JP2018528408A - 位相コントラスト及び/又は暗視野撮像のためのx線検出器 - Google Patents
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Abstract
Description
a)関心被検体を検査するために位相格子構造により変調されたX線放射を発生するステップと、
b)X線検出器のシンチレータ層により前記変調されたX線放射を光に変換すると共に、該光を前記X線検出器のフォトダイオード層により検出するステップと、
を有する。
− aは吸収を推定するために使用される平均強度であり;
− νは暗視野信号を推定するための干渉計コーティングの変調深度であり;
− φは微分位相である。
− 第1ステップ202(ステップa)とも称する)において、関心被検体を検査するためにX線放射が発生され、該X線放射は位相格子構造により変調される;
− 第2ステップ204(ステップb)とも称する)において、上記の変調されたX線放射はX線検出器のシンチレータ層により光に変換され、該光はX線検出器のフォトダイオード層により検出される。
Claims (14)
- 位相コントラスト撮像及び/又は暗視野撮像のためのX線検出器であって、
シンチレータ層と、
フォトダイオード層と、
を有し、
前記シンチレータ層は、位相格子構造により変調された入射X線放射を前記フォトダイオード層により検出されるべき光に変換し、
前記シンチレータ層は、アナライザ格子構造を形成するピッチで周期的に配列されたシンチレータチャンネルのアレイを有し、
前記シンチレータ層及び前記フォトダイオード層は、ピクセルのマトリクスを有する第1検出器層を形成し、
前記ピクセルの各々は、各フォトダイオードがサブピクセルを形成するフォトダイオードのアレイを有し、
動作の間において、隣接するサブピクセルは、互いにシフトされた位相を持つ信号を受信し、
動作の間において、互いに同一の位相を有する信号を受信するサブピクセルは、ピクセル毎の位相グループを形成し、
動作の間において、ピクセル毎の同一の位相グループ内のサブピクセルにより受信される信号は、1つの位相グループ信号に合成され、
動作の間において、異なる位相グループの位相グループ信号は、1つの画像取得において取得され、
前記シンチレータチャンネルの前記ピッチは、前記位相格子構造により生成される周期的干渉パターンのフリンジ周期に対して補正係数cを適用することにより離調され、ここで0<c<2である、
X線検出器。 - ピクセル毎の同一の位相グループ内のサブピクセルが、該同一位相グループ内のサブピクセルにより受信された信号を1つの位相グループ信号に合成するために互いに電気的に接続され、
各ピクセルが、異なる位相グループの位相グループ信号を1つの画像取得において受信する読出電子回路を更に有する、
請求項1に記載のX線検出器。 - 前記フォトダイオードがサブピクセルの連続した感光層を形成する、請求項1又は請求項2に記載のX線検出器。
- 前記異なる位相グループの位相グループ信号が、前記位相格子構造により変調されたX線放射の波面の完全な位相をカバーする、請求項1ないし3の何れか一項に記載のX線検出器。
- 動作の間におけるピクセル毎の位相グループ信号が読出信号として読み出される、請求項1ないし4の何れか一項に記載のX線検出器。
- ピクセル毎に偶数の位相グループ信号が存在する場合、動作の間においてピクセル毎の全位相グループ信号の和及びピクセル毎の位相グループ信号のπなる相互位相シフトを持つ対の差分が読出信号として読み出される、請求項1ないし4の何れか一項に記載のX線検出器。
- 前記第1検出器層のシンチレータチャンネルの向きに対して垂直な前記第1検出器層の一方の表面上に設けられた第2検出器層を有し、
前記第2検出器層は、前記第1検出器層のシンチレータチャンネルと同一のピッチで周期的に配列されたシンチレータチャンネルのアレイを備えるシンチレータ層及びフォトダイオード層を有し、
前記第2検出器層の各シンチレータチャンネルが、前記第1検出器層の隣接するシンチレータチャンネルに対して表面方向に前記ピッチの半分だけ変位されて配置される、
請求項1ないし6の何れか一項に記載のX線検出器。 - 2つの隣接するシンチレータチャンネルの間に該2つの隣接するシンチレータチャンネル間の光クロストークが低減されるように設けられた遮光エレメントを有する、請求項1ないし7の何れか一項に記載のX線検出器。
- 位相コントラストX線撮像及び/又は暗視野X線撮像のための干渉計であって、
位相格子構造と、
請求項1ないし8の何れか一項に記載のX線検出器と、
を有し、
前記位相格子構造及び前記X線検出器が光学経路内に、前記位相格子構造及び前記X線検出器のシンチレータ層がX線放射を相関させるための干渉計装置を形成するように配置される、
干渉計。 - X線源と、
請求項9に記載の干渉計と、
を有するX線撮像システムであって、
前記X線源が、前記干渉計の前記X線検出器により検出されるべき前記光学経路内に配置可能な関心被検体にX線放射を供給する、
X線撮像システム。 - 当該X線撮像システムが、
医療用撮像システム、
検査撮像システム、又は
工業用撮像システム、
である請求項10に記載のX線撮像システム。 - 位相コントラストX線撮像及び/又は暗視野X線撮像を行う方法であって、
a)関心被検体を検査するために位相格子構造により変調されたX線放射を発生するステップと、
b)X線検出器のシンチレータ層により前記変調されたX線放射を光に変換すると共に、該光を前記X線検出器のフォトダイオード層により検出するステップと、
を有し、
前記シンチレータ層は、アナライザ格子構造を形成するピッチで周期的に配列されたシンチレータチャンネルのアレイを有し、
前記シンチレータ層及び前記フォトダイオード層は、ピクセルのマトリクスを有する第1検出器層を形成し、
前記ピクセルの各々は、各フォトダイオードがサブピクセルを形成するフォトダイオードのアレイを有し、
動作の間において、隣接するサブピクセルは、互いにシフトされた位相を持つ信号を受信し、
動作の間において、互いに同一の位相を有する信号を受信するサブピクセルは、ピクセル毎の位相グループを形成し、
ピクセル毎の同一の位相グループ内のサブピクセルにより受信された信号は、1つの位相グループ信号に合成され、
異なる位相グループの位相グループ信号は、1つの画像取得において取得され、
前記シンチレータチャンネルの前記ピッチは、前記位相格子構造により生成される周期的干渉パターンのフリンジ周期に対して補正係数cを適用することにより離調され、ここで0<c<2である、
方法。 - 請求項1ないし8の何れか一項に記載のX線検出器、請求項9に記載の干渉計、又は請求項10若しくは11に記載のX線撮像システムを制御するためのコンピュータプログラムであって、処理ユニットにより実行された場合に請求項12に記載の方法のステップを実行する、コンピュータプログラム。
- 請求項13に記載のコンピュータプログラムを記憶した、コンピュータ読取可能な媒体。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018155502A (ja) * | 2017-03-15 | 2018-10-04 | 株式会社島津製作所 | 放射線格子検出器およびx線検査装置 |
JP2021128153A (ja) * | 2020-02-12 | 2021-09-02 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | X線位相差検出器 |
JP2022542487A (ja) * | 2019-10-01 | 2022-10-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 暗視野用検出器、位相コントラスト及び減衰干渉撮像システム |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018146254A (ja) * | 2017-03-01 | 2018-09-20 | コニカミノルタ株式会社 | シンチレータパネル |
EP3382719A1 (en) * | 2017-03-27 | 2018-10-03 | Koninklijke Philips N.V. | Detector arrangement for an x-ray phase contrast system and method for x-ray contrast imaging |
EP3447538A1 (en) * | 2017-08-23 | 2019-02-27 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray detection |
JP6991835B2 (ja) * | 2017-11-10 | 2022-01-13 | キヤノン株式会社 | 放射線撮像装置および放射線撮像システム |
EP3498171A1 (en) * | 2017-12-15 | 2019-06-19 | Koninklijke Philips N.V. | Single shot x-ray phase-contrast and dark field imaging |
US10376228B2 (en) * | 2017-12-18 | 2019-08-13 | RTI Group AB | X-ray detection device |
WO2019240165A1 (ja) * | 2018-06-12 | 2019-12-19 | 国立大学法人筑波大学 | 位相画像撮影方法とそれを利用した位相画像撮影装置 |
WO2020052987A1 (en) * | 2018-09-10 | 2020-03-19 | Koninklijke Philips N.V. | Dual-sensor subpixel radiation detector |
CN112789514B (zh) * | 2018-10-31 | 2024-07-09 | 索尼半导体解决方案公司 | 电子设备、方法及计算机程序 |
EP3701868A1 (en) * | 2019-02-28 | 2020-09-02 | Koninklijke Philips N.V. | System, method and computer program for acquiring phase imaging data of an object |
EP3782552A1 (en) * | 2019-08-23 | 2021-02-24 | Koninklijke Philips N.V. | System and method for x-ray dark-field, phase contrast and attenuation image acquisition |
US20230375759A1 (en) * | 2022-05-18 | 2023-11-23 | GE Precision Healthcare LLC | Aligned and stacked high-aspect ratio metallized structures |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005524050A (ja) * | 2001-08-30 | 2005-08-11 | マイクロイー システムズ コーポレイション | 高調波抑制光検出器アレイ |
JP2007203066A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点‐検出器装置のx線光学透過格子 |
JP2007206075A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点−検出器装置 |
JP2007203062A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点‐検出器システム |
JP2007203063A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点‐検出器システム |
JP2009133823A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-06-18 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出器および放射線位相画像撮影装置 |
US20120033785A1 (en) * | 2009-04-17 | 2012-02-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Detector Arrangement And X-Ray Tomography Device For Performing Phase-Contrast Measurements And Method For Performing A Phase-Contrast Measurement |
JP2012112928A (ja) * | 2010-05-31 | 2012-06-14 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置 |
JP2015118081A (ja) * | 2013-11-12 | 2015-06-25 | キヤノン株式会社 | 放射線検出システムおよび放射線撮像装置 |
US20150182178A1 (en) * | 2013-12-30 | 2015-07-02 | Carestream Health, Inc. | Large fov phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5144141A (en) | 1991-08-19 | 1992-09-01 | General Electric Company | Photodetector scintillator radiation imager |
EP2073040A2 (en) | 2007-10-31 | 2009-06-24 | FUJIFILM Corporation | Radiation image detector and phase contrast radiation imaging apparatus |
JP2012177624A (ja) * | 2011-02-25 | 2012-09-13 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出装置及び放射線画像検出装置の製造方法 |
DE102011082878A1 (de) | 2011-09-16 | 2013-03-21 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgendetektor einer gitterbasierten Phasenkontrast-Röntgenvorrichtung und Verfahren zum Betreiben einer gitterbasierten Phasenkontrast-Röntgenvorrichtung |
JP6145248B2 (ja) * | 2011-12-28 | 2017-06-07 | 学校法人早稲田大学 | 放射線検出器 |
CN104582573B (zh) * | 2012-08-20 | 2018-09-28 | 皇家飞利浦有限公司 | 在微分相位对比成像中对齐源光栅到相位光栅距离以用于多阶相位调谐 |
JP6041594B2 (ja) * | 2012-09-14 | 2016-12-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | シンチレータパネル、及び、放射線検出器 |
DE102012217286A1 (de) | 2012-09-25 | 2014-03-27 | Siemens Aktiengesellschaft | Strahlungsdetektor |
DE102012224258A1 (de) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts mit Phase-Stepping sowie angiographisches Untersuchungsverfahren |
US9459355B1 (en) * | 2015-06-30 | 2016-10-04 | General Electric Company | Radiation detector with stacked barrier layers and method of forming the same |
-
2016
- 2016-07-20 JP JP2018502658A patent/JP6581713B2/ja not_active Expired - Fee Related
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- 2016-07-20 US US15/745,234 patent/US10559393B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005524050A (ja) * | 2001-08-30 | 2005-08-11 | マイクロイー システムズ コーポレイション | 高調波抑制光検出器アレイ |
JP2007203066A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点‐検出器装置のx線光学透過格子 |
JP2007206075A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点−検出器装置 |
JP2007203062A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点‐検出器システム |
JP2007203063A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点‐検出器システム |
JP2009133823A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-06-18 | Fujifilm Corp | 放射線画像検出器および放射線位相画像撮影装置 |
US20120033785A1 (en) * | 2009-04-17 | 2012-02-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Detector Arrangement And X-Ray Tomography Device For Performing Phase-Contrast Measurements And Method For Performing A Phase-Contrast Measurement |
JP2012112928A (ja) * | 2010-05-31 | 2012-06-14 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置 |
JP2015118081A (ja) * | 2013-11-12 | 2015-06-25 | キヤノン株式会社 | 放射線検出システムおよび放射線撮像装置 |
US20150182178A1 (en) * | 2013-12-30 | 2015-07-02 | Carestream Health, Inc. | Large fov phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018155502A (ja) * | 2017-03-15 | 2018-10-04 | 株式会社島津製作所 | 放射線格子検出器およびx線検査装置 |
JP2022542487A (ja) * | 2019-10-01 | 2022-10-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 暗視野用検出器、位相コントラスト及び減衰干渉撮像システム |
JP7288145B2 (ja) | 2019-10-01 | 2023-06-06 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 暗視野用検出器、位相コントラスト及び減衰干渉撮像システム |
JP2021128153A (ja) * | 2020-02-12 | 2021-09-02 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | X線位相差検出器 |
JP7167201B2 (ja) | 2020-02-12 | 2022-11-08 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | X線位相差検出器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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