JP2016075687A - ポイントオブケア・テストの結果を読み取るためのハンドヘルド・スキャナ・システム及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】テスト・デバイス及びスキャニング・デバイスを含む診断分析システムを説明する。一実施では、スキャニング・デバイスは、シャーシ内に配設された、電磁放射線源、光学アセンブリ、検出器、及びマイクロプロセッサを含む。テスト・デバイス及びスキャニング・デバイスは、スキャニング・デバイスの動作中に互いに関連して移動可能なように構成可能である。
【選択図】図1
Description
一態様では、診断分析の実行のためのシステムについて説明される。システムの諸実施形態は、テスト・デバイス及び/又はスキャニング・デバイスを含むことができる。例えばテスト・デバイスは、好適なスキャニング・デバイスと共に、サンプル中の検体を検出するために使用することができる。ある諸実施形態では、サンプル中のタンパク質、核酸、及び/又は小分子などの検体を検出し、その有無を判断する際に使用するために、テスト・デバイス及び/又はスキャニング・デバイスが提供可能である。
前述のように、開示された診断分析システムはテスト・デバイス及びスキャニング・デバイスを含むことが可能であり、デバイスはサンプル内の1つ又は複数の問題の検体を検出するように互いに関連して使用可能であって、サンプルはテスト・デバイスによって処理され、検体はスキャニング・デバイスによって検出されることが可能である。いくつかの実施では、テスト・デバイス及びスキャニング・デバイスは別々の実施形態として提供可能であり、それぞれ、本明細書で説明されるように、それらの対応する機能の少なくとも一部を提供するように構成される。
図4及び図5は、スキャニング・デバイス215の例示的実施形態を示す。前述のように、スキャニング・デバイス215は、エネルギー放出源225、光学アセンブリ230、検出器235、並びにマイクロプロセッサ240及び関連付けられたメモリを含むことが可能であり、それぞれシャーシ245内に配設される。スキャニング・デバイス215は、容易に持ち運べるよう構成可能であり、バッテリ充電可能であり、ユーザが手に持つことが可能であり、ユーザのポケットに十分入るように小型であることが可能である。シャーシ245の遠位部分付近には、以下でより詳細に説明するように、スキャニング・デバイス215が診断レーンを含むテスト・デバイスを読み取る際に通過するアパチャ255を有するインターフェース領域250がある。テスト・デバイスの読み取りを実行するために、シャーシ245は、インターフェース領域250が診断レーン方向を指示した状態で、テスト・デバイスの診断レーンの上を掃引される。スキャニング・デバイス215のシャーシ245は、テスト・デバイスに関してユーザが自由に動かすように構成可能であり、その逆もまた可能である。ある諸実施形態では、テスト・デバイスはスキャニング・デバイス215のシャーシ245内に挿入又は装填されない。
押しボタン、キーパッド、マウス、及びその他ユーザの入力を受け取るためのものなどの、1つ又は複数のユーザ入力モジュール775を含むことができる。加えて、デバイス715は、検出器35及び235に対応可能な1つ又は複数の検出器モジュール735、並びに、源25及び225に対応可能な1つ又は複数のエミッタ/源モジュール725を含むことができる
サンプル収集デバイス(SCD)は、同様に、本明細書で説明される診断分析システムに含められることを理解されたい。一般に、サンプルは、サンプルをテスト・デバイスに印加するための準備を行い、スキャナを介して結果を読み取るSCDを使用して、処理可能である。例えばいくつかの実施形態では、サンプルは、SCD(例えば検出及び捕捉プローブ、及び/又は抽出試薬)内に存在する試薬に接触する、SCD及び1つ又は複数の検体から取得又はこれに追加することができる。その後サンプルは処理され、SCDを介してテスト・デバイスへ移送され、スキャナで読み取られることが可能である。
Claims (65)
- 1つ又は複数のテスト・ライン及び1つ又は複数のしるしを有するテスト・ストリップを含むテスト・デバイスと
i)電磁放射線源、
ii)電磁放射線を誘導するために配設された光学アセンブリ、
iii)前記テスト・ストリップからの放射又は反射を受け取るために配設された検出器、
iv)マイクロプロセッサ、及び
v)シャーシ
を備える、スキャニング・デバイスと、
を備え、
前記テスト・デバイス及び前記スキャニング・デバイスは、前記スキャニング・デバイスの動作中に互いに関連して移動可能なように構成され、前記マイクロプロセッサは、前記しるし及び1つ又は複数の前記テスト・ラインに少なくとも部分的に基づいてテスト結果データを生成するように構成される、
診断分析システム。 - 前記しるしが前記テスト・ストリップと一体化して配設される、請求項1に記載のシステム。
- 前記しるしが、各しるしがテスト・ラインに対応するように前記1つ又は複数のテスト・ラインに隣接して配置される、請求項1に記載のシステム。
- 前記1つ又は複数のテスト・ラインに隣接する前記しるしがパターンを形成し、前記マイクロプロセッサが前記パターンに少なくとも部分的に基づいて前記テスト結果データを生成するように構成される、請求項3に記載のシステム。
- 前記パターンが1次元パターンである、請求項4に記載のシステム。
- 前記パターンが2次元パターンである、請求項4に記載のシステム。
- 前記しるしがユーロピウム参照マークを含む、請求項1に記載のシステム。
- 前記テスト・デバイスが窓を有する本体をさらに備え、前記本体が、前記1つ又は複数のテスト・ラインが前記窓を通過する前記源からの出力に対して露出可能なように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記検出器が、1つ又は複数の前記テスト・ラインから提供される放射又は反射を検出するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 第2の検出器をさらに備え、前記第2の検出器が前記しるしのうちの1つ又は複数からの放射又は反射を検出するように構成される、請求項9に記載のシステム。
- 前記検出器が、前記しるしのうちの1つ又は複数からの放射又は反射を検出するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記テスト・デバイス及び前記スキャニング・デバイスが、少なくとも1つの平面内で互いに関連して自由に移動できるように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記テスト・デバイス及び前記スキャニング・デバイスが、少なくとも2つの平面内で互いに関連して自由に移動できるように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記シャーシが、前記テスト・デバイスを受け入れられないように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記シャーシがハンドヘルド・シャーシとして構成され、前記シャーシの遠位領域付近にテスト・デバイス・インターフェースをさらに備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記テスト・デバイス・インターフェースがアパチャを備え、前記アパチャが前記テスト・デバイスとオープンに通信するように構成される、請求項15に記載のシステム。
- 前記テスト・デバイス・インターフェースに結合された遮蔽体をさらに備え、前記遮蔽体が、前記アパチャを通過して前記スキャニング・デバイスに入って来る周辺光を遮蔽するように、前記アパチャを囲むように構成される、請求項16に記載のシステム。
- 前記ハンドヘルド・シャーシが、前記テスト・デバイス・インターフェース付近の前記シャーシの前記遠位領域から離れるように延在する並行レールを備える、請求項15に記載のシステム。
- 前記テスト・デバイスが、前記ハンドヘルド・シャーシの前記並行レールを受け入れるように形作られた1対の縦方向チャネルを備える、請求項18に記載のシステム。
- 前記ハンドヘルド・シャーシの前記並行レールが、前記テスト・デバイスの前記縦方向チャネルとスライド可能なようにインターフェースする、請求項19に記載のシステム。
- 前記マイクロプロセッサが、前記テスト・デバイスと前記スキャニング・デバイスとの間の相対的な動きを補償するように、前記テスト結果データを生成するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記補償が、前記テスト・デバイスと前記スキャニング・デバイスとの間の前記相対的な動きの間の可変速度の補償を含む、請求項21に記載のシステム。
- 前記マイクロプロセッサが、前記テスト・ストリップと前記スキャニング・デバイスとの間の相対的な角度オフセットを補償するように、前記テスト結果データを生成するように構成される、請求項1に記載のシステム。
- 前記検出器が、電荷結合素子(CCD)又は相補型金属半導体(CMOS)素子を備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記テスト・ラインが捕捉部分を固定化した、請求項1に記載のシステム。
- 前記捕捉部分が、1つ又は複数の問題の検体を直接又は間接的に明確に結合するために配設される、請求項25に記載のシステム。
- 前記1つ又は複数のテスト・ラインが側方流動膜内に配設され、前記1つ又は複数のテスト・ラインが1つ又は複数の問題の検体を直接又は間接的に明確に結合する捕捉部分を固定化した、請求項1に記載のシステム。
- 前記テスト・デバイスが基板を含み、前記基板が1つ又は複数の制御ラインをさらに備える、請求項1に記載のシステム。
- 前記しるしが、各しるしが制御ラインに対応するように、前記1つ又は複数の制御ラインに隣接して配置される、請求項28に記載のシステム。
- 問題の検体を検出するためにサンプルを分析する方法であって、
サンプル収集デバイスからのサンプルをテスト・デバイスに提供するステップであって、前記テスト・デバイスが、1つ又は複数の問題の検体を直接又は間接的に明確に結合する捕捉部分が固定化された1つ又は複数のテスト・ラインを備え、前記しるしが、前記1つ又は複数のテスト・ラインに隣接する前記テスト・デバイスの表面上に位置する、提供するステップと、
前記1つ又は複数のテスト・ライン及び前記1つ又は複数のしるしを読み取るように、スキャニング・デバイスに関連して前記テスト・デバイスを移動するステップと、
前記1つ又は複数のしるし及び前記1つ又は複数のテスト・ラインの前記読み取りに少なくとも部分的に基づいてテスト結果データを生成するステップと、
前記テスト結果データをメモリに格納するステップと、
を含む、方法。 - 前記1つ又は複数のテスト・ラインが側方流動膜内に配設され、前記1つ又は複数のテスト・ラインが1つ又は複数の問題の検体を直接又は間接的に明確に結合する捕捉部分を固定化した、請求項30に記載の方法。
- 前記1つ又は複数のしるしがパターンを形成し、前記テスト結果データが前記パターンに少なくとも部分的に基づく、請求項30に記載の方法。
- 前記パターンが1次元パターンである、請求項32に記載の方法。
- 前記パターンが2次元パターンである、請求項32に記載の方法。
- 前記テスト結果を生成するステップが、前記テスト・デバイスと前記スキャニング・デバイスとの間の相対的な動きに関して前記テスト結果を補償するステップを含む、請求項30に記載の方法。
- 前記補償が、前記スキャニング・デバイスに関する前記テスト・デバイスの前記動きの間の可変速度に関する前記テスト結果を補償するステップを含む、請求項30に記載の方法。
- 前記補償が、前記テスト・ストリップと前記スキャニング・デバイスとの間の相対的な角度オフセットに関する前記テスト結果を補償するステップを含む、請求項30に記載の方法。
- 電磁放射線出力を前記テスト・ストリップに提供するステップをさらに含み、前記読み取りが、前記放射線出力に応答した前記1つ又は複数のしるしからの放射又は反射に少なくとも部分的に基づく、請求項30に記載の方法。
- 電磁放射線出力を前記テスト・ストリップに提供するステップをさらに含み、前記読み取りが、前記放射線出力に応答した前記1つ又は複数のテスト・ラインからの反射又は放射に少なくとも部分的に基づく、請求項30に記載の方法。
- 前記読み取りが、前記放射線出力に応答した前記1つ又は複数のしるしからの反射又は放射に少なくとも部分的に基づく、請求項39に記載の方法。
- 前記1つ又は複数のしるしからの前記反射又は放射及び前記1つ又は複数のテスト・ラインからの前記反射又は放射が、異なる波長又は波長の領域である、請求項30に記載の方法。
- 1つ又は複数のテスト・ラインを有するテスト・ストリップと、
1つ又は複数のしるしと、
を含む基板を備える、テスト・デバイスであって、
前記しるしが、スキャナへの前記テスト・デバイスの提示を補償するように、前記スキャナに関した前記テスト・デバイスの位置決めを容易にするように前記基板上に配設される、
テスト・デバイス。 - 前記1つ又は複数のしるしが、前記スキャナへの前記テスト・デバイスの提示速度における変化の修正を容易にするように配設される、請求項42に記載のテスト・デバイス。
- 前記1つ又は複数のしるしが、前記スキャナへの前記テスト・デバイスの提示角度における変化の修正を容易にするように配設される、請求項42に記載のテスト・デバイス。
- 前記1つ又は複数のしるしが前記テスト・ストリップと一体化して配設される、請求項42に記載のテスト・デバイス。
- 前記しるしが、各しるしがテスト・ラインに対応するように前記1つ又は複数のテスト・ラインに隣接して配置される、請求項42に記載のテスト・デバイス。
- 前記1つ又は複数のテスト・ラインに隣接する前記しるしがパターンを形成し、前記マイクロプロセッサが前記パターンに少なくとも部分的に基づいて前記テスト結果データを生成するように構成される、請求項42に記載のテスト・デバイス。
- 前記パターンが1次元パターンである、請求項42に記載のテスト・デバイス。
- 前記パターンが2次元パターンである、請求項42に記載のテスト・デバイス。
- 前記しるしがユーロピウム参照マークを含む、請求項42に記載のテスト・デバイス。
- 電磁放射線源と、
電磁放射線を誘導するために配設された光学アセンブリと、
前記テスト・ストリップからの放射又は反射を受け取るために配設された検出器と、
マイクロプロセッサと、
シャーシと、
を備える、スキャナであって、
前記マイクロプロセッサが、前記テスト・デバイス上に配設された関連付けられた1つ又は複数のしるしと、前記テスト・デバイス上に配設された1つ又は複数のテスト・ラインとに基づいて、テスト結果データを生成するように構成される、
スキャナ。 - 前記しるしが、パターンを形成するように前記1つ又は複数のテスト・ラインに隣接して配設され、前記マイクロプロセッサが、前記パターンに少なくとも部分的に基づく前記テスト結果データを生成するように構成される、請求項51に記載のスキャナ。
- 前記検出器が、前記テスト・ラインのうちの1つ又は複数から提供される放射又は反射を検出するように構成される、請求項51に記載のスキャナ。
- 第2の検出器をさらに備え、前記第2の検出器が、前記しるしのうちの1つ又は複数からの放射又は反射を検出するように構成される、請求項51に記載のスキャナ。
- 前記検出器が、前記しるしのうちの1つ又は複数からの放射又は反射を検出するように構成される、請求項53に記載のスキャナ。
- 前記スキャナがシャーシを含み、前記シャーシが、前記テスト・デバイスを受け入れられないように構成される、請求項51に記載のスキャナ。
- 前記スキャナがシャーシを含み、前記シャーシがハンドヘルド・シャーシとして構成され、前記シャーシの遠位領域付近にテスト・デバイス・インターフェースをさらに備える、請求項51に記載のスキャナ。
- 前記テスト・デバイス・インターフェースがアパチャを備え、前記アパチャが前記テスト・デバイスとオープンに通信するように構成される、請求項57に記載のスキャナ。
- 前記テスト・デバイス・インターフェースに結合された遮蔽体をさらに備え、前記遮蔽体が、前記アパチャを通過して前記スキャニング・デバイスに入って来る周辺光を遮蔽するように、前記アパチャを囲むように構成される、請求項57に記載のスキャナ。
- 前記シャーシが、前記テスト・デバイス・インターフェース付近の前記シャーシの前記遠位領域から離れるように延在する並行レールを備える、請求項57に記載のスキャナ。
- 前記シャーシの前記並行レールが、前記テスト・デバイスの前記縦方向チャネルとスライド可能なようにインターフェースする、請求項60に記載のスキャナ。
- 前記マイクロプロセッサが、前記テスト・デバイスと前記スキャニング・デバイスとの間の相対的な動きを補償するように、前記テスト結果データを生成するように構成される、請求項51に記載のスキャナ。
- 前記補償が、前記テスト・デバイスと前記スキャニング・デバイスとの間の前記相対的な動きの間の可変速度の補償を含む、請求項51に記載のスキャナ。
- 前記マイクロプロセッサが、前記テスト・ストリップと前記スキャニング・デバイスとの間の相対的な角度オフセットを補償するように、前記テスト結果データを生成するように構成される、請求項51に記載のスキャナ。
- 前記検出器が、電荷結合素子(CCD)又は相補型金属半導体(CMOS)素子を備える、請求項51に記載のスキャナ。
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