JP2010181222A - プローブ顕微鏡 - Google Patents
プローブ顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010181222A JP2010181222A JP2009023556A JP2009023556A JP2010181222A JP 2010181222 A JP2010181222 A JP 2010181222A JP 2009023556 A JP2009023556 A JP 2009023556A JP 2009023556 A JP2009023556 A JP 2009023556A JP 2010181222 A JP2010181222 A JP 2010181222A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- cantilever
- light source
- probe microscope
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01Q—SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
- G01Q20/00—Monitoring the movement or position of the probe
- G01Q20/02—Monitoring the movement or position of the probe by optical means
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y35/00—Methods or apparatus for measurement or analysis of nanostructures
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】プローブ顕微鏡1は、探針21を有するカンチレバー2と、変位検出光学系3と、観察光学系4と、対物レンズ6と、平行ガラス7とを備える。変位検出光学系3は、第1の光源31と、光検出素子35とを備える。観察光学系4は、第2の光源41と、結像レンズ42と、カメラ43とを備える。対物レンズ6は、カンチレバー2と、第1の光源31、及び第2の光源41との間に配設され、変位検出光学系3、及び観察光学系4で共用している。平行ガラス7は、カンチレバー2と、対物レンズ6との間に挿抜自在に設けられ、対物レンズ6の焦点を調整する。
【選択図】図2
Description
このようなプローブ顕微鏡では、変位検出光学系は、カンチレバーに光を照射するための第1の光源と、第1の光源から射出され、カンチレバーにて反射される光を受光することでカンチレバーの変位を検出する変位検出手段とを備え、観察光学系は、被測定物に光を照射するための第2の光源と、第2の光源から射出され、被測定物にて反射される光を所定の位置に結像させる結像レンズと、結像レンズにて結像される光を受光することで被測定物を観察する観察手段とを備えて構成されている。
また、対物レンズは、第1の光源から射出される光をカンチレバーに照射するとともに、カンチレバーに照射される光を観察手段にて観察するために、カンチレバーの位置が焦点となるように設計され、配置されている。
しかしながら、被測定物は、探針の分だけカンチレバーから離間した位置にあるので、カンチレバーに照射される光を観察手段にて観察するように対物レンズを設計し、配置すると、測定箇所の決定をする際などに被測定物を観察手段にて適切に観察することができないという問題がある。
これに対して、特許文献1に記載のプローブ顕微鏡では、被測定物を観察する際に、結像レンズと、撮像素子(観察手段)との間隔を調整することで被測定物を観察手段にて適切に観察している。
プローブ顕微鏡100は、被測定物Wに接触する探針111を有するカンチレバー110と、変位検出光学系120と、観察光学系130と、ハーフミラー140と、対物レンズ150とを備え、探針111にて被測定物Wの表面を走査し、被測定物Wの表面形状に応じて揺動するカンチレバー110の変位を検出することで被測定物Wの表面形状を観察するものである。
変位検出光学系120は、ハーフミラー140を含んで構成され、第1の光源、及び変位検出手段としての変位検出器121を備える。
観察光学系130は、ハーフミラー140を含んで構成され、第2の光源としての落射照明装置(図示略)と、結像レンズ131と、撮像素子132とを備える。
ハーフミラー140は、変位検出器121から射出された光を反射させてカンチレバー110に照射するとともに、カンチレバー110にて反射された光を変位検出器121に導く機能を有している。また、ハーフミラー140は、落射照明装置から射出された光を被測定物Wに照射するとともに、被測定物Wにて反射された光を結像レンズ131、及び撮像素子132に導く機能を有している。
そこで、プローブ顕微鏡100では、図8(B)に示すように、被測定物Wを観察する際に、結像レンズ131と、撮像素子132との間隔Lを調整することで被測定物Wを撮像素子132にて適切に観察している。
なお、結像レンズ、及び観察手段の間隔と、対物レンズ、及びカンチレバーの間隔とを比較すると、結像レンズ、及び観察手段の間隔の方が大きいので、焦点調整部材を結像レンズ、及び観察手段の間に設けた場合には、焦点調整部材を対物レンズ、及びカンチレバーの間に設けた場合と比較してプローブ顕微鏡を容易に製造することができる。
このような構成によれば、平行ガラスの屈折率、及び厚さを調整することで焦点を調整することができる。したがって、焦点調整部材の形状を簡素化することができるので、プローブ顕微鏡を容易に製造することができる。
このような構成によれば、第1の光源から射出される光が観察手段に入射するのを抑制することができるので、観察手段にて観察される像のコントラストを向上させることができる。
以下、本発明の第1実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明の第1実施形態に係るプローブ顕微鏡1を示す模式図である。なお、図1では、鉛直上方向を+Z軸とし、このZ軸と直交する2軸をそれぞれX,Y軸としている。以下の図面においても同様である。
プローブ顕微鏡1は、図1に示すように、探針21を有するカンチレバー2と、変位検出光学系3と、観察光学系4と、3つのビームスプリッタ51〜53と、対物レンズ6とを備え、探針21にて被測定物Wの表面を走査し、被測定物Wの表面形状に応じて揺動するカンチレバー2の変位を検出することで被測定物Wの表面形状を観察するものである。
各ビームスプリッタ51〜53は、入射する光の一部を界面511〜531にて反射させるとともに、他の一部を透過させるものであり、それぞれ同一の機能を有している。
なお、カメラ43にて観察される像の拡大率は、対物レンズ6の焦点距離fと、結像レンズ42の焦点距離との関係で定まる。例えば、対物レンズ6の焦点距離fを10mmとし、結像レンズ42の焦点距離を100mmとすれば、拡大率は10倍(100mm/10mm)となる。そして、対物レンズ6の焦点距離fをカンチレバー2の位置に調整する場合には、カメラ43にて観察される像を見ながら行う。
第1の光源31から射出された光は、コリメータレンズ32にて平行化され、ビームスプリッタ51に入射する。ビームスプリッタ51に入射した光の一部は、界面511を透過してビームスプリッタ52に入射する。ビームスプリッタ52に入射した光の一部は、界面521にて参照ミラー33に向かって反射され、他の一部は、界面521を透過して対物レンズ6に入射する。対物レンズ6に入射した光は、対物レンズ6の焦点の位置であるカンチレバー2の背面に集光される。
第2の光源41から射出された光は、ビームスプリッタ51に入射する。ビームスプリッタ51に入射した光の一部は、界面511にて反射され、ビームスプリッタ52に入射する。ビームスプリッタ52に入射した光の一部は、界面521を透過して対物レンズ6に入射する。対物レンズ6に入射した光は、対物レンズ6の焦点の位置であるカンチレバー2の背面に集光される。
すなわち、この状態では、カメラ43は、カンチレバー2の背面で合焦するので、カンチレバー2に照射される測定光を観察することができる。
プローブ顕微鏡1は、カンチレバー2と、対物レンズ6との間に設けられ、対物レンズ6の焦点、すなわち焦点距離fを調整する光路変更手段としての平行ガラス7を備える。
焦点調整部材としての平行ガラス7は、対物レンズ6の光軸と直交する2つの面を有し、図示しない駆動機構によって観察光学系4の光路に対して挿抜自在に設けられている。
平行ガラス7をカンチレバー2と、対物レンズ6との間に挿入すると、焦点距離fが大きくなる方向に対物レンズ6の焦点がシフトする。
具体的に、平行ガラス7の屈折率をnとし、厚さをtとすると、焦点のシフト量Sは、以下の式(1)で表すことができる。
平行ガラス7の屈折率n、及び厚さtを変更した場合におけるシフト量Sの変化は、図4に示すように、屈折率n、及び厚さtが大きいほど、シフト量Sが大きくなる。
したがって、この関係に基づいて、平行ガラス7の屈折率n、及び厚さtは、探針21の長さよりもシフト量Sが大きくなるように選定する。
(1)プローブ顕微鏡1は、観察光学系4の光路を変更する光路変更手段を備えるので、被測定物Wを観察する際などに、被測定物Wにて反射された光がカメラ43の位置で結像するように観察光学系4の光路を変更することができる。したがって、カメラ43を駆動することなく被測定物Wを適切に観察することができ、プローブ顕微鏡1を簡素な構成で小型化することができる。
(3)プローブ顕微鏡1は、平行ガラス7の屈折率n、及び厚さtを調整することで焦点を調整することができる。したがって、平行ガラス7の形状を簡素化することができるので、プローブ顕微鏡1を容易に製造することができる。
以下、本発明の第2実施形態を図面に基づいて説明する。
図5は、本発明の第2実施形態に係るプローブ顕微鏡1Aを示す模式図である。
なお、以下の説明では、既に説明した部分については、同一符号を付してその説明を省略する。
前記第1実施形態では、光路変更手段は、平行ガラス7とされていたが、本実施形態では、光路変更手段は、第2の光源41Aと、対物レンズ6Aとで構成されている点で異なる。
第2の光源41Aは、第1の光源31から射出される光の波長とは異なる波長の光を射出する。なお、本実施形態では、第2の光源41Aから射出される光を赤色光(図5中鎖線)とし、第1の光源31から射出される光を赤色光よりも波長の短い青色光(図5中実線)とする。これは、対物レンズ6Aが硝材である場合において、赤色光が対物レンズ6Aに入射したときの焦点距離は、対物レンズ6Aの色収差の影響によって青色光が対物レンズ6Aに入射したときの焦点距離よりも長くなるためである。
対物レンズ6Aは、第1の光源31から射出される光、すなわち青色光の波長に対してカンチレバー2の位置を焦点とし、第2の光源41Aから射出される光、すなわち赤色光の波長に対して被測定物Wの位置を焦点とする。ここで、各色光の波長に対する焦点距離は、対物レンズ6Aに用いられる硝材によって定まる。以下、対物レンズ6Aに用いられる硝材の選定について説明する。
赤色光が対物レンズ6Aに入射したときの焦点距離、及び青色光が対物レンズ6Aに入射したときの焦点距離のシフト量を、図6に示すように、δfとすると、シフト量δfは、以下の式(2)で表される。なお、nFは、F線(波長486nm)における屈折率であり、nDは、D線(波長588nm)における屈折率であり、nCは、C線(波長656nm)における屈折率である。
シフト量δfは、図7に示すように、分散率Δが大きくなるほど大きくなる。したがって、この関係に基づいて、対物レンズ6Aに用いられる硝材は、探針21の長さよりもシフト量δfが大きくなるように選定する。例えば、分散率Δの大きい硝材SF11にて対物レンズ6Aを製造し、対物レンズ6Aの焦点距離fが30mmの場合には、シフト量δfは、1.17mmとなるので、シフト量δfを一般的な探針21の長さである10〜15μmよりも十分大きくすることができる。
(4)プローブ顕微鏡1Aは、観察光学系4の光路を対物レンズ6Aの色収差を利用して変更することができる。したがって、新たな部材を追加することなく、被測定物Wを適切に観察することができ、プローブ顕微鏡1Aを簡素な構成で小型化することができる。
(5)プローブ顕微鏡1Aは、バンドパスフィルタ53Aを備えるので、第1の光源31から射出される光がカメラ43に入射するのを抑制することができるので、カメラ43にて観察される像のコントラストを向上させることができる。
なお、本発明は前記各実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、前記第1実施形態では、焦点調整部材は、平行ガラス7とされていたが、例えば、レンズ等であってもよい。
また、例えば、前記第1実施形態では、平行ガラス7は、カンチレバー2と、対物レンズ6との間に設けられていたが、結像レンズ42と、カメラ43との間に設けられていてもよい。なお、焦点調整部材を結像レンズ、及び観察手段の間に設けた場合には、焦点調整部材を対物レンズ、及びカンチレバーの間に設けた場合と比較してプローブ顕微鏡を容易に製造することができる。
要するに、焦点調整部材は、観察光学系の光路に対して挿抜自在に設けられ、挿抜することで対物レンズ、及び結像レンズのうち、少なくともいずれか一方のレンズの焦点を調整することができればよい。
前記第2実施形態では、プローブ顕微鏡1Aは、バンドパスフィルタ53Aを備えていたが、例えば、ビームスプリッタであってもよい。
2…カンチレバー
3…変位検出光学系
4…観察光学系
6…対物レンズ
6A…対物レンズ(光路変更手段)
7…平行ガラス(光路変更手段,焦点調整部材)
21…探針
31…第1の光源
35…光検出素子(変位検出手段)
41…第2の光源
41A…第2の光源(光路変更手段)
42…結像レンズ
43…カメラ(観察手段)
53A…バンドパスフィルタ(フィルタ)
Claims (5)
- 被測定物に接触する探針を有するカンチレバーと、前記カンチレバーの変位を検出するための変位検出光学系と、前記被測定物を観察するための観察光学系とを備え、前記探針にて前記被測定物の表面を走査し、前記被測定物の表面形状に応じて揺動する前記カンチレバーの変位を検出することで前記被測定物の表面形状を観察するプローブ顕微鏡であって、
前記変位検出光学系は、
前記カンチレバーに光を照射するための第1の光源と、
前記第1の光源から射出され、前記カンチレバーにて反射される光を受光することで前記カンチレバーの変位を検出する変位検出手段とを備え、
前記観察光学系は、
前記被測定物に光を照射するための第2の光源と、
前記第2の光源から射出され、前記被測定物にて反射される光を所定の位置に結像させる結像レンズと、
前記結像レンズにて結像される光を受光することで前記被測定物を観察する観察手段とを備え、
前記カンチレバーと、前記第1の光源、及び前記第2の光源との間に配設され、前記カンチレバーの位置を焦点とする対物レンズと、
前記第2の光源から射出され、前記観察手段に至る光の光路を変更する光路変更手段とを備えることを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 請求項1に記載のプローブ顕微鏡において、
前記光路変更手段は、
前記光路に対して挿抜自在に設けられ、挿抜することで前記対物レンズ、及び前記結像レンズのうち、少なくともいずれか一方のレンズの焦点を調整する焦点調整部材を備えることを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 請求項2に記載のプローブ顕微鏡において、
前記焦点調整部材は、前記一方のレンズの光軸と直交する2つの面を有する平行ガラスとされていることを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 請求項1に記載のプローブ顕微鏡において、
前記光路変更手段は、
前記第2の光源から前記第1の光源と異なる波長の光を射出させ、
前記対物レンズの焦点を、前記第1の光源から射出される光の波長に対して前記カンチレバーの位置とし、且つ、前記第2の光源から射出される光の波長に対して前記被測定物の位置とすることを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 請求項4に記載のプローブ顕微鏡において、
前記第1の光源から射出され、前記変位検出手段に至る光と、前記第2の光源から射出され、前記観察手段に至る光とを分離するフィルタを備えることを特徴とするプローブ顕微鏡。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009023556A JP2010181222A (ja) | 2009-02-04 | 2009-02-04 | プローブ顕微鏡 |
DE102010001467A DE102010001467A1 (de) | 2009-02-04 | 2010-02-01 | Sondenmikroskop |
US12/699,321 US8108942B2 (en) | 2009-02-04 | 2010-02-03 | Probe microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009023556A JP2010181222A (ja) | 2009-02-04 | 2009-02-04 | プローブ顕微鏡 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011136430A Division JP2011209294A (ja) | 2011-06-20 | 2011-06-20 | プローブ顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010181222A true JP2010181222A (ja) | 2010-08-19 |
Family
ID=42309107
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009023556A Pending JP2010181222A (ja) | 2009-02-04 | 2009-02-04 | プローブ顕微鏡 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8108942B2 (ja) |
JP (1) | JP2010181222A (ja) |
DE (1) | DE102010001467A1 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011021902A (ja) * | 2009-07-13 | 2011-02-03 | Mitsutoyo Corp | プローブ顕微鏡 |
JP2014206465A (ja) * | 2013-04-12 | 2014-10-30 | 株式会社 東京ウエルズ | ワークの外観検査装置およびワークの外観検査方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03231234A (ja) * | 1990-02-07 | 1991-10-15 | Fuji Photo Optical Co Ltd | カメラの制御方法 |
JPH06160077A (ja) * | 1992-11-26 | 1994-06-07 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡に組み込む観察光学系 |
JP2000236422A (ja) * | 1999-02-16 | 2000-08-29 | Seiko Epson Corp | 画像読取り装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6485413B1 (en) * | 1991-04-29 | 2002-11-26 | The General Hospital Corporation | Methods and apparatus for forward-directed optical scanning instruments |
US5463897A (en) * | 1993-08-17 | 1995-11-07 | Digital Instruments, Inc. | Scanning stylus atomic force microscope with cantilever tracking and optical access |
JPH10260190A (ja) * | 1997-03-17 | 1998-09-29 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型蛍光プローブ顕微鏡 |
JP2008051556A (ja) * | 2006-08-22 | 2008-03-06 | Sii Nanotechnology Inc | 光学式変位検出機構及びそれを用いた表面情報計測装置 |
JP5336959B2 (ja) * | 2009-07-13 | 2013-11-06 | 株式会社ミツトヨ | プローブ顕微鏡 |
-
2009
- 2009-02-04 JP JP2009023556A patent/JP2010181222A/ja active Pending
-
2010
- 2010-02-01 DE DE102010001467A patent/DE102010001467A1/de not_active Withdrawn
- 2010-02-03 US US12/699,321 patent/US8108942B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03231234A (ja) * | 1990-02-07 | 1991-10-15 | Fuji Photo Optical Co Ltd | カメラの制御方法 |
JPH06160077A (ja) * | 1992-11-26 | 1994-06-07 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡に組み込む観察光学系 |
JP2000236422A (ja) * | 1999-02-16 | 2000-08-29 | Seiko Epson Corp | 画像読取り装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011021902A (ja) * | 2009-07-13 | 2011-02-03 | Mitsutoyo Corp | プローブ顕微鏡 |
JP2014206465A (ja) * | 2013-04-12 | 2014-10-30 | 株式会社 東京ウエルズ | ワークの外観検査装置およびワークの外観検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102010001467A1 (de) | 2010-08-05 |
US8108942B2 (en) | 2012-01-31 |
US20100199393A1 (en) | 2010-08-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5601539B2 (ja) | 3次元方向ドリフト制御装置および顕微鏡装置 | |
US9804029B2 (en) | Microspectroscopy device | |
JP6241858B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP2009109788A (ja) | レーザー走査型顕微鏡 | |
JP5311195B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2011118264A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2006171024A (ja) | 多点蛍光分光測光顕微鏡および多点蛍光分光測光方法 | |
JP2009505126A (ja) | 全反射顕微鏡検査用の顕微鏡および方法 | |
JP5319505B2 (ja) | レーザ共焦点顕微鏡、及び、試料表面検出方法 | |
JP4818634B2 (ja) | 走査型蛍光観察装置 | |
JP2009540346A (ja) | 干渉共焦点顕微鏡 | |
JP5495740B2 (ja) | 共焦点走査型顕微鏡 | |
JP2004354937A (ja) | レーザ顕微鏡 | |
JP6363477B2 (ja) | 3次元形状測定装置 | |
WO2009142312A1 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP5336959B2 (ja) | プローブ顕微鏡 | |
JP2010181222A (ja) | プローブ顕微鏡 | |
JP2008052146A (ja) | 共焦点型レーザー走査蛍光顕微鏡 | |
JP4981460B2 (ja) | レーザ顕微鏡 | |
JP2010266452A (ja) | 走査型近接場光学顕微鏡 | |
JP2011209294A (ja) | プローブ顕微鏡 | |
JP2011058953A (ja) | 検出装置、それを備えた光学装置 | |
JP2006195390A (ja) | レーザ走査型蛍光顕微鏡および検出光学系ユニット | |
JP2007034296A (ja) | 顕微鏡対物レンズシステム及び顕微鏡観察方法 | |
JP2012141452A (ja) | 自動合焦機構および顕微鏡装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110203 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110412 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110419 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110620 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110726 |