JP2016027315A - 磁気センサ装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】ホール素子の駆動電力を二つの駆動電力に切り替えることにより、消費電流を低減しつつ磁気センサ装置の精度を保つ磁気センサ装置を提供する。【解決手段】センサ素子に電力を供給する駆動回路と、駆動回路からセンサ素子への電力の供給を制限するスイッチ切り替え回路と、センサ素子の出力信号を演算処理する差動増幅回路と、磁気判定に用いられる電圧を生成する閾値電圧発生回路と、差動増幅回路の電圧と閾値電圧とを比較判定する比較回路と、比較回路の出力に応じて、駆動回路の出力する電力を切り替え、閾値電圧を切り替え、スイッチ切り替え回路のオンオフを一定の周期で制御するロジック回路を備える。【選択図】図1

Description

本発明は、磁界強度を電気信号に変換する磁気センサ装置に関し、磁界を検出する精度を向上しつつ低消費電力化することができる磁気センサ装置に関する。
図7は、従来の磁気センサ装置の回路図である。従来の磁気センサ装置は、磁気センサ回路710と、CLK回路108と、ONOFF制御回路730と、出力端子103を備えている。磁気センサ回路710は、センサ素子104と、差動増幅回路105と、比較回路106と、ラッチ回路704と、NMOSトランジスタ705を備えている。
図8は、従来の磁気センサ装置の動作を示すタイミングチャートである。CLK回路108は、図8に示すようなある周期Tclkのクロック信号を出力する。ONOFF制御回路730は、クロック信号から周期Tcycleをもった制御信号を生成し出力する。磁気センサ回路710は、この制御信号がHになるタイミングで間欠動作を行い、低消費電流化を実現している。
センサ素子104は、磁界または磁束密度に応じてホール電圧を出力する。差動増幅回路105はホール電圧を増幅し、比較回路106はそのホール電圧とある電圧と比較することによって、検出/非検出の信号が出力する。ラッチ回路704は、その信号を間欠動作のオフの期間も保持する。NMOSトランジスタ705は、ゲートに入力されるラッチ回路704の出力信号によってオンオフが制御される。出力端子103は、プルアップ抵抗が接続されることによって、磁界または磁束密度の有無に応じたH/L信号が出力されることになり、低消費電流の磁気センサ回路710が実現される(例えば、特許文献1図2参照)。
特開2006−153699号公報
しかしながら、従来の磁気センサ装置では、間欠動作を行った上で更に消費電力を低減すると磁気センサ装置の精度を保つことが困難であるという課題があった。
本発明は、以上のような課題を解決するために考案されたものであり、ホール素子の駆動電力を二つの駆動電力に切り替えることにより、消費電流を低減しつつ磁気センサ装置の精度を保つ磁気センサ装置を提供する。
従来の課題を解決するために、本発明の磁気センサ装置は以下のような構成とした。
センサ素子に印加される磁界強度に応じて論理出力を行う磁気センサ装置であって、前記センサ素子に電力を供給する駆動回路と、前記駆動回路から前記センサ素子への電力の供給を制限するスイッチ切り替え回路と、前記センサ素子の出力信号を演算処理する差動増幅回路と、所定の印加磁界強度に応じた磁気判定に用いられる電圧を生成するための閾値電圧発生回路と、前記差動増幅回路の電圧と前記閾値電圧発生回路で生成された前記閾値電圧との大小関係を比較判定するための比較回路と、前記比較回路の出力に応じて前記駆動回路が前記センサ素子に供給する電力を変更する第一の信号と、前記比較回路の出力に応じて前記閾値電圧発生回路の前記閾値電圧を切り替える第二の信号と、前記スイッチ切り替え回路のオンオフを一定の周期で制御する第三の信号を出力するロジック回路を備えた。
本発明の磁気センサ装置は、ホール素子の駆動電力を切り替えることにより、検出したい磁界より小さい時は消費電流を低減し、検出したい磁界に近い時のみホール素子が磁界を検出する精度を上げ磁気センサ装置の精度を高くすることができる。
本実施形態の磁気センサ装置の回路図である。 本実施形態の磁気センサ装置の駆動回路の一例を示す回路図である。 本実施形態の磁気センサ装置の第一の動作例を示すタイミングチャートである。 本実施形態の磁気センサ装置の第二の動作例を示すタイミングチャートである。 本実施形態の磁気センサ装置の第三の動作例を示すタイミングチャートである。 本実施形態の磁気センサ装置の他の例を示す回路図である。 従来の磁気センサ装置の回路図である。 従来の磁気センサ装置のタイミングチャートである。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
図1は、本実施形態の磁気センサ装置の回路図である。本実施形態の磁気センサ装置は、ホール素子104と、スイッチ切り替え回路110と、差動増幅回路105と、比較回路106と、CLK回路108と、ロジック回路120と、駆動回路140と、抵抗131、132、133と、スイッチ回路107と、電源端子101と、グラウンド端子100と、出力端子103を備えている。
スイッチ切り替え回路110は、スイッチ回路111、112、113、114を備えている。ロジック回路120は、入力端子121、122と、出力端子123、124、125、126を備えている。図2は、駆動回路140の一例を示す回路図である。駆動回路140は、基準電圧回路201と、アンプ202と、抵抗203、204、205と、NMOSトランジスタ206と、入力端子142と、出力端子141を備えている。
ホール素子104は、入力端子はスイッチ回路111の一方の端子に接続され、第一の出力端子はスイッチ回路112の一方の端子に接続され、第二の出力端子はスイッチ回路113の一方の端子に接続され、第三の出力端子はスイッチ回路114の一方の端子に接続される。スイッチ回路112は、もう一方の端子は差動増幅回路105の第一の入力端子に接続される。スイッチ回路113は、もう一方の端子は差動増幅回路105の第二の入力端子に接続される。スイッチ回路111は、もう一方の端子は駆動回路140の出力端子141に接続される。スイッチ回路114は、もう一方の端子はグラウンド端子100に接続される。差動増幅回路105は、第一の出力は比較回路106の第一の反転入力端子に接続され、第二の出力は比較回路106の第一の非反転入力端子に接続される。比較回路106は、第二の反転入力端子はグラウンド端子100に接続され、第二の非反転入力端子は抵抗131と抵抗132の接続点に接続され、出力はロジック回路120の入力端子121に接続される。抵抗131は、もう一方の端子は電源端子101に接続される。抵抗132は、もう一方の端子は抵抗133の一方の端子とスイッチ回路107の一方の端子に接続される。抵抗133のもう一方の端子とスイッチ回路107のもう一方の端子は、グラウンド端子100に接続される。ロジック回路120は、入力端子122はCLK回路108に接続され、出力端子123はスイッチ切り替え回路110に接続され、出力端子124は駆動回路140の入力端子142に接続され、出力端子125はスイッチ回路107に接続され、出力端子126は出力端子103に接続される。
駆動回路140の接続について説明する。アンプ202は、非反転入力端子が基準電圧回路201の正極に接続され、反転入力端子が抵抗203と抵抗204の接続点に接続され、出力は抵抗203のもう一方の端子と出力端子141に接続される。基準電圧回路201は、負極はグラウンド端子100に接続される。抵抗204は、もう一方の端子は抵抗205の一方の端子とNMOSトランジスタ206のドレインに接続される。抵抗205は、もう一方の端子はグラウンド端子100に接続される。NMOSトランジスタ206は、ゲートは入力端子142に接続され、ソースはグラウンド端子100に接続される。
次に、本実施形態の磁気センサ装置の動作について説明する。図3は、本実施形態の磁気センサ装置の第一の動作例を示したタイミングチャートである。
CLK回路108は、一定周期Tclkとなるクロック信号を生成し、ロジック回路120の入力端子122へ出力する。ロジック回路120は、クロック信号を分周し一定周期TcycleとなるSW信号を生成し、スイッチ切り替え回路110へ出力する。SW信号が例えばHのときを第一の状態として、スイッチ切り替え回路110はスイッチ回路111、112、113、114をすべてオンする。SW信号が例えばLの時を第二の状態として、スイッチ回路111、112、113、114をすべてオフさせ、差動増幅回路105の第一の入力端子と第二の入力端子はフローティングとなる。こうして、第一の状態では、ホール素子104が磁界を検出し、第二の状態では、ホール素子104の動作を止め、磁気センサ装置は間欠動作をする。
駆動回路140は、ホール素子104にスイッチ回路111を介して電圧を印加する。ホール素子104がBpaw以下の磁界を検出した場合、ロジック回路120は駆動回路140の入力端子142に電力制御信号としてLを、スイッチ回路107へ閾値制御信号としてHを出力する。電力制御信号によってNMOSトランジスタ206はオフし、駆動回路140の出力端子141からは電圧VLが出力される。抵抗131、132、133と、スイッチ回路107は閾値電圧発生回路として動作し、閾値制御信号によってスイッチ回路107はオンし比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vpawを発生させる。
駆動回路140から電圧VLが印加されている時、ホール素子104の端子間の抵抗値をRhとすると、ホール素子104の一方の端子間に流れるホール素子電流はIL=VL/Rhと表される。ホール素子の磁界をBin、変換係数をKhとすると、もう一方の端子間の電位差VsはVs=Kh×IL×Bin=Kh×VL×Bin/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vsを電位差Vhに変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vhと閾値電圧Vpawとグラウンド端子100の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は図3に示すように出力端子103にHを出力する。なお、磁界を検出するのは第一の状態だけで、第二の状態では出力端子103に直前の信号と同じ信号を維持させる。
磁界がBpawより大きくBaw以下になった時、図3のt1に示す第一の状態で検出される磁界の大きさをBin2とすると、ホール素子104の端子間の電位差Vs2はVs2=Kh×IL×Bin2=Kh×VL×Bin2/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs2を電位差Vh2に変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh2と閾値電圧Vpawとグラウンド端子の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は図3に示すように電力制御信号にH、閾値制御信号にL、出力端子103にHを出力する。そして、NMOSトランジスタ206をオンさせ、駆動回路140の出力端子141に電圧VH(VH>VL)を発生させる。また、スイッチ回路107をオフさせ、比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vawを発生させる。
図3のt2に示す第一の状態では、ホール素子104の端子間の電位差Vs3はVs3=Kh×IH×Bin2=Kh×VH×Bin2/Rhと表される。また、ホール素子104のもう一方の端子間に流れるホール素子電流はIH=VH/Rhと表され、ホール素子104が磁界を検出する精度を上げることができる。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs3を電位差Vh3に変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh3と閾値電圧Vawとグラウンド端子の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は図3に示すように電力制御信号にH、閾値制御信号にL、出力端子103にHを出力する。
磁界がBawより大きくなった時、図3のt3に示す第一の状態で検出される磁界の大きさをBin3とすると、ホール素子104の端子間の電位差Vs4はVs4=Kh×IH×Bin3=Kh×VH×Bin3/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs4を電位差Vh4に変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh4と閾値電圧Vawとグラウンド端子100の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は図3に示すように電力制御信号にL、閾値制御信号にH、出力端子103にLを出力する。そして、NMOSトランジスタ206をオフさせ、駆動回路140の出力端子141に電圧VLを発生させる。また、スイッチ回路107をオンさせ、比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vpawを発生させる。こうして、t3以降ホール素子104に流れる電流が削減され低消費電流化することができる。
以上説明したように、磁界がBawよりも非常に小さい時は、ホール素子104に流す電流を小さくする。また、磁界がBawに近くなりBpawを超えると、ホール素子104に流す電流を大きくしてホール素子104が磁界を検出する精度を上げる。また、磁界がBawを超えて出力端子103がLになると、ホール素子104に流す電流を小さくする。このようにして、本実施形態の磁気センサ装置は消費電流を低くすることができる。
図4は、本実施形態の磁気センサ装置の第二の動作例を示したタイミングチャートである。
CLK回路108は、一定周期Tclkとなるクロック信号を生成し、ロジック回路120の入力端子122へ出力する。ロジック回路120は、クロック信号を分周し一定周期TcycleとなるSW信号を生成し、スイッチ切り替え回路110へ出力する。SW信号が例えばHのときを第一の状態として、スイッチ切り替え回路110はスイッチ回路111、112、113、114をすべてオンする。SW信号が例えばLの時を第二の状態として、スイッチ回路111、112、113、114をすべてオフさせ、差動増幅回路105の第一の入力端子と第二の入力端子はフローティングとなる。こうして、第一の状態では、ホール素子104が磁界を検出し、第二の状態では、ホール素子104の動作を止め、磁気センサ装置は間欠動作をする。
駆動回路140は、ホール素子104にスイッチ回路111を介して電圧を印加する。ホール素子104がBpaw以下の磁界を検出した場合、ロジック回路120は駆動回路140の入力端子142に電力制御信号としてLを、スイッチ回路107へ閾値制御信号としてHを出力する。電力制御信号によってNMOSトランジスタ206はオフし、駆動回路140の出力端子141からは電圧VLが出力される。抵抗131、132、133と、スイッチ回路107は閾値電圧発生回路として動作し、閾値制御信号によってスイッチ回路107はオンし比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vpawを発生させる。
駆動回路140から電圧VLが印加されている時、ホール素子104の端子間の抵抗値をRhとすると、ホール素子104の一方の端子間に流れるホール素子電流はIL=VL/Rhと表される。ホール素子の磁界をBin、変換係数をKhとすると、もう一方の端子間の電位差VsはVs=Kh×IL×Bin=Kh×VL×Bin/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vsを電位差Vhに変換して比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vhと閾値電圧Vpawとグラウンド端子100の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は図4に示すように出力端子103にHを出力する。なお、磁界を検出するのは第一の状態だけで、第二の状態では出力端子103に直前の信号と同じ信号を維持させる。
磁界がBpawより大きくBaw以下になった時、図4のt1に示す第一の状態で検出される磁界の大きさをBin2とすると、ホール素子104の端子間の電位差Vs2はVs2=Kh×IL×Bin2=Kh×VL×Bin2/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs2を電位差Vh2に変換して比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh2と閾値電圧Vpawとグラウンド端子100の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は、図4に示すように電力制御信号にH、閾値制御信号にL、出力端子103にHを出力する。そして、NMOSトランジスタ206をオンさせ、駆動回路140の出力端子141に電圧VH(VH>VL)を発生させる。また、スイッチ回路107をオフさせ、比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vawを発生させる。そして、第一の状態からTpsl(Tpsl<Tcycle)の時間後のt2にて、ロジック回路120はSW信号をHにさせ、駆動回路140から電圧VHが出力された状態でホール素子104に磁界を検出させる。
図4のt2に示す第一の状態では、ホール素子104の端子間の電位差Vs3はVs3=Kh×IH×Bin2=Kh×VH×Bin2/Rhと表される。また、ホール素子104のもう一方の端子間に流れるホール素子電流はIH=VH/Rhと表され、ホール素子104が磁界を検出する精度を上げることができる。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs3を電位差Vh3に変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh3と閾値電圧Vawとグラウンド端子の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は、図4に示すように電力制御信号にL、閾値制御信号にH、出力端子103にHを出力する。そして、t1からTcycle後にロジック回路120はSW信号をHにさせ、同様に磁界を検出する。こうして、t2にて精度を上げた状態で磁界を検出後、ホール素子104に流れる電流を低消費電流化することができる。
磁界がBawより大きくなった時、図4のt3に示す第一の状態で検出される磁界の大きさをBin3とすると、ホール素子104の端子間の電位差Vs4はVs4=Kh×IL×Bin2=Kh×VL×Bin3/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs4を電位差Vh4に変換して比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh4と閾値電圧Vpawとグラウンド端子の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は、図4に示すように電力制御信号にH、閾値制御信号にL、出力端子103にHを出力する。そして、NMOSトランジスタ206をオンさせ、駆動回路140の出力端子141に電圧VH(VH>VL)を発生させる。また、スイッチ回路107をオフさせ、比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vawを発生させる。そして、t3に示す第一の状態からTpsl(Tpsl<Tcycle)の時間後のt4にて、ロジック回路120はSW信号をHにさせ、駆動回路140から電圧VHが出力された状態でホール素子104に磁界を検出させる。
図4のt4に示す第一の状態では、ホール素子104の端子間の電位差Vs5はVs5=Kh×IH×Bin3=Kh×VH×Bin3/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs5を電位差Vh5に変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh5と閾値電圧Vawとグラウンド端子100の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は、図4に示すように電力制御信号にL、閾値制御信号にH、出力端子103にLを出力する。そして、NMOSトランジスタ206をオフさせ、駆動回路140の出力端子141に電圧VLを発生させる。また、スイッチ回路107をオンさせ、比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vpawを発生させる。こうして、t4以降ホール素子104に流れる電流が削減され、本実施形態の磁気センサ装置は消費電流を低くすることができる。
このようにして、磁界がBawよりも非常に小さい時はホール素子104に流す電流を小さくし、磁界がBawに近くなると磁界がBawに近くなったことを検出した時のみホール素子104に流す電流を大きくしてホール素子104が磁界を検出する精度を上げる。そして、磁界がBawを超えて出力端子103がLになるとホール素子104に流す電流を小さくし低消費電流化を行うことができる。
また、本実施形態ではTpslを有限の時間として動作を説明したがTpsl=0としても良い。
図5は、本実施形態の磁気センサ装置の第三の動作例を示したタイミングチャートである。
CLK回路108は、一定周期Tclkとなるクロック信号を生成し、ロジック回路120の入力端子122へ出力する。ロジック回路120は、クロック信号を分周し一定周期TcycleとなるSW信号を生成し、スイッチ切り替え回路110へ出力する。SW信号が例えばHのときを第一の状態として、スイッチ切り替え回路110はスイッチ回路111、112、113、114をすべてオンする。SW信号が例えばLの時を第二の状態として、スイッチ回路111、112、113、114をすべてオフさせ、差動増幅回路105の第一の入力端子と第二の入力端子はフローティングとなる。こうして、第一の状態では、ホール素子104が磁界を検出し、第二の状態では、ホール素子104の動作を止め、磁気センサ装置は間欠動作をする。
駆動回路140は、ホール素子104にスイッチ回路111を介して電圧を印加する。ホール素子104がBpaw以下の磁界を検出した場合、ロジック回路120は駆動回路140の入力端子142に電力制御信号としてLを、スイッチ回路107へ閾値制御信号としてHを出力する。電力制御信号によってNMOSトランジスタ206はオフし、駆動回路140の出力端子141からは電圧VLが出力される。抵抗131、132、133と、スイッチ回路107は閾値電圧発生回路として動作し、閾値制御信号によってスイッチ回路107はオンし比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vpawを発生させる。
駆動回路140から電圧VLが印加されている時、ホール素子104の端子間の抵抗値をRhとすると、ホール素子104の一方の端子間に流れるホール素子電流はIL=VL/Rhと表される。ホール素子の磁界をBin、変換係数をKhとすると、もう一方の端子間の電位差VsはVs=Kh×IL×Bin=Kh×VL×Bin/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vsを電位差Vhに変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vhと閾値電圧Vpawとグラウンド端子100の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は、図5に示すように出力端子103にHを出力する。なお、磁界を検出するのは第一の状態だけで、第二の状態では出力端子103に直前の信号と同じ信号を維持させる。
磁界がBpawより大きくBaw以下になった時、図5のt1に示す第一の状態で検出される磁界の大きさをBin2とすると、ホール素子104の端子間の電位差Vs2はVs2=Kh×IL×Bin2=Kh×VL×Bin2/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs2を電位差Vh2に変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh2と閾値電圧Vpawとグラウンド端子の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は、図5に示すように電力制御信号にH、閾値制御信号にL、出力端子103にH、を出力する。そして、NMOSトランジスタ206をオンさせ、駆動回路140の出力端子141に電圧VH(VH>VL)を発生させる。また、スイッチ回路107をオフさせ、比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vawを発生させる。
図5のt2に示す第一の状態では、ホール素子104の端子間の電位差Vs3はVs3=Kh×IH×Bin2=Kh×VH×Bin2/Rhと表される。また、ホール素子104のもう一方の端子間に流れるホール素子電流はIH=VH/Rhと表され、ホール素子104が磁界を検出する精度を上げることができる。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs3を電位差Vh3に変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh3と閾値電圧Vawとグラウンド端子の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は、図3に示すように電力制御信号にH、閾値制御信号にL、出力端子103にHを出力する。
図5のt3に示す第一の状態では、t2以降N回連続(本動作例ではN=3)で電力制御信号がHの状態での第一の状態となる。このとき、ロジック信号120は、検出される磁界の大きさに依らず、第二の状態切り替わる際に電力制御信号にL、閾値制御信号にHを出力する。このときに検出される磁界の大きさをBin3とすると、ホール素子104の端子間の電位差Vs4はVs4=Kh×IH×Bin3=Kh×VH×Bin3/Rhと表される。差動増幅回路105は、ホール素子104の端子間の電位差Vs4を電位差Vh4に変換して、比較回路106へ出力する。比較回路106は、電位差Vh4と閾値電圧Vawとグラウンド端子100の電圧を比較し、ロジック回路120の入力端子121に信号を出力する。この信号を受けて、ロジック回路120は、図5に示すように電力制御信号にL,閾値制御信号にH、出力端子103にHを出力する。そして、NMOSトランジスタ206はオフさせ、駆動回路140の出力端子141に電圧VLを発生させる。また、スイッチ回路107をオンさせ、比較回路106の第二の非反転入力端子に閾値電圧Vpawを発生させる。こうして、t3以降ホール素子104に流れる電流が削減され、本実施形態の磁気センサ装置は消費電流を低くすることができる。
このようにして、一度磁界がBpawより大きくなりホール素子104に流す電流を大きくしても、所定のN回目の第一の状態を経た場合はホール素子104に流す電流を再度小さくすることで、磁気センサ装置は消費電流を低くすることができる。
また、本実施形態ではN=3として動作を説明したが、Nは2以上の整数であれば良い。
図6は、本実施形態の磁気センサ装置の他の例を示す回路図である。
差動増幅回路605や比較回路606の電源入力端子は、駆動回路140の出力端子141に接続され、駆動回路140を介して電源電圧が印加されるように構成しても良い。
このように構成すると、磁界がBawよりも非常に小さい時は、差動増幅回路605や比較回路606に流す電流を小さくすることが出来、更に低消費電流化を行うことができる。
なお、本実施形態ではホール素子を用いて説明したが、加速度や圧力などの物理量と駆動電力に比例して同様に電圧出力がなされる変換素子を用いて物理量を検出しても良い。
以上記載したように、本実施形態の磁気センサ装置は、ホール素子の駆動電力を切り替えることにより、検出したい磁界より小さい時は消費電流を低減し、検出したい磁界に近い時のみホール素子が磁界を検出する精度を上げ磁気センサ装置の精度を高くすることができる。
104 ホール素子
105、605 差動増幅回路
106、606 比較回路
107、111、112、113、114 スイッチ回路
108 CLK回路
110 スイッチ切り替え回路
120 ロジック回路
100 グラウンド端子
101 電源端子
103 出力端子
201 基準電圧回路
202 アンプ

Claims (6)

  1. センサ素子に印加される磁界強度に応じて論理出力を行う磁気センサ装置であって、
    前記センサ素子に電力を供給する駆動回路と、
    前記駆動回路から前記センサ素子への電力の供給を制限するスイッチ切り替え回路と、
    前記センサ素子の出力信号を演算処理する差動増幅回路と、
    磁気判定に用いられる閾値電圧を生成する閾値電圧発生回路と、
    前記差動増幅回路の出力する電圧と前記閾値電圧とを比較判定する比較回路と、
    前記比較回路の出力に応じて前記駆動回路が前記センサ素子に供給する電力を変更する第一の信号と、前記比較回路の出力に応じて前記閾値電圧発生回路の前記閾値電圧を切り替える第二の信号と、前記スイッチ切り替え回路のオンオフを一定の周期で制御する第三の信号を出力するロジック回路と、
    を備えることを特徴とする磁気センサ装置。
  2. 前記ロジック回路は、前記比較回路の出力から前記磁界強度が所定の磁界強度に近づいたことを検出した時に、前記第一の信号を出力して前記駆動回路が前記センサ素子に供給する電力を上昇させ、前記第二の信号を出力して前記閾値電圧発生回路の前記閾値電圧を上昇させ、前記センサ素子が検出する磁界強度の精度を向上させることを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ装置。
  3. 前記ロジック回路は、前記駆動回路が前記センサ素子に供給する電力を上昇させた状態で、前記第三の信号がn回(nは2以上の整数)切り替わったとき、前記第一の信号を出力して前記駆動回路が前記センサ素子に供給する電力を低下させ、前記第二の信号を出力して前記閾値電圧発生回路の前記閾値電圧を低下させ、前記センサ素子での消費電力を削減させることを特徴とする請求項2に記載の磁気センサ装置。
  4. 前記ロジック回路は、前記比較回路の出力から前記磁界強度が所定の磁界強度に近づいたことを検出した時に、前記第一の信号を出力して前記駆動回路が前記センサ素子に供給する電力を上昇させ、前記第二の信号を出力して前記閾値電圧発生回路の前記閾値電圧を上昇させ、次の周期になる前に前記第三の信号を出力して前記センサ素子が検出する磁界強度の精度を向上させることを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ装置。
  5. 前記差動増幅回路は、前記駆動回路から供給される電力により駆動することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の磁気センサ装置。
  6. 前記比較回路は、前記駆動回路から供給される電力により駆動することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の磁気センサ装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018212132A1 (ja) * 2017-05-19 2018-11-22 Tdk株式会社 磁気センサ
CN110120803A (zh) * 2018-02-06 2019-08-13 意瑞半导体(上海)有限公司 一种全极霍尔开关电路

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107167164B (zh) * 2016-03-08 2020-11-06 艾普凌科有限公司 磁传感器和磁传感器装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03109417U (ja) * 1990-02-27 1991-11-11
JP2000174254A (ja) * 1998-12-07 2000-06-23 Sharp Corp 磁気検出用半導体集積回路
JP2006153699A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁界検出装置
JP2008032424A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Rohm Co Ltd センサ回路、半導体装置、電子機器
JP2009156699A (ja) * 2007-12-26 2009-07-16 Toshiba Corp 磁気検出回路
US7605647B1 (en) * 2008-04-29 2009-10-20 Allegro Microsystems, Inc. Chopper-stabilized amplifier and magnetic field sensor
JP2012063211A (ja) * 2010-09-15 2012-03-29 Toshiba Corp 磁気検出装置
JP6158682B2 (ja) * 2013-10-25 2017-07-05 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 磁気センサ回路

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03109417U (ja) * 1990-02-27 1991-11-11
JP2000174254A (ja) * 1998-12-07 2000-06-23 Sharp Corp 磁気検出用半導体集積回路
JP2006153699A (ja) * 2004-11-30 2006-06-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 磁界検出装置
JP2008032424A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Rohm Co Ltd センサ回路、半導体装置、電子機器
JP2009156699A (ja) * 2007-12-26 2009-07-16 Toshiba Corp 磁気検出回路
US7605647B1 (en) * 2008-04-29 2009-10-20 Allegro Microsystems, Inc. Chopper-stabilized amplifier and magnetic field sensor
JP2012063211A (ja) * 2010-09-15 2012-03-29 Toshiba Corp 磁気検出装置
JP6158682B2 (ja) * 2013-10-25 2017-07-05 エスアイアイ・セミコンダクタ株式会社 磁気センサ回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018212132A1 (ja) * 2017-05-19 2018-11-22 Tdk株式会社 磁気センサ
JP2018194485A (ja) * 2017-05-19 2018-12-06 Tdk株式会社 磁気センサ
CN110120803A (zh) * 2018-02-06 2019-08-13 意瑞半导体(上海)有限公司 一种全极霍尔开关电路

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