JP2017519200A - ブロック面イメージング用の小型連続セクショニングミクロトーム - Google Patents
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Abstract
Description
本出願は、2014年5月12日に出願された米国仮出願第61/991,929号の恩典を主張するものであり、これを参照により本明細書に組み入れる。
本開示は、ミクロトームデバイスおよびその使用方法に関し、特に、光学または電子ベースのイメージングを含むブロック面イメージングの用途で使用するために設計されたミクロトームデバイスに関する。
ブロック面イメージング技術の1つの用途は、連続ブロック面走査電子顕微鏡法(SBEM、SBSEMおよび/またはSBFSEMと呼ばれることもある)であり、これは、第3次元に沿って連続する平面でサンプルの複数の2次元画像を作成し、それによって該サンプルの3次元構造に関するデータを生み出すプロセスを指す。SBSEM技術は、多くの異なるタイプの生物試料を研究するために使用することができ、多くの場合は脳組織の研究に使用されている。それは、例えば脳および神経回路の接続性における軸索をマッピングする場合に、高解像度の解剖学的データを収集するために特に有用である。1つのSBSEMプロセスは、二次電子および後方散乱電子を収集することによって2次元画像を得るための走査電子顕微鏡(SEM)と、連続する画像間でサンプルの最上部のごく薄い(例えば、数十ナノメートルの範囲の)部分を除去するためのミクロトーム(「超ミクロトーム」と呼ばれることもある)の使用を含む。ミクロトームを走査電子顕微鏡の真空チャンバに取り付けることによって、このプロセスはより効率的に行うことができる。以前のミクロトームは、本明細書でさらに説明するように、さまざまな欠点を有している。したがって、ミクロトーム技術の改良が必要とされている。
いくつかの実施形態において、サンプルの最上部の薄い部分を除去するためのミクロトームは、ベースプレート;ペデスタルが撮像位置から切断位置に移動することができるようにベースプレートに連結されたペデスタル、ここで、該ペデスタルはサンプルを取り付けることができる露出面を有する;ブレードとベースプレートとの間の距離を選択的に変化させるために、ペデスタルが撮像位置にあるときペデスタルの露出面に垂直な方向にブレードを移動させることによって、ベースプレートに対するブレードの位置を調整することができるように、ベースプレートに連結されたブレード;を含んでなり、この場合、切断位置は撮像位置よりもブレードの近くにある。
本明細書に記載のミクロトームは、走査電子顕微鏡法、光ベース(光学、例えば蛍光)顕微鏡法、カソードルミネッセンス顕微鏡法などにおいて、またはこれらの技術を組み合わせて、顕微鏡分析のためのさまざまな技術に使用することができる。例えば、サンプルは、通常の光ベース(光学)(例えば、蛍光)顕微鏡の対物レンズの下に直接取り付けることができる、以下に記載するようなミクロトーム上に載置され得る。このような実施形態は、大気条件で、かつ走査電子顕微鏡の不在下で操作することができる。こうした技術は、当技術分野で知られている種々の蛍光顕微鏡技術(例えば、多光子顕微鏡法、超解像顕微鏡法など)をうまく利用することができる。
Claims (32)
- サンプルの最上部の薄い部分を除去するためのミクロトームであって、
ベースプレート;
撮像位置から切断位置に移動することができるようにベースプレートに連結され、かつサンプルを取り付けることができる露出面を有する、ペデスタル;
ブレードとベースプレートとの間の距離を選択的に変化させるために、ペデスタルが撮像位置にあるときにペデスタルの露出面に垂直な方向にブレードを移動させることによって、ベースプレートに対するブレードの位置を調整することができるようにベースプレートに連結されたブレード;
を含んでなり、切断位置が撮像位置よりもブレードの近くにある、ミクロトーム。 - カメラを用いてサンプルの表面を画像化するように構成された蛍光顕微鏡に取り付けられている、請求項1記載のミクロトーム。
- カメラを用いてサンプルの表面を画像化するように構成されたカソードルミネッセンス顕微鏡に取り付けられている、請求項1記載のミクロトーム。
- カメラを用いてサンプルの表面を画像化するように構成された光電子顕微鏡に取り付けられている、請求項1記載のミクロトーム。
- 前記ブレードが、ベースプレートに連結された第1のコンピュータ制御リニアアクチュエータに取り付けられている、請求項1〜4のいずれか一項記載のミクロトーム。
- 前記ペデスタルが、ピボットベアリングによってベースプレートに連結されたレバーに取り付けられている、請求項5記載のミクロトーム。
- 前記ペデスタルが、ベースプレートに連結された第2のコンピュータ制御リニアアクチュエータの作動によって、ピボットベアリングの周りを回転することができる、請求項6記載のミクロトーム。
- 前記第1のアクチュエータが、ブレードの移動を指示する制御信号を受信するように構成されており、前記ミクロトームが、
第1のアクチュエータに連結され、かつベースプレートに対するブレードの位置を示す出力信号を生成するように構成されたセンサ;および
センサからの出力信号を受信し、センサからの出力信号に少なくとも部分的に基づいて制御信号を生成して、その制御信号を第1のアクチュエータに送信するように構成されたコンピュータプログラム;
をさらに含んでなる、請求項7記載のミクロトーム。 - ペデスタル上に配置されたサンプルをさらに含む、請求項1〜8のいずれか一項記載のミクロトーム。
- サンプルと走査電子顕微鏡の磁極片との間の作動距離が、利用可能な作動距離の範囲から選択され得る、請求項9記載のミクロトーム。
- 電圧がサンプルに印加される、請求項9または10記載のミクロトーム。
- サンプルがミクロトームから電気的に絶縁されている、請求項11記載のミクロトーム。
- 前記ブレードが圧電制御振動ダイヤモンドブレードである、請求項1〜12のいずれか一項記載のミクロトーム。
- プロセッサおよびメモリを含むコンピューティング装置をさらに含んでなり、該メモリが、サンプルの複数の画像を組み合わせて該サンプルの3次元描写を作成するためのコンピュータ読み取り可能命令を格納している、請求項1〜13のいずれか一項記載のミクロトーム。
- ベースプレートに対してブレードの位置を変えることなく容量センサをリセットするように構成されたリニアピエゾステージをさらに含む、請求項1〜14のいずれか一項記載のミクロトーム。
- ペデスタルに連結され、かつファラデーカップを保持するように構成されたポリマーマウントをさらに含む、請求項1〜15のいずれか一項記載のミクロトーム。
- ペデスタルとベースプレートに連結され、かつサンプルがペデスタルに取り付けられている間ベースプレートに対してペデスタルを静止状態に保持するように構成されたクランプをさらに含む、請求項1〜16のいずれか一項記載のミクロトーム。
- アクチュエータに連結されたブレードであって、ここで、アクチュエータは、走査電子顕微鏡のビーム軸に平行な方向にステージに対してブレードを移動させることができるように走査電子顕微鏡のステージに連結され、かつアクチュエータは、ブレードの移動を指示する制御信号を受信するように構成されている、ブレード;
アクチュエータに連結され、かつベースプレートに対するブレードの位置を示す出力信号を生成するように構成されたセンサ;および
センサからの出力信号を受信し、センサからの出力信号に少なくとも部分的に基づいて制御信号を生成して、その制御信号をアクチュエータに送信するように構成されたコンピュータプログラム;
を含んでなる、走査電子顕微鏡内に設置されるように構成されたミクロトーム。 - ビーム軸上の撮像位置からビーム軸を外れた切断位置まで移動することができるようにステージに連結されたペデスタルをさらに含み、該切断位置が撮像位置よりもブレードの近くにある、請求項18記載のミクロトーム。
- 以下の工程:
走査電子顕微鏡内のミクロトーム上の撮像位置にサンプルを配置する工程であって、ここで、撮像位置は走査電子顕微鏡のビーム軸上にある、工程;
サンプルの第1の露出表面を画像化する工程;
ミクロトームのブレードの高さを設定する工程;
サンプルを撮像位置から切断位置に移動させる工程であって、ここで、切断位置は撮像位置よりもブレードの近くにあり、かつビーム軸上にはない、工程;
ブレードを横切ってサンプルを移動させてサンプルの一部を除去し、サンプルの第2の露出表面を出現させる工程;
サンプルを撮像位置に移動させる工程;および
サンプルの第2の露出表面を画像化する工程;
を含んでなる方法。 - ブレードの高さを設定した後、フィードバック制御下でブレードの高さを維持する工程をさらに含む、請求項20記載の方法。
- 第2の露出表面を画像化する前に、走査電子顕微鏡の電子ビームを第2の露出表面で集束させる工程をさらに含む、請求項20または21記載の方法。
- 第2の露出表面を画像化する前に、ビーム軸に沿ってサンプルを調整する工程をさらに含む、請求項20〜22のいずれか一項記載の方法。
- ビーム軸に沿ってサンプルを調整した後、走査電子顕微鏡の電子ビームを第2の露出表面で集束させる工程をさらに含む、請求項23記載の方法。
- サンプルの第1の露出表面を画像化する動作が、
走査電子顕微鏡を使用して、第1の露出表面の複数の構成画像を取り込むこと;および
複数の構成画像を互いにつなぎ合わせて、第1の露出表面の合成画像を形成すること;
を含む、請求項20〜24のいずれか一項記載の方法。 - ビーム軸がサンプルの露出表面に垂直でないようにミクロトームを傾斜させる工程をさらに含む、請求項20〜25のいずれか一項記載の方法。
- ミクロトームを回転させる工程をさらに含む、請求項20〜26のいずれか一項記載の方法。
- スタイロフォームクリーニングロッドでブレードをクリーニングする工程をさらに含む、請求項20〜27のいずれか一項記載の方法。
- 前記ミクロトームが、走査電子顕微鏡のビルトインステージに取り付けられている中間ステージに取り付けられている、請求項20〜28のいずれか一項記載の方法。
- サンプルに対してナイフの位置を変えることなく容量センサをリセットする工程をさらに含む、請求項20〜29のいずれか一項記載の方法。
- ペデスタルに連結されたポリマーマウントにファラデーカップを取り付ける工程をさらに含む、請求項20〜30のいずれか一項記載の方法。
- サンプルがペデスタルに取り付けられている間ベースプレートに対してペデスタルを静止状態に保持するために、ペデスタルとベースプレートの間にクランプを固定する工程をさらに含む、請求項20〜31のいずれか一項記載の方法。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020060467A (ja) * | 2018-10-11 | 2020-04-16 | 東邦チタニウム株式会社 | 金属粉体の評価方法、および評価装置 |
JP2021504671A (ja) * | 2017-11-30 | 2021-02-15 | ライカ ビオズュステムス ヌスロッホ ゲーエムベーハー | ミクロトームおよびミクロトーム試料ヘッドの位置決め方法 |
KR102254822B1 (ko) * | 2020-12-22 | 2021-05-24 | 한국기초과학지원연구원 | 3차원 이미징용 울트라 마이크로톰 |
JP2022513046A (ja) * | 2018-11-15 | 2022-02-07 | ユニバーシティー オブ ヒューストン システム | 紫外線励起を用いた切削 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017200364A1 (ru) * | 2016-05-18 | 2017-11-23 | Частное Учреждение "Назарбаев Университет Рисеч Энд Инновэйшн Систэм" | Широкопольный сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством модификации объекта |
DE102017203554A1 (de) | 2017-03-04 | 2018-09-06 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Objektpräparationseinrichtung und Teilchenstrahlgerät mit einer Objektpräparationseinrichtung sowie Verfahren zum Betrieb des Teilchenstrahlgeräts |
DE102017203553A1 (de) | 2017-03-04 | 2018-09-06 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Objektpräparationseinrichtung und Teilchenstrahlgerät mit einer Objektpräparationseinrichtung sowie Verfahren zum Betrieb des Teilchenstrahlgeräts |
CN107505339B (zh) * | 2017-07-21 | 2019-08-23 | 中国科学院生物物理研究所 | 一种连续超薄切片的制备和自动收集方法 |
JP7492741B2 (ja) * | 2018-01-10 | 2024-05-30 | ユニバーシティ・オブ・カンザス | 電子顕微鏡の導電性固定 |
DE102018207246B4 (de) * | 2018-05-09 | 2020-03-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Betrieb einer Objektpräparationseinrichtung, Computerprogrammprodukt sowie Objektpräparationseinrichtung, insbesondere für ein Teilchenstrahlgerät |
CN109283005A (zh) * | 2018-11-28 | 2019-01-29 | 金华市益迪医疗设备有限公司 | 一种病理切片机用操纵杆 |
CN109895162B (zh) * | 2019-03-19 | 2020-10-09 | 山东中医药大学附属医院 | 一种胃癌肿瘤病理切片处理装置的切割刀体调节方法 |
CN109975089A (zh) * | 2019-04-09 | 2019-07-05 | 深圳市瑞沃德生命科技有限公司 | 切片机的控制方法及控制***、切片机 |
DE102019119560A1 (de) | 2019-07-18 | 2021-01-21 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikrotom |
WO2021168457A1 (en) | 2020-02-22 | 2021-08-26 | Clarapath, Inc. | Facing and quality control in microtomy |
EP4232792A1 (en) * | 2020-10-23 | 2023-08-30 | Clarapath, Inc. | Preliminary diagnoses of cut tissue sections |
CN112466733B (zh) * | 2020-10-23 | 2022-09-16 | 宁波智能装备研究院有限公司 | 一种针对生物样本的磁场驱动控制显微操作*** |
CN116448795A (zh) * | 2022-12-30 | 2023-07-18 | 浙江大学 | 可集成于扫描电镜中的冷冻超薄切片装置 |
Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS485347Y1 (ja) * | 1968-02-28 | 1973-02-10 | ||
US4377958A (en) * | 1981-04-02 | 1983-03-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services | Remotely operated microtome |
US4960330A (en) * | 1985-07-16 | 1990-10-02 | Kerschmann Russell L | Image recording apparatus |
US5070935A (en) * | 1986-10-14 | 1991-12-10 | Hellmuth Sitte | Refrigerated chamber for obtaining thin slices at low temperature |
JPH09236755A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Jeol Ltd | 顕微鏡の試料ステージの位置補正方法および試料ステージ |
JPH10197418A (ja) * | 1997-01-10 | 1998-07-31 | Chuo Seiki Kk | ミクロトーム |
JPH11241979A (ja) * | 1997-12-19 | 1999-09-07 | Anton Mayer & Co Ag | 超薄切片検鏡標本切断器に用いるための装置 |
JP2000090863A (ja) * | 1998-09-14 | 2000-03-31 | Hitachi Ltd | 電子線装置 |
JP3203595B2 (ja) * | 1988-06-13 | 2001-08-27 | ライカ アクツィエンゲゼルシャフト | ミクロトーム |
JP2004515780A (ja) * | 2000-12-13 | 2004-05-27 | メディカル リサーチ カウンシル | 組織標本を撮像するための装置および方法 |
JP2007212387A (ja) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Seiko Instruments Inc | 薄切片作製装置及び薄切片作製方法 |
JP2009244265A (ja) * | 2008-03-28 | 2009-10-22 | Leica Biosystems Nussloch Gmbh | リニアモータをドライブシステムとして使用する、可変の切断行程を備えたミクロトーム |
US20100000383A1 (en) * | 2007-08-07 | 2010-01-07 | Koos David S | Microscope coupled tissue sectioning system |
JP2010135684A (ja) * | 2008-12-08 | 2010-06-17 | Renesas Technology Corp | 電子ビーム吸収電流解析方法及び電子ビーム吸収電流解析器 |
US20110316993A1 (en) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | Shih-Chi Chen | Oscillating microtome with flexure drive |
US20120223228A1 (en) * | 2011-03-02 | 2012-09-06 | Gatan, Inc. | Microtome utilizing a movable knife in a retardation field scanning electron microscope and a retardation field scanning electron microscope including the same |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3771405A (en) * | 1972-09-08 | 1973-11-13 | Sorvall Inc Ivan | Microtome |
US5461953A (en) * | 1994-03-25 | 1995-10-31 | Mccormick; James B. | Multi-dimension microtome sectioning device |
RU2085892C1 (ru) * | 1994-08-15 | 1997-07-27 | Илья Борисович Извозчиков | Микротом |
US5752425A (en) * | 1995-12-25 | 1998-05-19 | Chuo Precision Industrial Co., Ltd. | Microtome |
US6644162B1 (en) * | 1998-02-18 | 2003-11-11 | Shandon Scientific Limited | Microtome |
JP2006079846A (ja) * | 2004-09-07 | 2006-03-23 | Canon Inc | 試料の断面評価装置及び試料の断面評価方法 |
DE102005042367B4 (de) * | 2005-09-07 | 2009-11-12 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Vorrichtung zum Erzeugen von 3-D Bildern einer Probe |
JP4636552B2 (ja) * | 2006-01-25 | 2011-02-23 | セイコーインスツル株式会社 | 自動薄切装置 |
DE102006041208B4 (de) | 2006-09-02 | 2014-08-07 | Leica Biosystems Nussloch Gmbh | Messgerät für ein Vibrationsmikrotom und Vibrationsmikrotom mit einem Messgerät |
US20100093022A1 (en) * | 2006-11-28 | 2010-04-15 | Kenneth Hayworth | Methods and apparatus for providing and processing sliced thin tissue |
DE102007047797B8 (de) * | 2007-11-15 | 2011-12-15 | Leica Biosystems Nussloch Gmbh | Verfahren zum Aufbringen eines an einer Klinge eines Mikrotoms erzeugten histologischen Schnitts auf einen Objektträger |
US8635934B2 (en) * | 2009-09-15 | 2014-01-28 | Jian-Qiang Kong | Microtome |
US9784648B2 (en) * | 2010-09-07 | 2017-10-10 | President And Fellows Of Harvard College | Methods, apparatuses and systems for collection of tissue sections |
US8878147B2 (en) | 2010-09-07 | 2014-11-04 | Joseph C. Robinson | Method and apparatus for in situ preparation of serial planar surfaces for microscopy |
US20130140459A1 (en) * | 2011-12-01 | 2013-06-06 | Gatan, Inc. | System and method for sample analysis by three dimensional cathodoluminescence |
US8771799B2 (en) | 2011-12-27 | 2014-07-08 | JM Harwood LLC | Liquid delivery system |
US20150022807A1 (en) | 2012-03-12 | 2015-01-22 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne (Epfl) | Universal sample holder |
-
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Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS485347Y1 (ja) * | 1968-02-28 | 1973-02-10 | ||
US4377958A (en) * | 1981-04-02 | 1983-03-29 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services | Remotely operated microtome |
US4960330A (en) * | 1985-07-16 | 1990-10-02 | Kerschmann Russell L | Image recording apparatus |
US5070935A (en) * | 1986-10-14 | 1991-12-10 | Hellmuth Sitte | Refrigerated chamber for obtaining thin slices at low temperature |
JP3203595B2 (ja) * | 1988-06-13 | 2001-08-27 | ライカ アクツィエンゲゼルシャフト | ミクロトーム |
JPH09236755A (ja) * | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Jeol Ltd | 顕微鏡の試料ステージの位置補正方法および試料ステージ |
JPH10197418A (ja) * | 1997-01-10 | 1998-07-31 | Chuo Seiki Kk | ミクロトーム |
JPH11241979A (ja) * | 1997-12-19 | 1999-09-07 | Anton Mayer & Co Ag | 超薄切片検鏡標本切断器に用いるための装置 |
JP2000090863A (ja) * | 1998-09-14 | 2000-03-31 | Hitachi Ltd | 電子線装置 |
JP2004515780A (ja) * | 2000-12-13 | 2004-05-27 | メディカル リサーチ カウンシル | 組織標本を撮像するための装置および方法 |
JP2007212387A (ja) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Seiko Instruments Inc | 薄切片作製装置及び薄切片作製方法 |
US20100000383A1 (en) * | 2007-08-07 | 2010-01-07 | Koos David S | Microscope coupled tissue sectioning system |
JP2009244265A (ja) * | 2008-03-28 | 2009-10-22 | Leica Biosystems Nussloch Gmbh | リニアモータをドライブシステムとして使用する、可変の切断行程を備えたミクロトーム |
JP2010135684A (ja) * | 2008-12-08 | 2010-06-17 | Renesas Technology Corp | 電子ビーム吸収電流解析方法及び電子ビーム吸収電流解析器 |
US20110316993A1 (en) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | Shih-Chi Chen | Oscillating microtome with flexure drive |
US20120223228A1 (en) * | 2011-03-02 | 2012-09-06 | Gatan, Inc. | Microtome utilizing a movable knife in a retardation field scanning electron microscope and a retardation field scanning electron microscope including the same |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2021504671A (ja) * | 2017-11-30 | 2021-02-15 | ライカ ビオズュステムス ヌスロッホ ゲーエムベーハー | ミクロトームおよびミクロトーム試料ヘッドの位置決め方法 |
JP7193485B2 (ja) | 2017-11-30 | 2022-12-20 | ライカ ビオズュステムス ヌスロッホ ゲーエムベーハー | ミクロトームおよびミクロトーム試料ヘッドの位置決め方法 |
JP2020060467A (ja) * | 2018-10-11 | 2020-04-16 | 東邦チタニウム株式会社 | 金属粉体の評価方法、および評価装置 |
JP7170490B2 (ja) | 2018-10-11 | 2022-11-14 | 東邦チタニウム株式会社 | 金属粉体の評価方法、および評価装置 |
JP2022513046A (ja) * | 2018-11-15 | 2022-02-07 | ユニバーシティー オブ ヒューストン システム | 紫外線励起を用いた切削 |
JP7511913B2 (ja) | 2018-11-15 | 2024-07-08 | ユニバーシティー オブ ヒューストン システム | 紫外線励起を用いた切削 |
KR102254822B1 (ko) * | 2020-12-22 | 2021-05-24 | 한국기초과학지원연구원 | 3차원 이미징용 울트라 마이크로톰 |
JP2022099272A (ja) * | 2020-12-22 | 2022-07-04 | コリア ベーシック サイエンス インスティテュート | 三次元イメージング用ウルトラミクロトーム |
JP7285306B2 (ja) | 2020-12-22 | 2023-06-01 | コリア ベーシック サイエンス インスティテュート | 三次元イメージング用ウルトラミクロトーム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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