JP2012212155A - 共焦点蛍光顕微鏡法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】対応する蛍光又は蛍光染色又は標識された標的にアライメントされた異なる励起波長で動作する1以上の、さらに好ましくは2以上の光源(好ましくはレーザー)を備える。各標的からの蛍光発光は、バンドパス光学フィルタを用いて濾波され、放射データは、1以上の撮像デバイス、好ましくは2以上の撮像デバイスで集められる。
【選択図】図2
Description
(1)バックグラウンドの結果、信号における統計的雑音が増大する。かかるバックグラウンド蛍光は、像における雑音の通例90%超をなし、バックグラウンド雑音の寄与度を推計して補正しなければならないので、特徴の識別能力が低減する。さらに、こうした推計は幾つかの仮定を伴うため、解析及び解釈が複雑になり、システムの感度が低下する。
(2)バックグラウンドの推計及び除去には、計算に費用と時間がかかる。典型的には、かかるシステムでは解析時間の約50%がバックグラウンドの推計に費やされる。バックグラウンドが不規則で高いコントラスト構造を有する場合(例えば、高蛍光性粒子が培地中を漂っているアッセイ)、バックグラウンドの正確なモデルを構築できないので、像のかなりの部分は解析が困難であると思われる。
レーザー光源
光源は、上述の通り、励起波長の光を標的に届けることができる光源であればどのようなものでもよいが、好ましくは1以上の励起レーザーがシステム内に組み込まれる。好ましい実施形態では、近IR乃至近UVの光学スペクトルをカバーする4個以上のレーザーが存在する。これらの個々のレーザーに由来する光は、適当な直径、方向及び平行度の自由空間ビームとして光を発振するか、或いは光ファイバ光送出システムを介して光学列の残り部分に結合することができる。他の好ましい実施形態では、光は、所定のビーム径(その達成には常法を用いることができる)を使用するか、又は光ファイバ(理想的には単一モード偏光保存ファイバを用いる)を介して、平行度の高い平行ビームとして送られる。好ましい実施形態では、各励起レーザーは、M2<1.2、RMS雑音1Hz〜10MHz<0.5%及び所定の偏光状態で、TEM00モードで動作する。実用的な数のレーザーを使用できる。
励起レーザー光は、レーザー選択モジュール(2)に送られる。このモジュールでは、レーザーのうちの1つからの光を選択し、それをビーム整形モジュール(3)内に向ける。他のレーザーからの光はブロックされる。レーザー選択モジュールの可能な実施形態としては、特に限定されないが、以下のものが挙げられる。
(1)分散プリズムと各レーザーの光学シャッター。所望のレーザーは、1つを除くすべてのシャッターを閉じることによって選択される。
(2)反射格子と各レーザーの光学シャッター。所望のレーザーは、1つを除くすべてのシャッターを閉じることによって選択される。
(3)ダイクロイックミラーのスタックと各レーザーの光学シャッター。所望のレーザーは、レーザーに対し1つを除くすべてのシャッターを閉じることによって選択される。
(4)光ファイバスイッチ。
(5)回転ミラーベースのビーム偏光器。回転ミラーは、選択されたレーザーからの光をビーム整形モジュールに向けるために使用することができる。この場合、すべてのレーザービームは、(i)ミラーの回転軸に垂直な同じ光学平面内にあるようにアライメントされ、(ii)ミラーに集束しミラーの回転軸上に位置する点に当たる。所望のレーザーは、ガルバノメーターのような機械式アクチュエータを用いて鏡の回転角を調節することによってビーム整形モジュールに向けられる。これは、単純で安価であるため好ましい実施形態であり、出力レーザービームの方向のドリフトを動的に補正する機能を備える。
励起レーザー光は、好ましくは、ビーム整形装置(3)によって適切に整形される。ビーム整形装置の可能な実施形態としては、特に限定されないが、レーザービームエキスパンダが挙げられる。好ましい実施形態では、ビームエキスパンダが使用され、その光学素子は、レーザーを切り替えたときにビームエキスパンダの焦点の調節を最小限で済むように色収差が補正される。レーザービームの直径は、対物レンズ(7)の後瞳の直径に等しくなるように優先的に拡大される。他の実施形態では、使用されるビームエキスパンダのタイプは、特定の用途に依存し、ビーム整形器なしのレーザービームエキスパンダ及び色収差なしの鏡ベースのビームエキスパンダが後に続くアナモルフィックプリズムを備えていてもよい。
線共焦点モードでの動作の場合、励起レーザー光は、平行レーザー光ビームを一方向のみに発散する集束ビームに変換する線形成素子(4)を通過する。出力ビームの完全発散角Δθは、次式で与えられる。
式中、fは、対物レンズ(7)の焦点距離であり、Dは、図1の平面に垂直な方向の標的(8)上の撮像領域の線寸法である。
走査モジュールは、顕微鏡の視野を横切る形で対物レンズの焦点面において励起光の走査を行う。
幅:対物レンズの後部アパーチャの直径の約1/10倍。
長さ:対物レンズの後部アパーチャの直径の約1.6倍。
光学的に平坦。
300nm〜800nmでの反射率が高い。
(1)すべての励起波長に対し単一の鏡を使用することが可能になる。これによって、マルチバンドダイクロイックミラーに関して、システムを様々なレーザーに適合させる適応性が大幅に高まる。
(2)最も広い点で対物レンズの後部アパーチャを使用する。これにより、達成可能な最も低い回折レベルが得られ、さらにこれにより、試料のレーザー照射の線の幅は達成可能な最も狭い幅となる。
アクチュエータ(6)の実施形態としては、特に限定されないが、角度位置を検出するための積分センサを備えるガルバノメーターが挙げられる。ガルバノメーターは、適当にチューニングされたサーボシステムで駆動される。ベアリングシステムは、磨耗を効果的に排除するためのフレクシャー及びベアリングの摩擦の問題に基づいている。これは、好ましい実施形態である。
励起レーザー光は、好ましくは、対物レンズ(7)を通過する。この実施形態では、対物レンズは、
・所望の視野での幾何収差及び色収差について補正度が高い。
・適当な視野の平坦さを有する。
・近UV乃至近IRまでの光を透過する。
・最良の実用的な光学分解能を得て、実用的な量の蛍光発光を集めるために実用上最高の開口数をもつ。
・試料支持材(8)の光学的厚さの試料毎の変動により持ち込まれる球面収差の補正に対する措置を含む。
・対物レンズが支持材と接触する危険を冒すことなく厚さ最大1.5mmまでの試料支持材(8)を通して試料を撮像できるように1.2mm以上の作動距離を有する。
蛍光は、蛍光を効率的に透過し、励起レーザーの波長をブロックする適当な光学フィルタ(11)を通過する。フィルタは、フィルタからの反射がカメラ(16)の視野の外にあるように図1の平面に垂直な軸を中心に適宜傾斜される。
・高速リニアスライダー。これは、フィルタ(11)が3〜6個のフィルタのうちの1つである場合に好ましい実施形態である。
・2状態高速(<25msec)アクチュエータ。これは、フィルタ(11)が2個のフィルタのうちの1つである場合に好ましい実施形態である。
・アクチュエータなし。このオプションは、単一フィルタ(11)がある場合、又はすべての光学濾波がエミッションフィルタ(14)で実現される場合に適用される。
・単一帯域Rugateフィルタのセット。
・多波長Rugateノッチフィルタ。システムに搭載されているすべての励起レーザーの波長に対応する複数の狭く反射率の高い帯域。
・異なる種類のフィルタの組合せ。かかる組合せは当業者に公知である。
・フィルタなし。このオプションは、すべての光学濾波がフィルタ(14)で実現される場合に適用可能である。
蛍光は、結像レンズ(13)を通過する。
・レンズの幾何学歪みは、カメラ(16)で撮像される領域にわたって非常に低い(<.2%)。
・レンズは、他のすべての幾何収差及び色収差について補正される。
・高品質中望遠写真レンズが好適である可能性が高い。
蛍光は、オプションのアクチュエータ(15)によって制御される好適な光学フィルタ(14)を通過する。このフィルタは、蛍光を透過し、他の波長の光を減衰する。
・リニア可変フィルタ、例えば、Schott Verilフィルタ。一定の光学パスバンドの直線は、線形の照射領域に平行に配向される。これは、好ましい実施形態である。このフィルタは、移動する励起ビームと同期して移動し、画像収集時に一定の光学帯域幅を与えることができる。
・標準色素特有蛍光フィルタ。
・フィルタなし。このオプションは、すべての光学濾波がレーザー線阻止フィルタ(11)で実現される場合に適用可能である。
上述の通り、好ましい検出器は、蛍光を検出し、結像することができるCMOS及びCCD検出器を備える。本発明の好ましい実施形態では、検出器は、画素の独立したリセット及び読出しが可能である(ランダムアクセス機能)。
一般的な動作では、1以上の蛍光マーカーを含む1以上の標的が、以下のように撮像装置で撮像される。
(1)とにかく部分的に蛍光マーカーの吸収帯と重なる発光スペクトルをもつ1以上の光源からの電磁放射は、標的に向けられ、ビーム整形光学系は、点、直線、円及び長方形の形状をもつ被写体上の照射域の形状を制御するために使用される。標的は、照射光学系を通して照射され、撮像領域全体又は一部をカバーする照射域を形成する。
(2)次いで、蛍光発光は、照射系と同じ又は異なっている可能性のある光収集系を用いて照射域内に位置する蛍光マーカーから集められ、蛍光発光は、ロングパス、バンドパス、又はライナー可変光学フィルタを用いて濾波される。
(3)画素の独立のリセット及び読出し(ランダムアクセス機能)を行える二次元画素ベース受光器(検出器)のうちの1以上が、撮像領域と光学的に共役な位置に配置され、光学検出器内の検出領域の形状及び大きさは、光学的に共役な照射域の像に等しいか、それよりも小さくなるように調節される。受光器の検出領域に送られる蛍光発光は、検出領域内に配置された画素から信号を読出すことによって検出される。(i)迷光及び平面外蛍光のような照射領域の外側で受けた光信号を除去し、(ii)対処しないと全画像収集時間において累積するであろう熱雑音のような固有検出雑音を低減するために検出器の検出領域外に位置する光学検出器の画素がリセットされる。
(4)照射域は、ビーム走査系を用いて被写体の撮像領域内で走査され、受光器の検出領域は、光学検出器の画素へのランダムアクセスを用いて照射域との光学的共役を維持するように移動される。
(5)被写体の撮像領域の像は、撮像領域の全域に照射域を走査している間に得られる受光器の検出領域からの信号(部分像)から形成され、前述の段階は、複数の光源での逐次的画像収集のため繰り返される。
逐次モードでは、蛍光像は、「一度に1つのフルオロフォア」アプローチを用いて次々に収集される。
同時多波長撮像モードでは、撮像システムは、複数の蛍光像を同時に取り込むように構成される。
(1)照射光学経路の場合−照射領域(点又は直線)は、対物レンズの色収差補正のスペクトル範囲内にある励起線に関して焦点が合い、補正されたスペクトル範囲(典型的にはUV範囲)の外にある励起波長に対する照射領域は焦点がずれている。
(2)放射光学経路の場合−補正範囲内で光を放射する蛍光標的の像は、焦点が合っているが、補正から遠いスペクトル範囲内にある放射をもつ蛍光標的の像は、焦点がずれている。
・赤色グループ(670nm及び638nm、32nm範囲)。
・青色−緑色グループ(532nm及び488nm、44nm範囲)。
・UVグループ(405及び375nm、30nm範囲)。
・偏光ビームコンバイナ、
・ダイクロイックビームコンバイナ、
・光ファイバビームコンバイナ。
(1)レーザー選択ミラー又は他の好適な技術に基づく光学スイッチは、選択されたサブグループからの集合ビームを光学系内に結合する。
(2)集合ビームは、ビーム形成光学系(ビームエキスパンダ及びパウエルレンズ)を通り、走査ミラーから反射され、顕微鏡対物レンズを通り、標本上に集束される。
(3)励起光は、走査ミラーを移動することによって標本の全域に走査される。
(4)励起された蛍光発光は、顕微鏡対物レンズで集められる。
(5)蛍光標的の像は、チューブレンズで形成される。
(6)蛍光発光は、ダイクロイックミラーによる2つのチャネルによって分割される。
(7)各チャネルにおける蛍光発光は、エミッションフィルタを通る。レーザー線阻止フィルタをそこに追加して、信号対雑音比を改善できる。
(8)各チャネルにおける蛍光像は、CMOSカメラのような光学検出器によって取り込まれる。
(9)検出器は両方とも、走査ミラーで同期される。
(10)各検出器は、本特許出願の他の部分で説明されている方法(「ローリングシャッタ」モード)で像を集める。
(11)同じ手順を各サブグループについて繰り返す。
(12)システムの以下の調節は、各サブグループの撮像の前に実行されなければならない。
(a)ビーム形成光学系は、サブグループ中心波長について調節しなければならない。
(b)顕微鏡対物レンズ焦点位置は、サブグループ中心波長について調節しなければならない。
(c)適当なダイクロイックミラーは、光学経路内に挿入されなければならない。
(d)適当なエミッションフィルタは、各撮像チャネル内に取り付けられなければならない。
Claims (43)
- 1以上の励起放射用光源及び蛍光標的からの蛍光発光を検出する1以上の検出器を備える蛍光標的の共焦点蛍光顕微鏡走査用の装置であって、上記1以上の検出器手段が蛍光発光のランダムアクセス読出しが可能であることを改良点とする装置。
- 前記1以上の光源が、レーザー、レーザーダイオード、発光ダイオード、ランプ及びこれらの組合せからなる群から選択される、請求項1記載の装置。
- 前記光源が2以上のレーザーを含む、請求項2記載の装置。
- 前記複数のレーザの発光波長が異なる、請求項3記載の装置。
- 前記1以上の検出器手段が、二次元画素の独立したリセット及び読出しが可能な1以上の二次元画素ベース受光器を備える、請求項1記載の装置。
- 前記1以上の検出器がCMOS検出器を備える、請求項5記載の装置。
- 前記1以上の光源が、撮像すべき領域の実質的に全体を照射する手段を備える、請求項1記載の装置。
- 前記1以上の光源が、標的上の一点を照射する手段を備え、撮像すべき領域の全域に点照射を走査する手段をさらに備える、請求項1記載の装置。
- 前記1以上の光源が、標的の直線部分を照射する線形成手段を含む、請求項1記載の装置。
- 前記線形成手段が、パウエルレンズ、シリンドリカルレンズ、回折格子、ホログラフィック素子及びこれらの組合せからなる群から選択される、請求項9記載の装置。
- 前記線形成手段が、1以上のビーム偏向素子によって標的の全域を移動する光の線を標的上に生じる、請求項9記載の装置。
- 前記放射が2以上の光源から発せられ、1以上の光源からの放射が、光シャッターを備える分散プリズム、光シャッターを備える反射格子、光シャッターを備えるダイクロイックミラー、光ファイバスイッチ及び回転ミラーからなる群から選択される光学選択素子による標的の照射と結合している、請求項2記載の装置。
- 前記ビーム偏向素子が、1以上のガルバノメーターを備える、請求項11記載の装置。
- 前記検出器が、ローリングシャッタ手段を備えたCMOS検出器である、請求項11記載の装置。
- 前記ローリングシャッタが、標的上の直線の像の幅以下の幅を有する、請求項14記載の装置。
- 前記ローリングシャッタが、標的上の直線と光学的に共役している、請求項15記載の装置。
- 前記蛍光発光の読出しが、照射領域の走査と同期される、請求項14記載の装置。
- 前記蛍光標的が1以上の蛍光マーカーを含む、請求項1記載の装置。
- 前記標的が、顕微鏡スライド又はマイクロタイタープレート上にある、請求項1記載の装置。
- さらに、励起光を照射系に結合するとともに標的上で照射領域を走査するため、対物レンズの後部の中心に配置された鏡を備える、請求項8記載の装置。
- さらに、蛍光標的の発光波長の光を効率的に透過し、蛍光標的の励起波長の光を反射又は減衰する1以上の光学フィルタを検出器手段の前に備える、請求項11記載の装置。
- 前記1以上のフィルタがリニア可変フィルタである、請求項21記載の装置。
- 蛍光標的の励起波長に相当する波長の光で標的を走査し、光が標的を横断する際の蛍光発光データを収集することによって蛍光標的の画像を得る方法であって、請求項1記載の共焦点撮像装置で画像を得ることを改良点とする方法。
- 前記光源が1以上のレーザーを含む、請求項23記載の方法。
- 前記1以上の検出器手段が、画素の独立したリセット及び読出しが可能な1以上の二次元画素ベース受光器を備える、請求項23記載の方法。
- 前記1以上の検出器がCMOS検出器を備える、請求項25記載の方法。
- 前記CMOS検出器がさらにローリングシャッタ手段を備える、請求項26記載の方法。
- 前記ローリングシャッタが、標的上の直線の像の幅以下の幅を有する、請求項27記載の方法。
- 前記ローリングシャッタが、標的上の直線と光学的に共役している、請求項27記載の方法。
- 前記1以上の光源が、撮像すべき領域の実質的に全体を照射する手段を備える、請求項23記載の方法。
- 前記1以上の光源が、標的上の一点を照射する手段を備え、撮像すべき領域の全域に点照射を走査する手段をさらに備える、請求項23記載の方法。
- 前記1以上の光源が、線形成手段を含む、請求項23記載の方法。
- 前記線形成手段が、パウエルレンズ、シリンドリカルレンズ、回折格子、ホログラフィック素子及びこれらの組合せからなる群から選択される、請求項31記載の方法。
- さらに、蛍光標的の発光波長の光を効率的に透過し、蛍光標的の励起波長の光を反射又は減衰する1以上の光学フィルタを検出器手段の前に備える、請求項23記載の方法。
- 前記1以上のフィルタがリニア可変フィルタである、請求項34記載の方法。
- 前記1以上のフィルタが、標的を横断する励起光の動きを追って移動する、請求項35記載の方法。
- 前記標的が、顕微鏡スライド又はマイクロタイタープレート上にある、請求項23記載の方法。
- 1以上の蛍光マーカーで標識された1以上の標的を含む被写体の撮像方法であって、
(a)蛍光マーカーの吸収帯と少なくとも部分的に重なる発光スペクトルを有する1以上の光源から電磁放射を放射する段階と、
(b)被写体の撮像領域全体又は一部をカバーする照射域を形成する照射光学系を通して被写体を照射する段階と、
(c)照射系と同一又は異なる光収集系を用いて、照射域内に位置する蛍光マーカーからの蛍光発光を収集する段階と、
(d)撮像領域と光学的に共役な位置での画素の独立したリセット及び読出しが可能な1以上の二次元画素ベース検出器を配置する段階と、
(e)光学検出器内の検出領域の形状及び大きさを、光学的に共役な照射域の像と同一又はそれ以下に調節する段階と、
(f)検出領域内に位置する画素からの信号を読取ることによって検出器の検出領域に届いた蛍光発光を検出する段階と、
(g)検出器の検出領域外に位置し、照射域と光学的に共役していない検出器の画素をリセットする段階と、
(h)ビーム走査系を用いて被写体の撮像領域内の照射域を走査する段階と、
(i)検出器の検出領域を移動し、光学検出器の画素へのランダムアクセスを用いて照射域との光学的共役を維持する段階と、
(j)撮像領域上での照射域の走査時に得られる受光器の検出領域からの信号(部分像)から被写体の撮像領域の像を形成する段階と、
(k)複数の光源での逐次的画像収集のため複数の光源について段階(a)から当該方法を繰り返す段階と
を含んでなる方法。 - さらに、点、直線、円又は矩形の形状を有し得る被写体上の照射域の形状を制御するためビーム整形光学系を用いることを含む、請求項38記載の方法。
- さらに、1以上の蛍光マーカーを含み、
ロングパス、バンドパス又はリニア可変光学フィルタを用いて蛍光発光を濾波することを含む、請求項38記載の被写体の撮像方法。 - 前記1以上の光源が、レーザー、レーザーダイオード、発光ダイオード、ランプ及びこれらの組合せからなる群から選択される、請求項38記載の方法。
- 1以上の検出器手段が、CMOS検出器及びCCD検出器からなる群から選択される、請求項38記載の方法。
- 前記標的が顕微鏡スライド又はマイクロタイタープレート上にある、請求項37記載の方法。
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014174919A1 (ja) * | 2013-04-26 | 2014-10-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
WO2014174920A1 (ja) * | 2013-04-26 | 2014-10-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
JP2014240888A (ja) * | 2013-06-11 | 2014-12-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
JP2014240887A (ja) * | 2013-06-11 | 2014-12-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
JP2016091006A (ja) * | 2014-11-04 | 2016-05-23 | オリンパス株式会社 | シート照明顕微鏡、及び、シート照明方法 |
US10330910B2 (en) | 2013-04-26 | 2019-06-25 | Hamamatsu Photonics K.K. | Image acquisition device and method and system for acquiring focusing information for specimen |
US10348954B2 (en) | 2013-04-26 | 2019-07-09 | Hamamatsu Photonics K.K. | Image acquisition device and method and system for creating focus map for specimen |
KR20220037673A (ko) * | 2020-09-18 | 2022-03-25 | (주)얼라인드제네틱스 | 시료의 형광을 검출하기 위한 시료 검사 장치 |
Families Citing this family (110)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006085894A1 (en) * | 2005-01-31 | 2006-08-17 | Chemimage Corporation | Apparatus and method for chemical imaging of a biological sample |
US9330324B2 (en) | 2005-10-11 | 2016-05-03 | Apple Inc. | Error compensation in three-dimensional mapping |
CN101288105B (zh) * | 2005-10-11 | 2016-05-25 | 苹果公司 | 用于物体重现的方法和*** |
US20110096182A1 (en) * | 2009-10-25 | 2011-04-28 | Prime Sense Ltd | Error Compensation in Three-Dimensional Mapping |
WO2007105205A2 (en) * | 2006-03-14 | 2007-09-20 | Prime Sense Ltd. | Three-dimensional sensing using speckle patterns |
US8050461B2 (en) * | 2005-10-11 | 2011-11-01 | Primesense Ltd. | Depth-varying light fields for three dimensional sensing |
US7567346B2 (en) * | 2006-03-01 | 2009-07-28 | General Electric Company | System and method for multimode imaging |
CN101501442B (zh) * | 2006-03-14 | 2014-03-19 | 普莱姆传感有限公司 | 三维传感的深度变化光场 |
DE102006034909A1 (de) * | 2006-07-28 | 2008-01-31 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Verfahren zur Laser-Scanning-Mikroskopie und Strahlvereiniger |
WO2008087652A2 (en) * | 2007-01-21 | 2008-07-24 | Prime Sense Ltd. | Depth mapping using multi-beam illumination |
JP2010517056A (ja) * | 2007-01-30 | 2010-05-20 | ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション | 時間分解蛍光イメージングシステム |
DE102007015063B4 (de) * | 2007-03-29 | 2019-10-17 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes |
US8150142B2 (en) * | 2007-04-02 | 2012-04-03 | Prime Sense Ltd. | Depth mapping using projected patterns |
WO2008120217A2 (en) | 2007-04-02 | 2008-10-09 | Prime Sense Ltd. | Depth mapping using projected patterns |
US8436999B2 (en) | 2007-09-28 | 2013-05-07 | Illumina, Inc. | Fluorescence excitation and detection system and method |
EP2065752A1 (en) * | 2007-11-23 | 2009-06-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Optical illumination apparatus for illuminating a sample with a line beam |
WO2009081305A1 (en) * | 2007-12-19 | 2009-07-02 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Detection system and method |
WO2009093228A2 (en) * | 2008-01-21 | 2009-07-30 | Prime Sense Ltd. | Optical designs for zero order reduction |
US8384997B2 (en) | 2008-01-21 | 2013-02-26 | Primesense Ltd | Optical pattern projection |
US8390291B2 (en) * | 2008-05-19 | 2013-03-05 | The Board Of Regents, The University Of Texas System | Apparatus and method for tracking movement of a target |
FR2933209B1 (fr) * | 2008-06-27 | 2010-07-30 | Ecole Polytech | Procede et systeme de microscopie non-lineaire coherente a modulation de volume focal pour sonder la nanostructuration de materiaux organises |
US8456517B2 (en) * | 2008-07-09 | 2013-06-04 | Primesense Ltd. | Integrated processor for 3D mapping |
JP2012505431A (ja) * | 2008-10-09 | 2012-03-01 | ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション | イメージングシステムにおけるビームエクスパンダの調整システム及び方法 |
US8203769B2 (en) * | 2008-10-10 | 2012-06-19 | Xerox Corporation | In-line linear variable filter based spectrophotometer |
US8462207B2 (en) * | 2009-02-12 | 2013-06-11 | Primesense Ltd. | Depth ranging with Moiré patterns |
US8786682B2 (en) * | 2009-03-05 | 2014-07-22 | Primesense Ltd. | Reference image techniques for three-dimensional sensing |
EP2417449A4 (en) * | 2009-04-07 | 2016-07-06 | Nexus Dx Inc | PORTABLE SCANNING DEVICE SYSTEMS AND METHODS FOR READING OUTSIDE LABORATORY ANALYSIS RESULTS |
US8717417B2 (en) * | 2009-04-16 | 2014-05-06 | Primesense Ltd. | Three-dimensional mapping and imaging |
US20100291599A1 (en) * | 2009-05-18 | 2010-11-18 | Bruker Optics, Inc. | Large area scanning apparatus for analyte quantification by surface enhanced raman spectroscopy and method of use |
WO2011013079A1 (en) | 2009-07-30 | 2011-02-03 | Primesense Ltd. | Depth mapping based on pattern matching and stereoscopic information |
CN101661160B (zh) * | 2009-09-25 | 2014-06-18 | 山东汉和能源科技有限公司 | 单镜头一体化激光夜视仪 |
JP5588310B2 (ja) * | 2009-11-15 | 2014-09-10 | プライムセンス リミテッド | ビームモニタ付き光学プロジェクタ |
US8830227B2 (en) * | 2009-12-06 | 2014-09-09 | Primesense Ltd. | Depth-based gain control |
US20110187878A1 (en) | 2010-02-02 | 2011-08-04 | Primesense Ltd. | Synchronization of projected illumination with rolling shutter of image sensor |
US20110188054A1 (en) * | 2010-02-02 | 2011-08-04 | Primesense Ltd | Integrated photonics module for optical projection |
US8982182B2 (en) | 2010-03-01 | 2015-03-17 | Apple Inc. | Non-uniform spatial resource allocation for depth mapping |
DE102010013223B4 (de) | 2010-03-29 | 2016-05-12 | Lavision Biotec Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Mikroskopie |
US20130087718A1 (en) * | 2010-06-28 | 2013-04-11 | Ge Healthcare Bio-Sciences Corp. | Confocal fluorescence lifetime imaging system |
EP2589214B1 (en) * | 2010-06-30 | 2019-08-14 | GE Healthcare Bio-Sciences Corp. | A system for synchronization in a line scanning imaging microscope |
US20120002029A1 (en) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | Fluid Imaging Technologies, Inc. | System and method for sweeping mirror enhanced imaging flow cytometry |
WO2012020380A1 (en) | 2010-08-11 | 2012-02-16 | Primesense Ltd. | Scanning projectors and image capture modules for 3d mapping |
US9036158B2 (en) | 2010-08-11 | 2015-05-19 | Apple Inc. | Pattern projector |
WO2012066501A1 (en) | 2010-11-19 | 2012-05-24 | Primesense Ltd. | Depth mapping using time-coded illumination |
US9131136B2 (en) | 2010-12-06 | 2015-09-08 | Apple Inc. | Lens arrays for pattern projection and imaging |
FR2968402B1 (fr) * | 2010-12-07 | 2013-02-15 | Ecole Polytech | Systeme et procede d'imagerie multitechniques pour l'analyse chimique, biologique ou biochimique d'un echantillon. |
WO2012118424A1 (en) * | 2011-03-01 | 2012-09-07 | Applied Precision, Inc. | Laser beam selectors |
US9030528B2 (en) | 2011-04-04 | 2015-05-12 | Apple Inc. | Multi-zone imaging sensor and lens array |
US8237835B1 (en) * | 2011-05-19 | 2012-08-07 | Aeon Imaging, LLC | Confocal imaging device using spatially modulated illumination with electronic rolling shutter detection |
DE102011079942B4 (de) * | 2011-07-27 | 2016-12-15 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskopbeleuchtungsverfahren und Mikroskop |
DE102011079941A1 (de) * | 2011-07-27 | 2013-01-31 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskopbeleuchtungsverfahren und Mikroskop |
US8908277B2 (en) | 2011-08-09 | 2014-12-09 | Apple Inc | Lens array projector |
US8749796B2 (en) | 2011-08-09 | 2014-06-10 | Primesense Ltd. | Projectors of structured light |
DE102011052686B4 (de) * | 2011-08-12 | 2013-09-05 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Einrichtung und Verfahren zum Verteilen von Beleuchtungslicht und Detektionslicht in einem Mikroskop in Abhängigkeit des jeweiligen Polarisierungszustands und Mikroskop mit einer solchen Einrichtung |
DE102011114500B4 (de) * | 2011-09-29 | 2022-05-05 | Fei Company | Mikroskopvorrichtung |
AU2013219966B2 (en) | 2012-02-15 | 2015-04-02 | Apple Inc. | Scanning depth engine |
US8998468B2 (en) * | 2012-03-16 | 2015-04-07 | Lumencor, Inc. | Solid state light source with hybrid optical and electrical intensity control |
US9201237B2 (en) | 2012-03-22 | 2015-12-01 | Apple Inc. | Diffraction-based sensing of mirror position |
CN103424392A (zh) * | 2012-05-24 | 2013-12-04 | 黄书伟 | 波长分工srs显微镜 |
US9628676B2 (en) * | 2012-06-07 | 2017-04-18 | Complete Genomics, Inc. | Imaging systems with movable scan mirrors |
US9488823B2 (en) | 2012-06-07 | 2016-11-08 | Complete Genomics, Inc. | Techniques for scanned illumination |
CN104781717A (zh) * | 2012-11-16 | 2015-07-15 | 分子装置有限公司 | 对显微镜设备异步排序的同时利用卷帘式快门照相机采集图像的***和方法 |
US9341769B2 (en) * | 2012-12-17 | 2016-05-17 | Kla-Tencor Corporation | Spectral control system |
CN103018173B (zh) * | 2012-12-19 | 2014-12-03 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 结构光照明层析显微成像*** |
JP5639670B2 (ja) * | 2013-02-01 | 2014-12-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び撮像装置 |
JP6205140B2 (ja) * | 2013-03-01 | 2017-09-27 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡装置 |
US9456746B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-10-04 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Systems and methods for broad line fundus imaging |
JP6134249B2 (ja) | 2013-11-01 | 2017-05-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置の画像取得方法 |
DE102013224463B4 (de) * | 2013-11-28 | 2017-01-26 | Berthold Technologies Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zur Ermittlung von Fluoreszenzeigenschaften von Proben |
US9528906B1 (en) | 2013-12-19 | 2016-12-27 | Apple Inc. | Monitoring DOE performance using total internal reflection |
US9386236B2 (en) | 2014-01-26 | 2016-07-05 | Muller Imaging Technologies, Inc | Periodic fringe imaging with structured pattern illumination and electronic rolling shutter detection |
KR101606197B1 (ko) * | 2014-05-16 | 2016-03-25 | 참엔지니어링(주) | 관찰기 및 이를 구비하는 레이저 처리장치 |
CA2957941A1 (en) * | 2014-08-13 | 2016-02-18 | Daniel Summer Gareau | Line-scanning, sample-scanning, multimodal confocal microscope |
US9473768B2 (en) * | 2014-09-03 | 2016-10-18 | Raytheon Company | Optical non-uniformity correction (NUC) for active mode imaging sensors |
CN104198389B (zh) * | 2014-09-22 | 2017-02-01 | 上海理工大学 | 用于超高分辨率荧光成像的铜基悬空样品台制备方法 |
CN104570315B (zh) * | 2014-12-30 | 2017-06-27 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种基于结构照明的彩色三维层析显微成像***及方法 |
DE112015005826B4 (de) | 2015-01-27 | 2023-01-26 | Hitachi High-Tech Corporation | Mehrfarbige-fluoreszenz-analysevorrichtung |
EP4220270A1 (de) | 2015-04-13 | 2023-08-02 | Leica Microsystems CMS GmbH | Verfahren und vorrichtung zum untersuchen einer probe |
LU92740B1 (de) | 2015-06-11 | 2016-12-12 | Leica Microsystems | Abtastmikroskop |
DE102015109645B3 (de) * | 2015-06-17 | 2016-09-08 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur Multiliniendetektion |
DE102015111702A1 (de) * | 2015-07-20 | 2017-01-26 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende, spektral selektive Scanning-Mikroskopie einer Probe |
US10031328B2 (en) | 2015-07-24 | 2018-07-24 | General Electric Company | Systems and methods for image processing in optical microscopes |
US10012831B2 (en) | 2015-08-03 | 2018-07-03 | Apple Inc. | Optical monitoring of scan parameters |
US9983115B2 (en) | 2015-09-21 | 2018-05-29 | Fluid Imaging Technologies, Inc. | System and method for monitoring particles in a fluid using ratiometric cytometry |
DE102015116452A1 (de) | 2015-09-29 | 2017-03-30 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop |
CN105629453A (zh) * | 2016-03-10 | 2016-06-01 | 德诺杰亿(北京)生物科技有限公司 | 荧光显微镜 |
CN105606581B (zh) * | 2016-03-21 | 2019-02-26 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种基于超连续谱光源的多色荧光成像*** |
JPWO2017175391A1 (ja) * | 2016-04-08 | 2019-03-28 | オリンパス株式会社 | 照明装置およびこれを備えた内視鏡 |
CN106066318A (zh) * | 2016-06-14 | 2016-11-02 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种在线测试光学元件激光损伤的方法及装置 |
US10073004B2 (en) | 2016-09-19 | 2018-09-11 | Apple Inc. | DOE defect monitoring utilizing total internal reflection |
DE102016119730A1 (de) | 2016-10-17 | 2018-04-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optikgruppe für Detektionslicht für ein Mikroskop, Verfahren zur Mikroskopie und Mikroskop |
US10353210B2 (en) * | 2016-10-18 | 2019-07-16 | Qualcomm Incorporated | Self-aligning travelling collimating lens for sweeping laser |
US11269122B2 (en) * | 2016-12-09 | 2022-03-08 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optical device having at least one spectrally selective component |
JP6726859B2 (ja) * | 2017-02-20 | 2020-07-22 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 蛍光検出器及びその制御方法 |
FR3068780B1 (fr) * | 2017-07-06 | 2021-05-14 | Centre Nat Etd Spatiales | Spectrophotometre hyperspectral large bande |
CN108519329B (zh) * | 2018-03-26 | 2021-01-15 | 华中科技大学 | 一种多路扫描与探测的线共聚焦成像装置 |
US11237370B2 (en) | 2018-04-30 | 2022-02-01 | University Of Central Florida Research Foundation, Inc. | Multiple inclined beam line-scanning imaging apparatus, methods, and applications |
US11422292B1 (en) | 2018-06-10 | 2022-08-23 | Apple Inc. | Super-blazed diffractive optical elements with sub-wavelength structures |
CN109030438A (zh) * | 2018-07-06 | 2018-12-18 | 广州蓝勃生物科技有限公司 | 一种用于多波长荧光检测的光路模组 |
EP3620841A1 (en) * | 2018-09-07 | 2020-03-11 | ETH Zurich | Automated system for wide-field multiphoton microscope |
CN109633883B (zh) * | 2019-01-23 | 2021-01-01 | 浙江大学 | 一种大视场高分辨的荧光显微镜物镜 |
CN110108232B (zh) * | 2019-05-10 | 2020-12-04 | 南京理工大学 | 一种三模态数字全息显微成像*** |
CN110121021A (zh) * | 2019-06-28 | 2019-08-13 | 四川极智朗润科技有限公司 | 一种适用于卷帘快门相机的光学快门***及其成像方法 |
US11681019B2 (en) | 2019-09-18 | 2023-06-20 | Apple Inc. | Optical module with stray light baffle |
US11506762B1 (en) | 2019-09-24 | 2022-11-22 | Apple Inc. | Optical module comprising an optical waveguide with reference light path |
EP3990891A4 (en) * | 2019-12-31 | 2023-07-26 | Illumina, Inc. | AUTO FOCUS FEATURE IN OPTICAL SAMPLE ANALYSIS |
US11754767B1 (en) | 2020-03-05 | 2023-09-12 | Apple Inc. | Display with overlaid waveguide |
JP2021142172A (ja) | 2020-03-13 | 2021-09-24 | 株式会社トプコン | 眼科装置、その制御方法、及びプログラム |
JP7476067B2 (ja) | 2020-09-18 | 2024-04-30 | 株式会社Screenホールディングス | 撮像装置および撮像方法 |
KR102609881B1 (ko) * | 2021-10-05 | 2023-12-05 | 한국광기술원 | 1차원 광센서를 이용한 2차원 형광 데이터 측정 장치 |
DE102021134427A1 (de) | 2021-12-22 | 2023-06-22 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und verfahren zur mikroskopie |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004012966A (ja) * | 2002-06-10 | 2004-01-15 | Keyence Corp | 複数の光源を備えた顕微鏡 |
WO2004038461A2 (en) * | 2002-10-22 | 2004-05-06 | William Marsh Rice University | Random access high-speed confocal microscope |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05127219A (ja) * | 1991-11-05 | 1993-05-25 | Fujitsu Ltd | 電子シヤツター装置 |
US5535052A (en) * | 1992-07-24 | 1996-07-09 | Carl-Zeiss-Stiftung | Laser microscope |
US5612818A (en) * | 1993-09-08 | 1997-03-18 | Nikon Corporation | Confocal microscope |
US5981956A (en) * | 1996-05-16 | 1999-11-09 | Affymetrix, Inc. | Systems and methods for detection of labeled materials |
US5754291A (en) * | 1996-09-19 | 1998-05-19 | Molecular Dynamics, Inc. | Micro-imaging system |
JP3917731B2 (ja) * | 1996-11-21 | 2007-05-23 | オリンパス株式会社 | レーザ走査顕微鏡 |
KR100618502B1 (ko) * | 1998-03-16 | 2006-09-01 | 지이 헬스케어 바이오-사이언시즈 코프. | 공초점 마이크로스코피 영상 시스템에서 사용하기 위한 전자기 방출의 집속 시스템 및 방법 |
US20030036855A1 (en) | 1998-03-16 | 2003-02-20 | Praelux Incorporated, A Corporation Of New Jersey | Method and apparatus for screening chemical compounds |
AU2002245119A1 (en) * | 2000-12-15 | 2002-07-30 | Sloan-Kettering Institute For Cancer Research | Beam-steering of multi-chromatic light using acousto-optical deflectors and dispersion-compensatory optics |
EP1414517A4 (en) * | 2001-06-26 | 2008-02-06 | Photomed Technologies Inc | MULTIPLE WAVELENGTH ILLUMINATOR |
US6888148B2 (en) | 2001-12-10 | 2005-05-03 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for the optical capture of excited and /or back scattered light beam in a sample |
US6947127B2 (en) * | 2001-12-10 | 2005-09-20 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Arrangement for the optical capture of excited and/or back scattered light beam in a sample |
US7158294B2 (en) * | 2001-12-18 | 2007-01-02 | Olympus Optical Co., Ltd. | Laser scanning confocal microscope apparatus, image recording method, and recording medium |
GB0224067D0 (en) | 2002-10-16 | 2002-11-27 | Perkinelmer Uk Ltd | Improvements in and relating to imaging |
DE102004034970A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop und Verwendung |
-
2005
- 2005-07-19 CA CA2574343A patent/CA2574343C/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-07-19 US US11/184,444 patent/US7335898B2/en active Active
- 2005-07-19 EP EP05780156.5A patent/EP1787157B1/en active Active
- 2005-07-19 JP JP2007522050A patent/JP2008507719A/ja active Pending
- 2005-07-19 WO PCT/IB2005/002067 patent/WO2006008637A1/en active Application Filing
- 2005-07-19 CN CN2005800314987A patent/CN101031837B/zh active Active
- 2005-07-19 AU AU2005264061A patent/AU2005264061B2/en not_active Ceased
-
2012
- 2012-06-07 JP JP2012129410A patent/JP2012212155A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004012966A (ja) * | 2002-06-10 | 2004-01-15 | Keyence Corp | 複数の光源を備えた顕微鏡 |
WO2004038461A2 (en) * | 2002-10-22 | 2004-05-06 | William Marsh Rice University | Random access high-speed confocal microscope |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014174919A1 (ja) * | 2013-04-26 | 2014-10-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
WO2014174920A1 (ja) * | 2013-04-26 | 2014-10-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
US9661212B2 (en) | 2013-04-26 | 2017-05-23 | Hamamatsu Photonics K.K. | Image acquisition device and focusing method for image acquisition device |
US10330910B2 (en) | 2013-04-26 | 2019-06-25 | Hamamatsu Photonics K.K. | Image acquisition device and method and system for acquiring focusing information for specimen |
US10348954B2 (en) | 2013-04-26 | 2019-07-09 | Hamamatsu Photonics K.K. | Image acquisition device and method and system for creating focus map for specimen |
US10598916B2 (en) | 2013-04-26 | 2020-03-24 | Hamamatsu Photonics K.K. | Image acquisition device and method and system for acquiring focusing information for specimen |
JP2014240888A (ja) * | 2013-06-11 | 2014-12-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
JP2014240887A (ja) * | 2013-06-11 | 2014-12-25 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
JP2016091006A (ja) * | 2014-11-04 | 2016-05-23 | オリンパス株式会社 | シート照明顕微鏡、及び、シート照明方法 |
KR20220037673A (ko) * | 2020-09-18 | 2022-03-25 | (주)얼라인드제네틱스 | 시료의 형광을 검출하기 위한 시료 검사 장치 |
KR102380565B1 (ko) | 2020-09-18 | 2022-03-30 | (주)얼라인드제네틱스 | 시료의 형광을 검출하기 위한 시료 검사 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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