JP2012053060A - 超音波探傷データの処理方法、探傷データ処理プログラム及び超音波探傷 - Google Patents
超音波探傷データの処理方法、探傷データ処理プログラム及び超音波探傷 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012053060A JP2012053060A JP2011239404A JP2011239404A JP2012053060A JP 2012053060 A JP2012053060 A JP 2012053060A JP 2011239404 A JP2011239404 A JP 2011239404A JP 2011239404 A JP2011239404 A JP 2011239404A JP 2012053060 A JP2012053060 A JP 2012053060A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw detection
- defect
- detection data
- section
- cross
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
【解決手段】本発明による超音波探傷データの処理方法は、超音波探傷によって得られた探傷データをデジタル演算処理によって処理する処理方法である。当該超音波探傷データの処理方法は(A)前記探傷データに基づいて被検体に存在する欠陥に対応する欠陥像(21)を認識し、欠陥像(21)のそれぞれについて、欠陥像(21)の位置を表わす領域代表点(23)を定めるステップ(S02〜S04)と、(B)領域代表点(23)の間の距離から、欠陥像(21)のうちの一の欠陥像(21)が他の欠陥像(21)と同一の欠陥に起因するか否かを判断するステップ(S05、S06)とを具備する。
【選択図】図6
Description
(A)前記探傷データに基づいて被検体(2)に存在する欠陥に対応する欠陥像(21)を認識し、欠陥像(21)のそれぞれについて、欠陥像(21)の位置を表わす領域代表点(23)を定めるステップ(S02〜S04)と、
(B)領域代表点(23)の間の距離から、欠陥像(21)のうちの一の欠陥像(21)が他の欠陥像(21)と同一の欠陥に起因するか否かを判断するステップ(S05、S06)
とを具備する。
(A1)欠陥像(21)を囲むように矩形領域(22)を定めるステップと、
(A2)矩形領域(22)の対角線の交点を領域代表点(23)として定めるステップ
とを備えることが好ましい。
(A3)欠陥像(21)のうちの、エコー高さが所定値以上であるエコーピーク領域を囲むように矩形領域を定めるステップと
(A4)前記矩形領域の対角線の交点を前記領域代表点(23)として定めるステップ
とを備えることも好ましい。
(A)前記探傷データに基づいて被検体(2)に存在する欠陥に対応する欠陥像(21)を認識し、欠陥像(21)のそれぞれについて、欠陥像(21)の位置を表わす領域代表点(23)を定めるステップと、
(B)領域代表点(23)の間の距離から、欠陥像(21)のうちの一の欠陥像(21)が他の欠陥像(21)と同一の欠陥に起因するか否かを判断するステップ
とを演算装置(10)に実行させる。
第1の実施形態では、本発明による超音波探傷データの処理方法が、以下に述べられるような超音波探傷検査に適用される。
d1(j,j+1)=√{(xj−xj+1)2+(yj−yj+1)2}.
図8の例では、d(j,j+1)が所定値Aよりも大きいため、矩形領域22j、22j+1にそれぞれに対応する欠陥像21は、異なる欠陥に起因すると判断される。一方、矩形領域22j+1、22j+2それぞれの領域代表点23j+1、23j+2の間の距離d1(j+1,j+2)が所定値A以下であるため、矩形領域22j、22j+1にそれぞれに対応する欠陥像21は、同一の欠陥に起因すると判断される。
di,i+1(j、k)=√{(xi,j−xi+1,k)2+(yi,j−yi+1,k)2},
ここで、(xi,j,yi,j)は、断面iの矩形領域22i,jの領域代表点23i,jのxy座標であり、(xi+1,k,yi+1,k)は、断面i+1の矩形領域22i+1,kの領域代表点23i+1,jのxy座標である。
欠陥の延伸方向が3次元的に変化すると、隣接する断面の間の欠陥像の対応付けが正しく行われない場合がある。図10は、その理由を説明する図である。図10に示されているように、欠陥25は、必ずしも、被検体2の表面に平行に延伸しているとは限らない。例えば、断面i1、i3においては欠陥25の延伸方向が被検体2の表面に平行であるが、その間の断面i2では欠陥25の延伸方向が被検体2の表面に対して斜めである場合があり得る。このような場合、断面i1、i3においては探触子6に反射波が帰ってくるものの、断面i2においては、探触子6に反射波が帰ってこない可能性がある。即ち、断面i1、i3においては欠陥25によるエコーの高さが高いものの断面i2においては欠陥25によるエコーの高さが低い場合がある。このような場合、断面i2に欠陥像が現れないことがある。例えば、断面i2における欠陥25によるエコーの高さが、閾値カット処理(ステップS01)で使用される閾値よりも低いと、その断面i2には欠陥25に対応する欠陥像が現れない。このような場合、単一の欠陥25に起因するにも関らず、断面i1、i3に現れる欠陥像が2つの欠陥であると認識され、結果として、欠陥の大きさが正しく評価されない。
H’i,j,k=
max[Hi−2,j,k,Hi−1,j,k,Hi,j,k,Hi+1,j,k,Hi+2,j,k],
ここで、max[x1,x2,x3,x4,x5]は、x1〜x5の最大値であり、Hi,j,kは、断面iのフォーカルローjの路程kのエコー高さである。
Ld=(N−2n−1)・D,
ここでNは、同一の欠陥に対応する欠陥像が連続して現れている断面の数であり、Dは、隣接する2枚の断面の間の距離である。
Ld=(N−n−1)・D.
2:被検体
3、4:鋼板
5:溶接部
6:探触子
7:走査装置
8:制御装置
9:表示装置
10:演算装置
11:レール
12:探触子保持機構
13、21:欠陥像
22:矩形領域
23:領域代表点
24:エコーピーク領域
Claims (11)
- 超音波探傷によって得られた探傷データをデジタル演算処理によって処理する処理方法であって、
(A)前記探傷データに基づいて被検体に存在する欠陥に対応する欠陥像を認識し、前記欠陥像のそれぞれについて、前記欠陥像の位置を表わす領域代表点を定めるステップと、
(B)前記領域代表点の間の距離から、前記欠陥像のうちの一の欠陥像が他の欠陥像と同一の欠陥に起因するか否かを判断するステップ
とを具備し、
前記(A)ステップは、
(A1)前記欠陥像を囲むように矩形領域を定めるステップと、
(A2)前記矩形領域の対角線の交点を前記領域代表点として定めるステップ
とを備える
超音波探傷データの処理方法。 - 超音波探傷によって得られた探傷データをデジタル演算処理によって処理する処理方法であって、
(A)前記探傷データに基づいて被検体に存在する欠陥に対応する欠陥像を認識し、前記欠陥像のそれぞれについて、前記欠陥像の位置を表わす領域代表点を定めるステップと、
(B)前記領域代表点の間の距離から、前記欠陥像のうちの一の欠陥像が他の欠陥像と同一の欠陥に起因するか否かを判断するステップ
とを具備し、
前記(A)ステップは、
(A3)前記欠陥像のうちの、エコー高さが所定値以上であるエコーピーク領域を囲むように矩形領域を定めるステップと
(A4)前記矩形領域の対角線の交点を前記領域代表点として定めるステップ
とを備える
超音波探傷データの処理方法。 - 請求項1又は2に記載の超音波探傷データの処理方法であって、
前記超音波探傷では、所定の走査方向に沿って探触子を走査しながら、複数の断面の探傷データが取得され、
当該処理方法は、更に、
(C)前記複数の断面のうちの対象断面の前記探傷データを、前記対象断面の前記走査方向前方及び/又は前記走査方向後方に隣接する所定数の隣接断面の探傷データを用いて修正することにより修正後探傷データを生成するステップ
を具備し、
前記(A)ステップでは、前記修正後探傷データから前記欠陥に対応する前記欠陥像が認識される
超音波探傷データの処理方法。 - 請求項3に記載の超音波探傷データの処理方法であって、
前記(C)ステップは、
(C1)前記対象断面の各位置のエコー高さのデータが前記隣接断面の同一位置のエコー高さに応じて増加されるように前記対象断面の前記探傷データを修正することにより前記修正後探傷データを生成するステップ
を備える
超音波探傷データの処理方法。 - 請求項4に記載の超音波探傷データの処理方法であって、
前記(C1)ステップは、
前記対象断面の前記各位置のエコー高さのデータが前記対象断面及び前記隣接断面の同一位置のエコー高さの最大値になるように前記探傷データを修正することにより前記修正後探傷データを生成するステップ
を備える
超音波探傷データの処理方法。 - 請求項5に記載の超音波探傷データの処理方法であって、
更に、
(D)同一の欠陥に対応する欠陥像が現れている連続した断面の数と、前記対象断面の前記探傷データの修正に用いられた前記隣接断面の数に基づいて、前記同一の欠陥の長さを測定するステップを具備する
超音波探傷データの処理方法。 - 所定の走査方向に沿って探触子を走査しながら複数の断面について行われる超音波探傷によって得られた探傷データをデジタル演算処理によって処理する処理方法であって、
(C)前記複数の断面のうちの対象断面の前記探傷データを、前記対象断面の前記走査方向前方及び/又は前記走査方向後方に隣接する所定数の隣接断面の探傷データを用いて修正することにより修正後探傷データを生成するステップと、
(A’)前記修正後探傷データに基づいて被検体に存在する欠陥に対応する欠陥像を認識し、前記欠陥像のそれぞれについて、前記欠陥像の位置を表わす領域代表点を定めるステップと、
(B)前記領域代表点の間の距離から、前記欠陥像のうちの一の欠陥像が他の欠陥像と同一の欠陥に起因するか否かを判断するステップ
とを具備する
超音波探傷データの処理方法。 - 請求項7に記載の超音波探傷データの処理方法であって、
前記(C)ステップは、
(C1)前記対象断面の各位置のエコー高さのデータが前記隣接断面の同一位置のエコー高さに応じて増加されるように前記対象断面の前記探傷データを修正することにより前記修正後探傷データを生成するステップ
を備える
超音波探傷データの処理方法。 - 超音波探傷によって得られた探傷データを演算装置に処理させるための探傷データ処理プログラムであって、
(A)前記探傷データに基づいて被検体に存在する欠陥に対応する欠陥像を認識し、前記欠陥像のそれぞれについて、前記欠陥像の位置を表わす領域代表点を定めるステップと、
(B)前記領域代表点の間の距離から、前記欠陥像のうちの一の欠陥像が他の欠陥像と同一の欠陥に起因するか否かを判断するステップ
とを前記演算装置に実行させ、
前記(A)ステップは、
(A1)前記欠陥像を囲むように矩形領域を定めるステップと、
(A2)前記矩形領域の対角線の交点を前記領域代表点として定めるステップ
とを備える
探傷データ処理プログラム。 - 超音波探傷によって得られた探傷データを演算装置に処理させるための探傷データ処理プログラムであって、
(A)前記探傷データに基づいて被検体に存在する欠陥に対応する欠陥像を認識し、前記欠陥像のそれぞれについて、前記欠陥像の位置を表わす領域代表点を定めるステップと、
(B)前記領域代表点の間の距離から、前記欠陥像のうちの一の欠陥像が他の欠陥像と同一の欠陥に起因するか否かを判断するステップ
とを前記演算装置に実行させ、
前記(A)ステップは、
(A3)前記欠陥像のうちの、エコー高さが所定値以上であるエコーピーク領域を囲むように矩形領域を定めるステップと
(A4)前記矩形領域の対角線の交点を前記領域代表点として定めるステップ
とを備える
探傷データ処理プログラム。 - 所定の走査方向に沿って探触子を走査しながら複数の断面について行われる超音波探傷によって得られた探傷データを演算装置によって処理するための探傷データ処理プログラムであって、
(C)前記複数の断面のうちの対象断面の前記探傷データを、前記対象断面の前記走査方向前方及び/又は前記走査方向後方に隣接する所定数の隣接断面の探傷データを用いて修正することにより修正後探傷データを生成するステップと、
(A’)前記修正後探傷データに基づいて被検体に存在する欠陥に対応する欠陥像を認識し、前記欠陥像のそれぞれについて、前記欠陥像の位置を表わす領域代表点を定めるステップと、
(B)前記領域代表点の間の距離から、前記欠陥像のうちの一の欠陥像が他の欠陥像と同一の欠陥に起因するか否かを判断するステップ
とを前記演算装置に実行させる
探傷データ処理プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011239404A JP5167402B2 (ja) | 2011-10-31 | 2011-10-31 | 超音波探傷データの処理方法、探傷データ処理プログラム及び超音波探傷 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011239404A JP5167402B2 (ja) | 2011-10-31 | 2011-10-31 | 超音波探傷データの処理方法、探傷データ処理プログラム及び超音波探傷 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006125127A Division JP4969145B2 (ja) | 2006-04-28 | 2006-04-28 | 超音波探傷データの処理方法、探傷データ処理プログラム及び超音波探傷データ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012053060A true JP2012053060A (ja) | 2012-03-15 |
JP5167402B2 JP5167402B2 (ja) | 2013-03-21 |
Family
ID=45906492
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011239404A Expired - Fee Related JP5167402B2 (ja) | 2011-10-31 | 2011-10-31 | 超音波探傷データの処理方法、探傷データ処理プログラム及び超音波探傷 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5167402B2 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014089064A (ja) * | 2012-10-29 | 2014-05-15 | Ihi Corp | 超音波探傷方法および装置 |
JP2014089065A (ja) * | 2012-10-29 | 2014-05-15 | Ihi Corp | 超音波探傷方法および装置 |
JP2019138700A (ja) * | 2018-02-07 | 2019-08-22 | 株式会社Ihi検査計測 | 溶接部探傷装置と方法 |
WO2021250955A1 (ja) * | 2020-06-12 | 2021-12-16 | 株式会社Ihi | 損傷評価装置及び損傷評価方法 |
CN114972394A (zh) * | 2022-05-26 | 2022-08-30 | 东莞灵虎智能科技有限公司 | 一种钢轨超声探伤与外部廓形以及表面多源数据融合的钢轨状态检测方法 |
CN116205922A (zh) * | 2023-05-05 | 2023-06-02 | 张家港广大特材股份有限公司 | 一种基于钢材内部缺陷数据挖掘的冶炼控制方法及*** |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63191957A (ja) * | 1987-02-04 | 1988-08-09 | Kobe Steel Ltd | セクタ−走査探傷デ−タの集約処理方法 |
JPH07328009A (ja) * | 1994-06-14 | 1995-12-19 | Ge Yokogawa Medical Syst Ltd | 画像処理方法及び画像処理装置 |
JP2001194351A (ja) * | 2000-01-07 | 2001-07-19 | Nissan Motor Co Ltd | 欠陥状態表示装置およびその方法 |
JP2005083843A (ja) * | 2003-09-08 | 2005-03-31 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 欠陥検出装置、クラスタ生成装置、欠陥分類装置、欠陥検出方法、クラスタ生成方法およびプログラム |
-
2011
- 2011-10-31 JP JP2011239404A patent/JP5167402B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63191957A (ja) * | 1987-02-04 | 1988-08-09 | Kobe Steel Ltd | セクタ−走査探傷デ−タの集約処理方法 |
JPH07328009A (ja) * | 1994-06-14 | 1995-12-19 | Ge Yokogawa Medical Syst Ltd | 画像処理方法及び画像処理装置 |
JP2001194351A (ja) * | 2000-01-07 | 2001-07-19 | Nissan Motor Co Ltd | 欠陥状態表示装置およびその方法 |
JP2005083843A (ja) * | 2003-09-08 | 2005-03-31 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 欠陥検出装置、クラスタ生成装置、欠陥分類装置、欠陥検出方法、クラスタ生成方法およびプログラム |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014089064A (ja) * | 2012-10-29 | 2014-05-15 | Ihi Corp | 超音波探傷方法および装置 |
JP2014089065A (ja) * | 2012-10-29 | 2014-05-15 | Ihi Corp | 超音波探傷方法および装置 |
JP2019138700A (ja) * | 2018-02-07 | 2019-08-22 | 株式会社Ihi検査計測 | 溶接部探傷装置と方法 |
JP7050511B2 (ja) | 2018-02-07 | 2022-04-08 | 株式会社Ihi検査計測 | 溶接部探傷装置と方法 |
WO2021250955A1 (ja) * | 2020-06-12 | 2021-12-16 | 株式会社Ihi | 損傷評価装置及び損傷評価方法 |
AU2021289697B2 (en) * | 2020-06-12 | 2023-12-07 | Ihi Corporation | Damage evaluation device and damage evaluation method |
JP7425409B2 (ja) | 2020-06-12 | 2024-01-31 | 株式会社Ihi | 損傷評価装置及び損傷評価方法 |
CN114972394A (zh) * | 2022-05-26 | 2022-08-30 | 东莞灵虎智能科技有限公司 | 一种钢轨超声探伤与外部廓形以及表面多源数据融合的钢轨状态检测方法 |
CN114972394B (zh) * | 2022-05-26 | 2024-04-16 | 东莞灵虎智能科技有限公司 | 一种钢轨超声探伤与外部廓形以及表面多源数据融合的钢轨状态检测方法 |
CN116205922A (zh) * | 2023-05-05 | 2023-06-02 | 张家港广大特材股份有限公司 | 一种基于钢材内部缺陷数据挖掘的冶炼控制方法及*** |
CN116205922B (zh) * | 2023-05-05 | 2023-10-13 | 张家港广大特材股份有限公司 | 一种基于钢材内部缺陷数据挖掘的冶炼控制方法及*** |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5167402B2 (ja) | 2013-03-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5167402B2 (ja) | 超音波探傷データの処理方法、探傷データ処理プログラム及び超音波探傷 | |
JP5342619B2 (ja) | 超音波探傷データを処理するためのプログラム、処理装置及び処理方法 | |
JP4859521B2 (ja) | 超音波探傷データを処理するためのプログラム、処理装置及び処理方法 | |
WO2011140911A1 (zh) | 探伤***及探伤方法 | |
CN104597125B (zh) | 一种用于3d打印件的超声检测控制方法及装置 | |
JP5562629B2 (ja) | 探傷装置及び探傷方法 | |
JP4705568B2 (ja) | 被検体の超音波無破壊試験のための方法 | |
US20230221286A1 (en) | Inspection device, inspection method, and inspection program | |
JP2014163805A (ja) | 超音波検査方法および装置 | |
CN105467011A (zh) | 一种超声c扫描检测中缺陷位置精确定位方法 | |
JP4969145B2 (ja) | 超音波探傷データの処理方法、探傷データ処理プログラム及び超音波探傷データ処理装置 | |
JP2008209231A (ja) | 鋼床版のデッキ内の亀裂の探傷のための探触子ホルダ、探傷装置及び探傷方法 | |
TWI540317B (zh) | Ultrasonic inspection device | |
JP4431926B2 (ja) | 超音波探傷装置及び超音波探傷方法 | |
JP4699242B2 (ja) | 超音波探触子のカップリングチェック方法、及びコンピュータプログラム | |
JP2010175259A (ja) | 超音波探傷装置及び方法 | |
JP6000158B2 (ja) | 探傷装置及び探傷方法 | |
JP4738243B2 (ja) | 超音波探傷システム | |
JP2011047655A (ja) | 超音波を用いた欠陥識別方法及び欠陥識別装置 | |
JP2013072669A (ja) | 検査装置、及び検査方法 | |
JP4209220B2 (ja) | 超音波信号処理方法 | |
JP2948061B2 (ja) | 超音波探傷評価方法および装置 | |
JP2019200167A (ja) | 超音波探傷評価装置および超音波探傷評価方法 | |
JP2006226834A (ja) | 表面検査装置、表面検査の方法 | |
JP5306700B2 (ja) | 超音波による厚み測定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111125 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120321 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120516 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121129 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121221 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151228 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5167402 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |