JP2000232242A - 発光素子測定装置 - Google Patents
発光素子測定装置Info
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- JP2000232242A JP2000232242A JP3340499A JP3340499A JP2000232242A JP 2000232242 A JP2000232242 A JP 2000232242A JP 3340499 A JP3340499 A JP 3340499A JP 3340499 A JP3340499 A JP 3340499A JP 2000232242 A JP2000232242 A JP 2000232242A
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 発光素子の光学特性の測定を短時間で高精度
に再現性よく行う。 【解決手段】 発光ダイオード２１を固定する固定治具
２２に臨んで拡散板２３が配置され、発光ダイオード２
１からの放射束は拡散板２３に投影される。拡散板２３
の背後には第１のカメラ２４が設けられ、拡散板２３に
投影された配光パターンの透過像は第１のカメラ２４で
撮像される。固定治具２２と拡散板２３との間にハーフ
ミラー２６が設けられ、拡散板２３上の投影像の反射像
がハーフミラー２６を介して第２のカメラ２５で撮像さ
れる。第１および第２のカメラ２４，２５で取り込んだ
画像は画像処理装置２８で処理され、発光強度中心、指
向角およびパターンマッチングが行われる。
に再現性よく行う。 【解決手段】 発光ダイオード２１を固定する固定治具
２２に臨んで拡散板２３が配置され、発光ダイオード２
１からの放射束は拡散板２３に投影される。拡散板２３
の背後には第１のカメラ２４が設けられ、拡散板２３に
投影された配光パターンの透過像は第１のカメラ２４で
撮像される。固定治具２２と拡散板２３との間にハーフ
ミラー２６が設けられ、拡散板２３上の投影像の反射像
がハーフミラー２６を介して第２のカメラ２５で撮像さ
れる。第１および第２のカメラ２４，２５で取り込んだ
画像は画像処理装置２８で処理され、発光強度中心、指
向角およびパターンマッチングが行われる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、発光ダイオードな
どの発光素子の光学特性を測定する発光素子測定装置に
関する。
どの発光素子の光学特性を測定する発光素子測定装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】図７は、発光ダイオードなどの発光素子
の指向角を測定する発光素子測定装置１を示す正面図で
あり、図８はその平面図である。発光素子測定装置１
は、発光素子であるレンズ形状の発光ダイオード２を固
定する固定治具４とフォトダイオードまたは太陽電池な
どを有する受光器５とから構成される。固定治具４は鉛
直な回転軸線Ｌ１まわりに回転する回転ステージ３に設
けられる。発光ダイオード２は中心が回転ステージの回
転軸線Ｌ１上に位置するように固定治具４に固定する。
受光器５の受光部９にはスリット６が形成され、スリッ
ト６を介して発光ダイオード２の放射束を線状に受光す
る。
の指向角を測定する発光素子測定装置１を示す正面図で
あり、図８はその平面図である。発光素子測定装置１
は、発光素子であるレンズ形状の発光ダイオード２を固
定する固定治具４とフォトダイオードまたは太陽電池な
どを有する受光器５とから構成される。固定治具４は鉛
直な回転軸線Ｌ１まわりに回転する回転ステージ３に設
けられる。発光ダイオード２は中心が回転ステージの回
転軸線Ｌ１上に位置するように固定治具４に固定する。
受光器５の受光部９にはスリット６が形成され、スリッ
ト６を介して発光ダイオード２の放射束を線状に受光す
る。
【０００３】発光素子測定装置１を用いて発光ダイオー
ド２の指向角を測定するには、まず固定治具４に取付け
た発光ダイオード２を点灯させ、図９（ａ）に示される
ように、回転軸線Ｌ１まわりに−９０°〜９０°の範囲
で回転ステージ３を回転させる。このときの放射強度が
プロットされる。
ド２の指向角を測定するには、まず固定治具４に取付け
た発光ダイオード２を点灯させ、図９（ａ）に示される
ように、回転軸線Ｌ１まわりに−９０°〜９０°の範囲
で回転ステージ３を回転させる。このときの放射強度が
プロットされる。
【０００４】次に発光ダイオード２を固定治具４から取
外し、光軸Ｌ２まわりに９０°回転させて再び固定治具
４に固定し、図９（ｂ）で示されるように前述と同様に
−９０°〜９０°の範囲で発光ダイオード２を回転させ
ながら放射強度をプロットする。このようにしてスリッ
ト６を介して発光ダイオード２の二方向の放射強度を測
定し、これらに基づいて発光ダイオード２の指向角を測
定する。
外し、光軸Ｌ２まわりに９０°回転させて再び固定治具
４に固定し、図９（ｂ）で示されるように前述と同様に
−９０°〜９０°の範囲で発光ダイオード２を回転させ
ながら放射強度をプロットする。このようにしてスリッ
ト６を介して発光ダイオード２の二方向の放射強度を測
定し、これらに基づいて発光ダイオード２の指向角を測
定する。
【０００５】しかしながら、このような発光素子測定装
置１では指向角のみしか測定できず、配光パターンおよ
び発光強度中心を測定することはできない。また、少な
くとも二方向の放射強度を測定する必要があるため、測
定時に発光ダイオード２を付替えねばならず、再現性が
低下してしまう。また発光ダイオード２を回転して測定
するため、短時間で測定することは困難である。
置１では指向角のみしか測定できず、配光パターンおよ
び発光強度中心を測定することはできない。また、少な
くとも二方向の放射強度を測定する必要があるため、測
定時に発光ダイオード２を付替えねばならず、再現性が
低下してしまう。また発光ダイオード２を回転して測定
するため、短時間で測定することは困難である。
【０００６】このような問題を解消するために、放射束
の配光パターンを撮像する測定用テレビカメラを用いた
発光素子測定装置が特開平１０−２６７１６号公報に開
示されている。図１０はこの発光素子測定装置１０の構
成を示すブロック図である。発光モジュール１１からの
放射束は集光レンズ１３によって測定用テレビカメラ１
２に集光され、カメラ１２の画像データを画像処理装置
１４で処理して発光モジュール１１の配光パターンなど
をモニタテレビ１５に表示する。このようにして発光モ
ジュール１１の配光パターンを得ることができる。
の配光パターンを撮像する測定用テレビカメラを用いた
発光素子測定装置が特開平１０−２６７１６号公報に開
示されている。図１０はこの発光素子測定装置１０の構
成を示すブロック図である。発光モジュール１１からの
放射束は集光レンズ１３によって測定用テレビカメラ１
２に集光され、カメラ１２の画像データを画像処理装置
１４で処理して発光モジュール１１の配光パターンなど
をモニタテレビ１５に表示する。このようにして発光モ
ジュール１１の配光パターンを得ることができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このような発光素子測
定装置１０では、発光モジュール１１からのすべての放
射束を集光してカメラ１２に取り込むので、光量が多
く、局所的に最大放射強度と最小放射強度との較差が過
大に大きくなり、放射束の配光パターンの明部と暗部と
をカメラで明瞭に識別できなくなる。これによってたと
えば配光パターンから良品と不良品とを識別するといっ
たことが困難になる。
定装置１０では、発光モジュール１１からのすべての放
射束を集光してカメラ１２に取り込むので、光量が多
く、局所的に最大放射強度と最小放射強度との較差が過
大に大きくなり、放射束の配光パターンの明部と暗部と
をカメラで明瞭に識別できなくなる。これによってたと
えば配光パターンから良品と不良品とを識別するといっ
たことが困難になる。
【０００８】本発明の目的は、放射束の配光パターンを
明瞭に識別して短時間で発光素子の特性を測定すること
ができる発光素子測定装置を提供することである。
明瞭に識別して短時間で発光素子の特性を測定すること
ができる発光素子測定装置を提供することである。
【０００９】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の本発明
は、発光素子を着脱可能に固定する固定治具と、固定治
具に固定された発光素子に臨んで配置され、投影された
発光素子からの放射束を拡散する拡散板と、拡散板に投
影された放射束の像を撮像するカメラとを備えることを
特徴とする発光素子測定装置である。
は、発光素子を着脱可能に固定する固定治具と、固定治
具に固定された発光素子に臨んで配置され、投影された
発光素子からの放射束を拡散する拡散板と、拡散板に投
影された放射束の像を撮像するカメラとを備えることを
特徴とする発光素子測定装置である。
【００１０】本発明に従えば、発光素子からの放射束の
配光パターンが拡散板に投影され、カメラでこの投影像
を撮像することによって発光素子の光学特性を測定す
る。発光素子からの放射束は拡散板で拡散されるので、
拡散板に投影された放射束は最大放射強度と最小放射強
度との較差が緩和され、ばらつきの少ない安定した光量
が得られ、配光パターンを明瞭に撮像することができ
る。これに基づいて指向角、発光強度中心、配向パター
ンなど複数の光学特性を１つの測定装置で発光素子を固
定した状態で測定することができ、再現性も良好とな
る。また、発光素子を回転させて放射強度を測定する必
要がないので、短時間で測定することができる。
配光パターンが拡散板に投影され、カメラでこの投影像
を撮像することによって発光素子の光学特性を測定す
る。発光素子からの放射束は拡散板で拡散されるので、
拡散板に投影された放射束は最大放射強度と最小放射強
度との較差が緩和され、ばらつきの少ない安定した光量
が得られ、配光パターンを明瞭に撮像することができ
る。これに基づいて指向角、発光強度中心、配向パター
ンなど複数の光学特性を１つの測定装置で発光素子を固
定した状態で測定することができ、再現性も良好とな
る。また、発光素子を回転させて放射強度を測定する必
要がないので、短時間で測定することができる。
【００１１】請求項２記載の本発明の前記拡散板と固定
治具との間にはハーフミラーが設けられ、前記カメラ
は、拡散板の背後に配置され、拡散板を透過する放射束
の投影像を撮像する第１のカメラと、拡散板で反射した
放射束の投影像をハーフミラーを介して撮像する第２の
カメラとを備えることを特徴とする。
治具との間にはハーフミラーが設けられ、前記カメラ
は、拡散板の背後に配置され、拡散板を透過する放射束
の投影像を撮像する第１のカメラと、拡散板で反射した
放射束の投影像をハーフミラーを介して撮像する第２の
カメラとを備えることを特徴とする。
【００１２】本発明に従えば、拡散板に投影された放射
束の配光パターンは第１のカメラによって透過像が撮像
され、第２のカメラによってハーフミラーを介して反射
像が撮像される。透過した像は拡散効果によりばらつき
の少ない安定した一定の光量が得られるため、発光強度
中心測定においてより安定した再現性が確保された測定
が可能となる。また、拡散板で反射された像については
拡散効果のないシャープな配光パターンが拡散板へ結像
され、指向角の測定配光パターンのパターンマッチング
を高精度に行うことが可能となる。
束の配光パターンは第１のカメラによって透過像が撮像
され、第２のカメラによってハーフミラーを介して反射
像が撮像される。透過した像は拡散効果によりばらつき
の少ない安定した一定の光量が得られるため、発光強度
中心測定においてより安定した再現性が確保された測定
が可能となる。また、拡散板で反射された像については
拡散効果のないシャープな配光パターンが拡散板へ結像
され、指向角の測定配光パターンのパターンマッチング
を高精度に行うことが可能となる。
【００１３】請求項３記載の本発明は、第１のカメラお
よび第２のカメラで取り込んだ画像データに基づいて発
光素子の特性を測定する画像処理回路を備えることを特
徴とする。
よび第２のカメラで取り込んだ画像データに基づいて発
光素子の特性を測定する画像処理回路を備えることを特
徴とする。
【００１４】本発明に従えば、第１および第２のカメラ
で取り込んだ画像データを画像処理回路で処理すること
によって瞬時に発光強度中心、指向角および所定の配光
パターンとのパターンマッチングなどを行うことができ
る。
で取り込んだ画像データを画像処理回路で処理すること
によって瞬時に発光強度中心、指向角および所定の配光
パターンとのパターンマッチングなどを行うことができ
る。
【００１５】請求項４記載の前記画像処理回路は、第１
のカメラまたは第２のカメラで取り込ん画像データに基
づき、放射束の投影像の重心位置を求めることを特徴と
する。
のカメラまたは第２のカメラで取り込ん画像データに基
づき、放射束の投影像の重心位置を求めることを特徴と
する。
【００１６】本発明に従えば、カメラの各画素で受光し
た放射強度の多値化レベルに基づき、放射光束の投影像
の重心、すなわち発光強度中心を画像処理回路によって
正確に求めることができる。
た放射強度の多値化レベルに基づき、放射光束の投影像
の重心、すなわち発光強度中心を画像処理回路によって
正確に求めることができる。
【００１７】請求項５記載の本発明の前記画像処理回路
は、第１のカメラまたは第２のカメラで取り込んだ画像
データに基づき、放射束の投影像の半径を算出して指向
角を求めることを特徴とする。
は、第１のカメラまたは第２のカメラで取り込んだ画像
データに基づき、放射束の投影像の半径を算出して指向
角を求めることを特徴とする。
【００１８】本発明に従えば、拡散板への放射束の投影
像は配光パターンが明瞭となるので、画像処理回路によ
って正確に半径を求めることができ、この半径と、拡散
板および発光画素子の間の距離とに基づいて発光素子の
指向角を瞬時に算出することができる。
像は配光パターンが明瞭となるので、画像処理回路によ
って正確に半径を求めることができ、この半径と、拡散
板および発光画素子の間の距離とに基づいて発光素子の
指向角を瞬時に算出することができる。
【００１９】請求項６記載の前記画像処理回路は、予め
放射束の投影像の画像データを記憶しており、第１のカ
メラまたは第２のカメラで取り込んだ画像データと前記
予め記憶する画像データとを比較することを特徴とす
る。
放射束の投影像の画像データを記憶しており、第１のカ
メラまたは第２のカメラで取り込んだ画像データと前記
予め記憶する画像データとを比較することを特徴とす
る。
【００２０】本発明に従えば、放射束の配光パターンを
拡散板に投影することによって明瞭に撮像することがで
きるので、画像処理回路に予め記憶されるたとえば良品
または不良品などの任意の放射束の投影像の配光パター
ンと、撮像した放射束の配光パターンとを比較すること
によって発光素子が良品であるか不良品であるかなどの
評価を正確に行うことができる。
拡散板に投影することによって明瞭に撮像することがで
きるので、画像処理回路に予め記憶されるたとえば良品
または不良品などの任意の放射束の投影像の配光パター
ンと、撮像した放射束の配光パターンとを比較すること
によって発光素子が良品であるか不良品であるかなどの
評価を正確に行うことができる。
【００２１】請求項７記載の前記発光素子は発光ダイオ
ードであることを特徴とする。本発明に従えば、発光素
子として発光ダイオードを好適に用いることができる。
ードであることを特徴とする。本発明に従えば、発光素
子として発光ダイオードを好適に用いることができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の実施の一形態で
ある発光素子測定装置２０の構成を模式的に示すブロッ
ク図である。発光素子測定装置２０は、発光素子である
発光ダイオード２１を固定する固定治具２２と、固定治
具２２に臨んで配置される拡散板２３と、拡散板２３の
背後に配置される第１のカメラ２４と、固定治具２２と
拡散板２３との間に配置されるハーフミラー２６と、第
２のカメラ２５と、画像処理装置２８と、モニタ２９と
から構成される。第１および第２のカメラ２４，２５は
ＣＣＤ（charge coupled device）カメラであり、取り
込んだ画像が画像処理装置２８で処理されてモニタ２９
に表示される。
ある発光素子測定装置２０の構成を模式的に示すブロッ
ク図である。発光素子測定装置２０は、発光素子である
発光ダイオード２１を固定する固定治具２２と、固定治
具２２に臨んで配置される拡散板２３と、拡散板２３の
背後に配置される第１のカメラ２４と、固定治具２２と
拡散板２３との間に配置されるハーフミラー２６と、第
２のカメラ２５と、画像処理装置２８と、モニタ２９と
から構成される。第１および第２のカメラ２４，２５は
ＣＣＤ（charge coupled device）カメラであり、取り
込んだ画像が画像処理装置２８で処理されてモニタ２９
に表示される。
【００２３】固定治具２２に固定される発光ダイオード
２１、ハーフミラー２６、拡散板２３、第１、第２のカ
メラ２４，２５の各受光部はそれぞれ暗箱２７内に設け
られる。発光ダイオード２１はレンズ形状を持つ発光ダ
イオードであり、固定治具２２は発光ダイオード２１の
リードフレームもしくは樹脂パッケージを基準に光軸が
ほぼ第１のカメラ２４に向かうように着脱可能に固定治
具２２に固定する。
２１、ハーフミラー２６、拡散板２３、第１、第２のカ
メラ２４，２５の各受光部はそれぞれ暗箱２７内に設け
られる。発光ダイオード２１はレンズ形状を持つ発光ダ
イオードであり、固定治具２２は発光ダイオード２１の
リードフレームもしくは樹脂パッケージを基準に光軸が
ほぼ第１のカメラ２４に向かうように着脱可能に固定治
具２２に固定する。
【００２４】拡散板２３は暗箱２７内で発光ダイオード
２１の光軸に略垂直に配置され、アクリル樹脂またはポ
リ塩化ビニルなどの透光性を有する合成樹脂に拡散粒子
を練り込んで成形するか、または拡散粒子を透光性樹脂
基板上にコーティングして形成するか、またはオパール
ガラスによって形成する。また表面反射を防ぐために両
表面に艶消し処理を施してもよい。ハーフミラー２６は
拡散板２３と固定治具２２との間で、拡散板２３に対し
て４５°の角度を成すように暗箱２７内に配置される。
第２のカメラ２５は拡散板２３からの反射像をハーフミ
ラー２６を介して撮像できるようにハーフミラー２６の
側方でハーフミラー２６に臨んで配置される。
２１の光軸に略垂直に配置され、アクリル樹脂またはポ
リ塩化ビニルなどの透光性を有する合成樹脂に拡散粒子
を練り込んで成形するか、または拡散粒子を透光性樹脂
基板上にコーティングして形成するか、またはオパール
ガラスによって形成する。また表面反射を防ぐために両
表面に艶消し処理を施してもよい。ハーフミラー２６は
拡散板２３と固定治具２２との間で、拡散板２３に対し
て４５°の角度を成すように暗箱２７内に配置される。
第２のカメラ２５は拡散板２３からの反射像をハーフミ
ラー２６を介して撮像できるようにハーフミラー２６の
側方でハーフミラー２６に臨んで配置される。
【００２５】発光ダイオード２１を点灯させるとその放
射束はハーフミラー２６を透過して拡散板２３に投影さ
れる。第１のカメラ２４は拡散板２３の裏面側から拡散
板２３に投影された放射束の投影像を撮像する。透過し
た像は拡散効果によりばらつきの少ない安定した一定の
光量となるので、発光強度中心（重心）測定において安
定した再現性が確保された測定が可能となる。
射束はハーフミラー２６を透過して拡散板２３に投影さ
れる。第１のカメラ２４は拡散板２３の裏面側から拡散
板２３に投影された放射束の投影像を撮像する。透過し
た像は拡散効果によりばらつきの少ない安定した一定の
光量となるので、発光強度中心（重心）測定において安
定した再現性が確保された測定が可能となる。
【００２６】拡散板２３で反射された像はハーフミラー
２６を介して第２のカメラ２５で撮像される。反射像は
拡散光が少なく、シャープな配光パターンの像が得られ
るので、指向角および配光パターンの測定を高精度に行
うことができる。
２６を介して第２のカメラ２５で撮像される。反射像は
拡散光が少なく、シャープな配光パターンの像が得られ
るので、指向角および配光パターンの測定を高精度に行
うことができる。
【００２７】図２は画像処理装置２８の画像処理回路３
０の構成を示すブロック図である。画像処理回路３０は
重心測定回路３１、指向角測定回路３２およびパターン
マッチング回路３３を備え、第１および第２のカメラ２
４，２５で取り込んだ画像を画像処理回路３０で処理し
てモニタ２９に表示する。
０の構成を示すブロック図である。画像処理回路３０は
重心測定回路３１、指向角測定回路３２およびパターン
マッチング回路３３を備え、第１および第２のカメラ２
４，２５で取り込んだ画像を画像処理回路３０で処理し
てモニタ２９に表示する。
【００２８】図３は、第１のカメラ２４で取り込んだ透
過像の一例を示す図である。各カメラ２４，２５からの
画像信号は、画像処理回路３０に取り込まれ、ＣＣＤの
各画素が受光した放射強度に応じてＡ／Ｄ変換して多値
化し、画素の位置と多値化レベルが画像データとしてメ
モリに格納される。重心測定回路３１では第１のカメラ
２４から取り込んだ画像データから、各画素の位置と、
多値化レベルに基づき、重心、すなわち発光強度中心を
算出する。
過像の一例を示す図である。各カメラ２４，２５からの
画像信号は、画像処理回路３０に取り込まれ、ＣＣＤの
各画素が受光した放射強度に応じてＡ／Ｄ変換して多値
化し、画素の位置と多値化レベルが画像データとしてメ
モリに格納される。重心測定回路３１では第１のカメラ
２４から取り込んだ画像データから、各画素の位置と、
多値化レベルに基づき、重心、すなわち発光強度中心を
算出する。
【００２９】図４は、指向角θの測定を模式的に示す図
であり、図４の左側に示される図は反射像の一例であ
り、図５に反射像の他の例を示す。前述したように反射
像では拡散光の少ないシャープの配光パターンが得られ
るので、図４の反射像に示すように外部円と内部円の２
重の円が映し出されたり、図５（ａ）に示すように発光
強度が異なる複数の同心円が映し出されたり、図５
（ｂ）に示すように発光パターンの中心部にチップの影
などが映し出される場合もある。
であり、図４の左側に示される図は反射像の一例であ
り、図５に反射像の他の例を示す。前述したように反射
像では拡散光の少ないシャープの配光パターンが得られ
るので、図４の反射像に示すように外部円と内部円の２
重の円が映し出されたり、図５（ａ）に示すように発光
強度が異なる複数の同心円が映し出されたり、図５
（ｂ）に示すように発光パターンの中心部にチップの影
などが映し出される場合もある。
【００３０】指向角測定回路３２には予め固定治具２２
に固定された発光ダイオード２１の先端と拡散板２３と
の間の距離Ｌが記憶されている。指向角測定回路３２で
はまず拡散板２３に結像された放射束の配光パターンか
ら外部円の直径Ｄを求める。直径Ｄは、白画素から黒画
素への変わり目となる位置を少なくとも３点求め、これ
らに基づいて算出する。予め記憶する距離Ｌと算出した
直径Ｄに基づき、次式 θ＝ｔａｎ-1｛（Ｄ／２）／Ｌ｝ に代入して指向角θが算出される。
に固定された発光ダイオード２１の先端と拡散板２３と
の間の距離Ｌが記憶されている。指向角測定回路３２で
はまず拡散板２３に結像された放射束の配光パターンか
ら外部円の直径Ｄを求める。直径Ｄは、白画素から黒画
素への変わり目となる位置を少なくとも３点求め、これ
らに基づいて算出する。予め記憶する距離Ｌと算出した
直径Ｄに基づき、次式 θ＝ｔａｎ-1｛（Ｄ／２）／Ｌ｝ に代入して指向角θが算出される。
【００３１】図６はリング形状となる配光パターンを示
す図である。図に示すように、発光ダイオード２１には
配光パターンがリング形状となる不良品が存在する。パ
ターンマッチング回路３３には、たとえば図３で示した
ような良品の配光パターンを予め登録しておき、第２の
カメラ２５で取り込んだ反射像の配光パターンの画像デ
ータと登録した良品の配光パターンの画像データに基づ
いてパターンマッチング、すなわち各画像データの一致
度を判定して良品か不良品かを識別する。これによって
図６で示したようなリング形状となる配光パターンを有
する発光ダイオードを選別することができる。
す図である。図に示すように、発光ダイオード２１には
配光パターンがリング形状となる不良品が存在する。パ
ターンマッチング回路３３には、たとえば図３で示した
ような良品の配光パターンを予め登録しておき、第２の
カメラ２５で取り込んだ反射像の配光パターンの画像デ
ータと登録した良品の配光パターンの画像データに基づ
いてパターンマッチング、すなわち各画像データの一致
度を判定して良品か不良品かを識別する。これによって
図６で示したようなリング形状となる配光パターンを有
する発光ダイオードを選別することができる。
【００３２】モニタ２９には画像処理回路３０で取り込
んだ画像データに基づいて第１のカメラ２４からの透過
像および第２のカメラ２５からの反射像が表示されると
ともに、重心測定回路３１で算出した重心位置（発光強
度中心）、指向角測定回路３２で算出した指向角θ、お
よびパターンマッチング回路３３での判定結果である良
品か否かが瞬時に表示される。
んだ画像データに基づいて第１のカメラ２４からの透過
像および第２のカメラ２５からの反射像が表示されると
ともに、重心測定回路３１で算出した重心位置（発光強
度中心）、指向角測定回路３２で算出した指向角θ、お
よびパターンマッチング回路３３での判定結果である良
品か否かが瞬時に表示される。
【００３３】重心測定、指向角測定およびパターンマッ
チングにおいて、透過像または反射像のいずれを用いる
かは発光ダイオード２１および拡散板２３に応じて適宜
変更してもよい。
チングにおいて、透過像または反射像のいずれを用いる
かは発光ダイオード２１および拡散板２３に応じて適宜
変更してもよい。
【００３４】
【発明の効果】請求項１記載の本発明によれば、拡散板
に投影した放射束の配光パターンを撮像して発光素子の
特性を測定することによって、従来のように発光素子を
二方向で回転させて測定を行う必要がなくなり、短時間
で再現性よく測定することができる。また、拡散板の拡
散効果により投影像はばらつきの少ない安定した光量と
なるので、配光パターンを明瞭に撮像して高精度に発光
素子の光学特性を測定することが可能となる。
に投影した放射束の配光パターンを撮像して発光素子の
特性を測定することによって、従来のように発光素子を
二方向で回転させて測定を行う必要がなくなり、短時間
で再現性よく測定することができる。また、拡散板の拡
散効果により投影像はばらつきの少ない安定した光量と
なるので、配光パターンを明瞭に撮像して高精度に発光
素子の光学特性を測定することが可能となる。
【００３５】請求項２記載の本発明によれば、第１およ
び第２のカメラで透過像および反射像を同時に得ること
ができ、これによって高精度に発光素子の特性を測定す
ることが可能となる。
び第２のカメラで透過像および反射像を同時に得ること
ができ、これによって高精度に発光素子の特性を測定す
ることが可能となる。
【００３６】請求項３記載の本発明によれば、画像処理
回路によって取り込んだ画像に基づいて瞬時に発光強度
中心、指向角およびパターンマッチングなどの測定を行
うことができる。
回路によって取り込んだ画像に基づいて瞬時に発光強度
中心、指向角およびパターンマッチングなどの測定を行
うことができる。
【００３７】請求項４記載の本発明によれば、投影像に
基づいて高精度に重心、すなわち発光強度中心を求める
ことができる。
基づいて高精度に重心、すなわち発光強度中心を求める
ことができる。
【００３８】請求項５記載の本発明によれば、投影像に
基づいて高精度に半径を算出することができるので、こ
れに基づいて指向角を高精度に算出することができる。
基づいて高精度に半径を算出することができるので、こ
れに基づいて指向角を高精度に算出することができる。
【００３９】請求項６記載の本発明によれば、画像処理
回路でパターンマッチングを行うことにより不良品など
の選別を高精度に行うことができる。
回路でパターンマッチングを行うことにより不良品など
の選別を高精度に行うことができる。
【００４０】請求項７記載の本発明によれば、特にレン
ズ形状を持つ発光ダイオードにおいて光学特性の測定を
好適に実施することができる。
ズ形状を持つ発光ダイオードにおいて光学特性の測定を
好適に実施することができる。
【図１】本発明の実施の一形態である発光素子測定装置
２０の構成を示すブロック図である。
２０の構成を示すブロック図である。
【図２】画像処理回路３０のブロック図である。
【図３】第１のカメラ２４で取り込んだ透過像を示す図
である。
である。
【図４】指向角θの測定方法を示す図である。
【図５】反射像の例を示す図である。
【図６】リング形状となる配光パターンを示す図であ
る。
る。
【図７】従来の発光素子測定装置１を示す正面図であ
る。
る。
【図８】発光素子測定装置１の平面図である。
【図９】発光素子測定装置１での測定時における測定軌
跡を示す図である。
跡を示す図である。
【図１０】テレビカメラを用いる従来の発光素子測定装
置１０の構成を示すブロック図である。
置１０の構成を示すブロック図である。
２０ 発光素子測定装置 ２１ 発光ダイオード ２２ 固定治具 ２３ 拡散板 ２４ 第１のカメラ ２５ 第２のカメラ ２６ ハーフミラー ２７ 暗箱 ２８ 画像処理装置 ３０ 画像処理回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G065 AA04 AA11 AB22 AB23 AB28 BA04 BB05 BB23 BC11 BC14 BC28 BC33 BD01 DA05 DA18 2G086 EE03 5F041 AA46 EE25
Claims (7)
- 【請求項１】 発光素子を着脱可能に固定する固定治具
と、 固定治具に固定された発光素子に臨んで配置され、投影
された発光素子からの放射束を拡散する拡散板と、 拡散板に投影された放射束の像を撮像するカメラとを備
えることを特徴とする発光素子測定装置。 - 【請求項２】 前記拡散板と固定治具との間にはハーフ
ミラーが設けられ、 前記カメラは、 拡散板の背後に配置され、拡散板を透過する放射束の投
影像を撮像する第１のカメラと、 拡散板で反射した放射束の投影像をハーフミラーを介し
て撮像する第２のカメラとを備えることを特徴とする請
求項１記載の発光素子測定装置。 - 【請求項３】 第１のカメラおよび第２のカメラで取り
込んだ画像データに基づいて発光素子の特性を測定する
画像処理回路を備えることを特徴とする請求項１または
２記載の発光素子測定装置。 - 【請求項４】 前記画像処理回路は、第１のカメラまた
は第２のカメラで取り込ん画像データに基づき、放射束
の投影像の重心位置を求めることを特徴とする請求項３
記載の発光素子測定装置。 - 【請求項５】 前記画像処理回路は、第１のカメラまた
は第２のカメラで取り込んだ画像データに基づき、放射
束の投影像の半径を算出して指向角を求めることを特徴
とする請求項３または４記載の発光素子測定装置。 - 【請求項６】 前記画像処理回路は、予め放射束の投影
像の画像データを記憶しており、第１のカメラまたは第
２のカメラで取り込んだ画像データと前記予め記憶する
画像データとを比較することを特徴とする請求項３〜５
のいずれかに記載の発光素子測定装置。 - 【請求項７】 前記発光素子は発光ダイオードであるこ
とを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載の発光素
子測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3340499A JP2000232242A (ja) | 1999-02-10 | 1999-02-10 | 発光素子測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3340499A JP2000232242A (ja) | 1999-02-10 | 1999-02-10 | 発光素子測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000232242A true JP2000232242A (ja) | 2000-08-22 |
Family
ID=12385673
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3340499A Pending JP2000232242A (ja) | 1999-02-10 | 1999-02-10 | 発光素子測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000232242A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240241A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Toshiba Lighting & Technology Corp | 航空標識灯検査装置 |
| JP2011095008A (ja) * | 2009-10-27 | 2011-05-12 | Panasonic Electric Works Co Ltd | 発光機器の検査装置および発光機器の検査システム |
| WO2012124057A1 (ja) * | 2011-03-15 | 2012-09-20 | パイオニア株式会社 | 半導体発光素子検査装置 |
| CN104101482A (zh) * | 2013-04-10 | 2014-10-15 | 致茂电子(苏州)有限公司 | 发光模块检测装置以及发光模块检测方法 |
| WO2015086704A1 (en) * | 2013-12-11 | 2015-06-18 | Infiniled Limited | Apparatus and method for profiling a beam of a light emitting semiconductor device |
| WO2015096383A1 (zh) * | 2013-12-23 | 2015-07-02 | 京东方科技集团股份有限公司 | 光源发光特性检测装置 |
-
1999
- 1999-02-10 JP JP3340499A patent/JP2000232242A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US11099063B2 (en) | 2013-12-11 | 2021-08-24 | Facebook Technologies, Llc | Apparatus and method for profiling a beam of a light emitting semiconductor device |
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| US10274761B2 (en) | 2013-12-23 | 2019-04-30 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Detecting device for light-emitting property of light source |
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