JP2011165952A - 基板貼り合せ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置 - Google Patents

基板貼り合せ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2011165952A
JP2011165952A JP2010027754A JP2010027754A JP2011165952A JP 2011165952 A JP2011165952 A JP 2011165952A JP 2010027754 A JP2010027754 A JP 2010027754A JP 2010027754 A JP2010027754 A JP 2010027754A JP 2011165952 A JP2011165952 A JP 2011165952A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
temperature
substrates
holder
load lock
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010027754A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011165952A5 (ja
JP5552826B2 (ja
Inventor
Keiichi Tanaka
慶一 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2010027754A priority Critical patent/JP5552826B2/ja
Publication of JP2011165952A publication Critical patent/JP2011165952A/ja
Publication of JP2011165952A5 publication Critical patent/JP2011165952A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5552826B2 publication Critical patent/JP5552826B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】貼り合せた基板の温度を高精度に調整する。
【解決手段】大気中で複数の基板を搬送する搬送部と、真空中で複数の基板を加圧して貼り合せる加圧部と、搬送部と加圧部とを連結するロードロック室と、ロードロック室に搬入された複数の基板を温調する温調部とを備える基板貼り合せ装置が提供される。温調部は、ロードロック室を真空中から大気中にする場合に導入される気体の温度を調整して複数の基板に吹き付けることにより、ロードロック室に搬入された複数の基板を温調する
【選択図】図6

Description

本発明は、基板貼り合せ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置に関する。
半導体装置の実装密度を高める目的で、電子回路が形成された複数の基板を積層した積層型の半導体装置が注目されている。複数の基板を積層する場合に、基板同士を位置合せして、加熱加圧して基板を貼り合せる(特許文献1を参照)。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1] 特開2009−49066号公報
基板貼り合せ装置において、加熱加圧して貼り合せた基板は、冷却過程における温度分布が不均一であると、熱変形による反り、応力集中等が生じて、破壊する恐れがある。
上記課題を解決するために、本発明の第1の態様においては、大気中で複数の基板を搬送する搬送部と、真空中で複数の基板を加圧して貼り合せる加圧部と、搬送部と加圧部とを連結するロードロック室と、ロードロック室に搬入された複数の基板を温調する温調部とを備える基板貼り合せ装置が提供される。
本発明の第2の態様においては、上記基板貼り合せ装置により基板を貼り合せることを含む積層半導体装置製造方法が提供される。
本発明の第3の態様においては、上記積層半導体装置製造方法により製造された積層半導体装置が提供される。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
一実施形態である基板貼り合せ装置100の全体構造を模式的に示す平面図である。 ロードロック室220の構造を概略的に示す平面図である。 ロードロック室220の構造を概略的に示す正面断面図である。 ホルダ対330がロードロック室220に搬入される過程を概略的に示す。 ホルダ対330がロードロック室220内において温度調整される過程を概略的に示す。 ホルダ対330がロードロック室220内において温度調整される過程を概略的に示す。 積層半導体装置の製造方法を概略的に示す。
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
図1は、基板貼り合せ装置100の全体構造を模式的に示す平面図である。基板貼り合せ装置100は、筐体102と、搬送部104と、加圧部106と、基板カセット112、114、116とを備える。搬送部104および加圧部106は、共通の筐体102の内部に設けられる。
基板カセット112、114、116は、筐体102の外部に、筐体102に対して脱着自在に装着される。基板カセット112、114、116は、基板貼り合せ装置100において接合される第1基板122および第2基板123を収容する。基板カセット112、114、116により、複数の第1基板122および第2基板123が一括して基板貼り合せ装置100に装填される。また、基板貼り合せ装置100において接合された第1基板122および第2基板123が一括して回収される。
搬送部104は、筐体102の内側にそれぞれ配された、プリアライナ126、ステージ装置140、基板ホルダラック128および基板取り外し部130と、一対のロボットアーム132、134とを備える。筐体102の内部は、基板貼り合せ装置100が設置された環境の室温と略同じ温度が維持されるように温度管理される。搬送部104は、大気中で第1基板122および第2基板123を搬送する。
プリアライナ126は、高精度であるが故にステージ装置140の狭い調整範囲に第1基板122または第2基板123の位置が収まるように、個々の第1基板122または第2基板123の位置を仮合わせする。これにより、ステージ装置140が確実に位置決めをすることができる。
基板ホルダラック128は、複数の上基板ホルダ124および複数の下基板ホルダ125を収容して待機させる。上基板ホルダ124および下基板ホルダ125は、それぞれ、第1基板122および第2基板123を静電吸着により保持する。
ステージ装置140は、貼り合せの対象である第1基板122と第2基板123における接合すべき電極同士の位置を合わせて、重ね合わせる。ステージ装置140を包囲して断熱壁145およびシャッタ146が設けられる。断熱壁145およびシャッタ146に包囲された空間は空調機等に連通して温度管理され、ステージ装置140における位置合わせ精度を維持する。
ステージ装置140は、第1ステージ141と、第2ステージ142と、制御部148とを有する。第1ステージ141は、ステージ装置140の天板の下面に固定される。第1ステージ141の下面が真空吸着により上基板ホルダ124を保持する。
第2ステージ142は、第1ステージ141に対向して、ステージ装置140の底板の上に、XYZ方向に移動可能に配置される。第2ステージ142は、傾斜機能を有する。第2ステージ142の上面が真空吸着により下基板ホルダ125を保持する。
制御部148は、第2ステージ142の移動を制御する。制御部148は、第2ステージ142を移動させて、第1ステージ141に保持された第1基板122に対して、第2基板123の位置を合わせる。制御部148は、第2ステージ142を上昇させて、第1基板122と第2基板123を重ね合せることができる。その後、上基板ホルダ124と下基板ホルダ125に挟まれた第1基板122と第2基板123は、位置止め機構により仮止めされる。上基板ホルダ124と下基板ホルダ125及びそれらに挟まれた第1基板122と第2基板123の組合せを「ホルダ対」と記載することがある。
基板取り外し部130は、加圧部106から搬出された上基板ホルダ124および下基板ホルダ125に挟まれて貼り合わされた第1基板122および第2基板123を取り出す。貼り合わされた第1基板122および第2基板123を「積層基板」と記載することがある。上基板ホルダ124および下基板ホルダ125から取り出された積層基板は、ロボットアーム134、132および第2ステージ142により基板カセット112、114、116のうちのひとつに戻されて収容される。積層基板を取り出された上基板ホルダ124および下基板ホルダ125は、基板ホルダラック128に戻されて待機する。基板取り外し部130は、基板ホルダラック128の上方に配される。
なお、基板貼り合せ装置100に装填される第1基板122および第2基板123は、単体のシリコンウエハ、化合物半導体ウェハ、ガラス基板等の他、それらに素子、回路、端子等が形成されたものであってよい。また、装填された第1基板122および第2基板123が、既に複数のウェハを積層して形成された積層基板である場合もある。
一対のロボットアーム132、134のうち、基板カセット112、114、116に近い側に配置されたロボットアーム132は、基板カセット112、114、116、プリアライナ126およびステージ装置140の間で第1基板122および第2基板123を搬送する。一方、基板カセット112、114、116から遠い側に配置されたロボットアーム134は、ステージ装置140、基板ホルダラック128、基板取り外し部130およびロードロック室220の間で、第1基板122、第2基板123、上基板ホルダ124および下基板ホルダ125を搬送する。
ロボットアーム134は、基板ホルダラック128に対して、上基板ホルダ124および下基板ホルダ125の搬入および搬出も担う。また、第1ステージ141に第1基板122を保持させる場合に、ロボットアーム134は、第1基板122を静電吸着した上基板ホルダ124を裏返して、第1ステージ141に近づける。第1ステージ141は、真空吸着によりその上基板ホルダ124を保持する。
ロボットアーム134は、第2ステージ142に下基板ホルダ125を載置する。ロボットアーム132は、その上に第2基板123を載置して保持させる。これにより、第1基板122において回路等が形成された面と、第2基板123において回路等が形成された面は、対向するように配置される。
加圧部106は、断熱壁108、ロードロック室220、ロボットアーム230、複数の加圧チャンバー240および冷却室250を有する。断熱壁108は、加圧部106を包囲して、加圧部106の高い内部温度を維持すると共に、加圧部106の外部への熱輻射を遮断する。これにより、加圧部106の熱が搬送部104に及ぼす影響を抑制する。加圧部106は、真空中で第1基板122及び第2基板123を加熱加圧して貼り合せる。
ロボットアーム230は、加圧チャンバー240、冷却室250とロードロック室220との間で第1基板122、第2基板123、上基板ホルダ124および下基板ホルダ125を搬送する。
ロードロック室220は、搬送部104と加圧部106とを連結する。ロードロック室220は、搬送部104側と加圧部106側とに、交互に開閉するシャッタ222、224を有する。
基板貼り合せ装置100内の多くの領域において、上基板ホルダ124が第1基板122を保持した状態で、又は下基板ホルダ125が第2基板123を保持した状態で、ロボットアーム134、230および第2ステージ142により搬送される。第1基板122を保持した上基板ホルダ124又は第2基板123を保持した下基板ホルダ125が搬送される場合、ロボットアーム134、230は、真空吸着又は静電吸着により上基板ホルダ124又は下基板ホルダ125を吸着して保持する。
図2は、ロードロック室220の構造を概略的に示す平面図である。図3は、ロードロック室220の構造を概略的に示す正面断面図である。ロードロック室220は、基板載置部300と、ブレークフィルタ320と、搬送部104側のゲート322と、加圧部106側のゲート324と、N供給源326と、N温調部328と、昇降機構342と、温調プレート344と、給電機構346を含む。
基板載置部300は、上置き台302と、下置き台304と、温度センサー305と、接続柱306と、突起308と、突起309とを有する。上置き台302は、水平に配置された四角形の枠であり、その上面に3つの突起308が設けられる。搬入されるホルダ対310は、3つの突起308の上に配置され、3つの突起308により支えられる。
下置き台304は、上置き台302の下部に、上置き台302に平行に配置された田の字枠である。下置き台304の外枠は、上置き台302と同じ形状を有してよい。下置き台304の外枠の上面に、3つの突起309が設けられる。搬入されるホルダ対330は、3つの突起309の上に配置され、3つの突起309により支えられる。上置き台302と下置き台304は、4本の接続柱306により連結される。
下置き台304は、田の字枠の中央部において、ロードロック室220の下部に設置された昇降機構342に連結される。その連結により、基板載置部300の全体は、昇降機構342の駆動により上下に移動できる。下置き台304には、温度センサー305が設けられる。
上置き台302は、3つの突起308を介して、搬送部104から搬入されるホルダ対310を載置する。下置き台304は、3つの突起309を介して、加圧部106から搬入されるホルダ対330を載置する。給電機構346は、上置き台302の上面に設けられた給電端子を通じて、上置き台302に載置されたホルダ対310に静電吸着の電力を供給する。
温調プレート344は、下置き台304に載置されるホルダ対330より一回り大きい円板状を有する。温調プレート344は、ロードロック室220の底板に設けられる。温調プレート344の上面には、下置き台304の枠の位置に対応して、複数の溝345が形成される。図3に示すように、基板載置部300が降下したとき、下置き台304が温調プレート344の溝345に退避して、ホルダ対330は温調プレート344の上面に載置されることができる。温調プレート344は、熱伝導により、その上面に載置されたホルダ対330を冷却又は加熱することができる。ホルダ対330の温度は、下置き台304に設けられた温度センサー305により計測される。
温調プレート344は、本体が熱伝導性のよい材料により構成され、その内部には温度調整機構を有する。温調プレート344の本体の材料として、銅、アルミニウム等の金属及びその合金等が例示できる。温調プレート344は、その温度調整機構により高精度に温度制御をすることができる。温調プレート344の温度調整機構としては、ペルチエ素子、温調プレート344の内部に設けられた循環路に冷媒又は熱媒を循環させる構造、ニクロム線、カンタル線、白金線、炭化珪素、カーボン等で構成されるヒーター等が例示できる。
ブレークフィルタ320は、細い管状を有し、下置き台304に載置されたホルダ対330より高い場所に設置される。ブレークフィルタ320は、ロードロック室220を真空から大気に戻すNガスを導入する。ブレークフィルタ320は、フィルタにより清浄化されたNをロードロック室220に導入する。
供給源326は、N温調部328を介して、ブレークフィルタ320に、温度制御されたNガスを供給する。N温調部328は、温度センサー305が計測した温度に基づいて、供給するNの温度を制御する。ブレークフィルタ320は、温度制御されたNガスを導入することにより、ホルダ対330周辺の空間温度を調整して、ホルダ対330を上部から温度調整することができる。温度調整の均一性を高める目的で、ブレークフィルタ320には複数のガス導入口が設けられる。
第1基板122、第2基板123、上基板ホルダ124および下基板ホルダ125が搬送部104から加圧部106に搬入される場合、まず、搬送部104側のシャッタ222が開かれ、ロボットアーム134がゲート322を通じてホルダ対310をロードロック室220に搬入して、上置き台302に載置する。次に、搬送部104側のシャッタ222が閉じられ、ロードロック室220内部が真空に引かれる。ロードロック室220内部の真空度が加圧部106の真空度になったら、加圧部106側のシャッタ224が開かれる。
続いて、ロボットアーム230が、ロードロック室220からホルダ対310を搬出して、加圧チャンバー240のいずれかに装入する。加圧チャンバー240は、上基板ホルダ124と下基板ホルダ125に挟まれた状態で加圧チャンバー240に搬入された第1基板122及び第2基板123を約300℃に加熱して、加圧する。これにより第1基板122と第2基板123が接合されて、貼り合わされる。ロボットアーム230が、貼り合わされたホルダ対310を加圧チャンバー240から冷却室250に搬入する。冷却室250は、加熱されたホルダ対310を冷却する。
次に、図面を用いて、加圧部106から搬送部104に貼り合わされたホルダ対330を搬出する過程を説明する。ホルダ対330は、貼り合わされた上記ホルダ対310と同等なものであり、貼り合わされる前のホルダ対310と区別する目的で、ここでホルダ対330とする。
図4に示すように、昇降機構342の駆動により、基板載置部300が上昇して下置き台304がホルダ対330を受け渡すことのできる高さで停止する。加圧部106側のシャッタ224が開かれる。ロボットアーム230が、予め定まれた温度まで冷却されたホルダ対330を冷却室250から取り出して、ゲート324を通じてロードロック室220に搬入して、下置き台304に載置する。
ホルダ対330が冷却室250にて室温まで冷却されると、時間がかかり、基板貼り合せ装置100全体のスループットが低下する。よって、ホルダ対330が予め定まれた温度まで、例えば60℃〜20℃程度まで冷えた時点で、ロボットアーム230が、ホルダ対330を冷却室250から取り出して、ロードロック室220に搬入して当該ロードロック室220で目標温度の範囲内に温調したほうが、全体のスループットを上げることができる。
また、冷却室250により冷却されるときは、ホルダ対330に形成される温度分布のばらつきが大きく、ホルダ対330の内部に熱応力が形成されやすい。ホルダ対330をロードロック室220に搬入して高精度に温度調整することにより、ホルダ対330の熱応力を低減して、それによる欠陥の発生を防ぐことができる。
図5に示すように、昇降機構342の駆動により基板載置部300が降下して、下置き台304が温調プレート344の溝345の中に退避して、ホルダ対330が温調プレート344の上面に載置される。ホルダ対330は、温調プレート344の上面と接触して、温調プレート344により冷却されながら温度調整される。
図6に示すように、ブレークフィルタ320は、温度調整されたNを導入する。ブレークフィルタ320は、Nを導入することにより、真空状態のロードロック室220を大気に戻すと同時に、温度調整されたNをホルダ対330に吹き付けることにより、ホルダ対330の温度を調整する。この場合、開始段階では、伝熱媒体であるNの流れが希釈分子流領域にあるので、除熱効率が悪い。よって、Nを導入することによりホルダ対330を冷却するときは、Nの温度を目標温度より低く設定して導入したほうがより効果的である。
例えば、温度センサーにより計測したホルダ対330の温度が25℃で、更にホルダ対330を23℃まで冷却したいときは、導入するNの温度を(21℃−α)に制御してよい。ここで、αは、1〜3℃である。その後、Nの流れがある程度粘性流領域に移った段階で、Nの温度を23℃近傍に戻してよい。
ホルダ対330の温度が室温になり、ロードロック室220の圧力が大気に戻った段階で、搬送部104側のシャッタ222が開き、ロボットアーム134がホルダ対330をロードロック室220から搬出して、基板取り外し部130に投入する。基板取り外し部130は、ホルダ対330から上基板ホルダ124および下基板ホルダ125を取り外し、積層基板を取り出す。取り出された積層基板は、ロボットアーム134、132および第2ステージ142により基板カセット112、114、116のうちのひとつに戻されて収容される。
上述のように、ロードロック室220は、ホルダ対330を搬出する場合、ブレークフィルタ320により室内を真空から大気に戻すと同時に、ホルダ対330の冷却及び温度調整(温度均一化)ができるので、積層基板の製造スループットを向上し、装置全体の構造を簡素化できる。
温調プレート344は、ホルダ対330を下部から冷却又は加熱することができるが、その冷却又は加熱によりホルダ対330の厚さ方向に温度勾配が形成され、積層基板の内部に熱応力が生じることがある。ブレークフィルタ320は、温度制御されたNガスを導入して、ホルダ対330周辺の空間温度を調整することにより、温調プレート344と合せて、ホルダ対330の温度を高精度に制御することができる。よって、ホルダ対330に生じる温度勾配が緩和され、熱応力による積層基板の破壊を防ぐことができる。なお、この温度制御により、ロードロック室220が大気から真空に引かれるとき、又は真空から大気に戻すときに生ずる温度の変動を抑制することもできる。
上述の実施形態において、ホルダ対330が直接温調プレート344に載置されて、冷却及び温度調整が行われる。ホルダ対330は、直接に温調プレート344に接触せず、温調プレート344に近い距離まで移動され、ホルダ対330の輻射熱が温調プレート344により吸収される方法で、冷却及び温度調整がなされてもよい。
温調プレート344に加えて、又はこれに代えて、もう一つブレークフィルタが設けられてもよい。この場合に、基板載置部300によりホルダ対330を保持する位置が図6に示す位置より高く設定され、ホルダ対330より低い位置に、もう一つブレークフィルタが設けられる。ブレークフィルタ320と合わせて、二つのブレークフィルタが上下から温度制御されたNガスを導入して、ホルダ対330の両面にNを吹き付けて、冷却及び温度調整をする。また、温度センサー305は、温調プレート344に設けられてもよく、温調プレート344と下置き台304の双方に設けられてもよい。
また、ステージ装置140の機能が加圧チャンバー240に組み込まれ、加圧チャンバー240において、第1基板122および第2基板123が位置合わせされて、重ね合わせされ、更に加圧、加熱されて接合されてもよい。このような構造では、単独のステージ装置140を省略した基板貼り合せ装置100を形成することができる。なお、上記実施形態において上基板ホルダ124および下基板ホルダ125を用いたが、これらの一方または両方を用いずに、第1基板122および第2基板123の一方または両方を直接第1ステージ141等に保持させてもよい。
図7は、積層半導体装置を製造する製造方法の概略を示す。図7に示すように、積層半導体装置は、当該積層半導体装置の機能・性能設計を行うステップS110、この設計ステップに基づいたマスク(レチクル)を製作するステップS120、積層半導体装置の基材である基板を製造するステップS130、マスクのパターンを用いたリソグラフィを含む基板処理ステップS140、上記の基板貼り合せ装置を用いた基板貼り合せ工程等を含むデバイス組み立てステップS150、検査ステップS160等を経て製造される。なお、デバイス組み立てステップS150は、基板貼り合せ工程に続いて、ダイシング工程、ボンディング工程、パッケージ工程などの加工プロセスを含む。
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
100 基板貼り合せ装置、102 筐体、104 搬送部、106 加圧部、108 断熱壁、112 基板カセット、114 基板カセット、116 基板カセット、122 第1基板、123 第2基板、124 上基板ホルダ、125 下基板ホルダ、126 プリアライナ、128 基板ホルダラック、130 基板取り外し部、132 ロボットアーム、134 ロボットアーム、140 ステージ装置、141 第1ステージ、142 第2ステージ、145 断熱壁、146 シャッタ、148 制御部、220 ロードロック室、222 シャッタ、224 シャッタ、230 ロボットアーム、240 加圧チャンバー、250 冷却室、300 基板載置部、302 上置き台、304 下置き台、305 温度センサー、306 接続柱、308 突起、309 突起、310 ホルダ対、320 ブレークフィルタ、322 ゲート、324 ゲート、326 N供給源、328 N温調部、330 ホルダ対、342 昇降機構、344 温調プレート、345 溝、346 給電機構

Claims (9)

  1. 大気中で複数の基板を搬送する搬送部と、
    真空中で前記複数の基板を加圧して貼り合せる加圧部と、
    前記搬送部と前記加圧部とを連結するロードロック室と、
    前記ロードロック室に搬入された前記複数の基板を温調する温調部と
    を備える基板貼り合せ装置。
  2. 前記加圧部は、前記複数の基板を加圧および加熱する請求項1に記載の基板貼り合せ装置。
  3. 前記加圧部は、加熱された前記複数の基板を冷却する冷却室を有する請求項2に記載の基板貼り合せ装置。
  4. 前記温調部は、前記ロードロック室を真空中から大気中にする場合に導入される気体の温度を調整して前記複数の基板に吹き付けることにより、前記ロードロック室に搬入された前記複数の基板を温調する請求項1から3のいずれかに記載の基板貼り合せ装置。
  5. 前記温調部は、前記複数の基板における気体が吹き付けられる面の裏面を温調する温調プレートを有する請求項4に記載の基板貼り合せ装置。
  6. 前記温調部は、真空中の状態から前記温調プレートにより前記複数の基板の温調を開始し、その後、温調した気体を前記複数の基板に吹き付ける請求項5に記載の基板貼り合せ装置。
  7. 前記温調部は、温調した気体を前記複数の基板の両面に吹き付ける請求項4に記載の基板貼り合せ装置。
  8. 請求項1から7のいずれかに記載の基板貼り合せ装置により基板を貼り合せることを含む積層半導体装置製造方法。
  9. 請求項8に記載の積層半導体装置製造方法により製造された積層半導体装置。
JP2010027754A 2010-02-10 2010-02-10 基板貼り合せ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置 Active JP5552826B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010027754A JP5552826B2 (ja) 2010-02-10 2010-02-10 基板貼り合せ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010027754A JP5552826B2 (ja) 2010-02-10 2010-02-10 基板貼り合せ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2011165952A true JP2011165952A (ja) 2011-08-25
JP2011165952A5 JP2011165952A5 (ja) 2013-12-12
JP5552826B2 JP5552826B2 (ja) 2014-07-16

Family

ID=44596269

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010027754A Active JP5552826B2 (ja) 2010-02-10 2010-02-10 基板貼り合せ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5552826B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150069536A (ko) * 2013-12-13 2015-06-23 도쿄 오카 고교 가부시키가이샤 첩부 방법
WO2020184231A1 (ja) * 2019-03-14 2020-09-17 東京エレクトロン株式会社 接合システム、および接合方法
JP7413128B2 (ja) 2020-04-01 2024-01-15 東京エレクトロン株式会社 基板支持台

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008010670A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Nikon Corp ウェハ接合装置用のロードロック装置、及びウェハ接合システム
JP2008192840A (ja) * 2007-02-05 2008-08-21 Tokyo Electron Ltd 真空処理装置及び真空処理方法並びに記憶媒体

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008010670A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Nikon Corp ウェハ接合装置用のロードロック装置、及びウェハ接合システム
JP2008192840A (ja) * 2007-02-05 2008-08-21 Tokyo Electron Ltd 真空処理装置及び真空処理方法並びに記憶媒体

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20150069536A (ko) * 2013-12-13 2015-06-23 도쿄 오카 고교 가부시키가이샤 첩부 방법
JP2015133465A (ja) * 2013-12-13 2015-07-23 東京応化工業株式会社 貼付方法
KR102356894B1 (ko) 2013-12-13 2022-01-28 도쿄 오카 고교 가부시키가이샤 첩부 방법
WO2020184231A1 (ja) * 2019-03-14 2020-09-17 東京エレクトロン株式会社 接合システム、および接合方法
JPWO2020184231A1 (ja) * 2019-03-14 2020-09-17
CN113543920A (zh) * 2019-03-14 2021-10-22 东京毅力科创株式会社 接合***和接合方法
JP7413128B2 (ja) 2020-04-01 2024-01-15 東京エレクトロン株式会社 基板支持台

Also Published As

Publication number Publication date
JP5552826B2 (ja) 2014-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5549344B2 (ja) 基板接合装置、基板ホルダ、基板接合方法、デバイス製造方法および位置合わせ装置
JP6614933B2 (ja) 基板載置機構および基板処理装置
JP2006273563A (ja) ロードロック装置,処理システム及び処理方法
CN112424922A (zh) 粒子束检查装置
JP2010010628A (ja) 接合装置および接合方法
JP2013167451A (ja) 風速計測方法及び風速計測装置
JP2010114208A (ja) 冷却装置および接合システム
JP5552826B2 (ja) 基板貼り合せ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置
KR20160086277A (ko) 접합 장치, 접합 시스템, 접합 방법 및 컴퓨터 기억 매체
TWI492324B (zh) A substrate processing apparatus, and a method of manufacturing the semiconductor device
JP6415328B2 (ja) 接合方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体、接合装置及び接合システム
JP5707793B2 (ja) 基板貼り合せ装置、基板貼り合せ方法および積層半導体装置製造方法
JP5459025B2 (ja) 基板貼り合わせ装置、積層半導体装置製造方法、積層半導体装置、基板貼り合わせ方法及び積層半導体装置の製造方法
WO2014045803A1 (ja) 接合システム、接合方法及びコンピュータ記憶媒体
JP2010080555A (ja) 基板処理装置
JP2019204832A (ja) 部品実装システム、基板接合システム、部品実装方法および基板接合方法
JP5493713B2 (ja) 基板ホルダ、基板貼り合わせ装置、基板ホルダ対および搬送装置
WO2016114073A1 (ja) 接合システムおよび接合方法
JP5323730B2 (ja) 接合装置、接合方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
KR20160086271A (ko) 접합 장치, 접합 시스템, 접합 방법, 및 컴퓨터 기억 매체
JP5569169B2 (ja) 基板貼り合せ装置の制御方法、基板貼り合せ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置
JP6770832B2 (ja) 接合方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体、接合装置及び接合システム
JP2006344986A (ja) 塗布、現像装置及びパターン形成方法
JP5614081B2 (ja) 基板位置合わせ装置、基板位置合わせ方法、基板貼り合わせ装置、積層半導体装置製造方法及び積層半導体装置
JP2011082366A (ja) 加熱モジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130208

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131029

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140212

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140213

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140408

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140430

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140513

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5552826

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250