JP2012506135A - 放射線ビームを案内するための光学モジュール - Google Patents
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Abstract
【選択図】図11
Description
Claims (40)
- 放射線ビームを案内するための光学モジュールであって、
少なくとも1つのミラー(13,14;26,28)であり、
互いに補完し合ってミラー反射面全体を形成する反射面(34)を有する複数の個別ミラー(27)を有し、
熱伝導部(37)により前記個別ミラー(27)それぞれのミラー本体(35)にそれぞれ機械的に連結した支持構造(36)を有し、
前記ミラー本体(35)の少なくとも若干は、少なくとも1自由度での前記支持構造(36)に対する前記ミラー本体(35)の所定の変位を得るための関連のアクチュエータ(50)を有し、
集積電子変位回路(103)を、変位可能な前記個別ミラー(27)のそれぞれに空間的に近接して関連付けた、
該ミラー(13,14;26,28)と、
中央制御装置(153)であり、変位可能な前記個別ミラー(27)の前記集積電子変位回路(103)に接続した信号接続部(151,152,120)を有する、該中央制御装置(153)と、
を備える、光学モジュール。 - 請求項1に記載の光学モジュールにおいて、前記集積電子変位回路(103)は、カスケード接続可能で実現したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項1又は2に記載の光学モジュールにおいて、前記集積電子変位回路(103)は、前記個別ミラー(27)の前記反射面(34)側とは反対の側に配置した変位駆動回路板(100)に収容したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、変位可能な前記個別ミラー(27)の1つにそれぞれ関連付けた前記アクチュエータ(50)は、ローレンツアクチュエータとして構成し、該ローレンツアクチュエータ(50)の前記集積電子変位回路(13)は、安全超低電圧により駆動することを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記集積電子変位回路(103)を駆動するための制御ライン(111,112)を、アースライン(115a)と平行に案内し、前記制御ライン(111,112)の一方は、前記アースライン(154a)の1つに直接隣接して配置したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項4又は5に記載の光学モジュールにおいて、前記集積電子供給回路(103)のそれぞれに隣接して、ローレンツアクチュエータ(50)の一部である複数の個別コイル(106〜109)を配置し、前記集積電子変位回路(103)は、前記個別コイル(106〜109)と信号接続したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項3〜6のいずれか1項に記載光学モジュールにおいて、前記変位駆動回路板(100)は、多層構造を有し、導電層(127,129,131,133;148)を、絶縁層(128,130,132;147)により互いに分離したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項3〜7のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記変位駆動回路板(100)の基板層(101)を、セラミック及び/又はシリコン材料から製造したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項3〜8のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記変位駆動回路板(100)の前記個別ミラー(27)側とは反対の側にヒートシンク(99)を有する構成としたことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項3〜9のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記ヒートシンク(99)から前記変位駆動回路板(100)を通って前記集積電子変位回路(103)又は前記個別コイル(106〜109)の領域へつながる、複数のヒートシンクフィンガ(144)を有する構成としたことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項4〜10のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記ローレンツアクチュエータ(50)は、永久磁石(44)を有することを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項1〜11のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、各集積電子変位回路(103)は、1群の個別ミラー(27)に関連付けたことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項1〜12のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、それぞれ行列状に配置した個別ミラー(27)からなる複数の部分個別アレイ(150)に分割したことを特徴とする、光学モジュール。
- EUV放射線ビームを案内するための光学モジュールであって、
真空排気可能なチャンバ(32)と、
該チャンバ(32)内に収容可能な少なくとも1つのミラー(13,14;26)であり、
互いに補完し合ってミラー反射面全体を形成する反射面(34)を有する複数の個別ミラー(27)を有し、
熱伝導部(37)により前記個別ミラー(27)それぞれのミラー本体(35)にそれぞれ機械的に連結した支持構造(36)を有し、
前記ミラー本体(35)の少なくとも若干は、少なくとも1自由度での前記支持構造(36)に対する前記ミラー本体(35)の所定の変位を得るための関連のアクチュエータ(50)を有する、該ミラー(13,14;26)と、
を備え、前記熱伝導部(37)は、前記ミラー本体(35)が吸収する少なくとも1kW/m2の熱パワー密度を前記支持構造(36)に放散させるよう構成した、光学モジュール。 - 請求項14に記載の光学モジュールにおいて、前記アクチュエータ(50)は、電磁作動式アクチュエータとして構成したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項15に記載の光学モジュールにおいて、前記アクチュエータ(50)は、ローレンツアクチュエータとして構成したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項16に記載の光学モジュールにおいて、前記ローレンツアクチュエータ(50)の通電アクチュエータコンポーネントを、基体(26)上に印刷した導体路(48)により構成したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項17に記載の光学モジュールにおいて、印刷した導体路(48)の互いに重なり合った複数の層(51〜54)を、前記基体(46)上に配置したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項14に記載の光学モジュールにおいて、前記アクチュエータは、リラクタンスアクチュエータとして構成したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項14に記載の光学モジュールにおいて、前記アクチュエータは、ピエゾアクチュエータとして構成したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項14〜20のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、各熱伝導部(37)は、複数の熱伝導ストリップ(55)を有し、隣接する熱伝導ストリップ(55)は、互いに分離し、各熱伝導ストリップ(55)は、前記ミラー本体(35)を前記支持構造(36)に連結することを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項14〜21のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記支持構造(36)は、能動冷却されることを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項14〜22のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記ミラー本体(35)の前記反射面(34)の和を、前記ミラー(13,14;26)が占める全面の0.5倍よりも大きくしたことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項14〜23のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記ミラー本体(35)は、マトリクス状に配置したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項14〜24のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記ミラー本体(35)は、ファセットミラー(13,14,26,28)のファセット(19;29)であることを特徴とする、光学モジュール。
- EUV放射線ビームを案内するための光学モジュールであって、
真空排気可能なチャンバ(32)と、
該チャンバ(32)内に収容した少なくとも1つのミラー(13、14;26)であり、
互いに補完し合ってミラー反射面全体を形成する反射面(34)を有する複数の個別ミラー(27)を有し、
熱伝導部(37)により前記個別ミラー(27)それぞれのミラー本体(35)にそれぞれ機械的に連結した支持構造(36)を有し、
前記ミラー本体(35)の少なくとも若干は、少なくとも1自由度での前記支持構造(36)に対する前記ミラー本体(35)の所定の変位を得るための関連のアクチュエータ(50)を有する、該ミラー(13,14;26)と、
を備え、前記熱伝導部(37)の少なくとも1つは、複数の熱伝導ストリップ(56〜58)を有し、前記熱伝導部(37)の1つの隣接する熱伝導ストリップ(56〜58)は、互いに分離し、該熱伝導ストリップ(56〜58)のそれぞれは、前記ミラー本体(35)を前記支持構造(36)に連結する、光学モジュール。 - 請求項26に記載の光学モジュールにおいて、前記熱伝導ストリップ(56〜58)は、中心(59)の周りで半径方向に構成し、
前記熱伝導部(37)の半径方向内側連結部(60)に、前記支持構造(36)又は前記ミラー本体(35)に対する前記熱伝導ストリップ(56〜58)の連結移行部(56i〜58i)を配置し、
半径方向外側連結部(61)に、前記ミラー本体(35)又は前記支持構造(36)に対する前記熱伝導ストリップ(56〜58)の連結移行部(56a〜58a)を配置したことを特徴とする、光学モジュール。 - 請求項27に記載の光学モジュールにおいて、前記熱伝導ストリップ(56〜58)は、複数の熱伝導ストリップ(58〜60)が前記内側連結部(60)と前記外側連結部(61)との間の半径上に互いに連なり、隣接する熱伝導ストリップ(58〜60)間に中間空間がそれぞれ存在するように配置したことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項26〜28のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記熱伝導ストリップ(56〜58)は、渦巻き状構成を有することを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項26〜29のいずれか1項に記載の光学モジュールにおいて、前記個別ミラー(27)の鏡面に対して直交する方向に延びる中央電極ピン(43)を、前記ミラー本体(35)に連結し、前記個別ミラー(27)の駆動のために、前記支持体(36)に接続した少なくとも1つの対向電極(62〜64)と協働させたことを特徴とする、光学モジュール。
- 請求項30に記載の光学モジュールにおいて、前記電極ピン(43)を周方向に包囲して互いに電気的に絶縁させた複数の対向電極(62〜64)を特徴とする、光学モジュール。
- 各関連の集積電子変位回路(103)で、行列状に配置されて制御式に変位し得る複数の個別ミラー(27)を備える光学モジュールを制御する方法であって、
駆動すべき個別ミラー列を指定するステップと、
前記個別ミラー列に関連する前記電子変位回路(103)に制御値を伝達するステップと、
を含む、方法。 - 請求項32に記載の方法において、前記光学モジュールは、行列状に配置した個別ミラー(27)からそれぞれがなる複数の部分個別ミラーアレイ(150)に分割し、駆動すべき該部分個別ミラーアレイ(150)の選択は、駆動すべき前記個別ミラー(27)を指定するステップの前に行うことを特徴とする、方法。
- 請求項32又は33に記載の方法において、前記制御値が伝達した後に、該伝達した制御値をチェックすることを特徴とする、方法。
- 請求項1〜31のいずれか1項に記載の光学モジュールで用いるミラー(13、14;26)。
- 放射線源(3)からのEUV照明光(10)で物体視野(5)を照明するための、マイクロリソグラフィ投影露光システム(1)用の照明光学系(4;24)であって、請求項1〜31のいずれか1項に記載の少なくとも1つの光学モジュールを備える、照明光学系。
- 請求項36に記載の照明光学系(4;24)と、照明光(10)を生成するEUV放射線源(3)とを備える、照明システム。
- 投影露光システムであって、
請求項37に記載の照明システム(2)と、
物体平面(6)内にある物体視野(5)を像平面(9)内の像視野(8)に結像する投影光学系(7)と、
を備える、投影露光システム。 - 構造コンポーネントを製造する方法であって、
感光材料の層を少なくとも部分的に被着したウェーハを準備するステップと、
結像すべき構造を有するレチクル(30)を準備するステップと、
請求項38に記載の投影露光システム(1)を準備するステップと、
該投影露光システム(1)を用いて、前記ウェーハの前記層の一領域に前記レチクル(30)の少なくとも一部を投影するステップと、
を含む、方法。 - 請求項39に記載の方法により製造される構造コンポーネント。
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Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012244184A (ja) * | 2011-05-19 | 2012-12-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | 投影露光装置の照明光学ユニットの瞳ファセットミラーの瞳ファセットを照明光学ユニットの視野ファセットミラーの視野ファセットに割り当てる方法 |
JP2013533632A (ja) * | 2010-07-28 | 2013-08-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ファセットミラーデバイス |
JP2014512677A (ja) * | 2011-03-25 | 2014-05-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ミラーアレイ |
JP2014525137A (ja) * | 2011-06-21 | 2014-09-25 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ファセットミラーデバイス |
JP2015511770A (ja) * | 2012-03-14 | 2015-04-20 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影露光装置のための照明光学ユニット |
JP2016500158A (ja) * | 2012-11-13 | 2016-01-07 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影露光装置の照明光学ユニットの瞳ファセットミラーの瞳ファセットを照明光学ユニットの視野ファセットミラーの視野ファセットに割り当てる方法 |
JP2016500838A (ja) * | 2012-10-15 | 2016-01-14 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 作動機構、光学装置、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法 |
JP2016502124A (ja) * | 2012-10-15 | 2016-01-21 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 作動機構、光学装置、リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
JP2016503519A (ja) * | 2012-11-29 | 2016-02-04 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学系の少なくとも1つの光学素子を作動させる機構 |
JP2016513285A (ja) * | 2013-02-25 | 2016-05-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学モジュール |
JP2016513291A (ja) * | 2013-02-28 | 2016-05-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 厚さを最適化した反射コーティング |
JP2016524184A (ja) * | 2013-05-22 | 2016-08-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学素子及び当該光学素子に対する放射の影響を低減する手段を備えた光学コンポーネント |
JP2016197245A (ja) * | 2016-06-23 | 2016-11-24 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ファセットミラーデバイス |
JP2017534075A (ja) * | 2014-10-08 | 2017-11-16 | オプトチューン アクチェンゲゼルシャフト | 光学素子、特にミラーを傾斜させるための機器 |
JP2017534902A (ja) * | 2014-09-23 | 2017-11-24 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット及びそのための中空導波管構成要素 |
JP2018523849A (ja) * | 2015-08-21 | 2018-08-23 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ方法及び装置 |
Families Citing this family (75)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009008209A1 (de) * | 2009-02-10 | 2010-08-19 | Carl Zeiss Smt Ag | Aktuator mit mindestens einem Magneten für eine Projektionsbelichtungsanlage sowie Projektionsbelichtungsanlage mit einem Magneten und Herstellungsverfahren hierfür |
WO2012025132A1 (en) * | 2010-08-25 | 2012-03-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Multi facet mirror of a microlithographic projection exposure apparatus |
DE102010041468A1 (de) * | 2010-09-27 | 2012-03-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Baugruppe einer Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Lithographie |
DE102011003928B4 (de) | 2011-02-10 | 2012-10-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
EP2697688B1 (en) | 2011-04-14 | 2018-12-19 | Carl Zeiss SMT GmbH | Facet mirror device |
DE102011081914A1 (de) | 2011-08-31 | 2012-09-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik zur Beleuchtung eines in einem Objektfeld anordenbaren, strukturierten Objektes |
DE102011086345A1 (de) | 2011-11-15 | 2013-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel |
DE102012200736A1 (de) * | 2012-01-19 | 2013-07-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegelanordnung, insbesondere zum Einsatz in einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage |
DE102013201506A1 (de) | 2012-02-17 | 2013-08-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement |
DE102013201509A1 (de) | 2012-02-17 | 2013-08-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement |
DE102012206612A1 (de) | 2012-04-23 | 2013-10-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement zur Führung eines Strahlungsbündels |
DE102012206609B4 (de) | 2012-04-23 | 2023-08-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Strahlführungsoptik für ein Vielstrahlsystem sowie Verfahren |
DE102012209132A1 (de) | 2012-05-31 | 2013-12-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
EP2708308A1 (de) * | 2012-09-14 | 2014-03-19 | Trumpf Laser Marking Systems AG | Laserbearbeitungsvorrichtung |
DE102012218219A1 (de) | 2012-10-05 | 2014-04-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Regelung der Verkippung eines Spiegelelements |
DE102013203034A1 (de) | 2013-02-25 | 2014-03-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Baugruppe für eine Halbleiter-Projektionsbelichtungsanlage und deren Beleuchtungssystem |
DE102013203032A1 (de) | 2013-02-25 | 2014-02-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische Anordnung mit einem optischen Element und einem zusätzlichen Wärmeleitelement |
JP6410741B2 (ja) | 2013-03-14 | 2018-10-24 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
DE102014204388A1 (de) | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
JP6453251B2 (ja) | 2013-03-14 | 2019-01-16 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
DE102013204546A1 (de) | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauteil |
DE102013206531A1 (de) | 2013-04-12 | 2014-05-08 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Verlagerung eines Spiegelelements |
DE102013206529A1 (de) | 2013-04-12 | 2014-04-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikroaktuator |
DE102013209442A1 (de) | 2013-05-22 | 2014-11-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement |
DE102013218748A1 (de) | 2013-09-18 | 2014-10-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement |
DE102013211269A1 (de) | 2013-06-17 | 2014-04-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik zur Beleuchtung eines in einem Objektfeld anordenbaren, strukturierten Objektes sowie Metrologiesystem für die Untersuchung eines strukturierten Objektes |
WO2014202585A2 (en) | 2013-06-18 | 2014-12-24 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic method |
DE102013212363A1 (de) | 2013-06-27 | 2014-07-31 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel, insbesondere für die EUV-Projektionslithografie |
DE102013213842A1 (de) | 2013-07-16 | 2015-01-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement |
DE102013217146A1 (de) | 2013-08-28 | 2015-03-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Bauelement |
DE102013218131A1 (de) * | 2013-09-11 | 2015-03-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik sowie Beleuchtungssystem für die EUV-Projektionslithographie |
EP2687906A3 (de) | 2013-11-21 | 2015-12-02 | Carl Zeiss SMT GmbH | Einrichtung und Verfahren zur Steuerung der Positionierung eines verlagerbaren Einzelspiegels |
WO2015104099A1 (en) * | 2014-01-13 | 2015-07-16 | Asml Netherlands B.V. | Actuation mechanism, optical apparatus and lithography apparatus |
DE102014202755A1 (de) | 2014-02-14 | 2015-08-20 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Verlagerung mindestens eines optischen Bauelements |
DE102014203188A1 (de) | 2014-02-21 | 2015-08-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Beleuchtung eines Objektfeldes einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014203189A1 (de) | 2014-02-21 | 2015-08-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel-Array |
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DE102014207866A1 (de) | 2014-04-25 | 2015-10-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Regelung der Positionierung einer Vielzahl von verstellbaren Spiegel-Elementen einer Vielspiegel-Anordnung |
DE102014226309A1 (de) * | 2014-12-17 | 2016-06-23 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Komponente; optisches System und Lithographieanlage |
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DE102015209176A1 (de) * | 2015-05-20 | 2016-11-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithographie |
DE102015212658A1 (de) | 2015-07-07 | 2017-01-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Lithographieanlage und verfahren zum betreiben einer lithographieanlage |
DE102015216438A1 (de) | 2015-08-27 | 2017-03-02 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Sensoranordnung für eine Lithographieanlage, Lithographieanlage und Verfahren zum Betreiben einer Lithographieanlage |
DE102015220018A1 (de) | 2015-10-15 | 2016-10-06 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines mikroelektromechanischen Bauelements mit mindestens einem beweglichen Bestandteil |
DE102015224742B4 (de) | 2015-12-09 | 2020-06-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anlage und Verfahren zum Betreiben einer Anlage |
DE102015225535A1 (de) | 2015-12-17 | 2016-10-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Herstellung einer Vielspiegel-Anordnung mit einer Vielzahl von verlagerbaren Einzelspiegeln |
EP3192770B1 (de) * | 2016-01-12 | 2019-07-17 | TRUMPF Schweiz AG | Vorrichtung zur zweidimensionalen ablenkung eines laserstrahls |
CN107015341B (zh) * | 2016-01-27 | 2020-08-21 | 佳能株式会社 | 光学设备、投影光学***、曝光装置及物品制造方法 |
DE102016213026A1 (de) | 2016-07-18 | 2018-01-18 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Sensor-Einrichtung |
DE102016216188A1 (de) | 2016-08-29 | 2018-03-01 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Steuereinrichtung |
DE102016219357A1 (de) * | 2016-10-06 | 2018-04-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projektionsbelichtungsanlage für die Halbleiterlithographie mit reduzierter thermischer Deformation |
WO2018141382A1 (de) | 2017-02-01 | 2018-08-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Anlage und verfahren zum betreiben einer anlage |
US10845706B2 (en) | 2017-04-12 | 2020-11-24 | Asml Netherlands B.V. | Mirror array |
DE102017216893A1 (de) * | 2017-09-25 | 2019-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Abbildende Optik zur Abbildung eines Objektfeldes in ein Bildfeld |
DE102018201169A1 (de) | 2018-01-25 | 2018-03-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Beleuchtung eines Retikels in einer Projektionsbelichtungsanlage |
DE102018211077A1 (de) | 2018-07-05 | 2018-10-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Lithographieanlage und verfahren zum betreiben einer lithographieanlage |
DE102019204165A1 (de) | 2019-03-26 | 2020-10-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optische anordnung und lithographieanlage |
EP4018264A1 (en) * | 2019-08-19 | 2022-06-29 | ASML Netherlands B.V. | Micromirror arrays |
US11543753B2 (en) | 2019-10-30 | 2023-01-03 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Tunable illuminator for lithography systems |
DE102020116091A1 (de) * | 2019-10-30 | 2021-05-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Abstimmbare beleuchtungsvorrichtung fürlithographiesysteme |
US11477350B2 (en) * | 2021-01-15 | 2022-10-18 | Raytheon Company | Active imaging using a micro-electro-mechanical system (MEMS) micro-mirror array (MMA) |
US11550146B2 (en) | 2021-01-19 | 2023-01-10 | Raytheon Company | Small angle optical beam steering using micro-electro-mechanical system (MEMS) micro-mirror arrays (MMAS) |
DE102022200264A1 (de) | 2022-01-12 | 2022-12-15 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur Verkippung eines Spiegels, optisches Bauelement, optische Baugruppe, Verfahren zur Verkippung eines Spiegels, Verfahren zur Herstellung einer Vorrichtung zur Verkippung eines Spiegels und EUV-Projektionsbelichtungsanlage |
DE102022213753A1 (de) | 2022-05-04 | 2023-11-09 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zum Schutz einer Oberfläche vor Schädigung durch auftreffende Ionen |
DE102023204477A1 (de) | 2022-05-12 | 2023-11-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikroelektromechanisches System (MEMS) |
WO2024037916A1 (en) | 2022-08-16 | 2024-02-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Micro-optical element |
DE102022209413A1 (de) | 2022-09-09 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikroelektromechanische Vorrichtung mit Heizelement |
DE102022209447A1 (de) | 2022-09-09 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zum Vereinzeln eines Wafers und geeignete Vorrichtung |
DE102022209402A1 (de) | 2022-09-09 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikroelektromechanische Vorrichtung |
DE102022209451A1 (de) | 2022-09-09 | 2024-03-14 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Mikroelektromechanische Vorrichtung |
DE102022209935A1 (de) | 2022-09-21 | 2024-03-21 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Vorrichtung zur stressreduzierten Lagerung von MEMS-basierten Mikrospiegeln |
DE102022210285A1 (de) | 2022-09-28 | 2024-03-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Tragevorrichtung für ein oder mehrere MEMS-Bauelemente |
DE102022212904A1 (de) | 2022-11-30 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Einzelspiegel eines Facettenspiegels einer Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001154371A (ja) * | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Nikon Corp | 回路デバイスや表示デバイスの製造方法、及び大型ディスプレー装置 |
JP2002198305A (ja) * | 2000-10-11 | 2002-07-12 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading As Carl Zeiss | 低い熱伝導性の熱負荷を受ける本体に対する温度補償装置 |
JP2004363598A (ja) * | 2003-05-30 | 2004-12-24 | Asml Holding Nv | マスクレスリソグラフィシステム及びマスクレスリソグラフィにおけるドーズ制御方法 |
JP2005276932A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Nikon Corp | 露光装置及びデバイス製造方法 |
JP2006140504A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Asml Holding Nv | リソグラフィのための能動ファセットミラーシステム |
JP2007234717A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Nikon Corp | 露光装置 |
JP2007258695A (ja) * | 2006-03-03 | 2007-10-04 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置、リソグラフィ装置のコンポーネントを制御する方法およびデバイス製造方法 |
JP2008003608A (ja) * | 2006-06-23 | 2008-01-10 | Asml Holding Nv | 共振走査ミラー |
JP2010519725A (ja) * | 2007-02-19 | 2010-06-03 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | ファセットミラー及び投影露光装置の製造方法 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10053587A1 (de) | 2000-10-27 | 2002-05-02 | Zeiss Carl | Beleuchtungssystem mit variabler Einstellung der Ausleuchtung |
DE10138313A1 (de) | 2001-01-23 | 2002-07-25 | Zeiss Carl | Kollektor für Beleuchtugnssysteme mit einer Wellenlänge < 193 nm |
US6717715B2 (en) * | 2000-07-27 | 2004-04-06 | Holl Technologies Company | Flexureless magnetic micromirror assembly |
US6922499B2 (en) * | 2001-07-24 | 2005-07-26 | Lucent Technologies Inc. | MEMS driver circuit arrangement |
US6809851B1 (en) * | 2001-10-24 | 2004-10-26 | Decicon, Inc. | MEMS driver |
KR20030050798A (ko) * | 2001-12-19 | 2003-06-25 | 주식회사 엘지이아이 | 자기구동 마이크로미러 및 그 제조방법과, 그를 이용한광스위치 |
DE10200244A1 (de) | 2002-01-05 | 2003-07-17 | Zeiss Carl Smt Ag | Vorrichtung zur Aufnahme eines optischen Elements |
US6894823B2 (en) * | 2002-04-26 | 2005-05-17 | Corning Intellisense Llc | Magnetically actuated microelectromechanical devices and method of manufacture |
DE10302664A1 (de) | 2003-01-24 | 2004-07-29 | Carl Zeiss Smt Ag | Verfahren zur Herstellung eines Facettenspiegels |
DE10324796A1 (de) | 2003-05-31 | 2004-12-16 | Carl Zeiss Smt Ag | Facettenspiegel mit Spiegelfacetten |
US7145269B2 (en) | 2004-03-10 | 2006-12-05 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, Lorentz actuator, and device manufacturing method |
US7812930B2 (en) * | 2005-03-21 | 2010-10-12 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method using repeated patterns in an LCD to reduce datapath volume |
US7591561B2 (en) * | 2005-10-13 | 2009-09-22 | Nikon Corporation | Liquid cooled mirror for use in extreme ultraviolet lithography |
DE102006023652B4 (de) | 2006-05-18 | 2008-10-30 | Esa Patentverwertungsagentur Sachsen-Anhalt Gmbh | Elektromotorische Einrichtung zur Betätigung von Gaswechselventilen |
EP2009501B1 (de) * | 2007-06-26 | 2013-02-27 | Carl Zeiss SMT GmbH | Verfahren und Vorrichtung für die Steuerung einer Vielzahl von Aktuatoren einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikrolithographie |
DE102008049556B4 (de) * | 2008-09-30 | 2011-07-07 | Carl Zeiss SMT GmbH, 73447 | Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage |
-
2009
- 2009-10-19 JP JP2011531406A patent/JP5355699B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-10-19 KR KR1020117008979A patent/KR101769157B1/ko active IP Right Grant
- 2009-10-19 WO PCT/EP2009/007476 patent/WO2010049076A2/de active Application Filing
- 2009-10-19 CN CN200980151391.4A patent/CN102257421B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-03-30 US US13/075,929 patent/US20120044474A1/en not_active Abandoned
-
2014
- 2014-04-02 US US14/243,515 patent/US9116440B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001154371A (ja) * | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Nikon Corp | 回路デバイスや表示デバイスの製造方法、及び大型ディスプレー装置 |
JP2002198305A (ja) * | 2000-10-11 | 2002-07-12 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading As Carl Zeiss | 低い熱伝導性の熱負荷を受ける本体に対する温度補償装置 |
JP2004363598A (ja) * | 2003-05-30 | 2004-12-24 | Asml Holding Nv | マスクレスリソグラフィシステム及びマスクレスリソグラフィにおけるドーズ制御方法 |
JP2005276932A (ja) * | 2004-03-23 | 2005-10-06 | Nikon Corp | 露光装置及びデバイス製造方法 |
JP2006140504A (ja) * | 2004-11-12 | 2006-06-01 | Asml Holding Nv | リソグラフィのための能動ファセットミラーシステム |
JP2007234717A (ja) * | 2006-02-28 | 2007-09-13 | Nikon Corp | 露光装置 |
JP2007258695A (ja) * | 2006-03-03 | 2007-10-04 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置、リソグラフィ装置のコンポーネントを制御する方法およびデバイス製造方法 |
JP2008003608A (ja) * | 2006-06-23 | 2008-01-10 | Asml Holding Nv | 共振走査ミラー |
JP2010519725A (ja) * | 2007-02-19 | 2010-06-03 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | ファセットミラー及び投影露光装置の製造方法 |
Cited By (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013533632A (ja) * | 2010-07-28 | 2013-08-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ファセットミラーデバイス |
JP2014512677A (ja) * | 2011-03-25 | 2014-05-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ミラーアレイ |
JP2012244184A (ja) * | 2011-05-19 | 2012-12-10 | Carl Zeiss Smt Gmbh | 投影露光装置の照明光学ユニットの瞳ファセットミラーの瞳ファセットを照明光学ユニットの視野ファセットミラーの視野ファセットに割り当てる方法 |
US9465208B2 (en) | 2011-06-21 | 2016-10-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facet mirror device |
JP2014525137A (ja) * | 2011-06-21 | 2014-09-25 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ファセットミラーデバイス |
JP2015511770A (ja) * | 2012-03-14 | 2015-04-20 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影露光装置のための照明光学ユニット |
JP2016500838A (ja) * | 2012-10-15 | 2016-01-14 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 作動機構、光学装置、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法 |
JP2016502124A (ja) * | 2012-10-15 | 2016-01-21 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 作動機構、光学装置、リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
US9785051B2 (en) | 2012-10-15 | 2017-10-10 | Asml Netherlands B.V. | Actuation mechanism, optical apparatus, lithography apparatus and method of manufacturing devices |
JP2016500158A (ja) * | 2012-11-13 | 2016-01-07 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影露光装置の照明光学ユニットの瞳ファセットミラーの瞳ファセットを照明光学ユニットの視野ファセットミラーの視野ファセットに割り当てる方法 |
US10303065B2 (en) | 2012-11-29 | 2019-05-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Arrangement for actuating at least one optical element in an optical system |
US9665011B2 (en) | 2012-11-29 | 2017-05-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Arrangement for actuating at least one optical element in an optical system |
JP2016503519A (ja) * | 2012-11-29 | 2016-02-04 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学系の少なくとも1つの光学素子を作動させる機構 |
JP2016513285A (ja) * | 2013-02-25 | 2016-05-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学モジュール |
US10146136B2 (en) | 2013-02-28 | 2018-12-04 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Reflecting coating with optimized thickness |
JP2016513291A (ja) * | 2013-02-28 | 2016-05-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 厚さを最適化した反射コーティング |
JP2016524184A (ja) * | 2013-05-22 | 2016-08-12 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 光学素子及び当該光学素子に対する放射の影響を低減する手段を備えた光学コンポーネント |
JP2017534902A (ja) * | 2014-09-23 | 2017-11-24 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット及びそのための中空導波管構成要素 |
JP2017534075A (ja) * | 2014-10-08 | 2017-11-16 | オプトチューン アクチェンゲゼルシャフト | 光学素子、特にミラーを傾斜させるための機器 |
US10684464B2 (en) | 2014-10-08 | 2020-06-16 | Optotune Ag | Device for tilting an optical element, particularly a mirror |
JP2018523849A (ja) * | 2015-08-21 | 2018-08-23 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | リソグラフィ方法及び装置 |
US10401734B2 (en) | 2015-08-21 | 2019-09-03 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic method and apparatus |
JP2016197245A (ja) * | 2016-06-23 | 2016-11-24 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ファセットミラーデバイス |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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KR20110070881A (ko) | 2011-06-24 |
US20140211187A1 (en) | 2014-07-31 |
CN102257421A (zh) | 2011-11-23 |
KR101769157B1 (ko) | 2017-08-17 |
US9116440B2 (en) | 2015-08-25 |
WO2010049076A2 (de) | 2010-05-06 |
CN102257421B (zh) | 2014-07-02 |
US20120044474A1 (en) | 2012-02-23 |
JP5355699B2 (ja) | 2013-11-27 |
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