒子含有層とを積層した構成とすることができる。また、異方性導電フィルム1は、導電性粒子4が平面視で規則配列されていれば、図2に示すように単層配列されている他、複数のバインダー樹脂層3にわたって導電性粒子4が配列されるとともに平面視において規則配列されるものでもよい。また、異方性導電フィルム1は、多層構成の少なくとも一つの層内で、所定距離で単一に分散されたものでもよい。
[接続工程]
次いで、透明基板12に液晶駆動用IC18を接続する接続工程について説明する。先ず、透明基板12の端子部17aが形成されたCOG実装部20上に異方性導電フィルム1を仮貼りする。次いで、この透明基板12を接続装置のステージ上に載置し、透明基板12の実装部上に異方性導電フィルム1を介して液晶駆動用IC18を配置する。
次いで、バインダー樹脂層3を硬化させる所定の温度に加熱された熱圧着ヘッド33によって、所定の圧力、時間で液晶駆動用IC18上から熱加圧する。これにより、異方性導電フィルム1のバインダー樹脂層3は流動性を示し、液晶駆動用IC18の実装面18aと透明基板12のCOG実装部20の間から流出するとともに、バインダー樹脂層3中の導電性粒子4は、液晶駆動用IC18の電極端子19と透明基板12の端子部17aとの間に挟持されて押し潰される。
その結果、電極端子19と端子部17aとの間で導電性粒子4を挟持することにより電気的に接続され、この状態で熱圧着ヘッド33によって加熱されたバインダー樹脂が硬化する。これにより、液晶駆動用IC18の電極端子19と透明基板12に形成された端子部17aとの間で導通性を確保された液晶表示パネル10を製造することができる。
電極端子19と端子部17aとの間にない導電性粒子4は、隣接する電極端子19間においてバインダー樹脂に分散されており、電気的に絶縁した状態を維持している。これにより、液晶駆動用IC18の出力電極端子19と透明基板12の端子部17aとの間のみで電気的導通が図られる。なお、バインダー樹脂として、ラジカル重合反応系の速硬化タイプのものを用いることで、短い加熱時間によってもバインダー樹脂を速硬化させることができる。また、異方性導電フィルム1としては、熱硬化型に限らず、加圧接続を行うものであれば、光硬化型もしくは光熱併用型の接着剤を用いてもよい。
[導電性粒子径]
ここで、本発明においては、導電性粒子4の粒子径が、上述した液晶駆動用IC18の電極端子19の高さの1/2以下とする。これにより、ファインピッチ化された電極端子19間において導電性粒子4が連なることによる端子間ショートを防止することができる。
すなわち、上述したように、近年の液晶表示装置その他の電子機器の小型化、高機能化に伴い、液晶駆動用IC18等の電子部品も小型化、低背化が求められ、電極端子19もその高さが低くなっていることから、図5(A)(B)に示すように、隣接する電極端子19間の面積も狭小化されている。
本発明においては、異方性導電フィルム1の導電性粒子4が規則的に配置されるとともに、導電性粒子4の粒子径が、上述した液晶駆動用IC18の電極端子19の高さの1/2以下とされている。これにより、液晶表示パネル10は、電極端子19と端子部17aとの間に確実に導電性粒子を捕捉して導通性を確保することができ、かつ、隣接する電極端子19間において、所定の粒子間距離を保ちつつ分散され、電極端子19間のショートを防止することができる。
なお、上述したように、導電性粒子の個数密度は10000〜60000個/mmとされていることが好ましい。当該個数密度を有することにより、液晶表示パネル10は、狭小化された電極端子19間におけるショートを防止するとともに、ファインピッチ化された電極端子19と端子部17aとの間に導電性粒子4を確実に捕捉し、導通性を向上させることができる。
次いで、本発明の実施例について説明する。本実施例では、導電性粒子が規則配列された異方性導電フィルムと、導電性粒子がランダムに分散された異方性導電フィルムを用いて、評価用ガラス基板に評価用ICを接続した接続体サンプルを作成し、それぞれ電極間の導電性粒子の捕捉数、初期及び信頼性試験後の導通抵抗、隣接する端子間のショート発生数を測定した。
[異方性導電フィルム]
評価用ICの接続に用いる異方性導電フィルムのバインダー樹脂層は、フェノキシ樹脂(商品名:YP50、新日鐵化学社製)60質量部、エポキシ樹脂(商品名:jER828、三菱化学社製)40質量部、カチオン系硬化剤(商品名:SI‐60L、三新化学工業社製)2質量部を溶剤に加えたバインダー樹脂組成物を調整し、このバインダー樹脂組成物を剥離フィルム上に塗布、焼成することにより形成した。
[評価用IC]
評価素子として、外形;1.5mm×13mm、厚み0.5mm、バンプ(Au‐plated)面積;25μ×140μm、バンプ間スペース;7.5μmの評価用ICを用いた。
[評価用ガラス基板]
評価用ICが接続される評価用ガラス基板として、外形;30mm×50mm、厚み0.5mm、評価用ICのバンプと同サイズ同ピッチの櫛歯状の電極パターンが形成されたITOパターングラスを用いた。
この評価用ガラス基板に異方性導電フィルムを仮貼りした後、評価用ICのバンプと評価用ガラス基板の配線電極とのアライメントを取りながら評価用ICを搭載し、熱圧着ヘッドにより180℃、80MPa、5secの条件で熱圧着することにより接続体サンプルを作成した。各接続体サンプルについて、ICバンプと基板電極との間にある導電性粒子の捕捉数、初期及び信頼性試験後の導通抵抗、隣接するバンプ間のショート発生数を測定した。
ICバンプと基板電極との間にある導電性粒子の捕捉数は、各接続体サンプルについて、1対の評価用ICのバンプと評価用ガラス基板の電極間に捕捉された導電性粒子の数を全ICバンプ及び基板電極について計測し、その平均数及び最少数を求めた。また、導通抵抗は、初期及び信頼性試験後(85℃ 85%RH 500時間)に測定した。バンプ間のショート発生数は、評価用ICのバンプ間におけるショートの発生数を測定した。
また、各接続体サンプルについて、導電性粒子同士の間隔の最短距離(μm)、及び評価用ICのバンプの配列方向に亘る断面視においてバンプ間に存在する導電性粒子の最大個数を計測した。
[実施例1]
実施例1では、導電性粒子がバインダー樹脂層に規則配列された異方性導電フィルムを用いた。実施例1で用いた異方性導電フィルムは、延伸可能なシート上に粘着剤を塗布し、その上に導電性粒子4を単層配列した後、当該シートを所望の延伸倍率で延伸させた状態で、バインダー樹脂層をラミネートすることにより製造した。使用した導電性粒子(商品名:AUL704、積水化学工業社製)は粒子径4μmで、粒子個数密度は16000個/mmである。
また、実施例1で用いた評価用ICのバンプ高さは15μmで、バンプ間スペースの断面積は112.5μm(15μm×7.5μm)である。
[実施例2]
実施例2では、評価用ICのバンプ高さが12μmで、バンプ間スペースの断面積は90μm(12μm×7.5μm)とした他は、実施例1と同じ条件とした。
[実施例3]
実施例3では、評価用ICのバンプ高さが8μmで、バンプ間スペースの断面積は60μm(8μm×7.5μm)とした他は、実施例1と同じ条件とした。
[実施例4]
実施例4では、粒子径5μmの導電性粒子(商品名:AUL705、積水化学工業社製)を用いて、実施例1と同じ製法により異方性導電フィルムを得た。粒子個数密度は16000個/mmである。
また、実施例4で用いた評価用ICのバンプ高さは10μmで、バンプ間スペースの断面積は75μm(10μm×7.5μm)である。
[実施例5]
実施例5では、実施例1と同じ導電性粒子を用いて、実施例1と同じ製法により、異方性導電フィルムを得た。粒子個数密度は10000個/mmとした。
また、実施例5で用いた評価用ICのバンプ高さは8μmで、バンプ間スペースの断面積は60μm(10μm×7.5μm)である。
[実施例6]
実施例6では、粒子径3μmの導電性粒子(商品名:AUL703、積水化学工業社製)を用いて、実施例1と同じ製法により異方性導電フィルムを得た。粒子個数密度は60000個/mmである。
また、実施例6で用いた評価用ICのバンプ高さは8μmで、バンプ間スペースの断面積は60μm(10μm×7.5μm)である。
[比較例1]
比較例1では、バインダー樹脂組成物に導電性粒子を加えて調整し、剥離フィルム上に塗布、焼成することにより、バインダー樹脂層に導電性粒子がランダムに分散されている異方性導電フィルムを用いた。使用した導電性粒子(商品名:AUL704、積水化学工業社製)は粒子径4μmで、粒子個数密度は16000個/mmである。
また、比較例1で用いた評価用ICのバンプ高さは15μmで、バンプ間スペースの断面積は112.5μm(15μm×7.5μm)である。
[比較例2]
比較例2では、評価用ICのバンプ高さが8μmで、バンプ間スペースの断面積は60μm(8μm×7.5μm)とした他は、比較例1と同じ条件とした。
[比較例3]
比較例3では、粒子径5μmの導電性粒子(商品名:AUL705、積水化学工業社製)を用いて、実施例1と同じ製法により異方性導電フィルムを得た。粒子個数密度は16000個/mmである。
また、比較例3で用いた評価用ICのバンプ高さは8μmで、バンプ間スペースの断面積は60μm(8μm×7.5μm)である。
Figure 2019140413
表1に示すように、実施例1〜6に係る接続体サンプルでは、1対の評価用ICのバンプと評価用ガラス基板の電極間に挟持された導電性粒子の数が平均7.2以上であり、初期導通抵抗が0.2Ω、信頼性試験後の導通抵抗が5Ω以下と良好であった。また、実施例1〜6に係る接続体サンプルでは、バンプ間における導電性粒子数は最大で1〜4、粒子間隔は0.5〜2.1μmであり、バンプ間のショート発生数は40ppm以下とバンプ間の絶縁性も良好な結果となった。
一方、比較例1では、導電性粒子がバインダー樹脂層にランダムに分散されているため、バンプ間における導電性粒子数は最大7個、最少粒子間隔は0μm、すなわち導電性粒子が連続してしまい、バンプ間のショート発生数が3000ppmとなった。
また、比較例2では、バンプ高さが8μmと低く、バンプ間スペースの断面積も60μmと、比較例1よりも狭小化されたため、バンプ間の導電性粒子数が最大6個、バンプ間のショート発生数が5000ppmとなった。
比較例3では、導電性粒子を均等配列させた異方性導電フィルムを用いているものの、導電性粒子の粒子径(5μm)がバンプ高さ(8μm)の1/2よりも大きい。このため、バンプ間スペースにおいて導電性粒子が連なる箇所が生じ、バンプ間のショート発生数が60ppmとなった。これより、導電性粒子の粒子径はバンプ高さの1/2以下とすることが好ましいことが分かる。
なお、実施例5では、導電性粒子の個数密度が10000個/mmであるが、粒子捕捉数が4個以下が不良であるところ、最少で6個あり、実用上問題なかった。また実施例6では、導電性粒子の個数密度が60000個/mmであるが、バンプ間のショート数が50ppm以上が不良であるところ、40ppm以下であり、実用上問題なかった。すなわち、異方性導電フィルムの接着前における導電性粒子の個数密度は、10000〜60000個/mmとすることが好ましいことが分かる。
1 異方性導電フィルム、2 剥離フィルム、3 バインダー樹脂層、4 導電性粒子、6 巻取リール、10 液晶表示パネル、11,12 透明基板、12a 縁部、13 シール、14 液晶、15 パネル表示部、16,17 透明電極、17a 端子部、18 液晶駆動用IC、18a 実装面、19 電極端子、20 COG実装部、21 基板側アライメントマーク、22 IC側アライメントマーク、33 熱圧着ヘッド

Claims (8)

  1. 回路基板上に異方性導電接着剤を介して電子部品が接続された接続体において、
    上記異方性導電接着剤は、導電性粒子が規則的に配置され、
    上記導電性粒子の粒子径が、上記電子部品の接続電極の高さの1/2以下であり、
    上記電子部品の接続電極の配列方向に亘る断面視において、上記電子部品の接続電極間における導電性粒子数は、最大で1〜4である接続体。
  2. 上記導電性粒子は、格子状に配列されている請求項1に記載の接続体。
  3. 上記異方性導電接着剤は、上記導電性粒子の個数密度が10000〜60000/mmである請求項1又は2記載の接続体。
  4. 上記電子部品の接続電極間のスペースが上記導電性粒子の粒子径の1.5倍以上2.5倍以下である請求項1〜3の何れか1項記載の接続体。
  5. 上記電子部品の接続電極は、高さが15μm以下である請求項1〜4の何れか1項記載の接続体。
  6. 上記電子部品の接続電極間スペースの断面積は、60μm以上112.5μm以下である請求項1〜5の何れか1項記載の接続体。
  7. 回路基板上に、導電性粒子を含有した接着剤を介して電子部品を搭載し、
    上記電子部品を上記回路基板に対して押圧するとともに、上記接着剤を硬化させることにより、上記電子部品を上記回路基板上に接続する接続体の製造方法において、
    上記異方性導電接着剤は、導電性粒子が規則的に配置され、
    上記導電性粒子の粒子径が、上記電子部品の接続電極の高さの1/2以下であり、
    上記電子部品の接続電極の配列方向に亘る断面視において、上記電子部品の接続電極間における導電性粒子数は、最大で1〜4である接続体の製造方法。
  8. 回路基板上に、導電性粒子を含有した接着剤を介して電子部品を搭載し、
    上記電子部品を上記回路基板に対して押圧するとともに、上記接着剤を硬化させることにより、上記電子部品を上記回路基板上に接続する接続方法において、
    上記異方性導電接着剤は、導電性粒子が規則的に配置され、
    上記導電性粒子の粒子径が、上記電子部品の接続電極の高さの1/2以下であり、
    上記電子部品の接続電極の配列方向に亘る断面視において、上記電子部品の接続電極間における導電性粒子数は、最大で1〜4である接続方法。
JP2019094740A 2019-05-20 2019-05-20 接続体、接続体の製造方法、接続方法 Pending JP2019140413A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019094740A JP2019140413A (ja) 2019-05-20 2019-05-20 接続体、接続体の製造方法、接続方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2019094740A JP2019140413A (ja) 2019-05-20 2019-05-20 接続体、接続体の製造方法、接続方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014006285A Division JP2015135878A (ja) 2014-01-16 2014-01-16 接続体、接続体の製造方法、接続方法、異方性導電接着剤

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019140413A true JP2019140413A (ja) 2019-08-22

Family

ID=67694547

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019094740A Pending JP2019140413A (ja) 2019-05-20 2019-05-20 接続体、接続体の製造方法、接続方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2019140413A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008210908A (ja) * 2007-02-26 2008-09-11 Tokai Rubber Ind Ltd 電子部品の実装方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008210908A (ja) * 2007-02-26 2008-09-11 Tokai Rubber Ind Ltd 電子部品の実装方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2015108025A1 (ja) 接続体、接続体の製造方法、接続方法、異方性導電接着剤
JP6324746B2 (ja) 接続体、接続体の製造方法、電子機器
JP6645730B2 (ja) 接続体及び接続体の製造方法
WO2015119093A1 (ja) アライメント方法、電子部品の接続方法、接続体の製造方法、接続体、異方性導電フィルム
WO2016013593A1 (ja) 接続体、及び接続体の製造方法
KR101857331B1 (ko) 이방성 도전 필름, 이방성 도전 필름의 제조 방법, 접속체의 제조 방법 및 접속 방법
WO2013129437A1 (ja) 接続体の製造方法、及び異方性導電接着剤
KR102067957B1 (ko) 접속체, 접속체의 제조 방법, 검사 방법
JP7369756B2 (ja) 接続体及び接続体の製造方法
JP2019140413A (ja) 接続体、接続体の製造方法、接続方法
WO2016114381A1 (ja) 接続構造体
JP6393039B2 (ja) 接続体の製造方法、接続方法及び接続体
JP2015170647A (ja) 接続体の製造方法、電子部品の接続方法及び接続体

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190619

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190625

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200311

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200317

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20200518

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200714

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20201215

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210315

C60 Trial request (containing other claim documents, opposition documents)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C60

Effective date: 20210315

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20210324

C21 Notice of transfer of a case for reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C21

Effective date: 20210330

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20210528

C211 Notice of termination of reconsideration by examiners before appeal proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C211

Effective date: 20210601

C22 Notice of designation (change) of administrative judge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C22

Effective date: 20210622

C23 Notice of termination of proceedings

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C23

Effective date: 20210803

C03 Trial/appeal decision taken

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C03

Effective date: 20210907

C30A Notification sent

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: C3012

Effective date: 20210907