JP2013205145A - 低コヒーレンス光源を用いた動的光散乱測定法及び動的光散乱測定装置 - Google Patents
低コヒーレンス光源を用いた動的光散乱測定法及び動的光散乱測定装置 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】低コヒーレンス光を使用するマッハツェンダー型干渉計3を用いて分散液Sに分散された微粒子S2の動的特性を測定する動的光散乱測定法であり、前記分散液S中で前記微粒子S2に低コヒーレンス光を照射し、かつ、前記分散液S中で前記微粒子S2により散乱された光を複数の異なる散乱角θごとに受光して散乱光とし、各散乱角θの散乱光の時間相関関数から並進拡散モードを選択して求める動的光散乱測定法である。
【選択図】図1
Description
(1)低コヒーレンス光を使用するマッハツェンダー型干渉計を用いて分散液に分散された微粒子の動的特性を測定する動的光散乱測定法であり、前記分散液中で前記微粒子に低コヒーレンス光を照射し、かつ、前記分散液中で前記微粒子により散乱された光を複数の異なる散乱角ごとに受光して散乱光とし、各散乱角の散乱光の時間相関関数から並進拡散モードを選択して求めることを特徴とする動的光散乱測定法。
(2)前記マッハツェンダー型干渉計の光路長分解の方法がタイムドメイン型であることを特徴とする(1)記載の動的光散乱測定法。
(3)前記各散乱角の散乱光強度を測定し、前記各散乱角の角度依存性に基づいて求めた前記複数種の拡散モードから前記並進拡散モードを帰属させ、粒径分布の計測及び拡散運動の計測を可能とすることを特徴とする(1)または(2)記載の動的光散乱測定法。
(4)前記マッハツェンダー型干渉計は、前記低コヒーレンス光源からの光を第1光カプラーで分岐し、一方の光は参照光とし、他方の光は前記分散液中で前記微粒子に照射してその散乱された光を前記分散液中で複数の異なる散乱角ごとに集光して散乱光とし、前記参照光と前記散乱光とを第2光カプラーで結合することを特徴とする(1)から(3)のいずれか一つに記載の動的光散乱測定法。
(5)低コヒーレンス光源と、分散液中の微粒子に該分散液中で低コヒーレンス光を照射する光照射部と前記分散液中で前記微粒子により散乱された光を受光する受光部とを有するマッハツェンダー型干渉計と、前記散乱された光を複数の異なる散乱角で受光するように前記受光部を移動させる角度可変部と、前記微粒子の動的特性を前記散乱角ごとの散乱光の時間相関関数から並進拡散モードを選択して求めるデータ処理解析部を備えることを特徴とする動的光散乱測定装置。
(6)前記マッハツェンダー型干渉計の光路長分解の方法がタイムドメイン型であることを特徴とする(5)記載の動的光散乱測定装置。
(7)前記マッハツェンダー型干渉計は、前記低コヒーレンス光源からの光を分岐する第1光カプラーと、前記第1光カプラーで分岐した一方の光を参照光とする光変調部と、前記分散液中で前記微粒子に他方の光を照射する光照射部と、前記光照射部から照射した光が散乱された光を前記分散液中で複数の異なる散乱角ごとに集光して散乱光とする受光部と、前記参照光と前記散乱光とを結合する第2光カプラーとを有することを特徴とする(5)または(6)記載の動的光散乱測定装置。
(8)前記光照射部及び前記受光部はともに光ファイバからなり、前記角度可変部は、前記光照射部の第1光ファイバの照射面と前記受光部の第2光ファイバの受光面とが前記分散液中の測定点を中心に前記光照射部と前記受光部とを相対的に回転可能とすることを特徴とする(5)から(7)のいずれか一つに記載の動的光散乱測定装置。
(9)前記第1光ファイバの照射面側端部及び前記第2光ファイバの受光面側端部は、各光ファイバのコアを除いて斜めに切り落とされた形状を成していることを特徴とする(8)記載の動的光散乱測定装置。
本発明の動的光散乱測定装置によれば、角度可変部により光照射部と受光部とを相対的に回転可能としたことから、分散液からの散乱光を角度分解して取得することができる。これにより、並進拡散モードの分離が可能になり、微粒子の平均粒径やその分布の測定が、高い精度及び簡便な操作で可能となる。さらに、低コヒーレンス光源を用いたマッハツェンダー型干渉計を組み合わせたことで、高濃度に微粒子を含有する分散液の測定を実現できる。
図1に示すように、本実施形態の動的光散乱測定装置1は、低コヒーレンス光源2、マッハツェンダー型干渉計3、光検出器4、データ処理解析部5、光ファイバF1〜F6、信号伝送線6を備える。
上記低コヒーレンス光源2は光ファイバF1を介してマッハツェンダー型干渉計3が接続されている。したがって、上記低コヒーレンス光源2から射出された光は、光ファイバF1内を伝送してマッハツェンダー型干渉計3に伝送される。
また分散液(測定試料)Sは、媒体S1に微粒子S2を分散させたものである。
例えば、光ファイバF4と光ファイバF5は、光照射面F4b、受光面F5bのそれぞれのコア端面の中心位置からの法線の交点を測定点(散乱位置)Pとし、この測定点Pから光照射面F4b、受光面F5bまでの距離が常に一定(例えば、等距離)になるように配置されている(図1(d)参照)。なお、光ファイバF4の射出端の端面及び光ファイバF5の入射端の端面は、各光ファイバの長さ方向に対して直角方向に平滑な平面で形成されているものとする。
上記光検出器4には、信号伝送線6を介して、アナログ信号である電気信号をデジタル信号に変換する電気信号読取部(図示せず)が接続され、さらにデータ処理及び解析をデータ処理解析部5が接続されている。データ処理解析部5には、例えばパーソナルコンピュータ、スペクトラムアナアイザ、等を用いることができる。データ処理解析部5は、光検出器4で得た散乱光の揺らぎのデータを処理、解析して、並進拡散モードを分離し、分散液S中の微粒子S2の粒径分布等を解析する。
また、上記第1光カプラー31は、分岐比を測定対象に応じて変更可能であることが好ましい。分割された一方の光が導かれる光路の途中には、上述したようにコリメーターレンズ32,33及び位相変調器34からなる位相変調部が構成されている。位相変調部は、図示したように光を空間に出して変調を行ってもよいし、光ファイバの中で変調させてもよい。もしくは、このような位相変調部を、光路の途中に設けられたサーキュレーター(図示せず)及び光ファイバ(図示せず)により構成し、この光ファイバ端の光射出方向に振動可能なミラーを備えることにより任意の位相を与えるようにして、光に変調をかけることも可能である。さらに、光ファイバF2と光ファイバF3との間に減衰器を介在させて、光量を調整することも、必要により可能である。以上の各構成要素と、第2光カプラー35及び光検出器4のそれぞれについては、必要な仕様を備えた市販品を採用することが可能である。また、位相変調ではなく、強度変調を使用してもよい。
なお、光照射部36を回転可能とし、受光部37を固定したものであってもよく、両方を回転可能に構成したものであってもよい。すなわち、角度可変部7は、光照射部36の光ファイバF4の端面(光照射面)F4bと受光部37の光ファイバF5の端面(受光面)F5bとが分散液S中の測定点Pを中心に光照射部36と受光部37とを相対的に回転可能とするものであればよい(前記図1参照)。
<参照光>
低コヒーレンス光源2から射出された光は、光ファイバF1を伝播後、第1光カプラー31に入射され、第1光カプラー31で2つの光に分割される。第1光カプラー31で分割された一方の光は、光ファイバF2を通り、コリメーターレンズ32で平行光線にされ、位相変調器34を通り、コリメーターレンズ33により光ファイバF3に入射され、第2光カプラー35に到達する。この光が本実施形態における参照光である。第1光カプラー31から第2光カプラー35まで、参照光は、所定の値に固定される光路長drefを有する。
これに対して、第1光カプラー31で分割された他方の光は、光ファイバF4を通りその端面F4bから分散液Sに入射光L1のように入射される。その結果で生じる散乱光が、図示した散乱光L2のように光ファイバF5の端面F5bに入射され、光ファイバF5を通って、第2光カプラー35に達する。この光が本実施形態における散乱光である。第1光カプラー31から分散液S内で散乱が起きた箇所までの光路長d1と、分散液S内で散乱が起きた箇所から第2光カプラー35までの光路長d2とにより、第1光カプラー31から第2光カプラー35まで、散乱光は、光路長dsca=d1+d2を有する。したがって、光路長dscaには、端面F4bから散乱位置Pまでと散乱位置Pから端面F5bまでの距離が含まれる。また、自由にブラウン運動をする微粒子S2の挙動により、散乱光の強度には、時間的な揺らぎ変動を有する。
分散液S中の微粒子S2に低コヒーレンス光源から放射された光を照射して、その散乱光を照射方向に対する散乱光の散乱角θを変えて散乱光の光子を検出する。このとき、散乱光は干渉しあい、しかも粒子はブラウン運動により動いているため、散乱光の干渉による強度もゆらぎを生じている。このゆらぎを測定して自己相関関数を求める。
具体的には、まず、干渉光強度の時間変化を検出する(干渉光強度‐時間の関係)。
続いて、それぞれの散乱角θに対応して、検出した干渉光強度の時間変化をフーリエ変換し、パワースペクトルを求める(パワーと周波数の関係)。
さらに、パワースペクトルのピーク値を原点として変調周波数付近のみ抽出し、それをフーリエ変換して時間相関関数(図4参照)を求める。求めた時間相関関数に対して指数関数を重ね合わせ、一致する指数関数G=Aexp(−Γτ)を求める。ここで、Γは速度定数、τは時間である。
さらに、各散乱角θによる速度定数Γと散乱ベクトルqとの関係:Γ=q2D(Dは拡散係数)より、各散乱角θによる拡散係数(並進拡散係数)を求める。ここで、qはq=(4πn/λ)sin(θ/2)であり、θは散乱角、nは溶媒の屈折率、λは照射光の波長である。このとき、分散液Sに異なる粒径の微粒子が存在している場合には、微粒子の径に対応した異なる並進拡散係数Dが得られる。
またさらに、ストークス・アインシュタインの式:D=kBT/3πηdより微粒子の径dを求める。ここで、kBはボルツマン定数、Tは分散液の絶対温度、ηは溶媒の粘度、dは粒径である。
上述の動的光散乱測定装置1は、高濃度かつナノメートルオーダーの微粒子S2を含有する分散液Sにおける測定に適用することが好ましい。この動的光散乱測定装置1によれば、粒径100nm未満の微粒子が含有され(実際的には10nm以上である)、微粒子の濃度が高い分散液において、極めて高い精度で粒径測定を簡便に行うことができるのみでなく、粒径100nm未満の微粒子と、粒径100nm以上の粒子を含んだ多分散状態の分散液において、広い粒径測定、もしくはそれらの散乱係数の測定と算出、及び並進拡散係数の算出が可能になる。なお多分散状態とは、典型的には、互いに異なる粒径をもつ微粒子S2が分散液S中に存在し、その粒径分布において2つ以上のピークを示す状態を言う。ただし、広い粒径範囲にブロードに粒径分布が存在したものでもよく、これも多分散に含みうる。
図1に示した装置構成図に基づき、光学系を作製した。そして試料となる分散液Sをセル11に入れて測定した。
市販のポリスチレン懸濁液を購入して、粒径は透過型電子顕微鏡で評価を行った。懸濁液Aに含まれたポリスチレン粒子の平均粒径99nm、懸濁液Bは平均粒径99nmと755nmとの試料を質量比25:1で混合したものを用いた。ポリスチレン粒子の濃度はいずれも10質量%であった。
前記動的光散乱測定装置(図1の構成を有する装置)を用いて、前記ポリスチレン懸濁液A(実施例1)、前記ポリスチレン懸濁液B(実施例2)をそれぞれ下記の測定手順にて粒子の粒径に関する測定を行った。ファイバ端面F4bと測定点Pの距離+ファイバ端面F5bと測定点Pの距離が約100μmになるようにセッティングし、d=dscaとなるように散乱光の光路長もしくは参照光の光路長を調整し、パワースペクトルを測定した。その後、前述した方法により、時間相関関数を求め、並進拡散係数を求めて、粒径分布について解析した。
2 低コヒーレンス光源
3 マッハツェンダー型干渉計
4 光検出器
5 データ処理解析部
6 信号伝送線
7 角度可変部
70 定盤
71 第1ステージ
72 第2ステージ
73 回転機構
74 載置部
75 載置台
31 第1光カプラー
32,33 コリメーターレンズ
34 位相変調器
35 第2光カプラー
36 光照射部
37 受光部
F1〜F6 光ファイバ
F4a 光照射部端部(光ファイバ端部)
F4b 光照射面(光ファイバ端面)
F5a 受光部端部(光ファイバ端部)
F5b 受光面(光ファイバ端面)
L1 光(照射光)
L2 光(散乱光)
P 散乱位置(測定点)
S 分散液(試料)
S1 媒体
S2 微粒子
Claims (9)
- 低コヒーレンス光を使用するマッハツェンダー型干渉計を用いて分散液に分散された微粒子の動的特性を測定する動的光散乱測定法であり、前記分散液中で前記微粒子に低コヒーレンス光を照射し、かつ、前記分散液中で前記微粒子により散乱された光を複数の異なる散乱角ごとに受光して散乱光とし、各散乱角の散乱光の時間相関関数から並進拡散モードを選択して求めることを特徴とする動的光散乱測定法。
- 前記マッハツェンダー型干渉計の光路長分解の方法がタイムドメイン型であることを特徴とする請求項1記載の動的光散乱測定法。
- 前記各散乱角の散乱光強度を測定し、前記各散乱角の角度依存性に基づいて求めた前記複数種の拡散モードから前記並進拡散モードを帰属させ、粒径分布の計測及び拡散運動の計測を可能とすることを特徴とする請求項1または2記載の動的光散乱測定法。
- 前記マッハツェンダー型干渉計は、前記低コヒーレンス光源からの光を第1光カプラーで分岐し、一方の光は参照光とし、他方の光は前記分散液中で前記微粒子に照射してその散乱された光を前記分散液中で複数の異なる散乱角ごとに集光して散乱光とし、前記参照光と前記散乱光とを第2光カプラーで結合することを特徴とする請求項1から3のいずれか1項記載の動的光散乱測定法。
- 低コヒーレンス光源と、分散液中の微粒子に該分散液中で低コヒーレンス光を照射する光照射部と前記分散液中で前記微粒子により散乱された光を受光する受光部とを有するマッハツェンダー型干渉計と、前記散乱された光を複数の異なる散乱角で受光するように前記受光部を移動させる角度可変部と、前記微粒子の動的特性を前記散乱角ごとの散乱光の時間相関関数から並進拡散モードを選択して求めるデータ処理解析部を備えることを特徴とする動的光散乱測定装置。
- 前記マッハツェンダー型干渉計の光路長分解の方法がタイムドメイン型であることを特徴とする請求項5記載の動的光散乱測定装置。
- 前記マッハツェンダー型干渉計は、前記低コヒーレンス光源からの光を分岐する第1光カプラーと、前記第1光カプラーで分岐した一方の光を参照光とする光変調部と、前記分散液中で前記微粒子に他方の光を照射する光照射部と、前記光照射部から照射した光の散乱された光を前記分散液中で複数の異なる散乱角ごとに集光して散乱光とする受光部と、前記参照光と前記散乱光とを結合する第2光カプラーとを有することを特徴とする請求項5または6記載の動的光散乱測定装置。
- 前記光照射部及び前記受光部はともに光ファイバからなり、前記角度可変部は、前記光照射部の第1光ファイバの照射面と前記受光部の第2光ファイバの受光面とが前記分散液中の測定点を中心に前記光照射部と前記受光部とを相対的に回転可能とすることを特徴とする請求項5から7のいずれか1項記載の動的光散乱測定装置。
- 前記第1光ファイバの照射面側端部及び前記第2光ファイバの受光面側端部は、各光ファイバのコアを除いて斜めに切り落とされた形状を成していることを特徴とする請求項8記載の動的光散乱測定装置。
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