JP2018054844A - Image formation device - Google Patents
Image formation device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018054844A JP2018054844A JP2016190265A JP2016190265A JP2018054844A JP 2018054844 A JP2018054844 A JP 2018054844A JP 2016190265 A JP2016190265 A JP 2016190265A JP 2016190265 A JP2016190265 A JP 2016190265A JP 2018054844 A JP2018054844 A JP 2018054844A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- group
- oxide particles
- layer
- intermediate transfer
- image forming
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
- Electrostatic Charge, Transfer And Separation In Electrography (AREA)
Abstract
Description
本発明は、画像形成装置に関する。 The present invention relates to an image forming apparatus.
従来、電子写真方式の画像形成装置としては、電子写真感光体を用いて帯電、静電潜像形成、現像、転写、クリーニング等の工程を順次行う装置が広く知られている。 2. Description of the Related Art Conventionally, as an electrophotographic image forming apparatus, an apparatus that sequentially performs processes such as charging, electrostatic latent image formation, development, transfer, and cleaning using an electrophotographic photosensitive member is widely known.
例えば特許文献1には、複数のドラム状の像担持体と、該複数の像担持体上にそれぞれ所定の色のトナー像を形成するためのトナー像形成手段と、該複数の像担持体に対向するように設けられた転写ベルトと、該像担持体上のトナー像を該転写ベルト側に転移させるための転写電界を形成すべく転写バイアスを印加する転写バイアス印加手段とを有し、該複数の像担持体上に形成されたトナー像を該転写ベルト側に順次転写して重ね合わせトナー像を形成するタンデム型の画像形成装置において、上記転写バイアス印加手段による転写バイアスの印加対象を上記像担持体とし、かつ上記転写ベルトに該像担持体から印加された転写バイアスを保持する電荷保持層を設けたことを特徴とする画像形成装置が開示されている。 For example, Patent Document 1 discloses a plurality of drum-shaped image carriers, a toner image forming unit for forming toner images of predetermined colors on the plurality of image carriers, and a plurality of image carriers. A transfer belt provided to face the transfer belt, and transfer bias applying means for applying a transfer bias to form a transfer electric field for transferring the toner image on the image carrier to the transfer belt side, In a tandem type image forming apparatus that sequentially transfers toner images formed on a plurality of image carriers to the transfer belt side to form a superimposed toner image, the transfer bias application target by the transfer bias applying unit is the above An image forming apparatus is disclosed in which an image carrier is provided and a charge holding layer for holding a transfer bias applied from the image carrier is provided on the transfer belt.
中間転写方式の画像形成装置を用いて高速(例えばプロセススピード300mm/s以上)で画像形成を行うと、電子写真感光体から中間転写体へのトナー像の転写(一次転写)において転写不良が起こりやすくなり、転写不良に起因する画像欠陥を生じやすくなる。一方、一次転写における転写不良を起こりにくくするために一次転写電流値を大きくすると、前画像の履歴が残ることで生じる残像現象が起こりやすくなる。 If an image is formed at a high speed (for example, a process speed of 300 mm / s or more) using an intermediate transfer type image forming apparatus, transfer failure occurs in the transfer (primary transfer) of the toner image from the electrophotographic photosensitive member to the intermediate transfer member. It becomes easy to produce the image defect resulting from a transfer defect. On the other hand, if the primary transfer current value is increased in order to make it difficult to cause transfer defects in primary transfer, an afterimage phenomenon that occurs due to the history of the previous image remaining easily occurs.
本発明の課題は、中間転写方式の画像形成装置において、電子写真感光体における下引層の単位面積あたりの静電容量が1.0×10−9F/cm2未満若しくは1.5×10−8F/cm2を超える場合、中間転写体の体積抵抗率の常用対数値が8.0logΩ・cm未満若しくは12.0logΩ・cmを超える場合、又は一次転写手段における軸方向の単位長さ(mm)あたりの一次転写電流値が15(μA/mm)未満若しくは19(μA/mm)を超える場合に比べ、転写不良に起因する画像欠陥の抑制と、前画像の履歴が残ることで生じる残像現象の抑制と、を両立した画像形成装置を提供することである。 An object of the present invention is to provide an intermediate transfer type image forming apparatus in which the electrostatic capacity per unit area of the undercoat layer in the electrophotographic photosensitive member is less than 1.0 × 10 −9 F / cm 2 or 1.5 × 10 6. When it exceeds −8 F / cm 2 , when the common logarithmic value of the volume resistivity of the intermediate transfer member is less than 8.0 log Ω · cm or exceeds 12.0 log Ω · cm, or the unit length in the axial direction of the primary transfer means ( Compared to the case where the primary transfer current value per mm) is less than 15 (μA / mm) or exceeds 19 (μA / mm), image defects caused by transfer defects and afterimages caused by the history of the previous image remain. An object of the present invention is to provide an image forming apparatus that achieves both suppression of the phenomenon.
上記課題は、以下の手段により解決される。
即ち、請求項1に係る発明は、
導電性基体と前記導電性基体上に設けられ単位面積あたりの静電容量が1.0×10−9F/cm2以上1.5×10−8F/cm2以下である下引層と前記下引層上に設けられた感光層とを有する電子写真感光体と、
前記電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段と、
帯電した前記電子写真感光体の表面に静電潜像を形成する静電潜像形成手段と、
トナーを含む現像剤により、前記電子写真感光体の表面に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、
体積抵抗率の常用対数値が8.0logΩ・cm以上12.0logΩ・cm以下であり、前記電子写真感光体の表面に形成された前記トナー像が表面に転写される中間転写体と、
前記電子写真感光体の表面に形成された前記トナー像を前記中間転写体の表面に一次転写する一次転写手段であって、軸方向の単位長さ(mm)あたりの一次転写電流値が15(μA/mm)以上19(μA/mm)以下である一次転写手段と、
前記中間転写体の表面に転写された前記トナー像を記録媒体の表面に二次転写する二次転写手段と、
を備える画像形成装置である。
The above problem is solved by the following means.
That is, the invention according to claim 1
An undercoat layer provided on the conductive substrate and having a capacitance per unit area of 1.0 × 10 −9 F / cm 2 or more and 1.5 × 10 −8 F / cm 2 or less provided on the conductive substrate; An electrophotographic photoreceptor having a photosensitive layer provided on the undercoat layer;
Charging means for charging the surface of the electrophotographic photosensitive member;
An electrostatic latent image forming means for forming an electrostatic latent image on the surface of the charged electrophotographic photosensitive member;
Developing means for developing the electrostatic latent image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member with a developer containing toner to form a toner image;
A common logarithmic value of volume resistivity is 8.0 logΩ · cm or more and 12.0 logΩ · cm or less, and an intermediate transfer member to which the toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member is transferred to the surface;
Primary transfer means for primary transfer of the toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member to the surface of the intermediate transfer member, wherein the primary transfer current value per unit length (mm) in the axial direction is 15 ( primary transfer means that is not less than μA / mm) and not more than 19 (μA / mm);
Secondary transfer means for secondary transfer of the toner image transferred to the surface of the intermediate transfer member to the surface of the recording medium;
An image forming apparatus.
請求項2に係る発明は、
前記下引層は、結着樹脂と、金属酸化物粒子と、電子受容性化合物と、を含有する請求項1に記載の画像形成装置である。
The invention according to claim 2
The image forming apparatus according to claim 1, wherein the undercoat layer contains a binder resin, metal oxide particles, and an electron-accepting compound.
請求項3に係る発明は、
前記金属酸化物粒子は、酸化錫粒子、酸化チタン粒子、及び酸化亜鉛粒子から選ばれる少なくとも1種を含む請求項2に記載の画像形成装置である。
The invention according to claim 3
The image forming apparatus according to claim 2, wherein the metal oxide particles include at least one selected from tin oxide particles, titanium oxide particles, and zinc oxide particles.
請求項4に係る発明は、
前記金属酸化物粒子の体積平均一次粒径は、100nm以下である請求項2又は請求項3に記載の画像形成装置である。
The invention according to claim 4
4. The image forming apparatus according to claim 2, wherein the volume average primary particle size of the metal oxide particles is 100 nm or less. 5.
請求項5に係る発明は、
前記金属酸化物粒子は、1種以上のカップリング剤で処理されたものである請求項2〜請求項4のいずれか1項に記載の画像形成装置である。
The invention according to claim 5
The image forming apparatus according to any one of claims 2 to 4, wherein the metal oxide particles are processed with one or more coupling agents.
請求項6に係る発明は、
前記カップリング剤は、シランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、及びアルミニウム系カップリング剤から選択される少なくとも1種を含む請求項5に記載の画像形成装置である。
The invention according to claim 6
The image forming apparatus according to claim 5, wherein the coupling agent includes at least one selected from a silane coupling agent, a titanate coupling agent, and an aluminum coupling agent.
請求項7に係る発明は、
前記電子受容性化合物は、アントラキノン骨格を有する電子受容性化合物である請求項2〜請求項6のいずれか1項に記載の画像形成装置である。
The invention according to claim 7 provides:
The image forming apparatus according to claim 2, wherein the electron accepting compound is an electron accepting compound having an anthraquinone skeleton.
請求項8に係る発明は、
前記アントラキノン骨格を有する電子受容性化合物は、下記一般式(1)で表される化合物である請求項7に記載の画像形成装置である。
The invention according to claim 8 provides:
The image forming apparatus according to claim 7, wherein the electron-accepting compound having an anthraquinone skeleton is a compound represented by the following general formula (1).
(一般式(1)中、n1及びn2は、各々独立に0以上3以下の整数を表す。但し、n1及びn2の少なくとも一方は、各々独立に1以上3以下の整数を表す。m1及びm2は、各々独立に0又は1の整数を示す。R11及びR12は、各々独立に炭素数1以上10以下のアルキル基、又は炭素数1以上10以下のアルコキシ基を表す。) (In general formula (1), n1 and n2 each independently represent an integer of 0 or more and 3 or less, provided that at least one of n1 and n2 independently represents an integer of 1 or more and 3 or less. M1 and m2 Each independently represents an integer of 0 or 1. R 11 and R 12 each independently represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms.
請求項9に係る発明は、
前記下引層の厚みが15μm以上30μm以下である請求項1〜請求項8のいずれか1項に記載の画像形成装置である。
The invention according to claim 9 is:
9. The image forming apparatus according to claim 1, wherein a thickness of the undercoat layer is 15 μm or more and 30 μm or less.
請求項1、2、3、4、5、6、7、8、又は9に係る発明によれば、中間転写方式の画像形成装置において、電子写真感光体における下引層の単位面積あたりの静電容量が1.0×10−9F/cm2未満若しくは1.5×10−8F/cm2を超える場合、中間転写体の体積抵抗率の常用対数値が8.0logΩ・cm未満若しくは12.0logΩ・cmを超える場合、又は一次転写手段における軸方向の単位長さ(mm)あたりの一次転写電流値が15(μA/mm)未満若しくは19(μA/mm)を超える場合に比べ、転写不良の抑制と、前画像の履歴が残ることで生じる残像現象の抑制と、を両立した画像形成装置が提供される。 According to the first, second, third, fourth, fifth, sixth, seventh, eighth, or ninth aspect of the present invention, in the intermediate transfer type image forming apparatus, the static per unit area of the undercoat layer in the electrophotographic photosensitive member. When the capacitance is less than 1.0 × 10 −9 F / cm 2 or more than 1.5 × 10 −8 F / cm 2 , the common logarithm of the volume resistivity of the intermediate transfer member is less than 8.0 log Ω · cm or Compared to the case where it exceeds 12.0 log Ω · cm, or the case where the primary transfer current value per unit length (mm) in the axial direction in the primary transfer means is less than 15 (μA / mm) or exceeds 19 (μA / mm), Provided is an image forming apparatus that achieves both suppression of transfer failure and suppression of an afterimage phenomenon caused by a history of a previous image remaining.
以下、本発明の一例である実施形態について詳細に説明する。 Hereinafter, an embodiment which is an example of the present invention will be described in detail.
[画像形成装置]
本実施形態に係る画像形成装置は、電子写真感光体と、電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段と、帯電した電子写真感光体の表面に静電潜像を形成する静電潜像形成手段と、トナーを含む現像剤により、電子写真感光体の表面に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、電子写真感光体の表面に形成されたトナー像が表面に転写される中間転写体と、電子写真感光体の表面に形成されたトナー像を中間転写体の表面に一次転写する一次転写手段と、中間転写体の表面に転写されたトナー像を記録媒体の表面に二次転写する二次転写手段と、を備える。
上記の電子写真感光体(以下、単に「感光体」とも称する)は、導電性基体と、導電性基体上に設けられた下引層と、下引層上に設けられた感光層と、を有する。そして、下引層における単位面積あたりの静電容量が1.0×10−9F/cm2以上1.5×10−8F/cm2以下である。
また、上記の中間転写体の体積抵抗率の常用対数値は8logΩ・cm以上12.0logΩ・cm以下であり、上記の一次転写手段における軸方向の単位長さ(mm)あたりの一次転写電流値は15(μA/mm)以上19(μA/mm)以下である。
[Image forming apparatus]
The image forming apparatus according to the present embodiment includes an electrophotographic photosensitive member, a charging unit that charges the surface of the electrophotographic photosensitive member, and an electrostatic latent image formation that forms an electrostatic latent image on the surface of the charged electrophotographic photosensitive member. A developing means for developing an electrostatic latent image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member with a developer containing toner, and a toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member. The intermediate transfer member to be transferred onto the surface, the primary transfer means for primarily transferring the toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member to the surface of the intermediate transfer member, and the toner image transferred onto the surface of the intermediate transfer member are recorded. Secondary transfer means for secondary transfer to the surface of the medium.
The electrophotographic photoreceptor (hereinafter also simply referred to as “photoreceptor”) includes a conductive substrate, an undercoat layer provided on the conductive substrate, and a photosensitive layer provided on the undercoat layer. Have. Then, it is the capacitance per unit area in the undercoat layer is 1.0 × 10 -9 F / cm 2 or more 1.5 × 10 -8 F / cm 2 or less.
The common logarithmic value of the volume resistivity of the intermediate transfer member is 8 logΩ · cm or more and 12.0 logΩ · cm or less, and the primary transfer current value per unit length (mm) in the axial direction in the primary transfer unit. Is 15 (μA / mm) or more and 19 (μA / mm) or less.
ここで、「一次転写電流値」とは、感光体から中間転写体にトナー像が転写される際に、一次転写手段から感光体に流れる転写電流の電流値を示す。以下、軸方向の単位長さ(mm)あたりの一次転写電流値を単に「一次転写電流値」と称する場合がある。 Here, the “primary transfer current value” indicates a current value of a transfer current that flows from the primary transfer unit to the photosensitive member when the toner image is transferred from the photosensitive member to the intermediate transfer member. Hereinafter, the primary transfer current value per unit length (mm) in the axial direction may be simply referred to as “primary transfer current value”.
本実施形態に係る画像形成装置は、下引層の単位面積あたりの静電容量、中間転写体の体積抵抗率の常用対数値、及び一次転写手段における一次転写電流値が上記範囲であると、転写不良に起因する画像欠陥の抑制と、前画像の履歴が残ることで生じる残像現象(以下「ゴースト」ともいう)の抑制と、を両立する。この理由は定かではないが、以下に示す理由によるものと推測される。 In the image forming apparatus according to the present embodiment, the capacitance per unit area of the undercoat layer, the common logarithm of the volume resistivity of the intermediate transfer member, and the primary transfer current value in the primary transfer unit are in the above ranges. Both suppression of image defects caused by transfer defects and suppression of afterimage phenomenon (hereinafter also referred to as “ghost”) caused by the history of the previous image remaining are compatible. The reason for this is not clear, but is presumed to be as follows.
従来の中間転写方式の画像形成装置では、高速(例えばプロセススピード300mm/s以上)で画像形成を行う場合、電子写真感光体から中間転写体へのトナー像の転写(一次転写)を短時間で行うため、転写電流の不足により転写不良が起こりやすくなる。そして、一次転写において転写不良が起こると、得られた画像において前記転写不良に起因する画像欠陥が生じる。
一方、一次転写における転写不良を抑制する方法として、中間転写体の体積抵抗率を適切な範囲に調整した上で、一次転写電流値を大きくすることで転写電流の不足を解消する方法が考えられる。しかし、一次転写電流値を大きくすると、一次転写の工程において一次転写手段に印加された転写電圧によって転写電流が感光体に流入し、次の画像形成において前画像の履歴が残る残像現象(ゴースト)が発生しやすくなる。
In a conventional intermediate transfer type image forming apparatus, when an image is formed at a high speed (for example, a process speed of 300 mm / s or more), the transfer (primary transfer) of the toner image from the electrophotographic photosensitive member to the intermediate transfer member is performed in a short time. For this reason, transfer defects are likely to occur due to a shortage of transfer current. When a transfer failure occurs in the primary transfer, an image defect due to the transfer failure occurs in the obtained image.
On the other hand, as a method of suppressing transfer failure in primary transfer, a method of eliminating the shortage of transfer current by adjusting the volume resistivity of the intermediate transfer member to an appropriate range and increasing the primary transfer current value can be considered. . However, when the primary transfer current value is increased, the transfer current flows into the photoconductor due to the transfer voltage applied to the primary transfer means in the primary transfer process, and the afterimage phenomenon (ghost) in which the history of the previous image remains in the next image formation. Is likely to occur.
上記ゴーストは、以下のようにして生じると推測される。具体的には、例えば、感光体と一次転写手段との間の電気抵抗は、画像部においては中間転写体の電気抵抗とトナー像の電気抵抗との総和であるのに対し、非画像部においては中間転写体の電気抵抗のみである。すなわち、トナー像が存在する画像部に比べてトナー像が存在しない非画像部の方が、電気抵抗が小さいため、感光体の非画像部に一次転写電流が集中して流入し、多くの電荷が蓄積されやすい。このように、画像部と非画像部とで電荷の蓄積量に大きな差が生じた状態で次の画像形成が行われると、帯電工程において、前画像における非画像部では帯電電位と逆極性の電荷が多く蓄積されているため、表面電荷が打ち消され、帯電不良が起こりやすくなる。その結果、前画像における非画像部が次画像において前画像の履歴画像として現れ、ゴーストが生じると推測される。 The ghost is estimated to occur as follows. Specifically, for example, the electric resistance between the photosensitive member and the primary transfer unit is the sum of the electric resistance of the intermediate transfer member and the electric resistance of the toner image in the image portion, whereas in the non-image portion. Is only the electric resistance of the intermediate transfer member. That is, the non-image portion where the toner image does not exist has a lower electrical resistance than the image portion where the toner image exists, and therefore the primary transfer current concentrates and flows into the non-image portion of the photosensitive member. Is easy to accumulate. As described above, when the next image formation is performed in a state where a large amount of charge accumulation has occurred between the image portion and the non-image portion, in the charging process, the non-image portion in the previous image has a polarity opposite to the charged potential. Since a large amount of charge is accumulated, the surface charge is canceled out and charging failure is likely to occur. As a result, a non-image portion in the previous image appears as a history image of the previous image in the next image, and it is estimated that a ghost is generated.
このように、従来の中間転写方式の画像形成装置で高速の画像形成を行うと、一次転写電流値が従来の値であれば転写不良が起こり、中間転写体の体積抵抗率の調整及び高い一次転写電流値の設定により転写不良を抑制しようとするとゴーストが起こりやすくなる。そのため、転写不良に起因する画像欠陥とゴーストとの両方が抑制された画像を得ることは困難であった。 As described above, when high-speed image formation is performed by a conventional intermediate transfer type image forming apparatus, if the primary transfer current value is a conventional value, transfer failure occurs, and the volume resistivity of the intermediate transfer member is adjusted and a high primary transfer is performed. If an attempt is made to suppress a transfer failure by setting a transfer current value, a ghost is likely to occur. For this reason, it has been difficult to obtain an image in which both image defects and ghosts due to transfer defects are suppressed.
これに対して本実施形態では、下引層における単位面積あたりの静電容量、中間転写体の体積抵抗率の常用対数値、及び軸方向の単位長さ(mm)あたりの一次転写電流値をそれぞれ前記範囲とすることで、高速の画像形成を行っても、転写不良に起因する画像欠陥とゴーストとの両方が抑制される。
具体的には、本実施形態では、中間転写体の体積抵抗率の常用対数値及び軸方向の単位長さ(mm)あたりの一次転写電流値がそれぞれ前記範囲であるため、高速で画像形成を行っても一次転写における転写不良が抑制される。加えて、本実施形態では、下引層における単位面積あたりの静電容量が上記範囲であるため、一次転写電流値を高速での画像形成に適切な前記範囲に設定しても、ゴーストが生じにくい。
On the other hand, in this embodiment, the electrostatic capacity per unit area in the undercoat layer, the common logarithm of the volume resistivity of the intermediate transfer member, and the primary transfer current value per unit length (mm) in the axial direction are obtained. By setting each of the ranges, both image defects and ghosts caused by transfer defects are suppressed even when high-speed image formation is performed.
Specifically, in this embodiment, the common logarithmic value of the volume resistivity of the intermediate transfer member and the primary transfer current value per unit length (mm) in the axial direction are each in the above range, so that image formation can be performed at high speed. Even if the transfer is performed, transfer defects in the primary transfer are suppressed. In addition, in this embodiment, since the capacitance per unit area in the undercoat layer is in the above range, a ghost is generated even if the primary transfer current value is set in the above range suitable for image formation at high speed. Hateful.
以上の理由により、本実施形態の画像形成装置は、中間転写方式の画像形成装置において、下引層における単位面積あたりの静電容量を1.0×10−9F/cm2以上1.5×10−8F/cm2以下とし、中間転写体の体積抵抗率の常用対数値を8.0logΩ・cm以上12.0logΩ・cm以下とし、かつ、一次転写手段における一次転写電流値を15(μA/mm)以上19(μA/mm)以下することで、転写不良に起因する画像欠陥の抑制と、ゴーストの抑制と、を両立すると推測される。 For the above reasons, the image forming apparatus according to the present embodiment is an intermediate transfer type image forming apparatus having a capacitance per unit area in the undercoat layer of 1.0 × 10 −9 F / cm 2 or more and 1.5 or more. × 10 −8 F / cm 2 or less, the common logarithmic value of the volume resistivity of the intermediate transfer member is 8.0 logΩ · cm or more and 12.0 logΩ · cm or less, and the primary transfer current value in the primary transfer means is 15 ( It is presumed that both the suppression of image defects caused by transfer defects and the suppression of ghosts can be achieved by adjusting the ratio between μA / mm and 19 (μA / mm).
ここで、本実施形態に係る画像形成装置は、記録媒体の表面に転写されたトナー像を定着する定着手段を備える装置;トナー像の転写後、帯電前の電子写真感光体の表面をクリーニングするクリーニング手段を備えた装置;トナー像の転写後、帯電前に電子写真感光体の表面に除電光を照射して除電する除電手段を備える装置;電子写真感光体の温度を上昇させ、相対温度を低減させるための電子写真感光体加熱部材を備える装置等の周知の画像形成装置が適用される。 Here, the image forming apparatus according to the present embodiment includes a fixing unit that fixes the toner image transferred to the surface of the recording medium; after the toner image is transferred, the surface of the electrophotographic photosensitive member before charging is cleaned. An apparatus equipped with a cleaning means; an apparatus equipped with a charge removing means for discharging the surface of the electrophotographic photosensitive member by irradiating the surface of the electrophotographic photosensitive member before charging after transferring the toner image; raising the temperature of the electrophotographic photosensitive member to A known image forming apparatus such as an apparatus provided with an electrophotographic photosensitive member heating member for reduction is applied.
本実施形態に係る画像形成装置は、乾式現像方式の画像形成装置、湿式現像方式(液体現像剤を利用した現像方式)の画像形成装置のいずれであってもよい。 The image forming apparatus according to the present embodiment may be either a dry developing type image forming apparatus or a wet developing type (developing type using a liquid developer).
なお、本実施形態に係る画像形成装置において、例えば、電子写真感光体を備える部分が、画像形成装置に対して着脱されるカートリッジ構造(プロセスカートリッジ)であってもよい。また、プロセスカートリッジには、電子写真感光体以外に、例えば、帯電手段、静電潜像形成手段、現像手段、転写手段からなる群から選択される少なくとも一つを備えてもよい。 In the image forming apparatus according to the present embodiment, for example, the part including the electrophotographic photosensitive member may have a cartridge structure (process cartridge) that is detachable from the image forming apparatus. In addition to the electrophotographic photosensitive member, the process cartridge may include at least one selected from the group consisting of a charging unit, an electrostatic latent image forming unit, a developing unit, and a transfer unit.
以下、図面を参照しつつ、本実施形態に係る画像形成装置について詳細に説明する。 Hereinafter, the image forming apparatus according to the present embodiment will be described in detail with reference to the drawings.
図1は、本実施形態に係る画像形成装置の一例を示す概略構成図である。
本実施形態に係る画像形成装置100は、図1に示すように、電子写真感光体7を備えるプロセスカートリッジ300と、露光装置9(静電潜像形成手段の一例)と、転写装置40(一次転写装置)と、中間転写体50とを備える。なお、画像形成装置100において、露光装置9はプロセスカートリッジ300の開口部から電子写真感光体7に露光し得る位置に配置されており、転写装置40は中間転写体50を介して電子写真感光体7に対向する位置に配置されており、中間転写体50はその一部が電子写真感光体7に接触して配置されている。図示しないが、中間転写体50に転写されたトナー像を記録媒体(例えば用紙)に転写する二次転写装置も有している。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram illustrating an example of an image forming apparatus according to the present embodiment.
As shown in FIG. 1, an image forming apparatus 100 according to this embodiment includes a process cartridge 300 including an electrophotographic photosensitive member 7, an exposure device 9 (an example of an electrostatic latent image forming unit), and a transfer device 40 (primary. Transfer device) and an intermediate transfer member 50. In the image forming apparatus 100, the exposure device 9 is disposed at a position where the electrophotographic photosensitive member 7 can be exposed from the opening of the process cartridge 300, and the transfer device 40 is interposed between the electrophotographic photosensitive member via the intermediate transfer member 50. 7, and a part of the intermediate transfer member 50 is disposed in contact with the electrophotographic photosensitive member 7. Although not shown, it also has a secondary transfer device that transfers the toner image transferred to the intermediate transfer member 50 to a recording medium (for example, paper).
なお、転写装置40が一次転写手段の一例に相当し、二次転写装置(不図示)が二次転写手段の一例に相当する。 The transfer device 40 corresponds to an example of a primary transfer unit, and the secondary transfer device (not shown) corresponds to an example of a secondary transfer unit.
図1におけるプロセスカートリッジ300は、ハウジング内に、電子写真感光体7、帯電装置8(帯電手段の一例)、現像装置11(現像手段の一例)、及びクリーニング装置13(クリーニング手段の一例)を一体に支持している。クリーニング装置13は、クリーニングブレード(クリーニング部材の一例)131を有しており、クリーニングブレード131は、電子写真感光体7の表面に接触するように配置されている。なお、クリーニング部材は、クリーニングブレード131の態様ではなく、導電性又は絶縁性の繊維状部材であってもよく、これを単独で、又はクリーニングブレード131と併用してもよい。 A process cartridge 300 in FIG. 1 includes an electrophotographic photosensitive member 7, a charging device 8 (an example of a charging unit), a developing device 11 (an example of a developing unit), and a cleaning device 13 (an example of a cleaning unit) in a housing. I support it. The cleaning device 13 includes a cleaning blade (an example of a cleaning member) 131, and the cleaning blade 131 is disposed so as to contact the surface of the electrophotographic photosensitive member 7. The cleaning member may be a conductive or insulating fibrous member instead of the cleaning blade 131, and may be used alone or in combination with the cleaning blade 131.
なお、図1には、画像形成装置として、潤滑材14を電子写真感光体7の表面に供給する繊維状部材132(ロール状)、及び、クリーニングを補助する繊維状部材133(平ブラシ状)を備えた例を示してあるが、これらは必要に応じて配置される。 In FIG. 1, as an image forming apparatus, a fibrous member 132 (roll shape) for supplying the lubricant 14 to the surface of the electrophotographic photosensitive member 7 and a fibrous member 133 (flat brush shape) for assisting in cleaning are shown. Examples are provided, but these are arranged as necessary.
以下、本実施形態に係る画像形成装置の各構成について説明する。 Hereinafter, each configuration of the image forming apparatus according to the present embodiment will be described.
<電子写真感光体>
電子写真感光体7としては、導電性基体と、導電性基体上に設けられた下引層と、下引層上に設けられた感光層と、を有する構成の感光体が適用される。
なお、感光層は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能分離型の感光層(以下「機能分離型感光層」ともいう)であってもよいし、単層型の感光層(以下「単層型感光層」ともいう)であってもよい。感光層が機能分離型感光層である場合、電荷発生層に電荷発生材料を含み、電荷輸送層に電荷輸送材料を含む。
<Electrophotographic photoreceptor>
As the electrophotographic photoreceptor 7, a photoreceptor having a conductive substrate, an undercoat layer provided on the conductive substrate, and a photosensitive layer provided on the undercoat layer is applied.
The photosensitive layer may be a function separation type photosensitive layer having a charge generation layer and a charge transport layer (hereinafter also referred to as “function separation type photosensitive layer”), or a single layer type photosensitive layer (hereinafter “ Also referred to as “single-layer type photosensitive layer”). When the photosensitive layer is a function separation type photosensitive layer, the charge generation layer contains a charge generation material, and the charge transport layer contains a charge transport material.
以下、図面を参照しつつ、本実施形態に係る電子写真感光体を詳細に説明する。
図2は、電子写真感光体7の層構成の一例として示した電子写真感光体7Aの模式断面図である。図2に示す電子写真感光体7Aは、導電性基体1上に、下引層3、電荷発生層4、及び電荷輸送層5がこの順序で積層された構造を有する。そして、電荷発生層4及び電荷輸送層5が機能分離型感光層6を構成している。
なお、電子写真感光体7Aは、必要に応じてその他の層を設けてもよい。必要に応じて設けられる層としては、例えば、電荷輸送層5上に更に設けられる保護層等が挙げられる。
Hereinafter, the electrophotographic photoreceptor according to the exemplary embodiment will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of the electrophotographic photoreceptor 7A shown as an example of the layer structure of the electrophotographic photoreceptor 7. As shown in FIG. An electrophotographic photoreceptor 7A shown in FIG. 2 has a structure in which an undercoat layer 3, a charge generation layer 4, and a charge transport layer 5 are laminated in this order on a conductive substrate 1. The charge generation layer 4 and the charge transport layer 5 constitute a function separation type photosensitive layer 6.
The electrophotographic photoreceptor 7A may be provided with other layers as necessary. Examples of the layer provided as necessary include a protective layer further provided on the charge transport layer 5.
図3は、電子写真感光体7の層構成の他の一例として示した電子写真感光体7Bの模式断面図である。図3に示した電子写真感光体7Bは、例えば、導電性基体1上に、下引層3及び単層型感光層2がこの順序で積層された構造を有する。
なお、電子写真感光体7Bは、必要に応じてその他の層を設けてもよい。必要に応じて設けられる層としては、例えば、単層型感光層2上に更に設けられる保護層等が挙げられる。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of an electrophotographic photoreceptor 7B shown as another example of the layer configuration of the electrophotographic photoreceptor 7. The electrophotographic photoreceptor 7B shown in FIG. 3 has, for example, a structure in which an undercoat layer 3 and a single-layer type photosensitive layer 2 are laminated in this order on a conductive substrate 1.
The electrophotographic photoreceptor 7B may be provided with other layers as necessary. Examples of the layer provided as necessary include a protective layer further provided on the single-layer type photosensitive layer 2.
以下、電子写真感光体7の各層について詳細に説明する。なお、符号は省略して説明する。 Hereinafter, each layer of the electrophotographic photoreceptor 7 will be described in detail. Note that the reference numerals are omitted.
(導電性基体)
導電性基体としては、例えば、金属(アルミニウム、銅、亜鉛、クロム、ニッケル、モリブデン、バナジウム、インジウム、金、白金等)又は合金(ステンレス鋼等)を含む金属板、金属ドラム、及び金属ベルト等が挙げられる。また、導電性基体としては、例えば、導電性化合物(例えば導電性ポリマー、酸化インジウム等)、金属(例えばアルミニウム、パラジウム、金等)又は合金を塗布、蒸着又はラミネートした紙、樹脂フィルム、ベルト等も挙げられる。ここで、「導電性」とは体積抵抗率が1013Ω・cm未満であることをいう。
(Conductive substrate)
Examples of the conductive substrate include metal plates (eg, aluminum, copper, zinc, chromium, nickel, molybdenum, vanadium, indium, gold, platinum, etc.) or alloys (stainless steel, etc.), metal drums, metal belts, etc. Is mentioned. In addition, as the conductive substrate, for example, paper, resin film, belt, etc. coated, vapor-deposited or laminated with a conductive compound (for example, conductive polymer, indium oxide, etc.), metal (for example, aluminum, palladium, gold, etc.) or an alloy, etc. Also mentioned. Here, “conductive” means that the volume resistivity is less than 10 13 Ω · cm.
導電性基体の表面は、電子写真感光体がレーザプリンタに使用される場合、レーザ光を照射する際に生じる干渉縞を抑制する目的で、中心線平均粗さRaで0.04μm以上0.5μm以下に粗面化されていることが好ましい。なお、非干渉光を光源に用いる場合、干渉縞防止の粗面化は、特に必要ないが、導電性基体の表面の凹凸による欠陥の発生を抑制するため、より長寿命化に適する。 When the electrophotographic photosensitive member is used in a laser printer, the surface of the conductive substrate has a center line average roughness Ra of 0.04 μm or more and 0.5 μm for the purpose of suppressing interference fringes generated when laser light is irradiated. The surface is preferably roughened below. When non-interfering light is used as a light source, roughening for preventing interference fringes is not particularly required, but it is suitable for extending the life because it suppresses generation of defects due to irregularities on the surface of the conductive substrate.
粗面化の方法としては、例えば、研磨剤を水に懸濁させて支持体に吹き付けることによって行う湿式ホーニング、回転する砥石に導電性基体を圧接し、連続的に研削加工を行うセンタレス研削、陽極酸化処理等が挙げられる。 As a roughening method, for example, wet honing performed by suspending an abrasive in water and spraying it on a support, centerless grinding in which a conductive substrate is pressed against a rotating grindstone, and grinding is continuously performed, Anodizing treatment etc. are mentioned.
粗面化の方法としては、導電性基体の表面を粗面化することなく、導電性又は半導電性粉体を樹脂中に分散させて、導電性基体の表面上に層を形成し、その層中に分散させる粒子により粗面化する方法も挙げられる。 As a roughening method, without roughening the surface of the conductive substrate, conductive or semiconductive powder is dispersed in the resin to form a layer on the surface of the conductive substrate. The method of roughening by the particle | grains disperse | distributed in a layer is also mentioned.
陽極酸化による粗面化処理は、金属製(例えばアルミニウム製)の導電性基体を陽極とし電解質溶液中で陽極酸化することにより導電性基体の表面に酸化膜を形成するものである。電解質溶液としては、例えば、硫酸溶液、シュウ酸溶液等が挙げられる。しかし、陽極酸化により形成された多孔質陽極酸化膜は、そのままの状態では化学的に活性であり、汚染され易く、環境による抵抗変動も大きい。そこで、多孔質陽極酸化膜に対して、酸化膜の微細孔を加圧水蒸気又は沸騰水中(ニッケル等の金属塩を加えてもよい)で水和反応による体積膨張でふさぎ、より安定な水和酸化物に変える封孔処理を行うことが好ましい。 In the roughening treatment by anodic oxidation, a metal (for example, aluminum) conductive substrate is used as an anode, and an oxide film is formed on the surface of the conductive substrate by anodizing in an electrolyte solution. Examples of the electrolyte solution include a sulfuric acid solution and an oxalic acid solution. However, the porous anodic oxide film formed by anodic oxidation is chemically active as it is, easily contaminated, and has a large resistance fluctuation due to the environment. Therefore, the pores of the oxide film are blocked by the volume expansion due to the hydration reaction in pressurized water vapor or boiling water (a metal salt such as nickel may be added) against the porous anodic oxide film, and more stable hydration oxidation It is preferable to perform a sealing treatment for changing to a product.
陽極酸化膜の膜厚は、例えば、0.3μm以上15μm以下が好ましい。この膜厚が上記範囲内にあると、注入に対するバリア性が発揮される傾向があり、また繰り返し使用による残留電位の上昇が抑えられる傾向にある。 The thickness of the anodized film is preferably, for example, 0.3 μm or more and 15 μm or less. When this film thickness is within the above range, the barrier property against implantation tends to be exhibited, and the increase in residual potential due to repeated use tends to be suppressed.
導電性基体には、酸性処理液による処理又はベーマイト処理を施してもよい。
酸性処理液による処理は、例えば、以下のようにして実施される。先ず、リン酸、クロム酸及びフッ酸を含む酸性処理液を調製する。酸性処理液におけるリン酸、クロム酸及びフッ酸の配合割合は、例えば、リン酸が10質量%以上11質量%以下の範囲、クロム酸が3質量%以上5質量%以下の範囲、フッ酸が0.5質量%以上2質量%以下の範囲であって、これらの酸全体の濃度は13.5質量%以上18質量%以下の範囲がよい。処理温度は例えば42℃以上48℃以下が好ましい。被膜の膜厚は、0.3μm以上15μm以下が好ましい。
The conductive substrate may be treated with an acidic treatment liquid or boehmite treatment.
The treatment with the acidic treatment liquid is performed as follows, for example. First, an acidic treatment liquid containing phosphoric acid, chromic acid and hydrofluoric acid is prepared. The mixing ratio of phosphoric acid, chromic acid and hydrofluoric acid in the acidic treatment liquid is, for example, in the range of 10% by mass to 11% by mass of phosphoric acid, in the range of 3% by mass to 5% by mass of chromic acid, The concentration of these acids is preferably in the range of 13.5% by mass or more and 18% by mass or less. The treatment temperature is preferably 42 ° C. or higher and 48 ° C. or lower, for example. The film thickness is preferably from 0.3 μm to 15 μm.
ベーマイト処理は、例えば90℃以上100℃以下の純水中に5分から60分間浸漬すること、又は90℃以上120℃以下の加熱水蒸気に5分から60分間接触させて行う。被膜の膜厚は、0.1μm以上5μm以下が好ましい。これをさらにアジピン酸、硼酸、硼酸塩、燐酸塩、フタル酸塩、マレイン酸塩、安息香酸塩、酒石酸塩、クエン酸塩等の被膜溶解性の低い電解質溶液を用いて陽極酸化処理してもよい。 The boehmite treatment is performed, for example, by immersing in pure water of 90 ° C. or more and 100 ° C. or less for 5 minutes to 60 minutes or by contacting with heated steam of 90 ° C. or more and 120 ° C. or less for 5 minutes to 60 minutes. The film thickness is preferably 0.1 μm or more and 5 μm or less. This may be further anodized using an electrolyte solution with low film solubility such as adipic acid, boric acid, borate, phosphate, phthalate, maleate, benzoate, tartrate, citrate, etc. Good.
(下引層)
下引層は、導電性基体と感光層との間に設けられ、単位面積あたりの静電容量1.0×10−9F/cm2以上1.5×10−8F/cm2以下である層である。
前述のように、下引層における単位面積あたりの静電容量が上記範囲であることにより、上記範囲よりも小さい場合に比べてゴーストが抑制される。また、下引層における単位面積あたりの静電容量が上記範囲であることにより、上記範囲よりも大きい場合に比べて実機走行中の下引層内のイオン性物質の移動に伴う高抵抗化にて高光量の光照射時の電位上昇が抑制される。
また、下引層における単位面積あたりの静電容量は、転写不良の抑制及びゴーストの抑制を両立する観点から、5.0×10−9F/cm2以上1.0×10−8F/cm2以下が好ましく、5.0×10−9F/cm2以上8.0×10−9F/cm2以下がより好ましい。
(Undercoat layer)
The undercoat layer is provided between the conductive substrate and the photosensitive layer, and has a capacitance per unit area of 1.0 × 10 −9 F / cm 2 or more and 1.5 × 10 −8 F / cm 2 or less. It is a certain layer.
As described above, when the capacitance per unit area in the undercoat layer is in the above range, ghosts are suppressed as compared with a case where the capacitance is smaller than the above range. In addition, since the capacitance per unit area in the undercoat layer is in the above range, the resistance increases due to the movement of the ionic substance in the undercoat layer during actual machine travel compared to the case where it is larger than the above range. Therefore, the potential rise during irradiation with a high amount of light is suppressed.
In addition, the capacitance per unit area in the undercoat layer is 5.0 × 10 −9 F / cm 2 or more and 1.0 × 10 −8 F / cm from the viewpoint of achieving both transfer defect suppression and ghost suppression. It is preferably cm 2 or less, more preferably 5.0 × 10 −9 F / cm 2 or more and 8.0 × 10 −9 F / cm 2 or less.
ここで、下引層における単位面積あたりの静電容量を求める方法について説明する。
例えば、電子写真感光体の各層を構成する導電性有機膜の等価回路としては、一般的に、抵抗(抵抗値:R)とコンデンサー(静電容量:C)との並列回路が適用される。抵抗値R、及び静電容量Cが不明な並列回路において、抵抗値Rと静電容量Cとを解析・算出する方法として、コール・コールプロット(Cole・Cole Plot)解析が挙げられる。
コール・コールプロット解析とは、抵抗値R及び静電容量Cが不明の並列回路(例えば、導電性有機膜)の両端に電極を取り付け、両電極間に、周波数を変化させながら交流電圧を印加し、印加させた電圧と得られた電流の位相関係を解析する方法である。この方法により、上記並列回路の抵抗値R及び静電容量Cを求め、静電容量Cの値と取り付けた電極の面積の値とから、単位面積あたりの静電容量を求める。
Here, a method for obtaining the capacitance per unit area in the undercoat layer will be described.
For example, in general, a parallel circuit of a resistor (resistance value: R) and a capacitor (capacitance: C) is applied as an equivalent circuit of the conductive organic film constituting each layer of the electrophotographic photosensitive member. As a method for analyzing and calculating the resistance value R and the capacitance C in a parallel circuit in which the resistance value R and the capacitance C are unknown, a Cole-Cole Plot analysis is given.
In Cole-Cole plot analysis, electrodes are attached to both ends of a parallel circuit (eg, conductive organic film) whose resistance value R and capacitance C are unknown, and an AC voltage is applied between both electrodes while changing the frequency. In this method, the phase relationship between the applied voltage and the obtained current is analyzed. By this method, the resistance value R and the capacitance C of the parallel circuit are obtained, and the capacitance per unit area is obtained from the value of the capacitance C and the value of the area of the attached electrode.
具体的には、例えば、まず下引層の外周面に対向電極としてφ6mmの金電極を真空蒸着法にて形成し、常温常湿(22℃/50%RH)において、ソーラトロン社製インピーダンスアナライザー126096W型により測定を行う。
測定条件としては、例えば、DCバイアス(直流印加電圧):0V、AC(交流印加電圧):±1V、周波数:1Hz以上100Hz以下の範囲が挙げられる。
得られた測定結果から、コール・コールプロット解析により上記静電容量Cが求められ、対向電極の電極面積S(cm2)で除することにより、下引層における単位面積あたりの静電容量が算出される。
Specifically, for example, a φ6 mm gold electrode is first formed on the outer peripheral surface of the undercoat layer as a counter electrode by a vacuum vapor deposition method, and impedance analyzer 126096W manufactured by Solartron at room temperature and normal humidity (22 ° C./50% RH). Measure by mold.
Examples of the measurement conditions include DC bias (direct current applied voltage): 0 V, AC (alternating current applied voltage): ± 1 V, frequency: 1 Hz to 100 Hz.
From the obtained measurement results, the capacitance C is obtained by Cole-Cole plot analysis. By dividing by the electrode area S (cm 2 ) of the counter electrode, the capacitance per unit area in the undercoat layer is Calculated.
なお、測定対象となる感光体から、上記単位面積あたりの静電容量を測定する方法としては、例えば以下の方法が挙げられる。
まず、測定対象となる感光体を準備する。次に、例えば、下引層を被覆している電荷発生層、及び電荷輸送層等の感光層をアセトン、テトラヒドロフラン、メタノール、エタノール等の溶剤を用いて除去し、下引層を露出させる。そして、露出された下引層上に真空蒸着法やスパッタ法等の手段により金電極を装着して、測定用試料とする。そして、この測定用試料について測定を行い、単位面積あたりの静電容量を求める。
Examples of the method for measuring the capacitance per unit area from the photoconductor to be measured include the following methods.
First, a photoconductor to be measured is prepared. Next, for example, the charge generation layer covering the undercoat layer and the photosensitive layer such as the charge transport layer are removed using a solvent such as acetone, tetrahydrofuran, methanol, ethanol, etc. to expose the undercoat layer. Then, a gold electrode is mounted on the exposed undercoat layer by means such as a vacuum deposition method or a sputtering method to obtain a measurement sample. And it measures about this sample for a measurement, and calculates | requires the electrostatic capacitance per unit area.
下引層における単位面積あたりの静電容量を制御する方法としては、特に制限されるものではないが、下引層が結着樹脂と金属酸化物粒子と電子受容性化合物とを含有する層である場合、例えば、下引層内における金属酸化物粒子の分散度を調整する方法、金属酸化物粒子の粒径を調整する方法、金属酸化物粒子の表面処理量(すなわち、金属酸化物粒子の表面処理に用いる表面処理剤の量)を調整する方法、金属酸化物粒子の含有量(金属酸化物粒子の表面に表面処理剤が付着している場合は表面処理剤も含む含有量)を調整する方法、金属酸化物粒子の表面処理剤の種類と結着樹脂の種類との組み合わせを変える方法、及び電子受容性化合物の含有量を調整する方法、並びにこれらを組み合わせる方法等が挙げられる。 The method for controlling the capacitance per unit area in the undercoat layer is not particularly limited, but the undercoat layer is a layer containing a binder resin, metal oxide particles, and an electron accepting compound. In some cases, for example, a method of adjusting the degree of dispersion of the metal oxide particles in the undercoat layer, a method of adjusting the particle size of the metal oxide particles, the surface treatment amount of the metal oxide particles (ie, the metal oxide particles Adjusting the method of adjusting the amount of the surface treatment agent used for the surface treatment), the content of the metal oxide particles (the content including the surface treatment agent if the surface treatment agent is attached to the surface of the metal oxide particles) For example, a method for changing the combination of the type of the surface treatment agent for the metal oxide particles and the type of the binder resin, a method for adjusting the content of the electron-accepting compound, a method for combining these, and the like.
具体的には、各種材料の種類、組み合わせ、及び含有量等の条件によって適切な調整方法が変わるが、例えば、金属酸化物粒子の分散度を下げると下引層の静電容量が下がり、金属酸化物粒子の分散度を上げると下引層の静電容量が上がる傾向がある。
金属酸化物粒子を分散させた下引層形成用塗布液の塗膜を形成して下引層を形成する場合、形成された下引層の膜中に、例えば、金属酸化物粒子の一次粒子とともに、一次粒子が凝集した二次粒子が存在することがある。二次粒子の金属酸化物粒子は、一次粒子に比べて粒径が大きく、この二次粒子の存在によって電荷が移動する経路が形成されやすい。そのため、例えば、金属酸化物粒子の分散度を調整して、二次粒子の金属酸化物粒子を制御することによって、下引層の単位面積当たりの静電容量が制御される。
具体的には、金属酸化物粒子の分散度が低い場合(すなわち金属酸化物粒子の分散粒径が大きい場合)、下引層中での電荷の移動度が高くなり、単位面積当たりの静電容量が低下し易くなる。一方、金属酸化物粒子の分散度が高い場合(すなわち金属酸化物粒子の分散粒径が小さい場合)、下引層中での電荷の移動度が低くなり、単位面積当たりの静電容量が増大し易くなる傾向がある。
なお、分散度を調整する方法は、例えば、下引層形成用塗布液を形成する際における金属酸化物粒子の分散時間等によって調整する方法が挙げられる。
Specifically, the appropriate adjustment method varies depending on conditions such as the type, combination, and content of various materials. For example, when the degree of dispersion of the metal oxide particles is decreased, the capacitance of the undercoat layer decreases, and the metal Increasing the degree of dispersion of the oxide particles tends to increase the capacitance of the undercoat layer.
When forming the coating layer of the coating solution for forming the undercoat layer in which the metal oxide particles are dispersed to form the undercoat layer, for example, primary particles of the metal oxide particles are formed in the formed undercoat layer film. At the same time, there may be secondary particles in which the primary particles are aggregated. The metal oxide particles of the secondary particles have a larger particle size than the primary particles, and the presence of the secondary particles tends to form a path through which charges move. Therefore, for example, the capacitance per unit area of the undercoat layer is controlled by adjusting the degree of dispersion of the metal oxide particles and controlling the metal oxide particles of the secondary particles.
Specifically, when the dispersity of the metal oxide particles is low (that is, when the disperse particle size of the metal oxide particles is large), the charge mobility in the undercoat layer increases, and the electrostatic capacity per unit area is increased. The capacity tends to decrease. On the other hand, when the dispersity of the metal oxide particles is high (that is, when the disperse particle size of the metal oxide particles is small), the charge mobility in the undercoat layer is low, and the capacitance per unit area is increased. It tends to be easy to do.
Examples of the method for adjusting the degree of dispersion include a method for adjusting the dispersion time of the metal oxide particles when forming the coating liquid for forming the undercoat layer.
また、例えば、金属酸化物粒子の粒径を大きくすると下引層の静電容量が下がり、金属酸化物粒子の粒径を小さくすると下引層の静電容量が上がる傾向がある。
さらに、金属酸化物粒子としてアミノ基を有するシランカップリング剤により表面処理した酸化亜鉛粒子を用い、結着樹脂としてアセタール樹脂を用いた場合、例えば、金属酸化物粒子の表面処理量を多くすると金属酸化物粒子の分散度が下がることで下引層の静電容量が下がり、金属酸化物粒子の表面処理量を少なくすると金属酸化物粒子の分散度が上がることで下引層の静電容量が上がる傾向がある。
また、例えば、金属酸化物粒子の含有量を多くすると結着樹脂量が少なくなることで下引層の静電容量が下がり、金属酸化物粒子の含有量を少なくすると結着樹脂量が多くなることで下引層の静電容量が上がる傾向がある。
また、例えば、電子受容性化合物の含有量を多くすると下引層の静電容量が下がり、電子受容性化合物の含有量を少なくすると下引層の静電容量が上がる傾向がある。
以下、下引層の一例として、結着樹脂と金属酸化物粒子と電子受容性化合物とを含有する層について、材料、製造方法、及び特性等を説明する。
For example, when the particle size of the metal oxide particles is increased, the capacitance of the undercoat layer tends to decrease, and when the particle size of the metal oxide particles is decreased, the capacitance of the undercoat layer tends to increase.
Further, when zinc oxide particles surface-treated with a silane coupling agent having an amino group are used as metal oxide particles and an acetal resin is used as a binder resin, for example, if the surface treatment amount of the metal oxide particles is increased, Decreasing the degree of dispersion of the oxide particles reduces the capacitance of the undercoat layer. Decreasing the surface treatment amount of the metal oxide particles increases the degree of dispersion of the metal oxide particles, thereby increasing the capacitance of the undercoat layer. There is a tendency to go up.
Further, for example, when the content of the metal oxide particles is increased, the amount of the binder resin is decreased, so that the capacitance of the undercoat layer is decreased. When the content of the metal oxide particles is decreased, the amount of the binder resin is increased. This tends to increase the capacitance of the undercoat layer.
For example, when the content of the electron-accepting compound is increased, the capacitance of the undercoat layer tends to decrease, and when the content of the electron-accepting compound is decreased, the capacitance of the undercoat layer tends to increase.
Hereinafter, as an example of the undercoat layer, materials, manufacturing methods, characteristics, and the like of the layer containing the binder resin, the metal oxide particles, and the electron accepting compound will be described.
−金属酸化物粒子−
金属酸化物粒子としては、例えば、酸化錫粒子、酸化チタン粒子、酸化亜鉛粒子、酸化ジルコニウム粒子等が挙げられ、その中でも、酸化錫粒子、酸化チタン粒子、及び酸化亜鉛粒子から選ばれる少なくとも1種が好ましく、酸化亜鉛粒子がより好ましい。
-Metal oxide particles-
Examples of the metal oxide particles include tin oxide particles, titanium oxide particles, zinc oxide particles, zirconium oxide particles and the like. Among them, at least one selected from tin oxide particles, titanium oxide particles, and zinc oxide particles. Are preferable, and zinc oxide particles are more preferable.
金属酸化物粒子の体積平均一次粒径としては、例えば、10nm以上100nm以下が挙げられる。
金属酸化物粒子の体積平均一次粒径が上記範囲であることにより、上記範囲よりも小さい場合に比べて、金属酸化物粒子の表面積が大きすぎることによる分散液中での偏在が抑制される。また、金属酸化物粒子の体積平均一次粒径が上記範囲であることにより、上記範囲よりも大きい場合に比べて、二次粒子又はそれ以上の高次粒子の粒径が大きすぎることによる下引層内での偏在が抑制される。なお、上記下引層内での偏在が起こると、下引層内で金属酸化物粒子の存在する部分と存在しない部分とで構成された海島構造が形成され、ハーフトーン濃度のムラ等の画像欠陥が発生することがある。
また、金属酸化物粒子の体積平均一次粒径は、下引層における単位面積当たりの静電容量を前記範囲に調整する観点から、20nm以上70nm以下が好ましく、30nm以上60nm以下がより好ましい。
Examples of the volume average primary particle size of the metal oxide particles include 10 nm or more and 100 nm or less.
When the volume average primary particle size of the metal oxide particles is in the above range, uneven distribution in the dispersion due to the surface area of the metal oxide particles being too large is suppressed as compared with the case where the volume average primary particle size is smaller than the above range. Further, since the volume average primary particle size of the metal oxide particles is in the above range, the subtraction due to the particle size of secondary particles or higher particles being too large compared to the case where the volume average primary particle size is larger than the above range. The uneven distribution in the layer is suppressed. When uneven distribution occurs in the undercoat layer, a sea-island structure composed of a portion where the metal oxide particles are present and a portion where the metal oxide particles are not present is formed in the undercoat layer. Defects may occur.
Further, the volume average primary particle size of the metal oxide particles is preferably 20 nm or more and 70 nm or less, and more preferably 30 nm or more and 60 nm or less, from the viewpoint of adjusting the capacitance per unit area in the undercoat layer to the above range.
金属酸化物粒子の体積平均一次粒径の測定は、レーザ回折式粒度分布測定装置(LA−700:堀場製作所製)を用いて測定を行う。測定法としては、分散液となっている状態の試料を固形分で2gになるように調整し、これにイオン交換水を添加して、40mlにする。これをセルに適当な濃度になるまで投入し、2分待ったところで測定する。得られたチャンネルごとの粒径を体積基準で小さい方から累積し、累積50%になったところを体積平均一次粒径とする。 The volume average primary particle size of the metal oxide particles is measured using a laser diffraction particle size distribution analyzer (LA-700: manufactured by Horiba, Ltd.). As a measuring method, the sample in the state of dispersion is adjusted so as to have a solid content of 2 g, and ion exchange water is added thereto to make 40 ml. This is put into a cell until an appropriate concentration is reached, and measurement is performed after waiting for 2 minutes. The obtained particle diameters for each channel are accumulated from the smaller one on a volume basis, and the volume average primary particle diameter is determined when the accumulation reaches 50%.
金属酸化物粒子の体積抵抗率としては、例えば、104Ω・cm以上1010Ω・cm以下が挙げられる。
下引層は、電子写真プロセス速度に対応した周波数で適切なインピーダンスを得ることが好ましく、その観点で、金属酸化物粒子の体積抵抗率が上記範囲であることが好ましい。すなわち、金属酸化物粒子の体積抵抗率が上記範囲であることにより、上記範囲よりも低い場合に比べて、インピーダンスの粒子含有量依存性の傾きが小さくなり、インピーダンスの制御困難性が抑制されやすくなる。また、金属酸化物粒子の体積抵抗率が上記範囲であることにより、上記範囲よりも高い場合に比べて、残留電位の上昇が抑制されやすくなる。
Examples of the volume resistivity of the metal oxide particles include 10 4 Ω · cm to 10 10 Ω · cm.
The undercoat layer preferably obtains an appropriate impedance at a frequency corresponding to the electrophotographic process speed. From this viewpoint, the volume resistivity of the metal oxide particles is preferably in the above range. That is, when the volume resistivity of the metal oxide particles is in the above range, the slope of the dependency of impedance on the particle content becomes smaller than in the case where the volume resistivity is lower than the above range, and the difficulty in controlling the impedance is easily suppressed. Become. Further, when the volume resistivity of the metal oxide particles is in the above range, an increase in the residual potential is easily suppressed as compared with a case where the volume resistivity is higher than the above range.
金属酸化物粒子の体積抵抗率は、次のようにして測定する。なお、測定環境は、温度20℃、湿度50%RHとする。
まず、層中から金属酸化物粒子を分離する。そして、20cm2の電極板を配した円形の治具の表面に、測定対象となる分離した金属酸化物粒子を1mm以上3mm以下程度の厚さになるように載せ、金属酸化物粒子層を形成する。この上に前記同様の20cm2の電極板を載せ金属酸化物粒子層を挟み込む。金属酸化物粒子間の空隙をなくすため、金属酸化物粒子層上に載せた電極板の上に4kgの荷重をかけてから金属酸化物粒子層の厚み(cm)を測定する。金属酸化物粒子層上下の両電極には、エレクトロメーター及び高圧電源発生装置に接続されている。両電極に電界が予め定められた値となるように高電圧を印加し、このとき流れた電流値(A)を読み取ることにより、金属酸化物粒子の体積抵抗率(Ω・cm)を計算する。金属酸化物粒子の体積抵抗率(Ω・cm)の計算式は、下式に示す通りである。
なお、式中、ρは金属酸化物粒子の体積抵抗率(Ω・cm)、Eは印加電圧(V)、Iは電流値(A)、I0は印加電圧0Vにおける電流値(A)、Lは金属酸化物粒子層の厚み(cm)をそれぞれ表す。本評価では印加電圧が1000Vの時の体積抵抗率を用いた。
・式:ρ=E×20/(I−I0)/L
The volume resistivity of the metal oxide particles is measured as follows. The measurement environment is a temperature of 20 ° C. and a humidity of 50% RH.
First, metal oxide particles are separated from the layer. Then, the separated metal oxide particles to be measured are placed on the surface of a circular jig provided with a 20 cm 2 electrode plate so as to have a thickness of about 1 mm to 3 mm to form a metal oxide particle layer. To do. A 20 cm 2 electrode plate similar to the above is placed on this and the metal oxide particle layer is sandwiched. In order to eliminate voids between the metal oxide particles, a load of 4 kg is applied on the electrode plate placed on the metal oxide particle layer, and then the thickness (cm) of the metal oxide particle layer is measured. Both electrodes above and below the metal oxide particle layer are connected to an electrometer and a high-voltage power generator. The volume resistivity (Ω · cm) of the metal oxide particles is calculated by applying a high voltage so that the electric field becomes a predetermined value on both electrodes and reading the current value (A) flowing at this time. . The calculation formula of the volume resistivity (Ω · cm) of the metal oxide particles is as shown in the following formula.
In the formula, ρ is the volume resistivity (Ω · cm) of the metal oxide particles, E is the applied voltage (V), I is the current value (A), I 0 is the current value (A) at the applied voltage of 0 V, L represents the thickness (cm) of the metal oxide particle layer. In this evaluation, the volume resistivity when the applied voltage was 1000 V was used.
Formula: ρ = E × 20 / (I−I 0 ) / L
金属酸化物粒子の含有量としては、例えば、結着樹脂に対して10質量%以上80質量%以下が挙げられ、下引層における単位面積当たりの静電容量を前記範囲に調整する観点から45質量%以上70質量%以下が好ましく、55質量%以上65質量%以下がより好ましい。 As content of a metal oxide particle, 10 mass% or more and 80 mass% or less are mentioned with respect to binder resin, for example, From a viewpoint which adjusts the electrostatic capacitance per unit area in an undercoat layer to the said range. The mass% is preferably 70% by mass or less, and more preferably 55% by mass or more and 65% by mass or less.
金属酸化物粒子は、表面処理剤によって表面処理が施されていてもよく、表面処理剤の中でも1種以上のカップリング剤で処理されたものであることが好ましい。カップリング剤は、一般に、有機系材料と無機系材料とを化学的に結び付ける作用を有するものであり、例えば、金属酸化物粒子の表面と親和性又は反応性を有する官能基を含有する化合物が挙げられる。
なお、金属酸化物粒子は、表面処理の異なるものを2種以上混合して用いてもよく、粒子径の異なるものを2種以上混合して用いてもよい。
The metal oxide particles may be subjected to a surface treatment with a surface treatment agent, and are preferably treated with one or more coupling agents among the surface treatment agents. The coupling agent generally has an action of chemically binding an organic material and an inorganic material. For example, a compound containing a functional group having affinity or reactivity with the surface of the metal oxide particle is used. Can be mentioned.
In addition, two or more types of metal oxide particles having different surface treatments may be mixed and used, or two or more types having different particle diameters may be mixed and used.
表面処理剤としては、例えば、シランカップリング剤、チタネート系カップリング剤、アルミニウム系カップリング剤、界面活性剤等が挙げられる。特に、シランカップリング剤が好ましく、アミノ基を有するシランカップリング剤がより好ましい。 Examples of the surface treatment agent include a silane coupling agent, a titanate coupling agent, an aluminum coupling agent, and a surfactant. In particular, a silane coupling agent is preferable, and an amino group-containing silane coupling agent is more preferable.
アミノ基を有するシランカップリング剤としては、例えば、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。 Examples of the silane coupling agent having an amino group include 3-aminopropyltriethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, and N-2- (aminoethyl) -3-amino. Examples include, but are not limited to, propylmethyldimethoxysilane, N, N-bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, and the like.
シランカップリング剤は、2種以上混合して使用してもよい。例えば、アミノ基を有するシランカップリング剤と他のシランカップリング剤とを併用してもよい。この他のシランカップリング剤としては、例えば、ビニルトリメトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピル−トリス(2−メトキシエトキシ)シラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。 Two or more silane coupling agents may be used in combination. For example, a silane coupling agent having an amino group and another silane coupling agent may be used in combination. Other silane coupling agents include, for example, vinyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyl-tris (2-methoxyethoxy) silane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3-glycol. Sidoxypropyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N-2- ( Aminoethyl) -3-aminopropylmethyldimethoxysilane, N, N-bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane, and the like, but are not limited thereto. It is not a thing.
表面処理剤による表面処理方法は、公知の方法であればいかなる方法でもよく、乾式法又は湿式法のいずれでもよい。 The surface treatment method using the surface treatment agent may be any method as long as it is a known method, and may be either a dry method or a wet method.
金属酸化物粒子は、例えば、カップリング剤で表面処理がされた後、必要に応じて、金属酸化物粒子の体積抵抗率の環境依存性の改善等の目的で熱処理を行ってもよい。上記熱処理における温度としては、例えば、150℃以上300℃以下が挙げられ、上記熱処理における処理時間としては、例えば、30分以上5時間以下が挙げられる。 For example, after the metal oxide particles are surface-treated with a coupling agent, the metal oxide particles may be subjected to heat treatment for the purpose of improving the environmental dependency of the volume resistivity of the metal oxide particles, if necessary. As temperature in the said heat processing, 150 degreeC or more and 300 degrees C or less are mentioned, for example, As processing time in the said heat processing, 30 minutes or more and 5 hours or less are mentioned, for example.
表面処理剤の処理量としては、例えば、金属酸化物粒子に対して0.5質量%以上10質量%以下が挙げられる。また、例えば金属酸化物粒子としてアミノ基を有するシランカップリング剤により表面処理した酸化亜鉛粒子を用い、結着樹脂としてアセタール樹脂を用いた場合、金属酸化物粒子に対する表面処理剤の処理量は、下引層における単位面積当たりの静電容量を前記範囲に調整する観点から0.5質量%以上2.0質量%以下が好ましく、0.7質量%以上1.3質量%以下がより好ましい。 As processing amount of a surface treating agent, 0.5 to 10 mass% is mentioned with respect to metal oxide particle, for example. In addition, for example, when using zinc oxide particles surface-treated with a silane coupling agent having an amino group as metal oxide particles, and using an acetal resin as a binder resin, the treatment amount of the surface treatment agent with respect to the metal oxide particles is: From the viewpoint of adjusting the capacitance per unit area in the undercoat layer to the above range, 0.5% by mass to 2.0% by mass is preferable, and 0.7% by mass to 1.3% by mass is more preferable.
−電子受容性化合物−
電子受容性化合物は、下引層中に金属酸化物粒子と共に分散して含まれていてもよいし、金属酸化物粒子の表面に付着した状態で含まれていてもよい。電子受容性化合物が金属酸化物粒子の表面に付着した状態で含まれる場合、電子受容性化合物は、金属酸化物粒子の表面と化学反応する材料、又は金属酸化物粒子の表面に吸着する材料であることが好ましく、金属酸化物粒子の表面に選択的に存在し得る。
-Electron-accepting compound-
The electron-accepting compound may be dispersed and included in the undercoat layer together with the metal oxide particles, or may be included in a state of being attached to the surface of the metal oxide particles. When the electron-accepting compound is included in a state of adhering to the surface of the metal oxide particle, the electron-accepting compound is a material that chemically reacts with the surface of the metal oxide particle or a material that adsorbs to the surface of the metal oxide particle. It is preferred that it be present selectively on the surface of the metal oxide particles.
電子受容性化合物としては、例えば、キノン骨格、アントラキノン骨格、クマリン骨格、フタロシアニン骨格、トリフェニルメタン骨格、アントシアニン骨格、フラボン骨格、フラーレン骨格、ルテニウム錯体骨格、キサンテン骨格、ベンゾキサジン骨格、ポルフィリン骨格等を有する電子受容性化合物が挙げられる。
なお、電子受容性化合物は、これら骨格に、酸性基(例えば、水酸基、カルボキシル基、スルホニル基等)、アリール基、アミノ基等の置換基で置換された化合物であってもよい。
Examples of the electron-accepting compound include a quinone skeleton, anthraquinone skeleton, coumarin skeleton, phthalocyanine skeleton, triphenylmethane skeleton, anthocyanin skeleton, flavone skeleton, fullerene skeleton, ruthenium complex skeleton, xanthene skeleton, benzoxazine skeleton, and porphyrin skeleton. An electron-accepting compound is mentioned.
The electron-accepting compound may be a compound in which these skeletons are substituted with a substituent such as an acidic group (for example, a hydroxyl group, a carboxyl group, a sulfonyl group, etc.), an aryl group, or an amino group.
特に、電子受容性化合物としては、下引層における単位面積あたりの静電容量を前記範囲に調整する観点から、アントラキノン骨格を有する電子受容性化合物が好ましく、ヒドロキシアントラキノン骨格(水酸基を持つアントラキノン骨格)を有する電子受容性化合物がより好ましい。 In particular, the electron-accepting compound is preferably an electron-accepting compound having an anthraquinone skeleton from the viewpoint of adjusting the capacitance per unit area in the undercoat layer to the above range, and a hydroxyanthraquinone skeleton (anthraquinone skeleton having a hydroxyl group). An electron-accepting compound having is more preferable.
ヒドロキシアントラキノン骨格を有する電子受容性化合物として具体的には、例えば、下記一般式(1)で示される化合物が挙げられる。 Specific examples of the electron-accepting compound having a hydroxyanthraquinone skeleton include compounds represented by the following general formula (1).
一般式(1)中、n1及びn2は、各々独立に0以上3以下の整数を表す。但し、n1及びn2の少なくとも一方は、各々独立に1以上3以下の整数を表す(つまり、n1及びn2が同時に0を表さない)。m1及びm2は、各々独立に0又は1の整数を示す。R11及びR12は、各々独立に炭素数1以上10以下のアルキル基、又は炭素数1以上10以下のアルコキシ基を表す。 In general formula (1), n1 and n2 each independently represent an integer of 0 or more and 3 or less. However, at least one of n1 and n2 independently represents an integer of 1 or more and 3 or less (that is, n1 and n2 do not simultaneously represent 0). m1 and m2 each independently represent an integer of 0 or 1. R 11 and R 12 each independently represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms.
また、電子受容性化合物としては、下記一般式(2)で表される化合物であってもよい。 Moreover, as an electron-accepting compound, the compound represented by following General formula (2) may be sufficient.
一般式(2)中、n1、n2、n3、及びn4は、各々独立に0以上3以下の整数を表す。m1及びm2は、各々独立に0又は1の整数を示す。n1及びn2の少なくとも一方は、各々独立に1以上3以下の整数を表す(つまり、n1及びn2が同時に0を表さない)。n3及びn4の少なくとも一方は、各々独立に1以上3以下の整数を表す(つまり、n3及びn4が同時に0を表さない)。rは、2以上10以下の整数を示す。R11及びR12は、各々独立に炭素数1以上10以下のアルキル基、又は炭素数1以上10以下のアルコキシ基を表す。 In general formula (2), n1, n2, n3, and n4 each independently represent an integer of 0 or more and 3 or less. m1 and m2 each independently represent an integer of 0 or 1. At least one of n1 and n2 independently represents an integer of 1 or more and 3 or less (that is, n1 and n2 do not simultaneously represent 0). At least one of n3 and n4 each independently represents an integer of 1 or more and 3 or less (that is, n3 and n4 do not simultaneously represent 0). r represents an integer of 2 or more and 10 or less. R 11 and R 12 each independently represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms.
ここで、一般式(1)及び(2)中、R11及びR12が表す炭素数1以上10以下のアルキル基としては、直鎖状、又は分枝状のいずれでもよく、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基等が挙げられる。炭素数1以上10以下のアルキル基としては、好ましくは1以上8以下のアルキル基、より好ましくは1以上6以下のアルキル基である。
R11及びR12が表す炭素数1以上10以下のアルコキシ基(アルコキシル基)としては、直鎖状、又は分枝状のいずれでもよく、例えば、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、イソプロポキシ基等が挙げられる。炭素数1以上10以下のアルコキシ基としては、好ましくは1以上8以下のアルコキシル基、より好ましくは1以上6以下のアルコキシル基である。
Here, in the general formulas (1) and (2), the alkyl group having 1 to 10 carbon atoms represented by R 11 and R 12 may be linear or branched, for example, a methyl group , Ethyl group, propyl group, isopropyl group and the like. The alkyl group having 1 to 10 carbon atoms is preferably an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.
The alkoxy group (alkoxyl group) having 1 to 10 carbon atoms represented by R 11 and R 12 may be either linear or branched, for example, methoxy group, ethoxy group, propoxy group, isopropoxy group Etc. The alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms is preferably an alkoxyl group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably an alkoxyl group having 1 to 6 carbon atoms.
電子受容性化合物の具体例を以下に示すが、これらに限定されるものではない。 Specific examples of the electron-accepting compound are shown below, but are not limited thereto.
電子受容性化合物を金属酸化物粒子の表面に付着させる方法としては、例えば、乾式法、又は、湿式法が挙げられる。 Examples of the method for attaching the electron accepting compound to the surface of the metal oxide particles include a dry method and a wet method.
乾式法は、例えば、金属酸化物粒子をせん断力の大きなミキサ等で攪拌しながら、直接又は有機溶媒に溶解させた電子受容性化合物を滴下、乾燥空気や窒素ガスとともに噴霧させて、電子受容性化合物を金属酸化物粒子の表面に付着する方法である。電子受容性化合物の滴下又は噴霧するときは、溶剤の沸点以下の温度で行うことがよい。電子受容性化合物を滴下又は噴霧した後、更に100℃以上で焼き付けを行ってもよい。焼き付けは電子写真特性が得られる温度、時間であれば特に制限されない。 In the dry method, for example, while stirring metal oxide particles with a mixer having a large shearing force, an electron-accepting compound dissolved directly or in an organic solvent is added dropwise and sprayed with dry air or nitrogen gas, thereby accepting electrons. This is a method of attaching a compound to the surface of metal oxide particles. When the electron-accepting compound is dropped or sprayed, it is preferably performed at a temperature not higher than the boiling point of the solvent. After dropping or spraying the electron-accepting compound, baking may be performed at 100 ° C. or higher. The baking is not particularly limited as long as it is a temperature and time for obtaining electrophotographic characteristics.
湿式法は、例えば、攪拌、超音波、サンドミル、アトライター、ボールミル等により、金属酸化物粒子を溶剤中に分散しつつ、電子受容性化合物を添加し、攪拌又は分散した後、溶剤除去して、電子受容性化合物を金属酸化物粒子の表面に付着する方法である。溶剤除去方法は、例えば、ろ過又は蒸留により留去される。溶剤除去後には、更に100℃以上で焼き付けを行ってもよい。焼き付けは電子写真特性が得られる温度、時間であれば特に限定されない。湿式法においては、電子受容性化合物を添加する前に金属酸化物粒子の含有水分を除去してもよく、その例として溶剤中で攪拌加熱しながら除去する方法、溶剤と共沸させて除去する方法が挙げられる。 The wet method is, for example, stirring, dispersing with ultrasonic waves, sand mill, attritor, ball mill, etc. while dispersing metal oxide particles in the solvent, adding the electron-accepting compound, stirring or dispersing, and then removing the solvent. In this method, the electron-accepting compound is attached to the surface of the metal oxide particles. The solvent removal method is distilled off by filtration or distillation, for example. After removing the solvent, baking may be performed at 100 ° C. or higher. The baking is not particularly limited as long as it is a temperature and time for obtaining electrophotographic characteristics. In the wet method, the water content of the metal oxide particles may be removed before adding the electron-accepting compound. For example, a method of removing with stirring and heating in a solvent, removing by azeotropy with the solvent. A method is mentioned.
なお、電子受容性化合物の付着は、表面処理剤による表面処理を金属酸化物粒子に施す前又は後に行ってよく、電子受容性化合物の付着と表面処理剤による表面処理と同時に行ってもよい。 The attachment of the electron-accepting compound may be performed before or after the surface treatment with the surface treatment agent is applied to the metal oxide particles, or may be performed simultaneously with the attachment of the electron-accepting compound and the surface treatment with the surface treatment agent.
電子受容性化合物の含有量は、例えば、金属酸化物粒子に対して0.01質量%以上20質量%以下がよく、好ましくは0.1質量%以上10質量%以下である。
電子受容性化合物の含有量が上記範囲であることにより、上記範囲よりも小さい場合に比べて、電子受容性化合物のアクセプターとしての効果が得られやすい。また、電子受容性化合物の含有量が上記範囲であることにより、上記範囲よりも大きい場合に比べて、金属酸化物粒子同士の凝集を引き起こして下引層内に金属酸化物粒子が偏在しすぎることが起こりにくく、金属酸化物粒子が偏在しすぎることによる残留電位の上昇、黒点の発生、ハーフトーン濃度ムラ等が起こりにくい。
また、電子受容性化合物の含有量は、下引層における単位面積当たりの静電容量を前記範囲に調整する観点から、0.5質量%以上15質量%が好ましく、0.8質量%以上10質量%以下がより好ましい。
The content of the electron-accepting compound is, for example, from 0.01% by mass to 20% by mass with respect to the metal oxide particles, and preferably from 0.1% by mass to 10% by mass.
When the content of the electron-accepting compound is in the above range, the effect as an acceptor of the electron-accepting compound is easily obtained as compared with a case where the content is smaller than the above range. Further, since the content of the electron-accepting compound is in the above range, the metal oxide particles are excessively unevenly distributed in the undercoat layer as compared with the case where the content is larger than the above range, causing aggregation of the metal oxide particles. This is unlikely to occur, and the residual potential increases due to the uneven distribution of metal oxide particles, black spots, and uneven halftone density are unlikely to occur.
The content of the electron-accepting compound is preferably 0.5% by mass or more and 15% by mass, more preferably 0.8% by mass or more and 10% by mass from the viewpoint of adjusting the capacitance per unit area in the undercoat layer to the above range. The mass% or less is more preferable.
−結着樹脂−
下引層に用いる結着樹脂としては、例えば、アセタール樹脂(例えばポリビニルブチラール等)、ポリビニルアルコール樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、カゼイン樹脂、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂、ゼラチン、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、尿素樹脂、フェノール樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂、ウレタン樹脂、アルキド樹脂、エポキシ樹脂等の公知の高分子化合物;ジルコニウムキレート化合物;チタニウムキレート化合物;アルミニウムキレート化合物;チタニウムアルコキシド化合物;有機チタニウム化合物;シランカップリング剤等の公知の材料が挙げられる。
下引層に用いる結着樹脂としては、例えば、電荷輸送性基を有する電荷輸送性樹脂、導電性樹脂(例えばポリアニリン等)等も挙げられる。
-Binder resin-
Examples of the binder resin used for the undercoat layer include acetal resins (eg, polyvinyl butyral), polyvinyl alcohol resins, polyvinyl acetal resins, casein resins, polyamide resins, cellulose resins, gelatin, polyurethane resins, polyester resins, and unsaturated polyesters. Resin, methacrylic resin, acrylic resin, polyvinyl chloride resin, polyvinyl acetate resin, vinyl chloride-vinyl acetate-maleic anhydride resin, silicone resin, silicone-alkyd resin, urea resin, phenol resin, phenol-formaldehyde resin, melamine resin, Known polymer compounds such as urethane resin, alkyd resin, epoxy resin; zirconium chelate compound; titanium chelate compound; aluminum chelate compound; titanium alkoxide compound ; Organic titanium compounds; known materials silane coupling agent, and the like.
Examples of the binder resin used for the undercoat layer include a charge transport resin having a charge transport group, a conductive resin (for example, polyaniline) and the like.
これらの中でも、下引層に用いる結着樹脂としては、上層の塗布溶剤に不溶な樹脂が好適であり、特に、尿素樹脂、フェノール樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂、ウレタン樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アルキド樹脂、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂;ポリアミド樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエーテル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリビニルアルコール樹脂及びポリビニルアセタール樹脂からなる群から選択される少なくとも1種の樹脂と硬化剤との反応により得られる樹脂が好適である。
これら結着樹脂を2種以上組み合わせて使用する場合には、その混合割合は、必要に応じて設定される。
Among these, as the binder resin used for the undercoat layer, a resin insoluble in the upper coating solvent is preferable, and in particular, a urea resin, a phenol resin, a phenol-formaldehyde resin, a melamine resin, a urethane resin, and an unsaturated polyester. Thermosetting resins such as resins, alkyd resins, and epoxy resins; at least one resin selected from the group consisting of polyamide resins, polyester resins, polyether resins, methacrylic resins, acrylic resins, polyvinyl alcohol resins, and polyvinyl acetal resins; Resins obtained by reaction with curing agents are preferred.
When these binder resins are used in combination of two or more, the mixing ratio is set as necessary.
−添加剤−
下引層には、電気特性向上、環境安定性向上、画質向上のために種々の添加剤を含んでいてもよい。
添加剤としては、多環縮合系、アゾ系等の電子輸送性顔料、ジルコニウムキレート化合物、チタニウムキレート化合物、アルミニウムキレート化合物、チタニウムアルコキシド化合物、有機チタニウム化合物、シランカップリング剤等の公知の材料が挙げられる。シランカップリング剤は前述のように金属酸化物粒子の表面処理に用いられるが、添加剤として更に下引層に添加してもよい。
-Additives-
The undercoat layer may contain various additives for improving electrical characteristics, improving environmental stability, and improving image quality.
Additives include known materials such as electron transport pigments such as polycyclic condensation systems and azo systems, zirconium chelate compounds, titanium chelate compounds, aluminum chelate compounds, titanium alkoxide compounds, organic titanium compounds, and silane coupling agents. It is done. The silane coupling agent is used for the surface treatment of the metal oxide particles as described above, but may be further added to the undercoat layer as an additive.
添加剤としてのシランカップリング剤としては、例えば、ビニルトリメトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピル−トリス(2−メトキシエトキシ)シラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルメトキシシラン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、3−クロロプロピルトリメトキシシラン等が挙げられる。 Examples of the silane coupling agent as the additive include vinyltrimethoxysilane, 3-methacryloxypropyl-tris (2-methoxyethoxy) silane, 2- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, 3- Glycidoxypropyltrimethoxysilane, vinyltriacetoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane, N-2- (aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, N-2- (Aminoethyl) -3-aminopropylmethylmethoxysilane, N, N-bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-chloropropyltrimethoxysilane and the like can be mentioned.
ジルコニウムキレート化合物としては、例えば、ジルコニウムブトキシド、ジルコニウムアセト酢酸エチル、ジルコニウムトリエタノールアミン、アセチルアセトネートジルコニウムブトキシド、アセト酢酸エチルジルコニウムブトキシド、ジルコニウムアセテート、ジルコニウムオキサレート、ジルコニウムラクテート、ジルコニウムホスホネート、オクタン酸ジルコニウム、ナフテン酸ジルコニウム、ラウリン酸ジルコニウム、ステアリン酸ジルコニウム、イソステアリン酸ジルコニウム、メタクリレートジルコニウムブトキシド、ステアレートジルコニウムブトキシド、イソステアレートジルコニウムブトキシド等が挙げられる。 Examples of the zirconium chelate compound include zirconium butoxide, zirconium zirconium acetoacetate, zirconium triethanolamine, acetylacetonate zirconium butoxide, ethyl acetoacetate butoxide, zirconium acetate, zirconium oxalate, zirconium lactate, zirconium phosphonate, zirconium octoate, Zirconium naphthenate, zirconium laurate, zirconium stearate, zirconium isostearate, methacrylate zirconium butoxide, stearate zirconium butoxide, isostearate zirconium butoxide and the like.
チタニウムキレート化合物としては、例えば、テトライソプロピルチタネート、テトラノルマルブチルチタネート、ブチルチタネートダイマー、テトラ(2−エチルヘキシル)チタネート、チタンアセチルアセトネート、ポリチタンアセチルアセトネート、チタンオクチレングリコレート、チタンラクテートアンモニウム塩、チタンラクテート、チタンラクテートエチルエステル、チタントリエタノールアミネート、ポリヒドロキシチタンステアレート等が挙げられる。 Examples of the titanium chelate compound include tetraisopropyl titanate, tetranormal butyl titanate, butyl titanate dimer, tetra (2-ethylhexyl) titanate, titanium acetylacetonate, polytitanium acetylacetonate, titanium octylene glycolate, and titanium lactate ammonium salt. , Titanium lactate, titanium lactate ethyl ester, titanium triethanolamate, polyhydroxy titanium stearate and the like.
アルミニウムキレート化合物としては、例えば、アルミニウムイソプロピレート、モノブトキシアルミニウムジイソプロピレート、アルミニウムブチレート、ジエチルアセトアセテートアルミニウムジイソプロピレート、アルミニウムトリス(エチルアセトアセテート)等が挙げられる。 Examples of the aluminum chelate compound include aluminum isopropylate, monobutoxy aluminum diisopropylate, aluminum butyrate, diethyl acetoacetate aluminum diisopropylate, aluminum tris (ethyl acetoacetate) and the like.
これらの添加剤は、単独で、又は複数の化合物の混合物若しくは重縮合物として用いてもよい。 These additives may be used alone or as a mixture or polycondensate of a plurality of compounds.
下引層は、ビッカース硬度が35以上であることがよい。
下引層の表面粗さ(十点平均粗さ)は、モアレ像抑制のために、使用される露光用レーザ波長λの1/(4n)(nは上層の屈折率)から1/2までに調整されていることがよい。
表面粗さ調整のために下引層中に樹脂粒子等を添加してもよい。樹脂粒子としてはシリコーン樹脂粒子、架橋型ポリメタクリル酸メチル樹脂粒子等が挙げられる。また、表面粗さ調整のために下引層の表面を研磨してもよい。研磨方法としては、バフ研磨、サンドブラスト処理、湿式ホーニング、研削処理等が挙げられる。
The undercoat layer preferably has a Vickers hardness of 35 or more.
The surface roughness (ten-point average roughness) of the undercoat layer is from 1 / (4n) (where n is the refractive index of the upper layer) to 1/2 of the exposure laser wavelength λ used to suppress moire images. It is good that it is adjusted to.
Resin particles or the like may be added to the undercoat layer for adjusting the surface roughness. Examples of the resin particles include silicone resin particles and cross-linked polymethyl methacrylate resin particles. Further, the surface of the undercoat layer may be polished for adjusting the surface roughness. Examples of the polishing method include buffing, sandblasting, wet honing, and grinding.
−下引層の形成方法−
下引層の形成は、特に制限はなく、周知の形成方法が利用されるが、例えば、上記成分を溶剤に加えた下引層形成用塗布液の塗膜を形成し、当該塗膜を乾燥し、必要に応じて加熱することで行う。
-Formation method of undercoat layer-
There is no particular limitation on the formation of the undercoat layer, and a well-known formation method is used. For example, a coating film for forming an undercoat layer in which the above components are added to a solvent is formed, and the coating film is dried. And heating as necessary.
下引層形成用塗布液を調製するための溶剤としては、公知の有機溶剤、例えば、アルコール系溶剤、芳香族炭化水素溶剤、ハロゲン化炭化水素溶剤、ケトン系溶剤、ケトンアルコール系溶剤、エーテル系溶剤、エステル系溶剤等が挙げられる。
これらの溶剤として具体的には、例えば、メタノール、エタノール、n−プロパノール、iso−プロパノール、n−ブタノール、ベンジルアルコール、メチルセルソルブ、エチルセルソルブ、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸n−ブチル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、メチレンクロライド、クロロホルム、クロロベンゼン、トルエン等の通常の有機溶剤が挙げられる。
Solvents for preparing the coating solution for forming the undercoat layer include known organic solvents such as alcohol solvents, aromatic hydrocarbon solvents, halogenated hydrocarbon solvents, ketone solvents, ketone alcohol solvents, ether solvents. Examples include solvents and ester solvents.
Specific examples of these solvents include methanol, ethanol, n-propanol, iso-propanol, n-butanol, benzyl alcohol, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, methyl acetate, ethyl acetate, Examples include ordinary organic solvents such as n-butyl acetate, dioxane, tetrahydrofuran, methylene chloride, chloroform, chlorobenzene, and toluene.
下引層形成用塗布液を調製するときの金属酸化物粒子の分散方法としては、例えば、ロールミル、ボールミル、振動ボールミル、アトライター、サンドミル、コロイドミル、ペイントシェーカー等の公知の方法が挙げられる。 Examples of the method for dispersing the metal oxide particles when preparing the coating solution for forming the undercoat layer include known methods such as a roll mill, a ball mill, a vibrating ball mill, an attritor, a sand mill, a colloid mill, and a paint shaker.
下引層形成用塗布液を導電性基体上に塗布する方法としては、例えば、ブレード塗布法、ワイヤーバー塗布法、スプレー塗布法、浸漬塗布法、ビード塗布法、エアーナイフ塗布法、カーテン塗布法等の通常の方法が挙げられる。 Examples of the method for applying the coating liquid for forming the undercoat layer onto the conductive substrate include, for example, a blade coating method, a wire bar coating method, a spray coating method, a dip coating method, a bead coating method, an air knife coating method, and a curtain coating method. The usual methods, such as these, are mentioned.
下引層の膜厚は、例えば、好ましくは15μm以上30μm以下、より好ましくは20μm以上25μm以下の範囲内に設定される。 The thickness of the undercoat layer is, for example, preferably set in the range of 15 μm to 30 μm, more preferably 20 μm to 25 μm.
(中間層)
図示は省略するが、下引層と感光層との間に中間層をさらに設けてもよい。
中間層は、例えば、樹脂を含む層である。中間層に用いる樹脂としては、例えば、アセタール樹脂(例えばポリビニルブチラール等)、ポリビニルアルコール樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、カゼイン樹脂、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂、ゼラチン、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂等の高分子化合物が挙げられる。
中間層は、有機金属化合物を含む層であってもよい。中間層に用いる有機金属化合物としては、ジルコニウム、チタニウム、アルミニウム、マンガン、ケイ素等の金属原子を含有する有機金属化合物等が挙げられる。
これらの中間層に用いる化合物は、単独で又は複数の化合物の混合物若しくは重縮合物として用いてもよい。
(Middle layer)
Although illustration is omitted, an intermediate layer may be further provided between the undercoat layer and the photosensitive layer.
An intermediate | middle layer is a layer containing resin, for example. Examples of the resin used for the intermediate layer include an acetal resin (for example, polyvinyl butyral), polyvinyl alcohol resin, polyvinyl acetal resin, casein resin, polyamide resin, cellulose resin, gelatin, polyurethane resin, polyester resin, methacrylic resin, acrylic resin, Polymer compounds such as polyvinyl chloride resin, polyvinyl acetate resin, vinyl chloride-vinyl acetate-maleic anhydride resin, silicone resin, silicone-alkyd resin, phenol-formaldehyde resin, melamine resin, and the like can be given.
The intermediate layer may be a layer containing an organometallic compound. Examples of the organometallic compound used for the intermediate layer include organometallic compounds containing metal atoms such as zirconium, titanium, aluminum, manganese, and silicon.
The compounds used for these intermediate layers may be used alone or as a mixture or polycondensate of a plurality of compounds.
これらの中でも、中間層は、ジルコニウム原子又はケイ素原子を含有する有機金属化合物を含む層であることが好ましい。 Among these, the intermediate layer is preferably a layer containing an organometallic compound containing a zirconium atom or a silicon atom.
中間層の形成は、特に制限はなく、周知の形成方法が利用されるが、例えば、上記成分を溶剤に加えた中間層形成用塗布液の塗膜を形成し、当該塗膜を乾燥、必要に応じて加熱することで行う。
中間層を形成する塗布方法としては、浸漬塗布法、突き上げ塗布法、ワイヤーバー塗布法、スプレー塗布法、ブレード塗布法、ナイフ塗布法、カーテン塗布法等の通常の方法が用いられる。
The formation of the intermediate layer is not particularly limited, and a well-known formation method is used. For example, a coating film of an intermediate layer forming coating solution in which the above components are added to a solvent is formed, and the coating film is dried and necessary. It is performed by heating according to.
As the coating method for forming the intermediate layer, usual methods such as a dip coating method, a push-up coating method, a wire bar coating method, a spray coating method, a blade coating method, a knife coating method, and a curtain coating method are used.
中間層の膜厚は、例えば、好ましくは0.1μm以上3μm以下の範囲に設定される。なお、中間層を下引層として使用してもよい。 For example, the thickness of the intermediate layer is preferably set in a range of 0.1 μm to 3 μm. An intermediate layer may be used as the undercoat layer.
(電荷発生層)
電荷発生層は、例えば、電荷発生材料と結着樹脂とを含む層である。また、電荷発生層は、電荷発生材料の蒸着層であってもよい。電荷発生材料の蒸着層は、LED(Light Emitting Diode)、有機EL(Electro−Luminescence)イメージアレー等の非干渉性光源を用いる場合に好適である。
(Charge generation layer)
The charge generation layer is, for example, a layer containing a charge generation material and a binder resin. The charge generation layer may be a vapor deposition layer of a charge generation material. The vapor-deposited layer of the charge generation material is suitable when an incoherent light source such as an LED (Light Emitting Diode) or an organic EL (Electro-Luminescence) image array is used.
電荷発生材料としては、ビスアゾ、トリスアゾ等のアゾ顔料;ジブロモアントアントロン等の縮環芳香族顔料;ペリレン顔料;ピロロピロール顔料;フタロシアニン顔料;酸化亜鉛;三方晶系セレン等が挙げられる。 Examples of the charge generating material include azo pigments such as bisazo and trisazo; fused aromatic pigments such as dibromoanthanthrone; perylene pigments; pyrrolopyrrole pigments; phthalocyanine pigments; zinc oxide;
これらの中でも、近赤外域のレーザ露光に対応させるためには、電荷発生材料としては、金属フタロシアニン顔料、又は無金属フタロシアニン顔料を用いることが好ましい。具体的には、例えば、特開平5−263007号公報、特開平5−279591号公報等に開示されたヒドロキシガリウムフタロシアニン;特開平5−98181号公報等に開示されたクロロガリウムフタロシアニン;特開平5−140472号公報、特開平5−140473号公報等に開示されたジクロロスズフタロシアニン;特開平4−189873号公報等に開示されたチタニルフタロシアニンがより好ましい。 Among these, in order to cope with near-infrared laser exposure, it is preferable to use a metal phthalocyanine pigment or a metal-free phthalocyanine pigment as the charge generation material. Specifically, for example, hydroxygallium phthalocyanine disclosed in JP-A-5-263007, JP-A-5-279591, etc .; chlorogallium phthalocyanine disclosed in JP-A-5-98181; More preferred are dichlorotin phthalocyanines disclosed in JP-A No. 140472, JP-A No. 5-140473 and the like; and titanyl phthalocyanine disclosed in JP-A No. 4-189873.
一方、近紫外域のレーザ露光に対応させるためには、電荷発生材料としては、ジブロモアントアントロン等の縮環芳香族顔料;チオインジゴ系顔料;ポルフィラジン化合物;酸化亜鉛;三方晶系セレン;特開2004−78147号公報、特開2005−181992号公報に開示されたビスアゾ顔料等が好ましい。 On the other hand, in order to cope with laser exposure in the near-ultraviolet region, as the charge generation material, condensed aromatic pigments such as dibromoanthanthrone; thioindigo pigments; porphyrazine compounds; zinc oxide; trigonal selenium; Bisazo pigments and the like disclosed in 2004-78147 and JP-A-2005-181992 are preferred.
450nm以上780nm以下に発光の中心波長があるLED,有機ELイメージアレー等の非干渉性光源を用いる場合にも、上記電荷発生材料を用いてもよいが、解像度の観点より、感光層を20μm以下の薄膜で用いるときには、感光層中の電界強度が高くなり、基体からの電荷注入による帯電低下、いわゆる黒点と呼ばれる画像欠陥を生じやすくなる。これは、三方晶系セレン、フタロシアニン顔料等のp−型半導体で暗電流を生じやすい電荷発生材料を用いたときに顕著となる。 The above-described charge generation material may also be used in the case of using an incoherent light source such as an LED having a central wavelength of light emission of 450 nm to 780 nm and an organic EL image array. However, from the viewpoint of resolution, the photosensitive layer is 20 μm or less. When the thin film is used, the electric field strength in the photosensitive layer is increased, and a charge decrease due to charge injection from the substrate, that is, an image defect called a black spot is likely to occur. This becomes conspicuous when a charge generating material that easily generates a dark current is used in a p-type semiconductor such as trigonal selenium or a phthalocyanine pigment.
これに対し、電荷発生材料として、縮環芳香族顔料、ペリレン顔料、アゾ顔料等のn−型半導体を用いた場合、暗電流を生じ難く、薄膜にしても黒点と呼ばれる画像欠陥を抑制し得る。n−型の電荷発生材料としては、例えば、特開2012−155282号公報の段落[0288]〜[0291]に記載された化合物(CG−1)〜(CG−27)が挙げられるがこれに限られるものではない。
なお、n−型の判定は、通常使用されるタイムオブフライト法を用い、流れる光電流の極性によって判定され、正孔よりも電子をキャリアとして流しやすいものをn−型とする。
On the other hand, when an n-type semiconductor such as a condensed ring aromatic pigment, perylene pigment, azo pigment or the like is used as the charge generation material, dark current hardly occurs and even a thin film can suppress image defects called black spots. . Examples of the n-type charge generation material include compounds (CG-1) to (CG-27) described in paragraphs [0288] to [0291] of JP2012-155282A. It is not limited.
The n-type determination is performed by using a time-of-flight method that is usually used, and is determined by the polarity of the flowing photocurrent, and an n-type is more likely to flow electrons as carriers than holes.
電荷発生層に用いる結着樹脂としては、広範な絶縁性樹脂から選択され、また、結着樹脂としては、ポリ−N−ビニルカルバゾール、ポリビニルアントラセン、ポリビニルピレン、ポリシラン等の有機光導電性ポリマーから選択してもよい。
結着樹脂としては、例えば、ポリビニルブチラール樹脂、ポリアリレート樹脂(ビスフェノール類と芳香族2価カルボン酸の重縮合体等)、ポリカーボネート樹脂、ポリエステル樹脂、フェノキシ樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、ポリアミド樹脂、アクリル樹脂、ポリアクリルアミド樹脂、ポリビニルピリジン樹脂、セルロース樹脂、ウレタン樹脂、エポキシ樹脂、カゼイン、ポリビニルアルコール樹脂、ポリビニルピロリドン樹脂等が挙げられる。ここで、「絶縁性」とは、体積抵抗率が1013Ω・cm以上であることをいう。
これらの結着樹脂は1種を単独で又は2種以上を混合して用いられる。
The binder resin used for the charge generation layer is selected from a wide range of insulating resins, and the binder resin is selected from organic photoconductive polymers such as poly-N-vinylcarbazole, polyvinyl anthracene, polyvinyl pyrene, and polysilane. You may choose.
As the binder resin, for example, polyvinyl butyral resin, polyarylate resin (polycondensate of bisphenol and aromatic divalent carboxylic acid, etc.), polycarbonate resin, polyester resin, phenoxy resin, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer, Examples thereof include polyamide resin, acrylic resin, polyacrylamide resin, polyvinyl pyridine resin, cellulose resin, urethane resin, epoxy resin, casein, polyvinyl alcohol resin, polyvinyl pyrrolidone resin, and the like. Here, “insulating” means that the volume resistivity is 10 13 Ω · cm or more.
These binder resins are used singly or in combination of two or more.
なお、電荷発生材料と結着樹脂の配合比は、質量比で10:1から1:10までの範囲内であることが好ましい。 The mixing ratio of the charge generation material and the binder resin is preferably in the range of 10: 1 to 1:10 by mass ratio.
電荷発生層には、その他、周知の添加剤が含まれていてもよい。 In addition, the charge generation layer may contain a known additive.
電荷発生層の形成は、特に制限はなく、周知の形成方法が利用されるが、例えば、上記成分を溶剤に加えた電荷発生層形成用塗布液の塗膜を形成し、当該塗膜を乾燥し、必要に応じて加熱することで行う。なお、電荷発生層の形成は、電荷発生材料の蒸着により行ってもよい。電荷発生層の蒸着による形成は、特に、電荷発生材料として縮環芳香族顔料、ペリレン顔料を利用する場合に好適である。 The formation of the charge generation layer is not particularly limited, and a known formation method is used. For example, a coating film of a charge generation layer forming coating solution in which the above components are added to a solvent is formed, and the coating film is dried. And heating as necessary. The charge generation layer may be formed by vapor deposition of a charge generation material. Formation of the charge generation layer by vapor deposition is particularly suitable when a condensed ring aromatic pigment or perylene pigment is used as the charge generation material.
電荷発生層形成用塗布液を調製するための溶剤としては、メタノール、エタノール、n−プロパノール、n−ブタノール、ベンジルアルコール、メチルセルソルブ、エチルセルソルブ、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、酢酸メチル、酢酸n−ブチル、ジオキサン、テトラヒドロフラン、メチレンクロライド、クロロホルム、クロロベンゼン、トルエン等が挙げられる。これら溶剤は、1種を単独で又は2種以上を混合して用いる。 Solvents for preparing the charge generation layer forming coating solution include methanol, ethanol, n-propanol, n-butanol, benzyl alcohol, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, methyl acetate, n-acetate. -Butyl, dioxane, tetrahydrofuran, methylene chloride, chloroform, chlorobenzene, toluene and the like. These solvents are used alone or in combination of two or more.
電荷発生層形成用塗布液中に粒子(例えば電荷発生材料)を分散させる方法としては、例えば、ボールミル、振動ボールミル、アトライター、サンドミル、横型サンドミル等のメディア分散機や、攪拌、超音波分散機、ロールミル、高圧ホモジナイザー等のメディアレス分散機が利用される。高圧ホモジナイザーとしては、例えば、高圧状態で分散液を液−液衝突や液−壁衝突させて分散する衝突方式や、高圧状態で微細な流路を貫通させて分散する貫通方式等が挙げられる。
なお、この分散の際、電荷発生層形成用塗布液中の電荷発生材料の平均粒径を0.5μm以下、好ましくは0.3μm以下、更に好ましくは0.15μm以下にすることが有効である。
Examples of a method for dispersing particles (for example, a charge generation material) in a coating solution for forming a charge generation layer include, for example, a media disperser such as a ball mill, a vibrating ball mill, an attritor, a sand mill, a horizontal sand mill, a stirring, an ultrasonic disperser, etc. Medialess dispersers such as roll mills and high-pressure homogenizers are used. Examples of the high-pressure homogenizer include a collision method in which a dispersion liquid is dispersed by liquid-liquid collision or liquid-wall collision in a high pressure state, and a penetration method in which a fine flow path is dispersed in a high pressure state.
In this dispersion, it is effective that the average particle size of the charge generation material in the coating solution for forming the charge generation layer is 0.5 μm or less, preferably 0.3 μm or less, more preferably 0.15 μm or less. .
電荷発生層形成用塗布液を下引層上(又は中間層上)に塗布する方法としては、例えばブレード塗布法、ワイヤーバー塗布法、スプレー塗布法、浸漬塗布法、ビード塗布法、エアーナイフ塗布法、カーテン塗布法等の通常の方法が挙げられる。 Examples of methods for applying the charge generation layer forming coating solution on the undercoat layer (or on the intermediate layer) include blade coating, wire bar coating, spray coating, dip coating, bead coating, and air knife coating. And usual methods such as a curtain coating method.
電荷発生層の膜厚は、例えば、好ましくは0.1μm以上5.0μm以下、より好ましくは0.2μm以上2.0μm以下の範囲内に設定される。 The film thickness of the charge generation layer is, for example, preferably set in the range of 0.1 μm to 5.0 μm, more preferably 0.2 μm to 2.0 μm.
(電荷輸送層)
電荷輸送層は、例えば、電荷輸送材料と結着樹脂とを含む層である。電荷輸送層は、高分子電荷輸送材料を含む層であってもよい。
(Charge transport layer)
The charge transport layer is, for example, a layer containing a charge transport material and a binder resin. The charge transport layer may be a layer containing a polymer charge transport material.
電荷輸送材料としては、p−ベンゾキノン、クロラニル、ブロマニル、アントラキノン等のキノン系化合物;テトラシアノキノジメタン系化合物;2,4,7−トリニトロフルオレノン等のフルオレノン化合物;キサントン系化合物;ベンゾフェノン系化合物;シアノビニル系化合物;エチレン系化合物等の電子輸送性化合物が挙げられる。電荷輸送材料としては、トリアリールアミン系化合物、ベンジジン系化合物、アリールアルカン系化合物、アリール置換エチレン系化合物、スチルベン系化合物、アントラセン系化合物、ヒドラゾン系化合物等の正孔輸送性化合物も挙げられる。これらの電荷輸送材料は1種を単独で又は2種以上で用いられるが、これらに限定されるものではない。 Examples of charge transport materials include quinone compounds such as p-benzoquinone, chloranil, bromanyl and anthraquinone; tetracyanoquinodimethane compounds; fluorenone compounds such as 2,4,7-trinitrofluorenone; xanthone compounds; benzophenone compounds A cyanovinyl compound; an electron transporting compound such as an ethylene compound; Examples of the charge transporting material include hole transporting compounds such as triarylamine compounds, benzidine compounds, arylalkane compounds, aryl-substituted ethylene compounds, stilbene compounds, anthracene compounds, and hydrazone compounds. These charge transport materials may be used alone or in combination of two or more, but are not limited thereto.
電荷輸送材料としては、電荷移動度の観点から、下記構造式(a−1)で示されるトリアリールアミン誘導体、及び下記構造式(a−2)で示されるベンジジン誘導体が好ましい。 As the charge transport material, from the viewpoint of charge mobility, a triarylamine derivative represented by the following structural formula (a-1) and a benzidine derivative represented by the following structural formula (a-2) are preferable.
構造式(a−1)中、ArT1、ArT2、及びArT3は、各々独立に置換若しくは無置換のアリール基、−C6H4−C(RT4)=C(RT5)(RT6)、又は−C6H4−CH=CH−CH=C(RT7)(RT8)を示す。RT4、RT5、RT6、RT7、及びRT8は各々独立に水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、又は置換若しくは無置換のアリール基を示す。
上記各基の置換基としては、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基、炭素数1以上5以下のアルコキシ基が挙げられる。また、上記各基の置換基としては、炭素数1以上3以下のアルキル基で置換された置換アミノ基も挙げられる。
In Structural Formula (a-1), Ar T1 , Ar T2 , and Ar T3 are each independently a substituted or unsubstituted aryl group, —C 6 H 4 —C (R T4 ) ═C (R T5 ) (R T6), or -C 6 H 4 -CH = CH- CH = C (R T7) shows the (R T8). R T4 , R T5 , R T6 , R T7 , and R T8 each independently represent a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl group, or a substituted or unsubstituted aryl group.
Examples of the substituent for each group include a halogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms. Examples of the substituent of each group also include a substituted amino group substituted with an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms.
構造式(a−2)中、RT91及びRT92は各々独立に水素原子、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基、又は炭素数1以上5以下のアルコキシ基を示す。RT101、RT102、RT111及びRT112は各々独立に、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基、炭素数1以上5以下のアルコキシ基、炭素数1以上2以下のアルキル基で置換されたアミノ基、置換若しくは無置換のアリール基、−C(RT12)=C(RT13)(RT14)、又は−CH=CH−CH=C(RT15)(RT16)を示し、RT12、RT13、RT14、RT15及びRT16は各々独立に水素原子、置換若しくは無置換のアルキル基、又は置換若しくは無置換のアリール基を表す。Tm1、Tm2、Tn1及びTn2は各々独立に0以上2以下の整数を示す。
上記各基の置換基としては、ハロゲン原子、炭素数1以上5以下のアルキル基、炭素数1以上5以下のアルコキシ基が挙げられる。また、上記各基の置換基としては、炭素数1以上3以下のアルキル基で置換された置換アミノ基も挙げられる。
In Structural Formula (a-2), R T91 and R T92 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms. R T101 , R T102 , R T111 and R T112 are each independently substituted with a halogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, or an alkyl group having 1 to 2 carbon atoms. A substituted amino group, a substituted or unsubstituted aryl group, —C (R T12 ) ═C (R T13 ) (R T14 ), or —CH═CH— CH═C (R T15 ) (R T16 ), R T12 , R T13 , R T14 , R T15 and R T16 each independently represent a hydrogen atom, a substituted or unsubstituted alkyl group, or a substituted or unsubstituted aryl group. Tm1, Tm2, Tn1, and Tn2 each independently represent an integer of 0 or more and 2 or less.
Examples of the substituent for each group include a halogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms. Examples of the substituent of each group also include a substituted amino group substituted with an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms.
ここで、構造式(a−1)で示されるトリアリールアミン誘導体、及び前記構造式(a−2)で示されるベンジジン誘導体のうち、特に、「−C6H4−CH=CH−CH=C(RT7)(RT8)」を有するトリアリールアミン誘導体、及び「−CH=CH−CH=C(RT15)(RT16)」を有するベンジジン誘導体が、電荷移動度の観点で好ましい。 Here, among the triarylamine derivative represented by the structural formula (a-1) and the benzidine derivative represented by the structural formula (a-2), in particular, “—C 6 H 4 —CH═CH—CH═ Triarylamine derivatives having “C (R T7 ) (R T8 )” and benzidine derivatives having “—CH═CH— CH═C (R T15 ) (R T16 )” are preferable from the viewpoint of charge mobility.
電荷輸送材料としては、電荷移動度の観点から、下記一般式(CT1)で表されるブタジエン系電荷輸送材料(CT1)も好ましく挙げられる。 As the charge transport material, a butadiene-based charge transport material (CT1) represented by the following general formula (CT1) is also preferable from the viewpoint of charge mobility.
一般式(CT1)中、RC11、RC12、RC13、RC14、RC15、及びRC16は、各々独立に、水素原子、ハロゲン原子、炭素数1以上20以下のアルキル基、炭素数1以上20以下のアルコキシ基、又は、炭素数6以上30以下のアリール基を表し、隣接する2つの置換基同士が結合して炭化水素環構造を形成してもよい。
cm及びcnは、各々独立に、0、1又は2を表す。
In the general formula (CT1), R C11 , R C12 , R C13 , R C14 , R C15 , and R C16 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, or 1 carbon atom. It represents an alkoxy group having 20 or less or an aryl group having 6 to 30 carbon atoms, and two adjacent substituents may be bonded to form a hydrocarbon ring structure.
cm and cn each independently represents 0, 1 or 2.
一般式(CT1)において、RC11、RC12、RC13、RC14、RC15、及びRC16が表すハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などが挙げられる。これらの中でも、ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子が好ましく、塩素原子がより好ましい。 In the general formula (CT1), examples of the halogen atom represented by R C11 , R C12 , R C13 , R C14 , R C15 , and R C16 include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom. Among these, as a halogen atom, a fluorine atom and a chlorine atom are preferable and a chlorine atom is more preferable.
一般式(CT1)において、RC11、RC12、RC13、RC14、RC15、及びRC16が表すアルキル基としては、炭素数1以上20以下(好ましくは1以上6以下、より好ましくは1以上4以下)の直鎖状又は分岐状のアルキル基が挙げられる。
直鎖状のアルキル基として具体的には、メチル基、エチル基、n−プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n−ウンデシル基、n−ドデシル基、n−トリデシル基、n−テトラデシル基、n−ペンタデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基、n−オクタデシル基、n−ノナデシル基、n−イコシル基等が挙げられる。
分岐状のアルキル基として具体的には、イソプロピル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、tert−ペンチル基、イソヘキシル基、sec−ヘキシル基、tert−ヘキシル基、イソヘプチル基、sec−ヘプチル基、tert−ヘプチル基、イソオクチル基、sec−オクチル基、tert−オクチル基、イソノニル基、sec−ノニル基、tert−ノニル基、イソデシル基、sec−デシル基、tert−デシル基、イソウンデシル基、sec−ウンデシル基、tert−ウンデシル基、ネオウンデシル基、イソドデシル基、sec−ドデシル基、tert−ドデシル基、ネオドデシル基、イソトリデシル基、sec−トリデシル基、tert−トリデシル基、ネオトリデシル基、イソテトラデシル基、sec−テトラデシル基、tert−テトラデシル基、ネオテトラデシル基、1−イソブチル−4−エチルオクチル基、イソペンタデシル基、sec−ペンタデシル基、tert−ペンタデシル基、ネオペンタデシル基、イソヘキサデシル基、sec−ヘキサデシル基、tert−ヘキサデシル基、ネオヘキサデシル基、1−メチルペンタデシル基、イソヘプタデシル基、sec−ヘプタデシル基、tert−ヘプタデシル基、ネオヘプタデシル基、イソオクタデシル基、sec−オクタデシル基、tert−オクタデシル基、ネオオクタデシル基、イソノナデシル基、sec−ノナデシル基、tert−ノナデシル基、ネオノナデシル基、1−メチルオクチル基、イソイコシル基、sec−イコシル基、tert−イコシル基、ネオイコシル基等が挙げられる。
これらの中でも、アルキル基としては、メチル基、エチル基、イソプロピル基等の低級アルキル基が好ましい。
In the general formula (CT1), the alkyl group represented by R C11 , R C12 , R C13 , R C14 , R C15 , and R C16 has 1 to 20 carbon atoms (preferably 1 to 6 or less, more preferably 1 4 or less), a linear or branched alkyl group.
Specific examples of the linear alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, n-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, n- Nonyl group, n-decyl group, n-undecyl group, n-dodecyl group, n-tridecyl group, n-tetradecyl group, n-pentadecyl group, n-hexadecyl group, n-heptadecyl group, n-octadecyl group, n- Nonadecyl group, n-icosyl group, etc. are mentioned.
Specific examples of the branched alkyl group include isopropyl group, isobutyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, isopentyl group, neopentyl group, tert-pentyl group, isohexyl group, sec-hexyl group, and tert-hexyl group. , Isoheptyl group, sec-heptyl group, tert-heptyl group, isooctyl group, sec-octyl group, tert-octyl group, isononyl group, sec-nonyl group, tert-nonyl group, isodecyl group, sec-decyl group, tert- Decyl group, isoundecyl group, sec-undecyl group, tert-undecyl group, neoundecyl group, isododecyl group, sec-dodecyl group, tert-dodecyl group, neododecyl group, isotridecyl group, sec-tridecyl group, tert-tridecyl group, neotridecyl group Group, isotetradecyl group, sec-tetradecyl group, tert-tetradecyl group, neotetradecyl group, 1-isobutyl-4-ethyloctyl group, isopentadecyl group, sec-pentadecyl group, tert-pentadecyl group, neopenta Decyl group, isohexadecyl group, sec-hexadecyl group, tert-hexadecyl group, neohexadecyl group, 1-methylpentadecyl group, isoheptadecyl group, sec-heptadecyl group, tert-heptadecyl group, neoheptadecyl group, isooctadecyl group, sec-octadecyl group, tert-octadecyl group, neooctadecyl group, isonononadecyl group, sec-nonadecyl group, tert-nonadecyl group, neononadecyl group, 1-methyloctyl group, isoicosyl group, sec-icosyl group, te t- eicosyl group, Neoikoshiru group and the like.
Among these, the alkyl group is preferably a lower alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, or an isopropyl group.
一般式(CT1)において、RC11、RC12、RC13、RC14、RC15、及びRC16が表すアルコキシ基としては、炭素数1以上20以下(好ましくは1以上6以下、より好ましくは1以上4以下)の直鎖状又は分岐状のアルコキシ基が挙げられる。
直鎖状のアルコキシ基として具体的には、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、n−ブトキシ基、n−ペンチルオキシ基、n−ヘキシルオキシ基、n−ヘプチルオキシ基、n−オクチルオキシ基、n−ノニルオキシ基、n−デシルオキシ基、n−ウンデシルオキシ基、n−ドデシルオキシ基、n−トリデシルオキシ基、n−テトラデシルオキシ基、n−ペンタデシルオキシ基、n−ヘキサデシルオキシ基、n−ヘプタデシルオキシ基、n−オクタデシルオキシ基、n−ノナデシルオキシ基、n−イコシルオキシ基等が挙げられる。
分岐状のアルコキシ基として具体的には、イソプロポキシ基、イソブトキシ基、sec−ブトキシ基、tert−ブトキシ基、イソペンチルオキシ基、ネオペンチルオキシ基、tert−ペンチルオキシ基、イソヘキシルオキシ基、sec−ヘキシルオキシ基、tert−ヘキシルオキシ基、イソヘプチルオキシ基、sec−ヘプチルオキシ基、tert−ヘプチルオキシ基、イソオクチルオキシ基、sec−オクチルオキシ基、tert−オクチルオキシ基、イソノニルオキシ基、sec−ノニルオキシ基、tert−ノニルオキシ基、イソデシルオキシ基、sec−デシルオキシ基、tert−デシルオキシ基、イソウンデシルオキシ基、sec−ウンデシルオキシ基、tert−ウンデシルオキシ基、ネオウンデシルオキシ基、イソドデシルオキシ基、sec−ドデシルオキシ基、tert−ドデシルオキシ基、ネオドデシルオキシ基、イソトリデシルオキシ基、sec−トリデシルオキシ基、tert−トリデシルオキシ基、ネオトリデシルオキシ基、イソテトラデシルオキシ基、sec−テトラデシルオキシ基、tert−テトラデシルオキシ基、ネオテトラデシルオキシ基、1−イソブチル−4−エチルオクチルオキシ基、イソペンタデシルオキシ基、sec−ペンタデシルオキシ基、tert−ペンタデシルオキシ基、ネオペンタデシルオキシ基、イソヘキサデシルオキシ基、sec−ヘキサデシルオキシ基、tert−ヘキサデシルオキシ基、ネオヘキサデシルオキシ基、1−メチルペンタデシルオキシ基、イソヘプタデシルオキシ基、sec−ヘプタデシルオキシ基、tert−ヘプタデシルオキシ基、ネオヘプタデシルオキシ基、イソオクタデシルオキシ基、sec−オクタデシルオキシ基、tert−オクタデシルオキシ基、ネオオクタデシルオキシ基、イソノナデシルオキシ基、sec−ノナデシルオキシ基、tert−ノナデシルオキシ基、ネオノナデシルオキシ基、1−メチルオクチルオキシ基、イソイコシルオキシ基、sec−イコシルオキシ基、tert−イコシルオキシ基、ネオイコシルオキシ基等が挙げられる。
これらの中でも、アルコキシ基としては、メトキシ基が好ましい。
In the general formula (CT1), the alkoxy group represented by R C11 , R C12 , R C13 , R C14 , R C15 , and R C16 has 1 to 20 carbon atoms (preferably 1 to 6 or less, more preferably 1 Or a linear or branched alkoxy group of 4 or less).
Specific examples of the linear alkoxy group include a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an n-butoxy group, an n-pentyloxy group, an n-hexyloxy group, an n-heptyloxy group, and an n-octyloxy group. Group, n-nonyloxy group, n-decyloxy group, n-undecyloxy group, n-dodecyloxy group, n-tridecyloxy group, n-tetradecyloxy group, n-pentadecyloxy group, n-hexadecyl group An oxy group, n-heptadecyloxy group, n-octadecyloxy group, n-nonadecyloxy group, n-icosyloxy group, etc. are mentioned.
Specific examples of the branched alkoxy group include isopropoxy group, isobutoxy group, sec-butoxy group, tert-butoxy group, isopentyloxy group, neopentyloxy group, tert-pentyloxy group, isohexyloxy group, sec -Hexyloxy group, tert-hexyloxy group, isoheptyloxy group, sec-heptyloxy group, tert-heptyloxy group, isooctyloxy group, sec-octyloxy group, tert-octyloxy group, isononyloxy group, sec-nonyloxy group, tert-nonyloxy group, isodecyloxy group, sec-decyloxy group, tert-decyloxy group, isoundecyloxy group, sec-undecyloxy group, tert-undecyloxy group, neoundecyloxy group , Isodo Siloxy group, sec-dodecyloxy group, tert-dodecyloxy group, neododecyloxy group, isotridecyloxy group, sec-tridecyloxy group, tert-tridecyloxy group, neotridecyloxy group, isotetradecyloxy group Group, sec-tetradecyloxy group, tert-tetradecyloxy group, neotetradecyloxy group, 1-isobutyl-4-ethyloctyloxy group, isopentadecyloxy group, sec-pentadecyloxy group, tert-pentadecyl group Oxy group, neopentadecyloxy group, isohexadecyloxy group, sec-hexadecyloxy group, tert-hexadecyloxy group, neohexadecyloxy group, 1-methylpentadecyloxy group, isoheptadecyloxy group, sec -Heptadecyloxy Group, tert-heptadecyloxy group, neoheptadecyloxy group, isooctadecyloxy group, sec-octadecyloxy group, tert-octadecyloxy group, neooctadecyloxy group, isononadecyloxy group, sec-nonadecyloxy group, tert- Examples include nonadecyloxy group, neononadecyloxy group, 1-methyloctyloxy group, isoicosyloxy group, sec-icosyloxy group, tert-icosyloxy group, neoicosyloxy group and the like.
Among these, as an alkoxy group, a methoxy group is preferable.
一般式(CT1)において、RC11、RC12、RC13、RC14、RC15、及びRC16が表すアリール基としては、炭素数6以上30以下(好ましくは6以上20以下、より好ましくは6以上16以下)のアリール基が挙げられる。
アリール基として具体的には、フェニル基、ナフチル基、フェナントリル基、ビフェニリル基などが挙げられる。
これらの中でも、アリール基としては、フェニル基、ナフチル基が好ましい。
In the general formula (CT1), the aryl group represented by R C11 , R C12 , R C13 , R C14 , R C15 , and R C16 has 6 to 30 carbon atoms (preferably 6 to 20 or less, more preferably 6 And aryl groups of 16 or less).
Specific examples of the aryl group include a phenyl group, a naphthyl group, a phenanthryl group, and a biphenylyl group.
Among these, the aryl group is preferably a phenyl group or a naphthyl group.
なお、一般式(CT1)において、RC11、RC12、RC13、RC14、RC15、及びRC16が表す上記各置換基は、さらに置換基を有する基も含む。この置換基としては、上記例示した原子および基(例えばハロゲン原子、アルキル基、アルコキシ基、アリール基など)が挙げられる。 Note that in the general formula (CT1), each of the substituents represented by R C11 , R C12 , R C13 , R C14 , R C15 , and R C16 further includes a group having a substituent. Examples of the substituent include the atoms and groups exemplified above (for example, a halogen atom, an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, etc.).
一般式(CT1)において、RC11、RC12、RC13、RC14、RC15、及びRC16の隣接する二つの置換基同士(例えばRC11及びRC12同士、RC13及びRC14同士、RC15及びRC16同士)が連結した炭化水素環構造における、当該置換基同士を連結する基としては、単結合、2,2’−メチレン基、2,2’−エチレン基、2,2’−ビニレン基などが挙げられ、これらの中でも単結合、2,2’−メチレン基が好ましい。
ここで、炭化水素環構造として具体的には、例えば、シクロアルカン環構造、シクロアルケン環構造、シクロアルカンポリエン環構造等が挙げられる。
In the general formula (CT1), two adjacent substituents of R C11 , R C12 , R C13 , R C14 , R C15 , and R C16 (for example, R C11 and R C12 , R C13 and R C14 , R R In the hydrocarbon ring structure in which C15 and R C16 are connected, the groups connecting the substituents are a single bond, 2,2′-methylene group, 2,2′-ethylene group, 2,2′- A vinylene group etc. are mentioned, Among these, a single bond and a 2,2'-methylene group are preferable.
Specific examples of the hydrocarbon ring structure include a cycloalkane ring structure, a cycloalkene ring structure, and a cycloalkanepolyene ring structure.
一般式(CT1)において、cm及びcnは、1であることが好ましい。 In the general formula (CT1), cm and cn are preferably 1.
一般式(CT1)において、電荷輸送能の高い感光層(電荷輸送層)形成の点から、RC11、RC12、RC13、RC14、RC15、及びRC16が水素原子、炭素数1以上20以下のアルキル基、又は炭素数1以上20以下のアルコキシ基を表し、cm及びcnが1又は2を表することが好ましく、RC11、RC12、RC13、RC14、RC15、及びRC16が水素原子を表し、cm及びcnが1を表すことがより好ましい。
つまり、ブタジエン系電荷輸送材料(CT1)は、下記構造式(CT1A)で示される電荷輸送材料(例示化合物(CT1−3))であることがより好ましい。
In the general formula (CT1), R C11 , R C12 , R C13 , R C14 , R C15 , and R C16 are hydrogen atoms and have 1 or more carbon atoms from the viewpoint of forming a photosensitive layer (charge transport layer) having a high charge transport capability. It represents an alkyl group having 20 or less, or an alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms, and cm and cn preferably represent 1 or 2, and R C11 , R C12 , R C13 , R C14 , R C15 , and R More preferably, C16 represents a hydrogen atom, and cm and cn represent 1.
That is, the butadiene-based charge transport material (CT1) is more preferably a charge transport material (exemplary compound (CT1-3)) represented by the following structural formula (CT1A).
以下に、ブタジエン系電荷輸送材料(CT1)の具体例を示すが、これに限定されるわけではない。 Specific examples of the butadiene-based charge transport material (CT1) are shown below, but are not limited thereto.
なお、上記例示化合物中の略記号は、以下の意味を示す。また、置換基の前に付す番号は、ベンゼン環に対する置換位置を示している。
・−CH3:メチル基
・−OCH3:メトキシ基
In addition, the abbreviations in the above exemplary compounds have the following meanings. Moreover, the number attached | subjected before a substituent has shown the substitution position with respect to a benzene ring.
· -CH 3: methyl groups · -OCH 3: methoxy
ブタジエン系電荷輸送材料(CT1)は、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。 A butadiene type charge transport material (CT1) may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.
電荷輸送材料としては、電荷移動度の観点から、下記一般式(CT2)で表されるベンジジン系電荷輸送材料(CT2)も好ましく挙げられる。特に、電荷移動度の観点から、電荷輸送材料として、ブタジエン系電荷輸送材料(CT1)とベンジジン系電荷輸送材料(CT2)とを併用することが好ましい。 As the charge transport material, a benzidine charge transport material (CT2) represented by the following general formula (CT2) is also preferable from the viewpoint of charge mobility. In particular, from the viewpoint of charge mobility, it is preferable to use a butadiene charge transport material (CT1) and a benzidine charge transport material (CT2) in combination as the charge transport material.
一般式(CT2)中、RC21、RC22、及びRC23は、各々独立に、水素原子、ハロゲン原子、炭素数1以上10以下のアルキル基、炭素数1以上10以下のアルコキシ基、又は、炭素数6以上10以下のアリール基を表す。 In the general formula (CT2), R C21 , R C22 , and R C23 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom, an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, or Represents an aryl group having 6 to 10 carbon atoms.
一般式(CT2)において、RC21、RC22、及びRC23が表すハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などが挙げられる。これらの中でも、ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子が好ましく、塩素原子がより好ましい。 In the general formula (CT2), examples of the halogen atom represented by R C21 , R C22 , and R C23 include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom. Among these, as a halogen atom, a fluorine atom and a chlorine atom are preferable and a chlorine atom is more preferable.
一般式(CT2)において、RC21、RC22、及びRC23が表すアルキル基としては、炭素数1以上10以下(好ましくは1以上6以下、より好ましくは1以上4以下)の直鎖状又は分岐状のアルキル基が挙げられる。
直鎖状のアルキル基として具体的には、メチル基、エチル基、n−プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基等が挙げられる。
分岐状のアルキル基として具体的には、イソプロピル基、イソブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、tert−ペンチル基、イソヘキシル基、sec−ヘキシル基、tert−ヘキシル基、イソヘプチル基、sec−ヘプチル基、tert−ヘプチル基、イソオクチル基、sec−オクチル基、tert−オクチル基、イソノニル基、sec−ノニル基、tert−ノニル基、イソデシル基、sec−デシル基、tert−デシル基等が挙げられる。
これらの中でも、アルキル基としては、メチル基、エチル基、イソプロピル基等の低級アルキル基が好ましい。
In the general formula (CT2), the alkyl group represented by R C21 , R C22 , and R C23 is a linear or straight chain having 1 to 10 carbon atoms (preferably 1 to 6 or less, more preferably 1 to 4 or less). A branched alkyl group is exemplified.
Specific examples of the linear alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, n-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-octyl group, n- Nonyl group, n-decyl group, etc. are mentioned.
Specific examples of the branched alkyl group include isopropyl group, isobutyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, isopentyl group, neopentyl group, tert-pentyl group, isohexyl group, sec-hexyl group, and tert-hexyl group. , Isoheptyl group, sec-heptyl group, tert-heptyl group, isooctyl group, sec-octyl group, tert-octyl group, isononyl group, sec-nonyl group, tert-nonyl group, isodecyl group, sec-decyl group, tert- A decyl group etc. are mentioned.
Among these, the alkyl group is preferably a lower alkyl group such as a methyl group, an ethyl group, or an isopropyl group.
一般式(CT2)において、RC21、RC22、及びRC23が表すアルコキシ基としては、炭素数1以上10以下(好ましくは1以上6以下、より好ましくは1以上4以下)の直鎖状又は分岐状のアルコキシ基が挙げられる。
直鎖状のアルコキシ基として具体的には、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、n−ブトキシ基、n−ペンチルオキシ基、n−ヘキシルオキシ基、n−ヘプチルオキシ基、n−オクチルオキシ基、n−ノニルオキシ基、n−デシルオキシ基等が挙げられる。
分岐状のアルコキシ基として具体的には、イソプロポキシ基、イソブトキシ基、sec−ブトキシ基、tert−ブトキシ基、イソペンチルオキシ基、ネオペンチルオキシ基、tert−ペンチルオキシ基、イソヘキシルオキシ基、sec−ヘキシルオキシ基、tert−ヘキシルオキシ基、イソヘプチルオキシ基、sec−ヘプチルオキシ基、tert−ヘプチルオキシ基、イソオクチルオキシ基、sec−オクチルオキシ基、tert−オクチルオキシ基、イソノニルオキシ基、sec−ノニルオキシ基、tert−ノニルオキシ基、イソデシルオキシ基、sec−デシルオキシ基、tert−デシルオキシ基等が挙げられる。
これらの中でも、アルコキシ基としては、メトキシ基が好ましい。
In the general formula (CT2), the alkoxy group represented by R C21 , R C22 , and R C23 is a straight chain having 1 to 10 carbon atoms (preferably 1 to 6 and more preferably 1 to 4). A branched alkoxy group is mentioned.
Specific examples of the linear alkoxy group include a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an n-butoxy group, an n-pentyloxy group, an n-hexyloxy group, an n-heptyloxy group, and an n-octyloxy group. Group, n-nonyloxy group, n-decyloxy group and the like.
Specific examples of the branched alkoxy group include isopropoxy group, isobutoxy group, sec-butoxy group, tert-butoxy group, isopentyloxy group, neopentyloxy group, tert-pentyloxy group, isohexyloxy group, sec -Hexyloxy group, tert-hexyloxy group, isoheptyloxy group, sec-heptyloxy group, tert-heptyloxy group, isooctyloxy group, sec-octyloxy group, tert-octyloxy group, isononyloxy group, A sec-nonyloxy group, a tert-nonyloxy group, an isodecyloxy group, a sec-decyloxy group, a tert-decyloxy group and the like can be mentioned.
Among these, as an alkoxy group, a methoxy group is preferable.
一般式(CT2)において、RC21、RC22、及びRC23が表すアリール基としては、炭素数6以上10以下(好ましくは6以上9以下、より好ましくは6以上8以下)のアリール基が挙げられる。
アリール基として具体的には、フェニル基、ナフチル基などが挙げられる。
これらの中でも、アリール基としては、フェニル基が好ましい。
In the general formula (CT2), examples of the aryl group represented by R C21 , R C22 , and R C23 include aryl groups having 6 to 10 carbon atoms (preferably 6 to 9 and more preferably 6 to 8). It is done.
Specific examples of the aryl group include a phenyl group and a naphthyl group.
Among these, as the aryl group, a phenyl group is preferable.
なお、一般式(CT2)において、RC21、RC22、及びRC23が表す上記各置換基は、さらに置換基を有する基も含む。この置換基としては、上記例示した原子及び基(例えばハロゲン原子、アルキル基、アルコキシ基、アリール基など)が挙げられる。 Note that in the general formula (CT2), each of the substituents represented by R C21 , R C22 , and R C23 further includes a group having a substituent. Examples of the substituent include the atoms and groups exemplified above (for example, a halogen atom, an alkyl group, an alkoxy group, an aryl group, etc.).
一般式(CT2)において、特に、電荷輸送能の高い感光層(電荷輸送層)形成(感光体の高感度化)の点から、RC21、RC22、及びRC23が、各々独立に、水素原子、又は、炭素数1以上10以下のアルキル基を表すことが好ましく、RC21、及びRC23が水素原子を表し、RC22が炭素数1以上10以下のアルキル基(特に、メチル基)を表すことがより好ましい。
具体的には、ベンジジン系電荷輸送材料(CT2)は、下記構造式(CT2A)で示される電荷輸送材料(例示化合物(CT2−2))であることが特に好ましい。
In the general formula (CT2), R C21 , R C22 , and R C23 are each independently hydrogen from the viewpoint of formation of a photosensitive layer (charge transport layer) having a high charge transport capability (sensitivity of the photoreceptor). Preferably, it represents an atom or an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, R C21 and R C23 represent a hydrogen atom, and R C22 represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms (particularly a methyl group). It is more preferable to represent.
Specifically, the benzidine charge transport material (CT2) is particularly preferably a charge transport material (exemplary compound (CT2-2)) represented by the following structural formula (CT2A).
以下に、ベンジジン系電荷輸送材料(CT2)の具体例を示すが、これに限定されるわけではない。 Specific examples of the benzidine-based charge transport material (CT2) are shown below, but are not limited thereto.
なお、上記例示化合物中の略記号は、以下の意味を示す。また、置換基の前に付す番号は、ベンゼン環に対する置換位置を示している。
・−CH3:メチル基
・−C2H5:エチル基
・−OCH3:メトキシ基
・−OC2H5:エトキシ基
In addition, the abbreviations in the above exemplary compounds have the following meanings. Moreover, the number attached | subjected before a substituent has shown the substitution position with respect to a benzene ring.
· -CH 3: methyl groups · -C 2 H 5: ethyl · -OCH 3: methoxy · -OC 2 H 5: ethoxy
ベンジジン系電荷輸送材料(CT2)は、1種を単独で用いてもよいし、2種以上を併用してもよい。 A benzidine type charge transport material (CT2) may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types together.
高分子電荷輸送材料としては、ポリ−N−ビニルカルバゾール、ポリシラン等の電荷輸送性を有する公知のものが用いられる。特に、特開平8−176293号公報、特開平8−208820号公報等に開示されているポリエステル系の高分子電荷輸送材は特に好ましい。なお、高分子電荷輸送材料は、単独で使用してよいが、結着樹脂と併用してもよい。 As the polymer charge transporting material, known materials having charge transporting properties such as poly-N-vinylcarbazole and polysilane are used. In particular, polyester-based polymer charge transport materials disclosed in JP-A-8-176293, JP-A-8-208820 and the like are particularly preferable. The polymer charge transport material may be used alone or in combination with a binder resin.
電荷輸送層に用いる結着樹脂は、ポリカーボネート樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアリレート樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリ塩化ビニリデン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、スチレン−ブタジエン共重合体、塩化ビニリデン−アクリロニトリル共重合体、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸共重合体、シリコーン樹脂、シリコーンアルキッド樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、スチレン−アルキッド樹脂、ポリ−N−ビニルカルバゾール、ポリシラン等が挙げられる。これらの中でも、結着樹脂としては、ポリカーボネート樹脂又はポリアリレート樹脂が好適である。これらの結着樹脂は1種を単独で又は2種以上で用いる。
なお、電荷輸送材料と結着樹脂との配合比は、質量比で10:1から1:5までが好ましい。
The binder resin used for the charge transport layer is polycarbonate resin, polyester resin, polyarylate resin, methacrylic resin, acrylic resin, polyvinyl chloride resin, polyvinylidene chloride resin, polystyrene resin, polyvinyl acetate resin, styrene-butadiene copolymer, Vinylidene chloride-acrylonitrile copolymer, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer, vinyl chloride-vinyl acetate-maleic anhydride copolymer, silicone resin, silicone alkyd resin, phenol-formaldehyde resin, styrene-alkyd resin, poly-N -Vinylcarbazole, polysilane, etc. are mentioned. Among these, as the binder resin, a polycarbonate resin or a polyarylate resin is preferable. These binder resins are used alone or in combination of two or more.
The mixing ratio of the charge transport material and the binder resin is preferably 10: 1 to 1: 5 by mass ratio.
電荷輸送層には、その他、周知の添加剤が含まれていてもよい。 In addition, the charge transport layer may contain a known additive.
電荷輸送層の形成は、特に制限はなく、周知の形成方法が利用されるが、例えば、上記成分を溶剤に加えた電荷輸送層形成用塗布液の塗膜を形成し、当該塗膜を乾燥、必要に応じて加熱することで行う。 The formation of the charge transport layer is not particularly limited, and a known formation method is used. For example, a coating film of a charge transport layer forming coating solution in which the above components are added to a solvent is formed, and the coating film is dried. This is done by heating as necessary.
電荷輸送層形成用塗布液を調製するための溶剤としては、ベンゼン、トルエン、キシレン、クロロベンゼン等の芳香族炭化水素類;アセトン、2−ブタノン等のケトン類;塩化メチレン、クロロホルム、塩化エチレン等のハロゲン化脂肪族炭化水素類;テトラヒドロフラン、エチルエーテル等の環状又は直鎖状のエーテル類等の通常の有機溶剤が挙げられる。これら溶剤は、単独で又は2種以上混合して用いる。 Solvents for preparing the coating solution for forming the charge transport layer include aromatic hydrocarbons such as benzene, toluene, xylene and chlorobenzene; ketones such as acetone and 2-butanone; methylene chloride, chloroform and ethylene chloride. Halogenated aliphatic hydrocarbons: Usual organic solvents such as cyclic or linear ethers such as tetrahydrofuran and ethyl ether. These solvents are used alone or in combination of two or more.
電荷輸送層形成用塗布液を電荷発生層の上に塗布する際の塗布方法としては、ブレード塗布法、ワイヤーバー塗布法、スプレー塗布法、浸漬塗布法、ビード塗布法、エアーナイフ塗布法、カーテン塗布法等の通常の方法が挙げられる。 Coating methods for applying the charge transport layer forming coating solution on the charge generation layer include blade coating method, wire bar coating method, spray coating method, dip coating method, bead coating method, air knife coating method, curtain A usual method such as a coating method may be mentioned.
電荷輸送層の膜厚は、例えば、好ましくは5μm以上50μm以下、より好ましくは20μm以上40μm以下の範囲内に設定される。 The film thickness of the charge transport layer is, for example, preferably set in the range of 5 μm to 50 μm, more preferably 20 μm to 40 μm.
(保護層)
保護層は、必要に応じて感光層上に設けられる。保護層は、例えば、帯電時の感光層の化学的変化を防止したり、感光層の機械的強度をさらに改善する目的で設けられる。
そのため、保護層は、硬化膜(架橋膜)で構成された層を適用することがよい。これら層としては、例えば、下記1)又は2)に示す層が挙げられる。
(Protective layer)
The protective layer is provided on the photosensitive layer as necessary. The protective layer is provided, for example, for the purpose of preventing chemical change of the photosensitive layer during charging or further improving the mechanical strength of the photosensitive layer.
Therefore, it is preferable to apply a layer composed of a cured film (crosslinked film) as the protective layer. Examples of these layers include the layers shown in 1) or 2) below.
1)反応性基及び電荷輸送性骨格を同一分子内に有する反応性基含有電荷輸送材料を含む組成物の硬化膜で構成された層(つまり当該反応性基含有電荷輸送材料の重合体又は架橋体を含む層)
2)非反応性の電荷輸送材料と、電荷輸送性骨格を有さず、反応性基を有する反応性基含有非電荷輸送材料と、を含む組成物の硬化膜で構成された層(つまり、非反応性の電荷輸送材料と、当該反応性基含有非電荷輸送材料の重合体又は架橋体と、を含む層)
1) A layer composed of a cured film of a composition containing a reactive group-containing charge transporting material having a reactive group and a charge transporting skeleton in the same molecule (that is, a polymer or cross-linking of the reactive group-containing charge transporting material) Layer containing body)
2) a layer composed of a cured film of a composition comprising a non-reactive charge transport material and a reactive group-containing non-charge transport material having a reactive group and having no charge transport skeleton (that is, A layer comprising a non-reactive charge transport material and a polymer or a cross-linked product of the reactive group-containing non-charge transport material)
反応性基含有電荷輸送材料の反応性基としては、連鎖重合性基、エポキシ基、−OH、−OR[但し、Rはアルキル基を示す]、−NH2、−SH、−COOH、−SiRQ1 3−Qn(ORQ2)Qn[但し、RQ1は水素原子、アルキル基、又は置換若しくは無置換のアリール基を表し、RQ2は水素原子、アルキル基、トリアルキルシリル基を表す。Qnは1〜3の整数を表す]等の周知の反応性基が挙げられる。 The reactive group of the reactive group-containing charge transport material includes a chain polymerizable group, an epoxy group, —OH, —OR [wherein R represents an alkyl group], —NH 2 , —SH, —COOH, —SiR. Q1 3-Qn (OR Q2 ) Qn [wherein R Q1 represents a hydrogen atom, an alkyl group, or a substituted or unsubstituted aryl group, and R Q2 represents a hydrogen atom, an alkyl group, or a trialkylsilyl group. Qn represents an integer of 1 to 3], and the like, and other well-known reactive groups.
連鎖重合性基としては、ラジカル重合しうる官能基であれば特に限定されるものではなく、例えば、少なくとも炭素二重結合を含有する基を有する官能基である。具体的には、ビニル基、ビニルエーテル基、ビニルチオエーテル基、ビニルフェニル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、及びそれらの誘導体から選択される少なくとも一つを含有する基等が挙げられる。なかでも、その反応性に優れることから、連鎖重合性基としては、ビニル基、ビニルフェニル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、及びそれらの誘導体から選択される少なくとも一つを含有する基であることが好ましい。 The chain polymerizable group is not particularly limited as long as it is a functional group capable of radical polymerization. For example, it is a functional group having a group containing at least a carbon double bond. Specific examples include a group containing at least one selected from a vinyl group, a vinyl ether group, a vinyl thioether group, a vinylphenyl group, an acryloyl group, a methacryloyl group, and derivatives thereof. Among them, the chain polymerizable group is a group containing at least one selected from a vinyl group, a vinylphenyl group, an acryloyl group, a methacryloyl group, and derivatives thereof because of its excellent reactivity. preferable.
反応性基含有電荷輸送材料の電荷輸送性骨格としては、電子写真感光体における公知の構造であれば特に限定されるものではなく、例えば、トリアリールアミン系化合物、ベンジジン系化合物、ヒドラゾン系化合物等の含窒素の正孔輸送性化合物に由来する骨格であって、窒素原子と共役している構造が挙げられる。これらの中でも、トリアリールアミン骨格が好ましい。 The charge transporting skeleton of the reactive group-containing charge transporting material is not particularly limited as long as it is a known structure in an electrophotographic photoreceptor, and examples thereof include triarylamine compounds, benzidine compounds, hydrazone compounds, and the like. And a structure conjugated from a nitrogen-containing hole transporting compound and conjugated with a nitrogen atom. Among these, a triarylamine skeleton is preferable.
これら反応性基及び電荷輸送性骨格を有する反応性基含有電荷輸送材料、非反応性の電荷輸送材料、反応性基含有非電荷輸送材料は、周知の材料から選択すればよい。 The reactive group-containing charge transport material having a reactive group and a charge transport skeleton, a non-reactive charge transport material, and a reactive group-containing non-charge transport material may be selected from well-known materials.
保護層には、その他、周知の添加剤が含まれていてもよい。 In addition, the protective layer may contain known additives.
保護層の形成は、特に制限はなく、周知の形成方法が利用されるが、例えば、上記成分を溶剤に加えた保護層形成用塗布液の塗膜を形成し、当該塗膜を乾燥し、必要に応じて加熱等の硬化処理することで行う。 The formation of the protective layer is not particularly limited, and a known formation method is used.For example, a coating film of a coating liquid for forming a protective layer in which the above components are added to a solvent is formed, and the coating film is dried. It is performed by performing a curing process such as heating as necessary.
保護層形成用塗布液を調製するための溶剤としては、トルエン、キシレン等の芳香族系溶剤;メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン系溶剤;酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル系溶剤;テトラヒドロフラン、ジオキサン等のエーテル系溶剤;エチレングリコールモノメチルエーテル等のセロソルブ系溶剤;イソプロピルアルコール、ブタノール等のアルコール系溶剤等が挙げられる。これら溶剤は、単独で又は2種以上混合して用いる。
なお、保護層形成用塗布液は、無溶剤の塗布液であってもよい。
Solvents for preparing the coating solution for forming the protective layer include aromatic solvents such as toluene and xylene; ketone solvents such as methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone and cyclohexanone; ester solvents such as ethyl acetate and butyl acetate; tetrahydrofuran And ether solvents such as dioxane; cellosolv solvents such as ethylene glycol monomethyl ether; alcohol solvents such as isopropyl alcohol and butanol. These solvents are used alone or in combination of two or more.
The protective layer forming coating solution may be a solventless coating solution.
保護層形成用塗布液を感光層(例えば電荷輸送層)上に塗布する方法としては、浸漬塗布法、突き上げ塗布法、ワイヤーバー塗布法、スプレー塗布法、ブレード塗布法、ナイフ塗布法、カーテン塗布法等の通常の方法が挙げられる。 As a method for applying the coating solution for forming the protective layer on the photosensitive layer (for example, charge transport layer), dip coating method, push-up coating method, wire bar coating method, spray coating method, blade coating method, knife coating method, curtain coating method. Ordinary methods such as a method may be mentioned.
保護層の膜厚は、例えば、好ましくは1μm以上20μm以下、より好ましくは2μm以上10μm以下の範囲内に設定される。 The thickness of the protective layer is, for example, preferably set in the range of 1 μm to 20 μm, more preferably 2 μm to 10 μm.
(単層型感光層)
単層型感光層(電荷発生/電荷輸送層)は、例えば、電荷発生材料と電荷輸送材料と、必要に応じて、結着樹脂、及びその他周知の添加剤と、を含む層である。なお、これら材料は、電荷発生層及び電荷輸送層で説明した材料と同様である。
そして、単層型感光層中、電荷発生材料の含有量は、全固形分に対して10質量%以上85質量%以下がよく、好ましくは20質量%以上50質量%以下である。また、単層型感光層中、電荷輸送材料の含有量は、全固形分に対して5質量%以上50質量%以下がよい。
単層型感光層の形成方法は、電荷発生層や電荷輸送層の形成方法と同様である。
単層型感光層の膜厚は、例えば、5μm以上50μm以下がよく、好ましくは10μm以上40μm以下である。
(Single layer type photosensitive layer)
The single-layer type photosensitive layer (charge generation / charge transport layer) is, for example, a layer containing a charge generation material, a charge transport material, and, if necessary, a binder resin and other known additives. Note that these materials are the same as those described for the charge generation layer and the charge transport layer.
In the single-layer type photosensitive layer, the content of the charge generating material is preferably 10% by mass or more and 85% by mass or less, and preferably 20% by mass or more and 50% by mass or less with respect to the total solid content. In the single-layer type photosensitive layer, the content of the charge transport material is preferably 5% by mass or more and 50% by mass or less based on the total solid content.
The method for forming the single-layer type photosensitive layer is the same as the method for forming the charge generation layer and the charge transport layer.
The film thickness of the single-layer type photosensitive layer is, for example, from 5 μm to 50 μm, and preferably from 10 μm to 40 μm.
<帯電装置>
帯電装置8としては、例えば、導電性又は半導電性の帯電ローラ、帯電ブラシ、帯電フィルム、帯電ゴムブレード、帯電チューブ等を用いた接触型帯電器が使用される。また、非接触方式のローラ帯電器、コロナ放電を利用したスコロトロン帯電器やコロトロン帯電器等のそれ自体公知の帯電器等も使用される。
<Charging device>
As the charging device 8, for example, a contact type charger using a conductive or semiconductive charging roller, a charging brush, a charging film, a charging rubber blade, a charging tube or the like is used. Further, a non-contact type roller charger, a known charger such as a scorotron charger using a corona discharge or a corotron charger may be used.
<露光装置>
露光装置9としては、例えば、電子写真感光体7表面に、半導体レーザ光、LED光、液晶シャッタ光等の光を、定められた像様に露光する光学系機器等が挙げられる。光源の波長は電子写真感光体の分光感度領域内とする。半導体レーザの波長としては、780nm付近に発振波長を有する近赤外が主流である。しかし、この波長に限定されず、600nm台の発振波長レーザや青色レーザとして400nm以上450nm以下に発振波長を有するレーザも利用してもよい。また、カラー画像形成のためにはマルチビームを出力し得るタイプの面発光型のレーザ光源も有効である。
<Exposure device>
Examples of the exposure device 9 include optical system devices that expose the surface of the electrophotographic photoreceptor 7 with light such as semiconductor laser light, LED light, and liquid crystal shutter light in a predetermined image-like manner. The wavelength of the light source is set within the spectral sensitivity region of the electrophotographic photosensitive member. As the wavelength of the semiconductor laser, near infrared having an oscillation wavelength near 780 nm is the mainstream. However, the present invention is not limited to this wavelength, and an oscillation wavelength laser in the 600 nm range or a laser having an oscillation wavelength of 400 nm to 450 nm as a blue laser may be used. In addition, a surface-emitting type laser light source that can output a multi-beam is also effective for color image formation.
<現像装置>
現像装置11としては、例えば、現像剤を接触又は非接触させて現像する一般的な現像装置が挙げられる。現像装置11としては、上述の機能を有している限り特に制限はなく、目的に応じて選択される。例えば、一成分系現像剤又は二成分系現像剤をブラシ、ローラ等を用いて電子写真感光体7に付着させる機能を有する公知の現像器等が挙げられる。中でも現像剤を表面に保持した現像ローラを用いるものが好ましい。
<Developing device>
Examples of the developing device 11 include a general developing device that performs development by bringing a developer into contact or non-contact with the developer. The developing device 11 is not particularly limited as long as it has the functions described above, and is selected according to the purpose. For example, a known developing device having a function of attaching a one-component developer or a two-component developer to the electrophotographic photosensitive member 7 using a brush, a roller, or the like can be used. Among these, those using a developing roller holding the developer on the surface are preferable.
現像装置11に使用される現像剤は、トナー単独の一成分系現像剤であってもよいし、トナーとキャリアとを含む二成分系現像剤であってもよい。また、現像剤は、磁性であってもよいし、非磁性であってもよい。これら現像剤は、周知のものが適用される。 The developer used in the developing device 11 may be a one-component developer including a toner alone or a two-component developer including a toner and a carrier. Further, the developer may be magnetic or non-magnetic. A well-known thing is applied for these developers.
<クリーニング装置>
クリーニング装置13は、クリーニングブレード131を備えるクリーニングブレード方式の装置が用いられる。
なお、クリーニングブレード方式以外にも、ファーブラシクリーニング方式、現像同時クリーニング方式を採用してもよい。
<Cleaning device>
As the cleaning device 13, a cleaning blade type device including a cleaning blade 131 is used.
In addition to the cleaning blade method, a fur brush cleaning method and a simultaneous development cleaning method may be employed.
<中間転写体>
中間転写体50としては、半導電性を付与したポリイミド、ポリアミドイミド、ポリカーボネート、ポリアリレート、ポリエステル、ゴム等を含むベルト状のもの(中間転写ベルト)が使用される。また、中間転写体の形態としては、ベルト状以外にドラム状のものを用いてもよい。
<Intermediate transfer member>
As the intermediate transfer member 50, a belt-like member (intermediate transfer belt) containing polyimide, polyamideimide, polycarbonate, polyarylate, polyester, rubber or the like having semiconductivity is used. Further, as the form of the intermediate transfer member, a drum-like member may be used in addition to the belt-like member.
本実施形態では、中間転写体50として、体積抵抗率の常用対数値が8.0logΩ・cm以上12.0logΩ・cm以下であるものを用いる。
中間転写体50の体積抵抗率の常用対数値が上記範囲であることにより、上記範囲よりも大きい場合に比べて、一次転写時の静電反発によるトナーの飛び散りに起因する転写不良が抑制される。また中間転写体50の体積抵抗率の常用対数値が上記範囲であることにより、上記範囲よりも小さい場合に比べて、中間転写体の像保持力が不足することによる像流れに起因する転写不良が抑制される。
また、中間転写体50の体積抵抗率の常用対数値は、転写不良の抑制の観点から、8.0logΩ・cm以上12.0logΩ・cm以下が好ましく、9.0logΩ・cm以上11.0logΩ・cm以下がより好ましい。
In the present embodiment, as the intermediate transfer member 50, one having a common logarithmic value of volume resistivity of 8.0 logΩ · cm or more and 12.0 logΩ · cm or less is used.
When the common logarithmic value of the volume resistivity of the intermediate transfer member 50 is in the above range, transfer defects caused by scattering of toner due to electrostatic repulsion at the time of primary transfer are suppressed as compared with the case where the volume resistivity is larger than the above range. . Further, since the common logarithmic value of the volume resistivity of the intermediate transfer member 50 is in the above range, the transfer failure due to image flow due to insufficient image holding force of the intermediate transfer member as compared with the case where the volume resistivity is smaller than the above range. Is suppressed.
Further, the common logarithmic value of the volume resistivity of the intermediate transfer member 50 is preferably 8.0 logΩ · cm or more and 12.0 logΩ · cm or less, and 9.0 logΩ · cm or more and 11.0 logΩ · cm or less from the viewpoint of suppressing transfer failure. The following is more preferable.
中間転写体50の体積抵抗率は、例えば中間転写体50が中間転写ベルト(無端ベルト)である場合、JIS K6911に準じて、図4に示す体積抵抗率測定装置500を用いて、測定する。詳細には、図4に示すように、体積抵抗率測定装置500は、円形電極520と、平板状の対向電極540と、を備えている。円形電極520は、円柱状電極部560と、該円柱状電極部560の外径より大きい内径を有し、且つ円柱状電極部560を一定の間隔をあけて囲む円筒状の円筒状電極部580と、を備えている。対向電極540は、測定対象の無端ベルトである中間転写体50を介して円形電極520に向かい合うように配置される電極である。 For example, when the intermediate transfer member 50 is an intermediate transfer belt (endless belt), the volume resistivity of the intermediate transfer member 50 is measured using a volume resistivity measuring apparatus 500 shown in FIG. 4 according to JIS K6911. Specifically, as shown in FIG. 4, the volume resistivity measuring device 500 includes a circular electrode 520 and a flat counter electrode 540. The circular electrode 520 has a columnar electrode portion 560 and a cylindrical cylindrical electrode portion 580 having an inner diameter larger than the outer diameter of the columnar electrode portion 560 and surrounding the columnar electrode portion 560 at a predetermined interval. And. The counter electrode 540 is an electrode disposed so as to face the circular electrode 520 through the intermediate transfer member 50 that is an endless belt to be measured.
円形電極520としては、例えば、三菱アナリテック株式会社製ハイレスターUPのURプローブ(二重リング電極構造のプローブ)等が挙げられる。また、対向電極540としては、例えば、SUS304製の平板状の電極(例えば、5mm厚、80mm×500mmの板状部材)が挙げられる。また、電流の測定装置としては、例えば、R8340Aデジタル超高抵抗/微小電流計(株式会社 アドバンテスト社製)が挙げられる。 As the circular electrode 520, for example, UR probe (probe of double ring electrode structure) of Hiresta UP manufactured by Mitsubishi Analytech Co., Ltd. can be used. Further, as the counter electrode 540, for example, a plate-like electrode made of SUS304 (for example, a plate-like member having a thickness of 5 mm and 80 mm × 500 mm) can be used. Examples of the current measuring device include an R8340A digital ultrahigh resistance / microammeter (manufactured by Advantest Corporation).
体積抵抗率の測定時には、例えば、円形電極520における円柱状電極部560と、対向電極540と、の間に測定対象の無端ベルトである中間転写体50を挟み、荷重が19.6Nになるように重りを載せて中間転写体50に一様な荷重がかかるようにする。そして、例えば、円形電極520に上記デジタル超高抵抗/微小電流計を電気的に接続し、測定条件を、チャージタイムを3sec、ディスチャージタイムを1sec、印加電圧を100Vとする。 At the time of measuring the volume resistivity, for example, the intermediate transfer body 50 that is an endless belt to be measured is sandwiched between the cylindrical electrode portion 560 of the circular electrode 520 and the counter electrode 540 so that the load becomes 19.6 N. A weight is placed on the intermediate transfer member 50 so that a uniform load is applied to the intermediate transfer member 50. For example, the above-mentioned digital ultrahigh resistance / microammeter is electrically connected to the circular electrode 520, and the measurement conditions are a charge time of 3 sec, a discharge time of 1 sec, and an applied voltage of 100V.
この時、測定対象の中間転写体50の体積抵抗率をρv、中間転写体50の厚さt(μm)、R8340A デジタル超高抵抗/微小電流計の読み値をR、円形電極52の体積抵抗率補正係数をRCF(V)とする。なお、円形電極520として、三菱アナリテック株式会社製ハイレスターUPのURプローブを用いた場合には、ダイアインスツルメンツ社「抵抗率計シリーズ」カタログによれば、RCF(V)=2.011である。このため、中間転写体50の体積抵抗率は、下記式(1)により算出される。
式(1):ρv[Ω・cm]=R×RCF(V)×(10000/t)=R×2.011×(10000/t)となる。
At this time, the volume resistivity of the intermediate transfer member 50 to be measured is ρv, the thickness t (μm) of the intermediate transfer member 50, the R8340A digital ultrahigh resistance / microammeter reading is R, the volume resistance of the circular electrode 52 Let the rate correction coefficient be RCF (V). In addition, when the UR probe of Hiresta UP manufactured by Mitsubishi Analytech Co., Ltd. is used as the circular electrode 520, according to Dia Instruments “Resistivity Meter Series” catalog, RCF (V) is 2.011. . For this reason, the volume resistivity of the intermediate transfer member 50 is calculated by the following formula (1).
Formula (1): ρv [Ω · cm] = R × RCF (V) × (10000 / t) = R × 2.011 × (10000 / t).
中間転写体50の体積抵抗率を制御する方法としては、特に制限されるものではないが、中間転写体50が樹脂と導電材料とを含有する中間転写ベルトである場合、例えば、樹脂中における導電材料の分散度を調整する方法、及び樹脂中における導電材料の含有量を調整する方法、並びにこれらを組み合わせる方法等が挙げられる。 The method for controlling the volume resistivity of the intermediate transfer member 50 is not particularly limited. However, when the intermediate transfer member 50 is an intermediate transfer belt containing a resin and a conductive material, for example, the conductivity in the resin. Examples thereof include a method for adjusting the degree of dispersion of the material, a method for adjusting the content of the conductive material in the resin, a method for combining these, and the like.
具体的には、各種材料の種類、組み合わせ、及び含有量等の条件によって適切な調整方法が変わるが、例えば、導電材料の分散度を下げると中間転写体50の体積抵抗率が下がり、導電材料の分散度を上げると中間転写体50の体積抵抗率が上がる。なお、分散度を調整する方法は、例えば、中間転写ベルト形成用塗布液を形成する際における導電材料の分散時間等によって調整する方法が挙げられる。
また、導電材料の含有量を多くすると中間転写体50の体積抵抗率が下がり、導電材料の含有量を少なくすると中間転写体50の体積抵抗率が上がる。
以下、中間転写体50の一例として、中間転写ベルト(無端ベルト)について、材料、製造方法、及び特性等を説明する。
Specifically, an appropriate adjustment method varies depending on conditions such as the type, combination, and content of various materials. For example, when the degree of dispersion of the conductive material is decreased, the volume resistivity of the intermediate transfer member 50 is decreased, and the conductive material is reduced. Increasing the degree of dispersion increases the volume resistivity of the intermediate transfer member 50. Examples of the method for adjusting the degree of dispersion include a method of adjusting the dispersion time of the conductive material when forming the intermediate transfer belt forming coating solution.
Further, when the content of the conductive material is increased, the volume resistivity of the intermediate transfer body 50 is decreased, and when the content of the conductive material is decreased, the volume resistivity of the intermediate transfer body 50 is increased.
Hereinafter, as an example of the intermediate transfer member 50, materials, manufacturing methods, characteristics, and the like of an intermediate transfer belt (endless belt) will be described.
(中間転写ベルト)
中間転写ベルトは、例えば、樹脂と、導電材料と、を含む。
樹脂としては、例えば、ポリイミド系樹脂(例えば、熱可塑性、又は熱硬化性のポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリエステルイミド樹脂)、ポリアミド樹脂、ポリエーテルエーテルエステル樹脂、ポリアリレート樹脂、ポリエステル樹脂、補強材を添加してなるポリエステル樹脂などが挙げられる。
樹脂としては、これらの中でもポリイミド系樹脂が好適である。
(Intermediate transfer belt)
The intermediate transfer belt includes, for example, a resin and a conductive material.
Examples of the resin include polyimide resins (for example, thermoplastic or thermosetting polyimide resins, polyamide imide resins, polyether imide resins, polyester imide resins), polyamide resins, polyether ether ester resins, polyarylate resins, Examples thereof include polyester resins and polyester resins obtained by adding a reinforcing material.
Among these, a polyimide resin is preferable as the resin.
中間転写ベルトに含まれる樹脂のヤング率は、ベルトとしての機械特性を発揮する観点から、例えば3500MPa以上が挙げられ、好ましくは4000MPa以上である。
なお、ヤング率は、JIS K7127(1999)に準じて引張試験を行い、得られた応力・歪曲線の初期ひずみ領域の曲線に接線を引き、その傾きにより求める。測定条件としては、短冊状試験片(幅6mm、長さ130mm)、ダンベル1号、試験速度500mm/分、厚みはベルト本体の厚みの各設定で測定するものとする。
The Young's modulus of the resin contained in the intermediate transfer belt is, for example, 3500 MPa or more, preferably 4000 MPa or more, from the viewpoint of exhibiting mechanical properties as a belt.
The Young's modulus is obtained by performing a tensile test according to JIS K7127 (1999), drawing a tangent line to the curve of the initial strain region of the obtained stress / strain curve, and determining the inclination. As the measurement conditions, a strip-shaped test piece (width 6 mm, length 130 mm), dumbbell No. 1, test speed 500 mm / min, and thickness are measured at each setting of the belt body thickness.
導電材料としては、例えば、導電性(例えば体積抵抗率107Ω・cm未満、以下同様である)もしくは半導電性(例えば体積抵抗率107Ω・cm以上1013Ω・cm以下、以下同様である)の材料が挙げられる。
導電材料として具体的は、例えば、カーボンブラック(例えばケッチエンブラック、アセチレンブラック、表面が酸化処理されたカーボンブラック等)、金属(例えばアルミニウムやニッケル等)、酸化金属化合物(例えば酸化イットリウム、酸化錫等)、イオン導電性物質(例えばチタン酸カリウム、LiCl等)、導電性高分子(例えばポリアニリン、ポリピロール、ポリサルフォン、ポリアセチレンなど)等が挙げられる。
導電材料は、1種単独で用いてもよいし、2種以上併用してもよい。
Examples of the conductive material include conductivity (for example, volume resistivity of less than 10 7 Ω · cm, the same applies hereinafter) or semi-conductivity (for example, volume resistivity of 10 7 Ω · cm to 10 13 Ω · cm, and the same applies hereinafter). Material).
Specific examples of the conductive material include, for example, carbon black (eg, Ketchen black, acetylene black, carbon black whose surface is oxidized), metal (eg, aluminum or nickel), metal oxide compound (eg, yttrium oxide, tin oxide). Etc.), ion conductive materials (for example, potassium titanate, LiCl, etc.), conductive polymers (for example, polyaniline, polypyrrole, polysulfone, polyacetylene, etc.) and the like.
A conductive material may be used individually by 1 type, and may be used together 2 or more types.
導電材料は、電気抵抗の経時での安定性や、転写電圧による電界集中を抑制する電界依存性の観点から、pH5以下(好ましくはpH4.5以下であり、より好ましくはpH4.0以下)の酸化処理カーボンブラック(例えば表面にカルボキシル基、キノン基、ラクトン基、水酸基等を付与して得られたカーボンブラック)がよく、電気的耐久性付与の観点から、導電性高分子(例えばポリアニリン等)がよい。 The conductive material has a pH of 5 or less (preferably pH 4.5 or less, more preferably pH 4.0 or less) from the viewpoint of stability over time of electric resistance and electric field dependency that suppresses electric field concentration due to transfer voltage. Oxidized carbon black (for example, carbon black obtained by adding carboxyl group, quinone group, lactone group, hydroxyl group, etc. on the surface) is good, and from the viewpoint of imparting electrical durability, conductive polymer (for example, polyaniline) Is good.
導電材料がカーボンブラック等のように粒子状である場合、その個数平均一次粒径としては、例えば10μm未満が挙げられ、好ましくは1μm以下である。
特に、導電材料がカーボンブラックである場合、個数平均一次粒径は、例えば、10nm以上50nm以下が挙げられ、15nm以上30nm以下が好ましい。
上記個数平均一次粒径は、次の方法により測定される。
まず、測定対象となる中間転写ベルトから、ミクロトームにより切断して、100nmの厚みの測定サンプルを採取し、本測定サンプルをTEM(透過型電子顕微鏡)により観察する。そして、導電材料の粒子50個の各々の投影面積に等しい円の直径を粒径として、その平均値を個数平均一次粒径とする。
When the conductive material is in the form of particles such as carbon black, the number average primary particle size is, for example, less than 10 μm, preferably 1 μm or less.
In particular, when the conductive material is carbon black, the number average primary particle size is, for example, from 10 nm to 50 nm, and preferably from 15 nm to 30 nm.
The number average primary particle size is measured by the following method.
First, a measurement sample having a thickness of 100 nm is taken from the intermediate transfer belt to be measured by a microtome, and this measurement sample is observed with a TEM (transmission electron microscope). The diameter of a circle equal to the projected area of each of the 50 particles of the conductive material is defined as the particle diameter, and the average value is defined as the number average primary particle diameter.
導電材料の含有量は、例えば、中間転写ベルト全体に対して1質量%以上50質量%以下が挙げられ、中間転写ベルトの体積抵抗率を前記範囲にする観点から10質量%以上30質量%以下が好ましく、15質量%以上25質量%以下がより好ましい。 The content of the conductive material is, for example, from 1% by mass to 50% by mass with respect to the entire intermediate transfer belt. From the viewpoint of setting the volume resistivity of the intermediate transfer belt in the above range, the content is from 10% by mass to 30% by mass. Is preferable, and 15 mass% or more and 25 mass% or less are more preferable.
なお、中間転写ベルトは、樹脂及び導電材料以外のその他の添加剤を含んでもよい。その他の添加剤としては、例えば、導電材料の分散性を向上するための分散剤、中間転写ベルトの機械強度などの各種機能を付与するための各種充填剤、樹脂を合成する過程での反応を促進するための触媒、製膜品質向上のためのレベリング剤等が挙げられる。 The intermediate transfer belt may contain other additives other than the resin and the conductive material. Other additives include, for example, a dispersant for improving the dispersibility of the conductive material, various fillers for imparting various functions such as mechanical strength of the intermediate transfer belt, and a reaction in the process of synthesizing the resin. Examples thereof include a catalyst for promoting, a leveling agent for improving film forming quality, and the like.
(中間転写ベルトの製造方法)
以下、中間転写ベルトの一例として、樹脂がポリイミド樹脂であり、かつ、導電材料がカーボンブラックである形態の中間転写ベルトについて製造方法を説明するが、これに限られるわけではない。
(Method for manufacturing intermediate transfer belt)
Hereinafter, as an example of the intermediate transfer belt, a manufacturing method will be described for an intermediate transfer belt in which the resin is a polyimide resin and the conductive material is carbon black. However, the method is not limited to this.
まず、芯体を準備する。準備する芯体としては、例えば、円筒状金型等が挙げられる。芯体の素材としては、例えば、アルミニウム、ステンレス、ニッケル等の金属が挙げられる。芯体の長さは、製造する中間転写ベルトの幅以上の長さが必要であるが、製造する中間転写ベルトの幅より、10%以上40%以下長いことが好ましい。 First, a core body is prepared. Examples of the core to be prepared include a cylindrical mold. Examples of the core material include metals such as aluminum, stainless steel, and nickel. The length of the core needs to be longer than the width of the intermediate transfer belt to be manufactured, but is preferably 10% to 40% longer than the width of the intermediate transfer belt to be manufactured.
次に、中間転写ベルト形成用塗布液として、例えば、カーボンブラックを分散させたポリアミック酸溶液を準備する。
具体的には、例えば、有機極性溶媒中にテトラカルボン酸二無水物とジアミン化合物を溶解させ、これにカーボンブラックを分散させた後、重合してカーボンブラックを分散させたポリアミック酸溶液を準備する。
Next, as a coating solution for forming an intermediate transfer belt, for example, a polyamic acid solution in which carbon black is dispersed is prepared.
Specifically, for example, a tetracarboxylic acid dianhydride and a diamine compound are dissolved in an organic polar solvent, and after carbon black is dispersed therein, a polyamic acid solution in which carbon black is dispersed by polymerization is prepared. .
有機極性溶媒としては、例えば、ジメチルスルホキシド、ジエチルスルホキシドなどのスルホキシド系溶媒;N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミドなどのホルムアミド系溶媒;N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジエチルアセトアミドなどのアセトアミド系溶媒;N−メチル−2−ピロリドン、N−ビニル−2−ピロリドンなどのピロリドン系溶媒;フェノール、o−、m−、又はp−クレゾール、キシレノール、ハロゲン化フェノール、カテコールなどのフェノール系溶媒;テトラヒドロフラン、ジオキサン、ジオキソラン等のエーテル系溶媒;メタノール、エタノール、ブタノール等のアルコール系溶媒;ブチルセロソルブ等のセロソルブ系;及びヘキサメチルホスホルアミド、γ−ブチロラクトン;等が挙げられる。
有機極性溶媒は、1種のみを用いても、2種以上を併用してもよい。
Examples of the organic polar solvent include sulfoxide solvents such as dimethyl sulfoxide and diethyl sulfoxide; formamide solvents such as N, N-dimethylformamide and N, N-diethylformamide; N, N-dimethylacetamide and N, N-diethyl. Acetamide solvents such as acetamide; pyrrolidone solvents such as N-methyl-2-pyrrolidone and N-vinyl-2-pyrrolidone; phenol, o-, m-, or p-cresol, xylenol, halogenated phenol, catechol, etc. Phenol solvents; ether solvents such as tetrahydrofuran, dioxane and dioxolane; alcohol solvents such as methanol, ethanol and butanol; cellosolv systems such as butyl cellosolve; and hexamethylphosphoramide, γ-butyrolactone; And the like.
The organic polar solvent may be used alone or in combination of two or more.
カーボンブラックの分散方法としては、例えば、ボールミル、サンドミル、ビーズミル、ジェットミル(対向衝突型分散機)等、公知の方法が挙げられる。 Examples of the carbon black dispersion method include known methods such as a ball mill, a sand mill, a bead mill, and a jet mill (opposing collision type disperser).
ポリアミック酸溶液における、モノマー濃度(溶媒中におけるテトラカルボン酸二無水物とジアミン化合物の濃度)は種々の条件により設定されるが、例えば、5質量%以上30質量%以下が挙げられる。また、重合反応温度は80℃以下に設定することが好ましく、特に好ましくは5℃以上50℃以下であり、重合反応時間は5時間以上10時間以下である。 The monomer concentration (concentration of tetracarboxylic dianhydride and diamine compound in the solvent) in the polyamic acid solution is set according to various conditions, and examples thereof include 5% by mass to 30% by mass. The polymerization reaction temperature is preferably set to 80 ° C. or less, particularly preferably 5 ° C. to 50 ° C., and the polymerization reaction time is 5 hours to 10 hours.
次に、中間転写ベルト形成用塗布液を芯材としての円筒状金型に塗布し、中間転写ベルト形成用塗布液の塗膜を形成する。
塗布液の円筒状金型への塗布方法は、特に制限はなく、例えば、円筒状金型の外周面に浸漬する方法や、円筒状金型の内周面に塗布する方法、軸を水平にして円筒状金型を回転させながら、その外周面又は内周面にらせん状に塗布する方法や、円筒状金型の外周と特定の間隔を有するダイを用い塗布する方法により塗布する方法等が挙げられる。
Next, the intermediate transfer belt forming coating solution is applied to a cylindrical mold as a core material to form a coating film of the intermediate transfer belt forming coating solution.
The method of applying the coating liquid to the cylindrical mold is not particularly limited. For example, the method of immersing in the outer peripheral surface of the cylindrical mold, the method of applying to the inner peripheral surface of the cylindrical mold, and the axis being horizontal. A method of applying a spiral mold on the outer peripheral surface or the inner peripheral surface while rotating the cylindrical mold, a method of applying by using a die having a specific distance from the outer periphery of the cylindrical mold, etc. Can be mentioned.
次に、中間転写ベルト形成用塗布液の塗膜を乾燥させ、中間転写ベルトとなる皮膜(乾燥したイミド化前の塗膜)を形成する。乾燥条件は、例えば80℃以上200℃以下の温度で10分間以上60分間以下がよく、温度が高いほど加熱時間は短くてよい。加熱の際、熱風を当てることも有効である。加熱時は、温度を段階的に上昇させたり、速度を変化させずに上昇させてもよい。円筒状金型の軸方向を水平にして、芯体を5rpm以上60rpm以下で回転させるのがよい。乾燥後は円筒状金型を垂直にしてもよい。 Next, the coating film of the coating solution for forming the intermediate transfer belt is dried to form a coating film (dried coating film before imidization) to be an intermediate transfer belt. The drying conditions are, for example, from 80 ° C. to 200 ° C. for 10 minutes to 60 minutes, and the higher the temperature, the shorter the heating time. It is also effective to apply hot air during heating. During heating, the temperature may be increased stepwise or increased without changing the speed. The axial direction of the cylindrical mold is horizontal, and the core body is preferably rotated at 5 rpm or more and 60 rpm or less. After drying, the cylindrical mold may be made vertical.
次に、中間転写ベルト形成用塗布液の塗膜を乾燥させた皮膜に対して、加熱処理を行う。
本加熱処理は、皮膜のポリアミック酸がイミド化する条件(温度・時間)で行う。そして、本加熱処理を行った後、皮膜を芯体から抜き取る。これにより、中間転写ベルトが得られる。
Next, a heat treatment is performed on the film obtained by drying the coating film of the intermediate transfer belt forming coating solution.
This heat treatment is performed under conditions (temperature and time) under which the polyamic acid of the coating is imidized. And after performing this heat processing, a membrane | film | coat is extracted from a core. Thereby, an intermediate transfer belt is obtained.
ここで、イミド化する加熱条件としては、例えば250℃以上450℃以下(好ましくは300℃以上350℃以下)で、20分間以上60分間以下加熱することで、イミド化反応が起こり、ポリイミド樹脂の皮膜が形成される。加熱反応の際、加熱の最終温度に達する前に、温度を段階的、又は一定速度で徐々に上昇させて加熱することがよい。
なお、必要に応じて、得られた中間転写ベルトの表面に表面層を設けてもよい。
Here, as heating conditions for imidization, for example, by heating at 250 ° C. to 450 ° C. (preferably 300 ° C. to 350 ° C.) for 20 minutes to 60 minutes, an imidization reaction occurs, A film is formed. In the heating reaction, before reaching the final temperature of heating, it is preferable to heat by gradually increasing the temperature stepwise or at a constant rate.
If necessary, a surface layer may be provided on the surface of the obtained intermediate transfer belt.
(中間転写ベルトの特性)
中間転写体の外周面における表面抵抗率は、常用対数値で9(logΩ/□)以上13(logΩ/□)以下であることが好ましく、10(logΩ/□)以上12(logΩ/□)以下であることがより好ましい。
表面抵抗率の常用対数値が13(logΩ/□)を超えると、二次転写時に記録媒体と中間転写体とが静電吸着し、記録媒体の剥離ができなくなる場合がある。一方、表面抵抗率の常用対数値が9(logΩ/□)未満であると、中間転写体に一次転写されたトナー像の保持力が不足し画質の粒状性や像乱れが発生する場合がある。尚、前記表面抵抗率の常用対数値は、導電材料の種類、及び導電材料の添加量により制御される。
ここで、表面抵抗率の測定方法は、例えば、円形電極(例えば、三菱油化(株)製ハイレスターIPの「URプローブ」)を用い、JIS K6911に従って測定する。
(Characteristics of intermediate transfer belt)
The surface resistivity on the outer peripheral surface of the intermediate transfer member is preferably 9 (logΩ / □) or more and 13 (logΩ / □) or less as a common logarithmic value, and is preferably 10 (logΩ / □) or more and 12 (logΩ / □) or less. It is more preferable that
If the common logarithmic value of the surface resistivity exceeds 13 (log Ω / □), the recording medium and the intermediate transfer member may be electrostatically adsorbed during the secondary transfer, and the recording medium may not be peeled off. On the other hand, if the common logarithm value of the surface resistivity is less than 9 (log Ω / □), the holding power of the toner image primarily transferred to the intermediate transfer member may be insufficient, and image quality graininess and image disturbance may occur. . The common logarithm of the surface resistivity is controlled by the type of conductive material and the amount of conductive material added.
Here, the measurement method of the surface resistivity is measured according to JIS K6911 using, for example, a circular electrode (for example, “UR probe” of Hiresta IP manufactured by Mitsubishi Yuka Co., Ltd.).
中間転写ベルトの厚みは、例えば、50μm以上500μm以下が挙げられ、60μm以上300μm以下が好ましく、70μm以上150μm以下がより好ましい。
厚みの測定方法については、JIS H8680−1による顕微鏡断面測定法、JIS H8680−2による渦電流式測定法、JIS H8680−3によるスプリットビーム顕微鏡測定法などが挙げられる。例えば、渦電流式測定法(膜厚測定装置:フィッシャーインスツルメンツ:イソスコープMP30)を用いて測定される。
The thickness of the intermediate transfer belt is, for example, from 50 μm to 500 μm, preferably from 60 μm to 300 μm, and more preferably from 70 μm to 150 μm.
Examples of the thickness measuring method include a microscope cross-section measuring method according to JIS H8680-1, an eddy current measuring method according to JIS H8680-2, and a split beam microscope measuring method according to JIS H8680-3. For example, it is measured using an eddy current measurement method (film thickness measuring device: Fischer Instruments: Isoscope MP30).
<転写装置>
転写装置40としては、例えば、ベルト、ローラ、フィルム、ゴムブレード等を用いた接触型転写帯電器、コロナ放電を利用したスコロトロン転写帯電器やコロトロン転写帯電器等のそれ自体公知の転写帯電器が挙げられる。
<Transfer device>
As the transfer device 40, for example, a contact transfer charger using a belt, a roller, a film, a rubber blade, etc., or a known transfer charger such as a scorotron transfer charger using a corona discharge or a corotron transfer charger. Can be mentioned.
図示しない電源によって、トナーの極性とは逆極性の転写電圧を転写装置40に印加することで、転写装置40と電子写真感光体7との間に転写電流(一次転写電流)が流れ、電子写真感光体7上のトナー像が中間転写体50に転写される。
なお、本実施形態では、一次転写電流値を15(μA/mm)以上19(μA/mm)以下とする。一次転写電流値が上記範囲であることにより、上記範囲よりも大きい場合に比べてゴーストが抑制される。また、一次転写電流値が上記範囲であることにより、上記範囲よりも小さい場合に比べて転写不良が抑制される。
また、一次転写電流値は、転写不良の抑制及びゴーストの抑制を両立する観点から、軸方向の単位長さ(mm)あたりの転写電流値が15(μA/mm)以上19(μA/mm)以下、17(μA/mm)以上18(μA/mm)以下がより好ましい。
なお、図示しない二次転写装置については、中間転写体50上のトナー像を記録媒体に転写するものであること以外は、上記転写装置40と同様の構成が適用される。
A transfer voltage (primary transfer current) flows between the transfer device 40 and the electrophotographic photosensitive member 7 by applying a transfer voltage having a polarity opposite to that of the toner to the transfer device 40 by a power source (not shown). The toner image on the photoreceptor 7 is transferred to the intermediate transfer member 50.
In this embodiment, the primary transfer current value is 15 (μA / mm) or more and 19 (μA / mm) or less. When the primary transfer current value is in the above range, ghost is suppressed as compared with a case where the primary transfer current value is larger than the above range. Further, when the primary transfer current value is in the above range, transfer defects are suppressed as compared with a case where the primary transfer current value is smaller than the above range.
The primary transfer current value is 15 (μA / mm) or more and 19 (μA / mm) per unit length (mm) in the axial direction from the viewpoint of achieving both transfer defect suppression and ghost suppression. Hereinafter, 17 (μA / mm) or more and 18 (μA / mm) or less is more preferable.
The secondary transfer device (not shown) has the same configuration as that of the transfer device 40 except that the toner image on the intermediate transfer member 50 is transferred to a recording medium.
図5は、本実施形態に係る画像形成装置の他の一例を示す概略構成図である。
図5に示す画像形成装置120は、プロセスカートリッジ300を4つ搭載したタンデム方式の多色画像形成装置である。画像形成装置120では、中間転写体50上に4つのプロセスカートリッジ300がそれぞれ並列に配置されており、1色に付き1つの電子写真感光体が使用される構成となっている。なお、画像形成装置120は、タンデム方式であること以外は、画像形成装置100と同様の構成を有している。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram illustrating another example of the image forming apparatus according to the present embodiment.
An image forming apparatus 120 shown in FIG. 5 is a tandem multicolor image forming apparatus equipped with four process cartridges 300. In the image forming apparatus 120, four process cartridges 300 are arranged in parallel on the intermediate transfer member 50, and one electrophotographic photosensitive member is used for one color. The image forming apparatus 120 has the same configuration as that of the image forming apparatus 100 except that it is a tandem system.
本実施形態に係る画像形成装置は、前述したごとく、図1及び図5に示される構成に限定されない。具体的には、前述した、単位面積あたりの静電容量が前記範囲である下引層を有する感光体、体積抵抗率の常用対数値が前記範囲である中間転写体、及び一次転写電流値が前記範囲である一次転写手段を備えていれば、その他の構成は、周知のものを採用すればよい。 As described above, the image forming apparatus according to the present embodiment is not limited to the configuration shown in FIGS. Specifically, the above-described photoreceptor having an undercoat layer whose capacitance per unit area is in the above range, the intermediate transfer body in which the common logarithmic value of volume resistivity is in the above range, and the primary transfer current value are As long as the primary transfer means within the above range is provided, other configurations may be adopted.
以下、実施例により本実施形態を詳細に説明するが、本実施形態は、これら実施例に何ら限定されるものではない。なお、以下の説明において、特に断りのない限り、「部」及び「%」はすべて質量基準である。 Hereinafter, although an embodiment explains this embodiment in detail, this embodiment is not limited to these examples at all. In the following description, “part” and “%” are all based on mass unless otherwise specified.
<感光体の作製>
〔感光体1〕
(下引層の形成)
酸化亜鉛粒子(商品名:MZ−300、テイカ社製、体積平均一次粒径:35nm):100質量部、シランカップリング剤として、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルトリエトキシシラン(10質量%のトルエン溶液):10質量部、及びトルエン:200質量部を混合して攪拌を行い、2時間還流を行った。その後、10mmHgにてトルエンを減圧留去し、135℃で2時間焼き付け表面処理を行った。
<Production of photoconductor>
[Photoreceptor 1]
(Formation of undercoat layer)
Zinc oxide particles (trade name: MZ-300, manufactured by Teica, volume average primary particle size: 35 nm): 100 parts by mass, as a silane coupling agent, N-β (aminoethyl) γ-aminopropyltriethoxysilane (10 (Mass% toluene solution): 10 parts by mass and toluene: 200 parts by mass were mixed and stirred, and refluxed for 2 hours. Thereafter, toluene was distilled off under reduced pressure at 10 mmHg, and surface treatment was performed by baking at 135 ° C. for 2 hours.
この表面処理後の酸化亜鉛粒子:33質量部、ブロック化イソシアネート(商品名:スミジュール3175、住友バイエルンウレタン社製):6質量部、電子受容性化合物「例示化合物(1−9)」:1質量部、及びメチルエチルケトン:25質量部を30分間混合した。その後、ブチラール樹脂(商品名:エスレックBM−1、積水化学工業社製):5質量部、シリコーンボール(商品名:トスパール120、モメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ社製):3質量部、レベリング剤として、シリコーンオイル(商品名:SH29PA、東レダウコーニングシリコーン社製):0.01質量部を添加し、サンドミルにて1.2時間の分散を行い、下引層形成用塗布液を得た。 Zinc oxide particles after this surface treatment: 33 parts by mass, blocked isocyanate (trade name: Sumidur 3175, manufactured by Sumitomo Bayern Urethane Co., Ltd.): 6 parts by mass, electron-accepting compound “Exemplary Compound (1-9)”: 1 Part by mass and 25 parts by mass of methyl ethyl ketone were mixed for 30 minutes. Then, butyral resin (trade name: ESREC BM-1, manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.): 5 parts by mass, silicone ball (trade name: Tospearl 120, manufactured by Momentive Performance Materials): 3 parts by mass, as a leveling agent Silicone oil (trade name: SH29PA, manufactured by Toray Dow Corning Silicone Co., Ltd.): 0.01 part by mass was added and dispersed for 1.2 hours in a sand mill to obtain a coating solution for forming an undercoat layer.
この下引層形成用塗布液を用いて、浸漬塗布法にて直径40mm、長さ357mm、肉厚1.0mmのアルミニウム製の基体(アルミニウム基体)上に塗布し、180℃、30分の乾燥硬化を行い、膜厚25μmの下引層を得た。 Using this coating solution for forming the undercoat layer, it was applied onto an aluminum substrate (aluminum substrate) having a diameter of 40 mm, a length of 357 mm, and a thickness of 1.0 mm by a dip coating method, and dried at 180 ° C. for 30 minutes. Curing was performed to obtain an undercoat layer having a thickness of 25 μm.
(電荷発生層の形成)
電荷発生材料として、ヒドロキシガリウムフタロシアニン顔料:18質量部、結着樹脂として、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体樹脂(商品名:VMCH、株式会社NUC製):16質量部、及びn−酢酸ブチル:100質量部からなる混合物を容量100mLガラス瓶中に、充填率50%で1.0mmφガラスビーズと共に入れて、ペイントシェーカーを用いて2.5時間分散処理し、電荷発生層形成用塗布液を得た。得られた電荷発生層形成用塗布液を、上記で形成した下引層上に浸漬塗布し、100℃、5分の条件で乾燥して、膜厚0.20μmの電荷発生層を形成した。
(Formation of charge generation layer)
As a charge generation material, hydroxygallium phthalocyanine pigment: 18 parts by mass, as a binder resin, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer resin (trade name: VMCH, manufactured by NUC Corporation): 16 parts by mass, and n-butyl acetate: A mixture of 100 parts by mass was placed in a 100 mL glass bottle together with 1.0 mmφ glass beads at a filling rate of 50%, and dispersed for 2.5 hours using a paint shaker to obtain a coating solution for forming a charge generation layer. . The obtained coating solution for forming a charge generation layer was dip-coated on the subbing layer formed above, and dried at 100 ° C. for 5 minutes to form a charge generation layer having a thickness of 0.20 μm.
(電荷輸送層の形成)
電荷輸送材料として、ブタジエン系電荷輸送材料(CT1)「例示化合物(CT1−3):2質量部と、下記構造式(CT2A)で示されるベンジジン誘導体である電荷輸送材料:2質量部と、結着樹脂として、下記構造式(PC−1)で示されるポリカーボネート樹脂(pm:pn=25:75、粘度平均分子量=4万):6質量部とをテトラヒドロフラン:60質量部に加えて溶解した電荷輸送層形成用を得た。この電荷輸送層形成用塗布液を、上記で形成した電荷発生層上に塗布して、150℃、30分の条件で乾燥を行い、膜厚24μmの電荷輸送層を形成した。
(Formation of charge transport layer)
As a charge transport material, a butadiene-based charge transport material (CT1) “Exemplary compound (CT1-3): 2 parts by mass, a charge transport material which is a benzidine derivative represented by the following structural formula (CT2A): 2 parts by mass, Charge resin dissolved as polycarbonate resin represented by the following structural formula (PC-1) (pm: pn = 25: 75, viscosity average molecular weight = 40,000): 6 parts by mass of tetrahydrofuran: 60 parts by mass This charge transport layer forming coating solution was applied onto the charge generation layer formed above, dried at 150 ° C. for 30 minutes, and a charge transport layer having a thickness of 24 μm. Formed.
以上の工程を経て、感光体1を得た。
得られた感光体の下引層における単位面積あたりの静電容量を前述の方法で測定した結果、1.0×10−9F/cm2であった。
The photoreceptor 1 was obtained through the above steps.
As a result of measuring the electrostatic capacity per unit area in the undercoat layer of the obtained photoreceptor by the above-mentioned method, it was 1.0 × 10 −9 F / cm 2 .
〔感光体2〕
感光体1の下引層の形成において、サンドミルの分散時間を1.2時間から0.8時間に代えた以外は、感光体1と同様にして、感光体2を作製した。
得られた感光体の下引層における単位面積あたりの静電容量を前述の方法で測定した結果、1.5×10−8F/cm2であった。
[Photoreceptor 2]
Photosensitive member 2 was produced in the same manner as photosensitive member 1, except that the sand mill dispersion time was changed from 1.2 hours to 0.8 hour in forming the undercoat layer of photosensitive member 1.
As a result of measuring the electrostatic capacity per unit area in the undercoat layer of the obtained photoreceptor by the above-described method, it was 1.5 × 10 −8 F / cm 2 .
〔感光体3〕
感光体1の下引層の形成において、サンドミルの分散時間を1.2時間から1.0時間に代えた以外は、感光体1と同様にして、感光体3を作製した。
得られた感光体の下引層における単位面積あたりの静電容量を前述の方法で測定した結果、5×10−9F/cm2であった。
[Photoreceptor 3]
Photoreceptor 3 was produced in the same manner as Photoreceptor 1, except that the sand mill dispersion time was changed from 1.2 hours to 1.0 hour in forming the undercoat layer of Photoreceptor 1.
As a result of measuring the electrostatic capacity per unit area in the undercoat layer of the obtained photoreceptor by the above-described method, it was 5 × 10 −9 F / cm 2 .
〔感光体C1〕
感光体1の下引層の形成において、サンドミルの分散時間を1.2時間から1.4時間に代えた以外は、感光体1と同様にして、感光体C1を作製した。
得られた感光体の下引層における単位面積あたりの静電容量を前述の方法で測定した結果、2.0×10−8F/cm2であった。
[Photoreceptor C1]
Photoreceptor C1 was produced in the same manner as Photoreceptor 1, except that the undercoat layer of Photoreceptor 1 was changed from 1.2 hours to 1.4 hours in the sand mill dispersion time.
As a result of measuring the electrostatic capacity per unit area in the undercoat layer of the obtained photoreceptor by the above-described method, it was 2.0 × 10 −8 F / cm 2 .
〔感光体C2〕
感光体1の下引層の形成において、サンドミルの分散時間を1.2時間から0.5時間に代えた以外は、感光体1と同様にして、感光体C2を作製した。
得られた感光体の下引層における単位面積あたりの静電容量を前述の方法で測定した結果、8×10−10F/cm2であった。
[Photoconductor C2]
Photoreceptor C2 was produced in the same manner as Photoreceptor 1, except that the sand mill dispersion time was changed from 1.2 hours to 0.5 hour in forming the undercoat layer of Photoreceptor 1.
As a result of measuring the electrostatic capacity per unit area in the undercoat layer of the obtained photoreceptor by the above-described method, it was 8 × 10 −10 F / cm 2 .
<中間転写ベルトの作製>
〔中間転写ベルト1〕
(熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1の調整)
熱硬化性ポリイミド樹脂(その前駆体溶液となるポリアミック酸溶液)として、ポリイミドワニス(宇部興産社製、商品名:U−ワニス−A、固形分:20質量%)100質量部(樹脂固形分40質量部)中に、カーボンブラック(オリオンエンジニアドカーボンズ社製、商品名:Special Black 4、揮発分:14質量%)25質量部を徐々に加えながら混合した。この溶液に対して、ハイフレクックスディスパーサーを用いて分散処理を行って、熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1を調整した。
<Preparation of intermediate transfer belt>
[Intermediate transfer belt 1]
(Adjustment of thermosetting polyimide resin coating solution 1)
As thermosetting polyimide resin (polyamic acid solution as a precursor solution thereof), polyimide varnish (manufactured by Ube Industries, trade name: U-varnish-A, solid content: 20% by mass) 100 parts by mass (resin solid content 40 25 parts by mass of carbon black (manufactured by Orion Engineered Carbons, trade name: Special Black 4, volatile content: 14% by mass) was gradually added and mixed. The solution was subjected to a dispersion treatment using a high flex disperser to prepare a thermosetting polyimide resin coating solution 1.
(中間転写ベルト1の作製)
外径90mm、長さ450mmのSUS材料製円筒状金型を用意し、その外周面にシリコーン系離型剤を塗布・乾燥処理することで、円筒状金型の離型剤処理を行った。
上記離型剤処理を施した円筒状金型を周方向に10rpmの速度で回転させながら、円筒状金型端部より、上記熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1を、口径1.0mmディスペンサーより吐出しながら、金型上に設置した金属ブレードにて一様の圧力で押し付けながら塗布を行った。ディスペンサーユニットを円筒状金型の軸方向に100mm/分の速度で移動させることによって円筒状金型上に螺旋状に塗布液を塗布した。塗布後、ブレードを解除して円筒状金型を2分間回転し続けレベリングを行った。
(Preparation of intermediate transfer belt 1)
A cylindrical mold made of SUS material having an outer diameter of 90 mm and a length of 450 mm was prepared, and a release agent treatment of the cylindrical mold was performed by applying and drying a silicone-based mold release agent on the outer peripheral surface.
The thermosetting polyimide resin coating liquid 1 is discharged from a 1.0 mm diameter dispenser from the end of the cylindrical mold while rotating the cylindrical mold subjected to the release agent treatment at a speed of 10 rpm in the circumferential direction. The coating was performed while pressing with a metal blade placed on the mold with a uniform pressure. The dispenser unit was moved in the axial direction of the cylindrical mold at a speed of 100 mm / min to apply the coating solution on the cylindrical mold in a spiral manner. After coating, the blade was released and the cylindrical mold was kept rotating for 2 minutes for leveling.
その後、塗膜を形成した円筒状金型を乾燥炉中で150℃空気雰囲気下、10rpmで回転させながら、30分乾燥処理を行うことで、溶媒が留去された皮膜を得た。
乾燥後、クリーンオーブン中で、250℃、30分間加熱処理を行い、皮膜(ポリアミック酸の皮膜)のイミド化反応を完了させた。
その後、金型を25℃にして、金型から皮膜樹脂を取り外し、厚みが80μmの中間転写ベルト1を得た。
得られた中間転写ベルトの体積抵抗率の常用対数値を前述の方法で測定した結果、8logΩ・cmであった。
Thereafter, the cylindrical mold on which the coating film was formed was dried in a drying furnace at 10 rpm in an air atmosphere at 150 ° C. for 30 minutes to obtain a coating film from which the solvent was distilled off.
After drying, heat treatment was performed in a clean oven at 250 ° C. for 30 minutes to complete the imidization reaction of the film (polyamic acid film).
Thereafter, the mold was set to 25 ° C., the coating resin was removed from the mold, and the intermediate transfer belt 1 having a thickness of 80 μm was obtained.
The common logarithmic value of the volume resistivity of the obtained intermediate transfer belt was measured by the method described above, and as a result, it was 8 log Ω · cm.
〔中間転写ベルト2〕
カーボンブラックの添加量を15質量部にした以外は、熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1と同様にして、熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液2を得た。
熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1の代わりに熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液2を用いた以外は、中間転写ベルト1と同様にして、厚みが80μmの中間転写ベルト2を得た。
得られた中間転写ベルトの体積抵抗率の常用対数値を前述の方法で測定した結果、12.0logΩ・cmであった。
[Intermediate transfer belt 2]
A thermosetting polyimide resin coating solution 2 was obtained in the same manner as the thermosetting polyimide resin coating solution 1 except that the amount of carbon black added was 15 parts by mass.
An intermediate transfer belt 2 having a thickness of 80 μm was obtained in the same manner as the intermediate transfer belt 1 except that the thermosetting polyimide resin coating liquid 2 was used instead of the thermosetting polyimide resin coating liquid 1.
The common logarithmic value of the volume resistivity of the obtained intermediate transfer belt was measured by the above-mentioned method. As a result, it was 12.0 log Ω · cm.
〔中間転写ベルト3〕
カーボンブラックの添加量を20質量部にした以外は、熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1と同様にして、熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液3を得た。
熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1の代わりに熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液3を用いた以外は、中間転写ベルト1と同様にして、厚みが80μmの中間転写ベルト3を得た。
得られた中間転写ベルトの体積抵抗率の常用対数値を前述の方法で測定した結果、10logΩ・cmであった。
[Intermediate transfer belt 3]
A thermosetting polyimide resin coating solution 3 was obtained in the same manner as the thermosetting polyimide resin coating solution 1 except that the amount of carbon black added was 20 parts by mass.
An intermediate transfer belt 3 having a thickness of 80 μm was obtained in the same manner as the intermediate transfer belt 1 except that the thermosetting polyimide resin coating liquid 3 was used instead of the thermosetting polyimide resin coating liquid 1.
The common logarithm of the volume resistivity of the obtained intermediate transfer belt was measured by the method described above, and as a result, it was 10 log Ω · cm.
〔中間転写ベルトC1〕
カーボンブラックの添加量を25.5質量部にした以外は、熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1と同様にして、熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液C1を得た。
熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1の代わりに熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液C1を用いた以外は、中間転写ベルト1と同様にして、厚みが80μmの中間転写ベルトC1を得た。
得られた中間転写ベルトの体積抵抗率の常用対数値を前述の方法で測定した結果、7.8logΩ・cmであった。
[Intermediate transfer belt C1]
A thermosetting polyimide resin coating solution C1 was obtained in the same manner as the thermosetting polyimide resin coating solution 1 except that the amount of carbon black added was 25.5 parts by mass.
An intermediate transfer belt C1 having a thickness of 80 μm was obtained in the same manner as the intermediate transfer belt 1 except that the thermosetting polyimide resin coating liquid C1 was used instead of the thermosetting polyimide resin coating liquid 1.
The common logarithmic value of the volume resistivity of the obtained intermediate transfer belt was measured by the method described above, and as a result, it was 7.8 log Ω · cm.
〔中間転写ベルトC2〕
カーボンブラックの添加量を14.5質量部にした以外は、熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1と同様にして、熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液C2を得た。
熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液1の代わりに熱硬化性ポリイミド樹脂塗布液C2を用いた以外は、中間転写ベルト1と同様にして、厚みが80μmの中間転写ベルトC2を得た。
得られた中間転写ベルトの体積抵抗率の常用対数値を前述の方法で測定した結果、12.2logΩ・cmであった。
[Intermediate transfer belt C2]
A thermosetting polyimide resin coating solution C2 was obtained in the same manner as the thermosetting polyimide resin coating solution 1, except that the amount of carbon black added was 14.5 parts by mass.
An intermediate transfer belt C2 having a thickness of 80 μm was obtained in the same manner as the intermediate transfer belt 1, except that the thermosetting polyimide resin coating liquid C2 was used instead of the thermosetting polyimide resin coating liquid 1.
The common logarithmic value of the volume resistivity of the obtained intermediate transfer belt was measured by the method described above, and as a result, it was 12.2 log Ω · cm.
<評価>
〔転写不良に起因する画像欠陥の評価〕
表1に示す感光体及び表1に示す中間転写ベルトを、画像形成装置(富士ゼロックス社製ApeosPort−V C5585の改造機)に搭載し、一次転写電流値が表1に示す値になるように転写電圧を設定し、プロセス速度:350mm/sec、温度30℃、湿度75%の環境下で、イエロー、マゼンタ、シアン、黒、赤、緑、青のパッチ記載したチャート(YMCKRGBチャート)を5枚形成し、5枚目の画像を目視で確認し、下記評価基準により転写不良に起因する画像欠陥の評価を行った。
<Evaluation>
[Evaluation of image defects due to transfer defects]
The photoreceptor shown in Table 1 and the intermediate transfer belt shown in Table 1 are mounted on an image forming apparatus (a modified model of Apeos Port-V C5585 manufactured by Fuji Xerox Co., Ltd.) so that the primary transfer current value becomes the value shown in Table 1. 5 charts (YMCKRGB chart) with yellow, magenta, cyan, black, red, green, and blue patches in an environment with a transfer voltage set, process speed: 350 mm / sec, temperature 30 ° C., and humidity 75% The fifth image was visually confirmed, and image defects due to transfer defects were evaluated according to the following evaluation criteria.
−転写不良に起因する画像欠陥の評価基準−
G1(○):転写不良に起因する画像欠陥が発生しない
G2(△):転写不良に起因する画像欠陥がわずかに発生するが、許容範囲内
G3(×):転写不良に起因する画像欠陥が発生し、許容範囲を超える
-Evaluation criteria for image defects due to transfer defects-
G1 (◯): No image defect due to transfer failure occurs G2 (Δ): Image defect due to transfer failure slightly occurs, but within allowable range G3 (×): Image defect due to transfer failure Occur and exceed the allowable range
<評価>
〔ゴーストの評価〕
表1に示す感光体及び表1に示す中間転写ベルトを、画像形成装置(富士ゼロックス社製ApeosPort−V C5585の改造機)に搭載し、一次転写電流値が表1に示す値になるように転写電圧を設定し、プロセス速度:350mm/sec、温度30℃、湿度75%の環境下で、下記画像(ゴーストチャート)を5枚形成し、5枚目の画像を目視で確認し、下記評価基準によりゴーストの評価を行った。
なお、「ゴーストチャート」とは、具体的には、×の字を記載した感光体一周分経過した箇所にハーフトーン画像チャートが記載されているチャートである。
<Evaluation>
[Ghost evaluation]
The photoreceptor shown in Table 1 and the intermediate transfer belt shown in Table 1 are mounted on an image forming apparatus (a modified model of Apeos Port-V C5585 manufactured by Fuji Xerox Co., Ltd.) so that the primary transfer current value becomes the value shown in Table 1. A transfer voltage is set, and the following image (ghost chart) is formed in an environment of a process speed of 350 mm / sec, a temperature of 30 ° C., and a humidity of 75%. The ghost was evaluated according to the standard.
The “ghost chart” is specifically a chart in which a halftone image chart is described at a position where one round of the photoconductor with a letter X is passed.
−ゴーストの評価基準−
G1(○):ゴーストが発生しない
G2(△):ゴーストがわずかに発生するが、許容範囲内
G3(×):ゴーストが発生し、許容範囲を超える
-Ghost evaluation criteria-
G1 (◯): No ghost is generated G2 (Δ): A ghost is slightly generated, but within an allowable range G3 (×): A ghost is generated and exceeds the allowable range
〔走行による電位上昇レベルの評価〕
表1に示す感光体及び表1に示す中間転写ベルトを、画像形成装置(富士ゼロックス社製ApeosPort−V C5585の改造機)に搭載し、一次転写電流値が表1に示す値になるように転写電圧を設定し、プロセス速度:350mm/sec、温度30℃、湿度75%の環境下で、100%ベタ画像のチャートを1枚形成し、次いで画像濃度5%のチャートを200,000枚形成し、さらに100%ベタ画像を1枚形成した。最初の100%ベタ画像形成における画像露光後の感光体電位VL1と、最後に形成した100%ベタ画像形成における画像露光後の感光体電位VL2と、の電位差(VL2−VL1)を測定し、下記評価基準により走行による電位上昇レベルの評価を行った。
[Evaluation of level of potential increase due to running]
The photoreceptor shown in Table 1 and the intermediate transfer belt shown in Table 1 are mounted on an image forming apparatus (a modified model of Apeos Port-V C5585 manufactured by Fuji Xerox Co., Ltd.) so that the primary transfer current value becomes the value shown in Table 1. A transfer voltage is set, a 100% solid image chart is formed in an environment of a process speed of 350 mm / sec, a temperature of 30 ° C., and a humidity of 75%, and then a chart of 5% image density is formed by 200,000 sheets. Further, one 100% solid image was formed. The potential difference (VL2-VL1) between the photoreceptor potential VL1 after image exposure in the first 100% solid image formation and the photoreceptor potential VL2 after image exposure in the last 100% solid image formation was measured. The potential increase level due to running was evaluated according to the evaluation criteria.
−走行による電位上昇レベルの評価基準−
G1(○):電位差が100V以下
G2(△):電位差が100Vを超え150V以下
G3(×):電位差が150Vを超える
-Evaluation criteria for potential rise level due to running-
G1 (◯): Potential difference is 100 V or less G2 (Δ): Potential difference is over 100 V and 150 V or less G3 (x): Potential difference is over 150 V
上記結果から、本実施例では、比較例に比べ、転写不良に起因する画像欠陥及びゴーストが抑制されていることが分かる。 From the above results, it can be seen that in this embodiment, image defects and ghosts due to transfer defects are suppressed as compared with the comparative example.
1 導電性基体、2 単層型感光層、3 下引層、4 電荷発生層、5 電荷輸送層、6 機能分離型感光層、7 電子写真感光体、7A 電子写真感光体、7B 電子写真感光体、8 帯電装置、9 露光装置、11 現像装置、13 クリーニング装置、14 潤滑材、40 転写装置(一次転写手段の一例)、50 中間転写体、100 画像形成装置、120 画像形成装置、131 クリーニングブレード、132 繊維状部材(ロール状)、133 繊維状部材(平ブラシ状)、300 プロセスカートリッジ、500 体積抵抗率測定装置、520 円形電極、540 対向電極、560 円柱状電極部、580 円筒状電極部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Conductive substrate, 2 Single layer type photosensitive layer, 3 Undercoat layer, 4 Charge generation layer, 5 Charge transport layer, 6 Function separation type photosensitive layer, 7 Electrophotographic photosensitive member, 7A Electrophotographic photosensitive member, 7B Electrophotographic photosensitive member Body, 8 charging device, 9 exposure device, 11 developing device, 13 cleaning device, 14 lubricant, 40 transfer device (an example of primary transfer means), 50 intermediate transfer body, 100 image forming device, 120 image forming device, 131 cleaning Blade, 132 Fibrous member (roll shape), 133 Fibrous member (flat brush shape), 300 Process cartridge, 500 Volume resistivity measuring device, 520 Circular electrode, 540 Counter electrode, 560 Columnar electrode portion, 580 Cylindrical electrode Part
Claims (9)
前記電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段と、
帯電した前記電子写真感光体の表面に静電潜像を形成する静電潜像形成手段と、
トナーを含む現像剤により、前記電子写真感光体の表面に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、
体積抵抗率の常用対数値が8.0logΩ・cm以上12.0logΩ・cm以下であり、前記電子写真感光体の表面に形成された前記トナー像が表面に転写される中間転写体と、
前記電子写真感光体の表面に形成された前記トナー像を前記中間転写体の表面に一次転写する一次転写手段であって、軸方向の単位長さ(mm)あたりの一次転写電流値が15(μA/mm)以上19(μA/mm)以下である一次転写手段と、
前記中間転写体の表面に転写された前記トナー像を記録媒体の表面に二次転写する二次転写手段と、
を備える画像形成装置。 An undercoat layer provided on the conductive substrate and having a capacitance per unit area of 1.0 × 10 −9 F / cm 2 or more and 1.5 × 10 −8 F / cm 2 or less provided on the conductive substrate; An electrophotographic photoreceptor having a photosensitive layer provided on the undercoat layer;
Charging means for charging the surface of the electrophotographic photosensitive member;
An electrostatic latent image forming means for forming an electrostatic latent image on the surface of the charged electrophotographic photosensitive member;
Developing means for developing the electrostatic latent image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member with a developer containing toner to form a toner image;
A common logarithmic value of volume resistivity of 8.0 log Ω · cm to 12.0 log Ω · cm, and an intermediate transfer member to which the toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member is transferred.
Primary transfer means for primary transfer of the toner image formed on the surface of the electrophotographic photosensitive member to the surface of the intermediate transfer member, wherein the primary transfer current value per unit length (mm) in the axial direction is 15 ( primary transfer means that is not less than μA / mm) and not more than 19 (μA / mm);
Secondary transfer means for secondary transfer of the toner image transferred to the surface of the intermediate transfer member to the surface of the recording medium;
An image forming apparatus comprising:
(一般式(1)中、n1及びn2は、各々独立に0以上3以下の整数を表す。但し、n1及びn2の少なくとも一方は、各々独立に1以上3以下の整数を表す。m1及びm2は、各々独立に0又は1の整数を示す。R11及びR12は、各々独立に炭素数1以上10以下のアルキル基、又は炭素数1以上10以下のアルコキシ基を表す。) The image forming apparatus according to claim 7, wherein the electron-accepting compound having an anthraquinone skeleton is a compound represented by the following general formula (1).
(In general formula (1), n1 and n2 each independently represent an integer of 0 or more and 3 or less, provided that at least one of n1 and n2 independently represents an integer of 1 or more and 3 or less. M1 and m2 Each independently represents an integer of 0 or 1. R 11 and R 12 each independently represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms or an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016190265A JP2018054844A (en) | 2016-09-28 | 2016-09-28 | Image formation device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016190265A JP2018054844A (en) | 2016-09-28 | 2016-09-28 | Image formation device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018054844A true JP2018054844A (en) | 2018-04-05 |
Family
ID=61836525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016190265A Pending JP2018054844A (en) | 2016-09-28 | 2016-09-28 | Image formation device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2018054844A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108948233A (en) * | 2018-08-22 | 2018-12-07 | 广东工业大学 | A kind of inorganic nano-particle surface-grafted type photoinitiator and its application |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004046277A (en) * | 2003-11-10 | 2004-02-12 | Fuji Xerox Co Ltd | Image forming apparatus |
JP2008209848A (en) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Kyocera Mita Corp | Image forming apparatus and image forming method |
JP2013195834A (en) * | 2012-03-21 | 2013-09-30 | Fuji Xerox Co Ltd | Image forming apparatus and image forming method |
JP2015210366A (en) * | 2014-04-25 | 2015-11-24 | 株式会社リコー | Electrophotographic photoreceptor, image forming apparatus, and process cartridge |
JP2016139052A (en) * | 2015-01-28 | 2016-08-04 | 富士ゼロックス株式会社 | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
-
2016
- 2016-09-28 JP JP2016190265A patent/JP2018054844A/en active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004046277A (en) * | 2003-11-10 | 2004-02-12 | Fuji Xerox Co Ltd | Image forming apparatus |
JP2008209848A (en) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Kyocera Mita Corp | Image forming apparatus and image forming method |
JP2013195834A (en) * | 2012-03-21 | 2013-09-30 | Fuji Xerox Co Ltd | Image forming apparatus and image forming method |
JP2015210366A (en) * | 2014-04-25 | 2015-11-24 | 株式会社リコー | Electrophotographic photoreceptor, image forming apparatus, and process cartridge |
JP2016139052A (en) * | 2015-01-28 | 2016-08-04 | 富士ゼロックス株式会社 | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108948233A (en) * | 2018-08-22 | 2018-12-07 | 广东工业大学 | A kind of inorganic nano-particle surface-grafted type photoinitiator and its application |
CN108948233B (en) * | 2018-08-22 | 2021-03-12 | 广东工业大学 | Inorganic nanoparticle surface grafting type photoinitiator and application thereof |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6447178B2 (en) | Electrophotographic photosensitive member, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP2017156458A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP2018063367A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP6838324B2 (en) | Electrophotographic photosensitive member, process cartridge, image forming apparatus | |
JP6201850B2 (en) | Electrophotographic photosensitive member, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP6221853B2 (en) | Electrophotographic photosensitive member, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP2016066062A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
US20200117105A1 (en) | Image forming apparatus and process cartridge | |
JP2017203846A (en) | Image forming apparatus and image forming method | |
JP2017181601A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP6794665B2 (en) | Image forming device | |
JP2018054844A (en) | Image formation device | |
JP2016143024A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP6477325B2 (en) | Electrophotographic photosensitive member, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP6364818B2 (en) | Image forming apparatus | |
JP6221883B2 (en) | Electrophotographic photosensitive member, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP2017161778A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, image forming apparatus, and conductive substrate for electrophotographic photoreceptor | |
JP2020052212A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP2019184700A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP2019061146A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP2017201366A (en) | Image forming apparatus | |
JP7279440B2 (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
US10303070B2 (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus | |
JP6801283B2 (en) | Electrophotographic photosensitive member, process cartridge, image forming apparatus | |
JP2017161653A (en) | Electrophotographic photoreceptor, process cartridge, and image forming apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190910 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200729 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200804 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200930 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20210302 |