JP2017105066A - ヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法及びプログラム、記録ヘッドの調整方法、画像記録装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本実施形態に係るインクジェット記録装置を示す側面図であり、図2は平面図である。インクジェット記録装置10(画像記録装置の一例)は、媒体搬送部54(図12参照)によりY方向(第2方向の一例)に搬送される用紙1(記録媒体の一例)の記録面に、記録ヘッドであるインクジェットヘッド20(以下、単にヘッド20と呼ぶ)のノズル面20Aからインクを吐出して画像を形成するプリンタ(画像記録装置の一例)である。本実施形態において記録ヘッドとは、少なくとも記録媒体にドットを形成するための要素(記録素子)を含むものである。また、ヘッド20のY方向下流側にはスキャナ50(読取手段の一例)が備えられ、用紙1の記録面に形成された画像を読み取ることが可能に構成されている。
次に、互いに隣接するヘッドモジュール同士の重複領域について説明する。図7(a)は、互いに隣接するヘッドモジュール22−iと22−(i+1)との重複領域(重ね合わせ領域)26におけるノズル24の配列の一例を表す図であり、ここではヘッド20を鉛直方向(Z方向)上方から見てノズル24を透過させて示している。
図12は、本実施形態に係るインクジェット記録装置10の電気的構成を示すブロック図である。インクジェット記録装置10は、前述のヘッド20、スキャナ50の他、媒体搬送部54、調整機構56、及び制御部60を備えている。
本実施形態に係るインクジェットヘッドの調整は、モジュール間着弾位置ずれシフト量の計測において、精密に計測する精密計測手法と、粗く計測する粗計測手法とを併用する。図13は、本実施形態に係るインクジェットヘッドの調整方法の処理の一例を示すフローチャートである。ここでは、各ヘッドモジュール22の調整のうち、特にヘッドモジュール22−i及びヘッドモジュール22−(i+1)の調整について説明する。
次に、図13のステップS2の粗計測の処理の詳細について、図15に示すフローチャートを用いて説明する。
次に、精密計測手法の詳細について、図18に示すフローチャートを用いて説明する。
総ノズル数の最小値は変換係数が最小のラインの数により決定する。また、ランダム着弾位置ずれσは、ヘッド20全体のノズル数の着弾位置ずれ量の標準偏差σである。
精密計測手法の計測精度及び測定可能域(第1ダイナミックレンジ)をそれぞれPA、PD、粗計測手法の計測精度及び測定可能域(第2ダイナミックレンジの一例)をそれぞれRA、RDとすると、これらは下記の関係を有する。
PD<RD (精密計測手法よりも粗計測手法の方が測定可能域が広い)…(式3)
RA<PD (粗計測手法の精度は精密計測手法の測定可能域よりも細かい)…(式4)
本実施形態において、精密計測手法には特許文献1に記載された技術を用いることができる。一方で、粗計測手法は精密計測手法に対して上記式2〜式4の関係を満たす必要がある。
RX>PD… (式5)
を満たすか否か、即ち粗計測手法の計測結果が精密計測手法の測定可能域を超えたか否かを判断する(図13のステップS4)。この判断が正の場合はRXを、否の場合はPXを真のモジュール間着弾位置ずれシフト量とみなす。
Claims (11)
- 複数の記録素子が配置されたヘッドモジュールを第1方向に複数接続して繋ぎ合わせ、互いに隣接する前記ヘッドモジュール同士に前記第1方向と交差する第2方向に重ね合わせ領域を有する記録ヘッドの前記ヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法において、
前記記録ヘッドにより記録媒体に第1計測チャートを記録する第1計測チャート記録工程と、
前記記録された第1計測チャートを読取手段によって読み取って前記第1計測チャートの読取データを取得する第1計測チャート読取工程と、
前記第1計測チャートの読取データを第1ダイナミックレンジで解析して前記ヘッドモジュール間の前記第1方向の位置ずれシフト量を第1算術精度で算出する精密解析工程と、
前記記録ヘッドにより記録媒体に第2計測チャートを記録する第2計測チャート記録工程と、
前記記録された第2計測チャートを読取手段によって読み取って前記第2計測チャートの読取データを取得する第2計測チャート読取工程と、
前記第2計測チャートの読取データを前記第1ダイナミックレンジより広い第2ダイナミックレンジで解析して前記ヘッドモジュール間の前記第1方向の位置ずれシフト量を前記第1算術精度より粗い第2算術精度であって前記第1ダイナミックレンジよりも細かい第2算術精度で算出する粗解析工程と、
前記粗解析工程によって算出した前記第2算術精度の位置ずれシフト量が前記第1ダイナミックレンジを超える場合は前記第2算術精度の位置ずれシフト量を前記ヘッドモジュール間の前記第1方向の位置ずれシフト量として選択し、前記第2算術精度の位置ずれシフト量が前記第1ダイナミックレンジ以内の場合は前記精密解析工程によって算出した前記第1算術精度の位置ずれシフト量を前記ヘッドモジュール間の前記第1方向の位置ずれシフト量として選択する計測結果選択工程と、
を備えたヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法。 - 前記第2計測チャート記録工程は、前記互いに隣接するヘッドモジュールのそれぞれにおいて独立に前記第2計測チャートを記録し、
前記粗解析工程は、前記互いに隣接するヘッドモジュールの物理的な位置をそれぞれ独立に算出する請求項1に記載のヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法。 - 前記第2計測チャート記録工程は、前記互いに隣接するヘッドモジュールからそれぞれ予め定められた複数の記録素子によって複数の線画からなる前記第2計測チャートを記録し、
前記粗解析工程は、前記複数の線画の読取データを解析して前記互いに隣接するヘッドモジュールの物理的な位置をそれぞれ独立に算出する請求項2に記載のヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法。 - 前記粗解析工程では、前記複数の線画の読取データに最小二乗法を適用して前記読取手段の読取画素の前記第1方向の位置と記録素子の前記第1方向の位置との写像関数を生成する請求項3に記載のヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法。
- 前記粗解析工程は、前記写像関数に基づいて前記読取手段の読取分解能を算出する請求項4に記載のヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法。
- 前記線画は前記第2方向に沿って延びる線画であり、
前記線画の前記第1方向の長さは前記読取手段の読取分解能よりも長い請求項3から5のいずれか1項に記載のヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法。 - 前記第1計測チャート記録工程は、前記互いに隣接するヘッドモジュールを併用して複合的に前記第1計測チャートを記録し、
前記精密解析工程は、前記互いに隣接するヘッドモジュールの物理的な位置を従属的に算出する請求項1から6のいずれか1項に記載のヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法。 - 1枚の記録媒体に前記第1計測チャート記録工程及び前記第2計測チャート記録工程を行う請求項1から7のいずれか1項に記載のヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法。
- 請求項1から8のいずれか1項に記載のヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法を用いるヘッドモジュール間の位置ずれ解析プログラム。
- 請求項1から8のいずれか1項に記載のヘッドモジュール間の位置ずれ解析方法と、
前記計測結果選択工程で選択された前記ヘッドモジュール間の前記第1方向の位置ずれシフト量に基づいて前記互いに隣接するヘッドモジュールの位置ずれを調整する調整工程と、
を備えた記録ヘッドの調整方法。 - 複数の記録素子が配置されたヘッドモジュールを第1方向に複数接続して繋ぎ合わせ、互いに隣接する前記ヘッドモジュール同士に前記第1方向と交差する第2方向に重ね合わせ領域を有する記録ヘッドと、
前記記録ヘッドと記録媒体とを相対的に移動させる移動手段と、
前記記録ヘッドにより前記記録媒体に第1計測チャートを記録する第1計測チャート記録手段と、
前記記録された第1計測チャートを読み取って前記第1計測チャートの読取データを取得する第1計測チャート読取手段と、
前記第1計測チャートの読取データを第1ダイナミックレンジで解析して前記ヘッドモジュール間の前記第1方向の位置ずれシフト量を第1算術精度で算出する精密解析手段と、
前記記録ヘッドにより前記記録媒体に第2計測チャートを記録する第2計測チャート記録手段と、
前記記録された第2計測チャートを読み取って前記第2計測チャートの読取データを取得する第2計測チャート読取手段と、
前記第2計測チャートの読取データを前記第1ダイナミックレンジより広い第2ダイナミックレンジで解析して前記ヘッドモジュール間の前記第1方向の位置ずれシフト量を前記第1算術精度より粗い第2算術精度であって前記第1ダイナミックレンジよりも細かい第2算術精度で算出する粗解析手段と、
前記粗解析手段によって算出した前記第2算術精度の位置ずれシフト量が前記第1ダイナミックレンジを超える場合は前記第2算術精度の位置ずれシフト量を前記ヘッドモジュール間の前記第1方向の位置ずれシフト量として選択し、前記第2算術精度の位置ずれシフト量が前記第1ダイナミックレンジ以内の場合は前記精密解析手段によって算出した前記第1算術精度の位置ずれシフト量を前記ヘッドモジュール間の前記第1方向の位置ずれシフト量として選択する計測結果選択手段と、
を備えた画像記録装置。
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