JP2013101041A - 非破壊検査装置及び当該装置での位置ずれ検出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】非破壊検査装置1は、X線照射器20、低エネルギ検出器32、高エネルギ検出器42、低エネルギ透過率算出部72、高エネルギ透過率算出部74及び検出部76を備えている。低エネルギ透過率算出部72は、被検査物Sを透過したX線の低エネルギ範囲における透過率を、低エネルギ検出器32で検出された輝度データから算出し、高エネルギ透過率算出部74は、被検査物Sを透過したX線の高エネルギ範囲における透過率を、高エネルギ検出器42で検出された輝度データから算出する。検出部76は、低エネルギ透過率算出部72で算出された透過率と、高エネルギ透過率算出部74で算出された透過率との比に基づいてX線照射器20の位置ずれを検出する。
【選択図】図2
Description
DL=FL×RLn・・・(1)
DLn’=FL×RLn’・・・(2)
輝度補正部72cは、補正後の各輝度データDLn’を取得すると、取得した輝度データDLn’を透過率算出部72dに出力する。
DH=FH×RHn・・・(3)
DHn’=FH×RHn’・・・(4)
輝度補正部74cは、補正後の各輝度データDHn’を取得すると、取得した輝度データDHn’を透過率算出部74dに出力する。
透過率の比=PH/PL・・・(5)
PH/PL>1・・・(6)
透過率の比=PH/PL=DHn’/DLn’・・・(7)
PH―PL>0・・・(8)
Claims (9)
- 被検査物を所定の方向に搬送する搬送手段と、
前記搬送手段による搬送方向と交差するように前記搬送手段に向けて放射線を照射する放射線源と、
前記放射線源から照射された放射線を第1のエネルギ範囲で検出する第1の放射線検出器と、
前記放射線の照射方向において前記第1の放射線検出器よりも下流側に位置し、前記放射線源から照射された放射線を前記第1のエネルギ範囲よりも高い第2のエネルギ範囲で検出する第2の放射線検出器と、
前記放射線源から照射されて前記被検査物を透過した放射線の前記第1のエネルギ範囲における第1の透過率を示す値を、前記第1の放射線検出器で検出された放射線の輝度データから算出する第1の算出手段と、
前記放射線源から照射されて前記被検査物を透過した放射線の前記第2のエネルギ範囲における第2の透過率を示す値を、前記第2の放射線検出器で検出された放射線の輝度データから算出する第2の算出手段と、
前記第1の算出手段で算出された前記第1の透過率を示す値と前記第2の算出手段で算出された前記第2の透過率を示す値との比又は差に基づいて前記放射線源の位置ずれを検出する検出手段と、
を備える非破壊検査装置。 - 前記検出手段は、前記第1の透過率を示す値と前記第2の透過率を示す値との比又は差を所定の閾値と比較して前記放射線源の位置ずれを検出する、請求項1に記載の非破壊検査装置。
- 前記第1の放射線検出器は、前記搬送手段で搬送される前記被検査物を透過した放射線を前記第1のエネルギ範囲で検出し、
前記第2の放射線検出器は、前記搬送手段で搬送される前記被検査物を透過した放射線を前記第2のエネルギ範囲で検出する、請求項1又は2に記載の非破壊検査装置。 - 前記第1の算出手段は、前記被検査物を透過した放射線の前記第1のエネルギ範囲における輝度データを測定するための基礎となる第1の基礎輝度データと、前記被検査物を透過した放射線の前記第1のエネルギ範囲における第1の透過輝度データとに基づいて、前記第1の透過率を示す値を算出し、
前記第2の算出手段は、前記被検査物を透過した放射線の前記第2のエネルギ範囲における輝度データを測定するための基礎となる第2の基礎輝度データと、前記被検査物を透過した放射線の前記第2のエネルギ範囲における第2の透過輝度データとに基づいて、前記第2の透過率を示す値を算出する、請求項1〜3の何れか一項に記載の非破壊検査装置。 - 前記第1の算出手段は、前記被検査物を除外した状態又は前記被検査物に含まれない部分において前記第1の放射線検出器で検出された輝度の生データを補正して前記第1の基礎輝度データを算出すると共に、前記被検査物を透過した放射線を前記第1の放射線検出器で検出した際の輝度の生データに、前記補正に用いた第1の補正関数を乗じて、前記第1の透過輝度データを算出し、
前記第2の算出手段は、前記被検査物を除外した状態又は前記被検査物に含まれない部分において前記第2の放射線検出器で検出された輝度の生データを補正して前記第2の基礎輝度データを算出すると共に、前記被検査物を透過した放射線を前記第2の放射線検出器で検出した際の輝度の生データに、前記補正に用いた第2の補正関数を乗じて、前記第2の透過輝度データを算出する、請求項4に記載の非破壊検査装置。 - 前記第1及び第2の算出手段は、前記第1及び第2の基礎輝度データが同じになるように前記第1及び第2の補正関数を設定する、請求項5に記載の非破壊検査装置。
- 前記検出手段で前記放射線源の位置ずれが検出された際に視覚的又は聴覚的に報知する報知手段を更に備える請求項1〜6の何れか一項に記載の非破壊検査装置。
- 前記検出手段で前記放射線源の位置ずれが検出された際に前記放射線源を前記照射方向又は前記照射方向に交差する面方向に沿って移動させる駆動手段を更に備える請求項1〜7の何れか一項に記載の非破壊検査装置。
- 被検査物を所定の方向に搬送する搬送手段と、前記搬送手段による搬送方向と交差するように前記搬送手段に向けて放射線を照射する放射線源と、前記放射線源から照射された放射線を第1のエネルギ範囲で検出する第1の放射線検出器と、前記放射線の照射方向において前記第1の放射線検出器よりも下流側に位置し、前記放射線源から照射された放射線を前記第1のエネルギ範囲よりも高い第2のエネルギ範囲で検出する第2の放射線検出器とを備えた非破壊検査装置において、前記放射線源の位置ずれを検出する検出方法であって、
前記放射線源から照射されて前記被検査物を透過した放射線の前記第1のエネルギ範囲における第1の透過率を示す値を、前記第1の放射線検出器で検出された放射線の輝度データから算出する第1の算出ステップと、
前記放射線源から照射されて前記被検査物を透過した放射線の前記第2のエネルギ範囲における第2の透過率を示す値を、前記第2の放射線検出器で検出された放射線の輝度データから算出する第2の算出ステップと、
前記第1の算出ステップで算出された前記第1の透過率を示す値と前記第2の算出ステップで算出された前記第2の透過率を示す値との比又は差に基づいて前記放射線源の位置ずれを検出する検出ステップと、
を備える検出方法。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016024502A1 (ja) * | 2014-08-11 | 2016-02-18 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP2017072554A (ja) * | 2015-10-09 | 2017-04-13 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP2017181402A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 住友ベークライト株式会社 | 検査装置 |
JP2018146554A (ja) * | 2017-03-09 | 2018-09-20 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
JP2020153777A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
WO2021210442A1 (ja) * | 2020-04-16 | 2021-10-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検査方法、放射線検査装置、放射線検査システム、及び放射線検査プログラム |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6747948B2 (ja) * | 2016-11-25 | 2020-08-26 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線画像取得装置、及び放射線画像の取得方法。 |
JP2023008225A (ja) * | 2021-07-05 | 2023-01-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得装置、放射線画像取得システム、及び放射線画像取得方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000121579A (ja) * | 1998-10-13 | 2000-04-28 | Nagoya Denki Kogyo Kk | X線撮像方法、x線撮像装置およびx線撮像制御プログラムを記録した媒体 |
JP2000278607A (ja) * | 1999-03-29 | 2000-10-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | X線撮影装置 |
JP2001133554A (ja) * | 1999-11-01 | 2001-05-18 | Toshiba Corp | 放射線検出器及び放射線診断装置 |
JP2005158410A (ja) * | 2003-11-25 | 2005-06-16 | Hitachi Ltd | X線撮像装置 |
JP2007132796A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Ishida Co Ltd | X線検査装置およびx線検査プログラム |
WO2010055728A1 (ja) * | 2008-11-11 | 2010-05-20 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法 |
JP2011015732A (ja) * | 2009-07-07 | 2011-01-27 | Aloka Co Ltd | 超音波治療装置 |
WO2011033838A1 (ja) * | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5297142B2 (ja) * | 2008-10-09 | 2013-09-25 | アンリツ産機システム株式会社 | 異物検出方法および装置 |
JP5457118B2 (ja) * | 2009-09-18 | 2014-04-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置 |
JP5616182B2 (ja) * | 2010-09-28 | 2014-10-29 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP5706724B2 (ja) * | 2011-03-17 | 2015-04-22 | アンリツ産機システム株式会社 | X線異物検出装置 |
-
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000121579A (ja) * | 1998-10-13 | 2000-04-28 | Nagoya Denki Kogyo Kk | X線撮像方法、x線撮像装置およびx線撮像制御プログラムを記録した媒体 |
JP2000278607A (ja) * | 1999-03-29 | 2000-10-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | X線撮影装置 |
JP2001133554A (ja) * | 1999-11-01 | 2001-05-18 | Toshiba Corp | 放射線検出器及び放射線診断装置 |
JP2005158410A (ja) * | 2003-11-25 | 2005-06-16 | Hitachi Ltd | X線撮像装置 |
JP2007132796A (ja) * | 2005-11-10 | 2007-05-31 | Ishida Co Ltd | X線検査装置およびx線検査プログラム |
WO2010055728A1 (ja) * | 2008-11-11 | 2010-05-20 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置、放射線画像取得システム及び放射線の検出方法 |
JP2011015732A (ja) * | 2009-07-07 | 2011-01-27 | Aloka Co Ltd | 超音波治療装置 |
WO2011033838A1 (ja) * | 2009-09-18 | 2011-03-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出装置 |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016024502A1 (ja) * | 2014-08-11 | 2016-02-18 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP2016038364A (ja) * | 2014-08-11 | 2016-03-22 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
US9752996B2 (en) | 2014-08-11 | 2017-09-05 | Ishida Co., Ltd. | X-ray inspection device |
JP2017072554A (ja) * | 2015-10-09 | 2017-04-13 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
US10788436B2 (en) | 2015-10-09 | 2020-09-29 | Ishida Co., Ltd. | X-ray examination device |
JP2017181402A (ja) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 住友ベークライト株式会社 | 検査装置 |
JP2018146554A (ja) * | 2017-03-09 | 2018-09-20 | アンリツインフィビス株式会社 | X線検査装置 |
JP2020153777A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
JP7328667B2 (ja) | 2019-03-19 | 2023-08-17 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
WO2021210442A1 (ja) * | 2020-04-16 | 2021-10-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検査方法、放射線検査装置、放射線検査システム、及び放射線検査プログラム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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