JP2016156814A - 光学フィルムの不良検出装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明による光学フィルムの不良検出装置は、少なくとも一つの検査装置から光学フィルムロール(roll)の不良情報を受信する受信部と、前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する不良位置決定部と、前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する探索部と、前記探索された領域に含まれている前記不良の密集度に基づいて密集性不良を検出する不良検出部とを含む。
【選択図】図1
Description
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する不良位置決定部と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上における既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する探索部と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の密集度に基づいて密集性不良を検出する不良検出部とを含む光学フィルムの不良検出装置。
各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定し、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を設定し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
前記2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
前記2次元平面において一定の大きさの探索領域を設定し、前記探索領域の位置を一定距離だけ順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出装置。
前記探索された領域の位置を格納するメモリ部と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する候補領域決定部と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の前記密集度を算出し、前記算出された密集度に基づいて、前記不良候補領域内における前記密集性不良の存在有無を判断する不良判断部とを含む光学フィルムの不良検出装置。
前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出装置。
前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出装置。
前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出装置。
2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する光学フィルムの不良検出装置。
前記不良候補領域の単位面積当たりの前記不良の数、及び前記不良候補領域内において各々の前記不良が占める面積の合計のうちの少なくとも一つを含む光学フィルムの不良検出装置。
前記最小領域の面積を含む光学フィルムの不良検出装置。
前記密集度が既に設定された値以上の場合、前記密集性不良と判断する光学フィルムの不良検出装置。
前記密集性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記密集性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する不良検出情報生成部を含む光学フィルムの不良検出装置。
前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する光学フィルムの不良検出装置。
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の密集度に基づいて密集性不良を検出する段階とを含む光学フィルムの不良検出方法。
前記2次元平面における各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定し、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を設定し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
前記2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
前記2次元平面において一定の大きさの探索領域を設定し、前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する光学フィルムの不良検出方法。
前記探索された領域の位置を格納する段階と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する段階と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の前記密集度を算出する段階と、
前記算出された密集度に基づいて、前記不良候補領域内における前記密集性不良の存在有無を判断する段階とを含む光学フィルムの不良検出方法。
前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出方法。
前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出方法。
前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小領域を前記不良候補領域として決定する光学フィルムの不良検出方法。
2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する光学フィルムの不良検出方法。
前記不良候補領域の単位面積当たりの前記不良の数、及び前記不良候補領域内において各々の前記不良が占める面積の合計のうちの少なくとも一つを含む光学フィルムの不良検出方法。
前記最小領域の面積を含む光学フィルムの不良検出方法。
前記密集度が既に設定された値以上の場合、前記密集性不良と判断する光学フィルムの不良検出方法。
前記密集性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記密集性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する段階をさらに含む光学フィルムの不良検出方法。
前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する段階をさらに含む光学フィルムの不良検出方法。
少なくとも一つの検査装置から光学フィルムロール(roll)の不良情報を受信する段階と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の密集度に基づいて密集性不良を検出する段階と、をコンピュータに実行させるために記録媒体に格納されたコンピュータプログラム。
110:受信部
120:不良位置決定部
130:探索部
140:不良検出部
141:メモリ部
142:候補領域決定部
143:不良判断部
144:不良検出情報生成部
Claims (31)
- 少なくとも一つの検査装置から光学フィルムロール(roll)の不良情報を受信する受信部と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する不良位置決定部と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する探索部と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の密集度に基づいて密集性不良を検出する不良検出部とを含む、光学フィルムの不良検出装置。 - 前記探索部は、各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定し、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する、請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記探索部は、各々の不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を設定し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する、請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記探索部は、前記2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する、請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記探索部は、前記2次元平面において一定の大きさの探索領域を設定し、前記探索領域の位置を一定距離だけ順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する、請求項1に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記不良検出部は、
前記探索された領域の位置を格納するメモリ部と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する候補領域決定部と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の前記密集度を算出し、前記算出された密集度に基づいて、前記不良候補領域内における前記密集性不良の存在有無を判断する不良判断部とを含む、請求項1ないし5のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。 - 前記候補領域決定部は、前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する、請求項6に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記候補領域決定部は、前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する、請求項7に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記候補領域決定部は、前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小領域を前記不良候補領域として決定する、請求項8に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記メモリ部は、2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する、請求項6ないし9のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記密集度は、前記不良候補領域の単位面積当たりの前記不良の数、及び前記不良候補領域内において各々の前記不良が占める面積の合計のうちの少なくとも一つを含む、請求項6ないし10のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記密集度は、前記最小領域の面積を含む、請求項9に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記不良判断部は、前記密集度が既に設定された値以上の場合、前記密集性不良と判断する、請求項6ないし12のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記不良検出部は、前記密集性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記密集性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する不良検出情報生成部を含む、請求項1ないし13のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 前記不良検出情報生成部は、前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する、請求項14に記載の光学フィルムの不良検出装置。
- 少なくとも一つの検査装置から光学フィルムロール(roll)の不良情報を受信する段階と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の密集度に基づいて密集性不良を検出する段階とを含む、光学フィルムの不良検出方法。 - 前記探索する段階は、前記2次元平面における各々の不良の位置に対して、前記各々の不良の位置を含む一定の大きさの探索領域を設定し、前記各々の不良の位置を中心に前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する、請求項16に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記探索する段階は、各不良の位置を中心座標とする一定の大きさの複数の探索領域を設定し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する、請求項16に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記探索する段階は、前記2次元平面を一定の大きさの複数の探索領域に分割し、分割された各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する、請求項16に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記探索する段階は、前記2次元平面において一定の大きさの探索領域を設定し、前記探索領域の位置を順次変更し、各探索領域のうち前記既に設定された数以上の前記不良が存在する前記領域を探索する、請求項16に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記検出する段階は、
前記探索された領域の位置を格納する段階と、
前記探索された領域の前記位置に基づいて、不良候補領域を決定する段階と、
前記不良候補領域に含まれている前記不良の前記密集度を算出する段階と、
前記算出された密集度に基づいて、前記不良候補領域内における前記密集性不良の存在有無を判断する段階とを含む、請求項16ないし20のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。 - 前記不良候補領域を決定する段階は、前記探索された領域を前記不良候補領域として決定する、請求項21に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記不良候補領域を決定する段階は、前記探索された領域のうち、重畳又は連続する領域が存在する場合、前記重畳する領域又は連続する領域を統合し、統合された領域を前記不良候補領域として決定する、請求項22に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記不良候補領域を決定する段階は、前記探索された領域又は前記統合された領域の各々に対して、各領域に含まれている前記不良を全て含む最小領域を前記不良候補領域として決定する、請求項23に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記格納する段階は、2次元配列を用いて、前記探索された領域の位置情報を格納する、請求項21ないし24のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記密集度は、前記不良候補領域の単位面積当たりの前記不良の数、及び前記不良候補領域内において各々の前記不良が占める面積の合計のうちの少なくとも一つを含む、請求項21ないし25のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記密集度は、前記最小領域の面積を含む、請求項24に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記判断する段階は、前記密集度が既に設定された値以上の場合、前記密集性不良と判断する、請求項21ないし27のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記密集性不良が検出された場合、前記光学フィルムの工程ラインにおける前記密集性不良の発生位置に関する情報を含む不良検出情報を生成する段階をさらに含む、請求項16ないし28のいずれかに記載の光学フィルムの不良検出方法。
- 前記不良検出情報を工程管理システムの管理者の端末、前記光学フィルムの前記工程ラインの作業者の端末、及び前記工程ライン上の警報装置のうちの少なくとも一つに伝送する段階をさらに含む、請求項29に記載の光学フィルムの不良検出方法。
- ハードウェアと結合され、
少なくとも一つの検査装置から光学フィルムロール(roll)の不良情報を受信する段階と、
前記不良情報に基づいて、前記光学フィルムロールに対応する2次元平面上における不良の位置を決定する段階と、
前記不良の位置に基づいて、前記2次元平面上で既に設定された数以上の前記不良が存在する領域を探索する段階と、
前記探索された領域に含まれている前記不良の密集度に基づいて密集性不良を検出する段階と、をコンピュータに実行させるために記録媒体に格納されたコンピュータプログラム。
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