JP2017118188A - Sequence generation device, error rate measurement device employing the same, and sequence generation method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、シーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法に関する。 The present invention relates to a sequence generation device, an error rate measurement device using the sequence generation device, and a sequence generation method.
近年、シリアル通信規格であるPCIe(登録商標)(Peripheral Component Interconnect Express)やUSB(登録商標)(Universal Serial Bus)のデータ転送速度が向上している。これらの規格においては、LTSSM(Link Training and Status State Machine)と呼ばれるステートマシンで物理層での通信状態が制御される。 In recent years, data transfer rates of PCIe (registered trademark) (Peripheral Component Interconnect Express) and USB (registered trademark) (Universal Serial Bus), which are serial communication standards, have been improved. In these standards, the communication state in the physical layer is controlled by a state machine called LTSSM (Link Training and Status State Machine).
例えば、PCIe(登録商標)では、LTSSMの状態遷移図は図9に示すようなものであり、遷移状態(ステート)として、L0、L0s、L1、L2、Detect、Polling、Configuration、Disabled、Hot Reset、Loopback(ループバックステート)、Recoveryが定義されている。 For example, in PCIe (registered trademark), the state transition diagram of LTSSM is as shown in FIG. 9, and transition states (states) are L0, L0s, L1, L2, Detect, Polling, Configuration, Disabled, Hot Reset. , Loopback (loopback state), and Recovery are defined.
ここで、Detectは通信対象のレシーバの検出を、PollingはTS(Training Sequence)を送受信することによりシンボル同期の確立やレーン極性の検出を、ConfigurationはTSを送受信することによりリンクのレーン構成の確立を、Recoveryはリンクの再トレーニングを、L0は通常動作を、Loopbackはテストや不具合切り分けのための動作のように、それぞれのステートはデバイスの通信状態を管理する役割を持つ。 Here, Detect is used to detect the receiver to be communicated, Polling is used to establish symbol synchronization and lane polarity detection by sending and receiving TS (Training Sequence), and Configuration is used to establish link lane configuration by sending and receiving TS. Each state has the role of managing the communication state of the device, such as Recovery for link retraining, L0 for normal operation, and Loopback for testing and fault isolation.
さらに、LTSSMの上記の各ステートにはサブステートがあり、各サブステートではOrdered Set(OS)と呼ばれる物理層で使用されるパケットの一種を送受信する。このOSは、トレーニングシーケンスTS1又はTS2などが定義されており、これらをデバイス間で送受信し合うことにより、デバイス間で互いのステートの状態遷移を制御する。 Further, each of the above-described states of the LTSSM has a sub-state, and each sub-state transmits and receives a kind of packet used in the physical layer called an ordered set (OS). In this OS, a training sequence TS1 or TS2 is defined, and the state transition between the devices is controlled by transmitting and receiving these between the devices.
ところで、近年、PCIe(登録商標)やUSB(登録商標)の規格に適合していることを確認する測定が求められており、その測定の実施にはデバイスをループバックステートに遷移させる必要があるため、LTSSMに対応したステートマシンを利用してシリアル通信を行う誤り率測定装置が求められている。 By the way, in recent years, there has been a demand for measurement for confirming conformity with PCIe (registered trademark) or USB (registered trademark) standards, and it is necessary to transition the device to a loopback state in order to perform the measurement. Therefore, there is a need for an error rate measurement device that performs serial communication using a state machine compatible with LTSSM.
誤り率測定装置は、パルスパターンを通信機器などの被試験対象(Device Under Test:DUT)に送信し、送信したパルスパターンとDUTから返送されたパルスパターンとを比較してビットの誤りを検出する装置である(例えば、特許文献1参照)。 The error rate measuring apparatus transmits a pulse pattern to a device under test (DUT) such as a communication device, and compares the transmitted pulse pattern with the pulse pattern returned from the DUT to detect a bit error. Device (see, for example, Patent Document 1).
ところで、PCIe(登録商標)やUSB(登録商標)などのシリアル通信規格については、規格のバージョンが進むほど、所望のステートに到達するまで経由するサブステートの数が増加し、遷移手順が複雑化してきている。 By the way, for serial communication standards such as PCIe (registered trademark) and USB (registered trademark), the number of substates that pass through until reaching a desired state increases as the standard version progresses, and the transition procedure becomes complicated. Have been doing.
例えばPCIe(登録商標)では、DUTをループバックステートに設定する場合、Gen1では数個のサブステートを経由することでループバックステートに到達できたが、Gen4では数十個のサブステートを経由しなければ、ループバックステートに到達できない。 For example, in PCIe (registered trademark), when the DUT is set to the loop back state, the loop back state can be reached by going through several substates in Gen1, but in Gen4, through several dozen substates. Otherwise, the loopback state cannot be reached.
しかしながら、特許文献1に開示されたような従来の誤り率測定装置の設定画面では、それぞれのサブステートと送信すべきトレーニングシーケンス(TS)の回数や待機時間との対応が不明確で分かりにくいという問題があった。 However, in the setting screen of the conventional error rate measuring apparatus as disclosed in Patent Document 1, the correspondence between each substate and the number of training sequences (TS) to be transmitted and the waiting time is unclear and difficult to understand. There was a problem.
本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができるシーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in order to solve such a conventional problem, and improves operability when setting setting items related to state transition, and prevents a user from performing an erroneous operation so that a desired training sequence can be performed. It is an object of the present invention to provide a sequence generation device that can be generated, an error rate measurement device using the same, and a sequence generation method.
上記課題を解決するために、本発明の請求項1のシーケンス発生装置は、複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを被試験対象に送信するシーケンス発生装置であって、操作入力を行うための操作部と、各前記ステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示するステート表示領域と、各前記ステートに関連付けられた複数の前記サブステートに関する設定項目を前記操作部により設定可能に表示するサブステート表示領域とを表示部に表示させる制御を行う表示制御部と、前記操作部により設定された前記設定項目のパラメータに応じた前記トレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生部と、を備え、前記表示制御部は、前記複数のサブステートのうち、前記操作部により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記サブステート表示領域に表示するように構成されている。 In order to solve the above problems, a sequence generator according to claim 1 of the present invention generates a training sequence for controlling a plurality of states and state transitions between a plurality of substates associated with the plurality of states. A sequence generator for transmitting the training sequence to the test subject, an operation unit for performing an operation input, a state display area for displaying a state name of each state in a selectable manner by the operation unit, A display control unit that controls the display unit to display a sub-state display area in which setting items related to the plurality of sub-states associated with each of the states are settable by the operation unit, and is set by the operation unit The training sequence corresponding to the parameter of the setting item is generated according to the state transition. A sequence generation unit, wherein the display control unit displays, in the sub-state display area, only setting items of sub-states associated with the state selected by the operation unit among the plurality of sub-states. It is configured.
この構成により、状態遷移を制御するためのサブステートごとの設定項目が明確になることで、これらの設定項目を設定する際の操作性が向上する。これにより、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができる。 With this configuration, setting items for each sub-state for controlling the state transition are clarified, so that operability when setting these setting items is improved. Thereby, it is possible to prevent an erroneous operation by the user and generate a desired training sequence.
また、本発明の請求項2のシーケンス発生装置においては、前記複数のステートは、前記被試験対象に対してループバックテストを実行するためのループバックステートを含んでおり、前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信するように構成されている。
In the sequence generator of
この構成により、ステートマシンで状態遷移が管理される被試験対象とのシリアル通信を行う誤り率測定装置に適用できるシーケンス発生装置を実現することができる。 With this configuration, it is possible to realize a sequence generator that can be applied to an error rate measuring apparatus that performs serial communication with a test target whose state transition is managed by a state machine.
また、本発明の請求項3の誤り率測定装置は、上記のシーケンス発生装置と、被試験対象に対して誤り率測定を行う誤り率測定部とを備える誤り率測定装置であって、前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信し、前記誤り率測定部は、前記パルスパターンの受信に伴う前記被試験対象からの被測定信号と前記パルスパターンとを比較して、前記被測定信号の誤り率を測定するように構成されている。 An error rate measuring apparatus according to claim 3 of the present invention is an error rate measuring apparatus comprising the above sequence generator and an error rate measuring unit that performs error rate measurement on a device under test. The generation unit transmits a pulse pattern for measuring an error rate to the test target after transmitting the training sequence for transitioning the state to a loopback state to the test target, and the error rate measuring unit includes: An error rate of the signal under measurement is measured by comparing the signal under measurement from the object under test associated with reception of the pulse pattern with the pulse pattern.
この構成により、ステートマシンで状態遷移が管理される被試験対象とのシリアル通信を行う誤り率測定装置において、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができる。 With this configuration, in the error rate measurement device that performs serial communication with the test target whose state transition is managed by the state machine, the operability when setting the setting items related to state transition is improved, and erroneous operation by the user is prevented. Thus, a desired training sequence can be generated.
また、本発明の請求項4の上記のシーケンス発生装置を用いるシーケンス発生方法であって、前記ステート表示領域に、前記複数のステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示する第1の表示ステップと、前記第1の表示ステップで表示された前記複数のステートの中から1つのステートを前記操作部により選択する選択ステップと、前記サブステート表示領域に、前記複数のサブステートのうち、前記選択ステップで選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記操作部により設定可能に表示する第2の表示ステップと、前記第2の表示ステップで表示された前記設定項目を前記操作部により設定する設定ステップと、前記設定ステップで設定された前記設定項目のパラメータに応じたトレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生ステップと、を含む構成である。 Further, in the sequence generation method using the sequence generation device according to claim 4 of the present invention, a first display that displays the state names of the plurality of states in the state display area so as to be selectable by the operation unit. A selection step of selecting one state from the plurality of states displayed in the first display step by the operation unit, and the substate display area includes the substate among the plurality of substates. A second display step of displaying only the setting items of the sub-state associated with the state selected in the selection step so as to be settable by the operation unit; and the operation of the setting items displayed in the second display step. A setting step set by a section, and training according to the parameter of the setting item set in the setting step A sequence generator step of generating in accordance with Sequence to the state transition, a configuration including.
この構成により、状態遷移を制御するためのサブステートごとの設定項目が明確になることで、これらの設定項目を設定する際の操作性が向上する。これにより、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができる。 With this configuration, setting items for each sub-state for controlling the state transition are clarified, so that operability when setting these setting items is improved. Thereby, it is possible to prevent an erroneous operation by the user and generate a desired training sequence.
本発明は、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができるシーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法を提供するものである。 The present invention improves a operability when setting setting items related to state transition, prevents a user's erroneous operation, and generates a desired training sequence, an error rate measuring apparatus using the sequence generator, And a sequence generation method.
以下、本発明に係るシーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法の実施形態について図面を用いて説明する。 Embodiments of a sequence generation apparatus, an error rate measurement apparatus using the sequence generation apparatus, and a sequence generation method according to the present invention will be described below with reference to the drawings.
(第1の実施形態)
第1の実施形態に係るシーケンス発生装置は、複数のステート、及び、複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンス(TS)を発生して、当該TSをDUTに送信する装置である。
(First embodiment)
The sequence generator according to the first embodiment generates a training sequence (TS) that controls a state transition between a plurality of states and a plurality of substates associated with the plurality of states, and the TS is generated as a DUT. It is the device which transmits to.
本実施形態において、LTSSMに対応したDUTのシリアル通信規格の例としては、PCIe(登録商標)、USB(登録商標)などが挙げられる。 In the present embodiment, PCIe (registered trademark), USB (registered trademark), and the like are listed as examples of DUT serial communication standards corresponding to LTSSM.
図1に示すように、本実施形態に係るシーケンス発生装置1は、表示制御部11と、操作部12と、表示部13と、パラメータ設定部14と、記憶部15と、シーケンス発生部16と、制御部17と、を備える。
As shown in FIG. 1, the sequence generator 1 according to the present embodiment includes a
図2等に示すように、表示制御部11は、各ステートのステート名を操作部12により選択可能に表示するステート表示領域11aと、各ステートに関連付けられた複数のサブステートに関する設定項目を操作部12により設定可能に表示するサブステート表示領域11bと、を表示部13に表示させる制御を行うように構成されている。
As shown in FIG. 2 and the like, the
例えば、表示制御部11は、DUT100の規格がPCIe(登録商標)である場合にはステート表示領域11aにおいて、Detectステートを選択するためのDetectボタン11c、Pollingステートを選択するためのPollingボタン11d、Configurationステートを選択するためのConfigurationボタン11e、Recoveryステートを選択するためのRecoveryボタン11f、Loopbackステート(ループバックステート)を選択するためのLoopbackボタン11gを表示させる。上記の複数のステートのうち、ループバックステートは、DUT100に対してループバックテストを実行するためのステートである。
For example, when the standard of the
また、表示制御部11は、複数のサブステートのうち、操作部12により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみをサブステート表示領域11bに表示させるようになっている。
In addition, the
また、表示制御部11は、複数のステートに属する各サブステートの設定項目を表示部13の所定領域に全て表示するための表示切替ボタン11hをサブステート表示領域11bに表示させてもよい。
In addition, the
表示部13は、例えばLCDやCRTなどの表示機器で構成され、表示制御部11からの制御信号に応じて各種表示内容を表示するようになっている。さらに、表示部13は、設定項目のパラメータなどを設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象を表示するものであってもよい。
The
操作部12は、ユーザによる操作入力を行うためのものであり、キーボード、タッチパネル、又はマウスのような入力デバイスを含んで構成される。あるいは前述のように、操作部12は、ボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象が表示部13に表示される構成であってもよい。
The
パラメータ設定部14は、操作部12により設定された設定項目のパラメータをシーケンス発生部16に設定するようになっている。ここで、設定項目のパラメータとしては、次のステート又はサブステートに遷移するまでの待機時間、TSの種別、TSの送受信回数などが設定可能になっている。
The
記憶部15は、表示制御部11が表示部13に対して表示制御を行うための情報、設定項目のパラメータの推奨値、操作部12により設定された設定項目のパラメータなどを記憶するようになっている。ここで、設定項目のパラメータの推奨値は、操作部12により設定項目のパラメータが設定・変更されるまで、初期値としてサブステート表示領域11bに表示されていることが望ましい。
The
シーケンス発生部16は、操作部12により設定された設定項目のパラメータに応じたTSを現在の状態遷移に応じて発生するようになっている。PCIe(登録商標)の場合、例えばシーケンス発生部16は、Detect→Polling→Configuration→Loopback、あるいは、Detect→Polling→Configuration→Recovery→Loopbackの順にステートを遷移させて、ループバックステートに到達する。
The
また、シーケンス発生部16は、ステートをループバックステートに遷移させるTSをDUT100に送信した後に、DUT100に誤り率測定のためのパルスパターンを送信する。シーケンス発生部16が送信するパルスパターンは、例えば2n−1のビット周期を有する擬似ランダムビット系列や、規格で定義されるCompliance Pattern(CP)、Modified Compliance Pattern(MCP)である。
Further, the
制御部17は、例えばCPUや、記憶部15を構成するROM、RAM、HDDなどを含むマイクロコンピュータで構成され、シーケンス発生装置1を構成する上記各部の動作を制御する。
The
図2〜図6は、DUT100の規格がPCIe(登録商標)である場合の、表示部13の表示内容の一例を示す図である。ここでは、ステート表示領域11aにおいて、PCIe(登録商標)のステートの一部が示されている。
2-6 is a figure which shows an example of the display content of the
図2は、ステート表示領域11aにおいて操作部12によりDetectボタン11c又はPollingボタン11dが押下されてDetectステート又はPollingステートが選択された場合に、サブステート表示領域11bに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域11bにおいて、Detect.Quietでの待機時間が100μs、Detect.Activeでの待機時間が1000μs、Polling.ActiveでのTSの送信回数が1024、Polling.ConfigurationでのTSの送信回数が20に設定されている例を示している。
FIG. 2 shows a substate displayed in the
図3は、ステート表示領域11aにおいて操作部12によりConfigurationボタン11eが押下されてConfigurationステートが選択された場合に、サブステート表示領域11bに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域11bにおいて、Configuration.Linkwidth.Start、Configuration.Linkwidth.Accept、Configuration.Lanenum.Wait、Configuration.Lanenum.Accept、Configuration.CompleteでのTSの送信回数と、Configuration.Idleでの待機時間が設定されるようになっている。
FIG. 3 shows substates and setting items displayed in the
図4は、ステート表示領域11aにおいて操作部12によりRecoveryボタン11fが押下されてRecoveryステートが選択された場合に、サブステート表示領域11bに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域11bにおいて、Recovery.Rcvr.Lock、Recovery.Rcvr.Cfg、Recovery.Equalization、Recovery.IdleでのTSの送信回数と、Recovery.Speedでの所要時間が設定されるようになっている。
FIG. 4 shows the substates and setting items displayed in the
図5は、ステート表示領域11aにおいて操作部12によりLoopbackボタン11gが押下されてLoopbackステートが選択された場合に、サブステート表示領域11bに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域11bにおいて、Loopback.EntryでのTSの送信回数が設定されるようになっている。
FIG. 5 shows the substates and setting items displayed in the
図6は、サブステート表示領域11bにおいて操作部12により表示切替ボタン11hが押下された場合に、複数のステート(Detect、Polling、Configuration、Recovery、Loopback)に属する各サブステートの設定項目が表示部13の所定領域に全て表示される様子を示している。
FIG. 6 shows the setting items of substates belonging to a plurality of states (Detect, Polling, Configuration, Recovery, Loopback) when the
以下、本実施形態のシーケンス発生装置1を用いるシーケンス発生方法について、図7のフローチャートを参照しながら説明する。 Hereinafter, a sequence generation method using the sequence generator 1 of the present embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.
まず、表示制御部11は、表示部13のステート表示領域11aに、複数のステートのステート名を操作部12により選択可能に表示する(第1の表示ステップS1)。
First, the
次に、ユーザによる操作部12の操作により、第1の表示ステップS1でステート表示領域11aに表示された複数のステートの中から1つのステートが選択される(選択ステップS2)。
Next, one state is selected from the plurality of states displayed in the
次に、表示制御部11は、サブステート表示領域11bに、複数のサブステートのうち、選択ステップS2で選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを操作部12により設定可能に表示する(第2の表示ステップS3)。
Next, the
次に、ユーザによる操作部12の操作により、第2の表示ステップS3でサブステート表示領域11bに表示された設定項目のパラメータが設定される(設定ステップS4)。
Next, the parameter of the setting item displayed in the
次に、シーケンス発生部16は、設定ステップS4で設定された設定項目のパラメータに応じたTSを現在の状態遷移に応じて発生する(シーケンス発生ステップS5)。
Next, the
以上説明したように、本実施形態に係るシーケンス発生装置1は、状態遷移を制御するための設定項目をサブステートごとに明確に表示することで、これらの設定項目を設定する際の操作性が向上する。これにより、ユーザによる誤操作を防止して所望のTSを発生させることができる。また、本実施形態に係るシーケンス発生装置1は、ステートマシンで状態遷移が管理されるDUT100とのシリアル通信を行う誤り率測定装置に適用することができる。
As described above, the sequence generator 1 according to the present embodiment clearly displays the setting items for controlling the state transition for each sub-state, so that the operability when setting these setting items is improved. improves. Thereby, it is possible to prevent an erroneous operation by the user and generate a desired TS. Further, the sequence generator 1 according to the present embodiment can be applied to an error rate measurement device that performs serial communication with the
(第2の実施形態)
図8は、第1の実施形態に係るシーケンス発生装置を備えた第2の実施形態に係る誤り率測定装置を示している。以下では、第1の実施形態に係るシーケンス発生装置の構成及び動作についての説明は省略する場合がある。
(Second Embodiment)
FIG. 8 shows an error rate measuring apparatus according to the second embodiment including the sequence generator according to the first embodiment. Hereinafter, the description of the configuration and operation of the sequence generator according to the first embodiment may be omitted.
図8に示すように、本実施形態に係る誤り率測定装置2は、シーケンス発生装置1と、DUT100に対して誤り率測定を行う誤り率測定部21と、表示部22と、操作部23と、制御部24と、を備える。
As shown in FIG. 8, the error
シーケンス発生装置1のシーケンス発生部16は、ステートをループバックステートに遷移させるTSをDUT100に送信した後に、DUT100に誤り率測定のためのパルスパターンを送信する。
The
誤り率測定部21は、シーケンス発生装置1から送信されたパルスパターンの受信に伴うDUT100からの被測定信号とパルスパターンとを比較して、被測定信号のビット誤り率を測定するようになっている。
The error
表示部22は、例えばLCDやCRTなどの表示機器で構成され、制御部24からの制御信号に応じて各種表示内容を表示するようになっている。この表示内容には、被測定信号のビット誤り率の測定結果などが含まれる。さらに、表示部22は、測定条件などを設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象を表示するものであってもよい。なお、表示部22はシーケンス発生装置1の表示部13で代用してもよい。
The
操作部23は、キーボード、タッチパネル、又はマウスのような入力デバイスを含んで構成される。あるいは前述のように、操作部23は、ボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象が表示部22に表示される構成であってもよい。なお、操作部23はシーケンス発生装置1の操作部12で代用してもよい。
The
制御部24は、例えばCPU、ROM、RAM、HDDなどを含むマイクロコンピュータで構成され、誤り率測定装置2を構成する上記各部の動作を制御するようになっている。
The
以上、説明したように、本実施形態に係る誤り率測定装置2は、ステートマシンで状態遷移が管理されるDUT100とのシリアル通信を行う誤り率測定装置において、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のTSを発生させることができる。
As described above, the error
1 シーケンス発生装置
2 誤り率測定装置
11 表示制御部
11a ステート表示領域
11b サブステート表示領域
12 操作部
13 表示部
14 パラメータ設定部
15 記憶部
16 シーケンス発生部
17 制御部
21 誤り率測定部
22 表示部
23 操作部
24 制御部
100 DUT(被試験対象)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
Claims (4)
操作入力を行うための操作部(12)と、
各前記ステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示するステート表示領域(11a)と、各前記ステートに関連付けられた複数の前記サブステートに関する設定項目を前記操作部により設定可能に表示するサブステート表示領域(11b)とを表示部(13)に表示させる制御を行う表示制御部(11)と、
前記操作部により設定された前記設定項目のパラメータに応じた前記トレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生部(16)と、を備え、
前記表示制御部は、前記複数のサブステートのうち、前記操作部により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記サブステート表示領域に表示することを特徴とするシーケンス発生装置。 A sequence generator (1) that generates a training sequence that controls a plurality of states and state transitions between a plurality of substates associated with the plurality of states, and transmits the training sequence to the test target (100). ) And
An operation unit (12) for performing operation input;
A state display area (11a) for displaying the state name of each state so as to be selectable by the operation unit, and a sub for displaying setting items relating to the plurality of substates associated with each state by the operation unit. A display control section (11) for controlling the display of the state display area (11b) on the display section (13);
A sequence generation unit (16) that generates the training sequence according to the parameter of the setting item set by the operation unit according to the state transition,
The display control unit displays, in the sub-state display area, only the sub-state setting item associated with the state selected by the operation unit among the plurality of sub-states.
前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信することを特徴とする請求項1に記載のシーケンス発生装置。 The plurality of states include a loopback state for executing a loopback test on the test object,
The sequence generator transmits a pulse pattern for measuring an error rate to the test target after transmitting the training sequence for transitioning the state to a loopback state to the test target. Item 2. The sequence generator according to Item 1.
前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信し、
前記誤り率測定部は、前記パルスパターンの受信に伴う前記被試験対象からの被測定信号と前記パルスパターンとを比較して、前記被測定信号の誤り率を測定することを特徴とする誤り率測定装置。 An error rate measuring device (2) comprising: the sequence generator according to claim 1 or claim 2; and an error rate measuring unit (21) that performs error rate measurement on a device under test (100),
The sequence generation unit transmits a pulse pattern for error rate measurement to the test target, after transmitting the training sequence for transitioning the state to a loopback state to the test target,
The error rate measuring unit compares the signal under measurement from the target under test with reception of the pulse pattern and the pulse pattern, and measures the error rate of the signal under measurement. measuring device.
前記ステート表示領域に、前記複数のステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示する第1の表示ステップ(S1)と、
前記第1の表示ステップで表示された前記複数のステートの中から1つのステートを前記操作部により選択する選択ステップ(S2)と、
前記サブステート表示領域に、前記複数のサブステートのうち、前記選択ステップで選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記操作部により設定可能に表示する第2の表示ステップ(S3)と、
前記第2の表示ステップで表示された前記設定項目を前記操作部により設定する設定ステップ(S4)と、
前記設定ステップで設定された前記設定項目のパラメータに応じたトレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生ステップ(S5)と、を含むことを特徴とするシーケンス発生方法。 A sequence generation method using the sequence generation device according to claim 1 or 2,
A first display step (S1) for displaying state names of the plurality of states in the state display area so as to be selectable by the operation unit;
A selection step (S2) of selecting one state from the plurality of states displayed in the first display step by the operation unit;
A second display step (S3) of displaying in the sub-state display area only the setting items of the sub-state associated with the state selected in the selection step among the plurality of sub-states in a manner that can be set by the operation unit. )When,
A setting step (S4) for setting the setting items displayed in the second display step by the operation unit;
A sequence generation step (S5), which generates a training sequence corresponding to the parameter of the setting item set in the setting step according to the state transition.
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7500807B1 (en) | 2023-03-20 | 2024-06-17 | アンリツ株式会社 | Error rate measurement device and error rate measurement method |
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JP7508623B1 (en) | 2023-03-20 | 2024-07-01 | アンリツ株式会社 | Error rate measurement device and error rate measurement method |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005164338A (en) * | 2003-12-01 | 2005-06-23 | Fujitsu Ten Ltd | Inspection device for control unit, pattern signal generation device and inspection program generation device |
JP2006211638A (en) * | 2004-12-27 | 2006-08-10 | Tsp:Kk | Scenario editing apparatus, dummy base station test simulator for wireless communication, dummy terminal test simulator for wireless communication, scenario editing method, test processing method, computer readable storage medium with program stored thereon, and program |
WO2007102485A1 (en) * | 2006-03-06 | 2007-09-13 | Anritsu Corporation | Test signal generation device |
EP1898555A1 (en) * | 2006-09-06 | 2008-03-12 | Agilent Technologies, Inc. | A test device comprising a programmable sequencer for testing a link initialization behavior of a dut |
-
2015
- 2015-12-21 JP JP2015248757A patent/JP6263163B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005164338A (en) * | 2003-12-01 | 2005-06-23 | Fujitsu Ten Ltd | Inspection device for control unit, pattern signal generation device and inspection program generation device |
JP2006211638A (en) * | 2004-12-27 | 2006-08-10 | Tsp:Kk | Scenario editing apparatus, dummy base station test simulator for wireless communication, dummy terminal test simulator for wireless communication, scenario editing method, test processing method, computer readable storage medium with program stored thereon, and program |
WO2007102485A1 (en) * | 2006-03-06 | 2007-09-13 | Anritsu Corporation | Test signal generation device |
EP1898555A1 (en) * | 2006-09-06 | 2008-03-12 | Agilent Technologies, Inc. | A test device comprising a programmable sequencer for testing a link initialization behavior of a dut |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
野崎 原生, USB3.0設計のすべて 初版, vol. 第1版, JPN6017037707, 20 October 2011 (2011-10-20), pages 309 - 312 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7500807B1 (en) | 2023-03-20 | 2024-06-17 | アンリツ株式会社 | Error rate measurement device and error rate measurement method |
JP7508625B1 (en) | 2023-03-20 | 2024-07-01 | アンリツ株式会社 | Error rate measurement device and error rate measurement method |
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