JP2013181834A - 試験装置および試験モジュール - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスとの間で信号を伝送して被試験デバイスを試験する複数の試験部を有する少なくとも1つの試験モジュールと、複数の試験部の動作を制御する複数の制御装置と、を備え、少なくとも1つの試験モジュールのそれぞれにおいて、当該試験モジュールが有する複数の試験部のそれぞれは、複数の制御装置の何れかに対して割り当てられ、複数の制御装置のそれぞれは、互いに異なるユーザにより管理される試験プログラムを実行可能であり、割り当てられた試験部の動作を制御する試験装置を提供する。
【選択図】図1
Description
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1] 特開2011−154025号公報
[特許文献2] 国際公開第2011/001462号
Claims (11)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスとの間で信号を伝送して前記被試験デバイスを試験する複数の試験部を有する少なくとも1つの試験モジュールと、
前記複数の試験部の動作を制御する複数の制御装置と、
を備え、
前記少なくとも1つの試験モジュールのそれぞれにおいて、当該試験モジュールが有する前記複数の試験部のそれぞれは、前記複数の制御装置の何れかに対して割り当てられ、
前記複数の制御装置のそれぞれは、互いに異なるユーザにより管理される試験プログラムを実行可能であり、割り当てられた試験部の動作を制御する
試験装置。 - 前記複数の試験部のそれぞれは、何れか1つの制御装置に割り当てられ、
前記少なくとも1つの試験モジュールのそれぞれは、前記制御装置から受信したコマンドに応じて、当該コマンドを送信した前記制御装置に割り当てられた前記試験部にアクセスするインターフェイス部を更に有する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記インターフェイス部は、当該試験モジュールが有する前記複数の試験部に割り当てられている前記制御装置を示す識別情報を記憶する割当記憶部を更に有する
請求項2に記載の試験装置。 - 前記割当記憶部は、前記識別情報を格納する複数のエントリを含み、
前記複数の制御装置のそれぞれは、新たな試験プログラムのスレッドの実行に先立って、当該制御装置を識別するための識別情報を前記割当記憶部の空きエントリに排他的に記憶させる
請求項3に記載の試験装置。 - 前記制御装置は、複数の試験プログラムのそれぞれに対応して複数のスレッドを並行して実行し、
前記制御装置は、当該制御装置を示すサイト番号および当該スレッドを示すコンテキスト番号の組を含む前記コマンドを前記試験モジュールへと送信し、
前記割当記憶部は、前記サイト番号および前記コンテキスト番号の組により表される前記識別情報を記憶し、
前記インターフェイス部は、受信した前記コマンドに含まれる前記サイト番号および前記コンテキスト番号の組が、前記割当記憶部に記憶されている前記識別情報に含まれている場合には、前記コマンドを取得する入出力部を更に有する
請求項4に記載の試験装置。 - 前記制御装置は、当該制御装置を示すサイト番号および当該スレッドを示すコンテキスト番号の組を含む前記コマンドを前記試験モジュールへと送信し、
前記インターフェイス部は、受信した前記コマンドによって試験対象として指定される1または複数の被試験デバイスのうちの前記サイト番号および前記コンテキスト番号の組に対応する1または複数の被試験デバイス以外の被試験デバイスへのアクセスをマスクする
請求項2に記載の試験装置。 - 前記制御装置は、前記被試験デバイスの1または複数の端子を特定する論理アドレスを含む前記コマンドを前記試験モジュールへと送信し、
前記インターフェイス部は、当該試験モジュールが有する前記複数の試験部と前記被試験デバイスの端子との接続関係を記憶するピンマップテーブルを更に有し、
前記入出力部は、取得した前記コマンドに含まれる論理アドレスを前記ピンマップテーブルに供給し、
前記ピンマップテーブルは、前記論理アドレスを受け取ったことに応じて、前記論理アドレスにより特定される前記被試験デバイスの端子が接続された1または複数の前記試験部を特定する物理アドレスを出力する
請求項5に記載の試験装置。 - 前記インターフェイス部は、
試験対象となる前記被試験デバイスの端子を特定する物理アドレスの複数の候補であって、前記サイト番号および前記コンテキスト番号の組に対応する前記物理アドレスの複数の候補を記憶し、前記複数の候補のうち前記入出力部が取得した前記コマンドに含まれる前記サイト番号よび前記コンテキスト番号の組に対応した物理アドレスを出力するDUTマップテーブルと、
前記ピンマップテーブルから出力された物理アドレスにより指定される1または複数の試験部のうち、前記DUTマップテーブルから出力された物理アドレスにより特定される端子に対応する試験部のみを特定する物理アドレスを出力するアンド回路と、
を更に有する請求項7に記載の試験装置。 - 前記インターフェイス部は、前記コマンドに応じて、前記物理アドレスにより特定される1または複数の前記試験部に対してアクセスするアクセス部を更に有する
請求項8に記載の試験装置。 - 前記複数の制御装置のそれぞれに対応して設けられ、対応する制御装置により実行される前記試験プログラムをユーザに編集させる複数の編集装置を更に備える
請求項1に記載の試験装置。 - 請求項1に記載の試験装置に備えられる試験モジュール。
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TWI760157B (zh) * | 2021-03-24 | 2022-04-01 | 德律科技股份有限公司 | 多核並行測試單一待測物的系統及方法 |
CN114356771A (zh) * | 2021-12-31 | 2022-04-15 | 龙芯中科(武汉)技术有限公司 | 数据处理实体的操作方法、装置和设备 |
CN116359716B (zh) * | 2023-05-31 | 2023-08-04 | 深圳市华测半导体设备有限公司 | 一种ic测试机动态分配测试资源的方法、***及介质 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006266835A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Advantest Corp | 試験装置、試験方法、及び試験制御プログラム |
JP2008032732A (ja) * | 2007-08-13 | 2008-02-14 | Advantest Corp | ピン番号変換装置 |
JP2010085404A (ja) * | 2008-09-29 | 2010-04-15 | Advantest Corp | 試験装置 |
WO2011001462A1 (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-06 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置 |
JP2011059113A (ja) * | 2009-09-10 | 2011-03-24 | Advantest Corp | 試験装置および試験方法 |
JP2011154025A (ja) * | 2010-01-26 | 2011-08-11 | Advantest Corp | 試験装置および試験モジュール |
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US7210087B2 (en) * | 2004-05-22 | 2007-04-24 | Advantest America R&D Center, Inc. | Method and system for simulating a modular test system |
TWI372874B (en) * | 2009-03-11 | 2012-09-21 | Star Techn Inc | Method for configuring a combinational switching matrix and testing system for semiconductor devices using the same |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006266835A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Advantest Corp | 試験装置、試験方法、及び試験制御プログラム |
JP2008032732A (ja) * | 2007-08-13 | 2008-02-14 | Advantest Corp | ピン番号変換装置 |
JP2010085404A (ja) * | 2008-09-29 | 2010-04-15 | Advantest Corp | 試験装置 |
WO2011001462A1 (ja) * | 2009-06-29 | 2011-01-06 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置 |
JP2011059113A (ja) * | 2009-09-10 | 2011-03-24 | Advantest Corp | 試験装置および試験方法 |
JP2011154025A (ja) * | 2010-01-26 | 2011-08-11 | Advantest Corp | 試験装置および試験モジュール |
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