JP2013185876A - 電流測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】パラメータ設定レジスタ25は、サンプリングクロックL2のクロック周期を、動作クロックL1のクロック周期よりも長く、かつ、サンプリングクロックL2のクロック周期の値と動作クロックL1のクロック周期の値とが互いに素となる値に設定する。
【選択図】図1
Description
3 半導体メモリ
16 ADコンバータ
17 プログラマブルオシレータ
22 PLL
23 パターン生成器
25 パラメータ設定レジスタ
Claims (12)
- 評価対象機器を動作させるための動作クロックを生成する動作クロック生成部と、
前記動作クロックに基づいて前記評価対象機器を動作させた際に前記評価対象機器に流れる電流値を測定するADコンバータと、
前記ADコンバータのサンプリングクロックを生成するサンプリングクロック生成部と、
前記動作クロックのクロック周期及び前記サンプリングクロックのクロック周期を設定するパラメータ設定部と、
を備え、
前記パラメータ設定部は、前記サンプリングクロックのクロック周期を、前記動作クロックのクロック周期よりも長く、かつ、前記サンプリングクロックのクロック周期の値と前記動作クロックのクロック周期の値とが互いに素となる値に設定する、電流測定装置。 - 前記パラメータ設定部は、前記サンプリングクロックのクロック周期を、前記動作クロックのクロック周期よりも長く、かつ、前記サンプリングクロックのクロック周期の値と前記動作クロックのクロック周期の値とが互いに素となり、かつ、前記サンプリングクロックのクロック周期の値を前記動作クロックのクロック周期の値で除した際の剰余が「1」となる値に設定する、請求項1に記載の電流測定装置。
- 前記パラメータ設定部はさらに、前記動作クロックの一周期のうち、前記ADコンバータから電流値を取得する取得対象領域を任意に設定可能である、請求項2に記載の電流測定装置。
- 前記パラメータ設定部は、前記取得対象領域として、立ち上がりエッジ期間及び立ち下がりエッジ期間を含む前記動作クロックのLow期間を設定可能である、請求項3に記載の電流測定装置。
- 前記パラメータ設定部は、前記取得対象領域として、立ち上がりエッジ期間及び立ち下がりエッジ期間を含む前記動作クロックのHigh期間を設定可能である、請求項3に記載の電流測定装置。
- 前記パラメータ設定部は、前記取得対象領域として、前記動作クロックの一周期の全期間を設定可能である、請求項3に記載の電流測定装置。
- 前記パラメータ設定部は、前記取得対象領域として、立ち上がりエッジ期間及び立ち下がりエッジ期間を除く前記動作クロックのLow期間を設定可能である、請求項3に記載の電流測定装置。
- 前記パラメータ設定部は、前記取得対象領域として、立ち上がりエッジ期間及び立ち下がりエッジ期間を除く前記動作クロックのHigh期間を設定可能である、請求項3に記載の電流測定装置。
- 前記パラメータ設定部は、前記取得対象領域として、立ち上がりエッジ期間を設定可能である、請求項3に記載の電流測定装置。
- 前記パラメータ設定部は、前記取得対象領域として、立ち下がりエッジ期間を設定可能である、請求項3に記載の電流測定装置。
- 前記評価対象機器を動作させるためのコマンドを前記動作クロックに基づいて生成するコマンド生成部をさらに備え、
前記パラメータ設定部は、前記コマンド生成部に対して前記コマンドの波形パターンを複数設定可能である、請求項1〜10のいずれか一つに記載の電流測定装置。 - 前記パラメータ設定部は、前記サンプリングクロックのクロック周期の値として複数の値を順に設定する、請求項1〜11のいずれか一つに記載の電流測定装置。
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2012
- 2012-03-06 JP JP2012049555A patent/JP2013185876A/ja active Pending
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