JP2013257320A - ガンマ線検出器の利得較正のための方法およびシステム - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 title claims abstract description 13
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims abstract description 47
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims abstract description 38
- 238000002600 positron emission tomography Methods 0.000 claims description 55
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 34
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 20
- 230000008859 change Effects 0.000 description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 12
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 10
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- RCVOTEPLGFCFIG-UHFFFAOYSA-N lutetium(3+);yttrium(3+);silicate Chemical compound [Y+3].[Lu+3].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] RCVOTEPLGFCFIG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 2
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 2
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 1
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N cerium Chemical compound [Ce] GWXLDORMOJMVQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001010 compromised effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N gadolinium atom Chemical compound [Gd] UIWYJDYFSGRHKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000009206 nuclear medicine Methods 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
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-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/208—Circuits specially adapted for scintillation detectors, e.g. for the photo-multiplier section
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/248—Silicon photomultipliers [SiPM], e.g. an avalanche photodiode [APD] array on a common Si substrate
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/58—Testing, adjusting or calibrating thereof
- A61B6/582—Calibration
- A61B6/585—Calibration of detector units
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
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- Measurement Of Radiation (AREA)
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Abstract
【解決手段】ガンマ線検出器の1つまたは複数の光センサの暗電流を測定するステップと、測定された暗電流を使用して1つまたは複数の暗電流曲線を生成するステップとを含む。この方法は、1つまたは複数の暗電流曲線における遷移点を識別するステップと、識別された遷移点を使用して1つまたは複数の光センサの降伏電圧を決定するステップとをさらに含む。この方法は、決定された降伏電圧に基づいて1つまたは複数の光センサのバイアスを設定するステップをさらに含む。
【選択図】図1
Description
様々な実施形態において、暗電流のI−V曲線72の特性形状を使用して降伏電圧を計算し、次に、その降伏電圧は利得較正モジュール50(図1に示した)で利得較正に使用される。様々な実施形態において、降伏電圧が決定された後、同一の過電圧がバイアスとしてSIPM62の各々に印加される。
22 検出器モジュール
24 検出器ユニット
30 シンチレータブロック、結晶ブロック
32 シンチレータ結晶、シンチレーション結晶
34 光センサ
38 検出器面
40 アナログ信号
50 利得較正モジュール
52 インタフェースエレクトロニクス
60 シリコン光電子増倍管のアレイ
62 シリコン光電子増倍管(SIPM)
70 グラフ
72 I−V曲線
80 読出しエレクトロニクス
82 バッファ増幅器
84 デジタル−アナログ変換器(DAC)
86 信号プロセッサ
88 バイアス源、カソードバイアス源
90 SIPMの測定ベースライン対過電圧のグラフ
92 シフトしたベースライン曲線のグラフ
94 測定ベースライン変動のグラフ
96 正規化した変動のグラフ
100、101、102、103、104、105、106、107 遷移点
108、110、112、114 曲線
116、118、120、122 遷移点
130 方法
140 グラフ
142 第1のピーク
144 第2のピーク
150 グラフ
152 測定平均ベースラインのプロット
160 グラフ
162 暗電流対印加バイアスの正規化変化に対応するプロット
164 点
200 PETシステム
201 PETスキャナ
203 コントローラ
204 オペレータワークステーション
205 プロセッサ
206 データ取得プロセッサ
208 画像再構成プロセッサ
210 通信リンク
212 検出器リング
214 物体
216 PETスキャナコントローラ
217 第1の検出器要素
218 通信線路
219 第2の検出器要素
220 取得回路
226 同時検出器またはプロセッサ
230 ソータ
232 メモリモジュール
234 画像CPU
236 アレイプロセッサ
238 バックプレーンバス
240 データアレイ
242 画像アレイ
244 ワークステーションCPU
246 表示デバイス
248 入力デバイス
Claims (10)
- ガンマ線検出器を較正する方法(130)であって、
ガンマ線検出器の1つまたは複数の光センサの暗電流を測定するステップ(132)と、
前記測定された暗電流を使用して1つまたは複数の暗電流曲線を生成するステップ(134)と、
前記1つまたは複数の暗電流曲線における遷移点を識別するステップ(134)と、
前記識別された遷移点を使用して前記1つまたは複数の光センサの降伏電圧を決定するステップ(136)と、
前記決定された降伏電圧に基づいて前記1つまたは複数の光センサのバイアスを設定するステップ(138)と
を含む、方法。 - 前記遷移点は、前記曲線の傾斜がほぼ水平から湾曲へと変化する、前記1つまたは複数の暗電流曲線に沿った点である、請求項1記載の方法(130)。
- 前記遷移点は、前記曲線の傾斜がほぼ垂直へと変化する前記1つまたは複数の暗電流曲線に沿った点である、請求項1記載の方法(130)。
- 前記暗電流曲線がI−V曲線を含み、I−V曲線がベースライン曲線または平均パルス波高曲線を含む、請求項4記載の方法(130)。
- 前記暗電流曲線がI−V曲線を含み、I−V曲線がベースライン変動曲線を含む、請求項4記載の方法(130)。
- 前記遷移点が、複数の暗電流曲線の複数の遷移点を平均化することによって決定される、請求項1記載の方法(130)。
- 前記遷移点が、閾値より規定量上の点として決定される、請求項1記載の方法(130)。
- 前記測定された暗電流が、自然バックグラウンド放射線または外部放射線源の少なくとも一方からの信号を含む、請求項1記載の方法(130)。
- 走査データを取得するように構成された複数のガンマ線検出器要素(22、24)であり、複数の光センサ(34)とともにシンチレータ結晶(32)を有する、複数のガンマ線検出器要素(22、24)と、
前記複数の光センサの1つまたは複数の暗電流を測定し、前記測定された暗電流を使用して1つまたは複数の暗電流曲線を生成し、前記1つまたは複数の暗電流曲線における遷移点を識別し、前記識別された遷移点を使用して前記1つまたは複数の光センサの降伏電圧を決定し、前記決定された降伏電圧に基づいて前記1つまたは複数の光センサのバイアスを設定するように構成されたプロセッサ(50)と
を備える陽電子放射断層撮影(PET)システム(200)。 - 前記遷移点は、前記曲線の傾斜がほぼ水平から湾曲へと変化する前記1つまたは複数の暗電流曲線に沿った点、または前記曲線の傾斜がほぼ垂直へと変化する前記1つまたは複数の暗電流曲線に沿った点である、請求項9記載のPETシステム(200)。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/492,439 | 2012-06-08 | ||
US13/492,439 US8907290B2 (en) | 2012-06-08 | 2012-06-08 | Methods and systems for gain calibration of gamma ray detectors |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013257320A true JP2013257320A (ja) | 2013-12-26 |
JP2013257320A5 JP2013257320A5 (ja) | 2016-07-21 |
Family
ID=49626003
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013117427A Pending JP2013257320A (ja) | 2012-06-08 | 2013-06-04 | ガンマ線検出器の利得較正のための方法およびシステム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8907290B2 (ja) |
JP (1) | JP2013257320A (ja) |
DE (1) | DE102013105696A1 (ja) |
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---|---|
US8907290B2 (en) | 2014-12-09 |
US20130327932A1 (en) | 2013-12-12 |
DE102013105696A1 (de) | 2013-12-12 |
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