JP2012114388A - Substrate for double-sided electrode type solar cell, double-sided electrode type solar cell formed of a part thereof, and method of manufacturing double-sided electrode type solar cell - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To minimize performance degradation of a double-sided electrode type solar cell due to dicing while enabling confirmation of the electric characteristics thereof.SOLUTION: A plurality of solar cell formation regions 120 are arranged at a distance from each other with a scribe line 121 as the border. Back electrodes 140 are arranged on a part of the scribe line 121 and in the plurality of solar cell formation regions 120. First back electrodes 141 arranged in the adjoining solar cell formation regions 120 out of the plurality of solar cell formation regions 120 are interconnected by a second back electrode 142 arranged on a part of the scribe line 121. The length of a part of the scribe line 121 where the second back electrode 142 is arranged is shorter than the length where the second back electrode 142 is not arranged.

Description

本発明は、両面電極型太陽電池用基板、その一部から形成される両面電極型太陽電池セル、および、両面電極型太陽電池セルの製造方法に関する。   The present invention relates to a double-sided electrode type solar cell substrate, a double-sided electrode type solar cell formed from a part thereof, and a method for producing a double-sided electrode type solar cell.

近年、地球温暖化問題に対する意識の高まりに伴って、二酸化炭素を排出しない発電装置として太陽電池が注目されている。太陽電池は、IPP(Independent Power Producer)用または家庭用の発電装置として徐々に普及率してきている。   In recent years, solar cells have been attracting attention as power generation devices that do not emit carbon dioxide, as awareness of global warming increases. Solar cells are gradually spreading as power generators for IPP (Independent Power Producer) or household.

太陽電池の普及に伴って、太陽電池の応用用途が拡大している。太陽電池の応用商品例を開示した先行文献として非特許文献1がある。非特許文献1に記載された太陽電池の応用商品例などの各用途に対応するように、使用される太陽電池モジュールの大きさ、出力電圧および出力電流に規格値が設定される。商品によっては、規格値として高い出力電圧および低い出力電流を有することが求められる。   With the widespread use of solar cells, the application uses of solar cells are expanding. There is Non-Patent Document 1 as a prior document disclosing an example of an application product of a solar cell. Standard values are set for the size, the output voltage, and the output current of the solar cell module used so as to correspond to each application such as the application example of solar cell products described in Non-Patent Document 1. Some products are required to have high output voltage and low output current as standard values.

太陽電池モジュールにおいて、出力電圧を高くしつつ、出力電流を低くする調整方法として、1つの太陽電池を分割し、得られた2つの太陽電池片を直列に接続する方法がある。この方法によれば、分割前の1つの太陽電池に比較して、直列に接続された2つの太陽電池片では、出力電圧を略2倍、出力電流を略半分にすることができる。   In a solar cell module, there is a method of dividing one solar cell and connecting two obtained solar cell pieces in series as an adjustment method for decreasing the output current while increasing the output voltage. According to this method, the output voltage can be approximately doubled and the output current can be approximately halved in two solar cell pieces connected in series as compared to one solar cell before division.

また、不良部分を有する太陽電池を分割して利用することにより有効利用を図ることができる太陽電池を開示した先行文献として特許文献1がある。特許文献1に記載された太陽電池においては、不良部分を有する太陽電池を分割して、不良部分を含む太陽電池片は廃棄し、不良部分を含まない太陽電池片のみを接続して利用することにより、太陽電池の歩留まりを向上している。   Patent Document 1 is a prior art document disclosing a solar cell that can be effectively used by dividing and using a solar cell having a defective portion. In the solar cell described in Patent Document 1, a solar cell having a defective portion is divided, the solar cell piece including the defective portion is discarded, and only the solar cell piece not including the defective portion is connected and used. This improves the yield of solar cells.

特開2006−24857号公報JP 2006-24857 A

Angele Reinders,et al.、“DESIGNING PV POWERED LED PRODUCTS−INTEGRATION OF PV TECHNOLOGY IN INNOVATIVE PRODUCTS”,24th European photovoltaic Solar Energy Conference, 2009年、p.3179.Angel Reinders, et al. "DESIGNING PV POWERED LED PRODUCTS-INTEGRATION OF PV TECHNOLOGY IN INNOVATIVE PRODUCTS", 24th European photovoltaic Solar Energy Conference, 200 years. 3179.

現在、最も普及している太陽電池は、結晶シリコンウエハを用いて形成された太陽電池である。なかでも、シリコンウエハの表面と裏面とにそれぞれ電極が形成された両面電極型太陽電池が主流となっている。   Currently, the most popular solar cell is a solar cell formed using a crystalline silicon wafer. Among these, double-sided electrode type solar cells in which electrodes are respectively formed on the front surface and the back surface of a silicon wafer are mainly used.

両面電極型太陽電池セルを作製する際には、複数の両面電極型太陽電池が形成されたシリコンウエハをスクライブした後、ダイシングして分割する。一般に、両面電極型太陽電池を形成する際、シリコンウエハの裏面の略全体に裏面電極が形成される。そのため、スクライブされるスクライブ線上の位置にも裏面電極が形成されている。   When producing a double-sided electrode type solar cell, a silicon wafer on which a plurality of double-sided electrode type solar cells are formed is scribed and then diced and divided. Generally, when forming a double-sided electrode type solar cell, a back electrode is formed on substantially the entire back surface of a silicon wafer. Therefore, the back electrode is also formed at a position on the scribe line to be scribed.

裏面電極は、シリコンウエハの裏面に塗布された金属ペーストを焼成することにより形成される。そのため、裏面電極の表面にはダスト層が存在する。シリコンウエハをダイシングする際、スクライブ線上に位置している裏面電極が切断される。このとき、裏面電極のダスト層の一部が剥離して両面電極型太陽電池に付着して汚損することにより、両面電極型太陽電池の性能を低下させることがある。この問題は、上述したように太陽電池を分割して太陽電池片を接続して利用する場合にも同様に発生する。   The back electrode is formed by firing a metal paste applied to the back surface of the silicon wafer. Therefore, a dust layer exists on the surface of the back electrode. When dicing the silicon wafer, the back electrode located on the scribe line is cut. At this time, a part of the dust layer of the back electrode peels off, adheres to the double-sided electrode type solar cell and becomes fouled, thereby degrading the performance of the double-sided electrode type solar cell. This problem also occurs when the solar cell is divided and used by connecting the solar cell pieces as described above.

上記の問題を解決するために、スクライブ線上に裏面電極を形成しないようにした場合、裏面電極同士は互いに間隔を置いて孤立した状態で形成されることになる。太陽電池セルの製造工程においては、両面電極型太陽電池の電気特性の確認が行なわれる。この確認の際、両面電極型太陽電池は、測定端子を兼ねた載置台と裏面電極とが接触するように載置された状態で、表面電極に測定端子を接触させることにより電気特性が測定される。   In order to solve the above problem, when the back electrode is not formed on the scribe line, the back electrodes are formed in an isolated state with a space between each other. In the manufacturing process of the solar battery cell, the electrical characteristics of the double-sided electrode type solar battery are confirmed. At the time of this confirmation, the electric characteristics of the double-sided electrode type solar cell are measured by bringing the measurement terminal into contact with the front electrode while the mounting table also serving as the measurement terminal is placed in contact with the back electrode. The

両面電極型太陽電池には、電極を焼成した際にひずみが生じる。そのひずみの程度が大きい場合、電気特性の測定の際に、一部の裏面電極と載置台とが接触しないことがある。上記のように、裏面電極同士が孤立した状態で形成されている場合、載置台に接触していない裏面電極を含む両面電極型太陽電池の出力を測定することができない。そのため、裏面電極をスクライブ線上に全く形成しないようにすると、両面電極型太陽電池の電気特性の確認が困難になるという問題が起こる。   In a double-sided electrode type solar cell, distortion occurs when the electrode is fired. If the degree of strain is large, some backside electrodes and the mounting table may not come into contact with each other when measuring electrical characteristics. As described above, when the back electrodes are formed in an isolated state, the output of the double-sided electrode solar cell including the back electrode not in contact with the mounting table cannot be measured. Therefore, if the back electrode is not formed on the scribe line at all, there arises a problem that it is difficult to confirm the electrical characteristics of the double-sided electrode type solar cell.

本発明は上記の問題点に鑑みてなされたものであって、両面電極型太陽電池の電気特性の確認を可能にしつつ、ダイシングによる両面電極型太陽電池の性能の低下を抑制することができる、両面電極型太陽電池用基板、その一部から形成される両面電極型太陽電池セル、および、両面電極型太陽電池セルの製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and can suppress the deterioration of the performance of the double-sided electrode solar cell due to dicing while enabling confirmation of the electrical characteristics of the double-sided electrode solar cell. It aims at providing the manufacturing method of the double-sided electrode type solar cell formed from the substrate for double-sided electrode type solar cells, the double-sided electrode type solar cell formed from the part.

本発明に基づく両面電極型太陽電池用基板は、複数の両面電極型太陽電池が形成された両面電極型太陽電池用基板である。両面電極型太陽電池用基板は、シリコンウエハと、シリコンウエハの一方の主表面側に位置する表面電極と、シリコンウエハの他方の主表面側に位置する裏面電極とを備える。表面電極は、シリコンウエハにおいて複数の両面電極型太陽電池が形成される領域である複数の太陽電池形成領域内に位置する。複数の太陽電池形成領域の各々は、スクライブ線を境界にして互いに間隔を置いて位置する。裏面電極は、スクライブ線上の一部および複数の太陽電池形成領域内に位置する。複数の太陽電池形成領域のうちで互いに隣接する太陽電池形成領域に位置する裏面電極同士は、スクライブ線上の一部に位置する裏面電極により繋がっている。スクライブ線上において、裏面電極が位置している部分の長さは、裏面電極が位置していない部分の長さより短い。   The double-sided electrode type solar cell substrate according to the present invention is a double-sided electrode type solar cell substrate on which a plurality of double-sided electrode type solar cells are formed. The double-sided electrode type solar cell substrate includes a silicon wafer, a surface electrode located on one main surface side of the silicon wafer, and a back electrode located on the other main surface side of the silicon wafer. The surface electrode is located in a plurality of solar cell formation regions, which are regions where a plurality of double-sided electrode type solar cells are formed on the silicon wafer. Each of the plurality of solar cell formation regions is located at a distance from each other with a scribe line as a boundary. The back electrode is located in a part on the scribe line and in the plurality of solar cell formation regions. Among the plurality of solar cell formation regions, the back surface electrodes located in the solar cell formation regions adjacent to each other are connected by the back surface electrodes located in a part on the scribe line. On the scribe line, the length of the portion where the back electrode is located is shorter than the length of the portion where the back electrode is not located.

本発明の一形態においては、複数の太陽電池形成領域の各々において、両面電極型太陽電池を複数の太陽電池片に分割可能な他のスクライブ線が位置する。裏面電極は、複数の太陽電池形成領域の各々において、他のスクライブ線上の一部、および、複数の太陽電池片が形成される領域である複数の太陽電池片形成領域内に位置する。複数の太陽電池片形成領域のうちで互いに隣接する太陽電池片形成領域に位置する裏面電極同士は、他のスクライブ線上の一部に位置する裏面電極により繋がっている。他のスクライブ線上において、裏面電極が位置している部分の長さは、裏面電極が位置していない部分の長さより短い。   In one form of this invention, in each of several solar cell formation area, the other scribe line which can divide a double-sided electrode type solar cell into several solar cell pieces is located. The back electrode is located in each of the plurality of solar cell formation regions, a part on the other scribe line, and a plurality of solar cell piece formation regions that are regions where the plurality of solar cell pieces are formed. The back surface electrodes located in the solar cell piece forming regions adjacent to each other among the plurality of solar cell piece forming regions are connected by the back surface electrodes located in a part on the other scribe line. On the other scribe lines, the length of the portion where the back electrode is located is shorter than the length of the portion where the back electrode is not located.

本発明に基づく両面電極型太陽電池セルは、上記のいずれかの太陽電池用基板の一部から形成される。   The double-sided electrode type solar cell according to the present invention is formed from a part of any one of the solar cell substrates described above.

本発明に基づく両面電極型太陽電池セルの製造方法は、シリコンウエハの一方の主表面側に表面電極を形成する工程と、シリコンウエハの他方の主表面側に裏面電極を形成する工程と、表面電極と裏面電極との間の電気特性を測定する工程と、シリコンウエハをスクライブ線に沿って分割する工程とを備える。表面電極を形成する工程において、スクライブ線に周囲を囲まれて独立した複数の太陽電池形成領域内に表面電極を形成する。裏面電極を形成する工程において、スクライブ線上の一部および複数の太陽電池形成領域内に裏面電極を形成し、かつ、スクライブ線上において、裏面電極が位置している部分の長さが、裏面電極が位置していない部分の長さより短くなるようにして、複数の太陽電池形成領域のうちで互いに隣接する太陽電池形成領域に位置する裏面電極同士をスクライブ線上の一部に位置する裏面電極で繋ぐ。スクライブ線に沿って分割する工程において、スクライブ線上の一部に位置する裏面電極を切断する。   A method for manufacturing a double-sided electrode type solar cell according to the present invention includes a step of forming a surface electrode on one main surface side of a silicon wafer, a step of forming a back electrode on the other main surface side of the silicon wafer, A step of measuring electrical characteristics between the electrode and the back electrode, and a step of dividing the silicon wafer along a scribe line. In the step of forming the surface electrode, the surface electrode is formed in a plurality of independent solar cell forming regions surrounded by the scribe line. In the step of forming the back electrode, the back electrode is formed in a part of the scribe line and in the plurality of solar cell formation regions, and the length of the part where the back electrode is located on the scribe line is The back electrodes located in the solar cell forming regions adjacent to each other among the plurality of solar cell forming regions are connected by the back electrodes located in a part on the scribe line so as to be shorter than the length of the portion not positioned. In the step of dividing along the scribe line, the back electrode located at a part on the scribe line is cut.

本発明の一形態においては、両面電極型太陽電池セルの製造方法は、スクライブ線に沿って分割する工程によって作製された両面電極型太陽電池セルの電気特性を測定する工程と、両面電極型太陽電池セルを他のスクライブ線に沿って分割することにより複数の太陽電池片を形成する工程と、複数の太陽電池片のうちの少なくとも2つを接続することにより両面電極型太陽電池セルを構成する工程とをさらに備える。裏面電極を形成する工程において、他のスクライブ線上の一部および、複数の太陽電池片が形成される領域である複数の太陽電池片形成領域内に裏面電極を形成し、かつ、他のスクライブ線上において、裏面電極が位置している部分の長さが、裏面電極が位置していない部分の長さより短くなるようにして、複数の太陽電池片形成領域のうちで互いに隣接する太陽電池片形成領域に位置する裏面電極同士を他のスクライブ線上の一部に位置する裏面電極で繋ぐ。他のスクライブ線に沿って分割する工程において、他のスクライブ線上の一部に位置する裏面電極を切断する。   In one embodiment of the present invention, a method for manufacturing a double-sided electrode type solar battery cell includes a step of measuring electrical characteristics of a double-sided electrode type solar cell produced by a step of dividing along a scribe line, and a double-sided electrode type solar cell. A step of forming a plurality of solar cell pieces by dividing the battery cell along another scribe line and a double-sided electrode type solar cell cell by connecting at least two of the plurality of solar cell pieces A process. In the step of forming the back electrode, a back electrode is formed in a part of the other scribe line and a plurality of solar cell pieces forming regions where a plurality of solar cell pieces are formed, and on the other scribe line. In which the length of the portion where the back electrode is located is shorter than the length of the portion where the back electrode is not located, among the plurality of solar cell piece forming regions. The back surface electrodes located at each other are connected by back surface electrodes located at a part of other scribe lines. In the step of dividing along the other scribe line, the back electrode located at a part on the other scribe line is cut.

両面電極型太陽電池の電気特性の確認を可能にしつつ、ダイシングによる両面電極型太陽電池の性能の低下を抑制することができる。   While making it possible to check the electrical characteristics of the double-sided electrode type solar cell, it is possible to suppress a decrease in the performance of the double-sided electrode type solar cell due to dicing.

本発明の一実施形態に係る両面電極型太陽電池用基板を表面側から見た平面図である。It is the top view which looked at the substrate for double-sided electrode type solar cells concerning one embodiment of the present invention from the surface side. 図1のII部の拡大図である。It is an enlarged view of the II section of FIG. 図2のシリコンウエハを裏面側から見た図である。It is the figure which looked at the silicon wafer of FIG. 2 from the back surface side. シリコンウエハの一部断面図である。It is a partial cross section figure of a silicon wafer. シリコンウエハの表面にn型半導体層を形成した状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which formed the n-type semiconductor layer in the surface of the silicon wafer. n型半導体層上に反射防止膜を形成した状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which formed the anti-reflective film on the n-type semiconductor layer. シリコンウエハの裏面に裏面電極を形成した状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which formed the back surface electrode in the back surface of the silicon wafer. 反射防止膜上に表面電極の材料を塗布した状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which apply | coated the material of the surface electrode on the antireflection film. シリコンウエハを焼成して表面電極をファイアースルーさせた状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which baked the silicon wafer and made the surface electrode fire through. 両面電極型太陽電池用基板において、表面電極と裏面電極との間の電気特性を測定する状態を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the state which measures the electrical property between a surface electrode and a back surface electrode in a double-sided electrode type solar cell substrate. 両面電極型太陽電池用基板を分割する状態を示す平面図である。It is a top view which shows the state which divides | segments a double-sided electrode type solar cell substrate. 両面電極型太陽電池セルの外観を示す平面図である。It is a top view which shows the external appearance of a double-sided electrode type photovoltaic cell. 変形例の両面電極型太陽電池セルの裏面側を示す平面図である。It is a top view which shows the back surface side of the double-sided electrode type photovoltaic cell of a modification.

以下、本発明の一実施形態に係る両面電極型太陽電池用基板、その一部から形成される両面電極型太陽電池セル、および、両面電極型太陽電池セルの製造方法について図面を参照して説明する。以下の実施形態の説明においては、図中の同一または相当部分には同一符号を付して、その説明は繰返さない。   Hereinafter, a substrate for a double-sided electrode type solar cell according to an embodiment of the present invention, a double-sided electrode type solar cell formed from a part thereof, and a method for manufacturing the double-sided electrode type solar cell will be described with reference to the drawings. To do. In the following description of the embodiments, the same or corresponding parts in the drawings are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will not be repeated.

図1は、本発明の一実施形態に係る両面電極型太陽電池用基板を表面側から見た平面図である。図1に示すように、本実施形態に係る両面電極型太陽電池用基板においては、単結晶Siからなるシリコンウエハ110に複数の両面電極型太陽電池が形成される。図中の矩形状に囲まれた領域が、両面電極型太陽電池が形成される領域である太陽電池形成領域120である。本実施形態においては、1枚のシリコンウエハ110に16ヶ所の太陽電池形成領域120が規定されている。   FIG. 1: is the top view which looked at the board | substrate for double-sided electrode type solar cells which concerns on one Embodiment of this invention from the surface side. As shown in FIG. 1, in the double-sided electrode type solar cell substrate according to this embodiment, a plurality of double-sided electrode type solar cells are formed on a silicon wafer 110 made of single crystal Si. A region surrounded by a rectangular shape in the figure is a solar cell formation region 120 which is a region where a double-sided electrode type solar cell is formed. In the present embodiment, 16 solar cell forming regions 120 are defined on one silicon wafer 110.

図2は、図1のII部の拡大図である。図1においては図示していないが、図2に示すように、両面電極型太陽電池用基板100の表面111には、表面電極130が形成されている。表面電極130は、太陽電池形成領域120内に形成されている。   FIG. 2 is an enlarged view of a portion II in FIG. Although not shown in FIG. 1, as shown in FIG. 2, a surface electrode 130 is formed on the surface 111 of the double-sided electrode type solar cell substrate 100. The surface electrode 130 is formed in the solar cell formation region 120.

本実施形態においては、太陽電池の表面から電流を取り出す複数のフィンガー電極131と、複数のフィンガー電極131から電流を集めるバスバー電極132とから表面電極130が構成されている。複数のフィンガー電極131の各々は、細長く形成され、互いに所定の間隔を置いて平行に配置されている。バスバー電極132は、細長く形成され、複数のフィンガー電極131の並ぶ方向に延在して、複数のフィンガー電極131に直交するように配置されている。   In the present embodiment, the surface electrode 130 is composed of a plurality of finger electrodes 131 that extract current from the surface of the solar cell and a bus bar electrode 132 that collects current from the plurality of finger electrodes 131. Each of the plurality of finger electrodes 131 is formed in an elongated shape, and is arranged in parallel at a predetermined interval. The bus bar electrode 132 is formed in an elongated shape, extends in the direction in which the plurality of finger electrodes 131 are arranged, and is disposed so as to be orthogonal to the plurality of finger electrodes 131.

バスバー電極132は、1つの太陽電池形成領域120内において、2本配置されている。2本のバスバー電極132は、互いに平行に配置されている。2本のバスバー電極132のそれぞれに接続された複数のフィンガー電極131同士は、フィンガー電極131の長手方向において、互いに間隔を置いて配置されている。   Two bus bar electrodes 132 are arranged in one solar cell formation region 120. The two bus bar electrodes 132 are arranged in parallel to each other. The plurality of finger electrodes 131 connected to each of the two bus bar electrodes 132 are arranged at intervals in the longitudinal direction of the finger electrodes 131.

図2に示すように、複数の太陽電池形成領域120の各々は、スクライブ線121を境界にして互いに間隔を置いて位置している。スクライブ線121は、シリコンウエハ110をダイシングする際に、スクライブする中心位置である。   As shown in FIG. 2, each of the plurality of solar cell formation regions 120 is located at a distance from each other with a scribe line 121 as a boundary. The scribe line 121 is a center position for scribing when the silicon wafer 110 is diced.

図3は、図2のシリコンウエハを裏面側から見た図である。図3に示すように、両面電極型太陽電池用基板100の裏面112には、裏面電極140が形成されている。本実施形態においては、裏面電極140は、太陽電池形成領域120内に位置する第1裏面電極141と、スクライブ線121上の一部に位置する第2裏面電極142とから構成されている。   FIG. 3 is a view of the silicon wafer of FIG. 2 viewed from the back side. As shown in FIG. 3, a back electrode 140 is formed on the back surface 112 of the double-sided electrode type solar cell substrate 100. In the present embodiment, the back electrode 140 is composed of a first back electrode 141 located in the solar cell formation region 120 and a second back electrode 142 located in a part on the scribe line 121.

複数の太陽電池形成領域120のうちで互いに隣接する太陽電池形成領域120に位置する第1裏面電極141同士は、スクライブ線121上の一部に位置する第2裏面電極142により繋がっている。   Among the plurality of solar cell formation regions 120, the first back surface electrodes 141 located in the solar cell formation regions 120 adjacent to each other are connected by the second back surface electrode 142 located in a part on the scribe line 121.

図3に示すように、スクライブ線121上において、第2裏面電極142が位置している部分の長さL1が、第2裏面電極142が位置していない部分の長さ(L2+L3)より短くなるように、第2裏面電極142が形成されている。図3においては、太陽電池形成領域120の一辺についてのみ第2裏面電極142の長さを図示しているが、他の3辺についても同様の関係を満たしている。 As shown in FIG. 3, on the scribe line 121, the length L 1 of the portion where the second back electrode 142 is located is equal to the length (L 2 + L 3) of the portion where the second back electrode 142 is not located. The second back electrode 142 is formed so as to be shorter. In FIG. 3, the length of the second back electrode 142 is shown only for one side of the solar cell formation region 120, but the same relationship is satisfied for the other three sides.

なお、第2裏面電極142のスクライブ線121上における長さL1は、所定の電気抵抗値より小さくなるように所定の長さ以上となるように設定されている。これは、後述する電気特性の確認において、両面電極型太陽電池セルに異状がある場合には、その異状による高い電気抵抗値を発見することができるようにするため、第2裏面電極142における電気抵抗値がその高い電気抵抗値より小さくなければならないからである。 The length L 1 of the second back electrode 142 on the scribe line 121 is set to be equal to or longer than a predetermined length so as to be smaller than a predetermined electric resistance value. This is because, in the confirmation of the electrical characteristics described later, if there is an abnormality in the double-sided electrode type solar battery cell, an electric resistance in the second back electrode 142 can be found so that a high electric resistance value due to the abnormality can be found. This is because the resistance value must be smaller than the high electrical resistance value.

以下、本実施形態に係る両面電極型太陽電池セルの製造方法について説明する。
図4は、シリコンウエハの一部断面図である。図4に示すように、まず、基材としてシリコンウエハ110を準備する。本実施形態のシリコンウエハ110は、p型の導電性を有している。シリコンウエハ110の表面の汚れおよび表層のダメージ層を除去するために、シリコンウエハ110を強アルカリ性水溶液または強酸性水溶液により洗浄処理する。
Hereinafter, the manufacturing method of the double-sided electrode type solar cell according to the present embodiment will be described.
FIG. 4 is a partial cross-sectional view of a silicon wafer. As shown in FIG. 4, first, a silicon wafer 110 is prepared as a base material. The silicon wafer 110 of this embodiment has p-type conductivity. In order to remove the dirt on the surface of the silicon wafer 110 and the damaged layer on the surface layer, the silicon wafer 110 is washed with a strong alkaline aqueous solution or a strong acidic aqueous solution.

また、シリコンウエハ110をアルカリ性水溶液または酸性水溶液で処理することにより、シリコンウエハ110の表面にテクスチャ構造を形成する。テクスチャ構造とは、太陽電池に入射した光を光電変換素子の受光面側で多重反射させることにより、効果的に光を取り込んで、太陽電池の光変換効率を向上させるための構造である。なお、テクスチャ構造は図示していない。   Further, by treating the silicon wafer 110 with an alkaline aqueous solution or an acidic aqueous solution, a texture structure is formed on the surface of the silicon wafer 110. The texture structure is a structure for effectively taking in light and improving the light conversion efficiency of the solar cell by multiple reflection of light incident on the solar cell on the light receiving surface side of the photoelectric conversion element. The texture structure is not shown.

図5は、シリコンウエハの表面にn型半導体層を形成した状態を示す断面図である。図5に示すように、シリコンウエハ110の表面にn型の不純物をドーピングすることによりn型半導体層150を形成して、pn接合を構成する。本実施形態においては、ドーピングによりn型半導体層150を形成したが、たとえば、CVD(Chemical Vapor Deposition)法などを用いて、シリコンウエハ110の表面上にn型半導体層を形成してもよい。   FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state where an n-type semiconductor layer is formed on the surface of a silicon wafer. As shown in FIG. 5, an n-type semiconductor layer 150 is formed by doping an n-type impurity on the surface of the silicon wafer 110 to form a pn junction. In this embodiment, the n-type semiconductor layer 150 is formed by doping. However, the n-type semiconductor layer may be formed on the surface of the silicon wafer 110 by using, for example, a CVD (Chemical Vapor Deposition) method.

ドーピングに用いるn型の不純物としては、燐、砒素などの5族元素を用いることができる。ドーピング方法として、オキシ塩化リン(POCl3)などの5族元素の化合物を含んだ溶液を700℃以上1000℃以下の温度の炉中でガス状にして、シリコンウエハ110に拡散させる気相拡散法を用いた。他のドーピング方法としては、たとえば、五酸化リン(P25)などの5族元素の化合物を含んだイソプロピルアルコール溶液をシリコンウエハ110の表面に滴下してスピンコーターにより均一に塗布した後、700℃以上1000℃以下の温度の炉に投入することにより、表面に付着した5族元素をシリコンウエハ110中に拡散させる方法などがある。n型半導体層150のシート抵抗が、20Ω/□以上200Ω/□以下となるように、n型半導体層150を形成した。 As an n-type impurity used for doping, a Group 5 element such as phosphorus or arsenic can be used. As a doping method, a vapor phase diffusion method in which a solution containing a group 5 element compound such as phosphorus oxychloride (POCl 3 ) is gasified in a furnace at a temperature of 700 ° C. or higher and 1000 ° C. or lower and diffused into the silicon wafer 110. Was used. As another doping method, for example, an isopropyl alcohol solution containing a compound of a group 5 element such as phosphorus pentoxide (P 2 O 5 ) is dropped on the surface of the silicon wafer 110 and uniformly applied by a spin coater. There is a method of diffusing the group 5 element adhering to the surface into the silicon wafer 110 by putting it in a furnace having a temperature of 700 ° C. or higher and 1000 ° C. or lower. The n-type semiconductor layer 150 was formed so that the sheet resistance of the n-type semiconductor layer 150 was 20Ω / □ or more and 200Ω / □ or less.

図6は、n型半導体層上に反射防止膜を形成した状態を示す断面図である。図6に示すように、n型半導体層上に、反射防止膜160を形成する。反射防止膜160は、太陽電池の受光面における光の反射を抑制して、光が太陽電池内に入射しやすくする機能を有する。   FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which an antireflection film is formed on the n-type semiconductor layer. As shown in FIG. 6, an antireflection film 160 is formed on the n-type semiconductor layer. The antireflection film 160 has a function of suppressing light reflection on the light receiving surface of the solar cell and facilitating the incidence of light into the solar cell.

反射防止膜160の材料としては、窒化シリコンを用いた。反射防止膜160の材料としては、酸化チタンなどを用いてもよい。反射防止膜160の形成方法としては、プラズマCVD法を用いたが、熱CVD法などを用いてもよい。反射防止膜160の膜厚が、60nm以上100nm以下となるように反射防止膜160を形成した。反射防止膜160の厚さは、反射防止膜の屈折率およびシリコンウエハ110の表面に形成されたテクスチャ構造の凹凸の大きさなどの条件によって適宜設定される。   As a material of the antireflection film 160, silicon nitride was used. As a material of the antireflection film 160, titanium oxide or the like may be used. As a method for forming the antireflection film 160, a plasma CVD method is used, but a thermal CVD method or the like may be used. The antireflection film 160 was formed so that the film thickness of the antireflection film 160 was 60 nm or more and 100 nm or less. The thickness of the antireflection film 160 is appropriately set according to conditions such as the refractive index of the antireflection film and the size of the unevenness of the texture structure formed on the surface of the silicon wafer 110.

図7は、シリコンウエハの裏面に裏面電極を形成した状態を示す断面図である。図7に示すように、シリコンウエハ110の裏面に、裏面電極140を形成する。この裏面電極140は、シリコンウエハ110内で発生したキャリアを電流として取り出すために利用される。   FIG. 7 is a cross-sectional view showing a state in which a back electrode is formed on the back surface of the silicon wafer. As shown in FIG. 7, a back electrode 140 is formed on the back surface of the silicon wafer 110. The back electrode 140 is used to extract carriers generated in the silicon wafer 110 as current.

本実施形態においては、スクリーン印刷法を用いて裏面電極140を形成した。具体的には、アルミニウム粉末などを含む導電性ペーストをシリコンウエハ110の裏面に塗布し、100℃以上400℃以下の温度で乾燥させることにより裏面電極140を形成した。裏面電極140は、図3に示すようなパターンで形成されている。裏面電極140の厚さは、10μm以上60μm以下とした。スクリーン印刷法は、大量生産に対応可能な方法であり裏面電極140の製造コストを低減できる。   In the present embodiment, the back electrode 140 is formed using a screen printing method. Specifically, a conductive paste containing aluminum powder or the like was applied to the back surface of the silicon wafer 110 and dried at a temperature of 100 ° C. or higher and 400 ° C. or lower to form the back electrode 140. The back electrode 140 is formed in a pattern as shown in FIG. The thickness of the back electrode 140 was 10 μm or more and 60 μm or less. The screen printing method is a method that can cope with mass production, and can reduce the manufacturing cost of the back electrode 140.

図8は、反射防止膜上に表面電極の材料を塗布した状態を示す断面図である。本実施形態においては、スクリーン印刷法を用いて表面電極130を形成した。具体的には、銀粉末、ガラス粉末、有機質ビヒクルおよび有機溶媒を主成分とする導電性ペーストを反射防止膜160上に塗布し、100℃以上400℃以下の温度で乾燥させることにより表面電極130を形成した。表面電極130は、図2,8に示すように、魚骨型(櫛形状)のパターンで形成されている。表面電極130の厚さは、10μm以上60μm以下とした。   FIG. 8 is a cross-sectional view showing a state in which a surface electrode material is applied on the antireflection film. In the present embodiment, the surface electrode 130 is formed using a screen printing method. Specifically, the surface electrode 130 is formed by applying a conductive paste mainly composed of silver powder, glass powder, organic vehicle, and organic solvent on the antireflection film 160 and drying at a temperature of 100 ° C. or higher and 400 ° C. or lower. Formed. As shown in FIGS. 2 and 8, the surface electrode 130 is formed in a fishbone (comb-shaped) pattern. The thickness of the surface electrode 130 was 10 μm or more and 60 μm or less.

図9は、シリコンウエハを焼成して表面電極をファイアースルーさせた状態を示す断面図である。焼成条件は、700℃以上900℃以下の温度雰囲気下で、1秒以上90秒以下保持する条件とした。   FIG. 9 is a cross-sectional view showing a state in which a silicon wafer is baked to fire through the surface electrodes. The firing conditions were such that the temperature was maintained for 1 second to 90 seconds in a temperature atmosphere of 700 ° C. to 900 ° C.

表面電極130が塗布されたシリコンウエハ110を焼成することにより、表面電極130に含まれているガラス粉末の作用で反射防止膜160が破られて、図9に示すように、表面電極130が反射防止膜160中に沈み込む。その結果、表面電極130の下部がシリコンウエハ110の表面に位置するn型半導体層150に接触する。   By baking the silicon wafer 110 coated with the surface electrode 130, the antireflection film 160 is broken by the action of the glass powder contained in the surface electrode 130, and the surface electrode 130 is reflected as shown in FIG. It sinks into the prevention film 160. As a result, the lower part of the surface electrode 130 comes into contact with the n-type semiconductor layer 150 located on the surface of the silicon wafer 110.

また、シリコンウエハ110を焼成することにより、裏面電極140に含まれるアルミニウムの一部がシリコンウエハ110に拡散する。その結果、シリコンウエハ110の一部に裏面電界層170が形成される。裏面電界層170は、シリコンウエハ110の内部で発生したキャリアの収集効率を向上させる機能を有している。   Further, by baking the silicon wafer 110, a part of aluminum contained in the back electrode 140 diffuses into the silicon wafer 110. As a result, the back surface electric field layer 170 is formed on a part of the silicon wafer 110. The back surface electric field layer 170 has a function of improving the collection efficiency of carriers generated inside the silicon wafer 110.

図10は、両面電極型太陽電池用基板において、表面電極と裏面電極との間の電気特性を測定する状態を示す模式図である。図10においては、簡単のため、両面電極型太陽電池用基板100の一部の構成を図示していない。   FIG. 10 is a schematic diagram showing a state in which electrical characteristics between the front electrode and the back electrode are measured in the double-sided electrode type solar cell substrate. In FIG. 10, for the sake of simplicity, the configuration of a part of the double-sided electrode type solar cell substrate 100 is not shown.

図10に示すように、両面電極型太陽電池が形成されたシリコンウエハ110からなる両面電極型太陽電池用基板100は、電圧および電流などの電気特性を測定可能な測定器180により電気特性が確認される。測定器180は、裏面電極140に接続される測定端子を兼ねた載置台181、載置台181と測定器180の本体部とを接続する接続線183、表面電極130に接続される複数の測定端子182、測定端子182と測定器180の本体部とを接続する接続線184を含む。   As shown in FIG. 10, the double-sided electrode type solar cell substrate 100 made of the silicon wafer 110 on which the double-sided electrode type solar cell is formed has its electrical characteristics confirmed by a measuring instrument 180 capable of measuring electrical characteristics such as voltage and current. Is done. The measuring instrument 180 includes a mounting table 181 that also serves as a measurement terminal connected to the back electrode 140, a connection line 183 that connects the mounting table 181 and the main body of the measuring instrument 180, and a plurality of measurement terminals connected to the front electrode 130. 182, a connection line 184 connecting the measurement terminal 182 and the main body of the measuring instrument 180 is included.

測定器180の測定結果により異状が認められた太陽電池にはマーキングが施され、太陽電池セルに分割後に廃棄、または、後述する太陽電池片に分割されて一部が利用される。   The solar cell in which the abnormality is recognized by the measurement result of the measuring device 180 is marked, and is discarded after being divided into solar cells, or partly used by being divided into solar cell pieces described later.

図11は、両面電極型太陽電池用基板を分割する状態を示す平面図である。図11に示すように、スクライブ線121に沿ってダイシングソーまたはレーザ光を用いて両面電極型太陽電池用基板100を分割する。本実施形態においては、ブレードの厚さが20μm以上35μm以下のダイシングソーを用いて、両面電極型太陽電池用基板100を分割した。レーザ光を用いて分割する場合は、レーザ光の種類として、波長が10540nmのCO2レーザ、波長が1064nmのYAGレーザの基本波、波長が532nmのYAGレーザの第2高調波、および、波長が355nmのYAGレーザの第三高調波などが使用できる。 FIG. 11 is a plan view showing a state in which the double-sided electrode type solar cell substrate is divided. As shown in FIG. 11, the double-sided electrode type solar cell substrate 100 is divided along a scribe line 121 using a dicing saw or laser light. In the present embodiment, the double-sided electrode type solar cell substrate 100 is divided using a dicing saw having a blade thickness of 20 μm or more and 35 μm or less. When splitting using laser light, the types of laser light are as follows: a CO 2 laser with a wavelength of 10540 nm, a fundamental wave of a YAG laser with a wavelength of 1064 nm, a second harmonic of a YAG laser with a wavelength of 532 nm, and a wavelength of A third harmonic of a 355 nm YAG laser can be used.

図11に示すように、シリコンウエハ110をスクライブ線121に沿って分割する際に、裏面電極140は、スクライブ線121上に位置する第2裏面電極142が切断される。言い換えると、太陽電池形成領域120内に位置する第1裏面電極141は切断されない。   As shown in FIG. 11, when the silicon wafer 110 is divided along the scribe line 121, the back electrode 140 is cut from the second back electrode 142 located on the scribe line 121. In other words, the first back electrode 141 located in the solar cell formation region 120 is not cut.

図12は、両面電極型太陽電池セルの外観を示す平面図である。図12に示すように、両面電極型太陽電池が形成されたシリコンウエハ110を分割することにより、両面電極型太陽電池セル200が作製される。   FIG. 12 is a plan view showing the appearance of a double-sided electrode type solar battery cell. As shown in FIG. 12, the double-sided electrode solar cell 200 is manufactured by dividing the silicon wafer 110 on which the double-sided electrode type solar cell is formed.

上記の製造方法により、両面電極型太陽電池セル200を製造することにより、両面電極型太陽電池用基板100を分割する際に切断される裏面電極140を第2裏面電極142のみにすることができる。図3に示すように、第2裏面電極142のスクライブ線121上に位置する長さL1は、裏面電極140がスクライブ線121上に位置していない部分の長さ(L2+L3)より短いため、切断される第2裏面電極142の面積は従来の裏面電極型太陽電池に比較して半分以下である。その結果、裏面電極140が切断されることにより発生するダスト層の剥離片の量を低減することができるため、この剥離片によって両面電極型太陽電池が汚損されることが抑制される。 By manufacturing the double-sided electrode type solar battery cell 200 by the above manufacturing method, the back electrode 140 that is cut when the double-sided electrode type solar cell substrate 100 is divided can be limited to the second back electrode 142 only. . As shown in FIG. 3, the length L 1 of the second back electrode 142 positioned on the scribe line 121 is greater than the length (L 2 + L 3 ) of the portion where the back electrode 140 is not positioned on the scribe line 121. Since it is short, the area of the second back electrode 142 to be cut is less than half that of a conventional back electrode solar cell. As a result, it is possible to reduce the amount of dust layer peeling pieces generated when the back electrode 140 is cut, so that the double-sided electrode solar cell is prevented from being soiled by the peeling pieces.

また、互いに隣接する第1裏面電極141同士は、第2裏面電極142により繋がっているため、裏面電極140は全体的に導通されている。そのため、図10に示すように、シリコンウエハ110を分割する前に両面電極型太陽電池の電気特性を測定する際に、シリコンウエハ110の反りまたはひずみにより、裏面電極140の一部と載置台181とが非接触な状態となった場合においても、載置台181と接触している裏面電極140の他の部分を通じて電気が流れるため、全ての両面電極型太陽電池の電気特性を正確に測定することができる。その結果、異状な両面電極型太陽電池を製造工程の途中で選別することができ、後工程のムダを抑制することができる。   Moreover, since the 1st back surface electrode 141 which mutually adjoins is connected by the 2nd back surface electrode 142, the back surface electrode 140 is conduct | electrically_connected as a whole. Therefore, as shown in FIG. 10, when measuring the electrical characteristics of the double-sided electrode type solar cell before dividing the silicon wafer 110, a part of the back electrode 140 and the mounting table 181 are caused by warpage or strain of the silicon wafer 110. Even in a non-contact state, since electricity flows through the other part of the back electrode 140 that is in contact with the mounting table 181, the electrical characteristics of all the double-sided electrode solar cells must be accurately measured. Can do. As a result, an abnormal double-sided electrode type solar cell can be selected during the manufacturing process, and waste in the subsequent process can be suppressed.

以下、本実施形態の変形例について説明する。
図12に示すように、本実施形態の両面電極型太陽電池セル200においては、表面電極130が図中の上下方向に分離して設けられている。そのため、仮に、両面電極型太陽電池セル200の上方の部分において割れまたは欠けなどの異状がある場合でも、下方の部分の両面電極型太陽電池は正常に機能する。その逆に、両面電極型太陽電池セル200の下方の部分に割れまたは欠けなどの異状がある場合でも、上方の部分の両面電極型太陽電池は正常に機能する。
Hereinafter, modifications of the present embodiment will be described.
As shown in FIG. 12, in the double-sided electrode type solar battery cell 200 of the present embodiment, the surface electrode 130 is provided separately in the vertical direction in the figure. Therefore, even if there is an abnormality such as a crack or a chip in the upper part of the double-sided electrode type solar battery cell 200, the double-sided electrode type solar battery in the lower part functions normally. On the contrary, even when there is an abnormality such as a crack or a chip in the lower part of the double-sided electrode type solar battery cell 200, the double-sided electrode type solar battery in the upper part functions normally.

そこで、変形例の両面電極型太陽電池セル200aにおいては、セルの一部に異状があった場合に、表面電極130が分離している部分である他のスクライブ線210に沿って両面電極型太陽電池セル200aを分割して太陽電池片200Aと太陽電池片200Bとを形成する。その後、正常な太陽電池片200Aと正常な太陽電池片200Bとを接続することにより、両面電極型太陽電池セル200aを構成する。このようにするこにより、異状が発生した太陽電池片のみを廃棄して、正常な太陽電池片を有効利用することができるため、両面電極型太陽電池の歩留まりを向上できる。   Therefore, in the double-sided electrode type solar battery cell 200a of the modified example, when a part of the cell has an abnormality, the double-sided type solar cell along the other scribe line 210 where the surface electrode 130 is separated. The battery cell 200a is divided to form a solar battery piece 200A and a solar battery piece 200B. Then, the double-sided electrode type solar cell 200a is configured by connecting the normal solar cell piece 200A and the normal solar cell piece 200B. By doing so, only the solar cell piece in which an abnormality has occurred can be discarded and a normal solar cell piece can be used effectively, so that the yield of the double-sided electrode type solar cell can be improved.

図13は、変形例の両面電極型太陽電池セルの裏面側を示す平面図である。図13に示すように、変形例の両面電極型太陽電池セル200aにおいては、スクライブ線210上の一部に第3裏面電極143が形成されている。スクライブ線210は、両面電極型太陽電池セル200aをダイシングする際に、スクライブする中心位置である。   FIG. 13: is a top view which shows the back surface side of the double-sided electrode type photovoltaic cell of a modification. As shown in FIG. 13, in the double-sided electrode solar cell 200 a of the modification, a third back electrode 143 is formed on a part of the scribe line 210. The scribe line 210 is a center position for scribing when dicing the double-sided electrode type solar battery cell 200a.

言い換えると、分割前の両面電極型太陽電池用基板100の複数の太陽電池形成領域120の各々において、両面電極型太陽電池を複数の太陽電池片200A,200Bに分割可能なスクライブ線210が位置する。裏面電極140は、複数の太陽電池形成領域120の各々において、スクライブ線210上の一部、および複数の太陽電池片200A,200Bが形成される領域である複数の太陽電池片形成領域内に位置する。本実施形態においては、図13に示すように、裏面電極140は、スクライブ線210上の一部に位置する第3裏面電極143と、太陽電池片形成領域内に位置する第1裏面電極141と、スクライブ線121線上の一部に位置する第2裏面電極142とから構成されている。   In other words, in each of the plurality of solar cell formation regions 120 of the double-sided electrode type solar cell substrate 100 before the division, the scribe line 210 capable of dividing the double-sided electrode type solar cell into the plurality of solar cell pieces 200A and 200B is located. . In each of the plurality of solar cell formation regions 120, the back electrode 140 is positioned in a part on the scribe line 210 and in a plurality of solar cell piece formation regions that are regions where the plurality of solar cell pieces 200A and 200B are formed. To do. In the present embodiment, as shown in FIG. 13, the back electrode 140 includes a third back electrode 143 located on a part of the scribe line 210 and a first back electrode 141 located in the solar cell piece formation region. , And a second back electrode 142 located on a part of the scribe line 121.

複数の太陽電池片形成領域のうちで互いに隣接する太陽電池片形成領域に位置する第1裏面電極141同士は、スクライブ線210上の一部に位置する第3裏面電極143により繋がっている。図13に示すように、スクライブ線210上において、第3裏面電極143が位置している部分の長さL4は、第3裏面電極143が位置していない部分の長さ(L5+L6)より短くなるように、第3裏面電極143が形成されている。 Among the plurality of solar cell piece formation regions, the first back surface electrodes 141 located in the solar cell piece formation regions adjacent to each other are connected by the third back surface electrode 143 located in a part on the scribe line 210. As shown in FIG. 13, on the scribe line 210, the length L 4 of the portion where the third back electrode 143 is located is the length (L 5 + L 6) of the portion where the third back electrode 143 is not located. The third back electrode 143 is formed so as to be shorter.

上記の製造方法により、両面電極型太陽電池セルを製造することにより、両面電極型太陽電池セル200aを分割する際に切断される裏面電極140を第3裏面電極143のみにすることができる。図13に示すように、第3裏面電極143のスクライブ線210上に位置する長さL4は、裏面電極140がスクライブ線210上に位置していない部分の長さ(L5+L6)より短いため、切断される第3裏面電極143の面積は従来の裏面電極型太陽電池に比較して半分以下である。その結果、裏面電極140が切断されることにより発生するダスト層の剥離片の量を低減することができるため、この剥離片による両面電極型太陽電池が汚損されることを抑制できる。 By manufacturing a double-sided electrode type solar battery cell by the above manufacturing method, the back electrode 140 that is cut when the double-sided electrode type solar battery cell 200a is divided can be limited to the third back electrode 143 only. As shown in FIG. 13, the length L 4 of the third back electrode 143 located on the scribe line 210 is greater than the length (L 5 + L 6 ) of the portion where the back electrode 140 is not located on the scribe line 210. Since it is short, the area of the third back electrode 143 to be cut is less than half that of a conventional back electrode solar cell. As a result, it is possible to reduce the amount of delamination pieces of the dust layer generated by cutting the back electrode 140, so that it is possible to suppress the double-sided electrode type solar cell from being defaced by the delamination pieces.

また、互いに隣接する第1裏面電極141同士は、第3裏面電極143により繋がっているため、裏面電極140は全体的に導通されている。そのため、両面電極型太陽電池セル200aを分割する前に両面電極型太陽電池セル200aの電気特性を上述の測定器180を用いて測定する際に、両面電極型太陽電池セル200aの反りまたはひずみにより、裏面電極140の一部と載置台181とが非接触な状態となった場合においても、載置台181と接触している裏面電極140の他の部分を通じて電気が流れるため、全ての太陽電池片の電気特性を正確に測定することができる。その結果、異状な太陽電池片を製造工程の途中で選別して廃棄することができ、後工程のムダを抑制することができる。なお、太陽電池片同士の接合は、インターコネクタなどにより行なうことができる。   Moreover, since the 1st back surface electrode 141 which mutually adjoins is connected by the 3rd back surface electrode 143, the back surface electrode 140 is electrically connected entirely. Therefore, when measuring the electrical characteristics of the double-sided solar cell 200a using the measuring instrument 180 before dividing the double-sided solar cell 200a, due to warpage or strain of the double-sided solar cell 200a. Even when a part of the back electrode 140 and the mounting table 181 are not in contact with each other, electricity flows through the other part of the back electrode 140 that is in contact with the mounting table 181, so that all the solar cell pieces It is possible to accurately measure the electrical characteristics. As a result, the abnormal solar cell piece can be selected and discarded in the middle of the manufacturing process, and waste in the subsequent process can be suppressed. In addition, joining of solar cell pieces can be performed by an interconnector or the like.

以下、実験例として、本実施例に係る両面電極型太陽電池の製造方法で製造した両面電極型太陽電池セルと従来の製造方法で製造した両面電極型太陽電池セルとにおいて、両面電極型太陽電池のダスト層の剥離片による汚損の程度を比較した。   Hereinafter, as an experimental example, in a double-sided electrode type solar cell manufactured by the method for manufacturing a double-sided electrode type solar cell according to this example and a double-sided electrode type solar cell manufactured by a conventional manufacturing method, a double-sided electrode type solar cell The degree of fouling due to peeling pieces of the dust layer was compared.

実験例
本実施例の両面電極型太陽電池セルを以下の製造方法で作製した。まず、厚さ350μmのシリコンウエハ110をHNO3/HF混合溶液で処理することにより、シリコンウエハ110の両面合わせて10μm程度をエッチングして、シリコンウエハ110の表面の洗浄を行なった。次に、NaOH水溶液で異方性エッチングを行なうことにより、シリコンウエハ110の表面にテクスチャ構造と呼ばれる微細な凹凸形状を形成した。
Experimental Example The double-sided electrode type solar cell of this example was produced by the following manufacturing method. First, the surface of the silicon wafer 110 was cleaned by treating the silicon wafer 110 having a thickness of 350 μm with an HNO 3 / HF mixed solution to etch both sides of the silicon wafer 110 to about 10 μm. Next, by performing anisotropic etching with an aqueous NaOH solution, a fine uneven shape called a texture structure was formed on the surface of the silicon wafer 110.

その後、濃度が15g/Lである五酸化リンのイソプロピルアルコール溶液をシリコンウエハ110の表面に滴下し、スピンコーターにより均一に塗布した。そのシリコンウエハ110を900℃の高温炉中で15分間加熱することにより、n型半導体層150を形成した。   Thereafter, an isopropyl alcohol solution of phosphorus pentoxide having a concentration of 15 g / L was dropped onto the surface of the silicon wafer 110 and uniformly applied by a spin coater. The silicon wafer 110 was heated in a high temperature furnace at 900 ° C. for 15 minutes to form an n-type semiconductor layer 150.

次に、シリコンウエハ110をプラズマCVD装置の真空室内に搬入し、n型半導体層150上に反射防止膜160として、膜厚が約80nmの窒化シリコン膜を形成した。窒化シリコン膜の成膜時に真空室内に導入する原料ガスとしては、モノシラン、アンモニアおよび窒素を含むガスを用いた。   Next, the silicon wafer 110 was carried into a vacuum chamber of a plasma CVD apparatus, and a silicon nitride film having a thickness of about 80 nm was formed as an antireflection film 160 on the n-type semiconductor layer 150. A gas containing monosilane, ammonia and nitrogen was used as a source gas introduced into the vacuum chamber when forming the silicon nitride film.

その後、スクリーン印刷法によりシリコンウエハ110の裏面上にアルミニウムペーストを印刷し、150℃の温度雰囲気下で十分に乾燥させることにより、40μmの厚さのの裏面電極140を形成した。裏面電極140のパターンは、図13に示す変形例のパターン形状とした。   Thereafter, an aluminum paste was printed on the back surface of the silicon wafer 110 by a screen printing method and sufficiently dried in a temperature atmosphere of 150 ° C. to form a back electrode 140 having a thickness of 40 μm. The pattern of the back electrode 140 was the pattern shape of the modification shown in FIG.

次に、スクリーン印刷法によりシリコンウエハ110に製膜された反射防止膜160上に、銀粉末、ガラス粉末、有機質ビヒクルおよび有機溶媒を主成分とする銀ペーストを魚骨型のパターンで印刷し、150℃の温度で十分に乾燥させることにより、30μmの厚さの表面電極130を形成した。なお、表面電極130は、バスバー電極132(メイングリッド)とフィンガー電極131(サブグリッド)とから構成されており、フィンガー電極131とバスバー電極132とは直交している。   Next, a silver paste mainly composed of silver powder, glass powder, organic vehicle and organic solvent is printed in a fishbone pattern on the antireflection film 160 formed on the silicon wafer 110 by a screen printing method, By sufficiently drying at a temperature of 150 ° C., a surface electrode 130 having a thickness of 30 μm was formed. The surface electrode 130 is composed of a bus bar electrode 132 (main grid) and finger electrodes 131 (sub grid), and the finger electrodes 131 and the bus bar electrodes 132 are orthogonal to each other.

その後、近赤外線炉を用いてシリコンウエハ110を850℃の温度で10秒間焼成することにより、表面電極130をファイアスルーさせ、かつ、シリコンウエハ110と表面電極130との界面に裏面電界層170を形成して両面電極型太陽電池を作製した。   Thereafter, the silicon wafer 110 is baked at a temperature of 850 ° C. for 10 seconds using a near-infrared furnace to cause the front electrode 130 to fire through, and the back surface electric field layer 170 is formed at the interface between the silicon wafer 110 and the front electrode 130. Thus, a double-sided electrode type solar cell was produced.

最後に、シリコンウエハ110をダイシングソーを用いて分割した。ダイシングソーとしてブレードの厚さが30μmのものを用い、両面電極型太陽電池の受光面側から切断した。   Finally, the silicon wafer 110 was divided using a dicing saw. A dicing saw having a blade thickness of 30 μm was used and cut from the light-receiving surface side of the double-sided electrode type solar cell.

一方、比較例の両面電極型太陽電池セルの製造方法は、上記の本実施例の製造方法とは、裏面電極140をシリコンウエハ110の裏面の略全体に形成した点のみ異なる。   On the other hand, the manufacturing method of the double-sided electrode type solar cell of the comparative example is different from the manufacturing method of the above-described embodiment only in that the back electrode 140 is formed on substantially the entire back surface of the silicon wafer 110.

本実施例の両面電極型太陽電池セルと比較例の両面電極型太陽電池セルとを比較すると、比較例の太陽電池には、シリコンウエハ110を切断した際に発生した裏面電極140のダスト層の剥離片が受光面側に付着して外観上汚れて見えたのに対し、本実施例にはそのような問題が発生しなかったことが確認された。   When the double-sided electrode type solar battery cell of this example and the double-sided electrode type solar battery cell of the comparative example are compared, the solar battery of the comparative example has a dust layer of the back electrode 140 generated when the silicon wafer 110 is cut. It was confirmed that such a problem did not occur in this example, whereas the peeled piece adhered to the light receiving surface side and looked dirty.

なお、今回開示した上記実施形態はすべての点で例示であって、限定的な解釈の根拠となるものではない。したがって、本発明の技術的範囲は、上記した実施形態のみによって解釈されるものではなく、特許請求の範囲の記載に基づいて画定される。また、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。   In addition, the said embodiment disclosed this time is an illustration in all the points, Comprising: It does not become a basis of limited interpretation. Therefore, the technical scope of the present invention is not interpreted only by the above-described embodiments, but is defined based on the description of the scope of claims. Further, all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of the claims are included.

100 両面電極型太陽電池用基板、110 シリコンウエハ、111 表面、112 裏面、120 太陽電池形成領域、121,210 スクライブ線、130 表面電極、131 フィンガー電極、132 バスバー電極、140 裏面電極、141 第1裏面電極、142 第2裏面電極、143 第3裏面電極、150 n型半導体層、160 反射防止膜、170 裏面電界層、180 測定器、181 載置台、182 測定端子、183,184 接続線、200,200a 両面電極型太陽電池セル、200A,200B 太陽電池片。   100 double-sided electrode type solar cell substrate, 110 silicon wafer, 111 surface, 112 back surface, 120 solar cell formation region, 121, 210 scribe line, 130 surface electrode, 131 finger electrode, 132 bus bar electrode, 140 back electrode, 141 first Back electrode, 142 Second back electrode, 143 Third back electrode, 150 n-type semiconductor layer, 160 antireflection film, 170 back surface electric field layer, 180 measuring instrument, 181 mounting table, 182 measuring terminal, 183, 184 connection line, 200 , 200a Double-sided electrode solar cell, 200A, 200B solar cell piece.

Claims (5)

複数の両面電極型太陽電池が形成された両面電極型太陽電池用基板であって、
シリコンウエハと、
前記シリコンウエハの一方の主表面側に位置する表面電極と、
前記シリコンウエハの他方の主表面側に位置する裏面電極と
を備え、
前記表面電極は、前記シリコンウエハにおいて前記複数の両面電極型太陽電池が形成される領域である複数の太陽電池形成領域内に位置し、
前記複数の太陽電池形成領域の各々は、スクライブ線を境界にして互いに間隔を置いて位置し、
前記裏面電極は、前記スクライブ線上の一部および前記複数の太陽電池形成領域内に位置し、
前記複数の太陽電池形成領域のうちで互いに隣接する太陽電池形成領域に位置する裏面電極同士は、前記スクライブ線上の一部に位置する裏面電極により繋がり、
前記スクライブ線上において、前記裏面電極が位置している部分の長さは、前記裏面電極が位置していない部分の長さより短い、両面電極型太陽電池用基板。
A double-sided electrode type solar cell substrate in which a plurality of double-sided electrode type solar cells are formed,
A silicon wafer;
A surface electrode located on one main surface side of the silicon wafer;
A back electrode located on the other main surface side of the silicon wafer,
The surface electrode is located in a plurality of solar cell formation regions that are regions where the plurality of double-sided electrode solar cells are formed on the silicon wafer,
Each of the plurality of solar cell formation regions is located at a distance from each other with a scribe line as a boundary,
The back electrode is located in a part on the scribe line and the plurality of solar cell formation regions,
Among the plurality of solar cell forming regions, the back electrodes located in the solar cell forming regions adjacent to each other are connected by the back electrode located in a part on the scribe line,
On the scribe line, a double-sided electrode type solar cell substrate, wherein the length of the portion where the back electrode is located is shorter than the length of the portion where the back electrode is not located.
前記複数の太陽電池形成領域の各々において、前記両面電極型太陽電池を複数の太陽電池片に分割可能な他のスクライブ線が位置し、
前記裏面電極は、前記複数の太陽電池形成領域の各々において、前記他のスクライブ線上の一部、および、前記複数の太陽電池片が形成される領域である複数の太陽電池片形成領域内に位置し、
前記複数の太陽電池片形成領域のうちで互いに隣接する太陽電池片形成領域に位置する裏面電極同士は、前記他のスクライブ線上の一部に位置する裏面電極により繋がり、
前記他のスクライブ線上において、前記裏面電極が位置している部分の長さは、前記裏面電極が位置していない部分の長さより短い、請求項1に記載の両面電極型太陽電池用基板。
In each of the plurality of solar cell formation regions, other scribe lines that can divide the double-sided electrode type solar cell into a plurality of solar cell pieces are located,
The back electrode is located in each of the plurality of solar cell formation regions, a part on the other scribe line, and a plurality of solar cell piece formation regions that are regions where the plurality of solar cell pieces are formed. And
Among the plurality of solar cell piece formation regions, the back electrode located in the solar cell piece formation region adjacent to each other is connected by the back electrode located in a part on the other scribe line,
2. The double-sided electrode solar cell substrate according to claim 1, wherein, on the other scribe line, the length of the portion where the back electrode is located is shorter than the length of the portion where the back electrode is not located.
請求項1または2に記載の太陽電池用基板の一部から形成される、両面電極型太陽電池セル。   A double-sided electrode type solar cell formed from a part of the solar cell substrate according to claim 1. シリコンウエハの一方の主表面側に表面電極を形成する工程と、
前記シリコンウエハの他方の主表面側に裏面電極を形成する工程と、
前記表面電極と前記裏面電極との間の電気特性を測定する工程と、
前記シリコンウエハをスクライブ線に沿って分割する工程と
を備え、
前記表面電極を形成する前記工程において、前記スクライブ線に周囲を囲まれて独立した複数の太陽電池形成領域内に前記表面電極を形成し、
前記裏面電極を形成する前記工程において、前記スクライブ線上の一部および前記複数の太陽電池形成領域内に前記裏面電極を形成し、かつ、前記スクライブ線上において、前記裏面電極が位置している部分の長さが、前記裏面電極が位置していない部分の長さより短くなるようにして、前記複数の太陽電池形成領域のうちで互いに隣接する太陽電池形成領域に位置する裏面電極同士を前記スクライブ線上の一部に位置する裏面電極で繋ぎ、
前記スクライブ線に沿って分割する前記工程において、前記スクライブ線上の一部に位置する前記裏面電極を切断する、両面電極型太陽電池セルの製造方法。
Forming a surface electrode on one main surface side of the silicon wafer;
Forming a back electrode on the other main surface side of the silicon wafer;
Measuring electrical characteristics between the front electrode and the back electrode;
Dividing the silicon wafer along a scribe line,
In the step of forming the surface electrode, the surface electrode is formed in a plurality of independent solar cell formation regions surrounded by the scribe line,
In the step of forming the back electrode, the back electrode is formed in a part on the scribe line and in the plurality of solar cell formation regions, and the part where the back electrode is located on the scribe line The back electrodes positioned in the solar cell forming regions adjacent to each other among the plurality of solar cell forming regions are arranged on the scribe line so that the length is shorter than the length of the portion where the back electrode is not positioned. Connect with the back electrode located in a part,
In the step of dividing along the scribe line, the method for manufacturing a double-sided electrode type solar cell, wherein the back electrode located at a part of the scribe line is cut.
前記スクライブ線に沿って分割する前記工程によって作製された両面電極型太陽電池セルの電気特性を測定する工程と、
前記両面電極型太陽電池セルを他のスクライブ線に沿って分割することにより複数の太陽電池片を形成する工程と、
前記複数の太陽電池片のうちの少なくとも2つを接続することにより両面電極型太陽電池セルを構成する工程と
をさらに備え、
前記裏面電極を形成する前記工程において、前記他のスクライブ線上の一部および、前記複数の太陽電池片が形成される領域である複数の太陽電池片形成領域内に前記裏面電極を形成し、かつ、前記他のスクライブ線上において、前記裏面電極が位置している部分の長さが、前記裏面電極が位置していない部分の長さより短くなるようにして、前記複数の太陽電池片形成領域のうちで互いに隣接する太陽電池片形成領域に位置する裏面電極同士を前記他のスクライブ線上の一部に位置する裏面電極で繋ぎ、
前記他のスクライブ線に沿って分割する前記工程において、前記他のスクライブ線上の一部に位置する前記裏面電極を切断する、請求項4に記載の両面電極型太陽電池セルの製造方法。
Measuring the electrical characteristics of the double-sided electrode solar cell produced by the step of dividing along the scribe line;
Forming a plurality of solar cell pieces by dividing the double-sided electrode type solar cells along other scribe lines; and
Further comprising a step of constituting a double-sided electrode type solar cell by connecting at least two of the plurality of solar cell pieces,
In the step of forming the back electrode, the back electrode is formed in a part on the other scribe line and in a plurality of solar cell piece forming regions which are regions where the plurality of solar cell pieces are formed, and The length of the portion where the back electrode is located on the other scribe line is shorter than the length of the portion where the back electrode is not located, among the plurality of solar cell piece forming regions. In the solar cell piece forming region adjacent to each other, the back electrodes are connected with the back electrodes located in a part on the other scribe line,
5. The method for manufacturing a double-sided electrode type solar cell according to claim 4, wherein in the step of dividing along the other scribe line, the back electrode located at a part of the other scribe line is cut.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2015065350A (en) * 2013-09-25 2015-04-09 富士電機株式会社 Semiconductor device

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