JP2014228411A - Inspection package, inspection method thereof, screening method, and screening device - Google Patents

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豊 林
上田 武彦
Takehiko Ueda
武彦 上田
満俊 増田
Mitsutoshi Masuda
満俊 増田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection package which is capable of detecting a unique reaction between a sample and a biomolecule with high accuracy.SOLUTION: An inspection package includes: a first component including a first surface having thereon multiple biomolecule support areas which are capable of supporting a biomolecule that can uniquely react with a target contained in a sample; a second component having multiple holding spaces which are sectioned corresponding to the biomolecule support areas, and which are formed so as to face the first surface and to hold the sample; a sealing unit which is provided between the first component and the second component, and which seals the holding spaces; and a sealing inspection unit for inspecting a sealed state of the sealing unit.

Description

本発明は、検査用パッケージ及びその検査方法、スクリーニング方法並びにスクリーニング装置に関するものである。   The present invention relates to an inspection package, an inspection method thereof, a screening method, and a screening apparatus.

近年、新薬開発プロセス、医療診断等などの分野において、基体に生体分子(プローブ)が固定されたマイクロアレイを用い、検体(ターゲット物質)が結合したときに生じる特異的な反応を検出して分子診断等を行う技術が進められている。上記の特異的な反応を検出する技術としては、例えば特許文献1に記載されているように、基板のウェルと称される凹部の底部に試料を配置し、ターゲットと結合したプローブを蛍光検出するものが開示されている。   In recent years, in the fields of new drug development processes, medical diagnosis, etc., molecular diagnosis is performed by detecting specific reactions that occur when a specimen (target substance) binds using a microarray in which a biomolecule (probe) is immobilized on a substrate. The technology which performs etc. is advanced. As a technique for detecting the specific reaction, for example, as described in Patent Document 1, a sample is placed at the bottom of a recess called a well of a substrate, and a probe bound to a target is detected by fluorescence. Are disclosed.

特開2006−098213号公報JP 2006-098213 A

しかしながら、上述したような従来技術には、以下のような問題が存在する。
微小の試料を高精度に蛍光検出する場合、検出器と試料とを可能な限り接近させることが好ましいが、試料が凹部の底部に配されることから検出器と試料とを接近させることは限界がある。そこで、ウェルを浅くすることも考えられるが、この場合には、ターゲットとプローブとの結合反応時において検体のコンタミネーション等を引き起こしかねない。
However, the following problems exist in the conventional technology as described above.
When detecting a minute sample with high accuracy, it is preferable to bring the detector and the sample as close as possible. However, since the sample is arranged at the bottom of the recess, it is difficult to bring the detector and the sample close to each other. There is. Therefore, it is conceivable to make the well shallow, but in this case, contamination of the sample may occur during the binding reaction between the target and the probe.

本発明は、以上のような点を考慮してなされたもので、検体と生体分子との特異的な反応を高精度に検出できる検査用パッケージ及びその検査方法、スクリーニング方法並びにスクリーニング装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in consideration of the above points, and provides a test package that can detect a specific reaction between a specimen and a biomolecule with high accuracy, a test method thereof, a screening method, and a screening apparatus. For the purpose.

本発明の第1の態様に従えば、検体に含まれる標的と特異的に反応可能な生体分子を支持可能な複数の生体分子支持領域を有する第1面を備える第1部材と、複数の生体分子支持領域に応じて区画され検体を保持する複数の保持空間を第1面に対して形成する第2部材と、第1部材と第2部材との間に配置され、複数の保持空間を封止する封止部と、封止部の封止状態を検査するための封止検査部と、を備える検査用パッケージが提供される。   According to the first aspect of the present invention, a first member including a first surface having a plurality of biomolecule support regions capable of supporting biomolecules that can specifically react with a target contained in a specimen, and a plurality of living bodies A second member that forms a plurality of holding spaces that are partitioned according to the molecular support region and holds the specimen with respect to the first surface, and is disposed between the first member and the second member, and seals the plurality of holding spaces. An inspection package including a sealing portion to be stopped and a sealing inspection portion for inspecting a sealing state of the sealing portion is provided.

本発明の第2の態様に従えば、本発明の第1の態様の検査用パッケージにおいて、第1部材と第2部材とを一体化し、封止部により保持空間を封止することと、封止部の周囲に密閉空間を形成することと、密閉空間に封止検査部を介して流体を流すことによって、封止部の封止状態の検査を行うことと、を含む検査用パッケージの検査方法が提供される。   According to the second aspect of the present invention, in the inspection package according to the first aspect of the present invention, the first member and the second member are integrated, the holding space is sealed by the sealing portion, and the sealing is performed. Inspecting the inspection package, including forming a sealed space around the stopper, and inspecting the sealed state of the sealed portion by flowing a fluid through the sealed inspection portion in the sealed space A method is provided.

本発明の第3の態様に従えば、生体分子アレイのスクリーニング方法であって、本発明の第1の態様の検査用パッケージにおける生体分子支持領域に生体分子アレイを配置して固定することと、生体分子アレイが検体で浸るように保持空間に検体を分注することと、標的と生体分子とを検体の分注された保持空間内で反応させることと、反応後に、第1部材と第2部材とを分離することと、分離した第1部材において、標的と生体分子との親和性を検出すること、を含む生体分子アレイのスクリーニング方法が提供される。
本発明の第4の態様に従えば、本発明の第1の態様の検査用パッケージにおける第2部材に検体を分注する分注装置と、検体に含まれる標的と生体分子との親和性を検出する測定装置と、生体分子支持領域に配置される生体分子アレイを分注装置から測定装置へ搬送する搬送装置と、を備えるスクリーニング装置が提供される。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a screening method for a biomolecule array, wherein the biomolecule array is arranged and fixed on a biomolecule support region in the test package of the first aspect of the present invention, Dispensing the specimen in the holding space so that the biomolecule array is immersed in the specimen, reacting the target and the biomolecule in the holding space where the specimen is dispensed, and after the reaction, the first member and the second member There is provided a method for screening a biomolecule array including separating a member and detecting affinity between a target and a biomolecule in the separated first member.
According to the fourth aspect of the present invention, the dispensing device for dispensing the specimen to the second member in the inspection package of the first aspect of the present invention, and the affinity between the target contained in the specimen and the biomolecule are obtained. A screening device is provided that includes a measuring device to detect and a transport device that transports a biomolecule array arranged in a biomolecule support region from the dispensing device to the measuring device.

本発明では、検体と生体分子との特異的な反応を高精度に検出することが可能となる。   In the present invention, it is possible to detect a specific reaction between a specimen and a biomolecule with high accuracy.

第1実施形態に係る検査用パッケージPGの分解斜視図。The exploded perspective view of inspection package PG concerning a 1st embodiment. 図1におけるA−A線視断面図。AA sectional view taken on the line in FIG. 第1実施形態に係るスクリーニング方法の工程図。Process drawing of the screening method which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係るパッケージ一体化工程を示す断面図。Sectional drawing which shows the package integration process which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る測定装置の概略構成図。1 is a schematic configuration diagram of a measuring apparatus according to a first embodiment. 第1実施形態に係るステージ126の要部構成を示す拡大斜視図。The expansion perspective view which shows the principal part structure of the stage 126 which concerns on 1st Embodiment. 第2実施形態に係る検査用パッケージPGの断面図。Sectional drawing of the inspection package PG which concerns on 2nd Embodiment. 第3実施形態に係る検査用パッケージPGの断面図。A sectional view of inspection package PG concerning a 3rd embodiment. 第4実施形態に係る検査用パッケージPGの(a)は平面図、(b)は断面図。(A) of the inspection package PG concerning a 4th embodiment is a top view, (b) is a sectional view. 第5実施形態に係る検査用パッケージPGの(a)(b)は正面断面図、(c)は(b)におけるB矢視図。(A), (b) is front sectional drawing of the inspection package PG concerning 5th Embodiment, (c) is a B arrow directional view in (b). 第6実施形態に係る検査用パッケージPGの断面図。Sectional drawing of the inspection package PG concerning 6th Embodiment. 第7実施形態に係る検査用パッケージPGの平面図。The top view of inspection package PG concerning a 7th embodiment. 図12におけるC−C線視断面図。CC sectional view taken on the line in FIG. 本実施形態に係るスクリーニング装置SCの模式図。The schematic diagram of the screening apparatus SC which concerns on this embodiment.

以下、本発明の検査用パッケージ及びその検査方法、スクリーニング方法並びにスクリーニング装置の実施の形態を、図1ないし図14を参照して説明する。   DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of an inspection package, an inspection method, a screening method, and a screening apparatus according to the present invention will be described below with reference to FIGS.

[第1実施形態]
まず、検査用パッケージ及び検査方法の第1実施形態について、図1乃至図6を参照して説明する。
[First Embodiment]
First, a first embodiment of an inspection package and an inspection method will be described with reference to FIGS.

図1は、検査用パッケージPGの分解斜視図、図2は、図1におけるA−A線視断面図である。
検査用パッケージPGは、標的を含む検体と生体分子との反応検査(バイオアッセイ)に用いられるものであって、図1に示すように、チッププレート(第1部材)CPと、ウェルプレート(第2部材)WPと、これらチッププレートCP及びウェルプレートWPを分離可能に結合するバネ部材(付勢部)10を備えている。
FIG. 1 is an exploded perspective view of the inspection package PG, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG.
The test package PG is used for a reaction test (bioassay) between a target-containing specimen and a biomolecule. As shown in FIG. 1, a chip plate (first member) CP and a well plate (first plate) are used. 2 members) WP and a spring member (biasing part) 10 that detachably couples the chip plate CP and well plate WP.

チッププレートCPは、例えば、平面視矩形の平板状の基板であり、表面(第1面)CPaに所定ピッチでマトリクス状に複数(図1では12列×8列)配置された支持領域(生体分子支持領域)21と、各支持領域21の周囲を矩形で囲む封止部22とを備えている。各支持領域21には接着材が設けられており、当該接着材により矩形のバイオチップ(生体分子アレイ)BCが保持・固定される。   The chip plate CP is, for example, a flat-plate substrate having a rectangular shape in plan view, and a plurality of support regions (biological bodies in FIG. 1) arranged in a matrix (12 rows × 8 rows in FIG. 1) at a predetermined pitch on the surface (first surface) CPa. Molecule support region) 21 and a sealing portion 22 surrounding each support region 21 with a rectangle. Each support region 21 is provided with an adhesive, and a rectangular biochip (biomolecule array) BC is held and fixed by the adhesive.

なお、以下の説明では、鉛直方向をZ方向とし、水平方向でチッププレートCPの長手方向(支持領域21が12列に配列される方向)をY方向とし、Z方向及びY方向と直交する方向をX方向として説明する。   In the following description, the vertical direction is the Z direction, the horizontal direction is the longitudinal direction of the chip plate CP (the direction in which the support regions 21 are arranged in 12 rows) is the Y direction, and the direction orthogonal to the Z direction and the Y direction. Is described as the X direction.

本実施形態における接着材は、例えば、バイオチップBCにおけるプローブの熱耐性を考慮して、紫外線硬化性接着剤等の光硬化性の接着剤が用いられる。光硬化性の接着剤が用いられる場合、チッププレートCPは、接着剤を硬化させる光に対して透明な物質(例えばガラス材や樹脂など)で形成される。更に、チッププレートCPの各支持領域21が接着剤塗布領域を含む。また、当該接着剤塗布領域に光硬化性接着剤が塗布された後、バイオチップBCが支持領域21に載置される。そして、例えば、チッププレートCPの裏面側から接着剤を硬化させる光(所定波長の光)を照射して接着剤を硬化させることによってバイオチップBCがチッププレートCPに固定される。また、接着材は、例えば、バイオチップBCの下面側あるいはチッププレートCPの支持領域21に貼付された両面テープ等を用いることもできる。なお、ウェルプレートWPは、チッププレートCPと同様の材料で構成されてもよいし、チッププレートCPと異なる材料で構成されてもよい。   As the adhesive in the present embodiment, for example, a photocurable adhesive such as an ultraviolet curable adhesive is used in consideration of the heat resistance of the probe in the biochip BC. When a photocurable adhesive is used, the chip plate CP is formed of a material (for example, a glass material or a resin) that is transparent to the light that cures the adhesive. Further, each support region 21 of the chip plate CP includes an adhesive application region. In addition, after the photocurable adhesive is applied to the adhesive application region, the biochip BC is placed on the support region 21. For example, the biochip BC is fixed to the chip plate CP by irradiating light (a light having a predetermined wavelength) for curing the adhesive from the back side of the chip plate CP to cure the adhesive. In addition, as the adhesive, for example, a double-sided tape attached to the lower surface side of the biochip BC or the support region 21 of the chip plate CP can be used. The well plate WP may be made of the same material as the chip plate CP, or may be made of a material different from the chip plate CP.

封止部22は、例えばシリコンゴム等の弾性材によって、格子状に設けられている。封止部22は、例えば、インクジェット法や印刷法等により一括的に(同一工程で)形成される。封止部22の高さ(表面CPaからの突出量)は、支持領域21に固定されたバイオチップBCの表面の高さよりも低くなるように形成されている。   The sealing portion 22 is provided in a lattice shape by an elastic material such as silicon rubber. The sealing portion 22 is formed collectively (in the same process) by, for example, an inkjet method or a printing method. The height of the sealing portion 22 (the amount of protrusion from the surface CPa) is formed to be lower than the height of the surface of the biochip BC fixed to the support region 21.

チッププレートCPの裏面CPbにおけるY方向の両側端縁には、バネ部材10における挟持部11(後述)の長さ、及び挟持部11の幅よりも大きい範囲で切り欠かれた形状の段部23がそれぞれ形成されている。   At both side edges in the Y direction on the back surface CPb of the chip plate CP, a stepped portion 23 having a shape cut out in a range larger than the length of the sandwiching portion 11 (described later) and the width of the sandwiching portion 11 in the spring member 10. Are formed respectively.

また、チッププレートCPのY方向の両側には、ステージ上における当該チッププレートCPのX、Y方向やθ方向を位置合わせするための第1孔部AL1、第2孔部AL2が位置合わせ部として形成されている。第1孔部AL1、第2孔部AL2は、互いに異なる形状であって、複数の支持領域21と所定の相対位置関係を有するように形成されている。第1孔部AL1は、平面視円形の貫通孔で形成されている。第2孔部AL2は、例えば、第1孔部AL1とは異なる形状であって、X方向(又はY方向)に延在する平面視長円(例、楕円)の貫通孔で形成されている。第2孔部AL2の長円の短径側における幅は、第1孔部AL1の直径と同一に形成されている。   Further, on both sides of the chip plate CP in the Y direction, the first hole AL1 and the second hole AL2 for aligning the X, Y direction and θ direction of the chip plate CP on the stage are used as alignment portions. Is formed. The first hole portion AL1 and the second hole portion AL2 have different shapes and are formed so as to have a predetermined relative positional relationship with the plurality of support regions 21. The first hole AL1 is formed as a through hole having a circular shape in plan view. For example, the second hole AL2 has a shape different from that of the first hole AL1, and is formed by a through hole having an ellipse in plan view (eg, an ellipse) extending in the X direction (or Y direction). . The width of the ellipse of the second hole AL2 on the minor axis side is the same as the diameter of the first hole AL1.

チッププレートCPの−Y側の端縁には、封止部22における、後述する封止状態の検査に用いられる封止検査部として、所定の流体を検出するための検出口としての孔部CH1が貫通して設けられている。孔部CH1は、チッププレートCPの端面より離間した位置かつ支持領域21以外の領域に配置されている。例えば、孔部CH1は、チッププレートCPにおける複数の支持領域21の周囲の領域又は封止部22の周囲の領域に配置されている。   At the edge on the −Y side of the chip plate CP, a hole CH1 as a detection port for detecting a predetermined fluid as a sealing inspection part used in a sealing state inspection described later in the sealing part 22. Is provided through. The hole CH1 is disposed at a position apart from the end surface of the chip plate CP and in a region other than the support region 21. For example, the hole CH1 is disposed in a region around the plurality of support regions 21 or a region around the sealing portion 22 in the chip plate CP.

バイオチップBCは、例えば、1〜10mm四方の基板の上に、複数の生体分子が積層されることで構成されたプローブ(スポット)が多数形成された生体分子アレイを構成している。バイオチップBCは、例えば、シリコンウエハ上にスポットを形成した後、シリコンウエハをダイシングして個片化することで形成される。なお、プローブは、例えば、シリコンウエハ上に所定の生体分子形成材料を配置する工程と、マスクを介して生体分子形成材料に所定波長の光を選択的に照射する露光工程と、を複数回繰り返すことにより、複数の生体分子を積層して形成される。このようにして形成された生体分子は、例えば、測定対象の蛍光標識された検体と特異的な反応をすることで検体と結合し、所定の光(励起光)の照明によって所定の蛍光を発生する。   For example, the biochip BC forms a biomolecule array in which a large number of probes (spots) are formed by laminating a plurality of biomolecules on a 1 to 10 mm square substrate. The biochip BC is formed, for example, by forming spots on a silicon wafer and then dicing the silicon wafer into individual pieces. The probe repeats, for example, a step of arranging a predetermined biomolecule forming material on a silicon wafer and an exposure step of selectively irradiating the biomolecule forming material with light of a predetermined wavelength through a mask. Thus, a plurality of biomolecules are stacked. The biomolecule formed in this way, for example, binds to the sample by a specific reaction with the fluorescently labeled sample to be measured, and generates predetermined fluorescence by illumination with predetermined light (excitation light). To do.

ウェルプレートWPは、標的を含む検体を保持する保持空間30(図2(a)、(b)参照)をチッププレートCPの支持領域21毎に区画して形成するものであって、支持部31と隔壁部32とを備えている。支持部31は平面視矩形の平板形状を備えている。支持部31の表面31aには、チッププレートCPにおける段部23と同様に、Y方向の両側端縁にバネ部材10における挟持部11(後述)の長さ、及び挟持部11の幅よりも大きい範囲で切り欠かれた形状の段部D33がそれぞれ形成されている。   The well plate WP is formed by partitioning a holding space 30 (see FIGS. 2A and 2B) for holding a specimen including a target for each support region 21 of the chip plate CP. And a partition wall 32. The support portion 31 has a flat plate shape that is rectangular in plan view. Similar to the step portion 23 of the chip plate CP, the surface 31a of the support portion 31 is larger than the length of the sandwiching portion 11 (described later) and the width of the sandwiching portion 11 at both side edges in the Y direction. Stepped portions D33 each having a shape cut out in the range are formed.

また、支持部31の+Y側の端縁には、チッププレートCPの孔部CH1と同様に、後述する封止状態の検査に用いられる封止検査部として、所定の流体(例、所定圧のエアなどの気体、液体など)が供給される供給口としての孔部CH2が貫通して設けられている。孔部CH2は、封止部22との当接部よりも外側で、支持部31の端面より離間した位置に配置されている。孔部CH2は、隔壁部32を支持する支持部31において、隔壁部32の外周に支持部31を貫通して配置されている。   In addition, the edge of the support portion 31 on the + Y side, like the hole portion CH1 of the chip plate CP, is used as a sealing inspection portion used for a sealing state inspection to be described later. A hole CH2 as a supply port through which a gas such as air or a liquid is supplied is provided. The hole CH <b> 2 is disposed outside the contact portion with the sealing portion 22 and at a position separated from the end surface of the support portion 31. The hole portion CH <b> 2 is disposed through the support portion 31 on the outer periphery of the partition wall portion 32 in the support portion 31 that supports the partition wall portion 32.

隔壁部32は、表面CPaと対向する先端側の端面(第2面)32aを有している。表面CPaと隔壁部32とは、表面CPaと端面32aとを重ねることによって、保持空間30を構成するものである。隔壁部32は、チッププレートCPに設けられた封止部22と対向し、ウェルプレートWPとチッププレートCPとを接近させたときに、図2(b)に示すように、封止部22と当接するように、支持部31の裏面31bから格子状の壁部として突出して設けられている。また、支持部32には、各保持空間30と連通する開口部33が形成されている。検査用パッケージPGは、チッププレートCPの表面CPaに設けられた封止部22と、該封止部22と対向して配置されたウェルプレートWPの隔壁部32とを重ねることによって、密封された保持空間30を構成する。   The partition wall portion 32 has an end surface (second surface) 32a on the front end side facing the surface CPa. The surface CPa and the partition wall portion 32 constitute the holding space 30 by overlapping the surface CPa and the end surface 32a. The partition wall portion 32 faces the sealing portion 22 provided on the chip plate CP. When the well plate WP and the chip plate CP are brought close to each other, as shown in FIG. It protrudes from the back surface 31b of the support portion 31 as a lattice-like wall portion so as to abut. The support portion 32 is formed with an opening 33 that communicates with each holding space 30. The inspection package PG is sealed by overlapping the sealing portion 22 provided on the surface CPa of the chip plate CP and the partition wall portion 32 of the well plate WP arranged to face the sealing portion 22. A holding space 30 is configured.

バネ部材10は、弾性力によって、チッププレートCPと、ウェルプレートWPとを挟持して保持するものであって、先端が隙間をあけて対向する一対の挟持部11と、挟持部11の基端同士を支持する支持部12とがコ字状に連結された構成を備えている。挟持部11の先端部間の隙間の大きさは、チッププレートCPとウェルプレートWPとが組み合わされたときの段部23、33間の距離よりも小さく設定されている。   The spring member 10 sandwiches and holds the chip plate CP and the well plate WP by elastic force. The spring member 10 has a pair of sandwiching portions 11 opposed to each other with a gap therebetween, and a proximal end of the sandwiching portion 11. It has a configuration in which the support portions 12 that support each other are connected in a U-shape. The size of the gap between the tip portions of the sandwiching portion 11 is set smaller than the distance between the step portions 23 and 33 when the chip plate CP and the well plate WP are combined.

例えば、図2(b)に示すように、ウェルプレートWPの隔壁部32の先端(下端)がチッププレートCPの封止部22に当接したときの段部23、33間の距離は、挟持部11の先端部間の隙間よりも大きくなるように、ウェルプレートWPにおける支持部31の厚さ及び段部D33の深さ、チッププレートCPの厚さ及び段部23の深さが設定されている。従って、図1に示すように、バネ部材10の挟持部11の間で、段部23、33を挟持することにより、チッププレートCPとウェルプレートWPとは、封止部22の弾性力に抗して互いに接近する方向に付勢され、区画された各保持空間30は、封止部22の弾性力により当該封止部22において液密に封止される。   For example, as shown in FIG. 2B, the distance between the step portions 23 and 33 when the front end (lower end) of the partition wall portion 32 of the well plate WP contacts the sealing portion 22 of the chip plate CP is nipped. The thickness of the support portion 31 and the depth of the step portion D33, the thickness of the chip plate CP, and the depth of the step portion 23 in the well plate WP are set so as to be larger than the gap between the tip portions of the portion 11. Yes. Therefore, as shown in FIG. 1, by sandwiching the step portions 23 and 33 between the sandwiching portions 11 of the spring member 10, the chip plate CP and the well plate WP resist the elastic force of the sealing portion 22. The holding spaces 30 that are energized and partitioned in a direction approaching each other are sealed in a liquid-tight manner in the sealing portion 22 by the elastic force of the sealing portion 22.

次に、上記検査用パッケージPGを用いてバイオチップBC(生体分子アレイ)をスクリーニングする方法について、図3乃至図6を参照して説明する。
本実施形態におけるスクリーニング方法は、図3の工程図に示されるように、パッケージ一体化工程(ステップS101)、封止検査工程(ステップS102)、分注・反応工程(ステップS103)、洗浄・乾燥工程(ステップS104)、パッケージ分離工程(ステップS105)、測定(検出)工程(ステップS106)を含む。
Next, a method of screening a biochip BC (biomolecule array) using the test package PG will be described with reference to FIGS.
As shown in the process diagram of FIG. 3, the screening method in the present embodiment includes a package integration process (step S101), a sealing inspection process (step S102), a dispensing / reaction process (step S103), a cleaning / drying process. A process (step S104), a package separation process (step S105), and a measurement (detection) process (step S106) are included.

パッケージ一体化工程は、図2(a)に示すように、対応する保持空間30にチッププレートCPの支持領域21を臨ませ、図1におけるA’−A’線視断面図である図4に示すように、ウェルプレートWPの隔壁部32の下端をチッププレートCPの封止部22に当接させる。隔壁部32と封止部22とが当接した後、バネ部材10の挟持部11をチッププレートCPの段部23及びウェルプレートWPの段部D33にそれぞれ係合させる。隔壁部32と封止部22とが当接したときの段部23、33間の距離は、挟持部11の先端部間の隙間の大きさよりも大きいため、挟持部11を弾性変形させつつ段部23、33に係合させることにより、バネ部材10の弾性復元力によりチッププレートCPとウェルプレートWPとは互いに接近する方向に挟持され検査用パッケージPGとして一体化される。例えば、本実施形態におけるバネ部材は、チッププレートCPとウェルプレートWPとを重ねて一体化する手段として機能する。   In the package integration step, as shown in FIG. 2A, the support region 21 of the chip plate CP faces the corresponding holding space 30 and is a cross-sectional view taken along line A′-A ′ in FIG. As shown, the lower end of the partition wall portion 32 of the well plate WP is brought into contact with the sealing portion 22 of the chip plate CP. After the partition wall portion 32 and the sealing portion 22 come into contact with each other, the clamping portion 11 of the spring member 10 is engaged with the step portion 23 of the chip plate CP and the step portion D33 of the well plate WP, respectively. Since the distance between the step portions 23 and 33 when the partition wall portion 32 and the sealing portion 22 are in contact with each other is larger than the size of the gap between the tip portions of the sandwiching portion 11, the step portion is formed while elastically deforming the sandwiching portion 11. By engaging the portions 23 and 33, the chip plate CP and the well plate WP are sandwiched in the direction approaching each other by the elastic restoring force of the spring member 10, and are integrated as an inspection package PG. For example, the spring member in the present embodiment functions as a means for stacking and integrating the chip plate CP and the well plate WP.

検査用パッケージPGが一体化された後、封止検査工程を実施する。まず、図4に示すように、チッププレートCPとウェルプレートWPの周縁部間に懸架され、チッププレートCPとウェルプレートWP(支持部31)との間の空間を外側と区画し、封止部22の周囲に密閉空間55を形成する区画部材50を介装する。チッププレートCPとウェルプレートWPの周縁部間に区画部材50を介装する工程は、上述したチッププレートCPとウェルプレートWPとを一体化する際に同時に行ってもよい。   After the inspection package PG is integrated, a sealing inspection process is performed. First, as shown in FIG. 4, it is suspended between the peripheral portions of the chip plate CP and the well plate WP, the space between the chip plate CP and the well plate WP (support portion 31) is partitioned from the outside, and the sealing portion A partitioning member 50 that forms a sealed space 55 is provided around the periphery of 22. The step of interposing the partition member 50 between the peripheral portions of the chip plate CP and the well plate WP may be performed simultaneously when the chip plate CP and the well plate WP described above are integrated.

区画部材50によりチッププレートCPとウェルプレートWP(支持部31)との間の空間が外側と区画されたら、封止部22の封止検査を実施する。
例えば、ウェルプレートWPの孔部CH2に配管51を介してエア供給装置52を接続する。また、チッププレートCPの孔部CH1に配管53を介してエア圧検出装置54を接続する。
When the space between the chip plate CP and the well plate WP (support portion 31) is partitioned from the outside by the partition member 50, the sealing inspection of the sealing portion 22 is performed.
For example, the air supply device 52 is connected to the hole CH2 of the well plate WP via the pipe 51. In addition, an air pressure detection device 54 is connected to the hole CH1 of the chip plate CP through a pipe 53.

そして、エア供給装置52から配管51及び供給口としての孔部CH1を介して所定圧力(大気圧に対して正圧)のエア(流体)を密閉空間55に供給し、密閉空間55の気圧を正圧の所定圧とする。保持空間30に隔壁部32を介して隣接する密閉空間55の気圧(エア圧)は、配管53を介してエア圧検出装置54によって検出される。ここで、封止部22による保持空間30の封止状態が維持されている場合(例、密閉空間55に対して保持空間30の気密性が保持されている場合)、エア圧検出装置54は上記正圧の所定圧を検出する。しかしながら、封止部22による保持空間30の封止状態が維持されていない場合には、密閉空間55のエアが非封止部(封止状態が維持されていない部分)から保持空間30に進入して密閉空間55のエアが開口部33を通じて漏洩するので、密閉空間55の密封状態が低下し(密閉の解除)、エア圧検出装置54は上記正圧の所定圧よりも低い圧力(圧力の変化)を検出する。従って、エア圧検出装置54の検出結果(例、流体圧の変化)に基づいて、封止部22の封止状態が検査される。封止検査工程における検査結果で封止不良が検出された場合には、当該検査用パッケージPGは不良品として以降の工程(後工程)から外される。   Then, air (fluid) having a predetermined pressure (positive pressure with respect to atmospheric pressure) is supplied to the sealed space 55 from the air supply device 52 through the pipe 51 and the hole CH1 as the supply port, and the pressure in the sealed space 55 is changed. A predetermined positive pressure is used. The air pressure (air pressure) in the sealed space 55 adjacent to the holding space 30 via the partition wall 32 is detected by the air pressure detection device 54 via the pipe 53. Here, when the sealed state of the holding space 30 by the sealing portion 22 is maintained (for example, when the airtightness of the holding space 30 is held with respect to the sealed space 55), the air pressure detection device 54 is A predetermined pressure of the positive pressure is detected. However, when the sealing state of the holding space 30 by the sealing portion 22 is not maintained, the air in the sealed space 55 enters the holding space 30 from the non-sealing portion (portion where the sealing state is not maintained). Since the air in the sealed space 55 leaks through the opening 33, the sealed state of the sealed space 55 is lowered (release of sealing), and the air pressure detection device 54 has a pressure (pressure of the pressure) lower than the predetermined positive pressure. Change). Therefore, the sealing state of the sealing portion 22 is inspected based on the detection result (eg, change in fluid pressure) of the air pressure detection device 54. When a sealing failure is detected from the inspection result in the sealing inspection process, the inspection package PG is removed from the subsequent process (post-process) as a defective product.

そして、上記の封止検査工程において、検査用パッケージPGに封止不良が検出されなかった場合(例、封止部22により保持空間30の気密性が確保されたことを確認できた場合)には、液密性も確保されていると判断して検査用パッケージPGから区画部材50及び配管51、53が取り外される。   Then, in the above-described sealing inspection process, when a sealing failure is not detected in the inspection package PG (eg, when it is confirmed that the airtightness of the holding space 30 is secured by the sealing portion 22). Therefore, the partition member 50 and the pipes 51 and 53 are removed from the inspection package PG by determining that the liquid tightness is also secured.

封止検査が完了した検査用パッケージPGは、分注装置の所定面に配置される。そして、分注・反応工程において、図2(a)に示すように、バイオチップBCに設けられた生体分子と特異的に反応可能な標的を含む検体Kが開口部33を介して保持空間30に分注装置の分注ノズルNを用いて分注(供給)される。分注ノズルNは、単体で複数の保持空間30に順次検体を分注する手順や、複数の分注ノズルNを検査用パッケージPGに対して一体的に相対移動させる手順、複数の分注ノズルNを検査用パッケージPGに対してそれぞれ独立して相対移動させる手順等を採用できる。複数の分注ノズルNを一体的に相対移動させるように用いる場合には、マトリックス状に配列された保持空間30の配列ピッチと同一ピッチで、且つ、保持空間30が配列された行あるいは列の数(図1では8個あるいは12個)の整数分の一とすることが効率的な分注処理のために好ましい。   The inspection package PG for which the sealing inspection is completed is arranged on a predetermined surface of the dispensing apparatus. Then, in the dispensing / reaction step, as shown in FIG. 2A, the specimen K containing the target that can specifically react with the biomolecule provided on the biochip BC is held through the opening 33. Are dispensed (supplied) using a dispensing nozzle N of the dispensing device. The dispensing nozzle N is a procedure for dispensing a specimen sequentially into a plurality of holding spaces 30 as a single unit, a procedure for integrally moving a plurality of dispensing nozzles N relative to a test package PG, and a plurality of dispensing nozzles. For example, a procedure for moving N relative to the inspection package PG independently of each other can be adopted. When the plurality of dispensing nozzles N are used so as to move relative to each other, the same pitch as the arrangement pitch of the holding spaces 30 arranged in a matrix and the rows or columns in which the holding spaces 30 are arranged. It is preferable for the efficient dispensing process that the number is an integer fraction of the number (8 or 12 in FIG. 1).

保持空間30に検体Kが分注された後、バイオチップBC(生体分子)が当該検体Kに浸漬され生体分子と検体Kに含まれる標的との反応処理が所定時間行われる。この反応処理においては、反応を促進させるために、例えば、検査用パッケージPGに振動や揺動を与えて検体Kを攪拌することが好ましい。   After the specimen K is dispensed into the holding space 30, the biochip BC (biomolecule) is immersed in the specimen K, and a reaction process between the biomolecule and the target contained in the specimen K is performed for a predetermined time. In this reaction process, in order to promote the reaction, for example, it is preferable to stir the specimen K by applying vibration or swing to the test package PG.

反応工程が完了した後、洗浄・乾燥工程に移行し、反応処理が行われたバイオチップBCに対して洗浄処理が施される。洗浄処理において、例えば、各保持空間30に洗浄液が供給されバイオチップBCが洗浄される。なお、反応処理の完了後にバイオチップBC間で検体Kのコンタミネーションがない場合、上記洗浄処理及び洗浄処理後の乾燥処理において、チッププレートCPとウェルプレートWPとが分離されて、バイオチップBCが表面CPaに露出した状態のチッププレートCPに対して洗浄・乾燥工程が行われる手順としてもよい。   After the reaction process is completed, the process proceeds to a cleaning / drying process, and the biochip BC subjected to the reaction process is subjected to a cleaning process. In the cleaning process, for example, a cleaning liquid is supplied to each holding space 30 and the biochip BC is cleaned. If there is no contamination of the specimen K between the biochips BC after the completion of the reaction process, the chip plate CP and the well plate WP are separated in the washing process and the drying process after the washing process, so that the biochip BC is obtained. The chip plate CP exposed to the surface CPa may be subjected to a cleaning / drying process.

バイオチップBCに対する洗浄処理が完了した後、ブロワ等を用いてバイオチップBCに付着する洗浄液の乾燥処理を実施する。   After the cleaning process for the biochip BC is completed, the cleaning liquid attached to the biochip BC is dried using a blower or the like.

洗浄・乾燥工程が完了した後、パッケージ分離工程に移行する。
まず、バネ部材10を検査用パッケージPGから外して、チッププレートCPとウェルプレートWPとに対する挟持を解除する。これによってチッププレートCPとウェルプレートWPとが分離され、チッププレートCPは表面CPaにバイオチップBCが露出した状態となる。
After the cleaning / drying process is completed, the process proceeds to the package separation process.
First, the spring member 10 is removed from the inspection package PG, and the clamping between the chip plate CP and the well plate WP is released. As a result, the chip plate CP and the well plate WP are separated, and the chip plate CP is in a state where the biochip BC is exposed on the surface CPa.

分離工程後の測定(検出)工程において、ウェルプレートWPが取り外されたチッププレートCPは、図5に示す測定装置120のステージに載置されて測定処理が実施される。図5に示すように、測定装置120は、チッププレートCP(バイオチップBCに形成されたスポット)を観察する測定装置本体121と、測定装置本体121の動作を制御する制御装置122と、制御装置122に接続された表示装置123とを備えている。制御装置122は、コンピュータシステムを含む。表示装置123は、例えば液晶ディスプレイのようなフラットパネルディスプレイを含む。   In the measurement (detection) step after the separation step, the chip plate CP from which the well plate WP has been removed is placed on the stage of the measurement apparatus 120 shown in FIG. 5 and measurement processing is performed. As shown in FIG. 5, the measurement device 120 includes a measurement device main body 121 that observes a chip plate CP (a spot formed on the biochip BC), a control device 122 that controls the operation of the measurement device main body 121, and a control device. And a display device 123 connected to 122. The control device 122 includes a computer system. The display device 123 includes a flat panel display such as a liquid crystal display.

測定装置本体121は、光源装置131と、対物レンズ132等を含む光学システム125と、チッププレートCPを支持しながら移動可能なステージ(測定ステージ)126と、接眼部127と、物体を介した光を受光可能なセンサ(例、撮像素子など)128を含む観察カメラ129とを備えている。例えば、センサ128は、PMT(photomultiplier tube)などの光検出器、や撮像素子を含む。なお、本実施形態において、センサ128は一例として撮像素子を用いている。センサ128は、物体の像情報を取得可能であり、例えばCCD(charge coupled device)やCMOSセンサを含む。測定装置本体121は、ボディ124を備えており、光源装置131、光学システム125、ステージ126、接眼部127、及び観察カメラ129のそれぞれは、ボディ124に支持される。   The measurement apparatus main body 121 includes a light source device 131, an optical system 125 including an objective lens 132, a stage (measurement stage) 126 that can move while supporting the chip plate CP, an eyepiece 127, and an object. And an observation camera 129 including a sensor (eg, image sensor) 128 that can receive light. For example, the sensor 128 includes a photodetector such as a PMT (photomultiplier tube) or an imaging device. In the present embodiment, the sensor 128 uses an image sensor as an example. The sensor 128 can acquire image information of an object, and includes, for example, a CCD (charge coupled device) or a CMOS sensor. The measurement apparatus main body 121 includes a body 124, and each of the light source device 131, the optical system 125, the stage 126, the eyepiece 127, and the observation camera 129 is supported by the body 124.

光学システム125は、光源装置131から射出された光を用いてチッププレートCPを照明する照明光学系136と、照明光学系136で照明されたチッププレートCPの像を、センサ128、及び接眼部127の近傍に形成する結像光学系133とを備えている。センサ128、接眼部127は、結像光学系133の像面側に配置されている。   The optical system 125 includes an illumination optical system 136 that illuminates the chip plate CP using light emitted from the light source device 131, an image of the chip plate CP that is illuminated by the illumination optical system 136, a sensor 128, and an eyepiece unit. And an imaging optical system 133 formed in the vicinity of 127. The sensor 128 and the eyepiece 127 are disposed on the image plane side of the imaging optical system 133.

対物レンズ132は、無限系の対物レンズであり、ステージ126に支持されているチッププレートCPと対向可能である。本実施形態においては、対物レンズ132は、チッププレートCPの+Z側(上方)に配置されている。
光源装置131は、チッププレートCP(例、バイオチップBCに形成されたスポット)から蛍光を発生させる所定波長帯域の励起光と、チッププレートCP(例、バイオチップBCに形成されたスポット)を観察する所定波長帯域の照明光とを射出可能である。
The objective lens 132 is an infinite objective lens and can face the chip plate CP supported by the stage 126. In the present embodiment, the objective lens 132 is disposed on the + Z side (upper side) of the chip plate CP.
The light source device 131 observes excitation light of a predetermined wavelength band that generates fluorescence from the chip plate CP (eg, spot formed on the biochip BC) and the chip plate CP (eg, spot formed on the biochip BC). The illumination light having a predetermined wavelength band can be emitted.

照明光学系136は、光源装置131から射出された光を用いて、励起光または照明光でチッププレートCPを照明する。照明光学系136は、対物レンズ132、及び励起光および照明光と蛍光とを分離可能な光学ユニット137を含む。対物レンズ132は、チッププレートCPを照明するための励起光、及び照明光を射出する。照明光学系136は、ステージ126に支持されているチッププレートCPを、所定の上方(Z方向)から励起光、及び照明光で照明する。また、照明光学系136は、チッププレートCP(スポット)で生じた蛍光を透過させて結像光学系133へと導く。   The illumination optical system 136 uses the light emitted from the light source device 131 to illuminate the chip plate CP with excitation light or illumination light. The illumination optical system 136 includes an objective lens 132 and an optical unit 137 that can separate excitation light, illumination light, and fluorescence. The objective lens 132 emits excitation light and illumination light for illuminating the chip plate CP. The illumination optical system 136 illuminates the chip plate CP supported by the stage 126 with excitation light and illumination light from a predetermined upper side (Z direction). Further, the illumination optical system 136 transmits the fluorescence generated on the chip plate CP (spot) and guides it to the imaging optical system 133.

結像光学系133は、対物レンズ132からの光を分離する光学素子147と、反射ミラー145とを含み、チッププレートCPの像を、センサ128、及び接眼部127の近傍に形成する。光学素子147は、ハーフミラーを含み、入射した光の一部を透過し、一部を反射する。なお、光学素子147は、ダイクロイックミラーであってもよい。また、光学素子147は、光路を切り替える機能を有する全反射ミラー(例、クイックリターンミラー)であってもよい。   The imaging optical system 133 includes an optical element 147 that separates light from the objective lens 132 and a reflection mirror 145, and forms an image of the chip plate CP in the vicinity of the sensor 128 and the eyepiece 127. The optical element 147 includes a half mirror, transmits a part of incident light, and reflects a part thereof. The optical element 147 may be a dichroic mirror. Further, the optical element 147 may be a total reflection mirror (for example, a quick return mirror) having a function of switching an optical path.

ステージ126は、結像光学系133の物体面側で、チッププレートCPを支持する。チッププレートCPは、支持領域21に支持されるバイオチップBCの表面が対物レンズ132と対向するように、ステージ126に支持される。
チッププレートCP(例、バイオチップBCに形成されたスポット)から対物レンズ132を介して光学素子147に入射した光の一部は、光学素子147を透過して、接眼レンズ143に導かれ、接眼部127より射出される。バイオチップBC(例、スポット)の像は、結像光学系133により、接眼部127の近傍に形成される。これにより、観察者は、接眼部127を介して、スポットの像を確認できる。
The stage 126 supports the chip plate CP on the object plane side of the imaging optical system 133. The chip plate CP is supported by the stage 126 so that the surface of the biochip BC supported by the support region 21 faces the objective lens 132.
Part of the light incident on the optical element 147 from the chip plate CP (for example, a spot formed on the biochip BC) via the objective lens 132 is transmitted through the optical element 147 and guided to the eyepiece lens 143. Ejected from the eye 127. An image of the biochip BC (eg, spot) is formed in the vicinity of the eyepiece 127 by the imaging optical system 133. Thereby, the observer can confirm the image of the spot via the eyepiece 127.

また、チッププレートCP(例、バイオチップBCに形成されたスポット)から対物レンズ132及び対物レンズ146を介して光学素子147に入射した光の一部は、光学素子147及び反射ミラー145で順に反射されて、観察カメラ129のセンサ128に入射する。バイオチップBC(例、スポット)の像は、結像光学系133により、センサ128に形成される。これにより、観察カメラ129のセンサ128は、バイオチップBC(例、スポット)の像情報を取得可能である。   Further, part of the light incident on the optical element 147 from the chip plate CP (eg, a spot formed on the biochip BC) via the objective lens 132 and the objective lens 146 is sequentially reflected by the optical element 147 and the reflection mirror 145. Then, the light enters the sensor 128 of the observation camera 129. An image of the biochip BC (eg, spot) is formed on the sensor 128 by the imaging optical system 133. Thereby, the sensor 128 of the observation camera 129 can acquire image information of the biochip BC (eg, spot).

図5に示したように、観察カメラ129のセンサ128と制御装置122とは、ケーブル148を介して接続されており、センサ128で取得したバイオチップBC(スポット)の像情報(例、画像信号)は、ケーブル148を介して、制御装置122に出力される。制御装置122は、センサ128からの像情報を、表示装置123を用いて表示する。表示装置123は、センサ128で取得したバイオチップBC(例、スポット)の像情報を拡大して表示することができる。   As shown in FIG. 5, the sensor 128 of the observation camera 129 and the control device 122 are connected via a cable 148, and image information (eg, image signal) of the biochip BC (spot) acquired by the sensor 128. ) Is output to the control device 122 via the cable 148. The control device 122 displays the image information from the sensor 128 using the display device 123. The display device 123 can enlarge and display the image information of the biochip BC (eg, spot) acquired by the sensor 128.

また、図5に示したように、本実施形態においては、ステージ126は、チッププレートCPを支持するステージ定盤150と、ベース部材151上でステージ定盤150を移動する駆動装置152とを備えている。ステージ定盤150は、ベース部材151上において、XY平面内及びZ方向に移動可能である。ステージ126(駆動装置152)と制御装置122とはケーブル149で接続されており、制御装置122は、駆動装置152を用いて、チッププレートCPを支持するステージ定盤150をXY平面内で移動可能である。   As shown in FIG. 5, in the present embodiment, the stage 126 includes a stage surface plate 150 that supports the chip plate CP, and a driving device 152 that moves the stage surface plate 150 on the base member 151. ing. The stage surface plate 150 is movable on the base member 151 in the XY plane and in the Z direction. The stage 126 (drive device 152) and the control device 122 are connected by a cable 149, and the control device 122 can move the stage surface plate 150 supporting the chip plate CP within the XY plane using the drive device 152. It is.

図6は、ステージ126の要部構成を示す拡大斜視図である。
ステージ126は、チッププレートCPを保持する保持面60と、保持面60から突出する2つの位置合わせピン61とを備えている。保持面60は、ステージ126の表面に被覆された、例えば、ウレタン材等の弾性材で形成されている。保持面60には、チッププレートCPの長さ方向(Y方向に)に延在する平面視矩形状の吸着溝62がX方向に間隔をあけてそれぞれ設けられている。吸着溝62には、不図示の負圧吸引装置が接続される。2つの位置合わせピン61は、外周面がチッププレートCPの第1孔部AL1、第2孔部AL2とそれぞれ嵌合することにより、ステージ(計測ステージ)126に対してチッププレートCPを位置合わせ(アライメント)するものである。位置合わせピン61の先端部には、第1孔部AL1、第2孔部AL2と嵌合させる際の案内となるテーパ部が形成されている。
FIG. 6 is an enlarged perspective view showing a main configuration of the stage 126.
The stage 126 includes a holding surface 60 that holds the chip plate CP, and two alignment pins 61 that protrude from the holding surface 60. The holding surface 60 is formed of an elastic material such as a urethane material coated on the surface of the stage 126. The holding surface 60 is provided with suction grooves 62 each having a rectangular shape in plan view extending in the length direction (Y direction) of the chip plate CP with an interval in the X direction. A negative pressure suction device (not shown) is connected to the suction groove 62. The two alignment pins 61 align the chip plate CP with respect to the stage (measurement stage) 126 by engaging the outer peripheral surfaces with the first hole AL1 and the second hole AL2 of the chip plate CP, respectively ( Alignment). The tip of the alignment pin 61 is formed with a tapered portion that serves as a guide when fitting with the first hole AL1 and the second hole AL2.

上記のステージ126に載置されるチッププレートCPは、第1孔部AL1が内周面で位置合わせピン61の外周面と嵌合するとともに、第2孔部AL2が幅方向の対向面で位置合わせピン61の外周面と嵌合することにより、ステージ126に対して位置合わせされる。また、チッププレートCPは、吸着溝62を介して供給される負圧により保持面60に吸着保持される。ここで、保持面60は、弾性材で形成されているため、チッププレートCPの保持面側(裏面)が低平坦度であっても保持面60が裏面に倣って弾性変形するため、バイオチップBCが配された表面の平坦度が裏面側の低平坦度によって悪影響を受けることを抑制できる。同様に、チッププレートCPと保持面60との間に異物が挟まった状態でも異物の形状に応じて保持面60が弾性変形するため、バイオチップBCが配された表面の平坦度が異物によって悪影響を受けることを抑制できる。   The chip plate CP placed on the stage 126 has the first hole portion AL1 fitted on the outer peripheral surface of the alignment pin 61 on the inner peripheral surface, and the second hole portion AL2 positioned on the opposing surface in the width direction. By being engaged with the outer peripheral surface of the alignment pin 61, the alignment with respect to the stage 126 is performed. Further, the chip plate CP is sucked and held on the holding surface 60 by the negative pressure supplied through the suction groove 62. Here, since the holding surface 60 is formed of an elastic material, even if the holding surface side (back surface) of the chip plate CP has a low flatness, the holding surface 60 is elastically deformed following the back surface. It can suppress that the flatness of the surface where BC is arranged is adversely affected by the low flatness on the back surface side. Similarly, even when a foreign object is sandwiched between the chip plate CP and the holding surface 60, the holding surface 60 is elastically deformed according to the shape of the foreign object, so that the flatness of the surface on which the biochip BC is arranged is adversely affected by the foreign object. Can be suppressed.

このように、バイオチップBCが配された表面側が裏面側の平坦度や異物の存在による悪影響を抑制された状態でステージ(計測ステージ)126に保持されたチッププレートCPに対しては、上記の測定装置126によって、バイオチップBCに形成されたスポット(例、生体分子)において、バイオチップBCの生体分子と検体Kに含まれる標的との親和性が検出される。例えば、該標的が蛍光色素で蛍光標識されている場合、測定装置は、励起光によって発生する蛍光色素の蛍光の強度から親和性を検出する。   As described above, the chip plate CP held on the stage (measurement stage) 126 in a state where the surface side on which the biochip BC is disposed is suppressed from adverse effects due to the flatness on the back side and the presence of foreign matters is described above. The measuring device 126 detects the affinity between the biomolecule on the biochip BC and the target contained in the specimen K in the spot (eg, biomolecule) formed on the biochip BC. For example, when the target is fluorescently labeled with a fluorescent dye, the measuring device detects affinity from the intensity of fluorescence of the fluorescent dye generated by the excitation light.

例えば、測定装置120は、所定のバイオチップBCの表面をZ方向の所定位置に位置決めした後、当該バイオチップBCにおける所定(所定数)のスポットが測定可能となる第1の撮像領域に、チッププレートCPをステージ126によってXY平面内で移動させ、観察用の照明光を用いてスポットの像を撮像する。   For example, the measuring device 120 positions the surface of a predetermined biochip BC at a predetermined position in the Z direction, and then inserts a chip into the first imaging region where a predetermined (predetermined number) of spots on the biochip BC can be measured. The plate CP is moved in the XY plane by the stage 126, and a spot image is picked up using illumination light for observation.

次に、測定装置120は、光源装置131から照明光を選択して射出させ、バイオチップBCの表面を照明する。光源装置131から射出された照明光は、光学ユニット137で反射光と透過光とに分離されて、部分反射及び部分透過し、部分反射した照明光が対物レンズ132を透過した後に、バイオチップBCの表面を照明する。バイオチップBCの表面で反射した照明光は、対物レンズ132、光学ユニット137を透過して光学素子147に入射する。   Next, the measuring device 120 selects and emits illumination light from the light source device 131 to illuminate the surface of the biochip BC. The illumination light emitted from the light source device 131 is separated into reflected light and transmitted light by the optical unit 137 and partially reflected and partially transmitted. After the partially reflected illumination light passes through the objective lens 132, the biochip BC Illuminate the surface. The illumination light reflected on the surface of the biochip BC passes through the objective lens 132 and the optical unit 137 and enters the optical element 147.

そして、光学素子147に入射した照明光の一部は、光学素子147を透過して、接眼レンズ127に導かれ、接眼部127より射出される。これにより、バイオチップBCのスポットの像が、接眼部127の近傍に形成される。また、光学素子147に入射した照明光の一部は、光学素子147および反射ミラー145で順次反射されて、観察カメラ129のセンサ128に入射する。   A part of the illumination light incident on the optical element 147 passes through the optical element 147, is guided to the eyepiece lens 127, and is emitted from the eyepiece unit 127. Thereby, an image of a spot on the biochip BC is formed in the vicinity of the eyepiece 127. Further, part of the illumination light incident on the optical element 147 is sequentially reflected by the optical element 147 and the reflection mirror 145 and then enters the sensor 128 of the observation camera 129.

これらにより、センサ128の撮像特性及び所定の倍率に応じた大きさの視野内に複数のスポットの像がセンサ128に形成される。センサ128は、スポットの像情報(スポットの受光情報)及びバイオチップBCに設けられた不図示のアライメントマークの像情報(位置情報)を取得する。制御装置122は、スポットの像情報を記憶するとともに、アライメントマークの位置情報から視野におけるスポット群の配置(X、Y、θZ)を求めて記憶する。   As a result, images of a plurality of spots are formed on the sensor 128 in a field of view having a size corresponding to the imaging characteristics of the sensor 128 and a predetermined magnification. The sensor 128 acquires spot image information (spot light reception information) and image information (position information) of an alignment mark (not shown) provided on the biochip BC. The control device 122 stores the image information of the spot, and obtains and stores the arrangement (X, Y, θZ) of the spot group in the visual field from the position information of the alignment mark.

この後、測定装置120は、蛍光測定を行うために、光源装置131から射出される光を、例えば所定波長帯域の励起光に切り替える。光源装置131から射出された励起光は、光学ユニット137で反射(全反射)し、対物レンズ132を透過した後に、バイオチップBCの表面(例、スポット)を照明する。励起光で照明された複数のスポットのうち検体Kに含まれるターゲット(標的)と生体分子との特異的な反応により結合したスポットから蛍光が発生する。発生した蛍光は、対物レンズ132、および光学ユニット137を透過して光学素子147に入射する。例えば、特異的な反応によって結合したスポットの親和性は、親和性が高い場合、検出される蛍光強度が高い。   Thereafter, the measurement device 120 switches the light emitted from the light source device 131 to, for example, excitation light in a predetermined wavelength band in order to perform fluorescence measurement. The excitation light emitted from the light source device 131 is reflected (totally reflected) by the optical unit 137, passes through the objective lens 132, and then illuminates the surface (eg, spot) of the biochip BC. Fluorescence is generated from a spot that is bound by a specific reaction between a target (target) contained in the specimen K and a biomolecule among a plurality of spots illuminated with excitation light. The generated fluorescence passes through the objective lens 132 and the optical unit 137 and enters the optical element 147. For example, when the affinity of a spot bound by a specific reaction is high, the detected fluorescence intensity is high.

そして、照明光によるスポットの測定と同様に、蛍光を発生したスポットの像は、接眼部127の近傍に形成されるとともに、センサ128の視野内に形成される。センサ128は、蛍光を発生したスポットの像情報(スポットの受光情報)を取得する。   Then, similarly to the measurement of the spot by the illumination light, an image of the spot where the fluorescence is generated is formed in the vicinity of the eyepiece 127 and in the field of view of the sensor 128. The sensor 128 acquires image information (spot light reception information) of the spot that has generated fluorescence.

これら照明光によるスポット測定、及び励起光によるスポット測定において、対物レンズ132の光軸方向または光軸と平行な方向で、バイオチップBCがチッププレートCPにおける最も高い(すなわち、対物レンズ132に最も近い)位置となる。測定装置120は、バイオチップBCにおける第1の撮像領域の計測が完了した後、第1の撮像領域と隣り合う第2の撮像領域にバイオチップBCが位置するようにチッププレートCPを移動させる。第2の撮像領域は、第1の撮像領域で撮像したアライメントマークの一部がセンサ128の視野で撮像される位置に設定される。そして、測定装置120は、上記第1の撮像領域に対する撮像処理と同様に、照明光を用いたスポット及びアライメントマークの計測及び蛍光を用いたスポットの計測を実施する。   In the spot measurement using the illumination light and the spot measurement using the excitation light, the biochip BC is the highest on the chip plate CP in the optical axis direction of the objective lens 132 or in a direction parallel to the optical axis (that is, closest to the objective lens 132). ) Position. The measurement apparatus 120 moves the chip plate CP so that the biochip BC is positioned in the second imaging area adjacent to the first imaging area after the measurement of the first imaging area in the biochip BC is completed. The second imaging area is set to a position where a part of the alignment mark imaged in the first imaging area is imaged in the field of view of the sensor 128. And the measuring apparatus 120 implements the measurement of the spot using an illumination light, and the measurement of the spot using fluorescence similarly to the imaging process with respect to the said 1st imaging area.

そして、全てのスポットの計測が完了するまで複数の撮像領域の計測処理を実施した後、制御装置122は、各撮像領域におけるアライメントマークの計測結果から照明光によるスポットの計測結果を画面合成するとともに、蛍光によるスポットの計測結果を画面合成する。画面合成された計測結果を比較することにより、検体Kのターゲットと生体分子72とが特異的な反応により結合したスポットのバイオチップBCにおけるアドレスを計測することができる。   Then, after performing measurement processing of a plurality of imaging areas until measurement of all spots is completed, the control device 122 synthesizes the spot measurement results of the illumination light from the measurement results of the alignment marks in each imaging area. Then, the measurement results of the spots due to fluorescence are synthesized on the screen. By comparing the measurement results synthesized on the screen, the address on the biochip BC of the spot where the target of the specimen K and the biomolecule 72 are bound by a specific reaction can be measured.

以上説明したように、本実施形態では、バイオチップBC(生体分子)を測定する際には、ウェルプレートWPが分離され、バイオチップBCが最も高い位置となる状態でチッププレートCPを測定できる。そのため、本実施形態では、高倍率の対物レンズ132を用いてバイオチップBCの生体分子と検体Kに含まれる標的との親和性を高精度に測定することが可能になる。また、本実施形態では、検体Kを保持空間30に分注する前に、複数の保持空間30をそれぞれ封止する封止部22の封止状態を予め封止検査部としての孔部CH1、CH2を介して検査しているため、封止不良により、コンタミネーション等の不具合が生じることを未然に防止することができ、上記の親和性をさらに高精度に測定することが可能である。   As described above, in this embodiment, when measuring a biochip BC (biomolecule), the chip plate CP can be measured in a state where the well plate WP is separated and the biochip BC is at the highest position. Therefore, in this embodiment, it is possible to measure the affinity between the biomolecule on the biochip BC and the target contained in the specimen K with high accuracy using the high-magnification objective lens 132. In the present embodiment, before dispensing the specimen K into the holding space 30, the sealing state of the sealing portion 22 that seals each of the plurality of holding spaces 30 is set in advance as a hole CH1 as a sealing inspection portion, Since the inspection is performed via CH2, it is possible to prevent the occurrence of defects such as contamination due to a sealing failure, and it is possible to measure the affinity with higher accuracy.

さらに、本実施の形態では、複数の保持空間30を封止するための封止部22がチッププレートCPの表面CPaに一括的に形成されることから、個々に形成する場合と比較して生産効率を高めることができる。また、本実施形態では、封止部22の高さがバイオチップBCの表面の高さよりも低く形成されているため、対物レンズ132をバイオチップBCに最大限で接近させることが可能となり、生体分子の測定精度を高めることが可能となる。   Furthermore, in the present embodiment, since the sealing portion 22 for sealing the plurality of holding spaces 30 is collectively formed on the surface CPa of the chip plate CP, the production is performed as compared with the case where they are individually formed. Efficiency can be increased. In the present embodiment, since the height of the sealing portion 22 is formed lower than the height of the surface of the biochip BC, the objective lens 132 can be made as close as possible to the biochip BC. It becomes possible to increase the measurement accuracy of molecules.

[第2実施形態]
次に、検査用パッケージの第2実施形態について、図7を参照して説明する。
この図において、図1乃至図6に示す第1実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the inspection package will be described with reference to FIG.
In this figure, the same components as those of the first embodiment shown in FIGS. 1 to 6 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

図7に示すように、本実施形態では、封止部22がウェルプレートWPの隔壁部32の先端に設けられている。また、チッププレートCPは、ウェルプレートWPに設けられた封止部22が当接する封止部22の接触領域をバイオチップBCの周囲に有する。他の構成は、上記第1実施形態と同様である。   As shown in FIG. 7, in this embodiment, the sealing part 22 is provided at the tip of the partition part 32 of the well plate WP. Further, the chip plate CP has a contact region of the sealing portion 22 with which the sealing portion 22 provided on the well plate WP abuts around the biochip BC. Other configurations are the same as those of the first embodiment.

上記構成の本実施形態では、上記第1実施形態と同様の作用・効果が得られることに加えて、封止部22と隔壁部32とを高精度に位置合わせする必要がなくなるため、チッププレートCPとウェルプレートWPとの位置決めに係る重ね精度の許容量を大きくすることができる。   In this embodiment having the above-described configuration, in addition to obtaining the same operations and effects as those in the first embodiment, it is not necessary to align the sealing portion 22 and the partition wall portion 32 with high accuracy. It is possible to increase the tolerance of the overlapping accuracy related to the positioning of the CP and the well plate WP.

[第3実施形態]
次に、検査用パッケージPGの第3実施形態について、図8を参照して説明する。なお、図8においては、区画部材50の図示を省略している。
この図において、図1乃至図6に示す第1実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
[Third Embodiment]
Next, a third embodiment of the inspection package PG will be described with reference to FIG. In FIG. 8, the partition member 50 is not shown.
In this figure, the same components as those of the first embodiment shown in FIGS. 1 to 6 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

図8に示すように、本実施形態では、封止部22がチッププレートCPの表面CPaとウェルプレートWPの隔壁部32との間に介装されるシート状弾性材で形成される。封止部22は、複数のバイオチップBCに対してそれぞれの周囲を囲むように複数の開口部22aを有する。封止部22における各保持空間30と対向する位置に、貫通孔22aが形成されている。隔壁部32における封止部22と当接する当接面32aに、封止部22よりも狭い幅の溝部(スリット)32bが設けられている。
他の構成は、上記第1実施形態と同様である。
As shown in FIG. 8, in this embodiment, the sealing portion 22 is formed of a sheet-like elastic material interposed between the surface CPa of the chip plate CP and the partition wall portion 32 of the well plate WP. The sealing part 22 has a plurality of openings 22a so as to surround each of the plurality of biochips BC. A through hole 22 a is formed at a position facing each holding space 30 in the sealing portion 22. A groove portion (slit) 32 b having a narrower width than the sealing portion 22 is provided on the contact surface 32 a that contacts the sealing portion 22 in the partition wall portion 32.
Other configurations are the same as those of the first embodiment.

上記構成の検査用パッケージPGでは、例えば、チッププレートCPの表面CPaに配置されたバイオチップBCが封止部22の開口部22a内に位置するように、封止部22が載置される。そして、溝部32bを有する隔壁部32が封止部22と当接するようにウェルプレートWPをチッププレートCPに重ねて一体化することによって、各保持空間30が封止部22で封止された検査用パッケージPGが製造される。   In the inspection package PG having the above configuration, for example, the sealing unit 22 is placed so that the biochip BC disposed on the surface CPa of the chip plate CP is positioned in the opening 22a of the sealing unit 22. The well plate WP is integrated with the chip plate CP so that the partition wall portion 32 having the groove portion 32b is in contact with the sealing portion 22, so that each holding space 30 is sealed with the sealing portion 22. Package PG is manufactured.

このように、本実施形態では、上記第1実施形態と同様の作用・効果が得られることに加えて、開口部22aが形成されたシート状の封止部22をチッププレートCPとウェルプレートWPとの間に載置することによって密封された保持空間30を形成できるため、検査用パッケージPGの生産効率を向上させることができる。また、本実施形態では、隔壁部32における封止部22と当接する面に溝部32bが形成されているため、保持空間30に分注された検体Kが封止部22と隔壁部32との当接面に浸入した場合であっても、当該検体Kを溝部32bに導入させることができ、検体Kのコンタミネーションの発生を抑制することが可能となる。   As described above, in this embodiment, in addition to the same operation and effect as those of the first embodiment, the sheet-like sealing portion 22 in which the opening 22a is formed is replaced with the chip plate CP and the well plate WP. Since the sealed holding space 30 can be formed by mounting between the two, the production efficiency of the inspection package PG can be improved. Further, in the present embodiment, since the groove portion 32 b is formed on the surface of the partition wall portion 32 that contacts the sealing portion 22, the specimen K dispensed in the holding space 30 is formed between the sealing portion 22 and the partition wall portion 32. Even when it enters the contact surface, the specimen K can be introduced into the groove 32b, and contamination of the specimen K can be suppressed.

[第4実施形態]
次に、検査用パッケージPGの第4実施形態について、図9を参照して説明する。なお、図9においては、一例として、バイオチップBC及び保持空間30を4×5の20個配列する構成で図示している。この図において、図1乃至図6に示す第1実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
[Fourth Embodiment]
Next, a fourth embodiment of the inspection package PG will be described with reference to FIG. In FIG. 9, as an example, a configuration in which 20 biochips BC and 20 holding spaces 30 of 4 × 5 are arranged is illustrated. In this figure, the same components as those of the first embodiment shown in FIGS. 1 to 6 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

図9(a)は、検査用パッケージPGの平面図であり、図9(b)は正面断面図である。図9に示すように、隔壁部32は、支持部31を貫通する形状に、支持部31を挟んだ両側に突出して形成されている。隔壁部32の両方の端面のうちチッププレートCPと対向する側の端面には、Oリング(例、円形や楕円などのリング状の弾性部材)で形成された封止部22が嵌め込まれている。互いに隣り合う封止部22(隔壁部32)の間には、間隙34が設けられる。また、本実施形態におけるバネ部材10は、互いに所定の間隔をあけて複数配置されている。なお、封止部22は、Oリングに限らず、所定の形状を有する貫通孔を備える弾性部材であってもよい。
他の構成は、上記第1実施形態と同様である。
FIG. 9A is a plan view of the inspection package PG, and FIG. 9B is a front sectional view. As shown in FIG. 9, the partition wall 32 is formed so as to protrude through both sides of the support portion 31 in a shape penetrating the support portion 31. A sealing portion 22 formed of an O-ring (for example, a ring-shaped elastic member such as a circle or an ellipse) is fitted into an end surface on both sides of the partition wall 32 facing the chip plate CP. . A gap 34 is provided between the sealing portions 22 (partition walls 32) adjacent to each other. Further, a plurality of the spring members 10 in the present embodiment are arranged at a predetermined interval from each other. The sealing portion 22 is not limited to the O-ring, and may be an elastic member that includes a through hole having a predetermined shape.
Other configurations are the same as those of the first embodiment.

上記構成の検査用パッケージPGでは、上記第1実施形態と同様の作用・効果が得られることに加えて、保持空間30に分注された検体Kが封止部22から漏れた場合、間隙34がバッファとして機能して検体Kを留めるため、検体Kが他の保持空間30に保持された検体Kとコンタミネーションを引き起こすことを低減できる。   In the test package PG having the above configuration, in addition to obtaining the same operation and effect as those of the first embodiment, when the specimen K dispensed into the holding space 30 leaks from the sealing portion 22, the gap 34 is obtained. Functions as a buffer and retains the specimen K, so that it is possible to reduce the occurrence of contamination of the specimen K with the specimen K held in the other holding space 30.

[第5実施形態]
次に、検査用パッケージPGの第5実施形態について、図10を参照して説明する。
この図において、図9に示す第4実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
[Fifth Embodiment]
Next, a fifth embodiment of the inspection package PG will be described with reference to FIG.
In this figure, the same reference numerals are given to the same elements as those of the fourth embodiment shown in FIG. 9, and the description thereof is omitted.

図10(a)は、チッププレートCPとウェルプレートWPとを分離した状態の検査用パッケージPGの正面断面図、(b)はチッププレートCPとウェルプレートWPとを重ねて一体化した状態の検査用パッケージPGの正面断面図、(c)は図10(b)におけるB矢視図である。なお、図10においては、孔部CH1、CH2及び区画部材50の図示を省略している。   10A is a front sectional view of the inspection package PG in a state where the chip plate CP and the well plate WP are separated, and FIG. 10B is an inspection in a state where the chip plate CP and the well plate WP are integrated with each other. FIG. 10C is a front cross-sectional view of the package PG for use, and FIG. In addition, in FIG. 10, illustration of hole part CH1, CH2 and the division member 50 is abbreviate | omitted.

図10(a)に示すように、ウェルプレートWPは、支持部31の両方の側(例、上下側)のうちチッププレートCPと対向する側(例、下側)に隔壁部32が設けられている。支持部31には開口部32を閉塞するシート状の閉塞部材35が設けられている。閉塞部材35は、例えば、樹脂フィルム等の軟性材で形成され、複数の開口部32を一括的に閉塞する大きさを備えている。また、検査用パッケージPGは、封止部22の弾性力に抗してチッププレートCPとウェルプレートWPとを互いに接近する方向に付勢する付勢部として、ウェルプレートWPに設けられた掛止部(フック部)36と、チッププレートCPに設けられた係合部37とを備えている。   As shown in FIG. 10A, the well plate WP is provided with a partition wall portion 32 on the side (eg, the lower side) facing the chip plate CP of both sides (eg, the upper and lower sides) of the support portion 31. ing. The support portion 31 is provided with a sheet-like closing member 35 that closes the opening 32. The closing member 35 is formed of, for example, a soft material such as a resin film and has a size that collectively closes the plurality of openings 32. The inspection package PG is a latch provided on the well plate WP as an urging portion that urges the chip plate CP and the well plate WP in a direction approaching each other against the elastic force of the sealing portion 22. A portion (hook portion) 36 and an engaging portion 37 provided on the chip plate CP are provided.

掛止部36は、図10(a)に示すように、ウェルプレートWPの長さ方向(図中、左右方向)の両端部で、且つ、図10(c)に示すように、幅方向の両側に隙間38を隔てて設けられている。各掛止部36は、支持部31からチッププレートCP側に延びる延出部36Aと、延出部36Aの先端に設けられる爪部36Bとを備えている。爪部36Bは、延出部36Aの内側の面の位置は支持部31の端面と面一となる位置に設けられている。爪部36Bは、延出部36Aの内側の面の下端部から内側に、支持部31と平行に延出する掛止面36Cと、掛止面36Cの内側先端から下方に向かうに従って外側に向かう傾斜面36Dとを備えている。ウェルプレートWPの長さ方向における傾斜面36Dの下端位置は、係合部37の端面37Aの位置よりも外側で、且つ、傾斜面36Dの上端の位置は、当該上端が端面37Aに摺接するように延出部36Aが変形した際に、弾性変形となるように形成されている。また、掛止面36Cの位置は、係合部37におけるウェルプレートWPと逆側の係合面37Bに係合したときに、封止部22が弾性変形してチッププレートCPの表面CPaと当接し、保持空間30の封止状態(密閉状態)が維持される位置に設定されている。   As shown in FIG. 10 (a), the latching portion 36 is located at both ends in the length direction of the well plate WP (left and right in the figure), and in the width direction as shown in FIG. 10 (c). The gaps 38 are provided on both sides. Each latching portion 36 includes an extending portion 36A that extends from the support portion 31 toward the chip plate CP, and a claw portion 36B that is provided at the tip of the extending portion 36A. The claw portion 36 </ b> B is provided at a position where the inner surface of the extending portion 36 </ b> A is flush with the end surface of the support portion 31. The claw portion 36B is directed to the outside from the lower end portion of the inner surface of the extending portion 36A to the inner side, the latching surface 36C extending in parallel with the support portion 31, and the lower end from the inner tip of the latching surface 36C. And an inclined surface 36D. The lower end position of the inclined surface 36D in the length direction of the well plate WP is outside the position of the end surface 37A of the engaging portion 37, and the upper end position of the inclined surface 36D is such that the upper end is in sliding contact with the end surface 37A. When the extending portion 36A is deformed, it is formed to be elastically deformed. Further, the position of the latching surface 36C is such that when the engagement portion 37 is engaged with the engagement surface 37B opposite to the well plate WP, the sealing portion 22 is elastically deformed to contact the surface CPa of the chip plate CP. It is set to the position where the sealing state (sealed state) of the holding space 30 is maintained.

また、延出部36Aの開口部33側の端縁には、ウェルプレートWPの属性等を示す指標マーク41が設けられている。ここでは、指標マーク41としてバーコード(例、1次元、2次元バーコードなど)が印刷されたシールが貼付されている。   In addition, an index mark 41 indicating the attribute of the well plate WP and the like is provided on the edge of the extension portion 36A on the opening 33 side. Here, a sticker on which a barcode (eg, one-dimensional, two-dimensional barcode) is printed as the index mark 41 is affixed.

係合部37は、チッププレートCPの長さ方向両端部に、ウェルプレートWPに向かう方向に突出して設けられ、上述した端面37A及び係合面37Bを備えている。端面37Aには、隙間38に位置してチッププレートCPの属性等を示す指標マーク42が設けられている。ここでは、指標マーク42としてバーコードが印刷されたシールが貼付されている。   The engaging portions 37 are provided at both ends in the length direction of the chip plate CP so as to protrude in the direction toward the well plate WP, and include the above-described end surface 37A and engaging surface 37B. The end face 37A is provided with an index mark 42 that is located in the gap 38 and indicates the attribute of the chip plate CP. Here, a sticker printed with a barcode is attached as the index mark 42.

上記構成の検査用パッケージPGを用いて検査を行う場合、まず、図10(a)に示すように、チッププレートCPとウェルプレートWPとを対向させた位置から互いに(あるいは一方を他方に)接近させる。チッププレートCPとウェルプレートWPとの接近に従って、掛止部36(爪部36B)の傾斜面36Dが係合部37の端面37Aと当接するとともに、延出部36Aが弾性変形し、爪部36Bは外側に移動する。そして、さらにチッププレートCPとウェルプレートWPとが接近させられて傾斜面36Dが端面37Aを過ぎた時に、図10(b)に示すように、延出部36Aの弾性復元力によって爪部36Bが内側に移動し、掛止面36Cが係合面37Bに係合することで掛止部36が係合部37に掛止され、チッププレートCPとウェルプレートWPとが一体化される。このとき、封止部22は弾性変形した状態でチッププレートPの表面CPaと当接するため、保持空間30は外部に対して封止される。また、このとき、図10(c)に示すように、指標マーク41、42は、接近した位置となるため、例えば、バーコードリーダによってチッププレートCPとウェルプレートWPの属性情報が短時間で読み取られる。   When an inspection is performed using the inspection package PG having the above configuration, first, as shown in FIG. 10A, the chip plate CP and the well plate WP approach each other (or one approaches the other) from the position where the chip plate CP and the well plate WP face each other. Let As the chip plate CP and the well plate WP approach each other, the inclined surface 36D of the latching portion 36 (claw portion 36B) comes into contact with the end surface 37A of the engaging portion 37, and the extending portion 36A is elastically deformed, so that the claw portion 36B. Moves outward. When the chip plate CP and the well plate WP are further brought closer to each other and the inclined surface 36D passes the end surface 37A, the claw portion 36B is moved by the elastic restoring force of the extending portion 36A as shown in FIG. When the latching surface 36C is engaged with the engagement surface 37B, the latching portion 36 is latched by the engagement portion 37, and the chip plate CP and the well plate WP are integrated. At this time, since the sealing portion 22 abuts on the surface CPa of the chip plate P in an elastically deformed state, the holding space 30 is sealed from the outside. At this time, as shown in FIG. 10 (c), the index marks 41 and 42 are located close to each other. Therefore, for example, the attribute information of the chip plate CP and the well plate WP is read in a short time by a barcode reader. It is done.

そして、上述した封止状態の検査を行い封止状態の保持を確認した後に、分注装置の分注ノズルNを閉塞部材35に刺通させ開口部33から保持空間30に挿入し、図10(b)に示すように、保持空間30に検体Kを分注し、バイオチップBCを検体Kに浸漬させて反応処理が実施される。   Then, after checking the sealed state by checking the sealed state as described above, the dispensing nozzle N of the dispensing device is pierced through the closing member 35 and inserted into the holding space 30 from the opening 33, and FIG. As shown in (b), the sample K is dispensed into the holding space 30, and the biochip BC is immersed in the sample K, and the reaction process is performed.

バイオチップBCと検体K(標的)との反応処理及び、その後の洗浄、乾燥処理が完了した後、測定処理のためにチッププレートCPからウェルプレートWPを分離する。例えば、ウェルプレートWPの長さ方向の一方側の掛止部36において、掛止面36Cが係合面37Bから離脱するまで延出部36Aを弾性変形させつつ爪部36Bを外側に移動させることにより、掛止部36と係合部37との掛止を解除する。この解除した状態において、ウェルプレートWPの前記一方側をチッププレートCPから離間させる方向に傾ける。   After the reaction process between the biochip BC and the specimen K (target) and the subsequent washing and drying processes are completed, the well plate WP is separated from the chip plate CP for the measurement process. For example, in the latching portion 36 on one side in the length direction of the well plate WP, the claw portion 36B is moved outward while the extending portion 36A is elastically deformed until the latching surface 36C is detached from the engagement surface 37B. Thus, the latching between the latching portion 36 and the engaging portion 37 is released. In this released state, the one side of the well plate WP is tilted in a direction away from the chip plate CP.

次に、上記一方側と同様に、ウェルプレートWPの長さ方向の他方側の掛止部36において、掛止面36Cが係合面37Bから離脱するまで延出部36Aを弾性変形させつつ爪部36Bを外側に移動させることにより、掛止部36と係合部37との掛止を解除する。この状態でウェルプレートWPの前記他方側をチッププレートCPから離間させる方向に移動させる。これにより、チッププレートCPに対してウェルプレートWPが分離する。
そして、ウェルプレートWPが分離されてバイオチップBCが露出したチッププレートCPに対して、上述した測定処理が行われる。
Next, in the same manner as the one side described above, in the latching portion 36 on the other side in the length direction of the well plate WP, the extension portion 36A is elastically deformed until the latching surface 36C is detached from the engagement surface 37B, and the claws By moving the part 36 </ b> B outward, the latching between the latching part 36 and the engaging part 37 is released. In this state, the other side of the well plate WP is moved away from the chip plate CP. As a result, the well plate WP is separated from the chip plate CP.
Then, the above-described measurement process is performed on the chip plate CP from which the well plate WP is separated and the biochip BC is exposed.

このように、本実施形態では、上記第4実施形態と同様の作用・効果が得られることに加えて、チッププレートCPとウェルプレートWPとを掛止部36及び係合部37により一体化できるため、装置の低価格化に寄与できる。また、本実施形態では、閉塞部材35によって保持空間30の開口部33を閉塞するため、検査前に保持空間30に異物が入り込んで生体分子の測定に悪影響を及ぼすことを防止でき、バイオチップBCに対する測定精度を維持することが可能となる。加えて、本実施形態では、閉塞部材35が複数の開口部33を一括的に閉塞するため、閉塞部材35をウェルプレートWPに貼付する手間も最小限に抑えることができる。さらに、本実施形態では、保持空間30への検体Kの分注時に分注ノズルNを閉塞部材35に刺通するため、分注時に閉塞部材35をウェルプレートWPから剥離する手間も省くことができる。   As described above, in this embodiment, in addition to obtaining the same operation and effect as the fourth embodiment, the chip plate CP and the well plate WP can be integrated by the latching portion 36 and the engaging portion 37. Therefore, it can contribute to the cost reduction of the apparatus. In the present embodiment, since the opening 33 of the holding space 30 is closed by the closing member 35, it is possible to prevent foreign matter from entering the holding space 30 before the examination and adversely affect the measurement of biomolecules. It becomes possible to maintain the measurement accuracy with respect to. In addition, in the present embodiment, since the closing member 35 collectively closes the plurality of openings 33, the trouble of sticking the closing member 35 to the well plate WP can be minimized. Furthermore, in the present embodiment, the dispensing nozzle N is pierced through the closing member 35 when dispensing the specimen K into the holding space 30, so that the trouble of peeling the closing member 35 from the well plate WP during dispensing can be saved. it can.

また、本実施形態では、指標マーク41、42を読み取って、チッププレートCPとウェルプレートWPとの属性情報を照合できるため、チッププレートCPとウェルプレートWPとの組み合わせが適切であるかを確認して安全性を高めることができる。さらに、本実施形態では、指標マーク41、42が同一方向に向くように貼付されているため、チッププレートCPとウェルプレートWPとの属性情報を短時間で読み取ることができる。   In this embodiment, since the index marks 41 and 42 can be read and attribute information of the chip plate CP and the well plate WP can be collated, it is confirmed whether the combination of the chip plate CP and the well plate WP is appropriate. Safety. Furthermore, in this embodiment, since the index marks 41 and 42 are attached so as to face in the same direction, the attribute information of the chip plate CP and the well plate WP can be read in a short time.

なお、上記第5実施形態で説明した閉塞部材35については、分注時に分注ノズルNが刺通する構成としたが、これに限定されるものではなく、分注前にウェルプレートWPから剥離する構成であってもよい。   In addition, about the obstruction | occlusion member 35 demonstrated in the said 5th Embodiment, although it was set as the structure which the dispensing nozzle N pierces at the time of dispensing, it is not limited to this, It peels from well plate WP before dispensing. It may be configured to.

[第6実施形態]
次に、検査用パッケージPGの第6実施形態について、図11を参照して説明する。
この図において、図10に示す第5実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
第6実施形態では、掛止部36と係合部37との掛止状態を解除する機構を設ける構成について説明する。
[Sixth Embodiment]
Next, a sixth embodiment of the inspection package PG will be described with reference to FIG.
In this figure, the same reference numerals are given to the same components as those of the fifth embodiment shown in FIG. 10, and the description thereof is omitted.
6th Embodiment demonstrates the structure which provides the mechanism in which the latching state of the latching | locking part 36 and the engaging part 37 is cancelled | released.

図11(a)は、上述した延出部36Aを弾性変形させることにより掛止部36と係合部37との掛止状態を解除する解除装置43が設けられた検査用パッケージPGの断面図である。解除装置43は、爪部36Bの内側に設けられ、外側(例、X方向側、Y方向側)に向けて支持部31と平行に移動可能な移動部材44を備えている。   FIG. 11A is a cross-sectional view of an inspection package PG provided with a release device 43 that releases the hooked portion 36 and the engaging portion 37 by elastically deforming the extending portion 36A. It is. The release device 43 includes a moving member 44 that is provided on the inner side of the claw portion 36B and is movable in parallel with the support portion 31 toward the outer side (for example, the X direction side and the Y direction side).

上記の構成の検査用パッケージPGにおいては、移動部材44がそれぞれ外側に移動することにより、移動部材44が爪部36Bに当接して延出部36Aを弾性変形させつつ爪部36Bを外側に移動させる。これにより、爪部36Bは係合部37の係合面37Bから離脱し、掛止部36と係合部37との掛止状態が解除される。   In the inspection package PG having the above-described configuration, the moving member 44 moves outward, so that the moving member 44 contacts the claw portion 36B and elastically deforms the extending portion 36A, and moves the claw portion 36B outward. Let Accordingly, the claw portion 36B is detached from the engaging surface 37B of the engaging portion 37, and the hooking state between the hooking portion 36 and the engaging portion 37 is released.

図11(b)は、上述した延出部36Aをせん断破壊することにより掛止部36と係合部37との掛止状態を解除する解除装置43が設けられた検査用パッケージPGの断面図である。解除装置43は、上述した移動部材44と、支点部材45とを備えている。支点部材45は、延出部36Aの外側で、掛止面36Cよりも延出部36Aの基端側に配置されている。   FIG. 11B is a cross-sectional view of the inspection package PG provided with a release device 43 that releases the hooked state of the hooking portion 36 and the engaging portion 37 by shearing and breaking the extending portion 36A described above. It is. The release device 43 includes the moving member 44 and the fulcrum member 45 described above. The fulcrum member 45 is disposed outside the extending portion 36A and closer to the proximal end side of the extending portion 36A than the hooking surface 36C.

上記の構成の検査用パッケージPGにおいては、移動部材44がそれぞれ外側に移動することにより、移動部材44が爪部36Bに当接して爪部36Bを外側に移動させる。このとき、延出部36Aは、外側に配置された支点部材45により弾性変形が阻止されるため、爪部36Bの外側への移動によりせん断力が加わり支点部材45を支点として、延出部36Aと爪部36Bとが分断される。その結果、爪部36Bは係合部37の係合面37Bから離脱し、掛止部36と係合部37との掛止状態が解除される。   In the inspection package PG having the above-described configuration, the moving members 44 move to the outside, so that the moving member 44 contacts the claw portion 36B and moves the claw portion 36B to the outside. At this time, since the extension portion 36A is prevented from elastic deformation by the fulcrum member 45 disposed on the outside, a shearing force is applied by the movement of the claw portion 36B to the outside and the fulcrum member 45 serves as the fulcrum 36A. And the claw portion 36B are divided. As a result, the claw portion 36B is detached from the engaging surface 37B of the engaging portion 37, and the hooking state between the hooking portion 36 and the engaging portion 37 is released.

このように、本実施形態では、上記第5実施形態と同様の作用・効果が得られることに加えて、掛止部36と係合部37との掛止状態をメカ的に解除することが可能になり、多数の検査用パッケージPGの検査を自動処理する場合に検査効率が向上する。   Thus, in this embodiment, in addition to obtaining the same operation and effect as the fifth embodiment, it is possible to mechanically release the hooked state of the hooking portion 36 and the engaging portion 37. This makes it possible to improve the inspection efficiency when automatically inspecting a large number of inspection packages PG.

[第7実施形態]
次に、検査用パッケージPGの第7実施形態について、図12及び図13を参照して説明する。これらの図において、図1乃至図6に示す第1実施形態の構成要素と同一の要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
[Seventh Embodiment]
Next, a seventh embodiment of the inspection package PG will be described with reference to FIGS. In these drawings, the same components as those of the first embodiment shown in FIGS. 1 to 6 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

図12は、検査用パッケージPGの平面図であり、図13は、図12におけるC−C線視断面図である。
図12及び図13に示すように、チッププレートCPは、チッププレートCPにおける隣り合う支持領域21の間に位置して溝部46が格子状に形成されている。また、チッププレートCPは、隣り合う支持領域21の間に位置する溝部46に、底部を貫通する孔部47が形成されている。
12 is a plan view of the inspection package PG, and FIG. 13 is a cross-sectional view taken along line CC in FIG.
As shown in FIGS. 12 and 13, the chip plate CP is formed between the adjacent support regions 21 in the chip plate CP, and the groove portions 46 are formed in a lattice shape. In the chip plate CP, a hole portion 47 penetrating the bottom portion is formed in the groove portion 46 located between the adjacent support regions 21.

本実施形態におけるウェルプレートWPは、格子状に形成された隔壁部32によって構成されている。隔壁部32は、チッププレートCP側に向けられる先端部が溝部46に液密に、且つ、着脱自在に嵌合し、支持領域21と対向する位置が貫通する開口部33となる格子状に形成されている。隔壁部32は、例えば、流体を密封するために、シリコンゴム等の弾性材で形成される。   The well plate WP in the present embodiment is constituted by partition walls 32 formed in a lattice shape. The partition wall portion 32 is formed in a lattice shape in which the tip portion directed toward the chip plate CP is liquid-tightly and detachably fitted to the groove portion 46 and becomes an opening portion 33 penetrating the position facing the support region 21. Has been. For example, the partition wall 32 is formed of an elastic material such as silicon rubber in order to seal the fluid.

上記構成の検査用パッケージPGにおいては、溝部46と嵌合する隔壁部32によって形成された保持空間30に開口部33を介して検体Kを分注することにより、バイオチップBC(生体分子)と検体(標識された標的)との反応処理が行われる。万が一、保持空間30に分注された検体Kが隔壁部32と溝部46との隙間から漏れた場合であっても、溝部46が支持領域21よりも低い位置にあるため、漏れた検体Kが他の保持空間30に到達することを防止できる。また、本実施形態では2,溝部46に漏れた検体Kは溝部46の底部に形成された孔部47から排出されるため、他の保持空間30に達してコンタミネーションを引き起こすことを、より確実に防止可能である。なお、図13においては、封止検査に用いられる孔部CH1、CH2及びCH3の図示、封止検査に用いられる密閉空間55の図示、等を省略している。本実施形態における検査用パッケージは、上記第1実施形態における封止検査工程と同様の構成及び処理を実施することによって封止検査が可能である。   In the test package PG having the above-described configuration, the sample K is dispensed through the opening 33 into the holding space 30 formed by the partition wall 32 that fits into the groove 46, thereby obtaining a biochip BC (biomolecule). A reaction process with the specimen (labeled target) is performed. Even if the sample K dispensed into the holding space 30 leaks from the gap between the partition wall portion 32 and the groove portion 46, the groove portion 46 is located at a position lower than the support region 21, so that the leaked sample K Reaching the other holding space 30 can be prevented. In this embodiment, since the specimen K leaking into the groove 46 is discharged from the hole 47 formed at the bottom of the groove 46, it is more reliable that it reaches the other holding space 30 and causes contamination. Can be prevented. In FIG. 13, illustration of the holes CH1, CH2 and CH3 used for the sealing inspection, illustration of the sealed space 55 used for the sealing inspection, and the like are omitted. The inspection package in the present embodiment can be subjected to a sealing inspection by performing the same configuration and processing as the sealing inspection step in the first embodiment.

[スクリーニング装置]
次に、上記スクリーニング方法が行われるスクリーニング装置について、図14を参照して説明する。
図14は、スクリーニング装置SCの模式図である。スクリーニング装置SCは、分注装置111、上述した測定装置120、搬送装置112を備えている。本実施形態におけるスクリーニング装置SCは、上述した検査用パッケージPGにおけるウェルプレートWPの保持空間30に検体Kを分注する分注装置111と、検体Kに含まれる標的と生体分子との親和性を検出する測定装置120と、バイオチップ(生体分子アレイ)BCを分注装置111から測定装置120へ搬送する搬送装置112と、を備える。例えば、分注装置111は、パッケージ一体化工程で一体化された検査用パッケージPGにおける保持空間30に、標的を含む検体Kを分注する分注処理が行われるものである(図2(b)参照)。また、分注装置111においては、上述した封止検査工程、反応工程、洗浄・乾燥工程、パッケージ分離工程も行われる。
[Screening equipment]
Next, a screening apparatus for performing the screening method will be described with reference to FIG.
FIG. 14 is a schematic diagram of the screening apparatus SC. The screening device SC includes a dispensing device 111, the above-described measuring device 120, and a transport device 112. The screening apparatus SC in the present embodiment has a dispensing apparatus 111 that dispenses the specimen K into the holding space 30 of the well plate WP in the above-described test package PG, and the affinity between the target and the biomolecule contained in the specimen K. A measuring device 120 for detecting, and a transport device 112 for transporting a biochip (biomolecule array) BC from the dispensing device 111 to the measuring device 120 are provided. For example, the dispensing device 111 performs a dispensing process for dispensing the specimen K containing the target into the holding space 30 in the test package PG integrated in the package integration process (FIG. 2B). )reference). Further, in the dispensing apparatus 111, the above-described sealing inspection process, reaction process, cleaning / drying process, and package separation process are also performed.

測定装置120は、上述したように、パッケージ分離工程でウェルプレートWPが分離されたチッププレートCPが搬送装置112によって搬入され、バイオチップBCの生体分子と検体Kに含まれ標識された標的との親和性が、例えば、画像情報の検査データとして検出される。なお、上記のパッケージ分離工程は、検査用パッケージPGが搬送装置112によって測定装置120へ搬送され、測定装置120内に設けられる機構によってウェルプレートWPを分離するようにしてもよい。
本実施形態におけるスクリーニング装置は、搬送装置112がチッププレートCP又はバイオチップBCを分注装置111から測定装置120へ搬送するため、少なくとも分注工程から測定工程までの複数の工程を自動的に処理することができる。
As described above, the measuring device 120 is loaded with the chip plate CP from which the well plate WP has been separated in the package separation step by the transport device 112, and the biomolecule of the biochip BC and the target contained in the sample K and labeled. The affinity is detected as, for example, inspection data of image information. In the above-described package separation step, the inspection package PG may be transported to the measurement device 120 by the transport device 112, and the well plate WP may be separated by a mechanism provided in the measurement device 120.
In the screening apparatus in the present embodiment, since the transport device 112 transports the chip plate CP or the biochip BC from the dispensing device 111 to the measuring device 120, at least a plurality of steps from the dispensing step to the measuring step are automatically processed. can do.

以上、添付図面を参照しながら本発明に係る好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。上述した例において示した各構成部材の諸形状や組み合わせ等は一例であって、本発明の主旨から逸脱しない範囲において設計要求等に基づき種々変更可能である。例えば、本実施形態において、ウェルプレートWPとチッププレートCPと重ねて一体化する手段は、バネ部材10等の上述した実施形態における部材が挙げられるが、接着性を有する両面テープやネジなどの係止部材であってもよい。   As described above, the preferred embodiments according to the present invention have been described with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to the examples. Various shapes, combinations, and the like of the constituent members shown in the above-described examples are examples, and various modifications can be made based on design requirements and the like without departing from the gist of the present invention. For example, in the present embodiment, the means for overlapping and integrating the well plate WP and the chip plate CP includes the members in the above-described embodiment such as the spring member 10, but it is possible to use a double-sided tape or a screw having adhesiveness. It may be a stop member.

例えば、上記実施形態では、封止検査工程において密閉空間55に正圧のエアを供給する構成として説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、負圧のエアを供給することで密閉空間55を負圧とする構成であってもよい。この場合、封止部22の封止状態が不良であれば大気圧である保持空間30から密閉空間55にエアが浸入して密閉空間55の気圧が上昇することで封止不良を検出できる。また、保持空間30に検体を分注した場合には、封止部22における封止は保持空間30側の圧力が密閉空間55側の圧力よりも大きくなる。つまり、圧力に関して、封止部22における実際のスクリーニング処理時の圧力関係に即した状態で封止検査を実施することができ、より高精度の封止検査を実施できる。   For example, in the above-described embodiment, the configuration has been described in which the positive pressure air is supplied to the sealed space 55 in the sealing inspection process. However, the present invention is not limited to this. The structure which makes the space 55 a negative pressure may be sufficient. In this case, if the sealing state of the sealing portion 22 is poor, air can enter the sealed space 55 from the holding space 30 that is atmospheric pressure, and the pressure in the sealed space 55 can be detected to detect a sealing failure. Further, when the specimen is dispensed into the holding space 30, the pressure in the holding space 30 side of the sealing in the sealing portion 22 is higher than the pressure on the sealed space 55 side. That is, with respect to the pressure, the sealing inspection can be performed in a state in accordance with the pressure relationship in the actual screening process in the sealing portion 22, and the sealing inspection with higher accuracy can be performed.

また、上記実施形態では、ダイシングにより個々に分離したチップBCを接着剤によりチッププレートCPに固定する構成について説明したが、これ以外にも、1枚のウエハ上に複数(例えば、8×12の96個)のスポットを形成し、当該ウエハをダイシングせずにチッププレートCPとして用いる構成であってもよい。この場合、バイオチップBCのダイシング処理、接着剤の塗布処理、バイオチップのBCのマウント処理が不要になり生産性の向上を図ることができる。   In the above-described embodiment, the configuration in which the chips BC individually separated by dicing are fixed to the chip plate CP with an adhesive is described. However, in addition to this, a plurality of (for example, 8 × 12) chips are formed on one wafer. 96 spots) may be formed, and the wafer may be used as a chip plate CP without dicing. In this case, the dicing process of the biochip BC, the application process of the adhesive, and the mounting process of the biochip BC are unnecessary, and the productivity can be improved.

また、上記実施形態では、チッププレートCP及びウェルプレートWPとは別に封止部を設ける構成を例示したが、これに限られるものではなく、例えば、ウェルプレートWPが熱可塑性エラストマーにより形成される構成を採ることが可能である。
熱可塑性エラストマーは弾性材であるため、隔壁部32を当接方向に圧縮した状態で弾性変形させてチッププレートCPの表面CPaと当接させることにより、隔壁部32の端面32aの弾性復元力が表面CPaとの間の封止力として作用する。そのため、ウェルプレートWPの隔壁部32が封止部として作用することになり、別部材の封止部を用いる必要がなくなる。
Moreover, in the said embodiment, although the structure which provides a sealing part separately from chip plate CP and well plate WP was illustrated, it is not restricted to this, For example, the structure by which well plate WP is formed with a thermoplastic elastomer. It is possible to take
Since the thermoplastic elastomer is an elastic material, the elastic restoring force of the end face 32a of the partition wall portion 32 can be increased by elastically deforming the partition wall portion 32 in a compressed state in contact with the surface CPa of the chip plate CP. It acts as a sealing force between the surface CPa. Therefore, the partition wall portion 32 of the well plate WP functions as a sealing portion, and it is not necessary to use a separate sealing portion.

10…バネ部材(付勢部)、 21…支持領域(生体分子支持領域)、 22…封止部、 30…保持空間、 31…支持部、 32…隔壁部、 32a…端面(第2面)、 33…開口部、 34…間隙、 35…閉塞部材、 36…掛止部、 AL1…第1孔部(位置合わせ部)、 AL2…第2孔部(位置合わせ部)、 BC…バイオチップ(チップ)、 CH1、CH2…孔部(封止検査部)、 CP…チッププレート(第1部材)、 CPa…表面(第1面)、 K…検体、 PG…検査用パッケージ、 WP…ウェルプレート(第2部材)   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Spring member (biasing part), 21 ... Support area | region (biomolecule support area | region), 22 ... Sealing part, 30 ... Holding space, 31 ... Support part, 32 ... Partition part, 32a ... End surface (2nd surface) 33 ... Opening, 34 ... Gap, 35 ... Closure member, 36 ... Hook, AL1 ... First hole (alignment part), AL2 ... Second hole (positioning part), BC ... Biochip ( Chip), CH1, CH2 ... hole (sealing inspection part), CP ... chip plate (first member), CPa ... surface (first surface), K ... sample, PG ... inspection package, WP ... well plate ( Second member)

Claims (23)

検体に含まれる標的と特異的に反応可能な生体分子を支持可能な複数の生体分子支持領域を有する第1面を備える第1部材と、
前記複数の生体分子支持領域に応じて区画され前記検体を保持する複数の保持空間を前記第1面に対して形成する第2部材と、
前記第1部材と前記第2部材との間に配置され、前記複数の保持空間を封止する封止部と、
前記封止部の封止状態を検査するための封止検査部と、
を備える検査用パッケージ。
A first member comprising a first surface having a plurality of biomolecule support regions capable of supporting biomolecules that can specifically react with a target contained in a specimen;
A second member that is partitioned according to the plurality of biomolecule support regions and forms a plurality of holding spaces for holding the specimen with respect to the first surface;
A sealing portion that is disposed between the first member and the second member and seals the plurality of holding spaces;
A sealing inspection part for inspecting the sealing state of the sealing part;
Package for inspection.
前記封止検査部は、前記第1部材と前記第2部材との少なくとも一方を貫通する孔部を備える請求項1記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to claim 1, wherein the sealing inspection unit includes a hole that penetrates at least one of the first member and the second member. 前記孔部は、前記封止部に所定圧の流体が供給される供給口である、請求項2記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to claim 2, wherein the hole is a supply port through which a fluid having a predetermined pressure is supplied to the sealing portion. 前記生体分子支持領域は、光硬化性接着剤の塗布領域を含み、
前記第1部材は、前記光硬化性接着剤を硬化させる光に対して光透過性を有する請求項1から3のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。
The biomolecule support region includes a photocurable adhesive application region,
4. The inspection package according to claim 1, wherein the first member is light transmissive to light that cures the photocurable adhesive. 5.
前記生体分子支持領域は、前記生体分子が設けられた生体分子アレイを保持する請求項1から4のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The test package according to any one of claims 1 to 4, wherein the biomolecule support region holds a biomolecule array provided with the biomolecule. 前記第2部材は、前記複数の生体分子支持領域のそれぞれの周囲を取り囲み、該生体分子支持領域と対向して開口部が形成される隔壁部を備える請求項1から6のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The said 2nd member surrounds each circumference | surroundings of these several biomolecule support area | regions, and is provided with the partition part in which an opening part is formed facing this biomolecule support area | region. Inspection package as described. 前記第1部材は、隣り合う前記生体分子支持領域の間に形成された溝部を備え、
前記隔壁部の前記開口部と逆側の端部は、前記溝部に着脱自在に嵌合する請求項6記載の検査用パッケージ。
The first member includes a groove formed between the adjacent biomolecule support regions,
The inspection package according to claim 6, wherein an end of the partition wall opposite to the opening is detachably fitted into the groove.
前記隔壁部の前記開口部と逆側の端部は、前記溝部に液密に嵌合する請求項7記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to claim 7, wherein an end of the partition wall opposite to the opening is fitted in the groove in a liquid-tight manner. 前記溝部の底部を貫通する第2孔部が設けられる請求項7または8に記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to claim 7 or 8, wherein a second hole that penetrates the bottom of the groove is provided. 前記隔壁部を一体的に支持する支持部を備える請求項6から9のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to claim 6, further comprising a support portion that integrally supports the partition wall portion. 前記開口部を閉塞する閉塞部材を備える請求項6から10のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to claim 6, further comprising a closing member that closes the opening. 前記閉塞部材は、前記検体が分注される分注部である請求項11に記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to claim 11, wherein the closing member is a dispensing unit into which the specimen is dispensed. 前記第2部材は、熱可塑性エラストマーで形成される請求項1から12のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to any one of claims 1 to 12, wherein the second member is formed of a thermoplastic elastomer. 複数の前記封止部の間に間隙が設けられる請求項1から13のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to claim 1, wherein a gap is provided between the plurality of sealing portions. 前記封止部は、前記生体分子支持領域の周囲又は前記保持空間の端部に設けられる弾性材である請求項1から14のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The test package according to any one of claims 1 to 14, wherein the sealing portion is an elastic material provided around the biomolecule support region or at an end of the holding space. 前記封止部は、前記生体分子支持領域と対応する位置に貫通孔が設けられたシート状弾性材である請求項1から14のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to any one of claims 1 to 14, wherein the sealing portion is a sheet-like elastic material provided with a through hole at a position corresponding to the biomolecule support region. 前記封止部と当接する前記第1部材と前記第2部材との少なくとも一方に、前記封止部よりも狭い幅で溝部が設けられる請求項1から16のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The inspection portion according to any one of claims 1 to 16, wherein a groove portion is provided in at least one of the first member and the second member that abuts the sealing portion with a width narrower than the sealing portion. package. 前記第1部材と前記第2部材とを互いに接近する方向に付勢する付勢部を備える請求項1から17のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to any one of claims 1 to 17, further comprising an urging portion that urges the first member and the second member toward each other. 前記第1部材は、前記保持領域の位置に関する情報と所定の相関関係を有する位置合わせ部を備える請求項1から18のいずれか一項に記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to any one of claims 1 to 18, wherein the first member includes an alignment unit having a predetermined correlation with information regarding the position of the holding region. 前記位置合わせ部は、互いに異なる形状を有する少なくとも2つの位置合わせ用孔部を備える請求項19記載の検査用パッケージ。   The inspection package according to claim 19, wherein the alignment portion includes at least two alignment holes having different shapes. 請求項1から20のいずれか一項に記載の検査用パッケージにおいて、前記第1部材と前記第2部材とを一体化し、前記封止部により前記保持空間を封止することと、
前記封止部の周囲に密閉空間を形成することと、
前記密閉空間に前記封止検査部を介して流体を流すことによって、前記封止部の封止状態の検査を行うことと、
を含む検査用パッケージの検査方法。
The inspection package according to any one of claims 1 to 20, wherein the first member and the second member are integrated, and the holding space is sealed by the sealing portion;
Forming a sealed space around the sealing portion;
Inspecting the sealing state of the sealing part by flowing a fluid through the sealing inspection part in the sealed space;
Inspection method for inspection package including
生体分子アレイのスクリーニング方法であって、
請求項1から請求項20のいずれか一項に記載の検査用パッケージにおける前記生体分子支持領域に前記生体分子アレイを配置して固定することと、
前記生体分子アレイが前記検体で浸るように前記保持空間に前記検体を分注することと、
前記標的と前記生体分子とを前記検体の分注された前記保持空間内で反応させることと、
前記反応後に、前記第1部材と前記第2部材とを分離することと、
分離した前記第1部材において、前記標的と前記生体分子との親和性を検出すること、
を含む生体分子アレイのスクリーニング方法。
A biomolecular array screening method comprising:
Disposing and fixing the biomolecule array in the biomolecule support region in the test package according to any one of claims 1 to 20,
Dispensing the specimen into the holding space such that the biomolecule array is immersed in the specimen;
Reacting the target and the biomolecule in the holding space into which the specimen is dispensed;
Separating the first member and the second member after the reaction;
Detecting the affinity between the target and the biomolecule in the separated first member;
A method for screening a biomolecule array comprising:
請求項1から20のいずれか一項に記載の検査用パッケージにおける前記第2部材に前記検体を分注する分注装置と、
前記検体に含まれる前記標的と前記生体分子との親和性を検出する測定装置と、
前記生体分子支持領域に配置される生体分子アレイを前記分注装置から前記測定装置へ搬送する搬送装置と、
を備えるスクリーニング装置。
A dispensing device that dispenses the sample into the second member in the inspection package according to any one of claims 1 to 20,
A measuring device for detecting the affinity between the target and the biomolecule contained in the specimen;
A transport device for transporting a biomolecule array disposed in the biomolecule support region from the dispensing device to the measurement device;
A screening apparatus comprising:
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