JP2017119885A - Polypropylene film and manufacturing method therefor - Google Patents

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中田　将裕
Masahiro Nakada
将裕 中田
忠和 石渡
Tadakazu Ishiwatari
忠和 石渡
祥宜 松尾
Yoshinobu Matsuo
祥宜 松尾
茂雄 村瀬
Shigeo Murase
茂雄 村瀬
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a polypropylene film capable of being wound with uniform spacing during element winding processing and therefor manufacturing a capacitor good in security, high temperature voltage resistance property during high voltage impression.SOLUTION: There is provided a polypropylene film of which a surface is roughened by forming a plurality of crater-like fine unevenness and which has thickness of 1 to 7 μm, wherein many crater projection image G consisting of a pair of circular arcs 30a and 30b are observed in a projection image obtained by projecting an upper part of fine unevenness to the surface and average value α of a ratio (L/L) is 0.3 or more, where Lis total length of the pair of circle arcs 30a and 30b and Lis total peripheral length of a virtual circle ring containing the pair of circle arcs 30a and 30b in each crater projection image G.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、コンデンサの誘電体フィルムなどとして好適に使用されるポリプロピレンフィルムとその製造方法に関する。   The present invention relates to a polypropylene film suitably used as a dielectric film of a capacitor and a method for producing the same.

ポリプロピレンフィルムは、耐電圧特性や、誘電損失などの電気特性が他のプラスチックフィルムよりも優れていることから、コンデンサ用の誘電体フィルム（以下、コンデンサ用フィルムという場合がある。）などの電気用途に広く利用されている。
近年、このようなコンデンサ用フィルムには、フィルム厚のより薄いものが求められるようになってきている。これは、コンデンサ用フィルムの厚みが薄くなると、所定体積あたりの巻き回数を増加させ、コンデンサ内でフィルム面積を大きくとることができるようになり、その結果、コンデンサのより一層の小型化、高容量化が可能となるためである。 Polypropylene film is superior in electrical characteristics such as withstand voltage characteristics and dielectric loss to other plastic films, and therefore is used for electrical applications such as dielectric films for capacitors (hereinafter sometimes referred to as capacitor films). Widely used.
In recent years, such a capacitor film has been required to have a thinner film thickness. This is because when the thickness of the capacitor film is reduced, the number of windings per predetermined volume is increased, and the film area can be increased in the capacitor. As a result, the capacitor is further reduced in size and capacity. This is because it becomes possible.

ところが、このような非常に薄いコンデンサ用フィルムは、加工の際のハンドリング性が極めて悪く、コンデンサを作製する際の素子巻き加工において、シワや巻きずれを発生し易いと言う難点、すなわち素子巻き適性が不良という問題がある。そこで、素子巻き加工時の滑り性を向上させ、該加工を容易にすることを主な目的として、その表面には微細凹凸が形成されて、該表面が粗面化されることが多い。   However, such a very thin capacitor film has extremely poor handling properties during processing, and it is difficult to cause wrinkles and misalignment in element winding processing when manufacturing a capacitor. There is a problem of being bad. Therefore, for the main purpose of improving the slidability during element winding processing and facilitating the processing, fine irregularities are formed on the surface and the surface is often roughened.

粗面化の方法としては、多数のβ型球晶を生成させたポリプロピレンの原反シートを特定条件で延伸して、β型球晶をより密度の大きなα型球晶に結晶変態させることにより、結晶変態が起きた部分にクレーター状の微細凹凸を形成する方法などが知られている（例えば特許文献１参照。）。このようにβ型球晶の結晶変態を利用した粗面化の方法は、樹脂に添加剤などの不純物を混入させる必要がない方法であるため、電気的特性に悪影響を及ぼすことなく、微細凹凸を付与できるというメリットを有する。例えば、フィルムとしての絶縁破壊電圧は、表面平滑性が高い方が、良好な結果を得られる傾向にあるが、表面平滑性が高すぎると、コンデンサー素子を作製できなくなる（素子巻き適性が不可）。そこで、特許文献１に開示されているように粗面化することにより、絶縁破壊電圧を維持したまま、素子巻き加工適性を向上させるに至った。   As a roughening method, a polypropylene raw sheet having a large number of β-type spherulites is stretched under specific conditions, and the β-type spherulites are transformed into α-type spherulites with higher density. A method of forming crater-like fine irregularities in a portion where crystal transformation has occurred is known (for example, see Patent Document 1). As described above, the roughening method utilizing the crystal transformation of β-type spherulites is a method that does not require the addition of impurities such as additives to the resin, and therefore has a fine unevenness without adversely affecting the electrical characteristics. It has the merit that it can provide. For example, the breakdown voltage as a film tends to obtain better results when the surface smoothness is higher, but if the surface smoothness is too high, a capacitor element cannot be produced (element winding suitability is not possible). . Thus, roughening as disclosed in Patent Document 1 has improved the element winding processability while maintaining the dielectric breakdown voltage.

特開２００８−１３３４４６号公報JP 2008-133446 A

しかしながら、特許文献１に記載のように表面が粗面化されたコンデンサ用フィルムを用いて素子巻き加工を行った場合、巻回されたコンデンサ用フィルムの面間隔が均一にならず、部分的に面間隔が狭い部分が生じることがあった。面間隔が狭い部分では、局所的な絶縁破壊が発生しやすく、それにより、コンデンサとしての保安性低下の問題（コンデンサに印加する電圧を上げていった際に、ある電圧を超えると、急激に蓄電性能が低下するという問題。）が起こりやすい。また、コンデンサ用フィルム同士の面間隔が不均一であると、コンデンサ内部での蓄電性能にばらつきが生じ、その結果、コンデンサとしての高電圧印加時の高温耐電圧特性（高温条件下において、コンデンサに高電圧の印加を繰り返した際の短期的な電圧特性。）が劣る傾向にある。   However, when the element winding process is performed using the capacitor film having a roughened surface as described in Patent Document 1, the surface interval of the wound capacitor film is not uniform, and is partially There was a case where a portion having a narrow surface interval was generated. In areas where the surface spacing is narrow, local dielectric breakdown is likely to occur. As a result, there is a problem of reduced security as a capacitor (when the voltage applied to the capacitor is increased, if the voltage exceeds a certain voltage, The problem that power storage performance decreases.) In addition, if the surface spacing between the capacitor films is not uniform, the storage performance inside the capacitor varies, and as a result, the high-temperature withstand voltage characteristics when a high voltage is applied as a capacitor ( Short-term voltage characteristics when high voltage application is repeated) tend to be inferior.

すなわち、耐電圧性の評価には様々な方法があり、フィルムとしての耐電圧性は優れているフィルムであっても、該フィルムを用いて製造したコンデンサの耐電圧性が優れるとは限らない。また、コンデンサの耐電圧性といっても、上述した保安性や高電圧印加時の高温耐電圧特性の他、コンデンサに一定電圧を長期間印加した際の蓄電性能（ライフ性能・長期間耐電圧性）などもあり、これらの評価結果も必ずしも相関するものではない。
このように様々の方法で評価された耐電圧性は、互いに関連性が無いとは言えないが、必ずしも一義的に相関するものではなく、フィルムの他の様々な物性等の影響を受けていると考えられる。 In other words, there are various methods for evaluating the voltage resistance, and even a film having excellent voltage resistance as a film does not necessarily have excellent voltage resistance of a capacitor manufactured using the film. In addition, the withstand voltage of capacitors is not only the above-mentioned safety and high-temperature withstand voltage characteristics when high voltage is applied, but also the storage performance (life performance / long-term withstand voltage) when a constant voltage is applied to the capacitor for a long time. These evaluation results are not necessarily correlated.
In this way, the voltage resistance evaluated by various methods cannot be said to be unrelated to each other, but is not necessarily uniquely correlated, and is influenced by various other physical properties of the film. it is conceivable that.

本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、素子巻き加工時に、均一な面間隔で巻回でき、そのため、コンデンサとしての保安性や高電圧印加時の高温耐電圧特性の良好なコンデンサを製造できるポリプロピレンフィルムの提供を課題とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and can be wound with a uniform surface spacing during element winding processing. Therefore, a capacitor with good safety and high-temperature withstand voltage characteristics when a high voltage is applied is manufactured. It is an object to provide a polypropylene film that can be produced.

本発明のポリプロピレンフィルムは、一方または両方の表面に、クレーター状の微細凹凸が多数形成されることにより、前記表面が粗面化されたポリプロピレンフィルムであって、少なくとも一方の表面について、光干渉式非接触表面形状測定器を用いて、前記微細凹凸のうちの高さが０．０２μｍ以上の部分を前記表面へ投影した投影画像を得た場合に、該投影画像には、対をなす円弧からなるクレーター投影像が多数観測され、各クレーター投影像において、対をなす円弧の合計長さをＬｔとし、対をなす円弧を含む仮想円環の全周長さをＬｃとして比（Ｌｔ／Ｌｃ）を求めた場合、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが、０．３以上となることを特徴とする。
前記仮想円環は、平均長軸径が２０〜８０μｍであることが好ましい。
本発明のポリプロピレンフィルムの製造方法は、β型球晶を生成させたポリプロピレンキャストシートを二軸延伸する工程を有し、前記ポリプロピレンキャストシートの少なくとも一方の表面について、偏光顕微鏡で観察されるβ型球晶の平均半径が１０μｍ以下であることを特徴とする。
Ｘ線回折法を用いて求められる前記ポリプロピレンキャストシートのβ晶分率が１〜２０％であることが好適である。 The polypropylene film of the present invention is a polypropylene film in which the surface is roughened by forming a large number of crater-like fine irregularities on one or both surfaces, and at least one surface has an optical interference type. When a projection image obtained by projecting a portion having a height of 0.02 μm or more of the fine irregularities onto the surface using a non-contact surface shape measuring instrument is obtained, the projection image includes a pair of arcs. A number of crater projection images are observed, and in each crater projection image, the total length of a pair of arcs is L t, and the total circumference length of the virtual ring including the pair of arcs is L c , and the ratio (L t / L c ), the average value α of the ratio (L t / L c ) is 0.3 or more.
The virtual ring preferably has an average major axis diameter of 20 to 80 μm.
The method for producing a polypropylene film of the present invention includes a step of biaxially stretching a polypropylene cast sheet on which β-type spherulites are formed, and at least one surface of the polypropylene cast sheet is observed with a polarizing microscope. The average radius of the spherulites is 10 μm or less.
The β crystal fraction of the polypropylene cast sheet obtained using an X-ray diffraction method is preferably 1 to 20%.

本発明によれば、素子巻き加工時に、均一な面間隔で巻回でき、そのため、コンデンサとしての保安性や高電圧印加時の高温耐電圧特性の良好なコンデンサを製造できるポリプロピレンフィルムを提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the polypropylene film which can be wound by the uniform surface space | interval at the time of element winding, and can manufacture the capacitor | condenser with the favorable safety | security property as a capacitor | condenser and the high temperature withstand voltage characteristic at the time of a high voltage application can be provided.

本発明の二軸延伸ポリプロピレンフィルムの一例（実施例１）を示す光学顕微鏡写真である。It is an optical microscope photograph which shows an example (Example 1) of the biaxially stretched polypropylene film of this invention. クレーター状の微細凹凸を模式的に示す（ａ）斜視図（イメージ図）、（ｂ）横断面図、（ｃ）（ｂ）のＩ−Ｉ’線に沿う縦断面図である。FIG. 2A is a perspective view (image diagram), FIG. 2B is a transverse cross-sectional view, and FIG. 2C is a vertical cross-sectional view taken along line I-I ′ in FIG. 図１と同じ二軸延伸ポリプロピレンフィルムの表面について得られた投影画像である。It is the projection image obtained about the surface of the same biaxially-stretched polypropylene film as FIG. クレーター投影像を示す摸式図である。It is a model diagram which shows a crater projection image. 仮想円環の決定方法を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the determination method of a virtual ring. 仮想円環の他の決定方法を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the other determination method of a virtual ring.

以下、本発明を詳細に説明する。
本発明のポリプロピレンフィルムの表面には、多数のクレーター状の微細凹凸が形成され、該表面が粗面化されている。
図１は、本発明のポリプロピレンフィルム（後述の実施例１のポリプロピレンフィルム）の表面の光学顕微鏡写真であり、図２は、図１中の二点鎖線で囲まれる領域中に認められる１つのクレーター状の微細凹凸２０を抽出して模式的に示した図である。
図示のように、クレーター状の各微細凹凸２０は、ある高さでの横断面が円弧状であって互いに逆向きに湾曲して対をなす２つの凸起２０ａ，２０ｂを備え、これらの凸起２０ａ，２０ｂと凸起２０ａ，２０ｂ間の凹み（窪み）２０ｃとで、クレーター状をなしている。なお、２つの凸起２０ａ，２０ｂは合体して略円筒形をなしている場合もあり、その場合の横断面は円環状となる。
なお、横断面とは、フィルム表面に平行な面である。また、円弧状とは、概略円形または概略楕円形の周の少なくとも一部をなすような湾曲形状のことであり、円環には概略円形と概略楕円形の環が含まれる。 Hereinafter, the present invention will be described in detail.
Many crater-like fine irregularities are formed on the surface of the polypropylene film of the present invention, and the surface is roughened.
FIG. 1 is an optical micrograph of the surface of the polypropylene film of the present invention (the polypropylene film of Example 1 described later), and FIG. 2 is a crater found in a region surrounded by a two-dot chain line in FIG. It is the figure which extracted and showed the fine fine unevenness | corrugation 20 of the shape.
As shown in the figure, each crater-like fine unevenness 20 is provided with two protrusions 20a and 20b that have a circular cross section at a certain height and are bent in opposite directions to form a pair. The raised portions 20a, 20b and the recesses 20c between the raised portions 20a, 20b form a crater shape. In some cases, the two protrusions 20a and 20b are combined to form a substantially cylindrical shape, and the cross section in that case is annular.
In addition, a cross section is a surface parallel to the film surface. Further, the arc shape is a curved shape that forms at least a part of the circumference of a substantially circular shape or a substantially elliptical shape, and the circular ring includes a substantially circular shape and a substantially elliptical shape.

この例のポリプロピレンフィルム１０は、詳しくは後述するが、多数のβ型球晶を生成させたポリプロピレンキャストシート（原反シート）を二軸延伸する方法で製造されたものである。β型球晶を有するポリプロピレンキャストシートを延伸すると、β型球晶はより密度の大きなα型球晶に結晶変態する。その結果、結晶変態が起きた部分には、クレーター状の微細凹凸２０が形成される。なお、図１中、矢印ａの方向が縦延伸の方向で、矢印ｂの方向が横延伸の方向である。   The polypropylene film 10 of this example is manufactured by a method of biaxially stretching a polypropylene cast sheet (raw sheet) on which a large number of β-type spherulites are formed, as will be described in detail later. When a polypropylene cast sheet having β-type spherulites is stretched, the β-type spherulites are transformed into α-type spherulites with higher density. As a result, crater-like fine irregularities 20 are formed in the portion where the crystal transformation has occurred. In FIG. 1, the direction of arrow a is the direction of longitudinal stretching, and the direction of arrow b is the direction of lateral stretching.

このようなクレーター状の微細凹凸２０を備えた表面について、光干渉式非接触表面形状測定器を用いて、微細凹凸２０のうちの高さが０．０２μｍ以上の部分をフィルム表面へ投影した投影画像を得る（図３）。すると、その投影画像には、各微細凹凸２０に対応する多数のクレーター投影像が得られる。図４に模式的に示すように、各クレーター投影像Ｇは、微細凹凸を構成する各凸起が横断面円弧状であることに起因して、対をなす２つの円弧３０ａ，３０ｂからなる。
そして、このようなクレーター投影像Ｇにおいては、対をなす２つの円弧３０ａ，３０ｂの合計長さをＬｔ（＝Ｌ１＋Ｌ２）とし、対をなす２つの円弧３０ａ，３０ｂを含む仮想円環を想定し、該仮想円環の全周長さをＬｃ（＝Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４）とした場合に、ＬｔとＬｃとの比（Ｌｔ／Ｌｃ）が特定範囲になるという特徴を有する。
図４中、実線は、対をなす円弧からなるクレーター投影像である。一方、破線は、詳しくは後述するが、円弧３０ａ，３０ｂの形状（位置データ）から決定される補完線４０ａ，４０ｂである。そして、図４の例においては、実線で示される円弧３０ａ，３０ｂと、破線で示される補完線４０ａ，４０ｂとで形成される円環が仮想円環である。 Projection of the surface provided with such crater-like fine irregularities 20 by projecting a portion of the fine irregularities 20 having a height of 0.02 μm or more onto the film surface using an optical interference type non-contact surface shape measuring instrument. An image is obtained (FIG. 3). Then, a large number of crater projection images corresponding to the fine irregularities 20 are obtained in the projection image. As schematically shown in FIG. 4, each crater projection image G is composed of two arcs 30 a and 30 b that form a pair due to the fact that each protrusion constituting the fine irregularities has an arc shape in cross section.
In such a crater projection image G, the total length of the two arcs 30a and 30b forming the pair is L t (= L 1 + L 2 ), and the virtual circle including the two arcs 30a and 30b forming the pair Assuming a ring, if the total circumference of the virtual ring is L c (= L 1 + L 2 + L 3 + L 4 ), the ratio of L t to L c (L t / L c ) is specified It has the feature of becoming a range.
In FIG. 4, the solid line is a crater projection image composed of a pair of arcs. On the other hand, the broken lines are complementary lines 40a and 40b determined from the shapes (position data) of the arcs 30a and 30b, as will be described in detail later. In the example of FIG. 4, a ring formed by arcs 30a and 30b indicated by solid lines and complementary lines 40a and 40b indicated by broken lines is a virtual ring.

具体的には、各クレーター投影像ＧそれぞれについてＬｔとＬｃとを測定して比（Ｌｔ／Ｌｃ）を算出し、算出されたそれらの比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値を求めた場合、該平均値αが０．３以上である。 Specifically, by measuring the L t and L c to calculate the ratio (L t / L c) for each of crater projected image G, the calculated average value of their ratio (L t / L c) Is obtained, the average value α is 0.3 or more.

比（Ｌｔ／Ｌｃ）の値が大きいということは、仮想円環の円周に占める、対をなす円弧３０ａ，３０ｂの長さの割合が大きく、対をなす円弧３０ａ，３０ｂが仮想円環に近い形状をなしているということである。このようなクレーター投影像Ｇが得られるような微細凹凸２０は、高さ０．０２μｍ以上の部分では、一対の凸起２０ａ，２０ｂは筒形に近い形状をなしている。このように高さ０．０２μｍ以上の部分が筒形に近い形状をなしている筒型の凸起は、その上方から力が加わった場合でも、座屈するなどの変形が起こりにくいと考えられる。そのため、このような凸起が形成されたポリプロピレンフィルムを用いると、コンデンサの製造時の素子巻き加工に際して、均一な面間隔でこれを巻回することができる。 When the value of the ratio (L t / L c ) is large, the ratio of the length of the paired arcs 30a and 30b occupying the circumference of the virtual ring is large, and the paired arcs 30a and 30b are virtual circles. This means that it has a shape close to a ring. In the fine unevenness 20 from which such a crater projection image G can be obtained, the pair of protrusions 20a and 20b has a shape close to a cylindrical shape in a portion having a height of 0.02 μm or more. Thus, it is considered that the cylindrical protrusion having a portion with a height of 0.02 μm or more having a shape close to a cylindrical shape is unlikely to be deformed such as buckling even when a force is applied from above. Therefore, when a polypropylene film having such protrusions is used, it can be wound at a uniform surface interval during element winding processing at the time of manufacturing a capacitor.

一方、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の値が小さいということは、仮想円環の円周に占める、対をなす円弧３０ａ，３０ｂの長さの割合が小さいということである。このようなクレーター投影像Ｇが得られるような微細凹凸２０は、高さ０．０２μｍ以上の部分では、各凸起２０ａ，２０ｂがそれぞれ独立しているような形状である。このような独立型の凸起は、筒型の凸起に比べて、上方からの力に対して座屈して変形しやすいと考えられる。そのため、このような凸起が形成されたポリプロピレンフィルムを用いると、コンデンサの製造時の素子巻き加工に際して該凸起が変形しやすく、ポリプロピレンフィルムの面間隔は不均一となりやすい。 On the other hand, a small value of the ratio (L t / L c ) means that the ratio of the lengths of the paired arcs 30a and 30b occupying the circumference of the virtual ring is small. The fine unevenness 20 that can provide such a crater projection image G has such a shape that the protrusions 20a and 20b are independent at a height of 0.02 μm or more. Such independent protrusions are considered to be more easily deformed by buckling with respect to the force from above as compared with the cylindrical protrusions. Therefore, when a polypropylene film having such protrusions is used, the protrusions are likely to be deformed during the element winding process during the manufacture of the capacitor, and the surface spacing of the polypropylene films tends to be non-uniform.

また、独立型の凸起は、素子巻き加工において、その上に巻回されるポリプロピレンフィルム１０と接触する面積が小さい。よって、ポリプロピレンフィルム１０を安定に支持できず、ポリプロピレンフィルム１０は撓みやすくなる。これに対して、筒型の凸起は、その上に巻回されるポリプロピレンフィルム１０と接触する面積が大きい。よって、上述のようなポリプロピレンフィルム１０の撓みを抑制してポリプロピレンフィルム１０を安定に支持し、その面間隔を一定に維持しやすいと考えられる。   Further, the stand-alone protrusion has a small area in contact with the polypropylene film 10 wound thereon in the element winding process. Therefore, the polypropylene film 10 cannot be stably supported, and the polypropylene film 10 is easily bent. On the other hand, the cylindrical protrusion has a large area in contact with the polypropylene film 10 wound thereon. Therefore, it is considered that the polypropylene film 10 is stably supported by suppressing the bending of the polypropylene film 10 as described above, and the distance between the surfaces is easily maintained.

コンデンサにおいて、巻回されたポリプロピレンフィルム１０の面間隔が不均一となると、面間隔が狭い部分が生じ、その部分では局所的な絶縁破壊が発生しやすく、それにより、保安性低下の問題（コンデンサに印加する電圧を上げていった際に、ある電圧を超えると、急激に蓄電性能が低下するという問題。）が起こりやすい。また、ポリプロピレンフィルム１０同士の面間隔が不均一であると、コンデンサ内部での蓄電性能にばらつきが生じ、その結果、高電圧印加時の高温耐電圧特性（高温条件下において、コンデンサに高電圧の印加を繰り返した際の短期的な電圧特性。）が劣る傾向にある。   In the capacitor, when the surface spacing of the wound polypropylene film 10 is not uniform, a portion having a narrow surface spacing is generated, and local insulation breakdown is likely to occur in the portion, thereby causing a problem of deterioration in security (capacitor). When the voltage applied to the voltage is increased, if the voltage exceeds a certain voltage, the power storage performance deteriorates rapidly. In addition, if the surface spacing between the polypropylene films 10 is not uniform, the storage performance inside the capacitor varies, and as a result, the high-temperature withstand voltage characteristics when a high voltage is applied (the high voltage is applied to the capacitor under high temperature conditions). Short-term voltage characteristics when application is repeated) tend to be inferior.

そこで、各クレーター投影像ＧそれぞれについてＬｔとＬｃとを測定して比（Ｌｔ／Ｌｃ）を算出し、算出されたそれらの比（Ｌｔ／Ｌｃ）の値の平均値αが０．３以上となるポリプロピレンフィルム１０を用いる。このようなポリプロピレンフィルム１０の凸起２０ａ，２０ｂは、上方からの力に対して強く、コンデンサを製造する際の素子巻き加工時に変形しにくい。また、ポリプロピレンフィルム１０を撓ませずに安定に支持しやすい。
よって、素子巻き加工時に、均一な面間隔で巻回でき、そのため、保安性や高電圧印加時の高温耐電圧特性の良好なコンデンサを製造できる。より好ましい平均値αは、０．３５以上である。
なお、微細凹凸２０によっては、高さ０．０２μｍ以上の部分が完全な筒形であることもあり、その場合には、Ｌ３＝Ｌ４＝０となる。そのため、Ｌｃ＝Ｌｔ＝Ｌ１＋Ｌ２であって、比（Ｌｔ／Ｌｃ）＝１となる。 Therefore, the ratio (L t / L c ) is calculated by measuring L t and L c for each crater projection image G, and the average value α of the calculated ratios (L t / L c ) α A polypropylene film 10 having a thickness of 0.3 or more is used. Such protrusions 20a and 20b of the polypropylene film 10 are strong against a force from above, and are not easily deformed during element winding processing when manufacturing a capacitor. Moreover, it is easy to support the polypropylene film 10 stably without bending.
Therefore, it is possible to wind at a uniform surface interval during the element winding process, and therefore it is possible to manufacture a capacitor having good safety and high temperature withstand voltage characteristics when a high voltage is applied. A more preferable average value α is 0.35 or more.
Note that, depending on the fine unevenness 20, a portion having a height of 0.02 μm or more may be a perfect cylinder, and in that case, L 3 = L 4 = 0. Therefore, L c = L t = L 1 + L 2 and the ratio (L t / L c ) = 1.

本発明においては、クレーター投影像Ｇを得るに際して、光干渉式非接触表面形状測定器を用いて、微細凹凸２０の上部（高さ０．０２μｍ以上の部分。）のみを投影している。これは微細凹凸２０の特に上部の形状が、ポリプロピレンフィルム１０の素子巻き加工時における面間隔の均一性に影響を与えること、そして、上部を定義する閾値として高さ０．０２μｍを選択し、それ以上の高さの部分のクレーター投影像Ｇを得て、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αを求めると、得られた平均値αと面間隔の均一性との間に良好な相関関係が得られることを本発明者が見出したことに基くものである。仮に、ポリプロピレンフィルム１０の表面の顕微鏡写真からクレーター部像を特定し、このようなクレーター部像から比（Ｌｔ／Ｌｃ）の値の平均値αを求めた場合、該写真から得られたクレーター部像には、微細凹凸の下部の形状も含まれてしまうため、その値は微細凹凸の上部の形状を反映したものとはならない。そのため、このように顕微鏡写真から得られた比（Ｌｔ／Ｌｃ）の値の平均値αと、面間隔の均一性との間には、良好な相関関係は認められない。 In the present invention, when the crater projection image G is obtained, only the upper part of the fine irregularities 20 (a part having a height of 0.02 μm or more) is projected using an optical interference type non-contact surface shape measuring instrument. This is because the shape of the upper part of the fine unevenness 20 affects the uniformity of the surface spacing during the element winding process of the polypropylene film 10, and a height of 0.02 μm is selected as a threshold value for defining the upper part. When the crater projection image G of the above height portion is obtained and the average value α of the ratio (L t / L c ) is obtained, a good correlation is obtained between the obtained average value α and the uniformity of the inter-surface spacing. It is based on what this inventor discovered that a relationship was acquired. If the crater part image was specified from the micrograph of the surface of the polypropylene film 10 and the average value α of the ratio (L t / L c ) value was obtained from such a crater part image, it was obtained from the photograph. Since the crater image includes the shape of the lower part of the fine unevenness, the value does not reflect the shape of the upper part of the fine unevenness. Therefore, there is no good correlation between the average value α of the ratio (L t / L c ) values obtained from the micrographs in this way and the uniformity of the surface spacing.

投影画像を得る際に用いる光干渉式非接触表面形状測定器としては、例えば、（株）菱化システム製の「ＶｅｒｔＳｃａｎ２．０（型式 Ｒ５５００ＧＭＬ）」を使用できる。
測定では、ＷＡＶＥモードを用い、５３０ｗｈｉｔｅフィルタ及び×２０対物レンズを用いて、一視野あたり２３７μｍ×１７８μｍの計測を３×３視野の複数視野計測により実施する。そして、全画像をスティッチング処理して６１２μｍ×４５９μｍの表面形状データを得る。この操作をフィルム表面の任意の３箇所について行う。
得られたデータについて、メディアンフィルタによるノイズ除去処理を行った後、カットオフ値６０μｍによるガウシアンフィルタ処理を行い、うねり成分を除去する。これにより、微細凹凸２０の形状を良好に計測できる状態となる。 As an optical interference type non-contact surface shape measuring instrument used for obtaining a projection image, for example, “VertScan 2.0 (model R5500GML)” manufactured by Ryoka System Co., Ltd. can be used.
In the measurement, the WAVE mode is used, and measurement of 237 μm × 178 μm per visual field is performed by multi-field measurement of 3 × 3 visual fields using a 530 white filter and a × 20 objective lens. The entire image is stitched to obtain surface shape data of 612 μm × 459 μm. This operation is performed at any three locations on the film surface.
The obtained data is subjected to noise removal processing using a median filter, and then subjected to Gaussian filtering processing using a cutoff value of 60 μm to remove swell components. Thereby, it will be in the state which can measure the shape of the fine unevenness | corrugation 20 favorably.

上述のようにして得られた任意の３箇所の各表面形状データの画像から、対をなす円弧３０ａ，３０ｂからなるクレーター投影像Ｇを１０個ずつ抽出し、それぞれについて、対をなす円弧３０ａ，３０ｂの合計長さＬｔと、対をなす円弧３０ａ，３０ｂを含む仮想円環の全周長さをＬｃとを計測し、比（Ｌｔ／Ｌｃ）を求める。そして、得られた合計３０の値を平均し、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αを得る。 Ten crater projection images G each including a pair of arcs 30a and 30b are extracted from the images of the surface shape data at arbitrary three locations obtained as described above, and each pair of arcs 30a, 30a, 30b is extracted. The total length L t of 30 b and the total circumference L c of the virtual ring including the paired arcs 30 a and 30 b are measured, and the ratio (L t / L c ) is obtained. And the value of the total 30 obtained is averaged, and average value (alpha) of ratio ( Lt / Lc ) is obtained.

なお、３箇所の各表面形状データの画像から、対をなす円弧３０ａ，３０ｂからなるクレーター投影像Ｇを抽出する際には、「異なるβ型球晶に基く円弧同士の重なり合い」がないようなクレーター投影像Ｇを１０個ずつ抽出することが望ましい。
すなわち、各クレーター投影像Ｇに対応する各微細凹凸は、多数のβ型球晶を生成させたポリプロピレンキャストシートを二軸延伸し、各β型球晶をそれぞれα型球晶へ結晶変態させることで形成されたものであるが、キャストシートにおける多数のβ型球晶は、全てが分散性よく存在しているとは限らず、複数重なり合って存在しているものもある。ここで、複数が重なり合った状態にあるβ型球晶からは、二軸延伸により、微細凹凸も重なり合った状態で得られる。そして、そのクレーター投影像においても、円弧同士の重なり合いが認められる。このようなものは、一見しただけでは、どの円弧とどの円弧とが対をなしているかがわかりにくい場合がある。これに対して、１つずつ分散して存在しているβ型球晶からは、微細凹凸も１つずつ分散した状態で得られる。そのため、そのクレーター投影像においては、異なるβ型球晶に基く円弧同士の重なり合いがなく、どの円弧とどの円弧とが対をなしているかを一見しただけで容易に理解できる。よって、上述したとおり、３箇所の各表面形状データの画像からクレーター投影像Ｇを抽出する際には、「異なるβ型球晶に基く円弧同士の重なり合い」が認められないクレーター投影像Ｇを１０個ずつ抽出することが望ましい。
ただし、重なり合って存在しているβ型球晶が多いポリプロピレンキャストシートを二軸延伸した場合などには、円弧同士の重なり合いが認められないクレーター投影像Ｇばかりを１０個ずつ選び出すことが難しい場合もある。その場合には、二軸延伸時の縦延伸、横延伸の各延伸倍率等を考慮することにより、重なり合った円弧のなかからでも、どの円弧とどの円弧とが対をなしているかを判断できるため、必ずしも、円弧同士の重なり合いが認められないクレーター投影像Ｇのみを１０個ずつ抽出しなくてもよい。 It should be noted that there is no “overlap of arcs based on different β-type spherulites” when a crater projection image G composed of pairs of arcs 30a and 30b is extracted from the images of the surface shape data at three locations. It is desirable to extract ten crater projection images G at a time.
That is, each micro unevenness corresponding to each crater projection image G is obtained by biaxially stretching a polypropylene cast sheet on which a large number of β-type spherulites are formed, and transforming each β-type spherulite into α-type spherulites. However, not all of the large number of β-type spherulites in the cast sheet are present with good dispersibility, and there are some that are overlapped. Here, a plurality of β-type spherulites in an overlapped state can be obtained in a state where fine irregularities are also overlapped by biaxial stretching. In the crater projection image, overlapping of arcs is recognized. In some cases, it may be difficult to see which arcs are paired with each other at a glance. On the other hand, from the β-type spherulites that are dispersed one by one, the fine irregularities are also obtained in a dispersed state one by one. Therefore, in the crater projection image, there is no overlap of arcs based on different β-type spherulites, and it can be easily understood by just looking at which arc is paired with which arc. Therefore, as described above, when extracting the crater projection image G from the images of the surface shape data at the three locations, the crater projection image G in which “overlapping of arcs based on different β-type spherulites” is not recognized is 10 It is desirable to extract one by one.
However, when biaxially stretching polypropylene cast sheets with many β-type spherulites that overlap, it may be difficult to select only 10 crater projection images G in which no overlapping of arcs is recognized. is there. In that case, it is possible to determine which arc and which arc are paired from among the overlapping arcs by taking into account the stretching ratios of longitudinal stretching and lateral stretching during biaxial stretching. It is not always necessary to extract 10 crater projection images G each of which the overlapping of the arcs is not recognized.

仮想円環の決定と、ＬｔおよびＬｃの計測には、例えば光干渉式非接触表面形状測定器ＶｅｒｔＳｃａｎ２．０の解析ソフトウェア「ＶＳ−Ｖｉｅｗｅｒ」のプラグイン機能「エッジ曲線長」を用いて行う。 For the determination of the virtual ring and the measurement of L t and L c , for example, using the plug-in function “edge curve length” of the analysis software “VS-Viewer” of the optical interference type non-contact surface shape measuring device VertScan 2.0 Do.

仮想円環の決定方法について説明する。
仮想円環とは、図４に示すように、円弧３０ａ、３０ｂを含む環形状のものであって、円弧（実線）３０ａ，３０ｂと、これら円弧３０ａ，３０ｂをつなぐ補完線（破線）４０ａ，４０ｂとで形成される。
ここで補完線４０ａ，４０ｂは、一方の補完線４０ａが、ある楕円（Ｅ０）の一部であり、他方の補完線４０ｂが、ある楕円（Ｅ１）の一部であるとみなし、円弧３０ａ，３０ｂの形状（位置データ）を用いた最小二乗法により決定する。 A method for determining a virtual ring will be described.
As shown in FIG. 4, the virtual ring is a ring shape including arcs 30a and 30b, and arcs (solid lines) 30a and 30b and complementary lines (broken lines) 40a and 40a connecting the arcs 30a and 30b. 40b.
Here, the complementary lines 40a and 40b assume that one complementary line 40a is a part of a certain ellipse (E 0 ) and the other complementary line 40b is a part of a certain ellipse (E 1 ). It is determined by the least square method using the shapes (position data) 30a and 30b.

具体的手順は以下の通りである。
（１）まず、図５（ａ）に示すように、円弧３０ａおよび円弧３０ｂ上における、互いに最も離れた２点をＰ１、Ｐ２とし、Ｐ１とＰ２を結んだ直線（以下、直線（Ｐ１−Ｐ２）という。）を決定する。
（２）ついで、図５（ｂ）に示すように、直線（Ｐ１−Ｐ２）の一方側（図５中では、直線（Ｐ１−Ｐ２）よりも上方側。）に位置する部分の円弧３０ａ，３０ｂの形状（位置データ）から、最小二乗法により、直線（Ｐ１−Ｐ２）が長軸となるような楕円（Ｅ０）を導き出す。そして、この楕円（Ｅ０）を構成する曲線（楕円（Ｅ０）の周の一部）により、上記一方側における円弧３０ａと円弧３０ｂとの間の部分を補完して補完線４０ａとする。なお、図５では、楕円（Ｅ０）のうち、補完線４０ａに相当する部分以外を図示略としている。
（３）ついで、図５（ｃ）に示すように、直線（Ｐ１−Ｐ２）の他方側（図５中では、直線（Ｐ１−Ｐ２）よりも下方側。）に位置する部分の円弧３０ａ，３０ｂの形状（位置データ）から、最小二乗法により、直線（Ｐ１−Ｐ２）が長軸となるような楕円（Ｅ１）を導き出す。そして、この楕円（Ｅ１）を構成する曲線（楕円（Ｅ１）の周の一部）により、上記他方側における円弧３０ａと円弧３０ｂとの間の部分を補完して補完線４０ｂとする。なお、図５では、楕円（Ｅ１）のうち、補完線４０ｂに相当する部分以外を図示略としている。
（４）このように決定された補完線４０ａ，４０ｂと、円弧３０ａ，３０ｂとで連結された図５（ｃ）に示される円環が仮想円環である。
（５）そして、この仮想円環の周における各位置（周のある点を基準とした際の距離。）に対する、各位置における微細凹凸２０の高さを示す、微細凹凸２０の高さプロファイルを描く。この高さプロファイルから、高さ０．０２μｍ以上の部分に対応するクレーター投影像ＧにおけるＬｔおよびＬｃを読み取ることができる。 The specific procedure is as follows.
(1) First, as shown in FIG. 5 (a), on a circular arc 30a and the arc 30b, farthest two points and P 1, P 2 together, a straight line (hereinafter connecting the P 1 and P 2, linear (P 1 -P 2) that.) to determine.
(2) Next, as shown in FIG. 5B, a portion located on one side of the straight line (P 1 -P 2 ) (in FIG. 5, above the straight line (P 1 -P 2 )). From the shapes (position data) of the arcs 30a and 30b, an ellipse (E 0 ) having the straight line (P 1 -P 2 ) as the major axis is derived by the method of least squares. Then, the curve (a part of the circumference of the ellipse (E 0 )) constituting the ellipse (E 0 ) is complemented with a portion between the arc 30a and the arc 30b on the one side to obtain a complement line 40a. In FIG. 5, the portion other than the portion corresponding to the complementary line 40 a in the ellipse (E 0 ) is not illustrated.
(3) Next, as shown in FIG. 5 (c), the straight line (P 1 -P 2) the other side of (in FIG. 5, the straight line (P 1 -P 2) lower side of the.) Portion positioned From the shapes (position data) of the arcs 30a and 30b, an ellipse (E 1 ) having a straight line (P 1 -P 2 ) as the major axis is derived by the method of least squares. Then, the portion between the arc 30a and the arc 30b on the other side is complemented by a curve (part of the circumference of the ellipse (E 1 )) that constitutes the ellipse (E 1 ) to obtain a complement line 40b. In FIG. 5, the oval (E 1 ) other than the portion corresponding to the complementary line 40 b is not illustrated.
(4) The circular ring shown in FIG. 5C connected by the complementary lines 40a and 40b determined in this way and the arcs 30a and 30b is a virtual ring.
(5) Then, a height profile of the fine unevenness 20 indicating the height of the fine unevenness 20 at each position with respect to each position (distance when a certain point of the periphery is used as a reference) in the circumference of the virtual ring. Draw. From this height profile, L t and L c in the crater projection image G corresponding to a portion having a height of 0.02 μm or more can be read.

なお、ここでは、Ｅ０およびＥ１は、いずれも直線（Ｐ１−Ｐ２）を長軸とする楕円としたが、これらの一方または両方が、結果的に直線（Ｐ１−Ｐ２）を直径とする円となってもよい。また、Ｅ０およびＥ１は、結果的に同一の楕円または円となってもよい。 Here, E 0 and E 1 are both ellipses whose major axis is a straight line (P 1 -P 2 ), but one or both of these are consequently straight lines (P 1 -P 2 ). It may be a circle with a diameter of. Also, E 0 and E 1 may result in the same ellipse or circle.

また、図５の例では、円弧３０ａ，３０ｂの各末端が楕円（Ｅ０）または楕円（Ｅ１）上に位置しており、そのため、円弧３０ａ，３０ｂの各末端と補完線４０ａ，４０ｂの各末端とはいずれも一致し、仮想円環を形成している。しかしながら、円弧３０ａ，３０ｂの形状によっては、円弧３０ａ，３０ｂの各末端のうちの少なくとも１つが、楕円（Ｅ０）および楕円（Ｅ１）上に位置しない場合もある。その場合には、楕円（Ｅ０）および楕円（Ｅ１）上に位置しない該末端から、楕円に対して垂線（最短線）を引き、該垂線を含めて仮想円環を決定する。
例えば、図６に一例として、円弧３０ａ，３０ｂの各末端がいずれも楕円（Ｅ０）および楕円（Ｅ１）上に位置しない場合を示す。この場合には、これら各末端Ｑ１，Ｑ２，Ｑ３，Ｑ４から、楕円（Ｅ０）または楕円（Ｅ１）に対して、最短線である垂線（Ｑ１−Ｐ１）、垂線（Ｑ２−Ｐ２）、垂線（Ｑ３−Ｐ３）、垂線（Ｑ４−Ｐ４）をそれぞれ引く。
そして、これら４つの垂線と、曲線（Ｐ１−Ｐ３）および曲線（Ｐ２−Ｐ４）と、円弧３０ａ，３０ｂとを結んだものを仮想円環とする。
このように円弧３０ａ，３０ｂの末端のうち、楕円（Ｅ０）および楕円（Ｅ１）上に位置しないものについては、該末端から垂線をひき、その垂線を補完線４０ａ，４０ｂの一部とみなして、仮想円環を決定する。
なお、ここで垂線とは、楕円の周の接線に対して垂直となる線をいう。 In the example of FIG. 5, the ends of the arcs 30a and 30b are located on the ellipse (E 0 ) or the ellipse (E 1 ). Therefore, the ends of the arcs 30a and 30b and the complementary lines 40a and 40b Each end coincides with each other and forms a virtual ring. However, depending on the shape of the arcs 30a and 30b, at least one of the ends of the arcs 30a and 30b may not be positioned on the ellipse (E 0 ) and the ellipse (E 1 ). In that case, a perpendicular line (shortest line) is drawn with respect to the ellipse from the ellipse (E 0 ) and the end not located on the ellipse (E 1 ), and a virtual ring including the perpendicular is determined.
For example, FIG. 6 shows a case where the ends of the arcs 30a and 30b are not positioned on the ellipse (E 0 ) and the ellipse (E 1 ). In this case, from each of these ends Q 1 , Q 2 , Q 3 , Q 4 , the perpendicular (Q 1 -P 1 ), perpendicular, which is the shortest line, with respect to the ellipse (E 0 ) or the ellipse (E 1 ) (Q 2 -P 2 ), perpendicular (Q 3 -P 3 ), and perpendicular (Q 4 -P 4 ) are drawn.
A virtual ring is formed by connecting these four perpendiculars, the curve (P 1 -P 3 ) and the curve (P 2 -P 4 ), and the arcs 30a and 30b.
As described above, regarding the ends of the arcs 30a and 30b that are not located on the ellipse (E 0 ) and the ellipse (E 1 ), a perpendicular is drawn from the end, and the perpendicular is taken as a part of the complementary lines 40a and 40b. As a result, a virtual ring is determined.
Here, the perpendicular means a line perpendicular to the tangent of the circumference of the ellipse.

また、本発明においては、微細凹凸２０のうちの高さが０．０２μｍ以上の部分を投影しているが、ここで高さ０．０２μｍ以上とは、ガウシアンフィルタ処理において、（測定値）−（うねり成分）＝（高さデータ）という処理を行った際の、うねり成分の高さを基準面として、垂直方向に測定される距離が０．０２μｍ以上となる部分である。   In the present invention, a portion of the fine irregularities 20 having a height of 0.02 μm or more is projected. Here, the height of 0.02 μm or more means (measured value) − in Gaussian filter processing. This is a portion where the distance measured in the vertical direction is 0.02 μm or more with the height of the undulation component as the reference plane when the processing of (undulation component) = (height data) is performed.

本発明のポリプロピレンフィルム１０は、上述のとおり、一方または両方の表面が、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが０．３以上となるように粗面化されているものであって、具体的には以下の（１）〜（３）の態様のポリプロピレンフィルム１０を含む。
（１）両方の表面が、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値α０．３以上となるように粗面化されている。
（２）両方の表面が粗面化されているが、一方の表面のみが比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値α０．３以上となる条件を満たし、他方の表面はこの条件を満たさない。
（３）一方の表面は、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値α０．３以上となるように粗面化されているが、他方の表面は平滑であり粗面化されていない。 As described above, one or both surfaces of the polypropylene film 10 of the present invention are roughened so that the average value α of the ratio (L t / L c ) is 0.3 or more. Specifically, the polypropylene film 10 according to the following aspects (1) to (3) is included.
(1) Both surfaces are roughened so that the average value α0.3 of the ratio (L t / L c ) is not less than 0.3.
(2) Although both surfaces are roughened, only one surface satisfies the condition that the average value α0.3 of the ratio (L t / L c ) is 0.3 or more, and the other surface does not satisfy this condition. .
(3) One surface is roughened so that the average value α0.3 of the ratio (L t / L c ) is not less than 0.3, but the other surface is smooth and not roughened.

本発明のポリプロピレンフィルム１０は、クレーター投影像Ｇにおいて、対をなす円弧３０ａ，３０ｂを含む仮想円環の平均長軸径Ｄは２０〜８０μｍであることが好ましく、３０〜７０μｍであることがより好ましい。仮想円環の平均長軸径が上記範囲の上限値以下であると、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが、０．３以上となりやすい傾向にある。また、仮想円環の平均長軸径が上記範囲の下限値以上であると、素子巻き加工時のポリプロピレンフィルム１０の面間隔を均一にする効果がより優れる。
ここで長軸径とは、先に「仮想円環の決定方法」において説明した、円弧３０ａおよび円弧３０ｂ上における互いに最も離れた２点Ｐ１、Ｐ２間の距離（すなわち、直線（Ｐ１−Ｐ２）の長さ。）である（図５参照。）。そして、平均長軸径とは、上述のようにして得られる任意の３箇所の各表面形状データの画像（６１２μｍ×４５９μｍ）から、対をなす円弧３０ａ，３０ｂからなるクレーター投影像Ｇを１０個ずつ抽出し、合計３０個についての長軸径を求めた際のその平均値である。 In the polypropylene film 10 of the present invention, in the crater projection image G, the average major axis diameter D of the virtual ring including the paired arcs 30a and 30b is preferably 20 to 80 μm, and more preferably 30 to 70 μm. preferable. When the average major axis diameter of the virtual ring is less than or equal to the upper limit of the above range, the average value α of the ratio (L t / L c ) tends to be 0.3 or more. In addition, when the average major axis diameter of the virtual ring is equal to or greater than the lower limit of the above range, the effect of uniforming the surface spacing of the polypropylene film 10 during element winding is more excellent.
Here, the major axis diameter is the distance between the two points P 1 and P 2 that are the farthest away from each other on the arc 30a and the arc 30b (that is, the straight line (P 1 -P 2) of the length.) is (see Fig. 5.). The average major axis diameter refers to 10 crater projection images G composed of arcs 30a and 30b that make a pair from images (612 μm × 459 μm) of each of the surface shape data at any three locations obtained as described above. This is the average value when the major axis diameters for a total of 30 samples are extracted.

また、仮想円環のポリプロピレンフィルム１０の単位面積（１ｍｍ２）あたりの個数（クレーター部の個数、すなわち、クレーター状の微細凹凸２０の個数に対応。）は、１００〜５００個であることが好ましく、１５０〜４５０個がより好ましい。上記範囲の下限値以上の個数であると、素子巻き加工時のポリプロピレンフィルム１０の面間隔を均一にする効果がより優れる傾向にある。上記範囲の上限値以下の個数であると、ポリプロピレンフィルム１０を用いて製造されたコンデンサの性能に悪影響を与えにくい。
仮想円環の個数は、上述のようにして得られる任意の３箇所の各表面形状データの画像（６１２μｍ×４５９μｍ）について、観察される仮想円環の数をそれぞれカウントし、３箇所についてカウントされた個数の平均値を１ｍｍ２あたりに換算することにより求められる。 Further, the number per unit area (1 mm 2 ) of the virtual annular polypropylene film 10 (corresponding to the number of craters, that is, the number of crater-like fine irregularities 20) is preferably 100 to 500. 150-450 are more preferable. When the number is equal to or greater than the lower limit of the above range, the effect of making the surface spacing of the polypropylene film 10 uniform during element winding tends to be more excellent. When the number is not more than the upper limit of the above range, the performance of the capacitor produced using the polypropylene film 10 is hardly adversely affected.
For the number of virtual rings, the number of virtual rings to be observed is counted for each of the three surface shape data images (612 μm × 459 μm) obtained as described above. It is calculated | required by converting the average value of the number in which it per 1 mm < 2 >.

また、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが０．３以上となるように粗面化されたポリプロピレンフィルム１０の表面のＪＩＳ Ｂ０６０１による算術平均粗さＲａは、０．００５〜０．１５μｍであることが好ましく、０．０１〜０．１２μｍがより好ましく、０．０１〜０．１０μｍがさらに好ましい。このような範囲であると、表面が適度に粗面化されているため、素子巻き加工時の加工適性がより良好である。また、ポリプリプロピレンフィルムの厚さは、１〜７μｍが好ましく、１〜４μｍがより好ましく、１．５〜２．７μｍがさらに好ましい。ポリプロピレンフィルムの厚さが上記範囲の上限値以下であると、該ポリプロピレンフィルムの表面は、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが０．３以上となるような表面になりやすい。 The arithmetic average roughness Ra according to JIS B0601 of the surface of the polypropylene film 10 roughened so that the average value α of the ratio (L t / L c ) is 0.3 or more is 0.005 to 0.00. The thickness is preferably 15 μm, more preferably 0.01 to 0.12 μm, and still more preferably 0.01 to 0.10 μm. In such a range, since the surface is appropriately roughened, the processability at the time of element winding is better. The thickness of the polypropylene film is preferably 1 to 7 μm, more preferably 1 to 4 μm, and further preferably 1.5 to 2.7 μm. When the thickness of the polypropylene film is less than or equal to the upper limit of the above range, the surface of the polypropylene film tends to be such that the average value α of the ratio (L t / L c ) is 0.3 or more.

ポリプロピレンフィルム１０を構成するポリプロピレン樹脂には、結晶性のアイソタクチックポリプロピレンが用いられることが好ましく、プロピレンの単独重合体がより好ましい。   As the polypropylene resin constituting the polypropylene film 10, crystalline isotactic polypropylene is preferably used, and a propylene homopolymer is more preferable.

ポリプロピレン樹脂は、ゲルパーミエーションクロマトグラフ（ＧＰＣ）法で測定された重量平均分子量が１０万以上５０万以下であることが好ましく、より好ましくは２０万以上４０万以下、さらに好ましくは２５万以上４０万以下、最も好ましくは３０万以上３８万以下である。また、重量平均分子量（Ｍｗ）／数平均分子量（Ｍｎ）の比から計算される分子量分布は４以上が好ましく、４．５以上がより好ましい。一方、分子量分布（Ｍｗ）／（Ｍｎ）は、１５以下であることが好ましく、１０以下であることがより好ましく、８以下であることがさらに好ましい。重量平均分子量が５０万を超えると、ポリプロピレン樹脂の流動性が著しく低下し、ポリプロピレンキャストシートの厚さの制御が難しくなる傾向にある。一方、重量平均分子量が１０万未満では、押出し成形性は優れるが、得られたポリプロピレンキャストシートの力学特性と延伸性とが著しく低下し、その後の二軸延伸が困難となる傾向にある。   The polypropylene resin preferably has a weight average molecular weight of 100,000 to 500,000, more preferably 200,000 to 400,000, more preferably 250,000 to 40, as measured by gel permeation chromatography (GPC). 10,000 or less, most preferably 300,000 or more and 380,000 or less. The molecular weight distribution calculated from the ratio of weight average molecular weight (Mw) / number average molecular weight (Mn) is preferably 4 or more, more preferably 4.5 or more. On the other hand, the molecular weight distribution (Mw) / (Mn) is preferably 15 or less, more preferably 10 or less, and further preferably 8 or less. When the weight average molecular weight exceeds 500,000, the fluidity of the polypropylene resin is remarkably lowered, and the thickness of the polypropylene cast sheet tends to be difficult to control. On the other hand, when the weight average molecular weight is less than 100,000, the extrusion moldability is excellent, but the mechanical properties and stretchability of the obtained polypropylene cast sheet are remarkably lowered, and the subsequent biaxial stretching tends to be difficult.

ゲルパーミエーションクロマトグラフ（ＧＰＣ）装置としては、ポリオレフィン類の分子量分析が可能な一般に市販されている高温型ＧＰＣ装置を例外なく使用できる。このような装置としては、例えば、東ソー株式会社製の示差屈折計（ＲＩ）内蔵型高温ＧＰＣ測定機「ＨＬＣ−８１２１ＧＰＣ／ＨＴ」などが挙げられる。測定条件としては、ＧＰＣカラムとして、例えば東ソー株式会社製「ＴＳＫｇｅｌ ＧＭＨｈｒ−Ｈ（２０）ＨＴ」を３本連結させて用い、カラム温度１４５℃とし、溶離液にはトリクロロベンゼンを用い、流速１．０ｍｌ／ｍｉｎとする条件が挙げられる。検量線の作製には、標準ポリスチレン（例えば東ソー株式会社製。）を用い、測定結果はポリプロピレン値に換算する。   As a gel permeation chromatograph (GPC) apparatus, a commercially available high-temperature GPC apparatus capable of molecular weight analysis of polyolefins can be used without exception. As such an apparatus, for example, a differential refractometer (RI) built-in type high temperature GPC measuring machine “HLC-8121GPC / HT” manufactured by Tosoh Corporation may be used. As the measurement conditions, as a GPC column, for example, “TSKgel GMHhr-H (20) HT” manufactured by Tosoh Corporation is used by connecting three columns, the column temperature is 145 ° C., trichlorobenzene is used as an eluent, and a flow rate of 1. A condition of 0 ml / min is mentioned. For the preparation of the calibration curve, standard polystyrene (for example, manufactured by Tosoh Corporation) is used, and the measurement result is converted into a polypropylene value.

また、原料のポリプロピレン樹脂は、逐次抽出法で抽出された抽出残分が９５質量％以上であるものが好ましい。逐次抽出法は、ポリプロピレン樹脂を立体規則性により分別する方法の一種であって、沸点の異なる複数の溶媒を用いて順次抽出し、その抽出質量から、ポリプロピレン樹脂の立体規則性分布を調査することができる。本明細書における逐次抽出法は、日本分析化学・高分子分析研究懇談会編、「新版 高分子分析ハンドブック（紀伊国屋書店、１９９５年）」の６１３頁記載の方法に準じる。逐次抽出法は、一般的に行われている立体機規則性分別の最も簡便な方法であるｎ−ヘプタンによる抽出（一般に、この抽出残分はヘプタンインデックス（ＨＩ）ないしはアイソタクチックインデックス（ＩＩ）と呼ばれている。）よりも、詳細かつ正確であるという特徴を持つ。   The raw material polypropylene resin preferably has an extraction residue of 95% by mass or more extracted by the sequential extraction method. The sequential extraction method is a kind of method of separating polypropylene resin by stereoregularity, and sequentially extracts using a plurality of solvents with different boiling points, and investigates the stereoregularity distribution of polypropylene resin from the extracted mass. Can do. The sequential extraction method in the present specification is based on the method described on page 613 of “New Edition Polymer Analysis Handbook (Kinokuniya Shoten, 1995)” edited by Japan Analytical Chemistry / Polymer Analysis Research Council. The sequential extraction method is extraction by n-heptane which is the simplest method of three-dimensional machine regular fractionation generally performed (generally, this extraction residue is a heptane index (HI) or isotactic index (II)). Is more detailed and accurate than).

逐次抽出法では、まず、ポリプロピレン樹脂を（１）キシレンに還流下充分溶解させ、その後、室温下４時間放置する。キシレンに不溶な部分をろ別し、不溶分は次の抽出に供する。可溶分は、キシレンを乾固させ、秤量する。この質量がいわゆる非晶性のアタクチック成分の質量に相当する。キシレン不溶分は、ソックスレー脂肪抽出器を用い、（２）ｎ−ペンタン、（３）ｎ−ヘキサン、（４）ｎ−ヘプタンの順に順次ソックスレー抽出を各々６時間実施する。沸点の低い溶媒では、結晶性の低い（立体規則性が低い）成分が抽出されていき、ｎ−ヘプタンにも不溶な成分は、立体規則性の度合いが極めて高い「アイソタクチック」成分と定義でき、最終的な抽出残分を質量比で表現することによってその割合を知ることが出来る。
一方、（２）〜（４）の溶媒で可溶な成分は、ステレオブロックと呼ばれる中間的な規則性をもったポリマーから主として構成されているとされている。
このように、逐次抽出法によって評価される立体規則性分布の割合は、いわゆるヘプタン不溶分（ＨＩ値）やアイソタクチック不溶分（ＩＩ値）で評価されるような単一の溶媒による抽出量評価結果とはまったく異なる意味を持つ。 In the sequential extraction method, first, polypropylene resin is sufficiently dissolved in (1) xylene under reflux, and then left at room temperature for 4 hours. The insoluble part in xylene is filtered off, and the insoluble part is subjected to the next extraction. The soluble matter is dried to xylene and weighed. This mass corresponds to the mass of a so-called amorphous atactic component. For xylene insolubles, Soxhlet fat extractor is used, and Soxhlet extraction is sequentially performed for 6 hours in the order of (2) n-pentane, (3) n-hexane, and (4) n-heptane. In low-boiling solvents, components with low crystallinity (low stereoregularity) are extracted, and components insoluble in n-heptane are defined as “isotactic” components with extremely high stereoregularity. The ratio can be known by expressing the final extraction residue as a mass ratio.
On the other hand, the components soluble in the solvents (2) to (4) are mainly composed of a polymer having an intermediate regularity called a stereoblock.
Thus, the proportion of the stereoregularity distribution evaluated by the sequential extraction method is the amount extracted by a single solvent as evaluated by so-called heptane insoluble matter (HI value) or isotactic insoluble matter (II value). It has a completely different meaning from the evaluation result.

このような逐次抽出法で評価される最終抽出残分率、すなわち逐次抽出法で得られるアイソタクチック成分の割合を立体規則性の一つの指標とし、この値が９５質量％以上であるポリプロピレン樹脂をポリプロピレンフィルム１０の原料として使用することが好ましい。さらには、アイソタクチック成分の割合が９７質量％以上９９質量％以下であるポリプロピレン樹脂を使用することがより好ましい。このような高い立体規則性成分を持つ原料を使用することにより、コンデンサ用フィルムとして使用した場合に優れた耐電圧特性を発揮するポリプロピレンフィルム１０を製造できる。ただし、アイソタクチック成分の割合が高すぎると、延伸性が低下し、延伸時にフィルム破断が多発しやすくなるという問題や、冷却ドラム上でポリプロピレンキャストシートを固化させる際に、固化速度（結晶化速度）が速くなりすぎ、ポリプロピレンキャストシートが冷却ドラムから剥離しやすくなるなどの問題が生じやすい。このような観点からは、アイソタクチック成分の割合は９９質量％以下であることが好ましい。   Polypropylene resin having a final extraction residue rate evaluated by such a sequential extraction method, that is, a ratio of isotactic components obtained by the sequential extraction method as one index of stereoregularity, and this value is 95% by mass or more Is preferably used as a raw material for the polypropylene film 10. Furthermore, it is more preferable to use a polypropylene resin in which the proportion of the isotactic component is 97% by mass or more and 99% by mass or less. By using such a raw material having a high stereoregularity component, it is possible to produce a polypropylene film 10 that exhibits excellent withstand voltage characteristics when used as a capacitor film. However, if the proportion of the isotactic component is too high, the stretchability is lowered, and the film breaks easily during stretching, and the solidification rate (crystallization rate) when solidifying the polypropylene cast sheet on the cooling drum. Speed) becomes too fast, and problems such as the polypropylene cast sheet being easily peeled off from the cooling drum are likely to occur. From such a viewpoint, the proportion of the isotactic component is preferably 99% by mass or less.

このように、ポリプロピレンフィルム１０の耐電圧特性や、延伸前のポリプロピレンキャストシートの延伸性は、原料であるポリプロピレン樹脂の分子量、分子量分布、アイソタクチック成分の割合などの影響を受ける。よって、耐電圧特性と延伸性のバランスを良好なものとするためには、ポリプロピレン樹脂の分子量、分子量分布、アイソタクチック成分の割合などをコントロールすることが好適である。   Thus, the withstand voltage characteristics of the polypropylene film 10 and the stretchability of the polypropylene cast sheet before stretching are affected by the molecular weight, molecular weight distribution, ratio of isotactic components, and the like of the polypropylene resin as a raw material. Therefore, in order to achieve a good balance between withstand voltage characteristics and stretchability, it is preferable to control the molecular weight, molecular weight distribution, ratio of isotactic components, and the like of the polypropylene resin.

このようなポリプロピレン樹脂を製造する際の重合法としては、気相重合法、塊状重合法、スラリー重合法などが挙げられる。
重合法としては、少なくとも２つ以上の重合反応器を用いた多段重合反応を採用してもよいし、反応器中に水素あるいはコモノマーを分子量調整剤として添加してもよい。また、触媒としては、公知のチーグラー・ナッタ触媒などを使用でき、助触媒成分やドナーを併用してもよい。触媒や重合条件を調整することによって、ポリプロピレン樹脂の分子量、分子量分布、立体規則性度をコントロールできる。 Examples of the polymerization method for producing such a polypropylene resin include a gas phase polymerization method, a bulk polymerization method, and a slurry polymerization method.
As a polymerization method, a multistage polymerization reaction using at least two or more polymerization reactors may be employed, or hydrogen or a comonomer may be added to the reactor as a molecular weight regulator. Moreover, as a catalyst, a well-known Ziegler-Natta catalyst etc. can be used and you may use a promoter component and a donor together. The molecular weight, molecular weight distribution, and stereoregularity of the polypropylene resin can be controlled by adjusting the catalyst and polymerization conditions.

ポリプロピレンフィルム１０の原料には、必要に応じて他の樹脂も併用できる。他の樹脂としては、例えば、ポリエチレン、ポリ（１−ブテン）、ポリイソブテン、ポリ（１−ペンテン）、ポリ（１−メチルペンテン）などのポリα−オレフィン；エチレン−プロピレン共重合体、プロピレン−ブテン共重合体、エチレン−ブテン共重合体などのα−オレフィン同士の共重合体；スチレン−ブタジエンランダム共重合体などのビニル単量体−ジエン単量体ランダム共重合体；スチレン−ブタジエン−スチレンブロック共重合体などのビニル単量体−ジエン単量体−ビニル単量体ランダム共重合体；などが挙げられる。他の樹脂は、ポリプロピレン樹脂１００質量部に対して、１０質量部以下、好ましくは５質量部以下の範囲で使用することが好ましい。
また、必要に応じて酸化防止剤、紫外線吸収剤、塩酸吸収剤などの安定化剤、滑剤、可塑剤、難燃化剤、帯電防止剤などの添加剤を用いてもよい。 As the raw material of the polypropylene film 10, other resins can be used in combination as necessary. Examples of other resins include poly α-olefins such as polyethylene, poly (1-butene), polyisobutene, poly (1-pentene), and poly (1-methylpentene); ethylene-propylene copolymer, propylene-butene Copolymers, copolymers of α-olefins such as ethylene-butene copolymer; vinyl monomers-diene monomer random copolymers such as styrene-butadiene random copolymers; styrene-butadiene-styrene blocks Vinyl monomers such as copolymers-diene monomers-vinyl monomer random copolymers; and the like. The other resin is preferably used in an amount of 10 parts by mass or less, preferably 5 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the polypropylene resin.
Moreover, you may use additives, such as stabilizers, such as antioxidant, a ultraviolet absorber, and a hydrochloric acid absorber, a lubricant, a plasticizer, a flame retardant, and an antistatic agent as needed.

本発明のポリプロピレンフィルム１０の製造方法としては、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが０．３以上となるクレーター投影像Ｇが得られるように、表面を粗面化できる方法であればよく、エンボス法、エッチング法なども挙げられるが、添加剤などを使用せずにクレーター部を形成できることから、β型球晶を生成させたポリプロピレンキャストシートを二軸延伸する工程を有する方法が好ましい。 As a method for producing the polypropylene film 10 of the present invention, the surface can be roughened so that a crater projection image G having an average value α of the ratio (L t / L c ) of 0.3 or more can be obtained. The embossing method, the etching method, etc. may be mentioned, but since the crater part can be formed without using an additive or the like, there is a method having a step of biaxially stretching a polypropylene cast sheet in which β-type spherulites are formed. preferable.

この方法では、まず、原料のポリプロピレン樹脂を溶融し、冷却ドラム上に押出して固化させ、例えば厚みが５０〜３５０μｍ、好ましくは５０〜２００μｍ、より好ましくは８０〜１３５μｍのポリプロピレンキャストシートを製造する。ポリプロピレンキャストシートの厚さが上記範囲であると、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが０．３以上となるような粗面化表面を有するポリプロピレンフィルムが得られやすい。
ポリプロピレン樹脂からポリプロピレンキャストシートを得る際において、ポリプロピレン樹脂を溶融する際の温度（溶融温度）は、通常１７０〜３２０℃、好ましくは２００〜３００℃である。また、溶融したポリプロピレン樹脂を固化させる冷却ドラムの温度は、原料樹脂の種類にもよるが、８０℃以上１００℃未満が好ましく、８５℃以上１００℃未満が好ましい。特に、高電圧印加時の高温耐電圧特性により優れるコンデンサを製造できるポリプロピレンフィルムが得られる観点からは、冷却ドラムの温度は、９３℃以上１００℃未満が好ましく、９３℃以上９７℃以下がより好ましい。
このような温度で冷却すると、得られたポリプロピレンキャストシートには、β型球晶が多数生成する。 In this method, first, a raw material polypropylene resin is melted and extruded onto a cooling drum to be solidified, and for example, a polypropylene cast sheet having a thickness of 50 to 350 μm, preferably 50 to 200 μm, more preferably 80 to 135 μm is manufactured. When the thickness of the polypropylene cast sheet is within the above range, a polypropylene film having a roughened surface such that the average value α of the ratio (L t / L c ) is 0.3 or more is easily obtained.
When obtaining a polypropylene cast sheet from a polypropylene resin, the temperature (melting temperature) at which the polypropylene resin is melted is usually 170 to 320 ° C, preferably 200 to 300 ° C. The temperature of the cooling drum for solidifying the molten polypropylene resin is preferably 80 ° C. or higher and lower than 100 ° C., and preferably 85 ° C. or higher and lower than 100 ° C., although it depends on the type of the raw material resin. In particular, from the viewpoint of obtaining a polypropylene film capable of producing a capacitor having excellent high-temperature withstand voltage characteristics when a high voltage is applied, the temperature of the cooling drum is preferably 93 ° C. or higher and lower than 100 ° C., more preferably 93 ° C. or higher and 97 ° C. or lower. .
When cooled at such a temperature, a large number of β-type spherulites are produced in the obtained polypropylene cast sheet.

こうして得られたポリプロピレンキャストシートの少なくとも一方の表面について、偏光顕微鏡で観察されるβ型球晶の平均半径は、１０μｍ以下であることが好ましく、８μｍ以下であることがより好ましい。β型球晶の平均半径がこのような大きさのポリプロピレンキャストシートからは、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが０．３以上となる表面を備えたポリプロピレンフィルム１０が得られやすい。
このようなサイズのβ型球晶を形成するためには、特に、冷却ドラムの温度を８０℃以上１００℃未満とすることが好ましく、８５℃以上１００℃未満がより好ましく、９０℃以上１００℃未満がさらに好ましく、９０℃以上９７℃以下が最も好ましい。 With respect to at least one surface of the polypropylene cast sheet thus obtained, the average radius of β-type spherulites observed with a polarizing microscope is preferably 10 μm or less, and more preferably 8 μm or less. A polypropylene cast sheet having a surface where the average value α of the ratio (L t / L c ) is 0.3 or more is easily obtained from a polypropylene cast sheet having an average radius of β-type spherulites. .
In order to form a β-type spherulite having such a size, the temperature of the cooling drum is preferably 80 ° C. or more and less than 100 ° C., more preferably 85 ° C. or more and less than 100 ° C., and 90 ° C. or more and 100 ° C. Is more preferably 90 ° C. or more and 97 ° C. or less.

β型球晶の平均半径は、偏光顕微鏡の一視野（４６０×６２０μｍ）中で観察される全てのβ型球晶について計測される半径（＝直径×１／２）の平均値である。直径の計測には、例えば（株）日本ローバー製の画像解析ソフト「ＩｍａｇｅＰｒｏ」を使用できる。
なお、偏光顕微鏡で観察される１つ１つのβ型球晶は、ほぼ真円状である。 The average radius of β-type spherulites is an average value of radii (= diameter × 1/2) measured for all β-type spherulites observed in one field of view of a polarizing microscope (460 × 620 μm). For measuring the diameter, for example, image analysis software “ImagePro” manufactured by Nippon Rover Co., Ltd. can be used.
Note that each β-type spherulite observed with a polarizing microscope is substantially circular.

また、ポリプロピレンキャストシートのＸ線回折法を用いて求められるβ晶分率は、１〜２０％であることが好ましく、５〜１８％であることがより好ましい。β晶分率が上記範囲の下限値以上であると、表面に充分な数のクレーター状の微細凹凸２０が形成されたポリプロピレンフィルム１０を得ることができ、上記範囲の上限値以下であると、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが０．３以上となりやすい。 Moreover, it is preferable that it is 1-20%, and, as for the beta crystal fraction calculated | required using the X-ray diffraction method of a polypropylene cast sheet, it is more preferable that it is 5-18%. When the β crystal fraction is equal to or higher than the lower limit of the above range, a polypropylene film 10 having a sufficient number of crater-like fine irregularities 20 formed on the surface can be obtained. The average value α of the ratio (L t / L c ) tends to be 0.3 or more.

ここでＸ線回折法を用いて求められるβ晶分率とは、「Ａ．Ｔｕｒｎｅｒ−Ｊｏｎｅｓ
ｅｔ ａｌ．，Ｍａｋｒｏｍｏｌ．Ｃｈｅｍ．，７５巻，１３４頁（１９６４）」に記載されている方法によって算出される値であり、Ｋ値と呼ばれている値である。すなわち、α型球晶由来の３本の回折ピークの高さの和とβ型球晶由来の１本の回折ピークの高さとの総和に対する、β型球晶由来の１本の回折ピークの高さの比率を百分率で表したものを、β晶分率とした。 Here, the β crystal fraction determined using the X-ray diffraction method is “A. Turner-Jones”.
et al. , Makromol. Chem. , 75, p. 134 (1964) ”, which is a value called a K value. That is, the height of one diffraction peak derived from β-type spherulites with respect to the sum of the heights of three diffraction peaks derived from α-type spherulites and the height of one diffraction peak derived from β-type spherulites. The percentage of the ratio was expressed as a percentage of β crystal.

上述の範囲のβ晶分率は、冷却ドラムの温度、及びキャスト速度（冷却ドラムの半径および回転数により制御。）などを調整することにより制御できる。具体的には、特に限定されないが、例えば、β晶分率を小さくするためには、キャスト速度一定の条件下で、冷却ドラムの温度を下げることが挙げられる。   The β crystal fraction in the above range can be controlled by adjusting the temperature of the cooling drum, the casting speed (controlled by the radius and the rotation speed of the cooling drum), and the like. Specifically, although not particularly limited, for example, in order to reduce the β crystal fraction, it is possible to lower the temperature of the cooling drum under a condition where the casting speed is constant.

次に、このようにして得られたポリプロピレンキャストシートを二軸延伸する。二軸延伸の具体的方法としては、公知の方法を採用できるが、逐次二軸延伸方法を採用することが好ましい。
具体的には、ポリプロピレンキャストシートを、特定の表面温度に維持され、かつ、速度差が設けられたロール（縦延伸ロール）間に通す。縦延伸ロールの表面温度は、好ましくは１４２〜１５５℃、より好ましくは１４３〜１５０℃、さらに好ましくは１４４〜１４８℃である。これにより、流れ方向に３〜７倍に縦延伸して直ちに室温に冷却する。引き続き、テンターに導いて、１５０℃以上の温度で幅方向に３〜１１倍に横延伸した後、緩和、熱固定を施し、巻き取る。このような延伸工程により、ポリプロピレンキャストシート中のβ型球晶がα型球晶へと変態しつつ引き伸ばされた結果、表面に多数のクレーター状の微細凹凸２０が形成される。また、こうして形成された微細凹凸２０から得られるクレーター投影像Ｇの仮想円環の形状は、二軸延伸における縦延伸および横延伸の延伸倍率に応じて、円形〜楕円形となる。 Next, the polypropylene cast sheet thus obtained is biaxially stretched. As a specific method of biaxial stretching, a known method can be employed, but it is preferable to employ a sequential biaxial stretching method.
Specifically, the polypropylene cast sheet is passed between rolls (longitudinal stretching rolls) maintained at a specific surface temperature and provided with a speed difference. The surface temperature of the longitudinal stretching roll is preferably 142 to 155 ° C, more preferably 143 to 150 ° C, and still more preferably 144 to 148 ° C. As a result, the film is stretched 3 to 7 times in the flow direction and immediately cooled to room temperature. Subsequently, the film is led to a tenter and stretched 3 to 11 times in the width direction at a temperature of 150 ° C. or higher, and then relaxed and heat-set, and wound. As a result of such a stretching step, the β-type spherulites in the polypropylene cast sheet are stretched while being transformed into α-type spherulites. As a result, numerous crater-like fine irregularities 20 are formed on the surface. Moreover, the shape of the virtual ring of the crater projection image G obtained from the fine irregularities 20 formed in this way becomes a circle to an ellipse according to the stretching ratio of the longitudinal stretching and the lateral stretching in the biaxial stretching.

ここでポリプロピレンキャストシートにおけるβ型球晶の平均径、β晶分率や、延伸工程における縦延伸および横延伸の温度、処理速度、延伸倍率などの条件により、ポリプロピレンフィルム１０の粗面化の状態、粗面化する面（両面／片面）などを制御できる。
特に、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが０．３以上となる表面を備えたポリプロピレンフィルム１０を得るためには、ポリプロピレンキャストシートを縦延伸する際の温度の制御が重要であり、上述のとおり、縦延伸時の縦延伸ロールの表面温度を好ましくは１４２〜１５５℃、より好ましくは１４３〜１５０℃、さらに好ましくは１４４〜１４８℃とする。このような温度で縦延伸工程を行うと、縦延伸工程におけるβ型球晶からα型球晶への変態がより効率的に起こりやすくなる。その結果、クレーター状の微細凹凸２０の高さが高くなりやすくなり、それにともなって、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが０．３以上となるクレーター部を備えたポリプロピレンフィルム１０が得られやすくなる。 Here, the roughened state of the polypropylene film 10 depends on conditions such as the average diameter of β-type spherulites in the polypropylene cast sheet, the β crystal fraction, the temperature of the longitudinal and transverse stretching in the stretching process, the processing speed, and the stretching ratio. The surface to be roughened (both sides / single side) can be controlled.
In particular, in order to obtain a polypropylene film 10 having a surface with an average value α of the ratio (L t / L c ) of 0.3 or more, it is important to control the temperature when the polypropylene cast sheet is stretched in the longitudinal direction. As described above, the surface temperature of the longitudinal stretching roll during longitudinal stretching is preferably 142 to 155 ° C, more preferably 143 to 150 ° C, and still more preferably 144 to 148 ° C. When the longitudinal stretching step is performed at such a temperature, the transformation from β-type spherulites to α-type spherulites in the longitudinal stretching step tends to occur more efficiently. As a result, the height of the crater-like fine irregularities 20 tends to increase, and accordingly, the polypropylene film 10 having a crater portion having an average value α of the ratio (L t / L c ) of 0.3 or more is obtained. It becomes easy to obtain.

このようにして得られたポリプロピレンフィルム１０には、コンデンサを製造する際の金属蒸着加工工程における接着特性を高める目的で、オンラインもしくはオフラインにて、コロナ放電処理を行ってもよい。コロナ放電処理としては、公知の方法を用いることができる。処理時の雰囲気ガスとしては、空気、炭酸ガス、窒素ガス、およびこれらの混合ガスを選択することが好ましい。   The polypropylene film 10 thus obtained may be subjected to a corona discharge treatment on-line or off-line for the purpose of enhancing the adhesive properties in the metal vapor deposition process when manufacturing the capacitor. A known method can be used as the corona discharge treatment. As atmosphere gas at the time of processing, it is preferable to select air, carbon dioxide gas, nitrogen gas, and a mixed gas thereof.

以上説明したポリプロピレンフィルム１０は、一方または両方の表面に、クレーター状の微細凹凸２０が多数形成されることにより、表面が粗面化されたポリプロピレンフィルム１０であって、光干渉式非接触表面形状測定器を用いて、粗面化された少なくとも一方の表面について、微細凹凸２０のうちの高さが０．０２μｍ以上の部分を表面へ投影した投影画像を得た場合に、該投影画像には、対をなす円弧からなるクレーター投影像Ｇが観測され、各クレーター投影像Ｇにおいて、対をなす円弧３０ａ，３０ｂの合計長さをＬｔとし、対をなす円弧３０ａ，３０ｂを含む仮想円環の全周長さをＬｃとして比（Ｌｔ／Ｌｃ）を求めた場合、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが、０．３以上となる。よって、このポリプロピレンフィルム１０をコンデンサ用の誘電体フィルムとして用い、コンデンサの製造に際して素子巻き加工をする際に、均一な面間隔で巻回でき、そのため、保安性や高電圧印加時の高温耐電圧特性の良好なコンデンサを製造できる。 The polypropylene film 10 described above is a polypropylene film 10 whose surface is roughened by forming a large number of crater-like fine irregularities 20 on one or both surfaces, and has a light interference type non-contact surface shape. When a projection image obtained by projecting a portion having a height of 0.02 μm or more on the surface of at least one of the roughened surfaces using a measuring device is obtained, , observed crater projected image G formed of circularly arcuate in a pair, virtual ring containing in each crater projection image G, arcs 30a paired, the total length of 30b as L t, arcs 30a paired and 30b When the ratio (L t / L c ) is obtained with L c being the entire circumference, the average value α of the ratio (L t / L c ) is 0.3 or more. Therefore, when this polypropylene film 10 is used as a dielectric film for a capacitor and the element is wound during the manufacture of the capacitor, it can be wound with a uniform surface spacing, so that the safety and the high temperature withstand voltage when a high voltage is applied. Capacitors with good characteristics can be manufactured.

次に、本発明を実施例によってさらに具体的に説明するが、本発明の範囲はこれらに限定されるものではない。また、特に断らない限り、例中の部は「質量部」を示す。   EXAMPLES Next, although an Example demonstrates this invention further more concretely, the scope of the present invention is not limited to these. Moreover, unless otherwise indicated, the part in an example shows a "mass part".

＜実施例１＞
ポリプロピレン樹脂（重量平均分子量（Ｍｗ）３．１×１０５、分子量分布（Ｍｗ／Ｍｎ）７．４、アイソタクチック成分分率９７．７質量％）のペレットを押出機に供給して樹脂温度２５０℃の温度で溶融し、Ｔダイを用いて押出し、表面温度を９０℃に保持した冷却ドラム（金属ドラム）に巻きつけて固化させた。このようにして得られたポリプロピレンキャストシートの厚さは約１２５μｍであった。
ついで、このキャストシートを１４５℃で（縦延伸ロールの表面温度が１４５℃）、流れ方向に５倍縦延伸し、直ちに室温まで冷却した。ついで、テンターにて１７０℃で幅方向に１０倍横延伸して、厚さ２．５μｍの二軸延伸ポリプロピレンフィルム１０を得た。
得られた二軸延伸ポリプロピレンのＪＩＳ Ｂ０６０１（カットオフ値：０．８ｍｍ）による、一方の表面の算術平均粗さＲａは、０．０５μｍであった。 <Example 1>
Pellets of polypropylene resin (weight average molecular weight (Mw) 3.1 × 10 5 , molecular weight distribution (Mw / Mn) 7.4, isotactic component fraction 97.7% by mass) are supplied to the extruder and the resin temperature It was melted at a temperature of 250 ° C., extruded using a T-die, and wound around a cooling drum (metal drum) whose surface temperature was maintained at 90 ° C. to be solidified. The thickness of the polypropylene cast sheet thus obtained was about 125 μm.
Next, this cast sheet was stretched 5 times in the flow direction at 145 ° C. (surface temperature of the longitudinal stretching roll was 145 ° C.) and immediately cooled to room temperature. Next, the film was stretched 10 times in the width direction at 170 ° C. with a tenter to obtain a biaxially stretched polypropylene film 10 having a thickness of 2.5 μm.
The arithmetic average roughness Ra of one surface according to JIS B0601 (cut-off value: 0.8 mm) of the obtained biaxially stretched polypropylene was 0.05 μm.

図１は、このようにして得られた実施例１のポリプロピレンフィルムの上述の一方の表面の光学顕微鏡写真である。   FIG. 1 is an optical micrograph of the aforementioned one surface of the polypropylene film of Example 1 obtained in this manner.

なお、ポリプロピレン樹脂の重量平均分子量（Ｍｗ）および分子量分布（Ｍｗ／Ｍｎ）は、ＧＰＣ（ゲルパーミエーションクロマトグラフィー）を用いて、以下の条件で測定した。
測定器：東ソー株式会社製、示差屈折計（ＲＩ）内蔵高温ＧＰＣ、
ＨＬＣ−８１２１ＧＰＣ／ＨＴ型
カラム：東ソー株式会社製、ＴＳＫｇeｌ ＧＭＨｈｒ−Ｈ（２０）ＨＴを３本連結
カラム温度：１４５℃
溶離液：トリクロロベンゼン
流速：１．０ｍｌ／ｍiｎ
検量線の作製には、東ソー株式会社製の標準ポリスチレンを用い、測定結果はポリプロピレン値に換算した。 In addition, the weight average molecular weight (Mw) and molecular weight distribution (Mw / Mn) of polypropylene resin were measured on condition of the following using GPC (gel permeation chromatography).
Measuring instrument: manufactured by Tosoh Corporation, differential refractometer (RI) built-in high temperature GPC,
HLC-8121GPC / HT type column: manufactured by Tosoh Corporation, connecting three TSKgel GMHhr-H (20) HT Column temperature: 145 ° C
Eluent: Trichlorobenzene Flow rate: 1.0 ml / min
For the production of the calibration curve, standard polystyrene manufactured by Tosoh Corporation was used, and the measurement results were converted into polypropylene values.

また、アイソタクチック成分分率は、逐次抽出法により、次のようにして求めた。すなわち、ポリプロピレン樹脂を（１）キシレンに還流下充分溶解させ、その後、室温下４時間放置した。キシレンに不溶な部分をろ別し、不溶分は次の抽出に供した。可溶分は、キシレンを乾固させ、秤量した。この質量をアタクチック成分量とした。キシレン不溶分は、ソックスレー脂肪抽出器を用い、（２）ｎ−ペンタン、（３）ｎ−ヘキサン、（４）ｎ−ヘプタンの順に順次ソックスレー抽出を各々６時間実施した。ｎ−ヘプタンにも不溶な最終的な抽出残分を秤量し、この質量をアイソタクチック成分量とした。キシレンに溶解前の樹脂質量に対する百分率比で表現した。   The isotactic component fraction was determined by the sequential extraction method as follows. That is, the polypropylene resin was sufficiently dissolved in (1) xylene under reflux, and then allowed to stand at room temperature for 4 hours. The insoluble part in xylene was filtered off and the insoluble part was subjected to the next extraction. The soluble matter was weighed after drying xylene. This mass was defined as the amount of atactic component. For xylene insolubles, Soxhlet fat extractor was used, and Soxhlet extraction was sequentially performed for 6 hours in the order of (2) n-pentane, (3) n-hexane, and (4) n-heptane. The final extraction residue insoluble in n-heptane was weighed, and this mass was used as the isotactic component amount. Expressed as a percentage to the resin mass before being dissolved in xylene.

このようにして得られた二軸延伸ポリプロピレンフィルムと、延伸前のポリプロピレンキャストシートについて、以下の各項目の測定、算出を行った。結果を表１に示す。
ここで表１に記載された二軸延伸ポリプロピレンフィルムの各項目の数値は、該フィルムの上述の一方の表面における数値である。なお、他方の表面は平滑であり粗面化されていない。また、ポリプロピレンキャストシートについてのβ晶の平均半径は、該キャストシートの表面のうち、二軸延伸ポリプロピレンフィルムの上述の一方の表面に対応する面についての数値である。 The biaxially stretched polypropylene film thus obtained and the polypropylene cast sheet before stretching were measured and calculated for the following items. The results are shown in Table 1.
Here, the numerical value of each item of the biaxially stretched polypropylene film described in Table 1 is a numerical value on the above-mentioned one surface of the film. The other surface is smooth and not roughened. Moreover, the average radius of the β crystal for the polypropylene cast sheet is a numerical value for the surface corresponding to the one surface of the biaxially stretched polypropylene film among the surfaces of the cast sheet.

［ポリプロピレンキャストシート（延伸前）］
（β晶の平均径）
ポリプロピレンキャストシートの上述の一方の表面を偏光顕微鏡（ニコン製「ＥＣＬＩＰＳＥ Ｅ２００」）で観察し、その際に、一視野（４６０×６２０μｍ）中で確認される全てのβ型球晶について半径を計測し、平均半径を求めた。直径の計測には、日本ローバー製の画像解析ソフト「ＩｍａｇｅＰｒｏ」を用いた。 [Polypropylene cast sheet (before stretching)]
(Average diameter of β crystal)
One surface of the above-mentioned polypropylene cast sheet was observed with a polarizing microscope ("ECLIPSE E200" manufactured by Nikon), and at that time, the radius was measured for all β-type spherulites confirmed in one field of view (460 x 620 µm). Then, the average radius was obtained. For the measurement of the diameter, image analysis software “ImagePro” manufactured by Nippon Rover was used.

（β晶分率）
β晶分率は、Ｘ線回折強度測定によって求められるＫ値を用いて評価した。
Ｘ線回折強度測定条件は次の通り行った。
測定装置：リガク社製、Ｘ線回折装置ＲＩＮＴ−２２００
Ｘ線源：ＣｕＫα線
照射出：４０ＫＶ−４０ｍＡ
散乱スリット１ｄｅｇ
受光スリット０．３ｍｍ
走査速度１ｄｅｇ／ｍｉｎ (Β crystal fraction)
The β crystal fraction was evaluated using the K value obtained by X-ray diffraction intensity measurement.
The X-ray diffraction intensity measurement conditions were as follows.
Measuring apparatus: Rigaku Corporation, X-ray diffraction apparatus RINT-2200
X-ray source: CuKα radiation Irradiation: 40KV-40mA
Scattering slit 1deg
Receiving slit 0.3mm
Scanning speed 1deg / min

Ｋ値は、得られた強度曲線から、以下の式を用い、α晶由来の３本の回折ピークの高さの和とβ晶由来の１本の回折ピークの比によって算出した。   The K value was calculated from the obtained intensity curve by using the following formula and the ratio of the sum of the heights of the three diffraction peaks derived from the α crystal and the single diffraction peak derived from the β crystal.

Ｋ値（強度比％）＝Ｈβ／（Ｈβ＋ＨαＩ＋ＨαＩＩ＋ＨαＩＩＩ）×１００〔ただし、Ｈβはβ晶（２θ＝１６ｄｅｇ）の結晶性回折に対応するピークの強度（高さ）、ＨαＩはα晶（１１０）面の結晶性回折に対応するピークの強度（高さ）、ＨαＩＩはα晶（０４０）面の結晶性回折に対応するピークの強度（高さ）、ＨαＩＩＩはα晶（１３０）面の結晶性回折に対応するピークの強度（高さ）である。ただし、いずれも非晶性散乱を差し引いた後の強度（高さ）を用いた。〕 K value (intensity ratio%) = Hβ / (Hβ + Hα I + Hα II + Hα III ) × 100 [where Hβ is the intensity (height) of the peak corresponding to the crystal diffraction of β crystal (2θ = 16 deg), and Hα I is The intensity (height) of the peak corresponding to the crystal diffraction of the α crystal (110) plane, Hα II is the intensity (height) of the peak corresponding to the crystal diffraction of the α crystal (040) plane, and H α III is the α crystal. This is the intensity (height) of the peak corresponding to the (130) plane crystalline diffraction. However, the intensity (height) after subtracting amorphous scattering was used for all. ]

［二軸延伸ポリプロピレンフィルム］
（厚さ）
マイクロメーター（ＪＩＳ−Ｂ７５０２）を用いて、ＪＩＳ−Ｃ２３３０に準拠して測定した。 [Biaxially stretched polypropylene film]
(thickness)
It measured based on JIS-C2330 using the micrometer (JIS-B7502).

（クレーター投影像における比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値α）
光干渉式非接触表面形状測定器として、（株）菱化システム製の「ＶｅｒｔＳｃａｎ２．０（型式 Ｒ５５００ＧＭＬ）」を使用し、ＷＡＶＥモードにて、５３０ｗｈｉｔｅフィルタ及び×２０対物レンズを用いて、一視野あたり２３７μｍ×１７８μｍの計測を３×３視野の複数視野計測により実施した。そして、全画像をスティッチング処理して６１２μｍ×４５９μｍの表面形状データを得た。この操作をフィルム表面の任意の３箇所について行った。
得られたデータについて、メディアンフィルタによるノイズ除去処理を行った後、カットオフ値６０μｍによるガウシアンフィルタ処理を行い、うねり成分を除去した。
上述のようにして得られた任意の３箇所の各表面形状データの画像から、対をなす円弧からなるクレーター投影像を１０個ずつ抽出し、それぞれについて、対をなす円弧の合計長さＬｔと、対をなす円弧を含む仮想円環の全周長さをＬｃとを計測し、比（Ｌｔ／Ｌｃ）を求めた。そして、得られた合計３０の値を平均し、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αを得た。なお、図３が表面形状データの画像である。また、クレーター投影像を抽出するにあたっては、異なるβ型球晶に基く円弧同士の重なり合いが認められないクレーター投影像を１０個ずつ抽出した。 (Average value α of the ratio (L t / L c ) in the crater projection image)
Using “VertScan2.0 (model R5500GML)” manufactured by Ryoka System Co., Ltd. as a light interference type non-contact surface shape measuring instrument, using a 530 white filter and a × 20 objective lens in WAVE mode, one field of view The measurement of 237 μm × 178 μm was performed by multi-field measurement of 3 × 3 fields. All the images were stitched to obtain surface shape data of 612 μm × 459 μm. This operation was performed at any three locations on the film surface.
The obtained data was subjected to noise removal processing using a median filter, and then subjected to Gaussian filtering processing using a cutoff value of 60 μm to remove swell components.
Ten crater projection images each consisting of a pair of arcs are extracted from the image of each of the surface shape data at any three locations obtained as described above, and the total length L t of each pair of arcs is extracted for each. The total circumference of the virtual ring including the paired arcs was measured as L c, and the ratio (L t / L c ) was obtained. And the value of the total 30 obtained was averaged, and average value (alpha) of ratio ( Lt / Lc ) was obtained. FIG. 3 is an image of the surface shape data. In addition, when extracting the crater projection images, ten crater projection images in which no overlapping of arcs based on different β-type spherulites were recognized were extracted.

仮想円環の決定と、ＬｔおよびＬｃの計測には、光干渉式非接触表面形状測定器ＶｅｒｔＳｃａｎ２．０の解析ソフトウェア「ＶＳ−Ｖｉｅｗｅｒ」のプラグイン機能「エッジ曲線長」を用いて行った。
具体的手順は以下の通りである。
（１）まず、図５（ａ）に示すように、円弧３０ａおよび円弧３０ｂ上における、互いに最も離れた２点をＰ１、Ｐ２とし、Ｐ１とＰ２を結んだ直線（以下、直線（Ｐ１−Ｐ２）という。）を決定する。
（２）ついで、図５（ｂ）に示すように、直線（Ｐ１−Ｐ２）の一方側（図５中では、直線（Ｐ１−Ｐ２）よりも上方側。）に位置する部分の円弧３０ａ，３０ｂの形状（位置データ）から、最小二乗法により、直線（Ｐ１−Ｐ２）が長軸となるような楕円（Ｅ０）を導き出す。そして、この楕円（Ｅ０）を構成する曲線（楕円（Ｅ０）の周の一部）により、上記一方側における円弧３０ａと円弧３０ｂとの間の部分を補完して補完線４０ａとする。なお、図５では、楕円（Ｅ０）のうち、補完線４０ａに相当する部分以外を図示略としている。
（３）ついで、図５（ｃ）に示すように、直線（Ｐ１−Ｐ２）の他方側（図５中では、直線（Ｐ１−Ｐ２）よりも下方側。）に位置する部分の円弧３０ａ，３０ｂの形状（位置データ）から、最小二乗法により、直線（Ｐ１−Ｐ２）が長軸となるような楕円（Ｅ１）を導き出す。そして、この楕円（Ｅ１）を構成する曲線（楕円（Ｅ１）の周の一部）により、上記他方側における円弧３０ａと円弧３０ｂとの間の部分を補完して補完線４０ｂとする。なお、図５では、楕円（Ｅ１）のうち、補完線４０ｂに相当する部分以外を図示略としている。
（４）このように決定された補完線４０ａ，４０ｂと、円弧３０ａ，３０ｂとで連結された図５（ｃ）に示される円環が仮想円環である。
（５）そして、この仮想円環の周における各位置（周のある点を基準とした際の距離。）に対する、各位置における微細凹凸２０の高さを示す、微細凹凸２０の高さプロファイルを描く。この高さプロファイルから、高さ０．０２μｍ以上の部分に対応するクレーター投影像ＧにおけるＬｔおよびＬｃを読み取る。 The determination of the virtual ring and the measurement of L t and L c are performed using the plug-in function “edge curve length” of the analysis software “VS-Viewer” of the optical interference type non-contact surface shape measuring instrument VertScan 2.0. It was.
The specific procedure is as follows.
(1) First, as shown in FIG. 5 (a), on a circular arc 30a and the arc 30b, farthest two points and P 1, P 2 together, a straight line (hereinafter connecting the P 1 and P 2, linear (P 1 -P 2) that.) to determine.
(2) Next, as shown in FIG. 5B, a portion located on one side of the straight line (P 1 -P 2 ) (in FIG. 5, above the straight line (P 1 -P 2 )). From the shapes (position data) of the arcs 30a and 30b, an ellipse (E 0 ) having the straight line (P 1 -P 2 ) as the major axis is derived by the method of least squares. Then, the curve (a part of the circumference of the ellipse (E 0 )) constituting the ellipse (E 0 ) is complemented with a portion between the arc 30a and the arc 30b on the one side to obtain a complement line 40a. In FIG. 5, the portion other than the portion corresponding to the complementary line 40 a in the ellipse (E 0 ) is not illustrated.
(3) Next, as shown in FIG. 5 (c), the straight line (P 1 -P 2) the other side of (in FIG. 5, the straight line (P 1 -P 2) lower side of the.) Portion positioned From the shapes (position data) of the arcs 30a and 30b, an ellipse (E 1 ) having a straight line (P 1 -P 2 ) as the major axis is derived by the method of least squares. Then, the portion between the arc 30a and the arc 30b on the other side is complemented by a curve (part of the circumference of the ellipse (E 1 )) that constitutes the ellipse (E 1 ) to obtain a complement line 40b. In FIG. 5, the oval (E 1 ) other than the portion corresponding to the complementary line 40 b is not illustrated.
(4) The circular ring shown in FIG. 5C connected by the complementary lines 40a and 40b determined in this way and the arcs 30a and 30b is a virtual ring.
(5) Then, a height profile of the fine unevenness 20 indicating the height of the fine unevenness 20 at each position with respect to each position (distance when a certain point of the periphery is used as a reference) in the circumference of the virtual ring. Draw. From this height profile, L t and L c in the crater projection image G corresponding to a portion having a height of 0.02 μm or more are read.

なお、最小二乗法の実施に際しては、それぞれ１０個（ｎ＝１０）の位置データを用いた。   In carrying out the least squares method, 10 (n = 10) position data were used for each.

（仮想円環の平均長軸径）
上記（２）で得られた任意の３箇所の各表面形状データの画像から、対をなす円弧からなるクレーター投影像を１０個ずつ抽出し、合計３０個についての長軸径を求め、これら３０のデータの平均値を仮想円環の平均長軸径とした。なお、長軸径は、すでに説明したように、円弧３０ａおよび円弧３０ｂ上における互いに最も離れた２点Ｐ１、Ｐ２間の距離（すなわち、直線（Ｐ１−Ｐ２）の長さ。）である（図５参照。）。 (Average major axis diameter of virtual ring)
Ten crater projection images each consisting of a pair of arcs are extracted from the image of each of the surface shape data at any three locations obtained in (2) above, and the major axis diameters for a total of 30 are obtained. The average value of the data was taken as the average major axis diameter of the virtual ring. As described above, the major axis diameter is the distance between two points P 1 and P 2 that are farthest from each other on the arc 30a and the arc 30b (that is, the length of the straight line (P 1 -P 2 )). (See FIG. 5).

（仮想円環の単位面積（１ｍｍ２）あたりの個数）
上記（２）で得られた任意の３箇所の各表面形状データの画像（６１２μｍ×４５９μｍ）について、観察された仮想円環の数をそれぞれカウントし、３箇所についてカウントされた個数の平均値を１ｍｍ２あたりに換算し、仮想円環の個数とした。 (Number of virtual ring per unit area (1 mm 2 ))
For the image (612 μm × 459 μm) of the surface shape data at any three locations obtained in (2) above, the number of observed virtual rings is counted, and the average value of the counts at the three locations is calculated. The value was converted per 1 mm 2 and used as the number of virtual rings.

＜実施例２＞
キャストシートの作製における、冷却ドラムの保持温度を９０℃に代えて９２℃にした以外は、実施例１と同様にして、二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。得られた二軸延伸ポリプロピレンのＪＩＳ Ｂ０６０１による算術平均粗さＲａは、０．０５μｍであった。また、実施例１と同様にして、各種測定、算出を行った。結果を表１に示す。 <Example 2>
A biaxially stretched polypropylene film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the holding temperature of the cooling drum in the production of the cast sheet was changed to 92 ° C. instead of 90 ° C. The arithmetic average roughness Ra of the obtained biaxially stretched polypropylene according to JIS B0601 was 0.05 μm. In addition, various measurements and calculations were performed in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 1.

＜実施例３＞
キャストシートの作製における、冷却ドラムの保持温度を９０℃に代えて９５℃にした以外は、実施例１と同様にして、二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。得られた二軸延伸ポリプロピレンのＪＩＳ Ｂ０６０１による算術平均粗さＲａは、０．０７μｍであった。また、実施例１と同様にして、各種測定、算出を行った。結果を表１に示す。 <Example 3>
A biaxially stretched polypropylene film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the holding temperature of the cooling drum in the production of the cast sheet was changed to 90 ° C. instead of 90 ° C. The arithmetic average roughness Ra of the obtained biaxially stretched polypropylene according to JIS B0601 was 0.07 μm. In addition, various measurements and calculations were performed in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 1.

＜実施例４＞
キャストシートの作製における、冷却ドラムの保持温度を９０℃に代えて９７℃にした以外は、実施例１と同様にして、二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。得られた二軸延伸ポリプロピレンのＪＩＳ Ｂ０６０１による算術平均粗さＲａは、０．１０μｍであった。また、実施例１と同様にして、各種測定、算出を行った。結果を表１に示す。 <Example 4>
A biaxially stretched polypropylene film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the holding temperature of the cooling drum in the production of the cast sheet was changed to 97 ° C. instead of 90 ° C. The arithmetic average roughness Ra of the obtained biaxially stretched polypropylene according to JIS B0601 was 0.10 μm. In addition, various measurements and calculations were performed in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 1.

＜比較例１＞
キャストシートの作製における、冷却ドラムの保持温度を９０℃に代えて１１０℃にした点と、縦延伸時の温度（縦延伸ロールの表面温度）を１４５℃に代えて１４０℃とした点以外は、実施例１と同様にして、二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。得られた二軸延伸ポリプロピレンのＪＩＳ Ｂ０６０１による算術平均粗さＲａは、０．１５μｍであった。また、実施例１と同様にして、各種測定、算出を行った。結果を表１に示す。 <Comparative Example 1>
In the production of the cast sheet, except that the holding temperature of the cooling drum was changed to 110 ° C. instead of 90 ° C. and the temperature at the time of longitudinal stretching (surface temperature of the longitudinal stretching roll) was changed to 140 ° C. instead of 145 ° C. In the same manner as in Example 1, a biaxially stretched polypropylene film was obtained. The arithmetic average roughness Ra of the obtained biaxially stretched polypropylene according to JIS B0601 was 0.15 μm. In addition, various measurements and calculations were performed in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 1.

＜比較例２＞
キャストシートの作製における、冷却ドラムの保持温度を９０℃に代えて１２０℃にした点と、縦延伸時の温度（縦延伸ロールの表面温度）を１４５℃に代えて１４０℃とした点以外は、実施例１と同様にして、二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。得られた二軸延伸ポリプロピレンのＪＩＳ Ｂ０６０１による算術平均粗さＲａは、０．２２μｍであった。また、実施例１と同様にして、各種測定、算出を行った。結果を表１に示す。 <Comparative example 2>
In the production of the cast sheet, except that the holding temperature of the cooling drum was 120 ° C. instead of 90 ° C., and the temperature at the time of longitudinal stretching (surface temperature of the longitudinal stretching roll) was 140 ° C. instead of 145 ° C. In the same manner as in Example 1, a biaxially stretched polypropylene film was obtained. The arithmetic average roughness Ra of the obtained biaxially stretched polypropylene according to JIS B0601 was 0.22 μm. In addition, various measurements and calculations were performed in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 1.

＜比較例３＞
特許文献１（特開２００８−１３３４４６号公報）の実施例１の記載に沿って、二軸延伸ポリプロピレンフィルムを得た。得られた二軸延伸ポリプロピレンフィルムの粗面化表面のＪＩＳ Ｂ０６０１による算術平均粗さＲａは、０．１４μｍであった。また、実施例１と同様にして、各種測定、算出を行った。結果を表１に示す。 <Comparative Example 3>
A biaxially stretched polypropylene film was obtained according to the description in Example 1 of Patent Document 1 (Japanese Patent Laid-Open No. 2008-133446). The arithmetic average roughness Ra according to JIS B0601 of the roughened surface of the obtained biaxially stretched polypropylene film was 0.14 μm. In addition, various measurements and calculations were performed in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 1.

［コンデンサとしての評価］
上記各例で得られたポリプロピレンフィルムを誘電体フィルムとして用いて、以下のようにしてコンデンサを製造した。
ポリプロピレンフィルムに対して、アルミニウム蒸着により、フィッシュネット蒸着パターン（１ｍｍマージン）と全蒸着（ベタ）パターン（１ｍｍマージン）を蒸着抵抗６Ω／□にてそれぞれ施し、２種の蒸着フィルムを得た。これらをそれぞれ小幅にスリットした後、両蒸着フィルムを相合わせて、株式会社皆藤製作所製の自動巻取機「３ＫＡＷ−４Ｌ（Ｂ）」を用い、巻き取り張力４００ｇにて、９５６ターン巻回を行った。こうして得られた素子を１２０℃にて２時間熱処理し、素子端面に亜鉛金属を溶射し、コンデンサとした。得られたコンデンサの電気容量は、２０μＦ（±１μＦ）であった。このコンデンサについて、以下のようにして、保安性と高電圧印加時の高温耐電圧特性を評価した。結果を表２に示す。 [Evaluation as a capacitor]
Using the polypropylene film obtained in each of the above examples as a dielectric film, a capacitor was produced as follows.
A fishnet vapor deposition pattern (1 mm margin) and a full vapor deposition (solid) pattern (1 mm margin) were respectively applied to the polypropylene film with a vapor deposition resistance of 6Ω / □ by aluminum vapor deposition to obtain two types of vapor deposition films. After slitting each of these to a small width, the two vapor-deposited films were combined, and 956 turns were wound at a winding tension of 400 g using an automatic winder “3KAW-4L (B)” manufactured by Minato Co., Ltd. went. The element thus obtained was heat-treated at 120 ° C. for 2 hours, and zinc metal was sprayed on the element end face to obtain a capacitor. The electric capacity of the obtained capacitor was 20 μF (± 1 μF). This capacitor was evaluated for safety and high-temperature withstand voltage characteristics when a high voltage was applied as follows. The results are shown in Table 2.

（保安性の評価（ステップアップ昇圧試験））
得られたコンデンサの保安性を評価するため、ステップアップ昇圧試験（疑似保安性試験）を以下の手順で行った。
（１）素子（コンデンサ）を試験温度（１０５℃）にて１時間予熱する。
（２）予熱後の素子の初期電気容量（Ｃ０）を測定する。電気容量測定には安藤電気株式会社製ＬＣＲテスターＡＧ４３１１を用いた。
（３）１０５℃の高温槽中で、高圧電源を用いて素子に直流０．６ＫＶの電圧を１分間負荷する。
（４）１分間の電圧負荷後、素子の電気容量（Ｃ０．６０）を測定し、負荷後の電気容量変化率（ΔＣ０．６０／Ｃ０＝（Ｃ０．６０−Ｃ０）／Ｃ０）を百分率で計算する。
（５）素子を１０５℃の高温槽内に戻し、電圧を０．０５ｋＶ増加させてＶｋＶの電圧を１分間負荷する。
（６）１分間の電圧負荷後、素子の電気容量（ＣＶ）を測定し、初期電気容量からの電気容量変化率（ΔＣＶ／Ｃ０＝（ＣＶ−Ｃ０）／Ｃ０）を百分率で計算する。
（７）上記（５）〜（６）の手順で、電圧を０．０５ＫＶずつ増加させたステップを繰り返し、電気容量変化率ΔＣＶ／Ｃ０が百分率で−９５％未満となるまで繰り返す。
（８）上記（７）の手順で求めた、電気容量変化率が百分率で−１０％未満となったステップの負荷電圧をその素子の保安性評価の指標とした。
なお、この際の負荷電圧が高い方が、保安性が優れる（電圧を上げていった際に、ある電圧を超えると蓄電性能が低下するが、その低下の仕方が緩やかである）。この際の負荷電圧が１０００Ｖ以上であると、実用上好適である。 (Evaluation of safety (step-up pressurization test))
In order to evaluate the security of the obtained capacitor, a step-up boost test (pseudo security test) was performed according to the following procedure.
(1) The element (capacitor) is preheated at the test temperature (105 ° C.) for 1 hour.
(2) The initial electric capacity (C 0 ) of the element after preheating is measured. An LCR tester AG4311 manufactured by Ando Electric Co., Ltd. was used for the capacitance measurement.
(3) In a high-temperature bath at 105 ° C., a voltage of DC 0.6 KV is applied to the element for 1 minute using a high-voltage power supply.
(4) After voltage loading for 1 minute, the capacitance (C 0.60 ) of the element was measured, and the rate of change in capacitance after loading (ΔC 0.60 / C 0 = (C 0.60 −C 0 ) / C 0 ) is calculated as a percentage.
(5) Return the element to a high temperature bath at 105 ° C., increase the voltage by 0.05 kV, and load the voltage of VkV for 1 minute.
(6) After voltage load for 1 minute, the capacitance (C V ) of the element is measured, and the rate of change in capacitance from the initial capacitance (ΔC V / C 0 = (C V −C 0 ) / C 0 ) Calculate as a percentage.
(7) In the procedure of (5) to (6), the step of increasing the voltage by 0.05 KV is repeated until the rate of change in capacitance ΔC V / C 0 is less than −95% as a percentage.
(8) The load voltage at the step in which the change rate of electric capacity obtained in the procedure of (7) was less than −10% in percentage was used as an index for evaluating the safety of the device.
In addition, the higher the load voltage at this time, the better the safety (when the voltage is raised, if the voltage exceeds a certain voltage, the storage performance is lowered, but the method of the decline is gradual). It is practically preferable that the load voltage at this time is 1000 V or more.

（高電圧印加時の高温耐電圧特性の評価）
得られたコンデンサの高温耐電圧特性の評価試験を以下の手順で行った。
まず、素子（コンデンサ）を試験温度（１０５℃）にて１時間予熱した後、試験前の初期の電気容量を安藤電気株式会社製ＬＣＲテスターＡＧ４３１１にて評価した。次に、１０５℃の高温槽中にて、高圧電源を用い、素子に直流１．０５ＫＶの電圧を１分間負荷した。電圧負荷を終えた後の素子の容量をＬＣＲテスターで測定し、電圧負荷前後の容量変化率を百分率で算出した。ついで、素子を再度高温槽内に戻し、２回目の電圧負荷を行い、２回目の容量変化（累積）を百分率で求め、これを４回繰り返した。そして、４回目の容量変化率を高温耐電圧特性の指標とした。
なお、この４回目の容量変化率の値が百分率で−５０％以上であると、実用上好適である。 (Evaluation of high-temperature withstand voltage characteristics when high voltage is applied)
An evaluation test of the high-temperature withstand voltage characteristics of the obtained capacitor was performed according to the following procedure.
First, after preheating the element (capacitor) for 1 hour at a test temperature (105 ° C.), an initial electric capacity before the test was evaluated by an LCR tester AG4311 manufactured by Ando Electric Co., Ltd. Next, a high-voltage power source was used in a high-temperature bath at 105 ° C., and a DC voltage of 1.05 KV was loaded on the device for 1 minute. The capacitance of the element after the voltage load was finished was measured by an LCR tester, and the capacitance change rate before and after the voltage load was calculated as a percentage. Subsequently, the element was returned to the high temperature bath again, the second voltage load was performed, the second capacity change (cumulative) was obtained in percentage, and this was repeated four times. The fourth capacity change rate was used as an index of the high temperature withstand voltage characteristics.
In addition, it is practically preferable that the value of the fourth capacity change rate is −50% or more in percentage.

各実施例で得られたポリプロピレンフィルムを誘電体フィルムとして用いたコンデンサは、いずれも、素子巻き加工時に、均一な面間隔で巻回でき、そのため、保安性や高電圧印加時の高温耐電圧特性が良好であることが示唆された。
一方、各比較例で得られたポリプロピレンフィルムは、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の値が０．３よりも小さいために、素子巻き加工時に面間隔が不均一な部分が発生し、そのため、コンデンサとしての保安性や高電圧印加時の高温耐電圧特性が不十分であった。
特開２００８−１３３４４６号の実施例１の追試に相当する比較例３で得られたポリプロピレンフィルムも、コンデンサとしての保安性や高電圧印加時の高温耐電圧特性に劣っていた。このことから、特開２００８−１３３４４６号の実施例１のフィルムのように、フィルムとしては高い絶縁破壊電圧を有するものであっても、該フィルムを用いてコンデンサを製造したときに、該コンデンサの保安性や高電圧印加時の高温耐電圧特性は、必ずしも優れないことが、理解できた。 Capacitors using the polypropylene film obtained in each example as a dielectric film can be wound with a uniform surface spacing during the element winding process, so that safety and high-temperature withstand voltage characteristics when a high voltage is applied Was suggested to be good.
On the other hand, since the polypropylene film obtained in each comparative example has a ratio (L t / L c ) value smaller than 0.3, a portion where the surface spacing is non-uniform during element winding processing is generated. The safety as a capacitor and the high-temperature withstand voltage characteristics when a high voltage was applied were insufficient.
The polypropylene film obtained in Comparative Example 3 corresponding to the supplementary test of Example 1 of JP-A-2008-133446 was also inferior in the safety as a capacitor and the high-temperature withstand voltage characteristics when a high voltage was applied. Therefore, even if the film has a high breakdown voltage as in the film of Example 1 of JP-A-2008-133446, when the capacitor is produced using the film, It was understood that the safety and high-temperature withstand voltage characteristics when a high voltage was applied were not necessarily excellent.

１０ ポリプロピレンフィルム
２０ 微細凹凸
２０ａ，２０ｂ 凸起
３０ａ，３０ｂ 円弧 10 Polypropylene film 20 Fine unevenness 20a, 20b Protrusion 30a, 30b Arc

Claims (4)

一方または両方の表面に、クレーター状の微細凹凸が多数形成されることにより、前記表面が粗面化された厚さ１〜７μｍのポリプロピレンフィルムであって、
少なくとも一方の表面について、光干渉式非接触表面形状測定器を用いて、前記微細凹凸のうちの高さが０．０２μｍ以上の部分を前記表面へ投影した投影画像を得た場合に、該投影画像には、対をなす円弧からなるクレーター投影像が多数観測され、
各クレーター投影像において、対をなす円弧の合計長さをＬｔとし、対をなす円弧を含む仮想円環の全周長さをＬｃとして比（Ｌｔ／Ｌｃ）を求めた場合、比（Ｌｔ／Ｌｃ）の平均値αが、０．３以上となることを特徴とするポリプロピレンフィルム（ただし、２３０度で測定したときの溶融張力（ＭＳ）と溶融流動指数（ＭＦＲ）が、ｌｏｇ（ＭＳ）＞−０．５６ｌｏｇ（ＭＦＲ）＋０．７４なる関係式を満たす分岐鎖状ポリプロピレン（Ｈ）が混合されたものを除く。）。 On one or both surfaces, a large number of crater-like fine irregularities are formed, whereby the surface is roughened and the polypropylene film has a thickness of 1 to 7 μm,
When at least one surface is obtained by using a light interference type non-contact surface shape measuring device to obtain a projection image in which a portion of the fine irregularities having a height of 0.02 μm or more is projected onto the surface, the projection In the image, many crater projection images consisting of pairs of arcs are observed,
In each crater projection image, when the total length of a pair of arcs is L t and the total circumference of a virtual ring including the pair of arcs is L c , the ratio (L t / L c ) is obtained. A polypropylene film characterized in that the average value α of the ratio (L t / L c ) is 0.3 or more (however, the melt tension (MS) and the melt flow index (MFR) when measured at 230 degrees) , Log (MS)> − 0.56 log (MFR) +0.74, except for a mixture of branched polypropylene (H) satisfying the relational expression. 前記仮想円環は、平均長軸径が２０〜８０μｍであることを特徴とする請求項１に記載のポリプロピレンフィルム。   The polypropylene film according to claim 1, wherein the virtual ring has an average major axis diameter of 20 to 80 μm. 請求項１または２に記載のポリプロピレンフィルムの製造方法であって、
β型球晶を生成させたポリプロピレンキャストシートを二軸延伸する工程を有し、
前記ポリプロピレンキャストシートの少なくとも一方の表面について、偏光顕微鏡で観察されるβ型球晶の平均半径が、１０μｍ以下であることを特徴とするポリプロピレンフィルムの製造方法。 It is a manufacturing method of the polypropylene film according to claim 1 or 2,
having a step of biaxially stretching a polypropylene cast sheet in which β-type spherulites are formed,
An average radius of β-type spherulites observed with a polarizing microscope is 10 μm or less on at least one surface of the polypropylene cast sheet. Ｘ線回折法を用いて求められる前記ポリプロピレンキャストシートのβ晶分率が、１〜２０％であることを特徴とする請求項３に記載のポリプロピレンフィルムの製造方法。   4. The method for producing a polypropylene film according to claim 3, wherein a β crystal fraction of the polypropylene cast sheet obtained by using an X-ray diffraction method is 1 to 20%.
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