JP2019046947A - Method for manufacturing film for electromagnetic wave shield - Google Patents

Method for manufacturing film for electromagnetic wave shield Download PDF

Info

Publication number
JP2019046947A
JP2019046947A JP2017168059A JP2017168059A JP2019046947A JP 2019046947 A JP2019046947 A JP 2019046947A JP 2017168059 A JP2017168059 A JP 2017168059A JP 2017168059 A JP2017168059 A JP 2017168059A JP 2019046947 A JP2019046947 A JP 2019046947A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
noise suppression
film
electromagnetic wave
electronic component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2017168059A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
昭吾 鴻池
Shogo Konoike
昭吾 鴻池
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Bakelite Co Ltd filed Critical Sumitomo Bakelite Co Ltd
Priority to JP2017168059A priority Critical patent/JP2019046947A/en
Publication of JP2019046947A publication Critical patent/JP2019046947A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Laminated Bodies (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)

Abstract

To provide a method for manufacturing a film for electromagnetic wave shield, which enables the manufacturing of a film for an electromagnetic wave shield, and by which a noise suppression layer can be formed on an electronic component-sealed body with an electronic component relatively easily with superior productivity.SOLUTION: A method for manufacturing a film 300 for electromagnetic wave shield according to the present invention is used to form a noise suppression layer 3 for covering upper and side faces of a sealing part 27 on an electronic component-sealed body 290 having a substrate, an electronic component disposed on the substrate and a sealing part 27 for sealing the electronic component. The film 300 for electromagnetic wave shield comprises a peeling layer 1 (base material layer) and the noise suppression layer 3. The method comprises: a supplying step of preparing the base material layer 1 and supplying a liquid material to form the noise suppression layer 3 onto the base material layer 1; and a drying step of drying the supplied liquid material (liquid coating 32) to form the noise suppression layer 3 on the base material layer 1, thereby obtaining the film 300 for electromagnetic wave shield.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本発明は、電磁波シールド用フィルムの製造方法に関する。   The present invention relates to a method of manufacturing a film for electromagnetic wave shielding.

従来、携帯電話、医療機器のように電磁波の影響を受けやすい電子部品や、半導体素子等の半導体電子部品、さらにはコンデンサー、コイル等の各種電子部品、またはこれらの電子部品が回路基板に実装された電子装置は、電磁波によるノイズの影響を軽減するため、これら電子部品または電子装置を、アルミやSUSのような金属カンシールドで封止するシールド方法が実施されてきた。   Conventionally, electronic components susceptible to electromagnetic waves such as mobile phones and medical devices, semiconductor electronic components such as semiconductor elements, various electronic components such as capacitors and coils, or electronic components thereof are mounted on a circuit board. In order to reduce the influence of noise due to electromagnetic waves, a shielding method has been practiced in which these electronic components or electronic devices are sealed with a metal can shield such as aluminum or SUS.

しかしながら、この金属カンシールドは、種類別に配置された部品集合体に対して施され、その影響で基板上の各部品の配置には制約があり、基板の設計自由度は、機能面からは必ずしも最良というわけではない。さらに、金属カンシールドにより部品集合体を封止することから、金属カンシールドと部品集合体との間に空間が生じるため、かかる部品集合体を備える電子機器の大型化を招くという問題があった。   However, this metal can shield is applied to a set of parts arranged according to type, and the arrangement restricts the arrangement of each part on the substrate, and the design freedom of the substrate is not necessarily from the functional aspect. It is not the best. Furthermore, since the assembly of parts is sealed by the metal can shield, a space is generated between the metal can shield and the assembly of parts, which causes a problem of increasing the size of the electronic device provided with the assembly of parts. .

そのため、かかる問題点を解消するために、基板上に配置された電子部品を封止材により封止された電子部品封止体の上面および側面を、金属薄膜層等で構成されるノイズ抑制層で被覆する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。   Therefore, in order to solve such a problem, the noise suppression layer in which the upper surface and the side surface of the electronic component sealing body in which the electronic component disposed on the substrate is sealed with a sealing material is formed of a metal thin film layer or the like. The method of coating with is proposed (for example, refer patent document 1).

しかしながら、電子部品封止体にノイズ抑制層を形成して電磁波によるノイズの影響を軽減する方法では、このノイズ抑制層が、主として、スパッタリング法を用いて製造されるが、この場合、スパッタリング法に用いる装置が、その操作が煩雑かつ高価であったり、生産性が低いと言った問題があった。   However, in the method of reducing the influence of noise due to electromagnetic waves by forming a noise suppression layer on the electronic component package, this noise suppression layer is mainly manufactured using the sputtering method, but in this case, the sputtering method There is a problem that the apparatus used is complicated and expensive in operation, and low in productivity.

また、導電性粒子を含有する金属ペーストを用いたり、メッキ法を用いることによりノイズ抑制層を形成することも考えられるが、これらの方法によっても、種々の問題を有しているのが実情であった。   Also, although it is conceivable to form a noise suppression layer by using a metal paste containing conductive particles or by using a plating method, there are also various problems by these methods. there were.

特開2015−130484号公報JP, 2015-130484, A

本発明の目的は、電子部品を備える電子部品封止体にノイズ抑制層を、比較的容易に、かつ、優れた生産性をもって形成することができる電磁波シールド用フィルムを製造することができる電磁波シールド用フィルムの製造方法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an electromagnetic wave shielding film capable of manufacturing a film for electromagnetic wave shielding which can form a noise suppression layer relatively easily and with excellent productivity on an electronic component sealing body provided with electronic components. It is an object of the present invention to provide a method of producing a film.

このような目的は、下記(1)〜(9)に記載の本発明により達成される。
(1) 基板と、該基板上に配置された電子部品と、前記電子部品を封止する封止部とを有する電子部品封止体に、前記封止部の上面および側面を被覆するノイズ抑制層を形成するために用いられ、基材層と、該基材層の一方の面側に積層された前記ノイズ抑制層とを備える電磁波シールド用フィルムの製造方法であって、
前記基材層を用意し、前記ノイズ抑制層を形成するための液状材料を前記基材層上に供給する供給工程と、
供給された前記液状材料を乾燥させて前記基材層上に前記ノイズ抑制層を形成することで前記電磁波シールド用フィルムを得る乾燥工程とを有することを特徴とする電磁波シールド用フィルムの製造方法。
Such an object is achieved by the present invention described in the following (1) to (9).
(1) Noise suppression for covering an upper surface and a side surface of the sealing portion on an electronic component sealing body having a substrate, an electronic component disposed on the substrate, and a sealing portion for sealing the electronic component It is a manufacturing method of the film for electromagnetic wave shields which is used in order to form a layer, and is provided with the base material layer and the said noise suppression layer laminated | stacked on one surface side of this base material layer,
Supplying the liquid material for forming the base layer and forming the noise suppression layer on the base layer;
And d) drying the supplied liquid material to form the noise suppression layer on the base layer, thereby obtaining the film for shielding an electromagnetic wave.

(2) 前記液状材料は、粒子状をなす導電性材料と、バインダー樹脂と、溶媒とを含有する上記(1)に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   (2) The method for producing a film for electromagnetic wave shielding according to the above (1), wherein the liquid material contains a particulate conductive material, a binder resin, and a solvent.

(3) 前記導電性材料は、金属材料、金属酸化物材料、導電性高分子材料および導電性セラミックス材料のうちの少なくとも1種である上記(2)に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   (3) The method for producing a film for electromagnetic shielding according to (2), wherein the conductive material is at least one of a metal material, a metal oxide material, a conductive polymer material and a conductive ceramic material.

(4) 前記バインダー樹脂は、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、オレフィン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂およびシリコン樹脂のうちの少なくとも1種である上記(2)または(3)に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   (4) The said binder resin is a manufacturing of the film for electromagnetic wave shield as described in said (2) or (3) which is at least 1 sort (s) among an epoxy resin, a urethane resin, an olefin resin, a polyester resin, a polyamide resin, and a silicone resin. Method.

(5) 前記溶媒は、メチルエチルケトン、トルエン、酢酸エチル、イソプロピルアルコール、テトラデカンおよびヘキサンのうちの少なくとも1種である上記(2)ないし(4)のいずれかに記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   (5) The method according to any one of the above (2) to (4), wherein the solvent is at least one of methyl ethyl ketone, toluene, ethyl acetate, isopropyl alcohol, tetradecane and hexane.

(6) 前記供給工程において、前記基材層として、第1の層と、第2の層と、第3の層とがこの順で積層された3層構成をなす積層体を用意し、その後、前記第3の層に、前記液状材料を供給する上記(1)ないし(5)のいずれかに記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   (6) In the supply step, a laminate having a three-layer structure in which the first layer, the second layer, and the third layer are stacked in this order is prepared as the base material layer, and then, The method according to any one of (1) to (5), wherein the liquid material is supplied to the third layer.

(7) 前記供給工程において、共押出法を用いて前記積層体で構成される前記基材層を得る上記(6)に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   (7) The manufacturing method of the film for electromagnetic wave shielding as described in said (6) which obtains the said base material layer comprised by the said laminated body using the co-extrusion method in the said supply process.

(8) 前記第1の層および前記第3の層は、それぞれ、100℃における貯蔵弾性率が1.0E+05Pa以上1.0E+11Pa以下である上記(6)または(7)に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   (8) The film for electromagnetic wave shielding according to the above (6) or (7), wherein the first layer and the third layer each have a storage elastic modulus at 100 ° C. of 1.0E + 05 Pa or more and 1.0E + 11 Pa or less Manufacturing method.

(9) 前記第2の層は、100℃における貯蔵弾性率が1.0E+04Pa以上1.0E+10Pa以下である上記(6)ないし(8)のいずれかに記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   (9) The manufacturing method of the film for electromagnetic wave shields in any one of said (6) thru | or (8) whose storage elastic modulus in 100 degreeC of the said 2nd layer is 1.0E + 04Pa or more and 1.0E + 10 Pa or less.

本発明によれば、電子部品封止体の上面側に、基材層と、この基材層に積層されたノイズ抑制層とを有する電磁波シールド用フィルムを貼付し、その後、ノイズ抑制層から基材層を剥離すると言う、比較的容易な方法で電子部品封止体にノイズ抑制層を設けることができる電磁波シールド用フィルムを確実に製造することができる。   According to the present invention, a film for electromagnetic wave shielding having a base material layer and a noise suppression layer laminated on the base material layer is attached to the upper surface side of the electronic component package, and then from the noise suppression layer to the base The film for electromagnetic wave shielding which can provide a noise suppression layer in an electronic component sealing body by a comparatively easy method which says that a material layer is exfoliated can be manufactured certainly.

さらに、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により得られた電磁波シールド用フィルムを用いることで、1つの電子部品封止連結体から複数の電子部品封止体を一括して製造することができるので、電子部品封止体および電子装置の生産性の向上が図られる。   Furthermore, by using the film for electromagnetic wave shielding obtained by the method for manufacturing a film for electromagnetic wave shielding of the present invention, a plurality of electronic component sealing bodies can be collectively manufactured from one electronic component sealing connection body. Therefore, the productivity of the electronic component package and the electronic device can be improved.

本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により得られた電磁波シールド用フィルムを用いて製造された半導体装置の実施形態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows embodiment of the semiconductor device manufactured using the film for electromagnetic wave shields obtained by the manufacturing method of the film for electromagnetic wave shields of this invention. 図1に示す半導体装置を製造する製造方法を説明するための縦断面図である。FIG. 7 is a longitudinal cross-sectional view for illustrating a method of manufacturing the semiconductor device shown in FIG. 1. 図1に示す半導体装置を製造する製造方法を説明するための縦断面図である。FIG. 7 is a longitudinal cross-sectional view for illustrating a method of manufacturing the semiconductor device shown in FIG. 1. 本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により製造された電磁波シールド用フィルムの縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the film for electromagnetic wave shields manufactured with the manufacturing method of the film for electromagnetic wave shieldings of this invention. 本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法が適用された電磁波シールド用フィルム製造装置の側面図である。It is a side view of the film manufacturing apparatus for electromagnetic wave shields to which the manufacturing method of the film for electromagnetic wave shields of this invention was applied.

以下、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法を添付図面に示す好適実施形態に基づいて詳細に説明する。   BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the method for producing an electromagnetic wave shielding film of the present invention will be described in detail based on the preferred embodiments shown in the attached drawings.

以下では、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法を説明するのに先立って、まず、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により得られた電磁波シールド用フィルムを用いて製造された半導体装置について説明する。   In the following, prior to describing the method for producing a film for electromagnetic wave shielding of the present invention, first, a semiconductor device produced using the film for electromagnetic wave shielding obtained by the method for producing a film for electromagnetic wave shielding of the present invention explain.

<半導体装置>
図1は、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により得られた電磁波シールド用フィルムを用いて製造された半導体装置の実施形態を示す縦断面図である。なお、以下の説明では、図1中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
<Semiconductor device>
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing an embodiment of a semiconductor device manufactured using an electromagnetic wave shielding film obtained by the method of manufacturing an electromagnetic wave shielding film according to the present invention. In the following description, the upper side in FIG. 1 is referred to as “upper” and the lower side as “lower”.

図1に示す半導体装置20は、厚さ方向に貫通して配置された導体ポスト(図示せず)を備えるインターポーザー(基板)25と、インターポーザー25上に配置された半導体素子26ならびにコンデンサー、コイルのような電子素子28と、半導体素子26および電子素子28を封止する封止部27(モールド部)と、封止部27およびインターポーザー25を被覆するノイズ抑制層3と、導体ポストに電気的に接続された配線23と、配線23に電気的に接続されたバンプ21(端子)と、配線23を被覆し、かつバンプ21を露出させるように設けられた被覆部22とを有している。   The semiconductor device 20 shown in FIG. 1 includes an interposer (substrate) 25 having conductor posts (not shown) disposed penetrating in the thickness direction, a semiconductor element 26 and a capacitor disposed on the interposer 25, A sealing portion 27 (mold portion) for sealing the electronic element 28 such as a coil, the semiconductor element 26 and the electronic element 28, a noise suppression layer 3 for covering the sealing portion 27 and the interposer 25, a conductor post Wiring 23 electrically connected, bump 21 (terminal) electrically connected to wiring 23, and covering portion 22 provided to cover wiring 23 and expose bump 21. ing.

インターポーザー25は、半導体素子26および電子素子28を支持する基板であり、その平面視形状は、通常、正方形、長方形等の四角形とされる。このインターポーザー25には、その厚さ方向に貫通する複数の貫通孔(図示せず)が形成され、この貫通孔に対応して導体ポストが設けられている。   The interposer 25 is a substrate for supporting the semiconductor element 26 and the electronic element 28. The plan view shape thereof is usually a square such as a square or a rectangle. The interposer 25 is formed with a plurality of through holes (not shown) penetrating in the thickness direction, and conductor posts are provided corresponding to the through holes.

半導体素子26および電子素子28は、それぞれ、半導体素子26および電子素子28がその下面側に有する電極パッドが導体ポストに対応するように、インターポーザー25上に、本実施形態では、半導体素子26が1つ、電子素子28が2つそれぞれ配置されている。なお、本実施形態では、これら半導体素子26および電子素子28が、半導体装置20が備える電子部品を構成する。   In the present embodiment, the semiconductor element 26 is disposed on the interposer 25 so that the semiconductor element 26 and the electronic element 28 have electrode pads provided on the lower surface side of the semiconductor element 26 and the electronic element 28 respectively corresponding to the conductor posts. One and two electronic elements 28 are arranged. In the present embodiment, the semiconductor element 26 and the electronic element 28 constitute an electronic component included in the semiconductor device 20.

かかる位置に半導体素子26および電子素子28が配置された状態で、封止部27は、半導体素子26、電子素子28およびインターポーザー25の上面側を覆うように形成される。   In a state where the semiconductor element 26 and the electronic element 28 are disposed at such a position, the sealing portion 27 is formed to cover the upper surface side of the semiconductor element 26, the electronic element 28 and the interposer 25.

インターポーザー25の貫通孔に対応して形成された導体ポストは、その上側の端部で、半導体素子26または電子素子28が備える電極パッド(端子)と電気的に接続される。   The conductor post formed correspondingly to the through hole of the interposer 25 is electrically connected to the electrode pad (terminal) of the semiconductor element 26 or the electronic element 28 at the upper end thereof.

また、インターポーザー25の下面には、所定形状に形成された配線23が設けられ、その一部が導体ポストの下側の端部と電気的に接続される。   Further, on the lower surface of the interposer 25, a wire 23 formed in a predetermined shape is provided, and a portion thereof is electrically connected to the lower end of the conductor post.

さらに、配線23の下面には、球状体をなすバンプ21が電気的に接続されており、これにより、半導体素子26または電子素子28とバンプ21とが、電極パッド(端子)、導体ポストおよび配線23を介して電気的に接続される。また、バンプ21をその下側から露出させるための開口部221を備える被覆部22が配線23を被覆するように設けられている。   Furthermore, a spherical bump 21 is electrically connected to the lower surface of the wiring 23, whereby the semiconductor element 26 or the electronic element 28 and the bump 21 are connected to an electrode pad (terminal), a conductor post, and a wiring. It is electrically connected through 23. Further, a covering portion 22 provided with an opening 221 for exposing the bump 21 from the lower side thereof is provided to cover the wiring 23.

そして、ノイズ抑制層3は、封止部27の上面、封止部27の側面およびインターポーザー25の側面を被覆して設けられている。このノイズ抑制層3により、インターポーザー25上に設けられた半導体素子26および電子素子28と、ノイズ抑制層3を介して、半導体素子26および電子素子28の外側すなわち半導体装置20の外側に位置する他の電子部品等とを、これらの少なくとも一方から生じる電磁波を遮断(シールド)して、電磁波によるノイズが抑制される。なお、このノイズ抑制層3は、インターポーザー25の側面側において、図示しない配線を介して電気的に接地される。   The noise suppression layer 3 is provided to cover the upper surface of the sealing portion 27, the side surface of the sealing portion 27, and the side surface of the interposer 25. By the noise suppression layer 3, the semiconductor element 26 and the electronic element 28 provided on the interposer 25 and the noise suppression layer 3 are positioned outside the semiconductor element 26 and the electronic element 28, that is, outside the semiconductor device 20. Noise from electromagnetic waves is suppressed by blocking (shielding) the electromagnetic waves generated from at least one of the other electronic components and the like. The noise suppression layer 3 is electrically grounded via a wiring (not shown) on the side of the interposer 25.

なお、本実施形態では、電子部品を構成する半導体素子26および電子素子28を、それぞれ、1つおよび2つずつ半導体装置20が備えるが、かかる構成に限定されず、半導体装置(電子装置)は、いずれか1つを備えるものであってもよく、上記以上の半導体素子26および電子素子28を備えるものであってもよいし、さらに、半導体素子26および電子素子28とは異なる電子部品を備えるものであってもよい。   In the present embodiment, the semiconductor device 26 includes the semiconductor element 26 and the electronic element 28 that constitute the electronic component, one and two each. However, the present invention is not limited to this configuration, and the semiconductor device (electronic device) The semiconductor device 26 and the electronic device 28 described above may be provided, and further, an electronic component different from the semiconductor device 26 and the electronic device 28 may be provided. It may be one.

(半導体装置20の製造方法)
以上のような構成をなす半導体装置20が、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により得られた電磁波シールド用フィルムを用いた、以下に示す半導体装置20の製造方法により製造される。
(Method of Manufacturing Semiconductor Device 20)
The semiconductor device 20 having the above configuration is manufactured by the method for manufacturing a semiconductor device 20 described below, using the film for electromagnetic shielding obtained by the method for manufacturing an electromagnetic shielding film of the present invention.

本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により得られた電磁波シールド用フィルムを用いた半導体装置20の製造方法は、平板状をなすシート材を用意し、複数の電子部品をシート材上に配置する配置工程と、電子部品が配置されている上面側に、シート材と電子部品とを覆うように封止して封止部を形成することで電子部品封止連結体を得る封止部形成工程と、電子部品封止連結体の下面側に、基材と、基材に積層された粘着層とを有する粘着テープを、粘着層を電子部品封止連結体側にして貼付する第1貼付工程と、形成すべき電子部品封止体毎に対応するように、電子部品封止連結体を厚さ方向に切断して、凹部を形成することで、粘着テープに貼付された電子部品封止体を得る切断工程と、電子部品封止体の上面側に、剥離層と、剥離層に積層されたノイズ抑制層とを有する電磁波シールド用フィルムを、ノイズ抑制層を電子部品封止体側にして貼付して、凹部の形状に対応してノイズ抑制層を押し込むことで、ノイズ抑制層により電子部品封止体の上面および側面を被覆する第2貼付工程と、電磁波シールド用フィルムから、剥離層を剥離することで、粘着テープに貼付された状態で、ノイズ抑制層が設けられた電子部品封止体を得る第1剥離工程と、電子部品封止体から粘着テープを剥離することで、ノイズ抑制層が設けられた複数の電子部品封止体を一括して得る第2剥離工程と、インターポーザー(基板)の下面側に、配線を形成する配線形成工程と、インターポーザー(基板)の下面側に、配線の一部が露出するように、開口部を備える被覆部を形成する被覆部形成工程と、開口部で露出する配線に、バンプを電気的に接続するバンプ接続工程とを有する。   The method of manufacturing a semiconductor device 20 using the film for electromagnetic shielding obtained by the method of manufacturing a film for electromagnetic shielding of the present invention prepares a sheet material having a flat plate shape, and arranges a plurality of electronic components on the sheet And a sealing portion forming step for obtaining an electronic component sealing and coupling body by sealing so as to cover the sheet material and the electronic component on the upper surface side where the electronic component is arranged, and the sealing step. And a first sticking step of sticking a pressure-sensitive adhesive tape having a substrate and a pressure-sensitive adhesive layer laminated on the substrate on the lower surface side of the electronic component-sealed connector with the pressure-sensitive adhesive layer on the electronic component-sealed connector side The electronic component sealing body attached to the adhesive tape is formed by cutting the electronic component sealing connection in the thickness direction so as to correspond to each electronic component sealing body to be formed. And a peeling layer on the upper surface side of the electronic component package. An electromagnetic wave shielding film having a noise suppression layer laminated on the peeling layer with the noise suppression layer facing the electronic component sealing body, and pressing the noise suppression layer corresponding to the shape of the recess, noise The noise suppression layer is provided in a state of being attached to the adhesive tape by peeling the peeling layer from the electromagnetic wave shielding film from the second sticking step of covering the upper surface and the side surface of the electronic component package with the suppression layer. A second peeling step for obtaining a sealed electronic component, and a second peeling for collectively obtaining a plurality of electronic component seals provided with a noise suppression layer by peeling an adhesive tape from the electronic component sealed body In the process, the lower surface side of the interposer (substrate), the wiring forming process for forming the wiring, and the lower surface side of the interposer (substrate), the covering portion including the opening is formed so that a part of the wiring is exposed. Do A covering portion forming step, the wiring exposed at the opening, and a bump connecting step of electrically connecting the bumps.

以下、これらの各工程について詳述する。
図2〜図3は、図1に示す半導体装置を製造する製造方法を説明するための縦断面図、図4は、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により製造された電磁波シールド用フィルムの縦断面図である。なお、以下の説明では、図2〜図4中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
Each of these steps will be described in detail below.
2 to 3 are longitudinal sectional views for explaining the manufacturing method for manufacturing the semiconductor device shown in FIG. 1, and FIG. 4 is a film for an electromagnetic wave shielding manufactured by the method for manufacturing an electromagnetic shielding film of the present invention. It is a longitudinal cross-sectional view. In the following description, the upper side in FIGS. 2 to 4 is referred to as “upper” and the lower side as “lower”.

[1]まず、図2(a)に示すような、平板状をなすシート材25’を用意した後、このシート材25’上に複数の半導体素子26および電子素子28を配置(載置)する(図2(b)参照。;配置工程)。   [1] First, after preparing a flat sheet material 25 'as shown in FIG. 2A, a plurality of semiconductor elements 26 and electronic elements 28 are disposed (mounted) on the sheet material 25'. (See FIG. 2 (b). Placement process).

なお、このシート材25’は、予め形成された複数の貫通孔(図示せず)を備え、さらに、これら貫通孔に対応して埋設された導体ポスト(図示せず)を備えるものであり、この導体ポストは、半導体素子26および電子素子28をシート材25’上に配置させた際に、半導体素子26および電子素子28が備える電極パッド(端子)が対応する位置に形成されている。すなわち、シート材25’には、貫通孔に対応して設けられた導体ポストを、シート材25’上に配置される複数の半導体素子26および電子素子28が備える電極パッド(端子)の総数と同じ数で形成されている。   The sheet material 25 'includes a plurality of through holes (not shown) formed in advance, and further includes conductor posts (not shown) embedded corresponding to the through holes, When the semiconductor element 26 and the electronic element 28 are disposed on the sheet material 25 ′, the conductor post is formed at a position where the electrode pad (terminal) provided in the semiconductor element 26 and the electronic element 28 corresponds. That is, in the sheet material 25 ′, conductor posts provided corresponding to the through holes are the total number of electrode pads (terminals) provided on the plurality of semiconductor elements 26 and the electronic elements 28 disposed on the sheet material 25 ′. It is formed by the same number.

また、シート材25’は、その厚さ方向に切断して個片化することにより、半導体装置20が有するインターポーザー25(基板)となり、半導体素子26および電子素子28を支持する機能を発揮するものである。   Further, the sheet material 25 'is cut in the thickness direction to be separated into individual pieces, thereby becoming an interposer 25 (substrate) of the semiconductor device 20 and exhibiting a function of supporting the semiconductor element 26 and the electronic element 28. It is a thing.

このシート材25’は、半導体素子26および電子素子28を支持し得る程度の硬度を有するものであればよく、特に限定されるものではないが、例えば、コア材で構成されるコア基板、ビルドアップ材で構成されるビルドアップ基板のようなリジット基板(硬性基板)またはフレキシブル基板(可撓性基板)の何れであってもよいが、これらの中でも、特に、ビルドアップ基板であるのが好ましい。ビルドアップ基板は、特に、加工性に優れることから好ましく用いられる。   The sheet material 25 'may be any material as long as it has a hardness enough to support the semiconductor element 26 and the electronic element 28. The sheet material 25' is not particularly limited. The substrate may be either a rigid substrate (hard substrate) such as a buildup substrate composed of an up material, or a flexible substrate (flexible substrate). Among these, the buildup substrate is particularly preferred. . The buildup substrate is preferably used particularly because of its excellent processability.

ビルドアップ材料としては、特に限定されないが、例えば、フェノール樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、エポキシ樹脂のような熱硬化性樹脂と、硬化剤と、無機充填材とを含有する樹脂組成物等の硬化物を主材料として構成されるものが挙げられる。   The buildup material is not particularly limited. For example, a cured resin composition containing a thermosetting resin such as phenol resin, urea resin, melamine resin, epoxy resin, a curing agent, and an inorganic filler, etc. What is comprised as a main material is a thing.

なお、コア基板としては、特に限定されないが、例えば、主として、シアネート樹脂、エポキシ樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂のような熱硬化性樹脂等で構成されるものが挙げられる。   The core substrate is not particularly limited, and examples thereof include those mainly composed of thermosetting resins such as cyanate resin, epoxy resin, and bismaleimide-triazine resin.

さらに、フレキシブル基板としては、例えば、ポリイミド、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリイミドベンゾオキサゾール(PIBO)、液晶ポリマーのような熱可塑性樹脂等で構成されるものが挙げられる。   Furthermore, as a flexible substrate, for example, polyimide, polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), polyether sulfone (PES), polytetrafluoroethylene (PTFE), polyimide benzoxazole (PIBO), liquid crystal polymer, etc. Include those made of thermoplastic resins and the like.

また、シート材25’上に半導体素子26および電子素子28を配置する際、半導体素子26および電子素子28は、シート材25’が備える導体ポストの位置に、それぞれ、半導体素子26および電子素子28が有する電極パッドが対応する位置に配置される。そして、このような配置により、形成すべき半導体装置20が備える半導体素子26および電子素子28が配置されるべき位置に、半導体素子26および電子素子28がシート材25’上において配置されることとなる。   Further, when the semiconductor element 26 and the electronic element 28 are disposed on the sheet material 25 ′, the semiconductor element 26 and the electronic element 28 are respectively disposed at the positions of the conductor posts provided in the sheet material 25 ′. Are disposed at corresponding positions. Then, with such an arrangement, the semiconductor element 26 and the electronic element 28 are disposed on the sheet material 25 ′ at the position where the semiconductor element 26 and the electronic element 28 included in the semiconductor device 20 to be formed should be disposed. Become.

なお、半導体素子26および電子素子28(特に半導体素子26)は、シート材25’上に固定されていても固定されていなくてもよいが、エポキシ系接着剤等の接着剤(アンダーフィル材)により固定されているのが好ましい。これにより、次工程[3]において、半導体素子26および電子素子28を封止部27で封止する際に、半導体素子26および電子素子28の位置ずれが生じてしまうのを効果的に防止することができる。   The semiconductor element 26 and the electronic element 28 (in particular, the semiconductor element 26) may or may not be fixed on the sheet 25 ', but an adhesive such as an epoxy adhesive (underfill material) Are preferably fixed by Thereby, in the next step [3], when the semiconductor element 26 and the electronic element 28 are sealed by the sealing portion 27, the positional deviation of the semiconductor element 26 and the electronic element 28 is effectively prevented. be able to.

[2]次に、シート材25’の上面側、すなわち半導体素子26および電子素子28が配置されている側の面を、シート材25’、半導体素子26および電子素子28を覆うように封止部27を形成する(図2(c)参照。;封止部形成工程)。   [2] Next, the upper surface side of the sheet material 25 ′, that is, the surface on which the semiconductor element 26 and the electronic element 28 are disposed is sealed so as to cover the sheet material 25 ′, the semiconductor element 26 and the electronic element 28. The portion 27 is formed (see FIG. 2 (c); sealing portion forming step).

これにより、シート材25’、半導体素子26および電子素子28がシート材25’の上面側で封止部27により封止された電子部品封止連結体270が得られる。   Thereby, the electronic component sealing and coupling body 270 in which the sheet material 25 ′, the semiconductor element 26 and the electronic element 28 are sealed by the sealing portion 27 on the upper surface side of the sheet material 25 ′ is obtained.

封止部27を形成する方法としては、特に限定されないが、例えば、顆粒状のエポキシ樹脂組成物のような熱硬化性樹脂組成物を溶融させた状態で、シート材25’、半導体素子26および電子素子28を覆うようにシート材25’の上面に供給した後、この溶融状態の熱硬化性樹脂組成物を圧縮成形する方法が挙げられる。かかる方法によれば、半導体素子26をシート材25’上において容易かつ高密度に封止部27で封止することができる。   The method for forming the sealing portion 27 is not particularly limited. For example, in a state in which a thermosetting resin composition such as a granular epoxy resin composition is melted, the sheet material 25 ′, the semiconductor element 26, and After supplying the upper surface of sheet material 25 'so that the electronic device 28 may be covered, the method of compression-molding the thermosetting resin composition of this molten state is mentioned. According to this method, the semiconductor element 26 can be easily and densely sealed by the sealing portion 27 on the sheet material 25 ′.

[3]次に、基材4と、基材4に積層された粘着層2とを有する粘着テープ100を用意し、図2(d)に示すように、シート材25’の半導体素子26等が載置されていない面側(下面側)で、粘着テープ100を、粘着層2を電子部品封止連結体270側にして、電子部品封止連結体270に積層(貼付)する(第1貼付工程)。   [3] Next, the adhesive tape 100 having the base 4 and the adhesive layer 2 laminated on the base 4 is prepared, and as shown in FIG. 2 (d), the semiconductor element 26 etc. The adhesive tape 100 is laminated (adhered) to the electronic component sealing connector 270 with the adhesive layer 2 on the electronic component sealing connector 270 side on the side (lower surface side) on which the Sticking process).

この電子部品封止連結体270への粘着テープ100の貼付は、例えば、図示しないダイサーテーブルの上に、粘着テープ100を設置し、シート材25’の半導体素子26等と反対側の面を、粘着層2の上に置き、軽く押圧することにより行うことができる。なお、粘着テープ100に電子部品封止連結体270を予め貼着した後に、ダイサーテーブルに設置しても良い。   To attach the adhesive tape 100 to the electronic component sealing connector 270, for example, the adhesive tape 100 is placed on a dicer table (not shown), and the surface of the sheet 25 'opposite to the semiconductor element 26 etc. It can be performed by placing it on the adhesive layer 2 and lightly pressing it. The electronic component sealing connector 270 may be attached to the adhesive tape 100 in advance, and then installed on a dicer table.

粘着テープ100(ダイシングテープ)は、粘着層2を介して基材4により電子部品封止連結体270を支持するとともに、粘着層2にエネルギーを付与することで、粘着層2の電子部品封止連結体270に対する粘着性が低下する機能を有するものである。   The adhesive tape 100 (dicing tape) supports the electronic component sealing connection 270 by the base material 4 via the adhesive layer 2 and applies energy to the adhesive layer 2 to seal the electronic component of the adhesive layer 2 It has a function of reducing the adhesion to the connector 270.

かかる構成の粘着テープ100において、基材4は、主として樹脂材料から成り、粘着層2を介して基材4上に貼付された電子部品封止連結体270を支持し得る程度の硬度を有するものが用いられ、この樹脂材料としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリオレフィン系樹脂、アイオノマー、オレフィン系共重合体、ポリエステル系樹脂、ポリエーテルケトン等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。   In the pressure-sensitive adhesive tape 100 having such a configuration, the base material 4 is mainly made of a resin material and has a hardness that can support the electronic component sealing connector 270 attached on the base material 4 through the pressure-sensitive adhesive layer 2 These resin materials include, for example, polyethylene, polypropylene, polyolefin resins, ionomers, olefin copolymers, polyester resins, polyether ketones and the like, and one or more of them are used. Can be used in combination.

粘着層2は、次工程[4]において、電子部品封止連結体270をダイシングして個片化することで電子部品封止体290を得る際に、電子部品封止連結体270(電子部品封止体290)に粘着して支持する機能を有している。また、この粘着層2は、このものに対するエネルギーの付与により電子部品封止体290への粘着性が低下し、これにより、粘着層2と電子部品封止体290との間で容易に剥離を生じさせ得る状態となるものである。   When obtaining the electronic component sealing body 290 by dicing and separating the electronic component sealing connection body 270 in the next step [4] in the subsequent step [4], the electronic component sealing connection body 270 (electronic component It has a function to adhere to and support the sealing body 290). In addition, adhesion of the adhesive layer 2 to the electronic component sealing body 290 is lowered by the application of energy to the adhesive layer 2, whereby the adhesive layer 2 can be easily peeled off between the adhesive layer 2 and the electronic component sealing body 290. It will be in the state which can be made to occur.

かかる機能を備える粘着層2は、例えば、(1)粘着性を有するベース樹脂と、(2)粘着層2を硬化させる硬化性樹脂とを主材料として含有する樹脂組成物で構成される。   The adhesive layer 2 having such a function is constituted of, for example, a resin composition containing (1) a base resin having adhesiveness and (2) a curable resin for curing the adhesive layer 2 as main materials.

このようなベース樹脂(1)としては、例えば、アクリル系樹脂(粘着剤)、シリコーン系樹脂(粘着剤)、ポリエステル系樹脂(粘着剤)、ポリ酢酸ビニル系樹脂(粘着剤)、ポリビニルエーテル系樹脂(粘着剤)またはウレタン系樹脂(粘着剤)のような粘着層成分として用いられる公知のものが挙げられる。   As such a base resin (1), for example, acrylic resins (adhesives), silicone resins (adhesives), polyester resins (adhesives), polyvinyl acetate resins (adhesives), polyvinyl ether resins A well-known thing used as an adhesive layer component like resin (adhesive) or urethane type resin (adhesive) is mentioned.

また、硬化性樹脂(2)は、例えば、エネルギーの付与により硬化する硬化性を備えるものである。この硬化によってベース樹脂が硬化性樹脂の架橋構造に取り込まれた結果、粘着層2の粘着力が低下する。   Moreover, curable resin (2) is provided with the hardenability hardened | cured by provision of energy, for example. As a result of the base resin being taken into the crosslinked structure of the curable resin by this curing, the adhesive strength of the adhesive layer 2 is reduced.

このような硬化性樹脂としては、例えば、紫外線、電子線等のエネルギー線の照射によって三次元架橋可能な重合性炭素−炭素二重結合を、官能基として少なくとも2個以上分子内に有する低分子量化合物が用いられる。   As such a curable resin, for example, a low molecular weight having at least two or more polymerizable carbon-carbon double bonds which can be three-dimensionally cross-linked by irradiation of energy rays such as ultraviolet rays and electron beams in a molecule as a functional group Compounds are used.

また、粘着層2を構成する樹脂組成物には、上述した各成分(1)、(2)の他に他の成分として、光重合開始剤、架橋剤、帯電防止剤、粘着付与剤、老化防止剤、粘着調整剤、充填材、着色剤、難燃剤、軟化剤、酸化防止剤、可塑剤、界面活性剤等のうちの少なくとも1種が含まれていてもよい。   Moreover, in the resin composition which comprises the adhesion layer 2, a photoinitiator, a crosslinking agent, an antistatic agent, a tackifier, aging as other components other than each component (1), (2) mentioned above At least one of an inhibitor, an adhesion modifier, a filler, a colorant, a flame retardant, a softener, an antioxidant, a plasticizer, a surfactant, and the like may be contained.

[4]次に、粘着テープ100が貼付された電子部品封止連結体270を、例えば、ウエハリング等を用いて固定し、その後、ダイシングソー(ブレード)を用いて、形成すべき半導体装置20(電子部品封止体290)毎に対応する位置、すなわち、半導体装置20が備えるべき1つの半導体素子26と2つの電子素子28とが封止部27で封止される領域毎に対応して、電子部品封止連結体270を厚さ方向に切断(ダイシング)して、凹部62を形成する(切断工程(ダイシング工程);図2(e)参照)。   [4] Next, the electronic component sealing and coupling body 270 to which the adhesive tape 100 is attached is fixed using, for example, a wafer ring or the like, and then a semiconductor device 20 to be formed using a dicing saw (blade). (Corresponding to each area where one semiconductor element 26 and two electronic elements 28 to be provided in the semiconductor device 20 are sealed by the sealing portion 27) Then, the electronic component sealing connection body 270 is cut in the thickness direction (dicing) to form the recess 62 (cutting step (dicing step); see FIG. 2E).

これにより、電子部品封止連結体270が、1つの半導体素子26と2つの電子素子28との組み合わせ毎に対応して個片化された電子部品封止体290が粘着テープ100上に貼付された状態で得られる。   As a result, the electronic component sealing body 290 in which the electronic component sealing and coupling body 270 is singulated corresponding to each combination of one semiconductor element 26 and two electronic elements 28 is attached onto the adhesive tape 100. It is obtained in

この際、粘着テープ100は、緩衝作用を有しており、電子部品封止連結体270を切断する際の割れ、欠け等を防止する機能を発揮する。   Under the present circumstances, the adhesive tape 100 has a buffer action, and exhibits the function to prevent the crack at the time of cut | disconnecting the electronic component sealing connection body 270, a chipping, etc.

また、ブレードを用いた電子部品封止連結体270の切断は、本実施形態では、図2(e)に示すように、基材4の厚さ方向に、基材4の途中に到達するまで実施される。これにより、電子部品封止連結体270の個片化を確実に実施することができる。また、電子部品封止体290を粘着テープ100上に貼付させた状態で、個片化により形成される電子部品封止体290の側面、すなわち封止部27およびインターポーザー25の側面を凹部62において確実に露出させることができる。   Further, in the present embodiment, as shown in FIG. 2E, the cutting of the electronic component sealing and coupling body 270 using the blade is in the middle of the base material 4 in the thickness direction of the base material 4 until it reaches To be implemented. Thereby, singulation of the electronic component sealing connection body 270 can be implemented reliably. Further, in a state where the electronic component sealing body 290 is attached to the adhesive tape 100, the side surface of the electronic component sealing body 290 formed by singulation, that is, the side surface of the sealing portion 27 and the interposer 25 Can be reliably exposed.

[5]次に、剥離層1(基材層)と、剥離層1に積層されたノイズ抑制層3とを有する電磁波シールド用フィルム300を用意し、個片化で得られた電子部品封止体290の封止部27が形成されている面側(上面側)で、電子部品封止体290に、電磁波シールド用フィルム300を、ノイズ抑制層3を電子部品封止体290側にして、積層(貼付)する(第2貼付工程)。   [5] Next, a film 300 for electromagnetic wave shielding having the peeling layer 1 (base material layer) and the noise suppression layer 3 laminated on the peeling layer 1 is prepared, and the electronic component sealing obtained by singulation is performed. With the electronic component sealing body 290, the film 300 for shielding an electromagnetic wave, and the noise suppression layer 3 on the electronic component sealing body 290 side on the surface side (upper surface side) where the sealing portion 27 of the body 290 is formed Stack (paste) (second paste process).

この電子部品封止体290に電磁波シールド用フィルム300を貼付する方法としては、特に限定されないが、例えば、真空圧空成形またはプレス成型法が挙げられる。   Although it does not specifically limit as method to affix the film 300 for electromagnetic wave shields to this electronic component sealing body 290, For example, vacuum pressure air molding or the press molding method is mentioned.

真空圧空成形とは、例えば、真空加圧式ラミネーターを用いて、電磁波シールド用フィルム300で、個片化で得られた電子部品封止体290の上面および側面を被覆する方法であり、まず、図2(f)に示すように、真空雰囲気下とし得る閉空間内に、電子部品封止体290の粘着テープ100と反対側の面と、電磁波シールド用フィルム300のノイズ抑制層3側の面とが対向するように、電子部品封止体290と電磁波シールド用フィルム300とを重ね合わせた状態でセットし、その後、これらを加熱下において、電磁波シールド用フィルム300側から均一に電磁波シールド用フィルム300と電子部品封止体290とが互いに接近するように、前記閉空間を真空雰囲気下にし、その後加圧することにより実施される。   Vacuum pressure forming is a method of covering the upper surface and the side surface of the electronic component sealing body 290 obtained by singulation with the film 300 for electromagnetic wave shielding using, for example, a vacuum pressure type laminator, first of all, As shown in FIG. 2 (f), the surface of the electronic component sealing body 290 on the opposite side to the adhesive tape 100 and the surface of the film for electromagnetic wave shielding 300 on the side of the noise suppression layer 3 The electronic component sealing body 290 and the electromagnetic wave shielding film 300 are set in a superimposed state so that they face each other, and then they are uniformly heated from the electromagnetic wave shielding film 300 side under heating. It is carried out by placing the closed space under a vacuum atmosphere and then applying pressure so that the electronic component sealing body 290 approaches to each other.

このように、電磁波シールド用フィルム300側から均一に加圧しつつ、前記閉空間を真空雰囲気下とすることで、剥離層1が凹部62の形状に対応してノイズ抑制層3を押し込み、この押し込みに併せて、剥離層1よりも電子部品封止体290側に位置する、ノイズ抑制層3が凹部62の形状に対応して変形する。これにより、図3(a)に示すように、凹部62の形状に対応してノイズ抑制層3が押し込まれた状態で、ノイズ抑制層3により電子部品封止体290の上面および側面が被覆される。   Thus, the peeling layer 1 pushes the noise suppression layer 3 corresponding to the shape of the recess 62 by making the closed space under a vacuum atmosphere while uniformly pressing from the electromagnetic wave shielding film 300 side. In addition, the noise suppression layer 3 positioned closer to the electronic component package 290 than the release layer 1 is deformed in correspondence with the shape of the recess 62. Thereby, as shown in FIG. 3A, the upper surface and the side surface of the electronic component sealing body 290 are covered with the noise suppression layer 3 in a state in which the noise suppression layer 3 is pressed corresponding to the shape of the recess 62. Ru.

このような第2貼付工程において、貼付する温度は、特に限定されないが、15℃以上220℃以下であることが好ましく、より好ましくは20℃以上210℃以下、さらに好ましくは150℃以上200℃以下である。   The temperature to be attached in such a second attaching step is not particularly limited, but is preferably 15 ° C. or more and 220 ° C. or less, more preferably 20 ° C. or more and 210 ° C. or less, still more preferably 150 ° C. or more and 200 ° C. or less It is.

また、貼付する圧力は、特に限定されないが、0.1MPa以上20.0MPa以下であることが好ましく、より好ましくは0.5MPa以上15.0MPa以下である。   The pressure to be attached is not particularly limited, but is preferably 0.1 MPa or more and 20.0 MPa or less, and more preferably 0.5 MPa or more and 15.0 MPa or less.

さらに、貼付する時間は、特に限定されないが、5秒以上90分以下であることが好ましく、より好ましくは30秒以上10分以下である。   Furthermore, the time for sticking is not particularly limited, but is preferably 5 seconds to 90 minutes, and more preferably 30 seconds to 10 minutes.

第2貼付工程における条件を上記範囲内に設定することにより、隣接する電子部品封止体290同士間の凹部62に対してノイズ抑制層3を押し込んだ状態で、このノイズ抑制層3により電子部品封止体290の上面および側面を確実に被覆することができる。   By setting the conditions in the second pasting step within the above range, the noise suppression layer 3 is pushed into the recesses 62 between the adjacent electronic component sealing bodies 290, and the noise suppression layer 3 is used to make the electronic components The top and side surfaces of the sealing body 290 can be reliably covered.

また、プレス成型法とは、例えば、粘着テープ100上に貼付された電子部品封止体290上に電磁波シールド用フィルム300を配置し、さらに、この電磁波シールド用フィルム300上に、クッション材を配置した状態で、これらを、その上面側および下面側から、2つの平板で挾持し、その後、2つの平板を接近させて、加圧することにより実施される。   Moreover, with the press molding method, for example, the film 300 for electromagnetic wave shielding is disposed on the electronic component sealing body 290 attached on the adhesive tape 100, and the cushion material is further disposed on the film 300 for electromagnetic wave shielding. In the state, they are held by holding two flat plates from the upper surface side and the lower surface side, and then bringing the two flat plates close to each other to press them.

このように、電磁波シールド用フィルム300上に、クッション材を配置した状態で、電磁波シールド用フィルム300と電子部品封止体290とを接近させることによっても、剥離層1が凹部62の形状に対応してノイズ抑制層3を押し込み、この押し込みに併せて、剥離層1よりも電子部品封止体290側に位置する、ノイズ抑制層3を凹部62の形状に対応して変形させることができる。そのため、図3(a)に示すように、凹部62の形状に対応してノイズ抑制層3が押し込まれた状態で、ノイズ抑制層3により電子部品封止体290の上面および側面を被覆することができる。   Thus, the peeling layer 1 corresponds to the shape of the recess 62 also by bringing the film for electromagnetic shielding 300 and the electronic component sealing body 290 closer to each other in a state where the cushioning material is disposed on the film for electromagnetic shielding 300. Then, the noise suppression layer 3 can be pressed, and the noise suppression layer 3 located closer to the electronic component sealed body 290 than the peeling layer 1 can be deformed according to the shape of the recess 62 in accordance with the pressing. Therefore, as shown in FIG. 3A, the noise suppression layer 3 covers the upper surface and the side surface of the electronic component sealing body 290 in a state where the noise suppression layer 3 is pressed in according to the shape of the recess 62. Can.

ここで、本工程[5]において用いられる電磁波シールド用フィルム300は、隣接する電子部品封止体290同士間の凹部62に対してノイズ抑制層3を押し込んだ状態で、電子部品封止体290にノイズ抑制層3を被覆するために用いられるもの、すなわち電子部品封止体290に、封止部27の上面および側面ならびにインターポーザー25の側面を被覆する、ノイズ抑制層3を形成するためのものであり、剥離層1(基材層)と、剥離層1の一方の面側に積層されたノイズ抑制層3とを有し、ノイズ抑制層3を電子部品封止体290側にして配置される(図2(f)、図4参照)。   Here, the film 300 for an electromagnetic shielding used in the present step [5] is the electronic component sealing body 290 in a state where the noise suppression layer 3 is pushed into the concave portion 62 between the electronic component sealing bodies 290 adjacent to each other. Used to coat the noise suppression layer 3, that is, to form the noise suppression layer 3 covering the upper surface and the side surface of the sealing portion 27 and the side surface of the interposer 25 on the electronic component sealing body 290. It has the peeling layer 1 (base material layer) and the noise suppression layer 3 laminated | stacked on one surface side of the peeling layer 1, and the noise suppression layer 3 is made the electronic component sealing body 290 side, and is arrange | positioned. (See FIG. 2 (f), FIG. 4).

このような電磁波シールド用フィルム300において、剥離層1は、凹部62の形状に追従してノイズ抑制層3を押し込むことで、電子部品封止体290の上面および側面を被覆する際に、押し込まれたノイズ抑制層3が破断するのを防止する保護(緩衝)材として機能するものである。また、次工程[6]において、ノイズ抑制層3から剥離されるものである。   In such a film 300 for electromagnetic wave shielding, the peeling layer 1 is pushed in when covering the upper surface and the side surface of the electronic component sealed body 290 by pushing the noise suppression layer 3 following the shape of the concave portion 62. It functions as a protective (buffer) material that prevents the noise suppression layer 3 from breaking. Moreover, it peels from the noise suppression layer 3 in the following process [6].

また、剥離層1の100℃における貯蔵弾性率は、1.0E+04Pa以上1.0E+11Pa以下であるのが好ましく、1.0E+05Pa以上1.0E+10Pa以下であるのがより好ましく、1.0E+06Pa以上5.0E+09以下であるのがさらに好ましい。このように、剥離層1の100℃における貯蔵弾性率を、前記範囲内に設定することにより、剥離層1は可撓性を有するものであると言うことができ、電磁波シールド用フィルム300を用いて、電子部品封止体290の上面および側面を被覆する際に、ノイズ抑制層3に破断を生じさせることなくノイズ抑制層3を凹部62の形状に対応した状態で押し込むことができる。これにより、凹部62の形状に対応してノイズ抑制層3が押し込まれた状態で、ノイズ抑制層3により電子部品封止体290の上面および側面が被覆される。その結果、電子部品封止体290の上面および側面が、破断の発生が防止されたノイズ抑制層3をもって、被覆されるようになるため、このノイズ抑制層3による電磁波シールド(遮断)性が向上することとなる。   The storage elastic modulus at 100 ° C. of the peeling layer 1 is preferably 1.0E + 04 Pa or more and 1.0E + 11 Pa or less, more preferably 1.0E + 05 Pa or more and 1.0E + 10 Pa or less, and 1.0E + 06 Pa or more and 5.0E + 09 or more. It is further preferred that Thus, by setting the storage elastic modulus at 100 ° C. of the peeling layer 1 within the above range, it can be said that the peeling layer 1 has flexibility, and the electromagnetic wave shielding film 300 is used. When covering the upper surface and the side surface of the electronic component package 290, the noise suppression layer 3 can be pressed in a state corresponding to the shape of the recess 62 without causing the noise suppression layer 3 to break. Thereby, the upper surface and the side surface of the electronic component sealing body 290 are covered with the noise suppression layer 3 in a state where the noise suppression layer 3 is pressed in according to the shape of the recess 62. As a result, since the upper surface and the side surface of the electronic component package 290 are covered with the noise suppression layer 3 in which the occurrence of breakage is prevented, the electromagnetic wave shielding (blocking) property by the noise suppression layer 3 is improved. It will be done.

本実施形態では、剥離層1は、第3の層13と、第2の層12と、第1の層11とで構成され、これらが剥離層1のノイズ抑制層3が積層されている面側から、この順で積層されたものであり、上述した剥離層1の特性が発揮されるように、これら各層11〜13の種類、および厚さ等が適宜組み合わされる(図4参照)。   In the present embodiment, the peeling layer 1 is composed of the third layer 13, the second layer 12, and the first layer 11, and the surface on which the noise suppression layer 3 of the peeling layer 1 is laminated. From the side, the layers are stacked in this order, and the types, thicknesses, and the like of the layers 11 to 13 are appropriately combined (see FIG. 4) so that the characteristics of the release layer 1 described above are exhibited.

以下、これら各層11〜13について、それぞれ、説明する。
第1の層11は、第2貼付工程において、凹部62の形状に対応してノイズ抑制層3を、例えば、真空加圧式ラミネーター等を用いて押し込む際に、真空加圧式ラミネーター等が有する押圧部との離型性の機能を付与するためのものである。また、第2の層12側に押圧部からの押圧力を伝播するためのものである。
Each of the layers 11 to 13 will be described below.
The first layer 11 is a pressing portion of the vacuum pressure type laminator or the like when the noise suppression layer 3 is pressed using the vacuum pressure type laminator or the like corresponding to the shape of the concave portion 62 in the second bonding step. It is for giving the function of the releasability of and. Moreover, it is for propagating the thrust from a press part to the 2nd layer 12 side.

この第1の層(第1離型層)11の構成材料としては、特に限定されず、例えば、シンジオタクチックポリスチレン、ポリメチルペンテン、ポリブチレンテレフタレート、ポリプロピレン、環状オレフィンポリマー、シリコーンのような樹脂材料が挙げられる。これらの中でも、ポリメチルペンテンを用いることが好ましい。このように、ポリメチルペンテンを有するものを用いることにより、第1の層11の装置との離型性、さらには耐熱性および形状追従性を優れたものとすることができる。   The constituent material of the first layer (first release layer) 11 is not particularly limited. For example, a resin such as syndiotactic polystyrene, polymethylpentene, polybutylene terephthalate, polypropylene, cyclic olefin polymer, and silicone Materials can be mentioned. Among these, it is preferable to use polymethylpentene. As described above, by using a material having polymethylpentene, the releasability of the first layer 11 from the device, and further, the heat resistance and the shape followability can be made excellent.

第1の層11にポリメチルペンテンを用いる場合、その含有量は、特に限定されないが、60重量%以上であることが好ましく、70重量%以上95重量%以下であることがより好ましい。ポリメチルペンテンの含有量が前記下限値未満である場合、第1の層11の離型性が低下するおそれがある。また、ポリメチルペンテンの含有量が前記上限値を超える場合、第1の層11の形状追従性が不足するおそれがある。   When polymethylpentene is used for the first layer 11, its content is not particularly limited, but is preferably 60% by weight or more, and more preferably 70% by weight or more and 95% by weight or less. If the content of polymethylpentene is less than the lower limit value, the releasability of the first layer 11 may be reduced. Moreover, when content of polymethyl pentene exceeds the said upper limit, there exists a possibility that shape following property of the 1st layer 11 may run short.

なお、第1の層11は、ポリメチルペンテンのみで構成されていても構わない。また、第1の層11は、ポリメチルペンテンの他に、さらにスチレン系エラストマー、ポリエチレンまたはポリプロピレン等を含有していてもよい。   The first layer 11 may be made of only polymethylpentene. In addition to polymethylpentene, the first layer 11 may further contain a styrenic elastomer, polyethylene, polypropylene or the like.

第1の層11の平均厚さは、特に限定されないが、5μm以上100μm以下であることが好ましく、10μm以上65μm以下であることがより好ましい。第1の層11の平均厚さが前記下限値未満である場合、第1の層11が破断し、その離型性が低下するおそれがある。また、第1の層11の平均厚さが前記上限値を超える場合、剥離層1の形状追従性が低下し、ノイズ抑制層3の形状追従性が低下するおそれがある。   The average thickness of the first layer 11 is not particularly limited, but is preferably 5 μm or more and 100 μm or less, and more preferably 10 μm or more and 65 μm or less. If the average thickness of the first layer 11 is less than the lower limit value, the first layer 11 may be broken and its releasability may be reduced. In addition, when the average thickness of the first layer 11 exceeds the upper limit value, the shape following property of the peeling layer 1 may be reduced, and the shape following property of the noise suppression layer 3 may be reduced.

また、第1の層11の100℃における貯蔵弾性率は、1.0E+05Pa以上1.0E+11Pa以下であるのが好ましく、5.0E+06Pa以上1.0E+10Pa以下であるのがより好ましい。第1の層11の貯蔵弾性率をかかる範囲内に設定することにより、電磁波シールド用フィルム300の加熱時において、第1の層11は、優れた伸縮性を有するものとなるため、ノイズ抑制層3の凹部62に対する形状追従性をより確実に向上させることができる。また、剥離層1全体としての貯蔵弾性率を前述した範囲内に比較的容易に設定することができる。   The storage elastic modulus at 100 ° C. of the first layer 11 is preferably 1.0E + 05 Pa or more and 1.0E + 11 Pa or less, and more preferably 5.0E + 06 Pa or more and 1.0E + 10 Pa or less. By setting the storage elastic modulus of the first layer 11 within such a range, the first layer 11 has excellent stretchability at the time of heating of the film 300 for shielding electromagnetic waves, so the noise suppression layer Shape followability to the concave portion 62 of 3 can be more reliably improved. Moreover, the storage elastic modulus as the whole peeling layer 1 can be set comparatively easily in the range mentioned above.

さらに、第1の層11の表面張力は、20〜40[mN/m]であるのが好ましく、25〜35[mN/m]であるのがより好ましい。かかる範囲内の表面張力を有する第1の層11を優れた離型性を備えるものと言うことができ、真空加圧式ラミネーター等を用いた押し込みの後に、押圧部から第1の層11を剥離させることができる。   Furthermore, the surface tension of the first layer 11 is preferably 20 to 40 [mN / m], and more preferably 25 to 35 [mN / m]. The first layer 11 having a surface tension within this range can be said to have excellent releasability, and the first layer 11 is peeled off from the pressing portion after pressing using a vacuum pressure type laminator or the like. It can be done.

第3の層13は、第2貼付工程[5]において、凹部62に対するノイズ抑制層3の押し込みを、真空加圧式ラミネーター等を用いて実施した後に、第1剥離工程[6]において、剥離層1をノイズ抑制層3から剥離する際に、剥離層1に剥離性の機能を付与するためのものである。また、凹部62の形状に応じて、第3の層13が追従する追従性の機能を有し、かつ、ノイズ抑制層3側に、押圧部からの押圧力を伝播する機能を併せ持つものである。   The third layer 13 is a peeling layer in the first peeling step [6] after the pressing of the noise suppression layer 3 into the recess 62 is performed using the vacuum pressure type laminator or the like in the second bonding step [5]. When peeling 1 from the noise suppression layer 3, the peeling layer 1 is provided with a peelable function. In addition, according to the shape of the recess 62, the third layer 13 has the function of following capability, and the noise suppression layer 3 also has a function of transmitting the pressure from the pressing portion. .

この第3の層(第2離型層)13の構成材料としては、特に限定されず、例えば、シンジオタクチックポリスチレン、ポリメチルペンテン、ポリブチレンテレフタレート、ポリプロピレン、環状オレフィンポリマー、シリコーンのような樹脂材料が挙げられる。これらの中でも、ポリメチルペンテンを用いることが好ましい。このように、ポリメチルペンテンを用いることにより、第3の層13のノイズ抑制層3との離型性、さらには耐熱性および形状追従性を優れたものとすることができる。   The constituent material of the third layer (second release layer) 13 is not particularly limited. For example, a resin such as syndiotactic polystyrene, polymethylpentene, polybutylene terephthalate, polypropylene, cyclic olefin polymer, silicone Materials can be mentioned. Among these, it is preferable to use polymethylpentene. As described above, by using polymethylpentene, the releasability of the third layer 13 from the noise suppression layer 3, and further, the heat resistance and the shape following property can be made excellent.

第3の層13におけるポリメチルペンテンの含有量は、特に限定されないが、60重量%以上であることが好ましく、70重量%以上95重量%以下であることがより好ましい。ポリメチルペンテンの含有量が前記下限値未満である場合、第3の層13の離型性が低下するおそれがある。また、ポリメチルペンテンの含有量が前記上限値を超える場合、第3の層13の形状追従性が不足するおそれがある。   The content of polymethylpentene in the third layer 13 is not particularly limited, but is preferably 60% by weight or more, and more preferably 70% by weight or more and 95% by weight or less. When the content of polymethylpentene is less than the lower limit value, the releasability of the third layer 13 may be reduced. Moreover, when content of polymethyl pentene exceeds the said upper limit, there exists a possibility that shape following property of the 3rd layer 13 may run short.

なお、第3の層13は、ポリメチルペンテンのみで構成されていても構わないが、前記ポリメチルペンテンの他に、さらにスチレン系エラストマー、ポリエチレンまたはポリプロピレン等を含有していてもよい。また、第3の層13と、第1の層11とを構成する樹脂は、同じであっても異なっていても構わない。   Although the third layer 13 may be made of only polymethylpentene, it may further contain styrene elastomer, polyethylene, polypropylene or the like in addition to the polymethylpentene. Moreover, the resin which comprises the 3rd layer 13 and the 1st layer 11 may be same or different.

第3の層13の平均厚さは、特に限定されないが、5μm以上100μm以下であることが好ましく、10μm以上65μm以下であることがより好ましい。第3の層13の平均厚さが前記下限値未満である場合、耐熱性が不足し、第2貼付工程[5]で基材層の耐熱性が不足し、変形が発生し、ノイズ抑制層3が変形するおそれがある。また、第3の層13の平均厚さが前記上限値を超える場合、電磁波シールド用フィルム全体の総厚さが厚くなり、カット等の作業性が低下するおそれがあり、また、コスト面でも経済的ではない。   The average thickness of the third layer 13 is not particularly limited, but is preferably 5 μm or more and 100 μm or less, and more preferably 10 μm or more and 65 μm or less. When the average thickness of the third layer 13 is less than the lower limit, the heat resistance is insufficient, the heat resistance of the base material layer is insufficient in the second bonding step [5], and deformation occurs, and the noise suppression layer 3 may be deformed. In addition, when the average thickness of the third layer 13 exceeds the upper limit, the total thickness of the whole film for an electromagnetic shielding film may be increased, and the workability such as cutting may be deteriorated. It is not target.

なお、第1の層11と、第3の層13の厚さは、同じであっても異なっていても構わない。   The thicknesses of the first layer 11 and the third layer 13 may be the same or different.

また、第3の層13の100℃における貯蔵弾性率は、1.0E+05Pa以上1.0E+11Pa以下であるのが好ましく、5.0E+06Pa以上1.0E+10Pa以下であるのがより好ましい。第3の層13の貯蔵弾性率をかかる範囲内に設定することにより、電磁波シールド用フィルム300の加熱時において、第3の層13は、優れた伸縮性を有するものとなるため、第3の層13、さらにはノイズ抑制層3の凹部62に対する形状追従性をより確実に向上させることができる。   The storage elastic modulus at 100 ° C. of the third layer 13 is preferably 1.0E + 05 Pa or more and 1.0E + 11 Pa or less, and more preferably 5.0E + 06 Pa or more and 1.0E + 10 Pa or less. By setting the storage elastic modulus of the third layer 13 within such a range, the third layer 13 has excellent stretchability at the time of heating of the film 300 for shielding an electromagnetic wave. It is possible to more reliably improve the shape followability of the layer 13 and further the concave portion 62 of the noise suppression layer 3.

さらに、第3の層13の表面張力は、20〜40[mN/m]であるのが好ましく、25〜35[mN/m]であるのがより好ましい。かかる範囲内の表面張力を有する第3の層13を優れた離型性を備えるものと言うことができ、真空加圧式ラミネーター等を用いた押し込みの後に、剥離層1をノイズ抑制層3から剥離する際に、第3の層13とノイズ抑制層3との界面において、剥離層1を確実に剥離させることができる。   Furthermore, the surface tension of the third layer 13 is preferably 20 to 40 [mN / m], and more preferably 25 to 35 [mN / m]. The third layer 13 having a surface tension within this range can be said to have excellent releasability, and the peeling layer 1 is peeled from the noise suppression layer 3 after pressing using a vacuum pressure type laminator or the like. In the process, the peeling layer 1 can be reliably peeled at the interface between the third layer 13 and the noise suppression layer 3.

第2の層12は、第2貼付工程[5]において、剥離層1を押し込み用の基材として用いて凹部62に対してノイズ抑制層3を押し込む際に、第3の層13を、凹部62に対して押し込む(埋め込む)ためのクッション機能を有するものである。また、第2の層12は、この押し込む力を、第3の層13、さらには、この第3の層13を介してノイズ抑制層3に、均一に作用させる機能を有しており、これにより、ノイズ抑制層3と凹部62との間にボイドを発生させることなく、ノイズ抑制層3を凹部62に対して優れた密閉性(追従性)をもって押し込むことができる。   The second layer 12 is used as the third layer 13 when pressing the noise suppression layer 3 into the recess 62 using the peeling layer 1 as a base for pressing in the second bonding step [5]. 62 has a cushioning function for pushing in (embedding). In addition, the second layer 12 has a function of causing the pressing force to uniformly act on the noise suppression layer 3 via the third layer 13 and further on the third layer 13. Thus, the noise suppression layer 3 can be pushed into the recess 62 with excellent sealing performance (followability) without generating a void between the noise suppression layer 3 and the recess 62.

この第2の層12(クッション層)の構成材料としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロプレン等のαオレフィン系重合体、エチレン、プロピレン、ブテン、ペンテン、ヘキセン、メチルペンテン等を共重合体成分として有するαオレフィン系共重合体、ポリエーテルスルホン、ポリフェニレンスルフィド等のエンジニアリングプラスチックス系樹脂が挙げられ、これらを単独あるいは複数併用してもよい。これらの中でも、αオレフィン系共重合体を用いることが好ましい。具体的には、エチレン等のαオレフィンと、(メタ)アクリル酸エステルとの共重合体、エチレンと酢酸ビニルとの共重合体、エチレンと(メタ)アクリル酸との共重合体(EMMA)、およびそれらの部分イオン架橋物等が挙げられる。αオレフィン系共重合体は、形状追従性に優れ、さらに、第1の層11の構成材料と比較して柔軟性に優れることから、かかる構成材料で構成される第2の層12に、第1の層11を凹部62に対して押し込む(埋め込む)ためのクッション機能を確実に付与することができる。   The constituent material of the second layer 12 (cushion layer) is, for example, an α-olefin polymer such as polyethylene or polypropylene, ethylene, propylene, butene, pentene, hexene, methylpentene or the like as a copolymer component Engineering plastics resin such as α-olefin copolymer, polyether sulfone and polyphenylene sulfide may be mentioned, and these may be used alone or in combination. Among these, it is preferable to use an α-olefin copolymer. Specifically, a copolymer of an α-olefin such as ethylene and a (meth) acrylic ester, a copolymer of ethylene and vinyl acetate, a copolymer of ethylene and (meth) acrylic acid (EMMA), And partial ion cross-linked products thereof. Since the α-olefin copolymer is excellent in shape followability and is further excellent in flexibility as compared with the constituent material of the first layer 11, the second layer 12 made of such constituent material is excellent in flexibility. A cushioning function for pushing (embedding) one layer 11 into the recess 62 can be reliably provided.

なお、第2の層12は、前述した第1の層11および第3の層13で挙げた構成材料と、第2の層12の構成材料とのブレンド体であってもよい。   The second layer 12 may be a blend of the constituent materials listed in the first layer 11 and the third layer 13 described above and the constituent material of the second layer 12.

第2の層12の平均厚さは、特に限定されないが、20μm以上500μm以下であることが好ましく、100μm以上400μm以下であることがより好ましい。第2の層12の平均厚さが前記下限値未満である場合、第2の層12の形状追従性が不足し、第2貼付工程[5]で凹部62への追従性が不足するというおそれがある。また、第2の層12の平均厚さが前記上限値を超える場合、第2貼付工程[5]において、第2の層12からの樹脂のシミ出しが多くなり、圧着装置の熱盤に付着し、作業性が低下するというおそれがある。   The average thickness of the second layer 12 is not particularly limited, but is preferably 20 μm or more and 500 μm or less, and more preferably 100 μm or more and 400 μm or less. When the average thickness of the second layer 12 is less than the lower limit value, there is a fear that the shape following property of the second layer 12 is insufficient and the following property to the concave part 62 is insufficient in the second pasting step [5]. There is. In addition, when the average thickness of the second layer 12 exceeds the upper limit value, in the second bonding step [5], the amount of resin stains from the second layer 12 increases, and the resin adheres to the heating plate of the crimping device. And there is a risk that the workability will be reduced.

また、第2の層12の100℃における貯蔵弾性率は、1.0E+04Pa以上1.0E+10Pa以下であるのが好ましく、1.0E+05Pa以上1.0E+09Pa以下であるのがより好ましい。第2の層12の貯蔵弾性率をかかる範囲内に設定することにより、電磁波シールド用フィルム300の加熱時において、第2の層12を、第1の層11と比較してより優れた伸縮性を有するものと容易にすることができる。そのため、第2の層12、さらには第3の層13およびノイズ抑制層3の凹部62に対する形状追従性をより確実に向上させることができる。   The storage elastic modulus at 100 ° C. of the second layer 12 is preferably 1.0E + 04 Pa or more and 1.0E + 10 Pa or less, and more preferably 1.0E + 05 Pa or more and 1.0E + 09 Pa or less. By setting the storage elastic modulus of the second layer 12 within such a range, the second layer 12 has better elasticity than the first layer 11 when the film for electromagnetic shielding 300 is heated. Can be made easy. Therefore, the shape followability of the second layer 12 and further the third layer 13 and the recess 62 of the noise suppression layer 3 can be more reliably improved.

なお、各層11〜13の貯蔵弾性率を、それぞれ、前述した範囲内において適宜設定することで、剥離層1の100℃における貯蔵弾性率を1.0E+04Pa以上1.0E+11Pa以下の範囲内に容易に設定することができる。   In addition, the storage elastic modulus of each of the layers 11 to 13 can be easily set in the range of 1.0E + 04Pa or more and 1.0E + 11Pa or less at 100 ° C. by appropriately setting the storage elastic modulus for each of the layers 11 to 13 within the above-described range. It can be set.

剥離層1の全体の厚さは、特に限定されないが、20μm以上1000μm以下であることが好ましく、70μm以上500μm以下であることがより好ましい。剥離層1の全体の平均厚さが前記下限値未満である場合、第3の層13が破断し、剥離層1の離型性が低下するというおそれがある。また、剥離層1の全体の平均厚さが前記上限値を超える場合、剥離層1の形状追従性が低下し、ノイズ抑制層3の凹部62に対する形状追従性が低下するというおそれがある。   The total thickness of the release layer 1 is not particularly limited, but is preferably 20 μm to 1000 μm, and more preferably 70 μm to 500 μm. When the average thickness of the entire release layer 1 is less than the lower limit value, the third layer 13 may be broken and the releasability of the release layer 1 may be reduced. Moreover, when the average thickness of the whole peeling layer 1 exceeds the said upper limit, there exists a possibility that the shape following property of the peeling layer 1 will fall and the shape following property with respect to the recessed part 62 of the noise suppression layer 3 may fall.

なお、この剥離層1の構成層数は、特に限定されず、上述したような3層構成のものを含む2層以上の多層構成であっても良いし、単層構成のものであっても良い。   The number of constituent layers of the release layer 1 is not particularly limited, and may be a multilayer structure of two or more layers including the three-layer structure as described above, or may be a single layer structure. good.

また、剥離層1を単層構成のものとする場合、この剥離層1の構成材料としては、特に限定されず、例えば、シンジオタクチックポリスチレン、ポリメチルペンテン、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンテレフタレート、無軸延伸ポリプロピレンおよび二軸延伸ポリプロピレン等のポリプロピレン、環状オレフィンポリマー、シリコーン、スチレンエラストマー樹脂、スチレンブタジエンゴム、アクリルゴム、エポキシ樹脂、ポリフェノール、ポリウレタンのような樹脂材料が挙げられる。これらの中でも、ポリメチルペンテンを用いることが好ましい。これにより、剥離層1のノイズ抑制層3に対する押込み性、さらには耐熱性を向上させることができ、かつ、後述する第1剥離工程[6]時にノイズ抑制層3から離型性よく剥離層1を剥がすことができる。   Moreover, when making the peeling layer 1 into a thing of single layer structure, it does not specifically limit as a constituent material of this peeling layer 1, For example, syndiotactic polystyrene, polymethyl pentene, a polybutylene terephthalate, a polyethylene terephthalate, non-axial Examples thereof include polypropylenes such as oriented polypropylene and biaxially oriented polypropylene, cyclic olefin polymers, silicones, styrene elastomer resins, styrene butadiene rubbers, acrylic rubbers, epoxy resins, polyphenols, polyurethanes and the like. Among these, it is preferable to use polymethylpentene. Thereby, the indentation property of the peeling layer 1 to the noise suppression layer 3 and further the heat resistance can be improved, and the peeling layer 1 with good releasability from the noise suppression layer 3 at the time of the first peeling step [6] described later. Can be peeled off.

さらに、この場合の剥離層1の厚さは、特に限定されないが、3μm以上2000μm以下であることが好ましく、5μm以上500μm以下であることがより好ましい。剥離層1の平均厚さが前記下限値未満である場合、剥離層1ひいてはノイズ抑制層3が破断し、その電磁波シールド性が低下するおそれがある。また、剥離層1の平均厚さが前記上限値を超える場合、剥離層1からノイズ抑制層3に対する押し込む力が十分に伝達されず、ノイズ抑制層3の凹部62に対する押し込み性が十分に得られないおそれがある。   Furthermore, the thickness of the peeling layer 1 in this case is not particularly limited, but is preferably 3 μm or more and 2000 μm or less, and more preferably 5 μm or more and 500 μm or less. When the average thickness of the peeling layer 1 is less than the lower limit, the peeling layer 1 and hence the noise suppression layer 3 may be broken, and the electromagnetic wave shielding properties may be reduced. In addition, when the average thickness of the peeling layer 1 exceeds the above upper limit, the pressing force from the peeling layer 1 to the noise suppression layer 3 is not sufficiently transmitted, and the pushability of the noise suppression layer 3 to the concave portion 62 is sufficiently obtained. There is no fear.

ノイズ抑制層3は、電子部品封止体290が備える半導体素子26および電子素子28と、このノイズ抑制層3を介して、電子部品封止体290と反対側に位置する他の電子部品等とを、これらの少なくとも一方から生じる電磁波を遮断(シールド)する機能を有する。   The noise suppression layer 3 includes the semiconductor element 26 and the electronic element 28 provided in the electronic component sealing body 290, and the other electronic components and the like located on the opposite side of the electronic component sealing body 290 via the noise suppression layer 3. Has a function to block (shield) electromagnetic waves generated from at least one of them.

このノイズ抑制層3(電磁波遮断層)は、特に限定されず、如何なる形態で電磁波を遮断するものであってもよく、例えば、ノイズ抑制層3に入射した電磁波を反射させることにより遮断(遮蔽)する反射層と、ノイズ抑制層3に入射した電磁波を吸収することにより遮断(遮蔽)する吸収層とが挙げられる。   This noise suppression layer 3 (electromagnetic wave blocking layer) is not particularly limited, and may block electromagnetic waves in any form, for example, blocking (shielding) by reflecting the electromagnetic waves incident on the noise suppression layer 3 And an absorption layer that blocks (shields) the electromagnetic wave incident on the noise suppression layer 3 by absorbing the electromagnetic wave.

これら反射層および吸収層は、ともに、粒子状をなす導電性材料と、バインダー樹脂とを含有する構成をなし、導電性材料として、金属材料、金属酸化物材料、導電性高分子材料および導電性セラミックス材料のうちの少なくとも1種を含有するものが好ましく用いられるが、以下、これら反射層および吸収層について、それぞれ、説明する。   The reflection layer and the absorption layer both comprise a particulate conductive material and a binder resin, and as the conductive material, metal materials, metal oxide materials, conductive polymer materials and conductive materials Although the thing containing at least 1 sort (s) of ceramic materials is used preferably, these reflecting layers and an absorption layer are each demonstrated below.

反射層は、反射層に入射した電磁波を反射させることにより遮断するものである。
この反射層としては、例えば、導電性接着剤層、金属薄膜層、金属メッシュ、ITOなどの導電性材料の表面処理等が挙げられる。これらを単独あるいは併用してもよい。これらの中でも、導電性接着剤層を用いることが好ましい。導電性接着剤層は、その膜厚(平均厚さ)を比較的薄く設定したとしても、優れた電磁波シールド性を発揮するため、反射層として好ましく用いられる。
The reflective layer blocks the electromagnetic wave incident on the reflective layer by reflecting it.
Examples of the reflective layer include a surface treatment of a conductive material such as a conductive adhesive layer, a metal thin film layer, a metal mesh, and ITO. These may be used alone or in combination. Among these, it is preferable to use a conductive adhesive layer. The conductive adhesive layer is preferably used as a reflective layer because it exhibits excellent electromagnetic wave shielding properties even when its film thickness (average thickness) is set relatively thin.

前記導電性接着剤層としては、金属粉(金属材料)とバインダー樹脂とを含んで構成され、金属粉は例えば、金、銀、銅または銀コート銅、ニッケル等が挙げられる。これらの中でも、電磁波シールド性に優れているという理由から、銀を用いることが好ましい。   The conductive adhesive layer includes metal powder (metal material) and a binder resin, and examples of the metal powder include gold, silver, copper or silver-coated copper, nickel and the like. Among these, silver is preferable because it is excellent in electromagnetic wave shielding properties.

前記導電性接着剤層における金属粉とバインダー樹脂との含有比率は、特に限定されないが、重量比で40:60〜95:5であることが好ましく、50:50〜90:10であることがより好ましい。   The content ratio of the metal powder to the binder resin in the conductive adhesive layer is not particularly limited, but is preferably 40:60 to 95: 5 by weight ratio, and is 50:50 to 90:10. More preferable.

導電性接着剤層は、前記金属粉とバインダー樹脂との他に、さらに難燃剤、レベリング剤、粘度調整剤等を含有しても良い。   The conductive adhesive layer may further contain a flame retardant, a leveling agent, a viscosity modifier and the like in addition to the metal powder and the binder resin.

反射層の平均厚さ(E1)は、特に限定されないが、100nm以上100μm以下であることが好ましく、1μm以上20μm以下であることがより好ましい。   The average thickness (E1) of the reflective layer is not particularly limited, but is preferably 100 nm or more and 100 μm or less, and more preferably 1 μm or more and 20 μm or less.

吸収層は、吸収層に入射した電磁波を吸収し、熱エネルギーに変換することにより遮断するものである。   The absorbing layer absorbs electromagnetic waves incident on the absorbing layer and shuts off by converting it into thermal energy.

この吸収層としては、例えば、金属粉(金属材料)および導電性高分子材料等の導電吸収材料を主材料として構成される導電吸収層、炭素系材料および導電性高分子材料等の誘電吸収材料を主材料として構成される誘電吸収層、軟磁性金属等の磁性吸収材料を主材料として構成される磁性吸収層等が挙げられ、これらを単独あるいは併用してもよい。なお、この吸収層は、前記主材料の他に、バインダー樹脂を含有することが好ましい。   As the absorption layer, for example, a conductive absorption layer mainly composed of a conductive absorption material such as metal powder (metal material) and a conductive polymer material, a dielectric absorption material such as a carbon-based material and a conductive polymer material And magnetic absorbing layers composed mainly of magnetic absorbing materials such as soft magnetic metals, etc., and these may be used alone or in combination. In addition to the main material, the absorbent layer preferably contains a binder resin.

なお、導電吸収層は、電界を印加した際に材料内部に流れる電流により、電磁エネルギーを熱エネルギーに変換することで、電磁波を吸収し、誘電吸収層は、電磁波を誘電損失により熱エネルギーに変換することで、電磁波を吸収し、磁性吸収層は、過電流損、ヒステレス損、磁気共鳴等の磁性損失により、電波のエネルギーを熱に変換して消費することで、電磁波を吸収する。   Note that the conductive absorption layer absorbs electromagnetic waves by converting electromagnetic energy into heat energy by the current flowing inside the material when an electric field is applied, and the dielectric absorption layer converts the electromagnetic waves into heat energy by dielectric loss. By absorbing the electromagnetic wave, the magnetic absorption layer absorbs the electromagnetic wave by converting the energy of the radio wave into heat and consuming it by the magnetic loss such as the overcurrent loss, the hysteresis loss, and the magnetic resonance.

これらの中でも、誘電吸収層、導電吸収層を用いることが好ましい。誘電吸収層および導電吸収層は、その膜厚(平均厚さ)を比較的薄く設定したとしても、特に優れた電磁波シールド性を発揮するため、吸収層として好ましく用いられる。また、その層中に含まれる材料の粒子径が小さいことやその添加量も少なくできることから、その膜厚を比較的容易に薄く設定することができ、また軽量化も可能である。   Among these, it is preferable to use a dielectric absorption layer and a conductive absorption layer. The dielectric absorption layer and the conductive absorption layer are preferably used as an absorption layer because they exhibit excellent electromagnetic wave shielding properties even when the film thickness (average thickness) is set relatively thin. In addition, since the particle diameter of the material contained in the layer is small and the amount of addition thereof can be reduced, the film thickness can be set relatively easily and weight reduction is also possible.

なお、導電吸収材料としては、例えば、導電性高分子材料、ATO等の金属酸化物材料、導電性セラミックス材料が挙げられる。   Examples of the conductive absorption material include conductive polymer materials, metal oxide materials such as ATO, and conductive ceramic materials.

また、導電性高分子としては、例えば、ポリアセチレン、ポリピロール、PEDOT(poly−ethylenedioxythiophene)、PEDOT/PSS、ポリチオフェン、ポリアニリン、ポリ(p−フェニレン)、ポリフルオレン、ポリカルバゾール、ポリシランまたはこれらの誘導体等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。   Moreover, as the conductive polymer, for example, polyacetylene, polypyrrole, PEDOT (poly-ethylenedioxythiophene), PEDOT / PSS, polythiophene, polyaniline, poly (p-phenylene), polyfluorene, polycarbazole, polysilane or derivatives thereof, etc. These may be used alone or in combination of two or more.

誘電吸収材料としては、炭素系材料、導電性高分子、セラミック材料等が挙げられる。
また、炭素系材料としては、例えば、単層カーボンナノチューブ、多層カーボンナノチューブのようなカーボンナノチューブ、カーボンナノファイバー、CNナノチューブ、CNナノファイバー、BCNナノチューブ、BCNナノファイバー、グラフェンや、カーボンマイクロコイル、カーボンナノコイル、カーボンナノホーン、カーボンナノウォールのような炭素等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。
Examples of the dielectric material include carbon-based materials, conductive polymers, ceramic materials and the like.
Further, as the carbon-based material, for example, single-walled carbon nanotubes, carbon nanotubes such as multi-walled carbon nanotubes, carbon nanofibers, CN nanotubes, CN nanotubes, CN nanofibers, BCN nanotubes, BCN nanofibers, graphene, carbon microcoils, carbon Nanocoils, carbon nanohorns, carbon such as carbon nanowalls, etc. may be mentioned, and one or more of these may be used in combination.

セラミック材料としては、チタン酸バリウム、ペロブスカイト型チタン酸ジルコン酸バリウムカルシウム結晶粒子、チタニア、アルミナ、ジルコニア、炭化ケイ素および窒化アルミニウム等が挙げられこれらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができる。   The ceramic material may, for example, be barium titanate, perovskite type barium calcium zirconate titanate crystalline particles, titania, alumina, zirconia, silicon carbide or aluminum nitride, and one or more of them may be used in combination. Can.

さらに、磁性吸収材料としては、例えば、鉄、ケイ素鋼、磁性ステンレス(Fe−Cr−Al−Si合金)、センダスト(Fe−Si−Al合金)、パーマロイ(Fe−Ni合金)、ケイ素銅(Fe−Cu−Si合金)、Fe−Si合金、Fe−Si−B(−Cu−Nb)合金のような軟磁性金属、フェライト等が挙げられる。   Furthermore, as the magnetic absorption material, for example, iron, silicon steel, magnetic stainless steel (Fe-Cr-Al-Si alloy), sendust (Fe-Si-Al alloy), permalloy (Fe-Ni alloy), silicon copper (Fe Soft magnetic metals such as -Cu-Si alloy), Fe-Si alloy, Fe-Si-B (-Cu-Nb) alloy, ferrite and the like.

吸収層の平均厚さ(E2)は、特に限定されないが、1μm以上300μm以下であることが好ましく、2μm以上100μm以下であることがより好ましい。   The average thickness (E2) of the absorbing layer is not particularly limited, but is preferably 1 μm to 300 μm, and more preferably 2 μm to 100 μm.

なお、バインダー樹脂としては、反射層および吸収層ともに、各種樹脂材料を用いることができ、例えば、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、フェノール樹脂、アミノ樹脂、熱硬化性エラストマー等の熱硬化性樹脂、オレフィン樹脂、アクリル樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、シリコン樹脂、塩化ビニル樹脂、スチレン樹脂、スチレン系熱可塑性エラストマー、オレフィン系熱可塑性エラストマーのような熱可塑性エラストマー等の熱可塑性樹脂が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができるが、中でも、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、オレフィン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂およびシリコン樹脂のうちの少なくとも1種であることが好ましい。これにより、反射層および吸収層中において、導電性材料を優れた分散性をもって分散させることができる。   As the binder resin, various resin materials can be used for both the reflection layer and the absorption layer. For example, thermosetting resin such as epoxy resin, urethane resin, phenol resin, amino resin, thermosetting elastomer, olefin resin And thermoplastic resins such as thermoplastic elastomers such as acrylic resins, polyester resins, polyamide resins, silicone resins, vinyl chloride resins, styrene resins, styrene thermoplastic elastomers, and olefin thermoplastic elastomers. Although 1 type or 2 types or more can be used in combination, it is preferable that it is especially at least 1 type in an epoxy resin, a urethane resin, an olefin resin, a polyester resin, a polyamide resin, and a silicone resin. Thus, the conductive material can be dispersed with excellent dispersibility in the reflective layer and the absorbing layer.

また、上述した構成をなすノイズ抑制層3(反射層および吸収層)は、JIS G 3469に準拠して、エポキシ樹脂を主材料として含有し、板状をなす封止部27上に、幅25mmのノイズ抑制層3を100℃にて貼付し、次いで、ノイズ抑制層3の一端を持ち、25℃において90°の方向に300mm/分の速度で引き剥がしたときに測定されるピール強度をA[N/mm]とし、JIS G 3469に準拠して、ポリメチルペンテンを主材料として含有し、板状をなす剥離層1(基材層)上に、幅25mmのノイズ抑制層3を100℃にて貼付し、次いで、ノイズ抑制層3の一端を持ち、25℃において90°の方向に300mm/分の速度で引き剥がしたときに測定されるピール強度をB[N/mm]としたとき、1<A/Bなる関係を満足することが好ましく、1.5<A/Bなる関係を満足するのがより好ましく、2<A/Bなる関係を満足するのがさらに好ましい。これにより、次工程[6]において、電磁波シールド用フィルム300から、剥離層1を、確実に剥離させることができ、かつ、本工程[5]において、凹部62に対してノイズ抑制層3を押し込む際に、第3の層13とノイズ抑制層3との間で位置ずれが生じるのを的確に抑制または防止することができる。   Further, the noise suppression layer 3 (reflection layer and absorption layer) having the above-described configuration contains an epoxy resin as a main material in accordance with JIS G 3469, and has a width of 25 mm on the plate-like sealing portion 27. Of the noise suppression layer 3 at 100.degree. C., and then holding one end of the noise suppression layer 3 and peeling at a rate of 300 mm / min in the direction of 90.degree. [N / mm], and based on JIS G 3469, contains polymethylpentene as a main material, and forms a plate-like peeling layer 1 (base material layer) on the noise suppression layer 3 with a width of 25 mm at 100 ° C. When the peel strength measured when holding at one end of the noise suppression layer 3 and peeling off at a speed of 300 mm / min in the direction of 90 ° at 25 ° C. is B [N / mm] , 1 <A / B It is preferable to satisfy the engagement, 1.5 <more preferably satisfies A / B becomes relation 2 <even more preferably satisfies the A / B becomes relevant. Thereby, in the next step [6], the peeling layer 1 can be reliably peeled off from the film 300 for an electromagnetic wave shield, and in the present step [5], the noise suppression layer 3 is pushed into the recess 62 At the same time, the occurrence of positional deviation between the third layer 13 and the noise suppression layer 3 can be accurately suppressed or prevented.

ピール強度A、Bが1<A/Bなる関係を満足するために、ノイズ抑制層3の構成材料、および厚さ等が適宜組み合わされる他、後述する、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法が適用される。   In order to satisfy the relationship that peel strengths A and B satisfy 1 <A / B, the material of the noise suppression layer 3, the thickness, etc. are appropriately combined, and the method for producing the electromagnetic wave shielding film of the present invention Is applied.

なお、ピール強度A[N/mm]およびピール強度B[N/mm]は、それぞれ、例えば、引張試験機(エー・アンド・デイ社製、「TENSILON RTG−1310」)を用いて測定することができる。   The peel strength A [N / mm] and the peel strength B [N / mm] should be measured using, for example, a tensile tester (manufactured by A & D Co., "TENSILON RTG-1310"). Can.

[6]次に、図3(b)に示すように、電子部品封止体290に貼付された電磁波シールド用フィルム300から、剥離層1を剥離する(第1剥離工程)。   [6] Next, as shown in FIG. 3B, the peeling layer 1 is peeled off from the electromagnetic wave shielding film 300 attached to the electronic component sealing body 290 (first peeling step).

この第1剥離工程により、電磁波シールド用フィルム300における剥離層1とノイズ抑制層3との界面において、剥離が生じ、その結果、ノイズ抑制層3から剥離層1が剥離される。これにより、ノイズ抑制層3から剥離層1を剥離した状態で、ノイズ抑制層3により電子部品封止体290の上面および側面が被覆される。   In the first peeling step, peeling occurs at the interface between the peeling layer 1 and the noise suppression layer 3 in the electromagnetic wave shielding film 300, and as a result, the peeling layer 1 is peeled from the noise suppression layer 3. Thereby, the upper surface and the side surface of the electronic component sealed body 290 are covered with the noise suppression layer 3 in a state where the peeling layer 1 is peeled from the noise suppression layer 3.

すなわち、粘着テープ100上に貼付された状態で、ノイズ抑制層3が上面および側面に設けられた電子部品封止体290が一括して複数形成される。   That is, in a state of being attached onto the adhesive tape 100, a plurality of electronic component sealing bodies 290 provided with the noise suppression layer 3 on the upper surface and the side surface are collectively formed.

また、剥離層1を剥離する方法としては、特に限定されないが、例えば、手作業による剥離が挙げられる。   Moreover, it does not specifically limit as a method to peel the peeling layer 1, For example, peeling by a manual work is mentioned.

この手作業による剥離では、例えば、まず、剥離層1の一方の端部を把持し、この把持した端部から剥離層1をノイズ抑制層3から引き剥がし、次いで、この端部から中央部へさらには他方の端部へと順次剥離層1を引き剥がすことにより、ノイズ抑制層3から剥離層1が剥離される。   In this manual peeling, for example, first, one end of the peeling layer 1 is gripped, the peeling layer 1 is peeled from the noise suppression layer 3 from the gripped end, and then from the end to the center Furthermore, the peeling layer 1 is peeled from the noise suppression layer 3 by sequentially peeling the peeling layer 1 to the other end.

この剥離層1の剥離の際に、前述の通り、ピール強度Aとピール強度Bとが1<A/Bなる関係を満足することが好ましい。これにより、本工程において、剥離層1にノイズ抑制層3を残存させることなく、比較的容易に剥離層1をノイズ抑制層3から剥離させることができる。すなわち、剥離層1から電子部品封止体290(封止部27)の上面および側面に、ノイズ抑制層3を転写することができる。   At the time of peeling of the peeling layer 1, as described above, it is preferable to satisfy the relationship that the peel strength A and the peel strength B satisfy 1 <A / B. Thereby, the peeling layer 1 can be relatively easily peeled from the noise suppression layer 3 without leaving the noise suppression layer 3 in the peeling layer 1 in the present step. That is, the noise suppression layer 3 can be transferred from the peeling layer 1 to the upper surface and the side surface of the electronic component sealed body 290 (the sealing portion 27).

なお、剥離する温度は、180℃以下であることが好ましく、より好ましくは165℃以下、さらに好ましくは20℃以上150℃以下である。   The peeling temperature is preferably 180 ° C. or less, more preferably 165 ° C. or less, and still more preferably 20 ° C. or more and 150 ° C. or less.

以上のような工程を経ることにより、ノイズ抑制層3から剥離層1を剥離した状態で、ノイズ抑制層3により電子部品封止体290の上面および側面を被覆することができる。   By passing through the steps as described above, the upper surface and the side surface of the electronic component sealing body 290 can be covered with the noise suppression layer 3 in a state where the peeling layer 1 is peeled from the noise suppression layer 3.

このような工程によれば、電子部品封止体290にスパッタリング法を用いてノイズ抑制層3を形成する場合のように、用いる装置の操作が煩雑となったり、装置が高価となることなく、電子部品封止体290側に、剥離層1とノイズ抑制層3とを有する電磁波シールド用フィルム300を貼付した後に、剥離層1を剥離すると言う、比較的容易な方法で電子部品封止体290にノイズ抑制層3を設けることができる。   According to such a process, as in the case where the noise suppression layer 3 is formed on the electronic component sealing body 290 by using the sputtering method, the operation of the device to be used does not become complicated or the device becomes expensive. After pasting the electromagnetic wave shielding film 300 having the peeling layer 1 and the noise suppression layer 3 on the electronic component sealing body 290 side, the electronic component sealing body 290 is a relatively easy method of peeling the peeling layer 1. Can be provided with a noise suppression layer 3.

[7]次に、図3(c)に示すように、電子部品封止体290から粘着テープ100を剥離する(第2剥離工程)。   [7] Next, as shown in FIG. 3C, the adhesive tape 100 is peeled off from the electronic component sealed body 290 (second peeling step).

この第2剥離工程では、粘着テープ100が備える粘着層2にエネルギーを付与することで、粘着層2の電子部品封止体290に対する粘着性を低下させて、粘着層2と電子部品封止体290との間で剥離が生じる状態とした後、電子部品封止体290から粘着テープ100を剥離する。   In this second peeling step, energy is applied to the adhesive layer 2 provided in the adhesive tape 100 to reduce the adhesiveness of the adhesive layer 2 to the electronic component sealing body 290, and the adhesive layer 2 and the electronic component sealing body After the peeling is caused between 290 and 290, the adhesive tape 100 is peeled from the electronic component sealing body 290.

これにより、ノイズ抑制層3により上面および側面が被覆された電子部品封止体290を一括して複数形成することができることから、電子部品封止体290の生産性の向上が図られる。   As a result, a plurality of electronic component sealing bodies 290 whose upper surfaces and side surfaces are covered by the noise suppression layer 3 can be collectively formed in a plurality, so that the productivity of the electronic component sealing body 290 can be improved.

粘着層2にエネルギーを付与する方法としては、特に限定されないが、例えば、粘着層2にエネルギー線を照射する方法、粘着層2を加熱する方法等が挙げられるが、中でも、粘着層2にエネルギー線を粘着テープ100の基材4側から照射する方法を用いるのが好ましい。   The method for applying energy to the adhesive layer 2 is not particularly limited, and examples thereof include a method of irradiating the adhesive layer 2 with an energy ray, a method of heating the adhesive layer 2 and the like, among them, the energy of the adhesive layer 2 It is preferable to use the method of irradiating a line from the base 4 side of the adhesive tape 100.

かかる方法は、半導体素子26および電子素子28が不要な熱履歴を経る必要がなく、また、粘着層2に対して比較的簡単に効率よくエネルギーを付与することができるので、エネルギーを付与する方法として好適に用いられる。   Such a method does not require the semiconductor element 26 and the electronic element 28 to go through unnecessary heat history, and energy can be applied to the adhesive layer 2 relatively easily and efficiently. Are preferably used.

また、エネルギー線としては、例えば、紫外線、電子線、イオンビームのような粒子線等や、またはこれらのエネルギー線を2種以上組み合わせたものが挙げられる。これらの中でも、特に、紫外線を用いるのが好ましい。紫外線によれば、粘着層2の電子部品封止体290に対する粘着性を効率よく低下させることができる。   Further, as the energy ray, for example, ultraviolet rays, an electron beam, a particle beam such as an ion beam, or a combination of two or more of these energy rays may be mentioned. Among these, it is particularly preferable to use ultraviolet light. According to the ultraviolet light, the adhesiveness of the adhesive layer 2 to the electronic component sealing body 290 can be efficiently reduced.

[8]次に、図3(d)に示すように、電子部品封止体290のインターポーザー25側、すなわちインターポーザー25の半導体素子26および電子素子28とは反対の面側(下面側)に、導体ポストに電気的に接続するように、所定形状にパターニングされた配線23を形成する(配線形成工程)。   [8] Next, as shown in FIG. 3D, the interposer 25 side of the electronic component package 290, that is, the surface side (lower surface side) opposite to the semiconductor element 26 and the electronic element 28 of the interposer 25. Then, the wiring 23 patterned in a predetermined shape is formed so as to be electrically connected to the conductor post (wiring formation step).

この配線23を形成する方法としては、特に限定されず、例えば、I:電解メッキ法、無電解メッキ法のようなメッキ法を用いて配線23を形成する方法、II:導電性材料を含有する液状材料を電子部品封止体290のインターポーザー25側の面に供給し乾燥・固化することにより配線23を形成する方法等が挙げられるが、Iの方法、特に電解メッキ法を用いて配線23を形成するのが好ましい。電解メッキ法によれば、導体ポストに対して、優れた密着性を発揮する配線23を容易かつ確実に形成することができる。   The method of forming the wiring 23 is not particularly limited. For example, I: a method of forming the wiring 23 using a plating method such as electrolytic plating method, electroless plating method, II: containing a conductive material A liquid material is supplied to the surface of the electronic component sealing body 290 on the interposer 25 side, and the wiring 23 is formed by drying and solidifying, and the like, and the like. It is preferable to form According to the electrolytic plating method, the wiring 23 which exhibits excellent adhesion to the conductor post can be easily and surely formed.

[9]次に、図3(e)に示すように、電子部品封止体290のインターポーザー25側、すなわちインターポーザー25の半導体素子26および電子素子28とは反対の面側(下面側)に、配線23の一部が露出するように、開口部221を備える被覆部22を形成する(被覆部形成工程)。   [9] Next, as shown in FIG. 3 (e), the interposer 25 side of the electronic component sealing body 290, that is, the surface side (lower surface side) opposite to the semiconductor element 26 and the electronic element 28 of the interposer 25. Then, the covering portion 22 including the opening 221 is formed so that a part of the wiring 23 is exposed (covering portion forming step).

なお、この開口部221は、次工程[7]において、バンプ21を形成する位置に対応するように形成される。   The opening 221 is formed to correspond to the position where the bump 21 is to be formed in the next process [7].

このような、被覆層は、通常、主としてNiで構成される下層上に、主としてAuで構成される上層を積層した積層体で構成され、例えば、無電解メッキ法を用いて形成される。   Such a covering layer is usually formed of a laminate in which an upper layer mainly composed of Au is laminated on a lower layer mainly composed of Ni, and is formed, for example, using an electroless plating method.

[10]次に、図3(f)に示すように、開口部221から露出する配線23に電気的に接続するようにバンプ21を形成する(バンプ接続工程)。   [10] Next, as shown in FIG. 3F, the bumps 21 are formed to be electrically connected to the wiring 23 exposed from the opening 221 (bump connecting step).

ここで、本実施形態のように、導体ポストとバンプ21との接続を、配線23を介して行う構成とすることにより、バンプ21を、インターポーザー25の面方向において、導体ポストとは異なる位置に配置することができる。換言すれば、バンプ21と導体ポストとの中心部が重ならないように、これらを配置することができる。したがって、得られる半導体装置20における下面の所望の位置にバンプ21を形成することができる。   Here, as in the present embodiment, the connection between the conductor post and the bump 21 is performed via the wiring 23, so that the bump 21 has a position different from that of the conductor post in the planar direction of the interposer 25. Can be placed. In other words, they can be arranged such that the central portions of the bumps 21 and the conductor posts do not overlap. Therefore, the bumps 21 can be formed at desired positions on the lower surface of the obtained semiconductor device 20.

このバンプ21を配線23に接合する方法としては、特に限定されないが、例えば、バンプ21と配線23との間に、粘性を有するフラックスを介在させることにより行われる。   The method of bonding the bumps 21 to the wires 23 is not particularly limited, and for example, it is performed by interposing a flux having viscosity between the bumps 21 and the wires 23.

また、バンプ21の構成材料としては、例えば、半田、銀ろう、銅ろう、燐銅ろうのようなろう材等が挙げられる。
以上のような工程を経て、半導体装置20が製造される。
Moreover, as a constituent material of the bumps 21, for example, a brazing material such as solder, silver brazing, copper brazing, phosphorous copper brazing, etc. may be mentioned.
The semiconductor device 20 is manufactured through the above-described steps.

このような半導体装置20の製造方法によれば、電子部品封止体290にスパッタリング法を用いてノイズ抑制層3を形成する場合のように、用いる装置の操作が煩雑となったり、装置が高価となることなく、前記工程[5]において、電子部品封止体290側に、剥離層1とノイズ抑制層3とを有する電磁波シールド用フィルム300を貼付した後に、前記工程[6]において、剥離層1を剥離すると言う、比較的容易な方法で電子部品封止体290にノイズ抑制層3を設けることができる。   According to such a method of manufacturing the semiconductor device 20, as in the case of forming the noise suppression layer 3 on the electronic component sealing body 290 using the sputtering method, the operation of the device used becomes complicated, or the device is expensive. In the step [5], the electromagnetic wave shielding film 300 having the peeling layer 1 and the noise suppression layer 3 is attached to the electronic component sealed body 290 in the step [5], and then peeling is performed in the step [6]. The noise suppression layer 3 can be provided on the electronic component sealing body 290 by a relatively easy method of peeling the layer 1.

さらに、前記工程[2]において得られた1つの電子部品封止連結体270から、前記工程[3]〜[7]を経ることで、複数の電子部品封止体290を一括して製造することができるので、電子部品封止体290ひいては、この電子部品封止体290から得られる半導体装置20の生産性の向上が図られる。   Furthermore, a plurality of electronic component sealed bodies 290 are collectively manufactured by passing through the aforementioned steps [3] to [7] from the one electronic component sealing connection 270 obtained in the aforementioned step [2]. As a result, the productivity of the semiconductor device 20 obtained from the electronic component package 290 and thus the electronic component package 290 can be improved.

なお、本実施形態では、電子部品封止体290が備える封止部27の上面、封止部27の側面およびインターポーザー25の側面に、ノイズ抑制層3を設ける場合について、説明したが、少なくとも封止部27の上面および封止部27の側面に形成されていればよく、インターポーザー25の側面への形成を省略することもできる。   In the present embodiment, the noise suppression layer 3 is provided on the upper surface of the sealing portion 27 of the electronic component sealing body 290, the side surface of the sealing portion 27, and the side surface of the interposer 25. It may be formed on the upper surface of the sealing portion 27 and the side surface of the sealing portion 27, and the formation on the side surface of the interposer 25 may be omitted.

(電磁波シールド用フィルムの製造方法)
以上のような半導体装置20の製造方法に用いられる電磁波シールド用フィルム300は、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法を適用して、以下のようにして製造される。
(Method of manufacturing film for electromagnetic shielding)
The electromagnetic wave shielding film 300 used in the method for manufacturing the semiconductor device 20 as described above is manufactured as follows by applying the method for manufacturing an electromagnetic wave shielding film of the present invention.

なお、以下では、電磁波シールド用フィルムを製造する際に用意する剥離層1(基材層)を、押出法を用いて製造する場合を一例に説明する。   In addition, below, the case where the peeling layer 1 (base material layer) prepared when manufacturing the film for electromagnetic wave shields is manufactured using an extrusion method is demonstrated to an example.

まず、押出法が適用された本実施形態の電磁波シールド用フィルム製造装置について説明する。   First, the film manufacturing apparatus for an electromagnetic wave shield of the present embodiment to which the extrusion method is applied will be described.

図5は、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法が適用された電磁波シールド用フィルム製造装置の側面図である。なお、以下の説明では、図5中の上側を「上」、下側を「下」と言う。   FIG. 5: is a side view of the film manufacturing apparatus for electromagnetic shielding to which the manufacturing method of the film for electromagnetic shielding of this invention was applied. In the following description, the upper side in FIG. 5 is referred to as “upper” and the lower side as “lower”.

図5に示す電磁波シールド用フィルム製造装置500は、シート供給部700とシート成形部800とを有する剥離層形成部780と、液状材料供給手段(ディスペンサー950)と乾燥手段(熱風供給部960)とを備えるノイズ抑制層形成部900とを有している。   A film manufacturing apparatus 500 for an electromagnetic wave shield shown in FIG. 5 includes a peeling layer forming unit 780 having a sheet supply unit 700 and a sheet forming unit 800, a liquid material supply unit (dispenser 950) and a drying unit (hot air supply unit 960). And a noise suppression layer forming unit 900.

剥離層形成部780が備えるシート供給部700は、押出機410、420、430と、各押出機410、420、430の溶融樹脂吐出部411、421、431に配管412を介して接続された3種3層分配型の分配機440と、分配機440に配管412を介して接続されたTダイ600とで構成され、このTダイ600により、溶融状態または軟化状態の帯状の溶融シート(シート)150がシート成形部800に供給される。   The sheet supply unit 700 provided in the peeling layer forming unit 780 is connected to the extruders 410, 420, 430 and the molten resin discharge units 411, 421, 431 of the respective extruders 410, 420, 430 via the pipe 412. Seed 3-layer distribution type distribution machine 440 and T die 600 connected to distribution machine 440 via piping 412, and this T die 600 melts or softens belt-like molten sheet (sheet) 150 are supplied to the sheet forming unit 800.

押出機410、420、430には、それぞれ、前述した第1の層11、第2の層12、第3の層13の構成材料が収納され、これら押出機410、420、430は、溶融状態または軟化状態とされた各構成材料を、3種3層分配型の分配機440に供給する。そして、分配機440は、第1の層11、第2の層12、第3の層13の構成材料がこの順で積層されるように分配した状態でTダイ600に供給し、その後、Tダイ600は、分配機440から供給され充填された第1の層11、第2の層12、第3の層13の構成材料を、この順で積層された溶融状態または軟化状態の溶融シート(シート)150として、開口部601から押し出すことで、シート成形部800に供給する。   The extruders 410, 420 and 430 contain the constituent materials of the first layer 11, the second layer 12 and the third layer 13 described above, respectively, and these extruders 410, 420 and 430 are in a molten state Alternatively, each constituent material in a softened state is supplied to a three-kind three-layer distribution type distributor 440. Then, the distributor 440 supplies the constituent materials of the first layer 11, the second layer 12, and the third layer 13 to the T-die 600 in a distributed state so as to be laminated in this order, and then, T The die 600 is a molten sheet in a molten or softened state in which the constituent materials of the first layer 11, the second layer 12, and the third layer 13 supplied from the distributor 440 and packed are laminated in this order The sheet forming unit 800 is supplied as the sheet 150 by being pushed out from the opening 601.

また、シート成形部800は、タッチロール110と、冷却ロール120と、後段冷却ロール130とを有している。これらのロールは、それぞれ図示しないモータ(駆動手段)により、それぞれ単独回転するように構成されており、これらのロールの回転により、溶融シート150が冷却されることで、第1の層11と第2の層12と第3の層13とが積層された剥離層1が連続的に送り出されるようになっている。このシート成形部800に、溶融または軟化された溶融シート150を連続的に送り込むことにより、溶融シート150の第1面615および第2面613が平坦化されるとともに、溶融シート150が所望の厚さに設定される。   The sheet forming unit 800 further includes a touch roll 110, a cooling roll 120, and a post-stage cooling roll 130. Each of these rolls is configured to be independently rotated by a motor (driving means) (not shown), and the molten sheet 150 is cooled by the rotation of these rolls to form the first layer 11 and the first layer 11 and the first layer 11. A release layer 1 in which two layers 12 and a third layer 13 are laminated is continuously delivered. The first surface 615 and the second surface 613 of the molten sheet 150 are flattened by continuously feeding the molten or softened molten sheet 150 into the sheet forming section 800, and the molten sheet 150 has a desired thickness. Is set.

また、冷却ロール120と、タッチロール110との間を通過した溶融シート150を、さらに、冷却ロール120と後段冷却ロール130との間に供給することにより、溶融シート150が冷却され、その結果、剥離層1が形成される。   Further, the molten sheet 150 is cooled by further supplying the molten sheet 150 which has passed between the cooling roll 120 and the touch roll 110 between the cooling roll 120 and the post-stage cooling roll 130, as a result. The release layer 1 is formed.

冷却ロール120は、外周面が平滑性を有するロールであり、Tダイ600から供給される溶融状態とされた溶融シート150を冷却する冷却手段を備える。このような冷却ロール120に対して、溶融シート150を押し当てることにより、その第1面615が平坦化されるとともに、溶融シート150が冷却される。   The cooling roll 120 is a roll having a smooth outer peripheral surface, and includes cooling means for cooling the molten sheet 150 in the molten state supplied from the T-die 600. By pressing the molten sheet 150 against such a cooling roll 120, the first surface 615 is flattened and the molten sheet 150 is cooled.

タッチロール110は、外周面が平滑性を有するロールであり、冷却ロール120に対向配置されている。このようなタッチロール110と冷却ロール120との間に、溶融シート150を供給することにより、溶融シート150の第2面613が平坦化される。   The touch roll 110 is a roll whose outer peripheral surface has smoothness, and is disposed to face the cooling roll 120. By feeding the molten sheet 150 between the touch roll 110 and the cooling roll 120, the second surface 613 of the molten sheet 150 is flattened.

後段冷却ロール130は、外周面が平滑性を有するロールであり、溶融シート150を冷却する冷却手段を備え、タッチロール110および冷却ロール120の後段に配置されている。このような後段冷却ロール130に、溶融シート150を供給することにより、溶融シート150をより確実に冷却して、剥離層1を得ることができる。   The post-stage cooling roll 130 is a roll having a smooth outer circumferential surface, includes cooling means for cooling the molten sheet 150, and is disposed at the rear stage of the touch roll 110 and the cooling roll 120. By supplying the molten sheet 150 to such a post-stage cooling roll 130, the molten sheet 150 can be cooled more reliably, and the peeling layer 1 can be obtained.

なお、本実施形態では、冷却ロール120が冷却手段を有し、タッチロール110が冷却手段を有しない場合について説明したが、かかる場合に限定されず、冷却ロール120およびタッチロール110のうちの少なくとも一方が冷却手段を有していればよく、タッチロール110が冷却手段を有し、冷却ロール120が冷却手段を有していなくてもよいし、冷却ロール120とタッチロール110との双方が冷却手段を有していてもよい。   In the present embodiment, the case where the cooling roll 120 has a cooling unit and the touch roll 110 does not have a cooling unit has been described. However, the present invention is not limited to this case, and at least one of the cooling roll 120 and the touch roll 110. The one side only needs to have a cooling means, the touch roll 110 may have a cooling means, and the cooling roll 120 may not have a cooling means, and both the cooling roll 120 and the touch roll 110 are cooled. You may have a means.

また、本実施形態では、シート成形部800は、タッチロール110と、冷却ロール120と、後段冷却ロール130とを有する場合について説明したが、これに限定されず、例えば、シート成形部800は、エアナイフを備え、高圧・高速のエアーを噴射することで、溶融シート150の第1面615および第2面613を平坦化するとともに、溶融シート150を所望の厚さに設定するようにしてもよい。   Further, in the present embodiment, although the case where the sheet forming unit 800 includes the touch roll 110, the cooling roller 120, and the post-stage cooling roller 130 has been described, the present invention is not limited thereto. The first surface 615 and the second surface 613 of the molten sheet 150 may be flattened and the molten sheet 150 may be set to a desired thickness by injecting an air knife and injecting high-pressure and high-speed air. .

ノイズ抑制層形成部900は、液状材料供給手段として、本実施形態では、ディスペンサー950を有している。このディスペンサー950は、シート成形部800(後段冷却ロール130)の下流側に位置するノイズ抑制層形成部900の最上流側の位置に、剥離層1に対向して、その上側に配置されている。そして、このディスペンサー950から、液状をなすノイズ抑制層形成材料(液状材料)が液滴32として、剥離層1に滴下(供給)され、これにより、剥離層1上に液状被膜31が形成される。   The noise suppression layer forming unit 900 includes a dispenser 950 as a liquid material supply unit in the present embodiment. The dispenser 950 is disposed on the upper stream side of the noise suppression layer forming unit 900 located downstream of the sheet forming unit 800 (the post-stage cooling roll 130), facing the peeling layer 1. . Then, a liquid noise suppression layer forming material (liquid material) in the form of liquid is dropped (supplied) to the peeling layer 1 from the dispenser 950 as a droplet 32, whereby the liquid film 31 is formed on the peeling layer 1. .

ノイズ抑制層形成材料(液状材料)としては、例えば、上述したノイズ抑制層3の構成材料を、溶媒に溶解したものが挙げられる。すなわち、粒子状をなす導電性材料と、バインダー樹脂と、溶媒とを含有するものが挙げられる。   As a noise suppression layer formation material (liquid material), what melt | dissolved the constituent material of the noise suppression layer 3 mentioned above in the solvent is mentioned, for example. That is, one containing a particulate conductive material, a binder resin, and a solvent can be mentioned.

また、溶媒としては、特に限定されないが、例えば、メシチレン、デカリン、ミネラルスピリット、トルエン、キシレン、テトラデカン、ヘキサン類等の炭化水素類、イソプロピルアルコール等のアルコール類、プロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル等のエーテル類、炭酸エチレン、酢酸エチル、酢酸N−ブチル、乳酸エチル、3−エトキシプロピオン酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、炭酸プロピレン、γ−ブチロラクトン等のエステル/ラクトン類、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、メチルイソブチルケトン、メチルエチルケトン、2−ヘプタノン等のケトン類、N−メチル−2−ピロリドン等のアミド/ラクタム類が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて用いることができるが、中でも、メチルエチルケトン、トルエン、酢酸エチル、イソプロピルアルコール、テトラデカンおよびヘキサンのうちの少なくとも1種であることが好ましい。   The solvent is not particularly limited, but, for example, mesitylene, decalin, mineral spirits, hydrocarbons such as toluene, xylene, tetradecane and hexanes, alcohols such as isopropyl alcohol, propylene glycol monomethyl ether, dipropylene glycol methyl Ether, Ethers such as diethylene glycol monoethyl ether, ethylene carbonate, ethyl acetate, N-butyl acetate, ethyl lactate, ethyl 3-ethoxypropionate, propylene glycol monomethyl ether acetate, diethylene glycol monoethyl ether acetate, propylene carbonate, γ-butyrolactone Esters / lactones, cyclopentanone, cyclohexanone, methyl isobutyl ketone, methyl ethyl ketone, 2-heptanone etc. And amides / lactams such as N-methyl-2-pyrrolidone, and one or more of them may be used in combination, among which methyl ethyl ketone, toluene, ethyl acetate, isopropyl alcohol and the like. It is preferable that it is at least one of tetradecane and hexane.

また、液状材料を剥離層1上に供給する方法としては、特に限定されず、上述したディスペンサー950を用いて液滴32を供給する方法の他、各種塗布法を用いることができる。この塗布法としては、例えば、キャスティング法、コンマコート法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイヤーバーコート法、ディップコート法、スロットダイ法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法等が挙げられる。   The method for supplying the liquid material onto the release layer 1 is not particularly limited, and various application methods can be used in addition to the method for supplying the droplets 32 using the above-described dispenser 950. As the coating method, for example, casting method, comma coating method, microgravure coating method, gravure coating method, bar coating method, roll coating method, wire bar coating method, dip coating method, slot die method, screen printing method, flexo Printing methods, offset printing methods, etc. may be mentioned.

また、ノイズ抑制層形成部900は、乾燥手段として、一対の熱風供給部960を有している。これら熱風供給部960は、シート成形部800(後段冷却ロール130)の下流側に位置するノイズ抑制層形成部900の最下流側の位置に、剥離層1に対向して、その上方および下方に1つずつ配置されている。そして、各熱風供給部960は、電熱線で構成されたヒータ(図示せず)が内蔵されており、このヒータで加熱された熱風が、複数の熱風供給孔(図示ぜず)を介して、剥離層1上に形成された液状被膜31に対して吹き付けられる。これにより、液状被膜31(ノイズ抑制層形成材料)が乾燥して、剥離層1上にノイズ抑制層3が形成された電磁波シールド用フィルム300が得られる。   The noise suppression layer forming unit 900 also has a pair of hot air supply units 960 as a drying unit. These hot air supply units 960 are located on the most downstream side of the noise suppression layer forming unit 900 located on the downstream side of the sheet forming unit 800 (second-stage cooling roll 130), facing the peeling layer 1 and above and below. It is arranged one by one. Each hot air supply unit 960 incorporates a heater (not shown) formed of a heating wire, and the hot air heated by the heater passes through a plurality of hot air supply holes (not shown). The liquid coating 31 formed on the release layer 1 is sprayed. Thereby, the liquid film 31 (the noise suppression layer forming material) is dried, and the electromagnetic wave shielding film 300 in which the noise suppression layer 3 is formed on the peeling layer 1 is obtained.

以上のような電磁波シールド用フィルム製造装置500を用いた電磁波シールド用フィルムの製造方法より、電磁波シールド用フィルム300が製造される。   The film 300 for electromagnetic wave shielding is manufactured from the manufacturing method of the film for electromagnetic wave shieldings using the film manufacturing apparatus 500 for electromagnetic wave shieldings as described above.

本発明の電磁波シールド用フィルム300の製造方法は、剥離層1(基材層)を用意し、ノイズ抑制層3を形成するための液状材料を剥離層1上に供給する供給工程と、供給された液状材料を乾燥させて剥離層1上にノイズ抑制層3を形成することで電磁波シールド用フィルム300を得る乾燥工程とを有し、本実施形態では、剥離層1の用意が、帯状をなすシートとされた溶融状態または軟化状態の溶融シート150を押し出す押出工程と、溶融シート150の第1面615および第2面613を平坦化することで剥離層1を成形する成形工程と、成形された溶融状態または軟化状態の溶融シート150(剥離層1)を冷却する冷却工程とを経ることで行われる。   The method of manufacturing the film 300 for shielding an electromagnetic wave according to the present invention includes the steps of preparing the release layer 1 (base material layer) and supplying a liquid material for forming the noise suppression layer 3 onto the release layer 1; Drying the liquid material to form the noise suppression layer 3 on the release layer 1 to obtain the film 300 for shielding an electromagnetic wave, and in the present embodiment, the preparation of the release layer 1 forms a strip The extrusion step of extruding molten sheet 150 in a molten or softened state as a sheet, a forming step of forming release layer 1 by flattening first surface 615 and second surface 613 of molten sheet 150, and The cooling process is performed by cooling the molten sheet 150 (peeling layer 1) in the molten or softened state.

以下、電磁波シールド用フィルム300を製造するための各工程について詳述する。
[A]まず、帯状をなすシートとされた溶融状態または軟化状態の溶融シート150を押し出す(押出工程)。
Hereinafter, each process for manufacturing the film 300 for electromagnetic wave shielding is explained in full detail.
[A] First, the molten sheet 150 in a molten or softened state, which is formed into a belt-like sheet, is extruded (extrusion process).

この押出工程では、前述した剥離層1を構成する第1の層11、第2の層12、第3の層13の構成材料が、それぞれ、押出機410、420、430に収納され、溶融状態または軟化状態とされた各構成材料が、分配機440および配管412を介して、Tダイ600が有する開口部601から押し出される。これにより、第1の層11と第2の層12と第3の層13との構成材料が、この順で積層された形態で、帯状をなすシートとされた溶融状態または軟化状態の溶融シート150が連続的に送り出される。   In this extrusion process, the constituent materials of the first layer 11, the second layer 12, and the third layer 13 constituting the above-described release layer 1 are accommodated in the extruders 410, 420, and 430, respectively, and are in a molten state. Alternatively, each component material in a softened state is pushed out from the opening 601 of the T-die 600 through the distributor 440 and the pipe 412. Thus, the constituent materials of the first layer 11, the second layer 12 and the third layer 13 are laminated in this order, and a molten sheet in a molten or softened state is formed into a strip-like sheet. 150 are sent out continuously.

[B]次に、溶融シート150の第1面615および第2面613を平坦化するとともに、溶融シート150を所定の厚さに設定することで溶融状態または軟化状態とされた剥離層1を成形する(成形工程)。   [B] Next, the first surface 615 and the second surface 613 of the molten sheet 150 are flattened, and the release layer 1 in the molten or softened state is set by setting the molten sheet 150 to a predetermined thickness. Molding (molding process).

この成形工程は、タッチロール110と冷却ロール120との間に、溶融シート150を供給することにより行われる。   This forming process is performed by supplying the molten sheet 150 between the touch roll 110 and the cooling roll 120.

この際、冷却ロール120の外周面およびタッチロール110の外周面は、それぞれ、平滑性を有するロール状をなしている。そのため、溶融シート150の第1面615および第2面613は、それぞれ、平滑性を有する外周面に押し当てられることにより、平坦化される。   Under the present circumstances, the outer peripheral surface of the cooling roll 120 and the outer peripheral surface of the touch roll 110 each have comprised the roll shape which has smoothness. Therefore, each of the first surface 615 and the second surface 613 of the molten sheet 150 is flattened by being pressed against the smooth outer peripheral surface.

また、冷却ロール120の外周面とタッチロール110の外周面との離間距離は、形成すべき剥離層1の厚さに設定され、この離間距離を所定の大きさに適宜設定することで、所望の厚さの溶融シート150(剥離層1)を得ることができる。   Further, the separation distance between the outer peripheral surface of the cooling roll 120 and the outer peripheral surface of the touch roll 110 is set to the thickness of the peeling layer 1 to be formed, and this separation distance is set appropriately to a predetermined size. The melt sheet 150 (peeling layer 1) can be obtained.

このように、本工程[B]において、冷却ロール120およびタッチロール110はそれぞれ、第1面615および第2面613を平坦化するため、ならびに、溶融シート150の厚さを設定するために用いられる。   Thus, in the present step [B], the cooling roll 120 and the touch roll 110 are used to planarize the first surface 615 and the second surface 613, respectively, and to set the thickness of the molten sheet 150. Be

[C]次に、第1面615および第2面613が平坦化された、溶融状態または軟化状態の剥離層1(溶融シート150)を冷却する(冷却工程)。   [C] Next, the peeling layer 1 (molten sheet 150) in the molten or softened state in which the first surface 615 and the second surface 613 are flattened is cooled (cooling step).

これにより、第1の層11と第2の層12と第3の層13とがこの順で積層された積層体で構成される剥離層1が形成される。   Thereby, the peeling layer 1 comprised by the laminated body on which the 1st layer 11, the 2nd layer 12, and the 3rd layer 13 were laminated | stacked in this order is formed.

この冷却工程は、溶融シート150を、冷却ロール120と後段冷却ロール130との間に供給することにより行われる。   This cooling process is performed by supplying the molten sheet 150 between the cooling roll 120 and the post-stage cooling roll 130.

ここで、本実施形態では、冷却ロール120および後段冷却ロール130のいずれもが冷却手段を備えているため、上記のような、溶融シート150の各ロール120、130との当接(接触)により、第1面615および第2面613が平坦化された溶融シート150が冷却される。その結果、第1面615および第2面613が平坦化され剥離層1が得られる。
以上のような工程を経ることで、剥離層1が用意される。
Here, in the present embodiment, since both of the cooling roll 120 and the post-stage cooling roll 130 are provided with the cooling means, the contact (contact) of the molten sheet 150 with the respective rolls 120 and 130 as described above. , And the first surface 615 and the second surface 613 are flattened. As a result, the first surface 615 and the second surface 613 are planarized to obtain the release layer 1.
The release layer 1 is prepared by passing through the above steps.

[D]次に、ノイズ抑制層3を形成するための液状材料を剥離層1上に供給する(供給工程)。
これにより、剥離層1上に、液状材料で構成される液状被膜31を形成する。
[D] Next, a liquid material for forming the noise suppression layer 3 is supplied onto the release layer 1 (supply step).
Thereby, a liquid film 31 composed of a liquid material is formed on the peeling layer 1.

より具体的には、シート成形部800の下流側に位置するノイズ抑制層形成部900の最上流側に位置する、ディスペンサー950から、液状をなすノイズ抑制層形成材料を液滴32として、シート成形部800により形成された剥離層1に滴下(供給)することで、剥離層1上に液状被膜31を形成する。   More specifically, a sheet of the noise suppression layer forming material in liquid form is formed as a droplet 32 from a dispenser 950 located on the most upstream side of the noise suppression layer formation portion 900 located on the downstream side of the sheet molding portion 800. The liquid film 31 is formed on the release layer 1 by dropping (supplying) the release layer 1 formed by the portion 800.

[E]次に、剥離層1上に供給された液状材料を乾燥させる(乾燥工程)。
これにより、ノイズ抑制層3を剥離層1上に形成して、電磁波シールド用フィルム300を得る。
[E] Next, the liquid material supplied onto the release layer 1 is dried (drying step).
Thereby, the noise suppression layer 3 is formed on the peeling layer 1, and the film 300 for electromagnetic wave shielding is obtained.

より具体的には、シート成形部800(後段冷却ロール130)の下流側に位置するノイズ抑制層形成部900の最下流側に位置する熱風供給部960により、液状被膜31(ノイズ抑制層形成材料)を乾燥させる。これにより、剥離層1上にノイズ抑制層3を形成して、電磁波シールド用フィルム300を得る。   More specifically, the hot air supply unit 960 located on the most downstream side of the noise suppression layer forming unit 900 located on the downstream side of the sheet forming unit 800 (second-stage cooling roll 130) Let dry). Thereby, the noise suppression layer 3 is formed on the peeling layer 1, and the film 300 for electromagnetic wave shielding is obtained.

液状被膜31を乾燥させる際の液状被膜31の温度は、20℃以上170℃以下であることが好ましく、30℃以上150℃以下であることがより好ましい。   The temperature of the liquid film 31 when drying the liquid film 31 is preferably 20 ° C. or more and 170 ° C. or less, and more preferably 30 ° C. or more and 150 ° C. or less.

以上のような工程を経ることで、ノイズ抑制層3と剥離層1とが、この順で積層された電磁波シールド用フィルム300を連続的に得ることができる。   Through the steps as described above, it is possible to continuously obtain an electromagnetic wave shielding film 300 in which the noise suppression layer 3 and the peeling layer 1 are laminated in this order.

上記のように、用意された剥離層1に、供給工程と乾燥工程とを有する液相成膜法を用いてノイズ抑制層3を形成する構成とすることで、ピール強度A、Bを、容易に1<A/Bなる関係を満足するものとし得る。そのため、電子部品封止体290に対するノイズ抑制層3の被覆の後に、ノイズ抑制層3から剥離層1を容易に剥離させることができる。   As described above, the peeling strengths A and B can be easily formed by forming the noise suppression layer 3 on the prepared peeling layer 1 using a liquid phase film forming method having a supplying step and a drying step. It is possible to satisfy the relation 1 <A / B. Therefore, after the covering of the noise suppression layer 3 with respect to the electronic component sealing body 290, the peeling layer 1 can be easily peeled from the noise suppression layer 3.

なお、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により製造された電磁波シールド用フィルムを適用して製造される半導体装置20は、例えば、携帯電話、医療機器、デジタルカメラ、ビデオカメラ、カーナビゲーション、パーソナルコンピュータ、ゲーム機、液晶テレビ、液晶ディスプレイ、有機エレクトロルミネッセンスディスプレイ、プリンタ等に広く用いることができる。   The semiconductor device 20 manufactured by applying the film for shielding an electromagnetic wave manufactured by the method for manufacturing a film for shielding an electromagnetic wave according to the present invention is, for example, a mobile phone, a medical device, a digital camera, a video camera, a car navigation, a personal It can be widely used in computers, game machines, liquid crystal televisions, liquid crystal displays, organic electroluminescence displays, printers and the like.

以上、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法について説明したが、本発明は、これらに限定されるものではない。   As mentioned above, although the manufacturing method of the film for electromagnetic wave shields of this invention was demonstrated, this invention is not limited to these.

例えば、前記実施形態では、上述した構成の半導体装置20の製造に、本発明の電磁波シールド用フィルムの製造方法により製造された電磁波シールド用フィルムを用いる場合について説明したが、かかる構成の装置の製造に適用されるばかりでなく、例えば、CSP(Chip Size Package)型の半導体装置、コンデンサー、コイルのような電子部品を単独で備える電子装置等の製造に前記電磁波シールド用フィルムを用いることもできる。   For example, in the above embodiment, the case of using the electromagnetic wave shielding film manufactured by the method of manufacturing an electromagnetic wave shielding film of the present invention for manufacturing the semiconductor device 20 having the above-described structure has been described. For example, the film for shielding electromagnetic waves can also be used in the manufacture of an electronic device or the like comprising an electronic component such as a CSP (Chip Size Package) type semiconductor device, a capacitor, or a coil alone.

また、前記実施形態では、本発明の電磁波シールド用フィルム300は、剥離層1(基材層)とノイズ抑制層3との積層体で構成される場合について説明したが、これに限定されず、電磁波シールド用フィルム300は、剥離層1(基材層)およびノイズ抑制層3とは異なる他の層を備えるものであってもよい。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where the film 300 for electromagnetic wave shields of this invention was comprised by the laminated body of the peeling layer 1 (base material layer) and the noise suppression layer 3, it is not limited to this. The electromagnetic wave shielding film 300 may be provided with another layer different from the peeling layer 1 (base material layer) and the noise suppression layer 3.

さらに、前記実施形態では、ノイズ抑制層3は、インターポーザー25の側面にも設けられるが、これに限定されず、少なくとも封止部27の上面および封止部27の側面に設けられていればよく、ノイズ抑制層3のインターポーザー25の側面への形成は省略してもよい。   Furthermore, although the noise suppression layer 3 is provided also on the side surface of the interposer 25 in the embodiment, the present invention is not limited to this, as long as the noise suppression layer 3 is provided at least on the upper surface of the sealing portion 27 and the side surface of the sealing portion 27 The formation of the noise suppression layer 3 on the side surface of the interposer 25 may be omitted.

さらに、電子部品封止体の製造方法および電子装置の製造方法には、任意の目的の工程が1または2以上追加されてもよい。   Furthermore, one or more steps for any purpose may be added to the method of manufacturing the electronic component package and the method of manufacturing the electronic device.

以下、本発明を実施例に基づいて詳細に説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described in detail based on examples, but the present invention is not limited thereto.

1.電磁波シールド用フィルムの製造
(実施例1A)
電磁波シールド用フィルムを得るために、第1の層を形成するための樹脂材料としてポリメチルペンテン(三井化学社製、商品名:TPX DX231)を用意した。第3の層を形成するための樹脂材料として、ポリメチルペンテン(三井化学社製、商品名:TPX DX231)を用意した。また、第2の層を形成するための樹脂材料として、エチレン−メチルアクリレート共重合体(三井・デュポンポリケミカル社製、商品名:ニュクレルAN4214C)を35wt%、ポリプロピレン(プライムポリマー社製、商品名:E−203GP)を30wt%、ポリメチルペンテン(三井化学社製、商品名:TPX DX231)を35wt%含む混合物を用意した。
1. Production of film for electromagnetic shielding (Example 1A)
In order to obtain a film for electromagnetic wave shielding, polymethylpentene (manufactured by Mitsui Chemicals, Inc., trade name: TPX DX231) was prepared as a resin material for forming the first layer. As a resin material for forming the third layer, polymethylpentene (manufactured by Mitsui Chemicals, Inc., trade name: TPX DX231) was prepared. In addition, as a resin material for forming the second layer, 35 wt% of ethylene-methyl acrylate copolymer (Mitsui Dupont Polychemicals Co., Ltd., trade name: Nucrel AN4214C), polypropylene (Prime Polymer Co., Ltd., trade name) A mixture containing 30 wt% of E-203GP) and 35 wt% of polymethylpentene (manufactured by Mitsui Chemicals, Inc., trade name: TPX DX231) was prepared.

さらに、ノイズ抑制層を形成するための樹脂材料(液状材料)として、粒子状をなす金属材料として銀粒子(福田金属箔粉工業社製、商品名:Ag−XF301)を含み、バインダー樹脂としてエポキシ樹脂(DIC社製、商品名:EPICRON N−670)を含み、さらに、溶媒としてメチルエチルケトンを含む樹脂材料を用意した。   Furthermore, as a resin material (liquid material) for forming a noise suppression layer, silver particles (manufactured by Fukuda Metal Foil & Powder Industry Co., Ltd., trade name: Ag-XF301) are included as metal material in particulate form, and epoxy as binder resin A resin material containing a resin (manufactured by DIC, trade name: EPICRON N-670) and further containing methyl ethyl ketone as a solvent was prepared.

次いで、上述した第1の層を形成するための樹脂材料と、第2の層を形成するための樹脂材料と、第3の層を形成するための樹脂材料とを用いて、電磁波シールド用フィルム製造装置500が備える剥離層形成部780により、フィルム化された剥離層を得た。その後、ノイズ抑制層を形成するための樹脂材料(液状材料)を、電磁波シールド用フィルム製造装置500が備えるノイズ抑制層形成部900により、剥離層に塗布した後に乾燥させることでノイズ抑制層を形成して電磁波シールド用フィルムを作製した。   Then, using the resin material for forming the first layer described above, the resin material for forming the second layer, and the resin material for forming the third layer, an electromagnetic shielding film A release layer formed into a film was obtained by the release layer forming unit 780 included in the manufacturing apparatus 500. After that, a noise suppression layer is formed by applying a resin material (liquid material) for forming the noise suppression layer to the peeling layer by the noise suppression layer forming unit 900 included in the film manufacturing apparatus for electromagnetic shielding 500 and drying it. The film for electromagnetic wave shielding was produced.

なお、実施例1Aの電磁波シールド用フィルムの全体の平均厚さは、240μmであり、第1の層の平均厚さは20μm、第3の層の平均厚さは20μm、第2の層の平均厚さは180μm、ノイズ抑制層の平均厚さは20μmであった。   In addition, the average thickness of the whole film for electromagnetic wave shielding of Example 1A is 240 micrometers, the average thickness of a 1st layer is 20 micrometers, the average thickness of a 3rd layer is 20 micrometers, and the average of a 2nd layer The thickness was 180 μm, and the average thickness of the noise suppression layer was 20 μm.

また、実施例1Aの電磁波シールド用フィルムにおける、第1の層、第2の層および第3の層の100℃における貯蔵弾性率は、それぞれ、2.0E+08Pa、5.0E+07Paおよび2.0E+08Paであった。   The storage elastic modulus at 100 ° C. of the first layer, the second layer and the third layer in the film for electromagnetic wave shielding of Example 1A is 2.0E + 08Pa, 5.0E + 07Pa and 2.0E + 08Pa, respectively. The

さらに、剥離層およびノイズ抑制層の100℃における貯蔵弾性率は、それぞれ、1.0E+08Paおよび1.0E+04Paであった。   Furthermore, the storage elastic modulus at 100 ° C. of the release layer and the noise suppression layer was 1.0E + 08Pa and 1.0E + 04Pa, respectively.

2.評価
実施例1Aで作製した電磁波シールド用フィルムについて、以下の評価を行った。
2. Evaluation The following evaluation was performed about the film for electromagnetic wave shields produced in Example 1A.

<ピール強度A>
実施例1Aの電磁波シールド用フィルムを作製する際に用意した、ノイズ抑制層を形成するための樹脂材料を用いて幅を25mmとしたノイズ抑制層を形成した。そして、これらノイズ抑制層を、それぞれ、エポキシ樹脂を主材料とするエポキシ樹脂組成物(住友ベークライト社製、「XF8680」)からなる、板状をなす封止部上に100℃にて貼付し、次いで、JIS G 3469に準拠して、ノイズ抑制層の一端を持ち、25℃において90°の方向に300mm/分の速度で引き剥がしたときに測定されるピール強度Aを、引張試験機(エー・アンド・デイ社製、「TENSILON RTG−1310」)を用いて測定した。その測定結果を、表1に示す。
<Peel strength A>
The noise suppression layer having a width of 25 mm was formed using the resin material for forming the noise suppression layer prepared when producing the film for electromagnetic wave shielding of Example 1A. Then, the noise suppression layer is attached at 100 ° C. on a plate-like sealing portion made of an epoxy resin composition ("SX B680" manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd.) mainly composed of an epoxy resin. Then, according to JIS G 3469, hold the end of the noise suppression layer, peel strength A measured when peeled at a speed of 300 mm / min in the direction of 90 ° at 25 ° C, tensile tester (A -It measured using and day company make and "TENSILON RTG-1310"). The measurement results are shown in Table 1.

<ピール強度B>
実施例1Aの電磁波シールド用フィルムを作製する際に用意した、ノイズ抑制層を形成するための樹脂材料を用いて幅を25mmとしたノイズ抑制層を形成した。そして、これらノイズ抑制層を、それぞれ、ポリメチルペンテン(三井化学社製、「TPX DX231」)からなる、板状をなす剥離層上に100℃にて貼付し、次いで、JIS G 3469に準拠して、ノイズ抑制層の一端を持ち、25℃において90°の方向に300mm/分の速度で引き剥がしたときに測定されるピール強度Bを、引張試験機(エー・アンド・デイ社製、「TENSILON RTG−1310」)を用いて測定した。その測定結果を、表1に示す。
<Peel strength B>
The noise suppression layer having a width of 25 mm was formed using the resin material for forming the noise suppression layer prepared when producing the film for electromagnetic wave shielding of Example 1A. Then, these noise suppression layers are attached at 100 ° C. on a plate-like peeling layer made of polymethylpentene (“TPX DX 231”, manufactured by Mitsui Chemicals, Inc.), and then in accordance with JIS G 3469. Peel strength B, which is measured when peeled at a speed of 300 mm / min in the direction of 90 ° at 25 ° C., with one end of the noise suppression layer, using a tensile tester (A & D Inc., “ It measured using TENSILON RTG-1310 "). The measurement results are shown in Table 1.

<半導体封止連結体からの剥離層の剥離性>
半導体封止連結体からの剥離層の剥離性は、次のようにして評価した。
<Peelability of Peeling Layer from Semiconductor Encapsulated Coupling>
The releasability of the release layer from the semiconductor encapsulation assembly was evaluated as follows.

すなわち、まず、FR4基板(ガラス繊維の布をエポキシ樹脂の硬化物で封止して形成された基板)上に、縦10mm×横10mm×厚さ0.7mmのSi基板(擬似半導体素子)を搭載し、その後、Si基板について190℃/150N/20secの条件で加熱・圧縮処理を施した。   That is, first, on a FR4 substrate (a substrate formed by sealing a cloth of glass fiber with a cured product of epoxy resin), a Si substrate (pseudo semiconductor element) 10 mm long × 10 mm wide × 0.7 mm thick After mounting, the Si substrate was subjected to heating and compression treatment under the conditions of 190 ° C./150 N / 20 sec.

次に、Si基板が搭載されたFR4基板上に、顆粒状のエポキシ樹脂組成物(住友ベークライト社製、「XF8680」)を供給した後、圧縮成形することで、Si基板が封止部により封止された半導体封止連結体を形成した。   Next, after supplying the granular epoxy resin composition (Sumitomo Bakelite Co., Ltd. “XF8680”) on the FR4 substrate on which the Si substrate is mounted, the Si substrate is sealed by the sealing portion by compression molding. A sealed semiconductor encapsulation was formed.

なお、圧縮成形する際の条件は、175℃/5MPa/5minとした。
そして、220℃/1hrの条件で封止部を硬化させた後に、ダイシングソーを用いて、封止部に対して、溝幅0.2mm、溝間隔10mm、溝深さ1.0mmの溝を格子状に形成することで、溝が形成された半導体封止連結体を得た。
The condition for compression molding was 175 ° C./5 MPa / 5 min.
Then, after curing the sealing portion under the condition of 220 ° C./1 hr, using a dicing saw, a groove with a groove width of 0.2 mm, a groove interval of 10 mm, and a groove depth of 1.0 mm with the sealing portion By forming in the shape of a lattice, the semiconductor sealing connection body in which the groove was formed was obtained.

次に、実施例1Aの電磁波シールド用フィルムを、それぞれ、溝が形成された半導体封止連結体上に配置し、その後、真空加圧式ラミネーターを用いて、真空雰囲気下において、電磁波シールド用フィルムと電子部品封止体とが互いに接近するように、圧力2MPa、温度170℃、時間240秒の条件で加圧することで、電磁波シールド用フィルムを半導体封止連結体に貼付した。   Next, the film for an electromagnetic wave shield of Example 1A is disposed on the semiconductor sealing connection in which a groove is formed, and then, using a vacuum pressure type laminator, the film for an electromagnetic wave shield in a vacuum atmosphere The electromagnetic shielding film was attached to the semiconductor sealing assembly by pressurizing under the conditions of a pressure of 2 MPa and a temperature of 170 ° C. for 240 seconds so that the electronic component sealing body approaches each other.

次に、半導体封止連結体に貼付された電磁波シールド用フィルムから剥離層を、剥離層の一端を持って剥離させ、この際の剥離層の剥がれ易さについて、下記に示す評価基準に基づいて評価した。その評価結果を表1に示す。   Next, the peeling layer is peeled from the film for an electromagnetic wave shield attached to the semiconductor sealing assembly by holding one end of the peeling layer, and the ease of peeling of the peeling layer in this case is based on the evaluation criteria shown below. evaluated. The evaluation results are shown in Table 1.

[評価基準]
◎:剥離層にノイズ抑制層に由来する樹脂残りもなく、容易に剥離できる
○:剥離層にノイズ抑制層に由来する樹脂残りはないが、剥離が若干重い
×:剥離層にノイズ抑制層に由来する樹脂残りが発生している
[Evaluation criteria]
:: There is no resin residue derived from the noise suppression layer in the peeling layer and can be peeled off easily ○: There is no resin residue originating from the noise suppression layer in the peeling layer, but peeling is slightly heavy. ×: To the noise suppression layer in the peeling layer The resin residue that originates is generated

Figure 2019046947
Figure 2019046947

表1に示すように、実施例1Aでは、ピール強度A、Bが1<A/Bなる関係を満足しており、これにより、半導体封止連結体に貼付された電磁波シールド用フィルムから剥離層を、剥離層にノイズ抑制層に由来する樹脂残りを発生させることなく、容易に剥離させることができ、電子部品封止体にノイズ抑制層を形成することができた。   As shown in Table 1, in Example 1A, the peel strengths A and B satisfy the relationship of 1 <A / B, whereby the peeling film from the electromagnetic wave shielding film attached to the semiconductor sealing connection. The peeling layer can be easily peeled without generating the resin residue derived from the noise suppressing layer, and the noise suppressing layer can be formed on the electronic component package.

1 剥離層
2 粘着層
3 ノイズ抑制層
4 基材
11 第1の層
12 第2の層
13 第3の層
20 半導体装置
21 バンプ
22 被覆部
23 配線
25 インターポーザー
25’ シート材
26 半導体素子
27 封止部
28 電子素子
31 液状被膜
32 液滴
62 凹部
100 粘着テープ
110 タッチロール
120 冷却ロール
130 後段冷却ロール
150 溶融シート
221 開口部
270 電子部品封止連結体
290 電子部品封止体
300 電磁波シールド用フィルム
410 押出機
411 溶融樹脂吐出部
412 配管
420 押出機
421 溶融樹脂吐出部
430 押出機
431 溶融樹脂吐出部
440 分配機
500 電磁波シールド用フィルム製造装置
600 Tダイ
601 開口部
613 第2面
615 第1面
700 シート供給部
780 剥離層形成部
800 シート成形部
900 ノイズ抑制層形成部
950 ディスペンサー
960 熱風供給部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 peeling layer 2 adhesive layer 3 noise suppression layer 4 base material 11 1st layer 12 2nd layer 13 3rd layer 20 semiconductor device 21 bump 22 coating part 23 wiring 25 interposer 25 'sheet material 26 semiconductor element 27 sealing Stop part 28 electronic element 31 liquid film 32 droplet 62 concave part 100 adhesive tape 110 touch roll 120 cooling roll 130 post-stage cooling roll 150 molten sheet 221 opening 270 electronic component sealing body 290 electronic component sealing body 300 film for electromagnetic wave shield 410 extruder 411 molten resin discharge unit 412 piping 420 extruder 421 molten resin discharge unit 430 extruder 431 molten resin discharge unit 440 distribution machine 500 film manufacturing apparatus for electromagnetic shielding 600 T die 601 opening 613 second surface 615 first surface 700 sheet supply unit 780 Peeling layer forming part 800 Sheet forming part 900 Noise suppression layer forming part 950 Dispenser 960 Hot air supply part

Claims (9)

基板と、該基板上に配置された電子部品と、前記電子部品を封止する封止部とを有する電子部品封止体に、前記封止部の上面および側面を被覆するノイズ抑制層を形成するために用いられ、基材層と、該基材層の一方の面側に積層された前記ノイズ抑制層とを備える電磁波シールド用フィルムの製造方法であって、
前記基材層を用意し、前記ノイズ抑制層を形成するための液状材料を前記基材層上に供給する供給工程と、
供給された前記液状材料を乾燥させて前記基材層上に前記ノイズ抑制層を形成することで前記電磁波シールド用フィルムを得る乾燥工程とを有することを特徴とする電磁波シールド用フィルムの製造方法。
A noise suppression layer covering the upper surface and the side surface of the sealing portion is formed on an electronic component sealing body having a substrate, an electronic component disposed on the substrate, and a sealing portion sealing the electronic component. A method for producing an electromagnetic wave shielding film, comprising: a base layer; and the noise suppression layer laminated on one side of the base layer.
Supplying the liquid material for forming the base layer and forming the noise suppression layer on the base layer;
And d) drying the supplied liquid material to form the noise suppression layer on the base layer, thereby obtaining the film for shielding an electromagnetic wave.
前記液状材料は、粒子状をなす導電性材料と、バインダー樹脂と、溶媒とを含有する請求項1に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   The method according to claim 1, wherein the liquid material contains a particulate conductive material, a binder resin, and a solvent. 前記導電性材料は、金属材料、金属酸化物材料、導電性高分子材料および導電性セラミックス材料のうちの少なくとも1種である請求項2に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   The method according to claim 2, wherein the conductive material is at least one of a metal material, a metal oxide material, a conductive polymer material, and a conductive ceramic material. 前記バインダー樹脂は、エポキシ樹脂、ウレタン樹脂、オレフィン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂およびシリコン樹脂のうちの少なくとも1種である請求項2または3に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   The method according to claim 2 or 3, wherein the binder resin is at least one of an epoxy resin, a urethane resin, an olefin resin, a polyester resin, a polyamide resin, and a silicone resin. 前記溶媒は、メチルエチルケトン、トルエン、酢酸エチル、イソプロピルアルコール、テトラデカンおよびヘキサンのうちの少なくとも1種である請求項2ないし4のいずれか1項に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   The method for manufacturing a film for electromagnetic wave shielding according to any one of claims 2 to 4, wherein the solvent is at least one of methyl ethyl ketone, toluene, ethyl acetate, isopropyl alcohol, tetradecane and hexane. 前記供給工程において、前記基材層として、第1の層と、第2の層と、第3の層とがこの順で積層された3層構成をなす積層体を用意し、その後、前記第3の層に、前記液状材料を供給する請求項1ないし5のいずれか1項に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   In the supplying step, a laminate having a three-layer structure in which a first layer, a second layer, and a third layer are laminated in this order is prepared as the base material layer, and then, The method according to any one of claims 1 to 5, wherein the liquid material is supplied to the third layer. 前記供給工程において、共押出法を用いて前記積層体で構成される前記基材層を得る請求項6に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   The manufacturing method of the film for electromagnetic wave shields of Claim 6 which obtains the said base material layer comprised by the said laminated body using the co-extrusion method in the said supply process. 前記第1の層および前記第3の層は、それぞれ、100℃における貯蔵弾性率が1.0E+05Pa以上1.0E+11Pa以下である請求項6または7に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   The method according to claim 6 or 7, wherein the first layer and the third layer each have a storage elastic modulus at 100 ° C of 1.0E + 05 Pa or more and 1.0E + 11 Pa or less. 前記第2の層は、100℃における貯蔵弾性率が1.0E+04Pa以上1.0E+10Pa以下である請求項6ないし8のいずれか1項に記載の電磁波シールド用フィルムの製造方法。   The method for manufacturing a film for an electromagnetic wave shielding according to any one of claims 6 to 8, wherein the second layer has a storage elastic modulus at 100 ° C of 1.0E + 04Pa or more and 1.0E + 10Pa or less.
JP2017168059A 2017-08-31 2017-08-31 Method for manufacturing film for electromagnetic wave shield Pending JP2019046947A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017168059A JP2019046947A (en) 2017-08-31 2017-08-31 Method for manufacturing film for electromagnetic wave shield

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017168059A JP2019046947A (en) 2017-08-31 2017-08-31 Method for manufacturing film for electromagnetic wave shield

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2019046947A true JP2019046947A (en) 2019-03-22

Family

ID=65816570

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017168059A Pending JP2019046947A (en) 2017-08-31 2017-08-31 Method for manufacturing film for electromagnetic wave shield

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2019046947A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116120608A (en) * 2023-02-23 2023-05-16 河北海伟电子新材料科技股份有限公司 Production process of high-energy-storage polypropylene capacitor film

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116120608A (en) * 2023-02-23 2023-05-16 河北海伟电子新材料科技股份有限公司 Production process of high-energy-storage polypropylene capacitor film
CN116120608B (en) * 2023-02-23 2023-09-29 河北海伟电子新材料科技股份有限公司 Production process of high-energy-storage polypropylene capacitor film

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI505416B (en) Adhesive tape for resin-encapsulating and method of manufacture of resin-encapsulated semiconductor device
JP2017143210A (en) Method for manufacturing electronic component sealing body and method for manufacturing electronic device
TWI807011B (en) Electromagnetic wave shield sheet
JP2012124466A (en) Adhesive film for semiconductor device and semiconductor device
JP6711423B2 (en) Film for electromagnetic wave shielding
EP3726571A1 (en) Manufacturing method of mounting structure
JP5548077B2 (en) Resin-sealing adhesive tape and method for manufacturing resin-sealed semiconductor device
KR102477543B1 (en) Electromagnetic wave shielding sheet and board with electronic components
JP4421204B2 (en) Adhesive sheet for manufacturing semiconductor device, semiconductor device using the same, and manufacturing method
TW201529796A (en) Dicing die-bonding film, manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device
JP2006318999A (en) Adhesive film for manufacturing semiconductor device
KR101763852B1 (en) QFN semiconductor package, method of fabricating the same and mask sheet for manufacturing the same
JP2019046947A (en) Method for manufacturing film for electromagnetic wave shield
JP5067927B2 (en) Adhesive film for semiconductor device manufacturing
KR102629865B1 (en) Film adhesives, adhesive sheets, and semiconductor devices and methods for manufacturing the same
JP2019029549A (en) Film set
JP2019029550A (en) Manufacturing method of electronic component sealed body and manufacturing method of electronic device
JP2019102498A (en) Manufacturing method of electronic component encapsulation body, and manufacturing method of electronic device
JP2019087638A (en) Manufacturing method of electronic equipment
KR20210123319A (en) Film-like adhesives, adhesive sheets, and semiconductor devices
JP2012248607A (en) Die-bond dicing sheet and method for manufacturing semiconductor device using the same
JP6451801B1 (en) Electromagnetic shielding film used for manufacturing method of electromagnetic shielding electronic device and manufacturing method of electromagnetic shielding electronic device
JP2019131746A (en) Adhesive tape
JP2020169278A (en) Processing adhesive tape
EP2636712A1 (en) Pressure-sensitive adhesive tape for resin encapsulation and method for producing resin encapsulation type semiconductor device