JP2012103236A - 多重測定を使用して表面特性を決定するための装置および方法 - Google Patents
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Abstract
方法を提供する。
【解決手段】測定面(10)は少なくとも1つの放射線装置(2)によって照射され、測定面で散乱された前記放射線のうち少なくとも1つの測定信号を出力する少なくとも1つの第1の放射線検出装置(4)とを備え、前記測定面(10)の光沢度測定を実施するための第2の放射線装置(12)と第2の放射線検出装置(14)とを含む。前記第2の放射線装置(12)は、前記測定面(10)に所定の入射角(a)で放射を行い、前記第2の放射線検出装置(14)は少なくとも前記第2の放射線装置(2)によって照射され、その後に、前記測定面(10)から反射された前記放射線の少なくとも一部を受信する。本発明によれば、前記第2の放射線装置(12)が前記測定面に放射するにあたり、前記測定面(10)に垂直な方向(M)に対して形成される前記入射角(a)が50°以下である。
【選択図】図1
Description
2 放射線装置
2a,b 光源、LED
3 ハウジング
4 検出装置、放射線検出装置
8 第1のハウジング部
9 開口
10 測定面
11 遮断装置
12 第2の放射線装置
12a 光源
12b レンズ装置
14 検出装置、第2の放射線検出装置
14b レンズ装置
18 オプショナルな第1の放射線装置
22 第3の放射線装置
24 放射線検出装置
24a レンズ装置
28 第2のハウジング部
32 内壁
36 キャリア
38 第2のハウジング部の内壁
39 ブラケット
42 開口
a 角度
a’ 反射角
b 角度
b’ 反射角
c 角度
d 角度
E 面
K1〜K3 グラフ
M 垂直二等分線
S1〜S3 放射方向
X さらに別な放射方向
Claims (15)
- 測定面(10)の表面特性を決定するための装置(1)であって、
測定面(10)に放射線を照射する少なくとも1つの第1の放射線装置(2)と、
前記少なくとも1つの放射線装置(2)によって照射され、その後に、前記測定面(10)から散乱された前記放射線の少なくとも一部を受信して、受信された前記放射線に特有の少なくとも1つの測定信号を出力する少なくとも1つの第1の放射線検出装置(4)とを備え、
前記測定面(10)の光沢度測定を実施するための第2の放射線装置(12)と第2の放射線検出装置(14)とを含み、
前記第2の放射線装置(12)は前記測定面(10)に所定の入射角(a)で放射を行い、前記第2の放射線検出装置(14)は少なくとも前記第2の放射線装置(2)によって照射され、その後に、前記測定面(10)から反射された前記放射線の少なくとも一部を受信するように構成された装置(1)において、
前記第2の放射線装置(12)が前記測定面に放射するにあたり、前記測定面(10)に垂直な方向(M)に対して形成される前記入射角(a)が50°以下であることを特徴とする装置(1)。 - 前記測定面の光沢度測定を実施するための第3の放射線装置(22)と第3の放射線検出装置(24)とを含み、前記第3の放射線装置(22)は前記測定面(10)に所定の第2の入射角(b)で放射を行い、前記第3の放射線検出装置(24)は、前記第3の放射線装置(2)によって照射され、その後に、前記測定面(10)から反射された前記放射線の少なくとも一部を受信することを特徴とする請求項1に記載の装置(1)。
- 前記第2の放射線装置(12)が前記測定面に放射するにあたり、前記測定面に垂直な方向(R)に対して形成される前記第2の入射角(b)が30°以上であることを特徴とする請求項2に記載の装置(1)。
- 前記測定面の光沢度測定を実施するための第4の放射線装置(22)と第4の放射線検出装置(24)とを含み、前記第4の放射線装置(22)は前記測定面(10)に所定の第3の入射角で放射を行い、前記第4の放射線検出装置(24)は、前記第4の放射線装置(2)によって照射され、その後に、前記測定面(10)から反射された前記放射線の少なくとも一部を受信することを特徴とする請求項1に記載の装置(1)。
- 前記第3の放射線装置(12)が前記測定面に放射するにあたり、前記測定面に垂直な方向(R)に対して形成される前記第3の入射角(b)は80°より大きいことを特徴とする請求項4に記載の装置(1)。
- 前記装置は、前記第1の放射線装置(2)と前記第1の放射線検出装置(4)との間の光路に配置された光遮断装置(11)を含むことを特徴とする上記請求項のいずれか1項に記載の装置。
- 前記第1の放射線装置は、前記装置(1)の第1のハウジング部(8)内に放射を行い、前記光遮断装置(11)は前記第1のハウジング部(8)を第2のハウジング部(28)から遮断し、前記第2のハウジング部(28)内には前記第1の放射線検出装置(4)による前記測定面(10)の観察を可能とする開口(9)が配置されていることを特徴とする請求項6に記載の装置。
- 前記第1の検出装置は、前記第2の放射線装置(12)によって放射された放射線の放射方向(R1)と前記測定面から反射された放射線の反射方向(R2)とによって形成される面(E)に対してオフセットして配置されていることを特徴とする上記請求項のいずれか1項に記載の装置(1)。
- 前記第1のハウジング部は球体セグメントの形状を有することを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の装置(1)。
- 前記第1のハウジング部(8)の内壁(32)は少なくとも複数の区域が放射線を反射するように形成されていることを特徴とする上記請求項のいずれか1項に記載の装置(1)。
- 前記第2のハウジング部(28)の内壁(34)は少なくとも複数の区域が放射線を吸収するように形成されていることを特徴とする上記請求項のいずれか1項に記載の装置(1)。
- 前記第2のハウジング部(28)の内壁(34)は少なくとも複数の区域が放射線を反射するように形成されていることを特徴とする上記請求項のいずれか1項に記載の装置(1)。
- 前記装置は少なくとも1つの検出装置を支持するためのキャリア(36)を含み、前記キャリア(36)は前記第1のハウジング部(8)内に突設されていることを特徴とする上記請求項の少なくとも1項に記載の装置(1)。
- 前記第1の放射線装置(2)は前記測定面(10)を間接的に照らすことを特徴とする上記請求項のいずれか1項に記載の装置(1)。
- 測定面、特に光沢のある測定面(10)を特に光学的に検査するための方法であって、
放射線が第1の放射線装置(2)によって測定面(10)に照射され、前記少なくとも1つの放射線装置(2)によって照射され、その後に、前記測定面(10)から散乱された前記放射線の少なくとも一部が、少なくとも第1の放射線検出装置(4)によって受信され、受信された前記放射線に特有の少なくとも1つの測定信号が出力され、
さらに別の放射線が第2の放射線装置(12)によって前記測定面(10)に所定の入射角(a)で照射され、前記第2の放射線装置(12)によって照射され、その後に、前記測定面(10)から反射された前記放射線の少なくとも一部が第2の放射線検出装置(14)によって受信されるように構成された方法において、
前記第2の放射線装置(12)が前記測定面(10)に放射するにあたり、前記測定面(10)に垂直な方向(M)に対して形成される前記入射角(a)は50°以下であることを特徴とする方法。
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