JP2015169552A - 検出装置、検出回路、センサモジュール及び画像形成装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の第1実施形態に係る検出装置100aの構成の一例について説明する。
ここで、オペアンプ221及びオペアンプ222の入力インピーダンスは十分大きいことが好ましい。これにより、抵抗体パターン106a及び抵抗体パターン106bに電流がほとんど流れることがなく、端子Aと端子Cでの電圧は等しく、端子Bと端子Dでの電圧も等しくなる。すなわち、抵抗体パターン106aの抵抗R1と抵抗体パターン106bの抵抗R2とを計算上無視することができる。結果として、雰囲気状態に関する信号を高い精度で取得することができ、式(1)が成り立つ。
なお、検出回路は、検出装置100aに第3の定電流源203により一定の電流が供給されるように制御される。このことから、以下、図5に示す検出回路を定電流回路300aと呼ぶことがある。
本発明の第2実施形態に係る検出装置100bの構成の一例について、図8及び図9を参照しながら説明する。なお、第2実施形態において、第1実施形態と実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複した説明を省く。
本発明の第3実施形態に係る検出装置100cの構成の一例について、図10〜図13を参照しながら説明する。なお、第3実施形態において、第1実施形態及び第2実施形態と実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複した説明を省く。
したがって、第3の定電流源203と端子Cとの間の配線の寄生抵抗(不図示)及び端子Dとグラウンドとの間の配線の寄生抵抗(不図示)の影響を除去することができる。
101 基板
102a 空洞部
102b 非空洞部
103 下部絶縁層(薄膜層の一例)
105 発熱体パターン
106a、106b 抵抗体パターン
109a、109b 接続部
211 基準抵抗
201 第1の定電流源
202 第2の定電流源
203 第3の定電流源
231〜234 スイッチ(切替手段の一例)
A〜H 端子
Claims (8)
- 表面の一部に空洞が設けられた基板と、
前記空洞上に配置された薄膜層と、
前記薄膜層上に形成された薄膜層上パターンと、
前記基板上に形成された基板上パターンと、
第1の端子、第2の端子、第3の端子、第4の端子と、
を有し、
前記第1の端子と前記第2の端子との間の抵抗は前記薄膜層上パターンを含み、
前記第3の端子と前記第4の端子との間の抵抗は前記薄膜層上パターン及び前記基板上パターンを含み、
前記第1の端子と前記第2の端子との間の抵抗は、前記第3の端子と前記第4の端子との間の抵抗よりも低いことを特徴とする検出装置。 - 前記薄膜層上パターンと前記基板上パターンとの接続部が前記空洞上に形成された、
請求項1に記載の検出装置。 - 前記基板上パターンの他端に複数の端子が形成された、
請求項1又は2に記載の検出装置。 - 前記基板上パターンの抵抗が前記薄膜層上パターンの抵抗よりも大きい、
請求項1乃至3のいずれか一項に記載の検出装置。 - 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の検出装置と、
基準抵抗と、
前記検出装置と接続され、前記検出装置に電流を供給する第1の定電流源と、
前記基準抵抗と接続され、前記第1の定電流源と連動して動作する前記基準抵抗に電流を供給する第2の定電流源と
を有し、
前記第1の定電流源及び前記第2の定電流源から各々前記検出装置及び前記基準抵抗に電流を供給し、前記検出装置と前記基準抵抗とに生じる電圧が等しくなるように制御する検出回路。 - 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の検出装置と、基準抵抗と、前記検出装置と接続され前記検出装置に電流を供給する第1の定電流源と、前記基準抵抗と接続され前記第1の定電流源と連動して動作する前記基準抵抗に電流を供給する第2の定電流源とを有し、
前記第1の定電流源及び前記第2の定電流源から各々前記検出装置及び前記基準抵抗に電流を供給し、前記検出装置と前記基準抵抗とに生じる電圧が等しくなるように制御する第1の回路と、
前記検出装置と、第3の定電流源とを有し、
前記第3の定電流源から前記検出装置に電流を供給し、前記検出装置に生じる電圧を出力するように制御する第2の回路と、
前記検出装置と前記第1の定電流源との間及び前記検出装置と前記第3の定電流源との間に設けられた切替手段と
を有し、
前記切替手段により前記第1の回路と前記第2の回路と切り替えることを特徴とする検出回路。 - 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の検出装置と、基準抵抗と、前記検出装置と接続され前記検出装置に電流を供給する第1の定電流源と、前記基準抵抗と接続され前記第1の定電流源と連動して動作する前記基準抵抗に電流を供給する第2の定電流源とを有し、
前記第1の定電流源及び前記第2の定電流源から各々前記検出装置及び前記基準抵抗に電流を供給し、前記検出装置と前記基準抵抗とに生じる電圧が等しくなるように制御する第1の回路と、
前記検出装置と、第3の定電流源とを有し、
前記第3の定電流源から前記検出装置に電流を供給し、前記検出装置に生じる電圧を出力するように制御する第2の回路と、
前記第1の回路及び前記第2の回路から出力される信号を演算する制御部と、
を有するセンサモジュール。 - 請求項7に記載のセンサモジュールを備える画像形成装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014044848A JP6372097B2 (ja) | 2014-03-07 | 2014-03-07 | 検出装置、検出回路、センサモジュール及び画像形成装置 |
US14/608,596 US9746436B2 (en) | 2014-03-07 | 2015-01-29 | Detecting device, detecting circuit, sensor module and image forming device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014044848A JP6372097B2 (ja) | 2014-03-07 | 2014-03-07 | 検出装置、検出回路、センサモジュール及び画像形成装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015169552A true JP2015169552A (ja) | 2015-09-28 |
JP6372097B2 JP6372097B2 (ja) | 2018-08-15 |
Family
ID=54017084
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014044848A Expired - Fee Related JP6372097B2 (ja) | 2014-03-07 | 2014-03-07 | 検出装置、検出回路、センサモジュール及び画像形成装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9746436B2 (ja) |
JP (1) | JP6372097B2 (ja) |
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- 2014-03-07 JP JP2014044848A patent/JP6372097B2/ja not_active Expired - Fee Related
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- 2015-01-29 US US14/608,596 patent/US9746436B2/en not_active Expired - Fee Related
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JP6372097B2 (ja) | 2018-08-15 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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