JP2015519542A5 - - Google Patents

Claims (15)

1. 熱センサ装置であって、
   ターゲット材料から熱を受け取るように構成されるホットジャンクションと、
   ベース材料に熱的に短絡されるように構成されるコールドジャンクションと、
   前記ホットジャンクションと前記コールドジャンクションと電気的に通信するプロセッサデバイスと、
   を含み、
   前記ホットジャンクションの温度変化の間に導入される誤差を補償する調節を含む前記ターゲット材料から熱を受け取ることに応答した前記ホットジャンクションと前記コールドジャンクションとの間のサーモパイルの電気的特性の変化に基づいて、前記プロセッサデバイスが前記ターゲット材料の温度を判定するように構成され、
   前記プロセッサデバイスが、
   材料特性と、前記コールドジャンクションと前記ホットジャンクションとの間の熱伝達のモデルとを補償する係数と、
   時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の判定と、
   に少なくとも部分的に従った量だけ前記温度の前記判定を調節することにより、前記ホットジャンクションの温度変化の間に導入される誤差を補償するように構成される、装置。
2. 請求項１に記載の装置であって、
   前記プロセッサデバイスが、
   時間にわたる前記コールドジャンクションと前記ホットジャンクションとの間の電位の変化の判定、に少なくとも部分的に従った量だけ前記温度の前記判定を調節することにより、前記ホットジャンクションの温度変化の間に導入される誤差を補償するように構成される、装置。
3. 請求項１に記載の装置であって、
   前記プロセッサデバイスが、時間にわたる前記コールドジャンクションの記録された温度のセットに関連して時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の前記変化の推定された直線適合を判定することにより、時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の前記判定を行うように構成される、装置。
4. 請求項１に記載の装置であって、
   前記プロセッサデバイスが、時間にわたる前記コールドジャンクションのストアされた温度にフィルタを適用することにより、時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の前記判定を行うように構成される、装置。
5. 請求項４に記載の装置であって、
   前記プロセッサデバイスが、前記コールドジャンクションの現在の温度と前記コールドジャンクションの前の温度と前記フィルタの出力の前の判定とに少なくとも部分的に基づく関数を適用することにより、時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の前記判定の一部として前記フィルタの出力を判定するように構成される、装置。
6. ホストデバイスと、
   前記ホストデバイスの第１の部分の温度を感知するために前記ホストデバイスに配置される第１の熱センサであって、
   前記ホストデバイスの第２の部分に熱的に短絡されるコールドジャンクションと、
   前記ホストデバイスの前記第１の部分から熱を受け取るように構成されるホットジャンクションと、
   を含む、前記第１の熱センサと、
   前記ホストデバイスの前記第２の部分の温度を判定するように構成される第２の熱センサと、
   前記第１の熱センサと前記第２の熱センサと通信するプロセッサデバイスと、
   を含む装置であって、
   前記プロセッサデバイスが、前記ホストデバイスの前記第２の部分における温度変化の間に導入される誤差を補償することにより前記熱センサの信号に基づいて前記ホストデバイスの前記第１の部分の温度の判定を誤差補正するように構成され、
   前記プロセッサデバイスが、
   材料特性と、前記第１の熱センサの前記コールドジャンクションと前記ホットジャンクションとの間の熱伝達のモデルとを補償する定数と、
   時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の判定と、
   に少なくとも部分的に従った量だけ、前記ホストデバイスの前記第１の部分の温度に対応する前記第１の熱センサの出力を調節することにより、前記ホストデバイスの前記第２の部分における温度変化の間に導入される誤差を補償するように構成される、装置。
7. 請求項６に記載の装置であって、
   前記プロセッサデバイスが、
   時間にわたる前記コールドジャンクションと前記ホットジャンクションとの間の電位の変化の判定に少なくとも部分的に従った量だけ、前記ホストデバイスの前記第１の部分の温度に対応する前記第１の熱センサの出力を調節することにより、前記ホストデバイスの前記第２の部分における温度変化の間に導入される誤差を補償するように構成される、装置。
8. 請求項６に記載の装置であって、
   前記プロセッサデバイスが、時間にわたる前記コールドジャンクションの記録された温度のセットに関連して時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の前記変化の推定された直線適合を判定することにより、時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の前記判定を行うように構成される、装置。
9. 請求項６に記載の装置であって、
   前記プロセッサデバイスが、時間にわたる前記コールドジャンクションのストアされた温度にフィルタを適用することにより、時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の前記判定を行うように構成される、装置。
10. 請求項９に記載の装置であって、
    前記プロセッサデバイスが、前記コールドジャンクションの現在の温度と前記コールドジャンクションの前の温度と前記フィルタの出力の前の判定とに少なくとも部分的に基づく関数を適用することにより、時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の前記判定の一部として前記フィルタの出力を判定するように構成される、装置。
11. デバイスの一部の温度を判定するために熱センサのホットジャンクションで熱を受け取ることと、
    前記熱センサのコールドジャンクションの温度を判定することと、
    前記熱センサの前記ホットジャンクションで前記熱を受け取ることに応答して前記デバイスの一部の温度の判定をプロセッサデバイスで調節することであって、前記調節することが、前記熱センサのホットジャンクションの温度変化の間に導入される誤差を補償することを含む、前記調節することと、
    を含む方法であって、
    前記熱センサのホットジャンクションの温度変化の間に導入される誤差を補償することが、
    前記ホットジャンクションと前記コールドジャンクションとの温度に対応する前記熱センサの出力を、
    材料特性と、前記熱センサのコールドジャンクションと前記ホットジャンクションとの間の熱伝達のモデルとを補償する定数と、
    時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の判定と、
    に少なくとも部分的に従った量だけ調節すること、
    を含む、方法。
12. 請求項１１に記載の方法であって、
    前記熱センサのホットジャンクションの温度変化の間に導入される誤差を補償することが、
    前記ホットジャンクションと前記コールドジャンクションとの温度に対応する前記熱センサの出力を、時間にわたる前記コールドジャンクションと前記ホットジャンクションとの間の電位の変化の判定に少なくとも部分的に従った量だけ調節することを含む、方法。
13. 請求項１１に記載の方法であって、
    時間にわたる前記コールドジャンクションの記録された温度のセットに関連して時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の前記変化の推定された直線適合を判定することにより、時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の前記判定を行うことを更に含む、方法。
14. 請求項１１に記載の方法であって、
    時間にわたる前記コールドジャンクションのストアされた温度にフィルタを適用することにより、時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の前記判定を行うことを更に含む、方法。
15. 請求項１４に記載の方法であって、
    前記コールドジャンクションの現在の温度と前記コールドジャンクションの前の温度とフィルタの出力の前の判定とに少なくとも部分的に基づいた関数を適用することにより、時間にわたる前記コールドジャンクションの温度の変化の前記判定の一部として前記フィルタの出力を判定することを更に含む、方法。