JP2016510899A - 自動テストシステムでの低待ち時間通信の方法及び装置 - Google Patents
自動テストシステムでの低待ち時間通信の方法及び装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016510899A JP2016510899A JP2016500809A JP2016500809A JP2016510899A JP 2016510899 A JP2016510899 A JP 2016510899A JP 2016500809 A JP2016500809 A JP 2016500809A JP 2016500809 A JP2016500809 A JP 2016500809A JP 2016510899 A JP2016510899 A JP 2016510899A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- buffers
- communication path
- aggregated
- message
- circuits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004891 communication Methods 0.000 title claims abstract description 97
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 50
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 188
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims abstract description 227
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 claims abstract description 74
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 claims abstract description 74
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000004931 aggregating effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 230000009471 action Effects 0.000 description 7
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 7
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 4
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31907—Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/3193—Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
- G01R31/31935—Storing data, e.g. failure memory
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Power Engineering (AREA)
Abstract
Description
Claims (42)
- 複数の連続サイクルでメッセージを処理するシステムであって、
それぞれの第1の回路がメッセージを出力するように構成される複数の第1の回路であって、同期して動作するように構成される複数の第1の回路と、
それぞれのバッファが各第1の回路に関連付けられて前記各第1の回路が出力するメッセージを記憶するように構成される第1の複数のバッファと、
前記バッファから前記複数のメッセージを受信して前記メッセージの集計を実行することにより、集計された指示を生成するように構成される通信パスと、
同期して動作して前記集計された指示を受信するように構成される1以上の第2の回路と
を含み、
前記第1の複数のバッファのうちのバッファが、各第1の回路からのメッセージを異なる時間に記憶するように構成される、システム。 - それぞれのバッファが各第2の回路に関連付けられて前記通信パスからの前記集計された指示を記憶するように構成される第2の複数のバッファを更に含み、
前記第2の複数のバッファのうちのバッファが、前記通信パスからの前記集計された指示を異なる時間に記憶するように構成される、請求項1に記載のシステム。 - 前記第1の複数のバッファ及び前記第2の複数のバッファのうちのバッファは、先入れ先出し(FIFO)バッファである、請求項2に記載のシステム。
- 前記複数の第1の回路及び前記1以上の第2の回路は、同じ複数の回路からなる、請求項2に記載のシステム。
- 前記複数の第1の回路はそれぞれ、前記第1の複数のバッファの各バッファにメッセージを提供する出力を含み、
前記1以上の第2の回路はそれぞれ、前記第2の複数のバッファの各バッファから前記集計された指示を受信する入力を含み、
前記通信パスは、フォワードパス及びバックワードパスを含むループとして構成され、
前記フォワードパスは、前記第1の複数のバッファのバッファを順次接続し、
前記バックワードパスは、前記第2の複数のバッファのバッファを順次接続する、請求項4に記載のシステム。 - 前記システムは自動テストシステムであり、
前記メッセージの少なくとも一部は、前記自動テストシステムでのテストの障害を表す、請求項1に記載のシステム。 - 前記複数の第1の回路及び/又は前記1以上の第2の回路は、テストパターン生成器を含む、請求項6に記載のシステム。
- 前記システムは、バックプレーンと、前記バックプレーンを介して結合された複数の計器モジュールとを含み、
前記複数の第1の回路及び/又は前記1以上の第2の回路は、前記複数の計器モジュールのうちの計器モジュールを備える、請求項6に記載のシステム。 - 前記メッセージはイベント指示である、請求項1に記載のシステム。
- 前記第2の複数のバッファは、前記複数の第2の回路に前記集計された指示を同時に提供するように構成される、請求項2に記載のシステム。
- 前記第1の複数のバッファは、前記通信パスに一定順序で結合され、
前記集計された指示は、複数のタイムスロットを有する信号を含み、
前記通信パスは、前記複数の第1の回路の各第1の回路からのメッセージに基づいて、前記複数のタイムスロットのタイムスロット内に値を設定することにより、前記メッセージの集計を実行するように構成される、請求項1に記載のシステム。 - 前記通信パスは少なくとも1つのトラックを含み、
前記少なくとも1つのトラックのうちの第1のトラックは、前記第1の複数のバッファのサブセットのうちの1つから、各サイクル中にメッセージを受信するように構成され、
前記通信パスは、前記サブセットのうちのバッファから受信された前記メッセージを前記第1のトラック上で集計することにより、前記メッセージの集計を実行するように構成される、請求項11に記載のシステム。 - 前記第1の複数のバッファの前記サブセットはN個のバッファを含み、
前記通信パスは、前記集計された指示を前記通信パスの第1の端部から前記通信パスの第2の端部へNサイクルで伝搬するように構成される、請求項12に記載のシステム。 - 前記1以上の第2の回路は、履歴データを記憶するように構成されるメモリを含み、
前記システムは、前記集計された指示に基づいて前記メモリ内のデータを保持又は破棄するように構成される、請求項13に記載のシステム。 - 前記メモリの滞留時間はNサイクルである、請求項14に記載のシステム。
- 前記第1の複数のバッファは、前記通信パスに一定順序で結合され、
前記第1の複数のバッファは、前記第1の複数のバッファの前記一定順序に基づいて、連続する複数期間中の第1の時間でのイベントを示す各メッセージを提供するように構成され、
一つの期間は固定数のサイクルである、請求項2に記載のシステム。 - 前記複数の第1の回路は、前記第1の複数のバッファのそれぞれに、前記第1の時間でのイベントを指示するメッセージを同時に出力するように構成され、
前記第2の複数のバッファはそれぞれ、前記各第2の回路に、前記第1の時間でのイベントの集計された指示を同時に提供するように構成される、請求項16に記載のシステム。 - 前記通信パスは複数のトラックを含み、
前記第1の複数のバッファは、各サイクル中、メッセージを連続する複数のトラックに提供するように構成され、
前記通信パスは、前記複数のトラック内のメッセージを集計することにより、前記メッセージの集計を実行するように構成される、請求項17に記載のシステム。 - 複数の連続サイクルでイベント情報を処理する方法であって、
第1のサイクル中、複数の第1の回路のそれぞれにおいてメッセージを生成することと、
可変長の時間にわたり、各メッセージを第1の複数のバッファの1つにバッファリングすることであって、前記第1の複数のバッファのそれぞれには、前記複数の第1の回路の1つが関連付けられることと、
第2のサイクル中、前記第1の複数のバッファのうちの第1のバッファに結合された前記通信パスの第1の位置に値を設定することであって、前記第1の複数のバッファは、前記通信パスに第1の順序で結合されることと、
前記第2のサイクルに続く複数のサイクルのそれぞれにおいて、前記値を前記通信パスに沿って、前記第1の順序で後続バッファに関連付けられた後続位置へ通信することと、前記後続位置での前記バッファからのメッセージとともに前記値を集計することで前記値を更新することとにより、集計された指示を生成することと、
第3のサイクル中、前記集計された指示を1以上の第2の回路のそれぞれに提供することと
を含む、方法。 - 前記集計された指示を生成した後かつ前記第3のサイクルの前に、
複数のサイクルのそれぞれにおいて、前記通信パスに沿って前記集計された指示を、前記通信パスに第2の順序で結合された第2の複数のバッファに通信することと、
可変長の時間にわたり、前記集計された指示を前記第2の複数のバッファのそれぞれにバッファリングすることと
を更に含み、
各第2の回路には、前記第2の複数のバッファの1つが関連付けられる、請求項19に記載の方法。 - 前記複数の第1の回路及び前記複数の第2の回路は、同じ複数の回路からなる、請求項19に記載の方法。
- 前記通信パスは、フォワードパス及びバックワードパスを含むループとして構成され、
前記フォワードパスは、前記第1の複数のバッファのバッファを順次接続し、
前記バックワードパスは、前記第2の複数のバッファのバッファを順次接続する、請求項21に記載の方法。 - 前記システムは自動テストシステムであり、
前記メッセージの少なくとも一部は、前記自動テストシステムでのテストの障害を表す、請求項19に記載の方法。 - 前記複数の第1の回路及び/又は前記複数の第2の回路は、テストパターン生成器を含む、請求項23に記載の方法。
- 前記集計された指示は、複数のタイムスロットを有する信号を含み、
前記値を更新することは、前記通信パスに沿って通信された前記値を前記第1の複数のバッファの各バッファからのメッセージとともに集計することにより、前記複数のタイムスロットのタイムスロット内で前記値を集計することを含む、請求項19に記載の方法。 - 前記通信パスは少なくとも1つのトラックを含み、
前記少なくとも1つのトラックのうちの第1のトラックは、各サイクル中、前記第1の複数のバッファのサブセットのうちの1つからメッセージを受信し、
前記値を更新することは、前記値を前記サブセットのバッファから受信されるメッセージとともに集計することを含む、請求項25に記載の方法。 - 前記第2の複数のバッファは、履歴データを記憶するように構成されるメモリを含み、
前記メモリ内のデータは、前記集計された指示に基づいて保持又は破棄される、請求項26に記載の方法。 - 前記第1の複数のバッファは、前記第1の複数のバッファの前記順序に基づいて、連続サイクル中に各メッセージを提供する、請求項19に記載の方法。
- 前記通信パスは複数のトラックを含み、
前記第1の複数のバッファは、各サイクル中、連続する複数のトラックにメッセージを提供し、
前記値を更新することは、前記複数のトラック内の前記値を集計することを含む、請求項28に記載の方法。 - 前記メッセージはイベント指示である、請求項19に記載の方法。
- 通信パスがメッセージを搬送する自動テストシステムのインタフェース回路であって、
複数の入力ポートと、
複数の出力ポートと、
参照クロック入力と、
前記参照クロック入力に結合された第1の複数のバッファであって、前記第1の複数のバッファのそれぞれが1つの入力ポートに結合されて前記参照クロックによって制御される時間でメッセージを受信するように構成される第1の複数のバッファと、
前記第1の複数のバッファから前記複数のメッセージを受信して前記メッセージの集計を実行することにより、集計された指示を生成するように構成される通信パスと、
それぞれのバッファが1つの出力ポートにそれぞれ結合され、集計された指示を記憶し、前記集計された指示を各出力ポートに同期して出力するようにそれぞれ構成される第2の複数のバッファと
を含む、インタフェース回路。 - 前記第1の複数のバッファ及び前記第2の複数のバッファのバッファは、先入れ先出し(FIFO)バッファである、請求項31に記載のインタフェース回路。
- 前記通信パスは、フォワードパス及びバックワードパスを含むループとして構成され、
前記フォワードパスは、前記第1の複数のバッファのバッファを順次接続し、
前記バックワードパスは、前記第2の複数のバッファのバッファを順次接続する、請求項31に記載のインタフェース回路。 - 前記インタフェース回路は、自動テストシステムにおいて使用されるように構成されるバックプレーンインタフェース回路であり、
前記メッセージの少なくとも部分は、前記自動テストシステムにおけるテストの障害を表す、請求項31に記載のインタフェース回路。 - 前記メッセージはイベント指示である、請求項31に記載のインタフェース回路。
- 前記第2の複数のバッファは、前記集計された指示を前記出力ポートに同時に提供するように構成される、請求項31に記載のインタフェース回路。
- 前記第1の複数のバッファは、前記通信パスにある順序で結合され、
前記集計された指示は、複数のタイムスロットを有する信号を含み、
前記通信パスは、前記複数の入力ポートの各入力ポートからのメッセージに基づいて前記複数のタイムスロットのタイムスロット内で値を設定することにより、前記メッセージの集計を実行するように構成される、請求項31に記載のインタフェース回路。 - 前記通信パスは少なくとも1つのトラックを含み、
前記少なくとも1つのトラックのうちの第1のトラックは、前記第1の複数のバッファのサブセットのうちの1つから、各サイクル中にメッセージを受信するように構成され、
前記通信パスは、前記サブセットのうちのバッファから受信される前記メッセージを前記第1のトラック上で集計することにより、前記メッセージの集計を実行するように構成される、請求項37に記載のインタフェース回路。 - 前記第1の複数のバッファの前記サブセットは、N個のバッファを含み、
前記通信パスは、前記集計された指示を前記通信パスの第1の端部から前記通信パスの第2の端部へNサイクルで伝搬するように構成される、請求項38に記載のインタフェース回路。 - 前記第1の複数のバッファは、前記通信パスに一定順序で結合され、
前記第1の複数のバッファは、前記第1の複数のバッファの前記一定順序に基づいて、連続する複数期間中の第1の時間でのイベントを示す各メッセージを提供するように構成される、請求項31に記載のインタフェース回路。 - 前記第2の複数のバッファはそれぞれ、前記第1の時間でのイベントの集計された指示を前記各出力ポートに同時に提供するように構成される、請求項40に記載のインタフェース回路。
- 前記通信パスは複数のトラックを含み、
前記第1の複数のバッファは、各サイクル中、メッセージを連続トラックに提供するように構成され、
前記通信パスは、前記複数のトラック内のメッセージを集計することにより、前記メッセージの集計を実行するように構成される、請求項41に記載のインタフェース回路。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/836,567 US9791511B2 (en) | 2013-03-15 | 2013-03-15 | Method and apparatus for low latency communication in an automatic testing system |
US13/836,567 | 2013-03-15 | ||
PCT/US2014/021695 WO2014149975A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-03-07 | Method and apparatus for low latency communication in an automatic testing system |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016510899A true JP2016510899A (ja) | 2016-04-11 |
JP2016510899A5 JP2016510899A5 (ja) | 2018-01-25 |
JP6473736B2 JP6473736B2 (ja) | 2019-02-20 |
Family
ID=51531675
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016500809A Active JP6473736B2 (ja) | 2013-03-15 | 2014-03-07 | 自動テストシステムでの低待ち時間通信の方法及び装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9791511B2 (ja) |
JP (1) | JP6473736B2 (ja) |
KR (1) | KR102151416B1 (ja) |
CN (1) | CN105074483B (ja) |
SG (1) | SG11201507175SA (ja) |
WO (1) | WO2014149975A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020165711A (ja) * | 2019-03-28 | 2020-10-08 | 株式会社アドバンテスト | 波形データ取得モジュールおよび試験装置 |
KR20220097159A (ko) * | 2020-12-30 | 2022-07-07 | 스타 테크놀로지스, 인코포레이션 | 반도체 특성 측정을 위한 스위칭 매트릭스 시스템 및 그 조작 방법 |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3532911B1 (en) | 2016-10-28 | 2022-09-21 | Insight Energy Ventures, LLC | Method of disaggregating an energy usage signal of a usage area |
EP3532961B1 (en) | 2016-10-28 | 2023-06-28 | Insight Energy Ventures, LLC | Method of intelligent demand response |
TWI760157B (zh) * | 2021-03-24 | 2022-04-01 | 德律科技股份有限公司 | 多核並行測試單一待測物的系統及方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07191830A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Toshiba Corp | 演算装置 |
JPH08505802A (ja) * | 1993-03-26 | 1996-06-25 | シーメンス メディカル システムズ インコーポレイテッド | 多重位相並列処理を持つディジタルビームフォーマ |
JP2008517267A (ja) * | 2004-10-15 | 2008-05-22 | テラダイン・インコーポレーテッド | 半導体デバイステスタのためのインターフェース装置 |
JP2009109488A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Tektronix Inc | シリアル・データ処理装置及び方法 |
WO2012114399A1 (ja) * | 2011-02-21 | 2012-08-30 | 日本電気株式会社 | 演算装置及び演算実行方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0454320B1 (en) * | 1990-04-20 | 1995-12-13 | Texas Instruments Incorporated | Scan test circuit for use with multiple frequency circuits |
US6625557B1 (en) * | 1998-07-10 | 2003-09-23 | Ltx Corporation | Mixed signal device under test board interface |
US20040187049A1 (en) | 2003-02-27 | 2004-09-23 | Nptest, Inc. | Very small pin count IC tester |
US7080168B2 (en) | 2003-07-18 | 2006-07-18 | Intel Corporation | Maintaining aggregate data counts for flow controllable queues |
US20050207436A1 (en) | 2004-03-18 | 2005-09-22 | Anujan Varma | Switching device based on aggregation of packets |
EP1600784A1 (en) | 2004-05-03 | 2005-11-30 | Agilent Technologies, Inc. | Serial/parallel interface for an integrated circuit |
CN101158708B (zh) * | 2007-10-23 | 2011-05-04 | 无锡汉柏信息技术有限公司 | 基于可编程逻辑器件的多芯片自动测试方法 |
-
2013
- 2013-03-15 US US13/836,567 patent/US9791511B2/en active Active
-
2014
- 2014-03-07 JP JP2016500809A patent/JP6473736B2/ja active Active
- 2014-03-07 SG SG11201507175SA patent/SG11201507175SA/en unknown
- 2014-03-07 KR KR1020157025452A patent/KR102151416B1/ko active IP Right Grant
- 2014-03-07 CN CN201480013305.4A patent/CN105074483B/zh active Active
- 2014-03-07 WO PCT/US2014/021695 patent/WO2014149975A1/en active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08505802A (ja) * | 1993-03-26 | 1996-06-25 | シーメンス メディカル システムズ インコーポレイテッド | 多重位相並列処理を持つディジタルビームフォーマ |
JPH07191830A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Toshiba Corp | 演算装置 |
JP2008517267A (ja) * | 2004-10-15 | 2008-05-22 | テラダイン・インコーポレーテッド | 半導体デバイステスタのためのインターフェース装置 |
JP2009109488A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Tektronix Inc | シリアル・データ処理装置及び方法 |
WO2012114399A1 (ja) * | 2011-02-21 | 2012-08-30 | 日本電気株式会社 | 演算装置及び演算実行方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020165711A (ja) * | 2019-03-28 | 2020-10-08 | 株式会社アドバンテスト | 波形データ取得モジュールおよび試験装置 |
JP7316818B2 (ja) | 2019-03-28 | 2023-07-28 | 株式会社アドバンテスト | 波形データ取得モジュールおよび試験装置 |
KR20220097159A (ko) * | 2020-12-30 | 2022-07-07 | 스타 테크놀로지스, 인코포레이션 | 반도체 특성 측정을 위한 스위칭 매트릭스 시스템 및 그 조작 방법 |
JP2022104861A (ja) * | 2020-12-30 | 2022-07-12 | スター テクノロジーズ インコーポレイテッド | 半導体特性測定のためのスイッチングマトリックスシステムおよびその操作方法 |
US11953518B2 (en) | 2020-12-30 | 2024-04-09 | Star Technologies, Inc. | Switching matrix system and operating method thereof for semiconductor characteristic measurement |
KR102659286B1 (ko) | 2020-12-30 | 2024-04-22 | 스타 테크놀로지스, 인코포레이션 | 반도체 특성 측정을 위한 스위칭 매트릭스 시스템 및 그 조작 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN105074483B (zh) | 2018-01-05 |
JP6473736B2 (ja) | 2019-02-20 |
KR20150131052A (ko) | 2015-11-24 |
WO2014149975A1 (en) | 2014-09-25 |
US20140278177A1 (en) | 2014-09-18 |
CN105074483A (zh) | 2015-11-18 |
SG11201507175SA (en) | 2015-10-29 |
KR102151416B1 (ko) | 2020-09-03 |
US9791511B2 (en) | 2017-10-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6473736B2 (ja) | 自動テストシステムでの低待ち時間通信の方法及び装置 | |
KR101297513B1 (ko) | 범용 프로토콜 엔진 | |
JP2016510899A5 (ja) | ||
US20060020860A1 (en) | Digital signature generation for hardware functional test | |
KR102681969B1 (ko) | 논리 회로의 at-speed 테스트를 위한 시스템-온-칩 및 그것의 동작 방법 | |
WO2003042876A2 (en) | Synchronization of distributed simulation nodes by keeping timestep schedulers in lockstep | |
US9208008B2 (en) | Method and apparatus for multi-chip reduced pin cross triggering to enhance debug experience | |
JP2005091038A (ja) | 試験装置 | |
JP2009048674A (ja) | 半導体集積回路 | |
US8972806B2 (en) | Self-test design for serializer / deserializer testing | |
CN103592594A (zh) | 电路测试***及电路测试方法 | |
US8359504B1 (en) | Digital functional test system | |
JP4351677B2 (ja) | 試験装置 | |
US10288685B2 (en) | Multi-bank digital stimulus response in a single field programmable gate array | |
JP2005091037A (ja) | 試験装置及び試験方法 | |
US8254187B2 (en) | Data transfer apparatus, and method, and semiconductor circuit | |
WO2005026758A1 (ja) | 試験装置 | |
JP2003167031A (ja) | Ic試験装置 | |
KR101364267B1 (ko) | 대규모 집적회로 테스터에서 타이밍 발생 및 포맷 장치 | |
JP5942417B2 (ja) | シミュレーション装置、シミュレーション方法及びシミュレーションプログラム | |
JP2004199425A (ja) | エミュレーション方法及び装置 | |
KR20120065257A (ko) | 반도체 시험 장치 | |
WO2005026757A1 (ja) | 試験装置及び書込制御回路 | |
CN118011941A (zh) | 多fpga分布式探针集中触发同步方法及仿真验证平台 | |
Singh | Testing and Testability of Virtex-4 FPGAs |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150916 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161216 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20171025 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20171031 |
|
A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524 Effective date: 20171208 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180508 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180719 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190108 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190128 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6473736 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |