JP2012112779A5 - - Google Patents

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上記目的を達成するために、この発明の第1の局面におけるスクリーンマスクの計測装置は、スクリーンマスクの表面を撮像して画像を取得する撮像部と、撮像部からスクリーンマスクの表面までの距離をスクリーンマスクの撓み変形に応じて測定する測定部と、測定部により測定された距離に基づいて、撮像された画像に基づくデータを実寸法に換算する換算係数を調整する制御部とを備える。
この発明の第2の局面における印刷装置は、スクリーンマスクを固定する固定部と、スクリーンマスクの表面を撮像して画像を取得する撮像部と、撮像部からスクリーンマスクの表面までの距離をスクリーンマスクの撓み変形に応じて測定する測定部と、撮像部により表面を撮像するマスクスキャン動作を行う際に、測定部により測定された距離に基づいて、撮像された画像に基づくデータを実寸法に換算する換算係数を調整する制御部とを備える。

Claims (12)

  1. スクリーンマスクの表面を撮像して画像を取得する撮像部と、
    前記撮像部から前記スクリーンマスクの表面までの距離を前記スクリーンマスクの撓み変形に応じて測定する測定部と、
    前記測定部により測定された前記距離に基づいて、撮像された前記画像に基づくデータを実寸法に換算する換算係数を調整する制御部とを備える、スクリーンマスクの計測装置。
  2. 前記換算係数は、前記撮像部と被写体との距離が基準距離で撮像された画像に基づくデータをもとに前記被写体の実寸法を換算する基準換算係数を含み、
    前記制御部は、前記測定部により測定された前記距離および前記基準換算係数に基づいて前記換算係数を調整する制御を行うように構成されている、請求項1に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  3. 前記換算係数は、前記測定部により測定された前記距離および前記基準換算係数に基づいて調整された調整換算係数をさらに含み、
    前記調整換算係数は、前記基準換算係数と、前記基準距離と前記撮像部から撮像中の前記スクリーンマスクの表面までの距離との差分に補正係数を乗じて得られる調整値との和として規定されている、請求項2に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  4. 前記補正係数は、予め定められた互いに異なる複数の参照距離間の差分と、前記複数の参照距離の各々に対応して予め設定された参照換算係数間の差分との比として定められた定数である、請求項3に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  5. 前記スクリーンマスクを固定する固定部をさらに備え、
    前記撮像部は、前記スクリーンマスクの表面に沿って複数の撮像位置に移動して複数の撮像領域を撮像可能に構成されており、
    前記制御部は、前記固定部から離間した前記スクリーンマスクの少なくとも略中央部に対応する撮像位置での撮像領域において、前記撮像部から撮像中の前記スクリーンマスクの表面までの距離に基づいて前記換算係数を調整する制御を行うように構成されている、請求項1〜4のいずれか1項に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  6. 前記制御部は、前記スクリーンマスク上に設定された複数の撮像領域の各々において、前記撮像部から撮像中の前記スクリーンマスクの表面までの距離に基づいて前記換算係数を調整することにより、前記撮像部が前記撮像領域毎に撮像した画像に基づくデータの実寸法を得る制御を行うように構成されている、請求項5に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  7. 前記制御部は、1つの前記撮像領域において、前記撮像部から前記スクリーンマスクの表面までの距離を測定した後、前記スクリーンマスクの表面を撮像するとともに、測定された前記距離に基づいて前記換算係数を調整して撮像された画像に基づくデータを実寸法に換算する一連の処理を行うとともに、各々の前記撮像領域において、前記一連の処理を繰り返す制御を行うように構成されている、請求項6に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  8. 前記制御部は、前記複数の撮像領域のうちの第1撮像領域で撮像された第1画像と、前記第1撮像領域に隣接する第2撮像領域で撮像された第2画像との一部がオーバラップするように前記撮像部を移動させる制御を行うように構成されている、請求項5〜7のいずれか1項に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  9. 前記撮像部が取り付けられ、前記スクリーンマスクの表面に沿って移動可能なヘッド部をさらに備え、
    前記測定部は、前記ヘッド部に固定されることにより、前記撮像部と一体的に移動した状態で前記撮像部から前記スクリーンマスクの表面までの距離を測定するように構成されている、請求項1〜8のいずれか1項に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  10. 前記測定部は、半導体レーザ装置から出射されたレーザ光により対象物の一点を指し示すレーザポインタ、または、半導体レーザ装置から出射されたレーザ光を線状に照射するラインレーザを含み、
    前記測定部は、前記撮像部が撮像する前記レーザポインタまたは前記ラインレーザから出射されたレーザ光の前記スクリーンマスク上の照射点位置に基づいて、前記撮像部から前記スクリーンマスクの表面までの距離を測定するように構成されている、請求項9に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  11. 前記撮像部の光軸は、前記スクリーンマスクにおける前記撮像部が撮像する撮像領域の略中央部に配置されており、
    前記レーザポインタまたは前記ラインレーザは、前記レーザポインタまたは前記ラインレーザから出射されるレーザ光が、前記撮像領域に対応する前記スクリーンマスクの表面の中央部近傍に照射されるように前記ヘッド部に固定されている、請求項10に記載のスクリーンマスクの計測装置。
  12. スクリーンマスクを固定する固定部と、
    前記スクリーンマスクの表面を撮像して画像を取得する撮像部と、
    前記撮像部から前記スクリーンマスクの表面までの距離を前記スクリーンマスクの撓み変形に応じて測定する測定部と、
    前記撮像部により前記表面を撮像するマスクスキャン動作を行う際に、前記測定部により測定された前記距離に基づいて、撮像された前記画像に基づくデータを実寸法に換算する換算係数を調整する制御部とを備える、印刷装置。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015125173A1 (ja) * 2014-02-19 2015-08-27 ヤマハ発動機株式会社 スクリーン印刷用検査データの作成ユニット、スクリーン印刷装置およびスクリーン印刷用検査データの作成方法
JP6323160B2 (ja) * 2014-05-15 2018-05-16 富士通株式会社 検査装置、検査方法及び検査プログラム
EP3258213A4 (en) * 2015-02-13 2018-03-07 Ricoh Company, Ltd. Measurement tool, calibration method, calibration device, and program
BR112017022277B1 (pt) * 2015-04-22 2022-07-26 Nippon Steel Corporation Aparelho e método para medição de formato
CN105954974A (zh) * 2016-06-27 2016-09-21 深圳劲嘉集团股份有限公司 丝网版激光制版设备及其制版方法
CN111050481B (zh) * 2019-12-31 2021-05-28 重庆凯歌电子股份有限公司 Pcb板墓碑效应印刷方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0587544A (ja) * 1991-09-27 1993-04-06 Toshiba Corp 欠陥検査装置
JPH10337851A (ja) * 1997-06-09 1998-12-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd スクリーン印刷検査用基準データの作成方法
JP3977668B2 (ja) * 2002-03-01 2007-09-19 ヤマハ発動機株式会社 部材載装機器
JP4100089B2 (ja) * 2002-08-19 2008-06-11 松下電器産業株式会社 印刷検査用データ作成方法
JP2005186328A (ja) * 2003-12-24 2005-07-14 Yamaha Motor Co Ltd スクリーン印刷機、スクリーン印刷検査装置およびスクリーン印刷検査方法
JP2006247942A (ja) * 2005-03-09 2006-09-21 Hitachi Communication Technologies Ltd クリーム半田印刷機
JP5058667B2 (ja) * 2007-04-27 2012-10-24 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法
JP2009236849A (ja) * 2008-03-28 2009-10-15 Honda Motor Co Ltd ワーク測定方法

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