JP2013235579A - 光学フィルムの欠陥判別方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】移送される光学フィルムを撮影して異物が存在する領域を選別する段階(S1)と、前記領域中の異物のうち、移送方向に平行な二辺と、それに垂直な二辺からなる長方形が最小面積で異物を含む場合に、前記移送方向に平行な辺がそれに垂直な辺より大きい場合、線状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階(S2)とを備えることによって、光学フィルムの製造歩留りを顕著に上昇させることができる。
【選択図】図1
Description
(S2)前記領域中の異物のうち、移送方向に平行な二辺と、それに垂直な二辺とからなる長方形が最小面積で異物を含む場合に、前記移送方向に平行な辺がそれに垂直な辺より大きい場合、線状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階と
を備える、光学フィルムの欠陥判別方法。
(S1-A)前記領域中の異物のうちいずれか一つの異物を中心に5mm半径の円内に相違する異物が2以上存在すると中心の異物を含む前記異物の集合をクラスター欠陥と判別する段階と、
(S1-B)前記クラスター欠陥と判別されていない異物のうち8ピクセル×8ピクセルの正四角形の内部に含まれる異物は微細欠陥と判別する段階と、
(S2)前記微細欠陥と判別されていない異物のうち、異物を含む最小面積の長方形が移送方向に平行な二辺とそれに垂直な二辺とからなり、前記移送方向に平行な辺がそれに垂直した辺より大きい場合、線状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階と
を備える、光学フィルムの欠陥判別方法。
Claims (19)
- (S1)移送される光学フィルムを撮影して異物が存在する領域を選別する段階と、
(S2)前記領域中の異物のうち、移送方向に平行な二辺とそれに垂直な二辺とからなる長方形が最小面積で異物を含む場合に、前記移送方向に平行な辺がそれに垂直な辺より大きい場合、線状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階と
を備える光学フィルムの欠陥判別方法。 - 前記長方形の長辺の長さが5ピクセル以上であり、短辺の長さが長辺の0.8倍以下の異物である場合、線状良品性異物と判定する、請求項1に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記線状良品性異物と判定されていない異物のうち、異物を含む最小面積の長方形の長辺の長さが30ピクセル以下であり、下記数式1による欠陥密度が40%以下であり、前記異物の中心線の短縮長さが3ピクセル以下である場合、直線状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階をさらに備える、請求項1に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記異物の長辺の長さが30ピクセル超過であれば大型欠陥と判定する、請求項3に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記異物の長辺の長さが30ピクセル以下であり、前記数式1による欠陥密度が40%以下であり、前記異物の中心線映像の短縮長さが3ピクセル超過であれば曲線状欠陥と判定する、請求項3に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 長辺の長さが30ピクセル以下であり、数式1の欠陥密度が40%超過である異物に対して欠陥密度が75%以下の異物は、斜方状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階をさらに備える、請求項3に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 欠陥密度が75%超過である異物のうち前記円の内部位置による明度グラフがその勾配値がプラスからマイナスに転じる箇所が2以上存在する異物はエンボス状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階をさらに含む、請求項6に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記グラフの勾配値がプラスからマイナスに転じる箇所が3以上存在する異物は、エンボス状良品性異物と判定する、請求項7に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記領域中の異物はクラスター欠陥ではない異物であって、前記クラスター欠陥はいずれか一つの異物を中心に5mm半径の円内に相違する異物が2以上存在すると中心の異物を含む前記異物の集合である、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記領域中の異物は微細欠陥ではない異物であって、前記微細欠陥は8ピクセル×8ピクセルの正四角形の内部に含まれる異物である、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記領域中の異物はクラスター欠陥及び微細欠陥ではない異物であって、前記クラスター欠陥はいずれか一つの異物を中心に5mm半径の円内に相違する異物が2以上存在すると中心の異物を含む前記異物の集合であり、前記微細欠陥は8ピクセル×8ピクセルの正四角形の内部に含まれる異物である、請求項1乃至8のいずれか一項に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- (S1)移送される光学フィルムを撮影して異物が存在する領域を選別する段階と、
(S1-A)前記領域中の異物のうちいずれか一つの異物を中心に5mm半径の円内に相違する異物が2以上存在すると中心の異物を含む前記異物の集合をクラスター欠陥と判別する段階と、
(S1-B)前記クラスター欠陥と判別されていない異物のうち8ピクセル×8ピクセルの正四角形の内部に含まれる異物は微細欠陥と判別する段階と、
(S2)前記微細欠陥と判別されていない異物のうち、移送方向に平行な二辺とそれに垂直な二辺とからなる長方形が最小面積で異物を含む場合に前記移送方向に平行な辺がそれに垂直な辺より大きい場合、線状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階と
を含む光学フィルムの欠陥判別方法。 - (S2)段階の長方形の長辺の長さが長辺の長さが5ピクセル以上であり、短辺の長さが長辺の0.8倍以下の異物である場合、線状良品性異物と判定する、請求項12に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記線状良品性異物と判定されていない異物のうちその長辺の長さが30ピクセル以下であり、下記数式1の欠陥密度が40%以下であり、前記異物の中心線映像の短縮長さが3ピクセル以下である場合、直線状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階とを含む、請求項12に記載の光学フィルムの欠陥判別方法:
- 前記異物の長辺の長さが30ピクセル超過であれば大型欠陥と判定する、請求項14に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記異物の長辺の長さが30ピクセル以下であり、前記数式1による欠陥密度が40%以下であり、前記異物の中心線映像の短縮長さが3ピクセル超過であれば曲線状欠陥と判定する、請求項14に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 長辺の長さが30ピクセル以下であり、数式1の欠陥密度が40%超過である異物に対して欠陥密度が75%以下の異物は、斜方状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階をさらに含む、請求項14に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 欠陥密度が75%超過である異物のうち前記円の内部位置による明度グラフがその勾配値がプラスからマイナスに転じる箇所が2以上存在する異物はエンボス状良品性異物と判定して欠陥から除外する段階をさらに含む、請求項17に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
- 前記部分でグラフの勾配値がプラスからマイナスに転じる箇所が3以上存在する異物はエンボス状良品性異物と判定する、請求項18に記載の光学フィルムの欠陥判別方法。
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