JP2011150775A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

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optical
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Toru Hotta
徹 堀田
Ryoichi Kawasaki
良一 川崎
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Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Electronic Device Sales Co Ltd
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Sanyo Electric Co Ltd
Sanyo Optec Design Co Ltd
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Abstract

【課題】 ３つの波長が異なるレーザー光を放射する３波長レーザーダイオードと１つの
対物レンズとによって異なる規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行
う光ピックアップ装置を提供する。
【解決手段】 第１光ディスクＤ１から反射される第１戻り光が照射される第１光検出器
９と、第２光ディスクＤ２から反射される第２戻り光及び第３光ディスクＤ３から反射さ
れる第３戻り光が照射される第２光検出器１１を備え、各光ディスクから反射される第１
戻り光、第２戻り光及び第３戻り光が入射されるハーフミラー７を設け、該ハーフミラー
７によって第１戻り光を第１光検出器９方向へ導くとともに第２戻り光及び第３戻り光を
第２光検出器１１方向へ導くように構成する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、光ディスクに記録されている信号の読み出し動作や光ディスクへの信号の記
録動作をレーザー光によって行う光ピックアップ装置に関する。
光ピックアップ装置から照射されるレーザー光を光ディスクの信号記録層に照射するこ
とによって信号の読み出し動作や信号の記録動作を行うことが出来る光ディスク装置が普
及している。
光ディスク装置としては、ＣＤやＤＶＤと呼ばれる光ディスクを使用するものが一般に
普及しているが、最近では記録密度を向上させた光ディスク、即ちＢｌｕ−ｒａｙ規格の
光ディスクを使用するものが商品化されている。
ＣＤ規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うレーザー光としては
、波長が７８５ｎｍである赤外光が使用され、ＤＶＤ規格の光ディスクに記録されている
信号の読み出し動作行うレーザー光としては、波長が６６０ｎｍの赤色光が使用されてい
る。
また、ＣＤ規格の光ディスクにおける信号記録層と光ディスクの表面との間に設けられ
ている透明な保護層の厚さは１．２ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作
を行うために使用される対物レンズの開口数は、０．４７と設定されている。そして、Ｄ
ＶＤ規格の光ディスクにおける信号記録層と光ディスクの表面との間に設けられている透
明な保護層の厚さは０．６ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作を行うた
めに使用される対物レンズの開口数は、０．６と設定されている。
斯かるＣＤ規格及びＤＶＤ規格の光ディスクに対して、Ｂｌｕ−ｒａｙ規格の光ディス
クに記録されている信号の読み出し動作を行うレーザー光としては、波長が短いレーザー
光、例えば波長が４０５ｎｍの青紫色光が使用されている。
そして、斯かるＢｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクにおける信号記録層の上面に設けられ
ている保護層の厚さは、０．１ｍｍであり、この信号記録層から信号の読み出し動作を行
うために使用される対物レンズの開口数は、０．８５と設定されている。
Ｂｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクに設けられている信号記録層に記録されている信号の
読み出し動作や該信号記録層に信号を記録するためにレーザー光を集光させることによっ
て生成されるレーザースポットの径を小さくする必要がある。所望のレーザースポット形
状を得るために使用される対物レンズは、開口数が大きくなるだけでなく焦点距離が短く
なるので、対物レンズの曲率半径が小さくなるという特徴がある。
前述したＣＤ規格、ＤＶＤ規格及びＢｌｕ−ｒａｙ規格の全ての光ディスクに記録され
ている信号の読み出し動作や記録動作を行うことが出来る光ディスク装置が製品化されて
いるが、斯かる光ディスク装置に組み込まれる光ピックアップ装置には、前述した各規格
に対応した波長のレーザー光を放射するレーザーダイオードや該レーザーダイオードから
放射されるレーザー光を各光ディスクに設けられている信号記録層に集光させる対物レン
ズが組み込まれている。
前述した異なる全ての規格の光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うこ
とが出来る光ピックアップ装置には、ＣＤ規格及びＤＶＤ規格の光ディスクに対するレー
ザー光の集光動作を行う対物レンズとＢｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスクに対するレーザー
光の集光動作を行う対物レンズの２つの対物レンズが組み込まれている。
斯かる２つの対物レンズが組み込まれた光ピックアップ装置は、光学系の構成が複雑に
なるという問題があるだけでなく光ピックアップ装置の形状が大きくなるという問題があ
る。斯かる問題を解決する方法として１つの対物レンズにて全ての規格の光ディスクに対
するレーザー光の集光動作を行うようにした技術が開発されている。
また、波長が異なる第１レーザー光、第２レーザー光及び第３レーザー光を放射する発
光素子が同一の筐体内に収納された半導体レーザーと、該半導体レーザーから放射される
第１、第２及び第３レーザー光を規格の異なる３つの光ディスクに集光させる１つの対物
レンズと、光ディスクから反射される戻り光が照射される１つの光検出器にて構成された
光ピックアップ装置が特許文献１に記載されている。
特開２００６−１７２６０８号公報
特許文献１に記載の光ピックアップ装置は、１つの半導体レーザー、１つの対物レンズ
及び１つの光検出器によって規格の異なる３つの光ディスクに記録されている信号の読み
出し動作を行うように構成されているが、光軸のずれを補正するための光軸補正素子を必
要とするため構造が複雑になるだけでなく、高価になるという問題がある。
本発明は、斯かる問題を解決することが出来る光ピックアップ装置を提供しようとする
ものである。
本発明は、３波長レーザーダイオードから放射される第１、第２及び第３のレーザー光
が同一の光路を通して入射されるとともに各レーザー光を各光ディスクに設けられている
信号記録層に集光させる対物レンズと、第１光ディスクの信号記録層から反射される第１
の戻り光が照射される第１光検出器と、第２光ディスクに設けられている信号記録層から
反射される第２の戻り光及び第３光ディスクに設けられている信号記録層から反射される
第３の戻り光が照射される第２光検出器を備え、前記３波長レーザーダイオードから放射
される全てのレーザー光を対物レンズ方向へ反射させるとともに対物レンズを通して第１
戻り光、第２戻り光及び第３戻り光を透過させる偏光ビームスプリッタと、該偏光ビーム
スプリッタを透過した第１戻り光、第２戻り光及び第３戻り光が入射されるハーフミラー
を設け、該ハーフミラーによって第１戻り光を第１光検出器方向へ導くとともに第２戻り
光及び第３戻り光を第２光検出器方向へ導くようにしたことを特徴とするものである。
また、本発明は、ハーフミラーに設けられている表面にて第１戻り光を反射させて第１
光検出器方向へ導き、第２戻り光及び第３戻り光を表面及び裏面を透過させて第２光検出
器に導くようにしたことを特徴とするものである。
そして、本発明は、第３レーザー素子から放射される第３レーザー光の光軸を対物レン
ズの光軸と一致させたことを特徴とするものである。
また、本発明は、第２光検出器に第２戻り光を受光する第２戻り光用受光部と第３戻り
光を受光する第３戻り光用受光部を設け、第２戻り光用受光部と第３戻り光用受光部との
間の距離と３波長レーザーダイオードに収納されている第２レーザー素子と第３レーザー
素子との間の距離とを同一にしたことを特徴とするものである。
本発明の光ピックアップ装置は、３波長レーザーダイオードから放射される３つのレー
ザー光を１つの対物レンズによって規格の異なる光ディスクの信号記録層に集光させると
ともにハーフミラーを使用して光ディスクから反射される戻り光を２つの光検出器方向に
分離して導くようにしたので、光軸合わせをするための光軸補正素子を削除することが出
来る。従って、本発明の光ピックアップ装置は、構成が簡単になるだけでなく安価にて製
造することが出来る。
本発明に係る光ピックアップ装置の実施例を示す概略図である。 本発明に係る光ピックアップ装置に組み込まれる３波長レーザーダイオードを説明するための図である。 異なる波長のレーザー光の対物レンズの光軸に対する傾きとコマ収差量との関係を示す特性図である。 本発明に係る光ピックアップ装置に組み込まれる光検出器の受光部を示す平面図である。 本発明に係る光ピックアップ装置に組み込まれる光検出器の受光部を示す平面図である。
３波長レーザーダイオードから放射される波長が異なる３つのレーザー光を１つの対物
レンズの集光動作によって異なる３つの規格の光ディスクに設けられている信号記録層へ
の集光動作を行うとともに２つの光検出器へ照射される３つの戻り光をハーフミラーによ
って分離させるように構成されている。
図１において、１は例えば波長が４０５ｎｍの青紫色光である第１レーザー光を放射す
る第１レーザー素子、波長が６６０ｎｍの赤色光である第２レーザー光を放射する第２レ
ーザー素子及び波長が７８５ｎｍの赤外光である第３レーザー光を放射する第３レーザー
素子が同一のケース内に収納されている３波長レーザーダイオード、２は前記３波長レー
ザーダイオード１から放射される第１レーザー光、第２レーザー光及び第３レーザー光が
入射される回折格子であり、第１レーザー光及び第３レーザー光を０次光であるメインビ
ーム、＋１次光及び−１次光である２つのサブビームに分離する回折格子部と入射される
レーザー光をＳ方向の直線偏光光に変換する１／２波長板とより構成されている。
３は前記回折格子２を透過した第１レーザー光、第２レーザー光及び第３レーザー光が
入射されるとともに該回折格子２を通して入射されるＳ偏光光の全てのレーザー光を反射
するとともにＰ偏光光を透過させる制御膜３ａが形成されている偏光ビームスプリッタで
ある。
４は前記偏光ビームスプリッタ３の制御膜３ａにて反射された第１レーザー光、第２レ
ーザー光及び第３レーザー光が入射されるコリメートレンズであり、入射されるレーザー
光を平行光に変換する作用を成すものである。５は前記コリメートレンズ４にて平行光に
変換されたレーザー光が入射される位置に設けられている３波長対応の１／４波長板であ
り、入射されるレーザー光を直線偏光光から円偏光光に、また反対に円偏光光から直線偏
光光に変換する作用を成すものである。
６は前記１／４波長板５を透過した第１レーザー光、第２レーザー光及び第３レーザー
光が入射される対物レンズであり、第１光ディスクＤ１使用時には該第１光ディスクＤ１
に設けられている信号記録層に第１レーザー光を集光させるとともに第２光ディスクＤ２
使用時には該第２光ディスクＤ２に設けられている信号記録層に第２レーザー光を集光さ
せ、且つ第３光ディスクＤ３使用時には該第３光ディスクＤ３に設けられている信号記録
層に第３レーザー光を集光させるように構成されている。
前述した対物レンズ６には各波長のレーザー光に対して作用する回折輪帯等が形成され
ているとともに各光ディスクに対応した開口数を設定するための開口数設定素子等が設け
られている。
斯かる構成において、３波長レーザーダイオード１から放射された第１レーザー光、第
２レーザー光及び第３レーザー光は、回折格子２、偏光ビームスプリッタ３、コリメート
レンズ４及び１／４波長板５を介して対物レンズ６に入射された後、該対物レンズ６の集
光動作によって第１光ディスクＤ１、第２光ディスクＤ２及び第３光ディスクＤ３に設け
られている信号記録層に集光スポットとして照射されるが、各信号記録層に照射された第
１レーザー光、第２レーザー光及び第３レーザー光は各信号記録層にて第１戻り光、第２
戻り光及び第３戻り光として反射されることになる。
前記第１光ディスクＤ１から反射される第１戻り光、第２光ディスクＤ２から反射され
る第２戻り光及び第３光ディスクＤ３から反射される第３戻り光は、対物レンズ６、１／
４波長板５及びコリメートレンズ４を介して偏光ビームスプリッタ３に入射されるが、斯
かる第１戻り光、第２戻り光及び第３戻り光は、前記１／４波長板５による位相変更動作
によってＰ方向の直線偏光光に変更されている。従って、斯かる第１戻り光、第２戻り光
及び第３戻り光は前記偏光ビームスプリッタ３の制御膜３ａにて反射されることはなく、
該制御膜３ａを透過することになる。
７は前記偏光ビームスプリッタ３の制御膜３ａを透過した第１戻り光、第２戻り光及び
第３戻り光が入射される位置に設けられているハーフミラーであり、その表面７Ａは第１
戻り光のみを反射させるとともに第２戻り光及び第３戻り光を透過させるような制御膜が
形成されている。また、前記ハーフミラー７の裏面７Ｂは第２戻り光及び第３戻り光を透
過させるように構成されている。
８は前記ハーフミラー７の表面７Ａにて反射された第１戻り光が入射される位置に設けられているアナモフィックレンズであり、フォーカスエラー信号の生成動作に適した非点収差を発生する。９は前記アナモフィックレンズ８にて集光された第１戻り光が照射される位置に設けられている第１光検出器であり、図４に示すようにメインビームＭ１が照射されるとともに４分割されたメインビーム用受光部９Ｍ、サブビームＳ１及びＳ２が照射されるとともに光ディスクのトラック方向に２分割されたサブビーム用受光部９Ａ及び９Ｂが組み込まれている。
１０は前記ハーフミラー７の裏面７Ｂから出射された第２戻り光及び第３戻り光が入射
される位置に設けられている非点収差板（以後、ＡＳ板と称す）であり、前記ハーフミラー７にて生成される非点収差をフォーカスエラー信号の生成動作に適した大きさになるように拡大する作用を成すように構成されている。
また、ＡＳ板１０は光軸に対して前記ハーフミラー７と逆方向に傾けられて配置され、該ハーフミラー７にて発生する第２戻り光及び第３戻り光のコマ収差を補正する作用を有する。ＡＳ板１０は前記ハーフミラー７と同一材質などで構成されて同一屈折率で、同一厚に設定され、かつ前記ハーフミラー７と傾斜方向が逆向きで傾斜角が同一であることが好ましい。このようにＡＳ板１０を構成することにより第２戻り光及び第３戻り光のコマ収差は効果的に打ち消される。また、第２戻り光及び第３戻り光の互いのレーザ波長の違いに起因して前記ハーフミラー７を透過する際の前記第２戻り光及び第３戻り光の屈折率は相違する。その為、前記第２戻り光及び第３戻り光の互いの間隔は前記ハーフミラー７の透過前と透過後とでわずかながら相違する。前記ＡＳ板１０は前記ハーフミラー７の透過後の前記第２戻り光及び第３戻り光の互いの間隔を前記ハーフミラー７の透過前の状態に戻すように作用する。先に述べたように、ＡＳ板１０が前記ハーフミラー７と同一屈折率で、同一厚に設定され、かつ前記ハーフミラー７と傾斜方向が逆向きで傾斜角が同一であると、前記ハーフミラー７により変化された前記第２戻り光及び第３戻り光の互いの間隔は前記ＡＳ板１０により戻される。
１１は前記ＡＳ板１０を透過した第２戻り光及び第３戻り光が照射される位置に設けられている第２光検出器であり、図５に示すように第２戻り光を受光する第２戻り光用受光部１０２及び第３戻り光を受光する第３戻り光用受光部１０３が設けられている。
前述したように第２光検出器１０は第２戻り光用受光部１１２及び第３戻り光用受光部
１１３が組み込まれているが、該第２戻り光用受光部１１２にはメインビームＭ２が照射
されるとともに４分割されたメインビーム用受光部１１２Ｍが組み込まれ、第３戻り光用
受光部１１３にはメインビームＭ３が照射されるとともに４分割されたメインビーム用受
光部１１３Ｍ、サブビームＳ１及びＳ２が照射されるとともに光ディスクのトラック方向
に２分割されたサブビーム用受光部１１３Ａ及び１１３Ｂが組み込まれている。
以上に説明したように本発明の光ピックアップ装置は構成されているが、次に斯かる構
成の光ピックアップ装置の動作について説明する。
第１光ディスクＤ１に記録されている信号を読み出すための動作が行われると、３波長
レーザーダイオード１に組み込まれている第１レーザー素子に駆動信号が供給され、該第
１レーザー素子より第１波長の第１レーザー光が放射される。第１レーザー素子より放射
された第１レーザー光は回折格子２によってＳ方向の直線偏光光に変換されるとともにメ
インビームと２つのサブビームに分離されて出射されることになる。
前記回折格子２から出射された第１レーザー光は偏光ビームスプリッタ３の制御膜３ａ
にて反射されてコリメートレンズ４に入射される。該コリメートレンズ４に入射された第
１レーザー光は、平行光に変換された後に１／４波長板５に入射され、該１／４波長板５
によって直線偏光光から円偏光光に変換される。前記１／４波長板５から出射された第１
レーザー光は対物レンズ６に入射され、該対物レンズ６の集光動作によって第１光ディス
クＤ１に設けられている信号記録層に所望のレーザースポットが生成される。
このようにして第１光ディスクＤ１に照射された第１レーザー光は、信号記録層から第
１戻り光として反射されることになる。斯かる第１戻り光は対物レンズ６、１／４波長板
５及びコリメートレンズ４を介して偏光ビームスプリッタ３に入射される。このようにし
て偏光ビームスプリッタ３に入射される第１戻り光は、該偏光ビームスプリッタ３の制御
膜３ａを透過した後ハーフミラー７に入射される。
前記ハーフミラー７に入射された第１戻り光は、その表面７Ａにて反射されてアナモフ
ィックレンズ８に入射されることになる。このようにしてアナモフィックレンズ８に入射
された第１戻り光は第１光検出器９に照射されるが、第１戻り光を構成するメインビーム
Ｍ１及びサブビームＳ１、Ｓ２は図４に示すようにメインビーム用受光部９Ｍ、サブビー
ム用受光部９Ａ、９Ｂ上に照射されることになる。従って、メインビーム用受光部９Ｍか
ら得られる信号から非点収差法によるフォーカス制御動作を行うためのフォーカスエラー
信号を得ることが出来るとともにメインビーム用受光部９Ｍ及びサブビーム用受光部９Ａ
、９Ｂから得られる信号から差動プッシュプル法によるトラッキング制御動作を行うトラ
ッキングエラー信号を得ることが出来る。
このようにして得られるフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を利用して
フォーカス制御動作及びトラッキング制御動作を行うことが出来るので第１光ディスクＤ
１に記録されている信号の読み出し動作を行うことが出来るが、斯かる光ピックアップ装
置における制御動作は周知であるのでその説明は省略する。
第１光ディスクＤ１に記録されている信号の読み出し動作を行う場合の動作は以上に説
明したように行われるが、次に第２光ディスクＤ２に記録されている信号の読み出す場合
の動作について説明する。
第２光ディスクＤ２に記録されている信号を読み出すための動作が行われると、３波長
レーザーダイオード１に組み込まれている第２レーザー素子に駆動信号が供給され、該第
２レーザー素子より第２波長の第２レーザー光が放射される。第２レーザー素子より放射
された第２レーザー光は回折格子２によってＳ方向の直線偏光光に変換されるとともにメ
インビームＭ２が出射されることになる。
前記回折格子２から出射された第２レーザー光は偏光ビームスプリッタ３の制御膜３ａ
にて反射されてコリメートレンズ４に入射される。該コリメートレンズ４に入射された第
２レーザー光は、平行光に変換された後に１／４波長板５に入射され、該１／４波長板５
によって直線偏光光から円偏光光に変換される。前記１／４波長板５から出射された第２
レーザー光は対物レンズ６に入射され、該対物レンズ６の集光動作によって第２光ディス
クＤ２に設けられている信号記録層に所望のレーザースポットが生成される。
このようにして第２光ディスクＤ２に照射された第２レーザー光は、信号記録層から第
２戻り光として反射されることになる。斯かる第２戻り光は対物レンズ６、１／４波長板
５及びコリメートレンズ４を介して偏光ビームスプリッタ３に入射される。このようにし
て偏光ビームスプリッタ３に入射される第２戻り光は前述したように偏光ビームスプリッ
タ３の制御膜３ａを透過した後ハーフミラー７に入射されることになる。
前記ハーフミラー７に入射された第２戻り光は、その表面７Ａ及び裏面７Ｂを透過した
後ＡＳ板１０に入射されることになる。ＡＳ板１０に入射された第２戻り光は第２光検出
器１１に照射されるが、メインビームＭ２は図５に示すように第２戻り光用受光部１１２
を構成するインビーム用受光部１１２Ｍ上に照射されることになる。従って、メインビー
ム用受光部１１２Ｍから得られる信号から非点収差法によるフォーカス制御動作を行うた
めのフォーカスエラー信号を得ることが出来るとともに位相差法によるトラッキング制御
動作を行うトラッキングエラー信号を得ることが出来る。
このようにして得られるフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を利用して
フォーカス制御動作及びトラッキング制御動作を行うことが出来るので第２光ディスクＤ
２に記録されている信号の読み出し動作を行うことが出来るが、斯かる光ピックアップ装
置における制御動作は周知であるのでその説明は省略する。
第１光ディスクＤ１及び第２光ディスクＤ２に記録されている信号の読み出し動作を行
う場合の動作は前述したように行われるが、次に第３光ディスクＤ３に記録されている信
号の読み出し動作を行う場合の動作について説明する。
第３光ディスクＤ３に記録されている信号を読み出すための動作が行われると、３波長
レーザーダイオード１に組み込まれている第３レーザー素子に駆動信号が供給され、該第
３レーザー素子より第３波長の第３レーザー光が放射される。第３レーザー素子より放射
された第３レーザー光は回折格子２によってＳ方向の直線偏光光に変換されるとともにメ
インビームＭ３と２つのサブビームＳ１、Ｓ２に分離されて出射されることになる。
前記回折格子２から出射された第３レーザー光は偏光ビームスプリッタ３の制御膜３ａ
にて反射されてコリメートレンズ４に入射される。該コリメートレンズ４に入射された第
３レーザー光は、平行光に変換された後に１／４波長板５に入射され、該１／４波長板５
によって直線偏光光から円偏光光に変換される。前記１／４波長板５から出射された第３
レーザー光は対物レンズ６に入射され、該対物レンズ６の集光動作によって第３光ディス
クＤ３に設けられている信号記録層に所望のレーザースポットが生成される。
このようにして第３光ディスクＤ３に照射された第３レーザー光は、信号記録層から第
３戻り光として反射されることになる。斯かる第３戻り光は対物レンズ６、１／４波長板
５及びコリメートレンズ４を介して偏光ビームスプリッタ３に入射される。このようにし
て偏光ビームスプリッタ３に入射される第３戻り光は前述したように偏光ビームスプリッ
タ３の制御膜３ａを透過した後ハーフミラー７に入射されることになる。
前記ハーフミラー７に入射された第３戻り光は、その表面７Ａ及び裏面７Ｂを透過した
後ＡＳ板１０に入射されることになる。ＡＳ板１０に入射された第３戻り光は第２光検出
器１１に照射されるが、第３戻り光を構成するメインビームＭ３及びサブビームＳ１、Ｓ
２は図５に示すようにメインビーム用受光部１１３Ｍ、サブビーム用受光部１１３Ａ、１
１３Ｂ上に照射されることになる。従って、メインビーム用受光部１１３Ｍから得られる
信号から非点収差法によるフォーカス制御動作を行うためのフォーカスエラー信号を得る
ことが出来るとともにメインビーム用受光部１１３Ｍ及びサブビーム用受光部１１３Ａ、
１１３Ｂから得られる信号から差動プッシュプル法によるトラッキング制御動作を行うト
ラッキングエラー信号を得ることが出来る。
このようにして得られるフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を利用して
フォーカス制御動作及びトラッキング制御動作を行うことが出来るので第３光ディスクＤ
３に記録されている信号の読み出し動作を行うことが出来るが、斯かる光ピックアップ装
置における制御動作は周知であるのでその説明は省略する。
以上に説明したように本発明の光ピックアップ装置における信号の読み出し動作は行わ
れるが、次に３波長レーザーダイオード１の構成及び光ピックアップ装置の光学系との関
係について説明する。
波長が４０５ｎｍの第１レーザー光を放射する第１レーザー素子、波長が６６０ｎｍの
第２レーザー光を放射する第２レーザー素子及び波長が７８５ｎｍの第３レーザー光を放
射する第３レーザー素子を１つのケースに収納するように構成された３波長レーザーダイ
オードでは、第２レーザー素子と第３レーザー素子をモノリシック型のレーザーダイオー
ドにて製造し第１レーザー素子はハイブリッド型のレーザーダイオードにて製造されるこ
とが一般的である。
斯かる構成の３波長レーザーダイオードでは、第２レーザー素子と第３レーザー素子と
は近接して配置させることが出来るとともにその間の距離を正確にすることが出来るが、
第１レーザー素子と第２レーザー素子または第３レーザー素子との間の距離を正確且つ短
くすることが出来ないという特性がある。
また、図３は対物レンズにおける像高特性、即ち、第１レーザー光(ａで示す)、第２レ
ーザー光(ｂで示す)及び第３レーザー光(ｃで示す)の対物レンズに対する入射角度とコマ
収差との関係を示すものであり、斯かる図より明らかなように第３レーザー光の特性が悪
いことが分かる。
従って、本発明では、第１レーザー素子１ａ、第２レーザー素子１ｂ及び第３レーザー
素子１ｃを図２に示すように配置させるとともに第３レーザー素子１ｃの光軸を対物レン
ズ６の光軸Ｘと一致するように配置させている。
図２に示すＬ１は第２レーザー素子１ｂと第３レーザー素子１ｃとの間の距離、Ｌ２は
第３レーザー素子１ｃと第１レーザー素子１ａとの間の距離であり、前述したモノリシッ
ク型とハイブリッド型の特性相違から一般的にはＬ１＜Ｌ２の関係になる。
ハーフミラー７の傾斜方向に対する第２レーザー素子１ｂと第３レーザー素子１ｃの並び方向がハーフミラー７及びＡＳ板１０による第２戻り光及び第３戻り光の互いの間隔の変化に影響されないように３波長レーザーダイオード１の向きが設定される場合、あるいはハーフミラー７により変化された第２戻り光及び第３戻り光の互いの間隔がＡＳ板１０により戻される場合、第２レーザー素子１ｂと第３レーザー素子１ｃとの間に存在する距離は、光学系の倍率を１とした場合には第２戻り光と第３戻り光の光軸間距離は前述したＬ１になる。従って、図５に示す第２戻り光用受光部１１２を構成するメインビーム用受光部１１２Ｍと第３戻り光用受光部１１３を構成するメインビーム用受光部１１３Ｍとの間の距離をＬ３としたとき、Ｌ１＝Ｌ３になるように第２光検出器１１に組み込まれる第２戻り光用受光部１１２と第３戻り光用受光部１１３とを構成すれば光軸補正素子を設ける必要もなく第２光検出器１１を第２レーザー光用の光検出器と第３レーザー光用の光検出器として兼用することが出来る。
尚、本発明においてハーフミラーとの単語を用いているが、このハーフミラーは入射する光の一部を反射し、一部を透過するミラーを示し、必ずしも反射率と透過率との割合が略１：１のものに限定されて解釈されるものではない。
本発明は、Ｂｌｕ−ｒａｙ規格の光ディスク、ＤＶＤ規格の光ディスク及びＣＤ規格の
光ディスクに記録されている信号を読み出すための光ピックアップ装置だけでなく、その
他の異なる規格の光ピックアップ装置にも応用することが出来る。
１ ３波長レーザーダイオード
２ 回折格子
３ 偏光ビームスプリッタ
４ コリメートレンズ
６ 対物レンズ
７ ハーフミラー
８ アナモフィックレンズ
９ 第１光検出器
１０ ＡＳ板
１１ 第２光検出器

Claims (4)

  1. 第１光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行う第１波長の第１レーザー光を
    放射する第１レーザー素子、前記第１光ディスクと規格が異なる第２光ディスクに記録さ
    れている信号の読み出し動作を行うとともに前記第１波長より長い第２波長の第２レーザ
    ー光を放射する第２レーザー素子及び前記第１光ディスク、第２光ディスクと規格が異な
    る第３光ディスクに記録されている信号の読み出し動作を行うとともに第２波長より長い
    第３波長の第３レーザー光を放射する第３レーザー素子が同一のケース内に収納されてい
    る３波長レーザーダイオードと、該３波長レーザーダイオードから放射される第１、第２
    及び第３のレーザー光が同一の光路を通して入射されるとともに各レーザー光を各光ディ
    スクに設けられている信号記録層に集光させる対物レンズと、第１光ディスクの信号記録
    層から反射される第１戻り光が照射される第１光検出器と、第２光ディスクに設けられて
    いる信号記録層から反射される第２戻り光及び第３光ディスクに設けられている信号記録
    層から反射される第３戻り光が照射される第２光検出器を備えた光ピックアップ装置であ
    り、前記３波長レーザーダイオードから放射される全てのレーザー光を対物レンズ方向へ
    反射させるとともに対物レンズを通して第１戻り光、第２戻り光及び第３戻り光を透過さ
    せる偏光ビームスプリッタと、該偏光ビームスプリッタを透過した第１戻り光、第２戻り
    光及び第３戻り光が入射されるハーフミラーを設け、該ハーフミラーによって第１戻り光
    を第１光検出器方向へ導くとともに第２戻り光及び第３戻り光を第２光検出器方向へ導く
    ようにしたことを特徴とする光ピックアップ装置。
  2. ハーフミラーに設けられている表面にて第１戻り光を反射させて第１光検出器方向へ導き
    、第２戻り光及び第３戻り光を表面及び裏面を透過させて第２光検出器に導くようにした
    ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
  3. 第３レーザー素子から放射される第３レーザー光の光軸を対物レンズの光軸と一致させた
    ことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
  4. 第２光検出器に第２戻り光を受光する第２戻り光用受光部と第３戻り光を受光する第３戻
    り光用受光部を設け、第２戻り光用受光部と第３戻り光用受光部との間の距離と３波長レ
    ーザーダイオードに収納されている第２レーザー素子と第３レーザー素子との間の距離と
    を同一にしたことを特徴とする請求項３に記載の光ピックアップ装置。
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