JP2012083436A - Optical scanner, image forming apparatus with the optical scanner, and method for manufacturing optical scanner - Google Patents

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恭生 西川
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical scanner in which deformation of a reflecting part is prevented as much as possible and resonance frequency is accurately adjusted.SOLUTION: The optical scanner has: a reflecting part for reflecting an incident luminous flux, a beam part extending from the reflecting part, a structure with a fixing part supporting the beam part, and a driver arranged on the fixing part and used to repeatedly swing the reflecting part around the axis of the beam by resonance. The optical scanner has a light curable resin injected in a through-hole made in a predetermined part of the structure. The resonance frequency of the structure is adjusted by the amount of light emitted to the light curable resin that changes its contraction force as a result of curing the light curable resin and/or the weight of the light curable resin.

Description

本発明は、光走査装置及び同光走査装置を備えた画像形成装置、並びに、光走査装置の製造方法に関する。   The present invention relates to an optical scanning device, an image forming apparatus including the optical scanning device, and a method for manufacturing the optical scanning device.

従来、入射した光束を反射する反射部を、支持部間に架け渡した梁の中途に設け、この反射部を反復揺動させて、反射光を走査する光走査装置が知られている。   2. Description of the Related Art Conventionally, an optical scanning device that scans reflected light by providing a reflecting portion that reflects an incident light beam in the middle of a beam spanned between support portions and repeatedly swinging the reflecting portion is known.

このような光走査装置は、反射部の近傍に設けた圧電素子に所定の電圧を印加して振動させ反射部を駆動させる方式や、静電引力により反射部を駆動させる方式などが提案されているが、いずれも、反射部や梁の材質や形状、寸法等により決定される共振周波数で駆動させるのが効率がよい。   For such an optical scanning device, a method of driving a reflection unit by applying a predetermined voltage to a piezoelectric element provided in the vicinity of the reflection unit to vibrate, a method of driving a reflection unit by electrostatic attraction, and the like have been proposed. However, in any case, it is efficient to drive at a resonance frequency determined by the material, shape, dimensions, etc. of the reflecting portion and the beam.

ところが、この共振周波数は、製造される個々の光走査装置ごとにそれぞれ異なっており、製品仕様の範囲内から逸脱した個体が発生する場合もあった。   However, this resonance frequency is different for each manufactured optical scanning device, and an individual deviating from the product specification range may occur.

そこで、反射部の表面に樹脂体を質量片として付着させ、反射部の慣性モーメントを調整する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。   In view of this, a method has been proposed in which a resin body is attached as a mass piece to the surface of the reflecting portion to adjust the moment of inertia of the reflecting portion (see, for example, Patent Document 1).

この方法によれば、共振周波数を固体別に調整することができるとしている。   According to this method, the resonance frequency can be adjusted for each individual.

特開2004−219889号公報JP 2004-219889 A

しかしながら、樹脂体を反射部の表面に付着させる上記従来の方法では、樹脂が硬化する際に生起される収縮力が、反射部の表面に強く作用することとなり、反射部に歪みが生じてしまうおそれがあった。また、反射部を避けて樹脂体を付着すべく固定部の梁近傍表面に樹脂体を付着させた場合や、同位置に有底の凹部を設けて樹脂体を充填した場合であっても、表面に強く働く収縮力が梁を介して反射部に伝わり、反射部に歪みが生じる場合があった。   However, in the above-described conventional method of attaching the resin body to the surface of the reflective portion, the contraction force generated when the resin is cured strongly acts on the surface of the reflective portion, and the reflective portion is distorted. There was a fear. In addition, even when the resin body is adhered to the surface near the beam of the fixed portion so as to avoid the reflection portion, or when the resin body is filled with a bottomed recess at the same position, In some cases, the contraction force acting strongly on the surface is transmitted to the reflecting portion through the beam, and the reflecting portion is distorted.

本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであって、反射部の歪みが可及的に防止され、しかも、共振周波数が精度良く調整された光走査装置を提供する。また、このような光走査装置の製造方法についても提供する。   The present invention has been made in view of such circumstances, and provides an optical scanning device in which distortion of a reflection portion is prevented as much as possible and the resonance frequency is adjusted with high accuracy. A method for manufacturing such an optical scanning device is also provided.

上記従来の課題を解決するために、請求項1に記載の光走査装置では、入射した光束を反射する反射部と、前記反射部から伸延する梁部と、同梁部を支持する固定部とを有する構造体と、前記固定部上に配置され、共振により前記反射部を前記梁部の軸線廻りに反復揺動させる駆動体と、を備えた光走査装置において、前記構造体の所定箇所に穿設された貫通孔に充填された光硬化樹脂を有し、同光硬化樹脂の硬化に伴い生じる収縮力を変化させる当該光硬化樹脂に対する光の照射量及び/または前記光硬化樹脂の重量によって、前記構造体の共振周波数を調整した。   In order to solve the above-described conventional problem, in the optical scanning device according to claim 1, a reflection portion that reflects an incident light beam, a beam portion that extends from the reflection portion, and a fixing portion that supports the beam portion, And a driving body that is disposed on the fixed portion and reciprocally swings the reflecting portion around the axis of the beam portion by resonance, at a predetermined position of the structure body. Depending on the amount of light applied to the photocuring resin and / or the weight of the photocuring resin, which has a photocuring resin filled in the drilled through-holes and changes the shrinkage force caused by the curing of the photocuring resin The resonance frequency of the structure was adjusted.

また、請求項2に記載の光走査装置では、請求項1に記載の光走査装置において、前記構造体に、光硬化樹脂を充填するための貫通孔が複数設けられていることに特徴を有する。   The optical scanning device according to claim 2 is characterized in that, in the optical scanning device according to claim 1, the structure is provided with a plurality of through holes for filling a photo-curing resin. .

また、請求項3に記載の光走査装置では、請求項1または請求項2に記載の光走査装置において、前記貫通孔を、少なくとも前記反射部に設けたことに特徴を有する。   The optical scanning device according to claim 3 is characterized in that, in the optical scanning device according to claim 1 or 2, the through hole is provided at least in the reflection portion.

また、請求項4に記載の光走査装置では、請求項1〜3いずれか1項に記載の光走査装置において、前記貫通孔を、前記反射部と、前記固定部との両方に設けたことに特徴を有する。   Moreover, in the optical scanning device according to claim 4, in the optical scanning device according to any one of claims 1 to 3, the through hole is provided in both the reflection portion and the fixing portion. It has the characteristics.

また、請求項5に記載の光走査装置では、請求項3または請求項4に記載の光走査装置において、前記反射部の貫通孔は、前記反射部の周縁に近接して設けられていることに特徴を有する。   Further, in the optical scanning device according to claim 5, in the optical scanning device according to claim 3 or claim 4, the through hole of the reflection portion is provided close to a peripheral edge of the reflection portion. It has the characteristics.

また、請求項6に記載の光走査装置では、請求項1〜5いずれか1項に記載の光走査装置において、前記光硬化樹脂は、前記貫通孔の開口両側から光を照射して硬化したものであることに特徴を有する。   Further, in the optical scanning device according to claim 6, in the optical scanning device according to any one of claims 1 to 5, the photocurable resin is cured by irradiating light from both sides of the opening of the through hole. It is characterized by being.

また、請求項7に記載の光走査装置では、請求項6に記載の光走査装置において、前記貫通孔の開口両側より照射する光のうち、一方の開口側から照射する光は、他方の開口側より照射され前記貫通孔を透過した光を反射させた光であることに特徴を有する。   Further, in the optical scanning device according to claim 7, in the optical scanning device according to claim 6, among the light irradiated from both sides of the opening of the through hole, the light irradiated from one opening side is the other opening. It is the light which reflected the light irradiated from the side and permeate | transmitted the said through-hole.

また、請求項8に記載の画像形成装置では、画像信号に応じた光束を出射する光出射部と、請求項1〜7いずれか1項に記載の光走査装置とを備え、前記光出射部から出射した光束を前記光走査装置によって走査して画像を形成することとした。   The image forming apparatus according to claim 8, further comprising: a light emitting unit that emits a light beam according to an image signal; and the optical scanning device according to claim 1, wherein the light emitting unit. An image is formed by scanning the light beam emitted from the optical scanning device with the optical scanning device.

また、請求項9に記載の光走査装置の製造方法では、入射した光束を反射する反射部と、前記反射部から伸延する梁部と、同梁部を支持する固定部とを備える構造体と、前記固定部上に配置され、共振により前記反射部を前記梁部の軸線廻りに反復揺動させる駆動体と、を備えた光走査装置の製造方法において、前記構造体の所定箇所に複数穿設された貫通孔のうち、光硬化樹脂を充填させる貫通孔を選択する貫通孔選択ステップと、前記貫通孔選択ステップにて選択した貫通孔に、光硬化樹脂を充填する樹脂充填ステップと、前記樹脂充填ステップにて充填した光硬化樹脂に対して光を照射し、前記光硬化樹脂を硬化させる樹脂硬化ステップと、を含む樹脂硬化処理を行い、前記光硬化樹脂の硬化に伴い生じる収縮力を変化させる当該光硬化樹脂に対する光の照射量及び/または前記光硬化樹脂の重量により、前記構造体の共振周波数を調整することとした。   In the method of manufacturing the optical scanning device according to claim 9, a structure including a reflecting portion that reflects an incident light beam, a beam portion that extends from the reflecting portion, and a fixing portion that supports the beam portion; And a driving body that is disposed on the fixed portion and reciprocally swings the reflection portion around the axis of the beam portion by resonance, a plurality of holes are formed at predetermined positions of the structure body. A through hole selection step of selecting a through hole to be filled with a photocurable resin among the provided through holes; a resin filling step of filling a photocurable resin into the through hole selected in the through hole selection step; and A resin curing step including irradiating light to the photocured resin filled in the resin filling step and curing the photocured resin, and performing a shrinkage force generated by the curing of the photocured resin. The light hardness to change The weight of the dose and / or the photo-curing resin of the light with respect to the resin, it was decided to adjust the resonance frequency of the structure.

さらに、請求項10に記載の光走査装置の製造方法では、請求項9に記載の光走査装置の製造方法において、前記樹脂硬化処理を、まず前記反射部を対象として行い、次いで、前記固定部を対象として行うことに特徴を有する。   Furthermore, in the manufacturing method of the optical scanning device according to claim 10, in the manufacturing method of the optical scanning device according to claim 9, the resin curing treatment is first performed on the reflecting portion, and then the fixing portion is performed. It is characterized by being performed on the subject.

本発明に係る光走査装置によれば、反射部の歪みが可及的に防止され、しかも、共振周波数が精度良く調整された光走査装置を提供することができる。   According to the optical scanning device of the present invention, it is possible to provide an optical scanning device in which the distortion of the reflection portion is prevented as much as possible and the resonance frequency is adjusted with high accuracy.

本実施形態に係る画像形成装置の電気的構成及び光学的構成を示した説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing an electrical configuration and an optical configuration of the image forming apparatus according to the embodiment. 本実施形態に係る光走査装置の構成を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the structure of the optical scanning device concerning this embodiment. 光走査装置の反射部を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the reflection part of the optical scanning device. 梁への張力の伝達を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed transmission of the tension | tensile_strength to a beam. 光走査装置の製造工程を示したフローである。It is the flow which showed the manufacturing process of the optical scanning device. 共振周波数調整工程の詳細を示したフローである。It is the flow which showed the detail of the resonance frequency adjustment process. 貫通孔の形成過程を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the formation process of a through-hole. 紫外線硬化樹脂の硬化に関する説明図である。It is explanatory drawing regarding hardening of ultraviolet curable resin. 構造体の変形例を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the modification of the structure. 他の光走査装置における本発明の適用例を示した説明図である。It is explanatory drawing which showed the example of application of this invention in another optical scanning device.

〔本発明の概要〕
本発明は、反射部や梁部、固定部等を備えた構造体を有する光走査装置において、共振周波数の調整が施された構造体を有する光走査装置を提供するものである。
[Outline of the Invention]
The present invention provides an optical scanning device having a structure having a resonance frequency adjusted in an optical scanning device having a structure including a reflecting portion, a beam portion, a fixed portion, and the like.

反射部や梁部、固定部等を備えた構造体の共振周波数は、反射部の慣性モーメントや、梁部のねじり剛性(バネ定数)が変化することにより変動することが知られている。   It is known that the resonance frequency of a structure including a reflecting portion, a beam portion, a fixed portion, and the like varies depending on the moment of inertia of the reflecting portion and the torsional rigidity (spring constant) of the beam portion.

そこで本発明では、構造体の所定箇所に穿設した貫通孔に光硬化樹脂を充填し、光硬化樹脂の重量や、光硬化樹脂の硬化に伴って生起される収縮力によって、反射部の慣性モーメントを増大させたり、梁部のねじり剛性(バネ定数)を高めたりすることで構造体の共振周波数を調整している。   Therefore, in the present invention, a photocurable resin is filled in a through-hole formed at a predetermined position of the structure, and the inertia of the reflecting portion is caused by the weight of the photocurable resin and the contraction force generated as the photocurable resin is cured. The resonance frequency of the structure is adjusted by increasing the moment or increasing the torsional rigidity (spring constant) of the beam portion.

より具体的には、本発明は、下記のいずれか、若しくは両者を併用した調整を行うことにより、共振周波数が調整された構造体を有する光走査装置を提供するものであるとも言える。
(1)反射部に穿設した貫通孔に光硬化樹脂を充填し、この光硬化樹脂の重量によって反射部の慣性モーメントを増大させ、構造体の共振周波数を低下させる調整。
(2)固定部又は反射部に穿設した貫通孔に光硬化樹脂を充填し、この光硬化樹脂が硬化する際に生起する収縮力を梁部に伝搬させて梁部の張力を増し、梁部のねじり剛性(バネ定数)を高めて構造体の共振周波数を上昇させる調整。
More specifically, it can be said that the present invention provides an optical scanning device having a structure in which the resonance frequency is adjusted by adjusting either or both of the following.
(1) Adjustment that fills a through-hole formed in the reflecting portion with a photo-curing resin, increases the moment of inertia of the reflecting portion by the weight of the photo-curing resin, and decreases the resonance frequency of the structure.
(2) Filling the through-hole formed in the fixed part or the reflective part with a photo-curing resin, and propagating the contraction force generated when the photo-curing resin is cured to the beam part to increase the tension of the beam part. Adjustment to increase the resonance frequency of the structure by increasing the torsional rigidity (spring constant) of the part.

上述のような調整を行うことにより、製造された複数の構造体によってそれぞれ異なる共振周波数のばらつきを補正することができ、共振周波数が精度良く調整された光走査装置を提供することができる。   By performing the adjustment as described above, it is possible to correct variations in the resonance frequency that are different depending on the plurality of manufactured structures, and it is possible to provide an optical scanning device in which the resonance frequency is accurately adjusted.

〔具体的構成〕
以下、本発明に好適な実施形態について図面に基づいて説明する。まず、共振周波数の調整が既に行われた本発明に係る光走査装置を、網膜走査型ディスプレイに採用した実施形態について説明し、次いで、光走査装置について共振周波数の調整法を交えながら説明する。
[Specific configuration]
DESCRIPTION OF EXEMPLARY EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the invention will be described with reference to the drawings. First, an embodiment in which the optical scanning device according to the present invention in which the resonance frequency has already been adjusted is employed in a retinal scanning display will be described, and then the optical scanning device will be described with a method for adjusting the resonance frequency.

〔画像形成装置の電気的構成〕
本実施形態における網膜走査型ディスプレイ1の電気的構成などについて図1を参照しながら説明する。
[Electrical configuration of image forming apparatus]
The electrical configuration of the retinal scanning display 1 in this embodiment will be described with reference to FIG.

図1に示すように、網膜走査型ディスプレイ1には、外部から供給される画像信号Sを処理するための光源ユニット部10が設けられている。光源ユニット部10には、外部からの画像信号Sが入力され、それに基づいて映像を合成するための要素となる各信号を発生する駆動信号供給回路11が設けられ、この駆動信号供給回路11から駆動信号13(13r,13g,13b)、低速駆動信号18、高速駆動信号19が出力される。この光源ユニット部10は、画像信号Sに応じて光を出射する光出射部として機能する。   As shown in FIG. 1, the retinal scanning display 1 is provided with a light source unit 10 for processing an image signal S supplied from the outside. The light source unit 10 is provided with a drive signal supply circuit 11 that receives an image signal S from the outside and generates each signal as an element for synthesizing video based on the image signal S. From the drive signal supply circuit 11 A drive signal 13 (13r, 13g, 13b), a low speed drive signal 18, and a high speed drive signal 19 are output. The light source unit 10 functions as a light emitting unit that emits light according to the image signal S.

また、光源ユニット部10には、駆動信号供給回路11から駆動信号13として伝達される赤(R),緑(G),青(B)の各駆動信号をもとにそれぞれ強度調整されたレーザ光を出射するように、Rレーザ21,Gレーザ22,Bレーザを23、それぞれ駆動するためのRレーザドライバ15,Gレーザドライバ16,Bレーザドライバ17が設けられている。さらに、各レーザより出射されたレーザ光を平行光にコリメートするように設けられたコリメート光学系24(24r,24g,24b)と、それぞれコリメートされたレーザ光を合波するダイクロイックミラー25(25r,25g,25b)と、合波されたレーザ光を光ファイバ30に導く結合光学系26とが設けられている。尚、Rレーザ21,Gレーザ22,Bレーザ23として、レーザダイオード等の半導体レーザや固体レーザを利用してもよい。   The light source unit 10 also has a laser whose intensity is adjusted based on the red (R), green (G), and blue (B) drive signals transmitted as the drive signal 13 from the drive signal supply circuit 11. An R laser 21, a G laser 22, and a B laser 23, an R laser driver 15, a G laser driver 16, and a B laser driver 17 are provided to drive light, respectively. Further, a collimating optical system 24 (24r, 24g, 24b) provided so as to collimate the laser light emitted from each laser into parallel light, and a dichroic mirror 25 (25r, 25) for combining the collimated laser lights. 25g, 25b) and a coupling optical system 26 for guiding the combined laser beam to the optical fiber 30 is provided. A semiconductor laser such as a laser diode or a solid-state laser may be used as the R laser 21, the G laser 22, and the B laser 23.

また、網膜走査型ディスプレイ1には、光源ユニット部10から伝搬されたレーザ光を高速走査系42に導くコリメート光学系41と、コリメートされたレーザ光を、光走査装置Aを利用して水平方向に走査する高速走査系42と、高速走査系42によって走査されたレーザ光を低速走査系44に導く第1リレー光学系43と、高速走査系42に走査され、第1リレー光学系43を介して入射されたレーザ光を、ガルバノミラー44aを利用して垂直方向に走査する低速走査系44と、低速走査系44に走査されたレーザ光をユーザの瞳孔47に入射するように第2リレー光学系45と、ハーフミラー46とが設けられている。   The retinal scanning display 1 has a collimating optical system 41 that guides the laser light propagated from the light source unit 10 to the high-speed scanning system 42 and the collimated laser light in the horizontal direction using the optical scanning device A. The high-speed scanning system 42 that scans the laser beam, the first relay optical system 43 that guides the laser light scanned by the high-speed scanning system 42 to the low-speed scanning system 44, and the high-speed scanning system 42 that scans the laser beam. The low-speed scanning system 44 that scans the incident laser light in the vertical direction using the galvano mirror 44a, and the second relay optical so that the laser light scanned by the low-speed scanning system 44 enters the pupil 47 of the user. A system 45 and a half mirror 46 are provided.

尚、具体的な一例としては、高速走査系42は、表示すべき画像の1走査線ごとに、レーザビームを水平方向に水平走査(1次走査の一例)させる光学系である。また、高速走査系42は、レーザビームを水平方向に走査する光走査装置Aと、その光走査装置Aの駆動制御を行う高速走査駆動回路42cとを備えている。   As a specific example, the high-speed scanning system 42 is an optical system that horizontally scans the laser beam in the horizontal direction (an example of primary scanning) for each scanning line of an image to be displayed. The high-speed scanning system 42 includes an optical scanning device A that scans the laser beam in the horizontal direction, and a high-speed scanning drive circuit 42c that controls driving of the optical scanning device A.

これに対し、低速走査系44は、表示すべき画像の1フレームごとに、レーザビームを最初の走査線から最後の走査線に向かって垂直に垂直走査(2次走査の一例)する光学系である。また、低速走査系44は、垂直走査するガルバノミラー44aと、そのガルバノミラー44aの駆動制御を行う垂直制御回路44cとを備えている。   On the other hand, the low-speed scanning system 44 is an optical system that vertically scans the laser beam vertically from the first scanning line to the last scanning line (an example of secondary scanning) for each frame of an image to be displayed. is there. The low-speed scanning system 44 includes a galvano mirror 44a that performs vertical scanning, and a vertical control circuit 44c that controls driving of the galvano mirror 44a.

高速走査系42は、低速走査系44より高速にすなわち高周波数でレーザビームを走査するように設計されている。また、高速走査系42,低速走査系44は、各々駆動信号供給回路11に接続され、駆動信号供給回路11より出力される低速駆動信号18、高速駆動信号19にそれぞれ同期してレーザ光を走査するように構成されている。   The high speed scanning system 42 is designed to scan the laser beam at a higher speed, that is, at a higher frequency than the low speed scanning system 44. The high-speed scanning system 42 and the low-speed scanning system 44 are connected to the drive signal supply circuit 11 and scan the laser beam in synchronization with the low-speed drive signal 18 and the high-speed drive signal 19 output from the drive signal supply circuit 11, respectively. Is configured to do.

次に、本発明の一実施形態の網膜走査型ディスプレイ1が、外部からの画像信号Sを受けてから、ユーザの網膜48上に映像を投影するまでの過程について図1を用いて説明する。   Next, a process from when the retinal scanning display 1 according to the embodiment of the present invention receives an image signal S from the outside to project an image on the user's retina 48 will be described with reference to FIG.

図1に示すように、本実施形態の網膜走査型ディスプレイ1では、光源ユニット部10に設けられた駆動信号供給回路11が外部からの画像信号Sの供給を受けると、駆動信号供給回路11は、赤,緑,青の各色のレーザ光を出力させるためのR駆動信号13r,G駆動信号13g,B駆動信号13bからなる駆動信号13と、低速駆動信号18と、高速駆動信号19とを出力する。Rレーザドライバ15,Gレーザドライバ16,Bレーザドライバ17は各々入力されたR駆動信号13r,G駆動信号13g,B駆動信号13bに基づいてRレーザ21,Gレーザ22,Bレーザ23に対してそれぞれの制御信号を出力する。この制御信号に基づいて、Rレーザ21,Gレーザ22,Bレーザ23はそれぞれ強度調整されたレーザ光を発生し、各々をコリメート光学系24に出力する。このように点光源から発生されるレーザ光は、このコリメート光学系24によってそれぞれが平行光にコリメートされ、さらに、ダイクロイックミラー25に入射されて1つのビーム光となるよう合成された後、結合光学系26によって光ファイバ30に入射されるよう導かれる。   As shown in FIG. 1, in the retinal scanning display 1 of the present embodiment, when the drive signal supply circuit 11 provided in the light source unit unit 10 receives the supply of the image signal S from the outside, the drive signal supply circuit 11 A drive signal 13 including an R drive signal 13r, a G drive signal 13g, and a B drive signal 13b for outputting laser beams of red, green, and blue, a low-speed drive signal 18, and a high-speed drive signal 19 are output. To do. The R laser driver 15, the G laser driver 16, and the B laser driver 17 are respectively applied to the R laser 21, the G laser 22, and the B laser 23 based on the input R drive signal 13r, G drive signal 13g, and B drive signal 13b. Each control signal is output. Based on this control signal, the R laser 21, the G laser 22, and the B laser 23 generate laser beams whose intensities are adjusted, and output the laser beams to the collimating optical system 24. Thus, the laser light generated from the point light source is collimated into parallel light by the collimating optical system 24, and is further incident on the dichroic mirror 25 to be combined into one beam light. Guided by system 26 into optical fiber 30.

光ファイバ30によって伝搬されたレーザ光は、光ファイバ30からコリメート光学系41によって平行光にコリメートされて高速走査系42に出射される。この出射されたレーザ光は、高速走査系42の光走査装置Aの反射部50に入射される。また、光走査装置Aの反射部50に入射したレーザ光は低速駆動信号18に同期して水平方向に走査されて第1リレー光学系43を介し、低速走査系44のガルバノミラー44aの反射ミラー44bに入射する。ガルバノミラー44aは、高速駆動信号19に同期して、その反射ミラー44bが入射光を垂直方向に反射するように往復振動をしており、このガルバノミラー44aによってレーザ光は垂直方向に走査される。ガルバノミラー44aによって走査されたレーザ光は、第2リレー光学系45とハーフミラー46とを介して、外光Laと共にユーザの瞳孔47に入射する。これによって、ユーザはこのように2次元走査されて網膜48上に投影されたレーザ光による画像を、外界の背景と共に認識することができる。つまり、この網膜走査型ディスプレイ1は、画像に関する画像信号に応じて変調された光を走査させて出射させることで、ユーザの少なくとも一方の眼の網膜48に画像を投影し、画像を表示するシースルー型の網膜走査型画像形成装置の一例に相当する。なお、本実施形態では、前述の1次方向を水平方向、前述の2次方向を垂直方向としているが、これに限定されるものではなく、例えば、1次方向を垂直方法、2次方向を水平方向として走査するようにしても良い。   The laser light propagated through the optical fiber 30 is collimated into parallel light from the optical fiber 30 by the collimating optical system 41 and emitted to the high-speed scanning system 42. The emitted laser light is incident on the reflection unit 50 of the optical scanning device A of the high-speed scanning system 42. The laser light incident on the reflection unit 50 of the optical scanning device A is scanned in the horizontal direction in synchronization with the low-speed drive signal 18 and is reflected through the first relay optical system 43 through the reflection mirror of the galvano mirror 44a of the low-speed scanning system 44. 44b. The galvanometer mirror 44a is reciprocally oscillated so that the reflection mirror 44b reflects incident light in the vertical direction in synchronization with the high-speed drive signal 19, and the laser light is scanned in the vertical direction by the galvanometer mirror 44a. . The laser beam scanned by the galvanometer mirror 44 a is incident on the user's pupil 47 through the second relay optical system 45 and the half mirror 46 together with the external light La. As a result, the user can recognize the image by the laser light that has been two-dimensionally scanned and projected onto the retina 48 as well as the background of the outside world. That is, the retinal scanning display 1 scans and emits light modulated in accordance with an image signal relating to an image, thereby projecting an image on the retina 48 of at least one eye of the user and displaying the image. This corresponds to an example of a retinal scanning image forming apparatus. In the present embodiment, the primary direction is the horizontal direction and the secondary direction is the vertical direction. However, the present invention is not limited to this. For example, the primary direction is the vertical method, and the secondary direction is the secondary direction. You may make it scan as a horizontal direction.

[光走査装置Aの構成]
次に、本実施形態の要部を成す光走査装置Aの構成について、図2を参照しながら説明する。
[Configuration of Optical Scanning Apparatus A]
Next, the configuration of the optical scanning device A constituting the main part of the present embodiment will be described with reference to FIG.

本実施形態における高速走査系42の光走査装置Aは、図2に示すような光走査体51と、台座52と、を含む構成である。   The optical scanning device A of the high-speed scanning system 42 in the present embodiment is configured to include an optical scanning body 51 and a pedestal 52 as shown in FIG.

この光走査体51は、シリコンで形成されたシリコン構造体61と、ガラスで形成された支持部材71と、を有する。   The optical scanning body 51 includes a silicon structure 61 made of silicon and a support member 71 made of glass.

シリコン構造体61は、先に概要にて説明したように、共振周波数の調整の対象となる部材であり、シリコンで形成され、入射した光を反射する反射部50を有し、その反射部50を反復揺動させることによって、光を走査する素子である。   As described in the outline above, the silicon structure 61 is a member for adjusting the resonance frequency, and is formed of silicon and includes the reflection portion 50 that reflects incident light. This is an element that scans light by repeatedly swinging.

シリコン構造体61の中央には、開口62が形成されている。この開口62の中央には光走査装置Aの反射部50が設けられている。反射部50は、平面視矩形状に形成しており、その周縁に近接する角部に、それぞれ貫通孔Hが設けられている。   An opening 62 is formed in the center of the silicon structure 61. In the center of the opening 62, the reflection unit 50 of the optical scanning device A is provided. The reflection part 50 is formed in a rectangular shape in plan view, and a through hole H is provided in each corner near the periphery.

ここで、反射部50の構成について図3を参照しながら更に説明する。図3(a)は、反射部50に穿設された貫通孔Hに光硬化樹脂を充填させた状態を示しており、光硬化樹脂は網掛けで示している。また、図3(b)は、図3(a)におけるX−X断面を示した説明図である。   Here, the configuration of the reflecting section 50 will be further described with reference to FIG. FIG. 3A shows a state in which a photo-curing resin is filled in the through hole H formed in the reflecting portion 50, and the photo-curing resin is shown by shading. Moreover, FIG.3 (b) is explanatory drawing which showed the XX cross section in Fig.3 (a).

反射部50は、図3(b)に破線で示すように、梁63の伸延方向を揺動軸Pとして反復揺動することにより、入射した光を反射しながら走査する。   As shown by a broken line in FIG. 3B, the reflecting unit 50 scans while reflecting the incident light by repeatedly swinging with the extending direction of the beam 63 as the swing axis P.

ここで、貫通孔Hは、反射部50上において、揺動軸Pから離隔した位置に設けられており、同貫通孔H内には、光硬化樹脂としての紫外線硬化樹脂Bを充填し、硬化させている。   Here, the through-hole H is provided on the reflecting portion 50 at a position separated from the swing axis P. The through-hole H is filled with an ultraviolet curable resin B as a photo-curing resin and cured. I am letting.

光硬化樹脂は、同光硬化樹脂が硬化反応を行うために必要な所定波長の光(以下、「硬化光」という。)が照射されることにより硬化する樹脂であり、本実施形態では、紫外光が硬化光として機能する紫外線硬化樹脂Bを用いている。   The photo-curing resin is a resin that cures when irradiated with light having a predetermined wavelength (hereinafter referred to as “curing light”) necessary for the photo-curing resin to perform a curing reaction. An ultraviolet curable resin B in which light functions as curing light is used.

貫通孔H内に充填された紫外線硬化樹脂Bは、後述の樹脂硬化工程にて紫外光が照射されて既に硬化している。このような構成を有する反射部50は、紫外線硬化樹脂Bを充填されていない状態の反射部50に比して、揺動軸Pを中心とする慣性モーメントが増大されており、シリコン構造体61の共振周波数の低下調整がなされている。   The ultraviolet curable resin B filled in the through-hole H is already cured by being irradiated with ultraviolet light in a resin curing step described later. The reflecting portion 50 having such a configuration has an increased moment of inertia about the swing axis P as compared with the reflecting portion 50 in a state where the ultraviolet curable resin B is not filled, and the silicon structure 61 The resonance frequency is adjusted to decrease.

しかも、紫外線硬化樹脂Bは、反射部50の表裏を貫く貫通孔Hに充填しているため、紫外線硬化樹脂Bが硬化する際に生起される収縮力が、反射部50の表面に偏って作用してしまうことがない。したがって、紫外線硬化樹脂Bの硬化に伴って、反射部50が歪んでしまうことを可及的に防止することができる。   Moreover, since the ultraviolet curable resin B is filled in the through-holes H that penetrate the front and back of the reflecting portion 50, the contraction force generated when the ultraviolet curable resin B is cured acts on the surface of the reflecting portion 50. There is no end to it. Therefore, it is possible to prevent the reflection part 50 from being distorted as much as possible as the ultraviolet curable resin B is cured.

なお、貫通孔Hに充填する紫外線硬化樹脂Bは、必要に応じて増減させても良い。充填量を変化させることにより、揺動軸Pを中心とする慣性モーメントを調整することができ、反射部50の共振周波数を下げる方向に微調整を行うことができる。   In addition, you may increase / decrease the ultraviolet curable resin B with which the through-hole H is filled as needed. By changing the filling amount, the moment of inertia about the swing axis P can be adjusted, and fine adjustment can be performed in the direction of lowering the resonance frequency of the reflecting portion 50.

図2の説明に戻ると、反射部50からは、相反する方向に一対の梁63が延びており、この一対の梁63が延びる先には、一対の梁63と連結され、それを支持する固定部64が設けられている。   Returning to the description of FIG. 2, a pair of beams 63 extend in opposite directions from the reflecting portion 50, and the pair of beams 63 is connected to and supports the pair of beams 63 at the end of the pair of beams 63. A fixing portion 64 is provided.

この一対の梁63が連結された固定部64には、圧電体65が設けられており、圧電体65に電圧を印加することによって、反射部50が反復揺動することとなる。この圧電体65は、反射部50を反復揺動させる駆動体として機能する。   The fixed portion 64 to which the pair of beams 63 are connected is provided with a piezoelectric body 65, and when a voltage is applied to the piezoelectric body 65, the reflecting portion 50 is repeatedly swung. The piezoelectric body 65 functions as a driving body that repeatedly swings the reflecting portion 50.

固定部64には、複数の貫通孔Hが形成されている。これら複数の貫通孔Hは、前述の反射部50の貫通孔Hと同様、紫外線硬化樹脂Bを充填するための孔として形成されており、いくつかの貫通孔Hの内部には紫外線硬化樹脂Bが充填されている。   A plurality of through holes H are formed in the fixing portion 64. The plurality of through holes H are formed as holes for filling the ultraviolet curable resin B, like the through holes H of the reflection part 50 described above, and some of the through holes H have an ultraviolet curable resin B inside. Is filled.

ここで、固定部64に形成された貫通孔H内の紫外線硬化樹脂Bの働きについて図4を参照しながら更に説明する。   Here, the function of the ultraviolet curable resin B in the through hole H formed in the fixing portion 64 will be further described with reference to FIG.

図4(a)に示すように、固定部64に形成された貫通孔Hは、充填した紫外線硬化樹脂Bが硬化する際に生起する収縮力が、梁63へ伝搬可能な領域(以下、「収縮力伝搬可能領域」という。)67内に形成されている。この収縮力伝搬可能領域67は、構造体の素材や形状、光硬化樹脂の収縮力、貫通孔Hの形状等により形状や面積が変化する領域である。   As shown in FIG. 4A, the through-hole H formed in the fixing portion 64 is a region (hereinafter referred to as “the contraction force” generated when the filled ultraviolet curable resin B is cured and propagates to the beam 63. The region is referred to as “a region where the contraction force can be transmitted”). This shrinkage force propagation possible region 67 is a region whose shape and area change depending on the material and shape of the structure, the shrinkage force of the photo-curing resin, the shape of the through hole H, and the like.

このような収縮力伝搬可能領域67内に穿設した貫通孔H内に紫外線硬化樹脂Bを充填して固化させることにより、図中破線の矢印で示すように、梁63に張力を付与して、固定部64の共振周波数を高めることができる。なお、図4(a)では、説明を容易とするために、梁63に最も近い貫通孔Hに充填された紫外線硬化樹脂Bによる張力のみを示しているが、その左右両側に位置する紫外線硬化樹脂Bが充填された貫通孔Hもまた同様に、その周辺に張力を発生させている。   By filling the through-hole H drilled in the shrinkage force propagation region 67 with the ultraviolet curable resin B and solidifying it, tension is applied to the beam 63 as shown by the broken arrow in the figure. The resonance frequency of the fixed part 64 can be increased. In FIG. 4A, for ease of explanation, only the tension by the ultraviolet curable resin B filled in the through hole H closest to the beam 63 is shown, but the ultraviolet curable positioned on both the left and right sides thereof is shown. Similarly, the through-hole H filled with the resin B also generates tension around it.

固定部64に形成された貫通孔H内の紫外線硬化樹脂Bは、硬化する際に生起する収縮力によって梁63に張力を与えており、共振周波数を高める働きを担っている。   The ultraviolet curable resin B in the through hole H formed in the fixing portion 64 applies tension to the beam 63 by a contraction force generated when it is cured, and has a function of increasing the resonance frequency.

また、図4(b)は、反射部50の拡大図を示しているが、収縮力伝搬可能領域67は反射部50側にも存在するため、反射部50の収縮力伝搬可能領域67内に形成した貫通孔Hに、紫外線硬化樹脂Bを充填して硬化させ、梁63に張力を付与するようにしても良い。   FIG. 4B shows an enlarged view of the reflecting portion 50, but the contraction force propagation possible region 67 is also present on the reflecting portion 50 side. The formed through-hole H may be filled with an ultraviolet curable resin B and cured to apply tension to the beam 63.

反射部50の収縮力伝搬可能領域67内に穿設した貫通孔H内で紫外線硬化樹脂Bを固化させることによっても、図中破線の矢印で示すように、梁63に張力を付与して、シリコン構造体61の共振周波数を高めることができる。   Even by solidifying the ultraviolet curable resin B in the through hole H drilled in the contraction force propagation possible region 67 of the reflecting portion 50, tension is applied to the beam 63 as shown by the broken arrow in the figure, The resonance frequency of the silicon structure 61 can be increased.

また図4(b)に示したように、揺動軸Pを貫通させた状態で貫通孔Hを設けることにより、反射部50の慣性モーメントの増大を抑制しつつ、梁63に張力を付与してシリコン構造体61の共振周波数を高めることができる。   Further, as shown in FIG. 4B, by providing the through hole H in a state where the swing shaft P is penetrated, tension is applied to the beam 63 while suppressing an increase in the moment of inertia of the reflecting portion 50. Thus, the resonance frequency of the silicon structure 61 can be increased.

また、図4(b)において点線で示す貫通孔Hのように、収縮力伝搬可能領域67の領域内であって、揺動軸Pを貫通しない位置に貫通孔Hを設ければ、反射部50の慣性モーメントを増大しつつ、梁63に張力を伝達させることも可能である。   4B, if the through hole H is provided in a position that does not penetrate the swinging shaft P in the region 67 where the contraction force can be propagated, such as a through hole H indicated by a dotted line in FIG. It is also possible to transmit tension to the beam 63 while increasing the moment of inertia of 50.

すなわち、共振周波数の下方調整と、上方調整とを併用することができ、シリコン構造体61の共振周波数の微妙な調整を行うことができる。   That is, the lower adjustment of the resonance frequency and the upper adjustment can be used together, and the resonance frequency of the silicon structure 61 can be finely adjusted.

再び、図2の説明に戻る。支持部材71は、シリコン構造体61を支持し、台座52に配置される。この支持部材71は、シリコン構造体61と略同一の線膨張係数を有するとともに前記シリコン構造体61を陽極接合にて互いに強く接合しあった状態で支持するためにガラスで形成されている。また、支持部材71が設置されることによって、反射部50の揺動駆動のための高さを確保することができる。この支持部材71の中央には、開口73が形成されている。支持部材71の長手方向の端部には、上述したシリコン構造体61の固定部64や、台座52の接着部54が接着部材で接着される結合部72が形成されている。   Returning again to the description of FIG. The support member 71 supports the silicon structure 61 and is disposed on the pedestal 52. The support member 71 has substantially the same linear expansion coefficient as that of the silicon structure 61 and is formed of glass so as to support the silicon structure 61 in a state where the silicon structure 61 is strongly bonded to each other by anodic bonding. In addition, by installing the support member 71, it is possible to ensure the height for driving the reflecting portion 50 to swing. An opening 73 is formed in the center of the support member 71. At the end portion in the longitudinal direction of the support member 71, a fixing portion 64 of the silicon structure 61 described above and a connecting portion 72 to which the adhesive portion 54 of the base 52 is bonded with an adhesive member are formed.

台座52は、セラミックで形成されている。この台座52には、凹部53が形成されている。また、この凹部53の長手方向の端部には、上述した支持部材71の結合部72を接着するための接着部54が設けられている。台座52は、結合部72に接着部材で接着され、光走査体51を支持する。   The base 52 is made of ceramic. A recess 53 is formed in the pedestal 52. In addition, an adhesive portion 54 for adhering the coupling portion 72 of the support member 71 described above is provided at an end portion of the concave portion 53 in the longitudinal direction. The pedestal 52 is bonded to the coupling portion 72 with an adhesive member, and supports the optical scanning body 51.

[光走査装置Aの製造方法]
次に、図5〜図7を参照して、光走査装置Aの製造方法について説明する。図5は、本実施形態における網膜走査型ディスプレイ1の光走査装置Aの製造方法を示すフローであり、図6は光走査装置Aのシリコン構造体61の共振周波数の調整を行う過程を示したフローであり、図7はシリコン構造体61の製造過程を示した説明図である。
[Manufacturing Method of Optical Scanning Device A]
Next, a manufacturing method of the optical scanning device A will be described with reference to FIGS. FIG. 5 is a flow showing a method of manufacturing the optical scanning device A of the retinal scanning display 1 in this embodiment, and FIG. 6 shows a process of adjusting the resonance frequency of the silicon structure 61 of the optical scanning device A. FIG. 7 is an explanatory view showing a manufacturing process of the silicon structure 61.

最初に、図5に示すように、シリコン構造体作製工程を行う(ステップS11)。この工程においては、シリコン構造体61をKOHウェットエッチングで形成し、開口62を形成する。これによって、シリコン基板81(図7参照)をエッチングして、反射部50、一対の梁63、固定部64を形成する。そして、更に圧電体65(駆動体)を配置して光走査体51を製造する。   First, as shown in FIG. 5, a silicon structure manufacturing process is performed (step S11). In this step, the silicon structure 61 is formed by KOH wet etching, and the opening 62 is formed. Thus, the silicon substrate 81 (see FIG. 7) is etched to form the reflecting portion 50, the pair of beams 63, and the fixing portion 64. Further, the optical scanning body 51 is manufactured by arranging the piezoelectric body 65 (driving body).

すなわち、図7(A)に示すように、まずシリコン基板81の上下両面に熱酸化を行い、酸化膜82を形成する。そして、図7(B)に示すように、酸化膜82の上下両面にレジスト83を塗布し、露光を行い、反射部50や、梁63、固定部64を形成するためのパターニングを行う。また、このとき前記反射部50や固定部64の所定箇所に貫通孔Hを形成するためのパターニングも行う。そして、図7(C)に示すように、酸化膜82をパターニングし、図7(D)に示すように、シリコンウェットエッチングで反射部50や、固定部64、貫通孔Hを形成し、次いで、レジスト83を除去する。更に、図7(E)に示すように、酸化膜82を除去し、貫通孔Hが形成されたシリコン構造体61を作製する。   That is, as shown in FIG. 7A, first, thermal oxidation is performed on the upper and lower surfaces of the silicon substrate 81 to form an oxide film 82. Then, as shown in FIG. 7B, a resist 83 is applied to both the upper and lower surfaces of the oxide film 82, and exposure is performed, and patterning is performed to form the reflecting portion 50, the beam 63, and the fixing portion 64. At this time, patterning for forming a through hole H at a predetermined location of the reflecting portion 50 and the fixing portion 64 is also performed. Then, as shown in FIG. 7C, the oxide film 82 is patterned, and as shown in FIG. 7D, the reflective portion 50, the fixing portion 64, and the through-hole H are formed by silicon wet etching. Then, the resist 83 is removed. Further, as shown in FIG. 7E, the oxide film 82 is removed, and the silicon structure 61 in which the through hole H is formed is manufactured.

次に、図5に示すように、シリコン構造体61の共振周波数の調整工程を行う(ステップS12)。本工程は、前ステップS11にて形成した貫通孔Hに光硬化樹脂を充填し、反射部50の慣性モーメントを増大させたり、梁63への張力を付与することにより、シリコン構造体61の共振周波数を調整する工程であり、後に図6を参照しながら更に詳細に説明する。   Next, as shown in FIG. 5, a process of adjusting the resonance frequency of the silicon structure 61 is performed (step S12). In this step, the through-hole H formed in the previous step S11 is filled with a photo-curing resin, and the moment of inertia of the reflecting portion 50 is increased or a tension is applied to the beam 63, thereby resonating the silicon structure 61. This is a step of adjusting the frequency, and will be described in more detail later with reference to FIG.

次に、図5に示すように、ガラス支持部材作製工程を行う(ステップS13)。この工程においては、例えば、ガラスウエハにマスキングを行い、フッ素系ガスドライエッチングで加工を行うことにより、開口73の形成を行う。   Next, as shown in FIG. 5, a glass support member manufacturing process is performed (step S13). In this step, for example, the opening 73 is formed by masking the glass wafer and processing by fluorine-based gas dry etching.

次に、シリコン構造体61とガラスで作製した支持部材71とを陽極接合して、光走査体51を形成する(ステップS14)。   Next, the silicon structure 61 and the support member 71 made of glass are anodically bonded to form the optical scanning body 51 (step S14).

次に、セラミック製の台座52を作製する(ステップS16)。この工程においては、セラミック製の台座52を圧粉成形で作製する。   Next, the ceramic pedestal 52 is produced (step S16). In this step, the ceramic pedestal 52 is produced by compacting.

次に、台座52との相対位置決めを行い(ステップS17)、接着部材を滴下し(ステップS18)、乾燥させる(ステップS19)。これによって、光走査体51の結合部72(接着領域)を台座52に接着部材で固定され、光走査装置Aが製造される。   Next, relative positioning with respect to the pedestal 52 is performed (step S17), and an adhesive member is dropped (step S18) and dried (step S19). Thus, the coupling portion 72 (adhesion region) of the optical scanning body 51 is fixed to the pedestal 52 with the adhesive member, and the optical scanning device A is manufactured.

次に、前述のステップS12における共振周波数調整工程について、図6を参照しながら具体的に説明する。   Next, the resonance frequency adjusting process in step S12 will be specifically described with reference to FIG.

図6に示すように、共振周波数調整工程では、まず、シリコンウエハ上に形成されたシリコン構造体61のダイシング(切り分け)を行う(ステップS20)。そして、切り分けられたシリコン構造体61の共振周波数の測定を行う(ステップS21)。   As shown in FIG. 6, in the resonance frequency adjusting step, first, dicing of the silicon structure 61 formed on the silicon wafer is performed (step S20). Then, the resonance frequency of the cut silicon structure 61 is measured (step S21).

次に、測定を行ったシリコン構造体61の共振周波数は、例えば仕様などにより予め目標として定められている共振周波数の範囲(以下、目標共振周波数帯という。)内であるか否かについて判断を行う(ステップS22)。   Next, a determination is made as to whether or not the resonance frequency of the measured silicon structure 61 is within a resonance frequency range (hereinafter, referred to as a target resonance frequency band) determined as a target in advance, for example, by specifications. This is performed (step S22).

ここで、測定した共振周波数が、目標共振周波数帯内でない場合(ステップS22:No)には、ステップS23の工程を行う。また、目標共振周波数帯内である場合(ステップS22:Yes)には、本共振周波数調整工程を終えて、前述のステップS13に工程を移す。   Here, when the measured resonance frequency is not within the target resonance frequency band (step S22: No), the process of step S23 is performed. If it is within the target resonance frequency band (step S22: Yes), the resonance frequency adjustment process is finished, and the process proceeds to the above-described step S13.

ステップS23では、目標共振周波数帯内でないシリコン構造体61に予め穿設されている複数の貫通孔Hのうち、いずれの貫通孔Hに光硬化樹脂を充填するかを選択する貫通孔選択工程を行う。   In step S23, a through-hole selection step of selecting which through-hole H is filled with the photocurable resin among the plurality of through-holes H previously drilled in the silicon structure 61 that is not within the target resonance frequency band. Do.

本工程にて選択する貫通孔Hは、次の樹脂充填工程にて用いる紫外線硬化樹脂Bが硬化する際に生起する収縮力等に応じて決定する。   The through-hole H selected in this step is determined according to the shrinkage force or the like that occurs when the ultraviolet curable resin B used in the next resin filling step is cured.

次に、選択された貫通孔Hに紫外線硬化樹脂Bを充填する樹脂充填工程を行い(ステップS24)、充填した紫外線硬化樹脂Bに対して硬化光を照射する樹脂硬化工程を行う(ステップS25)。   Next, a resin filling process for filling the selected through hole H with the ultraviolet curable resin B is performed (step S24), and a resin curing process for irradiating the filled ultraviolet curable resin B with curing light is performed (step S25). .

この硬化光の照射方法は、貫通孔Hの開口の片方から照射しても良く、両方の開口から照射するようにしても良い。   This curing light irradiation method may be performed from one of the openings of the through hole H, or from both openings.

両方の開口から照射する場合、シリコン構造体61の表裏両面側に硬化光を出射する照射源を配置しても良いが、例えば図8(a)に示すように、一方の開口側に照射源74を配置すると共に、他方の開口側に硬化光76を反射する反射体75を配置し、照射源74より出射したた硬化光76を貫通孔H内を透過させ、貫通孔Hから出射した硬化光76を反射体75で反射して再び貫通孔H内を透過させるようにしても良い。このような方法によれば、少ない照射源74で、貫通孔H内の紫外線硬化樹脂Bに対して効率よく硬化光76を両面から照射することができる。   When irradiating from both openings, an irradiation source that emits curing light may be arranged on both the front and back sides of the silicon structure 61. For example, as shown in FIG. 74 and a reflector 75 that reflects the curing light 76 is disposed on the other opening side, the curing light 76 emitted from the irradiation source 74 is transmitted through the through-hole H, and the curing emitted from the through-hole H. The light 76 may be reflected by the reflector 75 and transmitted through the through hole H again. According to such a method, the curing light 76 can be efficiently irradiated from both sides to the ultraviolet curable resin B in the through hole H with a small number of irradiation sources 74.

また、貫通孔H内の紫外線硬化樹脂Bは、硬化反応を十分に行わせて完全に硬化させても良いが、硬化光76の照射量を調整して、完全に硬化する前に硬化反応を停止させるようにしても良い。なお、硬化光76の照射量は、硬化光76の照射時間や照射強度(すなわち、単位時間当たりに与えるエネルギー)を加減することにより調整することができる。   Further, the ultraviolet curable resin B in the through hole H may be completely cured by sufficiently performing the curing reaction, but the curing reaction is performed before the curing is completed by adjusting the irradiation amount of the curing light 76. You may make it stop. The irradiation amount of the curing light 76 can be adjusted by adjusting the irradiation time and irradiation intensity of the curing light 76 (that is, energy given per unit time).

硬化光76の照射量を調整すれば、紫外線硬化樹脂Bは硬化度合いによって収縮力が異なるため、収縮力を調整することができ、シリコン構造体61の共振周波数の微調整を行うことができる。   If the irradiation amount of the curing light 76 is adjusted, the shrinkage force varies depending on the degree of cure of the ultraviolet curable resin B, so the shrinkage force can be adjusted, and the resonance frequency of the silicon structure 61 can be finely adjusted.

図8(b)は、貫通孔Hに充填された紫外線硬化樹脂Bへの硬化光76の照射量と、シリコン構造体61の共振周波数との関係を示したグラフである。前述の如く、固定部64の収縮力伝搬可能領域67に形成した貫通孔Hや、反射部50の収縮力伝搬可能領域67で揺動軸Pを貫いて形成した貫通孔Hに紫外線硬化樹脂Bを充填した場合には、反射部50の慣性モーメントへの影響は無いか僅かであるため、図8(b)に示すように、紫外線硬化樹脂Bを硬化させる硬化光76の照射前の段階では、紫外線硬化樹脂Bを充填する前の共振周波数とほぼ同じである。   FIG. 8B is a graph showing the relationship between the irradiation amount of the curing light 76 to the ultraviolet curable resin B filled in the through hole H and the resonance frequency of the silicon structure 61. As described above, the ultraviolet curable resin B is formed in the through hole H formed in the contraction force propagation region 67 of the fixing portion 64 or the through hole H formed through the swing axis P in the contraction force propagation region 67 of the reflection unit 50. 8 is not affected or slightly affected by the moment of inertia of the reflecting portion 50. Therefore, as shown in FIG. 8B, at the stage before irradiation of the curing light 76 for curing the ultraviolet curable resin B, The resonance frequency before filling with the ultraviolet curable resin B is substantially the same.

その後、硬化光76の照射量が増えるに従い、紫外線硬化樹脂Bの硬化が徐々に進み、紫外線硬化樹脂Bの収縮力が強くなるため、張力が梁63へ掛かり、シリコン構造体61の共振周波数が上昇することとなる。   Thereafter, as the irradiation amount of the curing light 76 increases, the curing of the ultraviolet curable resin B gradually proceeds, and the shrinkage force of the ultraviolet curable resin B increases, so that the tension is applied to the beam 63 and the resonance frequency of the silicon structure 61 is increased. Will rise.

したがって、貫通孔H内に充填した紫外線硬化樹脂Bへの硬化光76の照射量を調整することにより、硬化度合いを調整してシリコン構造体61の共振周波数を所望の値に調整することも可能である。   Therefore, by adjusting the irradiation amount of the curing light 76 to the ultraviolet curable resin B filled in the through hole H, the degree of curing can be adjusted and the resonance frequency of the silicon structure 61 can be adjusted to a desired value. It is.

また、図4(b)にて破線で示した貫通孔Hの如く、反射部50の収縮力伝搬可能領域67内であって、揺動軸Pから離隔した位置に設けた場合、貫通孔Hに充填された紫外線硬化樹脂Bへの硬化光76の照射量と、シリコン構造体61の共振周波数との関係は、図8(c)に示すようになる。   In addition, as in the case of the through hole H indicated by a broken line in FIG. 4B, the through hole H is provided in the region 67 where the reflective force 50 can be contracted and transmitted away from the swing axis P. The relationship between the irradiation amount of the curing light 76 to the ultraviolet curable resin B filled in and the resonance frequency of the silicon structure 61 is as shown in FIG.

すなわち、貫通孔Hに紫外線硬化樹脂Bを充填し硬化させる前の状態では、シリコン構造体61の共振周波数は、充填した紫外線硬化樹脂Bの重量による慣性モーメントの増大により、紫外線硬化樹脂Bを充填する前の共振周波数よりも下がるが、その後照射量が増加するに従い、梁63に張力が付与されて共振周波数が徐々に上昇する。   That is, in the state before the through hole H is filled with the ultraviolet curable resin B and cured, the resonance frequency of the silicon structure 61 is filled with the ultraviolet curable resin B due to an increase in the moment of inertia due to the weight of the filled ultraviolet curable resin B. However, as the irradiation amount increases thereafter, tension is applied to the beam 63 and the resonance frequency gradually increases.

貫通孔H内の紫外線硬化樹脂Bは、硬化光76の照射量の増減によりこのような挙動を示すため、例えば、目標共振周波数帯よりも高い共振周波数を有するシリコン構造体61に対しては、反射部50の収縮力伝搬可能領域67内であって、揺動軸Pから離隔した位置に設けた貫通孔H内に紫外線硬化樹脂Bを充填することにより一旦共振周波数を下げ、その後、硬化光の照射量を徐々に増やしながら、シリコン構造体61の共振周波数の上方調整を行うことも可能である。   The ultraviolet curable resin B in the through-hole H exhibits such a behavior by increasing / decreasing the irradiation amount of the curing light 76. For example, for the silicon structure 61 having a resonance frequency higher than the target resonance frequency band, The resonance frequency is once lowered by filling the through-hole H provided in the contraction force propagation region 67 of the reflecting portion 50 at a position separated from the swing axis P, and then the curing light is reduced. It is also possible to adjust the resonance frequency of the silicon structure 61 upward while gradually increasing the amount of irradiation.

図6の説明に戻り、本樹脂硬化工程を終えると、処理を再びステップS21の共振周波数測定工程を行い、ステップS22においてシリコン構造体61の共振周波数が目標共振周波数帯内となった場合(ステップS22:Yes)には、処理を戻して、対象となっているシリコン構造体61の共振周波数の調整を終える。   Returning to the description of FIG. 6, when the resin curing process is finished, the process is performed again in the resonance frequency measurement process of step S <b> 21. In S22: Yes), the process is returned to finish the adjustment of the resonance frequency of the silicon structure 61 as a target.

一方、ステップS22において、シリコン構造体61の共振周波数が、未だ目標共振周波数帯内ではない場合(ステップS23:No)には、シリコン構造体61の共振周波数が目標共振周波数帯内に収まるまで、前述のステップS23〜S25(以下、樹脂硬化処理という。)を繰り返す。   On the other hand, in step S22, when the resonance frequency of the silicon structure 61 is not yet within the target resonance frequency band (step S23: No), until the resonance frequency of the silicon structure 61 falls within the target resonance frequency band, The aforementioned steps S23 to S25 (hereinafter referred to as resin curing process) are repeated.

なお、この樹脂硬化処理は、まず反射部50を対象として行い、次いで、固定部64を対象として行うのが好ましい。このような順で樹脂硬化処理を行うことにより、共振周波数調整前のシリコン構造体61の共振周波数が、目標共振周波数帯から高低いずれに外れていても、シリコン構造体61の共振周波数を目標共振周波数帯内に調整することができる。   In addition, it is preferable to perform this resin hardening process for the reflection part 50 first, and then for the fixing part 64. By performing the resin curing process in this order, even if the resonance frequency of the silicon structure 61 before adjusting the resonance frequency is out of the target resonance frequency band, the resonance frequency of the silicon structure 61 is set to the target resonance. It can be adjusted within the frequency band.

本実施形態に係る光走査装置Aは、上述のようにして製造されることとなる。   The optical scanning device A according to the present embodiment is manufactured as described above.

[構造体の変形例]
次に、シリコン構造体61の貫通孔Hの形成に係る他の変形例について、図9を参照しながら説明する。なお、これらの変形例は、貫通孔Hの穿設位置によって生ずる効果を説明するための代表例として示すものであり、貫通孔Hの穿設位置は、以下に説明する変形例における穿設位置に限定されるものではなく、各変形例の穿設位置を適宜組み合わせたり増減させて実施しても良いのは勿論である。また、以下の説明において、前述と同様の部材に関しては同じ符号を付して説明を省略する。
[Modification of structure]
Next, another modification example relating to the formation of the through hole H of the silicon structure 61 will be described with reference to FIG. These modified examples are shown as representative examples for explaining the effects caused by the drilling positions of the through holes H. The drilling positions of the through holes H are the drilling positions in the modified examples described below. Of course, the present invention is not limited to this, and the drilling positions of the respective modifications may be appropriately combined or increased or decreased. Moreover, in the following description, the same code | symbol is attached | subjected about the member similar to the above-mentioned, and description is abbreviate | omitted.

図9(a)に示すシリコン構造体90は、前述のシリコン構造体61と略同様の構成を有しているが、反射部50に貫通孔Hが穿設されていない点で構造を異にしている。このような構造を有するシリコン構造体90によっても、シリコン構造体90の共振周波数を上方調整することができ、しかも貫通孔Hの数を減らして構造をシンプルにすることができる。   A silicon structure 90 shown in FIG. 9A has substantially the same configuration as the silicon structure 61 described above, but the structure is different in that the through hole H is not formed in the reflecting portion 50. ing. Also with the silicon structure 90 having such a structure, the resonance frequency of the silicon structure 90 can be adjusted upward, and the number of through holes H can be reduced to simplify the structure.

また、図9(b)に示すシリコン構造体91は、シリコン構造体90と略同様の構成を有しているが、反射部50上に、梁63に直交する方向へ複数の貫通孔Hを穿設した点で異なっている。このような構造を有するシリコン構造体91では、固定部64に穿設した貫通孔Hにより、シリコン構造体91の共振周波数を上方調整することができ、また、反射部50に設けた貫通孔Hによっても共振周波数の上方調整及び下方調整を行うことができる。   9B has substantially the same configuration as that of the silicon structure 90, but a plurality of through holes H are formed on the reflecting portion 50 in a direction perpendicular to the beam 63. It differs in that it was drilled. In the silicon structure 91 having such a structure, the resonance frequency of the silicon structure 91 can be adjusted upward by the through-hole H formed in the fixing portion 64, and the through-hole H provided in the reflecting portion 50 can be adjusted. The resonance frequency can be adjusted upward and downward.

特に、反射部50に設けた貫通孔Hのうち、揺動軸Pからより離隔した貫通孔Hを選択することにより、貫通孔H内に充填した紫外線硬化樹脂Bの硬化度合いと、反射部50の慣性モーメントの調整とを同時に行うことができ、シリコン構造体91の共振周波数をより細やかに調整することができる。なお、反射部50に穿設した貫通孔Hは、全てが収縮力伝搬可能領域67内に形成してもよく、また、一部の貫通孔Hは、収縮力伝搬可能領域67外に形成しても良い。一部の貫通孔Hを収縮力伝搬可能領域67外に形成した場合には、その貫通孔Hに充填した紫外線硬化樹脂Bの重量による効果を享受することができ、収縮力による効果を無視してシリコン構造体91の共振周波数の調整を行うことができるため、共振周波数の調整作業を簡便なものとすることができる。   In particular, the degree of cure of the ultraviolet curable resin B filled in the through-hole H by selecting the through-hole H further away from the swing axis P among the through-holes H provided in the reflective portion 50, and the reflective portion 50 The inertia moment can be adjusted at the same time, and the resonance frequency of the silicon structure 91 can be adjusted more finely. Note that all of the through holes H formed in the reflecting portion 50 may be formed in the contraction force propagation possible region 67, and some of the through holes H are formed outside the contraction force propagation possible region 67. May be. When some through holes H are formed outside the region 67 where the contraction force can be transmitted, the effect of the weight of the ultraviolet curable resin B filled in the through hole H can be enjoyed, and the effect of the contraction force is ignored. Since the resonance frequency of the silicon structure 91 can be adjusted, the adjustment operation of the resonance frequency can be simplified.

また、図9(c)に示すシリコン構造体92は、シリコン構造体61と略同様の構成を有しているが、固定部64に穿設した貫通孔Hの形成位置において構造を異にしている。具体的には、第2列目に形成された貫通孔H同士の間隔よりも、より梁63に近い第1列目に形成された貫通孔H同士の間隔を狭めて、張力が梁63の根元部に収束するようにしている。   9C has substantially the same structure as the silicon structure 61, but the structure is different at the position where the through hole H formed in the fixing portion 64 is formed. Yes. Specifically, the interval between the through holes H formed in the first row closer to the beam 63 is made narrower than the interval between the through holes H formed in the second row, and the tension of the beam 63 is reduced. It converges at the root.

このような構成とすることにより、貫通孔H内で生起される紫外線硬化樹脂Bの張力を効率的に梁63に伝達させることができ、シリコン構造体92の共振周波数の調整を行うことができる。   With such a configuration, the tension of the ultraviolet curable resin B generated in the through hole H can be efficiently transmitted to the beam 63, and the resonance frequency of the silicon structure 92 can be adjusted. .

また、図9(d)に示すシリコン構造体93は、シリコン構造体61と略同様の構成を有しているが、固定部64に穿設した貫通孔Hのうち、梁63に最も近い第1列目の貫通孔Hの大きさを小さく形成した点で構造を異にしている。   The silicon structure 93 shown in FIG. 9D has substantially the same configuration as that of the silicon structure 61, but the first through hole H formed in the fixing portion 64 is closest to the beam 63. The structure is different in that the size of the through holes H in the first row is reduced.

このような構成とすることにより、梁63への影響が最も大きい位置の貫通孔Hにおける張力を小さくして、より細やかにシリコン構造体93の共振周波数の調整を行うことができる。   With such a configuration, it is possible to adjust the resonance frequency of the silicon structure 93 more finely by reducing the tension in the through hole H at the position having the greatest influence on the beam 63.

上述してきたように、本実施形態に係る光走査装置Aでは、入射した光束を反射する反射部(例えば、反射部50)と、反射部から伸延する梁部(例えば、梁63)と、梁部を支持する固定部(例えば、固定部64)とを有する構造体(例えば、シリコン構造体61)と、固定部上に配置され、共振により反射部を梁部の軸線(例えば、揺動軸P)廻りに反復揺動させる駆動体(例えば、圧電体65)と、を備えた光走査装置Aにおいて、構造体の所定箇所に穿設された貫通孔(例えば、貫通孔H)に充填された光硬化樹脂(例えば、紫外線硬化樹脂B)を有し、光硬化樹脂の硬化に伴い生じる収縮力を変化させる当該光硬化樹脂に対する光(例えば、硬化光76)の照射量及び/または光硬化樹脂の重量によって、構造体の共振周波数を調整した。したがって、反射部の歪みが可及的に防止され、しかも、共振周波数が精度良く調整された光走査装置を提供することができる。   As described above, in the optical scanning device A according to the present embodiment, the reflection part (for example, the reflection part 50) that reflects the incident light beam, the beam part (for example, the beam 63) that extends from the reflection part, and the beam The structure (for example, the silicon structure 61) having a fixed portion (for example, the fixed portion 64) that supports the portion and the axis of the beam portion (for example, the swing axis) disposed on the fixed portion and the reflection portion by resonance. P) In an optical scanning apparatus A including a driving body (for example, a piezoelectric body 65) that repeatedly swings around, a through hole (for example, a through hole H) drilled at a predetermined position of the structure is filled. A photo-curing resin (for example, an ultraviolet-curing resin B), and an irradiation amount and / or photo-curing of the light (for example, the curing light 76) to the photo-curing resin that changes a shrinkage force generated when the photo-curing resin is cured. The resonance frequency of the structure is adjusted by the weight of the resin. It was. Therefore, it is possible to provide an optical scanning device in which the distortion of the reflecting portion is prevented as much as possible and the resonance frequency is adjusted with high accuracy.

また、構造体に、光硬化樹脂を充填するための貫通孔が複数設けられているため、穿設された位置の違いによる、反射部50の慣性モーメントへの影響や、梁63のバネ定数への影響を変化させることができ、細やかに共振周波数の調整がなされた光走査装置Aを提供することができる。   In addition, since the structure is provided with a plurality of through holes for filling the photo-curing resin, the influence on the moment of inertia of the reflecting portion 50 due to the difference in the drilled position and the spring constant of the beam 63 Thus, it is possible to provide the optical scanning apparatus A in which the resonance frequency is finely adjusted.

また、貫通孔Hを、少なくとも反射部50に設けることにより、反射部50の慣性モーメントへの影響と、梁63のバネ定数への影響とを同時に働かせて、共振周波数の上方調整と下方調整との両方を適宜行うことができる。   Further, by providing the through-hole H at least in the reflecting portion 50, the influence on the moment of inertia of the reflecting portion 50 and the influence on the spring constant of the beam 63 are simultaneously exerted, so that the resonance frequency is adjusted upward and downward. Both can be performed as appropriate.

また、貫通孔Hを、反射部50と、固定部64との両方に設けることによっても、反射部50の慣性モーメントへの影響と、梁63のバネ定数への影響とを同時に働かせて、共振周波数の上方調整と下方調整との両方を適宜行うことができる。   Further, by providing the through-hole H in both the reflecting portion 50 and the fixed portion 64, the influence on the moment of inertia of the reflecting portion 50 and the influence on the spring constant of the beam 63 can be made to work at the same time. Both the upward adjustment and the downward adjustment of the frequency can be appropriately performed.

また、反射部50の貫通孔Hは、反射部50の周縁に近接して設けることにより、揺動軸Pから離隔した位置に紫外線硬化樹脂Bによる重量を置くことができ、慣性モーメントを効率的に上げることができると共に、反射部50への入射光束に影響を及ぼさないようにすることができる。   Further, by providing the through hole H of the reflecting portion 50 close to the periphery of the reflecting portion 50, the weight of the ultraviolet curable resin B can be placed at a position separated from the swing axis P, and the moment of inertia can be efficiently performed. In addition, the incident light flux to the reflecting portion 50 can be prevented from being affected.

また、紫外線硬化樹脂Bは、貫通孔Hの開口両側から光を照射して硬化したため、紫外線硬化樹脂Bを均一に硬化させることができる。   Further, since the ultraviolet curable resin B is cured by irradiating light from both sides of the through hole H, the ultraviolet curable resin B can be uniformly cured.

また、貫通孔Hの開口両側より照射する硬化光76のうち、一方の開口側から照射する硬化光76は、他方の開口側より照射され貫通孔Hを透過した光を反射体75により反射させた光とすることにより、少ない照射源74で、貫通孔H内の紫外線硬化樹脂Bに対して効率よく硬化光76を照射することができる。   Further, of the curing light 76 irradiated from both sides of the opening of the through hole H, the curing light 76 irradiated from one opening side reflects the light transmitted from the other opening side and transmitted through the through hole H by the reflector 75. By using the light, the curing light 76 can be efficiently irradiated to the ultraviolet curable resin B in the through hole H with a small number of irradiation sources 74.

また、本実施形態に係る画像形成装置(例えば、網膜走査型ディスプレイ1)は、画像信号Sに応じた光束を出射する光出射部(例えば、光源ユニット部10)と、請求項1〜7いずれか1項に記載の光走査装置とを備え、光出射部から出射した光束を光走査装置によって走査して画像を形成することとしたため、共振周波数が精度良く調整された光走査装置Aによって走査しながら画像を形成することができる。   Further, the image forming apparatus (for example, the retinal scanning display 1) according to the present embodiment includes a light emitting unit (for example, the light source unit unit 10) that emits a light beam according to the image signal S, and any one of claims 1 to 7. The optical scanning device according to claim 1 is provided, and the light beam emitted from the light emitting unit is scanned by the optical scanning device to form an image. Therefore, the scanning is performed by the optical scanning device A whose resonance frequency is accurately adjusted. An image can be formed while the image is being processed.

また、本実施形態に係る光走査装置の製造方法では、入射した光束を反射する反射部と、反射部から伸延する梁部と、同梁部を支持する固定部とを備える構造体と、固定部上に配置され、共振により反射部を梁部の軸線廻りに反復揺動させる駆動体と、を備えた光走査装置の製造方法において、構造体の所定箇所に複数穿設された貫通孔のうち、光硬化樹脂を充填させる貫通孔を選択する貫通孔選択ステップ(例えば、貫通孔選択工程S23)と、前記貫通孔選択ステップにて選択した貫通孔に、光硬化樹脂を充填する樹脂充填ステップ(例えば、樹脂充填工程S24)と、前記樹脂充填ステップにて充填した光硬化樹脂に対して光を照射し、前記光硬化樹脂を硬化させる樹脂硬化ステップ(例えば、樹脂硬化工程S25)と、を含む樹脂硬化処理を行い、光硬化樹脂の硬化に伴い生じる収縮力を変化させる当該光硬化樹脂に対する光の照射量及び/または光硬化樹脂の重量により、構造体の共振周波数を調整することとしたため、反射部50の歪みが可及的に防止され、しかも、共振周波数が精度良く調整された光走査装置を製造することができる。   Further, in the method of manufacturing the optical scanning device according to the present embodiment, a structure including a reflecting portion that reflects an incident light beam, a beam portion that extends from the reflecting portion, and a fixing portion that supports the beam portion, and a fixing In a method of manufacturing an optical scanning device comprising a driving body that is disposed on a portion and reciprocally swings the reflecting portion about the axis of the beam portion by resonance, a plurality of through holes formed at predetermined positions of the structure body Among them, a through-hole selection step (for example, through-hole selection step S23) for selecting a through-hole to be filled with a photocurable resin, and a resin filling step for filling the through-hole selected in the through-hole selection step with a photocurable resin (For example, resin filling step S24) and a resin curing step (for example, resin curing step S25) for irradiating the photocurable resin filled in the resin filling step with light to cure the photocurable resin. Including resin hardness Since the resonance frequency of the structure is adjusted by the amount of light applied to the photocurable resin and / or the weight of the photocurable resin to change the shrinkage force generated by the curing of the photocurable resin, the reflective portion Thus, it is possible to manufacture an optical scanning device in which the distortion of 50 is prevented as much as possible and the resonance frequency is adjusted with high accuracy.

また、樹脂硬化処理を、まず反射部50を対象として行い、次いで、固定部64を対象として行うことにより、共振周波数調整前の構造体の共振周波数が、目標共振周波数帯から高低いずれに外れていても、構造体の共振周波数を目標共振周波数帯内に調整することができる。   In addition, the resin curing process is first performed on the reflecting portion 50 and then on the fixing portion 64, so that the resonance frequency of the structure before the resonance frequency adjustment is out of the target resonance frequency band. However, the resonance frequency of the structure can be adjusted within the target resonance frequency band.

最後に、上述した各実施の形態の説明は本発明の一例であり、本発明は上述の実施の形態に限定されることはない。このため、上述した各実施の形態以外であっても、本発明に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能であることは勿論である。   Finally, the description of each embodiment described above is an example of the present invention, and the present invention is not limited to the above-described embodiment. For this reason, it is a matter of course that various modifications can be made in accordance with the design and the like as long as they do not depart from the technical idea according to the present invention other than the embodiments described above.

本実施形態における光走査装置Aの製造方法では、ウエハー上に複数形成したシリコン構造体61をダイシングにより別個に切り分けてから共振周波数の調整を行うようにしたが、これに限定されるものではなく、ウエハー上に複数のシリコン構造体61が形成されている状態で、それぞれのシリコン構造体61毎に共振周波数の測定を行うようにしても良い。   In the method of manufacturing the optical scanning device A in the present embodiment, the resonance frequency is adjusted after the plurality of silicon structures 61 formed on the wafer are separated by dicing, but the present invention is not limited to this. The resonance frequency may be measured for each silicon structure 61 in a state where a plurality of silicon structures 61 are formed on the wafer.

また、本実施形態のおける光走査装置Aの駆動体は、圧電体65としたが、これに限定されるものではなく、例えば、図10(a)に示すような可動電極95と固定電極96とを有する静電櫛歯97により静電駆動する光走査装置A1においても同様に本発明を適用することができる。   In addition, the driving body of the optical scanning device A in the present embodiment is the piezoelectric body 65, but is not limited to this. For example, the movable electrode 95 and the fixed electrode 96 as shown in FIG. The present invention can be similarly applied to the optical scanning device A1 electrostatically driven by the electrostatic comb teeth 97 having the above.

また、本実施形態における光走査装置Aはシリコンベースとしたが、これに限定されるものではなく、例えば、図10(b)に示すような形状の金属によって形成されるメタル構造体94を備えた光走査装置A2においても同様に本発明を適用することができる。   Further, although the optical scanning device A in the present embodiment is based on silicon, the present invention is not limited to this. For example, the optical scanning device A includes a metal structure 94 formed of metal having a shape as shown in FIG. The present invention can be similarly applied to the optical scanning device A2.

また、本実施形態におけるシリコン構造体では、貫通孔は、平面視において矩形状としたが、これに限定されるものではなく、円形や多角形など必要に応じてあらゆる形状とすることができる。   Further, in the silicon structure in the present embodiment, the through hole is rectangular in plan view, but is not limited thereto, and may be any shape such as a circle or a polygon as necessary.

1 網膜走査型ディスプレイ
10 光源ユニット部
50 反射部
61 シリコン構造体
63 梁
64 固定部
65 圧電体
74 照射源
75 反射体
76 硬化光
A 光走査装置
B 紫外線硬化樹脂
H 貫通孔
P 揺動軸
S 画像信号
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Retina scanning display 10 Light source unit part 50 Reflection part 61 Silicon structure 63 Beam 64 Fixing part 65 Piezoelectric body 74 Irradiation source 75 Reflector 76 Curing light A Optical scanning device B Ultraviolet curing resin H Through-hole P Swing axis S Image signal

Claims (10)

入射した光束を反射する反射部と、前記反射部から伸延する梁部と、同梁部を支持する固定部とを有する構造体と、
前記固定部上に配置され、共振により前記反射部を前記梁部の軸線廻りに反復揺動させる駆動体と、を備えた光走査装置において、
前記構造体の所定箇所に穿設された貫通孔に充填された光硬化樹脂を有し、同光硬化樹脂の硬化に伴い生じる収縮力を変化させる当該光硬化樹脂に対する光の照射量及び/または前記光硬化樹脂の重量によって、前記構造体の共振周波数を調整したことを特徴とする光走査装置。
A structure having a reflection part for reflecting an incident light beam, a beam part extending from the reflection part, and a fixing part for supporting the beam part;
An optical scanning device comprising: a driving body that is disposed on the fixed portion and repetitively swings the reflecting portion around the axis of the beam portion by resonance;
A photo-curing resin filled in a through-hole drilled in a predetermined position of the structure, and / or a light irradiation amount to the photo-curing resin and / or changing a shrinkage force generated when the photo-curing resin is cured; An optical scanning device, wherein the resonance frequency of the structure is adjusted by the weight of the photo-curing resin.
前記構造体に、光硬化樹脂を充填するための貫通孔が複数設けられていることを特徴とする請求項1に記載の光走査装置。   The optical scanning device according to claim 1, wherein the structure is provided with a plurality of through holes for filling a photo-curing resin. 前記貫通孔を、少なくとも前記反射部に設けたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光走査装置。   The optical scanning device according to claim 1, wherein the through hole is provided at least in the reflection portion. 前記貫通孔を、前記反射部と、前記固定部との両方に設けたことを特徴とする請求項1〜3いずれか1項に記載の光走査装置。   The optical scanning device according to claim 1, wherein the through-hole is provided in both the reflection portion and the fixed portion. 前記反射部の貫通孔は、前記反射部の周縁に近接して設けられていることを特徴とする請求項3または請求項4に記載の光走査装置。   5. The optical scanning device according to claim 3, wherein the through hole of the reflection portion is provided in the vicinity of a peripheral edge of the reflection portion. 前記光硬化樹脂は、前記貫通孔の開口両側から光を照射して硬化したものであることを特徴とする請求項1〜5いずれか1項に記載の光走査装置。   The optical scanning device according to claim 1, wherein the photocurable resin is cured by irradiating light from both sides of the opening of the through hole. 前記貫通孔の開口両側より照射する光のうち、一方の開口側から照射する光は、他方の開口側より照射され前記貫通孔を透過した光を反射させた光であることを特徴とする請求項6に記載の光走査装置。   The light irradiated from one opening side of the light irradiated from both sides of the opening of the through hole is light reflected from the light irradiated from the other opening side and transmitted through the through hole. Item 7. The optical scanning device according to Item 6. 画像信号に応じた光束を出射する光出射部と、請求項1〜7いずれか1項に記載の光走査装置とを備え、前記光出射部から出射した光束を前記光走査装置によって走査して画像を形成することを特徴とする画像形成装置。   A light emitting unit that emits a light beam according to an image signal and the optical scanning device according to claim 1, wherein the light scanning device scans the light beam emitted from the light emitting unit. An image forming apparatus for forming an image. 入射した光束を反射する反射部と、前記反射部から伸延する梁部と、同梁部を支持する固定部とを備える構造体と、
前記固定部上に配置され、共振により前記反射部を前記梁部の軸線廻りに反復揺動させる駆動体と、を備えた光走査装置の製造方法において、
前記構造体の所定箇所に複数穿設された貫通孔のうち、光硬化樹脂を充填させる貫通孔を選択する貫通孔選択ステップと、
前記貫通孔選択ステップにて選択した貫通孔に、光硬化樹脂を充填する樹脂充填ステップと、
前記樹脂充填ステップにて充填した光硬化樹脂に対して光を照射し、前記光硬化樹脂を硬化させる樹脂硬化ステップと、を含む樹脂硬化処理を行い、
前記光硬化樹脂の硬化に伴い生じる収縮力を変化させる当該光硬化樹脂に対する光の照射量及び/または前記光硬化樹脂の重量により、前記構造体の共振周波数を調整することを特徴とする光走査装置の製造方法。
A structure including a reflecting portion that reflects an incident light beam, a beam portion extending from the reflecting portion, and a fixing portion that supports the beam portion;
In a method of manufacturing an optical scanning device, comprising: a driving body that is disposed on the fixed portion and repetitively swings the reflecting portion around the axis of the beam portion by resonance.
A through-hole selection step of selecting a through-hole to be filled with a photocurable resin among a plurality of through-holes drilled in a predetermined portion of the structure;
A resin filling step of filling the through-hole selected in the through-hole selection step with a photocurable resin;
Irradiating the photocuring resin filled in the resin filling step with light, and curing the photocuring resin, and performing a resin curing process including:
An optical scanning characterized in that the resonance frequency of the structure is adjusted by the amount of light applied to the photo-curing resin and / or the weight of the photo-curing resin, which changes the shrinkage force generated by the curing of the photo-curing resin. Device manufacturing method.
前記樹脂硬化処理を、まず前記反射部を対象として行い、次いで、前記固定部を対象として行うことを特徴とする請求項9に記載の光走査装置の製造方法。   10. The method of manufacturing an optical scanning device according to claim 9, wherein the resin curing process is performed first on the reflecting portion and then on the fixing portion.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014235245A (en) * 2013-05-31 2014-12-15 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 Optical deflector and optical scanning device
JP2014235244A (en) * 2013-05-31 2014-12-15 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 Optical deflector, manufacturing method of the same and optical scanning device
EP2868624A1 (en) * 2013-10-30 2015-05-06 KYOCERA Document Solutions Inc. Optical scanning apparatus, and method of adjusting resonance frequency at oscillating mirror unit in the optical scanning apparatus

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014235245A (en) * 2013-05-31 2014-12-15 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 Optical deflector and optical scanning device
JP2014235244A (en) * 2013-05-31 2014-12-15 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 Optical deflector, manufacturing method of the same and optical scanning device
US9279981B2 (en) 2013-05-31 2016-03-08 Kyocera Document Solutions Inc. Light deflector, optical scanning device and image forming apparatus
US9594244B2 (en) 2013-05-31 2017-03-14 Kyocera Document Solutions Inc. Light deflector with plate-like mirror forming a base of a recess in a movable member and a mass body on a non-deflecting surface of the mirror to adjust a resonent frequency of the movable member
EP2868624A1 (en) * 2013-10-30 2015-05-06 KYOCERA Document Solutions Inc. Optical scanning apparatus, and method of adjusting resonance frequency at oscillating mirror unit in the optical scanning apparatus
JP2015087553A (en) * 2013-10-30 2015-05-07 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 Optical scanner, image forming apparatus including the optical scanner, and method of adjusting resonance frequency of vibration mirror part in optical scanner
US9150030B2 (en) 2013-10-30 2015-10-06 Kyocera Document Solutions Inc. Optical scanning apparatus, image forming apparatus including the optical scanning apparatus, and method of adjusting resonance frequency at oscillating mirror unit in the optical scanning apparatus

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