JP2014060489A - D/a converter and a/d converter using the d/a converter - Google Patents

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豊 中西
Junya Nakanishi
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a D/A converter that reduces an effect of noise in a negative supply voltage generated by a charge pump circuit for use as a second reference signal Vref_L.SOLUTION: The D/A converter includes: a sampling circuit 160 including a digital section for inputting a digital signal, a sample-and-hold circuit 150b including a plurality of capacitors 111p_1, 111p_2, 111n_1, 111n_2 and a plurality of switching elements 151p_1, 151p_2, 151n_1, 151n_2, 153n_1, 153n_2, 102_1, 102_2, for sampling input signals based on the input digital signal and holding and transferring the sampled signals, and a continuous section 150a for outputting the transferred signals as analog signals; and a clock signal supply section 159 for supplying a first clock signal φI to the continuous section and supplying second clock signals φS3, φS4 to the sample-and-hold section.

Description

本発明は、D/A変換器及びそのD/A変換器を用いたA/D変換器に関し、より詳細には、チャージポンプ回路の出力電圧のノイズの影響を低減することができるD/A変換器及びそのD/A変換器を用いたA/D変換器に関する。   The present invention relates to a D / A converter and an A / D converter using the D / A converter, and more specifically, a D / A capable of reducing the influence of noise in the output voltage of a charge pump circuit. The present invention relates to a converter and an A / D converter using the D / A converter.

現在、電子機器に対する小型化の要求はますます強くなっている。プリント基板上の実装面積の削減や部品コストを抑えるため、電子機器に搭載される電子部品において、負電源電圧を生成するチャージポンプ回路を内蔵することによって、出力信号及び入力信号のDCカット用コンデンサを不要としたD/A(デジタル/アナログ)変換器及びA/D(アナログ/デジタル)変換器がある。   Currently, there is an increasing demand for downsizing electronic devices. In order to reduce the mounting area on the printed circuit board and reduce the component cost, the electronic component mounted on the electronic device has a built-in charge pump circuit that generates a negative power supply voltage. There are D / A (digital / analog) converters and A / D (analog / digital) converters that do not need to be used.

チャージポンプ(Charge pump)回路は、複数のコンデンサとスイッチで構成され入力電圧によってあるコンデンサ(フライングコンデンサともいう)を充電し、フライングコンデンサに蓄えられた電荷を別のコンデンサ(出力コンデンサともいう)に転送することにより、入力電圧を昇圧、降圧、もしくは極性反転した電圧を発生するための電子回路である。スイッチングによって電圧生成の動作をする電源生成回路としては、スイッチング電源、DCDCコンバータ等もここでいうチャージポンプ回路に含まれる。   A charge pump circuit is composed of a plurality of capacitors and switches, charges a capacitor (also called a flying capacitor) by an input voltage, and charges stored in the flying capacitor to another capacitor (also called an output capacitor). It is an electronic circuit for generating a voltage obtained by boosting, stepping down, or inverting the input voltage by transferring. As the power generation circuit that performs voltage generation operation by switching, a switching power supply, a DCDC converter, and the like are also included in the charge pump circuit here.

D/A変換器及びA/D変換器は、電子機器のオーディオの機能などに多く利用される電子部品であり、特に、ノイズ対策が必要とされる電子部品であるが、チャージポンプ回路は、このチャージポンプ回路内で充放電するコンデンサにスイッチング操作による急峻なオン/オフ電流が流れることによって、周期的なスイッチングノイズを発生することが知られている。   The D / A converter and the A / D converter are electronic components that are often used for audio functions of electronic devices, and in particular, are electronic components that require noise countermeasures. It is known that periodic switching noise is generated when a steep on / off current caused by a switching operation flows through a capacitor that is charged and discharged in the charge pump circuit.

A/D変換器は、アナログ信号をデジタル信号に変換する電子回路で、A/Dコンバータ(ADC)ともいう。この逆がD/A変換回路である。変換方式の一種として見た場合は、A/D変換はパルス符号変調で、A/D変換のような操作をより一般にはデジタイズという。
基本的なA/D変換の操作は、まず、サンプリング周波数で入力を標本化し、それを量子化することで行われる。標本化にともなう折り返し雑音は、重要な問題である。また、量子化にともなう量子化誤差による量子化雑音もある。A/D変換の操作によって種々の型に分類されている。以下に、その代表的な例について説明する。
An A / D converter is an electronic circuit that converts an analog signal into a digital signal, and is also referred to as an A / D converter (ADC). The reverse is the D / A conversion circuit. When viewed as a kind of conversion method, A / D conversion is pulse code modulation, and an operation such as A / D conversion is more generally referred to as digitizing.
Basic A / D conversion operations are performed by first sampling an input at a sampling frequency and quantizing it. The aliasing noise associated with sampling is an important issue. There is also quantization noise due to quantization errors accompanying quantization. It is classified into various types according to the A / D conversion operation. Below, the typical example is demonstrated.

まず、逐次比較型及びパイプライン型は、比較器の他にD/A変換器も用意し、入力とD/A変換器の出力とを比較しながら1bitずつ精度を上げていく。したがって、nbitの場合は、n回の比較を行う必要があるが、比較器1つを用いてループ状にn回の操作を行う場合が逐次比較型である。つまり、A/D変換器の一種で、一つのコンパレータ(比較器)で大小比較を何度も繰り返し実行する手法が逐次比較型である。この逐次比較型のA/D変換器は、コンパレータと逐次比較レジスタとD/A変換器でと構成されている。回路構成はシンプルであるが、分解能を高めるほど比較回数が増えるため高速動作は苦手である。   First, in the successive approximation type and the pipeline type, a D / A converter is prepared in addition to the comparator, and the accuracy is increased by 1 bit while comparing the input and the output of the D / A converter. Therefore, in the case of nbit, it is necessary to perform comparison n times, but the case of performing the operation n times in a loop using one comparator is a sequential comparison type. That is, the successive approximation type is a type of A / D converter that repeatedly performs a magnitude comparison with a single comparator (comparator). This successive approximation type A / D converter includes a comparator, a successive approximation register, and a D / A converter. The circuit configuration is simple, but high speed operation is not good because the number of comparisons increases as the resolution increases.

これに対して、パイプライン処理のように、n段階の回路構成で処理する場合がパイプラン型である。A/D変換器の一種で、各ケタの判定用に1ビット〜1.5ビットといった低分解能のA/D変換回路を多段用意してパイプライン動作で行うことで,1クロックで複数の処理を進める。パイプラインの各ステージには,D/A変換器とサブADC(比較器)が集積されている。   On the other hand, the case of processing with an n-stage circuit configuration, such as pipeline processing, is a pipeline type. A type of A / D converter that uses multiple stages of low-resolution A / D conversion circuits, such as 1 to 1.5 bits, for each digit determination, and performs multiple processing in one clock. To proceed. In each stage of the pipeline, a D / A converter and a sub ADC (comparator) are integrated.

パイプライン型A/D変換器では,各段で入力レベルの位置を判定する。「1」の場合は、その分だけ入力レベルを差し引いた後で増幅(1ビットの場合は2倍)し、次段で次のケタの値を判定する。このため常に演算増幅が必要になる。この演算増幅の精度が悪いと、後段のA/D変換の精度が悪化するため、オペアンプと負帰還回路を用いて精度を高めている。例えば、サンプル・ホールド回路と第1ステージのD/A変換器で構成される初段は、10ビット分解能であれば出力電圧の誤差の許容値が1/210以下と非常に厳しい値が求められる。 In the pipeline type A / D converter, the position of the input level is determined at each stage. In the case of “1”, the input level is subtracted by that amount and then amplified (doubled in the case of 1 bit), and the next digit value is determined in the next stage. For this reason, operational amplification is always required. If the accuracy of the operational amplification is poor, the accuracy of the A / D conversion in the subsequent stage is deteriorated. Therefore, the accuracy is increased by using an operational amplifier and a negative feedback circuit. For example, sample and hold circuit and the first stage consists of D / A converter of the first stage, the error tolerance of the case when the output voltage at 10-bit resolution is required are very strict value and 1/2 10 or less .

次に、ΔΣ(デルタ・シグマ)型は、アナログ信号をデジタル符号に変換する際に、高速で標本化した量子化雑音のパワースペクトル密度(PSD)分布の形状を整形し、通過帯域のダイナミックレンジを向上させることによって、より小さな量子化語長数で符号化する回路形式全体を指す場合と、量子化雑音を整形する部分(ノイズシェーピング)を指す場合とがある。近年の半導体技術の発達や精度の必要なアナログ的な部分が少ないなどの点から音声処理用のA/D変換(ADC)及びD/A変換(DAC)で多用されている。   Next, the ΔΣ (delta sigma) type shapes the shape of the power spectrum density (PSD) distribution of quantization noise sampled at high speed when converting an analog signal into a digital code, and the dynamic range of the passband. In some cases, the overall circuit format for encoding with a smaller number of quantized word lengths may be referred to, and the part for shaping the quantization noise (noise shaping). In recent years, it has been widely used in A / D conversion (ADC) and D / A conversion (DAC) for voice processing because of the development of semiconductor technology and few analog parts that require high accuracy.

図1は、従来のD/A変換器(信号範囲;VDD〜VEE)を説明するための回路構成図で、下側参照信号Vref_L(第2の参照信号)にチャージポンプ回路で生成した負電源電圧VEEを印加したD/A変換器を説明するための回路構成図である。このD/A変換器は、後述するサンプリング回路160と制御回路(クロック信号供給部)159とを備えており、サンプリング回路160の上側参照信号Vref_H(第1の参照信号)には、電源電圧VDDを印加し、下側参照信号Vref_L(第2の参照信号)には、チャージポンプ回路(図中に“CP”で示す)170で生成した負電源電圧VEEを印加している。例えば、VEEは(VSS−VDD)の電位で表される。   FIG. 1 is a circuit configuration diagram for explaining a conventional D / A converter (signal range; VDD to VEE). A negative power source generated by a charge pump circuit as a lower reference signal Vref_L (second reference signal). It is a circuit block diagram for demonstrating the D / A converter which applied the voltage VEE. This D / A converter includes a sampling circuit 160 and a control circuit (clock signal supply unit) 159, which will be described later, and the upper reference signal Vref_H (first reference signal) of the sampling circuit 160 includes a power supply voltage VDD. A negative power supply voltage VEE generated by a charge pump circuit (indicated by “CP” in the drawing) 170 is applied to the lower reference signal Vref_L (second reference signal). For example, VEE is expressed by a potential of (VSS−VDD).

サンプリング回路160において、キャパシタ111pには、スイッチ151p〜155pによってサンプリングされた参照信号Vref_H,Vref_Lが加えられ、接地電圧VSS基準で電荷が蓄積される。キャパシタ111pに蓄積された電荷は、スイッチ151p〜155pの切り替えにしたがって演算増幅器1501の反転入力端子に入力される。   In the sampling circuit 160, the reference signals Vref_H and Vref_L sampled by the switches 151p to 155p are added to the capacitor 111p, and charges are accumulated based on the ground voltage VSS. The electric charge accumulated in the capacitor 111p is input to the inverting input terminal of the operational amplifier 1501 in accordance with the switching of the switches 151p to 155p.

同様に、キャパシタ111nには、スイッチ151n〜155nによってサンプリングされた参照信号Vref_H,Vref_Lが加えられ、接地電圧VSS基準で電荷が蓄積される。キャパシタ111nに蓄積された電荷は、スイッチ151n〜155nの切り替えにしたがって演算増幅器1501の非反転入力端子に入力される。演算増幅器1501は、反転入力端子と非反転入力端子とから入力された信号をアナログの出力信号Pout,Noutとして出力する。   Similarly, reference signals Vref_H and Vref_L sampled by the switches 151n to 155n are added to the capacitor 111n, and charges are accumulated based on the ground voltage VSS. The electric charge accumulated in the capacitor 111n is input to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 1501 in accordance with switching of the switches 151n to 155n. The operational amplifier 1501 outputs signals input from the inverting input terminal and the non-inverting input terminal as analog output signals Pout and Nout.

図2(a),(b)は、図1に示したD/A変換器のレベルダイヤを説明するための図である。図1に示したD/A変換器の出力信号は、VSS基準にVDD〜VEEの範囲で出力される。また、D/A変換器140の後段には、一般に出力波形の平滑化のためにスムージングフィルタ回路(図中に“SMF”で示す)141が設けられている。このD/A変換器140は、デジタル部150cと、コンテニアス部150aとサンプル・ホールド部150bとからなるサンプリング回路160と、制御回路(クロック信号供給部)159とで構成されている。サンプリング回路160の下側参照信号Vref_L(第2の参照信号)には、チャージポンプ回路(図中に“CP”で示す)170で生成した負電源電圧VEEを印加している。   2A and 2B are diagrams for explaining the level diagram of the D / A converter shown in FIG. The output signal of the D / A converter shown in FIG. 1 is output in the range of VDD to VEE with respect to VSS. Further, a smoothing filter circuit (indicated by “SMF” in the drawing) 141 is generally provided downstream of the D / A converter 140 for smoothing the output waveform. The D / A converter 140 includes a digital unit 150c, a sampling circuit 160 including a continuous unit 150a and a sample / hold unit 150b, and a control circuit (clock signal supply unit) 159. The negative power supply voltage VEE generated by the charge pump circuit (indicated by “CP” in the drawing) 170 is applied to the lower reference signal Vref_L (second reference signal) of the sampling circuit 160.

しかしながら、上述したチャージポンプ回路で生成した負電源電圧VEEをD/A変換器の下側参照信号Vref_Lとして使用すると、チャージポンプ回路の出力電圧にはスイッチング動作に起因する周期ノイズが重畳しているため、後述するように、参照信号に重畳したノイズがサンプリング動作により折り返されてD/A変換器の出力信号に現れる。   However, when the negative power supply voltage VEE generated by the above-described charge pump circuit is used as the lower reference signal Vref_L of the D / A converter, periodic noise due to the switching operation is superimposed on the output voltage of the charge pump circuit. Therefore, as described later, the noise superimposed on the reference signal is turned back by the sampling operation and appears in the output signal of the D / A converter.

D/A変換器のノイズ対策の従来例としては、例えば、特許文献1に記載されたD/A変換器のように、下側参照信号Vref_LにVSSを使用し、D/A変換器を電源電圧VDD〜VSSの範囲で動作させることで負電源電圧VEEのノイズを回避する方法がある。
図3は、従来のD/A変換器(信号範囲;VDD〜VSS)を説明するための回路構成図である。なお、図1と同じ機能を有する構成要素には同一の符号を付してある。
As a conventional example of D / A converter noise countermeasures, for example, as in the D / A converter described in Patent Document 1, VSS is used for the lower reference signal Vref_L, and the D / A converter is powered. There is a method of avoiding noise of the negative power supply voltage VEE by operating in the voltage range of VDD to VSS.
FIG. 3 is a circuit configuration diagram for explaining a conventional D / A converter (signal range; VDD to VSS). In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component which has the same function as FIG.

図4(a),(b)は、図3に示したD/A変換器のレベルダイヤを説明するための図で、上側参照信号Vref_Hに電源電圧VDDを印加し、下側参照信号Vref_LにVSSを印加したD/A変換器とレベルダイヤグラムを説明するための図である。なお、図2と同じ機能を有する構成要素には同一の符号を付してある。
図3に示すD/A変換器は、基準電圧Vcom基準で入力信号をサンプリングすることで、出力信号はVcom信号基準にVDD〜VSSの範囲で出力される。ただし、D/A変換後の出力信号をVSS基準に出力するためには、後段のSMFでレベルシフトする必要がある。
4A and 4B are diagrams for explaining the level diagram of the D / A converter shown in FIG. 3, in which the power supply voltage VDD is applied to the upper reference signal Vref_H and the lower reference signal Vref_L is applied. It is a figure for demonstrating the D / A converter and level diagram which applied VSS. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component which has the same function as FIG.
The D / A converter shown in FIG. 3 samples the input signal based on the reference voltage Vcom, and the output signal is output in the range of VDD to VSS based on the Vcom signal reference. However, in order to output the output signal after D / A conversion based on VSS, it is necessary to shift the level by the SMF at the subsequent stage.

特開2012−23616号公報JP 2012-23616 A

しかしながら、上述したように、従来のD/A変換器は、電源電圧VDD〜VSSの範囲で動作させることで、チャージポンプ回路の出力電圧に重畳しているノイズを回避して、D/A変換器の後段でレベルシフトすることでVSS基準の信号を出力している。そのため、従来例では、新たに基準信号Vcomを生成する必要がある。また、D/A変換器の出力信号はVcom電圧基準であるため、出力信号をVSS基準で出力させるためにはD/A変換器の後段にレベルシフト回路を追加する必要もある。   However, as described above, the conventional D / A converter operates in the range of the power supply voltage VDD to VSS, thereby avoiding noise superimposed on the output voltage of the charge pump circuit and performing D / A conversion. A level-shifted signal is output at the subsequent stage of the device to output a VSS reference signal. Therefore, in the conventional example, it is necessary to newly generate the reference signal Vcom. Further, since the output signal of the D / A converter is based on the Vcom voltage, it is necessary to add a level shift circuit after the D / A converter in order to output the output signal based on the VSS.

図4(b)に示すように、従来のD/A変換器では、基準信号Vcomで入力信号をサンプリングすると、信号範囲がVDD〜VSSに制限される。これは、信号範囲がVDD〜VEEのD/A変換器と比較すると、信号範囲が1/2となり単純計算で信号対ノイズ比では6dB劣るという問題がある。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、チャージポンプ回路で生成した負電源電圧VEEを下側参照信号Vref_Lとして使用して信号範囲をVDD〜VEEとするため、チャージポンプ回路の出力電圧のノイズの影響を低減することができるD/A変換器及びそのD/A変換器を用いたA/D変換器を提供することにある。
As shown in FIG. 4B, in the conventional D / A converter, when the input signal is sampled with the reference signal Vcom, the signal range is limited to VDD to VSS. This has a problem that the signal range is halved compared with a D / A converter having a signal range of VDD to VEE, and the signal-to-noise ratio is inferior by 6 dB by simple calculation.
The present invention has been made in view of such a problem, and an object of the present invention is to use the negative power supply voltage VEE generated by the charge pump circuit as the lower reference signal Vref_L and set the signal range to VDD to VEE. Therefore, an object of the present invention is to provide a D / A converter that can reduce the influence of noise in the output voltage of the charge pump circuit and an A / D converter using the D / A converter.

本発明は、このような目的を達成するためになされたもので、請求項1に記載の発明は、デジタル信号を入力するデジタル部と、該デジタル部によって入力されたデジタル信号に基づく入力信号をサンプリングし、サンプリングされた前記入力信号を保持して転送するサンプル・ホールド部(150b)と、該サンプル・ホールド部によって転送された信号をアナログ信号として出力するコンテニアス部(150a)とを備えたサンプリング回路(160)と、前記コンテニアス部に対しては、第1クロック信号を供給し、前記サンプル・ホールド部に対しては、動作タイミングが互いに異なる複数の第2クロック信号を供給するクロック信号供給部(159)と、を備え、前記サンプル・ホールド部の第1の参照信号(Vref_H)に電源電圧(VDD)を印加し、第2の参照信号(Vref_L)にチャージポンプ回路で生成した負電源電圧(VEE)を印加することを特徴とする。(図14;実施例1)   The present invention has been made to achieve such an object. The invention according to claim 1 is directed to a digital unit for inputting a digital signal and an input signal based on the digital signal input by the digital unit. A sampling and holding unit (150b) that samples and holds and transfers the sampled input signal, and a continuous unit (150a) that outputs the signal transferred by the sample and hold unit as an analog signal A clock signal supply unit that supplies a first clock signal to the circuit (160) and the continuous unit, and supplies a plurality of second clock signals having different operation timings to the sample and hold unit. (159), and the first reference signal (Vref_H) of the sample and hold unit is Applying a voltage (VDD), and applying a negative supply voltage generated by the charge pump circuit to the second reference signal (Vref_L) (VEE). (FIG. 14; Example 1)

また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記サンプル・ホールド部は、前記入力信号によって生じる電荷を蓄積する複数のキャパシタ(例えば図14に示したキャパシタ111p_1,111p_2,111n_1,111n_2)と、当該複数のキャパシタにそれぞれ蓄積された電荷を、前記コンテニアス部に転送する複数のスイッチング素子(例えば、図14に示したスイッチ151p_1,151p_2,151n_1,151n_2,152p_1,152p_2,152n_1,152n_2)と、を含み、前記クロック信号供給部は、前記複数のスイッチング素子に対し、動作タイミングが互いに異なる複数の前記第2クロック信号を供給し、前記複数のスイッチング素子は、それぞれ供給された前記第2クロック信号にしたがってオン、オフ動作をすることを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the sample and hold unit includes a plurality of capacitors (for example, the capacitors 111p_1 and 111p_2 shown in FIG. 14) that accumulate charges generated by the input signal. , 111n_1, 111n_2) and a plurality of switching elements (for example, the switches 151p_1, 151p_2, 151n_1, 151n_2, 152p_1, 152p_2 shown in FIG. 14) that transfer the charges accumulated in the plurality of capacitors to the continuous unit, respectively. 152n_1, 152n_2), and the clock signal supply unit supplies the plurality of second clock signals having different operation timings to the plurality of switching elements, and the plurality of switching elements are respectively supplied. Said On accordance with second clock signal, characterized in that the OFF operation.

また、請求項3に記載の発明は、量子化回路から出力された出力信号をアナログ変換して演算回路にフィードバック信号を出力する請求項1又は2に記載のD/A変換器を備えていることを特徴とするΔΣ型A/D変換器である。(図15;実施例2)
また、請求項4に記載の発明は、複数段カスケード接続された残差演算ステージにおいて、サブA/D変換器により変換されたデジタル信号を再びアナログ信号に変換する請求項1又は2に記載のD/A変換器を備えていることを特徴とするパイプライン型A/D変換器である。(図16;実施例3)
また、請求項5に記載の発明は、逐次比較レジスタのビット列をアナログ変換して演算回路にフィードバック信号を出力する請求項1又は2に記載のD/A変換器を備えていることを特徴とする逐次比較型A/D変換器である。(図17;実施例4)
According to a third aspect of the present invention, there is provided the D / A converter according to the first or second aspect, wherein the output signal output from the quantization circuit is converted into an analog signal and a feedback signal is output to the arithmetic circuit. This is a ΔΣ A / D converter characterized by the above. (FIG. 15; Example 2)
According to a fourth aspect of the present invention, the digital signal converted by the sub A / D converter is converted back into an analog signal again in the residual calculation stage cascaded in a plurality of stages. A pipeline type A / D converter including a D / A converter. (FIG. 16; Example 3)
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the D / A converter according to the first or second aspect, wherein the bit string of the successive approximation register is converted into an analog signal and a feedback signal is output to the arithmetic circuit. It is a successive approximation type A / D converter. (FIG. 17; Example 4)

本発明によれば、チャージポンプ回路で生成した負電源電圧VEEに重畳したノイズの影響を低減し、負電源電圧VEEを下側参照信号Vref_Lに使用し、信号範囲をVDD〜VEEとしてVcom信号の追加を不要としたD/A変換器を提供することができる。そして、このような効果を、単一の動作タイミングで動作する第1クロック信号に基づいてコンテニアス部を動作させ、異なる2つ以上の動作タイミングを持つ第2クロック信号郡に基づいてサンプル・ホールド部を動作させることによって得られる。   According to the present invention, the influence of noise superimposed on the negative power supply voltage VEE generated by the charge pump circuit is reduced, the negative power supply voltage VEE is used as the lower reference signal Vref_L, and the signal range is set to VDD to VEE. A D / A converter that does not require addition can be provided. Such an effect is obtained by operating the continuous unit based on the first clock signal operating at a single operation timing, and the sample / hold unit based on the second clock signal group having two or more different operation timings. Is obtained by operating.

また、本発明のD/A変換器をΔΣ型A/D変換器、パイプライン型A/D変換器、逐次比較型A/D変換器のそれぞれのローカルD/A変換器として用いることにより、チャージポンプ回路で生成した負電源電圧VEEを下側参照信号Vref_Lとして使用して信号範囲をVDD〜VEEとしてVcom信号の追加を不要としたA/D変換器を実現することができる。   Further, by using the D / A converter of the present invention as a local D / A converter of each of the ΔΣ A / D converter, the pipeline A / D converter, and the successive approximation A / D converter, By using the negative power supply voltage VEE generated by the charge pump circuit as the lower reference signal Vref_L, it is possible to realize an A / D converter in which the signal range is VDD to VEE and the addition of the Vcom signal is unnecessary.

従来のD/A変換器(信号範囲;VDD〜VEE)を説明するための回路構成図である。It is a circuit block diagram for demonstrating the conventional D / A converter (signal range; VDD-VEE). (a),(b)は、図1に示したD/A変換器のレベルダイヤを説明するための図である。(A), (b) is a figure for demonstrating the level diagram of the D / A converter shown in FIG. 従来のD/A変換器(信号範囲;VDD〜VSS)を説明するための回路構成図である。It is a circuit block diagram for demonstrating the conventional D / A converter (signal range; VDD-VSS). (a),(b)は、図3に示したD/A変換器のレベルダイヤを説明するための図である。(A), (b) is a figure for demonstrating the level diagram of the D / A converter shown in FIG. 各実施例の基礎となるサンプリング回路を説明するための回路構成図である。It is a circuit block diagram for demonstrating the sampling circuit used as the foundation of each Example. (a)〜(e)は、図5に示したサンプリング回路の、参照信号Vrefに周期ノイズがない場合の動作を説明するための図である。(A)-(e) is a figure for demonstrating operation | movement when there is no periodic noise in the reference signal Vref of the sampling circuit shown in FIG. (a)〜(c)は、図5に示したキャパシタから出力される信号を説明するための図である。(A)-(c) is a figure for demonstrating the signal output from the capacitor shown in FIG. (a)〜(e)は、図5に示したサンプリング回路の、参照信号Vrefに周期ノイズがある場合の動作を説明するための図である。(A)-(e) is a figure for demonstrating operation | movement when there exists periodic noise in the reference signal Vref of the sampling circuit shown in FIG. (a)〜(c)は、図8に示した周期ノイズについて説明するための図である。(A)-(c) is a figure for demonstrating the periodic noise shown in FIG. (a)〜(c)は、図9(a)に示したキャパシタから出力される信号を説明するための図である。(A)-(c) is a figure for demonstrating the signal output from the capacitor shown to Fig.9 (a). (a)〜(e)は、図5に示したサンプリング回路の、参照信号Vrefに周期ノイズがある場合の動作を説明するための図である。(A)-(e) is a figure for demonstrating operation | movement when there exists periodic noise in the reference signal Vref of the sampling circuit shown in FIG. (a)〜(c)は、本発明に係るサンプリング回路におけるノイズと周波数との関係を説明するための図である。(A)-(c) is a figure for demonstrating the relationship between the noise and frequency in the sampling circuit which concerns on this invention. (a)〜(c)は、図12(a)に示した信号をさらに説明するための図である。(A)-(c) is a figure for further demonstrating the signal shown to Fig.12 (a). 本発明の実施例1に係るD/A変換器を説明するための回路構成図である。It is a circuit block diagram for demonstrating the D / A converter which concerns on Example 1 of this invention. 本発明の実施例2に係るD/A変換器を用いたΔΣA/D変換器を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the delta-sigma A / D converter using the D / A converter which concerns on Example 2 of this invention. 本発明の実施例3に係るD/A変換器を用いたパイプランA/D変換器を説明するためのブロック図である。It is a block diagram for demonstrating the pipeline A / D converter using the D / A converter which concerns on Example 3 of this invention. 本発明の実施例4に係るD/A変換器を用いた逐次比較A/D変換器のブロック図である。It is a block diagram of the successive approximation A / D converter using the D / A converter which concerns on Example 4 of this invention.

以下、本発明の各実施例の説明に先立って、本発明のサンプリング回路及びこのサンプリング回路を用いたD/A変換器の考え方について説明する。
以下に説明するサンプリング回路は、各実施例の基礎となるサンプリング回路である。このサンプリング回路は、デジタル部とサンプル・ホールド部とコンテニアス部とによって構成されている。このような構成のうち、デジタル部は、一般的なデジタル回路で構成され、量子化され、離散化された信号を伝達する構成である。サンプル・ホールド部は、一般的なスイッチトキャパシタ回路(SC回路)で構成され、量子化されず、離散化された信号を伝達する構成である。また、コンテニアス部は、一般的な連続信号回路(Continuous回路)で構成され、量子化されず、離散化されていない信号を伝達する構成である。
Prior to the description of each embodiment of the present invention, the concept of the sampling circuit of the present invention and the D / A converter using the sampling circuit will be described below.
The sampling circuit described below is a sampling circuit that is the basis of each embodiment. The sampling circuit includes a digital part, a sample / hold part, and a continuous part. Among such configurations, the digital unit is configured by a general digital circuit and transmits a quantized and discretized signal. The sample and hold unit is configured by a general switched capacitor circuit (SC circuit), and is configured to transmit a discretized signal without being quantized. Further, the continuous section is configured by a general continuous signal circuit (Continuous circuit), and is configured to transmit a signal that is not quantized and is not discretized.

なお、上述した信号の「伝達」とは、信号を他の回路に出力することを意味するものとする。また、本明細書では、標本化とは、連続信号(アナログ信号)を時間的に区切る、所謂サンプリング処理することをいい、量子化とは、信号を振幅値で区切る処理をいうものとする。
各実施例の基礎となるサンプリング回路を説明するにあたっては、説明を分かり易くするためにシングルエンドのサンプリング回路を例に挙げる。
Note that the above-mentioned “transmission” of a signal means that the signal is output to another circuit. In this specification, sampling means so-called sampling processing in which continuous signals (analog signals) are divided in time, and quantization means processing in which signals are divided by amplitude values.
In describing the sampling circuit that is the basis of each embodiment, a single-ended sampling circuit will be taken as an example for easy understanding.

図5は、各実施例の基礎となるサンプリング回路を説明するための回路構成図である。このサンプリング回路は、信号をサンプル、ホールドするサンプル・ホールド部とアナログ信号を処理するコンテニアス部として機能する。なお、図5において、デジタル信号を扱うデジタル部は図示していない。デジタル部は、図5に示したサンプリング回路のさらに前段に設けられている。   FIG. 5 is a circuit configuration diagram for explaining a sampling circuit as a basis of each embodiment. This sampling circuit functions as a sample-and-hold unit that samples and holds a signal and a continuous unit that processes an analog signal. In FIG. 5, a digital unit that handles digital signals is not shown. The digital unit is provided at a further preceding stage of the sampling circuit shown in FIG.

サンプル・ホールド部150bは、スイッチ101_1,101_2,102_1,102_2と、キャパシタ111_1,111_2と、を含んでいる。スイッチ101_1、キャパシタ111_2、スイッチ102_1は互いに直列に接続されていて、スイッチ101_2、キャパシタ111_2、スイッチ102_2は互いに直列に接続されている。スイッチ101_1及び101_2はスイッチユニット101を構成し、スイッチ102_1及び102_2はスイッチユニット102を構成する。   The sample and hold unit 150b includes switches 101_1, 101_2, 102_1, and 102_2, and capacitors 111_1 and 111_2. The switch 101_1, the capacitor 111_2, and the switch 102_1 are connected in series with each other, and the switch 101_2, the capacitor 111_2, and the switch 102_2 are connected in series with each other. The switches 101_1 and 101_2 constitute the switch unit 101, and the switches 102_1 and 102_2 constitute the switch unit 102.

コンテニアス部150aは、キャパシタ111_1と直列に接続されたスイッチ104_1、キャパシタ111_2と直列に接続されたスイッチ104_2と、スイッチ104_1及び104_2の一端に反転入力端子が接続された演算増幅器121と、演算増幅器121の出力端子とスイッチ101_1、キャパシタ111_1間とに接続されたスイッチ103_1と、演算増幅器121の出力端子とスイッチ101_2、キャパシタ111_2間とに接続されたスイッチ103_2と、演算増幅器121の出力端子と反転入力端子との間に接続されたキャパシタ112とを含んでいる。スイッチ103_1及び103_2はスイッチユニット103を構成し、スイッチ104_1及び104_2はスイッチユニット104を構成する。   The continuous portion 150a includes a switch 104_1 connected in series with the capacitor 111_1, a switch 104_2 connected in series with the capacitor 111_2, an operational amplifier 121 connected to one end of the switches 104_1 and 104_2, and an operational amplifier 121. , The switch 103_1 connected between the switch 101_1 and the capacitor 111_1, the output terminal of the operational amplifier 121 and the switch 103_2 connected between the switch 101_2 and the capacitor 111_2, and the output terminal of the operational amplifier 121 and the inverting input. And a capacitor 112 connected between the terminals. The switches 103_1 and 103_2 constitute the switch unit 103, and the switches 104_1 and 104_2 constitute the switch unit 104.

演算増幅器121は、基準信号Vcom1を非反転入力端子から入力し、出力信号の振幅の中心レベルをVcom1としたアナログの出力信号Voutを出力する。
以上のサンプリング回路150には、端子105から参照信号Vrefが入力される。 ここで、図5に示した参照信号Vrefは、図1及び図3に示したVref_H/Vref_Lを意味し、図示していないが、デジタル部から供給されるデジタル信号に基づいてVrer_H/Vref_Lが選択される。参照信号Vrefは、スイッチ101_1,102_1によってサンプリングされる。サンプリングにより、キャパシタ111_1に電荷が蓄積される。また、参照信号Vrefは、スイッチ101_2,102_2によってサンプリングされ、キャパシタ111_2には電荷が蓄積される。スイッチ101_1,101_2,102_2,102_2によってサンプリングされた参照信号Vrefを入力信号Vinと記す。
The operational amplifier 121 receives the reference signal Vcom1 from the non-inverting input terminal, and outputs an analog output signal Vout having the center level of the amplitude of the output signal as Vcom1.
The reference signal Vref is input from the terminal 105 to the sampling circuit 150 described above. Here, the reference signal Vref shown in FIG. 5 means Vref_H / Vref_L shown in FIG. 1 and FIG. 3 and is not shown, but Vrer_H / Vref_L is selected based on the digital signal supplied from the digital unit. Is done. The reference signal Vref is sampled by the switches 101_1 and 102_1. Charges are accumulated in the capacitor 111_1 by sampling. Further, the reference signal Vref is sampled by the switches 101_2 and 102_2, and charges are accumulated in the capacitor 111_2. The reference signal Vref sampled by the switches 101_1, 101_2, 102_2, and 102_2 is referred to as an input signal Vin.

キャパシタ111_1,111_2に蓄積された電荷は、スイッチ101_1,102_1,104_1及び、101_2,102_2,104_2の切り替えにしたがって演算増幅器121の反転入力端子に入力される。演算増幅器121は、基準電圧信号Vcom1を非反転入力端子から入力し、アナログの出力信号VAoutを出力する。
以上説明した図5に示したサンプリング回路150では、サンプル・ホールド部150bのキャパシタ111_1,111_2が複数(図5に示した例では2つ)設けられている。コンテニアス部150aのスイッチユニット103,104に含まれるスイッチの個数は、キャパシタ111_1,111_2の数に対応している。キャパシタ111_1に蓄積される電荷の量は、スイッチ103_1,104_1によって決定される。また、キャパシタ111_2に蓄積される電荷の量は、スイッチ103_2,104_2によって決定される。
The charges accumulated in the capacitors 111_1 and 111_2 are input to the inverting input terminal of the operational amplifier 121 in accordance with the switching of the switches 101_1, 102_1, and 104_1 and 101_2, 102_2, and 104_2. The operational amplifier 121 receives the reference voltage signal Vcom1 from the non-inverting input terminal and outputs an analog output signal VAout.
In the sampling circuit 150 shown in FIG. 5 described above, a plurality (two in the example shown in FIG. 5) of capacitors 111_1 and 111_2 of the sample and hold unit 150b are provided. The number of switches included in the switch units 103 and 104 of the continuous unit 150a corresponds to the number of capacitors 111_1 and 111_2. The amount of charge accumulated in the capacitor 111_1 is determined by the switches 103_1 and 104_1. Further, the amount of charge accumulated in the capacitor 111_2 is determined by the switches 103_2 and 104_2.

なお、サンプル・ホールド部150bのキャパシタ111_1,111_2の個数は、当然のことながら、2個に限定されるものでなく、自然数Mであればよい。このとき、コンテニアス部150aのスイッチユニット103,104には、それぞれM個のスイッチが含まれるようにする。
図5に示したサンプリング回路150では、キャパシタ111_1,111_2の個数Mが増えるにしたがって、スイッチユニット103,104に含まれるスイッチの数が同様に増加する。なお、キャパシタ111_1,111_2の個数が増加した場合、コンテニアス部150aの構成は、スイッチユニット103,104に含まれるスイッチの数が増加する以外、図5に示した構成から変更されることがない。
The number of capacitors 111_1 and 111_2 in the sample and hold unit 150b is not limited to two as a matter of course, and may be a natural number M. At this time, each of the switch units 103 and 104 of the continuous unit 150a includes M switches.
In the sampling circuit 150 shown in FIG. 5, the number of switches included in the switch units 103 and 104 increases in the same manner as the number M of capacitors 111_1 and 111_2 increases. When the number of capacitors 111_1 and 111_2 is increased, the configuration of the continuous unit 150a is not changed from the configuration illustrated in FIG. 5 except that the number of switches included in the switch units 103 and 104 is increased.

また、図5に示したサンプリング回路150では、キャパシタ111_1,111_2の個数Mが増えるにしたがって、スイッチユニット101,102に含まれるスイッチの数も同様に増加する。なお、キャパシタ111_1,111_2の個数が増加した場合、サンプル・ホールド部150bの構成は、スイッチユニット101,102に含まれるスイッチの数が増加する以外、図5に示した構成から変更されることがない。   In the sampling circuit 150 shown in FIG. 5, as the number M of the capacitors 111_1 and 111_2 increases, the number of switches included in the switch units 101 and 102 increases in the same manner. When the number of capacitors 111_1 and 111_2 increases, the configuration of the sample and hold unit 150b may be changed from the configuration illustrated in FIG. 5 except that the number of switches included in the switch units 101 and 102 increases. Absent.

また、図5に示したコンテニアス部150aにキャパシタをさらに追加する場合、追加後のキャパシタの合計の容量と、キャパシタ111_1,111_2の合計の容量とが等しくなるようにする。このようにすることにより、キャパシタ111_1,111_2の容量の大きさと、動作タイミングとを適当に配分し、出力信号VAoutに含まれる特定の周波数のゲインを下げるアナログFIR(Finite Impulse Response)フィルタを形成することができる。   Further, when a capacitor is further added to the continuous portion 150a illustrated in FIG. 5, the total capacitance of the added capacitor is set to be equal to the total capacitance of the capacitors 111_1 and 111_2. By doing so, an analog FIR (Finite Impulse Response) filter is formed that appropriately distributes the magnitude of the capacitors 111_1 and 111_2 and the operation timing and lowers the gain of a specific frequency included in the output signal VAout. be able to.

また、スイッチ101_1とスイッチ101_2とが、互いに異なるクロック信号で駆動され、スイッチ102_1とスイッチ102_2とが、互いに異なるクロック信号で駆動される。また、スイッチ103_1,103_2及びスイッチ104_1,104_2は、スイッチ101_1,101_2のいずれとも異なるクロック信号φIで駆動される。   Further, the switch 101_1 and the switch 101_2 are driven by different clock signals, and the switch 102_1 and the switch 102_2 are driven by different clock signals. Further, the switches 103_1 and 103_2 and the switches 104_1 and 104_2 are driven by a clock signal φI that is different from any of the switches 101_1 and 101_2.

以下に、図5に示した回路構成の作用について説明する。つまり、入力信号に周期ノイズ(アナログ信号を処理する回路への突入電流に起因するノイズ:以下、単にノイズともいう)が重畳されている場合であっても、図5に示したサンプリング回路150を用いたD/A変換器が発生するノイズを低減できる効果を得ることについて説明する。
以下の説明では、本実施例の効果を理解しやすくするため、先ず、図5に示したサンプリング回路150のスイッチ101_1とスイッチ101_2とを同一タイミングのクロック信号で駆動し、スイッチ102_1とスイッチ102_2とを同一タイミングのクロック信号で駆動し、スイッチ103_1とスイッチ103_2とを同一タイミングのクロック信号で駆動し、スイッチ104_1とスイッチ104_2とを同一タイミングのクロック信号で駆動(以下、「一般的なクロック信号による駆動」という)する場合について説明する。
The operation of the circuit configuration shown in FIG. 5 will be described below. That is, even when periodic noise (noise caused by inrush current to a circuit that processes an analog signal: hereinafter, simply referred to as noise) is superimposed on the input signal, the sampling circuit 150 shown in FIG. A description will be given of obtaining an effect of reducing noise generated by the used D / A converter.
In the following description, in order to facilitate understanding of the effects of the present embodiment, first, the switch 101_1 and the switch 101_2 of the sampling circuit 150 illustrated in FIG. 5 are driven with the clock signals at the same timing, and the switch 102_1 and the switch 102_2 Are driven by the same timing clock signal, the switch 103_1 and the switch 103_2 are driven by the same timing clock signal, and the switch 104_1 and the switch 104_2 are driven by the same timing clock signal (hereinafter referred to as “general clock signal The case of “driving” will be described.

以下、図5に示したサンプリング回路150を、一般的なクロック信号によって駆動した場合の出力信号VAoutを、参照信号Vrefに周期ノイズが重畳されていない場合と、周期ノイズが重畳されている場合とに分けて説明する。
なお、図5に示したサンプリング回路150では、参照信号Vref、基準信号Vcom1に周期ノイズが重畳した場合、この周期ノイズがゲイン0dBで出力波形に現れるため、サンプリング回路150のノイズに対する感度が最も高い。本実施例では、参照信号Vrefに周期ノイズが重畳した場合について述べるが、参照信号Vref以外に周期ノイズが重畳した場合でも同様の考察が適応できる。なお、参照信号Vref以外に周期ノイズが重畳される信号としては、例えば、基準信号Vcom1があげられる。ノイズ混入経路としては、サンプリング動作の経路が考えられ、参照信号Vref、基準信号Vcom1に限るものではない。
Hereinafter, the output signal VAout when the sampling circuit 150 shown in FIG. 5 is driven by a general clock signal is used when the periodic noise is not superimposed on the reference signal Vref and when the periodic noise is superimposed. This will be explained separately.
In the sampling circuit 150 shown in FIG. 5, when periodic noise is superimposed on the reference signal Vref and the reference signal Vcom1, this periodic noise appears in the output waveform with a gain of 0 dB, so that the sampling circuit 150 has the highest sensitivity to noise. . In the present embodiment, a case where periodic noise is superimposed on the reference signal Vref will be described, but the same consideration can be applied even when periodic noise is superimposed on other than the reference signal Vref. An example of a signal in which periodic noise is superimposed in addition to the reference signal Vref is the reference signal Vcom1. As the noise mixing path, a sampling operation path can be considered, and the path is not limited to the reference signal Vref and the reference signal Vcom1.

(i)周期ノイズが重畳されていない場合
図6(a)〜(e)は、図5に示したサンプリング回路の、参照信号Vrefに周期ノイズがない場合の動作を説明するための図である。図6(a)は、スイッチ101_1、スイッチ102_1を駆動するクロック信号φS1を示す。クロック信号φS1は、キャパシタ111_1における参照信号Vrefのサンプリングタイミングと一致する。図6(b)は、スイッチ101_2、スイッチ102_2を駆動するクロック信号φS2を示す。クロック信号φS2は、キャパシタ111_2における参照信号Vrefのサンプリングタイミングと一致する。図6に示したクロック信号φS1とクロック信号φS2とが等しいことにより、図5に示したサンプリング回路150では、キャパシタ111_1とキャパシタ111_2とが、同一タイミングで動作する。
(I) When Periodic Noise is not Overlaid FIGS. 6A to 6E are diagrams for explaining the operation of the sampling circuit shown in FIG. 5 when there is no periodic noise in the reference signal Vref. . FIG. 6A shows a clock signal φS1 for driving the switch 101_1 and the switch 102_1. The clock signal φS1 coincides with the sampling timing of the reference signal Vref in the capacitor 111_1. FIG. 6B shows a clock signal φS2 for driving the switch 101_2 and the switch 102_2. The clock signal φS2 coincides with the sampling timing of the reference signal Vref in the capacitor 111_2. Since the clock signal φS1 and the clock signal φS2 illustrated in FIG. 6 are equal, the capacitor 111_1 and the capacitor 111_2 operate at the same timing in the sampling circuit 150 illustrated in FIG.

また、図6(c)は、スイッチユニット103,104に含まれるスイッチを駆動するクロック信号φIを示している。クロック信号φIは、キャパシタ111_1,111_2が入力信号Vinによってそれぞれ蓄積された電荷をホールド、放出するタイミングと一致する。クロック信号φIは、クロック信号φS1、φS2のいずれとも同時にHigh(以下、Hという)にならない、ノンオーバーラップ信号である。   FIG. 6C shows a clock signal φI that drives the switches included in the switch units 103 and 104. The clock signal φI coincides with the timing at which the capacitors 111_1 and 111_2 hold and release the charges accumulated by the input signal Vin, respectively. The clock signal φI is a non-overlapping signal that does not simultaneously become High (hereinafter referred to as H) with any of the clock signals φS1 and φS2.

図6(d)は、直流電圧である参照信号Vrefを示し、図6(e)は、演算増幅器121から出力される、アナログ信号である出力信号VAoutを示している。なお、図6(e)において、実線で示した信号がキャパシタ111_1,111_2から転送されてきた電荷によって生じる入力信号Vinであり、サンプリング回路150において、フィードバックによって破線で示した出力信号VAoutが生成される。   6D shows the reference signal Vref that is a DC voltage, and FIG. 6E shows the output signal VAout that is an analog signal output from the operational amplifier 121. In FIG. 6E, the signal indicated by the solid line is the input signal Vin generated by the charges transferred from the capacitors 111_1 and 111_2. In the sampling circuit 150, the output signal VAout indicated by the broken line is generated by feedback. The

図7(a)〜(c)は、図5に示したキャパシタから出力される信号を説明するための図である。図7(a)に示したグラフは、図5に示したキャパシタ111_1,111_2から出力される信号を説明するための図であり、入力信号Vinをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示す。図7(b)に示したグラフは、キャパシタ111_1,111_2が入力信号Vinによって蓄積された電荷をホールド、放出するタイミングを律するクロック信号をフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示す。図7(c)に示したグラフは、出力信号VAoutをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示している。図7(a)〜(c)に示したグラフのいずれにおいても、縦軸は信号のスペクトルの強度を示し、横軸は周波数を示している。図7(a)〜(c)のグラフ中に矢線で示した縦軸の位置は、周波数の基準(「0」)を示している。   7A to 7C are diagrams for explaining signals output from the capacitor shown in FIG. The graph shown in FIG. 7A is a diagram for explaining signals output from the capacitors 111_1 and 111_2 shown in FIG. 5, and shows a spectrum obtained by converting the input signal Vin into the frequency axis by Fourier transform. The graph shown in FIG. 7B shows a spectrum obtained by converting the clock signal that regulates the timing at which the capacitors 111_1 and 111_2 hold and release the charges accumulated by the input signal Vin to the frequency axis by Fourier transform. The graph shown in FIG. 7C shows a spectrum obtained by converting the output signal VAout to the frequency axis by Fourier transform. In any of the graphs shown in FIGS. 7A to 7C, the vertical axis indicates the intensity of the signal spectrum, and the horizontal axis indicates the frequency. The positions of the vertical axis indicated by the arrow lines in the graphs of FIGS. 7A to 7C indicate the frequency reference (“0”).

図7に示したように、キャパシタ111_1,111_2から出力された信号(図中にスペクトルpで示す)は一定の周波数を有している。スペクトルqは入力信号Vinにおけるノイズシェープされたフロアノイズを示す。スペクトルp,qがスイッチ101_1,102_1、及び101_2,102_2によってそれぞれサンプリングされ、ホールド、放出されると、畳み込みによって図7(c)に示す出力信号VAoutが生成される。出力信号VAoutにおいて、スペクトルp,qが対称にミラーされている。   As shown in FIG. 7, the signals output from the capacitors 111_1 and 111_2 (indicated by the spectrum p in the figure) have a constant frequency. The spectrum q shows the noise shaped floor noise in the input signal Vin. When the spectra p and q are sampled by the switches 101_1, 102_1, and 101_2 and 102_2, and are held and emitted, the output signal VAout shown in FIG. 7C is generated by convolution. In the output signal VAout, the spectra p and q are mirrored symmetrically.

(ii)周期ノイズが重畳されている場合
次に、参照信号Vrefに周期ノイズがある場合について説明する。なお、この場合であっても、スイッチ101_1,101_2は同一タイミングのクロック信号で駆動され、スイッチ102_1,102_2は同一タイミングのクロック信号で駆動され、スイッチ103_1,103_2は同一タイミングのクロック信号で駆動され、スイッチ104_1,104_2は同一タイミングのクロック信号で駆動されるものとする。
(Ii) Case where periodic noise is superimposed Next, a case where periodic noise is present in the reference signal Vref will be described. Even in this case, the switches 101_1 and 101_2 are driven by clock signals with the same timing, the switches 102_1 and 102_2 are driven by clock signals with the same timing, and the switches 103_1 and 103_2 are driven by clock signals with the same timing. The switches 104_1 and 104_2 are driven by clock signals having the same timing.

図8(a)〜(e)は、図5に示したサンプリング回路150において、参照信号Vrefに周期ノイズがある場合の動作を説明するための図である。
図8(a)は、キャパシタ111_1における参照信号Vrefのサンプリングタイミングを示している。図8(b)は、キャパシタ111_2における参照信号Vrefのサンプリングタイミングを示している。図8(c)は、キャパシタ111_1,111_2が参照信号Vrefによってそれぞれ蓄積された電荷をホールド、放出するタイミングを示し、図8(d)は、直流電圧である参照信号Vrefを示し、図8(e)は、演算増幅器121から出力される、アナログ信号である出力信号VAoutを示している。ここでは、図8(a)と図8(b)は同一タイミングで動作する。図8(d),図8(e)から明らかなように、図8(d)に示した参照信号Vrefに周期ノイズN1が重畳されている場合、D/A変換器では、出力信号VAoutにも周期ノイズN1に対応する周期ノイズN2が発生することになる。次に、図8(d),図8(e)に示した周期ノイズを、図9(a)〜(c)を使って説明する。
FIGS. 8A to 8E are diagrams for explaining the operation when the reference signal Vref has periodic noise in the sampling circuit 150 shown in FIG.
FIG. 8A shows the sampling timing of the reference signal Vref in the capacitor 111_1. FIG. 8B shows the sampling timing of the reference signal Vref in the capacitor 111_2. FIG. 8C shows the timing at which the capacitors 111_1 and 111_2 hold and release the charges accumulated by the reference signal Vref, and FIG. 8D shows the reference signal Vref which is a DC voltage. e) shows an output signal VAout that is an analog signal output from the operational amplifier 121. Here, FIG. 8A and FIG. 8B operate at the same timing. As is clear from FIGS. 8D and 8E, when the periodic noise N1 is superimposed on the reference signal Vref shown in FIG. 8D, the D / A converter adds the output signal VAout to the output signal VAout. In this case, the periodic noise N2 corresponding to the periodic noise N1 is generated. Next, the periodic noise shown in FIGS. 8D and 8E will be described with reference to FIGS.

図9(a)〜(c)は、図8に示した周期ノイズについて説明するための図で、図9(a)に示したグラフは、図5に示したキャパシタ111_1,111_2から出力される信号を説明するための図であり、入力信号Vinをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示す。図9(b)に示したグラフはキャパシタ111_1,111_2が入力信号Vinによってそれぞれ蓄積された電荷をホールド、放出するタイミングを律するクロック信号をフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示し、図9(c)に示したグラフは出力信号VAoutをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示している。図9(a)〜(c)に示したグラフのいずれにおいても、縦軸は信号のスペクトルの強度を示し、横軸は周波数を示している。図9(a)〜(c)のグラフ中に矢線で示した縦軸の位置は、周波数の基準(「0」)を示している。   FIGS. 9A to 9C are diagrams for explaining the periodic noise shown in FIG. 8, and the graph shown in FIG. 9A is output from the capacitors 111_1 and 111_2 shown in FIG. It is a figure for demonstrating a signal, and shows the spectrum which converted the input signal Vin into the frequency axis by Fourier transformation. The graph shown in FIG. 9B shows a spectrum obtained by converting the clock signal that regulates the timing at which the capacitors 111_1 and 111_2 hold and release the charges accumulated by the input signal Vin into the frequency axis by Fourier transform, respectively. The graph shown in c) shows a spectrum obtained by converting the output signal VAout to the frequency axis by Fourier transform. In any of the graphs shown in FIGS. 9A to 9C, the vertical axis indicates the intensity of the signal spectrum, and the horizontal axis indicates the frequency. The position of the vertical axis indicated by the arrow line in the graphs of FIGS. 9A to 9C indicates the frequency reference (“0”).

図9(a)で示したスペクトルを図5に示したスイッチ101_1,102_1、及び101_2,102_2でそれぞれサンプリングし、ホールド、放出すると、周期ノイズN2は折り返され、周期ノイズN2’がDC付近に現れる。そして、図9(c)のグラフのように、畳み込みによって周期ノイズN2’が対称にミラーされ出力信号VAoutが生成される。周期ノイズN2’は、D/A変換器が例えばオーディオ機器に用いられる場合、出力音声に使用される周波数領域(以下、in−bandとも記す)内に現れる。   When the spectrum shown in FIG. 9A is sampled, held, and emitted by the switches 101_1, 102_1, and 101_2 and 102_2 shown in FIG. 5, the periodic noise N2 is folded back and the periodic noise N2 ′ appears near DC. . Then, as shown in the graph of FIG. 9C, the periodic noise N2 'is mirrored symmetrically by convolution, and the output signal VAout is generated. When the D / A converter is used in an audio device, for example, the periodic noise N2 'appears in a frequency region (hereinafter also referred to as in-band) used for output sound.

本実施例は、サンプリング回路等の機器を動作させる複数の異なるクロック信号を備えることにより、他の機器が出力する信号によってin−band内に現れる周期ノイズを拡散し、音声等の出力信号の信号品質が損なわれることを防ぐという技術思想に基づいてなされたものである。
図10(a)〜(c)は、図9(a)に示したキャパシタから出力される信号を説明するための図である。ここで、図10(a)〜(c)を用い、図9(a)に示したキャパシタ111_1,111_2から出力される信号を、さらに説明する。図10(a)に示したグラフは、図8(d)に示した基準信号Vrefの周波数特性であり、周期ノイズが重畳したVrefをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示す。図10(a)の破線で示す周波数はナイキスト周波数を表し、サンプリング動作周波数の半分の周波数である。図10(b)に示したグラフはキャパシタ111_1,111_2が入力信号Vinを蓄積する、サンプリングタイミングを律するクロック信号をフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示す。図10(b)の破線で示す周波数f1はナイキスト周波数を表し、サンプリング動作周波数の半分の周波数である。図10(b)の破線Lb1で示した周波数特性(F特性)は、サンプリング動作によって得られるFIRフィルタの周波数特性である。
In this embodiment, by providing a plurality of different clock signals for operating a device such as a sampling circuit, a periodic noise appearing in the in-band is diffused by a signal output from another device, and a signal of an output signal such as a sound This is based on the technical idea of preventing the quality from being impaired.
FIGS. 10A to 10C are diagrams for explaining signals output from the capacitor shown in FIG. Here, signals output from the capacitors 111_1 and 111_2 shown in FIG. 9A will be further described with reference to FIGS. The graph shown in FIG. 10A is a frequency characteristic of the reference signal Vref shown in FIG. 8D, and shows a spectrum obtained by converting Vref with periodic noise superimposed on the frequency axis by Fourier transform. The frequency indicated by the broken line in FIG. 10A represents the Nyquist frequency, which is half the sampling operation frequency. The graph shown in FIG. 10B shows a spectrum in which the capacitors 111_1 and 111_2 store the input signal Vin and the clock signal that regulates the sampling timing is converted to the frequency axis by Fourier transform. A frequency f1 indicated by a broken line in FIG. 10B represents a Nyquist frequency, which is half the sampling operation frequency. The frequency characteristic (F characteristic) indicated by the broken line Lb1 in FIG. 10B is the frequency characteristic of the FIR filter obtained by the sampling operation.

ここでは、1つのクロック信号によってサンプリング動作が行われるため、FIRフィルタの周波数特性はオールパスフィルタ(全周波数に対してゲイン抑制効果がない)となる。図10(c)に示したグラフは、出力信号VAoutをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示している。図10(a)〜(c)に示したグラフのいずれにおいても、縦軸は信号のスペクトルの強度を示し、横軸は周波数を示している。図10(a)〜(c)のグラフ中に矢線で示した縦軸の位置は、周波数の基準(「0」)を示している。   Here, since the sampling operation is performed by one clock signal, the frequency characteristic of the FIR filter is an all-pass filter (no gain suppression effect for all frequencies). The graph shown in FIG. 10C shows a spectrum obtained by converting the output signal VAout to the frequency axis by Fourier transform. In any of the graphs shown in FIGS. 10A to 10C, the vertical axis indicates the intensity of the signal spectrum, and the horizontal axis indicates the frequency. The position of the vertical axis indicated by the arrow line in the graphs of FIGS. 10A to 10C indicates the frequency reference (“0”).

図10(c)で示したように、図1のキャパシタ111_1,111_2のサンプリング動作においては、FIRフィルタによるフィルタ効果が得られない。このため、周期ノイズN2のスペクトルは、そのまま折り返されて周期ノイズN2’となる。
本実施例は、上述した周期ノイズN2’を分散することにより、in−band内の信号品質を高めることができることに着目してなされたものである。そして、このため、サンプリング回路150のサンプル・ホールド部が、複数のクロック信号によって動作するようにした。以下に、本実施例の複数のクロック信号について説明する。
As shown in FIG. 10C, the filter effect by the FIR filter cannot be obtained in the sampling operation of the capacitors 111_1 and 111_2 in FIG. For this reason, the spectrum of the periodic noise N2 is folded as it is to become the periodic noise N2 ′.
The present embodiment is made by paying attention to the fact that the in-band signal quality can be improved by dispersing the above-described periodic noise N2 ′. For this reason, the sample and hold unit of the sampling circuit 150 is operated by a plurality of clock signals. Hereinafter, a plurality of clock signals of this embodiment will be described.

図11(a)〜(e)は、図1に示したサンプリング回路150において、参照信号Vrefに周期ノイズがある場合の動作を説明するための図である。図11(a)は、図5に示したサンプリング回路150のスイッチ101_1,102_1に入力されるクロック信号φS3を示す。クロック信号φS3は、キャパシタ111_1における参照信号Vrefのサンプリングタイミングと等しい。図11(b)は、図5に示したサンプリング回路150のスイッチ101_2,102_2に入力されるクロック信号φS4を示す。クロック信号φS4は、キャパシタ111_2における参照信号Vrefのサンプリングタイミングと等しい。   FIGS. 11A to 11E are diagrams for explaining the operation when there is periodic noise in the reference signal Vref in the sampling circuit 150 shown in FIG. FIG. 11A shows the clock signal φS3 input to the switches 101_1 and 102_1 of the sampling circuit 150 shown in FIG. The clock signal φS3 is equal to the sampling timing of the reference signal Vref in the capacitor 111_1. FIG. 11B shows the clock signal φS4 input to the switches 101_2 and 102_2 of the sampling circuit 150 shown in FIG. The clock signal φS4 is equal to the sampling timing of the reference signal Vref in the capacitor 111_2.

また、図11(c)は、キャパシタ111_1,111_2が参照信号Vrefによってそれぞれ蓄積された電荷をホールド、放出するタイミングを示し、図11(d)は、直流電圧である参照信号Vrefを示し、図11(e)は、演算増幅器121から出力される、アナログ信号である出力信号VAoutを示している。
本実施例では、図11(a),(b)に示したように、クロック信号φS3とクロック信号φS4とが異なるタイミングでHからLow(以下、Lという)、またはLからHに切り替わる。このタイミングの相違は、クロック信号φS4が、クロック信号φ3よりも遅延して切り替わることによって発生する。本実施例では、クロック信号φS4のクロック信号φS3に対する遅延量Tを、10nsとする。なお、当然のことながら、本実施例のクロック信号φS4の遅延量は、10nsに限定されるものでなく、任意に設定することができる。
FIG. 11C shows the timing at which the capacitors 111_1 and 111_2 hold and release charges accumulated by the reference signal Vref, respectively, and FIG. 11D shows the reference signal Vref that is a DC voltage. Reference numeral 11 (e) denotes an output signal VAout that is an analog signal output from the operational amplifier 121.
In this embodiment, as shown in FIGS. 11A and 11B, the clock signal φS3 and the clock signal φS4 are switched from H to Low (hereinafter referred to as L) or from L to H at different timings. This timing difference occurs when the clock signal φS4 is switched with a delay from the clock signal φ3. In this embodiment, the delay amount T of the clock signal φS4 with respect to the clock signal φS3 is 10 ns. As a matter of course, the delay amount of the clock signal φS4 of this embodiment is not limited to 10 ns, and can be set arbitrarily.

図11(d)に示す周期ノイズN1が参照信号Vrefに重畳されている場合、本発明に係るサンプリング回路150を用いたD/A変換器では、出力信号VAoutにも周期ノイズN1に対応する周期ノイズN3が重畳されることになる。ただし、サンプリング回路150は、クロック信号φS3と、クロック信号φS3に対して遅延するクロック信号φS4で駆動するため、2つのサンプリングタイミングを持つことになる。このため、図8の周期ノイズN2と比較すると明らかなように、周期ノイズN3が平均化され、その値が抑制される。   When the periodic noise N1 shown in FIG. 11D is superimposed on the reference signal Vref, in the D / A converter using the sampling circuit 150 according to the present invention, the output signal VAout also has a period corresponding to the periodic noise N1. Noise N3 is superimposed. However, since the sampling circuit 150 is driven by the clock signal φS3 and the clock signal φS4 that is delayed with respect to the clock signal φS3, the sampling circuit 150 has two sampling timings. For this reason, as apparent from comparison with the periodic noise N2 in FIG. 8, the periodic noise N3 is averaged and its value is suppressed.

図12(a)〜(c)は、本発明に係るサンプリング回路におけるノイズと周波数との関係を説明するための図で、本発明に係るサンプリング回路におけるノイズN3と周波数との関係を説明するための図である。図12(a)に示したグラフは、図5に示したキャパシタ111_1,111_2から出力される信号を説明するための図であり、入力信号Vinをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示す。図12(b)に示したグラフはキャパシタ111_1,111_2が入力信号Vinによってそれぞれ蓄積された電荷をホールド、放出するタイミングを律するクロック信号をフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示し、図12(c)のグラフは出力信号VAoutをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示している。図12(a)〜(c)に示したグラフのいずれにおいても、縦軸は信号のスペクトルの強度を示し、横軸は周波数を示している。図12(a)〜(c)のグラフ中に矢線で示した縦軸の位置は、周波数の基準(「0」)を示している。   12A to 12C are diagrams for explaining the relationship between noise and frequency in the sampling circuit according to the present invention, and for explaining the relationship between noise N3 and frequency in the sampling circuit according to the present invention. FIG. The graph shown in FIG. 12A is a diagram for explaining signals output from the capacitors 111_1 and 111_2 shown in FIG. 5, and shows a spectrum obtained by converting the input signal Vin into the frequency axis by Fourier transform. The graph shown in FIG. 12B shows a spectrum obtained by converting the clock signal that regulates the timing at which the capacitors 111_1 and 111_2 hold and release the charges accumulated by the input signal Vin into the frequency axis by Fourier transformation, respectively. The graph of c) shows the spectrum obtained by converting the output signal VAout to the frequency axis by Fourier transform. In any of the graphs shown in FIGS. 12A to 12C, the vertical axis indicates the intensity of the signal spectrum, and the horizontal axis indicates the frequency. The position of the vertical axis indicated by the arrow line in the graphs of FIGS. 12A to 12C indicates the frequency reference (“0”).

図12(a)に示したように、図5に示したサンプリング回路150は、サンプル・ホールド部150bのサンプリングタイミングが複数あるため、アナログ部の突入電流起因の周期ノイズを拡散することができる。このため、本実施例では、周期ノイズN3のスペクトルのピークを、図9に示した周期ノイズN2のスペクトルのピークより小さくすることができる。   As shown in FIG. 12A, since the sampling circuit 150 shown in FIG. 5 has a plurality of sampling timings of the sample and hold unit 150b, it can diffuse periodic noise caused by the inrush current of the analog unit. For this reason, in the present embodiment, the peak of the spectrum of the periodic noise N3 can be made smaller than the peak of the spectrum of the periodic noise N2 shown in FIG.

また、本実施例においても、周期ノイズN3が折り返されて周期ノイズN3’が発生する。しかし、サンプリングタイミングを複数持つ本実施例では、折り返し時にFIRフィルタによるフィルタ効果がかかり、周期ノイズN3’のスペクトルが、周期ノイズN3のスペクトルよりもさらに小さくなっている。このことから、本実施例は、in−band内に発生する周期ノイズを一般的なクロック信号で動作するサンプリング回路150よりも低減することができる。   Also in this embodiment, the periodic noise N3 is folded back to generate the periodic noise N3 '. However, in this embodiment having a plurality of sampling timings, a filter effect by the FIR filter is applied at the time of folding, and the spectrum of the periodic noise N3 'is further smaller than the spectrum of the periodic noise N3. Thus, in this embodiment, the periodic noise generated in the in-band can be reduced as compared with the sampling circuit 150 that operates with a general clock signal.

図13(a)〜(c)は、図12(a)に示した信号をさらに説明するための図である。図13(a)に示したグラフは、図11(d)に示した参照信号Vrefに重畳されるノイズN3の周波数特性を示した図であって、周期ノイズN3が重畳したVrefをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示す。図13(a)の破線で示す周波数はナイキスト周波数を表し、サンプリング動作周波数の半分の周波数である。   FIGS. 13A to 13C are diagrams for further explaining the signals shown in FIG. The graph shown in FIG. 13A is a diagram showing the frequency characteristics of the noise N3 superimposed on the reference signal Vref shown in FIG. 11D, and Vref on which the periodic noise N3 is superimposed is obtained by Fourier transform. The spectrum converted to the frequency axis is shown. The frequency indicated by the broken line in FIG. 13A represents the Nyquist frequency, which is half the sampling operation frequency.

図13(b)に示したグラフは、キャパシタ111_1,111_2が入力信号Vinを蓄積する、サンプリングタイミングを律するクロック信号をフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示す。図13(b)の破線で示す周波数f2はナイキスト周波数を表し、サンプリング動作周波数の半分の周波数である。図13(b)の破線Lb2で示した周波数特性は、サンプリング動作によって得られるFIRフィルタの周波数特性である。   The graph shown in FIG. 13B shows a spectrum in which the capacitors 111_1 and 111_2 store the input signal Vin and the clock signal that regulates the sampling timing is converted to the frequency axis by Fourier transform. A frequency f2 indicated by a broken line in FIG. 13B represents a Nyquist frequency, which is half the sampling operation frequency. The frequency characteristic indicated by the broken line Lb2 in FIG. 13B is the frequency characteristic of the FIR filter obtained by the sampling operation.

本実施例では、クロック信号φS3、クロック信号φS3に対して10nsの遅延を持つクロック信号φS4によってサンプリング動作が行われる。このため、本実施例のFIRフィルタの周波数特性fcは、以下の式(1)で表される。
fc=1/(2×T)+X/T(Hz) ・・・式(1)
ただし、式(1)中のXは整数
ここでは、本実施例では、遅延時間Tが10nsであるため、fc=50MHz+100×XMHz(図13ではX=0における解であるfc=50MHzのみ記載)に零点を持つFIRフィルタが形成される。
In this embodiment, the sampling operation is performed by the clock signal φS3 and the clock signal φS4 having a delay of 10 ns with respect to the clock signal φS3. For this reason, the frequency characteristic fc of the FIR filter of the present embodiment is expressed by the following equation (1).
fc = 1 / (2 × T) + X / T (Hz) (1)
However, X in the formula (1) is an integer. Here, in this embodiment, since the delay time T is 10 ns, fc = 50 MHz + 100 × X MHz (in FIG. 13, only fc = 50 MHz which is a solution at X = 0) An FIR filter having a zero point is formed.

図13(c)に示したグラフは出力信号VAoutをフーリエ変換により周波数軸に変換したスペクトルを示している。図13(a)〜(c)に示したグラフのいずれにおいても、縦軸は信号のスペクトルの強度を示し、横軸は周波数を示している。図13(a)〜(c)のグラフ中に矢線で示した縦軸の位置は、周波数の基準(「0」)を示している。
図13(a)で示した通り、図1のキャパシタ111_1,111_2へのサンプリング動作においてFIRフィルタによるフィルタ効果によるサンプリング時にノイズ成分が抑制され、周期ノイズN3のスペクトルは減衰し折り返して周期ノイズN3’となる。
The graph shown in FIG. 13C shows a spectrum obtained by converting the output signal VAout to the frequency axis by Fourier transform. In any of the graphs shown in FIGS. 13A to 13C, the vertical axis indicates the intensity of the signal spectrum, and the horizontal axis indicates the frequency. The position of the vertical axis indicated by an arrow in the graphs of FIGS. 13A to 13C indicates the frequency reference (“0”).
As shown in FIG. 13 (a), noise components are suppressed during sampling due to the filter effect of the FIR filter in the sampling operation to the capacitors 111_1 and 111_2 in FIG. It becomes.

このような本実施例によれば、図12(a)に示した周期ノイズN3から周期ノイズN3’への変調においてフィルタ効果が得られるため、D/A変換器においてin−band内に発生する周期ノイズを小さくすることができる。このような周期ノイズは、D/A変換器のみならず、例えば、D/A変換器と同一基板上に搭載されたA/D変換器においても発生する。このため、本実施例のサンプリング回路150は、特に周期ノイズが動作に影響する電子部品に適用すると、この電子部品の周期ノイズ低減に顕著な効果を奏する。このような本実施例は、電子機器の小型化、構成の簡易化において有利である。
以下、図面を参照して本発明の各実施例について説明する。
According to this embodiment, since a filter effect is obtained in the modulation from the periodic noise N3 to the periodic noise N3 ′ shown in FIG. 12A, the D / A converter generates in-band. Periodic noise can be reduced. Such periodic noise is generated not only in the D / A converter but also in, for example, an A / D converter mounted on the same substrate as the D / A converter. For this reason, the sampling circuit 150 of the present embodiment has a remarkable effect in reducing the periodic noise of the electronic component, particularly when applied to the electronic component in which the periodic noise affects the operation. Such an embodiment is advantageous in reducing the size and the configuration of the electronic device.
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図14は、本発明の実施例1に係るD/A変換器を説明するための回路構成図である。なお、図1と同じ機能を有する構成要素には同一の符号を付してある。
本実施例1は、サンプリング回路をD/A変換器に適用したものである。本実施例1のD/A変換器は、サンプリング回路160と制御回路(クロック信号供給部)159とを備えている。サンプリング回路160は、コンテニアス部150aとサンプル・ホールド部150bとを備え、チャージポンプ回路170は、サンプル・ホールド部150bに接続されている。
FIG. 14 is a circuit configuration diagram for explaining the D / A converter according to the first embodiment of the present invention. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the component which has the same function as FIG.
In the first embodiment, the sampling circuit is applied to a D / A converter. The D / A converter according to the first embodiment includes a sampling circuit 160 and a control circuit (clock signal supply unit) 159. The sampling circuit 160 includes a continuous unit 150a and a sample / hold unit 150b, and the charge pump circuit 170 is connected to the sample / hold unit 150b.

つまり、本発明の実施例1に係るD/A変換器は、デジタル信号を入力するデジタル部と、このデジタル部によって入力されたデジタル信号に基づく入力信号をサンプリングし、サンプリングされた入力信号を保持して転送するサンプル・ホールド部150bと、このサンプル・ホールド部150bによって転送された信号をアナログ信号として出力するコンテニアス部150aとを備えたサンプリング回路160と、コンテニアス部150aに対しては、第1クロック信号φIを供給し、少なくともサンプル・ホールド部150bに対しては動作タイミングが互いに異なる第2クロック信号φS3,φS4を供給するクロック信号供給部159とを備え、サンプル・ホールド部150bの第1の参照信号Vref_Hに電源電圧VDDを印加し、第2の参照信号Vref_Lにチャージポンプ回路170で生成した負電源電圧VEEを印加するように構成されている。   That is, the D / A converter according to the first embodiment of the present invention samples a digital unit that inputs a digital signal, an input signal based on the digital signal input by the digital unit, and holds the sampled input signal The sampling circuit 160 including the sample-and-hold unit 150b to be transferred and the continuous unit 150a that outputs the signal transferred by the sample-and-hold unit 150b as an analog signal, and the continuous unit 150a, the first A clock signal supply unit 159 that supplies a clock signal φI and supplies second clock signals φS3 and φS4 having different operation timings to at least the sample and hold unit 150b, and includes a first signal of the sample and hold unit 150b. Apply power supply voltage VDD to reference signal Vref_H , And is configured to apply a negative source voltage VEE which is generated by the charge pump circuit 170 to the second reference signal Vref_L.

図14に示したサンプリング回路160は、Vref_Hの信号パスと、Vref_Lの信号パスとを同時に示し、さらに全差動構成としたものであるが、図5〜図13で示したシングルエンド構成のサンプリング回路におけるノイズ重畳と同様の考察が適用できる。図14に示したサンプリング回路160は、デジタル部(図示せず)とサンプル・ホールド部150bとコンテニアス部150aとによって構成されている。   The sampling circuit 160 shown in FIG. 14 simultaneously shows the Vref_H signal path and the Vref_L signal path, and has a fully differential configuration. However, the sampling circuit 160 shown in FIGS. The same considerations as noise superposition in a circuit can be applied. The sampling circuit 160 shown in FIG. 14 includes a digital unit (not shown), a sample / hold unit 150b, and a continuous unit 150a.

デジタル部は、一般的なデジタル回路で構成され、量子化され、標本化された信号を伝達する構成である。サンプル・ホールド部150bは、一般的なスイッチトキャパシタ回路(SC回路)で構成され、量子化されず、標本化された信号を伝達する構成である。コンテニアス部150aは、一般的な連続信号回路(Continuous回路)で構成され、量子化されず、標本化されていない信号を伝達する構成である。   The digital unit is configured by a general digital circuit and transmits a quantized and sampled signal. The sample and hold unit 150b is configured by a general switched capacitor circuit (SC circuit), and is configured to transmit a sampled signal without being quantized. The continuous unit 150a is configured by a general continuous signal circuit (Continuous circuit), and transmits a signal that is not quantized and is not sampled.

図14では、上述した構成のうち、デジタル信号を扱うデジタル部は、図示されておらず、コンテニアス部150aとサンプル・ホールド部150bとが示されている。デジタル部は、図14に示したサンプル・ホールド部150bのさらに前段に設けられている。つまり、図2及び図4に示したデジタル部150cに相当している。
サンプリング回路160は、入力されたデジタル信号に基づく入力信号(デジタル信号に基づいてVref_H,Vref_Lが選択され、キャパシタ111p_1,111p_2にサンプリングされた参照信号Vref_H、あるいはVref_Lを入力信号Vin_p1、キャパシタ111n_1,111n_2にサンプリングされた参照信号Vref_H、あるいはVref_Lを入力信号Vin_n1という)を間欠的にサンプリングし、サンプリングされた信号をホールド、転送するサンプル・ホールド部150bと、このサンプル・ホールド部150bによって転送された信号を、アナログ信号Pout,Noutとして出力するコンテニアス部150aとを備えている。
In FIG. 14, a digital unit that handles a digital signal in the configuration described above is not shown, and a continuous unit 150a and a sample / hold unit 150b are shown. The digital unit is provided further upstream of the sample and hold unit 150b shown in FIG. That is, it corresponds to the digital unit 150c shown in FIGS.
The sampling circuit 160 selects an input signal based on the input digital signal (Vref_H and Vref_L are selected based on the digital signal, the reference signal Vref_H or Vref_L sampled on the capacitors 111p_1 and 111p_2 is used as the input signal Vin_p1, and the capacitors 111n_1 and 111n_2. The sample and hold unit 150b that intermittently samples the reference signal Vref_H or Vref_L sampled at the input signal Vin_n1) and holds and transfers the sampled signal, and the signal transferred by the sample and hold unit 150b Are provided as analog signals Pout and Nout.

制御回路159は、クロック信号φS3,φIと、クロック信号φS3に対して遅延したクロック信号φS4を生成して出力する。クロック信号φIは、クロック信号φS3,φS4と同時にHにならない、ノンオーバーラップ信号である。クロック信号φIはコンテニアス部150aに入力され、クロック信号φS3は、サンプル・ホールド部150bのスイッチ151p_1,152p_1,151n_1,152n_1に入力される。また、クロック信号φS4は、サンプル・ホールド部150bのスイッチ151p_2,152p_2,151n_2,152n_2に入力される。なお、クロック信号φS3,φS4,φIは、いずれもHのときにスイッチをオンし、Lのときにはスイッチをオフするように各スイッチを駆動する。   Control circuit 159 generates and outputs clock signals φS3 and φI and clock signal φS4 delayed with respect to clock signal φS3. The clock signal φI is a non-overlap signal that does not become H simultaneously with the clock signals φS3 and φS4. The clock signal φI is input to the continuous unit 150a, and the clock signal φS3 is input to the switches 151p_1, 152p_1, 151n_1, and 152n_1 of the sample and hold unit 150b. The clock signal φS4 is input to the switches 151p_2, 152p_2, 151n_2, and 152n_2 of the sample and hold unit 150b. Note that the clock signals φS3, φS4, and φI all drive the switches so that the switches are turned on when they are H and the switches are turned off when they are L.

サンプル・ホールド部150bは、入力信号Vin_p1及びVin_n1によって生じる電荷を蓄積するキャパシタ111p_1,111n_1,111p_2,111n_2と、キャパシタ111p_1,111n_1,111p_2,111n_2に蓄積するスイッチ151p_1,152p_1,153p_1,151n_1,152n_1,153n_1,151p_2,152p_2,153p_2,151n_2,152n_2,153n_2とを備えている。   The sample-and-hold unit 150b includes capacitors 111p_1, 111n_1, 111p_2, and 111n_2 that store charges generated by the input signals Vin_p1 and Vin_n1, and switches 151p_1, 152p_1, 153p_1, 151n_1, and 152n_1 that store capacitors 111p_1, 111n_1, 111p_2, and 111n_2. 153n_1, 151p_2, 152p_2, 153p_2, 151n_2, 152n_2, and 153n_2.

スイッチ151p_1及び152n_1、キャパシタ111p_1、スイッチ153p_1は、互いに直列に接続されていて、スイッチ151n_1及び152p_1、キャパシタ111n_1、スイッチ153n_1は互いに直列に接続されている。スイッチ151p_1,152p_1,153p_1,151n_1,152n_1,153n_1は、クロック信号φS3にしたがってスイッチング動作を行っている。同様に、スイッチ151p_2及び152n_2、キャパシタ111p_2、スイッチ153p_2は、互いに直列に接続されていて、スイッチ151n_2及び152p_2、キャパシタ111n_2、スイッチ153n_2は互いに直列に接続されている。スイッチ151p_2,152p_2,153p_2,151n_2,152n_2,153n_2は、クロック信号 φS4にしたがってスイッチング動作を行っている。   The switches 151p_1 and 152n_1, the capacitor 111p_1, and the switch 153p_1 are connected to each other in series, and the switches 151n_1 and 152p_1, the capacitor 111n_1, and the switch 153n_1 are connected to each other in series. The switches 151p_1, 152p_1, 153p_1, 151n_1, 152n_1, and 153n_1 perform a switching operation according to the clock signal φS3. Similarly, the switches 151p_2 and 152n_2, the capacitor 111p_2, and the switch 153p_2 are connected in series, and the switches 151n_2 and 152p_2, the capacitor 111n_2, and the switch 153n_2 are connected in series. The switches 151p_2, 152p_2, 153p_2, 151n_2, 152n_2, and 153n_2 perform a switching operation according to the clock signal φS4.

コンテニアス部150aは、キャパシタ111p_1と直列に接続されたスイッチ155p_1、スイッチ155p_1の一端に反転入力端子が接続された演算増幅器1501と、演算増幅器1501の非反転出力端子Poutとスイッチ151p_1、キャパシタ111p_1間とに接続されたスイッチ154p_1と、演算増幅器1501の非反転出力端子Poutと反転入力端子との間に接続されたキャパシタ112pと、キャパシタ111n_1と直列に接続されたスイッチ155n_1、スイッチ155n_1の一端に非反転入力端子が接続された演算増幅器1501と、演算増幅器1501の反転出力端子Noutとスイッチ151n_1、キャパシタ111n_1間とに接続されたスイッチ154n_1と、演算増幅器1501の反転出力端子Noutと非反転入力端子との間に接続されたキャパシタ112nとを備え、同様に、キャパシタ111p_2と直列に接続されたスイッチ155p_2、スイッチ155p_2の一端に反転入力端子が接続された演算増幅器1501と、演算増幅器1501の非反転出力端子Poutとスイッチ151p_2、キャパシタ111p_2間とに接続されたスイッチ154p_2と、キャパシタ111n_2と直列に接続されたスイッチ155n_2、スイッチ155n_2の一端に非反転入力端子が接続された演算増幅器1501と、演算増幅器1501の反転出力端子Noutとスイッチ151n_2、キャパシタ111n_2間とに接続されたスイッチ154n_2とを備えている。コンテニアス部150aのスイッチ154p_1,155p_1,154n_1,155n_1,154p_2,155p_2,154n_2,155n_2は、クロック信号φIにしたがってスイッチング動作を行っている。   The continuous unit 150a includes a switch 155p_1 connected in series to the capacitor 111p_1, an operational amplifier 1501 having an inverting input terminal connected to one end of the switch 155p_1, a non-inverting output terminal Pout of the operational amplifier 1501, the switch 151p_1, and the capacitor 111p_1. , A capacitor 112p connected between the non-inverting output terminal Pout and the inverting input terminal of the operational amplifier 1501, a switch 155n_1 connected in series with the capacitor 111n_1, and a non-inverting terminal at one end of the switch 155n_1 An operational amplifier 1501 having an input terminal connected thereto, an inverting output terminal Nout of the operational amplifier 1501, a switch 151n_1, a switch 154n_1 connected between the capacitor 111n_1, and an operational amplifier 150 And a capacitor 112n connected between the inverting output terminal Nout and the non-inverting input terminal, and similarly, a switch 155p_2 connected in series with the capacitor 111p_2 and an inverting input terminal connected to one end of the switch 155p_2 The amplifier 1501, the non-inverting output terminal Pout of the operational amplifier 1501, the switch 151p_2, the switch 154p_2 connected between the capacitors 111p_2, the switch 155n_2 connected in series with the capacitor 111n_2, and a non-inverting input terminal at one end of the switch 155n_2 The operational amplifier 1501 is connected, and the inverting output terminal Nout of the operational amplifier 1501, the switch 151n_2, and the switch 154n_2 connected between the capacitor 111n_2. The switches 154p_1, 155p_1, 154n_1, 155n_1, 154p_2, 155p_2, 154n_2, and 155n_2 of the continuous unit 150a perform a switching operation according to the clock signal φI.

図14に示したサンプリング回路160では、サンプル・ホールド部150bとコンテニアス部150aとがキャパシタ111p_1,111n_1,111p_2,111n_2を共有している。つまり、キャパシタ111p_1,111n_1,111p_2,111n_2は、サンプル・ホールド部150bとしても、コンテニアス部150aとしても機能する。   In the sampling circuit 160 shown in FIG. 14, the sample-and-hold unit 150b and the continuous unit 150a share the capacitors 111p_1, 111n_1, 111p_2, and 111n_2. That is, the capacitors 111p_1, 111n_1, 111p_2, and 111n_2 function as both the sample and hold unit 150b and the continuous unit 150a.

なお、キャパシタ112p,112nを有することによって、コンテニアス部150aにはLPF(Low−pass filter)が形成され、キャパシタ112pとキャパシタ111pの容量比及びキャパシタ112nとキャパシタ111nの容量比、とスイッチング周波数によってLPFのカットオフ周波数が決まる。なお、このようなキャパシタ112p,112nは、本実施例1のサンプリング回路に必須の構成ではない。   Since the capacitors 112p and 112n are provided, an LPF (Low-pass filter) is formed in the continuous portion 150a, and the LPF depends on the capacitance ratio of the capacitors 112p and 111p, the capacitance ratio of the capacitors 112n and 111n, and the switching frequency. The cutoff frequency is determined. Such capacitors 112p and 112n are not essential components for the sampling circuit of the first embodiment.

本実施例1のサンプリング回路160には、上側参照信号Vref_H(第1の参照信号)に電源電圧VDDが印加され、下側参照信号Vref_L(第2の参照信号)にチャージポンプ回路170で生成した負電源電圧VEEが印加される。サンプル・ホールド部150bでは、参照信号Vref_H,Vref_Lをキャパシタ111p_1,111n_1,111p_2,111n_2にVSS基準で入力信号Vin_n1,Vin_p1としてサンプリングし、コンテニアス部150aにおいてキャパシタ112p,111nに蓄積された電荷を出力振幅の中心レベルをVSSとしたアナログ出力信号Pout,Noutを出力する。   In the sampling circuit 160 of the first embodiment, the power supply voltage VDD is applied to the upper reference signal Vref_H (first reference signal), and the lower reference signal Vref_L (second reference signal) is generated by the charge pump circuit 170. Negative power supply voltage VEE is applied. In the sample and hold unit 150b, the reference signals Vref_H and Vref_L are sampled as the input signals Vin_n1 and Vin_p1 on the basis of the VSS in the capacitors 111p_1, 111n_1, 111p_2, and 111n_2, and the charges accumulated in the capacitors 112p and 111n in the continuous unit 150a are output amplitude. The analog output signals Pout and Nout with the center level of VSS as VSS are output.

このような本実施例1によれば、サンプル・ホールド部150bは、標本化された信号をコンテニアス部150aに伝達する。伝達される信号成分はDC成分であるから、サンプル・ホールド部150bが複数の動作クロックを持ってもその成分は平均化による減衰が起こらない。しかし、D/A変換器自身が発生する周期ノイズ、または、チャージポンプ回路等の他の電子機器から混入する周期ノイズはAC成分である。このため、サンプル・ホールド部150bが動作クロックを複数持つことによって周期ノイズの成分は平均化により減衰する。このため、本実施例のD/A変換器では、周期ノイズの抑制効果が得られる。   According to the first embodiment, the sample and hold unit 150b transmits the sampled signal to the continuous unit 150a. Since the transmitted signal component is a DC component, even if the sample and hold unit 150b has a plurality of operation clocks, the component is not attenuated by averaging. However, periodic noise generated by the D / A converter itself or periodic noise mixed from other electronic devices such as a charge pump circuit is an AC component. For this reason, when the sample and hold unit 150b has a plurality of operation clocks, the periodic noise component is attenuated by averaging. For this reason, in the D / A converter of a present Example, the suppression effect of a periodic noise is acquired.

つまり、STF(Signal Transfer Function)は変化させず、NTF(Noise Transfer Function)のみに平均化による減衰係数をかけることができるものといえる。
このため、伝達すべき信号にノイズを加えることなく、in−band内のノイズだけを分散し、そのスペクトルのピークを低減することができる。
That is, it can be said that the attenuation coefficient by the averaging can be applied only to the NTF (Noise Transfer Function) without changing the STF (Signal Transfer Function).
For this reason, without adding noise to the signal to be transmitted, only the noise in the in-band can be dispersed and the peak of the spectrum can be reduced.

上述した本実施例1によれば、チャージポンプ回路等のD/A変換器周辺の機器から発生するノイズを低減するのではなく、D/A変換器自身のノイズに対する耐性を強化することができる。このため、D/A変換器周辺の他の機器の構成を変更することなく、D/A変換器のみを変更してD/A変換器に対するノイズの影響を低減することができる。これにより、D/A変換器の内部信号範囲をVDD〜VEEとすることができ、内部信号範囲の制限がなくなり、さらに基準信号Vcomの生成を不要とすることができる。   According to the first embodiment described above, it is possible not to reduce noise generated from devices around the D / A converter such as a charge pump circuit, but to enhance resistance to noise of the D / A converter itself. . For this reason, the influence of noise on the D / A converter can be reduced by changing only the D / A converter without changing the configuration of other devices around the D / A converter. As a result, the internal signal range of the D / A converter can be set to VDD to VEE, the internal signal range is not limited, and generation of the reference signal Vcom can be made unnecessary.

さらに、本実施例1は、D/A変換器を単体の構成とする場合、図14に示した制御回路159が1つのサンプリング回路に対応付けて設けられる。また、本実施例1は、図14に示したD/A変換器のサンプリング回路を他の機器として構成する場合、制御回路159を機器の外部に設けるものであってもよい。   Furthermore, in the first embodiment, when the D / A converter is configured as a single unit, the control circuit 159 shown in FIG. 14 is provided in association with one sampling circuit. In the first embodiment, when the sampling circuit of the D / A converter shown in FIG. 14 is configured as another device, the control circuit 159 may be provided outside the device.

図15は、本発明の実施例2に係るD/A変換器を用いたΔΣ型A/D変換器を説明するためのブロック図である。本実施例2のΔΣ型A/D変換器200は、量子化回路から出力された出力信号をアナログ変換して演算回路にフィードバック信号を出力するD/A変換器を備えている。つまり、アナログ信号の入力信号INとD/A変換器(図中に“DAC”で示す)240からのフィードバック後の差分信号を出力する演算回路210と、この演算回路210からの差分信号を積分するフィルタ回路220と、このフィルタ回路220の出力信号を量子化によりデジタル変換して出力信号OUTを出力する量子化回路230と、この量子化回路230から出力された出力信号OUTをアナログ変換して演算回路210にフィードバック信号を出力するD/A変換器240とを備えて構成されている。   FIG. 15 is a block diagram for explaining a ΔΣ A / D converter using the D / A converter according to the second embodiment of the present invention. The ΔΣ A / D converter 200 according to the second embodiment includes a D / A converter that analog-converts the output signal output from the quantization circuit and outputs a feedback signal to the arithmetic circuit. That is, an arithmetic circuit 210 that outputs an analog signal input signal IN and a differential signal after feedback from a D / A converter (shown by “DAC”) 240, and an integration of the differential signal from the arithmetic circuit 210 A filter circuit 220 that performs digital conversion of the output signal of the filter circuit 220 by quantization and outputs an output signal OUT, and an analog conversion of the output signal OUT output from the quantization circuit 230 The arithmetic circuit 210 includes a D / A converter 240 that outputs a feedback signal.

ここで、D/A変換器240は、上述した本実施例1で説明したD/A変換器で構成されている。図15に示したΔΣA/D変換器におけるD/A変換器の出力信号範囲がVDD〜VSSの場合、演算回路210において入力信号INの信号範囲もVDD〜VSSとしなければならない。そのため、入力信号のDCカットコンデンサを不要とするためにチャージポンプ回路を内蔵してVDD〜VEEの信号範囲の入力信号を入力できるA/D変換器であっても、内部信号範囲はVDD〜VSSに制限される。これは、信号範囲がVDD〜VEEのA/D変換器と比較すると、信号範囲が1/2となり単純計算で信号対ノイズ比では6dB劣るといえる。また、VDD〜VEEの入力信号をVDD〜VSSにレベルシフトする際に、新たに基準信号Vcomを生成する必要がある。   Here, the D / A converter 240 is configured by the D / A converter described in the first embodiment. When the output signal range of the D / A converter in the ΔΣ A / D converter shown in FIG. 15 is VDD to VSS, the signal range of the input signal IN in the arithmetic circuit 210 must also be VDD to VSS. Therefore, even in an A / D converter that has a built-in charge pump circuit and can input an input signal in the signal range of VDD to VEE in order to eliminate the need for a DC cut capacitor for the input signal, the internal signal range is VDD to VSS. Limited to Compared with an A / D converter having a signal range of VDD to VEE, the signal range is halved, and it can be said that the signal-to-noise ratio is inferior by 6 dB by simple calculation. In addition, when the input signal from VDD to VEE is level-shifted from VDD to VSS, it is necessary to newly generate the reference signal Vcom.

そこで、上述した本実施例1に示したD/A変換器を用いることにより、チャージポンプ回路の出力信号VEEに重畳するノイズの影響を低減することができ、A/D変換器の内部信号範囲をVDD〜VEEとすることができる。これより、内部信号範囲の制限がなくなり、基準信号Vcomの生成を不要とすることができる。   Therefore, by using the D / A converter shown in the first embodiment, the influence of noise superimposed on the output signal VEE of the charge pump circuit can be reduced, and the internal signal range of the A / D converter can be reduced. Can be set to VDD to VEE. As a result, the internal signal range is not limited, and the generation of the reference signal Vcom can be made unnecessary.

図16は、本発明の実施例3に係るD/A変換器を用いたパイプラン型A/D変換器を説明するためのブロック図である。本実施例3のパイプライン型A/D変換器300は、複数段カスケード接続された残差演算ステージにおいて、サブA/D変換器により変換されたデジタル信号を再びアナログ信号に変換するD/A変換器を備えている。つまり、複数段カスケード接続された残差演算ステージ310とデジタル回路320によって主に構成されている。このうち、残差演算ステージ310は、サブA/D変換器330(図中に“SADC”で示す)とD/A変換器340(図中に“DAC”で示す)と演算回路350と残差演算増幅器360とによって構成されている。   FIG. 16 is a block diagram for explaining a pipelined A / D converter using the D / A converter according to the third embodiment of the present invention. The pipeline type A / D converter 300 according to the third embodiment is a D / A that converts a digital signal converted by the sub A / D converter into an analog signal again in a residual calculation stage cascaded in a plurality of stages. It has a converter. That is, it is mainly configured by a residual calculation stage 310 and a digital circuit 320 that are cascade-connected in a plurality of stages. Among these, the residual calculation stage 310 includes a sub A / D converter 330 (indicated by “SADC” in the drawing), a D / A converter 340 (indicated by “DAC” in the drawing), an arithmetic circuit 350, and a residual. And a differential operational amplifier 360.

残差演算ステージ310において、入力されたアナログ信号INは、それぞれのサブA/D変換器310によりデジタル信号に変換される。その後、変換結果をD/A変換器340により再びアナログ信号に変換したものと、入力信号INとの差分を取り、これを残差演算増幅器360で増幅する。この一連の演算動作を複数段繰り返し、最後にデジタル回路320で各ステージの出力を演算することで、アナログ入力信号INに対応したデジタル出力信号OUTとして出力される。   In the residual calculation stage 310, the input analog signal IN is converted into a digital signal by each sub A / D converter 310. Thereafter, the difference between the conversion result converted into the analog signal by the D / A converter 340 and the input signal IN is taken, and this is amplified by the residual operational amplifier 360. This series of arithmetic operations is repeated for a plurality of stages, and finally the output of each stage is calculated by the digital circuit 320, whereby a digital output signal OUT corresponding to the analog input signal IN is output.

ここで、上述したD/A変換器340は、上述した本実施例1で説明したD/A変換器で構成されている。図16に示したパイプラインA/D変換器においてD/A変換器の出力信号範囲がVDD〜VSSの場合、演算回路350において入力信号INの信号範囲もVDD〜VSSとしなければならない。そのため、入力信号のDCカットコンデンサを不要とするためにチャージポンプ回路を内蔵してVDD〜VEEの信号範囲の入力信号を入力できるA/D変換器であっても、内部信号範囲はVDD〜VSSに制限される。これは、信号範囲がVDD〜VEEのA/D変換器と比較すると、信号範囲が1/2となり単純計算で信号対ノイズ比では6dB劣るといえる。また、VDD〜VEEの入力信号をVDD〜VSSにレベルシフトする際に、新たに基準信号Vcomを生成する必要がある。   Here, the above-described D / A converter 340 includes the D / A converter described in the first embodiment. In the pipeline A / D converter shown in FIG. 16, when the output signal range of the D / A converter is VDD to VSS, the signal range of the input signal IN must also be VDD to VSS in the arithmetic circuit 350. Therefore, even in an A / D converter that has a built-in charge pump circuit and can input an input signal in the signal range of VDD to VEE in order to eliminate the need for a DC cut capacitor for the input signal, the internal signal range is VDD to VSS. Limited to Compared with an A / D converter having a signal range of VDD to VEE, the signal range is halved, and it can be said that the signal-to-noise ratio is inferior by 6 dB by simple calculation. In addition, when the input signal from VDD to VEE is level-shifted from VDD to VSS, it is necessary to newly generate the reference signal Vcom.

そこで、上述した本実施例1に示したD/A変換器を用いることにより、チャージポンプ回路の出力信号VEEに重畳するノイズの影響を低減することができ、A/D変換器の内部信号範囲をVDD〜VEEとすることができる。これより、内部信号範囲の制限がなくなり、基準信号Vcomの生成を不要とすることができる。   Therefore, by using the D / A converter shown in the first embodiment, the influence of noise superimposed on the output signal VEE of the charge pump circuit can be reduced, and the internal signal range of the A / D converter can be reduced. Can be set to VDD to VEE. As a result, the internal signal range is not limited, and the generation of the reference signal Vcom can be made unnecessary.

図17は、本発明の実施例4に係るD/A変換器を用いた逐次比較型A/D変換器のブロック図である。本実施例4の逐次比較型A/D変換器は、逐次比較レジスタのビット列をアナログ変換して演算回路にフィードバック信号を出力するD/A変換器を備えている。つまり、演算回路410と量子化回路420と逐次比較レジスタ430とD/A変換器440とによって主に構成されている。   FIG. 17 is a block diagram of a successive approximation A / D converter using a D / A converter according to the fourth embodiment of the present invention. The successive approximation A / D converter according to the fourth embodiment includes a D / A converter that converts a bit string of a successive approximation register into an analog signal and outputs a feedback signal to an arithmetic circuit. That is, the arithmetic circuit 410, the quantization circuit 420, the successive approximation register 430, and the D / A converter 440 are mainly configured.

逐次比較A/D変換器では、所定ビット数のビット列を持つ逐次比較レジスタ430の各ビットに対して、MSB(Most Significant Bit)からLSB(Least Significant Bit)の順に“1”が設定される。逐次比較レジスタ430の1ビットに“1”が設定される毎に、量子化回路420の結果によって当該1ビットの内容が“0”又は“1”のいずれか一方に確定される。   In the successive approximation A / D converter, “1” is set in the order from MSB (Most Significant Bit) to LSB (Least Significant Bit) for each bit of the successive approximation register 430 having a bit string of a predetermined number of bits. Each time “1” is set in one bit of the successive approximation register 430, the content of the one bit is determined to be either “0” or “1” according to the result of the quantization circuit 420.

例えば、逐次比較レジスタ430のある1ビットに“1”が設定される毎に、D/A変換器440は、逐次比較レジスタ430のビット列をアナログ出力信号に変換する。そして、D/A変換器440より出力される逐次比較レジスタ430のビット列に応じたアナログ出力信号とアナログ入力信号INとの差分信号を演算回路410で演算し量子化回路420へ入力する。この結果、アナログ入力信号INがD/A変換器440からのアナログ出力信号よりも大きい場合には前記1ビットは“1”に確定され、アナログ入力信号INがアナログ出力信号よりも小さい場合には前記1ビットは“0”に確定される。   For example, every time “1” is set in one bit of the successive approximation register 430, the D / A converter 440 converts the bit string of the successive approximation register 430 into an analog output signal. Then, the difference signal between the analog output signal and the analog input signal IN corresponding to the bit string of the successive approximation register 430 output from the D / A converter 440 is calculated by the calculation circuit 410 and input to the quantization circuit 420. As a result, when the analog input signal IN is larger than the analog output signal from the D / A converter 440, the 1 bit is fixed to “1”, and when the analog input signal IN is smaller than the analog output signal. The 1 bit is fixed to “0”.

以上の動作が、逐次比較レジスタ430のビット列の全ビットを対象に行われ、当該全ビットの内容が確定されたときの逐次比較レジスタ430のビット列が、アナログ入力信号INに対応したデジタル出力信号OUTとして出力される。
ここで、上述したD/A変換器440は、上述した本実施例1で説明したD/A変換器で構成されている。図17に示した逐次比較A/D変換器におけるD/A変換器の出力信号範囲がVDD〜VSSの場合、演算回路410において入力信号INの信号範囲もVDD〜VSSとしなければならない。そのため、入力信号のDCカットコンデンサを不要とするためにチャージポンプ回路を内蔵してVDD〜VEEの信号範囲の入力信号を入力できるA/D変換器であっても、内部信号範囲はVDD〜VSSに制限される。これは、信号範囲がVDD〜VEEのA/D変換器と比較すると、信号範囲が1/2となり単純計算で信号対ノイズ比では6dB劣るといえる。また、VDD〜VEEの入力信号をVDD〜VSSにレベルシフトする際に、新たに基準信号Vcomを生成する必要がある。
The above operation is performed for all the bits of the bit string of the successive approximation register 430, and the bit string of the successive approximation register 430 when the contents of all the bits are determined is the digital output signal OUT corresponding to the analog input signal IN. Is output as
Here, the D / A converter 440 described above is configured by the D / A converter described in the first embodiment. When the output signal range of the D / A converter in the successive approximation A / D converter shown in FIG. 17 is VDD to VSS, the signal range of the input signal IN in the arithmetic circuit 410 must also be VDD to VSS. Therefore, even in an A / D converter that has a built-in charge pump circuit and can input an input signal in the signal range of VDD to VEE in order to eliminate the need for a DC cut capacitor for the input signal, the internal signal range is VDD to VSS. Limited to Compared with an A / D converter having a signal range of VDD to VEE, the signal range is halved, and it can be said that the signal-to-noise ratio is inferior by 6 dB by simple calculation. In addition, when the input signal from VDD to VEE is level-shifted from VDD to VSS, it is necessary to newly generate the reference signal Vcom.

そこで、上述した本実施例1に示したD/A変換器を用いることにより、チャージポンプ回路の出力信号VEEに重畳するノイズの影響を低減することができ、A/D変換器の内部信号範囲をVDD〜VEEとすることができる。これより、内部信号範囲の制限がなくなり、基準信号Vcomの生成を不要とすることができる。
また、本発明の技術的範囲は、図面及び上述した各実施例に限定されるものではなく、本発明が目的とするものと均等な効果をもたらすすべての実施例をも含んでいる。さらに、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲による発明の特徴の組み合わせに限定されるものではなく、すべての開示されたそれぞれの特徴のうち特定の特徴のあらゆる所望する組み合わせも含むものである。
Therefore, by using the D / A converter shown in the first embodiment, the influence of noise superimposed on the output signal VEE of the charge pump circuit can be reduced, and the internal signal range of the A / D converter can be reduced. Can be set to VDD to VEE. As a result, the internal signal range is not limited, and the generation of the reference signal Vcom can be made unnecessary.
Further, the technical scope of the present invention is not limited to the drawings and the above-described embodiments, but includes all the embodiments that bring about effects equivalent to those intended by the present invention. Further, the technical scope of the present invention is not limited to the combinations of features of the invention according to the claims, but includes any desired combination of specific features among all the disclosed features.

本発明は、チャージポンプ回路の出力電圧のノイズの影響を低減することができるD/A変換器及びそのD/A変換器を用いたA/D変換器に関するもので、D/A変換器やA/D変換器の他に、D/A変換やA/D変換器の機能を持った電子機器全般に利用することができる。   The present invention relates to a D / A converter capable of reducing the influence of noise in the output voltage of a charge pump circuit and an A / D converter using the D / A converter. In addition to the A / D converter, the present invention can be used for all electronic devices having the functions of D / A conversion and A / D converter.

111_1,111_2,112,111p_1,111n_1,111p_2,111n_2,112p,112n キャパシタ
121 演算増幅器
140,240,340,440 D/A変換器
141 スムージングフィルタ回路(SMF)
101_1,102_1,101_2,102_2,151p_1,152p_1,153p_1,154p_1,155p_1,151n_1,152n_1,153n_1,154n_1,155n_1,151p_2,152p_2,153p_2,154p_2,155p_2,151n_2,152n_2,153n_2,154n_2,155n_2 スイッチ
159 制御回路
150a コンテニアス部
150b サンプル・ホールド部
150c デジタル部
150,160 サンプリング回路
200 ΔΣA/D変換器
210,350,410 演算回路
220 フィルタ回路
230,420 量子化回路
300 パイプラインA/D変換器
310 残差演算ステージ
320 デジタル回路
330 サブA/D変換器
360 残差演算増幅器
400 逐次比較A/D変換器
430 逐次比較レジスタ
1501 演算増幅器
111_1, 111_2, 112, 111p_1, 111n_1, 111p_2, 111n_2, 112p, 112n capacitor 121 operational amplifier 140, 240, 340, 440 D / A converter 141 smoothing filter circuit (SMF)
101_1, 102_1, 101_2, 102_2, 151p_1, 152p_1, 153p_1, 154p_1, 155p_1, 151n_1, 152n_1, 153n_1, 154n_1, 155n_1, 151p_2, 152p_2, 153p_2, 154p_2, 155p_2, 151n_2, 152n_2, 15n_2 Circuit 150a Continuous section 150b Sample and hold section 150c Digital section 150,160 Sampling circuit 200 ΔΣ A / D converter 210, 350, 410 Operation circuit 220 Filter circuit 230, 420 Quantization circuit 300 Pipeline A / D converter 310 Residual Operation stage 320 Digital circuit 330 Sub A / D converter 360 Residual operation increase Vessel 400 successive approximation A / D converter 430 successive approximation register 1501 operational amplifier

Claims (5)

デジタル信号を入力するデジタル部と、該デジタル部によって入力されたデジタル信号に基づく入力信号をサンプリングし、サンプリングされた前記入力信号を保持して転送するサンプル・ホールド部と、該サンプル・ホールド部によって転送された信号をアナログ信号として出力するコンテニアス部とを備えたサンプリング回路と、
前記コンテニアス部に対しては、第1クロック信号を供給し、前記サンプル・ホールド部に対しては、動作タイミングが互いに異なる複数の第2クロック信号を供給するクロック信号供給部とを備え、
前記サンプル・ホールド部の第1の参照信号に電源電圧を印加し、第2の参照信号にチャージポンプ回路で生成した負電源電圧を印加することを特徴とするD/A変換器。
A digital unit for inputting a digital signal; a sample-and-hold unit for sampling an input signal based on the digital signal input by the digital unit; and holding and transferring the sampled input signal; and the sample-and-hold unit A sampling circuit including a continuous unit that outputs the transferred signal as an analog signal;
A clock signal supply unit that supplies a first clock signal to the continuous unit, and a plurality of second clock signals having different operation timings to the sample and hold unit;
A D / A converter, wherein a power supply voltage is applied to a first reference signal of the sample and hold unit, and a negative power supply voltage generated by a charge pump circuit is applied to a second reference signal.
前記サンプル・ホールド部が、前記入力信号によって生じる電荷を蓄積する複数のキャパシタと、当該複数のキャパシタにそれぞれ蓄積された電荷を、前記コンテニアス部に転送する複数のスイッチング素子と、を含み、前記クロック信号供給部は、前記複数のスイッチング素子に対し、動作タイミングが互いに異なる複数の前記第2クロック信号を供給し、前記複数のスイッチング素子は、それぞれ供給された前記第2クロック信号にしたがってオン、オフ動作をすることを特徴とする請求項1に記載のD/A変換器。   The sample-and-hold unit includes a plurality of capacitors that store charges generated by the input signal, and a plurality of switching elements that transfer the charges stored in the plurality of capacitors to the continuous unit, respectively, and the clock The signal supply unit supplies the plurality of second clock signals having different operation timings to the plurality of switching elements, and the plurality of switching elements are turned on and off in accordance with the supplied second clock signals. The D / A converter according to claim 1, wherein the D / A converter operates. 量子化回路から出力された出力信号をアナログ変換して演算回路にフィードバック信号を出力する請求項1又は2に記載のD/A変換器を備えていることを特徴とするΔΣ型A/D変換器。   3. A delta-sigma A / D converter comprising the D / A converter according to claim 1, wherein the output signal output from the quantization circuit is converted into an analog signal and a feedback signal is output to the arithmetic circuit. vessel. 複数段カスケード接続された残差演算ステージにおいて、サブA/D変換器により変換されたデジタル信号を再びアナログ信号に変換する請求項1又は2に記載のD/A変換器を備えていることを特徴とするパイプライン型A/D変換器。   3. The D / A converter according to claim 1, wherein the digital signal converted by the sub-A / D converter is converted again into an analog signal in a residual calculation stage cascaded in a plurality of stages. A pipeline type A / D converter that is characterized. 逐次比較レジスタのビット列をアナログ変換して演算回路にフィードバック信号を出力する請求項1又は2に記載のD/A変換器を備えていることを特徴とする逐次比較型A/D変換器。   3. A successive approximation A / D converter comprising the D / A converter according to claim 1, wherein the D / A converter according to claim 1 outputs a feedback signal to an arithmetic circuit by converting a bit string of the successive approximation register into an analog circuit.
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