JP2013185862A - 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明に係る欠陥検査装置は、検査対象物の画像を撮影する撮像部11と、画像を複数の領域に分割し、各領域に含まれる画素の輝度値を平均して分割画像を作成する画像生成部13と、複数の領域のうちの1つの領域の輝度値と当該領域の周囲に存在する領域の輝度値と比較して、欠陥候補領域を抽出する欠陥候補抽出部14と、欠陥候補領域に対して画像処理を行うことで欠陥を検出する欠陥検出部15を備える。
【選択図】図2
Description
(1)周辺視を用いた正常と差異がある部分の大局的な認識による、欠陥候補領域の抽出
(2)欠陥候補領域を精査することによる判断
の2ステップと考えられる。
本発明の実施の形態1に係る欠陥検査装置について、図1、2を参照して説明する。図1は、実施の形態1に係る欠陥検査装置の構成を示す図である。図1に示すように、欠陥検査装置10は、撮像部11、PC12、照明部13を備えている。図2は、PC12の構成を示す模式図である。図2に示すように、PC12は、画像生成部14、欠陥候補抽出部15、欠陥検出部16を備えている。
本発明の実施の形態2に係る検査方法について、図6を参照して説明する。図6は、実施の形態2に係る検査方法を説明するフロー図である。実施の形態2において、実施の形態1と異なる点は、検査対象物の画像を複数の領域に分割する格子の位相及び方向を変化させて生成した複数の処理画像を積算することにより、分割画像を生成する点である。
11 撮像部
12 PC
13 照明部
14 画像生成部
15 欠陥候補抽出部
16 欠陥検出部
Claims (7)
- 検査対象物の画像を撮影する撮像部と、
前記画像を複数の領域に分割し、各領域に含まれる画素の輝度値を平均して分割画像を作成する画像生成部と、
前記複数の領域のうちの1つの領域の輝度値と当該領域の周囲に存在する領域の輝度値と比較して、欠陥候補領域を抽出する欠陥候補抽出部と、
を備える欠陥検出装置。 - 前記欠陥候補領域に対して画像処理を行うことで欠陥を検出する欠陥検出部をさらに備える請求項1に記載の欠陥検出装置。
- 前記画像生成部は、前記画像を格子状に分割することを特徴とする請求項1又は2に記載の欠陥検出装置。
- 前記画像生成部は、
前記画像を複数の領域に分割した第1処理画像と、前記第1の処理画像と位相及び方向が異なる複数の領域に分割した第2処理画像とを生成し、
前記第1処理画像及び前記第2処理画像を用いて、前記分割画像を生成することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の欠陥検出装置。 - 検査対象物の画像を撮影し、
前記画像を複数の領域に分割し、各領域に含まれる画素の輝度値を平均して分割画像を作成し、
前記複数の領域のうちの1つの領域の輝度値と当該領域の周囲に存在する領域の輝度値と比較して、欠陥候補領域を抽出し、
前記欠陥候補領域に対して画像処理を行うことで欠陥を検出する、
欠陥検出方法。 - 前記画像を格子状に分割することを特徴とする請求項5に記載の欠陥検出方法。
- 前記画像を複数の領域に分割した第1処理画像と、前記第1の処理画像と位相及び方向が異なる複数の領域に分割した第2処理画像とを生成し、
前記第1処理画像及び前記第2処理画像を用いて、前記分割画像を生成することを特徴とする請求項5又は6に記載の欠陥検出方法。
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