JP2016152550A - 撮像装置 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 112
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 38
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 46
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 19
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 14
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 6
- 101100371495 Colletotrichum gloeosporioides UBC1 gene Proteins 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000003530 single readout Methods 0.000 description 1
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- Measurement Of Radiation (AREA)
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Abstract
【課題】
異なる撮像モードにおける画素の欠陥を判別するのに有利な撮像装置を提供する。
【解決手段】
複数の画素が行列状に配置されたフラットパネルセンサと、前記複数の撮像モードにそれぞれ対応する複数の判別情報が格納されたメモリとを備え、前記判別情報は、それに対応する撮像モードにおいて、前記フラットパネルセンサから信号を読み出される各画素が正常画素か欠陥画素かを示す。
【選択図】 図2
異なる撮像モードにおける画素の欠陥を判別するのに有利な撮像装置を提供する。
【解決手段】
複数の画素が行列状に配置されたフラットパネルセンサと、前記複数の撮像モードにそれぞれ対応する複数の判別情報が格納されたメモリとを備え、前記判別情報は、それに対応する撮像モードにおいて、前記フラットパネルセンサから信号を読み出される各画素が正常画素か欠陥画素かを示す。
【選択図】 図2
Description
本発明は、デジタルX線撮像装置などの撮像装置に関するものである。
近年、デジタル画像として被写体のX線画像を撮像するX線撮像システムが開発されている。このX線撮像システムは、従来のフィルムを用いるX線写真システムと比較して、極めて広範囲のX線露出域に渡って画像を記録できるという利点を有している。
X線撮像システムでは、極めて広範囲のダイナミックレンジのX線を、例えばシンチレータを介して光電変換して電気信号として読み取り、この電気信号を更にデジタル信号に変換する。そして、デジタル信号を処理して、写真感光材料等の記録材料や表示装置に、可視画像としてX線画像を出力することにより、X線露光量がある程度変動しても良好なX線画像が得られるようになっている。
近年、撮像装置は画素の高精細化と大画素数化が進み、例えば、11インチ四方、2000画素×2000画素を超える大画面の撮像装置が開発されている。ユーザは、撮像対象部位やX線照射野に応じて、任意のサイズ指定・画素数指定での画像取得が可能となっている。
例えば、特許文献1には、適切なX線診断画像を得るために、ユーザの設定に応じて、撮像装置の全画素エリアの一部の領域を切出して画像出力する放射線撮像システムの技術が開示されている。
また、広範囲のダイナミックレンジのX線を画像化するために、例えば高感度と低感度の2つの感度で信号をそれぞれ取得し、画像データを生成する撮像装置が開発されている。この動作モードを達成する1つの方法として、2つの信号保持部を各センサに設け、各感度で得られた信号を、各保持部でそれぞれ保持して個別に読み出す方式が考えられる。特許文献2には、サンプルホールド回路を2つ備えた撮像装置が開示されている。
画素の中には出力する信号レベルが十分ではないような欠陥画素が含まれている場合がある。欠陥画素からの信号を含む画像信号の補正をするときは、欠陥画素の座標情報を保持したメモリからデータを読み出して欠陥画素を判別して補正を行う。複数の撮像モードが設定できる撮像装置においては、撮像モードに対応して欠陥画素の座標情報に基づき欠陥画素を判別するためのデータを生成する必要があるが、そのようなデータを生成する負担が大変だった。
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、異なる撮像モードにおいて画素の欠陥を判別するのに有利な撮像装置を提供することを目的とする。
本発明の撮像装置は、複数の撮像モードを備え、複数の画素が行列状に配置されたフラットパネルセンサと、前記複数の撮像モードにそれぞれ対応する複数の判別情報が格納されたメモリとを備え、前記判別情報は、それに対応する撮像モードにおいて、前記フラットパネルセンサから信号を読み出される各画素が正常画素か欠陥画素かを示す。
本発明によれば、異なる撮像モードにおいて画素の欠陥を判別するのに有利な撮像装置を提供できる。
以下、図を参照して本発明の実施の形態について詳細に説明する。
[実施形態1]
図1により、フラットパネル式の放射線撮像システム全体について説明する。放射線撮像システムは、撮像装置100、画像処理・システム制御装置101、画像表示装置102、X線発生装置103、放射線源としてのX線管104を備える。撮像時には画像処理・システム制御装置101により、撮像装置100とX線発生装置103が同期制御される。被写体を透過したX線は不図示のシンチレータにより可視光に変換され、光量に応じた光電変換がされた後A/D変換が行われる。X線照射に対応したフレームデータが撮像装置100から画像処理・システム制御装置101に転送され、画像処理が行われた後、画像表示装置102に放射線画像がリアルタイムに表示される。
図1により、フラットパネル式の放射線撮像システム全体について説明する。放射線撮像システムは、撮像装置100、画像処理・システム制御装置101、画像表示装置102、X線発生装置103、放射線源としてのX線管104を備える。撮像時には画像処理・システム制御装置101により、撮像装置100とX線発生装置103が同期制御される。被写体を透過したX線は不図示のシンチレータにより可視光に変換され、光量に応じた光電変換がされた後A/D変換が行われる。X線照射に対応したフレームデータが撮像装置100から画像処理・システム制御装置101に転送され、画像処理が行われた後、画像表示装置102に放射線画像がリアルタイムに表示される。
撮像装置100はフラットパネルセンサ105を有する。本実施形態のフラットパネルセンサ105には、光電変換素子が2次元状に配置されたシリコン半導体ウエハから短冊状に切り出されたCMOS型撮像素子を有する複数の矩形のエリアセンサ120が配置されている。矩形のエリアセンサ120が、平面基台上(不図示)に例えば16列×2行のマトリクス状にタイリングされている。エリアセンサ120は、タイリング用に開発されており、エリアセンサ120上に生成される光電変換素子を含む画素は等ピッチで行列状に配置されている。平面基台上で隣接するエリアセンサ120は、エリアセンサ同士の間の境界を挟んで光電変換素子が同じピッチになるように配置されている。フラットパネルセンサ105の上辺と下辺部には、マトリクス状に並んだエリアセンサ120の不図示の外部端子(電極パッド)が一列に並んで配置されている。エリアセンサ120の電極パッドは不図示のフレキシブルプリント配線板又はフレキシブルフラットケーブルで外部の回路と接続される。
エリアセンサ120の画素からの画像信号は、差動アンプ107を介し、A/D変換装置108に入力されてデジタル信号に変換される。この時、1つのエリアセンサ120に対して、差動アンプ107とA/D変換装置108を含む1系統の読み出し回路を配置する。読み出し回路を各エリアセンサ120に対応して配置することにより各エリアセンサ120の画像信号を、並行して読出し制御することが可能となり、画像信号を読出す処理の高速化が達成できる。
撮像制御部109は、画像処理・システム制御装置101との間での制御コマンドの通信、同期信号の送信及び画像処理・システム制御装置101への画像データの送信等を行う。また、撮像制御部109は、フラットパネルセンサ105の制御機能も備えており、フラットパネルセンサ105の駆動制御、撮像モード制御等を行う。さらに、撮像制御部109は、複数のA/D変換装置108によりアナログデジタル変換されたエリアセンサ120ごとの画像データをフレームデータに合成し、画像処理・システム制御装置101に転送する。
画像処理・システム制御装置101と撮像制御部109とはコマンド制御用インターフェース110、画像データインターフェース111等の通信インターフェースで接続されている。画像処理・システム制御装置101からはコマンド制御用インターフェース110を介して撮像制御部109へ撮像モードの設定、各種パラメータの設定、撮像開始の設定、撮像終了の設定等が行われる。また、撮像制御部109からはコマンド制御用インターフェース110を介して、画像処理・システム制御装置101へ撮像装置の状態情報等が通知される。画像データインターフェース111は、画像データを撮像制御部109から画像処理・システム制御装置101へ送るのに使用される。READY信号112は、撮像装置100が撮像可能状態になったことを撮像制御部109から画像処理・システム制御装置101へ伝える。外部同期信号113は、画像処理・システム制御装置101が撮像制御部109のREADY信号112を受け、撮像制御部109にX線曝射のタイミングを通知する。曝射許可信号114は、曝射許可信号114がイネーブルの間に画像処理・システム制御装置101からX線発生装置103に曝射の開始を通知するのに使用される。X線管104から曝射されたX線により、X線画像が形成される。
画像処理や画像データの通信速度は、撮像部の画素数が増えて扱うデータ量が増え、且つ、高速なフレームレートが要求されており、性能向上が求められる中、より、高速化が求められている。撮像装置100と画像処理・システム制御装置101との通信には、撮像装置100と画像処理・システム制御装置101との間の信号線数と通信速度を考慮し、双方向シリアル通信を採用してもよい。
図2により欠陥画素の補正処理について説明する。補正処理部は、例えば、FPGAで構成される。フラットパネルセンサ105の各画素が正常画素か欠陥画素かを示す判別情報はメモリ210に記憶されている。コントローラ201はメモリ210から判別情報の読み出し制御を行う。メモリ210としては、判別情報を高速に読出すことを可能とするために、DDRメモリ等が使用される。欠陥処理部202は、各エリアセンサ120から読み出された画像データに対して、補正処理を行う。欠陥処理部202は各エリアセンサ120から並行して画像データを読み出して並行処理するために、エリアセンサの数分が備えられる。例えば、エリアセンサが16列×2行で構成された場合は、32系統分の欠陥処理部202が用意される。
判別情報は、コントローラ201の読み出し制御部203によりメモリ210から読み出される。詳細は後述するが、エリアセンサ120から1行毎に順次画像データが読み出されるのに対応してメモリ210からも順次、判別情報が読み出される。判別情報はFIFO204を介して、セレクタ205により選択されて、各欠陥処理部202のシフトレジスタ207に書き込まれる。シフトレジスタ207への判別情報の書き込み処理は、エリアセンサ120から読み出される画像データの欠陥を補正するタイミングに間に合うように行われる。
ここで、FIFO204やシフトレジスタ207の容量は、1フレーム分用意する必要はなく、容量削減のため、行ごとの各データの処理に間に合う範囲で、例えば複数行分用意すればよい。欠陥処理部202には、エリアセンサ120から読み出された画像データが、FIFO206に順次書き込まれる。FIFO206に順次書き込まれた画像データに対して、シフトレジスタ207に書き込まれた判別情報を順次用いて、FIFO206に書き込まれた画像データが正常画素の画像データか欠陥画素の画像データかが判別される。判別は、読み出した画像データに対応する画素と判別情報が示す画素とを、FIFO206からの読み出しタイミングとシフトレジスタ207からの読み出しタイミングを調整することにより、対応付けて行う。画像データの読み出しの順番と判別情報の順番とが対応しているので、順次的に判別することができる。正常画素か欠陥画素かの判別結果に応じて補正部208にて画像データの補正を実施し、後段の画像データ結合部209へ補正処理後の画像データを転送する。
欠陥画素に対する処理は、例えば、欠陥画素を周辺の正常画素のデータを用いた値に置き換えたり、欠陥画素の画素値をゼロへ置き換えたりする。欠陥画素の画素値をゼロへ置き換える処理方法は、欠陥画素の判別情報の値をゼロとし、各画素毎に画像データと判別情報とのANDをとることにより、欠陥画素の画像データの画素値がゼロへ変換される。各欠陥処理部202により、並行して処理された画像データは、画像データ結合部209にて1画像分のフレームデータとするための結合処理が行われる。その後、フレームデータは画像処理・システム制御装置101との画像データ通信プロトコルに応じて、画像処理・システム制御装置101へと転送される。
ユーザは、撮像対象部位やX線照射野に応じて、任意のサイズや画素数を指定した画像の取得が可能となっている。これは、撮像対象部位外やX線照射外など、不要な画像部分をカットし、画像サイズを小さくすることにより、画像データサイズを減らし、フレームレートや画像処理スピードを早くするのに有利である。
撮像装置から出力される画像のサイズや画素数の設定は、画像処理・システム制御装置101と撮像装置100との間での通信コマンドによって設定される。ユーザは、操作パネルから、任意のサイズを、画素数にて、或いは、データ量で入力する。すると、入力された設定値が、撮像装置100に通知される。またその際に、ゲイン設定、画素加算の設定など、各種撮像モードのパラメータが設定できる。
本実施形態では、撮像モードの設定に従った画像データの読み出しの順番に応じた順番で、前記判別情報をメモリ210上に配置し、取得画像サイズ設定に応じて、前記欠陥座標情報の読み出し開始アドレスや読み出しサイズが決定される。
図3に、フラットパネルセンサ105からの画像データ読み出し順番を示す。本実施形態では、フラットパネルセンサ105を構成するエリアセンサ120はCHIP1〜32で構成されている。図3の左上を原点画素として、16列×2行のマトリクス状にエリアセンサがタイリングされた例を示す。上段がセンサCHIP1からセンサCHIP16、下段がセンサCHIP17からセンサCHIP32で構成されている。センサCHIPからの読み出しは、上下端の行において第0列から第127列へ向けて、各CHIPで並行して実施される。すなわち、最初のスキャンにて、センサCHIP1からセンサCHIP32の各1行目(Line1で示す。)の画像信号が、各センサCHIPの0画素目から127画素目に向けて、各センサCHIPから並行して読み出される。続くスキャンにて、センサCHIP1からセンサCHIP32の各センサCHIPのLine2(不図示)の画像信号が、同様に並行に読み出される。
次にメモリ210に記憶される判別情報の配置について説明する。判別情報は、例えば1bitが1画素の正常又は欠陥を表し、欠陥画素は‘0’、正常画素は‘1’の値を持つものとする。この場合、ある連続する8画素において、2画素目と4画素目が欠陥画素だった場合は、“10101111”となる。これを、フラットパネルセンサから画像データを読み出す順番に応じた順番でメモリ210上に配置する。
図4に、メモリ210に判別情報を配置するフォーマットの一例を示す。判別情報は1画素に対して1bitとすると、各エリアセンサの1行の画素数が128画素の場合、1行分の判別情報は128bitとなる。各センサCHIPに対応する128bitの判別情報は、各センサCHIPからの画像データの読出し順番に応じて、LSBがpixel0、MSBがpixel127となるように配置される。この各bitに、正常画素か欠陥画素かに応じて、‘0’か‘1’かの情報が入る。
メモリ210における判別情報の配置は、エリアセンサから画像信号を読み出す順番に応じた順番でメモリ210に配置する。つまり、センサCHIP1のLine1の判別情報128bitの次のアドレスにはセンサCHIP2のLine1の判別情報128bitを配置する。センサCHIP32のLine1の判別情報の次のアドレスには、センサCHIP1のLine2の判別情報を配置する。判別情報はこのような並び順でメモリ210の連続したアドレスに配置されることにより、エリアセンサの各ラインから読み出される画像信号の順番に応じた順番でメモリ210に判別情報が配置される。メモリ210に配置された判別情報はFIFO204に読み出され、セレクタ205により各センサCHIPに対応した欠陥処理部のシフトレジスタに順次送られる。
また、撮像モードによって、エリアセンサからの画像信号の読み出しの順番が変わる場合もある。例えば、一回のX線照射で感度の異なる画像信号を読み出すことが可能なセンサを使ってダイナミックレンジ拡張モードで撮像する場合がある。この場合では、1画素あたり高感度で取得したHighゲイン画像信号と低感度で取得したLowゲイン画像信号とを順に読み出し、得られた2画像のデータを画像処理装置で合成処理する。その際、Highゲイン画像信号とLowゲイン画像信号とをそれぞれ別の保持部に蓄積しておき、各画像信号を読み出す処理を行う。読み出しの際に、フラットパネルセンサからの画像信号の読み出し時間を短縮するために、行送り回数を減らすべく、1行ごとに、Highゲイン画像信号とLowゲイン画像信号とを交互に出力する読出し方法が用いられる。1行分のHighゲイン画像信号とLowゲイン画像信号が保持部から読み出された後、次の行のHighゲイン画像信号とLowゲイン画像信号を読み出す。所定の行の読み出しが終了すると、次の行の読み出しを行うというように、順次行毎に読み出しを実行する。
このように1画素あたり2回、画像信号の読み出しを行う場合は、図5に示すように、画像信号を読み出す順番に応じた順番で、判別情報をメモリ210に配置する。行毎に蓄積されたHighゲイン画像とLowゲイン画像とを読み出せるように、Highゲイン画像とLowゲイン画像の判別情報は交互に並べて配置される。図5では、センサからの画像読み出し順番に応じて、各センサCHIPのLine1のHighゲイン画像の判別情報に続いて、Line1のLowゲイン画像の判別情報を配置し、続いてLine2のHighゲイン画像とLowゲイン画像の判別情報を順に配置する。ある行に位置するHighゲイン画像とLowゲイン画像とで判別情報を共用できる場合は、必要なメモリ容量を削減することが可能となる。
メモリ210からの判別情報の読み出しは、DMAバースト転送技術を用いて、連続アドレスデータ読出しを行う。本実施形態によれば、フラットパネルセンサから読み出される画像信号の順番に応じた順番でメモリ210から判別情報が読み出され、欠陥処理部202のシフトレジスタ207に保持される。判別情報を使って画像データを読み出しながら順次的に欠陥画素の判別を行うことができる。
メモリ210からの判別情報の読み出しを開始するアドレスは、読み出し制御部203のアドレスレジスタ(不図示)を設定することにより、任意のアドレスに設定可能である。また、画像データの読出しサイズも、同様に、任意のサイズに設定可能である。システム制御装置101から、取得する画像のサイズ或いは画素数の設定が行われると、それに応じて、読出し制御部203に対して、メモリ210からの判別情報の読み出し開始アドレスと読出すデータ量とが決定される。画像サイズの変更に対する読み出し開始アドレスの指定は簡単に行うことができる。例えば、縦方向に640画素分だけ小さくなるように切り出される場合は、上下チップで、320ラインずつ読み飛ばすために、判別情報の読み出し開始アドレスを、Line1からではなく、320行飛ばしたアドレスに設定する。また、読出すデータ量も、320行減らした値を設定する。
画像サイズの設定に従って、判別情報の読み出し開始アドレスと読出すデータ量を設定することにより、フラットパネルセンサから読み出された画像信号の順番に応じた順番でメモリ210から判別情報が読み出される。判別情報はシフトレジスタ207に格納される。この判別情報を用いて、画像信号を読み出しながら順次的に欠陥画素の判別を行うことができる。
画素が欠陥画素と判別されるか否かは、センサの感度設定や、画素加算モードの設定によっても異なる。ある感度設定では欠陥画素と判別された画素が、別の感度設定では欠陥とならない場合もある。また、画素加算モードにおいて加算される画素に欠陥画素が含まれている場合は、加算された画素は欠陥画素として扱われるケースが多い。そのため、判別情報は、感度の変更、画素加算モードの設定等の撮像モードに対応して、例えば図6に示すように、異なるアドレスから始まる領域に個別に記憶される。例えば、Lowゲイン設定・2画素×2画素の画素加算モードの判別情報は、メモリ210のアドレス0x0006_0000から始まる領域に記憶される。また、画素加算なし・ダイナミックレンジ拡張モードの場合、メモリ210のアドレス0x0008_0000から始まる領域に記憶される。撮像モードの設定に応じて、読み出す判別情報をモードに応じた情報に切り替える。切り替えは、判別情報の読み出しを開始するアドレスを撮像モードに応じて切り替えることによって実現される。このように、画像処理・システム制御装置から設定される撮像モード設定や、画像サイズに応じて、判別情報の読み出し開始アドレスが変更される。
高速読出しが可能なメモリ210への判別情報の格納は、撮像装置の起動時に、予め撮像装置に備える不揮発性メモリ(不図示)に保持しているデータから行ってもよい。また、撮像システム起動時に、画像処理・システム制御装置101の不揮発性メモリに予め保持する判別情報をメモリ210へ格納しても良い。その際、不揮発性メモリには、メモリ210へ記憶する欠陥画素を撮像モードに応じて記憶しておきメモリ210へそのまま格納してもよい。あるいは不揮発性メモリに記憶した情報をメモリ210へ格納する際に、撮像モードに応じた順番にして配置してもよい。
[実施形態2]
実施形態2では、フラットパネルセンサ105にオプティカルブラック領域(OB領域)が配置された例について説明する。オプティカルブラック領域は、X線画像を出力する際の画像信号の補正に用いられる。撮像装置の出力信号に、オプティカルブラック領域を含めるか含めないかは、画像処理・システム制御装置からの撮像モードの設定によって、任意に設定できる。オプティカルブラック領域を含む撮像モードでは、オプティカルブラック領域からの信号を補正に用いるために、図7に示すように、画像サイズを変更した時も、予めオプティカルブラック領域として配置された行数分(例えばOBLine1〜OBLine64で示す64行分)の信号は出力される。
実施形態2では、フラットパネルセンサ105にオプティカルブラック領域(OB領域)が配置された例について説明する。オプティカルブラック領域は、X線画像を出力する際の画像信号の補正に用いられる。撮像装置の出力信号に、オプティカルブラック領域を含めるか含めないかは、画像処理・システム制御装置からの撮像モードの設定によって、任意に設定できる。オプティカルブラック領域を含む撮像モードでは、オプティカルブラック領域からの信号を補正に用いるために、図7に示すように、画像サイズを変更した時も、予めオプティカルブラック領域として配置された行数分(例えばOBLine1〜OBLine64で示す64行分)の信号は出力される。
本実施形態では、判別情報は、図8に示すように、オプティカルブラック領域の判別情報(OBで示す)と、撮像した信号を出力する撮像領域の判別情報(IMGで示す)とを、順番に並べてそれぞれ配置する。オプティカルブラック領域を含んだ撮像モードにおいて、取得する画像サイズの設定が行われた場合について説明する。設定された画像サイズに応じて、オプティカルブラック領域の判別情報の読み出し開始アドレスと、撮像領域の判別情報の読み出し開始アドレスとを個別に設定される。そのために、読み出し制御部203は、オプティカルブラック領域の判別情報の読み出し開始アドレスを設定するレジスタと、撮像領域の判別情報の読み出し開始アドレスを設定するレジスタとをそれぞれ有す。図9により、本実施形態での判別情報の読出しについて説明する。オプティカルブラック領域を含む撮像モードの設定が行われた際(S91)、最初に、オプティカルブラック領域の判別情報読出し開始アドレスが設定される(S92)。オプティカルブラック領域の判別情報を読出し開始アドレス設定に従ってDMAバースト転送により連続して読出す。続いて、撮像領域の判別情報読出し開始アドレス・読出しサイズが設定され(S94)、撮像領域の判別情報を、読出し開始アドレス・読出しサイズ設定に従って、DMAバースト転送により、連続アドレスデータ読出しを行う。
一方、オプティカルブラック領域を含まない撮像モード設定の場合は、撮像領域の判別情報読出し開始アドレス・読出しサイズが設定される(S94)。撮像領域の判別情報のみを、読出し開始アドレス・読出しサイズ設定に従って、DMAバースト転送により、連続アドレスデータ読出しを行う。
これにより、オプティカルブラック領域を含む撮像モードか含まない撮像モードかに応じて、フラットパネルセンサ105から読み出される画像信号の順番に応じた順番でメモリ210から判別情報が読み出される。その後、判別情報を用いて、順次的に画像データの欠陥を判別することができる。オプティカルブラック領域を含むフラットパネルセンサ105を他の加算モード等の撮像モードで使用することもできる。
以上、説明したが、本発明は、実施形態に記載の撮像モード、撮像モードでの画像の読み出し順番や欠陥情報配置方法に限定されるものではなく、目的、状態、用途及び機能その他の仕様に応じて、適宜、変更が可能であり、他の実施形態によっても為されうる。
201:コントローラ、202:欠陥処理部、203:読み出し制御部、204:FIFO、205:セレクタ、206:FIFO、207:シフトレジスタ、208:補正部、209:画像データ結合部、210:メモリ
Claims (13)
- 複数の撮像モードを備える撮像装置であって、
複数の画素が行列状に配置されたフラットパネルセンサと、
前記複数の撮像モードにそれぞれ対応する複数の判別情報が格納されたメモリと、を備え、
前記判別情報は、それに対応する撮像モードにおいて、前記フラットパネルセンサから信号が読み出される各画素が、正常画素か欠陥画素かを示すことを特徴とする撮像装置。 - 前記複数の判別情報は、各撮像モードにおいて前記画素の信号が読み出される順番に応じた順番で前記メモリに記憶されていることを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記フラットパネルセンサから信号を読み出す範囲に応じて、前記メモリから前記判別情報の読み出しを開始するアドレスと読み出すデータ量が決定されることを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
- 前記撮像モードは前記画素の信号を加算して読み出すモードを含み、前記加算して読み出すモードに対応する判別情報は、前記画素の信号が加算されて読み出される順番に応じた順番で前記メモリに記憶されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記フラットパネルセンサはオプティカルブラック領域を有し、前記オプティカルブラック領域の前記正常画素と前記欠陥画素とを示す判別情報と前記オプティカルブラック領域外の前記正常画素と前記欠陥画素とを示す判別情報とは、前記画素の信号が読み出される順番に応じた順番で前記メモリに記憶されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項記載の撮像装置。
- 前記複数の画素はそれぞれ、第1感度で取得した信号を保持する第1保持部と、前記第1感度と異なる第2感度で取得した信号を保持する第2保持部とを有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記第1保持部及び前記第2保持部から信号を読み出す順番は、所定の行の画素が有する前記第1保持部が保持する信号と第2保持部が保持する信号とが読み出された後、次の行の画素が有する前記第1保持部が保持する信号と第2保持部が保持する信号を読み出す順番とすることを特徴とする請求項6に記載の撮像装置。
- 前記判別情報は、前記第1保持部の信号が読み出されるときと前記第2保持部の信号が読み出されるときとで共用されることを特徴とする請求項6又は7に記載の撮像装置。
- 前記欠陥画素の信号を補正する欠陥処理部を更に備え、前記欠陥処理部は前記欠陥画素の信号を、前記判別情報を用いて判別することを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 前記欠陥処理部は、前記欠陥画素の信号を前記正常画素の信号を用いて補正することを特徴とする請求項9に記載の撮像装置。
- 前記欠陥処理部は、前記判別情報に基づいて前記欠陥画素の値をゼロに置き換えることを特徴とする請求項9又は10に記載の撮像装置。
- 前記フラットパネルセンサには複数の画素が行列状に配置された複数のエリアセンサが配置され、前記画素の信号の読み出しは、前記複数のエリアセンサから並行して行われることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 放射線を発生する放射線源と、
請求項1乃至12のいずれか1項に記載の撮像装置と、
を備えることを特徴とする放射線撮像システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015029822A JP2016152550A (ja) | 2015-02-18 | 2015-02-18 | 撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015029822A JP2016152550A (ja) | 2015-02-18 | 2015-02-18 | 撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016152550A true JP2016152550A (ja) | 2016-08-22 |
Family
ID=56696913
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015029822A Pending JP2016152550A (ja) | 2015-02-18 | 2015-02-18 | 撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2016152550A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2019216162A1 (ja) * | 2018-05-11 | 2019-11-14 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置及びその制御方法 |
-
2015
- 2015-02-18 JP JP2015029822A patent/JP2016152550A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP7313800B2 (ja) | 2018-05-11 | 2023-07-25 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影装置の制御装置及び制御方法、並びに、プログラム |
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