JP2017118188A - Sequence generation device, error rate measurement device employing the same, and sequence generation method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sequence generation device capable of improving operability in setting a setting item relating to state transition and generating a desired TS while preventing erroneous operation by a user, an error rate measurement device employing the same, and a sequence generation method.SOLUTION: A sequence generation device comprises: an operation part 12 for performing operation input; a display control part 11 which performs control for displaying on a display part 13 a state display region 11a for displaying state names of multiple states in a selectable manner and a sub state display region 11b for displaying setting items relating to multiple sub states associated with the states in a settable manner; and a sequence generation part 16 for generating a TS corresponding to a parameter of a setting item that is set by the operation part 12, in accordance with state transition. The display control part 11 displays in the sub state display region 11b only a setting item of a sub state associated with a state that is selected by the operation part 12, among the multiple sub states.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、シーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法に関する。   The present invention relates to a sequence generation device, an error rate measurement device using the sequence generation device, and a sequence generation method.

近年、シリアル通信規格であるＰＣＩｅ（登録商標）（Peripheral Component Interconnect Express）やＵＳＢ（登録商標）（Universal Serial Bus）のデータ転送速度が向上している。これらの規格においては、ＬＴＳＳＭ（Link Training and Status State Machine）と呼ばれるステートマシンで物理層での通信状態が制御される。   In recent years, data transfer rates of PCIe (registered trademark) (Peripheral Component Interconnect Express) and USB (registered trademark) (Universal Serial Bus), which are serial communication standards, have been improved. In these standards, the communication state in the physical layer is controlled by a state machine called LTSSM (Link Training and Status State Machine).

例えば、ＰＣＩｅ（登録商標）では、ＬＴＳＳＭの状態遷移図は図９に示すようなものであり、遷移状態（ステート）として、L0、L0s、L1、L2、Detect、Polling、Configuration、Disabled、Hot Reset、Loopback（ループバックステート）、Recoveryが定義されている。   For example, in PCIe (registered trademark), the state transition diagram of LTSSM is as shown in FIG. 9, and transition states (states) are L0, L0s, L1, L2, Detect, Polling, Configuration, Disabled, Hot Reset. , Loopback (loopback state), and Recovery are defined.

ここで、Detectは通信対象のレシーバの検出を、PollingはＴＳ（Training Sequence）を送受信することによりシンボル同期の確立やレーン極性の検出を、ConfigurationはＴＳを送受信することによりリンクのレーン構成の確立を、Recoveryはリンクの再トレーニングを、L0は通常動作を、Loopbackはテストや不具合切り分けのための動作のように、それぞれのステートはデバイスの通信状態を管理する役割を持つ。   Here, Detect is used to detect the receiver to be communicated, Polling is used to establish symbol synchronization and lane polarity detection by sending and receiving TS (Training Sequence), and Configuration is used to establish link lane configuration by sending and receiving TS. Each state has the role of managing the communication state of the device, such as Recovery for link retraining, L0 for normal operation, and Loopback for testing and fault isolation.

さらに、ＬＴＳＳＭの上記の各ステートにはサブステートがあり、各サブステートではOrdered Set（ＯＳ）と呼ばれる物理層で使用されるパケットの一種を送受信する。このＯＳは、トレーニングシーケンスＴＳ１又はＴＳ２などが定義されており、これらをデバイス間で送受信し合うことにより、デバイス間で互いのステートの状態遷移を制御する。   Further, each of the above-described states of the LTSSM has a sub-state, and each sub-state transmits and receives a kind of packet used in the physical layer called an ordered set (OS). In this OS, a training sequence TS1 or TS2 is defined, and the state transition between the devices is controlled by transmitting and receiving these between the devices.

ところで、近年、ＰＣＩｅ（登録商標）やＵＳＢ（登録商標）の規格に適合していることを確認する測定が求められており、その測定の実施にはデバイスをループバックステートに遷移させる必要があるため、ＬＴＳＳＭに対応したステートマシンを利用してシリアル通信を行う誤り率測定装置が求められている。   By the way, in recent years, there has been a demand for measurement for confirming conformity with PCIe (registered trademark) or USB (registered trademark) standards, and it is necessary to transition the device to a loopback state in order to perform the measurement. Therefore, there is a need for an error rate measurement device that performs serial communication using a state machine compatible with LTSSM.

誤り率測定装置は、パルスパターンを通信機器などの被試験対象（Device Under Test：ＤＵＴ）に送信し、送信したパルスパターンとＤＵＴから返送されたパルスパターンとを比較してビットの誤りを検出する装置である（例えば、特許文献１参照）。   The error rate measuring apparatus transmits a pulse pattern to a device under test (DUT) such as a communication device, and compares the transmitted pulse pattern with the pulse pattern returned from the DUT to detect a bit error. Device (see, for example, Patent Document 1).

特開２００７−２７４４７４号公報JP 2007-274474 A

ところで、ＰＣＩｅ（登録商標）やＵＳＢ（登録商標）などのシリアル通信規格については、規格のバージョンが進むほど、所望のステートに到達するまで経由するサブステートの数が増加し、遷移手順が複雑化してきている。   By the way, for serial communication standards such as PCIe (registered trademark) and USB (registered trademark), the number of substates that pass through until reaching a desired state increases as the standard version progresses, and the transition procedure becomes complicated. Have been doing.

例えばＰＣＩｅ（登録商標）では、ＤＵＴをループバックステートに設定する場合、Ｇｅｎ１では数個のサブステートを経由することでループバックステートに到達できたが、Ｇｅｎ４では数十個のサブステートを経由しなければ、ループバックステートに到達できない。   For example, in PCIe (registered trademark), when the DUT is set to the loop back state, the loop back state can be reached by going through several substates in Gen1, but in Gen4, through several dozen substates. Otherwise, the loopback state cannot be reached.

しかしながら、特許文献１に開示されたような従来の誤り率測定装置の設定画面では、それぞれのサブステートと送信すべきトレーニングシーケンス（ＴＳ）の回数や待機時間との対応が不明確で分かりにくいという問題があった。   However, in the setting screen of the conventional error rate measuring apparatus as disclosed in Patent Document 1, the correspondence between each substate and the number of training sequences (TS) to be transmitted and the waiting time is unclear and difficult to understand. There was a problem.

本発明は、このような従来の課題を解決するためになされたものであって、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができるシーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in order to solve such a conventional problem, and improves operability when setting setting items related to state transition, and prevents a user from performing an erroneous operation so that a desired training sequence can be performed. It is an object of the present invention to provide a sequence generation device that can be generated, an error rate measurement device using the same, and a sequence generation method.

上記課題を解決するために、本発明の請求項１のシーケンス発生装置は、複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを被試験対象に送信するシーケンス発生装置であって、操作入力を行うための操作部と、各前記ステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示するステート表示領域と、各前記ステートに関連付けられた複数の前記サブステートに関する設定項目を前記操作部により設定可能に表示するサブステート表示領域とを表示部に表示させる制御を行う表示制御部と、前記操作部により設定された前記設定項目のパラメータに応じた前記トレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生部と、を備え、前記表示制御部は、前記複数のサブステートのうち、前記操作部により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記サブステート表示領域に表示するように構成されている。   In order to solve the above problems, a sequence generator according to claim 1 of the present invention generates a training sequence for controlling a plurality of states and state transitions between a plurality of substates associated with the plurality of states. A sequence generator for transmitting the training sequence to the test subject, an operation unit for performing an operation input, a state display area for displaying a state name of each state in a selectable manner by the operation unit, A display control unit that controls the display unit to display a sub-state display area in which setting items related to the plurality of sub-states associated with each of the states are settable by the operation unit, and is set by the operation unit The training sequence corresponding to the parameter of the setting item is generated according to the state transition. A sequence generation unit, wherein the display control unit displays, in the sub-state display area, only setting items of sub-states associated with the state selected by the operation unit among the plurality of sub-states. It is configured.

この構成により、状態遷移を制御するためのサブステートごとの設定項目が明確になることで、これらの設定項目を設定する際の操作性が向上する。これにより、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができる。   With this configuration, setting items for each sub-state for controlling the state transition are clarified, so that operability when setting these setting items is improved. Thereby, it is possible to prevent an erroneous operation by the user and generate a desired training sequence.

また、本発明の請求項２のシーケンス発生装置においては、前記複数のステートは、前記被試験対象に対してループバックテストを実行するためのループバックステートを含んでおり、前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信するように構成されている。   In the sequence generator of claim 2 of the present invention, the plurality of states include a loopback state for executing a loopback test on the test target, and the sequence generator After transmitting the training sequence for transitioning the state to a loopback state to the test object, a pulse pattern for measuring an error rate is transmitted to the test object.

この構成により、ステートマシンで状態遷移が管理される被試験対象とのシリアル通信を行う誤り率測定装置に適用できるシーケンス発生装置を実現することができる。   With this configuration, it is possible to realize a sequence generator that can be applied to an error rate measuring apparatus that performs serial communication with a test target whose state transition is managed by a state machine.

また、本発明の請求項３の誤り率測定装置は、上記のシーケンス発生装置と、被試験対象に対して誤り率測定を行う誤り率測定部とを備える誤り率測定装置であって、前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信し、前記誤り率測定部は、前記パルスパターンの受信に伴う前記被試験対象からの被測定信号と前記パルスパターンとを比較して、前記被測定信号の誤り率を測定するように構成されている。   An error rate measuring apparatus according to claim 3 of the present invention is an error rate measuring apparatus comprising the above sequence generator and an error rate measuring unit that performs error rate measurement on a device under test. The generation unit transmits a pulse pattern for measuring an error rate to the test target after transmitting the training sequence for transitioning the state to a loopback state to the test target, and the error rate measuring unit includes: An error rate of the signal under measurement is measured by comparing the signal under measurement from the object under test associated with reception of the pulse pattern with the pulse pattern.

この構成により、ステートマシンで状態遷移が管理される被試験対象とのシリアル通信を行う誤り率測定装置において、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができる。   With this configuration, in the error rate measurement device that performs serial communication with the test target whose state transition is managed by the state machine, the operability when setting the setting items related to state transition is improved, and erroneous operation by the user is prevented. Thus, a desired training sequence can be generated.

また、本発明の請求項４の上記のシーケンス発生装置を用いるシーケンス発生方法であって、前記ステート表示領域に、前記複数のステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示する第１の表示ステップと、前記第１の表示ステップで表示された前記複数のステートの中から１つのステートを前記操作部により選択する選択ステップと、前記サブステート表示領域に、前記複数のサブステートのうち、前記選択ステップで選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記操作部により設定可能に表示する第２の表示ステップと、前記第２の表示ステップで表示された前記設定項目を前記操作部により設定する設定ステップと、前記設定ステップで設定された前記設定項目のパラメータに応じたトレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生ステップと、を含む構成である。   Further, in the sequence generation method using the sequence generation device according to claim 4 of the present invention, a first display that displays the state names of the plurality of states in the state display area so as to be selectable by the operation unit. A selection step of selecting one state from the plurality of states displayed in the first display step by the operation unit, and the substate display area includes the substate among the plurality of substates. A second display step of displaying only the setting items of the sub-state associated with the state selected in the selection step so as to be settable by the operation unit; and the operation of the setting items displayed in the second display step. A setting step set by a section, and training according to the parameter of the setting item set in the setting step A sequence generator step of generating in accordance with Sequence to the state transition, a configuration including.

この構成により、状態遷移を制御するためのサブステートごとの設定項目が明確になることで、これらの設定項目を設定する際の操作性が向上する。これにより、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができる。   With this configuration, setting items for each sub-state for controlling the state transition are clarified, so that operability when setting these setting items is improved. Thereby, it is possible to prevent an erroneous operation by the user and generate a desired training sequence.

本発明は、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のトレーニングシーケンスを発生させることができるシーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法を提供するものである。   The present invention improves a operability when setting setting items related to state transition, prevents a user's erroneous operation, and generates a desired training sequence, an error rate measuring apparatus using the sequence generator, And a sequence generation method.

第１の実施形態に係るシーケンス発生装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the sequence generator which concerns on 1st Embodiment. 第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その１）。It is a display example of the display part in the sequence generator which concerns on 1st Embodiment (the 1). 第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その２）。It is the example of a display of the display part in the sequence generator which concerns on 1st Embodiment (the 2). 第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その３）。It is a display example of the display part in the sequence generator which concerns on 1st Embodiment (the 3). 第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その４）。It is a display example of the display part in the sequence generator which concerns on 1st Embodiment (the 4). 第１の実施形態に係るシーケンス発生装置における表示部の表示例である（その５）。It is a display example of the display part in the sequence generator which concerns on 1st Embodiment (the 5). 第１の実施形態に係るシーケンス発生装置によるシーケンス発生方法の処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the process of the sequence generation method by the sequence generator which concerns on 1st Embodiment. 第２の実施形態に係る誤り率測定装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the error rate measuring device which concerns on 2nd Embodiment. ＬＴＳＳＭの状態遷移を示す図である。It is a figure which shows the state transition of LTSSM.

以下、本発明に係るシーケンス発生装置、それを用いた誤り率測定装置、及びシーケンス発生方法の実施形態について図面を用いて説明する。   Embodiments of a sequence generation apparatus, an error rate measurement apparatus using the sequence generation apparatus, and a sequence generation method according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

（第１の実施形態）
第１の実施形態に係るシーケンス発生装置は、複数のステート、及び、複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンス（ＴＳ）を発生して、当該ＴＳをＤＵＴに送信する装置である。 (First embodiment)
The sequence generator according to the first embodiment generates a training sequence (TS) that controls a state transition between a plurality of states and a plurality of substates associated with the plurality of states, and the TS is generated as a DUT. It is the device which transmits to.

本実施形態において、ＬＴＳＳＭに対応したＤＵＴのシリアル通信規格の例としては、ＰＣＩｅ（登録商標）、ＵＳＢ（登録商標）などが挙げられる。   In the present embodiment, PCIe (registered trademark), USB (registered trademark), and the like are listed as examples of DUT serial communication standards corresponding to LTSSM.

図１に示すように、本実施形態に係るシーケンス発生装置１は、表示制御部１１と、操作部１２と、表示部１３と、パラメータ設定部１４と、記憶部１５と、シーケンス発生部１６と、制御部１７と、を備える。   As shown in FIG. 1, the sequence generator 1 according to the present embodiment includes a display control unit 11, an operation unit 12, a display unit 13, a parameter setting unit 14, a storage unit 15, and a sequence generation unit 16. The control part 17 is provided.

図２等に示すように、表示制御部１１は、各ステートのステート名を操作部１２により選択可能に表示するステート表示領域１１ａと、各ステートに関連付けられた複数のサブステートに関する設定項目を操作部１２により設定可能に表示するサブステート表示領域１１ｂと、を表示部１３に表示させる制御を行うように構成されている。   As shown in FIG. 2 and the like, the display control unit 11 operates a state display area 11a in which the state name of each state is selectably displayed by the operation unit 12 and setting items related to a plurality of substates associated with each state. The sub-state display area 11b that can be set by the unit 12 is controlled to be displayed on the display unit 13.

例えば、表示制御部１１は、ＤＵＴ１００の規格がＰＣＩｅ（登録商標）である場合にはステート表示領域１１ａにおいて、Detectステートを選択するためのDetectボタン１１ｃ、Pollingステートを選択するためのPollingボタン１１ｄ、Configurationステートを選択するためのConfigurationボタン１１ｅ、Recoveryステートを選択するためのRecoveryボタン１１ｆ、Loopbackステート（ループバックステート）を選択するためのLoopbackボタン１１ｇを表示させる。上記の複数のステートのうち、ループバックステートは、ＤＵＴ１００に対してループバックテストを実行するためのステートである。   For example, when the standard of the DUT 100 is PCIe (registered trademark), the display control unit 11 detects, in the state display area 11a, a Detect button 11c for selecting a Detect state, a Polling button 11d for selecting a Polling state, A Configuration button 11e for selecting the Configuration state, a Recovery button 11f for selecting the Recovery state, and a Loopback button 11g for selecting the Loopback state (loopback state) are displayed. Of the plurality of states described above, the loopback state is a state for executing a loopback test on the DUT 100.

また、表示制御部１１は、複数のサブステートのうち、操作部１２により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみをサブステート表示領域１１ｂに表示させるようになっている。   In addition, the display control unit 11 displays only the setting items of the substate associated with the state selected by the operation unit 12 among the plurality of substates in the substate display area 11b.

また、表示制御部１１は、複数のステートに属する各サブステートの設定項目を表示部１３の所定領域に全て表示するための表示切替ボタン１１ｈをサブステート表示領域１１ｂに表示させてもよい。   In addition, the display control unit 11 may display a display switching button 11h for displaying all setting items of each substate belonging to a plurality of states in a predetermined area of the display unit 13 in the substate display area 11b.

表示部１３は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、表示制御部１１からの制御信号に応じて各種表示内容を表示するようになっている。さらに、表示部１３は、設定項目のパラメータなどを設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象を表示するものであってもよい。   The display unit 13 is configured by a display device such as an LCD or a CRT, for example, and displays various display contents according to a control signal from the display control unit 11. Furthermore, the display unit 13 may display operation objects such as buttons, soft keys, pull-down menus, text boxes, and the like for setting parameters of setting items.

操作部１２は、ユーザによる操作入力を行うためのものであり、キーボード、タッチパネル、又はマウスのような入力デバイスを含んで構成される。あるいは前述のように、操作部１２は、ボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象が表示部１３に表示される構成であってもよい。   The operation unit 12 is for performing an operation input by a user, and includes an input device such as a keyboard, a touch panel, or a mouse. Alternatively, as described above, the operation unit 12 may have a configuration in which operation objects such as buttons, soft keys, pull-down menus, and text boxes are displayed on the display unit 13.

パラメータ設定部１４は、操作部１２により設定された設定項目のパラメータをシーケンス発生部１６に設定するようになっている。ここで、設定項目のパラメータとしては、次のステート又はサブステートに遷移するまでの待機時間、ＴＳの種別、ＴＳの送受信回数などが設定可能になっている。   The parameter setting unit 14 sets the parameters of the setting items set by the operation unit 12 in the sequence generation unit 16. Here, as setting item parameters, a waiting time until transition to the next state or sub-state, TS type, TS transmission / reception frequency, and the like can be set.

記憶部１５は、表示制御部１１が表示部１３に対して表示制御を行うための情報、設定項目のパラメータの推奨値、操作部１２により設定された設定項目のパラメータなどを記憶するようになっている。ここで、設定項目のパラメータの推奨値は、操作部１２により設定項目のパラメータが設定・変更されるまで、初期値としてサブステート表示領域１１ｂに表示されていることが望ましい。   The storage unit 15 stores information for the display control unit 11 to perform display control on the display unit 13, recommended values of setting item parameters, setting item parameters set by the operation unit 12, and the like. ing. Here, the recommended value of the setting item parameter is desirably displayed as an initial value in the substate display area 11b until the setting item parameter is set / changed by the operation unit 12.

シーケンス発生部１６は、操作部１２により設定された設定項目のパラメータに応じたＴＳを現在の状態遷移に応じて発生するようになっている。ＰＣＩｅ（登録商標）の場合、例えばシーケンス発生部１６は、Detect→Polling→Configuration→Loopback、あるいは、Detect→Polling→Configuration→Recovery→Loopbackの順にステートを遷移させて、ループバックステートに到達する。   The sequence generator 16 generates a TS corresponding to the parameter of the setting item set by the operation unit 12 according to the current state transition. In the case of PCIe (registered trademark), for example, the sequence generation unit 16 changes the state in the order of Detect → Polling → Configuration → Loopback or Detect → Polling → Configuration → Recovery → Loopback to reach the loopback state.

また、シーケンス発生部１６は、ステートをループバックステートに遷移させるＴＳをＤＵＴ１００に送信した後に、ＤＵＴ１００に誤り率測定のためのパルスパターンを送信する。シーケンス発生部１６が送信するパルスパターンは、例えば２ｎ−１のビット周期を有する擬似ランダムビット系列や、規格で定義されるCompliance Pattern（ＣＰ）、Modified Compliance Pattern（ＭＣＰ）である。 Further, the sequence generator 16 transmits a pulse pattern for error rate measurement to the DUT 100 after transmitting a TS for transitioning the state to the loopback state to the DUT 100. The pulse pattern transmitted by the sequence generator 16 is, for example, a pseudo random bit sequence having a bit period of 2 n -1 or a Compliance Pattern (CP) or Modified Compliance Pattern (MCP) defined by a standard.

制御部１７は、例えばＣＰＵや、記憶部１５を構成するＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータで構成され、シーケンス発生装置１を構成する上記各部の動作を制御する。   The control unit 17 is composed of, for example, a microcomputer including a CPU, a ROM, a RAM, and an HDD that constitute the storage unit 15, and controls operations of the above-described units constituting the sequence generator 1.

図２〜図６は、ＤＵＴ１００の規格がＰＣＩｅ（登録商標）である場合の、表示部１３の表示内容の一例を示す図である。ここでは、ステート表示領域１１ａにおいて、ＰＣＩｅ（登録商標）のステートの一部が示されている。   2-6 is a figure which shows an example of the display content of the display part 13 in case the standard of DUT100 is PCIe (trademark). Here, a part of the PCIe (registered trademark) state is shown in the state display area 11a.

図２は、ステート表示領域１１ａにおいて操作部１２によりDetectボタン１１ｃ又はPollingボタン１１ｄが押下されてDetectステート又はPollingステートが選択された場合に、サブステート表示領域１１ｂに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域１１ｂにおいて、Detect.Quietでの待機時間が１００μｓ、Detect.Activeでの待機時間が１０００μｓ、Polling.ActiveでのＴＳの送信回数が１０２４、Polling.ConfigurationでのＴＳの送信回数が２０に設定されている例を示している。   FIG. 2 shows a substate displayed in the substate display area 11b and its setting when the Detect button 11c or the Polling button 11d is pressed by the operation unit 12 in the state display area 11a and the Detect state or Polling state is selected. Indicates an item. Here, in the sub-state display area 11b, the standby time at Detect.Quiet is 100 μs, the standby time at Detect.Active is 1000 μs, the TS transmission count at Polling.Active is 1024, and the TS transmission at Polling.Configuration is performed An example in which the number of times is set to 20 is shown.

図３は、ステート表示領域１１ａにおいて操作部１２によりConfigurationボタン１１ｅが押下されてConfigurationステートが選択された場合に、サブステート表示領域１１ｂに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域１１ｂにおいて、Configuration.Linkwidth.Start、Configuration.Linkwidth.Accept、Configuration.Lanenum.Wait、Configuration.Lanenum.Accept、Configuration.CompleteでのＴＳの送信回数と、Configuration.Idleでの待機時間が設定されるようになっている。   FIG. 3 shows substates and setting items displayed in the substate display area 11b when the Configuration state is selected by pressing the Configuration button 11e by the operation unit 12 in the state display area 11a. Here, in the sub-state display area 11b, the number of TS transmissions in Configuration.Linkwidth.Start, Configuration.Linkwidth.Accept, Configuration.Lanenum.Wait, Configuration.Lanenum.Accept, Configuration.Complete, and Configuration.Idle A waiting time is set.

図４は、ステート表示領域１１ａにおいて操作部１２によりRecoveryボタン１１ｆが押下されてRecoveryステートが選択された場合に、サブステート表示領域１１ｂに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域１１ｂにおいて、Recovery.Rcvr.Lock、Recovery.Rcvr.Cfg、Recovery.Equalization、Recovery.IdleでのＴＳの送信回数と、Recovery.Speedでの所要時間が設定されるようになっている。   FIG. 4 shows the substates and setting items displayed in the substate display area 11b when the Recovery button 11f is pressed by the operation unit 12 in the state display area 11a and the Recovery state is selected. Here, the number of TS transmissions in Recovery.Rcvr.Lock, Recovery.Rcvr.Cfg, Recovery.Equalization, Recovery.Idle and the required time in Recovery.Speed are set in the substate display area 11b. It has become.

図５は、ステート表示領域１１ａにおいて操作部１２によりLoopbackボタン１１ｇが押下されてLoopbackステートが選択された場合に、サブステート表示領域１１ｂに表示されるサブステートとその設定項目を示している。ここでは、サブステート表示領域１１ｂにおいて、Loopback.EntryでのＴＳの送信回数が設定されるようになっている。   FIG. 5 shows the substates and setting items displayed in the substate display area 11b when the Loopback button 11g is pressed by the operation unit 12 in the state display area 11a and the Loopback state is selected. Here, the number of TS transmissions in Loopback.Entry is set in the substate display area 11b.

図６は、サブステート表示領域１１ｂにおいて操作部１２により表示切替ボタン１１ｈが押下された場合に、複数のステート（Detect、Polling、Configuration、Recovery、Loopback）に属する各サブステートの設定項目が表示部１３の所定領域に全て表示される様子を示している。   FIG. 6 shows the setting items of substates belonging to a plurality of states (Detect, Polling, Configuration, Recovery, Loopback) when the display switching button 11h is pressed by the operation unit 12 in the substate display area 11b. 13 shows a state where all the 13 predetermined areas are displayed.

以下、本実施形態のシーケンス発生装置１を用いるシーケンス発生方法について、図７のフローチャートを参照しながら説明する。   Hereinafter, a sequence generation method using the sequence generator 1 of the present embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.

まず、表示制御部１１は、表示部１３のステート表示領域１１ａに、複数のステートのステート名を操作部１２により選択可能に表示する（第１の表示ステップＳ１）。   First, the display control unit 11 displays the state names of a plurality of states in the state display area 11a of the display unit 13 so as to be selectable by the operation unit 12 (first display step S1).

次に、ユーザによる操作部１２の操作により、第１の表示ステップＳ１でステート表示領域１１ａに表示された複数のステートの中から１つのステートが選択される（選択ステップＳ２）。   Next, one state is selected from the plurality of states displayed in the state display area 11a in the first display step S1 by the operation of the operation unit 12 by the user (selection step S2).

次に、表示制御部１１は、サブステート表示領域１１ｂに、複数のサブステートのうち、選択ステップＳ２で選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを操作部１２により設定可能に表示する（第２の表示ステップＳ３）。   Next, the display control unit 11 displays, in the substate display area 11b, only the substate setting items associated with the state selected in the selection step S2 among the plurality of substates can be set by the operation unit 12. (Second display step S3).

次に、ユーザによる操作部１２の操作により、第２の表示ステップＳ３でサブステート表示領域１１ｂに表示された設定項目のパラメータが設定される（設定ステップＳ４）。   Next, the parameter of the setting item displayed in the substate display area 11b in the second display step S3 is set by the operation of the operation unit 12 by the user (setting step S4).

次に、シーケンス発生部１６は、設定ステップＳ４で設定された設定項目のパラメータに応じたＴＳを現在の状態遷移に応じて発生する（シーケンス発生ステップＳ５）。   Next, the sequence generator 16 generates a TS corresponding to the parameter of the setting item set in the setting step S4 according to the current state transition (sequence generation step S5).

以上説明したように、本実施形態に係るシーケンス発生装置１は、状態遷移を制御するための設定項目をサブステートごとに明確に表示することで、これらの設定項目を設定する際の操作性が向上する。これにより、ユーザによる誤操作を防止して所望のＴＳを発生させることができる。また、本実施形態に係るシーケンス発生装置１は、ステートマシンで状態遷移が管理されるＤＵＴ１００とのシリアル通信を行う誤り率測定装置に適用することができる。   As described above, the sequence generator 1 according to the present embodiment clearly displays the setting items for controlling the state transition for each sub-state, so that the operability when setting these setting items is improved. improves. Thereby, it is possible to prevent an erroneous operation by the user and generate a desired TS. Further, the sequence generator 1 according to the present embodiment can be applied to an error rate measurement device that performs serial communication with the DUT 100 whose state transition is managed by a state machine.

（第２の実施形態）
図８は、第１の実施形態に係るシーケンス発生装置を備えた第２の実施形態に係る誤り率測定装置を示している。以下では、第１の実施形態に係るシーケンス発生装置の構成及び動作についての説明は省略する場合がある。 (Second Embodiment)
FIG. 8 shows an error rate measuring apparatus according to the second embodiment including the sequence generator according to the first embodiment. Hereinafter, the description of the configuration and operation of the sequence generator according to the first embodiment may be omitted.

図８に示すように、本実施形態に係る誤り率測定装置２は、シーケンス発生装置１と、ＤＵＴ１００に対して誤り率測定を行う誤り率測定部２１と、表示部２２と、操作部２３と、制御部２４と、を備える。   As shown in FIG. 8, the error rate measurement device 2 according to the present embodiment includes a sequence generator 1, an error rate measurement unit 21 that performs error rate measurement on the DUT 100, a display unit 22, and an operation unit 23. The control part 24 is provided.

シーケンス発生装置１のシーケンス発生部１６は、ステートをループバックステートに遷移させるＴＳをＤＵＴ１００に送信した後に、ＤＵＴ１００に誤り率測定のためのパルスパターンを送信する。   The sequence generator 16 of the sequence generator 1 transmits a pulse pattern for error rate measurement to the DUT 100 after transmitting a TS that changes the state to the loopback state to the DUT 100.

誤り率測定部２１は、シーケンス発生装置１から送信されたパルスパターンの受信に伴うＤＵＴ１００からの被測定信号とパルスパターンとを比較して、被測定信号のビット誤り率を測定するようになっている。   The error rate measurement unit 21 measures the bit error rate of the signal under measurement by comparing the signal under measurement from the DUT 100 accompanying the reception of the pulse pattern transmitted from the sequence generator 1 with the pulse pattern. Yes.

表示部２２は、例えばＬＣＤやＣＲＴなどの表示機器で構成され、制御部２４からの制御信号に応じて各種表示内容を表示するようになっている。この表示内容には、被測定信号のビット誤り率の測定結果などが含まれる。さらに、表示部２２は、測定条件などを設定するためのボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象を表示するものであってもよい。なお、表示部２２はシーケンス発生装置１の表示部１３で代用してもよい。   The display unit 22 is configured by a display device such as an LCD or a CRT, for example, and displays various display contents according to a control signal from the control unit 24. This display content includes the measurement result of the bit error rate of the signal under measurement. Further, the display unit 22 may display an operation target such as a button, a soft key, a pull-down menu, and a text box for setting measurement conditions. The display unit 22 may be replaced with the display unit 13 of the sequence generator 1.

操作部２３は、キーボード、タッチパネル、又はマウスのような入力デバイスを含んで構成される。あるいは前述のように、操作部２３は、ボタン、ソフトキー、プルダウンメニュー、テキストボックスなどの操作対象が表示部２２に表示される構成であってもよい。なお、操作部２３はシーケンス発生装置１の操作部１２で代用してもよい。   The operation unit 23 includes an input device such as a keyboard, a touch panel, or a mouse. Alternatively, as described above, the operation unit 23 may have a configuration in which operation objects such as buttons, soft keys, pull-down menus, and text boxes are displayed on the display unit 22. Note that the operation unit 23 may be replaced by the operation unit 12 of the sequence generator 1.

制御部２４は、例えばＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＨＤＤなどを含むマイクロコンピュータで構成され、誤り率測定装置２を構成する上記各部の動作を制御するようになっている。   The control unit 24 is composed of, for example, a microcomputer including a CPU, a ROM, a RAM, an HDD, and the like, and controls operations of the above-described units constituting the error rate measuring apparatus 2.

以上、説明したように、本実施形態に係る誤り率測定装置２は、ステートマシンで状態遷移が管理されるＤＵＴ１００とのシリアル通信を行う誤り率測定装置において、状態遷移に関する設定項目を設定する際の操作性を向上させ、ユーザによる誤操作を防止して所望のＴＳを発生させることができる。   As described above, the error rate measurement device 2 according to the present embodiment sets the setting items related to state transition in the error rate measurement device that performs serial communication with the DUT 100 whose state transition is managed by the state machine. The user-friendliness can be improved, and a desired TS can be generated by preventing an erroneous operation by the user.

１ シーケンス発生装置
２ 誤り率測定装置
１１ 表示制御部
１１ａ ステート表示領域
１１ｂ サブステート表示領域
１２ 操作部
１３ 表示部
１４ パラメータ設定部
１５ 記憶部
１６ シーケンス発生部
１７ 制御部
２１ 誤り率測定部
２２ 表示部
２３ 操作部
２４ 制御部
１００ ＤＵＴ（被試験対象） DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sequence generator 2 Error rate measuring device 11 Display control part 11a State display area 11b Substate display area 12 Operation part 13 Display part 14 Parameter setting part 15 Storage part 16 Sequence generation part 17 Control part 21 Error rate measurement part 22 Display part 23 Operation part 24 Control part 100 DUT (test object)

Claims (4)

複数のステート、及び、前記複数のステートに関連付けられた複数のサブステート間の状態遷移を制御するトレーニングシーケンスを発生して、当該トレーニングシーケンスを被試験対象（１００）に送信するシーケンス発生装置（１）であって、
操作入力を行うための操作部（１２）と、
各前記ステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示するステート表示領域（１１ａ）と、各前記ステートに関連付けられた複数の前記サブステートに関する設定項目を前記操作部により設定可能に表示するサブステート表示領域（１１ｂ）とを表示部（１３）に表示させる制御を行う表示制御部（１１）と、
前記操作部により設定された前記設定項目のパラメータに応じた前記トレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生部（１６）と、を備え、
前記表示制御部は、前記複数のサブステートのうち、前記操作部により選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記サブステート表示領域に表示することを特徴とするシーケンス発生装置。 A sequence generator (1) that generates a training sequence that controls a plurality of states and state transitions between a plurality of substates associated with the plurality of states, and transmits the training sequence to the test target (100). ) And
An operation unit (12) for performing operation input;
A state display area (11a) for displaying the state name of each state so as to be selectable by the operation unit, and a sub for displaying setting items relating to the plurality of substates associated with each state by the operation unit. A display control section (11) for controlling the display of the state display area (11b) on the display section (13);
A sequence generation unit (16) that generates the training sequence according to the parameter of the setting item set by the operation unit according to the state transition,
The display control unit displays, in the sub-state display area, only the sub-state setting item associated with the state selected by the operation unit among the plurality of sub-states. 前記複数のステートは、前記被試験対象に対してループバックテストを実行するためのループバックステートを含んでおり、
前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信することを特徴とする請求項１に記載のシーケンス発生装置。 The plurality of states include a loopback state for executing a loopback test on the test object,
The sequence generator transmits a pulse pattern for measuring an error rate to the test target after transmitting the training sequence for transitioning the state to a loopback state to the test target. Item 2. The sequence generator according to Item 1. 請求項１又は請求項２に記載のシーケンス発生装置と、被試験対象（１００）に対して誤り率測定を行う誤り率測定部（２１）とを備える誤り率測定装置（２）であって、
前記シーケンス発生部は、前記ステートをループバックステートに遷移させる前記トレーニングシーケンスを前記被試験対象に送信した後に、前記被試験対象に誤り率測定のためのパルスパターンを送信し、
前記誤り率測定部は、前記パルスパターンの受信に伴う前記被試験対象からの被測定信号と前記パルスパターンとを比較して、前記被測定信号の誤り率を測定することを特徴とする誤り率測定装置。 An error rate measuring device (2) comprising: the sequence generator according to claim 1 or claim 2; and an error rate measuring unit (21) that performs error rate measurement on a device under test (100),
The sequence generation unit transmits a pulse pattern for error rate measurement to the test target, after transmitting the training sequence for transitioning the state to a loopback state to the test target,
The error rate measuring unit compares the signal under measurement from the target under test with reception of the pulse pattern and the pulse pattern, and measures the error rate of the signal under measurement. measuring device. 請求項１又は請求項２に記載のシーケンス発生装置を用いるシーケンス発生方法であって、
前記ステート表示領域に、前記複数のステートのステート名を前記操作部により選択可能に表示する第１の表示ステップ（Ｓ１）と、
前記第１の表示ステップで表示された前記複数のステートの中から１つのステートを前記操作部により選択する選択ステップ（Ｓ２）と、
前記サブステート表示領域に、前記複数のサブステートのうち、前記選択ステップで選択されたステートに関連付けられたサブステートの設定項目のみを前記操作部により設定可能に表示する第２の表示ステップ（Ｓ３）と、
前記第２の表示ステップで表示された前記設定項目を前記操作部により設定する設定ステップ（Ｓ４）と、
前記設定ステップで設定された前記設定項目のパラメータに応じたトレーニングシーケンスを前記状態遷移に応じて発生するシーケンス発生ステップ（Ｓ５）と、を含むことを特徴とするシーケンス発生方法。 A sequence generation method using the sequence generation device according to claim 1 or 2,
A first display step (S1) for displaying state names of the plurality of states in the state display area so as to be selectable by the operation unit;
A selection step (S2) of selecting one state from the plurality of states displayed in the first display step by the operation unit;
A second display step (S3) of displaying in the sub-state display area only the setting items of the sub-state associated with the state selected in the selection step among the plurality of sub-states in a manner that can be set by the operation unit. )When,
A setting step (S4) for setting the setting items displayed in the second display step by the operation unit;
A sequence generation step (S5), which generates a training sequence corresponding to the parameter of the setting item set in the setting step according to the state transition.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7500807B1 (en) 2023-03-20 2024-06-17 アンリツ株式会社 Error rate measurement device and error rate measurement method
JP7508625B1 (en) 2023-03-20 2024-07-01 アンリツ株式会社 Error rate measurement device and error rate measurement method
JP7508624B1 (en) 2023-03-20 2024-07-01 アンリツ株式会社 Error rate measurement device and error rate measurement method
JP7508623B1 (en) 2023-03-20 2024-07-01 アンリツ株式会社 Error rate measurement device and error rate measurement method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005164338A (en) * 2003-12-01 2005-06-23 Fujitsu Ten Ltd Inspection device for control unit, pattern signal generation device and inspection program generation device
JP2006211638A (en) * 2004-12-27 2006-08-10 Tsp:Kk Scenario editing apparatus, dummy base station test simulator for wireless communication, dummy terminal test simulator for wireless communication, scenario editing method, test processing method, computer readable storage medium with program stored thereon, and program
WO2007102485A1 (en) * 2006-03-06 2007-09-13 Anritsu Corporation Test signal generation device
EP1898555A1 (en) * 2006-09-06 2008-03-12 Agilent Technologies, Inc. A test device comprising a programmable sequencer for testing a link initialization behavior of a dut

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005164338A (en) * 2003-12-01 2005-06-23 Fujitsu Ten Ltd Inspection device for control unit, pattern signal generation device and inspection program generation device
JP2006211638A (en) * 2004-12-27 2006-08-10 Tsp:Kk Scenario editing apparatus, dummy base station test simulator for wireless communication, dummy terminal test simulator for wireless communication, scenario editing method, test processing method, computer readable storage medium with program stored thereon, and program
WO2007102485A1 (en) * 2006-03-06 2007-09-13 Anritsu Corporation Test signal generation device
EP1898555A1 (en) * 2006-09-06 2008-03-12 Agilent Technologies, Inc. A test device comprising a programmable sequencer for testing a link initialization behavior of a dut

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
野崎 原生, ＵＳＢ３．０設計のすべて 初版, vol. 第1版, JPN6017037707, 20 October 2011 (2011-10-20), pages 309 - 312 *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7500807B1 (en) 2023-03-20 2024-06-17 アンリツ株式会社 Error rate measurement device and error rate measurement method
JP7508625B1 (en) 2023-03-20 2024-07-01 アンリツ株式会社 Error rate measurement device and error rate measurement method
JP7508624B1 (en) 2023-03-20 2024-07-01 アンリツ株式会社 Error rate measurement device and error rate measurement method
JP7508623B1 (en) 2023-03-20 2024-07-01 アンリツ株式会社 Error rate measurement device and error rate measurement method

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