JP2011215447A - 液晶装置の製造方法 - Google Patents

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JP2011215447A JP2010084899A JP2010084899A JP2011215447A JP 2011215447 A JP2011215447 A JP 2011215447A JP 2010084899 A JP2010084899 A JP 2010084899A JP 2010084899 A JP2010084899 A JP 2010084899A JP 2011215447 A JP2011215447 A JP 2011215447A
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淳 伊藤
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Abstract

【課題】液晶装置を構成する一対の基板を相互に接着するシール材の接着強度を向上させ
る。
【解決手段】液晶装置の製造方法は、画素領域(10a)の周囲に位置するシール領域に
配置されたシール材(52)により相互に貼り合わされた一対の基板(10、20)を備
えてなる液晶装置(100)の製造方法である。該製造方法は、一対の基板の一方の基板
の画素領域に対応する領域に配列された複数の画素電極(9a)の上に、絶縁材料を含ん
でなる絶縁膜(151)を形成する絶縁膜形成工程と、形成された絶縁膜の少なくともシ
ール領域に対応する領域に対して、形成された絶縁膜の表面を成膜終了時よりも粗くする
粗面加工を施す粗面加工工程と、粗面加工が施された絶縁膜の上に、無機材料を含んでな
る無機配向膜(16)を形成する配向膜形成工程と、一対の基板をシール材により相互に
貼り合わせる貼合工程とを備える。
【選択図】図3

Description

本発明は、例えば液晶プロジェクターのライトバルブ等に用いられる液晶装置の製造方
法の技術分野に関する。
この種の製造方法により製造された液晶装置として、例えば、基板上にマトリックス状
に形成された反射電極の上に、パッシベーション膜が形成された装置が提案されている(
特許文献1参照)。ここでは特に、パッシベーション膜は酸化シリコン膜であり、その膜
厚は、入射光の波長に応じて、500〜2000オングストロームの範囲で適当な値に設
定されることが開示されている。
或いは、画素電極上に、誘電体多層膜からなる増反射膜を備える装置が提案されている
(特許文献2参照)。ここでは特に、画素電極上の誘電体多層膜の積層数が2層とされる
と共に、下層側の誘電体膜の膜厚が上層側の誘電体膜の膜厚よりも薄くされることが開示
されている。
特開2009−151316号公報 特開2008−134673号公報
ところで、液晶装置では、該液晶装置を構成する一対の基板が相互にシール材により貼
り合わされている。ここで、画素電極上に、例えばパッシベーション膜等の絶縁膜が形成
されていると、該絶縁膜の表面の状態によっては、シール材の接着強度が低減する可能性
があるという技術的問題点がある。上述の背景技術では、この技術的問題点については考
慮されていない。
本発明は、例えば上記問題点に鑑みてなされたものであり、シール材の接着強度を向上
させることができる液晶装置の製造方法を提案することを課題とする。
本発明の液晶装置の製造方法は、上記課題を解決するために、画素領域の周囲に位置す
るシール領域に配置されたシール材により相互に貼り合わされた一対の基板を備えてなる
液晶装置の製造方法であって、前記一対の基板の一方の基板の前記画素領域に対応する領
域に配列された複数の画素電極の上に、絶縁材料を含んでなる絶縁膜を形成する絶縁膜形
成工程と、前記形成された絶縁膜の少なくとも前記シール領域に対応する領域に対して、
前記形成された絶縁膜の表面を成膜終了時よりも粗くする粗面加工を施す粗面加工工程と
、前記粗面加工が施された絶縁膜の上に、無機材料を含んでなる無機配向膜を形成する配
向膜形成工程と、前記一対の基板を前記シール材により相互に貼り合わせる貼合工程とを
備える。
本発明の液晶装置の製造方法によれば、当該製造方法は、画素領域の周囲に位置するシ
ール領域に配置されたシール材により相互に貼り合わされた一対の基板を備えてなる液晶
装置の製造方法である。ここで、「画素領域」とは、個々の画素の領域を意味するのでは
なく、複数の画素が平面配列された領域全体を意味し、典型的には、「画素表示領域」或
いは「表示領域」に相当する。
絶縁膜形成工程において、一対の基板の一方の基板の画素領域に対応する領域に配列さ
れた複数の画素電極の上に、絶縁材料を含んでなる絶縁膜が形成される。
次に、粗面加工工程において、形成された絶縁膜の少なくともシール領域に対応する領
域に対して、形成された絶縁膜の表面を成膜終了時よりも粗くする粗面加工が施される。
ここで、「成膜終了時」とは、絶縁膜の形成が終了した時点に限らず、該時点から微少時
間経過した時点も含んでよい。
尚、粗面加工は、例えば、パーフルオロカーボン類、フルオロカーボン類、臭化水素、
ヨウ化水素、塩素及びメタンガスのうち少なくとも一つを含むガスのプラズマを用いて行
えばよい。
次に、配向膜形成工程において、粗面加工が施された絶縁膜の上に、無機材料を含んで
なる無機配向膜が、例えば斜方蒸着法等により形成される。ここで、無機配向膜の端部は
、一方の基板上で平面的に見て、シール領域の外縁よりも内側に配置されることが望まし
い。このように構成すれば、当該製造方法により製造された液晶装置の耐湿性を向上させ
ることができ、実用上非常に有利である。次に、貼合工程において、一対の基板がシール
材により相互に貼り合わされる。
本願発明者の研究によれば、以下の事項が判明している。即ち、液晶装置を構成する一
対の基板がシール材により相互に貼り付けられる際、該シール材は、一対の基板の少なく
とも一方の基板の無機配向膜上に塗布される。塗布されたシール材の一部は、無機配向膜
を構成する柱状構造物の間に浸入し、該無機配向膜の下層に形成された(即ち、画素電極
上に形成された)絶縁膜と接触する。ここで、該絶縁膜の成膜終了時の表面は平滑状態で
あり、何らの対策も採らなければ、該平滑状態に起因して、絶縁膜と無機配向膜(及びシ
ール材)との間の密着強度が比較的弱くなる可能性がある。すると、液晶装置に外部から
力が加わった場合に、シール材が一方の基板から比較的容易に剥離される可能性がある。
しかるに本発明では、上述の如く、粗面加工工程において、絶縁膜の少なくともシール
領域に対応する領域に対して、形成された絶縁膜の表面を成膜終了時よりも粗くする粗面
加工が施される。このため、絶縁膜と無機配向膜との間の密着強度を向上させることがで
き、もって、シール材の接着強度を向上させることができる。この結果、液晶装置の信頼
性の向上を図ることができる。
本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための形態から明らかにされる。
本発明の実施形態に係る液晶装置を、TFTアレイ基板上に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図である。 図1のH−H´線断面図である。 本発明の実施形態に係る液晶装置の製造方法の要部を示す工程断面図である。 本発明の実施形態に係る液晶装置のシール領域近傍を拡大して示す拡大図である。
以下、本発明に係る液晶装置の製造方法の実施形態を、図面に基づいて説明する。尚、
以下の図では、各層・各部材を図面上で確認可能な程度の大きさとするために、該各層・
各部材毎に縮尺を異ならしめている。また、本実施形態では、液晶装置として、駆動回路
内蔵型のアクティブマトリックス駆動方式の反射型の液晶装置を例に挙げる。
<液晶装置>
先ず、本発明に係る製造方法により製造された液晶装置の実施形態を、図1及び図2を
参照して説明する。
本実施形態に係る液晶装置の全体構成について、図1及び図2を参照して説明する。図
1は、本実施形態に係る液晶装置を、TFT(Thin Film Transisto
r)アレイ基板上に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た平面図であり、図
2は、図1のH−H´線断面図である。
図1及び図2において、本実施形態に係る液晶装置100では、TFTアレイ基板10
及び対向基板20が対向配置されている。TFTアレイ基板10は、例えばシリコン基板
等の基板からなり、対向基板20は、例えば石英基板、ガラス基板等の基板からなる。T
FTアレイ基板10と対向基板20との間に液晶層50が封入されており、TFTアレイ
基板10と対向基板20とは画像表示領域10aの周囲に位置するシール領域に設けられ
たシール材52により相互に接着されている。
シール材52は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂や熱硬化樹脂、
又は紫外線・熱併用型硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいてTFTアレイ基板10
上に塗布された後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたものである。シール材52
中には、TFTアレイ基板10と対向基板20との間隔(即ち、ギャップ)を所定値とす
るためのグラスファイバ或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されている。尚、ギャ
ップ材を、シール材52に混入されるものに加えて若しくは代えて、画像表示領域10a
又は画像表示領域10aの周辺に位置する周辺領域に、配置するようにしてもよい。
図1において、シール材52が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域
10aを規定する遮光性の額縁遮光膜53が、対向基板20側に設けられている。但し、
このような額縁遮光膜53の一部又は全部は、TFTアレイ基板10側に内蔵遮光膜とし
て設けられてもよい。
周辺領域のうち、シール材52が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、デ
ータ線駆動回路101及び外部回路接続端子102がTFTアレイ基板10の一辺に沿っ
て設けられている。この一辺に沿ったシール領域よりも内側にサンプリング回路7が額縁
遮光膜53に覆われるようにして設けられている。走査線駆動回路104は、この一辺に
隣接する2辺に沿ったシール領域の内側の額縁領域に、額縁遮光膜53に覆われるように
して設けられている。
TFTアレイ基板10上には、対向基板20の4つのコーナー部に対向する領域に、両
基板間を上下導通材107で接続するための上下導通端子106が配置されている。これ
らにより、TFTアレイ基板10と対向基板20との間で電気的な導通をとることができ
る。更に、外部回路接続端子102と、データ線駆動回路101、走査線駆動回路104
、上下導通端子106等とを電気的に接続するための引回配線90が形成されている。
図2において、TFTアレイ基板10上には、駆動素子である画素スイッチング用のト
ランジスタや走査線、データ線等の配線が作り込まれた積層構造が形成される。この積層
構造の詳細な構成については図2では図示を省略してあるが、この積層構造の上に、例え
ばアルミニウムを含んでなる反射電極9a(即ち、反射型の画素電極)が、画素毎に所定
のパターンで島状に形成されている。
反射電極9aは、後述する対向電極21に対向するように、TFTアレイ基板10上の
画像表示領域10aに形成されている。TFTアレイ基板10における液晶層50の面す
る側の表面、即ち画素電極9a上には、無機絶縁材料を含んでなるパッシベーション膜(
図示せず)が反射電極9aを覆うように形成されている。該パッシベーション膜の上には
、例えばSiO等の無機材料を含んでなる無機配向膜16が形成されている。
対向基板20におけるTFTアレイ基板10との対向面上に、遮光膜23が形成されて
いる。遮光膜23は、例えば対向基板20における対向面上に平面的に見て、格子状に形
成されている。対向基板20において、遮光膜23によって非開口領域が規定され、遮光
膜23によって区切られた領域が、例えばプロジェクター用のランプから出射された光を
透過させる開口領域となる。尚、遮光膜23をストライプ状に形成し、該遮光膜23と、
TFTアレイ基板10側に設けられたデータ線等の各種構成要素とによって、非開口領域
を規定するようにしてもよい。
遮光膜23上に、ITO(Indium Tin Oxide)を含んでなる対向電極
21が複数の反射電極9aと対向して形成されている。遮光膜23上に、画像表示領域1
0aにおいてカラー表示を行うために、開口領域及び非開口領域の一部を含む領域に、図
2には図示しないカラーフィルタが形成されるようにしてもよい。対向基板20の対向面
上における、対向電極21上には、例えばSiO等の無機材料を含んでなる無機配向膜
22が形成されている。尚、対向電極21と無機配向膜22との間に、無機絶縁材料を含
んでなるパッシベーション膜が形成されてもよい。
尚、図1及び図2に示したTFTアレイ基板10上には、これらのデータ線駆動回路1
01、走査線駆動回路104、サンプリング回路7等に加えて、複数のデータ線に所定電
圧レベルのプリチャージ信号を画像信号に先行して各々供給するプリチャージ回路、製造
途中や出荷時の当該液晶装置の品質、欠陥等を検査するための検査回路等を形成してもよ
い。
本実施形態に係る「TFTアレイ基板10」及び「対向基板20」は、本発明に係る「
一対の基板」の一例であり、本実施形態に係る「画像表示領域10a」は、本発明に係る
「画素領域」の一例である。
<製造方法>
次に、本発明に係る液晶装置の製造方法の実施形態について、図3を参照して説明する
。図3は、本実施形態に係る液晶装置の製造方法の要部を示す工程断面図である。図3の
工程断面図は、図2に示した断面図とは左右が反対になっている。
尚、以下に説明する液晶装置の製造方法は、上述の液晶装置100を製造する製造方法
である。よって、説明の便宜上、上述の液晶装置100と共通する部分には共通の参照符
号を付すと共に、詳細な説明を省略する。
図3(a)において、TFTアレイ基板10上に形成され、例えばトランジスタや、走
査線、データ線等の配線が作り込まれた積層構造(図示せず)の上に、反射電極9aが画
素毎に所定のパターンで島状に形成されている。
次に、絶縁膜形成工程において、反射電極9aを覆うように、即ち、該反射電極9a上
に、図3(b)に示すように、無機絶縁材料を含んでなる無機絶縁層150が、例えばプ
ラズマCVD(Chemical Vapor Deposition)法等により形成
される。続いて、図3(c)に示すように、無機絶縁層150の上に、レジスト210が
所定のパターンで形成され、該レジスト210をマスクとして無機絶縁層150がパター
ニングされることにより、パッシベーション膜151が形成される。
マスク210が剥離された後に、図3(d)に示すように、パッシベーション膜151
を覆うように、例えばITO等の導電性材料を含んでなる導電層160が形成される。続
いて、該導電層160の上に、レジスト220が所定のパターンで形成され、該レジスト
220をマスクとして導電層160がパターニングされることにより、図3(e)に示す
ように、外部接続端子保護膜102aが形成される。
次に、粗面加工工程において、図3(f)に示すように、パッシベーション膜151の
少なくともシール領域に対応する領域が露出するようにレジスト230が形成され、該レ
ジスト230をマスクとしてパッシベーション膜151に粗面加工が施される。具体的に
は、パーフルオロカーボン・フルオロカーボン類(例えばCHF、CF、C
CH)、臭化水素、ヨウ化水素、塩素及びメタンガスのうち少なくとも一つを含む
ガスのプラズマによって、パッシベーション膜151の表面の少なくとも画像表示領域1
0aに対応する領域が、該パッシベーション膜151の成膜終了時よりも粗くされる。
次に、配向膜形成工程において、図3(g)に示すように、粗面加工が施されたパッシ
ベーション膜151の上に、例えば斜方蒸着法により無機配向膜16が形成される。その
後、貼合工程において、TFTアレイ基板10と対向基板20とがシール材52により相
互に貼り合わされ、更に、TFTアレイ基板10及び対向基板20間に液晶が封入される
本実施形態では特に、粗面加工工程において、パッシベーション膜151の少なくとも
シール領域に対応する領域に粗面加工が施される。このため、パッシベーション膜151
と無機配向膜16との間の密着強度を向上させることができる。従って、シール材52の
接着強度を向上させることができる。
尚、図3(g)に示した工程の後、無機配向膜16を、例えば図4に示すように、TF
Tアレイ基板10上で平面的に見て、無機配向膜16の端部がシール領域(図4(a)に
おいて点線で囲まれた領域)の外縁52aよりも内側になるようにパターニングしてもよ
い。図4は、本実施形態に係る液晶装置のシール領域近傍を拡大して示す拡大図である。
このように構成すれば、大気中の水分が、無機配向膜16を介して液晶層50(図2参
照)に浸入することを防止することができる。この結果、液晶装置100の耐湿性を向上
させることができ、実用上非常に有利である。
尚、本発明に係る液晶装置の製造方法は、上述した反射型の液晶装置に限られず、例え
ば透過型の液晶装置等にも適用可能である。
本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、特許請求の範囲及び明細書全体
から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような
変更を伴う液晶装置の製造方法もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
9a…反射電極、10…TFTアレイ基板、10a…画像表示領域、16、22…無機
配向膜、20…対向基板、52…シール材、100…液晶装置、151…パッシベーショ
ン膜

Claims (3)

  1. 画素領域の周囲に位置するシール領域に配置されたシール材により相互に貼り合わされ
    た一対の基板を備えてなる液晶装置の製造方法であって、
    前記一対の基板の一方の基板の前記画素領域に対応する領域に配列された複数の画素電
    極の上に、絶縁材料を含んでなる絶縁膜を形成する絶縁膜形成工程と、
    前記形成された絶縁膜の少なくとも前記シール領域に対応する領域に対して、前記形成
    された絶縁膜の表面を成膜終了時よりも粗くする粗面加工を施す粗面加工工程と、
    前記粗面加工が施された絶縁膜の上に、無機材料を含んでなる無機配向膜を形成する配
    向膜形成工程と、
    前記一対の基板を前記シール材により相互に貼り合わせる貼合工程と
    を備えることを特徴とする液晶装置の製造方法。
  2. 前記粗面加工では、パーフルオロカーボン類、フルオロカーボン類、臭化水素、ヨウ化
    水素、塩素及びメタンガスのうち少なくとも一つを含むガスのプラズマが用いられること
    を特徴とする請求項1に記載の液晶装置の製造方法。
  3. 前記配向膜形成工程において、前記無機配向膜の端部は、前記一方の基板上で平面的に
    見て、前記シール領域の外縁よりも内側に配置されることを特徴とする請求項1又は2に
    記載の液晶装置の製造方法。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013218234A (ja) * 2012-04-12 2013-10-24 Seiko Epson Corp 電気光学装置、及び電子機器

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