JP2009294087A - 樹脂材料検査装置およびプログラム - Google Patents
樹脂材料検査装置およびプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009294087A JP2009294087A JP2008148065A JP2008148065A JP2009294087A JP 2009294087 A JP2009294087 A JP 2009294087A JP 2008148065 A JP2008148065 A JP 2008148065A JP 2008148065 A JP2008148065 A JP 2008148065A JP 2009294087 A JP2009294087 A JP 2009294087A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- image data
- resin material
- defects
- resin sheet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【解決手段】樹脂材料検査装置は、ペレット状態の樹脂材料を加熱加圧成形することによって作製された検査用の樹脂シートの透過光像を撮影して画像データを得るエリアカメラ14と、画像データを解析して樹脂シートの欠陥を検出することによって樹脂材料の欠陥を検出する濃度・面積計測部39と、画像データの少なくとも一部の領域内における画素の平均輝度値と予め設定された基準輝度値とを比較する比較部33と、比較部33における比較の結果に基づいてエリアカメラ14の露光時間を変更する撮影装置制御部34とを備え、濃度・面積計測部39が、露光時間が変更された後のエリアカメラ14によって得られた画像データを解析する。
【選択図】図1
Description
本実施形態に係る樹脂材料検査装置は、押出成形や射出成形等に用いるペレット状態の樹脂材料を加熱加圧成形することによって作製された検査用の樹脂シートの欠陥を検査することによって、上記樹脂材料の欠陥を間接的に検査するものである。検査対象の樹脂材料は、加熱加圧成形が可能な樹脂材料であれば特に限定されるものではなく、種々の熱可塑性樹脂等を用いることができる。
合否判定部43は、欠陥個数計数部42で計数された各領域の欠陥の数と予め設定された各領域の上限欠陥数とを比較すると共に、欠陥個数計数部42で計数された全欠陥数と予め設定された上限全欠陥数とを比較し、この比較の結果に基づいて樹脂材料が良品か不良品かを判定し(S13)、判定結果を表示装置47に表示させる。
10 解析・制御用パーソナル・コンピュータ
12 撮影装置
20 樹脂材料検査装置
32 平均輝度算出部
33 比較部
34 撮影装置制御部(制御部)
35 露光時間比較部(光源劣化診断部)
36 ランプ劣化警告発生部
37 高周波成分抽出部
39 濃度・面積計測部(欠陥検出部、濃度・面積計測部)
40 密集欠陥統合部
42 欠陥個数計数部(領域別欠陥計数部、欠陥計数部)
43 合否判定部(良否判定部)
Claims (6)
- ペレット状態の樹脂材料を加熱加圧成形することによって作製された検査用の樹脂シートの透過光像を撮影して上記樹脂シートの画像データを得る撮影装置と、
上記樹脂シートの画像データを解析して上記樹脂シートの欠陥を検出することによって、上記樹脂材料の欠陥を検出する欠陥検出部とを備える樹脂材料検査装置であって、
上記樹脂シートの画像データの少なくとも一部の領域内における画素の平均輝度値と、予め設定された基準輝度値とを比較する比較部と、
上記比較部における比較の結果に基づいて、上記撮影装置の露光時間を変更する制御部とをさらに備え、
上記欠陥検出部が、露光時間が変更された後の撮影装置によって得られた画像データを解析することを特徴とする樹脂材料検査装置。 - 上記欠陥検出部による画像データの解析前に、上記画像データの高周波成分を抽出する高周波成分抽出部をさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載の樹脂材料検査装置。
- 上記欠陥検出部で検出された欠陥の大きさおよび濃度を検出欠陥データとして求め、求められた検出欠陥データを、面積および濃度をそれぞれ座標軸とする座標平面にマッピングする濃度・面積計測部と、
上記マッピングされた座標平面を複数の領域に分割し、各領域に属する欠陥の数を計数する領域別欠陥計数部と、
上記領域別欠陥計数部で計数された各領域の欠陥の数と予め設定された各領域の上限欠陥数とを比較し、この比較の結果に基づいて樹脂材料が良品か不良品かを判定する良否判定部とをさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載の樹脂材料検査装置。 - 上記撮影装置が、樹脂シートを照明する光源を含み、
上記光源を用いて行われた最初の検査に用いられた画像データの露光時間と、上記光源を用いて行われた最近の1回または複数回の検査に用いられた画像データの露光時間との比に基づき、光源の劣化を診断する光源劣化診断部がさらに備えられていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の樹脂材料検査装置。 - 上記欠陥検出部で検出された欠陥の数を計数する欠陥計数部と、
上記欠陥計数部による欠陥数の計数前に、上記画像データ内で予め設定された基準個数以上の複数の欠陥候補が予め設定された基準密度以上で密集している場合に、それらの欠陥候補を統合して1つの欠陥とする密集欠陥統合部とをさらに備えることを特徴とする請求項1または2に記載の樹脂材料検査装置。 - 請求項1ないし5の何れか1項に記載の樹脂材料検査装置の各部としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008148065A JP5043755B2 (ja) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | 樹脂材料検査装置およびプログラム |
PCT/JP2009/002430 WO2009147821A1 (ja) | 2008-06-05 | 2009-06-01 | 樹脂材料検査装置および記録媒体 |
TW98118214A TW201011284A (en) | 2008-06-05 | 2009-06-02 | Device for inspecting resin material and recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008148065A JP5043755B2 (ja) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | 樹脂材料検査装置およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009294087A true JP2009294087A (ja) | 2009-12-17 |
JP5043755B2 JP5043755B2 (ja) | 2012-10-10 |
Family
ID=41397904
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008148065A Expired - Fee Related JP5043755B2 (ja) | 2008-06-05 | 2008-06-05 | 樹脂材料検査装置およびプログラム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5043755B2 (ja) |
TW (1) | TW201011284A (ja) |
WO (1) | WO2009147821A1 (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011237302A (ja) * | 2010-05-11 | 2011-11-24 | Sumco Corp | ウェーハ欠陥検査装置及びウェーハ欠陥検査方法 |
JP2013235579A (ja) * | 2012-05-10 | 2013-11-21 | Dongwoo Fine-Chem Co Ltd | 光学フィルムの欠陥判別方法 |
JP2015230295A (ja) * | 2014-06-06 | 2015-12-21 | シーシーエス株式会社 | 検査用カメラ及び検査システム |
JP2016075608A (ja) * | 2014-10-08 | 2016-05-12 | 倉敷紡績株式会社 | 検査装置 |
JP2016155481A (ja) * | 2015-02-25 | 2016-09-01 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | 鉄道用発光機の検査方法、鉄道用発光機の検査装置 |
JP6218094B1 (ja) * | 2016-04-15 | 2017-10-25 | Jeインターナショナル株式会社 | 検査方法、検査装置、検査プログラム、および記録媒体 |
WO2020003917A1 (ja) * | 2018-06-29 | 2020-01-02 | 富士フイルム株式会社 | 欠陥表示装置及び方法 |
JP2020071106A (ja) * | 2018-10-30 | 2020-05-07 | 株式会社ミツトヨ | 外観検査方法及びプログラム |
KR102161971B1 (ko) * | 2020-05-13 | 2020-10-07 | 주식회사 베이스스톤홀딩스 | 유색 플라스틱 가공품의 레이저 용접 적합성 검사장치 |
KR102207410B1 (ko) * | 2020-08-21 | 2021-01-25 | 이유형 | 김 이물질 및 두께 선별장치 |
WO2021250736A1 (ja) * | 2020-06-08 | 2021-12-16 | 日本電気株式会社 | エアバッグ検査装置、エアバッグ検査システム、エアバッグ検査方法および記録媒体 |
WO2024063471A1 (ko) * | 2022-09-19 | 2024-03-28 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 제품의 외관 검사 장치 및 방법 |
WO2024072152A1 (ko) * | 2022-09-28 | 2024-04-04 | 엘지이노텍 주식회사 | 대상체의 물질 검출 장치 및 대상체의 물질 검출 방법 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102305794A (zh) * | 2011-07-04 | 2012-01-04 | 上海熙视光电科技有限公司 | 一种在线模具安全检测仪 |
KR102023231B1 (ko) * | 2012-08-28 | 2019-09-19 | 스미또모 가가꾸 가부시끼가이샤 | 결함 검사 장치 및 결함 검사 방법 |
CN103414873B (zh) * | 2013-07-19 | 2016-12-28 | 深圳市立恒视觉技术有限公司 | 压铸模具监视保护***及方法 |
CA3063105A1 (en) | 2017-05-23 | 2018-11-29 | Walmart Apollo, Llc | Automated inspection system |
US11448632B2 (en) | 2018-03-19 | 2022-09-20 | Walmart Apollo, Llc | System and method for the determination of produce shelf life |
WO2020023762A1 (en) | 2018-07-26 | 2020-01-30 | Walmart Apollo, Llc | System and method for produce detection and classification |
US11715059B2 (en) | 2018-10-12 | 2023-08-01 | Walmart Apollo, Llc | Systems and methods for condition compliance |
WO2020106332A1 (en) | 2018-11-20 | 2020-05-28 | Walmart Apollo, Llc | Systems and methods for assessing products |
JP2021025874A (ja) * | 2019-08-05 | 2021-02-22 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
CN117740791B (zh) * | 2024-02-20 | 2024-06-07 | 中国石油大学(华东) | 一种高温高压水相中测试温敏树脂熔融程度的评价方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58173456A (ja) * | 1982-04-05 | 1983-10-12 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | 異物自動検査装置 |
JPS6054815A (ja) * | 1983-09-02 | 1985-03-29 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | 樹脂材料の異物検査装置 |
JPS6191544A (ja) * | 1984-10-12 | 1986-05-09 | Kawasaki Steel Corp | 熱間金属材料の表面欠陥検出方法における自動露光制御方法 |
JPH01161138A (ja) * | 1987-12-16 | 1989-06-23 | Toray Ind Inc | 異物検査方法 |
JPH05209844A (ja) * | 1992-01-30 | 1993-08-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 配線パターン検査装置 |
JPH06347415A (ja) * | 1993-06-11 | 1994-12-22 | Nec Corp | パーティクル検査装置およびその検査方法 |
JP2006038553A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Olympus Corp | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2007327752A (ja) * | 2006-06-06 | 2007-12-20 | Ckd Corp | 外観検査装置及びptpシートの製造装置 |
-
2008
- 2008-06-05 JP JP2008148065A patent/JP5043755B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-06-01 WO PCT/JP2009/002430 patent/WO2009147821A1/ja active Application Filing
- 2009-06-02 TW TW98118214A patent/TW201011284A/zh unknown
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58173456A (ja) * | 1982-04-05 | 1983-10-12 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | 異物自動検査装置 |
JPS6054815A (ja) * | 1983-09-02 | 1985-03-29 | Showa Electric Wire & Cable Co Ltd | 樹脂材料の異物検査装置 |
JPS6191544A (ja) * | 1984-10-12 | 1986-05-09 | Kawasaki Steel Corp | 熱間金属材料の表面欠陥検出方法における自動露光制御方法 |
JPH01161138A (ja) * | 1987-12-16 | 1989-06-23 | Toray Ind Inc | 異物検査方法 |
JPH05209844A (ja) * | 1992-01-30 | 1993-08-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 配線パターン検査装置 |
JPH06347415A (ja) * | 1993-06-11 | 1994-12-22 | Nec Corp | パーティクル検査装置およびその検査方法 |
JP2006038553A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Olympus Corp | 撮像装置及び撮像方法 |
JP2007327752A (ja) * | 2006-06-06 | 2007-12-20 | Ckd Corp | 外観検査装置及びptpシートの製造装置 |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011237302A (ja) * | 2010-05-11 | 2011-11-24 | Sumco Corp | ウェーハ欠陥検査装置及びウェーハ欠陥検査方法 |
JP2013235579A (ja) * | 2012-05-10 | 2013-11-21 | Dongwoo Fine-Chem Co Ltd | 光学フィルムの欠陥判別方法 |
JP2015230295A (ja) * | 2014-06-06 | 2015-12-21 | シーシーエス株式会社 | 検査用カメラ及び検査システム |
JP2016075608A (ja) * | 2014-10-08 | 2016-05-12 | 倉敷紡績株式会社 | 検査装置 |
JP2016155481A (ja) * | 2015-02-25 | 2016-09-01 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | 鉄道用発光機の検査方法、鉄道用発光機の検査装置 |
JP6218094B1 (ja) * | 2016-04-15 | 2017-10-25 | Jeインターナショナル株式会社 | 検査方法、検査装置、検査プログラム、および記録媒体 |
JP2018036241A (ja) * | 2016-04-15 | 2018-03-08 | Jeインターナショナル株式会社 | 検査方法、検査装置、検査プログラム、および記録媒体 |
JPWO2020003917A1 (ja) * | 2018-06-29 | 2021-06-24 | 富士フイルム株式会社 | 欠陥表示装置及び方法 |
WO2020003917A1 (ja) * | 2018-06-29 | 2020-01-02 | 富士フイルム株式会社 | 欠陥表示装置及び方法 |
JP2020071106A (ja) * | 2018-10-30 | 2020-05-07 | 株式会社ミツトヨ | 外観検査方法及びプログラム |
JP7207948B2 (ja) | 2018-10-30 | 2023-01-18 | 株式会社ミツトヨ | 外観検査方法及びプログラム |
KR102161971B1 (ko) * | 2020-05-13 | 2020-10-07 | 주식회사 베이스스톤홀딩스 | 유색 플라스틱 가공품의 레이저 용접 적합성 검사장치 |
WO2021250736A1 (ja) * | 2020-06-08 | 2021-12-16 | 日本電気株式会社 | エアバッグ検査装置、エアバッグ検査システム、エアバッグ検査方法および記録媒体 |
KR102207410B1 (ko) * | 2020-08-21 | 2021-01-25 | 이유형 | 김 이물질 및 두께 선별장치 |
WO2024063471A1 (ko) * | 2022-09-19 | 2024-03-28 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 제품의 외관 검사 장치 및 방법 |
WO2024072152A1 (ko) * | 2022-09-28 | 2024-04-04 | 엘지이노텍 주식회사 | 대상체의 물질 검출 장치 및 대상체의 물질 검출 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201011284A (en) | 2010-03-16 |
WO2009147821A1 (ja) | 2009-12-10 |
JP5043755B2 (ja) | 2012-10-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5043755B2 (ja) | 樹脂材料検査装置およびプログラム | |
EP1583356B1 (en) | Image processing device and image processing program | |
JP4416795B2 (ja) | 補正方法 | |
JP6574163B2 (ja) | 基板の異物質検査方法 | |
CN106596073A (zh) | 一种检测光学***像质的方法和***及一种测试标板 | |
CN107209935A (zh) | 用于测量移动文档图像质量的***及方法 | |
JP2005283577A (ja) | フィードバックを提供するための検査システム及び方法 | |
JP2006139777A (ja) | 視覚モデルによりフラットパネル表示装置を検出する方法と装置 | |
TWI512284B (zh) | 玻璃氣泡瑕疵檢測系統 | |
JPWO2014013792A1 (ja) | ノイズ評価方法、画像処理装置、撮像装置およびプログラム | |
CN101207834A (zh) | 数码相机清晰度的检测方法 | |
CN103188432B (zh) | 一种对焦准确度的定量判定装置与方法 | |
TWI489861B (zh) | 相機檢測方法與相機 | |
JP4610656B2 (ja) | 検査装置、検査方法、プログラムおよび記録媒体 | |
JP2006155579A (ja) | 画像処理方法および画像処理装置 | |
JP2019039782A (ja) | 粉粒体担持シートの検査装置及び検査方法 | |
JP5331661B2 (ja) | 画像処理方法および画像処理装置 | |
KR101993654B1 (ko) | 표시패널의 얼룩 검사 장치 및 그 방법 | |
JP2005252451A (ja) | 画質検査方法及び画質検査装置 | |
JP7141537B2 (ja) | 粒子定量装置 | |
CN112129768B (zh) | 外观检查管理***、装置、方法以及存储介质 | |
Geleijnse et al. | Measuring Image Quality of ENT Chip-on-tip Endoscopes. | |
TWI493177B (zh) | 一種檢測具週期性結構光學薄膜的瑕疵檢測方法及其檢測裝置 | |
JP2011220828A (ja) | 焦点ズレ検出装置、焦点ズレ検出方法およびプログラム | |
JP2001235319A (ja) | シェーディング補正装置及びシェーディング補正方法及び表面検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120131 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120329 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120424 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120612 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120703 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120712 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150720 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |