JP2011247886A5 - - Google Patents

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  1. 一つの走査ユニット(20;220;320;420;520;520’;620;2000)と一つの測定尺(10;210;310;410;510;510’;610;1000)との相対位置を検出する光学位置測定装置において、走査ユニット(20;220;320;420;520;520’;620;2000)と測定尺(10;210;310;410;510;510’;610;1000)とが湾曲された測定方向(x)に沿って互いに移動できて、そして
    ・走査ユニット(20;220;320;420;520;520’;620;2000)が少なくとも一つの反射器ユニット(2000)と一つの検出器ユニットを有し、反射器ユニット(2000)が一つの第一波面補正器(2100)、一つの光線方向インバーター(2300)と一つの第二波面補正器(2200)から成り、
    ・走査ユニット(20;220;320;420;520;520’;620;2000)内の反射器ユニット(2000)は、光束がまず最初に測定尺(10;210;310;410;510;510’;610;1000)と第一波面補正器(2100)とから成る第一組合せを通過し、引き続いて光線方向インバーター(2300)を介して部分光束の測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)への方向へ後方反射が行われ、次に部分光束が引き続いて検出器ユニットに衝突する前に、部分光束が測定尺(10;210;310;410;510;510’;610;1000)と第二波面補正器(2200)とから成る第二組合せを通過するように、配置され且つ形成されるか、又は配置されるか、或いは形成されており、
    ・反射器ユニット(2000)によって、測定尺(10;210;310;410;510;521’;610;1000)における第一回折によって生じる部分光束の波面変形は、測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)における第二回折の際に部分光束の生じる波面変形を補償する波面変形に変換されることが確されることを特徴とする光学位置測定装置。
  2. ・第一波面補正器(2100)によって、測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)と第一波面補正器(2100)とから成る第一組合せから漏れる波面が平らな波面を備える視準された部分光束に変換することが行われ、そして
    ・第二波面補正器(2200)によって、測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)と第二波面補正器(2200)とから成る第二組合せから漏れる波面を平らな波面を備える視準された部分光束に変換することが行われるので、測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)における第二回折後の重なるようになる部分光束の波面が重なり箇所において等しいことを特徴とする請求項1に記載の光学位置測定装置。
  3. 測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)と第一波面補正器(2100)とから成る第一組合せ測定尺(10;210;310;410;510;521’;610)、第一波面補正器(2100)の順番に光線拡張方向に配置されていて、そして
    測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)と第二波面補正器(2200)とから成る第二組合せは、第二波面補正器(2200)、測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)の順番に光線拡張方向に配置されていることを特徴とする請求項1或いは2に記載の光学位置測定装置。
  4. 測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)と第一波面補正器(2100)とから成る第一組合せは、第一波面補正器(2100)、測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)の順番に光線拡張方向に配置されていて、そして
    測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)と第二波面補正器(2200)とから成る第二組合せは、測定尺(10;210;310;410;510;510’;610)、第二波面補正器(2200)の順番に光線拡張方向に配置されていることを特徴とする請求項1或いは2に記載の光学位置測定装置。
  5. 光線方向インバーター(2300)は、光線方向反転が光線方向インバーターから反射された部分光束に関して二つの直交方向に行われるように、形成されていることを特徴とする請求項1に記載の光学位置測定装置。
  6. 光線方向インバーター(2300)は三重鏡或いは三重プリズムとして形成されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の光学位置測定装置。
  7. 光線方向インバーター(2300)は一つのレンズと一つの反射鏡とから成る組合せとして形成されていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の光学位置測定装置。
  8. 波面補正器(2100;2200)或いは光線方向インバーター(2300)のレンズの少なくとも一方が屈折光学要素として形成されていることを特徴とする請求項7に記載の光学位置測定装置。
  9. 波面補正器(2100;2200)が回折光学要素として形成されていることを特徴とする請求項6或いは7に記載の光学位置測定装置。
  10. 波面補正器(2100;2200)と光線方向インバーター(2300)のレンズが折光学要素として形成されていることを特徴とする請求項9に記載の光学位置測定装置。
  11. 波面補正器(2100;2200)がそれぞれに回折光学組合せ要素として走査格子の形態で形成されていて、この走査格子がさらに、走査格子に入射する部分光束上に次の追加的光学機能性、即ち光学偏向作用、光学分割作用或いは統合作用、反射鏡の光学焦点合せ作用の少なくとも一つを有することを特徴とする請求項9に記載の光学位置測定装置。
  12. 反射鏡と回折光学要素が透明な走査プレート(23;223;323;423;523;523’;623)の対向位置している側面に配置されていることを特徴とする請求項8乃至11のいずれか一項に記載の光学位置測定装置。
  13. 測定尺(10;210;310;410)が回転軸線を中心に回転する部分円板(11;211;311;411)上の半径方向区分として形成され、回転軸線を中心に同心に配置されていることを特徴とする請求項1乃至12のいずれか一項に記載の光学位置測定装置。
  14. 測定尺(510;510’;610)が回転する区分ドラム(511;511’;611)の外周上のドラム区分として形成されていて、回転軸線が区分ドラムの長手軸線と一致することを特徴とする請求項1乃至12のいずれか一項に記載の光学位置測定装置。
  15. 走査ユニット(620)内の光学要素は、光源から発射された光束が90°と異なる角度でドラム区分に入射するように、形成され且つ配置されていることを特徴とする請求項14に記載の光学位置測定装置。
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011081879A1 (de) 2010-11-03 2012-05-03 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Winkelmesseinrichtung
DE102011082570A1 (de) * 2011-09-13 2013-03-14 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Rotatorische Positionsmesseinrichtung
DE102012210309A1 (de) * 2012-06-19 2013-12-19 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
DE102013206693A1 (de) * 2013-04-15 2014-10-16 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Vorrichtung zur interferentiellen Abstandsmessung
DE102013210999A1 (de) * 2013-06-13 2014-12-18 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Messeinrichtung
DE102013221898A1 (de) * 2013-10-29 2015-04-30 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Vorrichtung zur Positionsbestimmung
DE102015209117A1 (de) * 2014-06-05 2015-12-10 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Interferentielle Positionsmesseinrichtung und Verfahren zum Betrieb einer interferentiellen Positionsmesseinrichtung
DE102014211004A1 (de) * 2014-06-10 2015-12-17 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Positionsmesseinrichtung
DE102015203188A1 (de) * 2015-02-23 2016-08-25 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Positionsmesseinrichtung
JP6702666B2 (ja) 2015-07-28 2020-06-03 株式会社ミツトヨ 変位検出装置
JP2019515313A (ja) * 2016-04-21 2019-06-06 モレキュラー・ビスタ・インコーポレイテッドMolecular Vista, Inc. 光学ドリフト補正システム及び方法
DE102017205504A1 (de) * 2017-03-31 2018-10-04 Robert Bosch Gmbh Optisches Scansystem
DE102017205623A1 (de) * 2017-04-03 2018-10-04 Robert Bosch Gmbh LIDAR-Vorrichtung und Verfahrens zum Abtasten eines Abtastwinkels
DE102019206937A1 (de) * 2019-05-14 2020-11-19 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Optische Positionsmesseinrichtung

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8413955D0 (en) 1984-05-31 1984-07-04 Pa Consulting Services Displacement measuring apparatus
DE3905730C2 (de) 1989-02-24 1995-06-14 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Positionsmeßeinrichtung
US5079418A (en) 1990-02-20 1992-01-07 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Position measuring apparatus with reflection
JP2862417B2 (ja) * 1990-11-16 1999-03-03 キヤノン株式会社 変位測定装置及び方法
US5442172A (en) 1994-05-27 1995-08-15 International Business Machines Corporation Wavefront reconstruction optics for use in a disk drive position measurement system
JP4846909B2 (ja) * 2000-02-15 2011-12-28 キヤノン株式会社 光学式エンコーダ及び回折格子の変位測定方法
DE102004035172A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-09 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
DE102005029917A1 (de) 2005-06-28 2007-01-04 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
DE102006042743A1 (de) * 2006-09-12 2008-03-27 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
DE102007035345A1 (de) 2006-11-20 2008-05-21 Dr. Johannes Heidenhain Gmbh Positionsmesseinrichtung
JP5147368B2 (ja) * 2006-11-20 2013-02-20 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング エンコーダ

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