JP2013012679A - Semiconductor cell lead wire connection device and connection method thereof - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a lead wire connection device in which lead wires for connecting a plurality of crystal semiconductor cells used for a solar cell module can be cleaned.SOLUTION: A semiconductor cell lead wire connection device includes: tape bonding means for bonding an adhesive conductive tape onto upper and lower surfaces of semiconductor cells from a feeding part; conveying means for pitch feeding the semiconductor cells with the conductive tape bonded thereon; lead wire processing means 15a to 15d for mold-processing a lead wire 2; cleaning means 111 for removing dirt adhered to the lead wire before the lead wire is mold-processed by the lead wire processing means; temporal press-bonding means provided on a portion facing the semiconductor cells to be pitch-fed and, while retaining the lead wire having been molded, alternately connects the upper and lower surfaces of the semiconductor cells arranged side by side to the conductive tape provided on the upper and lower surfaces of the semiconductor cells to be pitch-fed, by repeating temporal press-bonding; and regular press-bonding means provided on the downstream side in the feeding direction of the semiconductor cells relative to the temporal press-bonding means, for performing regular press-bonding on a pair of upper and lower lead wires temporarily press-bonded on the upper and lower surfaces of the semiconductor cells.

Description

この発明は太陽電池モジュールに用いられる複数の半導体セルを帯状のリード線によって一列に接続するためのリード線接続装置及び接続方法に関する。   The present invention relates to a lead wire connecting device and a connecting method for connecting a plurality of semiconductor cells used in a solar cell module in a row with a strip-like lead wire.

太陽電池モジュールには結晶タイプと薄膜タイプがある。結晶タイプの太陽電池モジュールは単結晶シリコンや多結晶シリコンなどの半導体セルを帯状のリード線によって一列に接続し、その半導体セルをガラス製の基板上に樹脂によって一体的にラミネートして構成される。   Solar cell modules include crystal types and thin film types. A crystal type solar cell module is formed by connecting semiconductor cells such as single crystal silicon and polycrystalline silicon in a row by strip-shaped lead wires, and laminating the semiconductor cells on a glass substrate integrally with a resin. .

太陽電池モジュールは太陽電池セルである、複数の半導体セルの表面に配置された導通材としての、たとえば粘着性の導電性テープを介してクランク状に曲成された接続部材である、帯板状のリード線で電気的に接続するようにしている。   The solar cell module is a solar cell, as a conductive material disposed on the surface of a plurality of semiconductor cells, for example, a strip-shaped connecting member bent in a crank shape via an adhesive conductive tape The lead wire is used for electrical connection.

上記リード線による複数の半導体セルの接続は、リード線の一端部を隣り合う一対の半導体セルの一方の上面に設けられた導電性テープに接続し、他端部を他方の下面に設けられた導電性テープに接続するようにしている。   The connection of the plurality of semiconductor cells by the lead wire is such that one end portion of the lead wire is connected to a conductive tape provided on one upper surface of a pair of adjacent semiconductor cells, and the other end portion is provided on the other lower surface. It is connected to the conductive tape.

図17(a),(b)は一般的な結晶タイプの太陽電池モジュールを示し、図17(a)は多数の半導体セル1(1a〜1nとする)をリード線2(2a〜2nとする)によって一列に接続した状態の平面図、図17(b)は拡大した側面図である。   17 (a) and 17 (b) show a general crystal type solar cell module, and FIG. 17 (a) shows a number of semiconductor cells 1 (1a to 1n) as lead wires 2 (2a to 2n). ), And FIG. 17B is an enlarged side view.

図17(b)に示すように、各半導体セル1a〜1nの太陽光を受ける受光面である上面には多数のグリッド電極(フィンガー電極)5が等間隔に形成され、これらグリッド電極5の配置方向と交差する幅方向の両端部及び中央部の三箇所はバスバー電極6aによって接続されている。各半導体セル1a〜1nの裏面には、裏面のほぼ全体にわたって裏面電極7が形成され、この裏面電極7には3本のバスバー電極6bが上面側のバスバー電極6aと対応して形成されている。   As shown in FIG. 17B, a large number of grid electrodes (finger electrodes) 5 are formed at equal intervals on the upper surface, which is a light receiving surface that receives sunlight of each of the semiconductor cells 1a to 1n. Three portions of the both ends and the center in the width direction crossing the direction are connected by a bus bar electrode 6a. On the back surface of each of the semiconductor cells 1a to 1n, a back electrode 7 is formed over almost the entire back surface, and three bus bar electrodes 6b are formed on the back electrode 7 so as to correspond to the bus bar electrodes 6a on the upper surface side. .

上面側のバスバー電極6aと下面側のバスバー電極6bとにはそれぞれ粘着性を有する熱硬化性の樹脂からなる上記導電性テープ3が貼着され、隣り合う一対の半導体セル1の上面側のバスバー電極6aと裏面側のバスバー電極6bに貼着された導電性テープ3には、クランク状に屈曲されたリード線2a〜2nの一端部と他端部が仮圧着される。   The bus bar electrode 6a on the upper surface side and the bus bar electrode 6b on the lower surface side are each adhered with the conductive tape 3 made of a thermosetting resin having adhesiveness, and the bus bars on the upper surface side of a pair of adjacent semiconductor cells 1 are bonded. One end portion and the other end portion of the lead wires 2a to 2n bent in a crank shape are temporarily press-bonded to the conductive tape 3 attached to the electrode 6a and the bus bar electrode 6b on the back surface side.

ついで、上記リード線2a〜2nを仮圧着時よりも大きな加圧力で加圧しながら加熱する。それによって、上記導電性テープ3が溶融硬化されるから、リード線2a〜2nが半導体セル1a〜1nの上下面に本圧着、つまり接続固定されることになる。   Next, the lead wires 2a to 2n are heated while being pressed with a larger pressing force than that at the time of temporary press bonding. Thereby, since the conductive tape 3 is melt-cured, the lead wires 2a to 2n are finally crimped, that is, connected and fixed to the upper and lower surfaces of the semiconductor cells 1a to 1n.

上記リード線2は、一端部を隣り合う一対の半導体セル1の一方の上面に接続し、他端部を他方の下面に接続するため、長手方向の中途部を境にして一端部と他端部とが上下方向に異なる高さになるよう屈曲形成される。   The lead wire 2 has one end connected to one upper surface of a pair of adjacent semiconductor cells 1 and the other end connected to the other lower surface. The portion is bent so as to have different heights in the vertical direction.

上記リード線2を所定の形状に屈曲形成するのは、リード線の製造業者から供給リールに巻装された状態で購入した後、上記供給リールから繰り出しながら上述した形状に成形して半導体セル1に導電性テープ3を介して仮圧着された後、本圧着される。つまり、複数の半導体セル1a〜1nをリード線2a〜2nによって一列に接続するようにしている。   The lead wire 2 is bent and formed into a predetermined shape after being purchased from a lead wire manufacturer while wound on a supply reel, and then formed into the shape described above while being fed out from the supply reel. After being temporarily pressure-bonded via the conductive tape 3, it is finally pressure-bonded. That is, the plurality of semiconductor cells 1a to 1n are connected in a row by the lead wires 2a to 2n.

特開2011−14880号公報JP 2011-14880 A

ところで、供給リールに巻装されたリード線2は製造過程でメッキ処理される。そのため、リード線の表面にはフラックスなどの汚れが付着残留していることがある。とくに、上記リード線は帯状であるから、上下面に汚れが付着残留し易いということがある。   By the way, the lead wire 2 wound around the supply reel is plated in the manufacturing process. Therefore, dirt such as flux may remain on the surface of the lead wire. In particular, since the lead wire has a strip shape, dirt may easily adhere to the upper and lower surfaces.

上記リード線に汚れが付着していると、そのリード線を所定の形状に成形加工した後、隣り合う一対の半導体セルの一方の上面に一端部を導電性テープを介して貼着し、他端部を他方の下面に導電性テープを介して貼着する際、上記導電性テープとの接着強度が十分に得られないということがある。   If the lead wire is contaminated, after molding the lead wire into a predetermined shape, one end is attached to the upper surface of one of a pair of adjacent semiconductor cells via a conductive tape. When sticking an end part to the other lower surface via a conductive tape, adhesive strength with the said conductive tape may not be obtained enough.

そのため、太陽電池モジュールを製造する過程で半導体セルに上記導線性テープを介して貼着された上記リード線が剥がれたり、捲くれたりして、不良品の発生原因になるということがある。   Therefore, in the process of manufacturing the solar cell module, the lead wire attached to the semiconductor cell via the conductive tape may be peeled off or curled, which may cause defective products.

この発明は、リード線を隣り合う一対の半導体セルを接続する形状に成形する前に、そのリード線に付着する汚れを確実に清掃除去するようにした半導体セルのリード線接続装置及び接続方法を提供することにある。   The present invention relates to a semiconductor cell lead wire connecting apparatus and connection method that reliably removes dirt adhering to a lead wire before forming the lead wire into a shape for connecting a pair of adjacent semiconductor cells. It is to provide.

この発明は、複数の半導体セルを帯状のリード線によって一列に接続するリード線接続装置であって、
上記半導体セルの供給部と、
この供給部から供給された上記半導体セルの上面と下面に所定長さに切断された粘着性の導電性テープを貼着するテープ貼着手段と、
このテープ貼着手段によって上面と下面に上記導電性テープが貼着された上記半導体セルが供給されその半導体セルをピッチ送りする搬送手段と、
上記リード線を長手方向の中途部を境にして上下方向に屈曲する形状に成形加工するリード線加工手段と、
このリード線加工手段によって成形加工される前に、上記リード線に付着する汚れを除去する清掃手段と、
上記搬送手段によってピッチ送りされる上記半導体セルと対向する部位に設けられ上記リード線加工手段によって成形加工されたリード線を保持してピッチ送りされる上記半導体セルの上面と下面に設けられた導電性テープに上記リード線の仮圧着を繰り返して隣り合う上記半導体セルの上面と下面を交互に電気的に接続する仮圧着手段と、
この仮圧着手段よりも上記搬送手段による半導体セルの送り方向下流側の半導体セルと対向する部位に配置され上記仮圧着手段によって上記半導体セルの上面と下面に仮圧着された上下一対の上記リード線を同時に本圧着する本圧着手段と
を具備したことを特徴とする半導体セルのリード線接続装置にある。
The present invention is a lead wire connecting device for connecting a plurality of semiconductor cells in a row by strip-like lead wires,
A supply part of the semiconductor cell;
Tape adhering means for adhering an adhesive conductive tape cut to a predetermined length on the upper and lower surfaces of the semiconductor cell supplied from the supply unit;
The semiconductor cell with the conductive tape adhered to the upper and lower surfaces by the tape adhering means is supplied, and the conveying means for pitch-feeding the semiconductor cells;
Lead wire processing means for forming the lead wire into a shape that bends in the vertical direction at the middle part in the longitudinal direction;
Cleaning means for removing dirt adhering to the lead wire before being molded by the lead wire processing means;
Conductives provided on the upper and lower surfaces of the semiconductor cells that are pitch-fed while holding lead wires that are formed by the lead wire processing means and are opposed to the semiconductor cells that are pitch-fed by the conveying means. Temporary crimping means for electrically connecting the upper and lower surfaces of the adjacent semiconductor cells alternately by repeating the temporary crimping of the lead wires to the adhesive tape;
A pair of upper and lower lead wires disposed at a position facing the semiconductor cell on the downstream side of the transport direction of the semiconductor cell by the transport means rather than the temporary pressure-bonding means, and temporarily bonded to the upper surface and the lower surface of the semiconductor cell by the temporary pressure-bonding means. A lead bonding apparatus for semiconductor cells, comprising: a main press-bonding means for simultaneously press-bonding the two.

上記リード線加工手段は巻装された上記リード線を繰り出す供給リールを有し、
上記清掃手段は、上記供給リールから繰り出されたリード線の送り方向に沿って配置された第1の清掃ユニットと第2の清掃ユニットを有し、
各清掃ユニットは、上記リード線の一方の面と他方に面にそれぞれ対向して配置された清掃部材と、各清掃部材を上記リード線の一方の面と他方に面に対して接離する方向に駆動し上記リード線を清掃するときには一対の清掃部材を接近方向に駆動して上記リード線を摺動可能に挟持させる第1の駆動手段とによって構成されていて、
上記リード線は上記第1の清掃ユニットと第2の清掃ユニットのどちらか一方によって清掃されることが好ましい。
The lead wire processing means has a supply reel for feeding the wound lead wire,
The cleaning means has a first cleaning unit and a second cleaning unit arranged along the feeding direction of the lead wire fed out from the supply reel,
Each cleaning unit includes a cleaning member disposed on one surface and the other surface of the lead wire so as to face each other, and a direction in which each cleaning member is brought into contact with and separated from one surface and the other surface of the lead wire. And a first driving means for driving the pair of cleaning members in an approaching direction to slidably hold the lead wire when cleaning the lead wire.
It is preferable that the lead wire is cleaned by one of the first cleaning unit and the second cleaning unit.

上記リード線加工手段は巻装された上記リード線を繰り出す供給リールを有し、
上記清掃手段は、上記リード線の上記供給リールから繰り出された部分と上記リード線加工手段によって成形加工される部分との間の上記リード線の一方の面と他方の面に対向して設けられた2つで対を成す少なくとも2組の清掃部材と、
上記リード線の一方の面に対向する1つの清掃部材と他方の面に対向する1つの清掃部材をそれぞれ上記リード線に対して接離する方向に駆動して一方の組と他方の組のどちらかの2つの清掃部材を上記リード線の一方の面と他方の面に接触させて上記リード線の両方の面を清掃させる第2の駆動手段とによって構成されていて、
上記リード線は2組の清掃部材のどちらか一方によって清掃されることが好ましい。
The lead wire processing means has a supply reel for feeding the wound lead wire,
The cleaning means is provided to face one surface and the other surface of the lead wire between a portion of the lead wire fed from the supply reel and a portion formed by the lead wire processing device. At least two pairs of cleaning members paired with each other;
Which one of the set and the other set is driven by driving one cleaning member facing one surface of the lead wire and one cleaning member facing the other surface in the direction of contacting and separating from the lead wire, respectively. The two cleaning members are in contact with one side of the lead wire and the other side of the lead wire, the second drive means for cleaning both sides of the lead wire,
The lead wire is preferably cleaned by either one of two sets of cleaning members.

この発明は、複数の半導体セルを帯状のリード線によって一列に接続するリード線接続方法であって、
上記半導体セルの上面と下面に粘着性の導電性テープを貼着する工程と、
上記リード線を長手方向の中途部を境にして上下方向に屈曲する形状に成形加工する工程と、
上記リード線を成形加工する前に、帯状の上記リード線の両面を清掃しその両面に付着する汚れを除去する工程と、
上記半導体セルの上面と下面に設けられた上記導電性テープに、両面が清掃されてから上下方向に屈曲する形状に成形加工された上記リード線の一方の一端部と他方の他端部を隣り合う上記半導体セルの上面と下面に仮圧着する工程と、
上記半導体セルの上面と下面に仮圧着された上記リード線を本圧着する工程と
を具備したことを特徴とする半導体セルのリード線接続方法にある。
The present invention is a lead wire connection method for connecting a plurality of semiconductor cells in a row by strip-like lead wires,
Adhering an adhesive conductive tape to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell;
Forming the lead wire into a shape that bends in a vertical direction with a middle part in the longitudinal direction as a boundary; and
Before forming the lead wire, cleaning both surfaces of the strip-shaped lead wire and removing dirt adhering to both surfaces;
Adjacent one end and the other end of the lead wire formed into a shape that bends in the vertical direction after both surfaces are cleaned on the conductive tape provided on the upper and lower surfaces of the semiconductor cell. Temporarily bonding the upper surface and the lower surface of the matching semiconductor cell;
A method for connecting lead wires of a semiconductor cell, comprising: a step of subjecting the lead wires temporarily press-bonded to an upper surface and a lower surface of the semiconductor cell.

この発明によれば、リード線を成形加工して半導体セルに導電性テープを介して仮圧着する前に、上記リード線の両面を清掃するようにした。   According to the present invention, both sides of the lead wire are cleaned before the lead wire is molded and temporarily bonded to the semiconductor cell via the conductive tape.

そのため、上記リード線を上記半導体セルに上記導電性テープを介して剥がれや捲れが生じないよう確実に貼着することができるから、不良品の発生を防止することができる。   Therefore, since the lead wire can be securely attached to the semiconductor cell via the conductive tape so as not to be peeled off or twisted, generation of defective products can be prevented.

この発明の第1の実施の形態のリード線接続装置の概略的構成を示す平面図。The top view which shows schematic structure of the lead wire connection apparatus of 1st Embodiment of this invention. テープ貼着手段の貼着テーブルが設けられた架台の側面図。The side view of the mount frame in which the sticking table of the tape sticking means was provided. 図2に示す架台の平面図。The top view of the mount frame shown in FIG. 貼着テーブルに供給された半導体セルの上下面に導電性テープを貼着するテープ貼着部を示す側面図。The side view which shows the tape sticking part which sticks a conductive tape on the upper and lower surfaces of the semiconductor cell supplied to the sticking table. (a)、(b)は離型テープに貼着された粘着テープを所定の長さに分断するときの説明図。(A), (b) is explanatory drawing when dividing the adhesive tape stuck on the release tape into predetermined length. 半導体セルを第1、第2の受け渡し装置によって供給部から搬送手段へ搬送する順序を説明するための図。The figure for demonstrating the order which conveys a semiconductor cell from a supply part to a conveyance means by the 1st, 2nd delivery apparatus. 搬送手段の無端ベルトの一部断面した側面図。The side view which carried out the partial cross section of the endless belt of a conveyance means. 搬送手段及びその側方のリード線加工手段の上方に配置された仮圧着手段を構成する第1、第2の上ブロックの配置状態を示す平面図。The top view which shows the arrangement | positioning state of the 1st, 2nd upper block which comprises the temporary crimping | compression-bonding means arrange | positioned above a conveyance means and the lead wire processing means of the side. 本発明の…半導体セルの上下面にリード線を仮圧着する一対の下ブロックと上ブロックを一部断面して示す側面図。The side view which shows a cross section partially of a pair of lower block and upper block which temporarily crimps | bonds a lead wire to upper and lower surfaces of a semiconductor cell of this invention. (a)はリード線成形加工手段がリード線を成形加工する前の状態を示す図、(b)はリード線成形加工手段がリード線を成形加工している状態を示す図。(A) is a figure which shows the state before a lead wire shaping | molding means shape | molds a lead wire, (b) is a figure which shows the state which the lead wire shaping | molding means shape | molds a lead wire. (a)〜(f)は半導体セルにリード線を順次接続してストリングを形成する工程を順次示した図。(A)-(f) is the figure which showed sequentially the process of forming a string by connecting a lead wire to a semiconductor cell sequentially. 本圧着手段の構成を示す側面図。The side view which shows the structure of this crimping | compression-bonding means. 半導体セルを搬送手段によって搬送されながら作られたストリングを搬送手段から排出するための排出手段を示す平面図。The top view which shows the discharge | emission means for discharging | emitting the string made while the semiconductor cell is conveyed by the conveyance means from a conveyance means. 上記排出手段の側面図。The side view of the said discharge means. (a),(b)はリード線加工手段に設けられた清掃手段の動作を説明する図。(A), (b) is a figure explaining operation | movement of the cleaning means provided in the lead wire processing means. (a)〜(c)はこの発明の第2の実施の形態のリード線加工手段に設けられた清掃手段の動作を説明する図。(A)-(c) is a figure explaining operation | movement of the cleaning means provided in the lead wire processing means of 2nd Embodiment of this invention. (a)は半導体セルをリード線によって接続したストリングの平面図、(b)はストリングの一部を拡大した側面図。(A) is a top view of the string which connected the semiconductor cell with the lead wire, (b) is the side view to which a part of string was expanded.

以下、この発明の第1の実施の形態を図1乃至図15を参照しながら説明する。図1はリード線接続装置の概略的構成を示す平面図である。このリード線接続装置は矩形板状のベース部材11を備えている。このベース部材11の上面には、長手方向の一端から他端に向かって半導体セル1の供給部12、この半導体セル1の上下面に導電性テープ3を貼着するテープ貼着手段13、このテープ貼着手段13で上下面に導電性テープ3が貼着された半導体セル1を間欠的にピッチ搬送する搬送手段14が順次配設されている。
なお、上記導電性テープ3は粘着性を有する合成樹脂に金属などの導電性を有する微粒子が混入されてテープ状に形成されている。
A first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a plan view showing a schematic configuration of the lead wire connecting apparatus. The lead wire connecting device includes a rectangular plate-like base member 11. On the upper surface of the base member 11, the supply portion 12 of the semiconductor cell 1 from one end to the other end in the longitudinal direction, the tape adhering means 13 for adhering the conductive tape 3 to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, Conveying means 14 for intermittently pitch-conveying the semiconductor cells 1 having the conductive tape 3 attached to the upper and lower surfaces by the tape attaching means 13 is sequentially arranged.
The conductive tape 3 is formed in a tape shape by mixing conductive fine particles such as metal in an adhesive synthetic resin.

上記搬送手段14の一端部の側方には、この搬送手段14に順次供給される複数の半導体セル1を一列に接続するためのリード線2をクランク状に成形加工する3つのリード線加工手段15a〜15cが配置されている。   Three lead wire processing means for forming a lead wire 2 for connecting a plurality of semiconductor cells 1 sequentially supplied to the transport means 14 in a row on the side of one end of the transport means 14 in a crank shape. 15a to 15c are arranged.

上記リード線加工手段15a〜15cによってクランク状に成形加工されたリード線2は、上記搬送手段14の一端部の上方に配置された仮圧着手段15によって上記搬送手段14を搬送される半導体セル1に仮圧着される。後述するように、リード線2の仮圧着が繰り返されることで、複数の半導体セル1が順次一列に接続されながら、上記搬送手段14によって搬送される。   The lead wire 2 formed into a crank shape by the lead wire processing means 15a to 15c is a semiconductor cell 1 that is transported by the transport means 14 by a temporary crimping means 15 disposed above one end of the transport means 14. Is temporarily pressure-bonded. As will be described later, the plurality of semiconductor cells 1 are transported by the transport means 14 while being sequentially connected in a row by repeating the temporary crimping of the lead wires 2.

上記搬送手段14の上記仮圧着手段15よりも搬送方向の下流側には、上記仮圧着手段15によって仮圧着されたリード線2を半導体セル1の上下面に同時に本圧着する複数、この実施の形態では3つの本圧着手段16(図1に鎖線でだけ示している。)が所定間隔で配置されている。3つの本圧着手段16の配置間隔は、一列に接続される半導体セル1の数がたとえば12個の場合、これら半導体セル1の接続ピッチPの整数倍である、3倍の間隔で配置されている。   A plurality of lead wires 2 temporarily crimped by the temporary crimping means 15 are simultaneously crimped onto the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 at the downstream side of the temporary crimping means 15 of the transport means 14 in the transport direction. In the embodiment, three main crimping means 16 (shown only by chain lines in FIG. 1) are arranged at a predetermined interval. When the number of semiconductor cells 1 connected in a row is 12, for example, the three main crimping means 16 are arranged at intervals of 3 times, which is an integral multiple of the connection pitch P of the semiconductor cells 1. Yes.

そして、3つの本圧着手段16は12個の半導体セル1が一列に接続されると、搬送方向の1番目、5番目及び9番目の半導体セル1に対向し、これら3つの半導体セル1に仮圧着されたリード線2を同時に本圧着する。   Then, when 12 semiconductor cells 1 are connected in a row, the three main crimping means 16 face the first, fifth and ninth semiconductor cells 1 in the transport direction, and temporarily connect these three semiconductor cells 1 to each other. The crimped lead wire 2 is finally crimped simultaneously.

つぎに、一列に接続された12個の半導体セル1がPの距離でピッチ送りされると、3つの本圧着手段16は2番目、6番目及び10番目の半導体セル1に仮圧着されたリード線2を本圧着する。このような本圧着が4回繰り返されることで、3つの本圧着手段16によって12個の半導体セル1に仮圧着されたそれぞれのリード線2が本圧着されることになる。   Next, when the twelve semiconductor cells 1 connected in a row are pitch-fed at a distance of P, the three main crimping means 16 are temporarily crimped to the second, sixth and tenth semiconductor cells 1. Wire 2 is crimped. By repeating such main press-bonding four times, each lead wire 2 temporarily press-bonded to twelve semiconductor cells 1 by three main press-bonding means 16 is finally press-bonded.

上記搬送手段14の他端部の側方には上記本圧着手段16によってリード線2が本圧着されて一列に接続された12個の半導体セル1(一列に接続された半導体セル1をストリング1Aという)を上記搬送手段14から吸着して排出する排出手段17(後述するように図13と図14に示す。)が設けられている。   On the side of the other end portion of the conveying means 14, the lead wire 2 is finally crimped by the final crimping means 16 and twelve semiconductor cells 1 connected in a row (the semiconductor cells 1 connected in a row are connected to the string 1A). A discharge means 17 (shown in FIGS. 13 and 14 as will be described later) is provided.

上記排出手段17によって搬送手段14から搬出されたストリング1Aは、図1に示す検査部18でリード線2の接続状態が画像認識によって検査された後、ストッカ19に収容されて搬出されるようになっている。   The string 1A unloaded from the conveying means 14 by the discharge means 17 is stored in the stocker 19 and unloaded after the connection state of the lead wire 2 is inspected by image recognition by the inspection unit 18 shown in FIG. It has become.

つぎに、各部の構成について説明する。
上記供給部12は図1に示すように第1のストレージ21と第2のストレージ22が上記搬送手段14の搬送方向(この方向をX方向とする)と交差する方向(この方向をY方向とする)に離間して設けられている。なお、X方向とY方向は図1に矢印で示す。
Next, the configuration of each unit will be described.
As shown in FIG. 1, the supply unit 12 has a direction in which the first storage 21 and the second storage 22 intersect the transport direction of the transport means 14 (this direction is the X direction) (this direction is the Y direction). To be separated from each other. The X direction and the Y direction are indicated by arrows in FIG.

各ストレージ21,22はカセット23を有し、各カセット23には上記半導体セル1が設けられている。各ストレージ21,22のカセット23は+X方向にピッチ送りされ、各ストレージ21,22の末端で一方のストレージ21と他方のストレージ22のカセット23が−Y方向及び+Y方向にそれぞれ交互に送られ、各ストレージ21,22のY方向の中心の受け渡し位置Dに位置決めされる。   Each storage 21, 22 has a cassette 23, and each cassette 23 is provided with the semiconductor cell 1. The cassettes 23 of the storages 21 and 22 are pitched in the + X direction, and the cassettes 23 of the one storage 21 and the other storage 22 are alternately sent in the −Y direction and the + Y direction at the ends of the storages 21 and 22, respectively. The storages 21 and 22 are positioned at the delivery position D at the center in the Y direction.

受け渡し位置Dに位置決めされたカセット23の半導体セル1は、図6に示す第1の受け渡し装置24によって吸着されてアライメントステージ25に受け渡される。このアライメントステージ25に供給載置された半導体セル1は、その上方に配置されたカメラ26によって撮像され、その撮像に基づいて外観検査及び位置認識される。   The semiconductor cell 1 of the cassette 23 positioned at the delivery position D is sucked and delivered to the alignment stage 25 by the first delivery device 24 shown in FIG. The semiconductor cell 1 supplied and mounted on the alignment stage 25 is imaged by the camera 26 disposed above it, and the appearance inspection and position recognition are performed based on the imaging.

半導体セル1の外観がたとえば欠けがあるなどして不良と判定されると、その半導体セル1は図示しない制御装置からの指令に基づき上記第1の受け渡し装置24によって排出され、良品であると判定されると、上記第1の受け渡し装置24によって上記テープ貼着手段13の第1の貼着テーブル35と第2の貼着テーブル36(後述する)に交互に供給載置されるようになっている。   If the appearance of the semiconductor cell 1 is determined to be defective, for example, due to chipping, the semiconductor cell 1 is discharged by the first delivery device 24 based on a command from a control device (not shown) and determined to be a non-defective product. Then, the first delivery device 24 alternately supplies and places the first and second sticking tables 35 and 36 (to be described later) on the tape sticking means 13. Yes.

上記受け渡し位置Dで第1の受け渡し装置24によって半導体セル1が取り出されて空となったカセット23は−X方向に移動し、その末端から排出されたのち、半導体セル1が供給されて第1或いは第2のストレージ21,22に戻されて、上述した動作を繰り返すようになっている。   The cassette 23 emptied when the semiconductor cell 1 is taken out by the first delivery device 24 at the delivery position D moves in the −X direction and is ejected from its end, and then the semiconductor cell 1 is supplied to the first cassette 23. Alternatively, the operation is returned to the second storages 21 and 22, and the above-described operation is repeated.

上記第1の受け渡し装置24は図6に示すようにX・Y・Z駆動源27によって水平方向及び上下方向に駆動される可動体28を有する。この可動体28は上記半導体セル1の上面の四隅部を吸着する4つの吸着パッド29(2つのみ図示)が設けられている。   As shown in FIG. 6, the first delivery device 24 has a movable body 28 that is driven in the horizontal and vertical directions by an X, Y, and Z drive source 27. The movable body 28 is provided with four suction pads 29 (only two are shown) for sucking the four corners of the upper surface of the semiconductor cell 1.

それによって、上記第1の受け渡し装置24は上記受け渡す位置Dで4つの吸着パッド29によって上記カセット23の半導体セル1の上面の四隅部を吸着してこの半導体セル1を移載搬送することができるようになっている。   As a result, the first delivery device 24 is capable of attracting the four corners of the upper surface of the semiconductor cell 1 of the cassette 23 by the four suction pads 29 at the delivery position D and transferring and transporting the semiconductor cell 1. It can be done.

上記アライメントステージ25で外観検査及び位置認識された半導体セル1は、上記第1の受け渡し装置24によって上記テープ貼着手段13に供給される。
なお、上記アライメントステージ25から上記テープ貼着手段13への半導体セル1の移載は上記第1の受け渡し装置24でなく、他の受け渡し装置を用いて行うようにしてもよく、その点は限定されるものでない。
The semiconductor cell 1 whose appearance has been inspected and whose position has been recognized by the alignment stage 25 is supplied to the tape adhering means 13 by the first delivery device 24.
Note that the transfer of the semiconductor cell 1 from the alignment stage 25 to the tape adhering means 13 may be performed by using another delivery device instead of the first delivery device 24, and this is limited. It is not what is done.

上記テープ貼着手段13は、図1に示すように上記搬送手段14を中心にしてY方向に対称に離間して配置された同じ構成の第1のテープ貼着部31と第2のテープ貼着部32を有する。第1、第2のテープ貼着部31,32は図2乃至図5に示すように構成されている。   As shown in FIG. 1, the tape adhering means 13 includes a first tape adhering portion 31 and a second tape adhering having the same configuration arranged symmetrically apart from each other in the Y direction around the conveying means 14. It has a wearing part 32. The 1st, 2nd tape sticking parts 31 and 32 are comprised as shown in FIG. 2 thru | or FIG.

すなわち、上記テープ貼着手段13はY方向に沿って設置された架台33を有する。図3に矢印で示すように、上記架台33の上面のX方向に沿う幅方向の両端部には一対のYガイドレール34が敷設されている。このYガイドレール34には上述した第1の貼着テーブル35と第2の貼着テーブル36とが上記Yガイドレール34に沿って移動可能に設けられている。   That is, the tape sticking means 13 has a gantry 33 installed along the Y direction. As shown by arrows in FIG. 3, a pair of Y guide rails 34 are laid at both ends in the width direction along the X direction of the upper surface of the gantry 33. The Y guide rail 34 is provided with the first sticking table 35 and the second sticking table 36 described above so as to be movable along the Y guide rail 34.

図2と図3に示すように、各貼着テーブル35,36の幅方向一端部の下面には連結片37が設けられている。各連結片37にはそれぞれ駆動プーリ38と従動プーリ39に張設された無端ベルト41が連結されている。一対の駆動プーリ38はそれぞれモータ42によって回転駆動される。   As shown in FIG. 2 and FIG. 3, a connecting piece 37 is provided on the lower surface of one end in the width direction of each sticking table 35, 36. Each connecting piece 37 is connected to an endless belt 41 stretched around a driving pulley 38 and a driven pulley 39. Each of the pair of drive pulleys 38 is rotationally driven by a motor 42.

それによって、第1の貼着テーブル35は上記架台33のY方向に沿う一端部と中央部との間で往復駆動可能となっており、第2の貼着テーブル36は上記架台33のY方向に沿う他端部と中央部との間で往復駆動可能となっている。上記架台33のY方向中央部に駆動された各貼着テーブル35,36を図1に鎖線で示す。   As a result, the first sticking table 35 can be driven back and forth between the one end portion and the central portion along the Y direction of the gantry 33, and the second sticking table 36 can be driven in the Y direction of the gantry 33. Can be driven back and forth between the other end along the center and the center. The sticking tables 35 and 36 driven in the center in the Y direction of the gantry 33 are shown by chain lines in FIG.

図3に示すように、上記第1、第2の貼着テーブル35,36には上下面に貫通する3つの貫通孔43が形成されている。これら貫通孔43はX方向に沿って長く、Y方向に沿って所定間隔で形成されている。   As shown in FIG. 3, the first and second sticking tables 35, 36 are formed with three through holes 43 penetrating the upper and lower surfaces. These through-holes 43 are long along the X direction and are formed at predetermined intervals along the Y direction.

図1に示すように、上記架台33のY方向の一端部には上記第1のテープ貼着部31が設けられ、他端部には上記第2のテープ貼着部32が設けられている。図4に示すように、各テープ貼着部31,32は上記各貼着テーブル35,36のX方向に沿う一端部の上方と下方に配置された供給リール44を有する。供給リール44には図5(a),(b)に示すように離型テープ4に貼着された上記導電性テープ3が巻装されている。   As shown in FIG. 1, the said 1st tape sticking part 31 is provided in the one end part of the Y direction of the said mount 33, and the said 2nd tape sticking part 32 is provided in the other end part. . As shown in FIG. 4, each tape sticking part 31 and 32 has the supply reel 44 arrange | positioned below the one end part along the X direction of each said sticking table 35 and 36. As shown in FIG. As shown in FIGS. 5A and 5B, the conductive tape 3 attached to the release tape 4 is wound around the supply reel 44.

上記供給リール44から離型テープ4とともに引き出された導電性テープ3は、カッタからなる切断機構40aによって図5(a)に示す一対の切断線3aが形成される。一対の切断線3aは上記導電性テープ3に所定の間隔、つまり半導体セル1の幅寸法と対応する間隔で形成される。   The conductive tape 3 pulled out together with the release tape 4 from the supply reel 44 forms a pair of cutting lines 3a shown in FIG. 5A by a cutting mechanism 40a made of a cutter. The pair of cutting lines 3 a are formed on the conductive tape 3 at a predetermined interval, that is, an interval corresponding to the width dimension of the semiconductor cell 1.

上記導電性テープ3の一対の切断線3aによって切断された部分は、中抜き機構40によって除去されることで、図5(b)に示す隙間Cが形成される。それによって、上記導電性テープ3は半導体セル1の幅寸法と対応する長さに分断される。なお、中抜き機構40は公知の技術であるので、ここでは詳細な説明は省略する。   The part cut | disconnected by the pair of cutting line 3a of the said electroconductive tape 3 is removed by the hollow mechanism 40, and the clearance gap C shown in FIG.5 (b) is formed. Thereby, the conductive tape 3 is divided into lengths corresponding to the width dimension of the semiconductor cell 1. Since the hollow mechanism 40 is a known technique, a detailed description thereof is omitted here.

このようにして所定の長さに分断された導電性テープ3は離型テープ4とともに一対のガイドローラ44aにガイドされて第1、第2の貼着テーブル35,36の上面と下面に平行に走行する。   The conductive tape 3 divided into a predetermined length in this way is guided by the pair of guide rollers 44a together with the release tape 4 and parallel to the upper and lower surfaces of the first and second sticking tables 35 and 36. Run.

上記導電性テープ3が平行に走行する部分の上方と下方にはそれぞれシリンダなどの上下駆動源45によって上下方向に駆動される上部加圧ツール46aと下部加圧ツール46bが配置されている。   An upper pressurizing tool 46a and a lower pressurizing tool 46b, which are driven in the vertical direction by a vertical driving source 45 such as a cylinder, are disposed above and below the portion where the conductive tape 3 runs in parallel.

上記アライメントステージ25上に供給されて外観検査及び位置認識された半導体セル1は、上記第1の受け渡し装置24によって上記アライメントステージ25から上記架台のY方向の中央部に位置決めされた第1或いは第2の貼着テーブル35,36に供給載置される。   The semiconductor cell 1 supplied on the alignment stage 25 and visually inspected and position-recognized is positioned from the alignment stage 25 to the center of the gantry in the Y direction by the first delivery device 24. 2 is supplied and placed on the two sticking tables 35 and 36.

半導体セル1が供給載置された第1の貼着テーブル35或いは第2の貼着テーブル36が上記架台のY方向の中央部から一端部或いは他端部に駆動されると、上記上部加圧ツール46aと下部加圧ツール46bが同時に上昇方向と下降方向に駆動される。   When the first adhering table 35 or the second adhering table 36 on which the semiconductor cell 1 is supplied and mounted is driven from the central portion in the Y direction of the gantry to one end or the other end, the upper pressure is applied. The tool 46a and the lower pressing tool 46b are simultaneously driven in the upward direction and the downward direction.

それによって、これら加圧ツール46a,46bは離型テープ4を介して導電性テープ3の所定長さに分断された部分を上記半導体セル1の上面と下面に同時に接して押圧して貼着する。その後、離型テープ4は半導体セル1に貼着された導電性テープ3から図示しない離型ローラなどによって剥離され、巻取りリール47に巻き取られる。   As a result, these pressure tools 46a and 46b are attached by pressing the portions of the conductive tape 3 separated by a predetermined length through the release tape 4 in contact with the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 simultaneously. . Thereafter, the release tape 4 is peeled off from the conductive tape 3 adhered to the semiconductor cell 1 by a release roller (not shown) or the like, and taken up on the take-up reel 47.

すなわち、上記アライメントステージ25で外観検査及び位置認識された半導体セル1は第1の貼着テーブル35と第2の貼着テーブル36に交互に供給され、第1のテープ貼着部31と第2のテープ貼着部32で導電性テープ3が貼着される。   In other words, the semiconductor cells 1 whose appearance has been inspected and recognized by the alignment stage 25 are alternately supplied to the first sticking table 35 and the second sticking table 36, and the first tape sticking part 31 and the second tape sticking part 31. The conductive tape 3 is stuck at the tape sticking part 32.

上記第1、第2のテープ貼着部31,32は、第1、第2の貼着テーブル35,36の上方と下方に配置されたそれぞれ3組の供給リール44、巻取りリール47及び上下部の加圧ツール46a,46bを有する。それによって、半導体セル1の上下面にはそれぞれ3本の導電性テープ3がこれら導電性テープ3に同時に接する上下の加圧ツール46a,46bによって同時に加圧貼着されるようになっている。   The first and second tape adhering portions 31 and 32 have three sets of supply reels 44, take-up reels 47, and upper and lower portions arranged above and below the first and second adhering tables 35 and 36, respectively. Part pressing tools 46a and 46b. Thereby, three conductive tapes 3 are respectively applied to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 by the upper and lower pressure tools 46a and 46b which are in contact with the conductive tape 3 simultaneously.

半導体セル1の上下面に導電性テープ3を同時に加圧貼着するようにしたことで、半導体セル1を一度位置決めすれば、その上下面に対して導電性テープ3を精密に位置決めして貼着することができる。   Since the conductive tape 3 is simultaneously pressure-bonded to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, once the semiconductor cell 1 is positioned, the conductive tape 3 is precisely positioned and bonded to the upper and lower surfaces thereof. Can be worn.

つまり、半導体セル1の上下面に導電性テープ3を貼着するため、半導体セル1の一方の面に導線性テープ3を貼着してから、この半導体セル1を上下逆向きに反転させて他方の面に導線性テープ3を貼着するようにした場合、半導体セル1を上下逆向きに反転させたときに位置ずれが生じ、その上下面に導線性テープ3を精密に位置決めして貼着することができなかったり、反転させるための機構の複雑化や反転に要する時間によって生産性の低下を招くことになる。   That is, in order to attach the conductive tape 3 to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, the conductive tape 3 is attached to one surface of the semiconductor cell 1, and then the semiconductor cell 1 is inverted upside down. When the conductive tape 3 is adhered to the other surface, a position shift occurs when the semiconductor cell 1 is inverted upside down, and the conductive tape 3 is precisely positioned and adhered to the upper and lower surfaces. It cannot be worn, or the complexity of the mechanism for reversing and the time required for reversing cause a decrease in productivity.

しかしながら、上述したように、半導体セル1の上下面に対して導電性テープ3を同時に貼着するようにしたことで、貼着精度や生産性の向上、さらには機構の簡略化を図ることが可能となる。   However, as described above, by attaching the conductive tape 3 to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 at the same time, it is possible to improve the adhesion accuracy and productivity, and to simplify the mechanism. It becomes possible.

なお、半導体セル1の上下面に貼着される導電性テープ3の数は3本に限られず、2本或いは4本などであってもよく、その数は半導体セル1の構造などに応じて設定される。   The number of conductive tapes 3 adhered to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 is not limited to three, and may be two or four, and the number depends on the structure of the semiconductor cell 1 and the like. Is set.

また、半導体セル1の上下面に貼着される導電性テープ3の数が複数の場合、上記半導体セル1の上下面に対して導線性テープ3を1本ずつ仮圧着するようにしてもよい。その場合、第1、第2のテープ貼着部31,32にそれぞれ1組の供給リール44、巻取りリール47、及び上下の加圧ツール46a,46bを設け、1本の導電性テープ3を貼着する毎に第1、第2の貼着テーブル35,36をY方向に所定距離移動させてつぎの導電性テープ3を貼着するようにすればよい。   Moreover, when there are a plurality of conductive tapes 3 adhered to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, the conductive tapes 3 may be temporarily bonded to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 one by one. . In that case, a pair of supply reel 44, take-up reel 47, and upper and lower pressure tools 46a, 46b are provided in the first and second tape adhering portions 31, 32, respectively, and one conductive tape 3 is attached. What is necessary is just to stick the next electroconductive tape 3 by moving the 1st, 2nd sticking tables 35 and 36 a predetermined distance in the Y direction every time it sticks.

つまり、各テープ貼着部31,32に1組の供給リール44、巻取りリール47、及び上下の加圧ツール46a,46bだけを設ける構成とすることで、各テープ貼着部31,32の構成の簡略化や小型化を図ることができる。   In other words, each tape sticking portion 31, 32 is provided with only one set of supply reel 44, take-up reel 47, and upper and lower pressure tools 46 a, 46 b. The configuration can be simplified and downsized.

上記第1のテープ貼着部31と第2のテープ貼着部32とに供給された半導体セル1の上下面にそれぞれ3本の導電性テープ3が貼着されると、その半導体セル1を載置した第1の貼着テーブル35及び第2の貼着テーブル36は架台33のY方向の一端部及び他端部から中央部に交互に駆動位置決めされる。   When three conductive tapes 3 are attached to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 supplied to the first tape attaching part 31 and the second tape attaching part 32, the semiconductor cell 1 is The mounted first and second sticking tables 35 and 36 are alternately driven and positioned from one end and the other end in the Y direction of the gantry 33 to the center.

上記架台33の中央部に位置決めされた第1の貼着テーブル35或いは第2の貼着テーブル36上の半導体セル1は、図6に示すように水平方向及び上下方向に駆動される第2の受け渡し装置48によって吸着保持され、上記テープ貼着手段13と搬送手段14との間に設けられた貼着検査ステージ49に供給される。
なお、第2の受け渡し装置48は上記第1の受け渡し装置24と構成が同一であるので、同一部分には同一記号を付して説明を省略する。
The semiconductor cell 1 on the first sticking table 35 or the second sticking table 36 positioned at the center of the gantry 33 is driven in the horizontal and vertical directions as shown in FIG. It is sucked and held by the delivery device 48 and supplied to the sticking inspection stage 49 provided between the tape sticking means 13 and the transport means 14.
Since the second delivery device 48 has the same configuration as the first delivery device 24, the same parts are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.

上記貼着検査ステージ49では半導体セル1の上下面に貼着された導電性テープ3の貼着状態、たとえばめくれがあるか否かなどが上下両方向に配置された撮像カメラ51によって上下面同時に撮像されて検査される。撮像カメラ51による撮像の結果、不良である場合には図示しない制御装置からの指令に基づいて排出され、良品である場合には上記第2の受け渡し装置48によって上記搬送手段14に供給される。   At the sticking inspection stage 49, the sticking state of the conductive tape 3 stuck on the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, for example, whether or not there is a turn, is picked up simultaneously by the imaging camera 51 arranged in both the upper and lower directions. And inspected. If the result of imaging by the imaging camera 51 is defective, it is discharged based on a command from a control device (not shown), and if it is non-defective, it is supplied to the conveying means 14 by the second delivery device 48.

図7或いは図13に示すように、上記搬送手段14は上記半導体セル1の幅寸法よりも小さな間隔でY方向に離間した一対の無端ベルト53を有する。この無端ベルト53は図7に示すように駆動プーリ54と従動プーリ55とに張設されている。駆動プーリ54は図8に示すモータ56によって上記無端ベルト53の上面側が−X方向から+X方向に向かって走行するよう回転駆動される。無端ベルト53の走行方向を図8に+Xの矢印で示す。   As shown in FIG. 7 or FIG. 13, the transport means 14 has a pair of endless belts 53 spaced in the Y direction at intervals smaller than the width dimension of the semiconductor cell 1. The endless belt 53 is stretched around a driving pulley 54 and a driven pulley 55 as shown in FIG. The drive pulley 54 is rotationally driven by the motor 56 shown in FIG. 8 so that the upper surface side of the endless belt 53 travels from the −X direction toward the + X direction. The traveling direction of the endless belt 53 is indicated by an arrow + X in FIG.

上記無端ベルト53は所定のピッチPで間欠的に駆動される。このピッチPは図13にPで示す、リード線2によって一列に接続されて隣り合う半導体セル1の間隔と同じ距離となっている。   The endless belt 53 is intermittently driven at a predetermined pitch P. This pitch P is indicated by P in FIG. 13 and is the same distance as the interval between the adjacent semiconductor cells 1 connected in a row by the lead wires 2.

図7と図8に示すように、上記無端ベルト53には厚さ方向に貫通する多数の吸引孔53aがX方向に沿って所定間隔で穿設されている。無端ベルト53の上下内面間には、ブロック57がその上面と下面を上記無端ベルト53の内周面の上下に位置する部分に接触させて設けられている。このブロック57には吸引路58が長手方向に沿って形成されている。   As shown in FIGS. 7 and 8, the endless belt 53 has a plurality of suction holes 53a penetrating in the thickness direction at predetermined intervals along the X direction. A block 57 is provided between the upper and lower inner surfaces of the endless belt 53 such that the upper and lower surfaces thereof are in contact with the upper and lower portions of the inner peripheral surface of the endless belt 53. A suction path 58 is formed in the block 57 along the longitudinal direction.

上記吸引路58からは上記ブロック57の上面に開口する複数の分岐孔58aが上記無端ベルト53に穿設された吸引孔53aと対応する間隔で分岐形成されている。なお、分岐孔58aは上記ブロック57の下面にも開口形成してもよい。   A plurality of branch holes 58 a opened on the upper surface of the block 57 are branched from the suction path 58 at intervals corresponding to the suction holes 53 a formed in the endless belt 53. The branch hole 58a may be formed in the lower surface of the block 57.

上記吸引路58の一端は閉塞され、他端には吸引ポンプ59が接続されている。それによって、上記吸引ポンプ59が作動すれば、吸引路58及び分岐孔58aを介して上記無端ベルト53の上記吸引孔53aに吸引力が発生するようになっている。   One end of the suction path 58 is closed, and a suction pump 59 is connected to the other end. Accordingly, when the suction pump 59 is operated, a suction force is generated in the suction hole 53a of the endless belt 53 via the suction path 58 and the branch hole 58a.

なお、上記吸引孔53aの間隔は、無端ベルト53が間欠駆動されるピッチPの整数分の1或いはピッチPと同じに設定されている。それによって、無端ベルト53の吸引孔53aと上記ブロック57の分岐孔58aは、無端ベルト53の駆動前に一致させておくことで、無端ベルト53を間欠駆動しても、常に対向するようになっている。   The interval between the suction holes 53a is set to be equal to 1 / integer of the pitch P at which the endless belt 53 is intermittently driven or the pitch P. Accordingly, the suction hole 53a of the endless belt 53 and the branch hole 58a of the block 57 are made to coincide with each other before the endless belt 53 is driven, so that the endless belt 53 always faces each other even if the endless belt 53 is intermittently driven. ing.

このようにすることで、半導体セル1に対してリード線2を仮圧着したり、本圧着する際、位置決めされた半導体セル1が無端ベルト53上でずれ動かないよう位置決め保持することができる。   In this way, when the lead wire 2 is temporarily pressure-bonded to the semiconductor cell 1 or when the lead-wire 2 is pressure-bonded, the positioned semiconductor cell 1 can be positioned and held so as not to move on the endless belt 53.

図8に示すように、上記搬送手段14を構成する無端ベルト53の−X方向に位置する一端部には、一対の無端ベルト53の間と外側に、上記仮圧着手段15を構成する合計で3組の下部加圧部材60が配設されている。   As shown in FIG. 8, at one end portion of the endless belt 53 constituting the conveying means 14 located in the −X direction, the total constituting the temporary crimping means 15 is provided between and outside the pair of endless belts 53. Three sets of lower pressure members 60 are arranged.

3組の下部加圧部材60はそれぞれX方向に所定間隔で離間して配置された第1の下ブロック61と第2の下ブロック62からなり、各ブロック、つまり合計で6つのブロック61,62はそれぞれシリンダなどの上下駆動手段63(図9に示す)によって上下駆動される取付け板63aの上面に一体的に取付け固定されている。   The three sets of lower pressure members 60 each include a first lower block 61 and a second lower block 62 that are spaced apart from each other at a predetermined interval in the X direction, and each block, that is, a total of six blocks 61 and 62. Are integrally attached and fixed to the upper surface of a mounting plate 63a which is driven up and down by a vertical driving means 63 (shown in FIG. 9) such as a cylinder.

上記第1の下ブロック61の上端面は平坦な第1の受け面61aに形成され、第2の下ブロック62の上端面は第1の受け面61aよりもわずかに低い位置にある平坦な第2の受け面62aに形成されている。   The upper end surface of the first lower block 61 is formed on a flat first receiving surface 61a, and the upper end surface of the second lower block 62 is a flat first surface located slightly lower than the first receiving surface 61a. 2 on the receiving surface 62a.

上記第1の受け面61aと第2の受け面62aには吸引孔61b,62bが開口形成されていて、これらの吸引孔61b,62bには図示しない吸引ポンプによって吸引力を発生させることができるようになっている。   Suction holes 61b and 62b are formed in the first receiving surface 61a and the second receiving surface 62a, and suction force can be generated in the suction holes 61b and 62b by a suction pump (not shown). It is like that.

上記3組の各下ブロック61,62の上面には、上記搬送手段14の一端部の側方に配設された上記第1乃至第3のリード線加工手段15a〜15cによってクランク状に成形加工されたリード線2がそれぞれ同時に供給される。   The upper surface of each of the three lower blocks 61 and 62 is formed into a crank shape by the first to third lead wire processing means 15a to 15c disposed on the side of one end of the conveying means 14. The lead wires 2 are supplied simultaneously.

各リード線加工手段15a〜15cは、図10(a),(b)に示すように上記リード線2が巻装された供給リール65を有する。この供給リール65のリード線2は引き出し爪66に挟持されて引き出される。なお、リード線2は帯板状である。   Each lead wire processing means 15a-15c has a supply reel 65 around which the lead wire 2 is wound as shown in FIGS. 10 (a) and 10 (b). The lead wire 2 of the supply reel 65 is pinched by the pull-out claw 66 and pulled out. The lead wire 2 has a strip shape.

上記引き出し爪66は図示しないシリンダや無端走行されるワイヤなどによって図10(a)に矢印で示すX方向に往復駆動されるようになっている。それによって、上記リード線2は上記供給リール65から−X方向に引き出されるようになっている。   The drawer pawl 66 is driven to reciprocate in the X direction indicated by an arrow in FIG. 10A by a cylinder (not shown) or a wire that runs endlessly. Accordingly, the lead wire 2 is drawn from the supply reel 65 in the −X direction.

上記引き出し爪66によって−X方向に引き出された上記リード線2は、後述する第1の清掃手段111によって上下面に付着する汚れが清掃されてから、クランパ68、第1のカッタ69、第1の上ブロック71aと第1の下ブロック71bに分割された第1の保持部71、上下一対の型72a,72bからなる成形金型72、第2の上ブロック73aと第2の下ブロック73bに分割された第2の保持部73及び第2のカッタ74を通される。第2のカッタ74よりも引き出し方向の下流側には廃棄ボックス75が配置されている。   The lead wire 2 pulled out in the −X direction by the pull-out claw 66 is cleaned of dirt adhering to the upper and lower surfaces by a first cleaning means 111 described later, and then the clamper 68, the first cutter 69, the first A first holding part 71 divided into an upper block 71a and a first lower block 71b; a molding die 72 comprising a pair of upper and lower molds 72a and 72b; a second upper block 73a and a second lower block 73b; The divided second holding portion 73 and the second cutter 74 are passed through. A disposal box 75 is disposed downstream of the second cutter 74 in the pulling direction.

上記第1乃至第3のリード線加工手段15a〜15cの上記第1の保持部71の上ブロック71aと上記第2の保持部73の第2の上ブロック73aは図8と図9に示す取付け板77の下面に取付けられている。   The upper block 71a of the first holding part 71 and the second upper block 73a of the second holding part 73 of the first to third lead wire processing means 15a to 15c are attached as shown in FIGS. It is attached to the lower surface of the plate 77.

図9に示すように、第1の保持部71の第1の上ブロック71aの下端面は、第2の保持部73の第2の上ブロック73aの下端面よりもわずかに高くなるよう設定されている。さらに、一対の上ブロック71a,73aにはそれらの下端面に開口する吸引孔82が形成されている。   As shown in FIG. 9, the lower end surface of the first upper block 71 a of the first holding unit 71 is set to be slightly higher than the lower end surface of the second upper block 73 a of the second holding unit 73. ing. Furthermore, the pair of upper blocks 71a and 73a are formed with suction holes 82 that open to the lower end surfaces thereof.

図10(a)に示すように、上記第1の保持部71の第1の下ブロック71bの上端面は、第2の保持部73の第2の下ブロック73bの上端面よりもわずかに高くなるよう設定されている。   As shown in FIG. 10A, the upper end surface of the first lower block 71b of the first holding portion 71 is slightly higher than the upper end surface of the second lower block 73b of the second holding portion 73. It is set to be.

上記取付け板77は、図8と図9に示す板状の可動部材79の下面に複数の上下シリンダ81によって上下方向に駆動可能に設けられている。上記可動部材79は水平シリンダ78によってY方向に駆動されるようになっている。
なお、上記一対の上ブロック71a,73aは後述するようにリード線2を半導体セル1に仮圧着する上記仮圧着手段15の上部加圧部材を兼ねている。つまり、上ブロック71aは主に上ブロック73aとでリード線2を搬送するために機能し、上ブロック73aは半導体セル1の上下面にリード線2を同時に仮圧着するために機能する。
The mounting plate 77 is provided on the lower surface of the plate-like movable member 79 shown in FIGS. 8 and 9 so that it can be driven in the vertical direction by a plurality of vertical cylinders 81. The movable member 79 is driven in the Y direction by a horizontal cylinder 78.
The pair of upper blocks 71a and 73a also serve as an upper pressure member of the temporary pressure bonding means 15 for temporarily pressure bonding the lead wire 2 to the semiconductor cell 1 as will be described later. That is, the upper block 71a mainly functions to convey the lead wire 2 with the upper block 73a, and the upper block 73a functions to temporarily press-bond the lead wire 2 to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 simultaneously.

図10(a)に示す状態から、図10(b)に示すように第1乃至第3のリード線加工手段15a〜15cの各供給リール65から上記リード線2が上記引き出し爪66によって引き出されると、このリード線2の供給リール65側の基端部は上記クランパ68によって保持される。   From the state shown in FIG. 10A, as shown in FIG. 10B, the lead wire 2 is drawn out from the supply reels 65 of the first to third lead wire processing means 15a to 15c by the drawing pawl 66. The proximal end of the lead wire 2 on the supply reel 65 side is held by the clamper 68.

それと同時に、図8に示すように第1乃至第3のリード線加工手段15a〜15cの上方で待機する上記第1の保持部71と第2の保持部73の第1、第2の上ブロック71a,73aが上下シリンダ81によって下降方向に駆動され、これら上ブロック71a,73aの下端面に開口した吸引孔82によって成形加工される前の、引き出し爪66によって引き出された上記リード線2が吸着保持される。   At the same time, as shown in FIG. 8, the first and second upper blocks of the first holding part 71 and the second holding part 73 that stand by above the first to third lead wire processing means 15a to 15c. 71a, 73a is driven in the downward direction by the upper and lower cylinders 81, and the lead wire 2 drawn out by the drawing claw 66 before being formed by the suction hole 82 opened in the lower end surface of the upper blocks 71a, 73a is adsorbed. Retained.

ついで、上記成形金型72が閉方向に作動してリード線2の中途部に傾斜部2sを形成する。それと同時に一対のカッタ69,74が作動して供給リール65から引き出されたリード線2を一対のカッタ69,74間の寸法に対応する長さで切断する。リード線2の第2のカッタ74よりも下流側の部分は上記廃棄ボックス75に排出される。   Next, the molding die 72 operates in the closing direction to form the inclined portion 2 s in the middle portion of the lead wire 2. At the same time, the pair of cutters 69 and 74 are operated to cut the lead wire 2 drawn from the supply reel 65 by a length corresponding to the dimension between the pair of cutters 69 and 74. A portion of the lead wire 2 on the downstream side of the second cutter 74 is discharged to the waste box 75.

なお、リード線2の一端部と他端部は、上記傾斜部2sによって異なる高さになるが、その高さの差は半導体セル1の厚さに対応する寸法であり、たとえば1mm程度の非常に小さい寸法である。   The one end portion and the other end portion of the lead wire 2 have different heights depending on the inclined portion 2s, but the difference in height is a dimension corresponding to the thickness of the semiconductor cell 1, for example, an extremely large value of about 1 mm. The dimensions are very small.

第1乃至第3のリード線加工手段15a〜15cでの上記リード線2の成形及び切断が終了すると、上記成形金型72が開方向に駆動された後、リード線2と直交する水平方向に駆動され、リード線2の上下方向から退避する。ついで、第1、第2の保持部71,73の各上ブロック71a,73aの下端面によって形成加工されたリード線2が吸着保持される。   When the forming and cutting of the lead wire 2 in the first to third lead wire processing means 15a to 15c is completed, the forming die 72 is driven in the opening direction, and then in the horizontal direction orthogonal to the lead wire 2. Driven and retracts from the vertical direction of the lead wire 2. Next, the lead wire 2 formed and processed by the lower end surfaces of the upper blocks 71a and 73a of the first and second holding portions 71 and 73 is sucked and held.

ついで、上ブロック71a,73aが取付けられた取付け板77が上下シリンダ81によって上昇方向に駆動された後、上記取付け板77が取付けられた可動部材79が水平シリンダ78によって−Y方向に駆動されて、上記上ブロック71a,73aの下端面に吸着保持されたリード線2が搬送手段14の一端部に設けられた下部加圧部材60の第1、第2のブロック61,62の上方に位置決めされる。   Next, after the mounting plate 77 to which the upper blocks 71a and 73a are mounted is driven in the upward direction by the upper and lower cylinders 81, the movable member 79 to which the mounting plate 77 is mounted is driven in the -Y direction by the horizontal cylinder 78. The lead wire 2 sucked and held on the lower end surfaces of the upper blocks 71a and 73a is positioned above the first and second blocks 61 and 62 of the lower pressurizing member 60 provided at one end of the conveying means 14. The

成形加工されたリード線2が下部加圧部材60の第1、第2のブロック61,62の上方に位置決めされると、上記上ブロック71a,73aが下降方向に駆動され、図11(a)に示すように成形加工されたリード線2(2a)が第1、第2のブロック61,62の上端面である第1、第2の受け面61a,62aに受け渡されて吸着保持される。   When the formed lead wire 2 is positioned above the first and second blocks 61 and 62 of the lower pressure member 60, the upper blocks 71a and 73a are driven in the downward direction, and FIG. The lead wire 2 (2a) molded as shown in FIG. 3 is transferred to the first and second receiving surfaces 61a and 62a, which are the upper end surfaces of the first and second blocks 61 and 62, and held by suction. .

このようにして、リード線2が第1、第2の受け面61a,62aに吸着保持された後、そのリード線2の上記第2の下ブロック62の第2の受け面62a上に位置する下方に屈曲した他端部には、図11(b)に示すように上記第2の受け渡し装置48によって上下面にそれぞれ3本の導電性テープ3が貼着された半導体セル1が供給載置される。   Thus, after the lead wire 2 is sucked and held on the first and second receiving surfaces 61a and 62a, the lead wire 2 is positioned on the second receiving surface 62a of the second lower block 62 of the lead wire 2. At the other end bent downward, as shown in FIG. 11 (b), the semiconductor cell 1 in which three conductive tapes 3 are respectively attached to the upper and lower surfaces by the second delivery device 48 is supplied and mounted. Is done.

リード線2の他端部に半導体セル1が供給載置されると、第1、第2のブロック61,62は上下駆動手段63によって下降方向に駆動されて搬送手段14に受け渡された後、この搬送手段14によって下面にリード線2(2a)の一端部が貼着された上記半導体セル1がピッチPの距離だけ間欠搬送される。この状態を図11(c)に示す。   When the semiconductor cell 1 is supplied and placed on the other end of the lead wire 2, the first and second blocks 61 and 62 are driven in the downward direction by the vertical drive means 63 and delivered to the transport means 14. The semiconductor cell 1 having one end of the lead wire 2 (2a) adhered to the lower surface thereof by the transport means 14 is intermittently transported by a distance of the pitch P. This state is shown in FIG.

上記半導体セル1がピッチ送りされると、図11(d)に示すように第1の下ブロック61と第2の下ブロック62は上下駆動手段63によって上昇方向に駆動される。それによって、下面にリード線2の他端部が貼着された半導体セル1が第1の下ブロック61の第1の受け面61aによって搬送手段14の無端ベルト53から上昇させられる。その後、成形加工されたつぎのリード線2(2b)が第1の保持部71と第2の保持部73の上ブロック71a,73aに吸着保持されて供給される。   When the semiconductor cell 1 is pitch-fed, the first lower block 61 and the second lower block 62 are driven in the upward direction by the vertical driving means 63 as shown in FIG. As a result, the semiconductor cell 1 with the other end of the lead wire 2 attached to the lower surface is raised from the endless belt 53 of the conveying means 14 by the first receiving surface 61 a of the first lower block 61. Thereafter, the next lead wire 2 (2 b) that has been molded is sucked and held by the upper blocks 71 a and 73 a of the first holding portion 71 and the second holding portion 73 and supplied.

このリード線2(2b)の一端部は、下部加圧部材60の第1の下ブロック61の第1の受け面61aにリード線2(2a)を介して吸着保持された半導体セル1の上面の導電性テープ3に対応する位置に供給され、他端部は下部加圧部材60の第2の下ブロック62の受け面62aに供給される。   One end of the lead wire 2 (2b) is an upper surface of the semiconductor cell 1 that is sucked and held on the first receiving surface 61a of the first lower block 61 of the lower pressure member 60 via the lead wire 2 (2a). The other end portion is supplied to the receiving surface 62 a of the second lower block 62 of the lower pressure member 60.

それによって、第1の下ブロック61の受け面61aに保持された半導体セル1は、その下面に貼着されたリード線2(2a)の他端部と、上面に貼着されたリード線2(2b)の一端部が第1の下ブロック61の受け面61aと、第1の上ブロック71aの下端面によって同時に加圧されることになる。つまり、半導体セル1の上下面に最初に供給されたリード線2(2a)の他端部と、つぎに供給されたリード線2(2b)の一端部が同時に仮圧着される。   Thereby, the semiconductor cell 1 held on the receiving surface 61a of the first lower block 61 has the other end of the lead wire 2 (2a) attached to the lower surface thereof and the lead wire 2 attached to the upper surface thereof. One end of (2b) is simultaneously pressed by the receiving surface 61a of the first lower block 61 and the lower end surface of the first upper block 71a. That is, the other end portion of the lead wire 2 (2a) first supplied to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 and the one end portion of the lead wire 2 (2b) supplied next are temporarily crimped simultaneously.

なお、上記第1の上ブロック71aと第2の上ブロック73aが第1乃至第3のリード線加工手段15a〜15cによって成形されたリード線2を取り出すときに、上下シリンダ81によって各上ブロック71a,73aに付与される加圧力は、リード線2を半導体セル1に仮圧着するときの圧力よりも高くなるよう設定される。   When the first upper block 71a and the second upper block 73a take out the lead wire 2 formed by the first to third lead wire processing means 15a to 15c, the upper block 71a uses the upper block 71a. , 73a is set so as to be higher than the pressure when the lead wire 2 is temporarily pressure-bonded to the semiconductor cell 1.

それによって、リード線2を各リード線加工手段15a〜15cから確実に取り出すことができ、仮圧着時には取出し時よりも圧力が低いことで、リード線2が半導体セル1に貼着された導電性テープ3からずれるのを防止できる。   As a result, the lead wire 2 can be reliably taken out from each of the lead wire processing means 15a to 15c, and the pressure at which the lead wire 2 is attached to the semiconductor cell 1 is lower than that at the time of take-off at the time of provisional pressure bonding. The deviation from the tape 3 can be prevented.

また、第1の保持部71と第2の保持部73を1枚の取付け板77に取付けるようにしているが、各保持部71,73を別々の取付け板に取付けてそれぞれを上下シリンダ81によって上下駆動するようにしてもよい。   In addition, the first holding part 71 and the second holding part 73 are attached to one mounting plate 77, but each holding part 71, 73 is attached to a separate mounting plate, and each is moved by the upper and lower cylinders 81. You may make it drive up and down.

そのようにすれば、リード線2を吸着するときには各保持部71,73が同じ圧力でリード線2に当たるよう各上下シリンダ81に供給する気体圧力を制御し、リード線2に半導体セル1を後述するよう仮圧着するときには、そのときの状態に応じて各保持部71,73が半導体セル1を加圧する圧力が最適となるよう、一対の上下シリンダ81に供給する気体の圧力を制御することで、半導体セル1の損傷を防止することができる。   By doing so, the gas pressure supplied to each of the upper and lower cylinders 81 is controlled so that the holding portions 71 and 73 contact the lead wire 2 with the same pressure when adsorbing the lead wire 2, and the semiconductor cell 1 is placed on the lead wire 2 later. When temporarily press-fitting, the pressure of the gas supplied to the pair of upper and lower cylinders 81 is controlled so that the pressure at which the holding portions 71 and 73 pressurize the semiconductor cell 1 is optimized according to the state at that time. The damage of the semiconductor cell 1 can be prevented.

このようにして、1番目に供給された半導体セル1の上面と下面にリード線2(2a,2b)が仮圧着されると、第1の保持部71と第2の保持部73の上ブロック71a,73aが上昇して図8に矢印で示す+Y方向に移動(後退)した後、図11(e)に示すように、リード線2(2b)の他端部に第2の受け渡し装置48によってつぎの半導体セル1が供給され、上記リード線2(2b)に下面の導電性テープ3が貼着される。   In this way, when the lead wires 2 (2a, 2b) are temporarily pressure-bonded to the upper surface and the lower surface of the semiconductor cell 1 supplied first, the upper blocks of the first holding unit 71 and the second holding unit 73 After 71a and 73a are raised and moved (retracted) in the + Y direction indicated by an arrow in FIG. 8, the second delivery device 48 is connected to the other end of the lead wire 2 (2b) as shown in FIG. 11 (e). Then, the next semiconductor cell 1 is supplied, and the lower surface conductive tape 3 is adhered to the lead wire 2 (2b).

ついで、第1、第2のブロック61,62が下降方向に駆動されてリード線2(2b)によって電気的に接続された2つの半導体セル1が無端ベルト53に受け渡された後、図11(f)に示すようにこれら半導体セル1が無端ベルト53によってピッチPの距離で間欠送りされる。   Next, after the first and second blocks 61 and 62 are driven in the downward direction and the two semiconductor cells 1 electrically connected by the lead wire 2 (2b) are transferred to the endless belt 53, FIG. As shown in (f), these semiconductor cells 1 are intermittently fed by a pitch P distance by an endless belt 53.

その後、成形加工されたリード線2を下端面に吸着保持した上ブロック71a,73aが−Y方向に駆動されて搬送手段14の無端ベルト53の上方に位置決めされた後、下降方向に駆動されて図11(f)に鎖線で示すようにリード線2(2c)が供給される。   Thereafter, the upper blocks 71a and 73a holding the molded lead wire 2 on the lower end surface are driven in the -Y direction and positioned above the endless belt 53 of the conveying means 14, and then driven in the downward direction. The lead wire 2 (2c) is supplied as shown by the chain line in FIG.

上記リード線2(2c)は、一端部が第1の下ブロック61の受け面61a上の半導体セル1の上面に供給位置決めし、他端部が第2の下ブロック62の第2の受け面62aに供給位置決めする。   One end of the lead wire 2 (2c) is supplied and positioned on the upper surface of the semiconductor cell 1 on the receiving surface 61a of the first lower block 61, and the other end is the second receiving surface of the second lower block 62. Supply positioning to 62a.

それによって、第1の下ブロック61の受け面61a上の半導体セル1の下面と上面に対し、リード線2(2b)の他端部と、リード線2(2c)の一端部とが上記第1の下ブロック61の受け面61aと第1の上ブロック71aの下端面とで加圧されて仮圧着される。   Thereby, the other end of the lead wire 2 (2b) and one end of the lead wire 2 (2c) are connected to the lower surface and the upper surface of the semiconductor cell 1 on the receiving surface 61a of the first lower block 61. The receiving surface 61a of the first lower block 61 and the lower end surface of the first upper block 71a are pressurized and temporarily pressed.

このような仮圧着が繰り返して行われることで、複数、たとえば12個の半導体セル1が図15(a)に示すようにリード線2a〜2nによって一列に接続されたストリング1Aとなる。つまり、半導体セル1の下面と上面にリード線2の他端部と一端部が順次仮圧着された、仮圧着状態のストリング1Aとなる。   By repeatedly performing such temporary pressure bonding, a plurality of, for example, twelve semiconductor cells 1 become a string 1A connected in a row by lead wires 2a to 2n as shown in FIG. That is, the string 1A in a temporarily press-bonded state is obtained in which the other end portion and one end portion of the lead wire 2 are temporarily press-bonded sequentially to the lower surface and the upper surface of the semiconductor cell 1.

なお、半導体セル1にリード線2を導電性テープ3によって仮圧着した場合、導電性テープ3に含まれる微粒子が押し潰されないことがあり、そのときには仮圧着によって半導体セル1とリード線2とが電気的に接続されないこともある。   When the lead wire 2 is temporarily crimped to the semiconductor cell 1 with the conductive tape 3, the fine particles contained in the conductive tape 3 may not be crushed, and at that time, the semiconductor cell 1 and the lead wire 2 are bonded by the temporary crimping. It may not be electrically connected.

このようにして、半導体セル1の下面と上面にリード線2の他端部と一端部を順次仮圧着して仮圧着状態のストリング1Aを形成するようにすれば、ストリング1Aを構成する半導体セル1の数を12個だけでなく、任意の数にすることができる。   Thus, if the other end portion and one end portion of the lead wire 2 are sequentially temporarily crimped to the lower surface and the upper surface of the semiconductor cell 1 to form the string 1A in a temporarily crimped state, the semiconductor cells constituting the string 1A The number of 1s can be any number, not just twelve.

また、図11(b),(d),(f)などのように第1のブロック61と第2のブロック62の一方だけに設けられた半導体セル1に対してリード線2を仮圧着する場合、上述したように第1の保持部71と第2の保持部73を別々の取付け板によって上下シリンダ81に連結すれば、リード線2に半導体セル1を仮圧着する一方の保持部71又は73に加える加圧力を、他方の保持部よりも小さくすることができる。それによって、半導体セル1を加圧し過ぎて損傷させることを防止することができる。   Further, as shown in FIGS. 11B, 11D and 11F, the lead wire 2 is temporarily pressure-bonded to the semiconductor cell 1 provided only in one of the first block 61 and the second block 62. In this case, as described above, if the first holding portion 71 and the second holding portion 73 are connected to the upper and lower cylinders 81 by separate mounting plates, one holding portion 71 for temporarily pressing the semiconductor cell 1 to the lead wire 2 or The pressure applied to 73 can be made smaller than the other holding part. Thereby, it is possible to prevent the semiconductor cell 1 from being excessively pressurized and damaged.

12個の半導体セル1からなる仮圧着状態のストリング1Aが搬送手段14によって搬送され、先端の半導体セル1が3つの本圧着手段16の、+X方向の最先端に位置する本圧着手段16に対向する位置まで搬送されると、1番目、5番面及び9番面の半導体セル1に仮圧着されたリード線2が3つの本圧着手段16によって同時に本圧着される。   The temporarily crimped string 1A composed of twelve semiconductor cells 1 is transported by the transport means 14, and the semiconductor cell 1 at the tip is opposed to the main crimping means 16 located at the forefront of the three final crimping means 16 in the + X direction. When the lead wire 2 is temporarily crimped to the first, fifth and ninth semiconductor cells 1, it is finally crimped simultaneously by the three permanent crimping means 16.

上記本圧着手段16は、図12に示すように上記搬送手段14の無端ベルト53の上方に配置され上部シリンダ85によって上下駆動される板状の上部可動部材86と、下方に配置され下部シリンダ87によって上下駆動される板状の下部可動部材88を有する。   As shown in FIG. 12, the main crimping means 16 includes a plate-like upper movable member 86 that is disposed above the endless belt 53 of the conveying means 14 and is driven up and down by an upper cylinder 85, and a lower cylinder 87 that is disposed below. Has a plate-like lower movable member 88 that is driven up and down.

上記上部可動部材86の下面にはヒータ91aによって加熱される3本の上部加圧ツール91が後述する所定間隔で設けられている。上記下部可動部材88の上面にはヒータ92aによって加熱される3本の下部加圧ツール92が上記上部加圧ツール91と対応する位置に設けられている。   On the lower surface of the upper movable member 86, three upper pressurizing tools 91 heated by a heater 91a are provided at predetermined intervals which will be described later. On the upper surface of the lower movable member 88, three lower pressure tools 92 heated by a heater 92a are provided at positions corresponding to the upper pressure tool 91.

なお、各シリンダ85,87による上部加圧ツール91と下部加圧ツール92の上昇及び下降方向の駆動は2段階のストロークで行えるようになっている。   The upper pressure tool 91 and the lower pressure tool 92 can be driven in the upward and downward directions by the cylinders 85 and 87 in two strokes.

各加圧ツール91,92は、半導体セル1の上下面に仮圧着されたそれぞれ3本のリード線2と対応する間隔で設けられている。上部加圧ツール91と半導体セル1の上面との間には上部クッションテープ94が介装され、下部加圧ツール92と半導体セル1の下面との間には下部クッションテープ95が介装される。   The pressurizing tools 91 and 92 are provided at intervals corresponding to the three lead wires 2 temporarily bonded to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1. An upper cushion tape 94 is interposed between the upper pressure tool 91 and the upper surface of the semiconductor cell 1, and a lower cushion tape 95 is interposed between the lower pressure tool 92 and the lower surface of the semiconductor cell 1. .

各クッションテープ94,95は供給リール96から繰り出され、一対のガイドローラ97にガイドされて半導体セル1の上面と下面とに平行に走行し、巻取りリール98に巻き取られるようになっている。   The cushion tapes 94 and 95 are fed out from the supply reel 96, guided by a pair of guide rollers 97, travel parallel to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, and are taken up by the take-up reel 98. .

なお、詳細は図示しないが、上側及び下側の上記供給リール96、ガイドローラ97及び巻取りリール98は上記本圧着手段16の上側及び下側の加圧ツール91,92と一体的に上下動するようになっている。   Although not shown in detail, the upper and lower supply reels 96, guide rollers 97, and take-up reels 98 move up and down integrally with the upper and lower pressurizing tools 91 and 92 of the main crimping means 16. It is supposed to be.

上記ストリング1Aが搬送されて3つの本圧着手段16に対して1番目、5番面及び9番面の半導体セル1が位置決めされると、各本圧着手段16の上部加圧ツール91が下降方向に駆動され、下部加圧ツール92が上昇方向に駆動される。それによって、ストリング1Aの1番目、5番面及び9番面の半導体セル1の上下面に仮圧着された各3本のリード線2が各加圧ツール91,92によって加圧されながら、加熱される。   When the string 1A is transported and the first, fifth and ninth semiconductor cells 1 are positioned with respect to the three main crimping means 16, the upper pressurizing tool 91 of each final crimping means 16 is lowered. The lower pressure tool 92 is driven in the upward direction. As a result, each of the three lead wires 2 temporarily bonded to the upper and lower surfaces of the first, fifth and ninth semiconductor cells 1 of the string 1A is heated while being pressed by the pressing tools 91 and 92. Is done.

それによって、リード線2を半導体セル1に貼着した導電性テープ3が上下加圧ツール91,92の熱によって溶融硬化されるから、上記リード線2が半導体セル1の上下面に本圧着される。つまり、半導体セル1の上下面に対してリード線2が同時、つまり同じタイミングで本圧着される。   As a result, the conductive tape 3 with the lead wire 2 attached to the semiconductor cell 1 is melt-cured by the heat of the vertical pressurizing tools 91 and 92, so that the lead wire 2 is finally crimped to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1. The That is, the lead wires 2 are finally crimped to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 simultaneously, that is, at the same timing.

なお、本圧着時の各シリンダ85,87による上部加圧ツール91と下部加圧ツール92の上昇及び下降方向の駆動は、2段階のストロークのうち、小さい方のストロークで行われる。それによって、本圧着に要するタクトタイムを短縮することができる。   The upper and lower pressure tools 91 and 92 are driven in the upward and downward directions by the cylinders 85 and 87 at the time of the main press-bonding, and the smaller one of the two strokes is performed. Thereby, the tact time required for the main pressure bonding can be shortened.

このようにして、ストリング1Aの1番目、5番面及び9番面の半導体セル1に対してリード線2が本圧着されると、ストリング1Aが1ピッチPだけ間欠搬送される。それによって、3つの本圧着手段16に対して2番目、6番面及び10番面の半導体セル1が対向位置決めされる。   In this way, when the lead wire 2 is finally crimped to the first, fifth and ninth semiconductor cells 1 of the string 1A, the string 1A is intermittently conveyed by 1 pitch P. Thereby, the second, sixth and tenth semiconductor cells 1 are positioned opposite to the three main crimping means 16.

その後、3つの本圧着手段16を作動させてそれらの半導体セル1に対してリード線2を本圧着した後、ストリング1AをピッチPで間欠搬送して本圧着を行うという動作を合計で4回繰り返せば、12個の半導体セル1に仮圧着されたリード線2を全て本圧着することができる。   Thereafter, the three main crimping means 16 are actuated and the lead wires 2 are finally crimped to the semiconductor cells 1, and then the string 1A is intermittently transported at a pitch P and the final crimping is performed four times in total. If it repeats, all the lead wires 2 temporarily press-bonded to the twelve semiconductor cells 1 can be finally pressure-bonded.

このようにして、12個の半導体セル1に接続された全てのリード線2が本圧着されたストリング1Aは、上記排出手段17によって搬送手段14から搬出されて上記ストッカ19に格納される。   In this way, the string 1A, to which all the lead wires 2 connected to the twelve semiconductor cells 1 are finally pressure-bonded, is unloaded from the transfer means 14 by the discharge means 17 and stored in the stocker 19.

上記排出手段17によってストリング1Aを搬出する際、各本圧着手段16の上部加圧ツール91と下部加圧ツール92は各シリンダ85,87の大きなストロークで駆動される。   When carrying out the string 1 </ b> A by the discharge means 17, the upper pressurizing tool 91 and the lower pressurizing tool 92 of each main crimping means 16 are driven by a large stroke of each cylinder 85, 87.

それによって、上部加圧ツール91と下部加圧ツール92の間隔を十分に大きくすることができるから、上記排出手段17の吸着パッド105を上記上部加圧ツール91と下部加圧ツール92の間に確実に入り込ませることができる。   As a result, the distance between the upper pressure tool 91 and the lower pressure tool 92 can be made sufficiently large, so that the suction pad 105 of the discharge means 17 is placed between the upper pressure tool 91 and the lower pressure tool 92. It can surely get in.

上記排出手段17は、図13に示すように上記ストリング1Aと対応する長さ寸法に形成された水平可動部材101を有する。この水平可動部材101は複数、たとえば2つの水平シリンダ102によって上記搬送手段14の上方から退避した位置、つまり図13に実線で示す上記ストッカ19の上方で待機した位置と、2点鎖線で示す搬送手段14の上方に対向する位置の間でY方向に駆動されるようになっている。   The discharging means 17 has a horizontal movable member 101 formed in a length corresponding to the string 1A as shown in FIG. The horizontal movable member 101 has a plurality of, for example, two horizontal cylinders 102 retracted from above the conveying means 14, that is, a position waiting above the stocker 19 indicated by a solid line in FIG. It is driven in the Y direction between the positions facing above the means 14.

図13と図14に示すように、上記水平可動部材101の下面には複数の上下シリンダ103によって上下可動部材104が上下方向に駆動可能に設けられている。この上下可動部材104には上記ストリング1Aの各半導体セル1の四隅部を吸着保持する4本で組をなす複数組、12組の吸着パッド105(図14に2本のみ図示)が軸線を垂直にして設けられている。各吸着パッド105は図示しない吸引ポンプに接続され、吸引力が発生するようになっている。   As shown in FIGS. 13 and 14, a vertically movable member 104 is provided on the lower surface of the horizontal movable member 101 so as to be driven in the vertical direction by a plurality of vertical cylinders 103. In this vertically movable member 104, a plurality of pairs of 12 pieces of suction pads 105 (only two shown in FIG. 14) perpendicular to the axis are arranged in groups of four that hold the four corners of each semiconductor cell 1 of the string 1A. Is provided. Each suction pad 105 is connected to a suction pump (not shown) so as to generate a suction force.

上記ストリング1Aの12個の半導体セル1のリード線2が本圧着され終わると、上記水平可動部材101が上記水平シリンダ102によって搬送手段14の上方のストリング1Aの上方に駆動位置決めされる。   When the lead wires 2 of the twelve semiconductor cells 1 of the string 1A are finally crimped, the horizontal movable member 101 is driven and positioned above the string 1A above the conveying means 14 by the horizontal cylinder 102.

ついで、上下シリンダ103が作動して上下可動部材104が下降方向に駆動される。それによって、上下可動部材104に設けられた各組の4本の吸着パッド105によって12個の半導体セル1の上面四隅部が吸着される。   Next, the upper and lower cylinders 103 are operated to drive the vertical movable member 104 in the downward direction. As a result, the upper four corners of the twelve semiconductor cells 1 are sucked by the four suction pads 105 of each set provided on the vertically movable member 104.

吸着パッド105が半導体セル1を吸着すると、上記上下可動部材104が上昇し、水平可動部材101が+Y方向である後退方向に駆動され、上記検査部18の上方に位置決めされる。ストリング1Aは検査部18に供給され、ここで上下面に接続されたリード線2の接続状態が検査させる。検査によって良否の判定がなされた後、検査部18よりも後退方向である、+Y方向に設けられた上記ストッカ19に格納される。   When the suction pad 105 sucks the semiconductor cell 1, the up and down movable member 104 is raised, and the horizontal movable member 101 is driven in the backward direction that is the + Y direction, and is positioned above the inspection unit 18. The string 1A is supplied to the inspection unit 18, where the connection state of the lead wires 2 connected to the upper and lower surfaces is inspected. After the pass / fail judgment is made by the inspection, it is stored in the stocker 19 provided in the + Y direction which is the backward direction from the inspection unit 18.

12個の半導体セル1を直列に接続したストリング1Aは、最終的に予め設定された発電電力が要求される。一方、個々の半導体セル1の発電電力にはばらつきがある。そこで、供給部12の第1のストレージ21と第2のストレージ22に、それぞれ異なる発電電力の半導体セル1を設けるようにしておく。   A string 1A in which twelve semiconductor cells 1 are connected in series is ultimately required to have a preset generated power. On the other hand, the generated power of each semiconductor cell 1 varies. Therefore, the first storage 21 and the second storage 22 of the supply unit 12 are provided with the semiconductor cells 1 having different generated power.

そして、所定の発電電力のストリング1Aを構成する場合、供給部12のテープ貼着手段13に供給する、第1のストレージ21からの半導体セル1の数と、第2のストレージ22からの半導体セル1の数を、要求されるストリング1Aの発電電力に応じて設定することで、所望する発電電力のストリング1Aを構成することができる。   Then, when configuring the string 1A of predetermined generated power, the number of semiconductor cells 1 from the first storage 21 and the semiconductor cells from the second storage 22 supplied to the tape adhering means 13 of the supply unit 12 By setting the number of 1 according to the required generated power of the string 1A, it is possible to configure the desired generated power string 1A.

つまり、供給部12に第1、第2のストレージ21,22を設けたことで、個々の半導体セル1の出力電力が異なっても、ストリング1Aの発電電力を要求される発電電力に設定することができる。   That is, by providing the first and second storages 21 and 22 in the supply unit 12, the generated power of the string 1A is set to the required generated power even if the output power of each semiconductor cell 1 is different. Can do.

上記第1の清掃手段111は、図15(a),(b)に矢印で示す上記引き出し爪66による上記リード線2の引き出し方向(送り方向)に沿って所定間隔で離間して配置された第1の清掃ユニット111Aと第2の清掃ユニット111Bを有する。各清掃ユニット111A,111Bは、上記リード線2の上面側に配置された第1の駆動手段としての上部シリンダ112と下部シリンダ113を有する。   The first cleaning means 111 is arranged at a predetermined interval along the pulling direction (feeding direction) of the lead wire 2 by the pulling claw 66 indicated by arrows in FIGS. 15 (a) and 15 (b). It has a first cleaning unit 111A and a second cleaning unit 111B. Each cleaning unit 111 </ b> A, 111 </ b> B has an upper cylinder 112 and a lower cylinder 113 as first driving means disposed on the upper surface side of the lead wire 2.

上記上部シリンダ112と下部シリンダ113のロッド112a,113aにはそれぞれ取付け部材114が交換可能に取付けられている。各取付け部材114の上記リード線2に対向する面にはフェルトやスポンジなどの吸湿性の材料からなる清掃部材115が設けられている。この清掃部材115には揮発性のアルコールなどの清掃液が図示しないノズルなどに滴下供給されるようになっている。   Attachment members 114 are attached to the rods 112a and 113a of the upper cylinder 112 and the lower cylinder 113 in an exchangeable manner. A cleaning member 115 made of a hygroscopic material such as felt or sponge is provided on the surface of each mounting member 114 facing the lead wire 2. The cleaning member 115 is supplied with a cleaning liquid such as volatile alcohol dropwise to a nozzle (not shown).

一対の清掃ユニット111A,111Bの、どちらか一方の上部シリンダ112と下部シリンダ113が作動してこれらのロッド112a,113aが突出方向に付勢されると、各ロッド112a,113aに設けられた取付け部材114の清掃部材115によって上記リード線2の一方の面と他方の面、つまり上下面がスライド可能に挟持される。   When one of the upper cylinder 112 and the lower cylinder 113 of the pair of cleaning units 111A and 111B is operated and the rods 112a and 113a are urged in the protruding direction, the attachments provided on the rods 112a and 113a One surface and the other surface, that is, the upper and lower surfaces of the lead wire 2 are slidably held by the cleaning member 115 of the member 114.

その状態で、上記リード線2が上記リード線加工手段15a〜15cの引き出し爪66によって矢印方向に送られると、上記リード線2の上下面が上記清掃部材115によって同時に清掃されることになる。   In this state, when the lead wire 2 is sent in the direction of the arrow by the pulling claw 66 of the lead wire processing means 15a to 15c, the upper and lower surfaces of the lead wire 2 are simultaneously cleaned by the cleaning member 115.

一対の清掃ユニット111A,111Bは交互に使用される。たとえば、図15(a)に示すように第1の清掃ユニット111Aを所定期間使用したならば、図15(b)に示すように第1の清掃ユニット111Aを休止し、第2の清掃ユニット111Bを使用する。そして、第1の清掃ユニット111Aは休止されている間に、たとえば清掃部材115の交換などの点検修理が行なわれる。   The pair of cleaning units 111A and 111B are used alternately. For example, if the first cleaning unit 111A is used for a predetermined period as shown in FIG. 15A, the first cleaning unit 111A is suspended and the second cleaning unit 111B is used as shown in FIG. 15B. Is used. The first cleaning unit 111A is inspected and repaired, for example, by replacing the cleaning member 115 while it is at rest.

同様に、第2の清掃ユニット111Bが休止されている間には、その清掃部材115の交換などの点検修理が行なわれる。   Similarly, inspection and repair such as replacement of the cleaning member 115 is performed while the second cleaning unit 111B is stopped.

上記構成のリード線接続装置によれば、半導体セル1の上下面に所定の長さに切断された導電性テープ3を貼着するとき、半導体セル1の上下面に対して同時に行うようにした。   According to the lead wire connecting device having the above-described configuration, when the conductive tape 3 cut to a predetermined length is attached to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 are simultaneously performed. .

そのため、半導体セル1に導電性テープ3を貼着する際、その半導体セル1を上方向や下方向に湾曲させることなく行なうことができるから、半導体セル1に割れが生じるのを防止することができる。しかも、導電性テープ3を半導体セル1の上下面に対して同時に貼着できるため、別々に行う場合に比べて生産性を向上させたり、装置構成のコンパクト化を図ることができる。   Therefore, when attaching the conductive tape 3 to the semiconductor cell 1, it can be performed without bending the semiconductor cell 1 upward or downward, thereby preventing the semiconductor cell 1 from cracking. it can. In addition, since the conductive tape 3 can be attached to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 at the same time, productivity can be improved and the apparatus configuration can be made compact as compared with the case where the conductive tape 3 is separately performed.

導電性テープ3が貼着された半導体セル1に対して所定の形状に成形加工されたリード線2を仮圧着する際、その仮圧着を上記半導体セル1の上下面に対して同時に行うようにした。   When the lead wire 2 molded into a predetermined shape is temporarily press-bonded to the semiconductor cell 1 to which the conductive tape 3 is adhered, the temporary press-bonding is simultaneously performed on the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1. did.

そのため、そのことによっても、半導体セル1を上方向や下方向に湾曲させることなく行なうことができるから、半導体セル1に割れが生じるのを防止することができる。しかも、半導体セル1の上下面に対してリード線2を同時に仮圧着できるから、別々に行う場合に比べて生産性の向上や装置構成の簡略化を図ることができる。   For this reason, the semiconductor cell 1 can be formed without being bent upward or downward, thereby preventing the semiconductor cell 1 from being cracked. Moreover, since the lead wires 2 can be temporarily bonded to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, productivity can be improved and the apparatus configuration can be simplified as compared with the case where the lead wires 2 are separately performed.

半導体セル1の上下面に仮圧着されたリード線2を本圧着する場合、その本圧着を上記半導体セル1の上下面に対して同時に行うようにした。   When the lead wires 2 temporarily bonded to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1 are finally bonded, the main bonding is simultaneously performed on the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1.

そのため、そのことによっても、半導体セル1を上方向や下方向に湾曲させることなく行なうことができるから、半導体セル1に割れが生じるのを防止することができる。しかも、半導体セル1の上下面に対してリード線2を同時に本圧着できるから、別々に行う場合に比べて生産性の向上や装置構成の簡略化を図ることができる。   For this reason, the semiconductor cell 1 can be formed without being bent upward or downward, thereby preventing the semiconductor cell 1 from being cracked. In addition, since the lead wires 2 can be main-bonded simultaneously to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, productivity can be improved and the apparatus configuration can be simplified as compared with the case where they are separately performed.

上記リード線2を上記リード線加工手段15a〜15cによって成形加工する前に、第1の清掃手段111の第1の清掃ユニット111A或いは第2の清掃ユニット111Bによって上記リード線2の上下面が清掃されてその上下面に付着残留していた汚れが除去されてから成形加工された後、そのリード線2が半導体セル1の上下面に貼着された導電性テープ3に仮圧着されてから、本圧着される。   Before forming the lead wire 2 by the lead wire processing means 15a to 15c, the upper and lower surfaces of the lead wire 2 are cleaned by the first cleaning unit 111A or the second cleaning unit 111B of the first cleaning means 111. After the dirt remaining on the upper and lower surfaces is removed and molded, the lead wire 2 is temporarily pressure-bonded to the conductive tape 3 adhered to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell 1, This is crimped.

そのため、汚れが除去された上記リード線2は半導体セル1に貼着された導電性テープ3に確実に貼着できるから、貼着された上記リード線2に捲くれが生じたり、導電性テープ3から剥離するのを防止することができる。それによって、リード線2の貼着不良が原因となる不良品の発生を防止することができる。   Therefore, since the lead wire 2 from which the dirt has been removed can be reliably attached to the conductive tape 3 attached to the semiconductor cell 1, the attached lead wire 2 is wrinkled or conductive tape. 3 can be prevented from peeling off. Thereby, generation | occurrence | production of the inferior goods resulting from the sticking defect of the lead wire 2 can be prevented.

また、第1の清掃手段111は第1の清掃ユニット111Aと第2の清掃ユニット111Bを有する。そのため、どちらか一方の清掃ユニット111A又は111Bを使用し、他方を休止させることができるから、休止されている清掃ユニット111A又は111Bの清掃部材115の交換などの修理点検を行なうことができる。   The first cleaning unit 111 includes a first cleaning unit 111A and a second cleaning unit 111B. Therefore, since either one of the cleaning units 111A or 111B can be used and the other can be stopped, repair inspection such as replacement of the cleaning member 115 of the stopped cleaning unit 111A or 111B can be performed.

つまり、第1の清掃手段111によりリード線2の清掃を行ないながら、第1の清掃手段111の一方の清掃ユニット111A又は111Bの修理点検を行なうことができる。   That is, it is possible to repair and inspect one cleaning unit 111A or 111B of the first cleaning unit 111 while cleaning the lead wire 2 by the first cleaning unit 111.

なお、図15(a),(b)に示す清掃手段111において、図示しないが、第1の清掃ユニット111Aと第2の清掃ユニット111Bの各一対の上部シリンダ112と下部シリンダ113に、これらシリンダを超音波振動させる発振体を設けるようにしてもよい。   In the cleaning means 111 shown in FIGS. 15A and 15B, although not shown, the pair of upper cylinder 112 and lower cylinder 113 of the first cleaning unit 111A and the second cleaning unit 111B are connected to these cylinders. An oscillator that vibrates ultrasonically may be provided.

そうすれば、清掃部材115によってリード線2の上下面を清掃するとき、上記清掃部材115が超音波振動させることができるから、清掃部材115によるリード線2の上下面の清掃をより一層、確実に行なうことができる。   Then, when the cleaning member 115 cleans the upper and lower surfaces of the lead wire 2, the cleaning member 115 can ultrasonically vibrate, so the cleaning member 115 can more reliably clean the upper and lower surfaces of the lead wire 2. Can be done.

図16(a)〜(c)はこの発明の第2の実施の形態を示す。この実施の形態はリード線2を第2の清掃手段121によって清掃するようにしている。この第2の清掃手段121は図10に示す供給リール65から引き出されたリード線2の上面側に対向して配置された第1、第2の上部清掃部材122a,123aと、これら上部清掃部材122a,123aよりも上記リード線2の送り方向下流側の下面側に対向して配置された第1、第2の下部清掃部材122b,123bとを有する。   FIGS. 16A to 16C show a second embodiment of the present invention. In this embodiment, the lead wire 2 is cleaned by the second cleaning means 121. The second cleaning means 121 includes first and second upper cleaning members 122a and 123a arranged to face the upper surface side of the lead wire 2 drawn from the supply reel 65 shown in FIG. 10, and these upper cleaning members. The first and second lower cleaning members 122b and 123b are arranged opposite to the lower surface side of the lead wire 2 on the downstream side in the feed direction with respect to the lead wires 2a and 123a.

第1の上部清掃部材122aと第1の下部清掃部材123aは対をなしていて、第2の上部清掃部材122bと第2の下部清掃部材123bは対をなしている。   The first upper cleaning member 122a and the first lower cleaning member 123a make a pair, and the second upper cleaning member 122b and the second lower cleaning member 123b make a pair.

各清掃部材122a,122b,123a,123bは、たとえばフェルトやスポンジなどの吸湿性を有する材料によって上面が凸状に湾曲した湾曲面124に形成された蒲鉾状をなしていて、平板状の取付け部材125に取付けて構成されている。   Each of the cleaning members 122a, 122b, 123a, 123b has a hook-like shape formed on a curved surface 124 whose upper surface is curved in a convex shape by a material having hygroscopicity, such as felt or sponge, and is a flat plate-like mounting member 125 is attached.

なお、清掃部材122a,122b,123a,123bは湾曲面124の湾曲方向を矢印で示すリード線2の送り方向に沿わせて配置されている。   The cleaning members 122a, 122b, 123a, and 123b are arranged along the feeding direction of the lead wire 2 in which the bending direction of the curved surface 124 is indicated by an arrow.

各清掃部材122a,122b,123a,123bが設けられた上記取付け部材125は駆動手段としてのシリンダ126のロッド126aに交換可能に取付けられている。第1の上部清掃部材122aと第1の下部清掃部材123aが設けられた一対のシリンダ126は同期して駆動され、第2の上部清掃部材122bと第2の下部清掃部材123bが設けられた一対のシリンダ126は同期して駆動されるようになっている。   The mounting member 125 provided with the cleaning members 122a, 122b, 123a, 123b is replaceably mounted on a rod 126a of a cylinder 126 as a driving means. The pair of cylinders 126 provided with the first upper cleaning member 122a and the first lower cleaning member 123a are driven in synchronization, and the pair provided with the second upper cleaning member 122b and the second lower cleaning member 123b. The cylinders 126 are driven synchronously.

なお、各清掃部材122a,122b,123a,123bには揮発性の清掃液を図示しないノズルなどによって供給されたり、予め所定量の清掃液が含浸させられる。   Each cleaning member 122a, 122b, 123a, 123b is supplied with a volatile cleaning liquid by a nozzle (not shown) or impregnated with a predetermined amount of cleaning liquid in advance.

図16(a)の状態から、図16(b)に示すように第1の上部清掃部材122aと第1の下部清掃部材123aが駆動されると、リード線2は第1の上部清掃部材122aによって下方に押し下げられながら、第1の下部清掃部材123aによって上方に押し上げられる。その状態で、リード線2が引き出し爪66によって引っ張られて矢印方向に送られると、その上下面が第1の上部清掃部材122aと第1の下部清掃部材123aによって同時に清掃される。   When the first upper cleaning member 122a and the first lower cleaning member 123a are driven from the state of FIG. 16A as shown in FIG. 16B, the lead wire 2 is connected to the first upper cleaning member 122a. Is pushed upward by the first lower cleaning member 123a while being pushed downward by the first lower cleaning member 123a. In this state, when the lead wire 2 is pulled by the pulling claw 66 and sent in the direction of the arrow, the upper and lower surfaces thereof are simultaneously cleaned by the first upper cleaning member 122a and the first lower cleaning member 123a.

同様に、図16(b)の状態から図16(c)に示すように、第2の上部清掃部材122bと第2の下部清掃部材123bが駆動されると、リード線2の上下面が第2の上部清掃部材122bと第2の下部清掃部材123bによって同時に清掃される。   Similarly, when the second upper cleaning member 122b and the second lower cleaning member 123b are driven as shown in FIG. 16C from the state of FIG. The second upper cleaning member 122b and the second lower cleaning member 123b are simultaneously cleaned.

このように、対を成す第1の上部清掃部材122aと第1の下部清掃部材123a或いは同じく対を成す第2の上部清掃部材122bと第2の下部清掃部材123bのどちらか一方の組の清掃部材によってリード線2の上下面を清掃することができ、そのとき他方の組の清掃部材を交換するなど、修理点検することができる。   Thus, the cleaning of either one of the pair of the first upper cleaning member 122a and the first lower cleaning member 123a or the pair of the second upper cleaning member 122b and the second lower cleaning member 123b that form a pair. The upper and lower surfaces of the lead wire 2 can be cleaned by the member, and at that time, the other set of cleaning members can be exchanged and repaired.

つまり、2組の清掃部材を有することで、ラインを休止させることなく、どちらか一方の組の清掃部材によってリード線2を清掃している間に、他方の組の清掃部材を交換するなどの修理点検を行なうことができる。   In other words, by having two sets of cleaning members, the cleaning member of the other set is replaced while the lead wire 2 is being cleaned by either one of the cleaning members without pausing the line. Repair inspection can be performed.

また、各清掃部材122a,122b,123a,123bの上面は凸条に湾曲した湾曲面124に形成されている。そのため、リード線2は各清掃部材122a,122b又は123a,123bによって押圧されたときに上記湾曲面124によって湾曲変形するから、リード線2の上面と下面に傷が付くのを防止することができる。   Moreover, the upper surface of each cleaning member 122a, 122b, 123a, 123b is formed in the curved surface 124 curved to the protruding item | line. Therefore, since the lead wire 2 is curved and deformed by the curved surface 124 when pressed by the cleaning members 122a, 122b or 123a, 123b, it is possible to prevent the upper surface and the lower surface of the lead wire 2 from being damaged. .

しかも、各清掃部材122a,122b,123a,123bは湾曲面124の湾曲方向をリード線2の送り方向に沿わせて配置されているから、上記リード線2を円滑に送りながら確実に清掃することができる。   Moreover, since each of the cleaning members 122a, 122b, 123a, 123b is arranged with the bending direction of the curved surface 124 aligned with the feeding direction of the lead wire 2, it is surely cleaned while feeding the lead wire 2 smoothly. Can do.

なお、この第2の実施の形態において、清掃部材122a,122b,123a,123bが取付けられたシリンダ126に超音波振動する発振器を取付け、リード線2を清掃するときに、清掃部材122a,122b,123a,123bを超音波振動させることで、清掃効果を向上させるようにしてもよい。   In this second embodiment, when the ultrasonic vibration oscillator is attached to the cylinder 126 to which the cleaning members 122a, 122b, 123a, 123b are attached, and the lead wire 2 is cleaned, the cleaning members 122a, 122b, The cleaning effect may be improved by ultrasonically vibrating 123a and 123b.

また、取付け部材125に取付けられる清掃部材122a,122b,123a,123bの上面を凸状に湾曲した湾曲面に形成したが、上記清掃部材を溝付きローラの溝に取付けるようにしてもよい。その際、上記ローラはシリンダに回転不能若しくはリード線2との接触抵抗よりも大きな回転抵抗で回転するように設けることで、上記リード線2を送ったときに、このリード線2の上下面を上記ローラの溝に設けられた清掃部材によって清掃することができる。   Further, although the upper surfaces of the cleaning members 122a, 122b, 123a, and 123b attached to the attachment member 125 are formed into curved surfaces that are convexly curved, the cleaning member may be attached to the groove of the grooved roller. At that time, the roller is provided in the cylinder so as not to rotate or to rotate with a rotational resistance larger than the contact resistance with the lead wire 2, so that when the lead wire 2 is sent, the upper and lower surfaces of the lead wire 2 are arranged. Cleaning can be performed by a cleaning member provided in the groove of the roller.

上記第2の実施の形態では上部清掃部材と下部清掃部材をそれぞれ4つ設け、1つ置きの清掃部材を交互に上下動させ、リード線を図10に示す供給リール65から繰り出した直後に清掃するようにした。しかしながら、供給リール65から繰り出された直後ではリード線に巻き癖がついている。そのため、清掃手段をリード線の清掃とともに、リード線の巻き癖を除去するために兼用することができる。   In the second embodiment, four upper cleaning members and four lower cleaning members are provided, and every other cleaning member is moved up and down alternately, and cleaning is performed immediately after the lead wire is fed out from the supply reel 65 shown in FIG. I tried to do it. However, immediately after being fed out from the supply reel 65, the lead wire has a curl. Therefore, the cleaning means can be used in combination with the cleaning of the lead wire to remove the curl of the lead wire.

たとえば、複数の上部清掃部材と下部清掃部材を、リード線の搬送面に対して交互に下方側と上方側に位置するよう配置すれば、上記リード線が上下方向に屈曲を繰り返しながら送られることになるから、上記リード線の巻き癖を除去しながら、上下面を清掃することが可能となる。   For example, if a plurality of upper cleaning members and lower cleaning members are arranged alternately on the lower side and the upper side with respect to the lead wire conveyance surface, the lead wires can be sent while being bent in the vertical direction. Therefore, it is possible to clean the upper and lower surfaces while removing the curl of the lead wire.

上下の清掃部材は上記リード線に接触する面が凸状の湾曲面に形成されていることが好ましいが、上下の清掃部材の形状としてはそれに限定されず、たとえば軸方向両端につばを有するローラ、つまり溝つきのローラとし、その溝の外周面に布などの清掃部材を設けるようにしてもよい。この場合も複数の溝つきのローラをリード線の搬送面に対して交互に上下方向に高さを変えて配置することで、巻き癖の除去とともに清掃を行なえるようにすることができる。   The upper and lower cleaning members are preferably formed with convex curved surfaces in contact with the lead wires, but the shape of the upper and lower cleaning members is not limited thereto, for example, rollers having flanges at both axial ends That is, a roller with a groove may be used, and a cleaning member such as a cloth may be provided on the outer peripheral surface of the groove. Also in this case, by arranging a plurality of rollers with grooves alternately changing the height in the vertical direction with respect to the lead surface, the cleaning can be performed together with the removal of the curl.

1…半導体セル、2,2a〜2n…リード線、3…導電性テープ、12…供給部、13…テープ貼着手段、14…搬送手段、15…仮圧着手段、15a〜15c…第1乃至第3のリード線加工手段、16…本圧着手段、17…排出手段、31…第1のテープ貼着部、32…第2のテープ貼着部、60…下部加圧部材、65…供給リール、66…引出し爪、91…上部加圧ツール、92…下部加圧ツール、111…第1の清掃手段、112…上部シリンダ(駆動手段)、113…下部シリンダ(駆動手段)、114…取付け部材、115…清掃部材、121…第2の清掃手段、122a,122b,123a,123b…上部、下部清掃部材、125…取付け部材、126…シリンダ(駆動手段)。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Semiconductor cell, 2, 2a-2n ... Lead wire, 3 ... Conductive tape, 12 ... Supply part, 13 ... Tape sticking means, 14 ... Conveyance means, 15 ... Temporary pressure bonding means, 15a-15c ... 1st thru | or 3rd lead wire processing means, 16 ... main pressure bonding means, 17 ... discharge means, 31 ... first tape adhering part, 32 ... second tape adhering part, 60 ... lower pressure member, 65 ... supply reel , 66 ... drawer claws, 91 ... upper pressure tool, 92 ... lower pressure tool, 111 ... first cleaning means, 112 ... upper cylinder (drive means), 113 ... lower cylinder (drive means), 114 ... mounting member 115, cleaning member, 121, second cleaning means, 122a, 122b, 123a, 123b, upper and lower cleaning members, 125, mounting member, 126, cylinder (drive means).

Claims (4)

複数の半導体セルを帯状のリード線によって一列に接続するリード線接続装置であって、
上記半導体セルの供給部と、
この供給部から供給された上記半導体セルの上面と下面に所定長さに切断された粘着性の導電性テープを貼着するテープ貼着手段と、
このテープ貼着手段によって上面と下面に上記導電性テープが貼着された上記半導体セルが供給されその半導体セルをピッチ送りする搬送手段と、
上記リード線を長手方向の中途部を境にして上下方向に屈曲する形状に成形加工するリード線加工手段と、
このリード線加工手段によって成形加工される前に、上記リード線に付着する汚れを除去する清掃手段と、
上記搬送手段によってピッチ送りされる上記半導体セルと対向する部位に設けられ上記リード線加工手段によって成形加工されたリード線を保持してピッチ送りされる上記半導体セルの上面と下面に設けられた導電性テープに上記リード線の仮圧着を繰り返して隣り合う上記半導体セルの上面と下面を交互に電気的に接続する仮圧着手段と、
この仮圧着手段よりも上記搬送手段による半導体セルの送り方向下流側の半導体セルと対向する部位に配置され上記仮圧着手段によって上記半導体セルの上面と下面に仮圧着された上下一対の上記リード線を同時に本圧着する本圧着手段と
を具備したことを特徴とする半導体セルのリード線接続装置。
A lead wire connecting device for connecting a plurality of semiconductor cells in a row by strip-like lead wires,
A supply part of the semiconductor cell;
Tape adhering means for adhering an adhesive conductive tape cut to a predetermined length on the upper and lower surfaces of the semiconductor cell supplied from the supply unit;
The semiconductor cell with the conductive tape adhered to the upper and lower surfaces by the tape adhering means is supplied, and the conveying means for pitch-feeding the semiconductor cells;
Lead wire processing means for forming the lead wire into a shape that bends in the vertical direction at the middle part in the longitudinal direction;
Cleaning means for removing dirt adhering to the lead wire before being molded by the lead wire processing means;
Conductives provided on the upper and lower surfaces of the semiconductor cells that are pitch-fed while holding lead wires that are formed by the lead wire processing means and are opposed to the semiconductor cells that are pitch-fed by the conveying means. Temporary crimping means for electrically connecting the upper and lower surfaces of the adjacent semiconductor cells alternately by repeating the temporary crimping of the lead wires to the adhesive tape;
A pair of upper and lower lead wires disposed at a position facing the semiconductor cell on the downstream side of the transport direction of the semiconductor cell by the transport means rather than the temporary pressure-bonding means, and temporarily bonded to the upper surface and the lower surface of the semiconductor cell by the temporary pressure-bonding means. A lead bonding apparatus for semiconductor cells, comprising: a main crimping means for simultaneously crimping the two.
上記リード線加工手段は巻装された上記リード線を繰り出す供給リールを有し、
上記清掃手段は、上記供給リールから繰り出されたリード線の送り方向に沿って配置された第1の清掃ユニットと第2の清掃ユニットを有し、
各清掃ユニットは、上記リード線の一方の面と他方に面にそれぞれ対向して配置された清掃部材と、各清掃部材を上記リード線の一方の面と他方に面に対して接離する方向に駆動し上記リード線を清掃するときには一対の清掃部材を接近方向に駆動して上記リード線を摺動可能に挟持させる第1の駆動手段とによって構成されていて、
上記リード線は上記第1の清掃ユニットと第2の清掃ユニットのどちらか一方によって清掃されることを特徴とする請求項1記載の半導体セルのリード線接続装置。
The lead wire processing means has a supply reel for feeding the wound lead wire,
The cleaning means has a first cleaning unit and a second cleaning unit arranged along the feeding direction of the lead wire fed out from the supply reel,
Each cleaning unit includes a cleaning member disposed on one surface and the other surface of the lead wire so as to face each other, and a direction in which each cleaning member is brought into contact with and separated from one surface and the other surface of the lead wire. And a first driving means for driving the pair of cleaning members in an approaching direction to slidably hold the lead wire when cleaning the lead wire.
2. The lead connecting apparatus for a semiconductor cell according to claim 1, wherein the lead wire is cleaned by one of the first cleaning unit and the second cleaning unit.
上記リード線加工手段は巻装された上記リード線を繰り出す供給リールを有し、
上記清掃手段は、上記リード線の上記供給リールから繰り出された部分と上記リード線加工手段によって成形加工される部分との間の上記リード線の一方の面と他方の面に対向して設けられた2つで対を成す少なくとも2組の清掃部材と、
上記リード線の一方の面に対向する1つの清掃部材と他方の面に対向する1つの清掃部材をそれぞれ上記リード線に対して接離する方向に駆動して一方の組と他方の組のどちらかの2つの清掃部材を上記リード線の一方の面と他方の面に接触させて上記リード線の両方の面を清掃させる第2の駆動手段とによって構成されていて、
上記リード線は2組の清掃部材のどちらか一方によって清掃されることを特徴とする請求項1記載の半導体セルのリード線接続装置。
The lead wire processing means has a supply reel for feeding the wound lead wire,
The cleaning means is provided to face one surface and the other surface of the lead wire between a portion of the lead wire fed from the supply reel and a portion formed by the lead wire processing device. At least two pairs of cleaning members paired with each other;
Which one of the set and the other set is driven by driving one cleaning member facing one surface of the lead wire and one cleaning member facing the other surface in the direction of contacting and separating from the lead wire, respectively. The two cleaning members are in contact with one side of the lead wire and the other side of the lead wire, the second drive means for cleaning both sides of the lead wire,
2. The lead wire connecting device for a semiconductor cell according to claim 1, wherein the lead wire is cleaned by one of two cleaning members.
複数の半導体セルを帯状のリード線によって一列に接続するリード線接続方法であって、
上記半導体セルの上面と下面に粘着性の導電性テープを貼着する工程と、
上記リード線を長手方向の中途部を境にして上下方向に屈曲する形状に成形加工する工程と、
上記リード線を成形加工する前に、帯状の上記リード線の両面を清掃しその両面に付着する汚れを除去する工程と、
上記半導体セルの上面と下面に設けられた上記導電性テープに、両面が清掃されてから上下方向に屈曲する形状に成形加工された上記リード線の一方の一端部と他方の他端部を隣り合う上記半導体セルの上面と下面に仮圧着する工程と、
上記半導体セルの上面と下面に仮圧着された上記リード線を本圧着する工程と
を具備したことを特徴とする半導体セルのリード線接続方法。
A lead wire connection method for connecting a plurality of semiconductor cells in a row by strip-like lead wires,
Adhering an adhesive conductive tape to the upper and lower surfaces of the semiconductor cell;
Forming the lead wire into a shape that bends in a vertical direction with a middle part in the longitudinal direction as a boundary; and
Before forming the lead wire, cleaning both surfaces of the strip-shaped lead wire and removing dirt adhering to both surfaces;
Adjacent one end and the other end of the lead wire formed into a shape that bends in the vertical direction after both surfaces are cleaned on the conductive tape provided on the upper and lower surfaces of the semiconductor cell. Temporarily bonding the upper surface and the lower surface of the matching semiconductor cell;
A method for connecting lead wires of a semiconductor cell, comprising: a step of subjecting the lead wires temporarily press-bonded to an upper surface and a lower surface of the semiconductor cell.
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