JP2014063870A - 半導体冷却装置 - Google Patents

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Shigenobu Matsuzaki
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和宏 早川
Shuji Adachi
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Abstract

【課題】冷媒の排出側における冷媒の淀みの発生を抑制することができる半導体冷却装置を提供する。
【解決手段】半導体素子20と、第一の面に半導体素子20を搭載し、第一の面と対向する第二の面に冷却用フィン27を設けた金属プレート26と、金属プレート26の第二の面との間で冷媒の流路を形成するように、金属プレート26の第二の面を覆うケース12とを備え、流路の冷媒の排出側のケース12内に、冷却用フィン27に対向するように突起部30を設けた。
【選択図】図3

Description

本発明は、半導体冷却装置に関する。
電気自動車(EV)やハイブリッド自動車(HEV)等の駆動モータを制御するために、パワー半導体を用いたインバータが使用されている(例えば、特許文献1参照。)。
特許文献1には、伝熱性の高い金属等から構成される放熱板の上面に半導体素子を設置し、半導体素子を設置した面と対向する下面に冷却用フィンを設け、冷却用フィンに水等の冷媒を流して冷却する構成が記載されている。半導体素子から発生した熱は、冷却用フィンを介して冷媒に放熱される。
特開2010−87072号公報
しかしながら、特許文献1の構成では、冷媒をポンプを用いて循環させるために、ポンプと半導体モジュールとを配管で接続しており、特に、冷媒が半導体モジュールから配管に排出される部分で冷媒の淀みが生じ易い。このため、冷媒の排出側に位置する半導体素子の熱抵抗が増大し、冷却能力が低下してしまうという問題がある。
本発明の目的は、冷媒の排出側における冷媒の淀みの発生を抑制することができる半導体冷却装置を提供することである。
本発明の一態様によれば、ヒートシンクに設けられた冷却用フィンを冷媒で冷却する構造において、冷媒の排出側のケース内に突起部を設けた半導体冷却装置が提供される。
本発明によれば、冷媒の排出側における冷媒の淀みの発生を抑制することができる半導体冷却装置を提供することができる。
本発明の第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の一例を示す上面図である。 本発明の第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の一例を示す側面図である。 本発明の第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の一例を示す断面図(図1のA−A方向の断面図)である。 本発明の第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部及び冷却用フィンの一例を示す断面図(図3のB−B方向の断面図)である。 本発明の第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部の斜視図である。 本発明の第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部及び冷却用フィンの他の一例を示す断面図である。 本発明の第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部及び冷却用フィンの更に他の一例を示す断面図である。 比較例に係る半導体冷却装置の排出側の冷媒の流れを示す概略図である。 本発明の第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の排出側の冷媒の流れを示す概略図である。 本発明の第2の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部及び冷却用フィンの一例を示す断面図である。 本発明の第2の実施の形態に係る半導体冷却装置の排出側の冷媒の流れを示す概略図である。 本発明の第3の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部及び冷却用フィンの一例を示す断面図である。 本発明の第3の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部及び平坦部の斜視図である。 本発明の第4の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部及び平坦部の斜視図である。 本発明のその他の実施の形態に係る半導体冷却装置の一例を示す断面図である。 本発明のその他の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部及び冷却用フィンの一例を示す断面図(図15のD−D方向の断面図)である。 本発明のその他の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部及び冷却用フィンの他の一例を示す断面図(図15のD−D方向の断面図)である。 本発明のその他の実施の形態に係る半導体冷却装置の突起部の一例を示す斜視図である。
次に、図面を参照して、本発明の第1〜第4の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。但し、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法との関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な厚みや寸法は以下の説明を参酌して判断すべきものである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもちろんである。また、以下に示す第1〜第4の実施の形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものでない。この発明の技術的思想は、特許請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。
(第1の実施の形態)
本発明の実施の形態に係る半導体冷却装置の一例として、車載用のインバータ装置を説明する。本発明の実施の形態に係る半導体冷却装置は、図1に示すように、冷却流路部品(ケース)12と、ケース12上に複数のボルト13により固定された半導体装置(半導体モジュール)11を備える。
ケース12の側面には、図2に示すように冷媒入口14が設けられている。図示を省略するが、冷媒入口14が設けられた側面と反対側の側面には冷媒出口が設けられている。
半導体装置11は、図3に示すように、半導体素子20と、半導体素子20の下面に接合部材21を介して接合された導体パターン22と、導体パターン22の下面に接合された絶縁板23と、絶縁板23の下面に接合された導体パターン24と、導体パターン24の下面に接合部材25を介して接合された金属プレート(ヒートシンク)26とを備える。金属プレート26の上面には、半導体素子20を覆うように筐体16が配置されている。
半導体素子20としては、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)やフリーホイーリングダイオード(FWD)等の種々のパワー半導体が使用可能である。接合部材21,25としては、はんだ等が使用可能である。導体パターン22,24は、例えば銅(Cu)等からなり、電気的配線部材及び放熱部材を兼ねている。絶縁板23としては、アルミナ(Al)、窒化アルミニウム(AlN)又は窒化ケイ素(Si)等が使用可能である。導体パターン22、24及び絶縁板23により絶縁基板(配線基板)が構成されている。
金属プレート26は、銅(Cu)やアルミニウム(Al)等からなる。金属プレート26の下面には複数の円筒形状の冷却用フィン27がマトリクス状に形成されている。冷却用フィン27は、例えば直径が2mm、長さが8mmであり、隣接する冷却用フィン27との間隔は例えば4.5mmである。冷却用フィン27の形状、サイズ、数及び配列のパターンは特に限定されず適宜選択可能である。冷却用フィン27付きの金属プレート26は、冷却用フィン27を別途ろう付けする工法や、冷却用フィン27を切削加工で削り出す工法等により製作することができる。
金属プレート26の下面には、冷却用フィン27の周囲を覆うようにアルミニウム(Al)等からなるケース12が接合されている。ケース12は、冷媒入口14及び冷媒出口15を有し、金属プレート26との間で冷却水等の冷媒の流路19を形成する。
図3に矢印で示すように、冷媒入口14から供給された冷媒は、流路19において冷却用フィン27の間を流れ、冷媒出口15から排出される。ここで、冷媒入口14から冷媒出口15へ向かう方向(矢印の方向)を「冷媒の流れ方向」と定義する。
冷媒入口14には、冷媒を供給するためのポンプ(冷媒供給手段)17が配管を介して接続されている。冷媒出口15には、冷媒を冷却するためのラジエータ18が配管を介して接続され、ラジエータ18にはポンプ17が接続される。ラジエータ18で冷却された冷媒はポンプ17を用いて冷媒入口14に循環的に供給される。
金属プレート26とケース12の接触部には、冷媒の漏れを防止するため、OリングやFIPG(Formed In Place Gasket)等のシール材28が挟み込まれている。ケース12の金属プレート26との接触部分は、シール材28の反力によるケース12の撓みを防止するために肉厚の厚さT1(例えば8mm)の段差部29となる。
図4及び図5に示すように、冷媒の排出側のケース12内、即ち段差部29の側面には、冷媒の排出側(最下流側)に位置する冷却用フィン27の側面に対向するように突起部30が設けられている。本発明の第1の実施の形態においては、冷媒の流れ方向において、突起部30間の凹部31が、冷媒の排出側(最下流側)に位置する冷却用フィン27に重なる位置にある。冷媒の流れ方向における突起部30の寸法D1は例えば2mmである。寸法D1は、段差部29の寸法D0に対して同等以下であっても良く、寸法D0より大きくても良い。突起部30の幅は、例えば冷却用フィン27間の間隔と同等であっても良い。突起部30の数、幅及び間隔等は特に限定されず、冷却用フィン27の数や直径、間隔等に応じて適宜変更可能である。突起部30は、例えば切削加工等により形成することができる。
なお、図4及び図5に示すように突起部30が円柱状の場合を主に説明するが、突起部30の形状は特に限定されない。例えば図6に示すように三角柱状の突起部30aであっても良く、図7に示すように曲面を有する突起部30bであっても良い。
ここで、比較例として、段差部29に突起部が設けられていない場合を説明する。図8において、突起部が設けられていない段差部29付近における冷媒の流れを矢印で示す。図8に示すように、冷媒の排出側(最下流側)に位置する冷却用フィン27間を通過した冷媒は、段差部29に当り、冷媒流れ方向と逆方向に流れる。このため、冷却用フィン27の背面の領域Aにおいて冷媒の淀みが生じる。
これに対して、本発明の第1の実施の形態においては、図4及び図5に示すように、冷媒の排出側のケース12内に、冷却用フィン27に対向するように突起部30を設けている。よって、図9に矢印で示すように、最下流側に位置する冷却用フィン27の間を通過した冷媒が、突起部30間の凹部31に流れるように制御される。凹部31が冷却用フィン27背面に位置するため、冷媒は冷却用フィン27背面にも流れ込むので、冷却用フィン27背面には淀みが発生しなくなる。
以上説明したように、本発明の第1の実施の形態によれば、冷媒の排出側(下流側)のケース12内に、冷却用フィン27に対向するように突起部30を設けることにより、冷媒の排出側(下流側)の冷媒の淀みの発生を抑制することができる。この結果、半導体素子20の熱抵抗の増大を抑制することができる。
特に、冷媒の流れ方向において突起部30間の凹部31が最下流側に位置する冷却用フィン27に重なる位置にあることにより、冷媒が冷却用フィン27背面に流れるので、冷却用フィン27の背面の冷媒の淀みの発生を抑制することができる。
(第2の実施の形態)
本発明の第2の実施の形態に係る半導体冷却装置は、図10に示すように、冷媒の流れ方向において、突起部30が冷媒の排出側(最下流側)に位置する冷却用フィン27と重なる位置にある点が、第1の実施の形態と異なる。突起部30の冷却用フィン27と対向する面の幅は、例えば冷却用フィン27の直径と同等であっても良い。本発明の第2の実施の形態に係る半導体冷却装置の他の構成は、第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の構成と実質的に同様であるので、重複した説明を省略する。
図11において段差部29付近における冷媒の流れを矢印で示す。図11に示すように、最下流側に位置する冷却用フィン27の間を通過した冷媒は、突起部30間の凹部31に流れ込む。冷却用フィン27背面には突起部30が位置しており、冷媒が冷却用フィン27背面に流れ込む隙間がないため、冷却用フィン27背面の淀みの発生を抑制することができる。
本発明の第2の実施の形態によれば、第1の実施の形態と同様に、冷媒の排出側(下流側)のケース12内に、冷却用フィン27に対向するように突起部30を設けることにより、冷媒の排出側(下流側)の冷媒の淀みの発生を抑制することができる。したがって、半導体素子20の熱抵抗の増大を抑制することができる。
特に、冷媒の流れ方向において、突起部30が冷媒の排出側(最下流側)に位置する冷却用フィン27と重なる位置にあることにより、冷媒が冷却用フィン27背面に流入しなくなり、冷却用フィン27背面の冷媒の淀みの発生を抑制することができる。
(第3の実施の形態)
本発明の第3の実施の形態に係る半導体冷却装置は、図12及び図13に示すように、ケース12に設けられた突起部30の上部(水密部側)において、突起部30間を埋めるように平坦部32を設ける点が、第1の実施の形態と異なる。冷媒の流れ方向における平坦部32の寸法D3は、突起部30の寸法D1と同等以下であり、段差部29の厚さ方向における平坦部32の寸法D4は、突起部30の寸法D2より小さい。本発明の第3の実施の形態に係る半導体冷却装置の他の構成は、第1の実施の形態に係る半導体冷却装置の構成と実質的に同様であるので、重複した説明を省略する。
本発明の第3の実施の形態によれば、第1の実施の形態と同様に、冷媒の排出側(下流側)のケース12内に、冷却用フィン27に対向するように突起部30を設けることにより、冷媒の排出側(下流側)の冷媒の淀みの発生を抑制することができる。したがって、半導体素子20の熱抵抗の増大を抑制することができる。
更に、第1の実施の形態と同様に、冷媒の流れ方向において突起部30間の凹部31が最下流側に位置する冷却用フィン27に重なる位置にあることにより、冷媒が最下流側に位置する冷却用フィン27背面に流れる。したがって、冷却用フィン27背面の冷媒の淀みの発生を抑制することができる。
更に、突起部30の上部において突起部30間を埋めるように平坦部32を設けることにより、ケース12と金属プレート26との接触面積が増大するので、ケース12と金属プレート26との水密性を向上させることができる。
(第4の実施の形態)
本発明の第4の実施の形態に係る半導体冷却装置は、図14に示すように、平坦部32の下端の凹部31に、金属プレート26から離れるにつれて冷媒の排出側に傾斜するようにテーパを設ける点が、第3の実施の形態と異なる。本発明の第4の実施の形態に係る半導体冷却装置の他の構成は、第3の実施の形態に係る半導体冷却装置の構成と実質的に同様であるので、重複した説明を省略する。
本発明の第4の実施の形態によれば、第1の実施の形態と同様に、冷媒の排出側(下流側)のケース12内に、冷却用フィン27に対向するように突起部30を設けることにより、冷媒の排出側(下流側)の冷媒の淀みの発生を抑制することができる。したがって、半導体素子20の熱抵抗の増大を抑制することができる。
更に、第3の実施の形態と同様に、突起部30の上部において突起部30間を埋めるように平坦部32を設けることにより、金属プレート26と段差部29との接触面積(シール面積)を増大させることができる。したがって、金属プレート26と段差部29との水密性を向上させることができる。
更に、凹部31にテーパを設けることにより、凹部31に流入した冷媒がテーパに従って流れるため、冷媒を滑らかに流すことができる。
(その他の実施の形態)
上記のように、本発明は第1〜第4の実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
本発明の第1〜第4の実施の形態においては、円筒形状の冷却用フィン27がマトリクス状に配置された場合を説明したが、冷却用フィン27の形状及び配置は特に限定されない。例えば、図15に示すように、冷却用フィン27aがブレードフィン型(板状)のフィンであっても良い。この場合、例えば図16に示すように、冷媒の流れ方向において突起部30間の凹部31が冷却用フィン27aの端部と重なる位置にあっても良い。これにより、第1の実施の形態と同様に、冷媒は冷却用フィン27aの背面に流れ込むので、冷却用フィン27aの背面に淀みが発生することを抑制することができる。
また、図17に示すように、冷媒の流れ方向において、突起部30が、冷却用フィン27aの端部と重なる位置にあっても良い。これにより、第2の実施の形態と同様に、冷却用フィン27a背面に冷媒が流れ込まず、冷却用フィン27aの背面に淀みが発生することを抑制することができる。
また、第4の実施の形態において、平坦部32の下側の凹部31がテーパを有する場合を説明したが、突起部30の上部に平坦部が設けられていなくても良い。即ち、図18に示すように、平坦部が設けられていない構造において、突起部30間の凹部31が、金属プレート26から離れにつれて冷媒の排出側に傾斜するテーパを有していても良い。これにより、第4の実施の形態と同様に、冷媒がテーパに従って流れるため、冷媒を滑らかに流すことができる。
このように、本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。
12…ケース(冷却流路部品)
17…ポンプ(冷媒供給手段)
19…流路
20…半導体素子
26…金属プレート(ヒートシンク)
27,27a…冷却用フィン
30,30a,30b…突起部
31…凹部
32…平坦部

Claims (5)

  1. 半導体素子と、
    前記半導体素子を第一の面に搭載し、前記第一の面と対向する第二の面に冷却用フィンを設けたヒートシンクと、
    前記ヒートシンクとの間で冷媒の流路を形成するように、前記ヒートシンクの第二の面を覆うケースとを備え、
    前記ヒートシンクより冷媒の排出側の前記ケース内に、前記冷却用フィンと対向するように突起部を設けたことを特徴とする半導体冷却装置。
  2. 前記冷媒の流れ方向において、前記突起部間の凹部が、前記冷媒の排出側に位置する前記冷却用フィンと重なる位置にあることを特徴とする請求項1に記載の半導体冷却装置。
  3. 前記冷媒の流れ方向において、前記突起部が、前記冷媒の排出側に位置する前記冷却用フィンと重なる位置にあることを特徴とする請求項1に記載の半導体冷却装置。
  4. 前記突起部の上部において前記突起部間の凹部を埋めるように平坦部が設けられていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の半導体冷却装置。
  5. 前記突起部間の凹部が、前記ヒートシンクから離れにつれて前記冷媒の排出側に傾斜するテーパを有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体冷却装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015156422A1 (ja) * 2015-04-28 2015-10-15 株式会社小松製作所 電子機器の冷却用筐体および電子機器並びに建設機械
JP2015214738A (ja) * 2014-05-13 2015-12-03 株式会社東芝 耐食性金属部材、パワーデバイス用ヒートシンク、発電機用回転翼及び耐食性金属部材の製造方法
US11856740B2 (en) 2020-12-14 2023-12-26 Honda Motor Co., Ltd. Heat radiating cooler with recessed traps for coolant

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015214738A (ja) * 2014-05-13 2015-12-03 株式会社東芝 耐食性金属部材、パワーデバイス用ヒートシンク、発電機用回転翼及び耐食性金属部材の製造方法
WO2015156422A1 (ja) * 2015-04-28 2015-10-15 株式会社小松製作所 電子機器の冷却用筐体および電子機器並びに建設機械
US11856740B2 (en) 2020-12-14 2023-12-26 Honda Motor Co., Ltd. Heat radiating cooler with recessed traps for coolant

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