JP2011095008A - 発光機器の検査装置および発光機器の検査システム - Google Patents
発光機器の検査装置および発光機器の検査システム Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】発光機器の検査装置1は、検査対象物Aの発光特性を検査する。撮像部2は、検査対象物Aの発光面を撮像する。処理装置5の第1の画像処理部52aは、撮像画像を圧縮処理して、表示画像としての圧縮画像を作成する。撮像画像は、各画素ごとに濃淡値を画素の位置座標を対応付けた画像である。第2の画像処理部52bは、撮像画像から、各画素の濃淡値を順に並べ上記濃淡値の順序により各画素の位置座標を表わす濃淡値数値化データを作成する。第1〜3の判定部54,55,57は、発光領域を各判定基準に照合して検査対象物Aが良品であるか否かを判定する。表示装置6は、第1〜3の判定部54,55,57の判定結果および表示画像を表示する。記憶部53は、判定結果とともに表示画像および濃淡値数値化データを記憶する。
【選択図】図1
Description
実施形態1に係る発光機器の検査装置(以下「検査装置」という)1は、図1に示すように、光を発するランプユニットBを有する検査対象物Aに対して、ランプユニットBの発光特性を検査して、検査対象物Aの良否を判定する。ランプユニットBの発光特性とは、ランプユニットBから放射された光の光量や発光領域などをいう。
ΔX=(A+D+G)−(C+F+I)(式1)
ΔY=(A+B+C)−(G+H+I)(式2)
第1の判定部54は、画素Eの近傍領域における濃淡変化を表わす微分絶対値abs(E)を式3によって求める。
abs(E)=(ΔX2+ΔY2)1/2(式3)
式3から明らかなように、微分絶対値abs(E)は、画素Eの近傍領域における濃淡値の変化率を表わす。つまり、微分絶対値absは、処理画像521(図8(a)参照)の画素の濃淡変化が大きい部位ほど大きくなる。その後、第1の判定部54は、処理画像521の画素を順次走査し、微分絶対値absが規定値以上である画素をエッジ画素とし、連続する複数のエッジ画素を外郭部M1として抽出する。
実施形態2に係る検査装置1は、図11に示すように、処理装置5とは別体にデータ管理装置8を備え、処理装置5とデータ管理装置8との間がネットワークNWで接続されている点で、実施形態1に係る検査装置1(図1参照)と相違する。なお、本実施形態の処理装置5は、画像取込部51と、第1の画像処理部52aと、第2の画像処理部52bと、第1の判定部54と、第2の判定部55と、第3の判定部57とを実施形態1の処理装置5(図1参照)と同様に備えている。
実施形態3では、図12に示すように、複数(図示例では6台)の検査装置1,1・・・を備える検査システムSについて説明する。なお、実施形態1と同様の構成要素については、同一の符号を付して説明を省略する。
2 撮像部
21 撮像画像
3 減光フィルタ
5 処理装置
52a 第1の画像処理部
52b 第2の画像処理部
521 処理画像
522 濃淡値数値化データ
53 記憶部
54 第1の判定部
55 第2の判定部
57 第3の判定部
6 表示装置
61 判定結果
62 表示画像
8 データ管理装置
81 記憶部
9 補正部
A 検査対象物
B ランプユニット
S 検査システム
Claims (12)
- 光を発する検査対象物の発光特性を検査する発光機器の検査装置であって、
前記検査対象物の発光面を撮像する撮像部と、
前記撮像部で撮像された撮像画像から表示用の表示画像を作成する第1の画像処理部と、
前記撮像画像を用いて発光領域を抽出するとともに濃淡値数値化データを作成する第2の画像処理部と、
前記発光領域を予め設定された判定基準に照合して前記検査対象物が良品であるか否かを判定する判定部と、
前記判定部の判定結果および前記表示画像を表示する表示部と、
前記判定結果を記憶する記憶部とを備え、
前記第1の画像処理部は、前記撮像画像を圧縮処理して、前記表示画像としての圧縮画像を作成し、
前記撮像画像は、各画素ごとに濃淡値を画素の位置座標に対応付けられており、
前記第2の画像処理部は、前記撮像画像から、当該撮像画像における予め設定された単位領域ごとの濃淡値を順に並べ当該濃淡値の順序により各画素の位置座標を表わす前記濃淡値数値化データを作成し、
前記記憶部は、前記判定結果とともに前記表示画像および前記濃淡値数値化データを記憶する
ことを特徴とする発光機器の検査装置。 - 前記表示部は、前記第1の画像処理部と前記第2の画像処理部とからネットワークを介して前記判定結果および前記表示画像を取得することを特徴とする請求項1記載の発光機器の検査装置。
- 前記記憶部は、前記濃淡値数値化データと前記判定基準とを関連付けて記憶することを特徴とする請求項1または2記載の発光機器の検査装置。
- 前記判定部は、これまでに前記記憶部に記憶されている前記濃淡値数値化データに基づいて前記判定基準を変更することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の発光機器の検査装置。
- 前記判定基準が複数あって前記複数の判定基準から前記判定部が用いる判定基準を選択する選択部を備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の発光機器の検査装置。
- 前記判定部は、前記発光領域の外郭部で囲まれた領域内において前記単位領域の濃淡値が予め設定された基準濃淡範囲内であるか、前記発光領域の面積値が予め設定された基準面積範囲内であるかの少なくとも一方を満たすとき、前記検査対象物が良品であると判定することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の発光機器の検査装置。
- 前記判定部は、前記発光領域の全領域が撮像領域内に含まれているか否かを判定し、前記発光領域の全領域が前記撮像領域内に含まれているときに、前記ランプユニットの良否を判定することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載の発光機器の検査装置。
- 前記判定部は、前記発光領域の外郭部のすべてが前記撮像領域内に含まれている場合、前記発光領域の全領域が前記撮像領域内に含まれていると判定することを特徴とする請求項7記載の発光機器の検査装置。
- 前記判定部は、前記発光領域の重心が予め設定された領域内に含まれている場合、前記発光領域の全領域が前記撮像領域内に含まれていると判定することを特徴とする請求項7記載の発光機器の検査装置。
- 前記撮像部は、露光時間が前記検査対象物の発光時間以上であることを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載の発光機器の検査装置。
- 前記撮像部に入射される光量を減少させる減光フィルタを備えることを特徴とする請求項1〜10のいずれか1項に記載の発光機器の検査装置。
- 請求項1〜11のいずれか1項に記載の発光機器の検査装置を複数備え、
各発光機器の検査装置は、他の発光機器の検査装置との前記撮像画像の濃淡ばらつきを補正するために予め設定された補正係数を用いて濃淡値を補正し、補正後の濃淡値を新たな濃淡値とする補正部を備える
ことを特徴とする発光機器の検査システム。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5948443U (ja) * | 1982-09-24 | 1984-03-30 | 三菱重工業株式会社 | 燃焼状況判別装置 |
JPH09145490A (ja) * | 1995-11-22 | 1997-06-06 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 路面温度検知方法及び路面温度検知用示温体 |
JP2000232242A (ja) * | 1999-02-10 | 2000-08-22 | Sharp Corp | 発光素子測定装置 |
JP2004132976A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-30 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 光学デバイスの製造方法およびこれに用いる欠陥判定用の検査具 |
JP2006145228A (ja) * | 2004-11-16 | 2006-06-08 | Seiko Epson Corp | ムラ欠陥検出方法及び装置 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5948443U (ja) * | 1982-09-24 | 1984-03-30 | 三菱重工業株式会社 | 燃焼状況判別装置 |
JPH09145490A (ja) * | 1995-11-22 | 1997-06-06 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 路面温度検知方法及び路面温度検知用示温体 |
JP2000232242A (ja) * | 1999-02-10 | 2000-08-22 | Sharp Corp | 発光素子測定装置 |
JP2004132976A (ja) * | 2002-09-19 | 2004-04-30 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 光学デバイスの製造方法およびこれに用いる欠陥判定用の検査具 |
JP2006145228A (ja) * | 2004-11-16 | 2006-06-08 | Seiko Epson Corp | ムラ欠陥検出方法及び装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20180040519A1 (en) * | 2016-08-03 | 2018-02-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Test apparatus and manufacturing apparatus of light emitting device package |
US10217680B2 (en) * | 2016-08-03 | 2019-02-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Test apparatus and manufacturing apparatus of light emitting device package |
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