JP2012108863A - 内部クロック周波数制御回路及びこれを利用する半導体装置 - Google Patents

内部クロック周波数制御回路及びこれを利用する半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2012108863A
JP2012108863A JP2011071341A JP2011071341A JP2012108863A JP 2012108863 A JP2012108863 A JP 2012108863A JP 2011071341 A JP2011071341 A JP 2011071341A JP 2011071341 A JP2011071341 A JP 2011071341A JP 2012108863 A JP2012108863 A JP 2012108863A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
external
semiconductor device
signal
mode register
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011071341A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5795482B2 (ja
Inventor
Bon-Ku Ki
ボン ク キ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SK Hynix Inc
Original Assignee
Hynix Semiconductor Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hynix Semiconductor Inc filed Critical Hynix Semiconductor Inc
Publication of JP2012108863A publication Critical patent/JP2012108863A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5795482B2 publication Critical patent/JP5795482B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • G11C7/222Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device

Landscapes

  • Dram (AREA)
  • Microcomputers (AREA)
  • Pulse Circuits (AREA)

Abstract

【課題】半導体装置の外部から入力されるコマンド(命令)及びアドレスのセットアップ/ホールドマージンを増加させることができる内部クロック周波数制御回路及びこれを利用する半導体装置を提供する。
【解決手段】本発明は、モードレジスタセット制御信号を受信してモードレジスタセット信号を出力するモードレジスタセットと、モードレジスタセット信号がイネーブルされて外部クロックと同一の周波数のデータ処理用クロックの予め設定された周期が経過するとイネーブル信号を生成する遅延部と、イネーブル信号がイネーブルされると外部から入力される同期命令をデコーディングして分周開始信号を生成する分周命令デコーダと、分周開始信号に応答して外部クロックと同一の周波数の選択クロックを出力するか、または、外部クロックより周波数が低いクロックを選択クロックとして出力する分周選択部とを含む。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体集積回路に関し、特にクロック周期制御回路及び半導体装置に関することである。
一般に、半導体装置は外部から入力されるクロックに同期して動作する。半導体装置を高速で動作させるために、クロックの周波数を増加させている。したがって、周波数が高いクロックに同期して動作するように半導体装置は設計されている。
半導体装置は、基本的に外部から入力されるクロックに同期してデータ、コマンド(command)及びアドレス(address)を受信する。クロックに同期して入力されるデータ、コマンド及びアドレスは、クロックの周波数が増加するほどデータ、コマンド及びアドレスのセットアップ(set−up)/ホールド(hold)マージン(margin)を減少せざるを得ない。したがって、半導体装置の正確な動作のためには、外部から入力される前記信号のセットアップ/ホールドマージンの確保が必要である。
特開2010−182350号公報
本発明の目的は、半導体装置の外部から入力されるコマンド(命令)及びアドレスのセットアップ/ホールドマージンを増加させることができる内部クロック周波数制御回路及びこれを利用する半導体装置を提供することにある。
本発明の実施形態による内部クロック周波数制御回路は、モードレジスタセット制御信号を受信してモードレジスタセット信号を出力するモードレジスタセットと、前記モードレジスタセット信号がイネーブルされて予め設定された周期が経過すればイネーブル信号を生成する遅延部と、前記イネーブル信号がイネーブルされると外部から入力される同期命令をデコーディングして分周開始信号を生成する分周命令デコーダと、前記分周開始信号に応答して前記外部クロックと同一の周波数の選択クロックを出力するか、または、前記外部クロックより周波数が低いクロックを前記選択クロックとして出力する分周選択部を含む。
本発明の実施形態による内部クロック周波数制御回路を利用する半導体装置は、モードレジスタセット制御信号及び同期命令に応答して、外部クロックと同一の周波数または異なる周波数のクロックを選択クロックとして出力する内部クロック周波数制御回路と、前記外部クロックと同一の周波数のクロックに応答して外部から入力される外部データを内部データとして出力するデータ処理部と、前記選択クロックに応答して外部から入力される外部命令及び外部アドレスを内部命令及び内部アドレスとして出力する命令アドレス処理部を含む。
本発明による内部クロック周波数制御回路及びこれを用いる半導体装置は、外部から入力されるコマンド及びアドレスを外部クロックの周波数より低い周波数のクロックに応答して受信することでき、外部から入力される信号のセットアップ/ホールドマージンを増加させることができる。
本発明の一実施形態に係る半導体装置の概略構成図である。 図1の半導体装置における遅延部の概略構成図である。 図1の半導体装置における分周選択部の概略構成図である。 図1の半導体装置におけるタイミング図である。
本発明の一実施形態に係る半導体装置は、図1に示すように、クロックバッファ10、第1クロック制御部20、第2クロック制御部30、命令アドレス処理部40、データ処理部50及び内部クロック周波数制御回路100を含む。
前記クロックバッファ10は、外部クロックCLK_extをバッファリングして内部クロックCLK_intを生成する。
前記第1クロック制御部20は、前記内部クロックCLK_intを受信してデータ処理用クロックCLK_dataを生成する。例えば、前記第1クロック制御部20は、半導体装置の動作により前記内部クロックCLK_intを前記データ処理用クロックCLK_dataとして出力するか、または、前記データ処理用クロックCLK_dataを特定のレベルで固定させる。さらに詳細に説明すれば、前記第1クロック制御部20は、半導体装置が外部からデータを受信する動作を遂行する場合、前記内部クロックCLK_intを前記データ処理用クロックCLK_dataとして出力し、半導体装置が外部からデータを受信する動作を遂行しない場合、前記データ処理用クロックCLK_dataを特定のレベルで固定させる。
前記第2クロック制御部30は、選択クロックCLK_selを受信して命令アドレス処理用クロックCLK_comaddを生成する。例えば、前記第2クロック制御部30は、半導体装置の動作により前記選択クロックCLK_selを前記命令アドレス処理用クロックCLK_comaddとして出力するか、または、前記命令アドレス処理用クロックCLK_comaddを特定のレベルで固定させる。さらに詳細に説明すれば、前記第2クロック制御部30は、半導体装置が外部から命令またはアドレスを受信する動作を遂行する場合、前記選択クロックCLK_selを前記命令アドレス処理用クロックCLK_comaddとして出力し、半導体装置が外部から命令またはアドレスを受信する動作を遂行しない場合、前記命令アドレス処理用クロックCLK_comaddを特定のレベルで固定させる。
前記命令アドレス処理部40は、前記命令アドレス処理用クロックCLK_comaddに応答して外部から入力される外部命令command及び外部アドレスaddressを内部命令command_int及び内部アドレスaddress_intとして出力する。
前記データ処理部50は、前記データ処理用クロックCLK_dataに応答して外部から入力される外部データDATAを内部データDATA_intとして出力する。
前記内部クロック周波数制御回路100は、モードレジスタセット制御信号MRS_ctrl及び同期命令SYNCに応答して、前記外部クロックCLK_extと同一の周波数のクロックまたは異なる周波数のクロックを前記選択クロックCLK_selとして出力する。
前記内部クロック周波数制御回路100は、モードレジスタセット制御信号MRS_ctrl及び同期命令SYNCに応答して、外部クロックCLK_extと同一の周波数のクロックまたは異なる周波数のクロックを選択クロックCLK_selとして出力する。
前記内部クロック周波数制御回路100は、モードレジスタセット110、遅延部120、分周命令デコーダ130及び分周クロック選択部140を含む。
前記モードレジスタセット110は、前記モードレジスタセット制御信号MRS_ctrlを受信して、モードレジスタセット信号MRS_signalを出力する。例えば、前記モードレジスタセット110は、前記モードレジスタセット制御信号MRS_ctrlに応答して、半導体装置が前記外部クロックCLK_extの半周期または予め設定された周期(例えば、1周期)の大きさに対応するパルス幅を有する前記外部命令command及び前記外部アドレスaddressを受信するかを判別して、前記モードレジスタセット信号MRS_signalをイネーブルさせる。
前記遅延部120は、前記モードレジスタセット信号MRS_signalがイネーブルされて前記データ処理用クロックCLK_dataの予め設定された周期(例えば、4周期)が経過するとイネーブル信号en_signalをイネーブルさせる。例えば、前記遅延部120は、前記データ処理用クロックCLK_dataの予め設定された周期が経過すると前記モードレジスタセット信号MRS_signalを前記イネーブル信号en_signalとして出力する。
前記遅延部120は、図2に示すように、直列に接続された第1ないし第4フリップフロップFF11、FF12、FF13、FF14を含む。前記第1ないし第4フリップフロップFF11、FF12、FF13、FF14の各々は、前記データ処理用クロックCLK_dataを受信する。前記第1ないし第4フリップフロップFF11、FF12、FF13、FF14のうち、最初のフリップフロップ、すなわち、前記第1フリップフロップFF11は、前記モードレジスタセット信号MRS_signalを受信する。また、前記第1ないし第4フリップフロップFF11、FF12、FF13、FF14のうち、最後のフリップフロップ、すなわち、前記第4フリップフロップFF14は、前記イネーブル信号en_signalを出力する。直列に接続された4個のフリップフロップFF11、FF12、FF13、FF14が、前記データ処理用クロックCLK_dataに応答して、前記モードレジスタセット信号MRS_signalをシフトさせるので、前記データ処理用クロックCLK_dataの4周期が経過すると、前記モードレジスタセット信号MRS_signalが前記イネーブル信号en_signalとして出力される。
前記分周命令デコーダ130は、前記イネーブル信号en_signalがイネーブルされると前記同期命令SYNCをデコーディングして分周開始信号DIV_startを生成する。例えば、前記分周命令デコーダ130は、前記イネーブル信号en_signalがイネーブルされるとアクティブにされて、前記同期命令SYNCをデコーディングして、デコーディングした結果が前記内部クロックCLK_intを分周させる命令であると前記分周開始信号DIV_startをイネーブルさせる。前記同期命令SYNCは、半導体装置の外部のコントローラから出力されるチップ選択信号(CS)、カラムアドレスストローブ信号(CAS、column address strobe)、ローアドレスストローブ信号(RAS、row address strobe)及びライトイネーブル信号(WE、write enable)を含み、例えば、チップ選択信号(CS)がローレベル、カラムアドレスストローブ信号(CAS)がハイレバル、ローアドレスストローブ信号(RAS)がハイレバル、ライトイネーブル信号(WE)がハイレバルの場合、半導体装置は同期命令SYNCで認識する。
前記分周選択部140は、前記分周開始信号DIV_startに応答して前記内部クロックCLK_intを分周させて前記選択クロックCLK_selとして出力するか、または、前記内部クロックCLK_intを前記選択クロックCLK_selとして出力する。
前記分周選択部140は、図3に示すように、クロック分周部141及びクロック選択部142を含む。
前記クロック分周部141は、前記内部クロックCLK_intを分周させて(例えば、2分周)分周クロックCLK_divを生成する。
前記クロック分周部141は、第5フリップフロップFF21及びインバータIV21を含む。前記第5フリップフロップFF21は、前記内部クロックCLK_intに応答して入力端に入力された信号を出力端に出力する。前記インバータIV21は、前記第5フリップフロップFF21の出力端、すなわち、出力信号を受信し、反転させて前記第5フリップフロップFF21の入力端、すなわち、入力信号として出力する。この時、前記第5フリップフロップFF21の出力信号が前記分周クロックCLK_divである。
前記クロック選択部142は、前記分周開始信号Div_startに応答して、前記内部クロックCLK_intまたは前記分周クロックCLK_divを前記選択クロックCLK_selとして出力する。例えば、前記クロック選択部142は、前記分周開始信号Div_startがイネーブルされると前記分周クロックCLK_divを前記選択クロックCLK_selとして出力して、前記分周開始信号Div_startがディスエーブルされると、前記内部クロックCLK_intを前記選択クロックCLK_selとして出力する。
このように構成された本発明の実施形態による半導体装置の動作を図1ないし図3を参照して説明すると次の通りである。
モードレジスタセット110は、半導体装置の動作に関する情報を保存する回路として、一般的に使われている。このような前記モードレジスタセット110に外部クロックCLK_extの半周期に該当する大きさのパルス幅を有する外部命令command及び外部アドレスaddressを受信するか、または、前記外部クロックCLK_extの一周期に該当する大きさのパルス幅を有する前記外部命令command及び外部アドレスaddressを受信するかが情報として保存されている。
このような前記モードレジスタセット110に前記モードレジスタ設定制御信号MRS_ctrlがイネーブルされて入力されると、前記モードレジスタセット110はモードレジスタセット信号MRS_signalをイネーブルさせる。
遅延部120は、内部クロックCLK_intと同一の周波数を有するデータ処理用クロックCLK_dataの4周期が経過すると、イネーブルされた前記モードレジスタセット信号MRS_signalをイネーブル信号en_signalとして出力する。
分周命令デコーダ130は、前記イネーブル信号en_signalがイネーブルされるとアクティブにされて同期命令SYNCをデコーディングする。この時、仮りに、前記同期命令SYNCが前記内部クロックCLK_intを分周させる命令であると、前記分周命令デコーダ130は、分周開始信号Div_startをイネーブルさせる。
分周選択部140は、前記内部クロックCLK_intを分周させて分周クロックCLK_divを生成して、前記分周開始信号Div_startがイネーブルされると前記分周クロックCLK_divを選択クロックCLK_selとして出力して、前記分周開始信号Div_startがディスエーブルされると前記内部クロックCLK_intを前記選択クロックCLK_selとして出力する。
前記内部クロックCLK_intは、第1クロック制御部20に入力されて前記データ処理用クロックCLK_dataとしてデータ処理部50に出力される。
前記データ処理部50は、前記データ処理用クロックCLK_dataに応答して外部から入力される外部データDATAを受信して内部データDATA_intを生成する。
前記選択クロックCLK_selは、第2クロック制御部30に入力されて命令アドレス処理部40に命令アドレス処理用クロックCLK_comaddとして出力される。
前記命令アドレス処理部40は、前記命令アドレス処理用クロックCLK_comaddに応答して外部コマンドcommand及び外部アドレスaddressを内部コマンドcommand_int及び内部アドレスaddress_intとして出力する。
本発明は、モードレジスタセット制御信号MRS_ctrl及び同期命令SYNCに応答して内部クロックCLK_intを分周させて、分周されたクロックCLK_divまたは内部クロックCLK_selのうち、一つを選択クロックCLK_selとして出力して、選択クロックCLK_selの出力のタイミングを決定する。選択クロックCLK_selは、命令アドレス処理用クロックCLK_comaddとして利用される。
本発明は、外部クロックCLK_extと同一の周波数を有する命令アドレス処理用クロックCLK_comaddに応答して外部命令及び外部アドレスcommand and addressを受信して、内部命令及び内部アドレスcommand_int and address_intとして出力できる。また、本発明は、外部クロックCLK_extより低い周波数のクロック(外部クロックCLK_extを分周させた分周クロックCLK_divによって生成された命令アドレス処理用クロックCLK_comadd)に応答して、外部命令及び外部アドレスcommand and addressを受信して内部命令及び内部アドレスcommand_int and address_intとして出力できる。
一方、本発明は、外部クロックCLK_extと同一の周波数を有するデータ処理用クロックCLK_dataに応答して外部データDATAを受信して、内部データ(DATA_int)として出力できる。
したがって、本発明は、外部データを受信する場合、外部クロックと同一の周波数のクロックを利用して、外部命令及びアドレスを受信する場合外部クロックと同一の周波数または外部クロックより低い周波数のクロックを選択できる。
一般的な半導体装置は、外部から入力される外部データ、外部命令及び外部アドレスを外部クロックの立ち上がりのタイミングに受信して、外部クロックの立ち下がりのタイミングに内部信号として出力する。したがって、一般的な半導体装置に入力される外部データ、外部命令及び外部アドレスの大きさは、外部クロックの半周期と同一の大きさを有する。したがって、外部クロックの周波数が増加するほど外部データ、外部命令及び外部アドレスの大きさは小さくなり、これによって一般的な半導体装置は、外部クロックの周波数が増加するほど外部データ、外部命令及び外部アドレスに対するセットアップ/ホールドマージンが減少する。
本発明は、外部データを外部クロックと同一の周波数のクロックに応答して受信して、外部命令及び外部アドレスを外部クロックと同一の周波数のクロックまたは外部クロックより低い周波数のクロックに応答して受信する。したがって、本発明は、外部クロックの半周期の大きさである外部データを受信して、半導体装置を利用する使用者または設定された環境により外部クロックの半周期より大きい外部命令及び外部アドレスを受信することができる。本発明は、図4に示すように、従来技術のように、すなわち、(B)の場合のように外部命令及び外部アドレスに対するセットアップ/ホールドマージンを維持させることもでき、(A)の場合のように外部命令及び外部アドレスに対するセットアップ/ホールドマージンを増加させることができる。
結局、本発明は、データ入力速度を従来と同一に維持しながらも、外部命令及び外部アドレスのセットアップ/ホールドマージンを増加させることができる。
このように、本発明の属する技術分野の当業者は、本発明がその技術的思想や必須的特徴を変更せずに、他の具体的な形態で実施され得るということが理解できる。したがって、以上で記述した実施形態は、あらゆる面で例示的なものであり、限定的なものではないものと理解しなければならない。本発明の範囲は、上記の詳細な説明よりは、後述する特許請求の範囲によって表わされ、特許請求の範囲の意味及び範囲、そして、その等価概念から導き出されるあらゆる変更または変形された形態が本発明の範囲に含まれるものと解釈されるべきである。
10 クロックバッファ
20 第1クロック制御部
30 第2クロック制御部
40 命令アドレス処理部
50 データ処理部50
100 内部クロック周波数制御回路
110 モードレジスタセット
120 遅延部
130 分周命令デコーダ
140 分周クロック選択部
141 クロック分周部
142 クロック選択部

Claims (17)

  1. モードレジスタセット制御信号を受信してモードレジスタセット信号を出力するモードレジスタセットと、
    前記モードレジスタセット信号がイネーブルされて予め設定された周期が経過するとイネーブル信号を生成する遅延部と、
    前記イネーブル信号がイネーブルされると外部から入力される同期命令をデコーディングして分周開始信号を生成する分周命令デコーダと、
    前記分周開始信号に応答して外部クロックと同一の周波数の選択クロックを出力するか、または、前記外部クロックより周波数が低いクロックを前記選択クロックとして出力する分周選択部とを備えることを特徴とする、半導体装置の内部クロック周波数制御回路。
  2. 前記モードレジスタセットは、
    前記モードレジスタセット制御信号に応答して、半導体装置が前記外部クロックの半周期の大きさに対応するパルス幅を有する外部命令及び外部アドレスを受信するか、または、前記外部クロックの一周期の大きさに対応するパルス幅を有する前記外部命令及び外部アドレスを受信するかを判別することを特徴とする、請求項1に記載の半導体装置の内部クロック周波数制御回路。
  3. 前記遅延部は、
    前記外部クロックと同一の周波数のデータ処理用クロックの予め設定された周期が経過すると前記モードレジスタセット信号を前記イネーブル信号として出力することを特徴とする、請求項1に記載の半導体装置の内部クロック周波数制御回路。
  4. 前記遅延部は、
    複数個のフリップフロップが直列に接続されて、
    各フリップフロップは前記データ処理用クロックを受信して、前記直列に接続されたフリップフロップのうち、最初のフリップフロップが前記モードレジスタセット信号を受信して、最後のフリップフロップが前記イネーブル信号を出力することを特徴とする、請求項3に記載の半導体装置の内部クロック周波数制御回路。
  5. 前記分周命令デコーダは、
    前記イネーブル信号がイネーブルされるとアクティブにされて前記同期命令をデコーディングして、デコーディングした結果がクロックを分周させる命令であると前記分周開始信号をイネーブルさせることを特徴とする、請求項1に記載の半導体装置の内部クロック周波数制御回路。
  6. 前記外部クロックをバッファリングして内部クロックとして出力するクロックバッファと、
    前記内部クロックを受信して前記データ処理用クロックを生成するクロック制御部とを備えることを特徴とする、請求項1に記載の半導体装置の内部クロック周波数制御回路。
  7. 前記分周選択部は、
    前記内部クロックを分周させて分周クロックを生成するクロック分周部と、
    前記分周開始信号に応答して前記内部クロックまたは前記分周クロックを前記選択クロックとして出力するクロック選択部とを備えることを特徴とする、請求項6に記載の半導体装置の内部クロック周波数制御回路。
  8. モードレジスタセット制御信号及び同期命令に応答して外部クロックと同一の周波数または異なる周波数のクロックを選択クロックとして出力する内部クロック周波数制御回路と、
    前記外部クロックと同一の周波数のクロックに応答して外部から入力される外部データを内部データとして出力するデータ処理部と、
    前記選択クロックに応答して外部から入力される外部命令及び外部アドレスを内部命令及び内部アドレスとして出力する命令アドレス処理部とを備えることを特徴とする、半導体装置。
  9. 前記内部クロック周波数制御回路は、
    前記外部クロックをバッファリングして内部クロックを生成するクロックバッファと、
    前記内部クロックを受信して前記データ処理部に入力されるデータ処理用クロックを生成する第1クロック制御部と、
    前記選択クロックを受信して前記命令アドレス処理部に入力される命令アドレス処理用クロックを生成する第2クロック制御部とをさらに備えることを特徴とする、請求項8に記載の半導体装置。
  10. 前記データ処理部は、
    前記データ処理用クロックに応答して前記外部データを前記内部データとして出力することを特徴とする、請求項9に記載の半導体装置。
  11. 前記命令アドレス処理部は、
    前記命令アドレス処理用クロックに応答して前記外部命令を前記内部命令として出力し、前記外部アドレスを前記内部アドレスとして出力することを特徴とする、請求項9に記載の半導体装置。
  12. 前記内部クロック周波数制御回路は、
    前記モードレジスタセット制御信号を受信してモードレジスタセット信号を出力するモードレジスタセットと、
    前記モードレジスタセット信号がイネーブルされて予め設定された周期が経過するとイネーブル信号をイネーブルさせる遅延部と、
    前記イネーブル信号がイネーブルされると前記同期命令をデコーディングして分周開始信号を生成する分周命令デコーダと、
    前記分周開始信号に応答して前記内部クロックを分周させて前記選択クロックとして出力するか、または、前記内部クロックを前記選択クロックとして出力する分周選択部とを備えることを特徴とする、請求項9に記載の半導体装置。
  13. 前記モードレジスタセットは、
    前記モードレジスタセット制御信号に応答して、半導体装置が前記外部クロックの半周期に該当する大きさのパルス幅を有する前記外部命令及び外部アドレスを受信するか、または、予め設定された周期に該当する大きさのパルス幅を有する前記外部命令及び外部アドレスを受信するかを判別して前記モードレジスタセット信号をイネーブルさせることを特徴とする、請求項12に記載の半導体装置。
  14. 前記遅延部は、
    前記外部クロックと同一の周波数のデータ処理用クロックの予め設定された周期が経過すれば前記モードレジスタセット信号を前記イネーブル信号として出力することを特徴とする、請求項12に記載の半導体装置。
  15. 前記遅延部は、
    複数個のフリップフロップが直列に接続されて、
    各フリップフロップは、前記データ処理用クロックを受信して、前記直列に接続されたフリップフロップのうち、最初のフリップフロップが前記モードレジスタセット信号を受信して、最後のフリップフロップが前記イネーブル信号を出力することを特徴とする、請求項14に記載の半導体装置。
  16. 前記分周命令デコーダは、
    前記イネーブル信号がイネーブルされるとアクティブにされて前記同期命令をデコーディングして、デコーディングした結果が前記内部クロックを分周させる命令であると前記分周開始信号をイネーブルさせることを特徴とする、請求項12に記載の半導体装置。
  17. 前記分周選択部は、
    前記内部クロックを分周させて分周クロックを生成するクロック分周部と、
    前記分周開始信号に応答して前記内部クロックまたは前記分周クロックを前記選択クロックとして出力するクロック選択部とを備えることを特徴とする、請求項12に記載の半導体装置。
JP2011071341A 2010-11-17 2011-03-29 内部クロック周波数制御回路及びこれを利用する半導体装置 Active JP5795482B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2010-0114410 2010-11-17
KR1020100114410A KR101143488B1 (ko) 2010-11-17 2010-11-17 내부 클럭 주파수 제어 회로 및 이를 이용하는 반도체 메모리 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012108863A true JP2012108863A (ja) 2012-06-07
JP5795482B2 JP5795482B2 (ja) 2015-10-14

Family

ID=46047215

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011071341A Active JP5795482B2 (ja) 2010-11-17 2011-03-29 内部クロック周波数制御回路及びこれを利用する半導体装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8237486B2 (ja)
JP (1) JP5795482B2 (ja)
KR (1) KR101143488B1 (ja)
CN (1) CN102467956B (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8942056B2 (en) * 2011-02-23 2015-01-27 Rambus Inc. Protocol for memory power-mode control
KR101897050B1 (ko) * 2012-05-04 2018-09-12 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 장치
KR102161083B1 (ko) * 2013-12-04 2020-10-05 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 메모리 장치
KR102190962B1 (ko) * 2013-12-30 2020-12-14 삼성전자주식회사 코맨드 처리 회로 및 이를 포함하는 메모리 장치
CN106297874B (zh) * 2015-06-05 2019-06-21 台湾积体电路制造股份有限公司 时钟信号生成电路和方法、以及存储器
US10002651B2 (en) * 2016-10-06 2018-06-19 SK Hynix Inc. Semiconductor devices
KR20190009534A (ko) * 2017-07-19 2019-01-29 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
US10269397B2 (en) * 2017-08-31 2019-04-23 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for providing active and inactive clock signals
KR20190068094A (ko) * 2017-12-08 2019-06-18 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치 및 메모리 시스템
KR20190134037A (ko) * 2018-05-24 2019-12-04 에스케이하이닉스 주식회사 도메인 크로싱 기능을 갖는 반도체 장치
KR20200033691A (ko) * 2018-09-20 2020-03-30 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
KR20200088650A (ko) * 2019-01-15 2020-07-23 에스케이하이닉스 주식회사 클럭 신호에 동기되는 신호 생성 회로 및 이를 이용하는 반도체 장치
KR20200137738A (ko) 2019-05-31 2020-12-09 에스케이하이닉스 주식회사 반도체장치
CN115132240B (zh) * 2021-03-29 2024-06-28 长鑫存储技术有限公司 数据传输电路、方法及存储装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH076152A (ja) * 1993-06-15 1995-01-10 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 外部制御信号入力回路
JP2000163967A (ja) * 1998-11-30 2000-06-16 Fujitsu Ltd 半導体集積回路装置
JP2002082904A (ja) * 2000-09-08 2002-03-22 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6944091B2 (en) * 2002-07-10 2005-09-13 Samsung Electronics Co., Ltd. Latency control circuit and method of latency control
KR100532441B1 (ko) * 2003-06-09 2005-11-30 삼성전자주식회사 레이턴시 회로를 구비하는 반도체 메모리 장치 및 그데이터 출력 제어 방법
KR100626375B1 (ko) * 2003-07-21 2006-09-20 삼성전자주식회사 고주파로 동작하는 반도체 메모리 장치 및 모듈
KR100540472B1 (ko) * 2003-10-31 2006-01-11 주식회사 하이닉스반도체 데이터 출력에 관한 동작마진이 향상된 메모리 장치
US7142008B1 (en) * 2003-12-09 2006-11-28 Xilinx, Inc. Method and apparatus for clock division on a programmable logic device
CN100543871C (zh) * 2006-09-20 2009-09-23 南亚科技股份有限公司 具有频率检测器的延迟计数器及其延迟计数方法
JP2010182350A (ja) 2009-02-03 2010-08-19 Renesas Electronics Corp 半導体記憶装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH076152A (ja) * 1993-06-15 1995-01-10 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 外部制御信号入力回路
JP2000163967A (ja) * 1998-11-30 2000-06-16 Fujitsu Ltd 半導体集積回路装置
JP2002082904A (ja) * 2000-09-08 2002-03-22 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR101143488B1 (ko) 2012-05-14
US8237486B2 (en) 2012-08-07
CN102467956B (zh) 2015-05-13
JP5795482B2 (ja) 2015-10-14
US20120119809A1 (en) 2012-05-17
CN102467956A (zh) 2012-05-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5795482B2 (ja) 内部クロック周波数制御回路及びこれを利用する半導体装置
JP5687412B2 (ja) 半導体記憶装置及びそのリード待ち時間調整方法、メモリシステム、並びに半導体装置
JP2010056888A (ja) 同期化制御回路、半導体装置及び制御方法
US10014043B2 (en) Memory device having command window generator
WO2014129438A1 (ja) 半導体装置
JP2005210716A (ja) 遅延信号発生回路及びこれを含んだメモリシステム
KR20140135371A (ko) 반도체 장치
JP2008071249A (ja) メモリ制御装置
JP2009237678A (ja) メモリコントローラデバイス、メモリコントローラデバイスの制御方法およびデータ受信デバイス
JP2007095257A (ja) 半導体メモリ素子の内部アドレス生成装置
JP2007048022A (ja) 非同期バスインタフェース及びその処理方法
JP2007226308A (ja) インタフェース回路及びそのインタフェース回路を備えた記憶制御装置
JP2009117020A (ja) 半導体メモリ装置
JP2005129210A (ja) 半導体メモリ装置とそのタイミング制御方法
JP2007095278A (ja) 半導体メモリ装置のリセット制御回路
US9396774B1 (en) CAS latency setting circuit and semiconductor memory apparatus including the same
KR101575816B1 (ko) 반도체 메모리 장치 및 이 장치를 구비하는 메모리 시스템
US9043511B2 (en) Semiconductor memory device and operation method thereof
US20230266894A1 (en) Memory control apparatus, method for controlling memory control apparatus, and storage medium
US20150302909A1 (en) Semiconductor memory apparatus and operating method of the same
JP2008071467A (ja) レイテンシーカウンター及び関連方法
KR100945794B1 (ko) 반도체 집적회로 및 그 어드레스/커맨드 처리방법
JP2014211930A (ja) 半導体装置および出力信号調整方法
TWI507877B (zh) 介面電路及串列介面記憶體的存取模式選擇方法
JP2013196178A (ja) メモリ制御装置及びマスクタイミング制御方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140228

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150116

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150127

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150423

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150804

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150813

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5795482

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250