JP2013113666A - 光学式測距装置およびそれを搭載した電子機器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】受光レンズ40の下に配置された第1反射体43と受光素子33の上に配置された第2反射体41とによって受光軸を折り曲げることによって、受光レンズ40の下側の空間を有効に利用して焦点距離を大きく取ることができる。然も、測距モジュールの外部に光路変更手段を設ける場合よりも小型化することができる。こうして、長距離を高精度に検出可能な小型の光学式測距装置を提供することができる。
【選択図】図1
Description
表面に配線が形成された基板上あるいはリードフレーム上に実装された発光素子と、
上記基板上あるいは上記リードフレーム上に実装されると共に、上記発光素子から出射されて測定対象物で反射された光によって形成される光スポットの位置を検出する受光素子と、
上記受光素子から出力された信号を処理する信号処理部と、
上記発光素子を透光性樹脂によって封止してなる発光側1次モールド部と、
上記発光側1次モールド部,上記受光素子および上記信号処理部を遮光性樹脂によって一体に封止してなる2次モールド部と、
上記発光素子から出射された光を上記測定対象物に向けて投光する発光レンズと、
上記測定対象物で反射された光を集光する受光レンズと、
上記発光レンズを含む発光側光学系と上記受光レンズを含む受光側光学系との間を遮光する遮光壁と、
上記受光レンズと上記受光素子との間に配置されると共に、上記受光レンズによって集光された光束の光軸の向きを変更して上記受光素子に導く第1反射面および第2反射面と
を備え
上記第1反射面と上記第2反射面との間には単一の媒質が存在している
ことを特徴としている。
上記第1反射面は、上記受光レンズによって集光された光束の光軸の向きを上記発光レンズの側に変更し、
上記第2反射面は、上記第1反射面からの光束の光軸の向きを上記受光素子の側に変更する。
上記第2反射面は、第2反射体の一面を構成しており、
上記第2反射体は、上記受光レンズと一体に形成されている。
上記第2反射面は、第2反射体の一面を構成しており、
上記第2反射体は、上記発光レンズおよび上記受光レンズを保持するレンズホルダと一体に形成されている。
上記発光レンズおよび上記受光レンズと上記2次モールド部との間には、遮光性樹脂からなる上記遮光壁を含む反射体が設けられており、
上記第1反射面および上記第2反射面は、上記反射体に形成されている。
上記受光素子および上記信号処理部を透光性樹脂によって封止してなる受光側1次モールド部を備え、
上記2次モールド部は、上記発光側1次モールド部と上記受光側1次モールド部とを上記遮光性樹脂によって一体に封止することによって、上記発光側1次モールド部,上記受光素子および上記信号処理部を上記遮光性樹脂によって一体に封止しており、
上記第1反射面は、上記基板あるいは上記リードフレームを介して上記受光側1次モールド部と一体に形成されている。
上記第1反射面は、第1反射体の一面を構成しており、
上記受光側1次モールド部と上記第1反射体とは互いに分離しており、
上記受光側1次モールド部と上記第1反射体との間には遮光部が形成されている。
上記遮光部は、上記2次モールド部を構成している上記遮光性樹脂の一部でなる。
上記この発明の光学式測距装置を搭載したことを特徴としている。
図1は、本実施の形態の光学式測距装置における縦断面図である。
図4は、本実施の形態の光学式測距装置における縦断面図である。
32,52…発光素子
33,53…受光素子
34,54…発光側1次モールド部
35…第1反射体付受光側1次モールド部
36,55…2次モールド部
37,38,56,57…窓
39,60…発光レンズ
40,61…受光レンズ
41,49…第2反射体
42…レンズホルダ
43,46…第1反射体
44,65…遮光壁
45…受光側1次モールド部
47…第1遮光部
48…第2遮光部
58…遮光部
59…反射体
62…レンズフレーム
63…第1反射面
64…第2反射面
Claims (9)
- 表面に配線が形成された基板上あるいはリードフレーム上に実装された発光素子と、
上記基板上あるいは上記リードフレーム上に実装されると共に、上記発光素子から出射されて測定対象物で反射された光によって形成される光スポットの位置を検出する受光素子と、
上記受光素子から出力された信号を処理する信号処理部と、
上記発光素子を透光性樹脂によって封止してなる発光側1次モールド部と、
上記発光側1次モールド部,上記受光素子および上記信号処理部を遮光性樹脂によって一体に封止してなる2次モールド部と、
上記発光素子から出射された光を上記測定対象物に向けて投光する発光レンズと、
上記測定対象物で反射された光を集光する受光レンズと、
上記発光レンズを含む発光側光学系と上記受光レンズを含む受光側光学系との間を遮光する遮光壁と、
上記受光レンズと上記受光素子との間に配置されると共に、上記受光レンズによって集光された光束の光軸の向きを変更して上記受光素子に導く第1反射面および第2反射面と
を備え
上記第1反射面と上記第2反射面との間には単一の媒質が存在している
ことを特徴とする光学式測距装置。 - 請求項1に記載の光学式測距装置において、
上記第1反射面は、上記受光レンズによって集光された光束の光軸の向きを上記発光レンズの側に変更し、
上記第2反射面は、上記第1反射面からの光束の光軸の向きを上記受光素子の側に変更する
ことを特徴とする光学式測距装置。 - 請求項1あるいは請求項2に記載の光学式測距装置において、
上記第2反射面は、第2反射体の一面を構成しており、
上記第2反射体は、上記受光レンズと一体に形成されている
ことを特徴とする光学式測距装置。 - 請求項1あるいは請求項2に記載の光学式測距装置において、
上記第2反射面は、第2反射体の一面を構成しており、
上記第2反射体は、上記発光レンズおよび上記受光レンズを保持するレンズホルダと一体に形成されている
ことを特徴とする光学式測距装置。 - 請求項1あるいは請求項2に記載の光学式測距装置において、
上記発光レンズおよび上記受光レンズと上記2次モールド部との間には、遮光性樹脂からなる上記遮光壁を含む反射体が設けられており、
上記第1反射面および上記第2反射面は、上記反射体に形成されている
ことを特徴とする光学式測距装置。 - 請求項1あるいは請求項2に記載の光学式測距装置において、
上記受光素子および上記信号処理部を透光性樹脂によって封止してなる受光側1次モールド部を備え、
上記2次モールド部は、上記発光側1次モールド部と上記受光側1次モールド部とを上記遮光性樹脂によって一体に封止することによって、上記発光側1次モールド部,上記受光素子および上記信号処理部を上記遮光性樹脂によって一体に封止しており、
上記第1反射面は、上記基板あるいは上記リードフレームを介して上記受光側1次モールド部と一体に形成されている
ことを特徴とする光学式測距装置。 - 請求項6に記載の光学式測距装置において、
上記第1反射面は、第1反射体の一面を構成しており、
上記受光側1次モールド部と上記第1反射体とは互いに分離しており、
上記受光側1次モールド部と上記第1反射体との間には遮光部が形成されている
ことを特徴とする光学式測距装置。 - 請求項7に記載の光学式測距装置において、
上記遮光部は、上記2次モールド部を構成している上記遮光性樹脂の一部でなる
ことを特徴とする光学式測距装置。 - 上記請求項1から請求項8までの何れか一つに記載の光学式測距装置を搭載した
ことを特徴とする電子機器。
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