JP2014041055A - ガス検出装置及びガス検出方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】特定のガス濃度の検出精度をより高めることができるガス検出装置及びガス検出方法を提供すること。
【解決手段】高温期間及び低温期間のうち、それぞれの期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の各対象期間において、各対象期間よりも短い所定の時間間隔で3個以上の端子間電圧の取得をそれぞれ行う。そして、高温期間の対象期間に取得された3個以上の端子間電圧に対して、最大値及び最小値を除いた回数の端子間電圧の平均値を求め、その平均値を、水素ガスの濃度の算出に用いる。同様に、低温期間の対象期間に取得された3個以上の端子間電圧を用い、その最大値及び最小値を除いた回数の端子間電圧の平均値を求め、その平均値を、水素ガスの濃度の算出に用いる。
【選択図】図1

Description

本発明は、可燃性ガスの濃度測定や漏えい検知などに用いられるガス検出装置及びガス検出方法に関する。
近年、環境保護や自然保護などの社会的要求から、高い効率を有し、かつ、環境への負荷が少ないエネルギー源として、燃料電池の研究が活発に行われている。燃料電池の中で、固体高分子型燃料電池(PEFC)が、作動温度が低く出力密度が高いなどの利点により、家庭用のエネルギー源、または、車載用のエネルギー源として着目されている。この固体高分子型燃料電池は、他の燃料と比較して漏れが発生しやすい水素を燃料として用いている。そのため、固体高分子型燃料電池を実用化するためには、水素漏れを検知するガス検知器が必要になると考えられている。
また、固体高分子型燃料電池と同様に、水素を燃料とした環境への負荷が少ないエネルギー源として、水素内燃機関の研究も活発に行われている。水素内燃機関についても、実用化するためには、水素漏れを検知するガス検知器が必要になると考えられている。
これまでは、被検出雰囲気の熱伝導率を利用して、被検出雰囲気に含まれる特定の可燃性ガスの濃度を検出するガス検出装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。このガス検出装置では、ガス検出装置の発熱抵抗体に供給される電流の値を、少なくとも3段階以上にステップ状に変化させ、それぞれの電流の値を規定の時間連続して保持している。そして、それぞれの電流値に対する発熱抵抗体の端子間電圧を規定の時間が経過した後に測定することにより、測定値から被検出雰囲気に含まれる特定の可燃性ガスの濃度を検出している。
特許第4165300号公報
上述のガス検出装置により特定の可燃性ガス濃度の検出精度を高めるためには、発熱抵抗体の端子間電圧を安定して取得する必要がある。しかしながら、発熱抵抗体に供給される電流値をステップ状に変化させると、その後しばらく、発熱抵抗体の端子間電圧は、特定の可燃性ガス濃度とは無関係に、その値が大きく変動して不安定となる。その結果、特定の可燃性ガス濃度の検出精度を高めることは困難である。
また、発熱抵抗体の端子間電圧の測定中に、ノイズが発生した場合にも、その端子間電圧は、特定の可燃性ガス濃度とは無関係に大きく変動するので、可燃性ガス濃度の検出精度が低下するという問題があった。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、特定のガス濃度の検出精度をより高めることができるガス検出装置及びガス検出方法を提供することを目的とする。
(1)本発明(ガス検出装置)は、第1態様として、被検出雰囲気内に配置されて、自身の温度変化により抵抗値が変化する発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体への通電状態を所定の周期で切り替える制御を行うことにより、前記発熱抵抗体の温度を、予め設定された高温側と低温側との2つの異なる温度に交互に切り替える通電制御部と、前記高温側に制御された高温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧と、前記低温側に制御された低温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧と、を用いて、前記被検出雰囲気に含まれる可燃性ガスの濃度を演算により求める演算部と、を備えたガス検出装置であって、前記演算部は、前記高温期間及び前記低温期間のうち、それぞれの期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の各対象期間において、該各対象期間よりも短い所定の時間間隔で3個以上の前記端子間電圧の取得をそれぞれ行い、更に、前記高温期間の対象期間に取得された端子間電圧及び前記低温期間の対象期間に取得された端子間電圧のそれぞれに対して、最大値及び最小値を除いて各対象期間における端子間電圧の平均値を求め、該各対象期間における前記平均値を、前記可燃性ガスの濃度の算出に用いることを特徴とする。
本第1態様では、高温期間及び低温期間のうち、それぞれの期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の各対象期間において、各対象期間よりも短い所定の時間間隔で3個以上の端子間電圧の取得をそれぞれ行う。
そして、高温期間の対象期間に取得された端子間電圧を用い、その最大値及び最小値を除いて端子間電圧の平均値(例えば高温時電圧平均値VHav)を求め、その平均値を可燃性ガスの濃度の算出に用いる。例えば、高温期間の対象期間における端子間電圧として設定する。
同様に、低温期間の対象期間に取得された3個以上の端子間電圧を用い、その最大値及び最小値を除いて端子間電圧の平均値(例えば低温時電圧平均値VLav)を求め、その平均値を可燃性ガスの濃度の算出に用いる。例えば、低温期間の対象期間における端子間電圧として設定する。
つまり、本実施形態では、可燃性ガスの濃度の算出に用いる際には(例えば、高温期間の対象期間及び低温期間の対象期間における端子間電圧として)、3個以上取得した端子間電圧の平均値を用いるが、その際には、取得した端子間電圧のうち、その最大値及び最小値を除いた残りの端子間電圧の平均値を用いる。これは、取得した端子間電圧のうち、最大値や最小値のものには、ノイズの影響が含まれる可能性が大きいと考えられるからである。
これによって、本実施形態では、(前記対象期間に端子間電圧を取得することにより)高温側又は低温側への制御の切り替えに伴う端子間電圧の変動の影響を低減できるとともに、(最大値と最小値を除いた平均値を用いることにより)ノイズの影響も低減することができるので、特定の可燃性ガス濃度の検出精度を高めることができるという顕著な効果を奏する。
(2)本発明では、第2態様として、前記高温期間の前記対象期間及び前記低温期間の前記対象期間に、それぞれ4個以上端子間電圧を取得することを特徴とする。
本第2態様では、4個以上の端子間電圧を取得するので、取得した複数の値から最大値及び最小値を除外した場合でも、端子間電圧の平均値を算出することができる。
(3)本発明では、第3態様として、前記被検出雰囲気の温度である環境温度の変化により抵抗値が変化する測温抵抗体を備え、前記演算部は、前記可燃性ガスの濃度の算出の際には、更に、前記測温抵抗体の抵抗値から求められる前記環境温度を加味して、前記可燃性ガスの濃度の算出を行うガス検出装置であって、前記可燃性ガスの濃度の算出に際しては、前記高温期間の前記待ち時間及び前記低温期間の前記待ち時間のうち、少なくとも一方の待ち時間に、前記測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧を3個以上取得して、それらの電圧の最大値及び最小値を除いた平均値を求めるとともに、該電圧の平均値を、前記可燃性ガスの濃度の算出に用いる前記測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧として設定することを特徴とする。
本第3態様では、高温期間の待ち時間や低温期間の待ち時間に、測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧を3個以上取得し、それらの電圧の最大値及び最小値を除いた平均値を求め、その平均値を、可燃性ガスの濃度の算出に用いる。
これにより、(測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧における)ノイズの影響を低減できる。また、上述した(発熱抵抗体の端子間電圧を取得する)対象期間とは異なる待ち時間に電圧の取得を行うので、演算の負担が過度に集中せず、よって、必要な演算を速やかに行うことができる利点がある。
(4)本発明(ガス検出方法)は、第4態様として、被検出雰囲気内に配置されて、自身の温度変化により抵抗値が変化する発熱抵抗体を備えたガス検出装置を用いて、前記発熱抵抗体への通電状態を所定の周期で切り替える制御を行うことにより、前記発熱抵抗体の温度を、予め設定された高温側と低温側との2つの異なる温度に交互に切り替えるとともに、前記高温側に制御された高温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧と、前記低温側に制御された低温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧と、を用いて、前記被検出雰囲気に含まれる可燃性ガスの濃度を演算により求めるガス検出方法であって、前記高温期間及び前記低温期間のうち、それぞれの期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の各対象期間において、該各対象期間よりも短い所定の時間間隔で3個以上の前記端子間電圧の取得をそれぞれ行い、更に、前記高温期間の対象期間に取得された端子間電圧及び前記低温期間の対象期間に取得された端子間電圧のそれぞれに対して、最大値及び最小値を除いて各対象期間における端子間電圧の平均値を求め、該各対象期間における前記平均値を、前記可燃性ガスの濃度の算出に用いることを特徴とする。
本第4態様は、前記第1態様と同様な効果を奏する。
(5)本発明では、第5態様として、前記高温期間の前記対象期間及び前記低温期間の前記対象期間に、それぞれ4個以上端子間電圧を取得することを特徴とする。
本第5態様は、前記第2態様と同様な効果を奏する。
(6)本発明では、第6態様として、前記可燃性ガスの濃度の算出の際には、更に、前記被検出雰囲気の温度である環境温度の変化により抵抗値が変化する測温抵抗体の抵抗値から求められる前記環境温度を加味して、前記可燃性ガスの濃度の算出を行うガス検出方法であって、前記可燃性ガスの濃度の算出に際しては、前記高温期間の前記待ち時間及び前記低温期間の前記待ち時間のうち、少なくとも一方の待ち時間に、前記測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧を3個以上取得して、それらの電圧の最大値及び最小値を除いた平均値を求めるとともに、該電圧の平均値を、前記可燃性ガスの濃度の算出に用いる前記測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧として設定することを特徴とする。
本第6態様は、前記第3態様と同様な効果を奏する。
本発明の実施形態に係る可燃性ガス検出装置の全体構成を示す説明図である。 (a)は可燃性ガス検出装置のガス検出素子の構成を示す平面図、(b)は(a)のA−A断面を示す説明図である。 (a)は発熱抵抗体の端子間電圧の時間変化を示すグラフ、(b)は発熱抵抗体の温度の時間変化を説明するグラフである。 発熱抵抗体の端子間電圧の高温期間及び低温期間における変化を示すとともに、データを取得するタイミングを示す説明図である。 演算部における演算データ取得処理の一部を説明するフローチャートである。 演算部における演算データ取得処理の一部を説明するフローチャートである。 演算部におけるガス濃度演算処理を説明するフローチャートである。 (a)は乗数倍なしの場合のΔVH(H)と湿度との関係を示すグラフ、(b)は乗数倍ありの場合のΔVH(H)と湿度との関係を示すグラフである。
以下、本発明のガス検出装置及びガス検出方法の実施形態を説明する。
ここでは、可燃性ガスとして水素ガスの濃度を検知する可燃性ガス検出装置(以下単にガス検出装置と記す)及び可燃性ガス検出方法(以下単にガス検出方法と記す)を例に挙げて説明する。
[実施形態]
本実施形態のガス検出装置は、被検出雰囲気に含まれる可燃性ガスである水素ガスの濃度を検出する熱伝導式のガス検出装置である。また、本実施形態のガス検出方法は、そのガス検出装置を用いて水素ガスの濃度を検出する方法である。これらは、例えば燃料電池自動車の客室内に設置され、水素の漏れを検出する目的等に用いられる。
a)まず、本実施形態のガス検出装置の構成について説明する。
図1に示すように、本実施形態のガス検出装置1は、主として、水素ガス濃度を検出するガス検出素子3と、ガス検出素子3の動作を制御する制御部5と、ガス検出素子3の出力信号に基づいて水素ガス濃度を算出する演算部7と、制御部5及び演算部7に電力を供給する直流電源9とを備えている。
以下、各構成について説明する。
・図2に示すように、ガス検出素子3は、主として、平板状に形成された基部11と、基部11の表面(図2(b)上方)に配置された複数の電極13、15、17、19等とを備えるとともに、基部11の裏面(図2(b)下方)に凹部21が形成された素子であり、この凹部21が形成された裏面が被検出雰囲気に晒された状態で配置される。
このうち、基部11は、ガス検出素子3の本体を構成する、例えば縦横ともに数mm程度の大きさに形成された矩形状の板部材であり、シリコン基板23と、シリコン基板23の表面に形成された絶縁層25とから構成されている。
シリコン基板23の裏面の中央には、平面視においてシリコン基板23をほぼ正方形に除去した凹部21が形成されており、凹部21の底部では絶縁層25が露出している。これにより、基部11には、絶縁層25を薄膜とするダイヤフラム構造が形成されている。
絶縁層25における凹部21に対応する領域、即ち、凹部21の底面を構成する領域には、線状の発熱抵抗体27が渦巻き状に埋設されている。また、絶縁層25における3辺側(図1(a)の上辺、左辺、右辺)には、被検出雰囲気の温度を測定する一体の測温抵抗体29が、平面視でコ字状に埋設されている。
このように、凹部21を形成して、発熱抵抗体27が設けられる絶縁層25の下方を空間とすることにより、発熱抵抗体27が周囲と熱的に絶縁され、昇温、降温を短時間で行うことができ、発熱抵抗体27の消費電力を低減することができる。
なお、絶縁層25は、単一の材料で形成されていてもよいし、異なる材料を用いて複数層を成すように形成されていてもよい。また、絶縁層25を構成する絶縁性材料としては、例えば、酸化ケイ素(SiO2)や窒化珪素(Si34)を挙げることができる。
発熱抵抗体27は、自身の温度変化により抵抗値が変化する材料であって、温度抵抗係数が大きな導電性材料から形成されたものである。一方、測温抵抗体29は、電気抵抗が温度に比例して変化する導電性材料から形成されたものであり、本実施形態では、温度の上昇に伴って抵抗値が増大する導電性材料から形成されている。なお、発熱抵抗体27及び測温抵抗体27は、同じ材料から形成されていてもよく、本実施形態では、発熱抵抗体27及び測温抵抗体29は、白金(Pt)から形成されている。
測温抵抗体29は、上述の抵抗値の変化に基づく電位差が増幅されて後述する温度検出信号VTとして出力されるものである。本実施形態では、測温抵抗体29から出力される温度検出信号VTは、ガス検出素子3が晒される被検出雰囲気の温度が予め設定された基準温度の時に、所定の電位差である基準値となる。
電極13〜19は、基部11の表面のうち、測温抵抗体29が形成されていない1辺側(図2(a)の下辺)の近傍に形成された電極であり、例えばアルミニウム(Al)又は金(Au)を用いて形成されたものである。この電極13〜19のうち、中央側の2つが発熱抵抗体用の測定電極(第1電極13)及び発熱抵抗体用の接地電極(第1接地電極15)であり、その外側の2つが測温抵抗体用の測定電極(第2電極17)及び測温抵抗体用の接地電極(第2接地電極19)である。
なお、第1電極13は後述する通電制御回路31(図1参照)の接続点P+に接続され、第2電極17は後述する温度調整回路33(図1参照)の接続点P−に接続されている。第1接地電極15及び第2接地電極19は制御部5と共通のグランドラインに接続されている。
また、基部11、より詳細には絶縁層25の内部には、配線35及び配線膜37、39が設けられている。配線35及び配線膜37、39は、発熱抵抗体27と、第1電極13及び第1接地電極15とを電気的に接続するものである。基部11の表面の第1電極13及び第1接地電極15と、絶縁層25の内部の配線膜37、39とは、導電性を有するコンタクトホールによって電気的に接続されている。言い換えると、発熱抵抗体27は、一端において第1電極13と導通可能に接続され、他端において第1接地電極15と導通可能に接続されている。
更に、絶縁層25の内部には、測温抵抗体29と、第2電極17及び第2接地電極19とを電気的に接続する配線膜41、43も設けられている。言い換えると、測温抵抗体29は、一端において第2電極17と導通可能に接続され、他端において第2接地電極19と導通可能に接続されている。なお、配線35及び配線膜37、39、41、43を構成する材料としては、発熱抵抗体27及び測温抵抗体29を構成する材料と同じ材料を用いることができる。
なお、基部11に対して、複数の電極13〜19や凹部21などを形成する技術としては、例えばシリコン基板に対して行われるマイクロマシニング技術(マイクロマシニング加工)などを例示することができる。
・前記図1に戻り、制御部5は、発熱抵抗体27への通電制御を行うと共に発熱抵抗体27の両端電圧(端子間電圧)に対応する検出信号V1を出力する通電制御回路(通電制御部)31と、測温抵抗体29への通電を行うと共に被検出雰囲気の温度に係る温度検出信号VT(温度電圧VTとも表記する)を出力する温度調整回路33とを備えている。
通電制御回路31(通電制御部)は、発熱抵抗体27の温度を一定温度に保つ回路である。通電制御回路31には、発熱抵抗体27を含むホイートストンブリッジ回路であるブリッジ回路45と、ブリッジ回路45で検出される電位差を増幅する増幅回路47と、増幅回路47の出力に従ってブリッジ回路45に流れる電流を増減調整する電流調整回路49とを備えている。
ブリッジ回路45は、発熱抵抗体27と、2つの第1ブリッジ固定抵抗51及び第2ブリッジ固定抵抗53と、抵抗値を切替可能な可変抵抗部55を備えている。第1ブリッジ固定抵抗51は発熱抵抗体27と直列接続されるものであり、第1ブリッジ固定抵抗51の発熱抵抗体27側の端部PGは接地され、第2ブリッジ固定抵抗53側の端部は電源側である電流調整回路49に接続されている。また、第2ブリッジ固定抵抗53は可変抵抗部55と直列接続されるものであり、第2ブリッジ固定抵抗53の可変抵抗部55側の端部PGは接地され、第1ブリッジ固定抵抗51側の端部は電源側である電流調整回路49に接続されている。
第1ブリッジ固定抵抗51と発熱抵抗体27との接続点P+は、第1固定抵抗57を介して演算増幅器59の非反転入力端子に接続されている。接続点P+の電位は、検出信号V1として演算部7に供給されている。また、第2ブリッジ固定抵抗53と可変抵抗部55との接続点P−は、第2固定抵抗61を介して演算増幅器59の反転入力端子に接続されている。
可変抵抗部55は、抵抗値を切り替えることで、ブリッジ回路45のバランスを変化させるものである。可変抵抗部55には、抵抗値の異なる2個の第1固定抵抗63及び第2固定抵抗65と、第1固定抵抗63及び第2固定抵抗65のいずれか一方を有効に動作させる切替スイッチ67とが設けられている。切替スイッチ67は、演算部7から出力された切替信号CG1に従って切り替え動作を行うものである。
なお、第1固定抵抗63は、発熱抵抗体27が高温側の第1設定温度CH(例えば400℃)となる抵抗値を有するものである。また、第2固定抵抗65は、発熱抵抗体27が第1設定温度CHより低く設定された低温側の第2設定温度CL(例えば300℃)となる抵抗値を有するものである。
増幅回路47は、差動増幅回路であって、演算増幅器59と、演算増幅器59の反転入力端子及び非反転入力端子のそれぞれに接続された第1固定抵抗57及び第2固定抵抗61と、演算増幅器59の反転入力端子と出力端子との間に並列接続された第3固定抵抗69及びコンデンサ71とによって構成された周知の回路である。
増幅回路47は、非反転入力端子の入力電圧が反転入力端子の入力電圧より大きい場合には、出力である調整信号Cの値が大きくなる。その結果、ブリッジ回路45に流れる電流が減少する。逆に、非反転入力端子の入力電圧が反転入力端子の入力電圧より小さい場合には、調整信号Cの値が小さくなる。その結果、ブリッジ回路45に流れる電流が増大する。
電流調整回路49のスイッチング回路73は、ブリッジ回路45に直流電源Vccを供給する電源ラインと電流調整回路49の通電状態を変化させる制御ラインCL1とに接続され、演算部7からの作動許可信号S1に従ってオン,オフ動作するトランジスタからなり、このトランジスタがオンしている所定期間、起動信号S11を制御ラインCL1に出力するように構成されている。なお、トランジスタがオンする所定期間は、後述する調整信号Cの出力を妨げないように予め設定されている。
電流調整回路49の電流調整回路75は、前記電源ラインとブリッジ回路45とに接続され、制御ラインCL1を流れる信号に従って通電状態(オン抵抗)が変化するトランジスタからなる。具体的には、スイッチング回路73の出力である起動信号S11に従って、ブリッジ回路45へ電流供給を開始する。そして、ブリッジ回路45への電流供給が開始されると、増幅回路47の出力である調整信号Cに従って、調整信号Cが大きいほど、オン抵抗が大きくなって、ブリッジ回路45に流れる電流が減少し、逆に、調整信号が小さいほど、オン抵抗が小さくなって、ブリッジ回路45に流れる電流が増大するように構成されている。
上述の構成を有する通電制御回路31では、直流電源9からブリッジ回路45への通電が開始されると、増幅回路47及び電流調整回路49は、接続点P+と接続点P−との間に生じる電位差がゼロになるようにブリッジ回路45に流れる電流を調整する。これにより、発熱抵抗体27の抵抗値、言い換えると発熱抵抗体17の温度が、可変抵抗部55によって決まる一定値、即ち、第1設定温度CH又は第2設定温度CLに制御される。
具体的には、被検出雰囲気中の可燃性ガスの含有量が変化することにより、発熱抵抗体27から可燃性ガスに奪われる熱量が、発熱抵抗体27において発生する熱量より大きくなった場合には、発熱抵抗体27の温度が低下して、発熱抵抗体27の抵抗値が減少する。逆に、発熱抵抗体27から可燃性ガスに奪われる熱量が、発熱抵抗体27において発生する熱量より小さくなった場合には、発熱抵抗体27の温度が上昇して、発熱抵抗体27の抵抗値が増大する。
上述のように発熱抵抗体27の抵抗値が減少すると、増幅回路47及び電流調整回路49は、ブリッジ回路45に流れる電流、言い換えると、発熱抵抗体27において発生する熱量を増大させる。逆に、発熱抵抗体27の抵抗値が増大すると、ブリッジ回路45に流れる電流、言い換えると、発熱抵抗体27において発生する熱量を減少させる。このようにして、増幅回路47及び電流調整回路49は、発熱抵抗体27の抵抗値、言い換えると発熱抵抗体27の温度を一定の値に保つ。
そして、接続点P+の電位を表す検出信号V1を測定することにより、発熱抵抗体27に流れる電流の大きさ、即ち、発熱抵抗体27の温度、言い換えると抵抗値を一定に保つために必要な熱量が判る。つまり、発熱抵抗体27から可燃性ガスへ奪われる熱量が判り、奪われる熱量は水素ガスの濃度に依存するため、検出信号V1を測定することにより、可燃性ガスの水素ガス濃度が判る。
また、温度調整回路33には、測温抵抗体29を含むホイートストンブリッジであるブリッジ回路81と、ブリッジ回路81から得られる電位差を増幅する増幅回路83とが設けられている。
ブリッジ回路81は、測温抵抗体29と、3個の第1ブリッジ固定抵抗85、第2ブリッジ固定抵抗87、第3ブリッジ固定抵抗89からなる回路である。第1ブリッジ固定抵抗85は測温抵抗体29と直列接続されるものであり、第1ブリッジ固定抵抗85の測温抵抗体29側の端部は接地され、第2ブリッジ固定抵抗87側の端部は電源に接続されている。また、第2ブリッジ固定抵抗87は第3ブリッジ固定抵抗89に直列接続されるものであり、第2ブリッジ固定抵抗87の第3ブリッジ固定抵抗89側の端部は接地され、第1ブリッジ固定抵抗85側の端部は電源に接続されている。
第1ブリッジ固定抵抗85と測温抵抗体29との接続点P−は、第2温調抵抗93を介して演算増幅器95の反転入力端子に接続されている。第2ブリッジ固定抵抗87と第3ブリッジ固定抵抗89との接続点P+は、第1温調固定抵抗91を介して演算増幅器95の非反転入力端子に接続されている。また、演算増幅器95の出力は、温度検出信号VTとして演算部7に供給されている。
増幅回路83は、差動増幅回路であって、演算増幅器95と、演算増幅器95の反転入力端子及び非反転入力端子のそれぞれに接続された第1温調固定抵抗91及び第2温調抵抗93と、演算増幅器95の反転入力端子と出力端子との間に並列接続された第3固定抵抗97と、コンデンサ99によって構成された周知の回路である。
演算部7は、いわゆるマイコンであり、この演算部7には、ガス濃度演算処理などの各種の演算処理を実行する中央演算装置(CPU)や、CPUで各種の演算処理を実行させる各種のプログラムやデータなどを格納するROMやRAMなどの記憶部や、各種信号を入出力するためのIOポートや、計時用タイマー等が設けられている(図示せず)。
そして、演算部7では、後述するように、温度調整回路33から出力される温度検出信号VTと、通電制御回路31から出力される検出信号V1(詳しくは、高温側の端子間電圧である高温時電圧VH及び低温側の端子間電圧である低温時電圧VL)に基づいて、水素ガス濃度を演算する。この演算部7は、直流電源9から給電が開始されて起動し、起動後、各部を初期化してガス濃度演算処理を開始する。
また、演算部7の記憶部には、温度換算データと、湿度換算データと、濃度換算データとが少なくとも記憶されている。温度換算データは、被検出雰囲気の環境温度Tと上述の温度検出信号VTでもある温度電圧VTとの相関関係を表すものである。湿度換算データは、被検出雰囲気内の湿度Hと、高温時電圧VHと、低温時電圧VLと、温度電圧VTとの相関関係を表すものである。濃度換算データは、高温時電圧VHまたは低温時電圧VLと、可燃性ガスのガス濃度Xとの相関関係を表すものである。なお、各換算データは、換算用マップデータや換算用計算式等からなるものであり、実験等により得られたデータに基づいて予め作成されたものである。
上述の湿度換算データには、環境温度T(ひいては温度電圧VT)と後述する電圧比VC(0)との相関関係を表す電圧比換算用マップデータ、および、後述する電圧比差ΔVCと湿度Hとの相関関係を表す湿度換算用マップデータが含まれている。
上述の濃度換算データには、温度電圧VTと後述する高温時電圧VH(0)との相関関係を表す高温時電圧換算用マップデータ、高温時電圧VH及び湿度Hと後述する高温時電圧変化ΔVH(H)との相関関係を表す湿度電圧変化換算用マップデータ、および、温度電圧VT及び高温時電圧VHと後述するガス感度G(VT)との相関関係を表すガス感度換算用マップデータが含まれている。
b)次に、本実施形態のガス検出装置1による水素ガス濃度の検出方法の要部について説明する。
本実施形態では、後に詳述する様に、演算部7にて、温度調整回路33から得られる温度電圧VTと、被測定雰囲気中に存在する水素ガスの熱伝導率変化にともなって変化する発熱抵抗体27の端子間電圧に対応して通電制御回路31から出力される検出信号V1(詳しくは高温時電圧VH及び低温時電圧VL)との関係に基づいて湿度Hを演算する。
そして、この演算によって求めた湿度Hと、温度調整回路33から得られる温度電圧VTと、通電制御回路31から出力される検出信号V1(即ち高温時電圧VH及び低温時電圧VL)とを用いて、水素ガス濃度を算出する。
従って、ここでは、本実施形態におけるガス検出方法の要部である(水素ガス濃度の演算に用いる)高温時電圧VHと低温時電圧VLとの設定方法について説明する。
水素ガス濃度を検出する際には、ガス検出装置1の演算部7では、図3(a)、(b)に示すように、一定の周期時間tの間(以下「低温期間t」と記す)発熱抵抗体27の設定温度を低温側の第2設定温度CLに保持する制御の処理と、一定の周期時間tの間(以下「高温期間t」と記す)高温側の第1設定温度CHに保持する制御の処理と、を交互に繰り返し行う。
具体的には、演算部7が切替信号CG1を出力することにより、低温期間tの間、ブリッジ回路45の抵抗値、即ち、発熱抵抗体27の端子間電圧を低温時電圧VLに保持する制御の処理と、高温期間tの間、発熱抵抗体27の端子間電圧を高温時電圧VHに保持する制御と、を交互に繰り返し行う。
ここでは、低温期間t及び高温期間tが同一周期、すなわち、同じ200msである例に適応して説明する。なお、低温期間t及び高温期間tの1サイクルである2tの長さは、長くても5秒以下であることが望ましい。1サイクルの長さが長くなると、環境変化に対する出力の追従性、言い換えると出力の精度が悪くなるためである。
特に本実施形態では、図4に示すように、高温期間t及び低温期間tのうち、それぞれの期間tへの切り替え開始から所定の時間、詳しくは、各期間tの前半期間t/2である0〜100msの期間は、電圧の変動が大きく安定しないので、各期間tの前半期間t/2は、高温時電圧VH及び低温時電圧VLの取得を行わない。
そして、高温期間t及び低温期間tのうち、(前半期間t/2に続く)後半期間t/2である100〜200msの期間は、電圧が安定しているので、その後半期間t/2に、高温時電圧VH及び低温時電圧VLの取得を複数回行う。つまり、後半期間t/2において、例えば10msの間隔で10個のデータを取得する。
更に、この後半期間t/2において、高温時電圧VH及び低温時電圧VLを取得する際には、ノイズの影響を受けて高温時電圧VH及び低温時電圧VLが変動することがあるので、上述のように複数回(ここでは各10回)取得したデータのうち、最大値と最小値を除いた複数回(ここでは8個)のデータの平均値を、それぞれ高温時電圧平均値VHav及び低温時電圧平均値VLavとする。
そして、この様にして求めた高温時電圧平均値VHav及び低温時電圧平均値VLavを用いて、後述する演算によって、水素ガス濃度の検出を行う。
なお、本実施形態では、温度の切り替え過渡期の長さが、低温期間tや高温期間tの1/2である例に適用して説明したが、1/2よりも長い所定の期間であってもよいし、1/2よりも短い所定の期間であってもよい。
また、本実施形態では、温度電圧VTを求める際にも、高温時電圧平均値VHav及び低温時電圧平均値VLavを求める際と同様の平均化処理を行ってもよい。
例えば、低温期間tの前半期間t/2において、複数回(例えば10回)温度電圧VTのデータを取得し、このうち、最大値と最小値を除いた複数回(ここでは8個)のデータの平均値を、温度電圧平均値VTavとしてもよい。
c)次に、水素ガス濃度を検出するために演算部7にて行われる制御処理について説明する。
この演算部7では、図5及び図6のフローチャートに関する制御処理(演算データ取得処理)と、図7のフローチャートに関する制御処理(ガス濃度演算処理)と、を同時進行で行う。ここでは、図5及び図6の演算データ取得処理について先に説明した後、図7のガス濃度演算処理を説明する。
なお、ガス濃度Xを求める演算では、低温時電圧VL又は高温時電圧VHから濃度換算データを用いてガス濃度Xを求め、さらには、温度電圧VTから温度換算データを用いて環境温度Tを求め、演算結果であるガス濃度Xを、同じく演算結果である環境温度Tだけを用いて補正する方法もあるが、ここでは、環境温度Tに加えて湿度Hを用いてガス濃度Xを求めるものとする。
<演算データ取得処理>
この演算データ取得処理とは、水素ガス濃度を算出する際に必要な各種のデータを取得するための処理である。
図5に示すように、制御処理が開始されると、発熱抵抗体27の温度を高温に保持する制御を行うとともに、測温抵抗体29に通電を開始する制御を実行する(S100)。 なお、制御処理開始時には、後述するカウンタNが0の値にセットされるが、このカウンタNは、10msごとにカウントアップされるので、カウンタNの値によって通電開始からの経過時間を判定することができる。例えば、カウンタNの値が10の場合には、通電開始から前半期間t/2の終了(即ち後半期間t/2の開始)のタイミングを示し、カウンタ値の値が11の場合には、例えば高温時電圧VHの取得の開始のタイミングを示している。
次に、直前の処理(ここではS100の処理)が開始されてから10msを経過したか否かの判定を行う(S110)。ここで、10msを経過していない場合(NOの場合)にはS110の判定を繰り返し行う。一方、10msを経過したと判定された場合(YESの場合)には、カウンタNの数を1つ増やすカウントアップの処理を行う(S120)。
次に、カウンタNの値が11以上であるか否か(即ち高温時電圧VHの取得のタイミングであるか否か)の判定を行う(S130)。ここで、カウンタNの値が11以上でない場合(NOの場合)には、S110に戻って同様な処理を繰り返す。一方、カウンタNの値が11以上である場合(YESの場合)には、通電制御回路31から出力される検出信号V1を、高温時電圧VHとして取得して記憶する処理を行う(S140)。
次に、取得した高温時電圧VHの個数が例えば10個となったか否かを判定する(S150)。ここで、取得した高温時電圧VHの個数が10個未満の場合(NOの場合)には、S180に進む。一方、取得した高温時電圧VHの個数が10個となった場合(YESの場合)には、取得した10個の高温時電圧VHから、(ノイズの可能性の高い)最大値と最小値を除去する(S160)。
次に、最大値と最小値を除去した8個の高温時電圧VHの平均である高温時電圧平均値VHavを算出して記憶する(S170)。
次に、カウンタNの値が20か否か(即ち高温期間tの終了のタイミングであるか否か)の判定を行う(S180)。ここで、カウンタNの値が20でない場合(NOの場合)には、S110に戻って同様な処理を繰り返す。一方、カウンタNの値が20である場合(YESの場合)には、高温期間tの終了時であるので、カウンタNを0の値にセットする(S190)。
次に、図6に示すように、発熱抵抗体27の温度を低温側に切り替えて保持する制御を行う(S200)。
次に、発熱抵抗体27の温度を低温側に切り替えてから10msを経過したか否かの判定を行う(S210)。ここで、10msを経過していない場合(NOの場合)にはS210の判定を繰り返し行う。一方、10msを経過したと判定された場合(YESの場合)には、カウンタNの数を1つ増やすカウントアップの処理を行う(S220)。
次に、温度電圧VTを取得して記憶する処理を行う(S230)。
次に、取得した温度電圧VTの個数が例えば10個となったか否かを判定する(S240)。ここで、取得した温度電圧VTの個数が10個未満の場合(NOの場合)には、S270に進む。一方、取得した温度時電圧VTの個数が10個となった場合(YESの場合)には、取得した10個の温度電圧VTから、(ノイズの可能性の高い)最大値と最小値を除去する(S250)。
次に、最大値と最小値を除去した8個の温度電圧VTの平均である温度電圧平均値VTavを算出して記憶する(S260)。
次に、カウンタNの値が11以上であるか否か(即ち低温時電圧VLの取得のタイミングであるか否か)の判定を行う(S270)。ここで、カウンタNの値が11以上でない場合(NOの場合)には、S210に戻って同様な処理を繰り返す。一方、カウンタNの値が11以上である場合(YESの場合)には、 通電制御回路31から出力される検出信号V1を、低温時電圧VLとして取得して記憶する処理を行う(S280)。
次に、取得した低温時電圧VLの個数が例えば10個となったか否かを判定する(S290)。ここで、取得した低温時電圧VLの個数が10個未満の場合(NOの場合)には、S320に進む。一方、取得した低温時電圧VLの個数が10個となった場合(YESの場合)には、取得した10個の低温時電圧VLから、(ノイズの可能性の高い)最大値と最小値を除去する(S300)。
次に、最大値と最小値を除去した8個の低温時電圧VLの平均である低温時電圧平均値VLavを算出して記憶する(S310)。
次に、カウンタNの値が20か否か(即ち低温期間tの終了のタイミングであるか否か)の判定を行う(S320)。ここで、カウンタNの値が20でない場合(NOの場合)には、S210に戻って同様な処理を繰り返す。一方、カウンタNの値が20である場合(YESの場合)には、低温期間tの終了時であるので、カウンタNを0の値にセットする(S330)。
次に、発熱抵抗体27の制御温度を高温側に切り替え、前記S110の処理に戻る。
従って、上述した演算データ取得処理によって、高温時電圧平均値VHav、低温時電圧平均値VLav、温度電圧平均値VTavを求めることができる。
<ガス濃度演算処理>
このガス濃度演算処理とは、上述した演算データ取得処理によって得られたデータを用いて、水素ガス濃度を算出する処理である。
図7に示すように、演算部7において本ガス濃度演算処理が開始されると、まず、前記演算データ取得処理で求められて記憶されている高温時電圧平均値VHav、低温時電圧平均値VLav、温度電圧平均値VTavを取得する処理を実行する(S400)。
次に、高温時電圧平均値VHav、低温時電圧平均値VLav、温度電圧平均値VTavの取得ができたか否かの判定処理を行う(S410)。ここで、取得できていないと判定された場合(NOの場合)には、一旦本処理を終了する。
一方、高温時電圧平均値VHav、低温時電圧平均値VLav、温度電圧平均値VTavを取得できたと判定された場合(YESの場合)には、高温時電圧平均値VHav及び低温時電圧平均値VLavと、下記の式(1)と、に基づいて電圧比VCを算出する演算処理を実行する(S420)。
VC=VHav/VLav …(1)
また、この演算処理と並行して、温度電圧平均値VTavと、電圧比換算用マップデータとに基づいて、温度電圧平均値VTav(即ち環境温度T)におけるガス濃度Xと、湿度Hがゼロのときの電圧比VC(0)とを算出する演算処理を実行する(S430)。
次に、S420において算出した電圧比VCと、S430において算出した電圧比VC(0)とを、下記の式(2)の入力値として、温度電圧平均値VTavにおける電圧比差ΔVCを算出する演算処理を実行する(S440)。
ΔVC=VC−VC(0) …(2)
次に、S440において算出した電圧比差ΔVCと、湿度換算用マップデータに基づいて、電圧比差ΔVCのときの湿度Hを算出する演算処理を実行する(S450)。
また、この湿度Hの演算処理と並行して、高温時電圧平均値VHav及び温度電圧平均値VTavと、高温時電圧換算用マップデータとに基づいて、温度電圧平均値VTav(即ち環境温度T)におけるガス濃度Xと、湿度Hがゼロのときの高温時電圧VH(0)とを算出する演算処理を実行する(S460)。
次に、S410で取得された高温時電圧平均値VHavと、S450にて算出した湿度Hと、湿度電圧変化換算用マップデータに基づいて、高温時電圧平均値VHavのうちの湿度Hに起因する電圧変化分を表す高温時電圧変化ΔVH(H)を算出する演算処理を実行する(S470)。
次に、S410で取得された高温時電圧平均値VHavと、S460において算出した高温時電圧VH(0)と、S470において算出した高温時電圧変化ΔVH(H)とを、下記の式(3)の入力値として、高温時電圧平均値VHavのうちの可燃性ガスに起因する電圧変化分を表す高温時電圧変化ΔVH(G)を算出する演算処理を実行する(S480)。
ΔVH(G)=VHav−VH(0)−ΔVH(H) …(3)
また、高温時電圧変化ΔVH(G)の演算処理と並行して、S410で取得された高温時電圧平均値VHav及び温度電圧平均値VTavと、ガス感度換算用マップデータとに基づいて、高温時電圧平均値VHavについて、温度電圧平均値VTav毎に予め設定された可燃性ガスに対する感度(単位はガス濃度Xの逆数)を表すガス感度G(VT)を算出する演算処理を実行する(S490)。
最後に、S480において算出した高温時電圧変化ΔVH(G)と、S490において算出したガス感度G(VT)とを、下記の式(4)の入力値として、可燃性ガス(水素)のガス濃度Xを算出する演算処理を実行する(S500)。
X=ΔVH(G)/G(VT) …(4)
そして、ガス濃度Xの算出を行うと、前記S400に戻り上述の処理を繰り返し実行する。
なお、本実施形態では、第1設定温度CHを400℃に設定し、第2設定温度CLを300℃に設定している例に適用して説明する。そのため、400℃に対応する発熱抵抗体27の両端電圧が高温時電圧VHとなり、300℃に対応する発熱抵抗体27の両端電圧が低温時電圧VLとなっている。この第1設定温度CHと第2設定温度CLとの差(設定温度差)を100℃とすることにより、高温時電圧VHと低温時電圧VLとの比における高分解能を確保することができる。高温時電圧VHと低温時電圧VLとの比における分解能を確保するためには、設定温度差を50℃以上にして、被検出雰囲気内の湿度Hを精度よく算出する必要があるからである。
また、上述したガス濃度演算処理中で使用している湿度電圧変化換算用マップデータは、図8に示すように、横軸が湿度(体積%)を100で割った値、縦軸をΔVH(H)として、測定データをプロットしたグラフより求めた式(温度電圧変化換算用近似式)であるが、横軸のスケールをそのまま用いて近似させると、特に低湿側においてフィッティングが悪く誤差をまねくため(図8(a)参照)、乗数倍(ここでは例えば0.8倍)を用いて近似式を求めた(図8(b)参照)。これにより、低温側の近似式と測定データとのフィッティングが向上し、算出精度が向上する。なお、図8(a)、(b)の下図は、上図の枠内を拡大したものである。
d)次に、本実施形態の効果について説明する。
本実施形態では、一対の高温期間t及び低温期間tのうち、それぞれの期間への切り替え開始から所定の待ち時間t/2が経過した以降の各対象期間t/2において、各対象期間t/2よりも短い所定の時間間隔(例えば10ms)で端子間電圧の取得をそれぞれ複数回行う。
そして、高温期間tの対象期間t/2に取得された複数回(例えば10回)の端子間電圧を用い、その最大値及び最小値を除いた回数(例えば8回)の端子間電圧の平均値(高温時電圧平均値VHav)を求め、その高温時電圧平均値VHavを、水素ガスの濃度の算出に用いる。
同様に、低温期間tの対象期間t/2に取得された複数回(例えば10回)の端子間電圧を用い、その最大値及び最小値を除いた回数(例えば8回)の端子間電圧の平均値(低温時電圧平均値VLav)を求め、その低温時電圧平均値VLavを、水素ガスの濃度の算出に用いる。
つまり、本実施形態では、水素ガスの濃度の算出に用いる高温期間tの対象期間t/2及び低温期間tの対象期間t/2における端子間電圧として、複数回取得した端子間電圧の測定値の平均値を用いるが、その際には、その最大値及び最小値を除いた値の平均値を用いる。
これによって、上述した発熱抵抗体27に対する高温側又は低温側への制御の切り替えに伴う端子間電圧の変動の影響を低減できるとともに、ノイズの影響も低減することができるので、水素ガス濃度の検出精度を高めることができる。
また、本実施形態では、低温期間tの待ち時間t/2に、測温抵抗体29の抵抗値に対応した温度電圧を複数回取得し、その複数回の温度電圧の最大値及び最小値を除いた平均値(温度電圧平均値VTav)を求め、その温度電圧平均値VTavを、水素ガスの濃度の算出に用いる。
これにより、温度電圧に対するノイズの影響を低減できる。また、上述した(発熱抵抗体29の端子間電圧を取得する)対象期間t/2とは異なる待ち時間t/2に温度電圧の取得を行うので、演算の負担が過度に集中しないという利点がある。
尚、本発明は前記実施形態になんら限定されるものではなく、本発明を逸脱しない範囲において種々の態様で実施しうることはいうまでもない。
(1)例えば、前記実施形態では、取得した複数のデータから最大値及び最小値を除いたが、最大値及び最小値以外に、他のデータを除いてもよい。例えば最大値から順番に小さくなる2個以上の値を除いてもよく、最小値から順番に大きくなる2個以上の値を除いてもよい。
(2)また、前記実施形態では、低温期間の待ち時間に、温度電圧を複数回取得して(最大値及び最小値を除いて)平均値を求めたが、高温期間の待ち時間に、温度電圧を複数回取得して前記平均値を求めてもよい。或いは、低温期間及び高温期間の両方に期間において、同様に前記平均値を求めてもよい。
1…可燃性ガス検出装置(ガス検出装置)
7…演算部
27…発熱抵抗体
29…測温抵抗体
31…通電制御回路(通電制御部)
33…温度調整回路
VHav…高温時電圧平均値
VLav…低温時電圧平均値
VTav…温度電圧平均値

Claims (6)

  1. 被検出雰囲気内に配置されて、自身の温度変化により抵抗値が変化する発熱抵抗体と、
    前記発熱抵抗体への通電状態を所定の周期で切り替える制御を行うことにより、前記発熱抵抗体の温度を、予め設定された高温側と低温側との2つの異なる温度に交互に切り替える通電制御部と、
    前記高温側に制御された高温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧と、前記低温側に制御された低温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧と、を用いて、前記被検出雰囲気に含まれる可燃性ガスの濃度を演算により求める演算部と、
    を備えたガス検出装置であって、
    前記演算部は、
    前記高温期間及び前記低温期間のうち、それぞれの期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の各対象期間において、該各対象期間よりも短い所定の時間間隔で3個以上の前記端子間電圧の取得をそれぞれ行い、
    更に、前記高温期間の対象期間に取得された端子間電圧及び前記低温期間の対象期間に取得された端子間電圧のそれぞれに対して、最大値及び最小値を除いて各対象期間における端子間電圧の平均値を求め、該各対象期間における前記平均値を、前記可燃性ガスの濃度の算出に用いることを特徴とするガス検出装置。
  2. 前記高温期間の前記対象期間及び前記低温期間の前記対象期間に、それぞれ4個以上端子間電圧を取得することを特徴とする請求項1に記載のガス検出装置。
  3. 前記被検出雰囲気の温度である環境温度の変化により抵抗値が変化する測温抵抗体を備え、
    前記演算部は、前記可燃性ガスの濃度の算出の際には、更に、前記測温抵抗体の抵抗値から求められる前記環境温度を加味して、前記可燃性ガスの濃度の算出を行うガス検出装置であって、
    前記可燃性ガスの濃度の算出に際しては、
    前記高温期間の前記待ち時間及び前記低温期間の前記待ち時間のうち、少なくとも一方の待ち時間に、前記測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧を3個以上取得して、それらの電圧の最大値及び最小値を除いた平均値を求めるとともに、該電圧の平均値を、前記可燃性ガスの濃度の算出に用いる前記測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧として設定することを特徴とする請求項1又は2に記載のガス検出装置。
  4. 被検出雰囲気内に配置されて、自身の温度変化により抵抗値が変化する発熱抵抗体を備えたガス検出装置を用いて、
    前記発熱抵抗体への通電状態を所定の周期で切り替える制御を行うことにより、前記発熱抵抗体の温度を、予め設定された高温側と低温側との2つの異なる温度に交互に切り替えるとともに、
    前記高温側に制御された高温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧と、前記低温側に制御された低温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧と、を用いて、前記被検出雰囲気に含まれる可燃性ガスの濃度を演算により求めるガス検出方法であって、
    前記高温期間及び前記低温期間のうち、それぞれの期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の各対象期間において、該各対象期間よりも短い所定の時間間隔で3個以上の前記端子間電圧の取得をそれぞれ行い、
    更に、前記高温期間の対象期間に取得された端子間電圧及び前記低温期間の対象期間に取得された端子間電圧のそれぞれに対して、最大値及び最小値を除いて各対象期間における端子間電圧の平均値を求め、該各対象期間における前記平均値を、前記可燃性ガスの濃度の算出に用いることを特徴とするガス検出方法。
  5. 前記高温期間の前記対象期間及び前記低温期間の前記対象期間に、それぞれ4個以上端子間電圧を取得することを特徴とする請求項4に記載のガス検出方法。
  6. 前記可燃性ガスの濃度の算出の際には、更に、前記被検出雰囲気の温度である環境温度の変化により抵抗値が変化する測温抵抗体の抵抗値から求められる前記環境温度を加味して、前記可燃性ガスの濃度の算出を行うガス検出方法であって、
    前記可燃性ガスの濃度の算出に際しては、
    前記高温期間の前記待ち時間及び前記低温期間の前記待ち時間のうち、少なくとも一方の待ち時間に、前記測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧を3個以上取得して、それらの電圧の最大値及び最小値を除いた平均値を求めるとともに、該電圧の平均値を、前記可燃性ガスの濃度の算出に用いる前記測温抵抗体の抵抗値に対応した電圧として設定することを特徴とする請求項4又は5に記載のガス検出方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016011928A (ja) * 2014-06-30 2016-01-21 日本特殊陶業株式会社 ガス検出器およびプログラム
JP2016090270A (ja) * 2014-10-30 2016-05-23 日本特殊陶業株式会社 可燃性ガス検出装置
JP2016090269A (ja) * 2014-10-30 2016-05-23 日本特殊陶業株式会社 可燃性ガス検出装置
JP2016194480A (ja) * 2015-04-01 2016-11-17 日本特殊陶業株式会社 流体状態検出装置
JP2016200456A (ja) * 2015-04-08 2016-12-01 日本特殊陶業株式会社 流体状態検出装置

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3093659B1 (en) * 2015-05-11 2017-06-14 Siemens Aktiengesellschaft Thermal conductivity detector and method for operating the same
DE102016202537B4 (de) * 2016-02-18 2017-12-07 Process-Electronic Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentration von Gaskomponenten in einem Gasgemisch
US10969357B2 (en) * 2019-04-15 2021-04-06 Jing-Cheng Wei Method of enhancing judgment of gas detector
TWI800751B (zh) * 2020-09-18 2023-05-01 國立陽明交通大學 氣體感測方法及氣體感測系統
CN114777905B (zh) * 2022-04-11 2024-05-17 北京大学 一种低噪声热式质点振速传感器及其实现方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002228613A (ja) * 2001-01-30 2002-08-14 Hochiki Corp ガス漏れ警報器
JP2007024538A (ja) * 2005-07-12 2007-02-01 Yamaha Motor Co Ltd ガス検出装置の温度制御装置ならびにそれを備える空燃比制御装置及び内燃機関
JP2007155706A (ja) * 2005-11-11 2007-06-21 Ngk Spark Plug Co Ltd 液体状態検知装置
JP2011237407A (ja) * 2010-04-15 2011-11-24 Ngk Spark Plug Co Ltd 可燃性ガス検出装置および可燃性ガス検出素子の制御方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3147895B2 (ja) 1990-10-30 2001-03-19 靖二 中島 斉発穿孔発破における穿孔間隔長決定方法
US5775809A (en) * 1996-07-11 1998-07-07 Measurement Dynamics Llc Vehicle compartment temperature recorder
US5916294A (en) * 1997-07-31 1999-06-29 Motorola Inc. System and method for estimating tailpipe a emissions in a vehicle
US7621893B2 (en) * 1998-10-29 2009-11-24 Medtronic Minimed, Inc. Methods and apparatuses for detecting occlusions in an ambulatory infusion pump
CA2385816A1 (en) * 2001-05-15 2002-11-15 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Gas sensor and method for measuring gas concentration using the same
CA2411292A1 (en) * 2001-11-09 2003-05-09 Noboru Ishida Hydrogen sensor
JP2006250579A (ja) * 2005-03-08 2006-09-21 Denso Corp 湿度センサの検査装置及び特性調整方法
JP4587849B2 (ja) * 2005-03-11 2010-11-24 三洋電機株式会社 空気調和装置及びその制御方法、温度設定装置及びその制御方法
DE102005040876A1 (de) * 2005-08-29 2007-03-01 Austriamicrosystems Ag Steuerungsanordnung für einen Spannungskonverter, Spannungskonverter sowie Verfahren zum Konvertieren einer ersten Gleichspannung in eine zweite Gleichspannung
US7665347B2 (en) * 2005-11-11 2010-02-23 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Liquid state detecting apparatus
US8017080B2 (en) * 2005-11-11 2011-09-13 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Liquid state detecting apparatus
JP4885748B2 (ja) * 2007-01-23 2012-02-29 日本特殊陶業株式会社 可燃性ガス検出装置
US8423197B2 (en) * 2008-11-25 2013-04-16 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Apparatus for controlling the energizing of a heater
WO2010137327A1 (ja) * 2009-05-29 2010-12-02 パナソニック株式会社 Pwm負荷機器の駆動電流検出装置、駆動電流検出方法、故障検知装置及び故障検知方法
US9285333B2 (en) * 2011-02-09 2016-03-15 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Combustible gas detection device
US8826725B2 (en) * 2011-02-11 2014-09-09 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Gas detector

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002228613A (ja) * 2001-01-30 2002-08-14 Hochiki Corp ガス漏れ警報器
JP2007024538A (ja) * 2005-07-12 2007-02-01 Yamaha Motor Co Ltd ガス検出装置の温度制御装置ならびにそれを備える空燃比制御装置及び内燃機関
JP2007155706A (ja) * 2005-11-11 2007-06-21 Ngk Spark Plug Co Ltd 液体状態検知装置
JP2011237407A (ja) * 2010-04-15 2011-11-24 Ngk Spark Plug Co Ltd 可燃性ガス検出装置および可燃性ガス検出素子の制御方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016011928A (ja) * 2014-06-30 2016-01-21 日本特殊陶業株式会社 ガス検出器およびプログラム
JP2016090270A (ja) * 2014-10-30 2016-05-23 日本特殊陶業株式会社 可燃性ガス検出装置
JP2016090269A (ja) * 2014-10-30 2016-05-23 日本特殊陶業株式会社 可燃性ガス検出装置
JP2016194480A (ja) * 2015-04-01 2016-11-17 日本特殊陶業株式会社 流体状態検出装置
JP2016200456A (ja) * 2015-04-08 2016-12-01 日本特殊陶業株式会社 流体状態検出装置

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