JP2016075697A - 較正の方法および装置 - Google Patents
較正の方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016075697A JP2016075697A JP2015238103A JP2015238103A JP2016075697A JP 2016075697 A JP2016075697 A JP 2016075697A JP 2015238103 A JP2015238103 A JP 2015238103A JP 2015238103 A JP2015238103 A JP 2015238103A JP 2016075697 A JP2016075697 A JP 2016075697A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- workpiece
- data
- machine
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 72
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 314
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 153
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 claims description 36
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 15
- 238000013213 extrapolation Methods 0.000 description 16
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 3
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 3
- 238000012804 iterative process Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 241000238631 Hexapoda Species 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 230000001739 rebound effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 238000000844 transformation Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/042—Calibration or calibration artifacts
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Abstract
【解決手段】ステップiとして、球体30の表面上の2つ以上の箇所の位置を示しているプローブデータが取り込まれ得る経路に沿って走査プローブ4を知られた速度で動かし、球体30の表面上の2つ以上の箇所が少なくとも1つの寸法が測定されるのを可能にするように選択され、ステップiiとして、ステップiの間に取り込まれる機械位置データ及びプローブデータを用い、球体30の表面上の2つ以上の測定された箇所の位置を計算し、測定された箇所から球体30の少なくとも1つの寸法を突き止め、ステップiiiとして、球体30の少なくとも1つの測定された寸法と少なくとも1つの知られた寸法とを比較してデータを取り込む際の相対的遅延を計算する。
【選択図】図1
Description
(i)測定プローブに対する加工物の表面上の2つ以上の箇所の位置を示しているプローブデータが取り込まれることを可能にする経路に沿って動かされる測定プローブを、プローブデータおよび機械位置データを取り込む間に加工物に対して知られた速度で動かすステップと、
(ii)ステップ(i)の間に取り込まれる機械位置データおよびプローブデータを解析し、プローブデータおよび機械位置データを取り込む際の相対的遅延を機械位置データおよびプローブデータから決定するステップとを含むことを特徴とする方法が提供される。
機械であって、機械の作業領域内に配置される加工物に対する測定プローブの位置を示す機械位置データを取り込むように構成される機械と、
プローブデータおよび機械位置データを取り込む間に加工物に対して知られた速度で測定プローブを動かす較正手段を含む制御部であって、較正手段は、測定プローブに対する加工物の表面上の2つ以上の箇所の位置を示すプローブデータの取り込みを可能にする経路に沿って測定プローブを動かす制御部とを備え、
制御部が、プローブデータおよび機械位置データを取り込む際の相対的遅延を決定するための分析器を備えることを特徴とする。
Claims (10)
- 機械に取り付けられた走査プローブを備える装置を較正する方法において、前記機械は、少なくとも1つの知られた寸法を有する加工物に対する前記走査プローブの位置を示す機械位置データを取り込むように構成され、前記走査プローブは、前記走査プローブに対する表面の位置を示すプローブデータを取り込むように構成されている方法であって、
(i)前記走査プローブに対する前記加工物の前記表面上の2つ以上の箇所の位置を示しているプローブデータが取り込まれることを可能にする経路に沿って動かされる前記走査プローブを、プローブデータおよび機械位置データを取り込む間に前記加工物に対して知られた速度で動かし、前記加工物の前記表面上の前記2つ以上の箇所は、前記加工物の少なくとも1つの測定される寸法が測定されるのを可能にするように選択されるステップと、
(ii)ステップ(i)の間に取り込まれる前記機械位置データおよび前記プローブデータを用い、前記加工物の表面上の前記2つ以上の測定された箇所の位置を計算し、かつ前記2つ以上の測定された箇所から、前記加工物の前記少なくとも1つの測定された寸法を突き止めるステップと、
(iii)前記加工物の前記少なくとも1つの測定された寸法と前記加工物の前記少なくとも1つの知られた寸法とを比較することによってプローブデータおよび機械位置データを取り込む際の相対的遅延を計算するステップと、
を含むことを特徴とする方法。 - 前記走査プローブは、振れ可能なスタイラスを有する走査プローブであり、前記プローブデータが、スタイラスの振れを示していることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- ステップ(i)は、前記スタイラスと前記加工物の前記表面上のある箇所の間で最初の接触が行われた後に限られた距離にわたって前記加工物に対して前記走査プローブの動きを続行するステップを含み、ステップ(ii)は、前記加工物の表面上の2つ以上の測定箇所を計算するために補外を行うステップを含むことを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記2つ以上の測定箇所は、前記プローブが前記加工物の前記表面から離れて動かされているときに取り込まれるプローブデータおよび機械位置データから導き出されることを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 前記走査プローブの前記スタイラスは、前記加工物の前記表面にほぼ垂直な方向から前記加工物の前記表面上の各箇所と接触させられることを特徴とする請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記加工物は加工物を備え、ステップ(i)は球体の前記表面上の少なくとも5つの箇所の位置を示すプローブデータを取り込むステップを含むことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記機械位置データおよび前記プローブデータは、主クロックを基準としたタイミングの間隔で取り込まれることを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記機械は、前記機械位置データを出力する数値制御装置を備える工作機械であることを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記走査プローブは、前記プローブデータを、無線リンクを通じてプローブインタフェースへ出力することを特徴とする請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。
- コンピュータを使用してステップ(ii)を行うことを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GBGB0703423.4A GB0703423D0 (en) | 2007-02-22 | 2007-02-22 | Calibration method and apparatus |
GB0703423.4 | 2007-02-22 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009550749A Division JP5905189B2 (ja) | 2007-02-22 | 2008-02-18 | 較正の方法および装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016075697A true JP2016075697A (ja) | 2016-05-12 |
JP6058110B2 JP6058110B2 (ja) | 2017-01-11 |
Family
ID=37945524
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009550749A Active JP5905189B2 (ja) | 2007-02-22 | 2008-02-18 | 較正の方法および装置 |
JP2015238103A Active JP6058110B2 (ja) | 2007-02-22 | 2015-12-04 | 較正の方法および装置 |
JP2015238102A Active JP6058109B2 (ja) | 2007-02-22 | 2015-12-04 | 較正の方法および装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009550749A Active JP5905189B2 (ja) | 2007-02-22 | 2008-02-18 | 較正の方法および装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015238102A Active JP6058109B2 (ja) | 2007-02-22 | 2015-12-04 | 較正の方法および装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7866056B2 (ja) |
EP (2) | EP2115387B1 (ja) |
JP (3) | JP5905189B2 (ja) |
CN (2) | CN103822603B (ja) |
GB (1) | GB0703423D0 (ja) |
WO (1) | WO2008102109A1 (ja) |
Families Citing this family (58)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4653824B2 (ja) * | 2008-07-29 | 2011-03-16 | ファナック株式会社 | 機上計測装置にて計測対象物の形状を計測する工作機械システム |
JP5237153B2 (ja) * | 2009-02-24 | 2013-07-17 | 株式会社森精機製作所 | 工作機械における工作物測定装置およびその方法 |
CN102472662B (zh) * | 2009-06-30 | 2014-06-18 | 六边形度量衡股份公司 | 使用振动检测的坐标测量机 |
US7905027B2 (en) * | 2009-07-01 | 2011-03-15 | Hexagon Metrology, Inc. | Method and apparatus for probe tip diameter calibration |
EP2402714B1 (fr) * | 2010-07-02 | 2013-04-17 | Tesa Sa | Dispositif de mesure de dimensions |
DE102011053117B4 (de) | 2010-09-06 | 2023-02-23 | Hexagon Metrology Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren eines Taststiftes eines Koordinatenmessgerätes sowie zur Korrektur von Messergebnissen |
JP5473846B2 (ja) * | 2010-09-17 | 2014-04-16 | 三菱重工業株式会社 | 加工方法 |
EP2492635B1 (de) * | 2011-02-22 | 2013-05-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Kalibrierverfahren für einen kugelförmigen Messtaster |
US8712577B2 (en) * | 2011-02-23 | 2014-04-29 | GM Global Technology Operations LLC | Electronic system and method for compensating the dimensional accuracy of a 4-axis CNC machining system using global and local offsets |
FR2972526B1 (fr) * | 2011-03-10 | 2016-05-20 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de mesure de l'etat de surface d'une surface |
JP5221744B2 (ja) * | 2011-11-28 | 2013-06-26 | ファナック株式会社 | 回転軸に取り付けた超高硬度材を用いた工具を加工するワイヤ放電加工方法およびワイヤ放電加工機 |
CN104969028B (zh) | 2012-04-18 | 2018-06-01 | 瑞尼斯豪公司 | 在机床上进行模拟测量扫描的方法和对应的机床设备 |
EP2839241B1 (en) | 2012-04-18 | 2018-08-08 | Renishaw PLC | Method of finding a feature of an object using a machine tool and corresponding machine tool apparatus |
JP6345171B2 (ja) | 2012-04-18 | 2018-06-20 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company | 工作機械における測定方法および対応する工作機械装置 |
CN102636576A (zh) * | 2012-05-09 | 2012-08-15 | 河北省电力研究院 | 一种透声楔表面波探头延时及前沿的测量方法 |
US9651525B2 (en) * | 2013-06-27 | 2017-05-16 | TecScan Systems Inc. | Method and apparatus for scanning an object |
GB201311600D0 (en) * | 2013-06-28 | 2013-08-14 | Renishaw Plc | Calibration of a contact probe |
GB201316329D0 (en) * | 2013-09-13 | 2013-10-30 | Renishaw Plc | A Method of Using a scanning probe |
GB201321594D0 (en) * | 2013-12-06 | 2014-01-22 | Renishaw Plc | Calibration of motion systems |
JP6254456B2 (ja) * | 2014-02-21 | 2017-12-27 | 株式会社ミツトヨ | 三次元測定機及び三次元測定機による補正行列算出方法 |
WO2015162431A1 (en) * | 2014-04-23 | 2015-10-29 | Renishaw Plc | Calibration of measurement probes |
US9250055B2 (en) * | 2014-05-09 | 2016-02-02 | Mitutoyo Corporation | High speed contact detector for measurement sensors |
RU2571984C1 (ru) * | 2014-06-03 | 2015-12-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" | Способ настройки многоцелевого станка для пятикоординатной обработки |
JP2016083729A (ja) * | 2014-10-27 | 2016-05-19 | オークマ株式会社 | 幾何誤差同定システム、及び幾何誤差同定方法 |
US9952044B2 (en) * | 2015-02-02 | 2018-04-24 | Rolls-Royce North American Technologies, Inc. | Multi-axis calibration block |
GB201505999D0 (en) | 2015-04-09 | 2015-05-27 | Renishaw Plc | Measurement method and apparatus |
CN105127840B (zh) * | 2015-09-08 | 2017-09-15 | 清华大学 | 一种五轴联动机床主轴头姿态角测量装置及测量方法 |
EP3147627B1 (de) * | 2015-09-22 | 2023-04-26 | GF Machining Solutions AG | Optische messtaster-kalibration |
CN105479266A (zh) * | 2015-12-28 | 2016-04-13 | 北京航天新风机械设备有限责任公司 | 一种五轴车铣复合加工中心动态精度测试方法 |
EP3192611A1 (en) * | 2016-01-12 | 2017-07-19 | Renishaw plc | Calibration device and method |
US10359266B2 (en) * | 2016-04-19 | 2019-07-23 | Okuma Corporation | Position measurement method of object in machine tool and position measurement system of the same |
CN106019122B (zh) * | 2016-05-13 | 2019-06-14 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 基于测点距离的飞针测试机运动的控制方法及装置 |
US10215547B2 (en) | 2016-06-24 | 2019-02-26 | Mitutoyo Corporation | Method for operating a coordinate measuring machine |
US9970744B2 (en) * | 2016-06-24 | 2018-05-15 | Mitutoyo Corporation | Method for operating a coordinate measuring machine |
CN106017377A (zh) * | 2016-07-26 | 2016-10-12 | 上海理工大学 | 一种加工机床中在线测量的测量探头的标定方法 |
GB201615307D0 (en) * | 2016-09-09 | 2016-10-26 | Renishaw Plc | Measurement method and apparatus |
GB201616415D0 (en) * | 2016-09-28 | 2016-11-09 | Renishaw Plc | A method and apparatus for measuring an object |
JP6386513B2 (ja) * | 2016-10-31 | 2018-09-05 | ファナック株式会社 | 測定システム |
CN109964098B (zh) * | 2016-11-16 | 2022-10-14 | 瑞尼斯豪公司 | 坐标定位设备以及操作方法 |
EP3327524B1 (en) | 2016-11-29 | 2023-04-05 | GF Machining Solutions AG | Kinematic calibration |
JP6829062B2 (ja) * | 2016-11-29 | 2021-02-10 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | 三次元測定装置 |
GB201700879D0 (en) | 2017-01-18 | 2017-03-01 | Renishaw Plc | Machine tool apparatus |
GB201702391D0 (en) * | 2017-02-14 | 2017-03-29 | Renishaw Plc | Surface sensing device |
JP6923361B2 (ja) * | 2017-05-29 | 2021-08-18 | 株式会社ミツトヨ | 位置計測装置の操作方法 |
EP3460384A1 (en) | 2017-09-26 | 2019-03-27 | Renishaw PLC | Measurement probe |
EP3470777B1 (en) | 2017-10-10 | 2021-09-29 | Hexagon Technology Center GmbH | System, method and computer program product for determining a state of a tool positioning machine |
DE102017125677A1 (de) * | 2017-11-03 | 2019-05-09 | Hexagon Metrology Gmbh | Verfahren zum Messen eines Werkstückes mit einem Koordinatenmessgerät |
WO2019130381A1 (ja) * | 2017-12-25 | 2019-07-04 | 株式会社ニコン | 加工システム、測定プローブ、形状測定装置、及びプログラム |
CN111511501B (zh) * | 2017-12-25 | 2022-05-27 | 株式会社尼康 | 加工***、形状测定探针、形状算出装置及存储介质 |
GB201809631D0 (en) * | 2018-06-12 | 2018-07-25 | Renishaw Plc | Measurement method and apparatus |
EP3611465A1 (en) * | 2018-08-14 | 2020-02-19 | Renishaw PLC | Method, computer program and apparatus for measurement cycle generation in a touch trigger coordinate machine |
JP7249769B2 (ja) * | 2018-12-17 | 2023-03-31 | ヘキサゴン・メトロジー株式会社 | Cnc加工装置 |
DE102019220060A1 (de) * | 2019-12-18 | 2021-06-24 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zum Kalibrieren eines taktilen Sensors |
JP7360591B2 (ja) | 2020-02-18 | 2023-10-13 | 株式会社東京精密 | ワークの径測定方法及び真円度測定機 |
US20230140343A1 (en) * | 2020-03-09 | 2023-05-04 | Hexagon Metrology Kabushiki Kaisha | Cnc machining device |
GB202004192D0 (en) * | 2020-03-23 | 2020-05-06 | Renishaw Plc | Calibration device and method |
US11717967B2 (en) | 2021-03-04 | 2023-08-08 | TecScan Systems Inc. | System and method for scanning an object using an array of ultrasonic transducers |
EP4293444A1 (de) * | 2022-06-14 | 2023-12-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Einbindung eines kontinuierlichen messtasters in eine numerische steuerung |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS625111A (ja) * | 1985-07-01 | 1987-01-12 | Fanuc Ltd | デジタイジング方法 |
JPH10311715A (ja) * | 1997-02-10 | 1998-11-24 | Mitsutoyo Corp | 計測方法および計測装置 |
WO2002073128A1 (en) * | 2001-03-14 | 2002-09-19 | Renishaw Plc | Calibration of an analogue probe |
JP2002328018A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-11-15 | Mitsutoyo Corp | 測定機の校正方法及び装置 |
JP2002541469A (ja) * | 1999-04-08 | 2002-12-03 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 走査システムを校正する方法 |
WO2005065884A2 (en) * | 2004-01-06 | 2005-07-21 | Renishaw Plc | Machine tool workpiece inspection system |
JP2005531780A (ja) * | 2002-07-04 | 2005-10-20 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 走査システムの較正方法 |
JP2008500520A (ja) * | 2004-05-27 | 2008-01-10 | ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 座標測定を行うための装置および方法 |
Family Cites Families (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1551218A (en) | 1975-05-13 | 1979-08-22 | Rolls Royce | Probe for use in displacement measuring apparatus |
GB8713715D0 (en) * | 1987-06-11 | 1987-07-15 | Renishaw Plc | Workpiece inspection method |
GB8906287D0 (en) * | 1989-03-18 | 1989-05-04 | Renishaw Plc | Probe calibration |
GB8920447D0 (en) | 1989-09-09 | 1989-10-25 | Renishaw Plc | Method and apparatus of datuming a coordinate positioning machine |
DE4204602A1 (de) | 1992-02-15 | 1993-08-19 | Zeiss Carl Fa | Verfahren zur koordinatenmessung an werkstuecken |
GB9224335D0 (en) | 1992-11-20 | 1993-01-13 | Renishaw Metrology Ltd | A method of measuring workpieces using a surface contacting measuring probe |
CN1136430C (zh) | 1997-02-10 | 2004-01-28 | 株式会社三丰 | 对被测物体的尺寸及表面状况进行测量的方法及装置 |
US6131301A (en) | 1997-07-18 | 2000-10-17 | Renishaw Plc | Method of and apparatus for measuring workpieces using a coordinate positioning machine |
DE19809589B4 (de) * | 1998-03-06 | 2009-04-02 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zur Kalibrierung eines Tasters eines Koordinatenmeßgerätes |
US6580964B2 (en) * | 1998-10-24 | 2003-06-17 | Renishaw Plc | Calibrations of an analogue probe and error mapping |
GB9823228D0 (en) * | 1998-10-24 | 1998-12-16 | Renishaw Plc | Method of calibrating analogue probes |
US6112423A (en) * | 1999-01-15 | 2000-09-05 | Brown & Sharpe Manufacturing Co. | Apparatus and method for calibrating a probe assembly of a measuring machine |
US6810597B2 (en) * | 1999-04-08 | 2004-11-02 | Renishaw Plc | Use of surface measuring probes |
JP3827548B2 (ja) * | 2001-10-04 | 2006-09-27 | 株式会社ミツトヨ | 倣いプローブの校正方法および校正プログラム |
GB0126232D0 (en) * | 2001-11-01 | 2002-01-02 | Renishaw Plc | Calibration of an analogue probe |
WO2004106854A1 (de) * | 2003-05-28 | 2004-12-09 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Verfahren zur kalibrierung eines tasters |
GB0322362D0 (en) * | 2003-09-24 | 2003-10-22 | Renishaw Plc | Measuring methods for use on machine tools |
US6948254B2 (en) * | 2003-10-27 | 2005-09-27 | Micronic Laser Systems Ab | Method for calibration of a metrology stage |
GB0329098D0 (en) | 2003-12-16 | 2004-01-21 | Renishaw Plc | Method of calibrating a scanning system |
JP2007529734A (ja) * | 2004-03-18 | 2007-10-25 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 物体走査 |
GB0417536D0 (en) | 2004-08-06 | 2004-09-08 | Renishaw Plc | The use of surface measurement probes |
CN1807020B (zh) * | 2005-01-20 | 2010-04-14 | 沃尔特机器制造有限责任公司 | 校准方法和使用这种方法的腐蚀和磨削机床 |
DE102005017708A1 (de) * | 2005-04-15 | 2006-10-19 | Wolfgang Madlener | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen von Werkstücken mit einem Messtaster an einer Werkzeugmaschine |
GB0608235D0 (en) * | 2006-04-26 | 2006-06-07 | Renishaw Plc | Differential calibration |
US7788818B1 (en) * | 2007-10-02 | 2010-09-07 | Sandia Corporation | Mesoscale hybrid calibration artifact |
-
2007
- 2007-02-22 GB GBGB0703423.4A patent/GB0703423D0/en not_active Ceased
-
2008
- 2008-02-18 CN CN201410049556.XA patent/CN103822603B/zh active Active
- 2008-02-18 US US12/449,148 patent/US7866056B2/en active Active
- 2008-02-18 EP EP08709419.9A patent/EP2115387B1/en active Active
- 2008-02-18 JP JP2009550749A patent/JP5905189B2/ja active Active
- 2008-02-18 WO PCT/GB2008/000528 patent/WO2008102109A1/en active Application Filing
- 2008-02-18 CN CN200880005998.7A patent/CN101622513B/zh active Active
- 2008-02-18 EP EP11009252.5A patent/EP2447665B1/en active Active
-
2015
- 2015-12-04 JP JP2015238103A patent/JP6058110B2/ja active Active
- 2015-12-04 JP JP2015238102A patent/JP6058109B2/ja active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS625111A (ja) * | 1985-07-01 | 1987-01-12 | Fanuc Ltd | デジタイジング方法 |
JPH10311715A (ja) * | 1997-02-10 | 1998-11-24 | Mitsutoyo Corp | 計測方法および計測装置 |
JP2002541469A (ja) * | 1999-04-08 | 2002-12-03 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 走査システムを校正する方法 |
JP2002328018A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-11-15 | Mitsutoyo Corp | 測定機の校正方法及び装置 |
WO2002073128A1 (en) * | 2001-03-14 | 2002-09-19 | Renishaw Plc | Calibration of an analogue probe |
JP2004521343A (ja) * | 2001-03-14 | 2004-07-15 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | アナログプローブの較正 |
JP2005531780A (ja) * | 2002-07-04 | 2005-10-20 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 走査システムの較正方法 |
WO2005065884A2 (en) * | 2004-01-06 | 2005-07-21 | Renishaw Plc | Machine tool workpiece inspection system |
JP2007518579A (ja) * | 2004-01-06 | 2007-07-12 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニー | 工作機械用被加工物検査システム |
JP2008500520A (ja) * | 2004-05-27 | 2008-01-10 | ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング | 座標測定を行うための装置および方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010519533A (ja) | 2010-06-03 |
JP2016048262A (ja) | 2016-04-07 |
JP6058109B2 (ja) | 2017-01-11 |
JP6058110B2 (ja) | 2017-01-11 |
CN101622513B (zh) | 2014-03-12 |
EP2115387A1 (en) | 2009-11-11 |
JP5905189B2 (ja) | 2016-04-20 |
EP2115387B1 (en) | 2014-06-04 |
WO2008102109A1 (en) | 2008-08-28 |
CN101622513A (zh) | 2010-01-06 |
US20100018069A1 (en) | 2010-01-28 |
CN103822603A (zh) | 2014-05-28 |
US7866056B2 (en) | 2011-01-11 |
EP2447665B1 (en) | 2018-05-30 |
EP2447665A1 (en) | 2012-05-02 |
GB0703423D0 (en) | 2007-04-04 |
CN103822603B (zh) | 2017-10-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6058110B2 (ja) | 較正の方法および装置 | |
EP1446636B2 (en) | Dynamic artefact comparison | |
EP1792139B2 (en) | The use of surface measurement probes | |
JP5069287B2 (ja) | 誤差補正の方法 | |
JP7143215B2 (ja) | キャリブレーション装置およびキャリブレーション方法 | |
Jankowski et al. | Machine tool probes testing using a moving inner hemispherical master artefact | |
JP7113814B2 (ja) | 物体を測定するための方法および装置 | |
CN110977612B (zh) | Cnc数控加工在线测量误差修正方法及*** | |
Wozniak et al. | Setup for triggering force testing of touch probes for CNC machine tools and CMMs | |
Nikam | Coordinate Measuring Machine (CMM) | |
CN105606014A (zh) | 一种电感扫描测头的测试装置及测试方法 | |
Salah | Two dimensional mofel of CMM probing system | |
Vogl et al. | Development of a New Standard for the Performance Evaluation of Single Axis Linear Positioning Systems | |
Li et al. | Measurement and analysis of typical motion error traces from a circular test | |
JP2008268113A (ja) | 形状測定方法及び装置 | |
Feng et al. | Quick and dynamic measurements of geometric errors of CNC machines | |
Schmitz et al. | Dynamic Measurement of CNC Part Paths |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161108 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161109 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161206 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6058110 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |