JP2017147407A - 位置決めステージ用のテーブルおよびこれを用いた位置決め方法 - Google Patents

位置決めステージ用のテーブルおよびこれを用いた位置決め方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2017147407A
JP2017147407A JP2016030116A JP2016030116A JP2017147407A JP 2017147407 A JP2017147407 A JP 2017147407A JP 2016030116 A JP2016030116 A JP 2016030116A JP 2016030116 A JP2016030116 A JP 2016030116A JP 2017147407 A JP2017147407 A JP 2017147407A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
positioning
mirror
reflection mirror
stage
sic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016030116A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6715616B2 (ja
Inventor
教夫 小野寺
Norio Onodera
教夫 小野寺
貴志 手島
Takashi Tejima
貴志 手島
潤 野間
Jun Noma
潤 野間
正順 石塚
Masanori Ishizuka
正順 石塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Niterra Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Spark Plug Co Ltd filed Critical NGK Spark Plug Co Ltd
Priority to JP2016030116A priority Critical patent/JP6715616B2/ja
Publication of JP2017147407A publication Critical patent/JP2017147407A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6715616B2 publication Critical patent/JP6715616B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】位置決め精度のさらなる向上を図りうる位置決めテーブルおよびこれを用いた位置決め方法を提供する。【解決手段】位置決めステージ用のテーブル1は、第1反射ミラー21と、第2反射ミラー22と、を備えている。第1反射ミラー21は、テーブル1の第1側面11(X−Z平面に平行な面)のうち一部に形成された略矩形状の蒸着膜からなる。同様に、第2反射ミラー22は、テーブル1の第2側面12(Y−Z平面に平行な面)のうち一部に形成された略矩形状の蒸着膜からなる。【選択図】図1

Description

本発明は、XYステージなどの位置決めステージに関する。
レーザー光を用いてX方向或いはY方向の位置を測長するための反射ミラーが取り付けられたテーブルを有する位置決めステージが知られている(たとえば、特許文献1参照)。
特開2004−031537号公報
しかし、反射ミラーがテーブルに対して機械的に固定されているため、反射ミラーに外力が作用した際に反射ミラーおよびテーブルの相対的な位置関係が変化する可能性がある。この場合、干渉計を用いたテーブルの座標値の測定精度が低下する。
そこで、本発明は、位置決め精度のさらなる向上を図りうる位置決めステージ用のテーブルおよびこれを用いた位置決め方法を提供することを目的とする。
本発明の位置決めステージ用のテーブルは、その表面に形成されている蒸着膜からなる反射ミラーを備えていることを特徴とする。
本発明の位置決め方法は、本発明の位置決めステージ用のテーブルの表面に形成されている前記反射ミラーに対する照射光の経路と、当該照射光の前記反射ミラーによる反射光の経路とを光経路として有する干渉計を用いて、前記テーブルの座標値を測定する過程を含むことを特徴とする。
反射ミラーがテーブルの表面に対して化学的または物理的に付着している蒸着膜により形成されているため、テーブルに機械的に固定される従来の反射ミラーのように外力による相対的な位置ずれが確実に防止される。その結果、テーブルの加速度運動に対する位置きめ精度の変化が小さく抑制される。また、当該従来の反射ミラーのようにスペースをとらないので、他の物体との干渉も回避される。これにより、テーブルの位置決め精度のさらなる向上が図られる。
本発明の一実施形態としての位置決めステージの構成説明図。
(構成)
図1に示されている本発明の一実施形態としての位置決めステージ用のテーブル1はXYステージ用であり、第1反射ミラー21と、第2反射ミラー22と、を備えている。なお、位置決めステージはZステージなどの異なる形態であってもよい。
テーブル1は、略矩形平板状のSiCなどのセラミックス焼結体により構成され、その上面10にはシリコンウエハなどの基板が載置される。SiC焼結体の主な物性値は、膨張係数:2[ppm/K]、ヤング率:420[GPa]、比重:3.2、硬度:24[GPa]である。テーブル1の形状も円盤形状など、さまざまな形状に変更されてもよい。テーブル1は、適当な駆動機構を用いて、ベース(図示略)に対して相対的にX方向およびY方向のそれぞれに駆動される。
第1反射ミラー21は、テーブル1の4つの側面のうちの1つである第1側面11(X−Z平面に平行な面)のうち一部に形成された略矩形状の蒸着膜からなる。同様に、第2反射ミラー22は、テーブル1の4つの側面のうちの1つである第2側面12(Y−Z平面に平行な面)のうち一部に形成された略矩形状の蒸着膜からなる。第1反射ミラー21はテーブル1の第1側面11の全部に形成されていてもよい。第2反射ミラー22はテーブル1の第2側面12の全部に形成されていてもよい。蒸着膜は、位置決めまたは測長用の光(たとえばレーザー光)を反射するAgなど金属を含有し、CVD法、イオンプレーティング法またはスパッタリング法などのPVD法等の蒸着法にしたがって形成される。この蒸着面を研磨加工し所定の平面精度を得る。
また、テーブル1と同質の素材を蒸着法によって形成したものであってもよい。この場合テーブル1とミラー素材の物性がほぼ同質となり異種素材間に生じうる歪を極小化することができる。
また、テーブル1が、ゼロ膨張材セラミックス(例えば、特許第3260340号に示されているリチウムアルミノシリケート、アルミナスキータイト、チタン酸アルミニウムから選択された材料を主成分とし、これに炭化ケイ素、窒化ケイ素、サイアロン、アルミナ、ジルコニア、窒化アルミニウムから選択された材料を複合したセラミックス)により構成され、その側面に同等の蒸着膜が形成されてもよい。この場合、外部からの熱の流入に対してテーブル1に対する反射ミラー21、22の相対的な変位が著しく小さく抑制され、テーブル1としての位置きめ精度がさらに向上する。たとえば、リチウムアルミノシリケートおよびSiCの複合焼結体の主な物性値は、膨張係数:0.0[ppm/K]、ヤング率:150[GPa]、比重:2.5、硬度:7[GPa]である。
(位置決め方法)
テーブル1の第1側面11に対向するように配置されている第1干渉計41を用いてテーブル1のX座標値が測定される。同様に、テーブル1の第2側面12に対向するように配置されている第2干渉計42を用いてテーブル1のY座標値が測定される。
(実施例)
(実施例1)
(奥行)420[mm]×(幅)420[mm]×(厚さ)40[mm]の略正方板状のSiC焼結体が作製された。このSiC焼結体の隣り合う一対の側面11、12に厚さ10[μm]のSiCイオンプレーティング膜が成膜され、その測長用の領域の平面度がλ/20(λ=632.8nm)で研磨加工された。これにより、SiCイオンプレーティング膜からなる反射ミラー21、22が側面11、12に設けられている実施例1のテーブル1が作製された。
テーブル1をストローク300[mm]内で加速(5[m/s2])、減速(5[m/s2])の繰り返しを24時間実行し、実行前後の位置決め精度の変化を評価した。例えば、初期において±0.10[μm]であったものが±0.15[μm]に変化した場合は(0.15−0.10)/0.10=50%と変化率を計算し評価した。このように評価された実施例1のテーブル1の位置決め精度の変化率は10%以下であった。
(実施例2)
実施例1のテーブル1の側面11、12における、研磨加工されたSiCイオンプレーティング膜の上にさらにAuの蒸着膜(厚さ1[μm])が成膜された。これにより、SiCイオンプレーティング膜およびその上に重ねられたAu蒸着膜からなる反射ミラー21、22が側面11、12に設けられている実施例2のテーブル1が作製された。上記のように評価された実施例1のテーブル1の位置決め精度の変化率は10%以下であった。
(実施例3)
(奥行)420[mm]×(幅)420[mm]×(厚さ)40[mm]の略正方板状のリチウムアルミノシリケートおよびSiCの複合焼結体が作製された。この複合焼結体の隣り合う一対の側面11、12の測長用の領域の平面度がλ/20(λ=632.8nm)で研磨加工された。この研磨加工された領域にAlの蒸着膜(厚さ0.2[μm])が成膜された。これにより、Al蒸着膜からなる反射ミラー21、22が側面11、12に設けられている実施例3のテーブル1が作製された。上記のように評価された実施例1のテーブル1の位置決め精度の変化率は10%以下であった。
(比較例)
(奥行)420[mm]×(幅)420[mm]×(厚さ)40[mm]の略正方板状のSiC焼結体が作製された。このSiC焼結体のステージ側表面に、(奥行)340[mm]×(幅)20[mm]×(厚さ)20[mm]の略直方体状のSiC焼結体からなるミラーをステージとボルト締結し一体化した。尚、SiC焼結体のミラー面はSiCイオンプレーティング膜が成膜され、その測長用の領域の平面度がλ/20(λ=632.8nm)で研磨加工した。上記のように評価された比較例のテーブル1の位置決め精度の変化率は70%であった。
1‥テーブル、10‥上面、11‥第1側面、12‥第2側面、21‥第1反射ミラー、22‥第2反射ミラー、41‥第1干渉計、42‥第2干渉計。

Claims (2)

  1. 表面に形成された蒸着膜からなる反射ミラーを備えていることを特徴とする位置決めステージ用のテーブル。
  2. 請求項1記載の位置決めステージ用のテーブルの表面に形成されている前記反射ミラーに対する照射光の経路と、当該照射光の前記反射ミラーによる反射光の経路とを光経路として有する干渉計を用いて、前記テーブルの座標値を測定する過程を含むことを特徴とする位置決め方法。
JP2016030116A 2016-02-19 2016-02-19 位置決めステージ用のテーブルおよびこれを用いた位置決め方法 Active JP6715616B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016030116A JP6715616B2 (ja) 2016-02-19 2016-02-19 位置決めステージ用のテーブルおよびこれを用いた位置決め方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016030116A JP6715616B2 (ja) 2016-02-19 2016-02-19 位置決めステージ用のテーブルおよびこれを用いた位置決め方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017147407A true JP2017147407A (ja) 2017-08-24
JP6715616B2 JP6715616B2 (ja) 2020-07-01

Family

ID=59681577

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016030116A Active JP6715616B2 (ja) 2016-02-19 2016-02-19 位置決めステージ用のテーブルおよびこれを用いた位置決め方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6715616B2 (ja)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04143604A (ja) * 1990-10-05 1992-05-18 Toto Ltd レーザ光を利用した位置決め装置用反射鏡
JPH08323604A (ja) * 1995-05-31 1996-12-10 Canon Inc SiCの研磨方法および光学素子の製造方法
JP2779968B2 (ja) * 1989-12-29 1998-07-23 東陶機器株式会社 真空チャック
JPH10206612A (ja) * 1997-01-20 1998-08-07 Nippon Pillar Packing Co Ltd 鏡面体
JP2001143997A (ja) * 1999-11-15 2001-05-25 Canon Inc 位置決め装置、露光装置、及びデバイスの製造方法
JP2001220239A (ja) * 2000-02-07 2001-08-14 Hitachi Chem Co Ltd 炭化珪素焼結体及びその製造法
JP2001244177A (ja) * 2000-02-28 2001-09-07 Nikon Corp ステージ装置とホルダ、および走査型露光装置並びに露光装置
JP2003057419A (ja) * 2001-08-21 2003-02-26 Canon Inc 光学反射ミラー、光学反射ミラーの製造方法、位置決め装置、半導体装置の製造方法
US20040145751A1 (en) * 2003-01-28 2004-07-29 Binnard Michael B. Square wafer chuck with mirror
JP2006003376A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Taiheiyo Cement Corp 光学反射ミラー
JP2008219024A (ja) * 2008-03-24 2008-09-18 Nikon Corp 露光装置、露光方法、及びデバイスの製造方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2779968B2 (ja) * 1989-12-29 1998-07-23 東陶機器株式会社 真空チャック
JPH04143604A (ja) * 1990-10-05 1992-05-18 Toto Ltd レーザ光を利用した位置決め装置用反射鏡
JPH08323604A (ja) * 1995-05-31 1996-12-10 Canon Inc SiCの研磨方法および光学素子の製造方法
JPH10206612A (ja) * 1997-01-20 1998-08-07 Nippon Pillar Packing Co Ltd 鏡面体
JP2001143997A (ja) * 1999-11-15 2001-05-25 Canon Inc 位置決め装置、露光装置、及びデバイスの製造方法
JP2001220239A (ja) * 2000-02-07 2001-08-14 Hitachi Chem Co Ltd 炭化珪素焼結体及びその製造法
JP2001244177A (ja) * 2000-02-28 2001-09-07 Nikon Corp ステージ装置とホルダ、および走査型露光装置並びに露光装置
JP2003057419A (ja) * 2001-08-21 2003-02-26 Canon Inc 光学反射ミラー、光学反射ミラーの製造方法、位置決め装置、半導体装置の製造方法
US20040145751A1 (en) * 2003-01-28 2004-07-29 Binnard Michael B. Square wafer chuck with mirror
JP2006003376A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Taiheiyo Cement Corp 光学反射ミラー
JP2008219024A (ja) * 2008-03-24 2008-09-18 Nikon Corp 露光装置、露光方法、及びデバイスの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6715616B2 (ja) 2020-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5452197B2 (ja) Mems光スキャナ
US10120186B2 (en) Scanning mirror
JP2007094040A (ja) フレーム治具及びそれを用いた光学薄膜の形成方法
JP2016508626A (ja) 一体化されたフレクシャを有するモノリシック光学構成要素
JP5394663B2 (ja) 光走査用マイクロミラーデバイス、光走査装置、画像形成装置、表示装置および入力装置
JP2008109060A (ja) Euvリソグラフィ用反射型マスクブランクの多層反射膜を成膜する方法、ならびにeuvリソグラフィ用反射型マスクブランクの製造方法
JP2012009537A (ja) 反射型マスクブランクス、反射型マスク、反射型マスクブランクスの製造方法、および、反射型マスクの製造方法
US6476539B1 (en) Piezoelectric/electrostrictive device
JP6715616B2 (ja) 位置決めステージ用のテーブルおよびこれを用いた位置決め方法
JP2005134680A (ja) 反射ミラー、導光光学系システム、レーザ加工機、および反射ミラーの製造方法
US6570297B1 (en) Piezoelectric/electrostrictive device
JP2011242522A (ja) マイクロミラー装置
TWI405999B (zh) Optical element and optical element manufacturing method
JP2017181923A (ja) 位置決めステージ装置
JP2011242522A5 (ja)
JP2003057419A (ja) 光学反射ミラー、光学反射ミラーの製造方法、位置決め装置、半導体装置の製造方法
JP3428808B2 (ja) 移動ステージ装置
JP3128814B2 (ja) レーザ光を利用した位置決め装置用反射鏡
JPH0563261A (ja) レーザ反射鏡
JP2010210782A (ja) マイクロミラー装置
JP2011008070A (ja) マイクロミラー装置
JPH06168536A (ja) 磁気ディスク基板用保持部材およびこれを用いた磁気ディスク装置
US20120132349A1 (en) Method for producing tunable interference filter
JPWO2020262674A5 (ja)
JP4463049B2 (ja) セラミック構造体とこれを用いた位置決め装置用部材

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20180710

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190723

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190830

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20191112

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200602

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200609

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6715616

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250