JP2016082558A - 立体表示装置検出システム及びその検出方法 - Google Patents
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Abstract
Description
図1と図2に示すように、本発明の実施形態による検出システム(図示せず)は、立体表示装置1を検出するためのものである。検出システムは、断線検出サブシステム100と校正サブシステム200とを含む。断線検出サブシステム100は、立体表示装置1に対して断線検出を行う。校正サブシステム200は、立体表示装置1の所定条件を満たす校正パラメータを取得する。校正パラメータは、立体表示装置1の装着誤差を校正するためのものである。立体表示装置1は、分光デバイス11と表示パネル12とを含む。分光デバイス11に断線不備が存在する場合、検出せずに直接表示パネル12に取り付けると、直接立体表示装置1の表示効果に影響を与える。分光デバイス11が表示パネル12に一体に取り付けられてから断線検出を行う場合、新しい分光デバイス11の取替えが難しくなる。したがって、装着前に分光デバイス11に対して断線検出を行う必要がある。断線検出サブシステム100により立体表示装置1に断線不備が存在するかを検出し、断線不備のある分光デバイス11を除去し、表示パネル12に取り付けられる分光デバイス11に断線不備がないことを確保する。装着中、装着誤差による立体表示装置1の表示効果への影響が避けられないため、校正サブシステム200は、装着誤差を校正することにより、装着誤差による立体表示装置1の表示効果への影響をなくし、立体表示装置1の表示効果を向上させる。立体表示装置検出システムにより検出処理された立体表示装置1は、出荷要求を満たすことが確保され、表示品質が保証される。
本実施形態による立体表示装置検出システムは、実施形態1による立体表示装置検出システムとは構造がほぼ同一であり、相違点として、図1、図3及び図4に示すように、立体表示装置1に追跡ユニット(図示せず)が設けられ、取付具31に追跡ユニットにより識別可能な特徴標識33が設けられることである。本実施形態による追跡ユニットは、赤外線検出装置、追跡カメラなどの装置である。特徴標識33が追跡ユニットに追跡されると、制御装置2は、立体画像を取得するように画像取得装置3を制御する。本実施形態による特徴標識33は、平面のペーパボード(paperboard)または立体頭部画像などにある追跡ユニットによる識別可能な特徴であり、ここでは枚挙しない。追跡ユニットの追跡機能を起動させ、特徴標識33が追跡ユニットにより追跡されると、立体表示装置1は、追跡信号を制御装置2にフィードバックする。制御装置2は、追跡信号に基づいて、画像取得装置3による立体表示装置1に表示される立体画像の取得を制御する。使用者の代わりに取付具31を使用し、立体表示装置1は、特徴標識33の位置に基づいて立体表示内容を調整する。そこで、実際の使用時に、観察者が立体効果を途切れなく見ることができ、しかも観察した内容が使用者の方位や運動傾向に応じて対応的に変化し、使用者と表示内容のインターアクションを実現し、立体表示のリアリティを向上させる。特徴標識33が追跡ユニットにより追跡されると、立体表示装置1は、制御信号を送信する。制御装置2は、制御信号に基づいて、画像取得装置3による立体表示装置1に表示される立体画像の取得を制御し、立体画像を制御装置2に格納する。制御装置2は、立体画像に基づいて、所定条件を満たす校正パラメータを取得する。使用者による立体表示装置の使用時に、立体表示装置1は、校正パラメータに基づいて、表示ユニット121に対して配列処理を行い、配列処理後の立体画像を表示する。画像取得装置3は、当該立体画像を取得し、制御装置2に格納する。制御装置2は、格納された立体画像の画像処理を行い、所定条件を満たす校正パラメータを取得する。立体表示装置1は、校正パラメータに基づいて装着誤差を校正し、装着誤差による立体表示効果への影響をなくす。
図1及び図10に示すように、本実施形態による立体表示装置の検出方法は、立体表示装置1の所定条件を満たす校正パラメータを取得するための方法である。当該校正方法は、立体表示装置1に断線不備があるかを検出するステップS1と、立体表示装置に断線不備がない場合、立体表示装置1の所定条件を満たす校正パラメータであって、立体表示装置1の装着誤差を校正するための校正パラメータを取得するステップS2とを含む。
本実施形態による立体表示装置の検出方法は、実施形態3による立体表示装置の検出方法とは処理工程がほぼ同一であり、相違点として、上記実施形態の更なる改良として、図1、図3、図4、図10に示すように、所定の特徴標識を追跡するための追跡ユニットを立体表示装置1に設けたことである。
本実施形態による立体表示装置の検出方法は、実施形態3、実施形態4による立体表示装置の検出方法とはほぼ同一なものである。相違点として、図1、図10に示すように、ステップS2の後に、校正パラメータを格納するステップS5をさらに含むことである。
Claims (33)
- 立体表示装置を検出するための立体表示装置検出システムにおいて、
前記立体表示装置に対して断線検出を行う断線検出サブシステムと、
前記立体表示装置の所定条件を満たす校正パラメータを取得する校正サブシステムと、を含み、
前記校正パラメータは、立体表示装置の装着誤差を校正するためのものであることを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項1に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記校正サブシステムは、画像取得装置と、制御装置とを含み、
前記画像取得装置は、前記制御装置に接続し、立体画像を取得し、
前記制御装置は、前記立体画像に基づいて前記校正パラメータを取得することを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項2に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記立体表示装置は、第1方向に沿って配列する分光ユニットと、第2方向に沿って配列する表示ユニットを含み、
前記校正パラメータは、前記装着誤差のうち、前記分光ユニットと前記表示ユニットの配列周期の不整合による水平シフト量誤差を校正するための水平シフト量校正パラメータを含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項3に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記制御装置は、前記立体画像に基づいて前記所定条件を満たす前記水平シフト量校正パラメータを取得する水平シフト量校正モジュールを含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項3に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記校正パラメータは、前記装着誤差のうち、前記第1方向と前記第2方向との間の角度による角度誤差を校正するための角度校正パラメータをさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項5に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記制御装置は、前記立体画像に基づいて前記所定条件を満たす前記角度校正パラメータを取得する角度校正モジュールをさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項2〜6のいずれか一項に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記画像取得装置は、取付具と、前記取付具に取り付けられ、前記立体表示装置に対向して設置される少なくとも1つのカメラを含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項7に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記カメラは、2つ設置されており、2つの前記カメラ間の距離が両目の視差であることを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項7に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記立体表示装置には、追跡ユニットが設けられ、
前記取付具には、前記追跡ユニットにより識別可能な特徴標識が設けられ、
前記特徴標識が前記追跡ユニットに追跡されると、前記カメラは、前記立体画像を取得することを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項9に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記特徴標識は、画像特徴を含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項10に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記画像特徴は、人の顔の特徴、模様特徴、文字特徴及び色特徴のうちの一種又は複数種類を含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項7に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記取付具には、前記カメラと前記立体表示装置の相対位置を調整するときの参照標識である位置合わせ標識も設けられることを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項7に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記制御装置は、前記立体表示装置の表示領域を検出するための領域検出モジュールをさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項7に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記制御装置は、前記立体表示装置に取り付けられるか、前記立体表示装置から独立することを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項14に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記制御装置は、前記立体表示装置に接続し、前記立体表示装置による前記立体画像の表示を制御することを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項7に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記断線検出サブシステムは、前記立体表示装置に断線不備が存在するかを検出するための断線検出モジュールを含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項16に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記断線検出モジュールは、前記立体表示装置に表示される立体画像を取得する撮像ユニットと、
前記撮像ユニットにより取得された前記立体画像に基づいて、前記立体表示装置に断線不備が存在するかを判断する処理ユニットと、を含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項7に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記立体表示装置検出システムは、校正処理後の前記立体表示装置の表示効果を評価する評価サブシステムをさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 請求項18に記載の立体表示装置検出システムにおいて、
前記評価サブシステムは、
前記立体画像の左映像に対応する第1画素値を取得する左映像取得ユニットと、
前記立体画像の右映像に対応する第2画素値を取得する右映像取得ユニットと、
前記第1画素値、前記第2画素値に基づいて前記立体表示装置の表示効果を評価する評価ユニットと、を含むことを特徴とする立体表示装置検出システム。 - 立体表示装置を検出するための立体表示装置検出方法において、
前記立体表示装置に断線があるかを検出するステップS1と、
前記立体表示装置に断線がない場合、前記立体表示装置の所定条件を満たす校正パラメータであって、前記立体表示装置の装着誤差を校正するための校正パラメータを取得するステップS2と、を含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項20に記載の立体表示装置検出方法において、
ステップS2は、具体的に、
前記立体表示装置の立体画像を取得する画像取得サブステップと、
前記立体画像に基づいて所定条件を満たす前記校正パラメータを取得する制御サブステップと、を含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項21に記載の立体表示装置検出方法において、
前記装着誤差は、水平シフト量誤差を含み、
前記制御サブステップは、
前記立体画像に基づいて、前記水平シフト量誤差を校正するための水平シフト量校正パラメータを取得するステップS21を含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項22に記載の立体表示装置検出方法において、
ステップS21は、具体的に、
水平シフト量検出区間を設定するステップS211と、
前記水平シフト量検出区間に基づいて前記立体画像を取得するステップS212と、
前記立体画像に基づいて、所定条件を満たす前記水平シフト量校正パラメータを取得するステップS213と、を含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項22に記載の立体表示装置検出方法において、
前記装着誤差は、角度誤差を含み、
前記制御サブステップは、
前記立体画像に基づいて、前記角度誤差を校正するための角度校正パラメータを取得するステップS22をさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項24に記載の立体表示装置検出方法において、
ステップS22は、具体的に、
角度検出区間を設定するステップS221と、
前記角度検出区間に基づいて前記立体画像を取得するステップS222と、
前記立体画像に基づいて、所定条件を満たす前記角度校正パラメータを取得するステップS223と、を含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項20〜25のいずれか一項に記載の立体表示装置検出方法において、
前記立体表示装置には、所定の特徴標識を追跡するための追跡ユニットが設けられ、
ステップS2に先立ち、
前記特徴標識が前記追跡ユニットにより追跡されると、ステップS2に進むステップS3である追跡ステップをさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項26に記載の立体表示装置検出方法において、
前記装着誤差は、前記追跡ユニットの取付位置による位置誤差をさらに含み、
前記制御サブステップは、
前記立体画像に基づいて、前記位置誤差を校正するための位置校正パラメータを取得するステップS23をさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項27に記載の立体表示装置検出方法において、
ステップS23は、具体的に、
位置検出区間を設定するステップS231と、
前記位置検出区間に基づいて前記立体画像を取得するステップS232と、
前記立体画像に基づいて、所定条件を満たす前記位置校正パラメータを取得するステップS233と、を含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項26に記載の立体表示装置検出方法において、
ステップS1に先立ち、前記立体表示装置の表示領域を検出するステップS4をさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項26に記載の立体表示装置検出方法において、
ステップS2の後に、
前記校正パラメータを格納するステップS5をさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項26に記載の立体表示装置検出方法において、
ステップS1は、具体的に、
前記立体表示装置に表示される前記立体画像を取得するステップS11と、
前記立体画像に基づいて、前記立体表示装置に断線不備が存在するかを判断するステップS12と、を含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項30に記載の立体表示装置検出方法において、
ステップS5の後に、
校正処理後の前記立体表示装置の表示効果を評価するステップS6をさらに含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。 - 請求項32に記載の立体表示装置検出方法において、
ステップS6は、具体的に、
前記立体画像の左映像に対応する第1画素値を取得するステップS61と、
前記立体画像の右映像に対応する第2画素値を取得するステップS62と、
前記第1画素値、前記第2画素値に基づいて前記立体表示装置の表示効果を評価するステップS63と、を含むことを特徴とする立体表示装置検出方法。
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Families Citing this family (5)
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US10091496B2 (en) * | 2016-11-28 | 2018-10-02 | X Development Llc | Systems, devices, and methods for calibrating a light field projection system |
CN108259888A (zh) * | 2016-12-29 | 2018-07-06 | 深圳超多维光电子有限公司 | 立体显示效果的测试方法及*** |
CN107202680B (zh) * | 2017-06-23 | 2019-12-24 | 深圳超多维科技有限公司 | 一种模组检测设备及检测方法 |
CN108195563B (zh) * | 2017-12-29 | 2020-04-28 | 深圳超多维科技有限公司 | 一种立体显示装置的显示效果测评方法、装置和测评终端 |
CN109005400B (zh) * | 2018-07-02 | 2020-06-23 | 深圳超多维科技有限公司 | 一种检测光栅贴合偏移的方法、***及存储介质 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0772445A (ja) * | 1993-09-01 | 1995-03-17 | Sharp Corp | 3次元ディスプレイ装置 |
JP2000152285A (ja) * | 1998-11-12 | 2000-05-30 | Mr System Kenkyusho:Kk | 立体画像表示装置 |
JP2003194669A (ja) * | 2001-12-27 | 2003-07-09 | Seiko Epson Corp | 液晶装置の検査方法及び検査装置 |
JP2009276410A (ja) * | 2008-05-13 | 2009-11-26 | National Institute Of Information & Communication Technology | 立体ディスプレイ製造システム、立体ディスプレイシステムおよび立体ディスプレイシステムの製造方法 |
JP2009300816A (ja) * | 2008-06-16 | 2009-12-24 | Seiko Epson Corp | 表示装置の製造方法および製造装置 |
JP2012047882A (ja) * | 2010-08-25 | 2012-03-08 | Nlt Technologies Ltd | 実装精度検査方法及びその検査方法を用いる検査装置 |
JP2012060625A (ja) * | 2010-08-11 | 2012-03-22 | Sony Corp | 画像処理装置、立体画像表示装置および立体画像表示システム、ならびに立体画像表示装置の視差ずれ検出方法および立体画像表示装置の製造方法 |
JP2012063685A (ja) * | 2010-09-17 | 2012-03-29 | Toshiba Corp | セル基板の検査システム及び検査方法 |
WO2012169448A1 (ja) * | 2011-06-08 | 2012-12-13 | シャープ株式会社 | 検査装置 |
WO2014097456A1 (ja) * | 2012-12-20 | 2014-06-26 | 富士通株式会社 | 立体画像表示体、その製造方法および製造システム |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW546603B (en) * | 2000-07-28 | 2003-08-11 | Nichia Corp | Display, display drive circuit and display drive method |
JP4281622B2 (ja) * | 2004-05-31 | 2009-06-17 | ソニー株式会社 | 表示装置及び検査方法 |
KR100932977B1 (ko) * | 2005-07-05 | 2009-12-21 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 입체 영상 표시 장치 |
US20070165942A1 (en) * | 2006-01-18 | 2007-07-19 | Eastman Kodak Company | Method for rectifying stereoscopic display systems |
JP4881030B2 (ja) * | 2006-02-18 | 2012-02-22 | セイコーインスツル株式会社 | 表示装置 |
US8106865B2 (en) * | 2006-06-02 | 2012-01-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and driving method thereof |
US7980702B2 (en) * | 2006-06-08 | 2011-07-19 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | Image display device |
KR101213859B1 (ko) * | 2006-06-29 | 2012-12-18 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시장치의 데이터 보상방법 및 장치 |
KR100837259B1 (ko) * | 2007-07-18 | 2008-06-12 | 한국과학기술원 | 3차원 모니터에서 영상왜곡을 보상하는 방법 |
US8624501B2 (en) * | 2010-12-08 | 2014-01-07 | Mks Instruments, Inc. | Measuring and controlling parameters of a plasma generator |
CN102207424B (zh) * | 2010-12-29 | 2013-01-23 | 深圳超多维光电子有限公司 | 立体显示装置的参数测量***和方法 |
JP5924046B2 (ja) * | 2012-03-15 | 2016-05-25 | ソニー株式会社 | 表示装置および方法、情報処理装置および方法、並びにプログラム |
CN102595182B (zh) * | 2012-03-16 | 2015-02-11 | 深圳超多维光电子有限公司 | 立体显示设备及其校正方法、装置和*** |
CN202634618U (zh) * | 2012-04-06 | 2012-12-26 | 南昌大学 | 裸眼3d设备质量检测装置 |
CN102662283B (zh) * | 2012-05-25 | 2015-04-29 | 天马微电子股份有限公司 | 液晶狭缝光栅、立体显示装置及其校正方法 |
TWI508524B (zh) * | 2012-10-26 | 2015-11-11 | Quanta Comp Inc | 裸視立體顯示裝置之自動調校方法及系統 |
CN103676174B (zh) * | 2013-12-24 | 2016-02-03 | 北京邮电大学 | Led显示器3d显示方法 |
CN103838030A (zh) * | 2014-03-28 | 2014-06-04 | 信利半导体有限公司 | 双方向立体显示装置 |
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Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0772445A (ja) * | 1993-09-01 | 1995-03-17 | Sharp Corp | 3次元ディスプレイ装置 |
JP2000152285A (ja) * | 1998-11-12 | 2000-05-30 | Mr System Kenkyusho:Kk | 立体画像表示装置 |
JP2003194669A (ja) * | 2001-12-27 | 2003-07-09 | Seiko Epson Corp | 液晶装置の検査方法及び検査装置 |
JP2009276410A (ja) * | 2008-05-13 | 2009-11-26 | National Institute Of Information & Communication Technology | 立体ディスプレイ製造システム、立体ディスプレイシステムおよび立体ディスプレイシステムの製造方法 |
JP2009300816A (ja) * | 2008-06-16 | 2009-12-24 | Seiko Epson Corp | 表示装置の製造方法および製造装置 |
JP2012060625A (ja) * | 2010-08-11 | 2012-03-22 | Sony Corp | 画像処理装置、立体画像表示装置および立体画像表示システム、ならびに立体画像表示装置の視差ずれ検出方法および立体画像表示装置の製造方法 |
JP2012047882A (ja) * | 2010-08-25 | 2012-03-08 | Nlt Technologies Ltd | 実装精度検査方法及びその検査方法を用いる検査装置 |
JP2012063685A (ja) * | 2010-09-17 | 2012-03-29 | Toshiba Corp | セル基板の検査システム及び検査方法 |
WO2012169448A1 (ja) * | 2011-06-08 | 2012-12-13 | シャープ株式会社 | 検査装置 |
WO2014097456A1 (ja) * | 2012-12-20 | 2014-06-26 | 富士通株式会社 | 立体画像表示体、その製造方法および製造システム |
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